WO2005088628A1 - ダイレクトマスタリングのスタンパを製造する方法、その方法により製造されるスタンパ及び光ディスク - Google Patents

ダイレクトマスタリングのスタンパを製造する方法、その方法により製造されるスタンパ及び光ディスク Download PDF

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Yuuko Tomekawa
Eiichi Ito
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Matsushita Electric Industrial Co., Ltd.
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    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11BINFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B7/00Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
    • G11B7/24Record carriers characterised by shape, structure or physical properties, or by the selection of the material
    • G11B7/26Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of record carriers
    • G11B7/261Preparing a master, e.g. exposing photoresist, electroforming
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    • G11B7/263Preparing and using a stamper, e.g. pressing or injection molding substrates

Definitions

  • the present invention relates to a method for manufacturing a stamper for molding a disk-shaped optical disk used for reproducing information.
  • the present invention relates to a method of manufacturing a stamper for direct mastering using the manufactured stamper directly as a mold.
  • Optical recording media for recording and reproducing information by irradiating a light beam are widely used, and there is a growing expectation to improve the recording density in the future.
  • FIG. 4 shows a schematic diagram of the master disk manufacturing process.
  • reference numeral 501 denotes a substrate
  • 502 denotes a photosensitive material layer
  • 503 denotes a photosensitive portion
  • 504 denotes a concavo-convex pattern
  • 505 denotes a master for producing a stamper
  • 506 denotes a Ni plating portion
  • 507 denotes a stamper.
  • a photosensitive material layer 502 is formed on a substrate constituting a master, for example, a glass substrate 501 having a polished surface by a spin coating method.
  • the laser light is condensed by a condensing lens, and is exposed using one laser light intensity-modulated by an information signal to be recorded.
  • development is performed to form a signal or groove on the concave and convex corresponding to the sensitivity.
  • a substrate in which the concavo-convex pattern 504 is formed on the substrate 501 is called a master 505.
  • plating is performed on the master 505.
  • this plating is often performed with Ni, and a Ni plating portion 506 is formed on the master 505.
  • This Ni plating part 506 forms a nickel film on the resist by sputtering, It is formed by applying an electrode as an electrode.
  • the master 505 and the Ni-plated portion 506 are peeled off, and the stamper 507 is obtained by forming the stamper into a stamper attached to an injection molding machine.
  • the organic photosensitive material is generally in the photon mode and is exposed according to the amount of light irradiated. Therefore, if the shape of the recording laser spot has, for example, a Gaussian distribution, it will be partially exposed to light even if the amount of irradiation light on both sides of the spot is small, and the shape of the recorded pit will have a width corresponding to the exposure power. . For this reason, it is difficult for a resist layer made of a photosensitive material to stably form recording pits smaller than the spot of the optical limit of the recording laser.
  • Patent Document 1 As a pattern exposure apparatus for the photosensitive material layer, an electron beam lithography apparatus and the like have been developed (for example, Patent Document 1). Although this electron beam lithography apparatus helps to form a fine pattern, that is, to increase the density, it has a problem that the drawing operation needs to be performed in a high vacuum, and it is large and expensive.
  • heat-sensitive materials that cause a state change (for example, a phase change from a monolithic phase to a crystalline phase) by light irradiation and which undergo a state change by light irradiation are also being actively developed (for example, , Patent Document 2).
  • Thermosensitive materials generally undergo a state change when the temperature of the material is heated above a predetermined temperature determined by the material. Therefore, even if the shape of the recording laser spot has a Gaussian distribution, the part that has reached the high temperature at the center of the spot has a force that causes a state change. No change in state. Therefore, smaller recording pits can be formed more stably than when a photosensitive material of the conventional photon mode is used.
  • a direct mastering stamper manufacturing method in which a master having a pattern formed thereon is directly used as a molding die without using a mastering process of manufacturing such a master and manufacturing a stamper using the master is used. It can be used.
  • a photosensitive material on a substrate is exposed and developed, and the projections are made stronger, and then the substrate is placed in a mold and used directly as a stamper. Therefore, according to the direct mastering stamper, a fine concavo-convex pattern is formed by the resist after exposure and development. For this reason, there is an advantage that a mastering process such as a plating process, an electrode process, and a peeling process from a glass substrate is not required.
  • the heat-sensitive material described in Patent Document 2 uses a laser beam as an exposure source that is connected to a special exposure source such as an electron beam or an ion beam. It is also possible to use.
  • Patent Document 1 JP 2003-173581 A
  • Patent Document 2 JP 2003-315988 A
  • the present invention solves the above-mentioned problems, and is a stamper manufactured using a heat-sensitive material as a resist, wherein a special exposure source such as an ion beam or an electron beam is used in an exposure step.
  • An object of the present invention is to manufacture a direct mastering stamper that can be exposed by a laser beam that is not used, can reduce the energy of the laser beam, can shorten the exposure time, and has excellent durability.
  • the master produced as described above can be directly used as a stamper for molding an optical disk.
  • FIG. 1 is a schematic view showing steps of a stamper manufacturing method according to the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic view showing a recording apparatus of the present invention.
  • FIG. 3 is a schematic cross-sectional view of a pit of a stamper according to the present invention.
  • (B) is a diagram showing a case where there is a heat adjustment layer.
  • FIG. 4 is a schematic view showing steps of a conventional stamper manufacturing method.
  • the embodiment of the optical recording medium according to the present invention will be mainly described with respect to a case where the present invention is applied to a ROM type optical disk.
  • the present invention is not limited to such an optical disk or shape.
  • the present invention is applicable as long as it is a manufacturing process for manufacturing a mold for injection molding called a stamper having irregularities in direct mastering for manufacturing an optical disk.
  • the present invention can be applied to the production of stampers for various optical recording media having fine irregularities on an information recording layer, such as a magneto-optical disk and a phase change disk.
  • the direct mastering stamper according to the present invention refers to
  • the negative-type heat-sensitive material is exposed and etched.
  • a basic stamper manufacturing method of the present invention will be described with reference to FIG. First, the step (a) of forming the heat-sensitive material layer 102 on the substrate 101 will be described.
  • a metal substrate for example, Nickel, chromium, anoremium, titanium, konoroku, iron, molybdenum, tungsten, boron, copper, tantalum-based materials can be used and mass-produced at low cost Is used. These metal substrates are preferable because they can be easily manufactured in the same thickness as a stamper manufactured in a conventional mastering process.
  • silicon or silicon compounds such as Si ⁇ and SiC can be used as silicon-based substrates.
  • Quartz glass is preferred as the glass substrate.
  • the shape of the substrate is not particularly limited. It may be appropriately selected in consideration of a process for forming the heat-sensitive material layer and an apparatus used in the exposure process. It is also possible to use a disk-shaped stamper that can be mounted in a molding die in advance and whose inner and outer diameters are adjusted to match the shape of the optical disk to be manufactured.
  • a heat-sensitive material layer 102 made of a heat-sensitive material is formed on the substrate.
  • a heat-sensitive material that functions as a negative type by laser light is used for the heat-sensitive material layer.
  • the exposed portion is altered in the subsequent exposure step and remains on the substrate. Therefore, it is possible to form the convex portion directly on the substrate. Therefore, since the pits can be formed by the heat-sensitive material layer, a plating process, an electrode process, a stamper peeling process, and the like are not required, and the process can be simplified.
  • the negative-type heat-sensitive material used in the present invention it is preferable to use an oxide containing at least one element selected from the group consisting of molybdenum and tundane.
  • an oxide containing at least one element selected from the group consisting of molybdenum and tundane By irradiating these oxides with a laser beam, a portion not irradiated with the laser beam (hereinafter, sometimes referred to as an “unexposed portion”) partially has an oxidation number or an unexposed portion. Can form portions with different crystal grain shapes (hereinafter sometimes referred to as “altered portions”). This unexposed portion has a property of being removed by etching.
  • these oxides have higher hardness than conventionally used chalcogenide conjugates, a stamper having excellent durability can be obtained.
  • the heat-sensitive material layer of the present invention contains a metal of molybdenum or tungsten together with the oxide. That is, the oxide of molybdenum or tungsten acting as a negative type has a low absorption coefficient due to its transparency. For this reason, when exposing the heat-sensitive material layer with one laser beam, there is a tendency that a large amount of laser light is transmitted and a sufficient amount of heat is hardly obtained. For this reason, the absorption coefficient of the layer with respect to laser light can be improved by using a heat-sensitive material layer that also contains these simple metals. In the exposure step, exposure can be performed in a short time even if a laser beam having a low energy amount is used.
  • the content of the metal simple substance is not particularly limited as long as the heat-sensitive material layer can function as a negative-type heat-sensitive material.
  • the above oxides may be used alone or as a mixture of two or more different in element, oxidation number and the like.
  • a heat-sensitive material layer containing both a molybdenum oxide and a tungsten oxide is preferable because it has excellent thermal responsiveness and can further shorten the exposure time.
  • the method for forming the heat-sensitive material layer of the present invention is not particularly limited, and a conventionally known method can be used. Specifically, for example, a sputtering method, a vapor deposition method, an ion plating method, and the like can be given. Among these, it is preferable to use a reactive sputtering method such as magnetron sputtering.
  • each of the above oxides obtained by reactive sputtering may be mixed with an additive or adjusted to have an appropriate oxygen amount. Additives can be appropriately selected in consideration of a sufficient absorption coefficient with respect to laser light, a temperature rise due to laser light irradiation, an etching rate of an unexposed portion and an altered portion, and the like.
  • sputtering energy is 100 1000 W
  • oxygen partial pressure S ⁇ .05—0.10 Pa oxygen partial pressure S ⁇ .05—0.10 Pa.
  • molybdenum oxide and tungsten oxide can take both a negative type and a positive type. If the oxide is out of the above range, the amount of oxygen in the heat-sensitive material layer decreases, and the oxide acting as a negative type is formed. It has been found from the examination that the tendency to obtain is difficult.
  • JP-A-5-304209 As a method for producing an oxide of molybdenum and tungsten on a substrate, for example, JP-A-5-304209 can be referred to.
  • the thickness of the heat-sensitive material layer can be appropriately set according to the use of the optical disk to be produced, but is preferably 40-100 nm.
  • the heat-sensitive material layer 102 produced as described above is irradiated with a laser beam in a pattern corresponding to the fine concavo-convex pattern to partially form the altered portion 103.
  • FIG. 2 shows a block diagram of an example of a recording (exposure) device used in the exposure step.
  • 201 is a signal source
  • 202 is a recording equalizer
  • 203 is an optical modulator
  • 204 is a mirror
  • 205 is a lens actuator
  • 206 is a substrate
  • 207 is a recording laser
  • 208 is a spindle motor
  • 209 is a heat-sensitive material layer.
  • the laser optical system for focus control and the beam expander for the laser optical system for recording are omitted.
  • the information signal to be recorded generated by the signal source 201 has a signal pulse width changed by a recording equalizer 202. Then, the laser light is modulated into a pulse train within the signal pulse, input to the optical modulator 203, and intensity-modulates the laser light.
  • the intensity-modulated laser light passes through a mirror 204 and is focused on a heat-sensitive material layer 209 on a substrate 206 through a lens whose focus is controlled by a lens actuator 205 to be irradiated. Location irradiated with laser light Thus, the region heated above a predetermined temperature is partially deteriorated to form a latent image.
  • the wavelength of the recording laser 207 in the exposure step of the present invention is a laser beam that has a sufficient absorptivity to the heat-sensitive material layer and can partially alter the heat-sensitive material layer. Then, the wavelength is not selected. However, by using a short-wavelength laser, it is possible to reduce the spot diameter of the laser beam, so that a wavelength of 410 nm or less is desirable. Although the lower limit is not particularly limited, for example, a laser beam having a wavelength of 240 nm can be used.
  • the length of a recording signal pulse, the length of a recording signal pulse and the length of the recording signal before and after the preceding and following recording signals and the length of the preceding and succeeding recording signals are determined. It is necessary to adjust the timing. For example, if there is a long recording panorama immediately before the recording pulse, the beginning of the recording pulse may be delayed, or if there is a long non-signal section, the beginning of the recording pulse may be advanced. In addition, in order to keep the width of the signal pit constant within one recording pulse, the beginning and the end of the signal pulse should be longer, the middle of the signal pulse should be shorter, and if a pulse train should be used, the operation would be complicated. Is performed by the recording equalizer.
  • the energy amount of the laser light can be as low as 3. OmW or less, or even as low as 1.6 mW or less.
  • the linear velocity should be 4m / sec or more. If the linear velocity is too high, the amount of energy becomes insufficient and a predetermined amount of heat tends to be hardly obtained. Therefore, the speed is preferably 7 m / sec or less.
  • a fine concave-convex pattern is formed on the substrate by performing wet etching (development) on the exposed heat-sensitive material layer.
  • FIG. 1C shows a state after the wet etching (development) processing.
  • the unexposed portion 104 is removed by utilizing the difference in etching rate between the altered portion 103 and the unexposed portion 104 not irradiated with the laser beam.
  • the etching treatment of the present invention alkali etching is used. As a result of this development, only the unexposed portions 104 are removed, and the concavo-convex pattern shown in the figure can be obtained.
  • an alkali solution such as a 125% tetramethylhydroxide solution, a sodium hydroxide aqueous solution, and the like, which are commonly used for developing a photosensitive resist, can be used. By immersing in such a solution for several minutes, an uneven pattern can be formed.
  • the substrate on which the concavo-convex pattern is formed is referred to as a master 105.
  • the master 105 obtained in the step (c) is machined into a predetermined shape in order to mount the master 105 on an injection molding machine. Is obtained.
  • the stamper is mounted on a mold of an optical disk molding machine, and a large amount of optical disk duplicates can be produced by injection molding.
  • a conventionally known resin can be used as the resin material.
  • a polycarbonate resin can be mentioned as a suitable resin.
  • the direct mastering stamper manufactured by the manufacturing method of the present embodiment can be used for production of an optical disk having no practical problem.
  • a direct mastering stamper of the present invention after forming a fine concavo-convex pattern of a resist, a plating step, an electrode step, a stamper peeling step, and further, these steps are required.
  • the manufacturing process and manufacturing equipment are not required, so that the manufacturing time can be greatly reduced and the cost can be reduced.
  • stamper of the present invention even after 100,000 injection moldings, no shape change or deterioration was observed in the surface shape, and there was no deterioration in the reproduction signal of the completed optical disk. It can be used as a stamper without any problem in production.
  • the present invention relates to the production of the stamper of the first embodiment, and It is also a preferable embodiment to provide a heat adjustment layer having low thermal conductivity.
  • a stamper manufactured by this embodiment will be described.
  • a layer between the substrate and the heat-sensitive material layer and capable of adjusting the amount of heat given by the laser beam used to alter the heat-sensitive material is called a heat adjustment layer.
  • the film temperature of the thermosensitive material increases when laser light is incident. Disperse by conduction.
  • heat generated by the laser beam is transferred to the substrate, and the amount of heat required for the deterioration of the heat-sensitive material tends to be insufficient. .
  • a heat adjustment layer having a lower thermal conductivity than the heat-sensitive material layer is formed between the heat-sensitive material layer and the substrate. This makes it possible to record a fine pattern with low energy. That is, by forming the heat adjustment layer between the substrate and the heat-sensitive material layer, heat conduction to the substrate can be reduced, and the temperature of the heat-sensitive material layer can be maintained. Thus, the altered portion of the heat-sensitive material layer can be formed with a small laser beam power. Also, recording can be performed at a high linear velocity even if the power of the laser beam is small.
  • the thermal adjustment layer preferably has a thermal conductivity of 0.15 to 0.8 W / k′m, more preferably 1/1/5 of the thermal conductivity of the heat-sensitive material layer. It is desirable to be 10 or less. By providing such a low-thermal-conductivity thermal adjustment layer, even a heat-sensitive material layer containing a large amount of molybdenum oxide or tungsten oxide having a low absorption coefficient is short enough to increase the energy amount of laser light. Recording by time exposure becomes possible.
  • the thermal conductivity is a value measured by a rapid thermal conductivity meter (manufactured by Kyoto Electronics Industry Co., Ltd.).
  • any layer made of a resin or a layer made of an inorganic material can be used as the heat adjustment layer as long as the above-mentioned difference in thermal conductivity can be obtained.
  • Thermal control layers are preferred.
  • Examples of the resin include an acrylic resin, a nylon resin, and a polyethylene resin having the above-described low thermal conductivity. Among them, acrylic resin is used Preferably. By forming the thermal adjustment layer with an acrylic resin, it is possible to excel in heat retention required for the transformation of molybdenum oxide or tungsten oxide, to save energy, and to shorten the recording pattern. Identified by the invention.
  • the step of forming the heat adjustment layer made of a resin can be obtained by spin-coating a solution of the above resin on a substrate so as to have a predetermined thickness.
  • the thickness of the heat control layer made of resin is not particularly limited, but is preferably, for example, 50 lOOnm.
  • a dielectric or a metal can be used as the inorganic material used for the heat adjustment layer and having the low thermal conductivity.
  • the dielectric include dielectric materials such as SiN, SiO, ZnS, and AlO. Also as metal
  • an inorganic material having an absorption coefficient of laser light larger than that of the heat-sensitive material layer it is preferable to use an inorganic material having an absorption coefficient of laser light larger than that of the heat-sensitive material layer. That is, an oxide of molybdenum or an oxide of tungsten, which is a negative-type heat-sensitive material, has a low absorption coefficient and has a large transmission amount of laser light as described above. For this reason, the laser beam due to irradiation is not effectively used, and it is necessary to increase the intensity of the laser beam to perform a predetermined recording. This also tends to make it difficult to form fine patterns. Therefore, by providing the thermal adjustment layer made of an inorganic material having a large absorption coefficient, even when a heat-sensitive material layer having a small absorption coefficient is formed thereon, the energy of the laser beam can be effectively used. .
  • an absorption coefficient of 0.8 or more for a laser beam having a recording wavelength of 240 to 41 Onm is preferable to use as the absorption coefficient of the heat adjustment layer made of such an inorganic material.
  • examples of such an inorganic material include ZnS, Al, Ag, and Au.
  • the step of forming the above-described heat adjustment layer made of an inorganic material a conventionally known method of forming a dielectric film or a metal film such as a sputtering method or a vapor deposition method can be used.
  • the thickness of the heat control layer made of the inorganic material layer is not particularly limited, but is preferably, for example, 50-100 nm.
  • FIG. 3 shows an enlarged cross-sectional view of a main part of the master according to the present embodiment.
  • 301 indicates a pit
  • 302 indicates a heat-sensitive resist layer
  • 303 indicates a substrate
  • 304 indicates a heat adjustment layer.
  • (a) and (b) compare the cross-sectional shapes around the pit portion when the same level of laser light is irradiated.
  • the configuration of (a) the configuration without a heat adjustment layer is shown.
  • the steps of forming the substrate and the heat-sensitive material layer are the same as those of the first embodiment except that the heat adjustment layer is provided. Can be adopted.
  • the acrylic resin is formed as the heat adjustment layer 304 and an oxide of molybdenum is formed on the heat-sensitive resist layer 302
  • the acrylic resin is used. Recording can be performed at twice the linear velocity as compared to the configuration without the above. Therefore, the recording time can be reduced by half. Further, by shortening the recording time, it is possible to reduce the adhesion of foreign substances during recording.
  • the heat adjustment layer 304 can be left as a stamper, or it can be removed.
  • a fine concavo-convex pattern can be formed using a substrate.
  • a pattern formed by the altered portion in the exposing step and having a convex portion can be used as an etching mask.
  • the etching is completed by the etching process until the unexposed portion is removed (developed).
  • the substrate is etched similarly to the etching process used in the mastering method. It is also possible to form a fine uneven pattern.
  • a substrate used in such an embodiment a substrate similar to the substrate used in the embodiment described above can be used, but a metal plate is preferably used in consideration of strength. Les ,.
  • a heat-sensitive material layer was formed on a nickele substrate by reactive sputtering using a molybdenum target.
  • a molybdenum target was attached to a DC magnetron sputtering apparatus. After fixing the substrate to the substrate holder was evacuated chamber one cryopump until high vacuum below 1 X 10- 4 Pa. While evacuating, Ar gas was introduced into the chamber until it reached 0.1OPa, and O gas was introduced at 0.008Pa. Next, while rotating the substrate
  • a predetermined pattern was recorded at a wavelength of 405 nm while rotating the substrate on which the heat-sensitive material layer was formed by the exposure apparatus shown in FIG.
  • the exposure conditions were NA 0.95, laser beam recording power 1.6 mW, and linear velocity 4. OmZsec.
  • the heat-sensitive material layer was immersed in a 10% aqueous solution of tetramethylammonium hydride oxide for 5 minutes. Since the unexposed portions were removed in this etching treatment, it was confirmed that the molybdenum oxide formed by the reactive sputtering was a negative-type heat-sensitive material. The unexposed portion was completely removed and development was performed to form fine uneven pits having a track pitch of 0.32 zm and a minimum pit length of 0.14 zm. The etching rate ratio was 10: 1.
  • the master on which the fine uneven pits were formed was processed into a predetermined size of the inner and outer shapes so that the master could be used for injection molding, thereby producing a direct mastering stamper.
  • the prepared stamper was set in a predetermined injection molding machine, a molten polycarbonate resin was injected, and compressed to form a substrate for an optical disk.
  • Aluminum on the substrate for this optical disk A reflective film consisting mainly of a 40 nm thick film was formed, and a 0.1 mm thick polycarbonate sheet was adhered on it to produce an optical disk.As a result, it was possible to produce 100,000 optical disks with the expected characteristics. there were.
  • the thermal adjustment layer was formed using ZnS as a target, and under a Ar atmosphere, to a thickness of 80 nm. This was done by cutter.
  • the heat adjustment layer was formed by applying an acrylic resin to a nickel substrate to a thickness of 60 nm by spin coating. In the etching treatment, etching was performed until the resin layer disappeared.
  • Reactive sputtering was performed using the substrate on which the heat adjustment layer made of the acrylic resin in Experiment 3 was formed.
  • molybdenum A tungsten alloy Mo: W ratio in the target was 7: 3 was used.
  • 2. was evacuated chamber one Kuraiobon flop until a high vacuum of 6 X 10_ 4 Pa. While evacuating, Ar gas was introduced into the chamber until it reached 0.16 Pa, calorie was introduced, and O gas was introduced at 0.05 Pa. Next, while rotating the substrate,
  • a DC power (500 W) was applied to the substrate to form a heat-sensitive material layer to a thickness of 50 nm.
  • Experiment 4 was the same as Experiment 4 except that a film consisting of a mixture of MoO and W ⁇ was used.
  • a substrate As a substrate, a substrate on which a thermal adjustment layer made of an acrylic resin in Experiment 4 was formed, and a molybdenum-tungsten alloy was used as a target. After fixing the substrate to the substrate holder, 2. vacuum exhaust in the chamber one cryopump until high vacuum below 6 X 10- 4 Pa. While evacuating, Ar gas was introduced into the chamber until the pressure reached 0.16 Pa, calorie was introduced, and O gas was introduced at 0.14 Pa. Next, a DC power is applied to the target while rotating the substrate.
  • each stamper of direct mastering manufactured according to the present invention can shorten the recording time by forming a heat adjusting layer between the substrate and the heat-sensitive material layer.
  • the recording time of laser light could be further reduced. I understand.
  • a negative heat-sensitive material layer is formed on a substrate, recording is performed with a laser beam, and wet etching is performed to form a fine uneven pattern.
  • the stamper manufacturing process can be greatly reduced, and the stamper with few defects can be manufactured efficiently.
  • the method for manufacturing a stamper of the present invention is useful as a method for manufacturing a stamper for an optical recording medium.
  • it is suitable for manufacturing a stamper for direct mastering in which the master is directly used for molding an optical disk.

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Abstract

 光ディスク成形用スタンパ作製において、基板上にレーザー光によってネガ型に作用しうる感熱性材料層を形成する工程と、前記感熱性材料層の所定領域にレーザー光を照射して部分的に露光を行う工程と、前記部分的に露光された感熱性材料層をウェットエッチングすることにより微細凹凸パターンを形成する工程により得られる原盤を射出成形機用のスタンパとして用いる。これによりレーザー光の光学限界のスポットよりも小さい微小ピットを形成し、欠陥の少ないスタンパを提供する。

Description

明 細 書
ダイレクトマスタリングのスタンパを製造する方法、その方法により製造さ れるスタンパ及び光ディスク
技術分野
[0001] 本発明は、情報の再生に用いられる円盤状の光ディスクを成形するスタンパの製造 方法に関する。特に本発明は製造されるスタンパを直接成形型として使用するダイレ タトマスタリングのスタンパを製造する方法に関する。
背景技術
[0002] 光ビームを照射して情報の記録再生を行う光記録媒体は幅広く利用されており、今 後もその記録密度の向上に期待が集まっている。
[0003] そこで近年、大容量の画像'音声データ、デジタルデータを再生可能な種々の光 ディスクが開発され、例えば、直径 12cmの光ディスクの記憶容量を 23. 3— 30GB に高密度化するような研究開発が進められている。
[0004] 一般に光ディスクの製造は、原盤から作製されるスタンパをまず作製する。そして、 そのスタンパを用いて射出成形によって、大量にスタンパ面に形成された微細凹凸 パターンを光ディスクに複製して製造される。この原盤製造過程の概略図を図 4に示 す。図 4中、 501は基板、 502は感光性材料層、 503は感光部分、 504は凹凸パタ ーン、 505はスタンパを作成するための原盤、 506は Niめっき部、 507はスタンパを 示す。
[0005] 図 4中、(a)の過程では、原盤を構成する基板、たとえば、表面を研磨したガラス基 板 501に、感光性材料層 502をスピンコート法により形成する。その後、(b)レーザー 光を集光レンズによって集光させ、記録すべき情報信号により強度変調したレーザ 一光を用いて感光させる。次に、(c)の過程では、現像してその感光度に対応した凹 凸上の信号もしくは溝を形成して作製される。この基板 501上に凹凸パターン 504が 形成されたものを原盤 505と呼ぶ。 (d)の工程では、原盤 505上にめっきを行う。通 常、このめつきは Niで行われることが多ぐ原盤 505上には、 Niめっき部 506が形成 される。この Niめっき部 506はスパッタによりニッケル膜をレジスト上に形成し、それを 電極として電铸することにより形成される。次に、(e)の工程では、原盤 505と Niめつ き部 506を剥離し、射出成形機に取り付けられるスタンパの形に成形カ卩ェすることで 、スタンノ 507を得る。
[0006] 高密度な光ディスクの原盤を製造する場合、小さな信号ピットを形成する必要があ る。
[0007] し力 ながら、有機感光性材料は一般的にフオトンモードであり照射された光量に 応じて感光する。したがって記録レーザースポットの形状がたとえばガウス分布をして いれば、スポットの両サイドの照射光量の少ないところでも部分的に感光してしまい、 記録されるピットの形状は露光パワーに応じた広がりをもってしまう。このため、感光 性材料からなるレジスト層は記録レーザーの光学限界のスポットより小さな記録ピット を安定に形成するのは困難である。
[0008] また、感光性材料層に対するパターン露光装置として、電子線描画装置などが開 発されている(例えば、特許文献 1)。この電子線描画装置は、微細パターンの形成、 すなわち高密度化の手助けをしているが、高真空中で描画作業を行う必要があるこ と力 、大型となり高価であるという問題がある。
[0009] そこで、感光性材料の代わりに、光照射によって昇温し状態変化(たとえばァモノレ ファス相から結晶相に変化する相変化)を起こす感熱性材料の開発も盛んに行われ ている(例えば、特許文献 2)。感熱性材料は一般に材料の温度がその材料によって 決まる所定温度以上に加熱されたときに状態変化を起こす。このため、記録レーザー スポットの形状がガウス分布をしていても、スポット中心の高温に達した部分は状態変 化を起こす力 スポットの両サイドの照射光量が少ないところでは昇温が不十分で状 態変化は起こさない。したがって従来のフオトンモードによる感光性材料を用いた場 合よりも、小さな記録ピットを安定して形成可能になる。
[0010] 代表的な感熱性材料であるカルコゲン化合物をレジストとして用いる場合には、高 い解像度が期待できる一方で、上記のような原盤を作製し、これをめつき、電錡してス タンパを形成するマスタリング工程では、めっき時に欠陥が発生するという課題がある
。この課題の要因は以下の 3点にある。
[0011] a)スタンパ作製時の感熱性材料のレジストのめっき液に対する耐性 b)めっきの通電による感熱性材料とめっき液との化学反応
C)異物付着による欠陥
[0012] このため、このような原盤を作製し、それを用いてスタンパを作製するマスタリングェ 程を採用することなぐパターンを形成した原盤を直接成形型として使用するダイレク トマスタリングのスタンパ製造方式を利用することが考えられる。この方式では、例え ば基板上の感光性材料を露光、現像し、さらに突起部を強固なものにした後、その 基板を金型に設置して直接スタンパとして用いている。従って、ダイレクトマスタリング のスタンパによれば、露光、現像を行なった後、そのレジストにより微細凹凸パターン が形成される。このため、その後のメツキ処理工程、電铸工程、ガラス基板からの剥 離工程などのマスタリング工程が不要となるとレ、う利点を有してレ、る。
[0013] この点、特許文献 2に記載の感熱性材料は電子ビームやイオンビームなどの特殊 な露光源でなぐレーザー光を露光源とするもので、上記のダイレクトマスタリングの スタンパを製造する場合にも利用することが可能である。
[0014] し力しながら、この特許文献 2に記載の感熱性材料は露光部が現像時に除去され るポジ型であるため露光工程が長時間化しやすい。また、これらの感熱性材料はレ 一ザ一光の吸収係数が低いため、エネルギーの吸収が著しく小さい。このため、露 光工程ではエネルギーの大きなレーザー光を照射する必要があり、装置コストが嵩 むとともに、微細加工も困難となる。さらに、これらポジ型の感熱性材料層により形成 される凸部はダイレクトマスタリングのスタンパとしては耐久性が十分でないことが明ら かとなつた。
特許文献 1 :特開 2003 - 173581号公報
特許文献 2 :特開 2003 - 315988号公報
発明の開示
[0015] 本発明は、上記課題を解決するものであり、レジストとして感熱性材料を用いて作 製されるスタンパであって、露光工程においてイオンビームや電子ビームのような特 殊な露光源を用いることなぐレーザー光により露光可能とし、さらにレーザー光の低 エネルギー化、露光の短時間化が可能であり、耐久性に優れるダイレクトマスタリング のスタンパを製造することを目的とする。 [0016] 本発明は、基板上にレーザー光によりネガ型に作用しうる感熱性材料層を形成す る工程、前記感熱性材料層の所定領域にレーザー光を照射して部分的に露光を行 う工程、前記部分的に露光された感熱性材料層をウエットエッチングすることにより、 微細凹凸パターンを形成する工程からなるスタンパの製造方法である。
[0017] 上記のようにして作製される原盤は直接光ディスク成形のスタンパとして用いること が可能である。
図面の簡単な説明
[0018] [図 1]本発明におけるスタンパ製造方法の工程を示す概略図である。
[図 2]本発明の記録装置を示す概略図である。
[図 3]本発明におけるスタンパのピット断面概略図であり、 (a)は熱調整層のない場合
、(b)は熱調整層がある場合を示す図である。
[図 4]従来のスタンパ製造方法の工程を示す概略図である。
発明を実施するための最良の形態
[0019] 以下、本発明による光記録媒体の実施形態では、 ROM型の光ディスクに適用する 場合について主として説明する。ただし、本発明は、このような光ディスクや、形状に 限られるものではない。本発明は光ディスク作製のためのダイレクトマスタリングにお ける凹凸を有するスタンパと呼ばれる射出成形用の金型を作製する製造工程であれ ば応用可能である。例えば光磁気ディスク、相変化ディスク等の微細凹凸を情報記 録層に有する各種光学記録媒体のスタンパ作製に適用できる。
[0020] なお、既に説明したように本発明におけるダイレクトマスタリングのスタンパとは露光
、エッチングにより形成した所定パターンにめっき、電铸などを行なレ、、それを原盤と してパターンを転写することによりスタンパを作製するものと異なり、ネガ型の感熱性 材料を露光、エッチングすることにより所定パターンを形成した原盤を直接金型に取 り付けて用いるスタンパを意味するものである。
[0021] (実施の形態 1)
図 1を用いて、本発明の基本的なスタンパ作製方法を説明する。まず、(a)基板 10 1に、感熱性材料層 102を形成する工程について説明する。基板 101には、金属基 板、シリコン系基板、ガラス基板などを用いることができる。金属基板としては、例えば ニッケル、クロム、ァノレミニゥム、チタン、コノくノレト、鉄、モリブデン、タングステン、ボロ ン、銅、タンタルのうちの少なくとも 1つを主成分とする材料などが利用可能でかつ量 産により安価に製造できるものが用いられる。これらの金属基板は、従来のマスタリン グ工程で作製されるスタンパの厚みと同程度の厚みを容易に製作できるので好まし レ、。また、シリコン系基板としては、 Si又は Si〇、 SiCなどのシリコン化合物が利用で
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きる。これらは半導体分野で広く利用されているため比較的入手しやすい。ガラス基 板としては石英ガラスが好ましレ、。
[0022] 基板の形状は特に限定されない。感熱性材料層を形成する工程や、露光工程で 利用する装置を考慮して適宜選定すればよい。また、予め成形型に装着でき、作製 する光ディスクの形状に合うように内外径をカ卩ェした円盤状のスタンパ形状のものを 用いることも可能である。
[0023] 上記基板上に感熱性材料からなる感熱性材料層 102を形成する。本発明では、こ の感熱性材料層に従来と異なり、レーザー光によりネガ型として作用する感熱性材 料を用いる。このような感熱性材料を用いることにより、後の露光工程において露光 部が変質し基板上に残存することとなる。従って、基板に直接凸部を形成することが 可能となる。よって、上記感熱性材料層によりピットを形成することが可能となるため、 めっき処理工程、電铸工程、スタンパ剥離工程などを不要とし、工程の簡略化が可 能となる。
[0024] 本発明において用いられるネガ型の感熱性材料としては、モリブデン及びタンダス テンからなる群から選ばれる少なくとも 1種の元素を含有する酸化物を用いることが好 ましレ、。これらの酸化物にレーザー光を照射することにより、レーザー光を照射してい ない部分(以下、「未露光部」ということがある)に対して、部分的に酸化数、あるいは 、未露光部とは結晶粒形が異なっている部分 (以下、「変質部」ということがある)を形 成することが出来る。そして、この未露光部がエッチングにより除去される性質を有す る。また、これらの酸化物は従来使用されていたカルコゲンィ匕合物よりも硬度が高い ため、耐久性に優れたスタンパを得ることができる。さらに、これらの酸化物は熱量に よる変質が臨界的であるため、形成されるピットの両サイドの形状が明確となり、微細 凹凸パターンを形成するのに好適である。 [0025] 本発明において、ネガ型として作用する感熱性材料である酸化物の層の基板上へ の形成方法についてはその詳細を後に述べる力 このレーザー光によりネガ型の感 熱性を示す酸化物の具体的な組成、構造は未だ不明である。おそらぐ本発明の酸 化物は酸素量が多い状態になっていると考えられる。そして、この酸化物からなる層 はレーザー光の照射により酸化数が局部的に異なる部分が形成され、現像により未 露光部のみの除去が可能になっていると考えられる。なお、本発明によれば MoOあ
3 るいは w〇の酸化物のみからなる層ではレーザー光の吸収係数が低すぎて、感熱
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性材料として機能しないことが分かっている。
[0026] また、本発明の感熱性材料層は前記酸化物とともに、モリブデンまたはタングステン の金属を含むことも好ましい態様である。すなわち、ネガ型として作用するモリブデン またはタングステンの酸化物は透明性を有するため吸収係数が低レ、。このため、レー ザ一光により感熱性材料層を露光した際に、レーザー光の透過量が多く十分な発熱 量が得られにくい傾向がある。このため、これら金属単体も含有する感熱性材料層と することによりレーザー光に対する層の吸収係数を向上できる。そして、露光工程に おいて、エネルギー量の低いレーザー光を用いても、短時間で露光することが可能と なる。前記金属単体の含有量としては、感熱性材料層がネガ型の感熱性材料として 機能できる範囲であれば特に制限されない。
[0027] 本発明において上記酸化物は、元素、酸化数などの異なる 1種または 2種以上を混 合して使用することもできる。特にモリブデンの酸化物とタングステンの酸化物の両者 を含有する感熱性材料層は熱応答性に優れ、露光時間をさらに短縮することができ るため好ましい。
[0028] 本発明の感熱性材料層を形成する方法は特に限定されず、従来から公知の方法 を用いることができる。具体的には、例えば、スパッタリング法、蒸着法、イオンプレー ティング法などを挙げることができる。これらの中でも、マグネトロンスパッタリングなど の反応性スパッタリング法を用いることが好ましい。
[0029] マグネトロンスパッタリングにより上記の酸化物を含有する感熱性材料層を形成する 場合、ターゲットとしては、これら金属自体を用いても良レ、が、酸化物(たとえば、 Mo oあるいは WOなど)を用いても良レ、。得られる酸化物の均一性に優れるからである 。さらに反応性スパッタリングにより得られる上記の各酸化物は添加物を混入したり、 適正な酸素量になるよう調整したりしてもよい。添加物はレーザー光に対する十分な 吸収係数、レーザー光照射による温度上昇、未露光部と変質部のエッチングレート などを考慮して適宜選定することができる。
[0030] マグネトロンスパッタリングの条件としては、スパッタエネルギーが 100 1000W、 ァノレゴンガスの分圧力 So. 10—0. 20Pa、酸素分圧力 S〇. 05—0. 10Paで行うこと力 S 好ましレ、。モリブデンの酸化物、タングステンの酸化物は酸化状態によりネガ型、ポジ 型の両形態をとり得るため、上記範囲を外れると感熱性材料層中の酸素量が減少し 、ネガ型として作用する酸化物が得られにくくなる傾向にあることが検討により見出さ れている。
[0031] なお、基板上へのモリブデン、タングステンの酸化物の製法としては、例えば特開 平 5—304092号などを参考にすることができる。
[0032] 前記感熱性材料層の厚さは作製する光ディスクの用途に応じて適宜設定すること ができるが、好ましくは 40— lOOnmである。
[0033] 次に、露光工程について説明する。
[0034] 図 1 (b)に示すように上記のようにして作製した感熱性材料層 102に、レーザー光を 微細凹凸パターンに応じたパターンに照射して、部分的に変質部 103の形成を行う
[0035] 図 2に露光工程に使用する記録 (露光)装置の一例のブロック図を示す。 201は信 号源、 202は記録イコライザ、 203は光変調器、 204はミラー、 205はレンズァクチュ エーター、 206は基板、 207は記録用レーザー、 208はスピンドルモーター、 209は 感熱性材料層である。焦点制御用のレーザー光学系や記録用レーザー光学系のビ ーム拡大器などは省略してある。
[0036] 信号源 201で発生された記録すべき情報信号は記録イコライザ 202によって信号 パルス幅を変化される。そして信号パルス内でパルス列に変調され、光変調器 203 に入力され、レーザー光を強度変調する。その強度変調されたレーザー光はミラー 2 04を通り、レンズァクチユエ一ター 205のフォーカス制御されるレンズを通じて基板 2 06上の感熱性材料層 209に絞り込んで照射される。レーザー光で照射された箇所 で、所定の温度以上に加熱された領域は部分的に変質され、潜像を形成する。
[0037] 本発明の露光工程における記録用レーザー 207の波長としては、感熱性材料層に 対して十分な吸収率があり、感熱性材料層の一部を部分的に変質することができる レーザー光であれば、波長を選ばない。ただし、短波長レーザーを用いることによつ て、レーザー光のスポット径の微小化をは力、ることができるため、 410nm以下の波長 が望ましレ、。下限も特に限定されるものでなレ、が、例えば 240nmの波長のレーザー 光を用いることができる。
[0038] このような短波長のレーザー光を用いることにより、レーザー光による発熱部分を局 部的にすることが可能となり、微細パターンを形成することができる。
[0039] なお、本発明において高密度な熱記録を行うためには、記録信号の長さや、前後 の記録信号までの間隔や前後の記録信号の長さに応じて記録信号パルスの長さや 記録のタイミングを調整する必要がある。例えば、記録パルスの直前に長い記録パノレ スがあれば、記録パルスの先頭を遅らせたり、直前が長い無信号区間であれば記録 パルスの先頭を早めたりすればよい。また、ひとつの記録パルス内で信号ピットの幅 を一定に保っため、信号パルスの先頭と終端は長めのパルスにし、信号パルスの中 間は短レ、パルスの列にするとレ、つた複雑な操作を記録イコライザが行う。
[0040] 本発明では熱応答性の速いモリブデンの酸化物またはタングステンの酸化物から なる感熱性材料層を用いているため、短時間での露光でも十分な深さのパターンを 形成すること力できる。
[0041] 従って、上記レーザー光のエネルギー量としては、 3. OmW以下、さらには 1. 6m W以下の低エネルギーとすることができる。また、その線速度は 4m/sec以上とする こと力 Sできる。なお、余りに線速度が速いとエネルギー量が不十分となり、所定の熱量 が得られにくい傾向にあるため、 7m/sec以下が好ましい。
[0042] 次に、露光した感熱性材料層をウエットエッチング (現像)処理することにより微細凹 凸パターンを基板上に形成する。
[0043] 図 1の(c)はウエットエッチング (現像)処理後の状態を示すものである。本発明では 変質部 103とレーザー光が照射されていない未露光部 104のエッチングレートの差 を利用して、未露光部 104のみを除去する。 [0044] 本発明のエッチング処理においては、アルカリエッチングが用いられる。この現像 処理により、未露光部 104のみが除去されて、図に示す凹凸パターンを得ることがで きる。アルカリ性のエッチング液としては、通常の感光性レジストの現像に用いられて レ、る 1一 25%のテトラメチルハイド口オキサイド溶液、水酸化ナトリウム水溶液などの アルカリ溶液を用いることができる。このような溶液に数分浸すことにより凹凸パターン を形成することができる。この凹凸パターンが形成された基板を原盤 105と呼ぶ。
[0045] 本発明では上記のようにして作製した原盤上に形成された微細凹凸パターンをさら にめつき処理する必要はない。すなわち、図 1中、(d)に示すように、(c)工程で得ら れた原盤 105を射出成形機に装着するために内外形を所定形状に加工することで、 ダイレクトマスタリングのスタンパ 106が得られる。
[0046] その後、このスタンパを光ディスク用成形機の金型に取り付けて、射出成形により大 量の光ディスクの複製を生産することができる。前記成形において樹脂材料としては 従来公知の樹脂を使用することができる。具体的には、例えばポリカーボネート樹脂 を好適な樹脂として挙げることができる。
[0047] 現在、 CDや DVD等の生産では、 1枚のスタンパから、 10万枚の光ディスクの生産 が可能である。本実施の形態のスタンパでも 10万回の射出成形後にもスタンパの形 状に変化が無ぐ光ディスクから再生される信号特性にも、劣化が見られないことが 確認された。よって、本実施の製造方法によって作製されたダイレクトマスタリングの スタンパは、実用上問題なぐ光ディスクの生産に使用することができる。
[0048] 以上のように本発明のダイレクトマスタリングのスタンパを製造する方法ではレジスト の微細凹凸パターンを形成した後、めっき工程、電铸工程、スタンパ剥離工程、さら にはこれら工程よつて必要となる製造工程、製造装置が不要となり、大幅な製造時間 の短縮が可能となり、コストを低減することができる。
[0049] そして、本発明のスタンパでは 10万回の射出成形の後でも、表面形状に形状変化 、劣化が観測されず、完成された光ディスクの再生信号にも劣化がないことから、光 ディスク用スタンパとして生産上問題が無く使用可能である。
[0050] (実施の形態 2)
本発明は、実施の形態 1のスタンパの作製にぉレ、て感熱性材料層と基板との間に 熱伝導度の低い熱調整層を設けることも好ましい態様である。以下、この形態により 作製されるスタンパについて説明するが、基板、感熱性材料などは実施の形態 1と同 様であるため省略する。なお、本発明においては、基板と感熱性材料層の間にあり、 感熱性材料を変質させるのに使用されるレーザー光によって付与される熱量を調整 しうる層を熱調整層と呼ぶ。
[0051] 本発明のネガ型の感熱性材料としてモリブデンの酸化物またはタングステンの酸化 物を用いる場合、レーザー光が入射されることにより、感熱性材料の膜温度は上昇す る力 この熱量は熱伝導によって分散する。特に、基板に感熱性材料層よりも熱伝導 度の大きな金属などの基板を用いると、レーザー光による熱が基板に移り、感熱性材 料の変質に必要な熱量が不足しやすくなる傾向にある。
[0052] 本発明では上記の点を改善するため感熱性材料層よりも熱伝導度の小さい熱調整 層を感熱材料層と基板との間に形成する。これにより低エネルギーで微細パターン の記録が可能となる。つまり、基板と感熱性材料層との間に熱調整層を形成すること によって、基板への熱伝導を小さくし、感熱性材料層の温度を維持することができる 。これにより、感熱性材料層の変質部の形成を小さなレーザー光のパワーで行うこと ができる。またレーザー光のパワーが小さくても高速の線速度で記録が可能になる。
[0053] 本発明において上記熱調整層としては、その熱伝導度が 0. 15-0. 8W/k'mで あることが好ましぐより好ましくは感熱性材料層の熱伝導度の 1/10以下であること が望ましい。このような低熱伝導度の熱調整層を設けることにより、吸収係数の低い モリブデンの酸化物またはタングステンの酸化物を多く含む感熱性材料層であっても 、レーザー光のエネルギー量を上げることなぐ短時間での露光による記録が可能と なる。なお、熱伝導度は迅速熱伝導率計 (京都電子工業 (株)製)で測定した時の値 である。
[0054] 本発明において、熱調整層としては上記熱伝導度の差が得られるものであれば、 樹脂からなる層、無機材料からなる層いずれも使用することができるが、特に樹脂か らなる熱調整層が好ましい。
[0055] 前記樹脂としては、前記の低熱伝導度を有するアクリル系樹脂、ナイロン系樹脂、 ポリエチレン系樹脂などを挙げることができる。これらの中でもアクリル系樹脂を用い ることが好ましい。熱調整層をアクリル系樹脂で形成することにより、モリブデンの酸 化物またはタングステンの酸化物の変質に必要な熱の保温性に優れ、さらに省エネ ルギ一、記録パターンの短時間化が図れることも本発明により確認されている。
[0056] 樹脂からなる熱調整層を形成する工程としては、上記樹脂の溶液を基板上に所定 厚みとなるようにスピンコートすることにより得ることができる。樹脂からなる熱調整層 の厚みとしては特に限定されるものでなレ、が、例えば 50 lOOnmとすることが好まし レ、。
[0057] 熱調整層に用いられる無機材料で前記の低熱伝導度を有するものとしては、誘電 体あるいは金属などを用いることができる。前記誘電体としては、具体的には、例え ば Si N、 SiO、 ZnS、 Al O等の誘電体材料を挙げることができる。また金属として
3 4 2 2 3
は、 Al、 Ag、 Auなどを挙げることができる。
[0058] また、前記無機材料の中でもレーザー光の吸収係数が感熱性材料層よりも大きな 無機材料を用いることが好ましい。すなわち、ネガ型の感熱性材料であるモリブデン の酸化物またはタングステンの酸化物は吸収係数が低ぐ上述のようにレーザー光 の透過量が多い。このため、照射によるレーザー光が有効に利用されず、所定の記 録を行うのにレーザー光の強度を高くする必要がある。またそれによつて微細パター ンの形成が難しくなる傾向がある。従って、吸収係数の大きな無機材料からなる熱調 整層が設けられることにより、吸収係数の小さい感熱性材料層をその上に形成した場 合でも、レーザー光のエネルギーを有効に利用することができる。
[0059] このような無機材料からなる熱調整層の吸収係数としては記録波長 240— 41 Onm のレーザー光に対して 0. 8以上のものを用いることが好ましい。このような無機材料と しては、例えば ZnS、 Al、 Ag、 Auなどを挙げることができる。
[0060] 上記のような無機材料からなる熱調整層を形成する工程としては、スパッタリング法 、蒸着法など従来公知の誘電体膜あるいは金属膜の形成手法を使用することができ る。上記無機材料層からなる熱調整層の厚みとしては特に限定されるものでなレ、が、 例えば 50— lOOnmとすることが好ましい。
[0061] 図 3に本実施の形態の原盤の要部拡大断面図を示す。図中で、 301はピット、 302 は感熱性レジスト層、 303は基板、 304は熱調整層を示している。また、図 3において (a)、 (b)は同レベルのレーザー光を照射した時のピット部周辺の断面形状を比較し たものであり、 (a)の構成では熱調整層を有していない構成、(b)では、熱調整層 30 4を有する構成を示している。なお、この実施の形態 2では、実施の形態 1のスタンパ の製造方法において、上記熱調整層を設ける以外は基板、感熱性材料層を形成す る各工程は実施の形態 1と同様の工程を採用することができる。
[0062] (b)では、熱調整層 304を有することによって、記録レーザー光を照射した際に、十 分な熱量を感熱性レジスト層 302に与えることができるため、より小さい記録パワーで 、変質部を形成することができる。これは、熱伝導率が基板よりも小さいからであると 類推される。
[0063] 例えば、熱調整層 304としてアクリル系樹脂を、感熱性レジスト層 302にモリブデン の酸化物を形成した形態では、波長 410nmで所定の特性を有する光ディスクを得よ うとすると、アクリル系樹脂を有していない構成よりも、 2倍の線速度で記録が可能に なる。従って、記録の時間を半減することが出来る。また、記録時間を短くすることに よって、記録時の異物付着を低減することができる。
[0064] なお、露光工程後のエッチング処理において、(b)に示すように熱調整層 304を残 してスタンパとしても良ぐまた除去することも可能である。樹脂からなる熱調整層の場 合は成形時の貼り付きを考慮すると、エッチング処理により、基板面までエッチングし て樹脂層を除去することが好ましい。
[0065] (実施の形態 3)
本発明は実施の形態 1において、微細凹凸パターンを基板により形成することもで きる。
[0066] すなわち、エッチング処理において、露光工程により形成した変質部を凸部とする パターンをエッチングマスクとして使用することもできる。実施の形態 1ではエッチング 処理により、未露光部の除去(現像)まででエッチングを終了したが、さらに基板をェ ツチングすることにより、マスタリング法で利用されているエッチング工程と同様に、基 板に微細凹凸パターンを形成することも可能である。
[0067] このような形態に用いられる基板としては、上記で説明した形態に用いられる基板と 同様のものを使用することができるが、強度を考慮すると金属板を用いることが好まし レ、。
[0068] 以下に、本発明を実施例を挙げて具体的に説明するが、本発明はこれら実施例に 限定されるものでない。
実施例 1
[0069] 実験 1
本例では、ニッケノレ基板上にモリブデンのターゲットを用いて、反応性スパッタリン グにより、感熱性材料層を形成した。
[0070] 直流マグネトロンスパッタリング装置に、モリブデンのターゲットを取り付けた。基板 を基板ホルダーに固定した後、 1 X 10— 4Pa以下の高真空になるまでチャンバ一内を クライオポンプで真空排気した。真空排気をしたまま Arガスを 0. lOPaとなるまでチヤ ンバー内に導入し、加えて、 Oガスを 0. 08Pa導入した。次に、基板を回転させなが
2
ら、モリブデンのターゲットに直流パワー(500W)を印加して、成膜時間 5分間でモリ ブデンの酸化物の膜厚が 80nmになるように成膜した。得られた感熱性材料層はモリ ブデン酸化物とモリブデンの混合物であると考えられる有色であった。
[0071] 感熱性材料層を形成した基板を、図 2に示した露光装置により回転させながら、波 長 405nmで所定パターンの記録を行なった。露光条件は、 NA0. 95、レーザー光 の記録パワー 1. 6mW、線速度 4. OmZsecとした。
[0072] 次に、感熱性材料層を 10%のテトラメチルアンモニゥムハイロドオキサイド水溶液に 5分間浸した。このエッチング処理において未露光部が除去されたことから、上記反 応性スパッタにより形成したモリブデン酸化物はネガ型の感熱性材料であることが確 認された。未露光部を完全に除去して現像を行ない、トラックピッチ 0. 32 z m、最短 ピット長が 0. 14 z mの微小凹凸ピットを形成した。なお、エッチングレート比は、 10 : 1であった。
[0073] その後、この微小凹凸ピットを形成した原盤を、射出成形に用いることができるよう に内外形を所定寸法に加工することにより、ダイレクトマスタリングのスタンパを作製し た。
[0074] 作製したスタンパを所定の射出成形機に設置し、溶融したポリカーボネート樹脂を 注入し、圧縮して光ディスク用の基板を成形した。この光ディスク用の基板にアルミを 主成分とする反射膜を厚さ 40nm形成し、さらにその上に厚さ 0· 1mmのポリカーボ ネートシートを接着して光ディスクを作製したところ所期の特性を有する光ディスク 10 万枚の生産が可能であった。
[0075] 実験 2
実験 1のスタンパの作製において、基板と感熱性材料層の間に ZnS (熱伝導度: 0. 75W/k-m,感熱材料層との熱伝導度との比: 1Z104,レーザー光の吸収係数: 0 . 91)からなる熱調整層を形成した以外は、実験 1と同様にしてダイレクトマスタリング のスタンパを作製した。
[0076] 熱調整層の形成は、ターゲットとして ZnSを用レ、、 Ar雰囲気下、厚さ 80nmとなるよ う、スハ。ッタリングにより行った。
[0077] 上記のようにして作製したスタンパを用いて実験 1と同様にして光ディスクの作製を 行ったところ、 10万枚の光ディスクの生産が可能であった。
[0078] 実験 3
実験 1のスタンパの作製において、基板と感熱性材料層の間にアクリル系樹脂 as R社製,ォプトマ一,熱伝導度: 0. 18W/k-m,感熱性材料層との熱伝導度との比: 1/540)からなる熱調整層を形成した以外は、実験 1と同様にしてダイレクトマスタリ ングのスタンパを作製した。
[0079] 熱調整層の形成は、ニッケル基板にスピンコートによりアクリル系樹脂を厚さ 60nm となるよう塗布することにより行った。なお、エッチング処理では樹脂層がなくなるまで エッチングを行った。
[0080] 上記のようにして作製したスタンパを用いて実験 1と同様にして光ディスクの作製を 行ったところ、 10万枚の光ディスクの生産が可能であった。
[0081] 実験 4
実験 3におレ、て、感熱性材料としてモリブデン酸化物及びタングステン酸化物の混 合物を用いた以外は、実験 3と同様にしてダイレクトマスタリングのスタンパを作製し た。
[0082] 基板として、実験 3のアクリル系樹脂からなる熱調整層を形成した基板を用い、反応 性スパッタリングを行った。反応性スパッタリングでは、ターゲットとしてモリブデンータ ングステン合金(ターゲット中の Mo : Wの比が 7 : 3)を用いた。基板を基板ホルダー に固定した後、 2. 6 X 10_4Pa以下の高真空になるまでチャンバ一内をクライオボン プで真空排気した。真空排気をしたまま Arガスを 0. 16Paとなるまでチャンバ一内に 導入し、カロえて、 Oガスを 0. 05Pa導入した。次に、基板を回転させながらターゲット
2
に直流パワー(500W)を印加して膜厚が 50nmになるように感熱性材料層を成膜し た。
[0083] 次に、実験 3と同様に露光、エッチング処理を行った。エッチング処理により未露光 部が除去されたことから、上記反応性スパッタリングにより形成した感熱性材料はネ ガ型であることが確認された。なお、エッチングレート比は、 13 : 1であった。
[0084] 上記のようにして作製したスタンパを用いて実験 1と同様にして光ディスクの成形を 行ったところ、 10万枚の光ディスクの生産が可能であった。
[0085] 実験 5
実験 4において、 MoO及び W〇 の混合物からなる膜を用いた以外は、実験 4と同
3 3
様にしてダイレ外マスタリングのスタンパを作製した。
[0086] 基板として、実験 4のアクリル系樹脂からなる熱調整層を形成した基板を用い、ター ゲットとしてモリブデン一タングステン合金を用いた。基板を基板ホルダーに固定した 後、 2. 6 X 10— 4Pa以下の高真空になるまでチャンバ一内をクライオポンプで真空排 気した。真空排気をしたまま Arガスを 0. 16Paとなるまでチャンバ一内に導入し、カロ えて、 Oガスを 0. 14Pa導入した。次に、基板を回転させながらターゲットに直流パヮ
2
一(500W)を印加して膜厚が 50nmになるように MoO及び W〇力らなる膜を基板
3 3
上に形成した。
[0087] 次に、実験 4と同様にレーザー光による記録 (記録パワー 3mW)を行った後エッチ ング処理したが、記録パターンを形成することができなかった。このこと力、ら、これらの 酸化物はレーザー光の露光によりネガ型に作用する感熱性材料でないことが確認さ れた。
実施例 2
[0088] 実施例 1の実験 1一 4の感熱性材料層及び熱調整層によるパターン形成に要する 露光時間(レーザー光の記録時間)への影響を検討した。 [0089] 上記実験 1一 4のスタンパの作製において、各感熱性材料層に所定パターンを形 成するためのレーザー光の線速度を種々変更し、エッチングすることにより記録時間 の異なるスタンパを作製した。パターンは 25GBの光ディスクとなるよう形成した。なお 、いずれのスタンパにもパターン中にトラックピッチ 0. で SZN比測定用に最 短ピット長が 0. 149 z mの領域を一部に設けた。この記録時間が異なるスタンパを 用いて光ディスクを作製した。作製した各光ディスクを NA0. 85、レーザー波長 405 nmの構成の記録再生ヘッドで再生し、最短ピット長が 0. 149 x mである一定領域の SZN比が 45dB以上となった光ディスクが得られた時の各実験のスタンパを作製す るために要したレーザー光の記録時間を表 1に示す。
[0090] [表 1]
Figure imgf000018_0001
[0091] 表 1に示すように、本発明により製造したダイレクトマスタリングの各スタンパは基板 と感熱性材料層との間に熱調整層を形成することにより記録時間を短縮することがで きる。特に樹脂層からなる熱調整層を形成した実験 3や、モリブデンとタングステンの 両者の酸化物を含有する感熱性材料層を形成した実験 4は、さらにレーザー光の記 録時間を短縮することができることが分かる。
[0092] 以上説明したように、基板上にネガ型の感熱性材料層を形成し、レーザー光による 記録、ウエットエッチングを行うことにより、微細凹凸パターンを形成し、この基板を直 接光ディスク用スタンパに成形加工することで、大幅にスタンパ作製工程を削減し、 欠陥の少なレ、スタンパを効率よく作製することができる。この技術を高密度光ディスク の基板用スタンパに用いることにより、低コストで、歩留まり良く良好な信号を再生で きる光ディスクを提供することが可能になる。
[0093] 本発明は詳細に説明されたが、上記した説明は、全ての局面において、例示であ つて、本発明がそれに限定されるものではなレ、。例示されていない無数の変形例が、 この発明の範囲から外れることなく想定され得るものと解される。 産業上の利用可能性
本発明のスタンパを製造する方法は、光記録媒体のスタンパ製造方法として有用 である。特に原盤を直接光ディスクの成形に利用するダイレクトマスタリングのスタン パを製造する場合に好適である。

Claims

請求の範囲
[1] 基板上にレーザー光によってネガ型に作用しうる感熱性材料層を形成する工程と、 前記感熱性材料層の所定領域にレーザー光を照射して部分的に露光を行う工程 と、
前記部分的に露光された感熱性材料層をウエットエッチングすることにより微細凹 凸パターンを形成する工程と、
を有するダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[2] 前記感熱性材料層が、モリブデン及びタングステンから選ばれる少なくとも 1種の元 素の酸化物を含有することを特徴とする請求項 1に記載のダイレクトマスタリングのス タンパを製造する方法。
[3] 前記感熱性材料層を形成する工程が、モリブデン及びタングステンから選ばれる少 なくとも 1種の元素を含むターゲットを用いる反応性スパッタリング工程からなることを 特徴とする請求項 1に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[4] 前記反応性スパッタリング工程におけるアルゴンガスの分圧が 0. 1-0. 20Pa、酸 素分圧が 0· 05-0. 10Pa、スパッタエネルギーが 100— 1000Wであることを特徴と する請求項 3に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[5] 前記基板と前記感熱性材料層の間に熱調整層を形成する工程をさらに有すること を特徴とする請求項 1に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[6] 前記熱調整層の熱伝導度が前記感熱性材料層の熱伝導度の 1 / 10以下であるこ とを特徴とする請求項 5に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[7] 前記熱調整層が、アクリル系樹脂、ナイロン系樹脂、及びポリエステル系樹脂から 選ばれる少なくとも 1種の樹脂を含有することを特徴とする請求項 5に記載のダイレク トマスタリングのスタンパを製造する方法。
[8] 前記熱調整層が、誘電体及び金属から選ばれる少なくとも 1種の無機材料を含有 し、前記無機材料の前記レーザー光の波長に対する吸収係数が 0. 8以上であること を特徴とする請求項 5に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[9] 前記基板が、内外径が加工された円盤状のスタンパ形状であることを特徴とする請 求項 1に記載のダイレ外マスタリングのスタンパを製造する方法。
[10] 前記基板をスタンパ形状に加工する工程をさらに有する請求項 1に記載のダイレク トマスタリングのスタンパを製造する方法。
[11] 前記ウエットエッチングにより微細凹凸パターンを形成する工程が、前記部分的に 露光された感熱性材料層をエッチングマスクとして、前記基板をエッチングして微細 凹凸パターンを形成する工程からなることを特徴とする請求項 1に記載のダイレクトマ スタリングのスタンパを製造する方法。
[12] 請求項 1から 11のいずれかに記載の方法を用いて製造されるダイレクトマスタリング のスタンパ。
[13] 請求項 12に記載のスタンパを用いて製造される光ディスク。
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