WO2004081684A1 - 圧電素子の駆動方法及び装置並びに微動機構の制御装置 - Google Patents

圧電素子の駆動方法及び装置並びに微動機構の制御装置 Download PDF

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WO2004081684A1
WO2004081684A1 PCT/JP1992/001569 JP9201569W WO2004081684A1 WO 2004081684 A1 WO2004081684 A1 WO 2004081684A1 JP 9201569 W JP9201569 W JP 9201569W WO 2004081684 A1 WO2004081684 A1 WO 2004081684A1
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voltage
voltage range
amplitude
applied voltage
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PCT/JP1992/001569
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Ryuji Takada
Eiichi Hazaki
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Ryuji Takada
Eiichi Hazaki
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    • B82NANOTECHNOLOGY
    • B82YSPECIFIC USES OR APPLICATIONS OF NANOSTRUCTURES; MEASUREMENT OR ANALYSIS OF NANOSTRUCTURES; MANUFACTURE OR TREATMENT OF NANOSTRUCTURES
    • B82Y15/00Nanotechnology for interacting, sensing or actuating, e.g. quantum dots as markers in protein assays or molecular motors
    • HELECTRICITY
    • H02GENERATION; CONVERSION OR DISTRIBUTION OF ELECTRIC POWER
    • H02NELECTRIC MACHINES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H02N2/00Electric machines in general using piezoelectric effect, electrostriction or magnetostriction
    • H02N2/02Electric machines in general using piezoelectric effect, electrostriction or magnetostriction producing linear motion, e.g. actuators; Linear positioners ; Linear motors
    • H02N2/06Drive circuits; Control arrangements or methods
    • H02N2/062Small signal circuits; Means for controlling position or derived quantities, e.g. for removing hysteresis
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/80Constructional details
    • H10N30/802Circuitry or processes for operating piezoelectric or electrostrictive devices not otherwise provided for, e.g. drive circuits
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    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
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    • Y10S977/849Manufacture, treatment, or detection of nanostructure with scanning probe
    • Y10S977/86Scanning probe structure
    • Y10S977/872Positioner

Definitions

  • the present invention relates to a method and a device for driving a piezoelectric element and a control device for a fine movement mechanism.
  • the present invention relates to a method and a device for driving a piezoelectric element and a control device for a fine movement mechanism, and in particular, relates to a scanning processor such as a scanning tunnel microscope.
  • the present invention relates to a method and a device for driving a piezoelectric element used as a piezoelectric actuator for generating a displacement, and a control device for a fine movement mechanism thereof.
  • a scanning tunneling microscope which is a typical example of a scanning probe microscope, uses a probe to measure the irregular shape of the sample surface at the atomic level using a probe.
  • This fine movement mechanism is configured to finely control the position of the probe using the expansion and contraction of the piezoelectric element.
  • a piezoelectric element for the z-axis
  • a measurement target area on the sample surface It has a total of three piezoelectric elements, including two piezoelectric elements (for the axis and for the ⁇ axis) for scanning the probe.
  • the application of a voltage causes an elongation operation in the longitudinal direction.By adjusting the applied voltage, the length can be changed and the required displacement can be generated. .
  • a fine movement mechanism used for a device in which a relatively small space is easily secured such as a semiconductor fine movement positioning device, is controlled to generate a displacement with high precision, as described in, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-174595.
  • a separate displacement measuring device has been installed to measure the actual displacement.
  • the displacement measuring device a laser displacement meter, a capacitance type displacement meter, a strain gauge, or the like is usually used. Disclosure of the invention
  • FIG. 1 and 2 show examples of the relationship between the applied voltage and the generated displacement in the piezoelectric element, respectively.
  • Figures 1 and 2 show the displacement characteristics for the same piezoelectric element.
  • the range of the applied voltage is 0 to 100 V
  • the range of the applied voltage is 80 to 100 V.
  • the displacement characteristic of FIG. 1 the displacement is 14.3 ⁇ m at a potential difference of 100 V
  • the displacement characteristic in FIG. 2 the displacement is 1.9 m at a potential difference of 20 V.
  • the displacement characteristics in Fig. 1 are 2.86 ⁇ / 20
  • the displacement characteristics in Fig. 2 are 1.9 m / 20 V.
  • the piezoelectric element has a characteristic that the displacement amount per unit voltage of the piezoelectric element greatly differs depending on the range of the applied voltage.
  • a voltage is applied to extend the piezoelectric element.
  • the displacement in the applied voltage range of 0 to 100 V is proportionally distributed according to each partial voltage range to estimate the displacement in the partial voltage range.
  • Drive is performed in the partial voltage range.
  • the voltage range of 80 to 100 V as can be seen in Fig. 2, only 1.9 m is actually displaced.
  • the amount of displacement of the piezoelectric element per unit voltage greatly differs depending on the range of the applied voltage. Therefore, based on the displacement characteristics obtained corresponding to the voltage range that generates the maximum displacement range, a simple proportional relationship is applied to the relationship between the applied voltage range and the displacement range, and a part of the applied voltage range If a drive for elongation is performed assuming a displacement range corresponding to the above, a large error will occur.
  • the fine movement mechanism that controls to generate high displacement is provided with a separate displacement measuring device such as a laser displacement meter, capacitance displacement meter, or strain gauge to measure the actual displacement. I have.
  • a displacement measuring device such as a laser displacement meter, capacitance displacement meter, or strain gauge to measure the actual displacement. I have.
  • the device becomes expensive in any case, furthermore, extra space is required to provide the displacement measuring device, and the device becomes larger as a whole, and the scanning becomes larger. Such a space cannot be secured with the fine movement mechanism of the scanning probe microscope, so it cannot be applied.
  • an amplitude of a voltage range applied to a piezoelectric element is set according to a target displacement amount, and a voltage is applied to the piezoelectric element according to an amplitude of the applied voltage range.
  • a voltage is applied to the piezoelectric element according to an amplitude of the applied voltage range.
  • the target displacement amount and the reference voltage are input, the applied voltage range for generating the target displacement amount is determined using the approximate expression as described above, and the voltage is applied to the piezoelectric element.
  • the approximation formula is set in advance in consideration of the displacement characteristics of the piezoelectric element to be used.Therefore, the approximation formula is generated due to the displacement characteristics of the piezoelectric element whose displacement varies depending on the applied voltage range. Errors are reduced, and highly accurate displacement can be generated without using a special displacement measuring device. Also, by inputting the reference voltage for the applied voltage range together with the input of the target displacement, the usable voltage of the piezoelectric element You can choose which part of the range to use.
  • the approximate expression set in the step (a) is a linear function of the amplitude of the applied voltage range, the reference voltage, and the displacement per unit voltage.
  • the amplitude of the applied voltage range is A V and the reference voltage is V.
  • the approximate expression set in the step (a) is ,
  • the approximate expression set in the step (a) is a quadratic function of the amplitude of the applied voltage range, the reference voltage, and the displacement per unit voltage.
  • the amplitude of the applied voltage range is ⁇
  • the reference voltage is V.
  • the displacement amount of per unit voltage G, the coefficient decision depending on the displacement characteristics of the piezoelectric element, k 22, k 21, k 20, k 12, kn, k 10, k 02, koi, when the k 00, approximate expression chosen in Step (a) is
  • the reference voltage is a voltage value located at the center of the amplitude of the applied voltage range.
  • the reference voltage is a maximum voltage value or a minimum voltage of the amplitude of the applied voltage range. It may be a pressure value.
  • the target displacement amount, the amplitude of the applied voltage range, and the displacement amount per unit voltage preferably, the target displacement amount, the amplitude of the applied voltage range, and the displacement amount per unit voltage
  • the target displacement amount and the reference voltage, the approximate expression, and the first relational expression are used to obtain the target displacement amount at the reference voltage.
  • the amplitude of the applied voltage range that generates
  • the amplitude of the applied voltage range is ⁇ V
  • the displacement amount per unit voltage is G
  • the unit voltage is ⁇
  • the first relational expression is:
  • a second relational expression for determining an applied voltage range in which the target displacement amount is generated from the amplitude of the applied voltage range and the reference voltage is further set, and
  • the amplitude of the applied voltage range is ⁇
  • the reference voltage is V.
  • V m inn V o one ( ⁇ V / 2)
  • V m a ⁇ V ⁇ + (m VZ 2)
  • the amplitude of a voltage range applied to a piezoelectric element is set according to a target displacement amount, and a voltage is applied to the piezoelectric element according to the amplitude of the applied voltage range.
  • a driving device for the piezoelectric element that generates the target displacement amount.
  • the amplitude of the applied voltage range is AV
  • the reference voltage is V.
  • the amount of displacement per unit voltage is G and the coefficients determined depending on the displacement characteristics of the piezoelectric element are a, b, c, and d
  • the approximate expression stored in the memory means is:
  • the amplitude of the applied voltage range is ⁇ V, and the reference voltage is V.
  • the displacement amount of per unit voltage G, the coefficient is determined depending on the displacement characteristics of the piezoelectric element, k 22, k 21, k 20, k 12, kn, k 10, k 02, koi, k 0 .
  • the approximate expression stored in the memory means is
  • the memory means includes: A first relational expression between the target displacement amount, the amplitude of the applied voltage range, and the displacement amount per unit voltage is further stored, and the calculation means calculates the input target displacement amount and From the reference voltage, the approximate expression, and the first relational expression, the amplitude of the applied voltage range for generating the target displacement at the reference voltage is calculated.
  • the target displacement is ⁇
  • the amplitude of the applied voltage range is ⁇ V
  • the displacement per unit voltage is G
  • the unit voltage is ⁇ ⁇
  • the unit voltage is stored in the memory means.
  • the first relation is
  • the memory means includes a second relational expression for determining an applied voltage range for generating the target displacement amount from the amplitude of the applied voltage range and the reference voltage.
  • the arithmetic means generates the target displacement amount from the amplitude of the applied voltage range obtained by using the approximate expression, the input reference voltage, and the second relational expression.
  • the second relational expression stored in the memory means is:
  • V min V 0 ( ⁇ V / 2)
  • V m a ⁇ V ⁇ + ( ⁇ V / 2)
  • two piezoelectric elements are provided as an actuating unit for scanning the probe along the surface of the sample, and the two piezoelectric elements are mutually connected.
  • a control device for a fine movement mechanism configured to be orthogonal, the two piezoelectric elements
  • a control device for a fine movement mechanism characterized by providing the above-described drive device for each of them is provided.
  • Figure 1 is a diagram showing the displacement characteristics of the piezoelectric element at 0-100 V.
  • FIG. 2 is a diagram showing the displacement characteristics of the piezoelectric element at 80 to 100 V.
  • FIG. 3 is a schematic diagram showing a driving method for performing the driving method of the piezoelectric element according to the first embodiment of the present invention.
  • FIG. 7 is a diagram showing a relationship between an amplitude ⁇ V of an applied voltage range and a displacement G per unit voltage.
  • FIG. 5 is a diagram showing displacement data measured in various applied voltage ranges in a table format.
  • FIG. 6 is a matrix used for obtaining the approximate expression according to the first embodiment by using the least squares method.
  • FIG. 7 shows a matrix algebra for obtaining an approximate expression.
  • Figure 8 shows the characteristics of the approximate expression with different applied voltage ranges.
  • FIG. 9 is a table showing displacement data used to determine an approximate expression in the piezoelectric element driving method according to the second embodiment of the present invention.
  • FIG. 10 is a matrix used for obtaining an approximate expression according to the second embodiment using the least squares method.
  • Figure 11 shows a matrix algebra for obtaining an approximate expression.
  • FIG. 12 shows a scanning type tongue to which the driving device for a piezoelectric element of the present invention is applied.
  • FIG. 2 is a schematic diagram of a control device of a fine movement mechanism in a tunneling microscope.
  • FIG. 13 is a diagram showing a relationship between a scanning region controlled by the control device shown in FIG. 12 and an applied voltage.
  • reference numeral 1 denotes a piezoelectric element to be driven.
  • the magnitude of the voltage applied from the voltage generator 2 to the piezoelectric element 1 is the target displacement ⁇ X input from the input device 3 and the reference voltage V for the applied voltage range. Is determined according to In this embodiment, the reference voltage V is used.
  • the voltage value located at the center of the applied voltage range (hereinafter, referred to as the center voltage of the applied voltage range) is used as.
  • the target displacement amount X input by the input device 3 and the center voltage V of the applied voltage range. Is sent to the arithmetic unit 4, where the applied voltage for generating the target displacement ⁇ X is calculated, and the corresponding command signal S is output to the voltage generator 2.
  • the input device 3 may be, for example, a keyboard input by a key operation by an operator, or an interface for inputting a signal supplied from the outside.
  • the concept of calculation in the arithmetic unit 4 will be described.
  • the applied voltage cannot be determined by simply proportionally distributing the displacement characteristics obtained over a large applied voltage range. . So the real In the embodiment, the center voltage V of the applied voltage range is used together with the input of the target displacement amount ⁇ . Enter In this case, the center voltage V.
  • the reference voltage if it is possible to specify the applied voltage range, as described later, a voltage value located at another position may be used instead of a voltage value located at the center of the applied voltage range. Can be.
  • the target displacement ⁇ and the center voltage V of the applied voltage range The relationship between the applied voltage range amplitude ⁇ V and the displacement G per unit voltage will be described with reference to FIG.
  • the piezoelectric element 1 scans in the usable voltage range of 0 to: L 00 V, and a loop R is formed. It displaces like.
  • Target displacement ⁇ X and center voltage V. Is the value provided by the input device 3 and is the center voltage V. Is a reference voltage for determining which part of the usable voltage range of 0 to 100 V of the piezoelectric element 1 is to be used. V.
  • the piezoelectric element When the voltage is changed with an amplitude of ⁇ about the center, the piezoelectric element exhibits a displacement characteristic like a loop Ri, and the piezoelectric element 1 is displaced by the target displacement ⁇ ⁇ .
  • the minimum value Vmin and the maximum value Vmax of the applied voltage range at this time are-.
  • G ⁇ X (A / ⁇ V)... (2), which corresponds to the slope of the straight line connecting points A and B in the loop in Fig. 2.
  • the amplitude ⁇ V of the applied voltage range and the center voltage V of the applied voltage range are determined. If the approximate expression representing the relationship between the displacement and the displacement per unit voltage ⁇ G is set in advance, the target displacement X and the center voltage V. Since is known, the amplitude m of the applied voltage range is obtained from the approximate expression and the above equation (2), and the amplitude AV and the known center voltage V are obtained. From Equation (1) and above, the minimum value Vmin and the maximum value Vmax of the applied voltage range, that is, the applied voltage range for generating the target displacement ⁇ X is determined.
  • the internal memory of the arithmetic unit 4 includes, in advance, the amplitude ⁇ of the applied voltage range and the center voltage V of the applied voltage range for the piezoelectric element 1. And the relational expression between the displacement G per unit voltage, the target displacement ⁇ X, the amplitude ⁇ V of the applied voltage range, and the unit voltage ⁇ . 2) Equation, the applied voltage range ⁇ and the center voltage V of the applied voltage range.
  • the above equation (1) which is a relational equation between the voltage applied to the piezoelectric element 1 and the voltage applied to the piezoelectric element 1, is stored in advance.
  • the arithmetic unit 4 calculates the target displacement ⁇ X and the center voltage V input from the input unit 3. Is input, and the amplitude AV of the voltage range to be applied to the piezoelectric element 1 is calculated using the stored approximate expression and the above expression (2), and the calculated amplitude AV and the center voltage V are calculated. Then, the applied voltage range Vmin, Vmax applied to the piezoelectric element 1 is calculated using the above equation (1), and the corresponding command signal S is output to the voltage generator 2. The voltage generator 2 outputs the calculated voltage range Vmin, V based on the command signal S. Three
  • a voltage corresponding to max is applied to the piezoelectric element 1.
  • a displacement is generated according to the target displacement ⁇ .
  • Equation (6) becomes Rewriting the coefficients k 3 , k 5, k 4, and k 6 in equation (6) as a, b, c, and d, respectively,
  • G a V 0 ⁇ V + b V 0 + c ⁇ V + d ... a (7).
  • the displacement G per unit voltage is the center voltage V.
  • the voltage amplitude can be calculated by an approximate expression.
  • the coefficients a, b, c, and d are determined for each piezoelectric element to be driven.
  • 14 sets of data in FIG. 5 obtained for the piezoelectric element 1 are adapted to the above equation (7) using the least squares method, and the coefficients a, b, c, and d are determined.
  • the approximate expression (7) is determined.
  • the least squares method is a well-known calculation method, and the calculation method will be outlined below.
  • a to d can be obtained by the equations shown in FIG.
  • X and yzi are the center voltage V of the applied voltage range in Fig. 5, respectively.
  • the coefficients a, b, c, d of the approximate expression (7) can be obtained. it can.
  • FIG. 8 is a graph showing the results of approximation by the above-mentioned approximation formula (8), with the respective center voltages applied.
  • the horizontal axis is the amplitude ⁇ V of the applied voltage range, and the vertical axis is the displacement G per unit voltage.
  • the straight line is a straight line rough representing the above approximation formula
  • the points plotted with X marks are the data values in the table of FIG. 5 as they are. As can be seen in Fig.
  • the approximate expression (8) for controlling the displacement of the piezoelectric element 1 is prepared inside the arithmetic unit 4.
  • the arithmetic unit 4 receives the target displacement ⁇ X and the center voltage V from the input unit 3. ,
  • the voltage amplitude that produces the target displacement ⁇ ⁇ with V 0 as the center voltage can be obtained by modifying the equation (8).
  • Equation (2) And the amplitude ⁇ V of this voltage range and the given reference voltage V above.
  • the applied voltages Vmin and Vmax for generating the target displacement ⁇ X are obtained by using the expressions (1) and (2).
  • the arithmetic unit 4 calculates the target displacement amount ⁇ and the center voltage V.
  • the amplitude AV of the voltage range is calculated, and the amplitude of this voltage range and the input reference voltage V are further calculated.
  • the applied voltage ranges Vmin and Vmax for generating the target displacement ⁇ X are determined, and a voltage corresponding to this voltage range is applied to the piezoelectric element 1 to drive the piezoelectric element 1, and the target displacement Generate ⁇ X.
  • the above equation (8) is stored as an approximate equation in the internal memory of the arithmetic unit 4, but the general equation (7) is stored, and a, b, c , D may be separately calculated and input. Further, instead of the above equation (8), the above equation (9) which is a modified version of the equation may be stored.
  • a X G (A V / A)-(1 1) may be stored.
  • an approximate expression that takes into account the displacement characteristics of the piezoelectric element 1 is prepared in advance in the driving device of the piezoelectric element 1, and the applied voltage is determined using this approximate expression.
  • An error generated due to the displacement characteristics of the piezoelectric element having a different displacement amount correspondingly is reduced, and a highly accurate displacement can be generated.
  • a method and an apparatus for driving a piezoelectric element according to a second embodiment of the present invention This will be described with reference to FIG.
  • a quadratic expression is used as an approximate expression.
  • the center voltage V of the applied voltage range. And amplitude as variables.
  • FIG. 8 described above for example, when the arrangement state of data points is strictly observed in ( ⁇ ), an upwardly convex curve is drawn. Therefore, approximation using a quadratic expression improves accuracy rather than simply approximating using a linear expression. Therefore, the following V. Approximate expression using a quadratic expression with two variables, and a quadratic expression for ⁇ V
  • kk 6 is a coefficient.
  • the coefficients k 22 to k. . Is determined for each piezoelectric element to be driven.
  • a predetermined set of data is adapted to the above equation (13) using the least squares method in the same manner as in the above-described embodiment, and the coefficients k 22 to k 00 are determined.
  • the approximate expression (13) is determined.
  • the amount of displacement per unit voltage of 100 V calculated by the approximation formula (13) using the above coefficients is G in the table of FIG.
  • the difference between Gm and G in the table of Fig. 9 is the error when using the approximate expression (13).
  • the error expressed in% is shown at the right end of the table. With maximum error Is 1.3%, which is a very good approximation.
  • the coefficient k 22 obtained from the equation (13) and the data of FIG. the calculated values of k 00 is stored.
  • a linear expression was used as an approximate expression
  • a quadratic expression was used.
  • the linear equation of the first embodiment is applied
  • the quadratic equation of the second embodiment is applied.
  • An approximation formula can be selected and used according to the accuracy required.
  • a third-order or higher-order approximation formula can be similarly set and applied.
  • the voltage range to be applied is As described above, the center voltage, which is the center value of the applied voltage range, is used as the reference voltage for specifying the voltage. However, as described above, instead of the center voltage, another voltage having a predetermined relationship with the applied voltage range is used. Can be used. Examples of other voltages include a minimum voltage value and a maximum voltage value in the applied voltage range, or a voltage value other than the center voltage in the applied voltage range. In the case where a voltage other than the center voltage is used as the reference voltage, in the above-described embodiment, for example, although the approximate structure of the approximate expression (7) is the same, the values of the coefficients a to d are It is appropriately determined according to the voltage selected as the voltage. The same applies to the embodiment of the quadratic equation.
  • the amplitude ⁇ of the applied voltage range and the reference voltage V When a voltage other than the center voltage is used as the reference voltage, the amplitude ⁇ of the applied voltage range and the reference voltage V.
  • the equation for calculating the applied voltage Vm i ⁇ , V m a ⁇ ⁇ from equation (1) is different from equation (1).
  • the minimum voltage value Vmin of the applied voltage range is the reference voltage V.
  • V m i n V o
  • V max V o + AV
  • the maximum voltage value Vmax of the applied voltage range is the reference voltage V.
  • Vm i n V o-AV
  • V max V o
  • the reference voltage V is a voltage value other than the center voltage within the applied voltage range.
  • the amplitude ⁇ V of the applied voltage range is the reference voltage V. If the voltage width divided at the position is a and b, the applied voltage range is Vmin to Vmax and the reference voltage V.
  • Vmin, Vmax can be calculated using the following equations.
  • V min V o- ⁇ V ⁇ a Z (a + b) ⁇
  • V max V o + ⁇ V ⁇ b / (a + b) ⁇
  • the reference voltage for specifying the applied voltage range can be arbitrarily determined as long as it has a predetermined relationship with the applied voltage range.
  • FIG. 12 illustrates application examples of the scanning tunneling microscope using the driving device of the piezoelectric element of the present invention.
  • the tip of the probe 11 is vertically arranged with the tip thereof facing the measurement surface of the sample 12.
  • the probe 11 is fixed to a three-dimensional piezoelectric actuator 13.
  • the actuator 13 has piezoelectric elements 13a, 13b, 13c in the X, ⁇ , and Z directions.
  • the probe 21 is attached to a vertical intersection of three piezoelectric elements 13a to 13c.
  • the piezoelectric elements 13 a and 13 b are actuators for causing the probe 21 to perform XY scanning (planar scanning) along the surface of the sample 12.
  • the piezoelectric element 13 c is a Z-direction actuator for adjusting the distance (height) between the probe 11 and the surface of the sample 12 by changing the position of the probe in the Z direction.
  • a power supply 14 is connected between the probe 11 and the sample 12, and when the probe 11 approaches the surface of the sample 12 at a distance about the size of an atom, a tunnel is formed between the two. Electric current flows. This phenomenon is based on the tunnel effect caused by the quantum effect. Adjustment of the distance between the probe 11 and the surface of the sample 12 is performed by the above-described expansion and contraction operation of the piezoelectric element 13c. The amount of expansion and contraction of the piezoelectric element 13c is determined by the voltage applied to the piezoelectric element 13c. The voltage applied to the piezoelectric element 13 c is provided from a servo circuit 15.
  • the distance between the probe 11 and the sample 12 is first set to a fixed distance (based on the magnitude of the tunnel current), and the probe 11 is set.
  • the piezoelectric element 13c is servo-controlled so that the distance between the probe 11 and the sample 12 is kept at the above-mentioned constant distance. In this way, the probe 11 moves along the atomic level irregularities on the surface of the sample 12, and the concave and convex shape of the sample surface is determined based on the control data for moving the probe 11. Can be measured.
  • the above tunnel current is detected by the tunnel current. Detected by the distance conversion circuit 16 and amplified.
  • Tunnel current detection • Distance conversion circuit 16 has the function of converting this current value to distance (voltage value).
  • the signal output from tunnel current detection / distance conversion circuit 16 is sent to the servo circuit 15 Given.
  • the servo circuit 15 sets a voltage that determines the movement of the probe 11 so that the output signal of the tunnel current detection / distance conversion circuit 16 becomes a predetermined constant value, and applies a voltage to the piezoelectric element 13 c. Supply.
  • the operation of the piezoelectric elements 13 a and 13 b for scanning the probe 11 is controlled by the XY scanning circuit 17.
  • Control data is supplied to and stored in the memory 18.
  • the control data for performing the measurement operation of the probe 11 stored in the memory 18 becomes the measurement data directly representing the uneven shape of the sample surface.
  • the measurement data is processed overnight in the signal processing circuit 19, and the image of the measured sample surface is displayed on the screen of the display device 20 based on the image data created thereby.
  • the expansion and contraction of each of the piezoelectric elements 13a and 13b is controlled by predetermined evening. Scanning by the expansion and contraction of the piezoelectric elements 13 a and 13 b is performed based on the drive voltage given from the XY scanning circuit 17. XY run The drive voltage from the check circuit 17 is generated based on the command signals S x and S y given from the computer 21.
  • the computer 21 has an input unit 21A corresponding to the input device 3 shown in FIG. 3 and an arithmetic unit 21B corresponding to the arithmetic unit 4, and each of the piezoelectric elements 13a and 13b has On the other hand, input the target displacements ⁇ X, ⁇ v and the reference voltages v xo , V Y0 for the applied voltage range, and set the minimum values V xmin, V ymin and the maximum values V xmax, V ymax of the applied voltage.
  • the input unit 2 1 A target displacement to the piezoelectric element 1 3 a is delta X and the reference voltage V x. And a function of inputting a target displacement ⁇ Y and a reference voltage VY0 with respect to the piezoelectric element 13b.
  • the calculation unit 21 B includes the above-described approximate expression (8) and the relational expression for the piezoelectric element 13 a.
  • the arithmetic unit 21B uses the input target displacement ⁇ ⁇ , the center voltage Vxo, the approximate expression (8) and the relational expression (2) to calculate the piezoelectric displacement.
  • the amplitude AVx of the voltage range to be applied to the element 13a is calculated, and from the calculated amplitude AVx and the center voltage V ⁇ , the above equation (1) is used to calculate the applied voltage applied to the piezoelectric element 13a .
  • the minimum value V xmin and the maximum value V xmax are calculated, and the corresponding command signal SX is output to the XY scanning circuit 17.
  • the arithmetic unit 21B calculates the input target displacement amount ⁇ Y, the center voltage VY0 , the approximate expression (10), and the relational expression.
  • the amplitude ⁇ Vy of the voltage range to be applied to the piezoelectric element 13b is calculated using (2), and the calculated amplitude AVy and the center voltage VY0 are used to calculate the piezoelectricity using the above equation (1).
  • the X ⁇ scanning circuit 17 outputs a drive voltage based on the command signals S X and S y so as to scan the probe 11 in a plane as shown in FIG.
  • the voltage between the minimum value V xmin and the maximum value V xm a.x of the applied voltage is divided into, for example, 200 to 500, and the corresponding voltage value is obtained.
  • a voltage gradually decreasing from xmax to Vxmin is applied to the piezoelectric element 13a.
  • the piezoelectric element 13a generates a displacement corresponding to each point from 2000 to 500 from Vxmax to Vxmin, and scans the probe 11 to the corresponding position.
  • the servo circuit 15 stores the control data in the Z direction in the memory 18 as described above at each point from 200 to 500 from Vxmax to Vxmin. Obtain measurement data representing the uneven shape of the sample surface.
  • the interval between the minimum value V ymin and the maximum value V ymax of the applied voltage is equally divided into, for example, 200 to 500, and the corresponding voltage value is obtained.
  • a voltage gradually increasing to Vymax is applied to the piezoelectric element 13b.
  • the piezoelectric element 13 b generates a displacement corresponding to each point from 200 to 500 from V ymin to V ymax, and scans the probe 11 to the corresponding position.
  • the timing of voltage application is controlled so as to be applied when the drive voltage for the piezoelectric element 13a becomes the minimum value VXmin.
  • a measurement data between VXmax and Vxmin is obtained at each point of 200 to 500 of Vymax from Vymax, and the entire plane area defined by the target displacements ⁇ X and ⁇ Y is obtained. You will get an overnight measurement.
  • planar area target displacement delta X and delta Y stipulated reference voltage V xo, because determined by the V Y0, reference voltage V xo, other by changing the V Y0 By scanning a flat area, measurement data can be obtained.
  • an approximate expression in which the displacement characteristic of the piezoelectric element is considered in advance is prepared in the driving device for the piezoelectric element, and the applied voltage is determined using the approximate expression. Therefore, an error generated due to the displacement characteristics of the piezoelectric element having a different displacement amount according to the applied voltage range is reduced, and a highly accurate displacement can be generated.
  • high-precision measurement data can be obtained in the fine movement mechanism of the scanning probe microscope, in which it is difficult to secure extra space for installing the displacement measuring device.

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Description

圧電素子の駆動方法及び装置並びに微動機構の制御装置 技術分野
本発明は圧電素子の駆動方明法及び装置並びに微動機構の制御装 置に係わり、 特に、 走査型ト ンネル顕微鏡のような走査型プロ一
プ顕微鏡のプロ一プの位置を微小に変化させる微動機構に適用さ 書
れ、 変位発生用の圧電ァクチェェ一夕と して利用される圧電素子 の駆動方法及び装置並びにその微動機構の制御装置に関する。 背景技術
従来、 走査型プローブ顕微鏡の代表例である走査型ト ンネル顕 微鏡では、 試料面の原子レベルの凹凸形状を探針を用いて測定す るため、 圧電素子を利用して構成された微動機構を備える。 この 微動機構は、 探針を圧電素子の伸縮作用を利用して微小に位置制 御するように構成される。 探針の微動機構と して、 トライポッ ド 形式を有するものでは、 探針と試料面との間の距離を調整するた めの圧電素子 ( z軸用) と、 試料面における測定対象領域にて探 針をスキヤ ン動作させるための 2つの圧電素子 ( 軸用及び丫軸 用) との合計 3つの圧電素子を備えている。 これらの圧電素子で は、 電圧を印加することによりその長手方向に伸長動作を生じ、 印加電圧を調整するこ とにより、 その長さを変化させ、 必要とさ れる変位を発生するこ とができる。
このよ うな走査型 ト ンネル顕微鏡の微動機構において、 探針を スキヤ ン動作させるための 2つの圧電素子のそれぞれに電圧を印 加して圧電素子を伸長させる場合には、 普通、 0〜 1 0 0 Vの使 用可能な電圧範囲の変位量を、 スキヤ ン範囲に対応した部分電圧 範囲に応じて比例配分するこ とにより その部分電圧範囲で生じ る変位量を推定し、 この推定の下にその部分電圧範囲で圧電素子 を駆動している。
一方、 半導体の微動位置決め装置等の比較的スペースの確保し やすい装置に用いる微動機構では、 例えば特開平 1 — 1 7 4 9 0 5号公報に記載のように、 精度の高い変位を発生させる制御を行 うため、 別個に実際の変位量を測定するための変位測定装置を設 けている。 この変位測定装置と しては、 通常、 レーザ変位計、 静 電容量式変位計、 ひずみゲージ等を用いる。 発明の開示
しかしながら、 従来の微動機構における圧電素子の駆動方法に おいては次のような問題がある。
まず、 圧電素子における印加電圧と発生変位との関係について 説明する。 図 1 と図 2は、 それぞれ圧電素子における印加電圧と 発生変位の関係の一例を示す。 図 1 と図 2 は同一の圧電素子につ いての変位特性を示している。 図 1では印加電圧の範囲を 0〜 1 0 0 Vと し、 図 2では印加電圧の範囲を 8 0〜 1 0 0 Vと してい る。 図 1 の変位特性では 1 0 0 Vの電位差で変位量は 1 4 . 3 μ mであるのに対し、 図 2の変位特性では 2 0 Vの電位差で変位量 は 1 . 9 mである。 これらの変位特性を 2 0 V当りの変位量に 換算して比較する と、 図 1 の変位特性では 2 . 8 6 β / 2 0 図 2の変位特性では 1 . 9 m / 2 0 Vであり、, 同一圧電素子で あるにも係わらず、 印加電圧の範囲に応じて圧電素子の単位電圧 あたりの変位量が大いに相違するという特性を有している。
前述したように、 従来は、 電圧を印加して圧電素子を伸長させ る場合、 通常、 0〜 1 0 0 Vの印加電圧範囲の変位量を、 それぞ れの部分電圧範囲に応じて比例配分するこ とによ りその部分電圧 範囲での変位量を推定し、 その部分電圧範囲で駆動する。 例えば 図 1 と図 2の例で説明すれば、 0〜 1 0 0 Vにおいて 1 4. 3 β m変位したので、 8 0〜 1 0 0 Vでは単純に 2 0 V分の変化であ ると想定し、 1 4. 3/5 = 2. 8 6 ^ mの変位が生じると考え て、 その電圧範囲 (8 0〜 1 0 0 V) で駆動する。 しかしながら、 8 0〜 1 0 0 Vの電圧範囲では図 2で明らかなように、 実際には 1. 9 mしか変位しないのであるから、 このこ とは、
( 1一 1. 9/2. 8 6 ) X 1 0 0 = 3 3 %
の誤差が生じることを意味する。
上記の如く圧電素子は、 印加される電圧の範囲に応じて単位電 圧当りの変位量が大き く異なる。 そのため、 最大の変位範囲を発 生する電圧範囲に対応させて得た変位特性に基づき、 印加電圧範 囲と変位範囲との関係に対して単純に比例関係を当てはめ、 その 一部の印加電圧範囲に対応する変位範囲を想定して伸長のための 駆動を行う と、 大きな誤差が発生する。
上記の如き変位特性を有する圧電素子を利用して構成される微 動機構では、 圧電素子に印加される電圧のみを制御データと して 駆動制御を行う と、 誤差が大き く発生するので、 精度の高い変位 を発生させる制御を行う微動機構では、 前述したように、 別個に 実際の変位量を測定するためのレーザ変位計、 静電容量式変位計、 ひずみゲージ等の変位測定装置を設けている。 しかし、 このよ う な変位測定装置を備えると、 いずれの場合も装置が高価になり 更に、 変位測定装置を備えるための余分なスペースを必要と し、 装置が全体的に大き く なると共に、 走査型プローブ顕微鏡の微動 機構ではそのようなスペースが確保できず、 適用できない。 本発明の目的は、 変位を発生させる印加電圧を適切に設定する こ とにより、 特別な変位測定装置を用いることなく精度の高い変 位を発生させることを可能とする圧電素子の駆動方法及び装置並 びに微動機構の制御装置を提供することにある。
上記目的を達成するため、 本発明によれば、 目標変位量に応じ て圧電素子に印加する電圧範囲の振幅を設定し、 その印加電圧範 囲の振幅に応じて前記圧電素子に電圧を印加し、 前記目標変位量 を生じさせる圧電素子の駆動方法において、 ( a ) 前記圧電素子 に対して、 前記印加電圧範囲の振幅と、 前記印加電圧範囲に関す る基準電圧と、 前記圧電素子の単位電圧あたりの変位量との関係 を表わす近似式を設定すること ; (b ) 前記目標変位量と前記基 準電圧を入力し、 前記近似式を用いることにより、 その基準電圧 において前記目標変位量を発生させる印加電圧範囲の振幅を求め ること ; ( c ) この求めた印加電圧範囲の振幅と前記入力された 基準電圧とから前記目標変位量を発生するための印加電圧範囲を 決定するこ と ; ( d ) この決定された印加電圧範囲に基づき前記 圧電素子に電圧を印加すること ; を特徴とする圧電素子の駆動方 法が提供される。
以上のように構成した本発明においては、 目標変位量及び基準 電圧を入力し、 上記のように近似式を用いて目標変位量を発生す るための印加電圧範囲を決定し、 圧電素子に電圧を印加すること により、 近似式は予め使用する圧電素子の変位特性を考慮にいれ て設定されているので、 印加電圧範囲に応じて変位量が異なる圧 電素子の変位特性に起因して発生する誤差が低減し、 特別な変位 測定装置を用いるこ となく精度の高い変位を発生させることが可 能となる。 また、 目標変位量の入力と併せて、 印加電圧範囲に関 する基準電圧を入力することにより、 圧電素子の使用可能な電圧 範囲のどの場所を使用するかが選択できる。
上記駆動方法において、 好ま しく は、 前記手順 (a) で設定さ れる近似式は 前記印加電圧範囲の振幅と前記基準電圧と前記単 位電圧あたりの変位量との一次関数である。 好ま し く は、 前記印 加電圧範囲の振幅を A V、 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あ たりの変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決定され る係数を a, b , c , dとするとき、 前記手順 (a) で設定され る近似式は、
G = a V 0 厶 V + b V。 + c Δ V + d
で表わされる。
また、 上記駆動方法において、 好ま しく は、 前記手順 ( a ) で 設定される近似式は、 前記印加電圧範囲の振幅と前記基準電圧と 前記単位電圧あたりの変位量との二次関数である。 好ま しく は、 前記印加電圧範囲の振幅を Δν、 前記基準電圧を V。 、 前記単位 電圧あたりの変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決 定される係数を、 k 22, k 21, k 20, k 12, k n, k 10, k 02, k o i, k 00とするとき、 前記手順 (a ) で設定される近似式は、
G = k 22 V 0 2 Δ V 2 + k 21 V 0 2 Δ V + k 20 V o 2
+ k 12 V o 厶 V2 + k n V o 厶 V + k 10V0
+ k 02厶 V2 + k 01厶 V + k 00
で表わされる。
上記の近似式において、 シンプルな近似を行う場合には 1次式 を適用し、 より厳密な近似を行う場合には 2次式を適用し、 それ ぞれ、 要求される精度に応じて近似式を選択し、 利用する。
また、 上記駆動方法において、 好ま しく は、 前記基準電圧は、 前記印加電圧範囲の振幅の中心に位置する電圧値である。 前記基 準電圧は、 前記印加電圧範囲の振幅の最大電圧値あるいは最小電 圧値であつてもよい。
更に、 上記駆動方法において、 好ま し く は、 前記目標変位量と、 前記印加電圧範囲の振幅と、 前記単位電圧あたりの変位量との第
1の関係式を更に設定し、 前記手順 (b ) では、 前記入力された 目標変位量及び基準電圧と、 前記近似式と、 この第 1の関係式と から、 その基準電圧において前記目標変位量を発生させる印加電 圧範囲の振幅を求める。 この場合、 前記目標変位量を Δ Χ、 前記 印加電圧範囲の振幅を Δ V、 前記単位電圧あたりの変位量を Gと し、 その単位電圧を Αとするとき、 前記第 1の関係式は、
G = Δ X (AZA V)
で表わされる。
また、 上記駆動方法において、 好ま しく は、 前記印加電圧範囲 の振幅と前記基準電圧とから前記目標変位量を発生する印加電圧 範囲を決定するための第 2の関係式を更に設定し、 前記手順 ( c ) では、 前記近似式を用いて求めた前記印加電圧範囲の振幅と、 前 記入力された基準電圧と、 前記第 2の関係式とから前記目標変位 量を発生するための印加電圧範囲を決定する。 この場合、 前記印 加電圧範囲の振幅を Δν、 前記基準電圧を V。 、 前記目標変位量 を発生するための印加電圧範囲の最小値及び最大値を Vm i n, Vm a x とするとき、 前記第 2の関係式は、
V m i n = V o 一 (Δ V/ 2 )
V m a χ = V ο + (厶 VZ 2 )
で表わされる。
また上記目的を達成するため、 本発明によれば、 目標変位量に 応じて圧電素子に印加する電圧範囲の振幅を設定し、 その印加電 圧範囲の振幅に応じて前記圧電素子に電圧を印加し、 前記目標変 位量を生じさせる圧電素子の駆動装置において、 ( a ) 前記目標 変位量と、 前記印加電圧範囲に関する基準電圧とを入力する入力 手段と ; (b) 前記圧電素子に対して、 前記印加電圧範囲の振幅 と、 前記基準電圧と、 前記圧電素子の単位電圧あたりの変位量と の関係を表わす近似式を記憶したメ モ リ手段と ; ( c ) 前記入力 手段により入力された前記目標変位量及び基準電圧と、 前記近似 式とを用い、 その基準電圧において前記目標変位量を発生させる 印加電圧範囲の振幅を求め、 この求めた印加電圧範囲の振幅と前 記入力された基準電圧とから前記目標変位量を発生するための印 加電圧範囲を決定する演算手段と ; (d) この決定された印加電 圧範囲に基づいて前記圧電素子に電圧を印加する電圧発生手段と ; を備えることを特徴とする圧電素子の駆動装置が提供される。
上記駆動装置において、 好ま しく は、 前記印加電圧範囲の振幅 を AV、 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あたりの変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決定される係数を a, b , c, dとするとき、 前記メ モ リ手段に記憶される近似式は、
G = a V 0 Δ V + b V 0 + c Δ V + d '
で表わされる。
また、 好ま しく は、 前記印加電圧範囲の振幅を Δ V、 前記基準 電圧を V。 、 前記単位電圧あたりの変位量を G、 前記圧電素子の 変位特性に依存して決定される係数を、 k 22, k 21, k 20, k 12, k n, k 10, k 02, k o i, k 0。とするとき、 前記メ モ リ手段に記 憶される近似式は、
G = k 22 V 0 2 Δ V 2 + k 21 V 0 2 Δ V + k 20 V 0 2
+ k i 2Vo 厶 V2 + k n V o Δ V + k 10 V o
+ k o 2 Δ V 2 + k οιΔ V + k oo
で表わされる。
更に上記駆動装置において、 好ま しく は、 前記メモリ手段は、 前記目標変位量と、 前記印加電圧範囲の振幅と、 前記単位電圧あ たりの変位量との第 1の関係式を更に記憶しており、 前記演算手 段は、 前記入力された目標変位量及び基準電圧と、 前記近似式と、 この第 1の関係式とから、 その基準電圧において前記目標変位量 を発生させる印加電圧範囲の振幅を計算する。 この場合、 前記目 標変位量を Δ Χ、 前記印加電圧範囲の振幅を Δ V、 前記単位電圧 あたりの変位量を Gと し、 その単位電圧を Αとするとき、 前記メ モリ手段に記憶される第 1の関係式は、
G =厶 X ( A / Δ V )
で表わされる。
また、 上記駆動装置において、 好ま しく は、 前記メ モリ手段は、 前記印加電圧範囲の振幅と前記基準電圧とから前記目標変位量を 発生する印加電圧範囲を決定するための第 2の関係式を更に記憶 しており、 前記演算手段は、 前記近似式を用いて求めた前記印加 電圧範囲の振幅と、 前記入力された基準電圧と、 前記第 2の関係 式とから前記目標変位量を発生するための印加電圧範囲を決定す る。 この場合、 前記印加電圧範囲の振幅を Δ ν、 前記基準電圧を V o 、 前記目標変位量を発生するための印加電圧範囲の最小値及 び最大値を V m i n, V m a X とするとき、 前記前記メモリ手段 に記憶される第 2の関係式は、
V m i n = V 0 一 ( Δ V / 2 )
V m a χ = V ο + ( Δ V / 2 )
で表わされる。
更に、 上記目的を達成するため、 本発明によれば、 プロ一プを 試料の表面に沿ってスキヤ ン動作させるァクチユエ一夕と して 2 つの圧電素子を備え、 前記 2つの圧電素子が相互に直交するよう 構成された微動機構の制御装置において、 前記 2つの圧電素子の それぞれに対して上記の駆動装置を設けたことを特徵とする微動 機構の制御装置が提供される。 図面の簡単な説明
図 1 は、 0— 1 0 0 Vにおける圧電素子の変位特性を示す図で あ o
図 2は、 8 0— 1 0 0 Vにおける圧電素子の変位特性を示す図 る。
図 3は、 本発明の第 1の実施例に係わる圧電素子の駆動方法を 実施する駆動駆動を示す概略図である。
図 4は、 目標変位量厶 X、 印加電圧範囲の中心電圧 V。 、 印加 電圧範囲の振幅 Δ V及び単位電圧当たりの変位量 Gの関係を示す 図である。
図 5は、 各種の印加電圧範囲について測定した変位データを表 形式で示す図である。
図 6は、 上記第 1 の実施例に係わる近似式を最小二乗法を用い て求めるのに使用する行列である。
図 7は、 同様に近似式を求めるための行列代数である。
図 8は、 近似式の特性を印加電圧範囲を異ならせて描いた図で め O
図 9は、 本発明の第 2の実施例に係わる圧電素子の駆動方法に おいて、 近似式を決定するのに用いる変位データを表形式で示す 図である
図 1 0は、 第 2の実施例に係わる近似式を最小二乗法を用いて 求めるのに使用する行列である o
図 1 1 は、 同様に近似式を求めるための行列代数である。
図 1 2は、 本発明の圧電素子の駆動装置を適用した走査型ト ン ネル顕微鏡における微動機構の制御装置の概略図である。
図 1 3は、 図 1 2 に示す制御装置により制御された走査領域と 印加電圧との関係を示す図である。 発明を実施するための最良の形態 以下、 本発明の実施例を添付図面に基づいて説明する。
まず、 本発明の第 1の実施例に係る圧電素子の駆動方法及び装 置を図 3〜図 6により説明する。
図 3において、 1 は駆動対象である圧電素子で、 圧電素子 1 は 積層構造で長形に形成され、 電圧発生器 2から印加される電圧に より長手方向 Xの長さを変え、 変位を発生させる。 電圧発生器 2 から圧電素子 1 に印加される電圧の大きさは、 入力装置 3により 入力される目標変位量 Δ Xと印加電圧範囲に関する基準電圧 V。 に応じて決定される。 本実施例では、 その基準電圧 V。 と して印 加電圧範囲の中心に位置する電圧値 (以下、 印加電圧範囲の中心 電圧という) を用いる。 入力装置 3により入力された目標変位量 厶 Xと印加電圧範囲の中心電圧 V。 は演算装置 4に送られ、 ここ で目標変位量 Δ Xを発生するための印加電圧を計算し、 対応する 指令信号 Sを電圧発生器 2に出力する。 入力装置 3 は、 例えば操 作者がキー操作で入力するキ—ボー ドであってもよいし、 外部か ら供給される信号を入力するイ ンタ一フヱ一スであってもよい。 次に、 演算装置 4における計算の考え方を説明する。 圧電素子 1 において、 目標とする変位量を発生するためには、 その目標変 位量に対応する駆動電圧を圧電素子 1 に印加する必要がある。 し かし、 圧電素子 1 に発生する変位量は印加電圧の範囲に応じて異 なるので、 大きな印加電圧範囲によって得られた変位特性を単純 に比例配分して、 印加電圧を決めるこ とはできない。 そこで本実 施例では、 上記の目標変位量 Δ Χの入力と併せて、 印加電圧範囲 の中心電圧 V。 を入力する。 この場合、 中心電圧 V。 は圧電素子 1の使用可能な電圧範囲のどの場所を使用するかを決めるための 基準電圧となる。 なお、 この基準電圧と しては、 印加電圧範囲を 特定することが可能であれば 後述する如く、 印加電圧範囲の中 心に位置する電圧値の代わりに他の位置に存する電圧値を用いる こ とができる。
また、 圧電素子 1の印加電圧範囲の振幅を Δ V、 圧電素子 1の 単位電圧当たりの変位量を Gと したとき、 その印加電圧範囲の振 幅厶 Vと印加電圧範囲の中心電圧 V。 と単位電圧あたりの変位量 Gとの関係を表わす近似式を予め求めておく。 この近似式につい ては後述する。
こ こで、 目標変位量 Δ Χ、 印加電圧範囲の中心電圧 V。 、 印加 電圧範囲の振幅 Δ V、 単位電圧当たりの変位量 Gの関係について 図 4により説明する。 図 4において、 圧電素子 1の使用可能な電 圧範囲を 0〜 1 0 0 Vと したとき、 圧電素子 1は 0〜: L 0 0 Vの 使用可能な電圧範囲でスキヤ ンするとループ R。 のよ うに変位す る。 目標変位量 Δ X及び中心電圧 V。 は入力装置 3により与えら れる値であり、 中心電圧 V。 は、 圧電素子 1の使用可能な電圧範 囲 0〜 1 0 0 Vのどの場所を使用するかを決めるための基準電圧 となる。 V。 を中心と して Δνの振幅で電圧を変化させると、 圧 電素子はループ Ri のよ うな変位特性を示し、 目標変位量 Δ Χだ け圧電素子 1が変位する。 このときの印加電圧範囲の最小値 Vm i n及び最大値 V m a xはそれぞれ -.
V m i n = V o 一 (厶 VZ2 )
V m a. X = V。 + ( Δ V / 2 ) … ( 1 ) で表される。 上記振幅 Δνは、 この印加電圧範囲の最小値 Vm i nと最大値 Vm a xの差 (Vm i n—Vm a x) に相当する。 ま す" 単位電圧あたりの変位量 Gは、 単位電圧を Aとすると、
G = Δ X ( A / Δ V ) … ( 2 ) で表され、 これは図 2のループ の A点と B点を結んだ直線の 傾きに対応する。
したがつて、 印加電圧範囲の振幅 Δ Vと印加電圧範囲の中心電 圧 V。 と単位電圧あたりの変位量 Δ Gとの関係を表わす近似式が 予め設定してあれば、 目標変位量 X及び中心電圧 V。 が既知であ るので、 その近似式と上記 (2) 式とにより印加電圧範囲の振幅 厶 Vが求ま り、 この振幅 AVと既知の中心電圧 V。 と上記 (1 ) 式とから印加電圧範囲の最小値 Vm i nと最大値 Vm a x、 即ち 目標変位量 Δ Xを発生するための印加電圧範囲が求まる。
以上の考えに基づき、 演算装置 4の内部メ モリ には、 予め圧電 素子 1に関して、 その印加電圧範囲の振幅 Δνと当該印加電圧範 囲の中心電圧 V。 と単位電圧あたりの変位量 Gとの関係について の近似式と、 単位電圧あたりの変位量 Gと目標変位量 Δ Xと印加 電圧範囲の振幅 Δ Vと単位電圧 Αとの関係式である上記 (2) 式 と、 印加電圧範囲 Δνと印加電圧範囲の中心電圧 V。 と圧電素子 1に与える印加電圧との関係式である上記 ( 1 ) 式が予め記憶さ れている。
演算装置 4は、 入力装置 3から入力される目標変位量 Δ Xと中 心電圧 V。 の各データを入力し、 記憶した近似式と上記 (2) 式 とを用いて圧電素子 1に印加すべき電圧範囲の振幅 AVを算出し、 この算出された振幅 AVと中心電圧 V。 とから上記 (1 ) 式を用 いて圧電素子 1に与える印加電圧範囲 Vm i n, Vm a xを計算 し、 対応する指令信号 Sを電圧発生器 2に出力する。 電圧発生器 2は指令信号 Sに基づいて前記計算された電圧範囲 Vm i n, V 3
m a xに対応する電圧を圧電素子 1に印加する。 こ う して、 圧電 素子 1では、 目標変位量 Δ Χに応じた変位が生じる。
次に、 演算装置 4に予め記憶される近似式について説明する。 最初に 1次式に基づいて作られる近似式を説明する。 圧電素子 1の印加電圧の範囲をいろいろ変えるこ とにより印加電圧範囲の 中心電圧 V。 と印加電圧範囲の振幅 Δ Vを変え、 そのときに圧電 素子に生じた変位を測定し、 その変位の測定値を単位電圧 2 0 V と して単位電圧あたりの変位量に換算すると、 図 5に示すデ一夕 が得られた。 図 5において、 左端の縦方向には例えば 1〜 1 4の データ番号が記載され、 上端の横方向には印加電圧範囲 (V : ポ ルト) 、 この印加電圧範囲の中心電圧 V。 (V) 、 印加電圧範囲 の振幅 Δ ν (V) 、 単位電圧 (2 0 V) あたりの変位量の換算値 Gm { ΧΆ/2 0 V) の各項目が記載されている。 本実施例では、 この図 5に示されたデータを用いて 1次式の近似式を求める。
印加電圧範囲の中心電圧 V。 と振幅 Δνを変数と して、 単位電 圧あたりの変位量 Gを決定する近似式を、 1次式に基づく式で求 める。 先ず、 Δ νと Gを関係づけ、 単純な 1次式で近似し、
G = k! · Δ V + k 2 … ( 3 ) とする。 こ こで , k 2 は V。 によって変化する値であるので、 k! , k 2 をそれぞれ、 更に 1次式で近似すると、
k! = k 3 V 0 + k 4 … (4)
2 = k 5 V 0 + k 6 … ( 5) とおく こ とができる。 上記の ( 3 ) (5) 式によって単位電圧 あたりの変位量 Gは、
G = V 0 Δ V + k V 0 + k 4 Δ V + k 6 s e
(6) となる (6) 式における係数 k 3 , k 5 , k 4 , k 6 をそれぞれ a, b , c , dと書き換える と、
G = a V 0 厶 V + b V0 + c Δ V + d … ( 7 ) となる。
上記の如く単位電圧あたりの変位量 Gは、 中心電圧 V。 と電圧 振幅 を関係づけた近似式で求めるこ とができる。 この近似式 において、 係数 a , b, c , dは駆動対象である圧電素子ごとに 決定される。 この実施例の場合、 圧電素子 1について得た図 5の 1 4組のデータを、 最小二乗法を用いて上記 (7) 式に適合させ、 係数 a, b, c, dを決定する。 このよ うに して、 近似式 (7) が確定する。
上記最小二乗法は周知の演算方法であるが、 以下に当該演算方 法を概説する。
今、 ( X i. y i, z i ) [ただし i = 1… ! l] 、 という n組のデ —夕で z = a x y + b x + c y + dの式を近似すると仮定し、 図 6に示す行列を得る。 この行列において、 加算記号を表す∑は、 i に関し l〜nまでの加算を行う ものとする。
上記行列の逆行列①—1を求めると、 a〜 dは、 図 7に示す式で 求めることができる。 この行列代数において、 X し y z i をそ れぞれ図 5の印加電圧範囲の中心電圧 V。 、 印加電圧範囲の振幅 △ V、 単位電圧あたりの変位量 Gmに対応させ、 具体的にデータ を入れて計算すると、 前記近似式 ( 7 ) の係数 a , b , c, dを 求めるこ とができる。
実際に、 図 5の表に示された 1 4組のデータを用いて前記の計 算手順に基づいて係数 a, b , c, dを計算すると、 前記近似式 ( 7 ) は、
G = - 0 , 000165 Vo 厶 V— 0.00442 V0 + 0.0175 Δ V + 2.24 … ( 8 ) と して求められる。 この式は圧電素子 1の変位を制御するために 使用される近似式で、 この近似式が演算装置 4の内部メモリ に袼 納されている。
図 8には、 前記近似式 ( 8 ) による近似の結果を、 それぞれ中 心電圧を与えてグラフ形式で示す。 図 8の各図において横軸は印 加電圧範囲の振幅 Δ Vであり、 縦軸は単位電圧あたりの変位量 G である。 図 8において、 ( A ) は中心電圧 V。 が 5 0 Vである場 合のグラフであり、 この時、 近似式は、 V。 == 5 0 Vと して、 G = 0. 00925 Δ ν + 2. 019 で与えられる。 図 8中、 直線が上記近似 式を表す直線ダラフであり、 X印でプロッ ト した点は図 5の表の データ値をそのままプロ ッ ト したものである。 図 8 (Α) で明ら かなように、 直線は実際のデータに非常に良く近似されている。 同様にして、 図 8 ( Β) は中心電圧 V。 が 2 0 Vの場合を示し、 図 8 ( C) は中心電圧 V。 が 8 0 Vの場合を示す。 これらの場合 でも、 それぞれの中心電圧 V。 の値を代入して決定された近似式 は、 プロッ トされた測定データを高い精度で近似している。 近似 式 ( 8 ) と図 5の表で示された各電圧範囲における実際のデータ との誤差は、 最大でも 4 %である。 従って従来の誤差と比較する と、 極めて小さい誤差となり、 その効果は顕著である。
以上の如く、 演算装置 4の内部には、 圧電素子 1の変位を制御 するための近似式 ( 8 ) が用意されている。 演算装置 4は、 入力 装置 3から目標変位量 Δ Xと中心電圧 V。 を与えられると、 その V 0 を中心電圧と して目標変位量 Δ Χを生じる電圧振幅 を、 前記 ( 8 ) 式を変形して得られる、
Δ V = (G + 0. 00442 V。 一 2. 24 ) / (- 0. 000165 V 0 + 0. 0Π5)
… ( 9 ) と、 前記 (2) 式とから求める。 そして、 この電圧範囲の振幅 Δ Vと上記の与えられた基準電圧 V。 とから、 前記 ( 1 ) 式及び ( 2 ) 式を用いて目標変位量 Δ Xを発生するための印加電圧 Vm i n及びVm a xを求める。 このように演算装置 4は、 目標変位 量 Δ Χと中心電圧 V。 が与えられると、 電圧範囲の振幅 AVを算 出し、 更にこの電圧範囲の振幅と入力された基準電圧 V。 とから 目標変位量 Δ Xを発生するための印加電圧範囲 Vm i n及び Vm a x決定し、 この電圧範囲に対応する電圧を圧電素子 1に印加し て圧電素子 1を駆動し、 目標とする変位量 Δ Xを発生させる。
なお、 上記実施例では、 演算装置 4の内部メ モ リ に近似式と し て上記 (8) 式を記憶したが、 その一般式である上記 (7) 式を 記憶し、 a, b, c, dの係数を別途計算して入力してもよい。 また、 上記 (8) 式に代え、 その式を変形した上記 (9) 式を記 憶しておいてもよいし、 その式の一般化した、
AV= ( G - b V 0 - d ) / ( a V o + c ) … (1 0) を記憶してもよい。 また、 同様に、 上記 (2) 式についても、 そ の式を変形した、
A X = G (A V/A) - (1 1 ) の形で記憶しておいてもよい。
本実施例によれば、 圧電素子 1の駆動装置に予め当該圧電素子 1の変位特性を考慮にいれた近似式を用意してこの近似式を用い て印加電圧を決定するので、 印加電圧範囲に応じて変位量が異な る圧電素子の変位特性に起因して発生する誤差が低減し、 精度の 高い変位を発生させることが可能となる。 また、 レーザ変位計等 の高価な変位測定装置を別個に設ける必要がなく なり、 安価で且 つ精度の高い微動機構を実現することができる。
本発明の第 2の実施例に係わる圧電素子の駆動方法及び装置を 図 9により説明する。 本実施例は、 近似式と して 2次式を用いる ものである。
第 1の実施例の場合と同様に、 印加電圧範囲の中心電圧 V。 と 振幅 を変数とする。 前述した図 8において、 例えば (Α) で 厳密にデータ点の配列状態を見ると、 上に凸の曲線を描いている。 従つて単純に 1次式で近似させるより も、 2次式で近似した方が 精度が向上する。 そこで、 次のような V。 に関しても 2次式、 Δ Vに関しても 2次式という 2変数 2次式を用いた近似式を設定す
= (k 1 V 0 2 + k 2 V o + k 3 ) (k 4 Δ V 2 + k 5 厶
+ k 6 )
= k! k 4 V 2
0 厶 V 2 + k ! k 5 Vo 2 厶 V
+ k 1 k 6 V 0 2 + k 2 ' k 4 V o 厶 V 2
+ k 2 k 5 Vo Δ V + k 2 k 6 V 0
+ k 3 k 4 厶 V 2 + k 3 k 5 Δ V + k 3 k 6 ··' ' ( 1 2) となる。 こ こで、 〜k 6 は係数である。
(1 2) 式における係数を次のように書換える。
G = k 22V 0 2 Δ V 2 + k 2 ΐ V ο 2 Δ V + k 20V o 2
+ k 12V o Δ V 2 + k n V o 厶 V + k 10V0
+ k 02A V2 + k 01AV + k 00 - (1 3) 上記の近似式 ( 1 3) において、 係数 k 22〜 k。。は、 駆動対象 である圧電素子ごとに決定される。 例えば所定の組のデータを、 前記の実施例の場合と同様に最小二乗法を用いて上記 ( 1 3) 式 に適合させ-, 係数 k 22〜k 00を決定する。 こ う して、 近似式 ( 1 3 ) が確定する。
こ こで、 2変数 2次式の近似式についての最小二乗法の適用例 を説明する。 前記の実施例と同様に、 (X i, y i, z i ) [ただし i = 1 - n ] という n組のデータで、
z = k 22 x 2 y 2 + k 21 x 2 y + k 2 o x 2 + k 12 x y 2
+ k 11 x y + k i o x + k o 2 y 2 + k 01y + k 00
の式を近似すると仮定し、 図 1 0に示す行列を考える。
上記行列の逆行列 C—1を求めると、 係数は k 22〜 k 00は、 図 1 1に示す式で求められる。
上記に具体的にデ一夕を入れて計算すると、 前記近似式 ( 1 3) の係数 k 22〜 k 00を求めることができる。
こ こで、 図 9の表に示されたデ一夕を用いて係数 k 22〜k 00を 実際に計算する。 即ち、 図 1 1に示す行列代数において、 X し y i , z i をそれぞれ図 9の印加電圧範囲の中心電圧 V。 、 印加電圧 範囲の振幅 Δν、 単位電圧あたりの変位量 Gmに対応させ、 具体 的にデータを入れて計算すると、 前記近似式 ( 1 3) の係数 k 22 〜 k。。は次のようになる。
k 22 = 1.932 X 1 0一9
k 21=- 2.467 X 1 0 一7
k 20 = -1.159 X 1 0 "4
k 12= 7· Π5 X 1 0一7
k n = -3.814 X 1 0 "4
k 10 = - 5, 340 X 1 0一5
k 02 = -2.411 1 0一4
k οι = 6, 553 X 1 0 -2
k oo = 5.512
上記の係数を用いた近似式 ( 1 3 ) で計算して求めた単位電圧 1 0 0 Vあたりの変位量が図 9の表内の Gである。 図 9の表にお ける G mと Gの差が近似式 (1 3) を用いた場合の誤差となる。 その誤差を%で表した値を、 図の表の右端に示した。 最大誤差で も、 1. 3 %となっており、 極めて良い近似となっていることが 分る。
図 9の測定デ一夕で 近似式 ( 1 3 ) を使用しなかつた場合の 誤差を考えてみる。 この場合、 単位電圧あたりの変位量の基準値 と しては、 通常 0 — 1 0 0 Vの特性の 7. Η μ m / 100 Vを用いる ことになる。 これに対して、 図 9の最下段の 9 5 — 1 0 0 Vの特 性では 4. 57〃 mZlOO Vとなっており、 近似式 ( 1 3 ) を使用し なければ、 両者の差がそのまま誤差となる。 この場合の誤差は、 (7. 84 - 4. Π ) /7. 84 = 0. 4Π·であり、 実に 4 1. 7 %の大きな誤差 となる。
上記の如く、 最大 4 1. 7 %の誤差が、 近似式 ( 1 3 ) で補正 することにより、 1. 3 %以下の誤差となる。 従って、 近似式 ( 1 3 ) を利用した圧電素子の駆動方法の効果は極めて顕著に現 われる。
本実施例では、 図 3に示す演算装置 4の内部メ モ リ に、 第 1 の 実施例の ( 8 ) 式に代え、 上記 ( 1 3 ) 式及び図 9のデータから 求めた係数 k 22〜 k 00の上記計算値が記憶されている。
したがって、 本実施例によれば、 圧電素子 1 に第 1の実施例よ り も精度の高い変位を発生させることができる。
なお、 近似式と して第 1の実施例では 1次式を、 第 2の実施例 では 2次式を用いた。 この場合、 シンプルな近似を行う場合には 第 1の実施例の 1次式を適用し、 より厳密な近似を行う場合には 第 2の実施例の 2次式を適用し、 それぞれ、 要求される精度に応 じて近似式を選択し、 利用しればよい。 また、 更に高精度の近似 を行う場合には、 3次以上の近似式を同様に設定し、 適用するこ とができる。
また、 以上の各実施例の説明では、 印加しょう とする電圧範囲 を特定する基準電圧と して、 印加電圧範囲の中心値である中心電 圧を用いる構成と したが、 前述の通り、 中心電圧の代わりに、 印 加電圧範囲と所定の関係にある他の電圧を用いることができる。 他の電圧の例と しては、 印加電圧範囲の最小電圧値 最大電圧値、 あるいは印加電圧範囲内の中心電圧以外の電圧値がある。 このよ うに中心電圧以外の電圧を基準電圧と して用いる場合には 前記 の実施例において、 例えば、 近似式 ( 7) の式構造は同一である が、 その係数 a〜 dの値は、 基準電圧と して選択された電圧に応 じて適宜に決定される。 2次式の実施例の場合も同様である。
また、 中心電圧以外の電圧を基準電圧と して用いる場合は、 印 加電圧範囲の振幅 Δνと基準電圧 V。 とから印加電圧 Vm i η, V m a χを求める式は、 ( 1 ) 式と別の式になる。 例えば、 印加 電圧範囲の最小電圧値 Vm i nを基準電圧 V。 と して使用する場 合、 (1) 式に代え下記の式を用いる。
V m i n = V o
V m a x = V o + AV
同様に、 印加電圧範囲の最大電圧値 Vm a xを基準電圧 V。 と し て使用する場合下記の式を用いる。
Vm i n = V o - AV
V m a x = V o
印加電圧範囲内の中心電圧以外の電圧値を基準電圧 V。 と して使 用する場合は、 印加電圧範囲の振幅 Δ Vを基準電圧 V。 の位置で 分割した電圧幅を a, bとすれば、 印加電圧範囲 V m i n〜 V m a. x と基準電圧 V。 との関係は、
V o = Vm i n + ^Vm a x— Vm i n; a ^a + b) で与えられるので、 Vm i n, V m a x:は下記の式を用いて計算 できる。 V m i n = V o - Δ V { a Z ( a + b ) }
V m a x = V o + Δ V {b / ( a + b ) }
以上のように、 印加電圧範囲を特定するための基準電圧は、 印 加電圧範囲と所定の関係にあれば任意に定めることができる。
次に、 本発明の圧電素子の駆動装置を用いた走査型 ト ンネル顕 微鏡の応用例を図 1 2及び図 1 3により説明する。
図 1 2において、 探針 1 1 は、 その先端が試料 1 2の測定表面 に対向して垂直に配置される。 探針 1 1 は 3次元圧電ァクチユエ 一夕 1 3に固定される。 ァクチユエ一夕 1 3 は X, Υ, Zの各軸 方向の圧電素子 1 3 a , 1 3 b , 1 3 cを有する。 探針 2 1 は、 3つの圧電素子 1 3 a〜 1 3 cの垂直交差部に取り付けられる。 圧電素子 1 3 a, 1 3 bは、 探針 2 1を試料 1 2の表面に沿つて X Y走査 (平面走査) させるためのァクチユエ一タである。 圧電 素子 1 3 c は、 探針の Z方向の位置を変化させて探針 1 1 と試料 1 2の表面との距離 (高さ) を調整するための Z方向のァクチュ エー夕である。
探針 1 1 と試料 1 2 との間には電源 1 4が接続され、 探針 1 1 が試料 1 2の表面に、 原子のレベルの大きさの距離で接近すると、 両者の間に ト ンネル電流が流れる。 この現象は、 量子効果に起因 する ト ンネル現象に基づいて発生する。 探針 1 1 と試料 1 2の表 面との距離の調整は、 前述の圧電素子 1 3 cの伸縮動作で行われ る。 圧電素子 1 3 cの伸縮の動作量は、 圧電素子 1 3 cに印加さ れる電圧によって決定される。 圧電素子 1 3 cへの印加電圧は、 サ一ボ回路 1 5から与えられる。
走査型 ト ンネル顕微鏡における測定動作では、 探針 1 1 と試料 1 2 との距離を最初に一定の距離にセッ ト し ( ト ンネル電流の大 きさに基づいて設定する) 、 探針 1 1を走査する時、 ト ンネル電 流を検出し、 この ト ンネル電流を一定に保持することにより、 探 針 1 1 と試料 1 2 との距離を前記の一定距離に保持するように、 圧電素子 1 3 cをサーボ制御する。 こ うすれば、 探針 1 1 は試料 1 2の表面の原子レベルの凹凸形状をなぞって移動するため、 探 針 1 1を移動させるための制御デ一夕に基づいて、 試料表面の凹 凸形状を測定することができる。
図 1 2 において、 上記の ト ンネル電流は ト ンネル電流検出 。 距 離換算回路 1 6 により検出され、 増幅される。 ト ンネル電流検出 • 距離換算回路 1 6 はこの電流値を距離 (電圧値) に換算する機 能を有し、 ト ンネル電流検出 · 距離換算回路 1 6から出力される 信号はサーポ回路 1 5に与えられる。 サーボ回路 1 5 は、 ト ンネ ル電流検出 · 距離換算回路 1 6の出力信号が所定の一定値になる よう に、 探針 1 1 の移動を決定する電圧を設定し、 圧電素子 1 3 cに供給する。 また、 探針 1 1 の走査を行わせる圧電素子 1 3 a, 1 3 bの動作は X Y走査回路 1 7 によ り制御される。
圧電素子 1 3 a〜 l 3 cの伸縮動作を行わせたとき、 サ―ボ回 路 1 5で生成される Z方向の制御データ及び X Y走査回路 1 7で 生成される X及び Yの各方向の制御データは、 メ モ リ 1 8に供給 され、 格納される。 メ モリ 1 8に格納された探針 1 1 の測定動作 を行わせるための制御データは、 そのまま試料表面の凹凸形状を 表す測定データとなる。 この測定データは信号処理回路 1 9でデ 一夕処理され、 これによつて作成された画像データに基づき表示 装置 2 0の画面に測定された試料表面の画像が表示される。
試料 1 2の測定表面の上で探針 1 1を走査する時には、 圧電素 子 1 3 a , 1 3 bのそれぞれの伸縮動作を所定の夕ィ ミ ングで制 御する。 圧電素子 1 3 a , 1 3 bの伸縮動作による走査は X Y走 査回路 1 7から与えられる駆動電圧に基づいて行われる。 X Y走 査回路 1 7からの駆動電圧は、 コ ン ピュータ 2 1から与えられる 指令信号 S x, S yに基づいて生成される。
コ ン ピュータ 2 1は、 図 3に示す入力装置 3に対応する入力部 2 1 A及び演算装置 4に対応する演算部 2 1 Bを有し、 圧電素子 1 3 a , 1 3 bのそれぞれに対して目標変位量 Δ X, ΔΥと、 印 加電圧範囲に関する基準電圧 vxo, VY0を入力し、 印加電圧の最 小値 V xm i n, V y m i n及び最大値 V xm a x:, V y m a x を決定する o
即ち、 入力部 2 1 Aは圧電素子 1 3 aに対する目標変位量 Δ X 及び基準電圧 Vx。及び圧電素子 1 3 bに対する目標変位量 Δ Y及 び基準電圧 VY0を入力する機能を有している。 また、 演算部 2 1 Bには、 圧電素子 1 3 aに関する前記の近似式 (8) 及び関係式
( 1 ) 及び (2) と、 圧電素子 1 3 bに関する前記の近似式 (8) 及び関係式 ( 1 ) 及び (2) とが記憶されている。
目標変位量 Δ X及び基準電圧 Vxoが入力されると、 演算部 2 1 Bは、 入力された目標変位量 Δ Χと中心電圧 Vxoと近似式 (8) 及び関係式 ( 2 ) を用いて圧電素子 1 3 aに印加すべき電圧範囲 の振幅 AV xを算出し、 この算出された振幅 AV xと中心電圧 V χοとから上記 (1 ) 式を用いて圧電素子 1 3 aに与える印加電圧 の最小値 V xm i n及び最大値 V xm a xを計算し、 対応する指 令信号 S Xを X Y走査回路 1 7に出力する。 同様に目標変位量 Δ Y及び基準電圧 VY0が入力されると、 演算部 2 1 Bは、 入力され た目標変位量 Δ Yと中心電圧 VY0と近似式 ( 1 0) 及び関係式
(2) を用いて圧電素子 1 3 bに印加すべき電圧範囲の振幅 Δ V yを算出し、 この算出された振幅 AV yと中心電圧 VY0とから上 記 ( 1 ) 式を用いて圧電素子 1 3 bに与える印加電圧の最小値 V y m i n及び最大値 V y m a xを計算し、 対応する指令信号 S y を X Y走査回路 1 7に出力する。
X Υ走査回路 1 7では、 指令信号 S X , S yに基づき図 1 3に 示すように探針 1 1を平面走査するよう駆動電圧を出力する。 即 ち、 指令信号 S Xに関しては、 印加電圧の最小値 V x m i n及び 最大値 V x m a. xの間を例えば 2 0 0〜 5 0 0等分してこれに対 応する電圧値を求め、 V x m a xから V x m i nへと順次小さ く なる電圧を圧電素子 1 3 a に印加する。 これによ り、 圧電素子 1 3 a は V x m a xカヽら V x m i nまでの 2 0 0〜 5 0 0の各点に 対応する変位を発生し、 探針 1 1をこれに対応した位置に走査す る。 このとき、 サ一ボ回路 1 5 は、 V x m a xから V x m i nま での 2 0 0〜 5 0 0の各点において、 上記のように Z方向の制御 デ一夕をメ モリ 1 8に格納し、 試料表面の凹凸形状を表わす測定 データを得る。
一方、 指令信号 S yに関しては、 同様に印加電圧の最小値 V y m i n及び最大値 V y m a xの間を例えば 2 0 0〜 5 0 0等分し てこれに対応する電圧値を求め、 V y m i nから V y m a xへと 順次大き く なる電圧を圧電素子 1 3 bに印加する。 これによ り、 圧電素子 1 3 bは V y m i nから V y m a xまでの 2 0 0〜 5 0 0の各点に対応する変位を発生し、 探針 1 1をこれに対応した位 置に走査する。 このとき、 電圧の印加のタイ ミ ングは圧電素子 1 3 a に対する駆動電圧が最小値 V X m i nになったときに印加す るよ うに制御する。 これにより、 V y m i nカヽら V y m a xの 2 0 0〜 5 0 0の各点において上記の V X m a xから V x m i n間 の測定デ一夕が得られ、 目標変位 Δ X及び Δ Yが定める平面領域 全体についての測定デ一夕が得られる。
なお、 目標変位 Δ X及び Δ Yが定める平面領域は基準電圧 Vxo, VY0により決まるので、 基準電圧 Vxo, VY0を変えることで他の 平面領域を走査し、 測定データを得ることができる。
本実施例によれば、 変位測定装置を設置する余分のスペースが 確保しにく い走査型 ト ンネル顕微鏡の微動機構において、 高精度 の測定データを得ることができる。 産業上の利用可能性
以上の説明から明らかなように、 本発明によれば、 圧電素子の 駆動装置に予め当該圧電素子の変位特性を考慮にいれた近似式を 用意してこの近似式を用いて印加電圧を決定するので、 印加電圧 範囲に応じて変位量が異なる圧電素子の変位特性に起因して発生 する誤差が低減し、 精度の高い変位を発生させるこ とが可能とな る。 また、 レーザ変位計等の高価な変位測定装置を別個に設ける 必要がなく なり、 安価で且つ精度の高い微動機構を実現すること ができる。 更に、 変位測定装置を設置する余分のスペースを確保 しにく い走査型プローブ顕微鏡の微動機構において、 高精度の測 定データを得ることができる。
また、 近似式と しては、 シンプルな近似を行う場合には 1次式 を適用し、 より厳密な近似を行う場合には 2次式を適用し、 それ ぞれ、 要求される精度に応じて近似式を選択し、 利用することが できる。

Claims

請求の範囲
1. 目標変位量 (Δ Χ) に応じて圧電素子 ( 1 ) に印加する電 圧範囲の振幅 (AV) を設定し、 その印加電圧範囲の振幅に応じ て前記圧電素子に電圧を印加し、 前記目標変位量を生じさせる圧 電素子の駆動方法において、
( a) 前記圧電素子 (1 ) に対して、 前記印加電圧範囲の振幅
(Δ V) と、 前記印加電圧範囲に関する基準電圧 (V。 ) と、 前記圧電素子の単位電圧あたりの変位量 (G) との 関係を表わす近似式を設定すること ;
(b) 前記目標変位量 (ΔΧ) と前記基準電圧 (VQ ) を入力 し、 前記近似式を用いるこ とにより、 その基準電圧にお いて前記目標変位量を発生させる印加電圧範囲の振幅
(Δ V) を求めること ;
( c ) この求めた印加電圧範囲の振幅と前記入力された基準電 圧 (V。 ) とから前記目標変位量を発生するための印加 電圧範囲 (Vm i n〜Vm a x) を決定するこ と ;
( d) この決定された印加電圧範囲に基づき前記圧電素子に電 圧を印加すること ;
を特徴とする圧電素子の駆動方法。
2. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において、 前記手順
(a) で設定される近似式は、 前記印加電圧範囲の振幅 (Δν) と前記基準電圧 (V。 ) と前記単位電圧あたりの変位量 (G) と の一次関数であることを特徴とする圧電素子の駆動方法。
3. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において、 前記印加電 圧範囲の振幅を Δ ν、 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あたり の変位量を G、 前記圧電素子 (1) の変位特性に依存して決定さ れる係数を a, b , c , dとするとき、 前記手順 ( a ) で設定さ ί%る近似式は、
G = a V 0 Δ V + b V 0 + c Δ V + d
で表わされることを特徵とする圧電素子の駆動方法。
4. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において、 前記手順 ( a) で設定される近似式は、 前記印加電圧範囲の振幅 (Δν) と前記基準電圧 (V。 ) と前記単位電圧あたりの変位量 (G) と の二次関数であるこ とを特徴とする圧電素子の駆動方法。
5. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において、 前記印加電 圧範囲の振幅を Δν、 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あたり の変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決定される係 数 、 k 2 , k 2i, k 20, k i2, k 11, k io, k 0 , k o l, k 00 とするとき、 前記手順 ( a) で設定される近似式は、
G = k 22 V 0 2 Δ V 2 + k 2! V 0 2 Δ V + k 20V 0 2 + k i2V o 厶 V2 + k n V o 厶 V + k 10V0
+ k 02Δ V 2 + k οιΔ V + k oo
で表わされることを特徴とする圧電素子の駆動方法。
6. 請求項 1〜 5のいずれか 1項記載の圧電素子の駆動方法に おいて、 前記基準電圧 (V。 ) は、 前記印加電圧範囲の振幅 (Δ V) の中心に位置する電圧値であることを特徵とする圧電素子の 駆動方法。
7. 請求項 1〜 5のいずれか 1項記載の圧電素子の駆動方法に おいて、 前記基準電圧 (V。 ) は、 前記印加電圧範囲の振幅 (厶 V) の最大電圧値 (Vm a x) あるいは最小電圧値 (Vm i n) であることを特徵とする圧電素子の駆動方法。
8. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において- a 前記目標変 位量 (ΔΧ) と、 前記印加電圧範囲の振幅 (Δν) と、 前記単位 電圧あたりの変位量 (G) との第 1の関係式を更に設定し、 前記 手順 (b) では、 前記入力された目標変位量及び基準電圧 (V。 ) と、 前記近似式と、 この第 1の関係式とから、 その基準電圧にお いて前記目標変位量を発生させる印加電圧範囲の振幅 (Δν) を 求めることを特徴とする圧電素子の駆動方法。
9. 請求項 8記載の庄電素子の駆動方法において、 前記目標変 位量を Δ Χ、 前記印加電圧範囲の振幅を Δ V、 前記単位電圧あた りの変位量を Gと し、 その単位電圧を Αとするとき、 前記第 1の 関係式は、
G = Δ X ( Α/Δ V)
で表わされるこ とを特徴とする圧電素子の駆動方法。
1 0. 請求項 1記載の圧電素子の駆動方法において、 前記印加 電圧範囲の振幅 (Δν) と前記基準電圧 (V。 ) とから前記目標 変位量 (Δ X) を発生する印加電圧範囲 (Vm i n〜Vm a x) を決定するための第 2の関係式を更に設定し、 前記手順 ( c ) で は、 前記近似式を用いて求めた前記印加電圧範囲の振幅と、 前記 入力された基準電圧 (V。 ) と、 前記第 2の関係式とから前記目 標変位量を発生するための印加電圧範囲 (Vm i n〜Vm a x) を決定することを特徴とする圧電素子の駆動方法。
1 1. 請求項 1 0記載の圧電素子の駆動方法において、 前記印 加電圧範囲の振幅を A V、 前記基準電圧を V。 、 前記目標変位量 を発生するための印加電圧範囲の最小値及び最大値を V m i η, Vm a 3 [ とするとき、 前記第 2の関係式は、
V m i n = V ϋ 一 ( Δ. V / 2 )
V m a = V 0 + (Δ V/ 2 )
で表わされるこ とを特徴とする圧電素子の駆動方法。
1 2. 目標変位量 (Δ Χ) に応じて圧電素子 ( 1 ) に印加する 電圧範囲の振幅 (AV) を設定し、 その印加電圧範囲の振幅に応 じて前記圧電素子に電圧を印加し、 前記目標変位量を生じさせる 圧電素子の駆動装置において、
( a ) 前記目標変位量 (Δ Χ) と、 前記印加電圧範囲に関する 基準電圧 (VQ ) とを入力する入力手段 (3) と ; (b) 前記圧電素子 ( 1 ) に対して、 前記印加電圧範囲の振幅
(Δ V) と、 前記基準電圧 (V。 ) と、 前記圧電素子の 単位電圧あたりの変位量 (G) との関係を表わす近似式 を記憶したメモ リ手段 (4) と ;
( c ) 前記入力手段により入力された前記目標変位量 (Δ Χ) 及び基準電圧 (V。 ) と、 前記近似式とを用い、 その基 準電圧において前記目標変位量を発生させる印加電圧範 囲の振幅 (Δν) を求め、 この求めた印加電圧範囲の振 幅と前記入力された基準電圧とから前記目標変位量を発 生するための印加電圧範囲 ( V m i η〜 V m a X ) を決 定する演算手段 (4) と ; ( d ) この決定された印加電圧範囲に基づいて前記圧電素子に 電圧を印加する電圧発生手段 (2) と ;
を備えることを特徴とする圧電素子の駆動装置。
1 3. 請求項 1 2記載の圧電素子の駆動装置において、 前記印 加電圧範囲の振幅を AV 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あ たりの変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決定され る係数を a , b, c , dとするとき、 前記メ モリ手段 ( 4 ) に記 憶される近似式は、
G = a V 0 Δ V + b V 0 + c Δ V + d
で表わされることを特徴とする圧電素子の駆動装置。
1 4. 請求項 1 2記載の圧電素子の駆動装置において、 前記印 加電圧範囲の振幅を Δν、 前記基準電圧を V。 、 前記単位電圧あ たりの変位量を G、 前記圧電素子の変位特性に依存して決定され る係数を、 k 22, k 21, k 2o, k 12, k 11, k l o, k 02, k 01, k 00とするとき、 前記メ モ リ手段 (4) に記憶される近似式は、
G = k 22 V 0 2 厶 V2 + k 21 V 0 2 Δ V + k 20V 0 2 + k 12V0 Δ V 2 + k n V ο Δ V + k 10 V ο
+ k 02厶 V2 + k 01Δ V + k 00
で表わされることを特徴とする圧電素子の駆動装置。
1 5. 請求項 1 2記載の圧電素子の駆動装置において、 前記メ モリ手段 (4) は, 前記目標変位量 (Δ Χ) と、 前記印加電圧範 囲の振幅 (Δν) と、 前記単位電圧あたりの変位量 (G) との第 1の関係式を更に記憶しており、 前記演算手段 (4) は、 前記入 力された目標変位量及び基準電圧 (V。 ) と、 前記近似式と、 こ の第 1の関係式とから、 その基準電圧において前記目標変位量を 発生させる印加電圧範囲の振幅 (Δν) を計算することを特徴と する圧電素子の駆動装置。
1 6. 請求項 1 5記載の圧電素子の駆動装置において、 前記目 標変位量を Δ Χ、 前記印加電圧範囲の振幅を Δ V、 前記単位電圧 あたりの変位量を Gと し、 その単位電圧を Αとするとき、 前記メ モリ手段 (4) に記憶される第 1の関係式は、
G =厶 X ( Α/Δ V)
で表わされることを特徴とする圧電素子の駆動装置。
1 7. 請求項 1 2記載の圧電素子の駆動装置において、 前記メ モリ手段 (4) は、 前記印加電圧範囲の振幅 (Δν) と前記基準 電圧 (V。 ) とから前記目標変位量 (Δ Χ) を発生する印加電圧 範囲 (Vm i n〜Vm a x) を決定するための第 2の関係式を更 に記憶しており、 前記演算手段 (4) は、 前記近似式を用いて求 めた前記印加電圧範囲の振幅と、 前記入力された基準電圧と、 前 記第 2の関係式とから前記目標変位量を発生するための印加電圧 範囲 (Vm i n〜Vm a x) を決定することを特徴とする圧電素 子の駆動装置。
1 8. 請求項 1 7記載の圧電素子の駆動装置において、 前記印 加電圧範囲の振幅を AV、 前記基準電圧を V。 、 前記目標変位量 を発生するための印加電圧範囲の最小値及び最大値を Vm i n, Vm a xとするとき、 前記前記メ モリ手段 (4) に記憶される第 2の関係式は、
V m i n = V 0 - (Δ V/ 2 ) V m a x = V o + (Δ V/ 2 )
で表わされることを特徽とする圧電素子の駆動装置。
1 9. プローブ ( 1 1 ) を試料 ( 1 2) の表面に沿ってスキヤ ン動作させるァクチユエ一夕と して 2つの圧電素子 ( 1 3 a, 1 3 b ) を備え、 前記 2つの圧電素子が相互に直交するよう構成さ れた微動機構の制御装置において、
前記 2つの圧電素子 ( 1 3 a, 1 3 b ) のそれぞれに対して請 求項 1 2〜 1 8のいずれか 1項記載の駆動装置を設けたことを特 徴とする微動機構の制御装置。
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