WO2006059548A1

WO2006059548A1 - 試験装置

Info

Publication number: WO2006059548A1
Application number: PCT/JP2005/021690
Authority: WO
Inventors: Atsushi Ono; Toshiyuki Okayasu; Akihiro Fujimoto; Masashi Shibata
Original assignee: Advantest Corporation
Priority date: 2004-11-30
Filing date: 2005-11-25
Publication date: 2006-06-08
Also published as: KR101228212B1; CN101088018A; TW200634323A; KR20070086566A; US20060158204A1; JP2006153779A; DE112005002907T5; US7316578B2; TWI372878B; CN101088018B

Abstract

　電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、複数のフレーム側コネクタが設けられ、フレーム側コネクタを介して制御信号をテストヘッドに供給するメインフレームと、フレーム側コネクタとテストヘッドとを光接続し、制御信号をテストヘッドに伝送するケーブルユニットとを備え、ケーブルユニットは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、メインフレームに対してケーブルユニットを固定するユニット固定部と、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有する試験装置を提供する。

Description

明細書

試験装置

技術分野

[0001] この発明は、電子デバイスを試験する試験装置に関する。特に、光ファイバケープルを用、て信号を伝送する試験装置に関する。文献の参照による組み込みが認められる指定国については、下記の日本出願に記載された内容を参照により本出願に組み込み、本出願の記載の一部とする。

特願 2004— 347860 出願日 2004年 11月 30日

背景技術

[0002] 近年の電子デバイスの高速化に伴い、電子デバイスを試験する試験装置においても、動作の高速ィ匕が望まれている。高速動作を行う試験装置として、メインフレームとテストヘッドとを光ファイバケーブルを用いて接続する装置が考えられる。この場合、メインフレームとテストヘッドとは、非常に多数の光ファイバケーブルを用いて接続する必要がある。

[0003] また、光ファイバケーブルを用いる場合、それぞれの光ファイバケーブルの端部にコネクタを設け、当該コネクタとメインフレームのコネクタとを接続することにより、メインフレームとテストヘッドとを接続する必要がある。例えば、メインフレームは、多数のテストボードを有しており、それぞれのテストボードには複数のコネクタを設ける必要がある。

[0004] 関連する特許文献等は、現在認識して!/ヽな!ヽため、その記載を省略する。

発明の開示

発明が解決しょうとする課題

[0005] このような多数のコネクタを接続するために、テストボード毎に、接続するべき複数の光ファイバケーブルのコネクタを同時に接続するケーブルユニットが知られている。しかし、光ファイバケーブルを接続するためのコネクタの光射出面は、接触等により破損する可能性が高ぐテストボード毎に複数のコネクタを同時に接続しょうとすると、一部のコネクタの光射出面がテストボード等に接触して破損してしまう場合がある。このように、光ファイバケーブルを用いてメインフレームとテストヘッドとを接続しようとした場合、これまで知られている接続方法では、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よぐ且つ安全に接続することが困難であった。

[0006] このため本発明は、上述した課題を解決することのできる試験装置を提供することを目的とする。この目的は、請求の範囲における独立項に記載の特徴の組み合わせにより達成される。また従属項は本発明の更なる有利な具体例を規定する。

課題を解決するための手段

[0007] 上記課題を解決するために、本発明の第 1の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、複数のフレーム側コネクタが設けられ、フレーム側コネクタを介して制御信号をテストへッドに供給するメインフレームと、フレーム側コネクタとテストヘッドとを光接続し、制御信号をテストヘッドに伝送するケーブルユニットとを備え、ケーブルユニットは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、メインフレームに対してケーブルユニットを固定するユニット固定部と、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有する試験装置を提供する。

[0008] コネクタ保持部は、それぞれのユニット側コネクタを、フレーム側コネクタとの接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持してよい。コネクタ保持部は、それぞれのユニット側コネクタを、フレーム側コネクタと接続しな、状態で係止可能な係止部を有してよい。

[0009] 複数のフレーム側コネクタは、メインフレームに挿入されたテストボードに設けられ、係止部は、ユニット固定部がケーブルユニットを固定した状態において、テストボードに接触しな、位置に複数のユニット側コネクタを係止してょ、。

[0010] 複数のユニット側コネクタは、ケーブルユニットの面内において、フレーム側コネクタとの接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に配設され、それぞれのユニット側コネクタは、接続方向及びコネクタ配設方向の双方と略垂直なユニット配設方向に突起した係止爪を有し、コネクタ保持部は、対応するユニット側コネクタの係止爪が挿通され、係止爪が挿通された状態において係止爪を接続方向に対して移動可能とすることにより、当該ュニット側コネクタを接続方向に対して移動可能に保持する貫通溝が設けられた保持基板を更に有してょヽ。

[0011] 複数の貫通溝が設けられるピッチは、ユニット側コネクタのコネクタ配設方向における幅と略同一であってよい。係止爪は、後側爪と、後側爪よりテストボード側に設けられた前側爪とを有し、係止部は、保持基板と着脱可能に設けられ、複数のユニット側コネクタの前側爪と嵌合する係止板を有し、それぞれのユニット側コネクタの後側爪が貫通溝の後端部に嵌合し、且つそれぞれのユニット側コネクタの前側爪が係止板に嵌合することにより、複数のユニット側コネクタを、テストヘッドに接触しない位置に係止してよい。

[0012] 係止部は、それぞれのユニット側コネクタの後側爪を貫通溝の後端部に嵌合させた場合に、それぞれのユニット側コネクタの前側爪と嵌合する位置に係止板を着脱可能に固定する手段を有してよい。

[0013] 係止部は、それぞれのユニット側コネクタの前側爪を貫通溝の前端部に嵌合させた場合に、それぞれのユニット側コネクタの後側爪と嵌合する位置に係止板を着脱可能に固定する手段を更に有してよい。

[0014] 係止部は、ユニット側コネクタをフレーム側コネクタに挿入する場合に、複数の貫通溝が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪及び後側爪の!ヽずれにも接触しなヽように、係止板を着脱可能に固定する手段を更に有してょ、。

[0015] それぞれのユニット側コネクタは、後側爪が貫通溝の後端部に嵌合した場合に当該貫通溝の前端部と接触する位置に設けられた、ユニット配設方向に突起した弾性を有する戻り防止突起部を更に有してよい。

[0016] それぞれのユニット側コネクタは、後側爪が貫通溝の後端部に嵌合した場合に保持基板の外部に表出する領域に、ユニット配設方向に突起した取手部を更に有してよい。ケーブルユニットは、それぞれ複数のユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、係止部は、コネクタブロック毎に、係止板及び当該係止板を着脱可能に固定する手段を有してよい。

[0017] 保持基板は、隣接するコネクタブロックの間に設けられ、テストボードと対向する面において開口を有し、テストボードは、開口と対応する位置に、接続方向に延伸する延伸部を有し、ユニット固定部は、開口に延伸部が挿入された状態で、保持基板と延伸部とを固定してよい。

[0018] 保持基板は、ユニット配設方向を法線とする表面を有し、当該表面に貫通溝が設けられた上側基板と、ユニット配設方向を法線とする表面を有し、上側基板に対して、ユニット配設方向において所定の間隔を有して設けられる下側基板とを有し、複数のユニット側コネクタは、上側基板と下側基板との間に挿入されてよい。

[0019] 下側基板は、それぞれの光ファイバケーブルが通過するケーブル通過部と、ケーブル通過部の端部に設けられ、それぞれの光ファイバケーブルを挿通してコネクタ保持部の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部とを有し、上側基板の貫通溝が設けられた表面の、ケーブル通過部に対向する領域には、複数の貫通孔が設けられてよい。

[0020] ケーブルユニットは、それぞれ複数のユニット側コネクタを有する複数のコネクタブロックを有し、ケーブル送出部に最も近いコネクタブロックに接続された光ファイバケ一ブルが通過するケーブル通過部の領域に対向する上側基板の表面が切り欠かれていてよい。

[0021] ケーブル通過部に対応する領域における上側基板と下側基板との間隔は、貫通溝に対応する領域における上側基板と下側基板との間隔より大きくてよい。ケーブル通過部は、下側基板のユニット配設方向を法線とする表面から、上側基板の方向に延伸する側面を有し、係止部は、係止板を側面に着脱可能に固定する手段を有してよい。上側基板は、複数の貫通溝が設けられた上側主基板と、複数の貫通孔が設けられ、ケーブル通過部に対向する領域に上側主基板と着脱可能に固定される上側従基板とを有してよい。

[0022] 本発明の第 2の形態においては、電子デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ前記電子デバイスに試験パターンを印加する第 1テストヘッド及び第 2テストヘッドと、表面及び裏面のそれぞれに複数のフレーム側コネクタが設けられたテストボードを有し、表面に設けられたフレーム側コネクタを介して制御信号を第 1テストへッドに供給し、裏面に設けられたフレーム側コネクタを介して制御信号を第 2テストへッドに供給するメインフレームと、テストボードの表面に設けられたフレーム側コネクタと第 1テストヘッドとを光接続し、制御信号を第 1テストヘッドに伝送する第 1ケーブルユニットと、テストボードの裏面に設けられたフレーム側コネクタと第 2テストヘッドとを光接続し、制御信号を第 2テストヘッドに伝送する第 2ケーブルユニットとを備え、第 1 ケーブルユニット及び第 2ケーブルユニットのそれぞれは、制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、光ファイバケーブルの端部に設けられ、複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、それぞれのユニット側コネクタを、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部とを有し、第 1ケーブルユニットは、テストボードに対してケーブルュ- ットを固定する第 1ユニット固定部を更に有し、第 2ケーブルユニットは、第 1ケーブルユニットに対して第 2ケーブルユニットを固定する第 2ユニット固定部を更に有する試験装置を提供する。

[0023] なお、上記の発明の概要は、本発明の必要な特徴の全てを列挙したものではなぐこれらの特徴群のサブコンビネーションもまた、発明となりうる。

発明の効果

[0024] 本発明によれば、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よぐ且つ安全に接続することができる。

図面の簡単な説明

[0025] [図 1]本発明の実施形態に係る試験装置 100の構成の一例を示す図である。

[図 2]テストボード 14及びケーブルユニット 20の概念図である。

[図 3]コネクタ保持部 21の構成の一例を示す図である。

[図 4]上側主基板 26、上側従基板 30、及び下側基板 24のそれぞれの外観の一例を示す図である。

[図 5]ユニット側コネクタ 22及び貫通溝 36の拡大図の一例である。

[図 6]フレーム側コネクタ 16に挿入されたときの、貫通溝 36に対するユニット側コネクタ 22の位置を示す。

[図 7]テストヘッド 12を 2つ備える試験装置 100における、テストボード 14の概念図である。 [図 8]第 2ケーブルユニット 120のコネクタ保持部 121の構成の一例を示す図である。圆 9]上側主基板 126、上側従基板 130、及び下側基板 124のそれぞれの外観の一例を示す図である。

[図 10]第 1ケーブルユニット 20及び第 2ケーブルユニット 120を張り合わせる場合の概念図である。

[図 11]テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16を使用しない場合に、テストボード 14に対して固定される第 1ケーブルユニット 20の構成の一例を示す図である。

符号の説明

10·· 'メインフレーム、 12· · 'テストヘッド、 14· · 'テストボード、 16·· 'フレーム側コネクタ、 18· · '延伸部、 20· · 'ケーブルユニット、 21·· 'コネクタ保持部、 22· · 'ユニット側コネクタ、 23···上側基板、 24· · ·下側基板、 26· ··上側主基板、 28·· 'ユニット固定部、 30· · ·上側従基板、 32· · 'ケーブル送出部、 34· · '係止板、 36· · ·貫通溝 , 38·· 'コネクタブロック、 40· · '光ファイノくケープノレ、 42· · ·貫通孑し、 44、 46、 48、 5 0、 52、 54、 56、 58···ビス穴、 60···開口部材、 61···底面、 62···貫通孔、 63·· '側面、 64· · ·終端部材、 65· · 'ケーブル通過部側面、 66、 68·· 'ビス穴、 70· · ·突出面、 72、 73、 74· · 'ビス穴、 75· · ·側面、 76· · 'ビス穴、 77· · '突出面、 79· · '表面、 80···側面、 81···接続面、 82···ビス穴、 83···表面、 84···接続面、 85··· 側面、 88、 90· · 'ビス穴、 92· · 'ケーブル通過領域、 93·· 'コネクタ領域、 94· · 'ビス穴、 96· · '後端部、 98·· '端部、 100· · '試験装置、 102· · '外周部、 104· · ·後側爪、 106···前側爪、 108···戻り防止突起部、 112···取手部、 113···嵌合部、 114· ··弾性部、 118···コネクタ先端部、 120···嵌合部、 121···コネクタ保持部、 122· • '前端部、 123···上側基板、 124· · ·下側基板、 126· ··上側主基板、 128· · '表面、 130· · ·上側従基板、 161·· ·底面、 163· · ·側面、 165· · ·ケーブル通過部側面、 168· ··貫通孔、 170· · '突出面、 192·· 'ケーブル通過領域、 193· · 'コネクタ領域、 196、 198· · 'ビス穴、 202· · '接続部材、 204·· '遮光板、 206·· '側面、 300· · •電子デバイス

発明を実施するための最良の形態 [0027] 以下、発明の実施の形態を通じて本発明を説明するが、以下の実施形態は請求の範隨こかかる発明を限定するものではなぐまた実施形態の中で説明されている特徴の組み合わせの全てが発明の解決手段に必須であるとは限らない。

[0028] 図 1は、本発明の実施形態に係る試験装置 100の構成の一例を示す図である。試験装置 100は、半導体回路等の電子デバイス 300を試験する装置であって、メインフレーム 10、複数のケーブルユニット 20、及びテストヘッド 12を備える。本例においてメインフレーム 10とテストヘッド 12との間の信号の伝送は、光ファイバケーブルを用いて行われる。

[0029] テストヘッド 12は、電子デバイス 300に試験パターンを印加する。テストヘッド 12は、複数の電子デバイス 300に試験パターンを印加してよい。また、テストヘッド 12は、ケーブルユニット 20を介してメインフレーム 10と接続され、メインフレーム 10から受け取る制御信号に基づ、て、電子デバイス 300に試験パターンを印加する。

[0030] メインフレーム 10は、制御信号を生成しテストヘッド 12に供給する。メインフレーム 1 0は、図 2において後述する複数のテストボード 14を有する。それぞれのテストボード 14は、それぞれの機能に応じた制御信号を生成する。またそれぞれのテストボード 1 4には、複数のフレーム側コネクタが設けられており、当該フレーム側コネクタを介して、対応するケーブルユニット 20と接続する。それぞれのフレーム側コネクタは、光フアイバケーブル用のコネクタである。

[0031] 複数のケーブルユニット 20は、複数のテストボード 14と対応して設けられる。それぞれのケーブルユニット 20は、一端が対応するテストボード 14のフレーム側コネクタに接続され、他端がテストヘッド 12に接続される。つまり、それぞれのケーブルュ-ット 20は、フレーム側コネクタとテストヘッド 12とを光接続し、制御信号をテストヘッド 12 へ伝送する。

[0032] 図 2は、テストボード 14及びケーブルユニット 20の概念図である。テストボード 14は、図 1において説明したメインフレーム 10に、一端が表出するように挿入される。またテストボード 14は、メインフレーム 10から表出する端部に、複数のフレーム側コネクタ 16及び延伸部 18を有する。複数のフレーム側コネクタ 16は、ケーブルユニット 20との接続方向と略垂直な方向に並列に配設される。また、複数のフレーム側コネクタ 1 6は、複数のブロックに分割されており、当該ブロック間に、上記接続方向に延伸する延伸部 18が設けられる。複数のフレーム側コネクタ 16及び延伸部 18は、テストボード 14の表面に固定される。

[0033] ケーブルユニット 20は、複数の光ファイバケーブル 40、複数のユニット側コネクタ 2 2、及びコネクタ保持部 21を有する。光ファイバケーブル 40は、一端がユニット側コネクタ 22と接続され、他端がテストヘッド 12と接続され、メインフレーム 10からテストへッド 12に制御信号を伝送する。

[0034] 複数のユニット側コネクタ 22は、複数のフレーム側コネクタ 16と対応して設けられ、フレーム側コネクタ 16と平行に並列に配設される。またコネクタ保持部 21は、それぞれのユニット側コネクタ 22を、対応するフレーム側コネクタ 16に対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持する。

[0035] また、複数のユニット側コネクタ 22は、フレーム側コネクタ 16と同様に複数のブロックに分割されており、当該ブロック間に、延伸部 18が挿入される挿入孔が設けられる。延伸部 18が挿入孔に挿入されることにより、ケーブルユニット 20は、対応するテストボード 14に対して固定される。

[0036] このように、コネクタ保持部 21が、複数のユニット側コネクタ 22を一括して保持し、後述するユニット固定部 28が、ケーブルユニット 20を対応するテストボード 14に対して所定の位置に固定することにより、全てのユニット側コネクタ 22を、対応するフレーム側コネクタ 16に容易に挿入可能な位置に配置することができる。そして、コネクタ保持部 21が、それぞれのユニット側コネクタ 22を独立して挿抜可能に保持することにより、それぞれのユニット側コネクタ 22を精度よくフレーム側コネクタ 16に挿入することができる。このため、ユニット側コネクタ 22の光射出面の損傷を低減することができる。

[0037] 図 3は、コネクタ保持部 21の構成の一例を示す図である。コネクタ保持部 21は、上側基板 23、下側基板 24、及びユニット固定部 28を有する。ここで、上側及び下側とは、基板を区別するための呼称であり、実使用時における位置関係を示すものではない。

[0038] 複数のユニット側コネクタ 22は、光ファイバケーブル 40の端部に設けられ、図 2において説明した複数のフレーム側コネクタ 16に対応して、ケーブルユニットの面内において接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に設けられる。また、複数のュ- ット側コネクタ 22は、フレーム側コネクタ 16のブロックに対応して、複数のコネクタブロック（38— 1〜38— 3、以下 38と総称する）に分割して配設される。また、フレーム側コネクタ 16及びユニット側コネクタ 22は、いわゆる MPOコネクタであってよい。

[0039] また、上側基板 23及び下側基板 24は、所定の間隔を有して設けられ、上側基板 2 3及び下側基板 24との間に複数のユニット側コネクタ 22が並列に挿入される。上側基板 23と下側基板 24との間隔は、ユニット側コネクタ 22の厚さより大きい必要がある 1S ユニット側コネクタ 22を保持するために、当該間隔はユニット側コネクタ 22の厚さと略等しいことが好ましい。これにより、上側基板 23及び下側基板 24は、複数のュ- ット側コネクタ 22を保持する保持基板として機能する。

[0040] 図 2において述べたように、保持基板（23、 24)は、それぞれのユニット側コネクタ 2 2を、対応するフレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持する。つまり、保持基板（23、 24)は、それぞれのユニット側コネクタ 22を、フレーム側コネクタ 16との接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持する。また、下側基板 24には、それぞれの光ファイバケーブル 40を揷通してコネクタ保持部 21の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部 32が設けられる。

[0041] また、上側基板 23は、上側主基板 26及び上側従基板 30を有する。上側従基板 3 0は、上側主基板 26に着脱可能に固定される。例えば、上側従基板 30は、上側主基板 26の所定の位置にビス等により固定される。

[0042] 上側主基板 26には、複数のユニット側コネクタ 22と対応する位置に、複数の貫通溝 36が設けられる。それぞれの貫通溝 36は、対応するユニット側コネクタ 22に設けられた係止爪（104、 106)が揷通される。それぞれのユニット側コネクタ 22は、接続方向及びコネクタ配設方向の双方と垂直なユニット配設方向に突起した係止爪（10 4、 106)を有する。

[0043] 保持基板（23、 24)は、それぞれの貫通溝 36に対応するユニット側コネクタ 22の係止爪（104、 106)が挿通された状態において、係止爪を貫通溝 36に沿って接続方向に対して移動可能に保持する。これにより、ユニット側コネクタ 22を接続方向に対して移動可能に保持することができる。例えば、それぞれの貫通溝 36の幅は揷通される係止爪（104、 106)の幅と略等しぐ挿通された係止爪（104、 106)が接続方向に移動可能なように、接続方向に沿って設けられる。

[0044] ユニット固定部 28は、対応するテストボード 14に対して、当該ケーブルユニット 20 を固定する。本例においてユニット固定部 28は、隣接するコネクタブロック 38の間に設けられ、テストボード 14と対向する面に開口が設けられた挿入孔である。テストボード 14は、当該開口と対応する位置に、接続方向に延伸する延伸部 18を有する。当該挿入孔に延伸部 18が挿入されることにより、テストボード 14に対するケーブルュニット 20の位置が決定される。また、ユニット固定部 28は、延伸部 18が挿入孔に揷入された状態で、延伸部 18に下側基板 24を固定する手段を有してよい。例えば下側基板 24の当該挿入孔に対応する位置に貫通孔を設け、当該貫通孔にビス等を揷通することにより、延伸部 18と下側基板 24とを固定してよい。

[0045] ケーブルユニット 20をテストボード 14に対して固定する場合、それぞれのユニット側コネクタ 22は、ユニット固定部 28がケーブルユニット 20を固定した状態において、テストボード 14に接触しない位置に係止されることが好ましい。本例においては、それぞれのユニット側コネクタ 22は、図 3に示すように、係止爪のうちの後側爪 104が、貫通溝 36の後端部と嵌合する位置に係止されることが好ましい。このような状態に係止することにより、ケーブルユニット 20をテストボード 14に対して固定する際に、ュ- ット側コネクタ 22の光射出面がテストボード 14と接触して破損することを防ぐことができる。

[0046] 例えば、コネクタ保持部 21は、それぞれのユニット側コネクタ 22を、フレーム側コネクタ 16と接続しない状態、即ち後側爪 104が、貫通溝 36の後端部と嵌合する状態で係止可能な係止部を有する。本例において当該係止部は、コネクタブロック 38毎に、上側主基板 26に対して着脱可能な係止板 34と、係止板 34を上側主基板 26の所定の位置に固定する手段とを有する。

[0047] それぞれのユニット側コネクタ 22を、後側爪 104が貫通溝 36の後端部と嵌合する状態で係止する場合、係止板 34は、並列に設けられた複数の貫通溝 36のそれぞれと略直角に交差し、且つそれぞれのユニット側コネクタ 22の前側爪 106と嵌合する位置に固定される。

[0048] そして、ケーブルユニット 20をテストボード 14に対して固定した後、それぞれの係止板 34を上側主基板 26から取り外し、それぞれのユニット側コネクタ 22を接続方向に移動可能な状態にする。そして、それぞれのユニット側コネクタ 22を、対応するフレーム側コネクタ 16に順次接続する。このような構成により、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よぐ且つ安全に接続することができる。

[0049] 図 4は、上側主基板 26、上側従基板 30、及び下側基板 24のそれぞれの外観の一例を示す図である。まず、下側基板 24について説明する。下側基板 24は、上側主基板 26の表面と略平行な底面 61と、底面 61から上側主基板 26の方向に延伸し、接続方向に略平行な 2つの側面 63と、底面 61から上側主基板 26の方向に延伸し、接続方向を法線とするケーブル通過部側面 65とを有する。また、ユニット側コネクタ 22 が配置される底面 61の辺には、側面が設けられない。また、底面 61は、ユニット側コネクタ 22が配置される底面 61の辺から、接続方向に突出した突出面 70を有する。

[0050] 底面 61は、ユニット側コネクタ 22が挿入されて配置されるコネクタ領域 93と、それぞれのユニット側コネクタ 22の光ファイバケーブル 40が通過するケーブル通過領域 92とを有する。コネクタ領域 93には、ユニット固定部 28が設けられる。ユニット固定部 28は、突出面 70に設けられた開口部材 60と、終端部材 64とを有する。開口部材 60及び突出面 70は、テストボード 14に対向する面に開口を有する貫通孔 62を形成する。また、終端部材 64は、開口部材 60に対して、接続方向に所定の間隔を有して設けられ、底面 61の法線方向に突起して設けられる。また、終端部材 64の、上側主基板 26と対向する面には、上側主基板 26と下側基板 24とを艇着するためのビス穴（ 66 - 1, 66- 2,以下 66と総称する）力待設けられる。

[0051] ケーブルユニット 20をテストボード 14に接続する場合、開口部材 60の貫通孔 62にテストボード 14の延伸部 18が挿入され、延伸部 18の端部が終端部材 64と当接するまで、延伸部 18が挿入される。

[0052] また、底面 61には、終端部材 64を固定するビス穴 68が設けられる。終端部材 64 は、ビス穴 68の位置に艇着される。また、突出面 70には、ビス穴 90が設けられ、開ロ部材 60は、ビス穴 90の位置に鉅着される。また、底面 61において、ビス穴 68が設けられた領域と、ビス穴 90が設けられた領域との間には、ビス穴 94が設けられる。延伸部 18は、終端部材 64と当接した状態で、ビス穴 94を介して底面 61に艇着される。このような構成により、ケーブルユニット 20を、テストボード 14に対して所定の位置に固定することができる。また、図 4においては、ひとつのユニット固定部 28のみを示しているが、図 3に示したように、下側基板 24には、複数のユニット固定部 28が設けられる。

[0053] 側面 63には、下側基板 24と上側主基板 26とを固定するためのビス穴（58、 72)が設けられる。側面 63の高さは、ユニット側コネクタ 22の高さより大きい。ケーブル通過部側面 65には、ビス穴（73、 74、 76)が設けられる。ビス穴 74は、下側基板 24と上側従基板 30とを鉅着するために設けられ、ビス穴 73は、当該ケーブルユニット 20と、他のケーブルユニット 20とを鉅着するために設けられる。ケーブルユニット 20同士を艇着する構成については、図 10において後述する。ビス穴 76は、ユニット側コネクタ 22をフレーム側コネクタ 16に挿入するときに、係止板 34を図 3に示した状態力も取り外し、退避して固定するために設けられる。

[0054] また、ケーブル通過領域 92及びケーブル通過部側面 65は、ユニット側コネクタ 22 に接続された光ファイバケーブル 40が通過するケーブル通過部として機能する。ケ一ブル通過領域 92における底面 61は、コネクタ領域 93における底面 61に対して、コネクタ配設方向に突出する突出面 77を有する。突出面 77の端部には、ケーブル通過部を通過した光ファイバケーブル 40を揷通する開口を有するケーブル送出部 3 2が設けられる。

[0055] 次に、上側主基板 26について説明する。上側主基板 26は、下側基板 24の底面と対向する表面 83、表面 83から下側基板 24の方向に延伸し、接続方向に略平行な 2 つの側面 85と、それぞれの側面 85から外側に延伸し、表面 83と略平行な接続面 84 とを有する。

[0056] 表面 83には、図 3において説明した複数の貫通溝 36が設けられる。複数の貫通溝 36は、コネクタブロック 38毎に、ユニット側コネクタ 22のコネクタ配設方向に並列に設けられる。それぞれのブロックにおいて貫通溝 36が設けられるピッチは、ユニット側コネクタ 22のコネクタ配設方向における幅と略同一であることが好ましい。これにより、ユニット側コネクタ 22が、コネクタ配設方向にぉ、て揺動することを防ぐことができる。また、本例においては、ユニット側コネクタ 22が配置される底面 61の辺には、側面が設けられていないが、他の例においては、当該側面に、それぞれのユニット側コネクタ 22のコネクタ配設方向における位置を決定するための仕切板等が設けられていてちょい。

[0057] また、前述した係止部は、貫通溝 36のそれぞれのブロック毎に、係止板 34及び係止板 34を着脱可能に固定する手段を有する。係止板 34を固定する当該手段として、本例においては、表面 83に係止板 34をビス止めするためのビス穴 50が設けられる。当該ビス穴 50は、貫通溝 36のそれぞれのブロック毎に一対ずつ設けられ、対となるビス穴 50を結んだ直線力それぞれの貫通溝 36と略直交する位置に設けられる。係止部は、ビス穴 50に係止板 34の両端をビス止めすることにより、係止板 34を固定する。図 4においては、貫通溝 36の複数のブロックのうちひとつのブロックについてのみ、係止板 34を固定して示している力貫通溝 36の他のブロックについても、同様に係止板 34が固定される。これにより、それぞれのユニット側コネクタ 22を、接続方向において略同一の位置に保持することができる。また、図 4においては、ひとつの貫通溝 36に対してのみ、ユニット側コネクタ 22を示している力図 3に示したように、他の貫通溝 36に対しても同様にユニット側コネクタ 22が挿通される。

[0058] また、それぞれのビス穴 50は、それぞれのユニット側コネクタ 22の後側爪 104が貫通溝 36の後端部と嵌合した状態にぉ、て、係止板 34とそれぞれのユニット側コネクタ 22の前側爪 106とが嵌合するように設けられる。つまり、ビス穴 50に係止板 34を固定したときに、貫通溝 36の後端部と、当該後端部に向かい合う係止板 34の端部との距離力ユニット側コネクタ 22の後側爪 104と前側爪 106との距離に等しくなる位置に、それぞれのビス穴 50が設けられる。

[0059] また係止部は、ユニット側コネクタ 22をフレーム側コネクタ 16に挿入する場合に、複数の貫通溝 36が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪 106及び後側爪 104のいずれにも接触しないように、係止板 34を着脱可能に固定する手段を更に有することが好ましい。つまり、係止板 34を退避して固定する手段を更に有する。本例においては、係止板 34を退避して固定する当該手段として、表面 83に係止板 34をビス止めするためのビス穴 48が設けられる。当該ビス穴 48は、貫通溝 36のそれぞれのブロックごとに一対ずつ設けられる。また、それぞれのビス穴 48は、係止板 34を固定したときに、係止板 34が、貫通溝 36を覆わない位置に設けられる。本例においては、それぞれのビス穴 48は、貫通溝 36とビス穴 54との間に設けられる。

[0060] また、表面 83には、それぞれのユニット側コネクタ 22に対応して設けられるケープルガイドを固定するためのビス穴（54— 1、 54- 2, 54- 3,以下 54と総称する）が設けられる。それぞれのビス穴は、貫通溝 36に対応して設けられる。それぞれのビス穴 54と、対応する貫通溝 36との距離が、ケーブル送出部 32と貫通溝 36との距離に比例して大きくなるように、それぞれのビス穴 54が設けられることが好ましい。上側主基板 26と下側基板 24との間〖こは、当該ビス穴 54を介して当該ケーブルガイドが設けられ、ケーブルガイドによって光ファイバケーブル 40を湾曲させ、下側基板 24のケーブル通過部を通過させる。ビス穴 54と貫通溝 36との距離を、ケーブル送出部 32と貫通溝 36との距離に比例して大きくすることにより、それぞれの光ファイバケーブル 40 を湾曲させる位置を異ならせることができ、ケーブル通過部において光ファイバケーブル 40を平行に整列させることができる。

[0061] また、それぞれのケーブルガイドは、所定の曲率を有する湾曲面を有する。光ファィバケーブル 40は、当該湾曲面に沿って、ユニット側コネクタ 22の端部力もケーブル通過領域 92に導かれる。これにより、それぞれの光ファイバケーブル 40の曲率を制限することができる。また、ケーブルガイドの当該湾曲面は、弾性を有していてもよい。この場合、当該湾曲面は、ユニット側コネクタ 22の挿抜に伴う光ファイバケーブル 4 0の移動によっては、所定の曲率以上で湾曲しないような弾性率を有することが好ましい。これにより、光ファイバケーブル 40の曲率を、当該所定の曲率以上に保つことができ、且つ光ファイバケーブル 40がたわんだ場合には、湾曲面の曲率が小さくなるように変形することができる。これにより、隣接するケーブルガイドによって導かれる光ファイバケーブル 40の通過を妨げることを防止することができる。

[0062] また、ケーブル送出部 32に最も近い位置に設けられる貫通溝 36のブロックと、ビス穴 54との距離は小さいため、ビス穴 48を設けることができない場合がある。このような場合、ケーブル送出部 32に最も近い位置に設けられる貫通溝 36のブロックに対応する係止板 34は、前述した下側基板 24のビス穴 76の位置に退避される。つまり、ビス穴 48及びビス穴 76は、ユニット側コネクタ 22をフレーム側コネクタ 16に挿入する場合に、複数の貫通溝 36が設けられた領域とは異なる領域に、前側爪 106及び後側爪 104の、ずれにも接触しな、ように、係止板 34を着脱可能に固定する手段として機能する。

[0063] また、表面 83には、終端部材 64のビス穴 66に対応する位置に、ビス穴（52— 1、 5 2— 2、以下 52と総称する）が設けられる。これにより、終端部材 64と表面 83が艇着される。また、側面 85には、下側基板 24の側面 63に設けられたビス穴 58と対応する位置に、ビス穴 56が設けられる。これにより、下側基板 24の側面 63と、上側主基板 2 6の側面 85とが艇着される。また、接続面 84には、当該ケーブルユニット 20と、他のケーブルユニット 20とを鉅着するためのビス穴（82、 88)が設けられる。ケーブルュ- ット 20同士を艇着する構成にっ、ては、図 10にお、て後述する。

[0064] また、ケーブル送出部 32に最も近い位置に設けられた貫通溝 36のブロックが設けられた表面 83の領域の接続方向における幅は、他の貫通溝 36のブロックが設けられた領域の接続方向における幅より小さい。また、上側主基板 26の表面 83は、下側基板 24のケーブル通過領域 92を表出させるように設けられる。つまり、ケーブル通過領域 92を覆わないように、上側主基板 26の表面 83が設けられる。また、表面 83 のケーブル通過領域 92側の端部には、上側主基板 26と上側従基板 30とを固定するためのビス穴（46— 1、 46- 2,以下 46と総称する）が設けられる。

[0065] 次に、上側従基板 30について説明する。上側従基板 30は、下側基板 24のケープル通過領域 92と対向する表面 79、表面 79から延伸し、下側基板 24のケーブル通過部側面 65に鉅着される側面 75、表面 79から延伸し、側面 75と略平行な側面 80、及び側面 80から外側に延伸し、表面 79と略平行な接続面 81を有する。

[0066] 接続面 81には、ビス穴（44— 1、 44 2、以下 44と総称する）が設けられ、ビス穴 4 4及び上側主基板 26のビス穴 46により、上側主基板 26の表面に、上側従基板 30が鉅着される。表面 79は、下側基板 24のケーブル通過領域 92を覆う位置に設けられる。また、表面 79には、複数の貫通孔 42が設けられる。これにより、ケーブル通過部に対向する領域に貫通孔 42が設けられ、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル 40の状態を監視することができる。

[0067] また、上側従基板 30の表面 79は、上側主基板 26の表面 83に対して、側面 80の高さだけ高い位置に設けられる。これにより、ケーブル通過部に対応する領域における上側基板 23と下側基板 24との間隔は、貫通溝 36が設けられた領域における上側基板 23と下側基板 24との間隔より大きくなる。これにより、ケーブル通過部の断面積を大きくすることができ、ユニット側コネクタ 22の挿抜に伴う光ファイバケーブル 40の移動を容易にすることができる。

[0068] また、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル 40の本数は、ケーブル送出部 32に近い領域ほど多くなる。本例においては、ケーブル送出部 32に最も近いコネクタブロック 38に接続された光ファイバケーブル 40が通過するケーブル通過部の領域に対向する上側基板 23の表面が切り欠かれている。つまり、上側基板 23の表面 7 9は、下側基板 24のケーブル通過領域 92のうち、ケーブル送出部 32に最も近い貫通溝 36のブロック以外のブロックに対応する領域を覆うように設けられる。これにより、上述したように、ユニット側コネクタ 22の挿抜に伴う光ファイバケーブル 40の移動を容易にすることができる。また、ケーブル通過部を通過する光ファイバケーブル 40の本数が少ない場合、上側基板の表面 79は、ケーブル通過領域 92全体を覆うように設けられていてもよい。

[0069] また、上側従基板 30を、上側主基板に着脱可能に設けることにより、コネクタ保持部 21を組み立てた後に、上側従基板 30を取り外し、光ファイバケーブル 40の位置を容易に修正することができる。

[0070] 図 5は、ユニット側コネクタ 22及び貫通溝 36の拡大図の一例である。ユニット側コネクタ 22は、コネクタ先端部 118及びコネクタ先端部 118の外周を覆うように設けられた外周部 102を有する。

[0071] コネクタ先端部 118は、光ファイバケーブル 40の先端に設けられ、フレーム側コネクタ 16に挿入される。またコネクタ先端部 118は、光射出面を保護するカバーを有しており、フレーム側コネクタ 16に挿入されるときに取り外される。

[0072] 外周部 102は、例えば金属で形成されており、前側爪 106、後側爪 104、嵌合部 1 13、戻り防止突起部 108、弾性部 114、及び取手部 112を有する。嵌合部 113は、コネクタ先端部 118と嵌合し、外周部 102をコネクタ先端部 118に固定する。後側爪 104は、上側主基板 26の方向に突起して設けられ、先端が貫通溝 36の後端部 96 の方向に突出する。また前側爪 106は、上側主基板 26の方向に突起して設けられ、先端が貫通溝 36の前端部 122の方向に突出する。

[0073] 戻り防止突起部 108は、後側爪 104が貫通溝 36の後端部 96に嵌合した場合に、貫通溝の前端部 122と接触する位置に、上側主基板 26の方向、すなわちユニット配設方向に突起して設けられる。また、戻り防止突起部 108は、弾性部 114を介して外周部 102の本体に接続される。弾性部 114は、戻り防止突起部 108を、ユニット配設方向にお、て回動可能に保持する。

[0074] また、取手部 112は、後側爪 104が貫通溝 36の後端部 96に嵌合した場合に上側主基板 26及び下側基板 24の外部に表出する領域に、ユニット配設方向に突起して設けられる。使用者は、取手部 112をつまみ、ユニット側コネクタ 22を接続方向に移動させる。

[0075] フレーム側コネクタ 16に挿入される前段階では、ユニット側コネクタ 22は、後側爪 1 04が貫通溝 36の後端部 96と嵌合する位置まで挿入され、係止部は、係止板 34の端部 98が前側爪 106と嵌合する位置に、係止板 34を係止する。これにより、それぞれのユニット側コネクタ 22を、テストボード 14に接触しな、位置に係止した状態で、ケーブルユニット 20をテストボード 14に安全に固定することができる。このとき、戻り防止突起部 108は、貫通溝 36の前端部 122と当接する。

[0076] そして、フレーム側コネクタ 16に挿入する段階で、係止板 34を取り外し、ユニット側コネクタ 22を接続方向に移動可能な状態にする。ただし、外力が加わらない状態では、ユニット側コネクタ 22は、後側爪 104及び戻り防止突起部 108により、係止されている。また、係止板 34は、前述したビス穴 48等の位置に退避される。そして、使用者は、それぞれのユニット側コネクタ 22を順次フレーム側コネクタ 16に挿入する。このような構成により、使用者は、それぞれのユニット側コネクタ 22を安全にフレーム側コネクタ 16に挿入することができる。

[0077] 図 6は、フレーム側コネクタ 16に挿入されたときの、貫通溝 36に対するユニット側コネクタ 22の位置を示す。フレーム側コネクタ 16に挿入された場合、ユニット側コネクタ 22の前側爪 106は、貫通溝 36の前端部 122と嵌合する。

[0078] 図 7は、テストヘッド 12を 2つ備える試験装置 100における、テストボード 14の概念図である。テストヘッド 12を 2つ備える場合、テストボード 14の表面及び裏面のそれぞれに、複数のフレーム側コネクタ 16が設けられる。

[0079] この場合、メインフレーム 10は、テストボード 14の表面に設けられたフレーム側コネクタ 16を介して、制御信号を第 1テストヘッド 12に供給し、テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16を介して、制御信号を第 2テストヘッド 12に供給する。

[0080] また、試験装置 100は、テストボード 14の表面に設けられたフレーム側コネクタ 16と第 1テストヘッド 12とを光接続し、制御信号を第 1テストヘッド 12に伝送する第 1ケーブルユニット 20と、テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16と第 2テストヘッド 12とを光接続し、制御信号を第 2テストヘッド 12に伝送する第 2ケーブルュニット 120とを備える。

[0081] この場合、テストボード 14の表面には、延伸部 18が設けられ、裏面には延伸部が設けられない。第 1ケーブルユニット 20は、図 2から図 6において説明したケーブルュニット 20と同一の構成を有し、延伸部 18を介してテストボード 14と接続される。また第 2ケーブルユニット 120は、第 1ケーブルユニット 20の構成に対し、ユニット固定部 28を有さず、第 1ケーブルユニット 20に対して第 2ケーブルユニットを固定する手段を有する点で相違する。

[0082] 図 8は、第 2ケーブルユニット 120のコネクタ保持部 121の構成の一例を示す図である。コネクタ保持部 121は、上側基板 123及び下側基板 124を有する。ここで、上側及び下側とは、基板を区別するための呼称であり、実使用時における位置関係を示すものではない。また本図においては、光ファイバケーブル 40の記載を省略している。

[0083] 上側基板 123は、第 1ケーブルユニット 20の上側基板 23の構成に対し、略左右対称の構成を有する。上側基板 123は、上側主基板 126及び上側従基板 130を有する。上側主基板 126及び上側従基板 130は、第 1ケーブルユニット 20の上側主基板 26及び上側従基板 30の構成に対し、略左右対称の構成を有する。但し、第 2ケーブルユニット 120は、ユニット固定部 28を有さないため、上側主基板 126は、ユニット固定部 28に対応するビス穴 52を有さない。下側基板 124は、第 1ケーブルユニット 2 0の下側基板 24の構成に対し、略左右対称の構成を有する。下側基板 124の詳細な構成については、図 9において後述する。

[0084] 図 9は、上側主基板 126、上側従基板 130、及び下側基板 124のそれぞれの外観の一例を示す図である。図 9において、図 4と同一の符号を付したものは、図 4において説明したものと同様の機能及び構成を有する。上側主基板 126及び上側従基板 1 30は、図 8において説明したように、第 1ケーブルユニット 20の上側主基板 26及び上側従基板 30の構成に対し、略左右対称の構成を有する。また、上側主基板 126 は、ビス穴 52に代えて、下側基板 124と鉅着されるべきビス穴 198を有する。

[0085] 下側基板 124は、上側主基板 126の表面と略平行な底面 161と、底面 161から上側主基板 126の方向に延伸し、接続方向に略平行な 2つの側面 163と、底面 161から上側主基板 126の方向に延伸し、接続方向を法線とするケーブル通過部側面 16 5とを有する。また、ユニット側コネクタ 22が配置される底面 161の辺には、側面が設けられない。また、底面 161は、ユニット側コネクタ 22が配置される底面 161の辺から、接続方向に突出した突出面 170を有する。

[0086] 底面 161は、ユニット側コネクタ 22が挿入されて配置されるコネクタ領域 193と、それぞれのユニット側コネクタ 22の光ファイバケーブル 40が通過するケーブル通過領域 192とを有する。下側基板 124におけるケーブル通過領域 192の形状は、下側基板 24におけるケーブル通過領域 92と略左右対称である。コネクタ領域 193には突出面 170が設けられる。突出面 170は、上側主基板 126の方向に折り返され、折り返された表面 128にビス穴 196が設けられる。ビス穴 196は、上側主基板 126に設けられたビス穴 198と鉅着される。

[0087] また、コネクタ領域 193の接続方向における幅は、第 1ケーブルユニット 20におけるコネクタ領域 93の接続方向における幅より小さい。図 10に示すように、第 2ケーブルユニット 120の底面 161と、第 1ケーブルユニット 20の底面 61とは裏面同士で張り合わされるため、第 2ケーブルユニット 120のそれぞれのユニット側コネクタ 22は、第 1 ケーブルユニット 20の下側基板 24と、第 2ケーブルユニット 120の上側主基板 126とにより保持される。 [0088] また、下側基板 124にお、て、第 1ケーブルユニット 20の下側基板 24のビス穴（68 、 94)に対応する位置には、貫通孔 168が設けられる。これにより、第 1ケーブルュ- ット 20と第 2ケーブルユニット 120とを張り合わせたときに、ビス穴（68、 94)に揷通されたビスの端部が貫通孔 168に挿入されるため、当該ビスが下側基板 124の裏面に当たることによる下側基板 124の傾きを無くし、第 1ケーブルユニット 20と第 2ケープルユニット 120とを密着して固定することができる。

[0089] 図 10は、第 1ケーブルユニット 20及び第 2ケーブルユニット 120を張り合わせる場合の概念図である。前述したように、第 1ケーブルユニット 20及び第 2ケーブルュ-ット 120は、下側基板 24及び下側基板 124の裏面同士が密着するように張り合わされる。そして、対応するビス穴（82、 88)同士を鉅着し、対応するビス穴 73を、接続部材 202を用いて鉅着する。これにより、第 2ケーブルユニット 120は、第 1ケーブルュ-ット 20に固定される。第 1ケーブルユニット 20は、テストボード 14に対して固定されるため、第 2ケーブルユニット 120も、テストボード 14に対して所定の位置に固定することができる。

[0090] テストボード 14からは、制御信号としてレーザ光が射出される。第 1ケーブルュ-ット 20及び第 2ケーブルユニット 120がテストボード 14に接続されている場合、テストボード 14のフレーム側コネクタ 16から射出されるレーザ光は、第 1ケーブルユニット 20 のケーブル通過部側面 65、及び第 2ケーブルユニット 120のケーブル通過部側面 1 65により遮光される。

[0091] しかし、これらのケーブルユニットを取り外す際には、レーザ光に対して使用者の注意を喚起する必要がある。本例においては、テストボード 14の近傍に、使用者の注意を促す注意銘板を設けてよい。また、後述するように、それぞれのユニット側コネクタ 22を、フレーム側コネクタ 16から外すときに、特殊治具を必要とすることにより、使用者の注意を喚起することができる。

[0092] 次に、メインフレームに並列に設けられた複数のテストボード 14に、複数のケープルユニットを順次接続する場合について説明する。まず、並列に設けられたテストボード 14のうち、左端のテストボード 14に、第 1ケーブルユニット 20を固定し、それぞれのユニット側コネクタ 22を、当該テストボード 14の表面に設けられたフレーム側コネクタ 16に挿入する。そして、第 1ケーブルユニット 20に第 2ケーブルユニット 120を固定し、それぞれのユニット側コネクタ 22を当該テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16に挿入する。

[0093] そして、次のテストボード 14に、次の第 1ケーブルユニット 20を固定し、それぞれのユニット側コネクタ 22を、当該テストボード 14の表面に設けられたフレーム側コネクタ 16に挿入する。このとき、当該ユニット側コネクタ 22の取手部 112は、先に固定した第 2ケーブルユニット 120側に突出するため、使用者が当該取手部 112をつかむことが困難な場合がある。この場合、使用者は、ユニット側コネクタ 22を移動させるための治具を用いることが好ましい。当該治具は、ユニット側コネクタ 22の取手部 112が設けられた面の裏面に嵌合する手段を有する。使用者は当該治具を用いて、ュ-ット側コネクタ 22の裏面から、ユニット側コネクタ 22を移動させることができる。

[0094] このような作業を繰り返し、全てのテストボード 14に対してケーブルユニット（20、 12 0)を固定し、全てのユニット側コネクタ 22をフレーム側コネクタ 16に挿入することができる。

[0095] 図 11は、テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16を使用しない場合に、テストボード 14に対して固定される第 1ケーブルユニット 20の構成の一例を示す図である。本例における試験装置 100は、一つのテストヘッド 12のみを用いて電子デバイス 300の試験を行う。当該第 1ケーブルユニット 20は、図 10に関連して説明した第 1ケーブルユニット 20の構成に加え、遮光板 204を更に有する。遮光板 204は、図 10において説明した第 2ケーブルユニット 120と同様に、第 1ケーブルユニット 2 0に固定される。遮光板 204は、テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16が射出するレーザ光の行路をさえぎる位置に、側面 206を有する。例えば遮光板 204は、第 2テストボード 120の下側基板 124のケーブル通過部側面 165と同一の位置に側面 206を有する。これにより、テストボード 14の裏面に設けられたフレーム側コネクタ 16が射出するレーザ光力使用者を保護することができる。

[0096] 以上、本発明を実施の形態を用いて説明したが、本発明の技術的範囲は上記実施の形態に記載の範囲には限定されない。上記実施の形態に、多様な変更または改良を加えることが可能であることが当業者に明らかである。その様な変更または改良を加えた形態も本発明の技術的範囲に含まれ得ることが、請求の範囲の記載力明らかである。

産業上の利用可能性

以上から明らかなように、本発明によれば、多数の光ファイバケーブルのコネクタを効率よぐ且つ安全に接続することができる。

Claims

請求の範囲

[1] 電子デバイスを試験する試験装置であって、

前記電子デバイスに試験パターンを印加するテストヘッドと、

複数のフレーム側コネクタが設けられ、前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記テストヘッドに供給するメインフレームと、

前記フレーム側コネクタと前記テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記テストヘッドに伝送するケーブルユニットと

を備え、

前記ケーブルユニットは、

前記制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、

前記光ファイバケーブルの端部に設けられ、前記複数のフレーム側コネクタに対応して設けられた複数のユニット側コネクタと、

前記メインフレームに対して前記ケーブルユニットを固定するユニット固定部と、それぞれの前記ユニット側コネクタを、対応する前記フレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部と

を有する試験装置。

[2] 前記コネクタ保持部は、それぞれの前記ユニット側コネクタを、前記フレーム側コネクタとの接続方向に対してそれぞれ独立して移動可能に保持する

請求項 1に記載の試験装置。

[3] 前記コネクタ保持部は、それぞれの前記ユニット側コネクタを、前記フレーム側コネクタと接続しなヽ状態で係止可能な係止部を有する

請求項 1に記載の試験装置。

[4] 前記複数のフレーム側コネクタは、前記メインフレームに挿入されたテストボードに設けられ、

前記係止部は、前記ユニット固定部が前記ケーブルユニットを固定した状態にぉ、て、前記テストボードに接触しな、位置に前記複数のユニット側コネクタを係止する請求項 3に記載の試験装置。

[5] 前記複数のユニット側コネクタは、前記ケーブルユニットの面内において、前記フレーム側コネクタとの接続方向と略垂直なコネクタ配設方向に並列に配設され、それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記接続方向及び前記コネクタ配設方向の双方と略垂直なユニット配設方向に突起した係止爪を有し、

前記コネクタ保持部は、

対応する前記ユニット側コネクタの前記係止爪が挿通され、前記係止爪が挿通された状態において前記係止爪を前記接続方向に対して移動可能とすることにより、当該ユニット側コネクタを前記接続方向に対して移動可能に保持する貫通溝が設けられた保持基板を更に有する

請求項 3に記載の試験装置。

[6] 前記複数の貫通溝が設けられるピッチは、前記ユニット側コネクタの前記コネクタ配設方向における幅と略同一である

請求項 5に記載の試験装置。

[7] 前記係止爪は、後側爪と、前記後側爪より前記テストボード側に設けられた前側爪とを有し、

前記係止部は、

前記保持基板と着脱可能に設けられ、前記複数のユニット側コネクタの前記前側爪と嵌合する係止板を有し、

それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪が前記貫通溝の後端部に嵌合し、且つそれぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪が前記係止板に嵌合することにより、前記複数のユニット側コネクタを、前記テストヘッドに接触しない位置に係止する

請求項 5に記載の試験装置。

[8] 前記係止部は、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪を前記貫通溝の前記後端部に嵌合させた場合に、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪と嵌合する位置に前記係止板を着脱可能に固定する手段を有する

請求項 7に記載の試験装置。

[9] 前記係止部は、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記前側爪を前記貫通溝の前端部に嵌合させた場合に、それぞれの前記ユニット側コネクタの前記後側爪と嵌合する位置に前記係止板を着脱可能に固定する手段を更に有する請求項 8に記載の試験装置。

[10] 前記係止部は、前記ユニット側コネクタを前記フレーム側コネクタに挿入する場合に、前記複数の貫通溝が設けられた領域とは異なる領域に、前記前側爪及び前記後側爪のヽずれにも接触しなヽように、前記係止板を着脱可能に固定する手段を更に有する

請求項 9に記載の試験装置。

[11] それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記後側爪が前記貫通溝の前記後端部に嵌合した場合に当該貫通溝の前端部と接触する位置に設けられた、前記ユニット配設方向に突起した弾性を有する戻り防止突起部を更に有する

請求項 7に記載の試験装置。

[12] それぞれの前記ユニット側コネクタは、前記後側爪が前記貫通溝の前記後端部に嵌合した場合に前記保持基板の外部に表出する領域に、前記ユニット配設方向に突起した取手部を更に有する

請求項 7に記載の試験装置。

[13] 前記ケーブルユニットは、それぞれ複数の前記ユニット側コネクタを有する複数のコクタブロックを有し、

前記係止部は、前記コネクタブロック毎に、前記係止板及び当該係止板を着脱可能に固定する手段を有する

請求項 7に記載の試験装置。

[14] 前記保持基板は、隣接する前記コネクタブロックの間に設けられ、前記テストボードと対向する面において開口を有し、

前記テストボードは、前記開口と対応する位置に、前記接続方向に延伸する延伸部を有し、

前記ユニット固定部は、前記開口に前記延伸部が挿入された状態で、前記保持基板と前記延伸部とを固定する

請求項 13に記載の試験装置。

[15] 前記保持基板は、前記ユニット配設方向を法線とする表面を有し、当該表面に前記貫通溝が設けられた上側基板と、

前記ユニット配設方向を法線とする表面を有し、前記上側基板に対して、前記ュニット配設方向において所定の間隔を有して設けられる下側基板と

を有し、

前記複数のユニット側コネクタは、前記上側基板と前記下側基板との間に挿入される

請求項 5に記載の試験装置。

[16] 前記下側基板は、

それぞれの前記光ファイバケーブルが通過するケーブル通過部と、

前記ケーブル通過部の端部に設けられ、それぞれの前記光ファイバケーブルを挿通して前記コネクタ保持部の外部に送出する開口が設けられたケーブル送出部とを有し、

前記上側基板の前記貫通溝が設けられた表面の、前記ケーブル通過部に対向する領域には、複数の貫通孔が設けられる

請求項 15に記載の試験装置。

[17] 前記ケーブルユニットは、それぞれ複数の前記ユニット側コネクタを有する複数のコクタブロックを有し、

前記ケーブル送出部に最も近い前記コネクタブロックに接続された前記光ファイバケーブルが通過する前記ケーブル通過部の領域に対向する前記上側基板の表面が切り欠かれている

請求項 16に記載の試験装置。

[18] 前記ケーブル通過部に対応する領域における前記上側基板と前記下側基板との間隔は、前記貫通溝に対応する領域における前記上側基板と前記下側基板との間隔より大きい

請求項 16に記載の試験装置。

[19] 前記ケーブル通過部は、前記下側基板の前記ユニット配設方向を法線とする表面から、前記上側基板の方向に延伸する側面を有し、前記係止部は、前記係止板を前記側面に着脱可能に固定する手段を有する請求項 16に記載の試験装置。

[20] 前記上側基板は、

前記複数の貫通溝が設けられた上側主基板と、

前記複数の貫通孔が設けられ、前記ケーブル通過部に対向する領域に前記上側主基板と着脱可能に固定される上側従基板と

を有する請求項 16に記載の試験装置。

[21] 電子デバイスを試験する試験装置であって、

それぞれ前記電子デバイスに試験パターンを印加する第 1テストヘッド及び第 2テス卜ヘッドと、

表面及び裏面のそれぞれに複数のフレーム側コネクタが設けられたテストボードを有し、前記表面に設けられた前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記第 1テストヘッドに供給し、前記裏面に設けられた前記フレーム側コネクタを介して制御信号を前記第 2テストヘッドに供給するメインフレームと、

前記テストボードの前記表面に設けられた前記フレーム側コネクタと前記第 1テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記第 1テストヘッドに伝送する第 1ケーブルュ -ッ卜と、

前記テストボードの前記裏面に設けられた前記フレーム側コネクタと前記第 2テストヘッドとを光接続し、前記制御信号を前記第 2テストヘッドに伝送する第 2ケーブルュニットと

を備え、

前記第 1ケーブルユニット及び前記第 2ケーブルユニットのそれぞれは、前記制御信号を伝送する複数の光ファイバケーブルと、

それぞれの前記ユニット側コネクタを、対応する前記フレーム側コネクタに対してそれぞれ独立して挿抜可能に保持するコネクタ保持部と

を有し、前記第 1ケーブルユニットは、前記テストボードに対して前記ケーブルユニットを固定する第 1ユニット固定部を更に有し、

前記第 2ケーブルユニットは、前記第 1ケーブルユニットに対して前記第 2ケーブルユニットを固定する第 2ユニット固定部を更に有する試験装置。