WO2006000563A1 - Mikroskop - Google Patents

Mikroskop Download PDF

Info

Publication number
WO2006000563A1
WO2006000563A1 PCT/EP2005/052911 EP2005052911W WO2006000563A1 WO 2006000563 A1 WO2006000563 A1 WO 2006000563A1 EP 2005052911 W EP2005052911 W EP 2005052911W WO 2006000563 A1 WO2006000563 A1 WO 2006000563A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
light
fiber
light source
microscope
scanning
Prior art date
Application number
PCT/EP2005/052911
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Volker Leimbach
Heinrich Ulrich
Original Assignee
Leica Microsystems Cms Gmbh
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leica Microsystems Cms Gmbh filed Critical Leica Microsystems Cms Gmbh
Priority to JP2007517295A priority Critical patent/JP2008503782A/ja
Priority to US11/569,914 priority patent/US7564624B2/en
Publication of WO2006000563A1 publication Critical patent/WO2006000563A1/de

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/06Means for illuminating specimens
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/0004Microscopes specially adapted for specific applications
    • G02B21/002Scanning microscopes
    • G02B21/0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
    • G02B21/0052Optical details of the image generation

Definitions

  • the invention relates to a microscope with at least a first and a second light source, wherein the first light source is associated with a first optical fiber and the second light source, a second optical fiber, and wherein the light emitted by the respective light source can be coupled into the associated optical fiber, and with a arranged in an illumination beam path lens.
  • an object with the focus of a light beam is scanned in three dimensions.
  • a confocal scanning microscope generally comprises a light source, a focusing optics, with which the light of the source is focused on a pinhole - the so-called excitation diaphragm, a beam splitter, a beam deflector for beam control, a microscope optics, a detection aperture and the detectors for detecting the detection - or Fluoresze ⁇ zlichtes.
  • the illuminating light is coupled in via a beam splitter.
  • the fluorescence or reflection light coming from the object passes back to the beam splitter via the beam deflector, passes through it, and is subsequently focused onto the detection aperture behind which the detectors are located.
  • Detection light that does not come directly from the focus region takes a different light path and does not pass through the detection aperture, so as to obtain point information that results in a three-dimensional image by sequentially scanning the object.
  • a three-dimensional image is achieved by layered image data acquisition, wherein the path of the scanning light beam on or in the object ideally describes a meander. (Scanning a line in the x-direction at a constant y-position, then pause x-scan and swing by y-adjustment to the next line to be scanned and then, at a constant y-position, scan this line in negative x-Richtu ⁇ g, etc.).
  • a multicolor point light source for a laser scanning microscope is known.
  • the multicolor point light source has at least two lasers of different wavelengths producing a multicolor spot on a sample to be examined, which is scanned across the sample, with a laser optically coupled between the laser scanning microscope and the lasers
  • Beam combiner is provided, which brings together the laser beams of the laser coaxial.
  • the beam combiner is designed as a monolithic unit. Between the beam combiner and the laser scanning microscope, a light guide is provided, which transfers the coaxially merged radiation of all lasers to the laser scanning microscope, wherein the laser beams are adjustable to this light guide.
  • the fiber optic switching device comprises at least one movable optical fiber and at least one control electrode for generating an electrostatic field which controls the spatial position of the movable optical fiber for optical coupling to at least one second optical fiber.
  • the switching device has an electrically insulating housing, the inner wall of which is partially formed by the at least one control electrode.
  • a dichroic or dichroic beam splitter is used to combine the beam paths of the light sources.
  • AOTF acousto-optic filters
  • This object is achieved by a microscope, characterized in that in the illumination beam path, a fiber multiplexer is provided, which is coupled to the first and the second optical fiber and receives the light of the light sources and selectively the light of the first or the light of the second Light source passes.
  • the microscope according to the invention has the advantage that a sample can be illuminated in a simple manner with light-different light sources as a function of the individual requirements.
  • optical fiber technology microscope of the invention is extremely resistant to interference, such as vibration or contamination of optical components by dust.
  • the fiber multiplexer (fiber optic switching device) is firmly integrated in a housing and thus robust in handling.
  • an x in 1 fiber multiplexer eg, 2 in 1, 3 in 1, 4 in 1, 5 in 1, ...) is used, and in most applications plays only a minor role in that only the light during an observation process a single light source reaches the sample.
  • an output fiber is provided, which is coupled to the fiber multiplexer.
  • the fiber coupler couples the light from one or more light sources into this output fiber.
  • a coupling-out optical system is preferably provided which collimates the light emerging from the coupling-out fiber.
  • the first and / or the second light source comprises a laser.
  • this laser is designed as a pigtail laser, which is coupled directly to an optical fiber.
  • a fiber attenuator is provided in a variant of the microscope according to the invention in the first optical fiber and / or in the second optical fiber.
  • the fiber multiplexer is an attenuator, which may be formed, for example, as a fiber attenuator, downstream.
  • the microscope is designed as a scanning microscope, in particular as a confocal scanning microscope.
  • the fiber multiplexer is switchable in synchronism with a pointwise scanning of the Scanleides. This makes it possible to apply adjacent halftone dots with light-different wavelength and or light output.
  • the fiber multiplexer can be switched in synchronism with a scanning of a scan field line by line.
  • the fiber multiplexer is switchable in synchronism with a frame-by-frame scanning of a scan field. This variant makes it possible to sequentially scan a scan field several times under different illumination conditions in terms of wavelength and or light output.
  • the fiber multiplexer arrangement of the microscope according to the invention replaces both a complicated beam combination and the usually provided shutter after each light source for interrupting the illumination light radiation.
  • FIG. A microscope according to the invention.
  • the figure shows a microscope according to the invention, which is designed as a confocal scanning microscope.
  • the microscope has a first light source 1, which is designed as a laser light source and emits light having a wavelength of 488 nm, on.
  • the scanning microscope has a second light source 3, which is likewise designed as a laser and emits light having a wavelength of 532 nm.
  • the scanning microscope comprises a third light source 5, which is formed as a pigtail laser 7 and emits light of a wavelength of 635 nm.
  • the scanning microscope on a fourth light source 9, which is also designed as a laser and emitted light of a wavelength of 405 nm.
  • the light of the first light source 1 is coupled to a first coupling optical system 11 in a first optical fiber 13, which is coupled to a fiber multiplexer 15.
  • the light of the second light source 3 is coupled with a second coupling optical system 17 in a second optical fiber 19, which is also coupled to the fiber multiplexer 15, coupled.
  • the light of the fourth light source 9 is coupled by means of a third Eijjikoppeloptik 21 in a fourth optical fiber 23.
  • the fourth optical fiber 23 is also optically connected to the fiber multiplexer 15.
  • the pigtail laser 7 is coupled to a third optical fiber 25, which transports the light of the pigtail laser 7 to the fiber multiplexer.
  • the fiber multiplexer 15 is controlled via a drive unit 27 according to the specifications of the user or according to the individual experiment requirements.
  • the fiber multiplexer 15 passes the light of the first light source 1 or the light of the second light source 3 or the light of the third light source 5 or the light of the fourth light source 9 and couples this into an output fiber 29 on. Furthermore, the light passing through the output fiber 29 is referred to as the illumination light beam 31.
  • the illumination light beam 31 is coupled out with the coupling-out optical system 33 and then passes to the detection pinhole 35, passes through it and is directed by the following main beam splitter 37 to the beam deflection device 39, which includes a gimbal-mounted scanning mirror 41.
  • the beam deflection device 39 guides the illumination light beam 31 through the scanning optics 43, the tube optics 45 and through the microscope objective 47 over or through the sample 49.
  • the detection light 51 emanating from the sample arrives on the same light path, namely the microscope objective 47, the tube optics 45 and the scanning optics 43 and the beam deflector 39 back to the main beam splitter 37, passes this and the subsequent detection pinhole 53 and finally reaches the detector 55, which is designed as a photomultiplier 57.
  • the detector 55 generates electrical signals proportional to the light output of the detection light 51, which signals are passed on to a processing unit 59.
  • the electrical signals are assigned to the respective position signals of the beam deflection device 39 and image data are generated, which are forwarded to a PC 61, on whose monitor 63 an image of the sample is displayed.
  • the processing unit 59 controls the drive module 27 of the fiber multiplexer 15 in accordance with the requirements of the experiment or the user specifications.
  • the fiber multiplexer 15 has a fifth input port, which, however, is not coupled to a laser. For completely switching off the sample illumination, the fiber multiplexer 15 is switched to this dummy port 65.

Abstract

Ein Mikroskop mit zumindest einer ersten und einer zweiten Lichtquelle, wobei der ersten Lichtquelle eine erste Lichtleitfaser und der zweiten Lichtquelle eine zweite Lichtleitfaser zugeordnet ist, und wobei das von der jeweiligen Lichtquelle emittierte Licht in die zugeordnete Lichtleitfaser einkoppelbar ist, ist Offenbart. Das Mikroskop weist ein in einem Beleuchtungsstrahlengang angeordnetes Objektiv auf und ist dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang ein Faser-Multiplexer vorgesehen ist, der an die erste und an die zweite Lichtleitfaser gekoppelt ist und das Licht der Lichtquellen empfängt und der wahlweise das Licht der ersten oder das Licht der zweiten Lichtquelle passieren lässt.

Description

Mikroskop
Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit zumindest einer ersten und einer zweiten Lichtquelle, wobei der ersten Lichtquelle eine erste Lichtleitfaser und der zweiten Lichtquelle eine zweite Lichtleitfaser zugeordnet ist, und wobei das von der jeweiligen Lichtquelle emittierte Licht in die zugeordnete Lichtleitfaser einkoppelbar ist, und mit einem in einem Beleuchtungsstrahlengang angeordneten Objektiv.
In der Rastermikroskopie (Scanmikroskopie) wird eine Probe mit einem Lichtstrahl abgerastert, um das von der Probe emittierte Reflexions- oder Fluoreszenzlicht zu beobachten. Hierzu werden oft Laser als Lichtquelle eingesetzt. Aus der EP 0 495 930: „Konfokales Mikroskopsystem für Mehrfarbenflu'dreszenz" ist beispielsweise ein Anordnung mit einem einzelnen mehrere Laserlinien emittierenden Laser bekannt. Derzeit werden hierfür meist Mischgaslaser, insbesondere ArKr-Laser, eingesetzt. Der Fokus eines Beleuchtungslichtstrahles wird mit Hilfe einer steuerbaren Strahlablenkeinrichtung, im Allgemeinen durch Verkippen zweier Spiegel, in einer Objektebene bewegt, wobei die Ablenkachsen meist senkrecht aufeinander stehen, so dass ein Spiegel in x-, der andere in y-Richtung ablenkt. Die Verkippung der Spiegel wird beispielsweise mit Hilfe von Galvanometer-Stellelementen bewerkstelligt. Die Leistung des vom Objekt kommenden Lichtes wird in Abhängigkeit von der Position des Abtaststrahles gemessen. Üblicherweise werden die Stellelemente mit Sensoren zur Ermittlung der aktuellen Spiegelstellung ausgerüstet.
Speziell in der konfokalen Rastermikroskopie wird ein Objekt mit dem Fokus eines Lichtstrahles in drei Dimensionen abgetastet.
Ein konfokales Rastermikroskop umfasst im Allgemeinen eine Lichtquelle, eine Fokussieroptik, mit der das Licht der Quelle auf eine Lochblende - die sog. Anregungsblende - fokussiert wird, einen Strahlteiler, eine Strahlablenkeinrichtung zur Strahlsteuerung, eine Mikroskopoptik, eine Detektionsblende und die Detektoren zum Nachweis des Detektions- bzw. Fluoreszeπzlichtes. Das Beleuchtuπgslicht wird über einen Strahlteiler eingekoppelt. Das vom Objekt kommende Fluoreszenz- oder Reflexionslicht gelangt über die Strahlablenkeinrichtung zurück zum Strahlteiler, passiert diesen, um anschließend auf die Detektionsblende fokussiert zu werden, hinter der sich die Detektoren befinden. Detektionslicht, das nicht direkt aus der Fokusregion stammt, nimmt einen anderen Lichtweg und passiert die Detektionsblende nicht, so dass man eine Punktinformation erhält, die durch sequentielles Abtasten des Objekts zu einem dreidimensionalen Bild führt. Meist wird ein dreidimensionales Bild durch schichtweise Bilddatennahme erzielt, wobei die Bahn des Abtastlichtstrahles auf bzw. in dem Objekt idealerweise einen Mäander beschreibt. (Abtasten einer Zeile in x-Richtung bei konstanter y-Position, anschließend x-Abtastung anhalten und per y- Verstellung auf die nächste abzutastende Zeile schwenken und dann, bei konstanter y-Position, diese Zeile in negativer x-Richtuπg abtasten u.s.w.). Um eine schichtweise Bilddatennahme zu ermöglichen, wird der Probentisch oder das Objektiv nach dem Abtasten einer Schicht verschoben und so die nächste abzutastende Schicht in die Fokusebene des Objektivs gebracht. Aus DE 196 33 185 ist eine mehrfarbige Punktlichtquelle für ein Laserscanmikroskop bekannt. Die mehrfarbige Punktlichtquelle weist mindestens zwei Laser unterschiedlicher Wellenlänge auf, die einen mehrfarbigen Lichtpunkt auf einer zu untersuchenden Probe erzeugen, der über die Probe hinweggerastert wird, wobei zwischen dem Laserscanmikroskop und den Lasern ein mit den Lasern optisch verbundener Strahlvereiniger vorgesehen ist, der die Laserstrahlen der Laser koaxial zusammenführt. In einer möglichen Ausgestaltungsvariante ist vorgesehen, das ein Laser unmittelbar und weitere Laser über Lichtleitfasern in den Strahlvereiniger einkoppeln. Der Strahlvereiniger ist als monolitische Einheit ausgebildet. Zwischen dem Strahlvereiniger und dem Laserscanmikroskop ist ein Lichtleiter vorgesehen, der die koaxial zusammengeführte Strahlung aller Laser zu dem Laserscanmikroskop überführt, wobei die Laserstrahlen auf diesen Lichtleiter justierbar sind.
Aus DE 102 51 897 A1 ist eine faseroptische Schaltvorrichtung mit beweglicher Lichtleitfaser und ein Herstellungsverfahren bekannt. Die faseroptische Schaltvorrichtung umfasst mindestens eine bewegliche Lichtleitfaser und mindestens eine Steuerelektrode zum Erzeugen eines elektrostatischen Feldes, das die räumliche Lage der beweglichen Lichtleitfaser zur optischen Kopplung mit mindestens einer zweiten Lichtleitfaser steuert. Um eine verbesserte faseroptische Schaltvorrichtung anzugeben, weist die Schaltvorrichtung ein elektrisch isolierendes Gehäuse auf, dessen Innenwandung teilweise von der mindestens einen Steuerelektrode gebildet ist. Üblicherweise wird in der Mikroskopie, wenn in einem Mikroskop mehrere Lichtquellen vorgesehen sind, ein dichroitischer bzw. dichromatischer Strahlteiler zur Vereinigung der Strahlengänge der Lichtquellen verwendet. Zur individuellen Steuerung der Lichtleistung des von den Lichtquellen emittierten Lichtes sind zusätzliche Bauteile, wie beispielsweise akustooptische Filter (AOTF) nötig, die aufwendig justiert werden müssen. Die Strahlvereinigung mit herkömmlicher Optik ist daher sehr bauraumbeanspruchend und sehr kostenintensiv. Ein weiterer Nachteil ist in dem hohen Justieraufwand und der hohen Störanfälligkeit zu sehen.
Es ist daher die Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ein Mikroskop anzugeben, dessen Lichtquellen bei einfacher kompakter und zuverlässiger Bauweise optisch an den Beleuchtungsstrahlengang ankoppelbar sind. Diese Aufgabe wird durch ein Mikroskop gelöst das dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang ein Faser-Multiplexer vorgesehen ist, der an die erste und an die zweite Lichtleitfaser gekoppelt ist und das Licht der Lichtquellen empfängt und der wahlweise das Licht der ersten oder das Licht der zweiten Lichtquelle passieren lässt.
Das erfindungsgemäße Mikroskop hat den Vorteil, das eine Probe auf einfache Weise mit lichtunterschiedlicher Lichtquellen in Abhängigkeit von den individuellen Anforderungen beleuchtet werden kann. Durch die Verwendung von Lichtleitfasertechnik ist das erfindungsgemäße Mikroskop äußerst unanfällig gegen Störungen, wie Vibrationen oder Verschmutzung von optischen Bauteilen durch Staub.
Vorzugsweise ist der Fasermultiplexer (Faseroptische Schaltvorrichtung) fest in einem Gehäuse integriert und somit robust in der Handhabung. Vorzugsweise wird ein x in 1 Fasermultiplexer (z.B. 2 in 1 , 3 in 1 , 4 in 1 , 5 in 1 ,...) verwendet, wobei es bei den meisten Anwendungen nur eine untergeordnete Rolle spielt, dass während eines Beobachtungsvorganges nur das Licht einer einzigen Lichtquelle zur Probe gelangt.
Bei aufwendigeren Fasermultiplexern kann vorgesehen sein, das Licht mehrerer Lichtquellen passieren zu lassen und vorzugsweise in eine Ausgangsfaser einzukoppeln. In einer besonders bevorzugten Ausgestaltungsvariante ist eine Ausgangsfaser vorgesehen, die an den Fasermultiplexer angekoppelt ist. Der Faserkoppler koppelt das Licht einer oder mehrerer Lichtquellen in diese Ausgangsfaser ein. Am Ende der Ausgangsfaser ist vorzugsweise eine Auskoppeloptik vorgesehen, die das aus der Auskoppelfaser austretende Licht kollimiert. Vorzugsweise umfasst die erste und/oder die zweite Lichtquelle einen Laser. In einer besonders bevorzugten Ausgestaltungsvariante ist dieser Laser als Pigtail-Laser, der direkt an eine Lichtleitfaser angekoppelt ist, ausgestaltet. Zum Einstellen bzw. zur Steuerung der Lichtleistung ist in einer Variante des erfindungsgemäßen Mikroskops in der ersten Lichtleitfaser und/oder in der zweiten Lichtleitfaser ein Faserabschwächer vorgesehen.
In einer anderen Variante ist dem Fasermultiplexer ein Abschwächer, der beispielsweise als Faserabschwächer ausgebildet sein kann, nachgeordnet.
In einer ganz besonders bevorzugten Ausgestaltungsform ist das Mikroskop als Rastermikroskop, insbesondere als konfokales Rastermikroskop ausgebildet.
Vorzugsweise ist der Fasermultiplexer synchron zu einem punktweisen Abrastern des Scanleides schaltbar. Hierdurch ist es ermöglicht, benachbarte Rasterpunkte mit lichtunterschiedlicher Wellenlänge und oder Lichtleistung zu beaufschlagen.
In einer anderen Variante ist vorgesehen, dass der Fasermultiplexer synchron zu einem zeilenweisen Abrastern eines Scanfeldes schaltbar ist. In dieser Variante ist es insbesondere ermöglicht, eine Scanzeile nacheinander mit Licht unterschiedlicher Wellenlänge und oder Lichtleistung zu beaufschlagen. Es ist auch ermöglicht, benachbarte Scanzeilen mit Beleuchtungslicht unterschiedlicher Wellenlänge und oder Lichtleistung zu beaufschlagen.
In einer anderen Ausgestaltungsform ist vorgesehen, dass der Fasermultiplexer synchron zu einem frameweisen Abrastern eines Scanfeldes schaltbar ist. Diese Variante ermöglicht es, sequenziell ein Scanfeld mehrfach abzuscannen bei unterschiedlichen Beleuchtungsbedingungen hinsichtlich Wellenlänge und oder Lichtleistung.
Vorteilhafterweise ersetzt die Fasermultiplexeranordnung des erfindungsgemäßen Mikroskops sowohl eine aufwendige Strahlvereinigung als auch die üblicherweise vorgesehenen Shutter nach jeder Lichtquelle zum Unterbrechen der Beleuchtungslichtstrahlung.
In einer besonderen Variante ist vorgesehen, einen Einkoppelport des Fasermultiplexers ungenutzt zu lassen (also keine Lichtquelle anzukoppeln) und zum vollständigen Unterbrechen der Probenbeleuchtung den Fasermultiplexer auf diesen „Dummy-Port" zu schalten.
In den Zeichnungen ist der Erfindungsgegenstand schematisch dargestellt und wird anhand der Figuren nachfolgend beschrieben, wobei gleich wirkende Bauteile mit denselben Bezugszeichen versehen sind. Dabei zeigt die einzige
Fig. ein erfindungsgemäßes Mikroskop. Die Figur zeigt ein erfindungsgemäßes Mikroskop, das als konfokales Rastermikroskop ausgebildet ist. Das Mikroskop weist eine erste Lichtquelle 1 , die als Laserlichtquelle ausgebildet ist und Licht einer Wellenlänge von 488 nm emittiert, auf. Weiterhin weist das Rastermikroskop eine zweite Lichtquelle 3, die ebenfalls als Laser ausgebildet ist und Licht einer Wellenlänge von 532 nm emittiert, auf. Das Rastermikroskop umfasst eine dritte Lichtquelle 5, die als Pigtail-Laser 7 ausgebildet ist und Licht einer Wellenlänge von 635 nm emittiert. Darüber hinaus weist das Rastermikroskop eine vierte Lichtquelle 9 auf, die ebenfalls als Laser ausgebildet ist und Licht einer Wellenlänge von 405 nm emittiert auf.
Das Licht der ersten Lichtquelle 1 wird mit einer ersten Koppeloptik 11 in eine erste Lichtleitfaser 13, die an einen Fasermultiplexer 15 gekoppelt ist, eingekoppelt. Das Licht der zweiten Lichtquelle 3 wird mit einer zweiten Koppeloptik 17 in eine zweite Lichtleitfaser 19, die ebenfalls mit dem Fasermultiplexer 15 verkoppelt ist, eingekoppelt. Analog wird das Licht der vierten Lichtquelle 9 mit Hilfe einer dritten Eijjikoppeloptik 21 in eine vierte Lichtleitfaser 23 eingekoppelt. Die vierte Lichtleitfaser 23 ist ebenfalls optisch an den Fasermultiplexer 15 angeschlossen. Der Pigtail-Laser 7 ist an eine dritte Lichtleitfaser 25 angekoppelt, die das Licht des Pigtail-Lasers 7 zu dem Fasermultiplexer transportiert. Der Fasermultiplexer 15 wird über eine Ansteuereinheit 27 gemäß den Vorgaben des Benutzers bzw. gemäß den individuellen Experimentanforderungen gesteuert. Der Fasermultiplexer 15 lässt je nach Ansteuerung das Licht der ersten Lichtquelle 1 oder das Licht der zweiten Lichtquelle 3 oder das Licht der dritten Lichtquelle 5 oder das Licht der vierten Lichtquelle 9 passieren und koppelt dieses in eine Ausgangsfaser 29 ein. Im weiteren wird das Licht, das die Ausgangsfaser 29 durchläuft als Beleuchtungslichtstrahl 31 bezeichnet. Der Beleuchtungslichtstrahl 31 wird mit der Auskoppeloptik 33 ausgekoppelt und gelangt anschließend zu der Detektionslochblende 35, passiert diese und wird von dem nachfolgenden Hauptstrahlteiler 37 zur Strahlablenkeinrichtung 39, die einen kardanisch aufgehängten Scanspiegel 41 beinhaltet, gelenkt. Die Strahlablenkeinrichtung 39 führt den Beleuchtungslichtstrahl 31 durch die Scanoptik 43, die Tubusoptik 45 und durch das Mikroskopobjektiv 47 hindurch über bzw. durch die Probe 49. Das von der Probe ausgehende Detektionslicht 51 gelangt auf demselben Lichtweg, nämlich durch das Mikroskopobjektiv 47, die Tubusoptik 45 und die Scanoptik 43 sowie über die Strahlablenkeinrichtung 39 zurück zum Hauptstrahlteiler 37, passiert diesen und die nachfolgende Detektionslochblende 53 und gelangt schließlich zu dem Detektor 55, der als Photomultiplier 57 ausgestaltet ist. Der Detektor 55 erzeugt elektrische zur Lichtleistung des Detektionslichts 51 proportionale Signale, die an eine Verarbeitungseinheit 59 weitergegeben werden. In der Verarbeitungseinheit 59 werden die elektrischen Signale den jeweiligen Positionssignalen der Strahlablenkeinrichtung 39 zugeordnet und Bilddaten erzeugt, die an einen PC 61 weitergegeben werden, auf dessen Monitor 63 ein Abbild der Probe dargestellt wird. Die Verarbeitungseinheit 59 steuert gemäß den Anforderungen des Experiments bzw. gemäß den Benutzervorgaben das Ansteuermodul 27 des Fasermultiplexers 15. Der Fasermultiplexer 15 verfügt über einen fünften Eingangsport, der jedoch nicht an einen Laser gekoppelt ist. Zum vollständigen Abschalten der Probenbeleuchtung wird der Fasermultiplexer 15 diesen Dummy-Port 65 geschaltet.
Die Erfindung wurde in Bezug auf eine besondere Ausführungsform beschrieben. Es ist jedoch selbstverständlich, dass Änderungen und Abwandlungen durchgeführt werden können, ohne dabei den Schutzbereich der nachstehenden Ansprüche zu verlassen. Bezugszeichen I iste :
1 erste Lichtquelle 3 zweite Lichtquelle 5 dritte Lichtquelle 7 Pigtail-Laser 9 vierte Lichtquelle 1 1 erste Koppeloptik 13 erste Lichtleitfaser 15 Fasermultiplexer 17 zweite Koppeloptik 19 zweite Lichtleitfaser 21 dritte Einkoppeloptik 23 vierte Lichtleitfaser 25 dritte Lichtleitfaser 27 Ansteuereinheit 29 Ausgangsfaser 31 Beleuchtungslichtstrahl 33 Auskoppeloptik 35 Detektionslochblende 37 Hauptstrahlteiler 39 Strahlablenkeiπrichtung. 41 Scanspiegel 43 Scanoptik 45 Tubusoptik 47 Mikroskopobjektiv 49 Probe 51 Detektionslicht 53 Detektionslochblende 55 Detektor 57 Photomultiplier 59 Verarbeitungseinheit 61 PC 63 Monitor 10 65 Dummy-Port

Claims

Patentansprüche
1. Mikroskop mit zumindest einer ersten und einer zweiten Lichtquelle, wobei der ersten Lichtquelle eine erste Lichtleitfaser und der zweiten Lichtquelle eine zweite Lichtleitfaser zugeordnet ist, und wobei das von der jeweiligen Lichtquelle emittierte Licht in die zugeordnete Lichtleitfaser einkoppelbar ist, und mit einem in einem Beleuchtungsstrahlengang angeordneten Objektiv, dadurch gekennzeichnet, dass im Beleuchtungsstrahlengang ein Faser-Multiplexer vorgesehen ist, der an die erste und an die zweite Lichtleitfaser gekoppelt ist und das Licht der Lichtquellen empfängt und der wahlweise das Licht der ersten oder das Licht der zweiten Lichtquelle passieren lässt.
2. Mikroskop nach Anspruch 1 , dadurch gekennzeichnet, dass der Faser-Multiplexer an eine Ausgangsfaser gekoppelt ist.
3. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, dass die erste Lichtquelle und/oder die zweite Lichtquelle einen Laser umfasst.
4. Mikroskop nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass der Laser ein Pigtail-Laser ist.
5. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch g kennzeichnet, dass dem Faser-Multiplexer ein Abschwächer, insbesondere ein Faser-Abschwächer, nachgeordnet ist.
6. Mikroskop nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekennzeichnet, dass das Mikroskop ein Rastermikroskop, insbesondere ein konfokales Rastermikroskop, ist.
7. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Faser-Multiplexer synchron zu einem punktweisen Abrastern eines Scanfeldes schaltbar ist.
8. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Faser-Multiplexer synchron zu einem zeilenweisen Abrastern eines Scanfeldes schaltbar ist.
9. Mikroskop nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, dass der Faser-Multiplexer synchron zu einem frameweisen Abrastern eines Scanfeldes schaltbar ist.
PCT/EP2005/052911 2004-06-24 2005-06-22 Mikroskop WO2006000563A1 (de)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2007517295A JP2008503782A (ja) 2004-06-24 2005-06-22 顕微鏡
US11/569,914 US7564624B2 (en) 2004-06-24 2005-06-22 Microscope

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102004030669A DE102004030669A1 (de) 2004-06-24 2004-06-24 Mikroskop
DE102004030669.9 2004-06-24

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO2006000563A1 true WO2006000563A1 (de) 2006-01-05

Family

ID=34970779

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/EP2005/052911 WO2006000563A1 (de) 2004-06-24 2005-06-22 Mikroskop

Country Status (4)

Country Link
US (1) US7564624B2 (de)
JP (1) JP2008503782A (de)
DE (1) DE102004030669A1 (de)
WO (1) WO2006000563A1 (de)

Families Citing this family (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102006034909A1 (de) * 2006-07-28 2008-01-31 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlvereiniger
US7834563B2 (en) * 2006-12-29 2010-11-16 Alcatel-Lucent Usa Inc. Dynamic antenna control in a wireless communication system
DE102007007655A1 (de) * 2007-02-13 2008-08-14 Leica Microsystems Cms Gmbh Mikroskop
DE102007040238A1 (de) * 2007-08-25 2009-03-05 Carl Zeiss Microimaging Gmbh Verfahren zur Laser-Scanning-Mikroskopie und Strahlverteiler
US7903706B2 (en) * 2008-04-04 2011-03-08 O'shaughnessy John Compact, thermally stable multi-laser engine
US9413130B2 (en) 2012-12-12 2016-08-09 Cvi Laser, Llc Optical systems
US8975572B2 (en) 2008-04-04 2015-03-10 Cvi Laser, Llc Compact, thermally stable fiber-optic array mountable to flow cell
US10114213B2 (en) 2008-04-04 2018-10-30 Cvi Laser, Llc Laser systems and optical devices for manipulating laser beams
EP3086156A1 (de) * 2015-04-20 2016-10-26 Canon Kabushiki Kaisha Laserscan-mikroskopvorrichtung
US11378808B2 (en) 2018-07-18 2022-07-05 Idex Health & Science Llc Laser systems and optical devices for laser beam shaping

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09127424A (ja) * 1995-11-01 1997-05-16 Yokogawa Electric Corp 光 源
EP1396739A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-10 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
DE10251897A1 (de) * 2002-11-07 2004-05-19 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Faseroptische Schaltvorrichtung mit beweglicher Lichtleitfaser und Herstellungsverfahren
DE10311286A1 (de) * 2003-03-14 2004-09-23 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein optisches System

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4969702A (en) * 1989-05-22 1990-11-13 Tektronix, Inc. Laser pigtail assembly and method of manufacture
US5127730A (en) 1990-08-10 1992-07-07 Regents Of The University Of Minnesota Multi-color laser scanning confocal imaging system
JPH0868942A (ja) * 1994-08-29 1996-03-12 Olympus Optical Co Ltd 光学顕微鏡用照明装置
DE19633185C2 (de) 1996-04-16 2000-06-15 Leica Microsystems Mehrfarbige Punktlichtquelle für ein Laserscanmikroskop
US6236779B1 (en) * 1999-05-24 2001-05-22 Spectra Physics Lasers, Inc. Photonic crystal fiber system for sub-picosecond pulses
JP2001185796A (ja) 1999-12-27 2001-07-06 Hitachi Metals Ltd レーザ装置、その応用装置並びにその使用方法
WO2002037069A1 (en) * 2000-10-30 2002-05-10 Santur Corporation Laser and fiber coupling control
JP4932076B2 (ja) * 2000-10-30 2012-05-16 オリンパス株式会社 走査型レーザ顕微鏡
DE10155002A1 (de) 2001-11-08 2003-05-22 Zeiss Carl Jena Gmbh Verfahren und Anordnung zur tiefenaufgelösten optischen Erfassung einer Probe
DE10123785A1 (de) * 2001-05-16 2002-11-21 Leica Microsystems Vorrichtung zur Beleuchtung eines Betrachtungsfeldes, beispielsweise eines Objektfeldes unter einem Mikroskop durch zwei Lichtquellen
US7190514B2 (en) * 2004-08-12 2007-03-13 Yokogawa Electric Corporation Confocal scanning microscope

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09127424A (ja) * 1995-11-01 1997-05-16 Yokogawa Electric Corp 光 源
EP1396739A1 (de) * 2002-09-04 2004-03-10 CARL ZEISS JENA GmbH Verfahren und Anordnung zur einstellbaren Veränderung von Beleuchtungslicht und/oder Probenlicht bezüglich seiner spektralen Zusammensetzung und/oder Intensität
DE10251897A1 (de) * 2002-11-07 2004-05-19 Albert-Ludwigs-Universität Freiburg Faseroptische Schaltvorrichtung mit beweglicher Lichtleitfaser und Herstellungsverfahren
DE10311286A1 (de) * 2003-03-14 2004-09-23 Leica Microsystems Semiconductor Gmbh Beleuchtungsvorrichtung für ein optisches System

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
PATENT ABSTRACTS OF JAPAN vol. 1997, no. 09 30 September 1997 (1997-09-30) *

Also Published As

Publication number Publication date
DE102004030669A1 (de) 2006-01-19
JP2008503782A (ja) 2008-02-07
US20070176085A1 (en) 2007-08-02
US7564624B2 (en) 2009-07-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
WO2006000563A1 (de) Mikroskop
EP1184701B1 (de) Beleuchtungseinrichtung
EP1164406B1 (de) Verfahren und Vorrichtung zur Beleuchtung eines Objekts
DE10105391B4 (de) Scanmikroskop und Modul für ein Scanmikroskop
EP1714187B1 (de) Mikroskop mit einer lichtquelle mit mehreren mikrostrukturierten optischen elementen
EP2045641A2 (de) Beleuchtungseinrichtung
EP1664888A1 (de) Rastermikroskop mit evaneszenter beleuchtung
EP1122574B1 (de) Mikroskop-Aufbau
DE10356826A1 (de) Rastermikroskop
DE10233074B4 (de) Optische Vorrichtung zum Vereinigen von Lichtstrahlen und Scanmikroskop
DE10029680B4 (de) Mikroskop-Aufbau
WO2005031429A1 (de) Objektiv zur evaneszenten beleuchtung und mikroskop
DE102004011770B4 (de) Mikroskop
EP1373961B1 (de) Mikroskopobjektivanordnung
DE4005878C2 (de)
DE102004029733B4 (de) Rastermikroskop und Verfahren zur Rastermikroskopie
DE10031458A1 (de) Scan-Mikroskop mit einem Zirkulator
EP1407308A2 (de) Mikroskopobjektiv und verwendung eines solchen mikroskopobjektivs bei einem mikroskop
DE10231475A1 (de) Scanmikroskop mit optischem Bauteil und optisches Bauteil
DE10247249A1 (de) Scanmikroskop mit einem Spiegel zur Einkopplung eines Manipulationslichtstrahls
DE10336962B4 (de) Vorrichtung zur konfokalen Abbildung eines Objektes in einer Bildebene
EP1668395A1 (de) Objektiv zur evaneszenten beleuchtung und mikroskop
DE10333388B4 (de) Verfahren zur Rastermikroskopie und Rastermikroskop
EP2047313A1 (de) Verfahren zur laser-scanning-mikroskopie und strahlvereiniger
DE102004047820A1 (de) Rastermikroskop und rastermikroskopisches Verfahren

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AE AG AL AM AT AU AZ BA BB BG BR BW BY BZ CA CH CN CO CR CU CZ DK DM DZ EC EE EG ES FI GB GD GE GH GM HR HU ID IL IN IS JP KE KG KM KP KR KZ LC LK LR LS LT LU LV MA MD MG MK MN MW MX MZ NA NG NI NO NZ OM PG PH PL PT RO RU SC SD SE SG SK SL SM SY TJ TM TN TR TT TZ UA UG US UZ VC VN YU ZA ZM ZW

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): BW GH GM KE LS MW MZ NA SD SL SZ TZ UG ZM ZW AM AZ BY KG KZ MD RU TJ TM AT BE BG CH CY CZ DE DK EE ES FI FR GB GR HU IE IS IT LT LU MC NL PL PT RO SE SI SK TR BF BJ CF CG CI CM GA GN GQ GW ML MR NE SN TD TG

121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 11569914

Country of ref document: US

Ref document number: 2007176085

Country of ref document: US

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 2007517295

Country of ref document: JP

122 Ep: pct application non-entry in european phase
WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 11569914

Country of ref document: US