CN101088018A - 测试装置 - Google Patents
测试装置 Download PDFInfo
- Publication number
- CN101088018A CN101088018A CNA2005800444571A CN200580044457A CN101088018A CN 101088018 A CN101088018 A CN 101088018A CN A2005800444571 A CNA2005800444571 A CN A2005800444571A CN 200580044457 A CN200580044457 A CN 200580044457A CN 101088018 A CN101088018 A CN 101088018A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- aforementioned
- connector
- cable
- substrate
- side connector
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/26—Testing of individual semiconductor devices
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
- G01R31/2889—Interfaces, e.g. between probe and tester
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
- H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Power Engineering (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
- Slot Machines And Peripheral Devices (AREA)
- Mechanical Coupling Of Light Guides (AREA)
Abstract
本发明提供一种测试装置,具有:向电子设备施加测试图案的测试头;设置了多个机架侧连接器并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头的主机机架;将机架侧连接器和测试头进行光连接并将控制信号传输给测试头的电缆单元;其中电缆单元具有:用于传输控制信号的多个光纤电缆;设置在光纤电缆端部并与多个机架侧连接器对应而设置的多个单元侧连接器;对主机机架固定电缆单元的单元固定部;能够相对于对应的机架侧连接器各自独立插拔地保持各个单元侧连接器的连接器保持部。
Description
技术领域
本发明涉及一种测试电子设备的测试装置。尤其涉及一种使用光纤电缆来传输信号的测试装置。对于承认根据文献参照而编入的指定国而言,将下述日本国申请所记载的内容通过参照编入到本申请中,作为本申请记载的一部分。
特愿2004-347860申请日2004年11月30日
背景技术
伴随着近年来的电子设备高速化,在测试电子设备的测试装置中,也被要求动作的高速化。作为进行高速动作的测试装置,研究出了使用光纤电缆将主机机架和测试头进行连接的装置。此时,需要使用非常多的光纤电缆来连接主机机架和测试头。
另外,在使用光纤电缆的情况下,需要在各个光纤电缆的端部上设置连接器来连接该连接器和主机机架的连接器,从而连接主机机架和测试头。例如,主机机架具有多个测试板,从而需要在各个测试板中设置多个连接器。
目前没有发现相关联的专利文献等,因此省略其记载。
为了连接这种多个连接器,已知有在每个测试板上同时连接应该连接的多个光纤电缆的连接器的电缆单元。但是,用于连接光纤电缆的连接器的光出射面,由于接触等而破损的可能性高,当在每个测试板上想同时连接多个连接器时,有一部分连接器的光出射面因接触到测试板等而破损。由此,在欲使用光纤电缆连接主机机架和测试头的情况下,到目前为止,在已知的连接方法中,难以实现高效地、且安全地连接多个光纤电缆的连接器。
发明内容
为此,本发明的目的在于,提供一种能够解决上述技术问题的测试装置。其目的是通过在权利要求范围中的独立权利要求所述的特征组合来达成的。另外,从属项规定了本发明更有利的具体例。
为了解决上述问题,在本发明的第1方案中提供一种测试装置,是测试电子设备的测试装置,具备:测试头,其向电子设备施加测试图案;主机机架,其设置了多个机架侧连接器,并通过机架侧连接器将控制信号提供给测试头;电缆单元,其将机架侧连接器和测试头进行光连接,并将控制信号传输给测试头,电缆单元包括:多个光纤电缆,用于传输控制信号;多个单元侧连接器,其设置在光纤电缆的端部,并与多个机架侧连接器对应而设置;单元固定部,其对主机机架固定电缆单元;连接器保持部,将各个单元侧连接器各自独立并可插拔地对相对应的机架侧连接器加以保持。
连接器保持部,也可以将各个单元侧连接器能够向与机架侧连接器的连接方向各自独立可移动地保持。连接器保持部可以具有扣合部,该扣合部能够将各个单元侧连接器以不与机架侧连接器连接的状态进行扣合。
还可以将多个机架侧连接器设置在插入到主机机架上的测试板上,扣合部可以在单元固定部固定了电缆单元的状态中,在不与测试板接触的位置上扣合多个单元侧连接器。
在电缆单元的平面内,沿与机架侧连接器的连接方向大致垂直的连接器配设方向上并列配设多个单元侧连接器,各个单元侧连接器,其具有向与连接方向以及连接器配设方向双方向大致垂直的单元配设方向突起的扣合爪,连接器保持部,可以进一步具有设置了贯通沟的保持基板,该贯通沟中插通了对应的单元侧连接器的扣合爪,在插通了扣合爪的状态中能够使扣合爪相对连接方向移动,从而能够相对于连接方向移动地保持该单元侧连接器。
设置多个贯通沟的间隔,可以与单元侧连接器的连接器配设方向中的宽度大致相同。扣合爪包括后侧爪、和设置在比后侧爪更靠近测试板侧的前侧爪;扣合部具有与前述保持基板可装卸地设置,并与多个单元侧连接器的前侧爪嵌合的扣合板,各个单元侧连接器的后侧爪嵌合在嵌合在贯通沟的后端部、且各个单元侧连接器的前侧爪嵌合在扣合板,从而可以将多个单元侧连接器扣合在不与测试头接触的位置上。
扣合部可以具有在使各个单元侧连接器的后侧爪嵌合在贯通沟的后端部上的情况下在与各个单元侧连接器的前侧爪嵌合的位置上能够装卸地固定扣合板的装置。
扣合部可以进一步具有在使各个单元侧连接器的前侧爪嵌合在贯通沟的前端部上的情况下,在与各个单元侧连接器的后侧爪嵌合的位置上能够装卸地固定扣合板的装置。
扣合部可以进一步具有在将单元侧连接器插入到机架侧连接器上的情况下,在与设置了多个贯通沟的区域不同的区域上能够装卸地固定扣合板使得不与前侧爪以及后侧爪的任何一个接触的装置。
各个单元侧连接器可以进一步具有在后侧爪嵌合在贯通沟的后端部上的情况下设置在与该贯通沟的前端部接触的位置上的防止返回突起部,其具有向单元配设方向突起的弹性。
各个单元侧连接器在后侧爪嵌合在贯通沟的后端部的情况下,在向保持基板的外部露出的区域上可以进一步具有向单元配设方向突起的把手部。电缆单元具有多个连接器模块,该连接器模块分别具有多个单元侧连接器,扣合部,在每个连接器模块上可以具有扣合板以及能够装卸地固定该扣合板的装置。
保持基板,其设置在邻接的连接器模块之间,在与测试板相对的面内具有开口,测试板,其在与开口对应的位置上具有向连接方向延伸的延伸部,单元固定部,其可以以在开口上插入了延伸部的状态,固定保持基板和延伸部。
保持基板具有:上侧基板,其具有以单元配设方向为法线的表面,在该表面上设置了贯通沟;下侧基板,其具有以单元配设方向为法线的表面,相对上侧基板在单元配设方向中具有规定间隔而设置,多个单元侧连接器,其可以插入在上侧基板和下侧基板之间。
下侧基板具有:电缆通过部,其通过了各个光纤电缆;电缆送出部,其设置在电缆通过部的端部,设置了插通各个光纤电缆来向连接器保持部外部送出的开口,在设置了上侧基板的贯通沟的表面的与电缆通过部相对的区域中,设置了多个贯通孔。
电缆单元具有多个连接器模块,该连接器模块分别具有多个单元侧连接器,与最接近电缆送出部的连接器模块连接的光纤电缆通过的电缆通过部的区域所相对的上侧基板的表面设切欠。
与电缆通过部对应的区域中的上侧基板和下侧基板之间的间隔,比与贯通沟对应的区域中的上侧基板和下侧基板之间的间隔大。电缆通过部具有从以下侧基板的单元配设方向为法线的表面向上侧基板的方向延伸的侧面,扣合部,具有将扣合板能够装卸地固定在侧面的装置。上侧基板具有:上侧主基板,其设置了多个贯通沟;上侧从基板,其设置了多个贯通孔,在与电缆通过部相对的区域中与上侧主基板可装卸地固定。
在本发明的第2方式中提供一种测试装置,是测试电子设备的测试装置,其具备:第1测试头以及第2测试头,其分别在电子设备上施加测试图案;主机机架,其具有在表面以及里面的分别设置了多个机架侧连接器的测试板,通过设置在表面上的机架侧连接器将控制信号提供给第1测试头,通过设置在里面的机架侧连接器将控制信号提供给第2测试头;第1电缆单元,其将设置在测试板的表面上的机架侧连接器和第1测试头进行光连接,将控制信号提供给第1测试头;第2电缆单元,其将设置在测试板的里面的机架侧连接器和第2测试头进行光连接,将控制信号传输给第2测试头,第1电缆单元以及第2电缆单元分别具有:多个光纤电缆,用于传输控制信号;多个单元侧连接器,其设置在光纤电缆的端部,并与多个机架侧连接器对应而设置;连接器保持部,其向对应的机架侧连接器各自独立可插拔地保持各个单元侧连接器,第1电缆单元,进一步具有对测试板固定电缆单元的第1单元固定部,第2电缆单元,进一步具有对第1电缆单元固定第2电缆单元的第2单元固定部。
此外,上述发明的概要并未列举出本发明所必须的特征的全部,这些特征群的再组合也能够成为发明。
根据本发明,能够高效、且安全地连接多个光纤电缆的连接器。
附图说明
图1是表示本发明实施方式涉及的测试装置100的结构的一例示意图。
图2是测试板14以及电缆单元20的概念图。
图3是表示连接器保持部21的结构的一例示意图。
图4是分别表示上侧主基板26、上侧从基板30、以及下侧基板24的外观的一例示意图。
图5是单元侧连接器22以及贯通沟36的放大图之一例。
图6是表示插入到机架侧连接器16时的、相对贯通沟36的单元侧连接器22的位置。
图7是具备2个测试头12的测试装置100中的测试板14的概念图。
图8是表示第2电缆单元120的连接器保持部121的结构之一例示意图。
图9是表示上侧主基板126、上侧从基板130、以及下侧基板124的各自外观之一例的示意图。
图10是贴合第1电缆单元20以及第2电缆单元120时的概念图。
图11是表示在没有使用设置在测试板14里面的机架侧连接器16的情况下对测试板14固定的第1电缆单元20的结构的一例示意图。
10:主机机架 62:贯通孔
12:测试头 63:侧面
14:测试板 64:终端部件
16:机架侧连接器 65:电缆通过部侧面
18:延伸部 66、68:螺孔
20:电缆单元 70:突出面
21:连接器保持部 72、73、74:螺孔
22:单元侧连接器 75:侧面
23:上侧基板 76:螺孔
24:下侧基板 77:突出面
26:上侧主基板 79:表面
28:单元固定部 80:侧面
30:上侧从基板 81:连接面
32:电缆送出部 82:螺孔
34:扣合板 83:表面
36:贯通沟 84:连接面
38:连接模块 85:侧面
40:光纤电缆 88、90:螺孔
42:贯通孔 92:电缆通过区域
44、46、48、50、54、56、58:螺孔 93:连接器区域
60:开口构件 94:螺孔
61:底面 96:后端部
98 :端部 126:上侧主基板
100:测试装置 128:表面
102:外周部 130:上侧从基板
104:后侧爪 161:底面
106:前侧爪 163:侧面
108:防止返回突起部 165:电缆通过部侧面
112:把手部 168:贯通孔
113:嵌合部 170:突出面
114:弹性部 192:电缆通过区域
118:连接器前端部 193:连接器区域
120:嵌合部 196、198:螺孔
121:连接器保持部 202:连接部件
122:前端部 204:遮光板
123:上侧基板 206:侧面
124:下侧基板 300:电子设备
具体实施方式
下面通过发明的实施方式说明本发明,但下面的实施方式并非用于限定与权利要求范围有关的发明,而且实施方式中说明的特征组合,并非全部的都是发明解决手段所必须的。
图1是表示与本发明实施方式有关的测试装置100的结构的一例示意图。测试装置100,其是测试半导体电路等电子设备300的装置,具备主机机架10、多个电缆单元20、以及测试头12。在本例中,主机机架10和测试头12之间的信号传输是使用光纤电缆进行的。
测试头12,其向电子设备300施加测试图案。测试头12,也可以向多个电子设备300施加测试图案。另外,测试头12是通过电缆单元20与主机机架10连接的,其根据从主机机架10接受的控制信号向电子设备300施加测试图案。
主机机架10,其生成控制信号并提供给测试头12。主机机架10具有在图2中后述的多个测试板14。各个测试板14生成与各个功能相应的控制信号。另外,各个测试板14中设置有多个机架侧连接器,其通过该机架侧连接器与对应的电缆单元20连接。各个机架侧连接器是光纤电缆用连接器。
多个电缆单元20,其与多个测试板14对应而设置。各个电缆单元20,其一端连接在对应的测试板14的机架侧连接器上,另一端连接在测试头12上。即各个电缆20将机架侧连接器和测试头12进行光连接,向测试头12传输控制信号。
图2是测试板14以及电缆单元20的概念图。测试板14,其插入到图1中说明的主机机架10中使得露出一端。另外,测试板14,在其从主机机架10露出的端部中具有多个机架侧连接器16以及延伸部18。多个机架侧连接器16,其是在与电缆单元20的连接方向大致垂直的方向上并列配设的。另外,多个机架侧连接器16被分割成多个模块,在该模块间设置了向上述连接方向延伸的延伸部18。多个机架侧连接器16以及延伸部18被固定在测试板14的表面。
电缆单元20,其具有多个光纤电缆40、多个单元侧连接器22、以及连接器保持部21。光纤电缆40,其一端与单元侧连接器22连接,另一端与测试头12连接,其从主机机架10向测试头12传输控制信号。
多个单元侧连接器22,其与多个机架侧连接器16对应而设置,且与机架侧连接器16平行地并列配设。另外,连接器保持部21,将各个单元侧连接器22向对应的机架侧连接器16各自独立可插拔地保持着。
另外,多个单元侧连接器22,其与机架侧连接器16相同地分割为多个模块,在该模块间设置了插入延伸部18的插入孔。通过将延伸部18插入到插入孔,使电缆单元20固定在对应的测试板14上。
由此,连接器保持部21整体保持多个单元侧连接器22,后述的单元固定部28将电缆单元20向对应的测试板14固定到规定位置上,从而能够将全部的单元侧连接器22配置在可容易地插入到对应的机架侧连接器16的位置上。而且,连接器保持部21能够独立插拔地保持各个单元侧连接器22,从而能够将各个单元侧连接器22高精度地插入到机架侧连接器16。因此,能够降低单元侧连接器22的光出射面损伤。
图3是表示连接器保持部21的结构之一例示意图。连接器保持部21,其具有上侧基板23、下侧基板24、以及单元固定部28。这里,上侧以及下侧是用于区别基板的称呼,并非用于表示实际使用时的位置关系。
多个单元侧连接器22设置在光纤电缆40的端部,其与在图2中说明的多个机架侧连接器16对应,且在电缆单元的平面内与连接方向大致垂直的连接器配设方向上并列设置。另外,多个单元侧连接器22,其与机架侧连接器16的模块对应,分割为多个连接器模块(38-1-38-3,以下统称为38)来配设。另外,机架侧连接器16以及单元侧连接器22,也可以是所谓MPO连接器。
另外,上侧基板23以及下侧基板24是具有规定间隔而设置,在上侧基板23以及下侧基板24之间并列插入了多个单元侧连接器22。上侧基板23和下侧基板24之间的间隔,需要比单元侧连接器22的厚度大,但为了保持单元侧连接器22,优选该间隔与单元侧连接器22的厚度大致相等。由此,上侧基板23以及下侧基板24,其作为保持多个单元侧连接器22的保持基板而发挥功能。
如同在图2中所述,保持基板(23、24)将各个单元侧连接器22保持为其各自独立地能够插拔地相对于对应的机架侧连接器。即保持基板(23,24)能够各自独立地向与机架侧连接器16的连接方向移动地保持各自单元侧连接器22。另外,下侧基板24中设置有电缆送出部32,该电缆送出部32设置有插通各个光纤电缆40,且送出到连接器保持部21外部的开口。
另外,上侧基板23,其具有上侧主基板26以及上侧从基板30。上侧从基板30被可装卸地固定在上侧主基板26上。例如,上侧从基板30,其通过螺丝等被固定在上侧主基板26的规定位置上。
上侧主基板26中,在与多个单元侧连接器22对应的位置上设置了多个贯通沟36。各个贯通沟36中插有设置在对应的单元侧连接器22上的扣合爪(104、106)。各个单元侧连接器22,其具有沿与连接方向以及连接器配设方向的双方在垂直的单元配设方向上突起的扣合爪(104、106)。
保持基板(23,24),其在插通了与各个贯通沟36对应的单元侧连接器22的扣合爪(104,106)的状态中,将扣合爪保持为能够沿着贯通沟36而对于连接方向移动。由此,能够将单元侧连接器22能够向连接方向移动地保持。例如,使得各个贯通沟36的宽度与插通的扣合爪(104,106)宽度大致相等,而插通的扣合爪(104,106)能够向连接方向移动且沿着连接方向设置。
单元固定部28,其向对应的测试板14固定该电缆单元20。在本例中,单元固定部28设置在邻接的连接器模块38之间,其是在与测试板14相对的面上设置开口的插入孔。测试板14,其在与该开口对应的位置上具有沿连接方向延伸的延伸部18。通过向该插入孔插入延伸部18,决定相对测试板14的电缆单元20的位置。另外,单元固定部28也可以具有以延伸部18插入到插入孔的状态在延伸部18上而固定下侧基板24的装置。例如,也可以在与下侧基板24的该插入孔对应的位置上设置贯通孔,通过在该贯通孔上插通螺丝等,从而固定延伸部18和下侧基板24。
在将电缆单元20对测试板14进行固定的情况下,优选各个单元侧连接器22在单元固定部28固定了电缆单元20的状态中,被扣合在不与测试板14接触的位置上。在本例中,各个单元侧连接器22,如图3所示地,希望是扣合爪中的后侧爪104扣合在与贯通沟36的后端部嵌合的位置上。通过扣合成这种状态,在将电缆单元20向测试板14固定之际,能够防止单元侧连接器22的光出射面与测试板14接触而破损。
例如,连接器保持部21具有扣合部,该扣合部能够将各个单元侧连接器22以不与机架侧连接器16接触的状态、即后侧爪104与贯通沟36的后端部嵌合的状态扣合。在本例中,该扣合部在每个连接器模块38中,具有能够对上侧主基板26装卸的扣合板34、和将扣合板34固定在上侧主基板26的固定位置上的装置。
在将各个单元侧连接器22以后侧爪104与贯通沟36的后端部嵌合的状态扣合的情况下,扣合板34与并列设置的多个贯通沟36的各个大致垂直交叉,且被固定在与各个单元侧连接器22的前侧爪106嵌合的位置上。
而且,将电缆单元20对测试板14进行固定后,将各个扣合板34从上侧主基板26取下,设为能够将各个单元侧连接器22向连接方向移动的状态。而且,将各个单元侧连接器22依次连接到对应的机架侧连接器16。通过这种结构,能够高效、且安全地连接多个光纤电缆的连接器。
图4是表示上侧主基板26、上侧从基板30、以及下侧基板24的各个外观之一例示意图。首先,说明下侧基板24。下侧基板24,其具有与上侧主基板26的表面大致平行的底面61、从底面61向上侧主基板26的方向延伸并于连接方向大致平行的两个侧面63、从底面61向上侧主基板26的方向延伸并以连接方向为法线的电缆通过部侧面65。另外,在配置了单元侧连接器22的底面61的边上,没有设置侧面。另外,底面61,其具有从配置了单元侧连接器22的底面61的边向连接方向突出的突出面70。
底面61,其具有插入单元侧连接器22而配置的连接器区域93、及各个单元侧连接器22的光纤电缆40通过的电缆通过区域92。连接器区域93中,设置了单元固定部28。单元固定部28,其具有设置在突出面70上的开口构件60、及终端部件64。开口构件60以及突出面70,形成了在与测试板14相对的面上具有开口的贯通孔62。另外,终端构件64,相对开口构件60在连接方向上具有规定间隔而设置,向底面61的法线方向突起而设置。另外,在终端部件64的与上侧主基板26相对的面中,设置了用于铆接上侧主基板26和下侧基板24的螺孔(66-1,66-2,下面统称为66)。
在将电缆单元20连接在测试板14上时,在开口构件60的贯通孔62上插入测试板14的延伸部18,插入延伸部18直到延伸部18的端部与终端部件64接触为止。
另外,底面61中设置了固定终端部件64的螺孔68。终端部件64铆接在螺孔68的位置上。另外,突出面70中设置了螺孔90,开口构件60铆接在螺孔90的位置上。另外,在底面61中,在设置了螺孔68的区域和设置了螺孔90的区域之间,设置了螺孔94。延伸部18,其以与终端部件64当接的状态通过螺孔94铆接在底面61。通过这种结构,能够将电缆单元20在相对测试板14固定在规定的位置上。另外,在图4中,虽然只示出了一个单元固定部28,但是如图3所示,下侧基板24中设置了多个单元固定部28。
侧面63中,设置有用于固定下侧基板24和上侧主基板26的螺孔(58,72)。侧面63的高度,比单元侧连接器22的高度大。在电缆通过部侧面65中,设置有螺孔(73,74,76)。螺孔74是为了铆接下侧基板24和上侧从基板30而设置的,螺孔73是为了铆接该电缆单元20和其他电缆单元20而设置。关于铆接电缆单元20彼此之间的结构而言,在图10中进行后述。螺孔76是为了当将单元侧连接器22插入到机架侧连接器16上时将扣合板34从图3所示的状态取下,躲避并固定而设置。
另外,电缆通过区域92以及电缆通过部侧面65,其具有作为连接在单元侧连接器22上的光纤电缆40所通过的电缆通过部的功能。电缆通过区域92中的底面61,其具有相对连接器区域93中的底面61向连接器配设方向突出的突出面77。突出面77的端部中,设置了具有插通通过了电缆通过部的光纤电缆40的开口的电缆送出部32。
接着,说明上侧主基板26。上侧主基板26,其具有与下侧基板24的底面相对的表面83、从表面83向下侧基板24的方向延伸并与连接方向大致平行的2个侧面85、从各个侧面85向外侧延伸并与表面83大致平行的连接面84。
表面83中,设置了在图3中说明过的多个贯通沟36。多个贯通沟36,其在每个连接器模块38上单元侧连接器22的连接器配设方向上并列设置。在各个模块中设置贯通沟36的间隔,优选与单元侧连接器22的连接器配设方向中的宽度大致相同。由此,能够防止单元侧连接器22在连接器配设方向中摇动。另外,在本例中,配置了单元侧连接器22的底面61的边中,虽然没有设置侧面,但是在其他例子中,在该侧面也可以设置用于决定各个单元侧连接器22的连接器配设方向中的位置的隔板等。
另外,前述的扣合部,其在贯通沟36的各个模块的每个上具有能够装卸地固定扣合板34以及扣合板34的装置。作为固定扣合板34的该装置,在本例中设置了用于在表面83上螺丝固定扣合板34的螺孔50。该螺孔50,在贯通沟36的各个模块的每个上分别设置了一对,连接成对的螺孔50的直线设置在与各个贯通孔36大致垂直的位置上。扣合部,其是通过在螺孔50上用螺丝扭紧扣合板34的两端来固定扣合板34的。在图4中,只表示了对贯通沟36的多个模块中的一个模块固定扣合板34,但是对于贯通沟36的其他模块,也可以同样地固定扣合板34。由此,能够将各个单元侧连接器22保持在连接方向中大致相同的位置上。另外,在图4中,给出了只对一个贯通沟36的连接器侧连接器22,但是如图3所示,对其他贯通沟36也同样地插通单元侧连接器22。
另外,各个螺孔50是在各个单元侧连接器22的后侧爪104与贯通沟36的后端部嵌合的状态中,设置为扣合板34和各个单元侧连接器22的前侧爪106嵌合。即当在螺孔50上固定扣合板34时,在贯通沟36的后端部和朝向该后端部的扣合板34端部之间的距离与单元侧连接器22的后侧爪104和前侧爪106之间的距离相等的位置上,设置了各个螺孔50。
另外,扣合部希望是在将单元侧连接器22插入到机架侧连接器16的情况下,在与设置了多个贯通沟36的区域不同的区域上,进一步具有能够装卸地固定扣合板34的单元,以使其不接触前侧爪106以及后侧爪104的任何一个。即进一步具有躲避扣合板34而固定的装置。在本例中,作为躲避扣合板34而固定的该装置,设置了用于在表面83上用螺丝紧固扣合板34的螺孔48。该螺孔48分别在贯通沟36的各个模块上各设置了一对。另外,各个螺孔48被设置在当固定了扣合板34时,扣合板34不覆盖贯通沟36的位置上。在本例中,各个螺孔48设置在贯通沟36和螺孔54之间。
另外,表面83中,设置有用于固定与各个单元侧连接器22对应而设置的电缆导引器的螺孔(54-1,54-2,54-3,以下统称为54)。各个螺孔与贯通孔对应设置。优选为了各个螺孔54和对应的贯通沟36之间的距离与电缆送出部32和贯通沟36之间的距离成比例变大而分别设置螺孔54。上侧主基板26和下侧基板24之间,通过该螺孔54设置了该电缆导引,由电缆导引使光纤电缆40弯曲,从下侧基板24的电缆通过部通过。通过使螺孔54和贯通沟36之间的距离与电缆送出部32和贯通沟36之间的距离成比例变大,能够使各个光纤电缆40的弯曲位置不同,可在电缆通过部中平行地整列光纤电缆40。
另外,各个电缆导引具有弯曲面,该弯曲面具有规定的曲率。光纤电缆40,是沿着该弯曲面从单元侧连接器22的端部导入电缆通过区域92。由此,能够限制各个光纤电缆40的曲率。另外,电缆导引的该弯曲面,也可以具有弹性。此时,该弯曲面,优选具有其通过伴随单元侧连接器22插拔的光纤电缆40的移动,在大于等于规定的曲率范围时不弯曲的弹性率。由此,能够将光纤电缆40的曲率保持在大于等于相应的规定曲率内,且在光纤电缆40翘曲的情况下,可使弯曲面的曲率变小而变形。由此,能够防止妨碍由于邻接的电缆导引器的引导的光纤电缆40的通过。
另外,由于在最接近电缆送出部32的位置上设置的贯通沟36的模块和螺孔54之间的距离小,有时无法设置螺孔48。这种情况下,与在最接近电缆送出部32的位置上设置的贯通沟36的模块对应的扣合板34,退避到前述的下侧基板24的螺孔76的位置。即螺孔48以及螺孔76在将单元侧连接器22插入到机架侧连接器16上时,在与设置了多个贯通沟36的区域不同的区域中,具有能够装卸地固定扣合板34使得不接触前侧爪106以及后侧爪104的任何一个的装置的功能。
另外,表面83中,在与终端部件64的螺孔66对应的位置上设置了螺孔(52-1,52-2,以下统称为52)。由此,终端部件64和表面83被铆接。另外,侧面85中,在与设置在下侧基板24的侧面63上的螺孔58对应的位置上设置了螺孔56。由此,下侧基板24的侧面63、和上侧主基板26的侧面85被连接。另外,连接面84中,设置了用于铆接该电缆单元20、其他电缆单元20的螺孔(82,88)。对于铆接电缆单元20彼此之间的结构,在图10中进行后述。
另外,设置了在最接近电缆送出部32的位置上设置了贯通沟36的模块的表面83区域的连接方向中的宽度,比设置了其他贯通沟36的模块的区域的连接方向中的宽度小。另外,上侧主基板26的表面83设置为使下侧基板24的电缆通过区域92露出的状态。即不覆盖电缆通过区域92地设置了上侧主基板26的表面83。另外,表面83的电缆通过区域92侧的端部中,设置了用于固定上侧主基板26和上侧从基板30的螺孔(46-1,46-2,以下统称为46)。
接着,说明上侧从基板30。上侧从基板30,其具有与下侧基板24的电缆通过区域92相对的表面79、从表面79延伸并铆接到下侧基板24的电缆通过部侧面65的侧面75、从表面79延伸并与侧面75大致平行的侧面80、以及从侧面80向外侧延伸并与表面79大致平行的连接面81。
连接面81中,设置了螺孔(44-1,44-2,以下统称为44),通过螺孔44以及上侧主基板26的螺孔46在上侧主基板26的表面上铆接上侧从基板36。表面79,其设置在覆盖下侧基板24的电缆通过区域92的位置上。另外,表面79中设置了多个贯通孔42。由此,在与电缆通过部相对的区域上设置了贯通孔42,能够监视通过电缆通过部的光纤电缆40的状态。
另外,上侧从基板30的表面79,相对上侧主基板26的表面83设置在高出侧面80高度的高位置上。由此,与电缆通过部对应的区域中的上侧基板23和下侧基板24之间的间隔,变得比设置了贯通沟36的区域中的上侧基板23和下侧基板24之间的间隔大。由此,能够加大电缆通过部的截面积,能够使伴随单元侧连接器22插拔的光纤电缆40的移动容易。
另外,通过电缆通过部的光纤电缆40的根数,越靠近电缆送出部32的区域越多。在本例中,最接近电缆送出部32的连接器模块38上连接的光纤电缆40通过的电缆通过部的区域所相对的上侧基板23的表面设切欠。即上侧基板23的表面79,其设置为覆盖下侧基板24的电缆通过区域92中的与最接近电缆送出部32的贯通沟36的模块以外的模块对应的区域。由此,如上所述,能够使伴随连接器侧连接器22插拔的光纤电缆40的移动变得容易。另外,在通过电缆通过部的光纤电缆40的根数少的情况下,上侧基板的表面79也可以设置为覆盖电缆通过区域92全体。
另外,通过将上侧从基板30能够装卸地设置在上侧主基板上,使在组装了连接器保持部21后,取下上侧从基板30,可容易地修正光纤电缆40的位置。
图5是单元侧连接器22以及贯通沟36的放大图的一例。单元侧连接器22,其具有覆盖连接器前端部118以及连接器前端部118地设置的外周部102。
连接器前端部118设置在光纤电缆400的前端,其插入到机架侧连接器16上。另外,连接器前端部118具有保护光射出面的盖子,在插入到机架侧连接器16上时取下。
外周部102例如由金属形成,其具有前侧爪106、后侧爪104、嵌合部113、防止返回突起部108、弹性部114、以及把手部112。嵌合部113与连接器前端部118嵌合,将外周部102固定于连接器前端部118。后侧爪104向上侧主基板26的方向突起地设置,前端向贯通沟36的后端部96的方向突出。另外,前侧爪106,其向上侧主基板26的方向突起地设置,前端向贯通沟36的前端部122的方向突出。
在后侧爪104嵌合到贯通沟36的后端部96上的情况下,防止返回突起部108在与贯通沟的前端部122接触的位置上,向上侧主基板26的方向即单元配设方向突起地设置。另外,防止返回突起部108,其通过弹性部114连接在外周部102的本体。弹性部114,在单元配设方向中可转动地保持防止返回突起部108。
另外,在后侧爪104嵌合在贯通沟36的后端部96上的情况下,把手部112在向上侧主基板26以及下侧基板24的外部露出的区域中,向单元配设方向突起地设置。使用者握住把手部112使单元侧连接器22沿连接方向移动。
在插入到机架侧连接器16的前阶段中,单元侧连接器22插入到后侧爪104与贯通沟36的后端部96嵌合的位置为止,扣合部在扣合板34的端部98与前侧爪106嵌合的位置上将扣合板34扣合。由此,能够以将各个单元侧连接器22扣合在不与测试板14接触的位置上的状态,将电缆单元20安全地固定在测试板14上。此时,防止返回突起部108与贯通沟36的前端部122当接。
而且,在插入到机架侧连接器16上的阶段中,取下扣合板34,设为能够将单元侧连接器22向连接方向移动的状态。但是,不施加外力的状态中,单元侧连接器22是通过后侧爪104以及防止返回突起部108扣合的。另外,扣合板34退避到前述的螺孔48等位置上。而且,使用者依次将各个单元侧连接器22插入到机架侧连接器16。通过这种结构,使用者能够将各个单元侧连接器22安全地插入到机架侧连接器16上。
图6是表示当插入到机架侧连接器16上时的相对贯通沟36的单元侧连接器22的位置。在插入到机架侧连接器16上的情况下,单元侧连接器22的前侧爪106,与贯通沟36的前端部122嵌合。
图7是具备两个测试头12的测试装置100中的测试板14的概念图。在具备两个测试头12的情况下,在测试板14的表面以及背面分别设置了多个机架侧连接器16。
此时,主机机架10,其是通过设置在测试板14表面的机架侧连接器16将控制信号提供给第1测试头12,通过设置在测试板14里面的机架侧连接器16将控制信号提供给第2测试头12。
另外,测试装置100,其具备:第1电缆单元20,其将设置在测试板14表面的机架侧连接器16和第1测试头12进行光连接,将控制信号传输给第1测试头12;和第2电缆单元120,其将设置在测试头14里面的机架侧连接器16和第2测试头12进行光连接,将控制信号传输给第2测试头12。
此时,测试板14的表面中设置了延伸部18,在背面没有设置延伸部。第1电缆单元20具有与在图2到图6中说明的电缆单元20相同的结构,其通过延伸部18与测试板14进行连接。另外,第2电缆单元120与第1电缆单元20的结构不同,不具有单元固定部28,相对于第1电缆单元20的固定部,具有固定第2电缆单元的装置,这点有所不同。
图8是表示第2电缆单元120的连接器保持部121的结构之一例示意图。连接器保持部121,其具有上侧基板123以及下侧基板124。这里,上侧以及下侧是用于区别基板的称呼,并非表示实际使用时的位置关系。另外在本图中,省略了光纤电缆40的记载。
上侧基板123,相对于第1电缆单元20的上侧基板23的结构,具有大致左右对称的结构。上侧基板123,其具有上侧主基板126以及上侧从基板130。上侧主基板126以及上侧从基板130,相对于第1电缆单元20的上侧主基板26以及上侧从基板30的结构,具有大致左右对称的结构。但是,第2电缆单元120不具有单元固定部28,因此上侧主基板126不具有与单元固定部28对应的螺孔52。下侧基板124,相对于第1电缆单元20的下侧基板24的结构,具有大致左右对称的结构。关于下侧基板124的详细结构,在图9中进行后述。
图9是表示上侧主基板126、上侧从基板130、以及下侧基板124的各个外观之一例示意图。在图9中,标记与图4相同符号的部分,具有与在图4中说明部分相同的功能以及结构。上侧主基板126以及上侧从基板130,如在图8中所说明,相对于第1电缆单元20的上侧主基板26以及上侧从基板30的结构,具有大致左右对称的结构。另外,上侧主基板126,代替螺孔52而具有用于与下侧基板124铆接的螺孔198。
下侧基板124,其具有与上侧主基板126的表面大致平行的底面161、从底面161向上侧主基板126的方向延伸并与连接方向大致平行的两个侧面163、从底面161沿上侧主基板126的方向延伸并以连接方向为法线的电缆通过部侧面165。另外,在配置了单元侧连接器22的底面161的边上,没有设置侧面。另外,底面161,其具有从配置了单元侧连接器22的底面161的边向连接方向突出的突出面170。
底面161,其具有插入单元侧连接器22而配置的连接器区域193和通过各个单元侧连接器22的光纤电缆40的电缆通过区域192。下侧基板124中的电缆通过区域192的形状,是与下侧基板24中的电缆通过区域92大致左右对称。连接器区域193中,设置了突出面170。突出面170,向上侧主基板126的方向折返,在折返的表面128上设置了螺孔196。螺孔196,其与设置在上侧主基板126上的螺孔198铆接。
另外,连接器区域193的连接方向中的宽度,比第1电缆单元20中的连接器区域93的连接方向中的宽度小。如图10所示,第2电缆单元120的底面161、第1电缆单元20的底面61由于是在里面彼此之间贴合,因此第2电缆单元120的各个单元侧连接器22,是通过第1电缆单元20的下侧基板24、第2电缆单元120的上侧主基板126来保持的。
另外,在下侧基板124中,与第1电缆单元20的下侧基板24的螺孔(68,94)对应的位置,设置了贯通孔168。由此,当贴合第1电缆单元20和第2电缆单元120时,插通到螺孔(68,94)的螺丝端部插入到贯通孔168,因此不会产生由于该螺丝接触到下侧基板124的里面而造成的下侧基板124的倾斜,能够密接固定第1电缆单元20和第2电缆单元120。
图10是贴合第1电缆单元20以及第2电缆单元120时的概念图。如前所述,第1电缆单元20以及第2电缆单元120,贴合成下侧基板24以及下侧基板124的里面彼此密接。而且,铆接对应的螺孔(82,88)彼此,使用连接部件202铆接对应的螺孔73。由此,第2电缆单元120被固定在第1电缆单元20上。第1电缆单元20对测试板14进行固定,因此第2电缆单元120也能够对测试板14固定在规定位置上。
从测试板14使作为控制信号的激光出射。在第1电缆单元20以及第2电缆单元120连接在测试板14上的情况下,从测试板14的机架侧连接器16所出射的激光,被第1电缆单元20的电缆通过部侧面65、以及第2电缆单元120的电缆通过部侧面165而遮光。
但是,在取下这些电缆单元之际,有必要唤起使用者对激光的注意。在本例中,也可以在测试板14的附近设置促使使用者注意的注意铭板。另外,如后所述,当从机架侧连接器16取下各个单元侧连接器22时,通过将特殊工具设为必要,能够唤起使用者的注意。
接着,对并列设置在主机机架上的多个测试板14依次连接多个电缆单元的情况加以说明。首先,在并列设置的测试板14中的左端测试板14上固定第1电缆单元20,将各个单元侧连接器22插入到设置在该测试板14上的机架侧连接器16中。而且,在第1电缆单元20上固定第2电缆单元120,将各个单元侧连接器22插入到设置在该测试板14里面的机架侧连接器16。
而且,在下一测试板14上固定下一第1电缆单元20,将各个单元侧连接器22插入到设置在该测试板14里面的机架侧连接器16。此时,该单元侧连接器22的把手部112,向先前固定的第2电缆单元120侧突出,因此存在使用者难以握住该把手部112的情况。此时,使用者希望使用用于移动单元侧连接器22的工具。该工具,具有嵌合在设置了单元侧连接器22的把手部112的面的里面的装置。使用者使用该工具,能够从单元侧连接器22的里面移动单元侧连接器22。
重复这种作业,对全部的测试板14固定电缆单元(20,120),从而能够将全部的单元侧连接器22插入到机架侧连接器16。
图11是表示在没有使用设置在测试板14里面的机架侧连接器16的情况下相对测试板14固定的第1电缆单元20的一结构例示意图。本例中的测试装置100,只使用一个测试头12进行电子设备300的测试。该第1电缆单元20,其在与图10关联说明的第1电缆单元20的结构上,进一步具有遮光板204。遮光板204,其与在图10中说明的第2电缆单元120相同地,固定在第1电缆单元20。遮光板204在阻挡设置于测试板14里面的机架侧连接器16而出射的激光通路的位置上具有侧面206。例如,遮光板204,其在与第2测试板120的下侧基板124的电缆通过部侧面165相同的位置上具有侧面206。由此,能够从设置在测试板14里面的机架侧连接器16所出射的激光而屏蔽使用者。
以上使用实施方式说明了本发明,但是本发明的技术范围没有限定在上述实施方式所述范围。可对上述实施方式进行多种变更或者改良,这点对于本技术的领域人员而言是不言而喻的。从权利要求范围记载可知,进行这种变更或者改良的实施方式也包含在本发明的技术范围中。
工业实用性
从以上说明可知,根据本发明能够高效且安全地连接多个光纤电缆的连接器。
以上所述,仅是本发明的较佳实施例而已,并非对本发明作任何形式上的限制,虽然本发明已以较佳实施例揭露如上,然而并非用以限定本发明,任何熟悉本专业的技术人员,在不脱离本发明技术方案范围内,当可利用上述揭示的结构及技术内容作出些许的更动或修饰为等同变化的等效实施例,但是凡是未脱离本发明技术方案的内容,依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化与修饰,均仍属于本发明技术方案的范围内。
Claims (21)
1.一种测试装置,是测试电子设备的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:
测试头,其向前述电子设备施加测试图案;
主机机架,其设置了多个机架侧连接器,并通过前述机架侧连接器将控制信号提供给前述测试头;
电缆单元,其将前述机架侧连接器和前述测试头进行光连接,将前述控制信号传输给前述测试头,
前述电缆单元,包括:
多个光纤电缆,用于传输前述控制信号;
多个单元侧连接器,其设置在前述光纤电缆的端部,并与前述多个机架侧连接器对应而设置;
单元固定部,其对前述主机机架固定前述电缆单元;
连接器保持部,相对于所对应的前述机架侧连接器,各自独立并可插拔地保持各个前述单元侧连接器。
2.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于前述连接器保持部以能够相对于与前述机架侧连接器的连接方向,各自独立并可移动地保持各个前述单元侧连接器。
3.根据权利要求1所述的测试装置,其特征在于前述连接器保持部具有扣合部,所述扣合部能够将各个前述单元侧连接器以不与前述机架侧连接器连接的状态进行扣合。
4.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于前述多个机架侧连接器设置在插入到前述主机机架上的测试板上,
前述扣合部,在前述单元固定部固定了前述电缆单元的状态中,且在不与前述测试板接触的位置上扣合前述多个单元侧连接器。
5.根据权利要求3所述的测试装置,其特征在于前述多个单元侧连接器,在前述电缆单元的平面中,且沿着与前述机架侧连接器的连接方向大致垂直的连接器配设方向并列配设,
各个前述单元侧连接器,在与前述连接方向以及前述连接器配设方向的双方大致垂直的单元配设方向上,分别具有突起的扣合爪,
前述连接器保持部还包括设置了贯通沟的保持基板,该贯通沟中插通了对应的前述单元侧连接器的前述扣合爪,使前述扣合爪能够在插通了前述扣合爪的状态中,相对于前述连接方向移动,从而以能够相对于前述连接方向移动的状态保持该单元侧连接器。
6.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于前述多个贯通沟的设置间隔,与前述单元侧连接器的前述连接器配设方向中的宽度大致相同。
7。根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于前述扣合爪包括后侧爪、和设置在比前述后侧爪更靠近前述测试板侧的前侧爪,
前述扣合部包括扣合板,与前述保持基板可装卸地设置,并与前述多个单元侧连接器的前述前侧爪嵌合,
各个前述单元侧连接器的前述后侧爪嵌合在前述贯通沟的后端部,且各个前述单元侧连接器的前述前侧爪嵌合在前述扣合板上,从而将前述多个单元侧连接器扣合在不与前述测试头接触的位置上。
8.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于前述扣合部包括:
在使各个前述单元侧连接器的前述后侧爪嵌合在前述贯通沟的前述后端部上的情况下,将前述扣合板可装卸地固定在与各个前述单元侧连接器的前述前侧爪嵌合的位置上的装置。
9.根据权利要求8所述的测试装置,其特征在于前述扣合部还包括:
在使各个前述单元侧连接器的前述前侧爪嵌合在前述贯通沟的前端部上的情况下,将前述扣合板可装卸地固定在与各个前述单元侧连接器的前述后侧爪嵌合的位置上的装置。
10.根据权利要求9所述的测试装置,其特征在于前述扣合部还包括:
在将前述单元侧连接器插入到前述机架侧连接器上的情况下,在与设置了前述多个贯通沟的区域不同的区域上,将前述扣合板以不与前述前侧爪以及前述后侧爪的任何一个接触的状态下,而可装卸地进行固定的装置。
11.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于各个前述单元侧连接器还包括:
防止返回突起部,其在前述后侧爪嵌合在前述贯通沟的前述后端部上的情况下,设置在与该贯通沟的前端部接触的位置上,该防止返回突起部具有向前述单元配设方向突起的弹性。
12.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于各个前述单元侧连接器在前述后侧爪嵌合在前述贯通沟的前述后端部的情况下,在向前述保持基板的外部露出的区域上还包括:
把手部,向前述单元配设方向突起。
13.根据权利要求7所述的测试装置,其特征在于前述电缆单元包括多个连接器模块,该连接器模块分别包括多个前述单元侧连接器,
前述扣合部是,在每个前述连接器模块上包括前述扣合板、以及能够装卸地固定该扣合板的装置。
14.根据权利要求13所述的测试装置,其特征在于前述保持基板设置在邻接的前述连接器模块之间,在与前述测试板相对的面内具有开口,
前述测试板在与前述开口对应的位置上包括向前述连接方向延伸的延伸部,
前述单元固定部以在前述开口上插入了前述延伸部的状态,固定前述保持基板和前述延伸部。
15.根据权利要求5所述的测试装置,其特征在于前述保持基板包括:
上侧基板,其具有以前述单元配设方向为法线的表面,在该表面上设置了前述贯通沟;
下侧基板,其具有以前述单元配设方向为法线的表面,与前述上侧基板相对,在前述单元配设方向中具有规定间隔而设置,
前述多个单元侧连接器,其插入在前述上侧基板和前述下侧基板之间。
16.根据权利要求15所述的测试装置,其特征在于前述下侧基板包括:
电缆通过部,分别通过各个前述光纤电缆;
电缆送出部,设置于前述电缆通过部的端部,具有插通各个前述光纤电缆且向前述连接器保持部外部送出的开口,
在设置了前述上侧基板的前述贯通沟的表面且与前述电缆通过部相对的区域中,设置多个贯通孔。
17.根据权利要求16所述的测试装置,其特征在于前述电缆单元包括多个连接器模块,该连接器模块分别包括多个前述单元侧连接器,
在前述上侧基板的表面设有切口,前述上侧基板的表面相对于连接在最接近于前述电缆送出部的前述连接器模块上的前述光纤电缆通过的前述电缆通过部的区域。
18.根据权利要求16所述的测试装置,其特征在于与前述电缆通过部对应的区域中的前述上侧基板和前述下侧基板之间的间隔,比与前述贯通沟对应的区域中的前述上侧基板和前述下侧基板之间的间隔大。
19.根据权利要求16所述的测试装置,其特征在于前述电缆通过部包括从以前述下侧基板的前述单元配设方向为法线的表面向前述上侧基板的方向延伸的侧面,
前述扣合部包括可装卸地将前述扣合板固定在前述侧面的装置。
20.根据权利要求16所述的测试装置,其特征在于前述上侧基板包括:
上侧主基板,其设置了前述多个贯通沟;
上侧从基板,其设置了前述多个贯通孔,在与前述电缆通过部相对的区域中与前述上侧主基板为可装卸地固定。
21.一种测试装置,是测试电子设备的测试装置,其特征在于所述测试装置包括:
第1测试头以及第2测试头,分别对前述电子设备施加测试图案;
主机机架,其包括在表面以及里面分别设置了多个机架侧连接器的测试板,通过设置在前述表面上的前述机架侧连接器,将控制信号提供给前 述第1测试头,且通过设置在前述里面上的前述机架侧连接器将控制信号提供给前述第2测试头;
第1电缆单元,其将设置在前述测试板的前述表面上的前述机架侧连接器和前述第1测试头进行光连接,将前述控制信号提供给前述第1测试头;
第2电缆单元,其将设置在前述测试板的前述里面的前述机架侧连接器和前述第2测试头进行光连接,将前述控制信号传输给前述第2测试头,
前述第1电缆单元以及前述第2电缆单元分别包括:
多个光纤电缆,用于传输前述控制信号;
多个单元侧连接器,设置在前述光纤电缆的端部,并与前述多个机架侧连接器对应而设置;
连接器保持部,对于相对应的前述机架侧连接器而各自独立并可插拔地保持各个前述单元侧连接器,
前述第1电缆单元还包括第1单元固定部,相对于前述测试板而固定前述电缆单元,
前述第2电缆单元还包括第2单元固定部,相对于前述第1电缆单元而固定前述第2电缆单元。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP347860/2004 | 2004-11-30 | ||
JP2004347860A JP2006153779A (ja) | 2004-11-30 | 2004-11-30 | 試験装置 |
PCT/JP2005/021690 WO2006059548A1 (ja) | 2004-11-30 | 2005-11-25 | 試験装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN101088018A true CN101088018A (zh) | 2007-12-12 |
CN101088018B CN101088018B (zh) | 2010-05-12 |
Family
ID=36564982
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN2005800444571A Expired - Fee Related CN101088018B (zh) | 2004-11-30 | 2005-11-25 | 测试装置 |
Country Status (7)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7316578B2 (zh) |
JP (1) | JP2006153779A (zh) |
KR (1) | KR101228212B1 (zh) |
CN (1) | CN101088018B (zh) |
DE (1) | DE112005002907T5 (zh) |
TW (1) | TWI372878B (zh) |
WO (1) | WO2006059548A1 (zh) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113252951A (zh) * | 2021-06-24 | 2021-08-13 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 减小半导体测试夹具脉冲源延时的装置及方法 |
CN113661616A (zh) * | 2019-04-19 | 2021-11-16 | 三菱电机株式会社 | 试验装置、试验方法以及组装线 |
Families Citing this family (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8920043B2 (en) | 2008-03-03 | 2014-12-30 | Furukawa Electric Co., Ltd. | Connector unit |
TWM365580U (en) * | 2008-11-10 | 2009-09-21 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | Electrical connector |
US20110221601A1 (en) * | 2010-03-12 | 2011-09-15 | Jerry Aguren | Detecting Engagement Conditions Of A Fiber Optic Connector |
KR101269600B1 (ko) * | 2011-07-25 | 2013-06-05 | 최경택 | 차량용 스위치 및 전장모듈 종합 테스터 |
KR101301949B1 (ko) | 2011-11-07 | 2013-09-02 | 가부시키가이샤 어드밴티스트 | 디바이스 인터페이스 장치 및 시험 장치 |
DE102017125859A1 (de) * | 2017-11-06 | 2019-05-09 | Harting Electric Gmbh & Co. Kg | Modularer Halterahmen für Steckverbinder |
CN109459211B (zh) * | 2018-10-30 | 2024-04-05 | 江苏德联达智能科技有限公司 | 一种光纤口测试装置 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3035244A (en) * | 1959-06-12 | 1962-05-15 | Aveni Anthony | Flexible pin extension adapter plug |
JPH10186177A (ja) * | 1996-10-28 | 1998-07-14 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光コネクタおよび光コネクタの接続方法および把持用工具 |
US6095695A (en) * | 1996-10-28 | 2000-08-01 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Optical connector, and using method and tool thereof |
JPH10142298A (ja) * | 1996-11-15 | 1998-05-29 | Advantest Corp | 集積回路デバイス試験装置 |
US6139341A (en) * | 1998-12-02 | 2000-10-31 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd | Universal adapter equipped with retractable pins |
JP2000249746A (ja) * | 1999-02-26 | 2000-09-14 | Ando Electric Co Ltd | 集積回路試験装置 |
JP2001244016A (ja) * | 2000-02-29 | 2001-09-07 | Fujitsu Takamisawa Component Ltd | カード型周辺装置 |
US6364536B1 (en) * | 2000-03-30 | 2002-04-02 | Wenzong Chen | Floating connector assembly |
JP2002098860A (ja) * | 2000-07-12 | 2002-04-05 | Molex Inc | 光コネクタ用の整列装置 |
US6776533B2 (en) * | 2002-02-19 | 2004-08-17 | Itt Manufacturing Enterprises, Inc. | Latching fiber optic connector system |
-
2004
- 2004-11-30 JP JP2004347860A patent/JP2006153779A/ja not_active Withdrawn
-
2005
- 2005-11-25 CN CN2005800444571A patent/CN101088018B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2005-11-25 DE DE112005002907T patent/DE112005002907T5/de not_active Withdrawn
- 2005-11-25 KR KR1020077014257A patent/KR101228212B1/ko not_active IP Right Cessation
- 2005-11-25 WO PCT/JP2005/021690 patent/WO2006059548A1/ja active Application Filing
- 2005-11-30 TW TW094142019A patent/TWI372878B/zh not_active IP Right Cessation
-
2006
- 2006-01-11 US US11/330,042 patent/US7316578B2/en not_active Expired - Fee Related
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113661616A (zh) * | 2019-04-19 | 2021-11-16 | 三菱电机株式会社 | 试验装置、试验方法以及组装线 |
CN113661616B (zh) * | 2019-04-19 | 2023-08-15 | 三菱电机株式会社 | 试验装置、试验方法以及组装线 |
CN113252951A (zh) * | 2021-06-24 | 2021-08-13 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 减小半导体测试夹具脉冲源延时的装置及方法 |
CN113252951B (zh) * | 2021-06-24 | 2021-10-22 | 陕西开尔文测控技术有限公司 | 减小半导体测试夹具脉冲源延时的装置及方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US20060158204A1 (en) | 2006-07-20 |
WO2006059548A1 (ja) | 2006-06-08 |
DE112005002907T5 (de) | 2007-10-18 |
JP2006153779A (ja) | 2006-06-15 |
TWI372878B (en) | 2012-09-21 |
KR101228212B1 (ko) | 2013-01-30 |
KR20070086566A (ko) | 2007-08-27 |
US7316578B2 (en) | 2008-01-08 |
TW200634323A (en) | 2006-10-01 |
CN101088018B (zh) | 2010-05-12 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN101088018B (zh) | 测试装置 | |
US10571641B2 (en) | Optical assemblies with managed connectivity | |
US6056448A (en) | Vertical cavity surface emitting laser array packaging | |
US7421181B2 (en) | Retention release auxiliary device for optical connector and printed circuit board device | |
US20050074990A1 (en) | Optics pack | |
JP4082571B2 (ja) | コネクタの嵌脱構造 | |
CN101529295B (zh) | 光连接器 | |
JP2002048953A (ja) | 光ファイバシステム | |
BR9804690A (pt) | Dispositivo de interface dotado de órgãos que servem de intermediário entre um primeiro equipamento em especial de tipo autÈmato e pelo menos um outro equipamento de uma instalação industrial. | |
JP2017134310A (ja) | 光コネクタ及び光コネクタシステム | |
US20140064676A1 (en) | Parallel optical communication module connector | |
TWI461775B (zh) | 光通訊模組及其耦光組接方法 | |
US11693199B2 (en) | 12 fiber MPO to 16 fiber MPO conversion module | |
CN105467537A (zh) | 理线盘、光纤布线组件和电光模块 | |
US9389376B2 (en) | Optical transmission module | |
WO2004051319A2 (en) | Receptacle for receiving a ferrule | |
JP2008292962A (ja) | 光コネクタ固定構造および光コネクタ | |
CN101589324A (zh) | 光电转换连接装置 | |
US8718479B2 (en) | Fiber optic cable assembly for optical transceiver | |
CN103457111A (zh) | 发光连接器及电子产品和检测设备 | |
US6594051B1 (en) | Data communication system for hand-held computers | |
JP6506138B2 (ja) | 光モジュール及び光モジュール用レセプタクル | |
US11181698B2 (en) | Connector and electronic apparatus | |
JP6713886B2 (ja) | 光モジュール及び伝送装置 | |
JP2007011240A (ja) | 光コネクタユニット |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C06 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
C10 | Entry into substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
C14 | Grant of patent or utility model | ||
GR01 | Patent grant | ||
C17 | Cessation of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20100512 Termination date: 20131125 |