Beschreibung
Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kameras und Kamera zum optischen Erfassen von Ob- jekten
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen einer ersten Kamera, welche einen flächigen ersten Sensor und eine erste Optik aufweist, und einer zweiten Kamera, welche einen zweiten Sensor und eine zweite Optik aufweist. Die Erfindung betrifft ferner eine Kamera zum optischen Erfassen von Objekten, welche insbesondere als erste Kamera bei der Durchführung des Verfahrens zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kame- ras verwendbar ist.
Die automatische Bestückung von Substraten bzw. Leiterplatten mit Bauelementen erfolgt heutzutage üblicherweise mittels sog. Bestückautomaten. Dabei werden Bauelemente von einer Bauelementzuführeinrichtung mittels eines Bestückkopfes zu einer AufSetzposition auf einer Leiterplatte transportiert. Aufgrund der insbesondere in den letzten Jahren zunehmenden Miniaturisierung von Bauelementen beruht ein korrekter Bestückvorgang auf einer präzisen Lagevermessung sowohl von dem zu bestückenden Bauelement' als auch von der Leiterplatte, auf welcher das Bauelement aufgesetzt werden soll. Dazu werden typischerweise zwei Kamerasysteme verwendet, die jeweils die Lage von Leiterplatte bzw. Bauelement vermessen. Um die räumliche Beziehung zwischen der zu bestückenden Leiterplatte und einem aufzusetzenden Bauelement herzustellen, welche für einen präzisen Bestückvorgang genau bekannt sein muss, uss auch die relative räumliche Lage zwischen diesen beiden Kamerasystemen, d.h. zwischen einer ersten Kamera, mittels welcher die Position einer zu bestückenden Leiterplatte erfasst wird, und einer zweiten Kamera, mittels welcher die Lage des aufzusetzenden Bauelements erfasst wird, genau bekannt sein. Aus diesem Grund ist ein Kalibrierverfahren, bei dem die
räumliche Lage zwischen einer sog. Leiterplatten-Kamera, mittels welcher die Position einer zu bestückenden Leiterplatte erfasst wird, und einer sog. Bauelemente-Kamera, mittels welcher die Position von aufzusetzenden Bauelementen erfasst wird, für eine präzise Bestückung von Leiterplatten mit Bauelementen unbedingt erforderlich.
Zur Bestimmung der räumlichen Beziehung zwischen einer Leiterplatten-Kamera und einer Bauelemente-Kamera ist ein Ver- fahren bekannt, bei dem sog. Kalibrierteile auf einer Leiterplatte plaziert werden und die Position dieser Kalibrierteile mittels der Leiterplatten-Kamera erfasst wird. Anschließend wird das Kalibrierteil von dem Bestückkopf aufgenommen, in der angenommenen Soll-Position vor der Bauelemente-Kamera platziert und dort vermessen. Aus der Abweichung von gemessener Position und Soll-Position des Kalibrierteils kann auf die tatsächliche relative Lage zwischen den beiden Kameras zurückgeschlossen werden.
Aus der WO 1997/38567 ist ein Verfahren bekannt, bei dem während der Erfassung eines Bauelements mittels einer ersten Kamera diese erste Kamera ebenso eine auf einer Referenzplatte befindliche Markierung erfasst und zur gleichen Zeit eine zweite Kamera eine andere Markierung erfasst, welche sich e- benfalls auf der Referenzplatte befindet. Die dabei erhaltenen Bilddaten ermöglichen ebenfalls eine Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen der ersten Kamera und der zweiten Kamera.
Aus der US 4 738 025 ist ein Verfahren bekannt, bei dem mittels einer Referenzplatte sowohl die relative räumliche Lage zwischen zwei Kameras kalibriert als auch das Auflösungsvermögen der beiden Kameras bestimmt wird.
Aus der US 4 980 971 ist ein Verfahren und eine Vorrichtung zum präzisen Positionieren von Halbleiterchips auf ein Substrat bekannt, wobei die relative Orientierung zwischen zwei
Kameras dadurch bestimmt wird, dass zwischen den beiden Kameras eine Referenzplatte gebracht wird, wobei die Referenzplatte jeweils in der Fokusebene der beiden Kameras liegt.
Aus der US 5,084,959 ist ein Bestückautomat mit einem Bestückkopf sowie mit einer Substrat-Kamera und einer Bauelemente-Kamera bekannt, bei dem ebenfalls die relative räumliche Lage zwischen der Substrat-Kamera und der Bauelemente- Kamera bestimmt werden kann. Dazu wird der Bestückautomat so eingestellt, dass die Bauelemente-Kamera, welche sich neben einem Substrat befindet, einen bestimmten Teil des Bestückkopfes und die Substrat-Kamera, welche sich relativ zu dem Bestückkopf in einer bekannten Position befindet, eine bestimmte Bestückposition auf dem Substrat erfasst. Da in die- ser Stellung des Bestückautomaten die relative Lage zwischen dem Bestückkopf und der Substrat-Kamera der relativen Lage zwischen der Bestückposition und der Bauelemente-Kamera entspricht, kann aus der bekannten relativen Lage zwischen Bestückkopf und Substrat-Kamera die räumliche Beziehung zwi- sehen der Substrat-Kamera und der Bauelemente-Kamera ermittelt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kame- ras zu schaffen, bei dem die räumliche Beziehung zwischen den beiden Kameras unmittelbar, d.h. ohne die Verwendung von Referenzobjekten bestimmt werden kann. Der Erfindung liegt ferner die Aufgabe zugrunde, eine Kamera zum optischen Erfassen von Objekten zu schaffen, welche für das oben genannte Ver- fahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kameras verwendbar ist.
Die vorrichtungsbezogene Aufgabe wird gelöst durch ein Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen einer ersten Kamera, welche einen flächigen ersten Sensor und eine erste Optik aufweist, und einer zweiten Kamera, welche einen zweiten Sensor und eine zweite Optik aufweist, mit den
Merkmalen des unabhängigen Anspruchs 1. Der Erfindung liegt die Erkenntnis zugrunde, dass die relative räumliche Anordnung zwischen zwei Kameras dadurch bestimmt werden kann, dass der Sensor der ersten Kamera mittels einer zusätzlichen Be- leuchtung beleuchtet wird, so dass aufgrund der Umkehrbarkeit der Strahlengänge an dem Ort, an dem sich sonst ein von der ersten Kamera zu erfassendes Objekt befindet, ein reelles Zwischenbild des ersten Sensors erzeugt wird. Dieses Zwischenbild wird mit der zweiten Kamera aufgenommen und so der räumliche Zusammenhang zwischen den beiden Kameras hergestellt. Das erfindungsgemäße Verfahren hat den Vorteil, dass zur Kalibrierung der relativen räumlichen Lage zwischen beiden Kameras keinerlei Referenzobjekte erforderlich sind. Da das reelle Zwischenbild des ersten Sensors als Messmarke für die zweite Kamera dient, ist eine mechanische Aufhängung für einen Referenzgegenstand nicht erforderlich. Dies hat den Vorteil, dass bei beiden Kameras ein großer Freiraum zur Objektebene eingehalten werden kann. Es wird darauf hingewiesen, dass der erste Sensor auch ein quasi eindimensionaler Zeilensensor sein kann, sofern sichergestellt ist, dass bei einer Beleuchtung des ersten Sensors ein deutliches Zwischenbild erzeugt wird, welches von der zweiten Kamera eindeutig erfasst werden kann.
Gemäß Anspruch 2 werden beide Kameras jeweils entlang einer Bewegungsstrecke verfahren, wobei die beiden Bewegungsstrecken in parallel zueinander liegenden Ebenen verlaufen. Demzufolge können die beiden Bewegungsstrecken im allgemeinen auch winklig zueinander verlaufen. Besonders vorteilhaft kann allerdings das Verfahren dann angewendet werden, wenn die beiden Bewegungsstrecken parallel zueinander verlaufen, so dass der Abstand zwischen beiden Bewegungsstrecken konstant ist.
Gemäß Anspruch 3 ist das Verfahren auch für eine sog. zweidi- mensionale Kalibrierung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kameras geeignet.
Gemäß Anspruch 4 können beide Kameras jeweils innerhalb einer Bewegungsebene verfahren werden, wobei die beiden Bewegungsebenen parallel zueinander angeordnet sind und damit der Ab- stand zwischen beiden Kameras senkrecht zu den Bewegungsebenen vorgegebenen ist.
Bei dem Verfahren gemäß Anspruch 5 liegen die Objektebenen der beiden Kameras übereinander, so dass die relative räumli- ehe Lage zwischen beiden Kameras mit einer besonders hohen Genauigkeit bestimmt werden kann.
Gemäß Anspruch 6 bzw. Anspruch 7 wird der flächige erste Sensor durch eine Hellfeldbeleuchtung bzw. eine Dunkelfeldbe- leuchtung beleuchtet. Damit kann abhängig von der optischen Beschaffenheit und der Struktur der Oberfläche des flächigen Sensors eine geeignete Beleuchtung verwendet werden, so dass Strukturen im Zwischenbild eindeutig den Strukturen des flächigen Sensors zugeordnet werden können. Damit wird erreicht, dass für die zweite Kamera nicht nur ein kleiner Ausschnitt der im Zwischenbild abgebildeten Sensorfläche der ersten Kamera zu sehen ist, sondern im Zwischenbild die Mitte des flächigen ersten Sensors eindeutig identifiziert werden kann. Insbesondere durch ein Umschalten zwischen verschiedenen Be- leuchtungsarten kann sichergestellt werden, dass die zweite Kamera das Zwischenbild des ersten Sensors zuverlässig erfasst.
Die Verwendung von hinsichtlich der spektralen Verteilung un- terschiedlichem Beleuchtungslicht für den ersten Sensor und für die von der ersten Kamera zu erfassenden Objekte gemäß Anspruch 8 ermöglicht eine unabhängige Wahl der Wellenlänge der Sensorbeleuchtung. Dies hat den Vorteil, dass die Sensorbeleuchtung so abgestimmt werden kann, dass die Sensorstruk- turen besonders deutlich hervortreten.
Das Verfahren gemäß Anspruch 9 hat den Vorteil, dass die räumliche Beziehung zwischen beiden Kameras bereits mit der Aufnahme eines einzigen Bildes bestimmt werden kann.
Das Verfahren gemäß Anspruch 10, bei dem die optischen Achsen der beiden Kameras zur Deckung gebracht werden, hat den Vorteil, dass das Messergebnis nicht durch eventuell vorhandene Abbildungsfehler der beiden Optiken gestört wird. Das Über- einanderlegen der beiden optischen Achsen kann auch durch ein iteratives Verfahren durchgeführt werden, wobei die beiden
Kameras derart bewegt werden, dass die zugehörigen optischen Achsen schrittweise zur Deckung kommen. Somit kann eine maximale Genauigkeit bei der Bestimmung des räumlichen Zusammenhangs zwischen beiden Kameras erreicht werden.
Bei dem Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem als zweiter Sensor ein Zeilensensor verwendet wird, wird zur Erfassung des Zwischenbildes die zweite Kamera senkrecht zu der Ausrichtung des Zeilensensors an der ersten Kamera vorbei bewegt und se- quentiell jeweils eine Zeile des Zwischenbildes aufgenommen. Das Bild des Zwischenbildes wird dann Zeile für Zeile zusammengesetzt. Dabei werden die beiden optischen Achsen zumindest in einer Richtung während der Bildaufnahme automatisch zur Deckung gebracht .
Gemäß den Verfahren nach Anspruch 12 und Anspruch 13 wird als erste Kamera eine Leiterplatten-Kamera und als zweite Kamera eine Bauelemente-Kamera verwendet. Damit eignet sich das Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Lage zwischen zwei Kame- ras insbesondere für eine räumliche Kalibrierung der Kameras von sog. Pick and Place Bestückautomaten, bei denen der komplette Bestückvorgang der Bauelemente sequentiell erfolgt. Dies bedeutet, dass ein Bauelement von einem Bestückkopf aus einem Zuführmodul abgeholt, zu einer Bestückposition trans- portiert und auf die Leiterplatte aufgesetzt wird. Erst nach dem Aufsetzen des Bauelements beginnt die Bestückung des nächsten Bauelements.
Ebenso eignet sich das Verfahren zur Bestimmung der räumlichen Lage zwischen zwei Kameras für sog. Collect and Place Bestückautomaten, welche einen Zeilen- oder Matrixbestückkopf aufweisen, so dass je nach Anzahl der an dem Bestückkopf ausgebildeten Haltevorrichtungen eine Mehrzahl von Bauelementen von einer Zuführeinheit hin zu der zu bestückenden Leiterplatte transportiert und auf diese aufgesetzt werden können.
Es wird darauf hingewiesen, dass selbstverständlich auch als zweite Kamera eine Leiterplattenkamera und als erste Kamera eine Bauelementkamera verwendet werden kann.
Die der Erfindung zugrundeliegende vorrichtungsbezogene Auf- gäbe wird gelöst durch eine Kamera zum optischen Erfassen von Objekten mit den Merkmalen des unabhängigen Anspruchs 14. Die Erfindung hat den Vorteil, dass das zuvor erläuterte Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kameras durch den einfachen Umbau einer herkömmlichen Kamera durchführbar ist. Der Umbau der erfindungsgemäßen Kamera besteht darin, dass vor dem Kamerasensor eine Beleuchtungseinheit vorgesehen ist, welche bei der Durchführung des Verfahrens zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen der erfindungsgemäßen Kamera und einer weiteren Kamera entsprechend angesteuert wird. Als Lichtquellen für die Beleuchtungseinheit können beispielsweise herkömmliche Glühlampen, Leuchtdioden, Laserlichtquellen oder Fluoreszenzlichtquellen eingesetzt werden.
Die Weiterbildung gemäß Anspruch 15 hat den Vorteil, dass durch eine geeignete Kombination der Dunkelfeldbeleuchtung mit der Hellfeldbeleuchtung ein kontrastreiches Zwischenbild erzeugbar ist, welches von der zweiten Kamera deutlich erfasst werden kann.
Die Weiterbildung gemäß Anspruch 16 stellt eine besonders einfache und vorteilhafte Realisierung der Dunkelfeldbeleuchtung dar.
Die Weiterbildung gemäß Anspruch 17 stellt eine besonders einfache und vorteilhafte Realisierung der Hellfeldbeleuchtung dar.
Gemäß Anspruch 18 wird die Hellfeldbeleuchtung des flächigen Sensors dadurch realisiert, dass ein bevorzugt auf der optischen Achse der Optik angeordneter Strahlteiler über eine Reflexion an dem Strahlteiler das Licht der Hellfeldbeleuchtung senkrecht zu der Sensoroberfläche auf den flächigen Sensor lenkt.
Gemäß Anspruch 19 ist bevorzugt auf der optischen Achse der Optik ein weiterer Strahlteiler vorgesehen, mittels welchem die von der Kamera zu erfassenden Objekte unter einer Hellfeldbedingung beleuchtet werden können. Die Verwendung von zwei getrennten Strahlteilern für die Sensor-Hellfeldbeleuchtung und die Objekt-Hellfeldbeleuchtung hat den Vorteil, dass das Sensor-Beleuchtungslicht und das Objekt- Beleuchtungslicht einfach und effektiv entkoppelt werden können und somit weder die Erzeugung des Zwischenbildes durch eine Hellfeldbeleuchtung des zu erfassenden Objekts noch die Erfassung des Objekts durch die Hellfeldbeleuchtung des Sensors gestört wird.
Es wird darauf hingewiesen, dass die Kamera, auch derart auf- gebaut sein kann, dass das Sensor-Beleuchtungslicht, welches unter einer Hellfeldbedingung auf den Sensor trifft, durch den einen Strahlteiler transmittiert und das Objekt- Beleuchtungslicht, welches auf das zu erfassende Objekt trifft, durch den anderen Strahlteiler transmittiert wird. In diesem Fall verläuft der Strahlengang zwischen dem zu erfassenden Objekt und dem Sensor über eine Reflexion an den beiden Strahlteilern.
Die Verwendung eines einzigen Strahlteilers sowohl für die Hellfeldbeleuchtung des Sensors als auch für die Hellfeldbeleuchtung der zu erfassenden Objekte gemäß Anspruch 20 hat den Vorteil, dass die Kamera in einer kompakten Bauform realisiert werden kann. In diesem Fall sind die Hellfeld- Lichtquelle und die Lichtquelle für die Hellfeldbeleuchtung der zu erfassenden Objekte einander gegenüberliegend angeordnet, wobei sich der Strahlteiler in der Mitte zwischen beiden Lichtquellen befindet und das Hellfeld-Beleuchtungslicht für den Sensor und das Hellfeld-Beleuchtungslicht für die zu erfassenden Objekte jeweils an dem Strahlteiler reflektiert werden.
Die Verwendung eines dichroitischen Spiegels und eines Lichtabsorbers gemäß Anspruch 21 hat den Vorteil, dass eine gute optische Entkopplung zwischen dem Hellfeld-Beleuchtungslicht für den Sensor und dem Hellfeld-Beleuchtungslicht für die zu erfassenden Objekte erreicht wird, sofern für die Hellfeldbe- leuchtung des Sensors und die Hellfeldbeleuchtung der zu erfassenden Objekte unterschiedliche Wellenlängen verwendet werden.
Weitere Vorteile und Merkmale der vorliegenden Erfindung er- geben sich aus der folgenden beispielhaften Beschreibung von zwei derzeit bevorzugten Ausführungsformen.
Figur 1 illustriert die Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen einer Leiterplatten-Kamera und einer Bauelemente-Kamera, wobei der Sensor der Leiterplatten-Kamera unter einer Dunkelfeldbedingung beleuchtet wird. Figur 2 illustriert die Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen einer Leiterplatten-Kamera und einer Bauelemente-Kamera, wobei der Sensor der Leiterplatten-Kamera unter einer Hellfeldbedingung beleuchtet wird.
An dieser Stelle bleibt anzumerken, dass sich in der nachfolgenden Beschreibung der beiden Ausführungsbeispiele der Erfindung einander entsprechende Komponenten der beiden Kameras lediglich in ihrer ersten Ziffer unterscheiden.
Figur 1 zeigt eine gemäß einem ersten Ausführungsbeispiel der Erfindung modifizierte Leiterplatten-Kamera 100, deren räumliche Lage relativ zu einer herkömmlichen Bauelemente-Kamera 150 bestimmt wird. Die Kamera 100 weist eine Sensorfläche
105, ein Objektiv 110 sowie einen Strahlteiler 115 auf, welche auf einer optischen Achse 117 der Leiterplatten-Kamera 100 angeordnet sind. Die Sensorfläche 105 ist bevorzugt eine CCD- (Charge Coupled Device) oder eine CMOS- (Complementary Metal Oxide Semiconductor) Kamera. Die Kamera 100 weist ferner eine Lichtquelle 120 auf, welche für eine Hellfeldbeleuchtung von zu erfassenden Objekten vorgesehen ist und welche ein Beleuchtungslicht emittiert, welches über eine Reflexion an dem Strahlteiler 115 parallel zu der optischen Achse 117 auf die zu erfassenden Objekte (nicht dargestellt) gerichtet ist. Ferner ist ein Lichtabsorber 125 vorgesehen, welcher das von der Lichtquelle 120 emittierte Licht, welches durch den Strahlteiler 115 transmittiert wird, absorbiert, so dass kein von der Lichtquelle 120 emittiertes Licht ungewollt auf die Sensorfläche 105 trifft. Die Leiterplatten-Kamera 100 weist ferner Lichtquellen 130 auf, die für eine Dunkelfeldbeleuchtung der von der Kamera 100 zu erfassenden Objekte vorgesehen sind.
Gegenüber herkömmlichen Kameras unterscheidet sich die Leiterplatten-Kamera 100 dadurch, dass zusätzlich Lichtquellen 140 vorgesehen sind, welche die Sensorfläche 105 unter einem schrägen Winkel, d.h. unter einer Dunkelfeldbedingung beleuchten. Die Dunkelfeldbeleuchtung der Sensorfläche 105 kann auch mit mehreren Lichtquellen erreicht werden, die um die optische Achse 117 herum angeordnet sind und die in der in Figur 1 dargestellten Querschnittsansicht nicht zu erkennen
sind. Die Beleuchtung der Sensorfläche 105 unter einer Dunkelfeldbedingung bewirkt, dass in der Objektebene 146 der Kamera 100 ein reelles Zwischenbild 145 der Sensorfläche 105 erzeugt wird, wobei in dem Zwischenbild 145 bevorzugt die Strukturen der Sensorfläche 105 zu erkennen sind, die schräg zur optischen Achse 117 stehen. Abhängig von dem Anstellwinkel zwischen dem auf die Sensorfläche 105 treffenden Dunkelfeld-Beleuchtungslicht und der optischen Achse 117, welcher Anstellwinkel bevorzugt nicht größer als 45° ist, erscheinen die schräg gestellten Strukturen der Sensorfläche 105 mehr oder weniger hell.
Das Zwischenbild 145 wird von der Bauelemente-Kamera 150 erfasst, welche eine herkömmliche Kamera ist und einen Sensor 155, ein Objektiv 160 sowie einen Strahlteiler 165 aufweist, die auf der nicht explizit dargestellten optischen Achse der Bauelemente-Kamera 150 angeordnet sind. Der Sensor 155 ist bevorzugt eine CCD- oder eine CMOS- Kamera. Die Bauelemente- Kamera 150 umfasst ferner eine Lichtquelle 170, die für eine Hellfeldbeleuchtung der von der Kamera 150 zu erfassenden Objekte vorgesehen ist, und Lichtquellen 180, die für eine Dunkelfeldbeleuchtung der von der Kamera 150 zu erfassenden Objekte vorgesehen sind. Die Lichtquelle 170 sowie die Lichtquellen 180 der Bauelemente-Kamera 150 sind genau so wie die Lichtquelle 120 sowie die Lichtquellen 130 der Leiterplatten- Kamera 100 für die Bestimmung der räumlichen Lage zwischen den beiden Kameras 100 und 150 nicht von Bedeutung.
Die Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen den beiden Kameras 100 und 150 kann dann auf zwei Arten erfolgen: a) Falls der Sensor 155 ebenfalls ein flächiger Sensor ist, kann das Zwischenbild 145 mit einer einzigen Bildaufnahme erfasst werden, wobei während der Aufnahme die beiden Kameras 100 und 150 sich relativ zueinander in Ruhe befinden. Bei der Aufnahme wird das Zwischenbild durch eine Transmission durch den Strahlteiler 165 und durch eine Abbildung mittels der Optik 160 auf den flächigen Sensor 155 abgebildet,
so dass auf der Oberfläche des Sensors 155 ein Bild des Zwischenbildes 145 entsteht. Aus der genauen Position dieses Bildes auf dem flächigen Sensor 155 kann zumindest parallel zu der Objektebene 146 die räumliche Beziehung der beiden Ka- meras 100 und 150 zueinander bestimmt werden. b) Falls der Sensor 155 ein Zeilensensor ist, wird das Bild des Zwischenbildes 145 von der Kamera 150 dadurch erfasst, dass die Kamera 150 relativ zu der Kamera 100 senkrecht zu der Ausrichtung der Zeile des Sensors 155 bewegt wird. Dabei wird das Bild des Zwischenbildes 145 Zeile für Zeile aufgenommen und in einer Auswerteeinheit zusammengesetzt, wobei die jeweiligen Positionen der Kamera 150 berücksichtigt werden, bei der die einzelnen Zeilenaufnahmen erfolgt sind. Somit besteht zwischen dem aufgenommenen und zusammengesetzten Bild und dem Verfahrweg der Kamera 150 ein Zusammenhang, aus dem die räumliche Beziehung zwischen beiden Kameras 100 und 150 parallel zu der Objektebene 146 bestimmt werden kann.
Figur 2 zeigt eine gemäß einem zweiten Ausführungsbeispiel der Erfindung modifizierte Leiterplatten-Kamera 200, deren räumliche Lage relativ zu einer herkömmlichen Bauelemente- Kamera 250 bestimmt wird. Die Leiterplatten-Kamera 200 ist dahingehend modifiziert, dass eine Sensorfläche 205 der Kamera 200 unter einer Hellfeldbedingung beleuchtet wird.
Um Wiederholungen zu vermeiden, werden im folgenden herkömmliche Komponenten der beiden Kameras 200 und 250, d.h. die beiden Objektive 210 und 260, die beiden Strahlteiler 215 und 245, die Lichtquellen 220 und 270 für eine Objekt-Hellfeld- beleuchtung sowie die Lichtquellen 230 und 280 für eine Objekt-Dunkelfeldbeleuchtung, nicht mehr erläutert. Diese Komponenten und deren Wirkungsweise wurden bereits anhand der Erläuterung des ersten Ausführungsbeispiels beschrieben.
Die Beleuchtung der Sensorfläche 205 unter einer Hellfeldbedingung erfolgt durch eine Lichtquelle 241, die Licht in Richtung des Strahlteilers 215 emittiert. Ein Teil des Lieh-
tes wird durch den Strahlteiler 215 transmittiert und spielt für die Hellfeldbeleuchtung der Sensorfläche 205 keine Rolle. Der andere Teil des von der Lichtquelle 241 emittierten Lichtes wird an dem Strahlteiler 215 reflektiert und trifft nach einem Durchgang durch die Abbildungsoptik 210 parallel zu der optischen Achse 217 auf die Sensorfläche 205. Die unter der Hellfeldbedingung beleuchtete Sensorfläche 205 wird durch das Objektiv 210 auf ein in der Objektebene 246 erzeugtes Zwischenbild 245 abgebildet, wobei der entsprechende Strahlen- gang eine Transmission durch den Strahlteiler 215 aufweist. Das Zwischenbild 245 wird von der Bauelemente-Kamera 250 erfasst, wobei die Position des Bildes des Zwischenbildes auf dem Sensor 255 direkt die relative räumliche Lage zwischen beiden Kameras 200 und 250 widerspiegelt. Wie zuvor erläu- tert, kann auch der Sensor 255 auch ein Zeilensensor sein, wobei dann zur Aufnahme eines Bildes des Zwischenbildes 245 die Kamera 250 relativ zu der Kamera 200 bewegt werden muss.
Um zu verhindern, dass das von der Lichtquelle 220 emittier- tes Licht auf die Sensorfläche 205 trifft und somit den Kontrast des Zwischenbildes 245 nachteilig beeinflusst, ist ein Lichtabsorber 225 vorgesehen, auf welchen das von der Lichtquelle 220 emittierte und durch den Strahlteiler 215 trans- mittierte Licht trifft. Dies wird gemäß dem zweiten Ausfüh- rungsbeispiel dadurch erreicht, dass die Lichtquelle 220 und die Lichtquelle 241 Licht mit zueinander unterschiedlicher Spektralverteilung emittieren und dass ein dichroitischer Spiegel 224 vorgesehen ist, dessen spektrale Reflexionseigenschaften so gewählt sind, dass das von der Lichtquelle 220 emittierte und durch den Strahlteiler 215 transmittierte Licht nahezu vollständig reflektiert und dass das von der Lichtquelle 241 für die Hellfeldbeleuchtung der Sensorfläche 205 vorgesehene Licht nahezu vollständig transmittiert wird. Dies kann insbesondere dann erreicht werden, wenn der Wellen- längenunterschied zwischen dem Licht für die Sensor-Hellfeldbeleuchtung und dem Licht für die Objekt-Hellfeldbeleuchtung groß ist.
Zusammenfassend schafft die Erfindung ein Verfahren zur Bestimmung der relativen räumlichen Lage zwischen zwei Kameras, wobei ein Sensor 105,205 einer ersten Kamera 100,200 durch eine Dunkelfeld- und/oder einer Hellfeldbeleuchtung beleuchtet wird, so dass aufgrund der Umkehrbarkeit der Strahlengänge in der Objektebene 146,246 ein reelles Zwischenbild 145,245 des Kamerasensors 105,205 erzeugt wird. Erfindungsgemäß wird die zweite Kamera 150,250 derart angeordnet, dass dieses Zwischenbild 145,245 mit der zweiten Kamera 150,250 aufgenommen werden kann und so der räumliche Zusammenhang zwischen den beiden Kameras herstellbar ist. Die Erfindung schafft ferner eine Kamera 100,200, welche als erste Kamera bei der Durchführung des Verfahrens zur Bestimmung der rela- tiven räumlichen Lage zwischen zwei Kameras verwendbar ist. Die Kamera 100,200 weist einen flächigen Sensor 105,205 auf, welcher mittels einer Beleuchtungseinheit dahingehend beleuchtbar ist, dass nach einer Abbildung über eine Optik 110,210 in dem Objektbereich der Kamera ein reelles Zwischen- bild 145,245 des flächigen Sensors 105,205 erzeugt wird.