WO2003101668A1 - Materiau de polissage et procede de polissage associe - Google Patents

Materiau de polissage et procede de polissage associe Download PDF

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WO2003101668A1
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polishing
polishing pad
organic
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Akio Tsumagari
Kazunori Ishikawa
Kazuya Miyazaki
Kazuhisa Arai
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Disco Corporation
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Definitions

  • the present invention relates to an abrasive and a polishing method using the same. More specifically, at least (1) an organic polyisocyanate as a matrix resin raw material, and at least one selected from organic polyols and organic polyamines.
  • the present invention relates to an abrasive obtained by curing a raw material containing hydroxyl-containing particles or colloidal silica as a polishing particle by a polymerization reaction, and a polishing method using the same.
  • JP-A-5-81878 discloses that a composite base material obtained by impregnating and coagulating a felt-like fibrous sheet with a linear thermoplastic polyurethane resin has a greater effect than that of the thermoplastic polyurethane resin.
  • a cloth for polishing a semiconductor wafer impregnated with a hard resin and dried by heating is disclosed. The polishing capacity of such a polishing cloth does not decrease in a short time due to clogging, but its life is still about 60 hours in a preferable embodiment.
  • Japanese Unexamined 8 2 1 6 0 3 4 discloses a matrix 6 0-9 0 weight 0/0 of soft Polyurethane resin hardness of 5 0-8 5, it is dispersed in the Matorittasu
  • An abrasive having an expansion ratio of 1.5 to 5.0, comprising 10 to 40% by weight of at least one kind of abrasive grains selected from the group consisting of silica, alumina, and silicon carbide is disclosed.
  • This abrasive has excellent surface smoothness of the polished semiconductor wafer and can suppress the surface sagging phenomenon, but has a problem that it cannot be continuously polished for a long time.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. H11-2104467 discloses a polishing pad for mechanically polishing a semiconductor substrate surface having a surface step, and a chemical polishing for the semiconductor substrate surface.
  • a device having a device for supplying a solution a semiconductor manufacturing device in which particles having a higher hardness than the semiconductor substrate are blended is disclosed.
  • a raw material of the polishing pad a material formed by mixing urethane with silicide particles is disclosed.
  • the use of this apparatus makes it possible to make the polishing rate and the polishing amount of the insulating film formed on the substrate to be processed uniform over the entire surface of the substrate to be processed, so that there is no need to supply an excessive polishing slurry.
  • the required performance of the polishing material is that, in addition to continuous polishing for a long time, the surface smoothness of the workpiece after polishing is also highly accurate. It is also required that the polishing rate is high, and that the surface sagging (the peripheral portion of the polished surface becomes thinner than the central portion) does not occur.
  • the matrix resin of the abrasive needs to be formed of a material with high elasticity in order to conform to the uneven surface of the abrasive. Disclosure of the invention
  • an object of the present invention is to provide a polishing material which is capable of polishing continuously for a long period of time, has a high polishing rate, has high accuracy in surface smoothness of an object to be polished, and does not cause surface sagging.
  • An object of the present invention is to provide a fixed abrasive polishing pad using an abrasive.
  • Another object of the present invention is to provide a method for polishing an object to be polished using the above-mentioned abrasive.
  • an abrasive As a raw material of an abrasive, at least (1) an organic polyisocyanate, or an organic polyol and an organic polyamine are selected as a matrix resin raw material.
  • an organic polyisocyanate, or an organic polyol and an organic polyamine are selected as a matrix resin raw material.
  • particles having hydroxyl groups or colloidal silica As polishing particles for polishing materials obtained by curing a raw material containing polishing material particles by a polymerization reaction for a long time, The present inventors have found that an abrasive which can be polished at a high polishing rate, has a high surface smoothness of the object to be polished with high precision, and does not cause surface sagging can be obtained, and completed the present invention.
  • a matrix resin raw material selected from an organic polyisocyanate (component A), and an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C).
  • the matrix resin (resin F) is a resin having at least a urethane bond
  • the matrix resin material contains at least one selected from organic polyisocyanate (component A), organic polyol (component B) and organic polyamine (component C), and a foaming agent (component D).
  • the matrix resin material is at least one selected from organic polyisocyanate (component A), organic polyol (component B) and organic polyamine (component C), and organic polycarboxylic acid (component J). There is,
  • the matrix resin (resin F) is a resin having at least one of a urethane bond, a urea bond, and an amide bond;
  • the particles (component E) are colloidal silica
  • the amount of hydroxyl groups in the particles (component E 1) is 0.01 to 6 mnio 1 / g,
  • Diamond cubic boron nitride
  • zirconia zirconia, ceria, manganese oxide, titanium oxide, calcium carbonate, barium carbonate, magnesium oxide, alumina-silica, and carbonized particles whose particles (component E 1) are hydroxylated Must be at least one selected from silicon
  • the matrix resin (resin F) contains 60 to 95% by weight of the abrasive.
  • the abrasive is at least one selected from an organic polyisocyanate compound (Component A), an organic polyol (Component B) and an organic polyamine (Component C), a blowing agent (Component D), a catalyst, and A foam obtained by curing a raw material containing particles (component E) by a polymerization reaction;
  • the abrasive is a mixture of at least one selected from organic polyols (component B) and organic polyamines (component C), a blowing agent (component D), a catalyst, and particles (component E).
  • a foam obtained by adding a polyisocyanate compound (component A), stirring and mixing, and curing and molding by a polymerization reaction;
  • Abrasives were selected from organic polyols (component B) and organic polyamines (component C) in a mixture consisting of an organic polyisocyanate compound (component A), a blowing agent (component D), and a catalyst.
  • a mixture consisting of one or more and particles (component E) Is added and stirred and mixed, and cured and molded by a polymerization reaction. The foam is obtained,
  • At least the matrix resin raw material is selected from an organic polyisocyanate (component A), and an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C).
  • the matrix resin (resin F) obtained by polymerizing a raw material containing at least one of the above-mentioned particles (component E) and a resin having a urethane bond is attached to a polishing table.
  • An abrasive polishing pad (polishing pad G), which presses the workpiece between the fixed abrasive polishing pad (polishing pad KG) and the workpiece holding portion to form a fixed abrasive polishing pad (polishing pad).
  • a polishing liquid (polishing liquid H) between the pad G) and the object to be polished a fixed abrasive polishing pad for polishing the object to be polished by a relative motion between the pad G) and the object to be polished is provided.
  • the fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) has radial grooves from the center point toward the circumferential direction;
  • the fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) has lattice grooves.
  • a fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) made of the abrasive is mounted on a polishing table, and a fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) is provided.
  • the object to be polished is pressed between the object to be polished and the fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) and a polishing liquid (polishing liquid H) is supplied between the object and the fixed abrasive.
  • a method for polishing an object to be polished which is a method for polishing the object to be polished by a relative movement between a grain polishing pad (polishing pad G) and the object to be polished.
  • polishing liquid H is an alkaline aqueous solution
  • the (component E) is dispersed in the matrix resin (resin F) after the polymerization reaction and exists as abrasive grains (gun particles I), but these abrasive grains (abrasive particles I) are hardly consumed. Also, since the amount of abrasive particles (abrasive particles I) discharged into the waste liquid of the polishing liquid is greatly reduced, the polishing liquid can be recycled by a simple filtration means without adversely affecting the environment. .
  • the abrasive of the present invention is cured by a polymerization reaction. It is presumed that during molding, a chemical bonding force is developed between the isocyanate group (—CNO) of the organic polyisocyanate (component A) and the hydroxyl group of the particles (component E).
  • the hydrogen atoms of the hydroxyl groups of the particles (component E) act as active hydrogen on the isocyanate groups (-CNO) of the organic polyisocyanate (component A), and the active hydrogen atoms react with the isocyanate groups (-CNO )), And the oxygen atom from which the hydrogen atom of the hydroxyl group has been removed is bonded to the carbon atom of the isocyanate group (one CN O) to form ((matrix resin side)-NH—CO—O— ( It is presumed that a chemical bond of 'abrasive grain side' occurs.
  • the abrasive of the present invention comprises at least one selected from an organic polyisocyanate (component A) as a matrix resin raw material, and an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C), and the above-mentioned particles as abrasive particles.
  • a matrix resin (resin F) obtained by curing a raw material containing (component E) by a polymerization reaction and having a urethane bond and / or a urea bond.
  • the matrix resin raw materials include, in addition to the organic polyisocyanate (component A), the organic polyol (component B) and the organic polyamine (component C), a blowing agent (component D), a catalyst, or a binder as required. Foaming agents can also be used.
  • the particles (component E) used as the abrasive particle material may be particles having a specific amount of a hydroxyl group, or particles having a hydroxyl group such as colloidal silica described later, and zirconia having a hydroxyl group further. You may.
  • An organic polyisocyanate compound (component A), which is one of the matrix resin raw materials, is a compound having two or more isocyanate groups in a molecule, and is generally used in the production of polyurethane resin. Cyanate can be used without any particular restrictions.
  • organic polyisocyanate compound component A
  • examples of such an organic polyisocyanate compound include tolylene diisocyanate (TD I), 4,4-diphenylmethane diisocyanate (MDI), polymeric MD I, Xylylene diisocyanate (XD I), Natalylene diisocyanate (ND I) ', Parafu nylene diisocyanate
  • PPD I hexamethylene diisocyanate
  • HD I hexamethylene diisocyanate
  • HMD I dicyclohexyl methane diisocyanate
  • IPDI inholon diisocyanate
  • LI lysine diisocyanate
  • TOD I Tolidine diisocyanate
  • HMD I hexamethylene diisocyanate
  • HD I hexamethylene diisocyanate
  • HMD I dicyclohexyl methane diisocyanate
  • IPDI inholon diisocyanate
  • LLI lysine diisocyanate
  • TOD I Tolidine diisocyanate
  • hydrogenated xylylene diisocyanate further modified products of these polyisocyanates, or prepolymers preliminarily reacted with a polyol so that the isocyanate group remains at the terminal.
  • the content of NCO groups in the organic polyisocyanate compound (component A) is preferably from 20 to 48% by weight, particularly preferably from 20 to 40% by weight. / 0 , more preferably 25 to 38% by weight. Within this range, an abrasive having excellent durability and wear resistance can be obtained.
  • These organic polyisocyanate compounds (component A) may be used alone or in combination of two or more.
  • TDI tolylene diisocyanate
  • MDI 4,4-diphenylmethanediisosanoate
  • organic polyol (component B) any organic compound having two or more hydroxyl groups in the molecule can be widely used, and polyhydric alcohols, polyether polyols, polyester polyols, and polymer polyols can be used. Are listed.
  • organic polyol examples include ethylene glycol, propylene glycol, 1,3-propanediol, 1,4-butanediol, 1,3-butanediole, 1,5-pentanediole, neo Pentinolegri Cornole, 1,6-Hexanediol, 1,4-bis (hydroxymethinole) Cyclohexane, Bisphenol A, Hydrogenated Bisphenol A, Hydroxypivalyl Hydroxypiparate, Trimethylonoleethane, Polyhydric alcohols such as trimethylolpropane, 2,2,4-trimethyl-1,3-pentanediol, glycerin or hexanetriol; polyoxyethylene glycol, polyoxypropylene glycol, polyoxyethylene, polyoxytetre Methylene glycol, polyoxypropylene, Polyoxytetramethylene glycol or polyether glycols such as polyoxyethylene, polyoxypropylene, and polyoxy
  • Polyol polyols polycondensation reaction between one or more of the above-mentioned various polyhydric alcohols and various lactones such as ⁇ -force prolactone, ⁇ -valerolatatotone or 3-methyl-1- ⁇ -palletone ratataton -Based polyester polyols obtained by bisphenol A type epoxy compound, hydrogenated bisphenol A type epoxy compound, various epoxy compounds such as glycidyl ether of monohydric acid and / or polyhydric alcohol or glycidyl ester of monobasic acid and dibasic or polybasic acid, Epoxy-modified polyester polyols obtained by combining one or more kinds during the synthesis of riol; furthermore, polyester polyamide polyols, polycarbonate polyols, polybutadiene polyols, polypentadiene polyols, castor oil, castor oil derivatives, hydrogenated castor oil, Examples include hydrogenated castor oil derivatives or hydroxy group-containing acrylic copolymers.
  • organic polyol preferred are those having a hydroxyl value of 100 to 180, and particularly preferred are those having a hydroxyl value of 200 to 1200.
  • organic polyols may be used alone or in combination of two or more.
  • the mixing ratio of the organic polyisocyanate compound (component A) and the organic polyol (component B) is 0.8 to 1.2, preferably 1 in terms of the functional group ratio ([active hydrogen-containing compound] / [isosinate]). ⁇ ; Range of 1.2.
  • an organic polyamine (component C) can be used instead of part or all of the organic polyol (component B).
  • usable polyamines include known diamines, triamines, and mixtures thereof, which are commonly used in the production of polyurethane resins. Typical examples thereof include 1,2-ethylenediamine and 1,2-ethylenediamine.
  • the amine value of the organic polyamine (component C) is preferably from 56 to 560 (mg KOH / g), particularly preferably from 80 to 40 ° (mg KOH / g). Within this range, an abrasive excellent in durability and polishing performance can be obtained.
  • an organic polycarboxylic acid (component) can be used instead of the organic polyol (component B) and / or the organic polyamine (component C).
  • the matrix resin (resin F) is a resin having at least one of a urethane bond, an urea bond, and an amide bond.
  • Such organic polycarboxylic acids include aromatic carboxylic acids such as phthalic acid and aliphatic carboxylic acids such as adipic acid. These also act as a stabilizer for the curing catalyst and preferably have no odor.
  • a foaming agent which can be used when reacting at least one selected from the group consisting of an organic polyisocyanate compound (component A), an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C), One or a mixture of two or more of water, trichloro-mouth monofluoromethane, dichloromethane-trichloromethane, methylene chloride, trichloro-mouth phenol, and trichloroethane.
  • component D which can be used when reacting at least one selected from the group consisting of an organic polyisocyanate compound (component A), an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C), One or a mixture of two or more of water, trichloro-mouth monofluoromethane, dichloromethane-trichloromethane, methylene chloride, trichloro-mouth phenol, and trichloroethane.
  • the expansion ratio at the time of molding the matrix resin (resin F) is preferably 1.1 to 5 times.
  • the expansion ratio refers to the production of a non-foamed cured product without blending a foaming agent (component D) into a raw material in which a matrix resin raw material and abrasive particles (component E) are mixed, and the weight and volume of the product.
  • the foaming agent (component D) is blended with the raw material containing the same abrasive particles (component E) to produce a foamed cured product, and the bulk density calculated from the weight and volume the when the D 2, intends Rere a value indicated by / D 2
  • Abrasives having an expansion ratio of more than 5.0 have a coarse cell structure, so that the polishing rate during polishing is high, but on the other hand, the surface of a wafer to be polished is roughened. It reduces the surface smoothness of the object after polishing.
  • the expansion ratio is less than 1.1, since the cell structure is dense, the surface smoothness of a wafer or the like is improved, but the polishing rate is low, and the productivity during polishing decreases.
  • the catalyst that can be used for reacting the organic polyisocyanate compound (component A) with the organic polyol (component B) is not particularly limited.
  • Metal-based catalysts and the like can be used.
  • examples of such an amine catalyst include triethylenediamine, triethylamine, tripropylamine, triisopropanolamine, triptylamine, trioctylamine, N-methylmorpholine, and N-ethylmorpholine.
  • examples of the organometallic catalyst include tin octylate, tin laurate, dibutyltin dilaurate and the like. Of these, preferred are amine catalysts.
  • the amount of the catalyst to be added is not particularly limited, but is usually about 0.01 to 0.5 part by weight based on 100 parts by weight of the total amount of the organic polyisocyanate compound (component A) and the organic polyol (component B). .
  • organosilicone surfactant As the foam stabilizer, a conventionally known organosilicone surfactant is used.
  • organosilicone surfactants include, for example, L-520, L-532, L-540, L-544, L-1550, L-5550S, L-5740M, L-520, L-532, L-540, L- 5740M, manufactured by Nippon Tunicer Inc. L-6202, etc .; SH-190, SH-192, SH-193, SH-194, SRX-294, SRX-298, etc., manufactured by Tori Silicone Co., Ltd .; Shin-Etsu Silicon Co., Ltd. F-114, F-121, F-122, F-230, F-258, F-260B, F-317, F'-341, F-601, F-606 and the like.
  • a flame retardant e.g., a dehydrating agent, a weathering agent and the like can be added to the raw material composition.
  • Examples of flame retardants include aluminum hydroxide, phosphates, melamine, red phosphorus, expanded graphite, etc.
  • Examples of dehydrating agents include calcium silicate, calcium carbonate, magnesium sulfate, synthetic zeolite, etc. Examples thereof include ultraviolet absorbers, light stabilizers, antioxidants and the like which are usually used for polyurethane resins.
  • abrasive particles (component E), (a) particles having an amount of glacial groups of at least 0.000 lmmo 1 / g (component E 1), and / or (b) fumed silica, colloidal silica, fume At least one (component E2) selected from dealumina, colloidal alumina, boehmite, and balailite can be used.
  • the amount of hydroxyl groups in the particles having hydroxyl groups (component E1) is 0.001 mmol / g or more according to the following neutralization titration method. . If the amount of hydroxyl groups is 0.001 mmo 1 Zg or more, Matrix resin (Resin F)
  • the amount of the hydroxyl group is preferably 0.01 mmol / g or more, and particularly preferably 0.05 mmo1 Zg or more.
  • the amount of hydroxyl groups in the particles (component E 1). is generally preferably 20 mmol / g or less, particularly preferably 10 mmol / g or less, and even more preferably 6 mm0 lzg or less.
  • the method for measuring the amount of hydroxyl groups in the abrasive particles is as follows. That is, weigh out 2.00 g of the sample particles (referred to as Wg), put them in a 100 ml Erlenmeyer flask, add 0.05 N NaOH aqueous solution to 8 Om1, and seal with a rubber stopper for 12 hours. It was left with stirring. Thereafter, the particles and the solution were separated by a centrifugal separator, and 1 Om 1 of this solution was pipetted and neutralized and titrated with a 0.05 N aqueous solution of HC 1.
  • the aqueous solution of HC 1 required for the neutralization is referred to as Am 1.
  • the same operation is performed without particles, and the HC1 aqueous solution required for neutralization is Bm1.
  • the amount of OH groups per unit weight of particles (Xmmol / g) is calculated by the following equation.
  • the above measured value of the amount of hydroxyl groups is a measured value of the amount of hydroxyl groups present relatively near the surface of the particles (component E). In the present invention, it is the hydroxyl groups present relatively near the surface of the particles (component E) that can actually exhibit the chemical bonding force with the matrix resin (resin F).
  • the measured value is, for convenience, the amount of hydroxyl groups in the particles (component E).
  • the particles having a hydroxyl group specifically, those used for known inorganic abrasive grains such as silica and alumina can be used.
  • examples of the particles provided with a hydroxyl group include, for example, metal oxides such as titanium oxide provided with a hydroxyl group by a hydration reaction.
  • mechanical energy is applied to a plurality of different material particles to cause a mechanochemical reaction to combine the particles (combining particles with hydroxyl groups and particles without hydroxyl groups to form hydroxyl groups. Insert).
  • hydroxyl groups can be provided by various methods according to the type of the particles.
  • Such particles include hydroxylated diamond, cubic boron nitride, zirconia, ceria, manganese oxide, titanium oxide, calcium carbonate, barium carbonate, magnesium oxide, alumina-silica, or silicon carbide. Can be.
  • abrasive particles particles composed of at least one selected from fumed silica, colloidal silica, fumed alumina, colloidal alumina, boehmite, and bayarite can be used. Since all of these abrasive particles (component E2) usually have hydroxyl groups on the particle surface, they can be used alone or in any combination without considering the amount of hydroxyl groups as in the above-mentioned particles (component E1). It is possible, and among these, colloidal silica is preferable.
  • JP-A-4-12602, JP-A-4-231319, JP-A-5-97422, JP-A-2003-8 Those manufactured by a known manufacturing method described in Japanese Patent Application Laid-Open No. 9786 and Japanese Patent Application Laid-Open No. 2003-100678 can be used.
  • colloidal silica, fumed silica, etc. have many hydroxyl groups (silanol groups) composed of Si-OH on the surface (bonding end in the structure), and thus chemically bond with the matrix resin (resin F). It is suitable for
  • these abrasive particles have a uniform particle size so as to prevent scratches caused by abrasive particles on the surface of the object to be polished, and to prevent precipitation and change in composition during storage. Those having a small diameter are preferred.
  • the particle size of the abrasive particles (component E) can be observed with a scanning electron microscope, and the particle size is preferably in the range of 0.05 to 50 ⁇ . If the particle size is less than 0.005 ⁇ m, the polishing rate is difficult to increase, which is not preferable. If it exceeds 50 m, it is not preferable because scratches easily occur on the surface of the object to be polished.
  • the abrasive of the present invention desirably contains 60 to 95% by weight of a matrix resin (resin F) in the abrasive.
  • a matrix resin resin F
  • the content of the matrix resin (resin F) in the abrasive exceeds 95% by weight (when the abrasive grains are less than 5% by weight), the polishing rate is reduced and high productivity is maintained.
  • the content is less than 60% by weight (when the abrasive grains are more than 40% by weight /)
  • the flowability of the liquid polyurethane resin serving as a matrix during the production of an abrasive is reduced. In some cases, it may be significantly reduced, and molding may be difficult.
  • the abrasive of the present invention comprises at least one selected from the group consisting of an organic polyisocyanate (component A) and an organic polyol (component B) and an organic polyamine (component C) as a matrix resin raw material (optionally, an organic polycarbonate).
  • An acid is sometimes added), and a raw material containing abrasive particles (component E) is obtained by a polymerization reaction.
  • a catalyst As described above, a catalyst, a foaming agent (component D), a foam stabilizer, and the like can be combined as necessary.
  • the raw material mixture can be mixed and cured and molded by a polymerization reaction using a reaction injection method or a casting method.
  • the fixed-abrasive polishing pad (polishing pad G) made of the above-described abrasive is mounted on a polishing table, and the object to be polished is pressed against the surface of the fixed-abrasive polishing pad (polishing pad G).
  • the object to be polished is polished by the relative movement between the (polishing pad G) and the object to be polished.
  • the fixed abrasive polishing pad is used to uniformly spread the polishing liquid over the entire fixed abrasive polishing pad (polishing pad G). It is desirable to provide radial grooves or lattice grooves in the circumferential direction from the center point.
  • a fixed abrasive polishing pad comprising the above-described abrasive is mounted on a polishing table, and a fixed abrasive polishing pad (polishing pad G) is provided.
  • the object to be polished is pressed between the polishing object and the object to be polished.
  • polishing liquid H when an alkaline aqueous solution is used as the polishing liquid (polishing liquid H), chemical mechanical polishing can be performed, and a polishing object having a high polishing rate and high surface smoothness can be obtained.
  • polishing liquid H examples include aqueous solutions such as sodium hydroxide, hydroxylating power, and ammonium hydroxide.
  • the alkali concentration is preferably 10 or more.
  • it is an alkaline aqueous solution.
  • polishing liquid H an alkaline aqueous solution is used as the polishing liquid (polishing liquid H), and the abrasive particles (abrasive particles I) fall off from the polishing material very little, the polishing liquid (polishing liquid H) can be easily recycled. It can be recycled simply by filtering through the filter.
  • FIG. 1 is a perspective view showing an outline of a polishing apparatus using an abrasive in the first embodiment as a fixed abrasive polishing pad.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a configuration of a fixed abrasive polishing pad according to the second embodiment.
  • FIG. 3 is a graph showing the relationship between the polishing time and the polishing efficiency in Embodiment 1. Best Mode for Carrying Out the Invention
  • the abrasive of the present invention can be manufactured as follows.
  • the mixture comprising the above-mentioned organic isocyanate compound (component A), organic polyol (component B), blowing agent (component D), catalyst, foam stabilizer, and particles (component E) is stirred, and the particles in the raw material composition liquid are stirred.
  • Component E is evenly dispersed.
  • an organic polyol having an average molecular weight of 250 to 4,000 component B
  • a foaming agent (component D) a catalyst, a foam stabilizer, and particles (component E) are mixed with an organic compound.
  • a method of adding an isocyanate compound (component A) and mixing with stirring is particularly preferable.
  • a predetermined amount of raw materials (excluding the particles (component E) and the organic polyol (component B)) is blended to prepare a liquid composition, in which the chemically stable organic polyol (component B) is mixed with the particles (component B).
  • a method in which the component E) is blended, and a well-mixed and stirred mixture is added is also preferable.
  • the raw material composition is cast into a mold having a predetermined size and shape, and heated for a predetermined time.
  • the raw material composition foams simultaneously with curing. After curing, the foamed abrasive is removed from the mold, and the abrasive of the present invention is obtained.
  • the raw material mixture is injected from a resin gate into a mold, and heat-cured in the mold in a relatively short time to obtain a molded product.
  • Shore D 20 to 85 is particularly preferable in a temperature range of 20 to 150 ° C. in the surface hardness specified by JIS K6253-1997 / IS 07619.
  • Shore D hardness is less than 20., the polishing efficiency is deteriorated, and when it exceeds 85, scratches tend to occur (due to roughness).
  • grooves 16a and 16b are formed on the surface of the fixed abrasive polishing pad 16 in the second embodiment.
  • Such groove processing is intended to efficiently and uniformly spread the polishing liquid over the entire fixed abrasive polishing pad (especially near the center). This makes it possible to planarize the wafer surface, improve the polishing rate, and prevent thermal expansion due to local temperature rise.
  • radial groove processing as shown in FIG. 2 (a) or lattice-shaped groove processing as shown in FIG. 2 (b) can be performed.
  • the fixed abrasive polishing pad 16 is radially divided into 16 to 32 at the center point (central angle 22 5 ° to 11.25 °).
  • the groove width is, for example, about 1 to 2 mm
  • the groove depth is, for example, about 1 to 2 mm.
  • the grooves are not formed in a predetermined range from the center (for example, within 10 O mm from the center).
  • the groove can be formed by a suitable method such as a hexagonal shape or a wavy shape.
  • a suitable method such as a hexagonal shape or a wavy shape.
  • the cross-sectional shape of the groove is described as a square shape (rectangular shape), other shapes such as a round shape, a V shape, and a U shape can be used.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of a polishing apparatus using the fixed abrasive polishing pad according to the present embodiment.
  • the polishing apparatus 10 using the fixed abrasive polishing pad according to the present embodiment is provided on a polishing table 14 rotatable by a motor 12 and a polishing table 14 as shown in FIG.
  • Fixed abrasive polishing pad 16, substrate holding unit 20 that presses the held polishing surface of substrate 30 against fixed gantry polishing pad 16, and substrate holding unit drive that rotates and presses substrate holding unit 20 It comprises means 18 and a polishing liquid supply port 24 for supplying a polishing liquid 25 onto the polishing table 14.
  • the polishing table 14 is a substantially disk-shaped table made of, for example, stainless steel, ceramics, or the like, and has, for example, a smooth horizontal surface on the upper surface.
  • the polishing table 14 is driven, for example, by transmitting the driving force of a motor 12 provided in a device below the polishing table 14 via a spindle 26, a transmission (not shown), and the like. At a predetermined speed (for example, 40 rpm).
  • the fixed abrasive polishing pad 16 is attached on the polishing table 14 so as to be as flat as possible, and rotates with respect to the substrate 30 as the polishing table 14 rotates. Then, the polishing surface of the substrate 30 is polished via the polishing liquid 25 supplied from the polishing liquid supply port 24. Details of the fixed abrasive polishing pad 16 will be described later.
  • the substrate holding unit driving means 18 is a mechanism for rotating the substrate holding unit 20 while applying pressure via a rod 28, and is composed of, for example, a motor and a cylinder (not shown). That is, for example, the substrate holding unit 20 holding the substrate 30 is pressed against the fixed abrasive polishing pad 16 in, for example, a vertical direction by a cylinder as a pressing mechanism, and the substrate is held by a motor as a rotating mechanism.
  • the part 20 can be rotated in the direction of the thin arrow in FIG.
  • the substrate holding unit driving means 18 may be configured so that the substrate holding unit 20 can be moved in an arbitrary substantially horizontal direction.
  • the substrate holder (also called a polishing head or carrier) 20 has a substantially columnar shape as a whole, and is rotatably installed above the polishing table 14.
  • the substrate holding unit 20 is connected to the holding unit driving means 18 via a rod 2'8, and has a ring (retainer ring) on the lower surface for preventing the substrate 30 from laterally shifting. .
  • the substrate holder 20 presses the polishing surface of the substrate 30 against the fixed abrasive polishing pad 16 while rotating while holding the substrate 30.
  • the substrate 30 pressed against the fixed abrasive polishing pad 16 in this way is rubbed bidirectionally with the fixed abrasive polishing pad 16 rotating in the opposite direction, so that the entire polishing surface is uniformly polished. .
  • the polishing liquid supply nozzle 24 supplies the polishing liquid 25 onto the rotating fixed abrasive polishing pad 16 when polishing the substrate 30.
  • the polishing liquid 25 is a solution containing a chemically reactive substance, and enters between the substrate 30 and the fixed abrasive polishing pad 16 during polishing and chemically reacts with the polished surface of the substrate 30 to achieve high precision. Smoothing.
  • the substrate holder (polishing head) 20, the polishing table 14, and the polishing liquid supply nozzle 24 are each provided with a temperature controller (not shown).
  • a temperature controller not shown.
  • Such a polishing solution is preferably an alkaline aqueous solution having a pH of not less than 0 c. This is because, as shown in Example 2, when a polishing solution having a pH of less than 10 is used, the polishing efficiency is significantly reduced. is there.
  • the alkaline liquid since the alkaline liquid is used as the polishing liquid according to the present embodiment, it can be reused only by filtering with a simple regenerator. For example, when an alkaline solution adjusted with sodium oxide or potassium hydroxide is used, a simpler waste liquid treatment can be performed using a neutralization device or the like. In this way, the reuse of the polishing liquid can be easily realized, which can contribute to the environment.
  • the polishing liquid (alkaline solution) according to the present embodiment can be adjusted with, for example, sodium hydroxide, potassium hydroxide, amine, ammonia, or the like.
  • the polishing liquid is preferably adjusted in a temperature range of 20 to 150 ° C. and polished in a temperature range of 20 to 150 ° C.
  • Example 1 a polyurethane polishing pad of the present invention was used as a fixed abrasive polishing pad, in Comparative Example 1, a polyurethane polishing pad containing alumina abrasive particles was used, and in Comparative Example 3, a commercially available fixed abrasive polishing pad was used. A pad was used.
  • the abrasive particles used in Example 1 were colloidal silica (manufactured by Fuso Chemical Co., Ltd., trade name: Quartron SP-4B), and the abrasive particles used in Comparative Example 1 were alumina (Fujimi Incorporated Co., Ltd.). Product name: WA # 30000).
  • the commercially available fixed abrasive polishing pad of Comparative Example 2 was manufactured by Noritake Co., Ltd. (Product name: FAD pad).
  • Table 1 shows the raw material composition of the polishing pad and the physical properties of the polishing pad in Example 1 and Comparative Example 1. table 1
  • polyether Le polyol functionality 2-3 in molecular weight from 250 to 5,000. (Sanyo Kasei Co., Ltd., trade name: SANNIX), Inshianeto (content 3 1 weight N CO group / 0 , Manufactured by Dow 'Polyurethane Co., Ltd., trade name: PAP I * 135), water, amine catalyst (manufactured by Tosoichi Co., Ltd., trade name: TO YO CAT-ET), silicone foam stabilizer (Nippon Tunicer, Inc.) ), A trade name: L-5309) and the above abrasive particle material were blended in the ratio (parts by weight) shown in Table 1 to prepare a liquid mixture. This liquid mixture was poured into a mold and left at room temperature of 20 to 30 ° C. for 24 hours to foam and harden, thereby producing a polyurethane polishing pad.
  • This polyurethane polishing pad was attached to the surface of a polishing machine with adhesive tape, and the surface of the polyurethane polishing pad was modified with a correction ring on which diamond was electrodeposited. A polishing pad was obtained.
  • the polishing pad used in Comparative Example 1 was manufactured in the same manner as in Example 1 except that the colloidal silica in Example 1 was changed to alumina.
  • an object to be polished (silicon wafer) is pressed against a polyurethane polishing pad, and a polishing liquid is supplied between the polyurethane polishing pad and the object to be polished.
  • the object to be polished (silicon wafer) was polished by the relative motion with ().
  • the polishing conditions are as follows.
  • the polishing efficiency was calculated by measuring the change in volume per minute during the polishing process and calculating the change in thickness.
  • the surface roughness was measured using a surface roughness measuring device (trade name: surf coder 3500, manufactured by Kosaka Laboratory).
  • the waste liquid was filtered through qualitative filter paper having a retention particle diameter of 1 m, and the state of the waste liquid after filtration was observed.
  • the waste liquid after filtration was placed in a test tube with a diameter of 10 mm, and if the type of newspaper was readable on the opposite side, it was judged as good.
  • the polishing efficiency was constant even after continuous polishing for 333 hours. No shedding of abrasive grains was observed at that time.
  • the polishing time of one silicon wafer is, for example, 10 minutes and Z wafers. Therefore, if continuous polishing is performed for 333 hours, about 2000 silicon wafers can be continuously polished.
  • polishing efficiency decreased as the polishing time passed, and the polishing became impossible in 80 hours. Polishing of the first silicon wafer could be performed normally, but polishing of the second silicon wafer significantly reduced the polishing efficiency. In the case of the conventional fixed-abrasive polishing pad of Comparative Example 3, the polishing efficiency was extremely reduced as soon as polishing was started, and the polishing became impossible in 10 hours. Polishing of the first silicon wafer could be performed normally, but polishing efficiency of the second silicon wafer became almost zero.
  • Example 1 when a fixed abrasive polishing pad manufactured using colloidal silica as the abrasive particle material and urethane as the matrix resin was used, the polishing efficiency was improved even when the silicon wafer was continuously polished for 33 hours. It was confirmed that it was maintained at a constant level. Considering that the conventional method using a fixed-abrasive polishing pad required dressing after polishing for about 10 minutes, it can be understood that the continuous polishing time has been dramatically improved. Furthermore, the thickness of the fixed abrasive polishing pad did not decrease, and no abrasive grains were dropped. Therefore, since only the silicon and the alkaline solution to be polished are discharged as waste liquid after polishing, waste liquid treatment can be performed easily and easily without adversely affecting the environment.
  • Polyol A is a glycerin-based polyether polyol having a molecular weight of 600 (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd., trade name: GP-600), and polyol B is a glycerin-based polyether polyol having a molecular weight of 300,000 (manufactured by Sanyo Chemical Co., Ltd.) Name: GP-3000), organic polyisocyanate (manufactured by Dow Polyurethane Co., Ltd., trade name: PAR1 * 135), and catalyst (manufactured by Toso Corporation, trade name: TOYOC AT-ET), A foam stabilizer (manufactured by Nippon Tunicer Co., Ltd., trade name: L-5309), and the same colloidal sily force as used in Example 1 were used as abrasive particles. These were mixed in the composition shown in Table 3 and cured at room temperature by a casting method to obtain an abrasive. Table 3 shows the obtained
  • the object to be polished (silicon wafer) was polished under the following conditions with the pH of the polishing solution set to 9.5 to 13.5. Table 3 shows the results.
  • the polishing conditions are as follows.
  • the pH of the polishing liquid is preferably 10 or more, and the use of a polishing liquid having a pH of less than PHIO significantly lowers the polishing efficiency.
  • the abrasive of the present invention since a chemical bond is generated between the matrix resin and the abrasive grains, the bonding force between the matrix resin and the abrasive grains is greatly improved. ⁇ Abrasive grains hardly fall off from grease. As a result, continuous polishing can be performed for a long time even if the abrasive does not exhibit the spontaneous blade action. Even after long continuous polishing, the abrasive particles are hardly consumed and the waste liquid (polishing liquid) hardly contains the abrasive particles. It can be easily reused for example.

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Description

明 細 書 研磨材、 及びそれを使用した研磨方法 技術分野
本発明は、 研磨材、 及びそれを使用した研磨方法に関し、 さらに詳細には、 少なく とも、 (1 ) マトリ ックス樹脂原料として有機ポリイソシァネート、 及 ぴ有機ポリオールと有機ポリアミンから選ばれた 1種以上、 並びに (2 ) 研磨 粒子として水酸基を有する粒子又はコロイダルシリカ等を含む原料を重合反応 により硬化させて得られる研磨材、 及びそれを使用した研磨方法に関する。 背景技術
従来より、 不織布の研磨パッドと遊離砥粒を含む研磨液とを使用した C M P 法 (Chemical Mechanical Polishing:化学的機械的研磨法) は知られてい るが、 近年、 研磨加工コス トの低減、 及び研磨液の廃液処理問題から環境に配 慮した C M P法が求められている。
上記遊離砥粒を含む研磨液を使用した CM P法では、 使用された遊離砥粒 (例えばシリカなど) の大部分が廃液中に排出されることになるので、 簡便な 廃液処理法を採用することができないという問題点があった。 通常、 研磨時の 砥粒の磨耗による消費量は、 砥粒全体の 3〜 4重量%程度であり、 大部分の砥 粒が研磨に直接寄与することなく無駄に消費されているのが実情である。 従つ て、 遊離砥粒を含む研磨液を使用した CM P法では、 加工コス トの低減や環境 に配慮した対応を十分に行うことが困難であった。
このような背景から、 遊離砥粒を含有する研磨液を使用せずに、 研磨パッド に砥粒を含有させる C M P法の改良が検討されている。 この C M P法の改良で は、 大部分の砥粒 (例えばシリカなど) が研磨に寄与して磨耗消費されるので、 研磨液の廃液中に排出される砥粒量を低減でき、 従って、 一度使用した研磨液 をろ過してリサイクル使用することが可能となる。 また、 砥粒が無駄に消費さ れることがないので、 研磨工程のランニングコストを大幅に低減することが期 待できる。 しかしながら、 従来の固定砥粒研磨パッドでは、 自生発刃作用が発揮されな いため、 研磨効率 (研磨レート) が比較的短時間で低下してしまい、 長時間の 連続研磨を行うことができないという問題があった。 このため、 研削 (ドレツ シング) による砥粒の目立てを頻繁におこなう必要があり、 生産性の低下を招 いていた。
例えば、 特開平 5— 8 1 7 8号公報には、 フェルト状繊維質シートに線状の 熱可塑性ポリウレタン榭脂を含浸、 凝固させて得た複合基材に、 該熱可塑性ポ リウレタン樹脂よりも硬質の樹脂を含浸、 加熱乾燥させた半導体ウェハー研磨 用クロスが開示されている。 かかる研磨クロスは目詰まりのために研磨能力が 短期間で低下することはないが、 それでもそのライフは好ましい態様でも 6 0 時間程度である。
また、 特開平 8— 2 1 6 0 3 4号公報には、 硬度が 5 0〜8 5である軟質ポ リウレタン樹脂のマトリックス 6 0〜 9 0重量0 /0と、 前記マトリッタスの中に 分散され、 シリカ、 アルミナ、 炭化ケィ素の群から選ばれる少なくとも 1種の 研磨砥粒 1 0〜4 0重量%とから成る発泡倍率 1 . 5〜5 . 0の研磨材が開示 されている。 この研磨材は、 研磨後の半導体ウェハの表面平滑性に優れ、 面ダ レ現象も抑制できるが、 長時間連続研磨することができないという問題点を有 している。
更に、 特開平 1 1一 2 0 4 4 6 7号公報には、 表面段差を有する半導体基板 表面に対して機械的研磨を行う研磨パッドと、 前記半導体基板表面に対して化 学的研磨を行う溶液を供給する装置を有する装置において、 前記半導体基板よ り硬度の高い粒子が配合されている半導体製造装置が開示されている。 該研磨 パッドの原材料としてゥレタンにシリ力粒子を混和して成形したものが開示さ れている。 該装置を用いると被処理基板上に形成された絶縁膜の研磨速度や研 磨量を、 被処理基板全面で均一にすることができ、 過度な研磨スラリの供給が 不要になるという特徴はあるものの、 やはり長時間連続研磨することができず、 定期的に研削 (ドレッシング) を行わなければならないという問題点がある。 このような事情から、 長時間に渡る連鋒研磨を行う場合には、 遊離砥粒を含 む研磨液を使用して被研磨物を研磨しなければならなかった。
一般に、 化合物半導体ウェハ等を研磨する際に研磨材に要求される性能とし て、 長時間の連続研磨のほかに、 更に研磨後の被研磨物の表面平滑性が高精度 であること、 研磨速度の速いこと、 及び面ダレ現象 (研磨面の周辺部が中心部 よりも薄くなること) を起こさないことも必要とされる。
更に、 凹凸のある被 #磨材の表面に適合させるには研磨材のマトリ ックス樹 脂は弾力性に富む材料で形成されることも必要である。 発明の開示
従って、 本発明の目的は、 長時間連続して研磨することが可能であり、 かつ 研磨速度が速く被研磨物の表面平滑性は高精度で、 面ダレ現象を起こさない、 研磨材、 及び該研磨材を使用した固定砥粒研磨パッドを提供することにある。 本発明の他の目的は、 上記研磨材を使用した被研磨物の研磨方法を提供する ことにある。
本発明者らは、 上記課題を解決するために種々検討した結果、 研磨材の原料 に少なく とも、 (1 ) マ トリ ックス樹脂原料として有機ポリイソシァネート、 及び有機ポリオールと有機ポリアミンから選ばれた 1種以上、 並びに (2 ) 研 磨材料粒子を含む原料を重合反応により硬化させて得られる研磨材に、 研磨粒 子として水酸基を有する粒子又はコロイダルシリカ等を使用することにより、 長時間連続して研磨することが可能であり、 かつ研磨速度が速く被研磨物の表 面平滑性は高精度で、 面ダレ現象を起こさない研磨材が得られることを見出し 本発明を完成させた。
すなわち、 本発明の第 1の態様によれば、 少なくとも、 (1 ) マトリ ックス 樹脂原料として有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 及び有機ポリオール (成 分 B ) と有機ポリアミン (成分 C ) から選ばれた 1種以上、 並びに (2 ) 研磨 粒子 (成分 E ) を含む原料を重合反応により硬化させて得られる研磨材であつ て、 粒子 (成分 E ) 力 ( a ) 該粒子中の水酸基量 (中和滴定法による測定値、 以下同じ) 0 . 0 0 1 mm o 1 / g以上である粒子 (成分 E 1 ) 、 及び/又は ( b ) フューム ドシリカ、 コロイダルシリカ、 フュームドアノレミナ、 コロイダ ルアルミナ、 ベーマイ トとパイャライ トから選ばれた少なくとも 1種類以上 (成分 E 2 )であることを特徴とする研磨材
が提供される。
本発明の第 1の態様においては、 (1) マトリックス樹脂 (樹脂 F) が少なくともウレタン結合を有する樹脂で あること、
(2) マトリックス樹脂原料が有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 有機ポリ オール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 並び に発泡剤 (成分 D) を含むこと、
(3) マトリックス樹脂原料が有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 有機ポリ オール (成分 B) と有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 及び有 機ポリカルボン酸 (成分 J) であること、
(4) マトリックス樹脂 (樹脂 F) がウレタン結合、 ゥレア結合、 及びアミ ド 結合のいずれか 1種以上を有する樹脂であること、
(5) 発泡倍率が 1. 1ないし 5倍であること、
(6) 粒子 (成分 E) が、 コロイダルシリカであること
(7) 粒子 (成分 E 1) 中の水酸基量が 0. 01ないし 6mnio 1 /gである こと、
(8) 粒子 (成分 E 1) が水酸基を付与された、 ダイヤモンド、 立方晶窒化硼 素、 ジルコユア、 セリア、 酸化マンガン、 酸化チタン、 炭酸カルシウム、 炭酸 バリウム、 酸化マグネシウム、 アルミナ一シリカ、 及ぴ炭化ケィ素から選ばれ た 1種以上であること、
(9) マトリックス榭脂 (樹脂 F) が研磨材中に 60ない 95重量%含まれる こと、
(10) 研磨材が有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) 、 有機ボリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 発泡剤 (成 分 D) 、 触媒、 及ぴ粒子 (成分 E) を含む原料を重合反応により硬化させて得 られた発泡体であること、
(1 1) 研磨材が有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) か ら選ばれた 1種以上、 発泡剤 (成分 D) 、 触媒、 及び粒子 (成分 E) からなる 混合物に、 有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) を加えて撹拌混合して重 合反応により硬化 ·成形させて得られた発泡体であること、
(1 2) 研磨材が有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) 、 発泡剤 (成分 D) 、 及び触媒からなる混合物に、 有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリア ミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 並びに粒子 (成分 E) からなる混合物 を加えて撹拌混合して重合反応により硬化 ·成形させて得られた発泡体である こと、
が望ましい。
また、 本発明の第 2の態様によれば、 少なくとも、 マトリ ックス樹脂原料と して有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 及び有機ポリオール (成分 B ) と有 機ポリアミン (成分 C ) から選ばれた 1種以上、 並びに前記粒子 (成分 E ) を 含む原料を重合反応させて得られる、 マ トリ ックス樹脂 (樹脂 F ) がウレタン 結合を有する樹脂である研磨材を研磨テーブルに装着してなる固定砥粒研磨パ ッ ド (研磨パッ G) であって、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッ KG ) と被研 磨物保持部との間で被研磨物を押圧し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と前記被研磨物との間に研磨液 (研磨液 H) を供給しながら、 前記被研磨物と のとの相対運動によって前記被研磨物を研磨するための固定砥粒研磨パッドが 提供される。
本発明の第 2の態様においては、
( 1 ) 固定砥粒研磨パッド (研磨パッ ド G) が中心点から円周方向に向かって 放射状溝を有すること、
( 2 ) 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) が格子状溝を有すること
が望ましい。
また、 本発明の第 3の態様によれば、 前記研磨材からなる固定砥粒研磨パッ ド (研磨パッド G ) を研磨テーブル上に装着し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パ ッド G) と被研磨物保持部との間で被研磨物を押圧し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッ ド G ) と前記被研磨物との間に研磨液 (研磨液 H) を供給しながら、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と前記被研磨物との相対運動によって被 研磨物を研磨する方法であることを特徴とする被研磨物の研磨方法が提供され る。
本発明の第 3の態様においては、
( 1 ) 研磨液 (研磨液 H) がアルカリ水溶液であること、
( 2 ) 前記アル力リ水溶液が p H 1 0以上であること
が望ましい。 本発明の研磨材を使用して被研磨物の研磨を長時間の連続研磨をおこなって も、 研磨機能が低下することは殆どない。 更に研磨粒子として配合した粒子
(成分 E) が重合反応後にマトリックス樹脂 (樹脂 F) 中に分散して砥粒 (砲 粒 I ) として存在するが、 この砥粒 (砥粒 I ) も殆ど消耗しない。 また研磨液 の廃液中に砥粒 (砥粒 I ) が排出される量も大幅に削減されるので、 環境に悪 影響を与えることなく簡易なろ過手段などにより研磨液をリサイクル使用する ことができる。
本発明の研磨材を使用して被研磨物の研磨を長時間連続して行うことのでき る具体的なメカニズムについては明確にはされていないが、 本発明の研磨材を 重合反応により硬化 '成形させる際に、 有機ポリイソシァネート (成分 A) の 有するイソシァネート基 (― CNO) と粒子 (成分 E) の有する水酸基との間 で化学的結合力が発現するためと推定される。
すなわち、 有機ポリイソシァネート (成分 A) の有するイソシァネート基 (-CNO) に、 粒子 (成分 E) の有する水酸基の水素原子が活性水素として 作用し、 該活性水素原子は前期イソシァネート基 (― CNO) の窒素原子に付 加して、 該水酸基の水素原子の抜けた酸素原子はイソシァネート基 (一 CN O) の炭素原子と結合して、 [ (マトリックス樹脂側) ― NH— CO— O— (砥粒側) ]の化学結合が'生ずるためと推定される。
マトリックス樹脂 (樹脂 F) と砥粒 (砥粒 I ) との間に化学結合が発現する 結果、 マトリックス樹脂 (榭脂 F) 中に存在する砥粒 (砥粒 I ) の脱落する量 が大幅に減少し、 長時間の違続研磨が可能になったと推定される。
従来の研磨材は、 使用されていた粒子に水酸基が殆ど存在しないか、 存在し ていても微量であったために、 マトリックス樹脂中に砥粒粒子が単に物理的に 保持された状態であったため、 このような砥粒は研磨により相当部分が容易に 脱落していたと推定される。
また、 マトリックス樹脂 (樹脂 F) と砥粒 (砥粒 I ) との境界面に化学結合 力が発現することにより、 研磨材の研磨面に存在する砥粒 (砥粒 I ) 部分だけ でなく研磨材表面全体が加工面となるので、 長時間の連続研磨でも研磨効率が 低下しないものと考えられる。
これらのことにより、 研磨材の自発刃作用が発揮されなくても長時間の連続 研磨をおこなうことが可能となる。 [本発明の第 1の態様]
本発明の研磨材は、 少なくとも、 マトリックス樹脂原料として有機ポリイソ シァネート (成分 A) 、 及び有機ポリオール (成分 B) と有機ポリアミン (成 分 C) から選ばれた 1種以上、 並びに研磨粒子として前記粒子 (成分 E) を含 む原料を重合反応により硬化させて得られた、 マトリックス樹脂 (樹脂 F) が ウレタン結合、 及び/又はゥレア結合を有する研磨材である。
また、 マトリ ックス樹脂原料には、 有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 有 機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) の他、 必要に応じ発泡 剤 (成分 D) 、 触媒、 又は整泡剤を用いることもできる。
更に、 研磨粒子材料として用いる粒子 (成分 E) には、 特定量の水酸基を有 する粒子、 又は後述するコロイダルシリカ等のように水酸基を有するものでも よく、 更に水酸基が付与されたジルコユア等であってもよい。
マ トリックス樹脂原料の 1つである有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) は、 分子内に 2つ以上のイソシァネート基を有する化合物であり、 ポリウ レタン榭脂を製造する際に通常用いられるポリイソシァネートを特に制限なく 使用することが可能である。
この様な有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) として具体的には、 トリ レンジイソシァネート (TD I) 、 4, 4—ジフエニルメタンジィソソァネー ト (MD I ) 、 ポリメリック MD I、 キシリ レンジイソシァネート (XD I ) 、 ナタチレンジィソシァネート (ND I )' 、 パラフエ二レンジイソシァネート
(P PD I ) 、 へキサメチレンジイソシァネート (HD I) 、 ジシクロへキシ ルメタンジイソシァネート (HMD I ) 、 インホロンジイソシァネート (I P D I ) 、 リジンジイソシァネート (LD I) 、 トリジンジイソシァネート (T OD I) 、 水添キシリレンジイソシァネート、 更にこれらのポリイソシァネー トの変性物、 又はあらかじめ末端にイソシァネート基が残るようにポリオール と反応させたプレボリマー等が挙げられる。
有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) の NCO基の含有量は好ましくは 20なぃし48重量%、 特に好ましくは 20ないし 40重量。 /0、 更に好ましく は 2 5ないし 38重量%である。 この範囲で耐久性、 耐摩耗性に優れる研磨材 が得られる。 これらの有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) は、 単独使用でも 2種以 上の併用でも良い。
これらの中でもトリレンジイソシァネート (T D I ) 、 又は 4 , 4ージフエ ニルメタンジイソソァネート (MD I ) が好ましい。 有機ポリオール (成分 B ) としては、 分子内に 2つ以上のヒ ドロキシル基を 有する有機化合物であれば広く使用することができ、 多価アルコール類、 ポリ エーテル系ポリオール、 ポリエステルポリオール、 ポリマーポリオール類が挙 げられる。
有機ポリオール (成分 B ) の具体例として、 エチレングレコール、 プロピレ ングリコール、 1 , 3—プロパンジオール、 1 , 4—ブタンジオール、 1, 3 一ブタンジォーノレ、 1 , 5—ペンタンジォーノレ、 ネオペンチノレグリ コーノレ、 1, 6一へキサンジオール、 1 , 4—ビス (ヒ ドロキシメチノレ) シク口へキサン、 ビスフエノール A、 水添ビスフエノール A、 ヒ ドロキシピバリルヒ ドロキシピ パレート、 トリメチローノレエタン、 トリメチロールプロパン、 2, 2 , 4—ト リメチルー 1 , 3—ペンタンジオール、 グリセリンもしくは、 へキサントリオ ール等の多価アルコール類;ポリオキシエチレングリコール、 ポリォキシプロ ピレンダリコール、 ポリオキシエチレン、 ポリオキシテトレメチレングリコー ル、 ポリオキシプロピレン、 ポリオキシテトラメチレングリコールもしくは、 ポリオキシエチレン、 ポリオキシプロピレン、 ポリォキシテトラメチレングリ コール等のポリエーテルグリコール類;上記の各種多価アルコール類とェチレ ンォキシド、 プロピレンォキシド、 テトラヒ ドロフラン、 ェチ グリシジノレエ ーテノレ、 プロピルグリシジルエーテル、 ブチルダリシルエーテル、 フエニルダ リシジルエーテルまたはァリルダリシジルエーテル等との開環重合によって得 られる変性ポリエーテルポリオール類;上記の各種多価アルコールの.1種以上 と、 コハク酸、 マレイン酸、 アジピン酸、 グルタノレ酸、 ピメリン酸、 スベリン 酸、 ァゼライン酸、 セパシン酸、 フタル酸、 インフタル酸、 テレフタル酸等の 多価カルボン酸類との共縮合によって得られるポリエステルポリオール類;上 記の各種多価アルコールの 1種以上と、 ε—力プロラク トン、 δ—バレロラタ トンもしくは 3—メチル一 δ—パレ口ラタトンの如き各種ラク トン類との重縮 合反応によって得られるラタ トン系ポリエステルポリオール類; ビスフエノー ル A型エポキシ化合物、 水添ビスフエノール A型エポキシ化合物、 一価おょぴ /または多価アルコールのグリシジルエーテルあるいは 1塩基酸及びノまたは 多塩基酸のグリシジルエステルの如き各種エポキシ化合物を、 ポリエステルポ リオール合成時に、 1種以上併用して得られるエポキシ変性ポリエステルポリ オール類; さらにはポリエステルポリアミ ドポリオール、 ポリカーボネートポ リオ一ノレ、 ポリブタジエンポリオール、 ポリペンタジエンポリオール、 ひまし 油、 ひまし油誘導体、 水添ひまし油、 水添ひまし油誘導体またはヒ ドロキシル 基含有アクリル共重合体等が挙げられる。
上記有機ポリオール (成分 B ) としては、 好ましいものは水酸基価が 1 0 0 ないし 1 8 0 0、 特に好ましいものは 2 0 0ないし 1 2 0 0である。
これらの有機ポリオール (成分 B ) は、 単独使用でも 2種以上の併用でも良 レ、。 '
有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) と有機ポリオール (成分 B ) の配 合割合は、 官能基比率 ([活性水素含有化合物] / [イソシァネート] ) で 0 . 8〜 1 . 2、 好ましくは 1〜; 1 . 2の範囲である。
本発明においては、 有機ポリオール (成分 B ) の一部または全部の代わりに、 有機ポリアミン (成分 C ) を使用することもできる。 使用可能なポリアミンと しては、 ポリウレタン樹脂を製造する際に通常用いられる公知のジァミン、 ト リアミンまたはそれらの混合物が使用できるが、 これらの代表的なものとして は、 例えば 1 , 2—エチレンジアミン、 ビス一 ( 3—ァミノプロピル) —アミ ン、 ヒ ドラジン、 ヒ ドラジン一 2—エタノール、 ビス一 (2—メチルアミノエ チル) 一メチルァミン、 1, 4ージァミノシク口へキサン、 3—ァミノ— 1— メチルァミノプロパン、 N—メチルービス一 ( 3—ァミノプロピル) —ァミン、 テトラエチレンジァミン、 へキサメチレンジァミン、 1ーァミノェチルー 1, 2—エチレンジァミン、 ビス一 (Ν, Ν ' —ァミノェチル) — 1 , 2—ェチレ ンジァミン、 ジエチレントリアミン、 テ トラエチレンペンタミン、 ペンタエチ レンへキサミン、 フエ二レンジァミン、 トルイレンジァミン、 2 , 4 , 6— 1、 リアミノ トルエントリハイ ドロクロライ ド、 1 , 3 , 6— トリアミノナフタレ ン、 ィソフォロンジアミン、 キシリ レンジァミン、 4 , 4 ' ジァミノジフエ二 ルメタン、 水添 4 , 4 ' ジアミノジフエニルメタン、 あるいは、 これらポリア ミンモノマーの誘導体等が挙げられる。 有機ポリアミン (成分 C) のァミン価は、 好ましくは 56ないし 560 (m g KOH/g) 、 特に好ましくは 80ないし 40◦ (mgKOH/g) である。 この範囲で耐久性、 及び研磨性能に優れた研磨材が得られる。
更に、 本発明においては、 前記有機ポリオール (成分 B) 及び/又は有機ポ リアミン (成分 C) の代わりに有機ポリカルボン酸 (成分】) を用いることも できる。 この場合、 マトリックス樹脂 (樹脂 F) は、 ウレタン結合、 ウレァ結 合、 及ぴァ.ミ ド結合のいずれか 1種以上を有する樹脂となる。
このような有機ポリカルボン酸 (成分】) として、 フタル酸などの芳香族力 ルボン酸、 アジピン酸などの脂肪族カルボン酸が挙げられる。 これらは硬化触 媒の安定剤としても作用し、 臭気のないものが好ましい。
また、 有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) と有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) 力 ら選ばれた 1種以上を反応させる際に使 用できる発泡剤 (成分 D) として、 水、 トリクロ口モノフルォロメタン、 ジク ロロジフノレオロメタン、 メチレンクロライ ド、 トリクロ口フノレォロェタン、 ト リクロロェタンなどの 1種または 2種以上の混合物が拳げられる。
マトリックス樹脂 (樹脂 F) を成形する際の発泡倍率は 1. 1〜5倍である のが好ましい。
この場合の発泡倍率とは、 マトリックス榭脂原料と研磨粒子 (成分 E) が配 合された原料に発泡剤 (成分 D) を配合することなく無発泡の硬化物を製造し、 その重さと体積から計算した嵩密度を とし、 同じ研磨粒子 (成分 E) が配 合された原料に発泡剤 (成分 D) を配合して発泡させた硬化物を製造し、 その 重さと体積から計算した嵩密度を D2 としたときに、 /D2で示される値を レヽう
発泡倍率が前記 5. 0を超える研磨材は、 その気泡構造が粗であるため、 研 磨時における研磨速度は速くなるが、 他方では被研磨物であるウェハ等の表面 を粗らしてしまい、 研磨後における被研磨物の表面平滑性を低下させる。
また、 発泡倍率が 1. 1未満の場合には、 その気泡構造は密であるため、 ゥ ェハ等の表面平滑性を高めるものの、 研磨速度が遅く、 研磨時の生産性は低下 する。
有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) と有機ポリオール (成分 B) 等を 反応させる際に使用可能な触媒としては、 特に限定はなく、 アミン系触媒や有 機金属系触媒等を使用することができる。 このような、 アミン系触媒として、 トリエチレンジァミン、 トリェチルァミン、 トリプロピルァミン、 トリイソプ ロパノールァミン、 トリプチルァミン、 トリオクチルァミン、 N—メチルモル ホリン、 N—ェチルモルホリン等を挙げることができる。 また、 有機金属系触 媒としては、 ォクチル酸錫、 ラウリル酸錫、 ジブチル錫ジラウレート等を挙げ ることができる。 このうち、 好ましいものはァミン系触媒である。
触媒の添加量は特に限定はないが通常、 有機ポリイソシァネート化合物 (成 分 A) と有機ポリオール (成分 B) の合計量 100重量部に対し 0. 01〜0. 5重量部程度である。
整泡剤としては、 従来から知られているオルガノシリ コーン系界面活性剤が 使用される。 このようなオルガノシリ コーン系界面活性剤としては、 例えば、 日本ュニカー (株) 製の L一 520、 L— 532、 L— 540、 L— 544、 L一 3550、 L一 5740 S、 L— 5740M、 L— 6202等; ト一レシ リコーン (株) 製の SH— 1 90、 SH— 192、 SH— 193、 SH— 1 9 4、 SRX— 294、 SRX— 298等;信越シリ コン (株) 製の F— 1 14、 F— 121、 F— 122、 F— 230、 F— 258、 F— 260B、 F— 31 7、 F'—341、 F— 601、 F— 606等を挙げることができる。
更に必要により、 難燃剤、 脱水剤、 耐候剤等を原料組成物に添加使用するこ とができる。
難燃剤としては水酸化アルミニウム、 リン酸エステル類、 メラミン、 赤リン、 膨張黒鉛等が例示でき、 脱水剤としては、 ケィ酸カルシウム、 炭酸カルシウム、 硫酸マグネシウム、 合成ゼォライ ト等が例示でき、 耐候剤としてはポリウレタ ン榭脂に通常用いられる紫外線吸収剤、 光安定剤、 酸化防止剤等が例示できる。 本発明で、 研磨粒子 (成分 E)として、 (a) 氷酸基量が 0. O O lmmo 1 /g以上の粒子(成分 E 1)、 及び/又は (b) フュームドシリカ、 コロイ ダルシリカ、 フュームドアルミナ、 コロイダルアルミナ、 ベーマイ ト、 及びバ ィャライ トのうちから選ばれた少なく とも 1種類以上(成分 E 2)を使用する ことができる。
研磨粒子として前記粒子(成分 E 1)を使用する場合、 水酸基を有する粒子 (成分 E 1) の水酸基量は、 下記の中和滴定法による水酸基量が 0. 00 1m mo l /g以上である。 水酸基量が 0. 001 mmo 1 Zg以上であれば本発 明の効果である、 マトリ ックス樹脂 (樹脂 F) 硬化後に該マトリ ックス樹脂
(樹脂 F) と砥粒 (砲粒 I) との間で化学的結合力を発現させることが可能と なる。
また、 前記水酸基量は、 好ましくは 0. 01mmo l/g以上、 特に好まし くは 0. 05 mm o 1 Zg以上である。
尚、 粒子 (成分 E 1) の水酸基量に特に上限値はないが、 あまり多くなると 粒子 (成分 E 1) がマトリックス樹脂に被覆されてしまうおそれがあるので、 水酸基量の増加に対応する効果は期待できない。 粒子 (成分 Ε 1)· の水酸基量 は、 一般的に好ましくは、 20mmo l /g以下、 特に好ましくは l Ommo l Zg以下、 更に好ましくは 6 mm 0 l Zg以下である。
研磨粒子(成分 E)中の水酸基量の測定方法は、 以下の方法による。 すなわ ち、 試料の粒子を 2. 00 g秤量し (Wgとする) 100m lの三角フラスコ にいれ、 0. 05 Nの N a 0H水溶液を 8 Om 1加え、 ゴム栓で密栓し 12時 間撹拌しながら放置した。 その後粒子と溶液を遠心分離機で分離し、 この溶液 から 1 Om 1をピペットに採り、 0. 05 Nの HC 1水溶液で中和滴定した。 その中和に要する HC 1水溶液を Am 1 とする。 尚、 粒子を入れずに同様な操 作をし、 その中和に要する HC 1水溶液を Bm 1 とする。 粒子の単位重量当た りの OH基の量 (Xmmo l/g) は次式によって算出される。
X= 〔 (B-A) X 0. 0 5 X 8〕 /W
尚、 上記水酸基量の測定値は、 粒子 (成分 E) の比較的表面付近に存在する 水酸基量の測定値である。 本発明において、 実際にマトリ ックス樹脂 (樹脂 F) との間で化学的結合力を発現させることが可能なのは、 粒子 (成分 E) の 比較的表面付近に存在する水酸基であるので上記測定方法を採用し、 その測定 値は便宜上、 粒子 (成分 E) の水酸基量とする。
水酸基を有する粒子 (成分 E 1) として具体的には、 シリカ、 アルミナ等の 公知の無機系砥粒に使用されているものがすべて使用可能である。 更に、 水酸 基を付与した粒子 (成分 E 1) としては、 例えば、 水和反応で水酸基を付与し た酸化チタンなどの金属酸化物を例示することができる。 また、 複数の異なる 素材粒子に機械的なエネルギーを加えて、 メカノケミカル的な反応を起こさせ て粒子の複合化 (水酸基のある粒子と水酸基のない粒子を複合化させて水酸基 を挿入) する方法もある。 このように、 粒子の種類に応じて各種方法で水酸基 を付与することができる。
このような粒子として、 水酸基を付与したダイヤモンド、 立方晶窒化硼素、 ジルコユア、 セリア、 酸化マンガン、 酸化チタン、 炭酸カルシウム、 炭酸バリ ゥム、 酸化マグネシウム、 アルミナ一シリカ、 あるいは炭化ケィ素を挙げるこ とができる。
また、 研磨粒子(成分 E 2)として、 フュームドシリカ、 コロイダルシリカ、 フュームドアルミナ、 コロイダルアルミナ、 ベーマイト、 及びバイャライ トの うちから選ばれた少なくとも 1種類からなるものを使用することができる。 これらの研磨粒子(成分 E 2)は、 通常いずれも粒子表面に水酸基を有する ので、 前記した粒子(成分 E 1)のように水酸基量を考慮せずに、 単独或いは 任意に組み合わせて用いることが可能であり、 これらのなかでも、 コロイダル シリカが好ましい。
また、 フュームドシリカ、 及ぴフュームドアルミナについては、 これらの粒 子表面に S i—C 1結合が多く存在する場合には水分存在下で 200ないし 8 00°C程度で加熱処理して S i— C 1結合を S i—OH結合に変えたものが好 適に使用できる。
上記コロイダルシリカ等の製造方法に特に制限はなく、 例えば特開平 4一 2 60 2号公報、 特開平 4 - 2 31 3 1 9号公報、 特開平 5— 97422号公報、 特開 200 3— 8 9 786号公報、 特開 2003— 1006 78号公報等に記 载された公知の製造方法で製造したものが使用できる。
上記コロイダルシリカ、 ヒュームドシリカ等は、 その表面 (構造中の結合 端) には、 S i— OHからなる水酸基 (シラノール基) を多く有するのでマト リックス樹脂 (樹脂 F) と化学的に結合するのに好適である。
また、 これらの研磨粒子 (成分 E) は被研磨物表面に砥粒起因のスクラッチ が発生するのを防止したり、 保存中に沈殿して組成変化することがないように 粒子径がそろい、 粒子径の小さなものが好ましい。 研磨粒子 (成分 E) の粒子 径は走査型電子顕微鏡によって観察することができ、 粒子径としては、 0. 0 0 5ないし 5 0 μπιの範囲にあることが好ましい。 粒子径が前記 0. 00 5 μ m未満であると研磨レートが大きくなりにくいので好ましくなく、 一方、 前記 5 0 mを越えると被研磨物表面にスクラッチを発生しやすくなるので好まし くない。
本発明の研磨材は、 該研磨材中にマトリ ックス樹脂 (樹脂 F ) が 6 0ない 9 5重量%含まれることが望ましい。
研磨材中のマトリ ックス樹脂 (樹脂 F ) の含有割合が前記 9 5重量%を超え ると (砥粒が 5重量%未満である場合) には、 研磨速度が遅くなり高い生産性 を維持することができない、 一方前記 6 0重量%未満であると (砥粒が 4 0重 量。 /。を超える場合) には、 研磨材製造の際に、 マトリックスになる液状ポリゥ レタン樹脂の流動性が著しく低下して成形加工することが困難になる場合があ る。
本発明の研磨材は、 少なくとも、 マトリ ックス樹脂原料として有機ポリイソ シァネート (成分 A) 、 及び有機ポリオール (成分 B ) と有機ポリアミン (成 分 C ) から選ばれた 1種以上 (必要により有機ポリカルボン酸を添加する場合 もある) 、 並びに研磨粒子 (成分 E ) を含む原料を重合反応させて得られるも のである。
尚、 上記したように、 必要に応じて触媒、 発泡剤 (成分 D ) 、 整泡剤等を配 合することができる。
前記原料混合物を混合して、 反応射出法あるいは注型法等で重合反応により、 硬化 ·成形させることができる。
[本発明の第 2の態様]
上記した研磨材からなる固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) は、 研磨テー ブル上に装着され、 被研磨物を固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) 面に押圧 し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G ) と前記被研磨物との相対運動によつ て被研磨物を研磨するものである。
固定砥粒研磨パッ ド (研磨パッ G ) には、 研磨液を使用する場合、 該研磨 液を固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) の全体に均一に行き渡らせるために 固定砥粒研磨パッドが中心点から円周方向に向かって放射状溝、 又は格子状溝 を設けるのが望ましい。
[本発明の第 3の態様]
本発明の第 3の態様は、 上記した研磨材からなる固定砥粒研磨パッド (研磨 パッド G) を研磨テーブル上に装着し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と被研磨物保持部との間で被研磨物を押圧し、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッ G) と前記被研磨物との間に研磨液 (研磨液 H) を供給しながら、 固定砥粒 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と前記被研磨物との相対運動によって被 研磨物を研磨する方法である。
上記研磨方法では、 研磨液 (研磨液 H) としてアルカリ水溶液を使用すると 化学的機械的研磨が可能となり、 研磨速度が速く、 表面平滑性が高精度である 被研磨物を得ることが可能となる。
前記研磨液 (研磨液 H) としては、 水酸化ナトリゥム、 水酸化力リゥム、 水 酸化アンモニゥム等の水溶液が例示でき、 化学的研磨作用を発現させるために はそのアルカリ濃度は、 11が1 0以上のアルカリ水溶液であることが好まし レ、。
本発明の研磨方法を採用することにより、 長時間の研磨を連続して行っても 研磨効率の低下が極めて少ない。 また、 研磨液 (研磨液 H) としてアルカリ水 溶液を使用しており、 且つ研磨材からの砥粒 (砥粒 I ) の脱落も極めて少ない ので、 研磨液 (研磨液 H) を簡易な再生装置でろ過するだけでリサイクル使用 することが可能である。 図面の簡単な説明
図 1は、 第 1の実施形態における研磨材を固定砥粒研磨パッドとして使用し た研磨装置の概要を示す斜視図である。
図 2は、 第 2の実施の形態における固定砥粒研磨パッドの構成を示す斜視図 である。
図 3は、 実施例 1における研磨時間と研磨効率との関係を示すグラフである 発明を実施するための最良の形態
(第 1の実施の形態)
本発明の研磨材は下記のようにして製造することができる。
前記した有機イソシァネート化合物 (成分 A) 、 有機ポリオール (成分 B ) 発泡剤 (成分 D ) 、 触媒、 整泡剤、 及び、 粒子 (成分 E ) からなる混合物を撹 拌し、 原料組成液中に粒子 (成分 E ) を均一に分散させる。 尚、 この場合、 平均分子量が 250〜4、 000の有機ポリオール (成分 B) 、 発泡剤 (成分 D) 、 触媒、 整泡剤、 及び、 粒子 (成分 E) からなる混合 物に対して、 有機イソシァネート化合物 (成分 A) を添加して撹拌混合する方 法が特に好適である。
また、 原料 (粒子 (成分 E) 及び有機ポリオール (成分 B) を除く) を所定 量配合して液状の組成物を調製し、 ここに化学的に安定な有機ポリオール (成 分 B) に粒子 (成分 E) を配合して充分に混合撹拌した混合液を添加する方法 も好適である。
次に、 所定の寸法形状をした金型に該原料組成物を注型し、 所定の時間、 加 熱する。 原料組成物は硬化と同時に発泡する。 硬化終了後、 発泡した研磨材を 金型から取り出し、 本発明の研磨材が得られる。
尚、 反応射出成形法を採用する場合には、 原料混合物を樹脂ゲートから金型 内に射出し、 該金型内で比較的短時間で加熱硬化して成形物を得る。
研磨材として、 特に、 J I SK6253 - 1 997/I S 076 19で規定 する表面硬度が 20〜150°Cの温度範囲でショァ D 20〜85が好適である。 ショァ D硬度が 20.未満では研磨効率が悪くなり、 85を越えると、 (粗さに より) スクラッチが入りやすくなるからである。
(第 2の実施の形態)
図 2に示すように、 第 2の実施形態における固定砥粒研磨パッド 16の表面 には、 溝加工 1 6 a、 16 bが施されている。 かかる溝加工は、 研磨液を、 固 定砥粒研磨パッドの全体 (特に中心付近) に効率的に均一に行き渡らせるため である。 このことにより、 ウェハ面内の平坦化、 研磨レートの向上、 局部的な 昇温による熱膨張の防止などを図ることができる。 例えば、 図 2 (a) に示す ような放射状の溝加工や、 図 2 (b) に示すような格子状の溝加工を施すこと ができる。
図 2 (a) に示すように、 固定砥粒研磨パッド 16に放射状溝 16 aを形成 する場合には、 固定砥粒研磨パッド 16の中心点において放射状に 1 6〜32 分割する (中心角 22. 5° 〜1 1. 25° で分割する) のが好ましい。 また、 その溝幅は、 例えば l〜2mm程度であり、 かつ溝深さは例えば 1〜 2mm程 度であるのが好ましい。 なお、 固定砥粒研磨パッド 16の中心近傍においては、 溝 1 6 aが過度に集中するのを防止するため、 中心から所定範囲 (例えば中心 から 1 0 O mm以内) には溝加工を施さないのが好ましい。
また、 図 2 ( b ) に示すように、 固定砥粒研磨パッド 1 6に格子状溝 1 6 b を形成する場合には、 例えば 1 5 mm〜3 0 mm間隔で溝を形成するのが好ま しい。
上記実施形態においては、 固定砥粒研磨パッドに放射状または格子状の溝を 形成した例を挙げて説明したが、 本発明は、 かかる例には限定されない。 六角 ' 形状、 波形状など好適な方式で溝を形成することができる。 また、 溝の断面形 状を正方形状 (長方形状) として説明したが、 丸形状、 V字形状、 U字形状な ど他の形状でも実施することができる。
(第 3の実施の形態)
以下に添付図面を参照しながら、 本発明の好適な実施の形態について詳細に 説明する。 なお、 本明細書及び図面において、 実質的に同一の機能構成を有す る構成要素については、 同一の符号を付することにより重複説明を省略する。 まず、 図 1に基づいて、 第 3の実施形態における固定砥粒研磨パッドが使用 される研磨装置の構成について説明する。 なお、 図 1は、 本実施形態にかかる 固定砥粒研磨パッドが使用される研磨装置の構成を示す斜視図である。
本実施形態にかかる固定砥粒研磨パッドが使用される研磨装置 1 0は、 図 1 に示すように、 モータ 1 2により回転可能な研磨テーブル 1 4と、 研磨テープ ル 1 4上に設けられた固定砥粒研磨パッド 1 6と、 保持した基板 3 0の研磨面 を固定砲粒研磨パッド 1 6に押しつける基板保持部 2 0と、 基板保持部 2 0を 回転、 加圧駆動させる基板保持部駆動手段 1 8と、 研磨テーブル 1 4上に研磨 液 2 5を供給する研磨液供給口 2 4などから構成されている。
研磨テーブル 1 4は、 例えば、 ステンレス鋼、 セラミックスなどで形成され た略円盤状のテーブルであり、 上面に例えば平滑な水平面を有する。 この研磨 テーブル 1 4は、 例えばその下方の装置内に設けられたモータ 1 2の駆動力が スピンドル 2 6、 変速機 (図示せず) 等を介して伝達されることにより、 図 1 の太矢印の方向に所定速度 (例えば 4 0 r p m) で回転する。
なお、 固定砥粒研磨パッド 1 6は、 研磨テーブル 1 4上に極力平坦になるよ う貼り付けられ、 研磨テーブル 1 4の回転に伴って基板 3 0に対して回転運動 し、 研磨液供給口 2 4から供給された研磨液 2 5を介して、 基板 3 0の研磨面 が研磨される。 かかる固定砥粒研磨パッド 1 6の詳細は、 後述する。
基板保持部駆動手段 1 8は、 ロッド 2 8を介して基板保持部 2 0を加圧しな がら回転させる機構であり、 例えばモータおょぴシリンダ (図示せず) 等から なる。 即ち、 例えば、 加圧機構であるシリンダにより、 基板 3 0を保持した基 板保持部 2 0を固定砥粒研磨パッド 1 6に対し例えば垂直方向に押しつけると ともに、 回転機構であるモータにより基板保持部 2 0を図 1の細矢印の方向に 回転させることができる。 また、 基板保持部 2 0を任意の略水平方向に摇動さ せることが可能なように基板保持部駆動手段 1 8を構成してもよレ、。
また、 基板保持部 (研磨ヘッド、 キャリアとも呼ばれる) 2 0は、 全体が略 円柱形状を有し、 研磨テーブル 1 4の上方に回転可能に設置される。 かかる基 板保持部 2 0は、 保持部駆動手段 1 8とロッド 2 '8を介して連結されており、 下面には基板 3 0の横ずれを防止するためのリング (リテーナリング) を備え ている。
通常の研磨時においては、 .基板保持部 2 0は、 基板 3 0を保持した状態で回 転しながら、 基板 3 0の研磨面を固定砥粒研磨パッド 1 6に押圧する。 このよ うに固定砥粒研磨パッド 1 6に押しつけられた基板 3 0は、 反対方向に回転す る固定砥粒研磨パッド 1 6と双方向で擦り合わせられて、 研磨面全体が均等に 研磨される。
研磨液供給ノズル 2 4は、 基板 3 0の研磨時に、 回転する固定砥粒研磨パッ ド 1 6上に研磨液 2 5を供給する。 研磨液 2 5は、 化学反応性物質を含む溶液 であり、 研磨中に基板 3 0と固定砥粒研磨パッド 1 6の間に入り込んで基板 3 0の研磨面と化学的に反応しながら高精度に平滑化する。
なお、 本実施形態にかかる研磨装置には、 基板保持部 (研磨ヘッド) 2 0、 研磨テーブル 1 4、 研磨液供給ノズル 2 4には、 各々、 温調装置 (図示せず) が設けられており、 上記箇所の温度を適宜好適に設定することにより、 より好 適な研磨を実行することができる。
かかる研磨液は、 p H l 0以上であるアルカリ水溶液であることが好ましい c これは、 実施例 2に示すように、 p H 1 0未満の研磨液を使用すると研磨効率 が著しく低下するからである。 このように、 本実施形態にかかる研磨液としてアルカリ液が使用されるので、 簡易な再生装置でろ過するだけで再利用することができる。 例えば酸化ナトリ ゥム、 水酸化カリウムで調整されたアルカリ溶液を使用する場合には、 中和装 置などを使用してさらに簡易な廃液処理をおこなうことができる。 このように、 研磨液の再利用も簡易に実現できるので、 環境に寄与することができる。 本実 施形態にかかる研磨液 (アルカリ溶液) は、 例えば水酸化ナトリウム、 水酸化 カリウム、 ァミン、 アンモニアなどにより調整することができる。 また、 研磨 液は、 2 0〜 1 5 0 °Cの温度範囲で調整されて、 2 0〜 1 5 0 °Cの温度範囲で 研磨されるのが好ましい。 実施例
次に、 上記実施形態に基づいて、 各種ポリウレタン研磨パッドを作製し、 各 種研磨液を使用して、 被研磨物 (シリ コンウェハ) の研磨効率などの評価を実 施したので、 以下に具体的に説明する。
実施例 1、 比較例 1、 2
固定砥粒研磨パッドとして、 実施例 1では、 本発明のポリウレタン研磨パッ ドを、 比較例 1ではアルミナ砥粒含有のポリウレタン研磨パッドを、 比較例 3 として、 従来より市販されている固定砥粒研磨パッドを使用した。
実施例 1で使用した研磨粒子はコロイダルシリカ (扶桑化学 (株) 製、 商品 名 : クォートロン S P— 4 B ) であり、 比較例 1で使用した研磨粒子はアルミ ナ ( (株) フジミインコーポレツテド製、 商品名 : WA # 3 0 0 0 ) である。 また比較例 2の市販固定砥粒研磨パッドは (株) ノリタケカンパニー製、 研磨 ノヽ。ッド (商品名 : F A R Dパッド) である。
尚、 実施例 1及び比較例 1における研磨パッドの原料組成及び研磨パッドの 物性を表 1に示す。 表 1
Figure imgf000022_0001
表 1に示すように、 分子量 250〜 5000で官能基数 2〜 3のポリエーテ ルポリオール (三洋化成 (株) 製、 商品名 : サンニックス) 、 ィンシァネート (N CO基の含有量 3 1重量。 /0、 ダウ 'ポリウレタン社製、 商品名 : PAP I * 1 35) 、 水、 アミン系触媒 (東ソ一 (株) 製、 商品名 : TO YO CAT— ET) 、 シリコーン整泡剤 (日本ュニカー (株) 製、 商品名 : L - 5309) と前記研磨粒子材料を表 1に示す割合 (重量部) で配合して、 液状混合物を調 整した。 この、 液状混合物を金型に注入して、 20〜30°Cの室温で 24時間 放置し、 発泡硬化させ、 ポリウレタン研磨パッドを作製した。
このポリウレタン研磨パッドを研磨機の定盤に粘着テープで貼り付け、 ダイ ャモンドを電着した修正リングで、 ポリウレタン研磨パッドの表面を修正し、 発泡構,造が表面に露出した厚み 9 mmのポリウレタン研磨パッドを得た。
比較例 1で使用した研磨パッドは実施例 1におけるコロイダルシリカをアル ミナに変えた以外は実施例 1と同様の方法により研磨パッドを作製した。
図 1に示すように、 ポリウレタン研磨パッドに被研磨物 (シリコンウェハ) を押圧し、 ポリウレタン研磨パッドと被研磨物との間に研磨液を供給しながら、 ポリウレタン研磨パッドと被研磨物 (シリ ゴンウェハ) との相対運動によって 被研磨物 (シリコンウェハ) を研磨加工した。
研磨条件は以下の通りである。
研磨圧力: 300 g/cm2
定盤の回転数: 40 r pm。 また、 ポリウレタン研磨パッドの硬度は、 J I SK6253 - 1 997/1 S076 19で規定するショァ D硬度計を用いて測定した。 発泡倍率は、 未発 泡の硬化物 D 1と.実施例 1で作製したポリウレタン研磨パッドの密度 D 2とを 用いて、 D 1ZD 2とした
研磨効率は、 研磨加工時に、 1分あたりの簞量変化を測定して厚みの変化を 計算することにより算出した。 表面の粗さは、 表面粗さ測定器 (小坂研究所製、 商品名 : surf coder 3500) を用いて測定した。
廃液の評価は、 保留粒子径 1 mの定性ろ紙により'廃液をろ過し、 ろ過後の 廃液の状態を観察した。 ろ過後の廃液を直径 10mmの試験管に入れて、 反対 側に新聞紙の活字が読みとれれば良好、 読みとれなければ不良.とした。
評価結果を、 図 3及ぴ表 2に示す。
表 2
Figure imgf000023_0001
図 3及ぴ表 2に示すように、 本発明のシリカ砥粒含有のポリウレタン研磨パ ッドの場合には、 333時間連続研磨を実行しても、 研磨効率は一定であった また、,研磨時における砥粒の脱落は、 確認できなかった。 通常、 1枚のシリコ ンウェハの研磨時間は、 例えば 10分 Z枚であるので、 333時間の連続研磨 を行ったとすれば約 2000枚のシリコンウェハを連続的に研磨することが可 能である。
なお、 廃液の評価は、 良好であった。
比較例 1のアルミナ砥粒含有ポリゥレタン'研磨パッドの場合には、 研磨時間 が経つにつれて研磨効率が低下し、 80時間で研磨が不可能な状態となった。 1枚目のシリコンウェハ研磨は、 通常に行うことが出来たが、 2枚目のシリコ ンウェハ研磨では、 研磨効率が著しく低下した。 比較例 3の従来の固定砥粒研磨パッドの場合には、 研磨を開始した途端に研 磨効率が極端に落ちて、 1 0時間で研磨不能となった。 1枚目のシリコンゥュ ハ研磨は、 通常に行うことが出来たが、 2枚目のシリ コンウェハ研磨で研磨効 率が殆どゼロとなった。
上記実施例 1において、 研磨粒子材料としてコロイダルシリカ、 マトリック ス樹脂にウレタンを用いて作製した固定砥粒研磨パッドを使用した場合には、 シリ コンウェハを 3 3 3時間連続研磨しても研磨効率が一定維持されているこ とが確認された。 従来の固定砥粒研磨パッドを使用した方法では、 1 0分程度 の研磨でドレスが必要であったことを考え合わせると、 連続研磨時間が飛躍的 に向上されていることが理解される。 さらに、 固定砥粒研磨パッドの厚みは減 少しておらず、 砥粒は全く脱落していなかった。 したがって、 研磨後の廃液に は、 被研磨物であるシリ コンとアルカリ溶液しか排出されないので、 環境に悪 影響を与えることなく簡易かつ容易に廃液処理をおこなうことができる。
実施例 2
ポリオール Aとして、 分子量 600のグリセリン系ポリエーテルポリオール (三洋化成 (株) 製、 商品名 : GP— 600) 、 ポリオール Bとして分子量 3 00 0のグリセリン系ポリエーテルポリオール (三洋化成 (株) 製、 商品名 : GP- 3000) 、 有機ポリイソシァネート (ダウポリウレタン社製、 商品 名 : PAR 1 * 1 3 5) を使用し、 触媒 (東ソ (株) 製、 商品名 : TOYOC AT— ET) 、 整泡剤 (日本ュニカー (株) 製、 商品名 : L一 5 309) 、 及 ぴ研磨粒子として実施例 1で使用したと同様のコロイダルシリ力を使用した。 これらを表 3に示す配合で混合して、 注型法により常温で硬化させ研磨材を得 た。 得られた発泡倍率、 硬度、 粗さ等を表 3に記載する。
被研磨物 (シリ コンウェハ) を以下の条件で、 研磨液の pHを 9. 5〜1 3. 5として研磨を行った。 結果を表 3に示す。
研磨条件は下記のとおりである。
研磨圧力: 300 gZcm2
定盤の回転数: 40 r p m 表 3
Figure imgf000025_0001
表 3から、 研磨液の p Hは、 1 0以上であることが好ましく、 p H I O未満 の研磨液を使用すると研磨効率が著しく低下することがわかる。
以上、 本発明の好適な実施形態について説明したが、 本発明はかかる例に限 定されない。 当業者であれば、 特許請求の範囲に記載された技術的思想の範疇 内において各種の変更例または修正例に想到し得ることは明らかであり、 それ らについても当然に本発明の技術的範囲に属するものと了解される。 産業上の利用可能性
本発明の研磨材において、 マトリックス樹脂と砥粒との間で化学的結合が発 現しているので、 マ トリ ックス樹脂と砥粒との間の結合力が大幅に向上する結 果、 マト リ ックス榭脂から砥粒が脱落することは殆どない。 このことにより、 研磨材の自発刃作用が発揮されなくても長時間の連続研磨をおこなうことがで きる。 また、 長時間の連続研磨をおこなっても砥粒が殆ど消耗せずに廃液 (研 磨液) には砥粒が殆ど含まれることはないので、 環境に悪影響を与えることな く簡易なろ過手段などにより容易に再利用することができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 少なくとも、 (1) マトリックス樹脂原料として有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 及び有機ポリオール (成分 B) と有機ポリアミン (成分 C) から 選ばれた 1種以上、 並びに (2) 研磨粒子 (成分 E) を含む原料を重合反応に より硬化させて得られた研磨材であって、 該粒子 (成分 E) 、 (a) 粒子中 の水酸基量 (中和滴定法による測定値) 0. 00 Immo lZg以上である粒 子 (成分 E 1) 、. 及び/又はフュームドシリカ、 コロイダルシリカ、 フューム ドアルミナ、 コロイダルアルミナ、 ベーマイ トとバイャライトから選ばれた少 なくとも 1種類以上(成分 E 2)であることを特徴とする研磨材。
2. マトリックス樹脂 (樹脂 F) が少なくともウレタン結合を有する樹脂であ る請求項 1に記載の研磨材。
3. マトリックス樹脂原料が有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 有機ポリオ ール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 並びに 発泡剤 (成分 D) を含むことを特徴とする請求項 1または 2に記載の研磨材。
4. マトリックス樹脂原料が有機ポリイソシァネート (成分 A) 、 有機ポリオ ール (成分 B) と有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 及び有機 ポリカルボン酸 (成分 J) である請求項 1ないし 3のいずれかに記載の研磨材。
5. マトリックス樹脂 (樹脂 F) がウレタン結合、 ゥレア結合、 及びアミ ド結 合のいずれか 1種以上を有する樹脂である請求項 1ないし 4のいずれかに記載 の研磨材。
6. 発泡倍率が 1. 1ないし 5倍である請求項 1ないし 5のいずれかに記載の 研磨材。
7. 粒子 (成分 E) 、 コロイダルシリカである請求項 1ないし 6のいずれか に記載の研磨材。
8. 粒子 (成分 E 1) 中の水酸基量が 0. 01ないし 6mmo 1 Z g (中和滴 定法による測定値) である請求項 1ないし 6のいずれかに記載の研磨材。
9. 水酸基を有する粒子 (成分 E 1) が水酸基を付与された、 ダイヤモンド、 立方晶窒化硼素、 ジルコニァ、 セリア、 酸化マンガン、 酸化チタン、 炭酸カル シゥム、 炭酸バリウム、 酸化マグネシウム、 アルミナ一シリカ、 及び炭化ケィ 素から選ばれた 1種以上である請求項 1ないし 6、 及び 8のいずれかに記載の 研磨材。
10. マトリ ックス樹脂 (樹脂 F) が研磨材中に 60ない 95重量%含まれる ことを特徴とする請求項 1ないし 9のいずれかに記載の研磨材。
1 1. 研磨材が有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) 、 有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 発泡剤 (成 分 D) 、 触媒、 及び粒子 (成分 E) を含む原料を重合反応により硬化させて得 られた発泡体である請求項 1ないし 10のいずれかに記載の研磨材。
12. 研磨材が有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から 選ばれた 1種以上、 発泡剤 (成分 D) 、 触媒、 及び粒子 (成分 E) からなる混 合物に、 有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) を加えて撹拌混合して重合 反応により硬化 ·成形されたことを特徴とする請求項 1 1に記載の研磨材。
1 3. 研磨材が有機ポリイソシァネート化合物 (成分 A) 、 発泡剤 (成分 D) 、 及び、 触媒からなる混合物に、 有機ポリオール (成分 B) 及び有機ポリアミン (成分 C) から選ばれた 1種以上、 並びに粒子 (成分 E) からなる混合物を加 えて撹拌混合して重合反応により硬化 ·成形されたことを特徴とする請求項 1 1に記載の研磨材。
14. 請求項 1ないし 1 3のいずれかに記載の研磨材を研磨テーブルに装着し てなる固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) であって、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と被研磨物保持部との間で被研磨物を押圧し、 固定砥粒研磨 パッド (研磨パッド G) と前記被研磨物との間に研磨液 (研磨液 H) を供給し ながら、 前記被研磨物との相対運動によつて前記被研磨物を研磨するための固 定砥粒研磨パッド。
1 5. 固定砥粒研磨パッドが中心点から円周方向に向かって放射状溝を有する ことを特徴とする請求項 14に記載の固定砥粒研磨パッド。
16. 固定砥粒研磨パッドが格子状溝を有することを特徴とする請求項 14に 記載の固定砥粒研磨パッド。
1 7. 請求項 1ないし 1 2のいずれかに記載の研磨材からなる固定砥粒研磨パ ッド (研磨パッド G) を研磨テーブル上に装着し、 固定砥粒研磨パッド (研磨 パッド G) と被研磨物保持部との間で被研磨物を押圧し、 固定砥粒研磨パッド
(研磨パッド G) と前記被研磨物との間に研磨液 (研磨液 H) を供給しながら、 固定砥粒研磨パッド (研磨パッド G) と前記被研磨物との相対運動によって被 研磨物を研磨する方法であることを特徴とする被研磨物の研磨方法。
1 8. 研磨液 (研磨液 H) がアルカリ水溶液である請求項 1 7に記載の被研磨 物の研磨方法。
1 9. アルカリ水溶液が pHl 0以上である請求項 18に記載の被研磨物の研 磨方法。
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