KR20070086566A

KR20070086566A - 시험 장치

Info

Publication number: KR20070086566A
Application number: KR1020077014257A
Authority: KR
Inventors: 아츠시 오노; 토시유키 오카야스; 아키히로 후지모토; 마사시 시바타
Original assignee: 주식회사 아도반테스토
Priority date: 2004-11-30
Filing date: 2005-11-25
Publication date: 2007-08-27
Also published as: DE112005002907T5; US7316578B2; US20060158204A1; KR101228212B1; TW200634323A; CN101088018B; WO2006059548A1; CN101088018A; JP2006153779A; TWI372878B

Abstract

전자 디바이스에 시험 패턴을 인가하는 테스트 헤드와, 복수의 프레임 측 커넥터가 설치되고, 프레임 측 커넥터를 거쳐 제어 신호를 테스트 헤드에 공급하는 메인 프레임과, 프레임 측 커넥터와 테스트 헤드를 광접속하고, 제어 신호를 테스트 헤드에 전송하는 케이블 유닛을 포함하되, 케이블 유닛은, 제어 신호를 전송하는 복수의 광섬유 케이블과, 광섬유 케이블의 단부에 설치되고, 복수의 프레임 측 커넥터에 대응하여 설치된 복수의 유닛 측 커넥터와, 메인 프레임에 대해 케이블 유닛을 고정하는 유닛 고정부와, 각각의 유닛 측 커넥터를, 대응하는 프레임 측 커넥터에 대해 각각 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지하는 커넥터 지지부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.

광섬유 케이블, 광접속, 테스트 헤드, 유닛 커넥터, 프레임 커넥터.

Description

시험 장치{TEST EQUIPMENT}

이 발명은, 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 관한 것이다. 특히, 광섬유 케이블을 이용하여 신호를 전송하는 시험 장치에 관한 것이다. 문헌의 참조에 의한 편입을 인정하는 지정국에 대해서는, 이하의 일본 출원에 기재된 내용을 참조에 의해 본 출원에 편입시키고, 본 출원의 기재의 일부로 한다.

일본특허출원 2004-347860 출원일 2004년 11월 30일

근래의 전자 디바이스의 고속화에 수반하여, 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서도, 동작의 고속화가 기대되고 있다. 고속 동작을 행하는 시험 장치로서, 메인 프레임과 테스트 헤드를 광섬유 케이블을 이용하여 접속하는 장치가 고려된다. 이 경우, 메인 프레임과 테스트 헤드는, 매우 많은 광섬유 케이블을 이용하여 접속될 필요가 있다.

또한, 광섬유 케이블을 이용하는 경우, 각각의 광섬유 케이블의 단부(端部)에 커넥터(connector)를 설치하고, 당해 커넥터와 메인 프레임의 커넥터를 접속함으로써, 메인 프레임과 테스트 헤드를 접속할 필요가 있다. 예를 들면, 메인 프레 임은, 다수의 테스트 보드를 포함하고 있으며, 각각의 테스트 보드에는 복수의 커넥터를 설치할 필요가 있다.

관련되는 특허문헌 등은, 현재 인식되어 있지 않으므로, 그 기재를 생략한다.

[발명이 해결하고자 하는 과제]

이러한 다수의 커넥터를 접속하기 위해서, 테스트 보드마다, 접속해야 할 복수의 광섬유 케이블의 커넥터를 동시에 접속하는 케이블 유닛(unit)이 알려져 있다. 그러나, 광섬유 케이블을 접속하기 위한 커넥터의 광 사출면(射出面)은, 접촉 등에 의해 파손될 가능성이 높고, 테스트 보드마다 복수의 커넥터를 동시에 접속하고자 하면, 일부의 커넥터의 광 사출면이 테스트 보드 등에 접촉하여 파손되어 버리는 경우가 있다. 이와 같이, 광섬유 케이블을 이용하여 메인 프레임과 테스트 헤드를 접속하고자 한 경우, 지금까지 알려져 있는 접속 방법으로는, 다수의 광섬유 케이블의 커넥터를 효율적으로, 한편으론 안전하게 접속하는 것이 곤란하였다.

따라서 본 발명은, 상기한 과제를 해결할 수 있는 시험 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다. 이 목적은, 청구의 범위에 있어서의 독립항에 기재된 특징의 조합에 의해 달성된다. 또한 종속항은 본 발명의 다른 유리한 구체례를 규정한다.

[발명을 해결하기 위한 수단]

상기 과제를 해결하기 위하여, 본 발명의 제1의 형태에 있어서는, 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 전자 디바이스에 시험 패턴을 인가하는 테스트 헤드와, 복수의 프레임 측 커넥터가 설치되고, 프레임 측 커넥터를 거쳐 제어 신호를 테스트 헤드에 공급하는 메인 프레임과, 프레임 측 커넥터와 테스트 헤드를 광접속하고, 제어 신호를 테스트 헤드에 전송하는 케이블 유닛을 포함하되, 케이블 유닛은, 제어 신호를 전송하는 복수의 광섬유 케이블과, 광섬유 케이블의 단부에 설치되고, 복수의 프레임 측 커넥터에 대응하여 설치된 복수의 유닛 측 커넥터와, 메인 프레임에 대해 케이블 유닛을 고정하는 유닛 고정부와, 각각의 유닛 측 커넥터를, 대응하는 프레임 측 커넥터에 대해 각각 독립하여 삽입(揷入) 및 발출(拔出)할 수 있도록 지지하는 커넥터 지지부를 포함하는 시험 장치를 제공한다.

커넥터 지지부는, 각각의 유닛 측 커넥터를, 프레임 측 커넥터와의 접속 방향에 대해서 각각 독립하여 이동 가능하도록 지지해도 좋다. 커넥터 지지부는, 각각의 유닛 측 커넥터를, 프레임 측 커넥터와 접속하지 않는 상태에서 걸어서 지지할 수 있는 계지(係止)부를 포함해도 좋다.

복수의 프레임 측 커넥터는, 메인 프레임에 삽입된 테스트 보드에 설치되고, 계지부는, 유닛 고정부가 케이블 유닛을 고정한 상태에 있어서, 테스트 보드에 접촉하지 않는 위치에 복수의 유닛 측 커넥터를 걸어서 지지해도 좋다.

복수의 유닛 측 커넥터는, 케이블 유닛의 면 내부에 있어서, 프레임 측 커넥터의 접속 방향과 실질적으로 수직인 커넥터 배열 방향으로 병렬로 배치되고, 각각의 유닛 측 커넥터는, 접속 방향 및 커넥터 배열 방향의 쌍방과 실질적으로 수직인 유닛 배열 방향으로 돌기(突起)한 계지조(係止爪)를 포함하고, 커넥터 지지부는, 대응하는 유닛 측 커넥터의 계지조가 삽입되어 통과되고, 계지조가 삽입되어 통과된 상태에 있어서 계지조를 접속 방향에 대해서 이동 가능하게 함으로써, 당해 유닛 측 커넥터를 접속 방향에 대해 이동 가능하도록 지지하는 관통구(貫通溝)가 설치된 지지 기판을 더 포함해도 좋다.

복수의 관통구가 설치되는 피치(pitch)는, 유닛 측 커넥터의 커넥터 배열 방향에 있어서의 폭과 실질적으로 동일해도 좋다. 계지조는, 후측조와, 후측조보다 테스트 보드 쪽으로 설치된 전측조를 포함하고, 계지부는, 지지 기판과 탈부착 가능하도록 설치되고, 복수의 유닛 측 커넥터의 전측조와 결합하는 계지판을 포함하고, 각각의 유닛 측 커넥터의 후측조가 관통구의 후단부에 결합하고, 한편으로 각각의 유닛 측 커넥터의 전측조가 계지판에 결합함으로써, 복수의 유닛 측 커넥터를, 테스트 헤드에 접촉하지 않는 위치에 걸어서 지지해도 좋다.

계지부는, 각각의 유닛 측 커넥터의 후측조를 관통구의 후단부에 결합시킨 경우에, 각각의 유닛 측 커넥터의 전측조와 결합하는 위치에 계지판을 탈부착 가능하게 고정하는 수단을 포함해도 좋다.

계지부는, 각각의 유닛 측 커넥터의 전측조를 관통구의 전단부에 결합시킨 경우에, 각각의 유닛 측 커넥터의 후측조와 결합하는 위치에 계지판을 탈부착 가능하게 고정하는 수단을 더 포함해도 좋다.

계지부는, 유닛 측 커넥터를 프레임 측 커넥터에 삽입하는 경우에, 복수의 관통구가 설치된 영역과는 다른 영역에, 전측조 및 후측조 중 어느 것에도 접촉하지 않도록, 계지판을 탈부착 가능하게 고정하는 수단을 더 포함해도 좋다.

각각의 유닛 측 커넥터는, 후측조가 관통구의 후단부에 결합한 경우에 당해 관통구의 전단부와 접촉하는 위치에 설치된, 유닛 측 배열 방향으로 돌기한 탄성을 갖는 복귀 방지 돌기부를 더 포함해도 좋다.

각각의 유닛 측 커넥터는, 후측조가 관통구의 후단부에 결합한 경우에 지지 기판의 외부로 표출되는 영역에, 유닛 배열 방향으로 돌기한 손잡이부를 더 포함해도 좋다. 케이블 유닛은, 각각 복수의 유닛 측 커넥터를 포함하는 복수의 커넥터 블록을 포함하고, 계지부는, 커넥터 블록마다, 계지판 및 당해 계지판을 탈부착 가능하게 고정하는 수단을 포함해도 좋다.

지지 기판은, 인접하는 커넥터 블록의 사이에 설치되고, 테스트 보드와 대향하는 면에 있어서 개구부(開口部)를 포함하고, 테스트 보드는, 개구부와 대응하는 위치에, 접속 방향으로 연장되는 연장부를 포함하고, 유닛 고정부는, 개구부에 연장부가 삽입된 상태에서, 지지 기판과 연장부를 고정해도 좋다.

지지 기판은, 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면을 포함하고, 당해 표면에 관통구가 설치된 상측 기판과, 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면을 포함하고, 상측 기판에 대해, 유닛 배열 방향에 있어서 소정의 간격을 갖고 설치되는 하측 기판을 포함하고, 복수의 유닛 측 커넥터는, 상측 기판과 하측 기판과의 사이에 삽입되어도 좋다.

하측 기판은, 각각의 광섬유 케이블이 통과하는 케이블 통과부와, 케이블 통과부의 단부에 설치되고, 각각의 광섬유 케이블을 삽입 및 통과시켜 커넥터 지지부의 외부로 송출하는 개구부가 설치된 케이블 송출부를 포함하고, 상측 기판의 관통구가 설치된 표면의, 케이블 통과부에 대향하는 영역에는, 복수의 관통공이 설치되어도 좋다.

케이블 유닛은, 각각 복수의 유닛 측 커넥터를 포함하는 복수의 커넥터 블록을 포함하고, 케이블 송출부에 가장 가까운 커넥터 블록에 접속된 광섬유 케이블이 통과하는 케이블 통과부의 영역에 대향하는 상측 기판의 표면이 절단되어도 좋다.

케이블 통과부에 대응하는 영역에 있어서의 상측 기판과 하측 기판의 간격은, 관통구에 대응하는 영역에 있어서의 상측 기판과 하측 기판의 간격보다 커도 좋다. 케이블 통과부는, 하측 기판의 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면으로부터, 상측 기판의 방향으로 연장되는 측면을 포함하고, 계지부는, 계지판을 측면에 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 포함해도 좋다. 상측 기판은, 복수의 관통구가 설치된 상측 주기판과, 복수의 통과공이 설치되고, 케이블 통과부에 대향하는 영역에 상측 주기판과 탈부착 가능하게 고정되는 상측 종기판을 포함해도 좋다.

본 발명의 제2의 형태에 있어서는, 전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서, 각각 상기 전자 디바이스에 시험 패턴을 인가하는 제1 테스트 헤드 및 제2 테스트 헤드와, 표면 및 이면의 각각에 복수의 프레임 측 커넥터가 설치된 테스트 보드를 포함하고, 표면에 설치된 프레임 측 커넥터를 거쳐서 제어 신호를 제1 테스트 헤드에 공급하고, 이면에 설치된 프레임 측 커넥터를 거쳐서 제어 신호를 제2 테스트 헤드에 공급하는 메인 프레임과, 테스트 보드의 표면에 설치된 프레임 측 커넥터와 제1 테스트 헤드를 광접속하고, 제어 신호를 제1 테스트 헤드에 전송하는 제1 케이블 유닛과, 테스트 보드의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터와 제2 테스트 헤드를 광접속하고, 제어 신호를 제2 테스트 헤드에 전송하는 제2 케이블 유닛을 포함하되, 제1 케이블 유닛 및 제2 케이블 유닛의 각각은, 제어 신호를 전송하는 복수의 광섬유 케이블과, 광섬유 케이블의 단부에 설치되고, 복수의 프레임 측 커넥터에 대응하여 설치된 복수의 유닛 측 커넥터와, 각각의 유닛 측 커넥터를, 대응하는 프레임 측 커넥터에 대해서 각각 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지하는 커넥터 지지부를 포함하고, 제1 케이블 유닛은, 테스트 보드에 대해 케이블 유닛을 고정하는 제1 유닛 고정부를 더 포함하고, 제2 케이블 유닛은, 제1 케이블 유닛에 대해 제2 케이블 유닛을 고정하는 제2 유닛 고정부를 더 포함하는 시험 장치를 제공한다.

또한, 상기 발명의 개요는, 본 발명의 필요한 특징의 전체를 열거한 것은 아니며, 이러한 특징군의 서브 콤비네이션도 또한, 발명이 될 수 있다.

[발명의 효과]

본 발명에 의하면, 다수의 광섬유 케이블의 커넥터를 효율적으로, 그리고 안전하게 접속할 수 있다.

도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 장치 100의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.

도 2는, 테스트 보드 14 및 케이블 유닛 20의 개념도이다.

도 3은, 커넥터 지지부 21의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.

도 4는, 상측 주기판 26, 상측 종기판 30, 및 하측 기판 24의 각각의 외관의 일례를 도시하는 도면이다.

도 5는, 유닛 측 커넥터 22 및 관통구 36의 확대도의 일례이다.

도 6은, 프레임 측 커넥터 16에 삽입된 때의, 관통구 36에 대한 유닛 측 커넥터 22의 위치를 도시한다.

도 7은, 테스트 헤드 12를 2개 포함하는 시험 장치 100에 있어서의, 테스트 보드 14의 개념도이다.

도 8은, 제2 케이블 유닛 120의 커넥터 지지부 121의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.

도 9는, 상측 주기판 126, 상측 종기판 130, 및 하측 기판 124의 각각의 외관의 일례를 도시하는 도면이다.

도 10은, 제1 케이블 유닛 20 및 제2 케이블 유닛 120을 맞대는 경우의 개념도이다.

도 11은, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16을 사용하지 않는 경우에, 테스트 보드 14에 대해서 고정되는 제1 케이블 유닛 20의 구성의 일례를 도시하는 도면이다.

[부호의 설명]

10…메인 프레임, 12…테스트 헤드, 14…테스트 보드, 16…프레임 측 커넥터, 18…연장부, 20…케이블 유닛, 21…커넥터 지지부, 22…유닛 측 커넥터, 23…상측 기판, 24…하측 기판, 26…상측 주기판, 28…유닛 고정부, 30…상측 종기판, 32…케이블 송출부, 34…계지판, 36…관통구, 38…커넥터 블록, 40…광섬유 케이블, 42…관통공, 44, 46, 48, 50, 52, 54, 56, 58…나사 구멍, 60…개구 부재(開口部材), 61…저면, 62…관통공, 63… 측면, 64…종단 부재(終端部材), 65…케이블 통과부 측면, 66, 68…나사 구멍, 70…돌출면, 72, 73, 74…나사 구멍, 75… 측면, 76…나사 구멍, 77…돌출면, 79…표면, 80… 측면, 81…접속면, 82…나사 구멍, 83…표면, 84…접속면, 85… 측면, 88, 90…나사 구멍, 92…케이블 통과 영역, 93…커넥터 영역, 94…나사 구멍, 96…후단부, 98…단부, 100…시험 장치, 102…외주부(外周部), 104…후측조, 106…전측조, 108…복귀 방지 돌기부, 112…손잡이부, 113…결합부, 114…탄성부, 118…커넥터 선단부, 120…결합부, 121…커넥터 지지부, 122…전단부, 123…상측 기판, 124…하측 기판, 126…상측 주기판, 128…표면, 130…상측 종기판, 161…저면, 163… 측면, 165…케이블 통과부 측면, 168…관통공, 170…돌출면, 192…케이블 통과 영역, 193…커넥터 영역, 196, 198…나사 구멍, 202…접속 부재(接續部材), 204…차광판, 206… 측면, 300…전자 디바이스

이하, 발명의 실시의 형태를 통해 본 발명을 설명하지만, 이하의 실시 형태는 청구의 범위의 발명을 한정하는 것은 아니며, 또한 실시 형태 중에 설명되고 있 는 특징의 조합 전부가 발명의 해결 수단에 필수적이라고는 할 수 없다.

도 1은, 본 발명의 실시 형태에 관한 시험 장치 100의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 시험 장치 100은, 반도체 회로 등의 전자 디바이스 300을 시험하는 장치에 있어서, 메인 프레임 10, 복수의 케이블 유닛 20, 및 테스트 헤드 12를 포함한다. 본 예에 있어서 메인 프레임 10과 테스트 헤드 12 사이의 신호의 전송은, 광섬유 케이블을 이용하여 행해진다.

테스트 헤드 12는, 전자 디바이스 300에 시험 패턴을 인가한다. 테스트 헤드 12는, 복수의 전자 디바이스 300에 시험 패턴을 인가해도 좋다. 또한, 테스트 헤드 12는, 케이블 유닛 20을 거쳐서 메인 프레임 10과 접속되고, 메인 프레임 10으로부터 수취(受取)하는 제어 신호를 기초로, 전자 디바이스 300에 시험 패턴을 인가한다.

메인 프레임 10은, 제어 신호를 생성하고 테스트 헤드 12에 공급한다. 메인 프레임 10은, 도 2에 있어서 후술하는 복수의 테스트 보드 14를 포함한다. 각각의 테스트 보드 14는, 각각의 기능에 따라 제어 신호를 생성한다. 또한 각각의 테스트 보드 14에는, 복수의 프레임 측 커넥터가 설치되어 있고, 당해 프레임 측 커넥터를 거쳐서, 대응하는 케이블 유닛 20과 접속한다. 각각의 프레임 측 커넥터는, 광섬유 케이블용의 커넥터이다.

복수의 케이블 유닛 20은, 복수의 테스트 보드 14와 대응하여 설치된다. 각각의 케이블 유닛 20은, 일단이 대응하는 테스트 보드 14의 프레임 측 커넥터에 접속되고, 타단이 테스트 헤드 12에 접속된다. 즉, 각각의 케이블 유닛 20은, 프레 임 측 커넥터와 테스트 헤드 12를 광접속하고, 제어 신호를 테스트 헤드 12에 전송한다.

도 2는, 테스트 보드 14 및 케이블 유닛 20의 개념도이다. 테스트 보드 14는, 도 1에 있어서 설명한 메인 프레임 10에, 일단(一端)이 표출되도록 삽입된다. 또한 테스트 보드 14는, 메인 프레임 10으로부터 표출되는 단부에, 복수의 프레임 측 커넥터 16 및 연장부 18을 포함한다. 복수의 프레임 측 커넥터 16은, 케이블 유닛 20과의 접속 방향과 실질적으로 수직인 방향에 병렬로 배치된다. 또한, 복수의 프레임 측 커넥터 16은, 복수의 블록으로 분할되어 있고, 당해 블록 사이에, 상기 접속 방향으로 연장되는 연장부 18이 설치된다. 복수의 프레임 측 커넥터 16 및 연장부 18은, 테스트 보드 14의 표면에 고정된다.

케이블 유닛 20은, 복수의 광섬유 케이블 40, 복수의 유닛 측 커넥터 22, 및 커넥터 지지부 21을 포함한다. 광섬유 케이블 40은, 일단이 유닛 측 커넥터 22와 접속되고, 타단이 테스트 헤드 12와 접속되며, 메인 프레임 10으로부터 테스트 헤드 12에 제어 신호를 전송한다.

복수의 유닛 측 커넥터 22는, 복수의 프레임 측 커넥터 16과 대응하여 설치되고, 프레임 측 커넥터 16과 평행하게 병렬로 배치된다. 또한 커넥터 지지부 21은, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 대응하는 프레임 측 커넥터 16에 대해 각각 독립하여 삽입(揷入) 및 발출(拔出)할 수 있도록 지지한다.

또한, 복수의 유닛 측 커넥터 22는, 프레임 측 커넥터 16과 동일하게 복수의 블록으로 분할되어 있고, 당해 블록 사이에, 연장부 18이 삽입되는 삽입공이 설치 된다. 연장부 18이 삽입공에 삽입됨으로써, 케이블 유닛 20은, 대응하는 테스트 보드 14에 대해 고정된다.

이와 같이, 커넥터 지지부 21이, 복수의 유닛 측 커넥터 22를 일괄하여 지지하고, 후술하는 유닛 고정부 28이, 케이블 유닛 20을 대응하는 테스트 보드 14에 대해서 소정의 위치에 고정함으로써, 모든 유닛 측 커넥터 22를, 대응하는 프레임 측 커넥터 16에 용이하게 삽입할 수 있는 위치에 배치할 수 있다. 그리고, 커넥터 지지부 21이, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지함으로써, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 정확하게 프레임 측 커넥터 16에 삽입할 수 있다. 따라서, 유닛 측 커넥터 22의 광 사출면(射出面)의 손상을 감소시킬 수 있다.

도 3은, 커넥터 지지부 21의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 커넥터 지지부 21은, 상측 기판 23, 하측 기판 24, 및 유닛 고정부 28을 포함한다. 여기서, 상측 및 하측이란, 기판을 구별하기 위한 호칭이며, 실사용 시에 있어서의 위치 관계를 나타내는 것은 아니다.

복수의 유닛 측 커넥터 22는, 광섬유 케이블 40의 단부에 설치되고, 도 2에 있어서 설명한 복수의 프레임 측 커넥터 16에 대응하여, 케이블 유닛의 면 내부에 있어서 접속 방향과 실질적으로 수직인 커넥터 배열 방향에 병렬로 설치된다. 또한, 복수의 유닛 측 커넥터 22는, 프레임 측 커넥터 16의 블록에 대응하여, 복수의 커넥터 블록(38-1~38-3, 이하 38로 총칭한다)으로 분할하여 배치된다. 또한, 프레임 측 커넥터 16 및 유닛 측 커넥터 22는, 소위 MPO 커넥터여도 좋다.

또한, 상측 기판 23 및 하측 기판 24는, 소정의 간격을 갖고 설치되며, 상측 기판 23 및 하측 기판 24의 사이에 복수의 유닛 측 커넥터 22가 병렬로 삽입된다. 상측 기판 23과 하측 기판 24의 간격은, 유닛 측 커넥터 22의 두께보다 클 필요가 있지만, 유닛 측 커넥터 22를 지지하기 위해서, 당해 간격은 유닛 측 커넥터 22의 두께와 실질적으로 동일한 것이 바람직하다. 이로써, 상측 기판 23 및 하측 기판 24는, 복수의 유닛 측 커넥터 22를 지지하는 지지 기판으로서 기능한다.

도 2에 있어서 기술한 바와 같이, 지지 기판(23, 24)은, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 대응하는 프레임 측 커넥터에 대해 각각 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지한다. 즉, 지지 기판(23, 24)은, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 프레임 측 커넥터 16과의 접속 방향에 대해 각각 독립하여 이동 가능하도록 지지한다. 또한, 하측 기판 24에는, 각각의 광섬유 케이블 40을 삽입 및 통과시켜 커넥터 지지부 21의 외부로 송출하는 개구부(開口部)가 설치된 케이블 송출부 32가 설치된다.

또한, 상측 기판 23은, 상측 주(主)기판 26 및 상측 종(從)기판 30을 포함한다. 상측 종기판 30은, 상측 주기판 26에 탈부착 가능하도록 고정된다. 예를 들면, 상측 종기판 30은, 상측 주기판 26의 소정의 위치에 나사 등에 의해 고정된다.

상측 주기판 26에는, 복수의 유닛 측 커넥터 22와 대응하는 위치에, 복수의 관통구(貫通溝) 36이 설치된다. 각각의 관통구 36은, 대응하는 유닛 측 커넥터 22에 설치된 계지조(係止爪)(104, 106)가 삽입되어 통과된다. 각각의 유닛 측 커넥터 22는, 접속 방향 및 커넥터 배열 방향의 쌍방과 수직인 유닛 배열 방향으로 돌기한 계지조(104, 106)을 포함한다.

지지 기판(23, 24)은, 각각의 관통구 36에 대응하는 유닛 측 커넥터 22의 계지조(104, 106)가 삽입되어 통과된 상태에 있어서, 계지조를 관통구 36을 따라 접속 방향에 대해 이동 가능하도록 지지한다. 이로써, 유닛 측 커넥터 22를 접속 방향에 대해 이동 가능하도록 지지할 수 있다. 예를 들면, 각각의 관통구 36의 폭은 삽입되어 통과되는 계지조(104, 106)의 폭과 실질적으로 동일하고, 삽입되어 통과된 계지조(104, 106)가 접속 방향으로 이동 가능하도록, 접속 방향에 따라 설치된다.

유닛 고정부 28은, 대응하는 테스트 보드 14에 대해서, 당해 케이블 유닛 20을 고정한다. 본 예에 있어서 유닛 고정부 28은, 인접하는 커넥터 블록 38의 사이에 설치되고, 테스트 보드 14와 대향하는 면에 개구부가 설치된 삽입공(揷入孔)이다. 테스트 보드 14는, 당해 개구부와 대응하는 위치에, 접속 방향으로 연장되는 연장부 18을 포함한다. 당해 삽입공에 연장부 18이 삽입됨으로써, 테스트 보드 14에 대한 케이블 유닛 20의 위치가 결정된다. 또한, 유닛 고정부 28은, 연장부 18이 삽입공에 삽입된 상태에서, 연장부 18에 하측 기판 24를 고정하는 수단을 포함해도 좋다. 예를 들면 하측 기판 24의 당해 삽입공에 대응하는 위치에 관통공을 설치하고, 당해 관통공에 나사 등을 삽입 및 통과시킴으로써, 연장부 18과 하측 기판 24를 고정해도 좋다.

케이블 유닛 20을 테스트 보드 14에 대하여 고정하는 경우, 각각의 유닛 측 커넥터 22는, 유닛 고정부 28이 케이블 유닛 20을 고정한 상태에 있어서, 테스트 보드 14에 접촉하지 않는 위치에 걸어서 지지되는 것이 바람직하다. 본 예에 있어 서는, 각각의 유닛 측 커넥터 22는, 도 3에서 도시된 바와 같이, 계지조 가운데 후측조 104가, 관통구 36의 후단부와 결합하는 위치에 걸어서 지지되는 것이 바람직하다. 이러한 상태로 걸어서 지지함으로써, 케이블 유닛 20을 테스트 보드 14에 대해 고정할 경우에, 유닛 측 커넥터 22의 광 사출면이 테스트 보드 14와 접촉하여 파손되는 것을 방지할 수 있다.

예를 들면, 커넥터 지지부 21은, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 프레임 측 커넥터 16과 접속하지 않는 상태, 즉 후측조 104가, 관통구 36의 후단부와 결합하는 상태에서 걸어서 지지할 수 있는 계지부를 포함한다. 본 예에 있어서 당해 계지부는, 커넥터 블록 38마다, 상측 주기판 26에 대해 탈부착 가능한 계지판 34와, 계지판 34를 상측 주기판 26의 소정의 위치에 고정하는 수단을 포함한다.

각각의 유닛 측 커넥터 22를, 후측조 104가 관통구 36의 후단부와 결합하는 상태에서 걸어서 지지하는 경우, 계지판 34는, 병렬로 설치된 복수의 관통구 36의 각각과 실질적으로 직각으로 교차하고, 한편으론 각각의 유닛 측 커넥터 22의 전측조 106과 결합하는 위치에 고정된다.

그리고, 케이블 유닛 20을 테스트 보드 14에 대해 고정한 후, 각각의 계지판 34를 상측 주기판 26으로부터 떼어내고, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 접속 방향으로 이동 가능한 상태로 한다. 그리고, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 대응하는 프레임 측 커넥터 16에 순차적으로 접속한다. 이러한 구성에 의해, 다수의 광섬유 케이블의 커넥터를 효율적으로, 그리고 안전하게 접속할 수 있다.

도 4는, 상측 주기판 26, 상측 종기판 30, 및 하측 기판 24의 각각의 외관의 일례를 도시하는 도면이다. 우선, 하측 기판 24에 대해서 설명한다. 하측 기판 24는, 상측 주기판 26의 표면과 실질적으로 평행한 저면 61과, 저면 61로부터 상측 주기판 26의 방향으로 연장되고, 접속 방향에 실질적으로 평행한 2개의 측면 63과, 저면 61로부터 상측 주기판 26의 방향으로 연장되고, 접촉 방향을 법선으로 하는 케이블 통과부 측면 65를 포함한다. 또한, 유닛 측 커넥터 22가 배치되는 저면 61의 변(邊)에는, 측면이 설치되지 않는다. 또한, 저면 61은, 유닛 측 커넥터 22가 배치되는 저면 61의 변으로부터, 접속 방향으로 돌출된 돌출면 70을 포함한다.

저면 61은, 유닛 측 커넥터 22가 삽입되어 배치되는 커넥터 영역 93과, 각각의 유닛 측 커넥터 22의 광섬유 케이블 40이 통과하는 케이블 통과 영역 92를 포함한다. 커넥터 영역 93에는, 유닛 고정부 28이 설치된다. 유닛 고정부 28은, 돌출면 70에 설치된 개구 부재(開口部材) 60과, 종단 부재(終端部材) 64를 포함한다. 개구부 부재 60 및 돌출면 70은, 테스트 보드 14에 대향하는 면에 개구부를 갖는 관통공 62를 형성한다. 또한, 종단 부재 64는, 개구부 부재 60에 대해서, 접속 방향으로 소정의 간격을 갖고 설치되며, 저면 61의 법선 방향으로 돌기되어 설치된다. 또한, 종단 부재 64의, 상측 주기판 26과 대향하는 면에는, 상측 주기판 26과 하측 기판 24를 부착하기 위한 나사 구멍(66-1, 66-2, 이하 66으로 통칭한다)이 설치된다.

케이블 유닛 20을 테스트 보드 14에 접속하는 경우, 개구 부재 60의 관통공 62에 테스트 보드 14의 연장부 18이 삽입되고, 연장부 18의 단부가 종단 부재 64와 당접할 때까지, 연장부 18이 삽입된다.

또한, 저면 61에는, 종단 부재 64를 고정하는 나사 구멍 68이 설치된다. 종단 부재 64는, 나사 구멍 68의 위치에 부착된다. 또한, 돌출면 70에는, 나사 구멍 90이 설치되고, 개구 부재 60은, 나사 구멍 90의 위치에 부착된다. 또한, 저면 61에 있어서, 나사 구멍 68이 설치된 영역과, 나사 구멍 90이 설치된 영역 사이에는, 나사 구멍 94가 설치된다. 연장부 18은, 종단 부재 64와 당접한 상태에서, 나사 구멍 94를 거쳐서 저면 61에 부착된다. 이러한 구성에 의해, 케이블 유닛 20을, 테스트 보드 14에 대해서 소정의 위치에 고정할 수 있다. 도 4에 있어서는, 하나의 유닛 고정부 28만을 도시하고 있지만, 도 3에 도시된 바와 같이, 하측 기판 24에는, 복수의 유닛 고정부 28이 설치된다.

측면 63에는, 하측 기판 24와 하 측 주기판 26을 고정하기 위한 나사 구멍 (58, 72)이 설치된다. 측면 63의 높이는, 유닛 측 커넥터 22의 높이보다 크다. 케이블 통과부 측면 65에는, 나사 구멍(73, 74, 76)이 설치된다. 나사 구멍 74는, 하측 기판 24와 상측 종기판 30을 부착하기 위해 설치되고, 나사 구멍 73은, 당해 케이블 유닛 20과, 다른 케이블 유닛 20을 부착하기 위해 설치된다. 케이블 유닛 20 끼리 부착하는 구성에 대해서는, 도 10에 있어서 후술한다. 나사 구멍 76은, 유닛 측 커넥터 22를 프레임 측 커넥터 16에 삽입할 경우에, 계지판 34를 도 3에 도시된 상태로부터 떼어내고, 밀어넣어 고정하기 위해 설치된다.

또한, 케이블 통과 영역 92 및 케이블 통과부 측면 65는, 유닛 측 커넥터 22에 접속된 광섬유 케이블 40이 통과하는 케이블 통과부로서 기능한다. 케이블 통과 영역 92에 있어서의 저면 61은, 커넥터 영역 93에 있어서의 저면 61에 대해서, 커넥터 배열 방향으로 돌출되는 돌출면 77을 포함한다. 돌출면 77의 단부에는, 케이블 통과부를 통과한 광섬유 케이블 40을 삽입 및 통과시키는 개구부를 갖는 케이블 송출부 32가 설치된다.

다음으로, 상측 주기판 26에 대해서 설명한다. 상측 주기판 26은, 하측 기판 24의 저면과 대향하는 표면 83, 표면 83으로부터 하측 기판 24의 방향으로 연장되고, 접속 방향에 실질적으로 평행한 2개의 측면 85와, 각각의 측면 85로부터 외측으로 연장되고, 표면 83과 실질적으로 평행한 접속면 84를 포함한다.

표면 83에는, 도 3에 있어서 설명한 복수의 관통구 36이 설치된다. 복수의 관통구 36은, 커넥터 블록 38마다, 유닛 측 커넥터 22의 커넥터 배열 방향에 병렬로 설치된다. 각각의 블록에 있어서 관통구 36이 설치되는 피치(pitch)는, 유닛 측 커넥터 22의 커넥터 배선 방향에 있어서의 폭과 실질적으로 동일하도록 하는 것이 바람직하다. 이로써, 유닛 측 커넥터 22가, 커넥터 배열 방향에 있어서 요동하는 것을 방지할 수 있다. 또한, 본 예에 있어서는, 유닛 측 커넥터 22가 배치되는 저면 61의 변에는, 측면이 설치되어 있지 않지만, 다른 예에 있어서는, 당해 측면에, 각각의 유닛 측 커넥터 22의 커넥터 배열 방향에 있어서의 위치를 결정하기 위한 구획판 등이 설치되어 있어도 좋다.

또한, 전술한 계지부는, 관통구 36의 각각의 블록마다, 계지판 34 및 계지판 34를 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 포함한다. 계지판 34를 고정하는 당해 수단으로서, 본 예에 있어서는, 표면 83에 계지판 34를 나사로 고정하기 위한 나사 구멍 50이 설치된다. 당해 나사 구멍 50은, 관통구 36의 각각의 블록마다 한 쌍씩 설치되고, 쌍을 이루는 나사 구멍 50을 이은 직선이, 각각의 관통구 36과 실질적으로 직교하는 위치에 설치된다. 계지부는, 나사 구멍 50에 계지판 34의 양단을 나사로 고정함으로써, 계지판 34를 고정한다. 도 4에 있어서는, 관통구 36의 복수의 블록 가운데 하나의 블록에 대해서만, 계지판 34를 고정하여 도시하고 있지만, 관통구 36의 다른 블록에 대해서도, 동일하게 계지판 34가 고정된다. 이로써, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 접속 방향에 있어서 실질적으로 동일한 위치에 지지할 수 있다. 또한, 도 4에 있어서는, 하나의 관통구 36에 대하여만, 유닛 측 커넥터 22를 도시하고 있지만, 도 3에 도시된 바와 같이, 다른 관통구 36에 대해서도 동일하게 유닛 측 커넥터 22가 삽입되어 통과된다.

또한, 각각의 나사 구멍 50은, 각각의 유닛 측 커넥터 22의 후측조 104가 관통구 36의 후단부와 결합한 상태에 있어서, 계지판 34와 각각의 유닛 측 커넥터 22의 전측조 106이 결합하도록 설치된다. 즉, 나사 구멍 50에 계지판 34를 고정한 경우에, 관통구 36의 후단부와, 당해 후단부와 마주보는 계지판 34의 단부와의 거리가, 유닛 측 커넥터 22의 후측조 104와 전측조 106 간의 거리와 동일하게 되는 위치에, 각각의 나사 구멍 50이 설치된다.

또한 계지부는, 유닛 측 커넥터 22를 프레임 측 커넥터 16에 삽입하는 경우에, 복수의 관통구 36이 설치된 영역과는 다른 영역에, 전측조 106 및 후측조 104 중 어느 것에도 접촉하지 않도록, 계지판 34를 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 더 포함하는 것이 바람직하다. 즉, 계지판 34를 밀어넣어 고정하는 수단을 더 포함한다. 본 예에 있어서는, 계지판 34를 밀어넣는 당해 수단으로서, 표면 83에 계 지판 34를 나사로 고정하기 위한 나사 구멍 48이 설치된다. 당해 나사 구멍 48은, 관통구 36의 각각의 블록마다 한 쌍씩 설치된다. 또한, 각각의 나사 구멍 48은, 계지판 34를 고정한 경우에, 계지판 34가, 관통구 36을 가리지 않는 위치에 설치된다. 본 예에 있어서는, 각각의 나사 구멍 48은, 관통구 36과 나사 구멍 54와의 사이에 설치된다.

또한, 표면 83에는, 각각의 유닛 측 커넥터 22에 대응하여 설치되는 케이블 가이드를 고정하기 위한 나사 구멍(54-1, 54-2, 54-3, 이하 54로 총칭한다)이 설치된다. 각각의 나사 구멍은, 관통구 36에 대응하여 설치된다. 각각의 나사 구멍 54와, 대응하는 관통구 36과의 거리가, 케이블 송출부 32와 관통구 36과의 거리에 비례하여 커지도록, 각각의 나사 구멍 54가 설치되는 것이 바람직하다. 상측 주기판 26과 하측 기판 24의 사이에는, 당해 나사 구멍 54를 거쳐서 당해 케이블 가이드가 설치되고, 케이블 가이드에 의해 광섬유 케이블 40을 만곡(彎曲)시키고, 하측 기판 24의 케이블 통과부를 통과시킨다. 나사 구멍 54와 관통구 36과의 거리는, 케이블 송출부 32와 관통구 36과의 거리에 비례하여 커지도록 함으로써, 각각의 광섬유 케이블 40을 만곡시키는 위치를 다르게 할 수가 있고, 케이블 통과부에 있어서 광섬유 케이블 40을 평행하게 정렬시킬 수 있다.

또한, 각각의 케이블 가이드는, 소정의 곡률을 갖는 만곡면을 포함한다. 광섬유 케이블 40은, 당해 만곡면에 따라, 유닛 측 커넥터 22의 단부로부터 케이블 통과 영역 92로 인도된다. 이로써, 각각의 광섬유 케이블 40의 곡률을 제한할 수 있다. 또한, 케이블 가이드의 당해 만곡면은, 탄성을 가져도 좋다. 이 경우, 당 해 만곡면은, 유닛 측 커넥터 22의 삽입 및 발출에 수반되는 광섬유 케이블 40의 이동에 의하여는, 소정의 곡률 이상으로 만곡하지 않을 수 있게 되는 탄성률을 갖는 것이 바람직하다. 이로써, 광섬유 케이블 40의 곡률을, 당해 소정의 곡률 이상으로 유지할 수 있고, 한편으로 광섬유 케이블 40이 휜 경우에는, 만곡면의 곡률이 작아지도록 변형할 수 있다. 이로써, 인접하는 케이블 가이드에 의해 인도되는 광섬유 케이블 40의 통과를 방해하는 것을 방지할 수 있다.

또한, 케이블 송출부 32에 가장 가까운 위치에 설치되는 관통구 36의 블록과, 나사 구멍 54와의 거리는 짧으므로, 나사 구멍 48을 설치할 수 없는 경우가 있다. 이러한 경우, 케이블 송출부 32에 가장 가까운 위치에 설치되는 관통구 36의 블록에 대응하는 계지판 34는, 상기한 하측 기판 24의 나사 구멍 76의 위치로 밀어넣어진다. 즉, 나사 구멍 48 및 나사 구멍 76은, 유닛 측 커넥터 22를 프레임 측 커넥터 16에 삽입하는 경우에, 복수의 관통구 36이 설치된 영역과는 다른 영역에, 전측조 106 및 후측조 104 중 어느 것과도 접촉하지 않도록, 계지판 34를 탈부착 가능하게 고정하는 수단으로서 기능한다.

또한, 표면 83에는, 종단 부재 64의 나사 구멍 66에 대응하는 위치에, 나사 구멍(52-1, 52-2, 이하 52로 통칭한다)이 설치된다. 이로써, 종단 부재 64와 표면 83이 부착된다. 또한, 측면 85에는, 하측 기판 24의 측면 63에 설치된 나사 구멍 58과 대응하는 위치에, 나사 구멍 56이 설치된다. 이로서, 하측 기판 24의 측면 63과, 상측 주기판 26의 측면 85가 부착된다. 또한, 접촉면 84에는, 당해 케이블 유닛 20과, 다른 케이블 유닛 20을 부착하기 위한 나사 구멍(82, 88)이 설치되다. 케이블 유닛 20 끼리 부착하는 구성에 대해서는, 도 10에 있어서 후술한다.

또한, 케이블 송출부 32에 가장 가까운 위치에 설치된 관통구 36의 블록이 설치된 표면 83의 영역의 접속 방향에 있어서의 폭은, 다른 관통구 36의 블록이 설치된 영역의 접속 방향에 있어서의 폭보다 작다. 또한, 상측 주기판 26의 표면 83은, 하측 기판 24의 케이블 통과 영역 92를 표출시키도록 설치된다. 즉, 케이블 통과 영역 92를 가리지 않도록, 상측 주기판 26의 표면 83이 설치된다. 또한, 표면 83의 케이블 통과 영역 92 측의 단부에는, 상측 주기판 26과 상측 종기판 30을 고정하기 위한 나사 구멍(46-1, 46-2, 이하 46으로 총칭한다)이 설치된다.

다음으로, 상측 종기판 30에 대해서 설명한다. 상측 종기판 30은, 하측 기판 24의 케이블 통과 영역 92와 대향하는 표면 79, 표면 79로부터 연장되고, 하측 기판 24의 케이블 통과부 측면 65에 부착되는 측면 75, 표면 79로부터 연장되고, 측면 75와 실질적으로 평행한 측면 80, 및 측면 80으로부터 외측으로 연장되고, 표면 79와 실질적으로 평행한 접속면 81을 포함한다.

접촉면 81에는, 나사 구멍(44-1, 44-2, 이하 44로 총칭한다)이 설치되고, 나사 구멍 44 및 상측 주기판 26의 나사 구멍 46에 의해, 상측 주기판 26의 표면에, 상측 종기판 30이 부착된다. 표면 79는, 하측 기판 24의 케이블 통과 영역 92를 가리는 위치에 설치된다. 또한, 표면 79에는, 복수의 관통공 42가 설치된다. 이로써, 케이블 통과부에 대향하는 영역에 관통공 42가 설치되고, 케이블 통과부를 통과하는 광섬유 케이블 40의 상태를 감시할 수 있다.

또한, 상측 종기판 30의 표면 79는, 상측 주기판 26의 표면 83에 대해서, 측 면 80의 높이만큼 높은 위치에 설치된다. 이로써, 케이블 통과부에 대응하는 영역에 있어서의 상측 기판 23과 하측 기판 24와의 간격은, 관통구 36이 설치된 영역에 있어서의 상측 기판 23과 하측 기판 24와의 간격보다 커진다. 이로써, 케이블 통과부의 단면적을 크게 할 수 있고, 유닛 측 커넥터 22의 삽입 및 발출에 수반되는 광섬유 케이블 40의 이동을 용이하게 할 수 있다.

또한, 케이블 통과부를 통과하는 광섬유 케이블 40의 개수는, 케이블 송출부 32에 가까운 영역만큼 많아진다. 본 예에 있어서는, 케이블 송출부 32에 가장 가까운 커넥터 블록 38에 접속된 광섬유 케이블 40이 통과하는 케이블 통과부의 영역에 대향하는 상측 기판 23의 표면이 절단되어 있다. 즉, 상측 기판 23의 표면 79는, 하측 기판 24의 케이블 통과 영역 92 가운데, 케이블 송출부 32에 가장 가까운 관통구 36의 블록 이외의 블록에 대응하는 영역을 가리도록 설치된다. 이로써, 상기한 바와 같이, 유닛 측 커넥터 22의 삽입 및 발출에 수반되는 광섬유 케이블 40의 이동을 용이하게 할 수 있다. 또한, 케이블 통과부를 통과하는 광섬유 케이블 40의 개수가 적은 경우, 상측 기판의 표면 79는, 케이블 통과 영역 92 전체를 가리도록 설치되어 있어도 좋다.

또한, 상측 종기판 30을, 상측 주기판에 탈부착 가능하게 설치함으로써, 커넥터 지지부 21을 조립한 후에, 상측 종기판 30을 떼어내고, 광섬유 케이블 40의 위치를 용이하게 수정할 수 있다.

도 5는, 유닛 측 커넥터 22 및 관통구 36의 확대도의 일례이다. 유닛 측 커넥터 22는, 커넥터 선단부 118 및 커넥터 선단부 118의 외주(外周)를 감싸도록 설 치된 외주부 102를 포함한다.

커넥터 선단부 118은, 광섬유 케이블 40의 선단에 설치되고, 프레임 측 커넥터 16에 삽입된다. 또한 커넥터 선단부 118은, 광 사출면을 보호하는 커버를 포함하고 있으며, 프레임 측 커넥터 16에 삽입될 때에 제거된다.

외주부 102는, 예를 들면 금속으로 형성되어 있고, 전측조 106, 후측조 104, 결합부 113, 복귀 방지 돌기부 108, 탄성부 114, 및 손잡이부 112를 포함한다. 결합부 113은, 커넥터 선단부 118과 결합하고, 외주부 102를 커넥터 선단부 118에 고정한다. 후측조 104는, 상측 주기판 26의 방향으로 돌기하여 설치되고, 선단이 관통구 36의 후단부 96의 방향으로 돌출된다. 또한 전측조 106은, 상측 주기판 26의 방향으로 돌기하여 설치되고, 선단이 관통구 36의 전단부 122의 방향으로 돌출된다.

복귀 방지 돌기부 108은, 후측조 104가 관통구 36의 후단부 96에 결합한 경우에, 관통구의 전단부 122와 접촉하는 위치에, 상측 주기판 26의 방향, 즉 유닛 배열 방향으로 돌기하여 설치된다. 또한, 복귀 방지 돌기부 108은, 탄성부 114를 거쳐서 외주부 102의 본체에 접속된다. 탄성부 114는, 복귀 방지 돌기부 108을, 유닛 배열 방향에 있어서 구부러질 수 있도록 지지한다.

또한, 손잡이부 112는, 후측조 104가 관통구 36의 후단부 96에 결합한 경우에 상측 주기판 26 및 하측 기판 24의 외부로 표출되는 영역에, 유닛 배열 방향으로 돌기하여 설치된다. 사용자는, 손잡이부 112를 잡고, 유닛 측 커넥터 22를 접속 방향으로 이동시킨다.

프레임 측 커넥터 16에 삽입되기 전 단계에서는, 유닛 측 커넥터 22와, 후측조 104가 관통구 36의 후단부 96과 결합하는 위치까지 삽입되고, 계지부는, 계지판 34의 단부 98이 전측조 106과 결합하는 위치에, 계지판 34를 고정한다. 이로써, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 테스트 보드 14에 접촉하지 않는 위치에 걸어서 지지한 상태에서, 케이블 유닛 20을 테스트 보드 14에 안전하게 고정할 수 있다. 이 때, 복귀 방지 돌기부 108은, 관통구 36의 전단부 112와 당접한다.

그리고, 프레임 측 커넥터 16에 삽입하는 단계에서, 계지판 34를 제거하고, 유닛 측 커넥터 22를 접속 방향으로 이동 가능한 상태로 한다. 다만, 외력이 가해지지 않는 상태에서는, 유닛 측 커넥터 22는, 후측조 104 및 복귀 방지 돌기부 108에 의해, 고정되고 있다. 또한, 계지판 34는, 상기한 나사 구멍 48 등의 위치로 밀어넣어진다. 그리고, 사용자는, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 순차적으로 프레임 측 커넥터 16에 삽입한다. 이러한 구성에 의해, 사용자는, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 안전하게 프레임 측 커넥터 16에 삽입할 수 있다.

도 6은, 프레임 측 커넥터 16에 삽입된 때의, 관통구 36에 대한 유닛 측 커넥터 22의 위치를 도시한다. 프레임 측 커넥터 16에 삽입된 경우, 유닛 측 커넥터 22의 전측조 106은, 관통구 36의 전단부 112와 결합한다.

도 7은, 테스트 헤드 12를 2개 포함하는 시험 장치 100에 있어서의, 테스트 보드 14의 개념도이다. 테스트 헤드 12를 2개 포함하는 경우, 테스트 보드 14의 표면 및 이면의 각각에, 복수의 프레임 측 커넥터 16이 설치된다.

이 경우, 메인 프레임 10은, 테스트 보드 14의 표면에 설치된 프레임 측 커 넥터 16을 거쳐서, 제어 신호를 제1 테스트 헤드 12에 공급하고, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16을 거쳐서, 제어 신호를 제2 테스트 헤드 12에 공급한다.

또한, 시험 장치 100은, 테스트 보드 14의 표면에 설치된 프레임 측 커넥터 16과 제1 테스트 헤드 12를 광접속하고, 제어 신호를 제1 테스트 헤드 12에 전송하는 제1 케이블 유닛 20과, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16과 제2 테스트 헤드 12를 광접속하고, 제어 신호를 제2 테스트 헤드 12에 전송하는 제2 케이블 유닛 120을 포함한다.

이 경우, 테스트 보드 14의 표면에는, 연장부 18이 설치되고, 이면에는 연장부가 설치되지 않는다. 제1 케이블 유닛 20은, 도 2로부터 도 6에 있어서 설명한 케이블 유닛 20과 동일한 구성을 갖고, 연장부 18을 거쳐서 테스트 보드 14와 접속된다. 또한 제2 케이블 유닛 120은, 제1 케이블 유닛 20의 구성에 대해, 유닛 고정부 28을 포함하지 않고, 제1 케이블 유닛 20에 대해서 제2 케이블 유닛을 고정하는 수단을 포함한다는 점에서 상이하다.

도 8은, 제2 케이블 유닛 120의 커넥터 지지부 121의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 커넥터 지지부 121는, 상측 기판 123 및 하측 기판 124를 포함한다. 여기서, 상측 및 하측이란, 기판을 구별하기 위한 호칭이며, 실사용 시에 있어서의 위치 관계를 나타내는 것은 아니다. 또한 본 도면에 있어서는, 광섬유 케이블 40의 기재를 생략하고 있다.

상측 기판 123은, 제1 케이블 유닛 20의 상측 기판 23의 구성에 대해, 실질 적으로 좌우 대칭의 구성을 갖는다. 상측 기판 123은, 상측 주기판 126 및 상측 종기판 130을 포함한다. 상측 주기판 126 및 상측 종기판 130은, 제1 케이블 유닛 20의 상측 주기판 26 및 상측 종기판 30의 구성에 대해, 실질적으로 좌우 대칭의 구성을 갖는다. 다만, 제2 케이블 유닛 120은, 유닛 고정부 28을 포함하지 않으므로, 상측 주기판 126은, 유닛 고정부 26에 대응하는 나사 구멍 52를 포함하지 않는다. 하측 기판 124는, 제1 케이블 유닛 20의 하측 기판 24의 구성에 대해, 실질적으로 좌우 대칭의 구성을 갖는다. 하측 기판 124의 상세한 구성에 대해서는, 도 9에 있어서 후술한다.

도 9는, 상측 주기판 126, 상측 종기판 130, 및 하측 기판 124의 각각의 외관의 일례를 도시하는 도면이다. 도 9에 있어서, 도 4와 동일한 부호를 부여한 것은, 도 4에 있어서 설명한 것과 동일한 기능 및 구성을 갖는다. 상측 주기판 126 및 상측 종기판 130은, 도 8에 있어서 설명한 바와 같이, 제1 케이블 유닛 20의 상측 주기판 26 및 상측 종기판 30의 구성에 대해, 실질적으로 좌우 대칭의 구성을 갖는다. 또한, 상측 주기판 126은, 나사 구멍 52에 대신하여, 하측 기판 124와 부착되어야 할 나사 구멍 198을 포함한다.

하측 기판 124는, 상측 주기판 126의 표면과 실질적으로 평행한 저면 161과, 저면 161로부터 상측 주기판 126의 방향으로 연장되고, 접속 방향에 실질적으로 평행한 2개의 측면 163과, 저면 161로부터 상측 주기판 126의 방향으로 연장되고, 접속 방향을 법선으로 하는 케이블 통과부 측면 165를 포함한다. 또한, 유닛 측 커넥터 22가 배치되는 저면 161의 변에는, 측면이 설치되지 않는다. 또한, 저면 161 은, 유닛 측 커넥터 22가 배치되는 저면 161의 변으로부터, 접속 방향으로 돌출된 돌출면 170을 포함한다.

저면 161은, 유닛 측 커넥터 22가 삽입되어 배치되는 커넥터 영역 193과, 각각의 유닛 측 커넥터 22의 광섬유 케이블 40이 통과하는 케이블 통과 영역 192를 포함한다. 하측 기판 124에 있어서의 케이블 통과 영역 192의 형상은, 하측 기판 24에 있어서의 케이블 통과 영역 92와 실질적으로 좌우 대칭이다. 커넥터 영역 193에는 돌출면 170이 설치된다. 돌출면 170은, 상측 주기판 126의 방향으로 꺾어져 접히고, 꺾어져 접힌 표면 128에 나사 구멍 196이 설치된다. 나사 구멍 196은, 상측 주기판 126에 설치된 나사 구멍 198과 부착된다.

또한, 커넥터 영역 193의 접속 방향에 있어서의 폭은, 제1 케이블 유닛 20에 있어서의 커넥터 영역 93의 접속 방향에 있어서의 폭보다 작다. 도 10에 도시된 바와 같이, 제2 케이블 유닛 120의 저면 161과, 제1 케이블 유닛 20의 저면 61은 이면끼리 맞대어지므로, 제2 케이블 유닛 120의 각각의 유닛 측 커넥터 22는, 제1 케이블 유닛 20의 하측 기판 24와, 제2 케이블 유닛 120의 상측 주기판 126에 의해 지지된다.

또한, 하측 기판 124에 있어서, 제1 케이블 유닛 20의 하측 기판 24의 나사 구멍(68, 94)에 대응하는 위치에는, 관통공 168이 설치된다. 이로써, 제1 케이블 유닛 20과 제2 케이블 유닛 120을 맞댄 경우에, 나사 구멍(68, 94)에 삽입되어 통과된 나사의 단부가 관통공 168에 삽입되므로, 당해 나사가 하측 기판 124의 이면에 닿는 것에 의한 하측 기판 124의 경사를 없애고, 제1 케이블 유닛 20과 제2 케 이블 유닛 120을 밀착하여 고정할 수 있다.

도 10은, 제1 케이블 유닛 20 및 제2 케이블 유닛 120을 맞대는 경우의 개념도이다. 상기한 바와 같이, 제1 케이블 유닛 20 및 제2 케이블 유닛 120은, 하측 기판 24 및 하측 기판 124의 이면끼리 밀착하도록 맞대어진다. 그리고, 대응하는 나사 구멍(82, 88)끼리 부착하고, 대응하는 나사 구멍 73을, 접속 부재 202를 이용하여 부착한다. 이로써, 제2 케이블 유닛 120은, 제1 케이블 유닛 20에 고정된다. 제1 케이블 유닛 20은, 테스트 보드 14에 대해 고정되므로, 제2 케이블 유닛 120도, 테스트 보드 14에 대해 소정의 위치에 고정될 수 있다.

테스트 보드 14로부터는, 제어 신호로서 레이저광이 사출(射出)된다. 제1 케이블 유닛 20 및 제2 케이블 유닛 120이 테스트 보드 14에 접속되어 있는 경우, 테스트 보드 14의 프레임 측 커넥터 16으로부터 사출되는 레이저광은, 제1 케이블 유닛 20의 케이블 통과부 측면 65, 및 제2 케이블 유닛 120의 케이블 통과부 측면 165에 의해 차광(遮光)된다.

그러나, 이러한 케이블 유닛을 떼어내는 경우에는, 레이저광에 대해 사용자의 주의를 환기시킬 필요가 있다. 본 예에 있어서는, 테스트 보드 14의 근방에, 사용자의 주의를 재촉하는 주의 명판을 설치해도 좋다. 또한, 후술하는 바와 같이, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 프레임 측 커넥터 16으로부터 떼어내는 때에, 특수 장비를 필요로 함으로써, 사용자의 주의를 환기할 수 있다.

다음으로, 메인 프레임에 병렬로 설치된 복수의 테스트 보드 14에, 복수의 케이블 유닛을 순차적으로 접속하는 경우에 대해서 설명한다. 우선, 병렬로 설치 된 테스트 보드 14 가운데, 좌단의 테스트 보드 14에, 제1 케이블 유닛 20을 고정하고, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 당해 테스트 보드 14의 표면에 설치된 프레임 측 커넥터 16에 삽입한다. 그리고, 제1 케이블 유닛 20에 제2 케이블 유닛 120을 고정하고, 각각의 유닛 측 커넥터 22를 당해 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16에 삽입한다.

그리고, 다음의 테스트 보드 14에, 다음의 제1 케이블 유닛 20을 고정하고, 각각의 유닛 측 커넥터 22를, 당해 테스트 보드 14의 표면에 설치된 프레임 측 커넥터 16에 삽입한다. 이 때, 당해 유닛 측 커넥터 22의 손잡이부 112는, 앞서 고정한 제2 케이블 유닛 120 측으로 돌출되므로, 사용자가 당해 손잡이부 112를 잡는 것이 곤란한 경우가 있다. 이 경우, 사용자는, 유닛 측 커넥터 22를 이동시키기 위한 장비를 이용하는 것이 바람직하다. 당해 장비는, 유닛 측 커넥터 22의 손잡이부 112가 설치된 면의 이면에 결합하는 수단을 갖는다. 사용자는 당해 장비를 이용하여, 유닛 측 커넥터 22의 이면으로부터, 유닛 측 커넥터 22를 이동시킬 수 있다.

이러한 작업을 반복하고, 모든 테스트 보드 14에 대해서 케이블 유닛(20, 120)을 고정하고, 모든 유닛 측 커넥터 22를 프레임 측 커넥터 16에 삽입할 수 있다.

도 11은, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16을 사용하지 않는 경우에, 테스트 보드 14에 대해 고정되는 제1 케이블 유닛 20의 구성의 일례를 도시하는 도면이다. 본 예에 있어서의 시험 장치 100은, 하나의 테스트 헤드 12만을 이용하여 전자 디바이스 300의 시험을 실시한다. 당해 제1 케이블 유닛 20은, 도 10에 관련하여 설명한 제1 케이블 유닛 20의 구성에 추가하여, 차광판 204를 더 포함한다. 차광판 204는, 도10에 있어서 설명한 제2 케이블 유닛 120과 동일하게, 제1 케이블 유닛 20에 고정된다. 차광판 204는, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16이 사출하는 레이저광의 행로를 차단하는 위치에, 측면 206을 포함한다. 예를 들면 차광판 204는, 제2 테스트 보드 120의 하측 기판 124의 케이블 통과부 측면 165와 동일한 위치에 측면 206을 포함한다. 이로써, 테스트 보드 14의 이면에 설치된 프레임 측 커넥터 16이 사출하는 레이저광으로부터 사용자를 보호할 수 있다.

이상, 본 발명을 실시의 형태를 이용하여 설명했지만, 본 발명의 기술적 범위는 상기 실시의 형태에 기재된 범위에 한정되지 않는다. 상기 실시의 형태에, 다양한 변형 또는 개량을 가할 수 있다는 것이 당업자에게 명확하다. 그와 같은 변형 또는 개량을 가한 형태도 본 발명의 기술적 범위에 포함될 수 있다는 것이, 청구의 범위의 기재로부터 명확하다.

상기로부터 명확하듯이, 본 발명에 의하면, 다수의 광섬유 케이블의 커넥터를 효율적으로, 그리고 안전하게 접속할 수 있다.

Claims

전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서,

상기 전자 디바이스에 시험 패턴을 인가하는 테스트 헤드와,

복수의 프레임 측 커넥터가 설치되고, 상기 프레임 측 커넥터를 거쳐서 제어 신호를 상기 테스트 헤드에 공급하는 메인 프레임과,

상기 프레임 측 커넥터와 상기 테스트 헤드를 광접속하고, 상기 제어 신호를 상기 테스트 헤드에 전송하는 케이블 유닛을 포함하되,

상기 케이블 유닛은,

상기 제어 신호를 전송하는 복수의 광섬유 케이블과,

상기 광섬유 케이블의 단부(端部)에 설치되고, 상기 복수의 프레임 측 커넥터에 대응하여 설치된 복수의 유닛 측 커넥터와,

상기 메인 프레임에 대해서 상기 케이블 유닛을 고정하는 유닛 고정부와,

각각의 상기 유닛 측 커넥터를, 대응하는 상기 프레임 측 커넥터에 대해서 각각 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지하는 커넥터 지지부를 포함하는 시험 장치.
제1항에 있어서,

상기 커넥터 지지부는, 각각의 상기 유닛 측 커넥터를, 상기 프레임 측 커넥 터와의 접속 방향에 대해서 각각 독립하여 이동 가능하도록 지지하는 시험 장치.
제1항에 있어서,

상기 커넥터 지지부는, 각각의 상기 유닛 측 커넥터를, 상기 프레임 측 커넥터와 접속하지 않는 상태에서 걸어서 지지할 수 있는 계지(係止)부를 포함하는 시험 장치.
제3항에 있어서,

상기 복수의 프레임 측 커넥터는, 상기 메인 프레임에 삽입된 테스트 보드에 설치되고,

상기 계지부는, 상기 유닛 고정부가 상기 케이블 유닛을 고정한 상태에 있어서, 상기 테스트 보드에 접촉하지 않는 위치에 상기 복수의 유닛 측 커넥터를 걸어서 지지하는 시험 장치.
제3항에 있어서,

상기 복수의 유닛 측 커넥터는, 상기 케이블 유닛의 면 내부에 있어서, 상기 프레임 측 커넥터와의 접속 방향과 실질적으로 수직인 커넥터 배열 방향에 병렬로 배치되고,

각각의 상기 유닛 측 커넥터는, 상기 접속 방향 및 상기 커넥터 배열 방향의 쌍방과 실질적으로 수직인 유닛 배열 방향으로 돌기한 계지조(係止爪)를 포함하며,

상기 커넥터 지지부는,

대응하는 상기 유닛 측 커넥터의 상기 계지조가 삽입되어 통과되고, 상기 계지조가 삽입되어 통과된 상태에 있어서 상기 계지조를 상기 접속 방향에 대해서 이동 가능하도록 함으로써, 당해 유닛 측 커넥터를 상기 접속 방향에 대해 이동 가능하게 지지하는 관통구(溝)가 설치된 지지 기판을 더 포함하는 시험 장치.
제5항에 있어서,

상기 복수의 관통구가 설치되는 피치는, 상기 유닛 측 커넥터의 상기 커넥터 배열 방향에 있어서의 폭과 실질적으로 동일한 시험 장치.
제5항에 있어서,

상기 계지조는, 후측조와, 상기 후측조보다 상기 테스트 보드 쪽으로 설치된 전측조를 포함하고,

상기 계지부는,

상기 지지 기판과 탈부착 가능하도록 설치되고, 상기 복수의 유닛 측 커넥터 의 상기 전측조와 결합하는 계지판을 포함하며,

각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 후측조가 상기 관통구의 후단부에 결합하고, 각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 전측조가 상기 계지판에 결합함으로써, 상기 복수의 유닛 측 커넥터를, 상기 테스트 헤드에 접촉하지 않는 위치에 걸어서 지지하는 시험 장치.
제7항에 있어서,

상기 계지부는, 각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 후측조를 상기 관통구의 상기 후단부에 결합시킨 경우에, 각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 전측조와 결합하는 위치에 상기 계지판을 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 포함하는 시험 장치.
제8항에 있어서,

상기 계지부는, 각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 전측조를 상기 관통구의 전단부에 결합시킨 경우에, 각각의 상기 유닛 측 커넥터의 상기 후측조와 결합하는 위치에 상기 계지판을 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 더 포함하는 시험 장치.
제9항에 있어서,

상기 계지부는, 상기 유닛 측 커넥터를 상기 프레임 측 커넥터에 삽입하는 경우에, 상기 복수의 관통구가 설치된 영역과는 다른 영역에, 상기 전측조 및 상기 후측조 중 어느 것에도 접촉하지 않도록, 상기 계지판을 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 더 포함하는 시험 장치.
제7항에 있어서,

각각의 상기 유닛 측 커넥터는, 상기 후측조가 상기 관통구의 상기 후단부에 결합한 경우에 당해 관통구의 전단부와 접촉하는 위치에 설치된, 상기 유닛 배열 방향으로 돌기한 탄성을 갖는 복귀 방지 돌기부를 더 포함하는 시험 장치.
제7항에 있어서,

각각의 상기 유닛 측 커넥터는, 상기 후측조가 상기 관통구의 상기 후단부에 결합한 경우에 상기 지지 기판의 외부로 표출되는 영역에, 상기 유닛 배열 방향으로 돌기한 손잡이부를 더 포함하는 시험 장치.
제7항에 있어서,

상기 케이블 유닛은, 각각 복수의 상기 유닛 측 커넥터를 포함하는 복수의 커넥터 블록을 포함하고,

상기 계지부는, 상기 커넥터 블록마다, 상기 계지판 및 당해 계지판을 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 포함하는 시험 장치.
제13항에 있어서,

상기 지지 기판은, 인접하는 상기 커넥터 블록의 사이에 설치되고, 상기 테스트 보드와 대향하는 면에 있어서 개구부(開口部)를 포함하고,

상기 테스트 보드는, 상기 개구부와 대응하는 위치에, 상기 접속 방향으로 연장되는 연장부를 포함하며,

상기 유닛 고정부는, 상기 개구부에 상기 연장부가 삽입된 상태에서, 상기 지지 기판과 상기 연장부를 고정하는 시험 장치.
제5항에 있어서,

상기 지지 기판은,

상기 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면을 포함하고, 당해 표면에 상기 관통구가 설치된 상측 기판과,

상기 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면을 포함하고, 상기 상측 기판에 대해, 상기 유닛 배열 방향에 있어서 소정의 간격을 갖고 설치되는 하측 기판을 포함하되,

상기 복수의 유닛 측 커넥터는, 상기 상측 기판과 상기 하측 기판과의 사이에 삽입되는 시험 장치.
제15항에 있어서,

상기 하측 기판은,

각각의 상기 광섬유 케이블이 통과하는 케이블 통과부와,

상기 케이블 통과부의 단부에 설치되고, 각각의 상기 광섬유 케이블을 삽입 및 통과시켜 상기 커넥터 지지부의 외부로 송출하는 개구부가 설치된 케이블 송출부를 포함하되,

상기 상측 기판의 상기 관통구가 설치된 표면의, 상기 케이블 통과부에 대향하는 영역에는, 복수의 관통공이 설치되는 시험 장치.
제16항에 있어서,

상기 케이블 유닛은, 각각 복수의 상기 유닛 측 커넥터를 포함하는 복수의 커넥터 블록을 포함하고,

상기 케이블 송출부에 가장 가까운 상기 커넥터 블록에 접속된 상기 광섬유 케이블이 통과하는 상기 케이블 통과부의 영역에 대향하는 상기 상측 기판의 표면이 절단되어 있는 시험 장치.
제16항에 있어서,

상기 케이블 통과부에 대응하는 영역에 있어서의 상기 상측 기판과 상기 하측 기판과의 간격은, 상기 관통구에 대응하는 영역에 있어서의 상기 상측 기판과 상기 하측 기판과의 간격보다 큰 시험 장치.
제16항에 있어서,

상기 케이블 통과부는, 상기 하측 기판의 상기 유닛 배열 방향을 법선으로 하는 표면으로부터, 상기 상측 기판의 방향으로 연장되는 측면을 포함하고,

상기 계지부는, 상기 계지판을 상기 측면에 탈부착 가능하도록 고정하는 수단을 포함하는 시험 장치.
제16항에 있어서,

상기 상측 기판은,

상기 복수의 관통구가 설치된 상측 주(主)기판과,

상기 복수의 관통공이 설치되고, 상기 케이블 통과부에 대향하는 영역에 상기 상측 주기판과 탈부착 가능하도록 고정되는 상측 종(從)기판을 포함하는 시험 장치.
전자 디바이스를 시험하는 시험 장치에 있어서,

각각 상기 전자 디바이스에 시험 패턴을 인가하는 제1 테스트 헤드 및 제2 테스트 헤드와,

표면 및 이면의 각각에 복수의 프레임 측 커넥터가 설치된 테스트 보드를 포함하고, 상기 표면에 설치된 상기 프레임 측 커넥터를 거쳐서 제어 신호를 상기 제1 테스트 헤드에 공급하고, 상기 이면에 설치된 상기 프레임 측 커넥터를 거쳐서 제어 신호를 상기 제2 테스트 헤드에 공급하는 메인 프레임과,

상기 테스트 보드의 상기 표면에 설치된 상기 프레임 측 커넥터와 상기 제1 테스트 헤드를 광접속하고, 상기 제어 신호를 상기 제1 테스트 헤드에 전송하는 제1 케이블 유닛과,

상기 테스트 보드의 상기 이면에 설치된 상기 프레임 측 커넥터와 상기 제2 테스트 헤드를 광접속하고, 상기 제어 신호를 상기 제2 테스트 헤드에 전송하는 제 2 케이블 유닛을 포함하되,

상기 제1 케이블 유닛 및 상기 제2 케이블 유닛의 각각은,

상기 제어 신호를 전송하는 복수의 광섬유 케이블과,

상기 광섬유 케이블의 단부에 설치되고, 상기 복수의 프레임 측 커넥터에 대응하여 설치된 복수의 유닛 측 커넥터와,

각각의 상기 유닛 측 커넥터를, 대응하는 상기 프레임 측 커넥터에 대해 각각 독립하여 삽입 및 발출할 수 있도록 지지하는 커넥터 지지부를 포함하며,

상기 제1 케이블 유닛은, 상기 테스트 보드에 대해 상기 케이블 유닛을 고정하는 제1 유닛 고정부를 더 포함하고,

상기 제2 케이블 유닛은, 상기 제1 케이블 유닛에 대해 상기 제2 케이블 유닛을 고정하는 제2 유닛 고정부를 더 포함하는 시험 장치.