WO2003076151A1 - Procede et systeme de traitement de materiaux fragiles - Google Patents

Procede et systeme de traitement de materiaux fragiles Download PDF

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WO2003076151A1
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brittle material
sample
processing
wavelength
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Hideki Morita
Yasuhide Otsu
Tatsuo Eda
Original Assignee
Mitsuboshi Diamond Industrial Co., Ltd.
Nagasaki Prefectural Government
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    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B28WORKING CEMENT, CLAY, OR STONE
    • B28DWORKING STONE OR STONE-LIKE MATERIALS
    • B28D5/00Fine working of gems, jewels, crystals, e.g. of semiconductor material; apparatus or devices therefor
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C03GLASS; MINERAL OR SLAG WOOL
    • C03BMANUFACTURE, SHAPING, OR SUPPLEMENTARY PROCESSES
    • C03B33/00Severing cooled glass
    • C03B33/09Severing cooled glass by thermal shock
    • C03B33/091Severing cooled glass by thermal shock using at least one focussed radiation beam, e.g. laser beam
    • C03B33/093Severing cooled glass by thermal shock using at least one focussed radiation beam, e.g. laser beam using two or more focussed radiation beams
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
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    • B23K26/00Working by laser beam, e.g. welding, cutting or boring
    • B23K26/02Positioning or observing the workpiece, e.g. with respect to the point of impact; Aligning, aiming or focusing the laser beam
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    • B23K2103/52Ceramics

Definitions

  • the present invention relates to a processing method and processing apparatus for brittle materials such as glass, ceramics, and semiconductor wafers.
  • Japanese Patent Publication No. 3-130040 discloses that a crack formed at the processing start point of a brittle material is guided along the processing line by a thermal stress caused by laser light irradiation.
  • a processing method for cleaving is disclosed.
  • Japanese National Patent Publication No. 8-5 0 9 9 4 7 discloses that the thermal stress generated by laser beam irradiation on a brittle material is caused by the surface of the material.
  • a processing method is disclosed in which a crack reaching a predetermined depth is formed, and the brittle material is cut using the crack.
  • Typical laser light sources used for this type of processing include HF lasers with an oscillation wavelength of 2.9 m, CO lasers with an oscillation wavelength of 5.5 m, and C0 2 with an oscillation wavelength of around 10 ⁇ m.
  • ⁇ Gas lasers such as lasers are listed.
  • ruby lasers and semiconductor lasers that oscillate various wavelengths are commercially available.
  • laser light with a wavelength of 1 to 3 / m is used for processing semiconductor wafers such as silicon, and laser light with a wavelength of 5 to 10.6 ⁇ . Is used for processing brittle materials such as glass. In addition, various ceramic materials are processed using laser light having a wavelength of 1 to 10.6 ⁇ m. Processing using laser light is also applied to metal processing.
  • U.S. Pat. No. 5, 1 3 8, 1 3 1 measures the laser light transmittance of the glass to be processed so that the laser light is sufficiently absorbed by the glass to be processed.
  • a processing method is disclosed in which glass is selected with a wavelength region where the transmittance is close to zero or more) and laser light in that wavelength region is irradiated onto the glass.
  • the present invention has been made in view of such circumstances, and an object thereof is to provide a processing method and a processing apparatus for a brittle material having a high processing speed.
  • the processing method of the present invention is a method for observing a brittle material by irradiating the brittle material with light from a light source as a heating source and moving the irradiation position along a predetermined line.
  • the absorptivity of the irradiation light to the brittle material to be used is set in advance, and the sample is brittle using the set value of the absorptivity and the thickness of the plate-shaped sample of the same material as the brittle material to be processed.
  • the sample is sequentially irradiated with a plurality of types of light having different wavelengths, and actually measured sample absorptance data is calculated from the measured values of transmitted light intensity for each wavelength obtained by the light irradiation. It is also possible to select the optical wavelength using these measured data.
  • a reflective layer may be formed on the back side of the light irradiation position of the brittle material to be processed.
  • a reflective layer may be formed on the material placement surface of the table.
  • I I. ⁇ E X p (— ⁇ ⁇ z).
  • 4 ⁇ / ⁇ ⁇ )
  • k (4 ⁇ / ⁇ 0 ) ⁇ ⁇ .
  • is the refractive index of the object
  • k and ⁇ are attenuation coefficients.
  • a plate-like sample S of thickness d which is the same material as the brittle material to be processed and is a fraction of the thickness, was irradiated with laser light (intensity 1.) with a known wavelength. At this time, assuming that A% of the laser beam is absorbed in sample S, the following relationship is established.
  • the absorption rate is determined to be 8%, based on the absorption rate of 8% and the above equation (5), a sample with the same material as the brittle material to be processed and the thickness d is the same as that to be processed. Calculate how much absorptivity is achieved when laser light is irradiated. The calculation result is the absorption rate A%.
  • the sample d with thickness d is actually irradiated with laser light, and the absorption value (measured data) close to the absorption rate A% obtained by the above calculation is investigated in which wavelength region.
  • the sample S is irradiated with laser light while changing the wavelength, or multiple types of laser light with different wavelengths are irradiated.
  • the actual absorptance of sample S is obtained using the measured data of transmitted light intensity for each wavelength obtained by laser light irradiation (using the above equation (1)), and the actual absorptance (actually measured data) And the absorptance A% obtained in the above calculation, and find the laser beam wavelength corresponding to the absorptance A%.
  • the processing speed can be increased as compared with the conventional method. The reason is described below.
  • the absorption rate within the material to be processed may be zero% and may be transmitted without being absorbed.
  • the absorptance in the material is near 100%, the laser light L irradiated to the brittle material W is absorbed near the surface of the brittle material W as shown in FIG.
  • the surface portion of the brittle material W is instantaneously heated, but since the internal temperature rises due to heat conduction inside the material, the temperature rise inside the material is delayed by the time required for the heat conduction.
  • the change in thermal stress (solid line) caused by the temperature rise near the heating spot is steeper than when laser light wavelength is inappropriately selected (conventional processing method: broken line).
  • the thermal stress concentrates in a narrow area in the material, and as a result, the strength of the thermal stress increases.
  • the present invention it is possible to generate a relatively uniform heating zone in the thickness direction by considering that a heating method for reducing the temperature gradient between the material surface and the inside of the irradiated portion is realized. .
  • a heating method for reducing the temperature gradient between the material surface and the inside of the irradiated portion is realized.
  • the thermal gradient becomes smaller in the plate thickness direction. Therefore, when various materials are targeted for cutting, many materials that can be cleaved with light having a low absorption rate are applicable to the target. In some cases, there is no problem with the cutting performance itself even when a part of the irradiation energy passes through the material.
  • Another effective method is to form a reflective layer on the bottom or table surface of the material and reflect incident light on the bottom or table surface. By adopting such a method, a relatively uniform heating zone can be generated in the thickness direction.
  • the depth of cracks obtained at the time of processing can be controlled by changing the wavelength of the irradiated light (that is, changing the absorptance in the processed material). Furthermore, by tilting the irradiation angle so that it is closer to one of the left and right irradiation surfaces in the direction of the irradiation light, it is possible to cut the work material on the inclined surface. Also on this cut surface, a smooth surface that does not require chamfering as in the case of a normal cut surface is obtained after cutting.
  • the present invention by forming an appropriate reflective layer on the material mounting surface of the back surface of the processing material at the predetermined irradiation position, the irradiation energy is deeply penetrated into the processing material. If the gears are sufficiently spread, the present invention can be effectively used for a full body cut that is processed in such a way that cracks propagate to the extent that they penetrate from the front surface to the back surface.
  • the present invention is characterized in that the heat of irradiation by the laser light is absorbed in the downward direction of the irradiated portion faster than the heat conduction.
  • the processing apparatus of the present invention is an apparatus suitable for carrying out a method for adding a brittle material having the above characteristics, and includes a plurality of light sources that oscillate light having different wavelengths, and a relative relationship between these light sources and the brittle material.
  • the absorptance of the sample when the sample is irradiated with light of the same wavelength as the brittle material, using the scanning means to move the sample, the preset absorptivity setting value and the sample thickness data An absorptance calculating means, a light intensity measuring means for measuring the transmitted light intensity when the sample is irradiated with light from each light source, and the transmitted light intensity for each wavelength measured by the light intensity measuring means.
  • Measured data calculation means to obtain measured data of sample absorptivity from measured values
  • a light source that oscillates a light corresponding to the selected wavelength, by selecting one of a plurality of light sources, characterized Te cowpea that is configured to perform the processing of the brittle material.
  • the light intensity I in the vicinity of the surface of the processed material is preliminarily processed before the processing using the light intensity measuring means. Measure it. After that, measure the light intensity of the transmitted light on the back side of the sample and processed material. To calculate the absorption rate in each material.
  • the present invention is a cutting process in which a brittle material is deeply cracked by irradiation of light (laser light, etc.) from a light source, or the brittle material is completely separated into the left and right of a processing line (scribe line) only by light irradiation. It can be applied to any processing.
  • the light source as a heating source is not particularly limited as long as it has a wavelength of V that is absorbed by the surface of the material and enters the material, and is converted into heat inside.
  • V wavelength of V that is absorbed by the surface of the material and enters the material, and is converted into heat inside.
  • light with various wavelengths such as visible light and ultraviolet light, or light sources that combine multiple lasers with different wavelengths can be listed.
  • the speed and accuracy can be improved, and the feature points that can be cleaved can be obtained.
  • light sources other than lasers ultraviolet lamps and infrared lamps can be used, and white lasers can also be applied as laser light sources.
  • the light source used in the present invention includes a heat light source that emits a plurality of wavelengths such as a heating lamp such as an infrared lamp.
  • a heating lamp such as an infrared lamp.
  • the spectral component When using a light source that emits light containing multiple wavelength components, the spectral component has the strongest intensity of the wavelength component included in the light from the light source or a strength equivalent to it. Focusing on the wavelength component, the light intensity is measured for the optical component having a predetermined wavelength width, which is used as a measure of the absorptivity or transmittance.
  • a sample having a predetermined thickness of a material to be processed is used, and data relating to absorption characteristics and transmittance when the light of each light source is irradiated on the sample is collected.
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing the configuration of the embodiment of the present invention.
  • FIG. 2 is a schematic diagram showing a state in which a plate-like sample having a thickness d is irradiated with laser light.
  • FIG. 3 is a schematic view showing a state in which a brittle material having a thickness D is irradiated with laser light.
  • Fig. 4 is a diagram schematically showing the situation where only the surface of the brittle material is heated by laser light irradiation.
  • Fig. 5 is an explanatory view of the operation of the present invention. It is a figure which shows typically the condition where the area
  • FIG. 6 is an explanatory diagram of the operation of the present invention, and shows a change in the magnitude of the thermal stress generated by the temperature rise near the heating spot.
  • FIG. 1 is a diagram schematically showing the configuration of the embodiment of the present invention.
  • the processing apparatus in FIG. 1 includes a plurality of laser light sources 1 1 and 1 2 ••• In that oscillate different wavelengths.
  • Various lasers such as a semiconductor laser, a gas laser, a solid-state laser, or an excimer laser are applied to the laser light sources 11 1 and 12 1 to 1 n. If a laser diode is used as the laser light source 1 1, 1 2-1 n, there is no particular problem with the arrangement of each laser light source (element), but if multiple gas lasers, solid-state lasers, or excimer lasers are used, the laser light source Since the shape dimension becomes large, it may be difficult to arrange all of the plurality of laser light sources at a location above the brittle material W to be processed. In this case, the laser beam L is guided to the surface of the brittle material W to be processed from the place where the plurality of laser light sources 1 1 and 1 2 ⁇ 1 n are installed using optical means such as an optical fiber. do it.
  • the brittle material W to be processed is moved in the XY direction by a scanning mechanism 2 such as an XY table.
  • the brittle material W is irradiated with laser light L from one laser light source 1 1 (or 1 2 ⁇ 1 n) of the plurality of laser light sources 11, 12 -ln.
  • the selection and driving of the laser light source 1 1 (or 1 2 ⁇ l n) and the driving control of the scissor mechanism 2 are executed by an arithmetic processing unit 4 described later.
  • a light intensity measuring device 3 is arranged below the plurality of laser light sources 1 1, 1 2-1 11 (below the brittle material W).
  • the light intensity measuring device 3 measures the intensity of transmitted light when the laser beam L from each laser light source 11, 12 -ln is irradiated onto a sample S to be described later.
  • the measured value of the light intensity measuring device 3 is taken into the arithmetic processing device 4.
  • the arithmetic processing unit 4 includes an absorptance calculation unit 41, an actual measurement data calculation unit 42, a selection unit 43, a drive control unit 44, and the like.
  • the arithmetic processing unit 4 includes processing shape data, the thickness of the brittle material W to be processed, the thickness of the sample S, and the absorption rate of the laser beam L.
  • An input device 5 for inputting the set value is connected.
  • the absorptivity calculation unit 41 uses the set values for the brittle material W to be processed, the thickness of the sample S, and the absorption rate, which are input by operating the input device 5, and sets the sample S to be processed. Calculate the absorptivity of sample S when irradiated with laser beam L of the same wavelength as brittle material W. Specifically, the thickness D of the brittle material W, the thickness d of the sample S, and the set value 8% of the absorption rate are substituted into the equation (5) described above, and the absorption rate% of the sample S Is calculated.
  • the drive control unit 4 4 is set with a machining mode for performing actual machining and an experimental mode.
  • the experimental mode is designated by the operation of the input device 5, each laser light source 1 1, 1 2 ... 1 n Are driven in order.
  • the actual measurement data calculation unit 4 2 is provided for each wavelength measured by the light intensity measuring device 3 when the laser light L from each laser light source 1 1, 1 2. Calculate the measured data of the absorptivity of sample S from the measured transmitted light. Note that the above equation (1) is used to calculate the actual absorption rate data.
  • the selection unit 4 3 compares the absorption rate% of the sample S calculated by the absorption rate calculation unit 41 with a plurality of actual absorption rate data calculated by the actual measurement data calculation unit 42, and calculates the result.
  • a laser light source with a wavelength showing a value close to the absorption rate A% is selected by processing to find actual measurement data that matches or is close to the absorption rate A%.
  • the drive control unit 4 4 drives only one laser light source 11 (or 1 2-1 n) selected by the selection unit 4 3, and sets the scanning mechanism 2 to the machining shape data. Based on the drive control.
  • the laser light L is scanned on the surface of the brittle material W to be processed by the drive control of the laser light source 1 1 (or 1 2... 1 n) and the scanning mechanism 2.
  • a plate-like sample S with the same material as the brittle material W to be processed and a fraction of the thickness is used.
  • each data such as machining shape data, “thickness d of the sample S, and thickness D of the brittle material W to be processed” is input to the arithmetic processing device 4. Also, it is better to irradiate a brittle material with a thickness D by irradiating with a laser beam of what percentage Set the determined value: 6% to the processing unit 4.
  • the sample S is placed above the light intensity measuring device 3 and the arithmetic mode is instructed to the arithmetic processing device 4.
  • the laser light sources 1 1, 1 2 — In are driven in sequence, and the laser light L from each laser light source 1 1, 1 2 — 1 n is irradiated to the sample S.
  • the transmitted light intensity of the sample S measured by the light intensity measuring device 3 is taken into the arithmetic processing device 4.
  • the processing unit 4 calculates the absorption rate% of the sample S described above, Calculate the measured data of S absorptance, and from these results, out of the multiple laser light sources 1 1, 1 2 ... In, the laser light source close to the optimum wavelength for the absorption characteristics of the brittle material W to be processed Select 1 1 (or 1 2 1 n).
  • the brittle material W to be processed is placed below the laser light sources 1 1, 1 2, 1 n, and the processing mode is specified in the arithmetic processing unit 4.
  • the arithmetic processing device 4 drives the laser light source 11 (or 1 2-1 n) selected in the above processing, and drives and controls the scribing mechanism 2 based on the machining shape data.
  • the brittle material W is processed into a predetermined shape.
  • the laser beam L is irradiated from the laser light sources 1 1 and 1 2 1 n to form a cutting process for making a crack deep inside the brittle material W, or at the processing start point of the brittle material W. Any of the cleaving processes in which the crack is propagated by laser light irradiation and the brittle material W is completely separated is possible.
  • the present invention is not limited to this, and the present invention can be implemented using, for example, a free electron laser having a variable oscillation wavelength.
  • the laser light wavelength selection process is such that the sample S is irradiated with the laser light from the free-electron laser, and the wavelength of the laser light is continuously changed to obtain the optimum absorption rate. This makes it possible to find a wavelength region where Then, after the optimum wavelength region is found, the brittle material may be processed by selecting a laser light source that oscillates a laser beam having a wavelength close to or within the wavelength region. .
  • the oscillation wavelength of the free electron laser is set to a value close to the optimum wavelength found by the absorptivity measurement, and the brittle material is irradiated with the laser beam. Processing is also possible.
  • various light sources such as an ultraviolet lamp and an infrared lamp that output light of various wavelengths such as visible light and ultraviolet light may be applied as a light source as a heating source.
  • the objective can be achieved by selecting an appropriate transmission means in such a way that the loss during transmission is minimized instead of the optical fiber.
  • Specific transmission methods include hollow optical fibers and hollow waveguides capable of low-loss transmission (Yuji Matsuura, Mitsunobu Miyagi: Applied Physics, 6th VIII, pp. 4 1— 4 3 1 9 9 3 years and 62 2nd year, pp. 4 4-4 6 1 9 9 3 years).
  • the temperature rise of heating inside the material becomes faster, and the required temperature rise can be obtained in a short time. It is possible and useful.
  • cracks generated by light irradiation extend from the material surface to reach the opposite surface, so that the cracks are formed deep inside the material, and in the break process after laser scribing. Dividing work becomes easy.

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Description

脆性材料の加工方法及び加工装置 技術分野
本発明は、 ガラス、 セラミックあるいは半導体ウェハなどの脆性材料の加工方 法及び加工装置に関する。 明
背景技術
レーザ光源からのレーザ光を加工対象田の脆性材料の表面に照射し、 その際に発 生する加熱冷却変化による熱歪を利用して脆性材料を加工することが知られてい る。
例えば、 特公平 3— 1 3 0 4 0号公報には、 脆性材料の加工始点に形成した亀 裂を、 レーザ光照射による熱応力により加工ライン上に沿って誘導することによ つて、 脆性材料を割断する加工方法が開示されている。 また、 特表平 8— 5 0 9 9 4 7号 (特許第 3 0 2 7 7 6 8号) 公報には、 脆性材料へのレーザ光照射によ り発生する熱応力によつて材料表面から所定深さまで達する亀裂を形成し、 その 亀裂を利用して脆性材料を分断する加工方法が開示されている。
この種の加工に用いられるレーザ光源の代表的なものとして、 発振波長が 2 . 9 mの H Fレーザ、 発振波長が 5 . 5 mの C Oレーザ、 発振波長が 1 0 μ m 付近の C〇2 · レーザ等のガスレーザが挙げられる。 また、 固体レーザとして、 種々の波長を発振するルビーレーザ、 半導体レーザ等が市販されている。
市販品として入手可能なレーザ光源のうち、 1〜 3 / m付近の波長のレーザ光 はシリコン等の半導体ウェハの加工に用いられており、 5〜1 0 . 6 μ πι付近の 波長のレーザ光はガラス等の脆性材料の加工に用いられている。 また、 1〜1 0 . 6 μ m付近の波長のレーザ光を用いて各種セラミック材料を加工することが行 われている。 なお、 レーザ光を用いた加工は金属加工にも応用されている。 ところで、 特公平 3— 1 3 0 4 0号公報や特表平 8— 5 0 9 9 4 7号 (特許第 3 0 2 7 7 6 8号) 公報に開示されている加工方法によれば、 使用するレーザ光 源の波長の選択に対しては、 特に配慮されておらず、 照射するレーザ光の波長が 切断対象の材料に対してその加熱エネルギがその中に十分吸収される最適な吸収 波長となっていないことが多い。 このため、 材料内部の温度上昇は材料表面の加 熱部分からの熱伝導に頼るしかなく、 必要な温度上昇迄に多くの時間を要するこ とから、 レーザ光の照射時間を長くとる必要があり、 加工速度を速くすることが できない。 また、 照射時間を長くした際の別の問題として、 材料内部が加工 (亀 裂の形成) に必要な温度に達する前に、 照射部の表面付近の温度が材料の溶融温 度近く、 もしくはそれ以上に加熱されて材料表面付近が溶融してしまうと、 精度 が良好なスクライブラインを得ることが困難になるという問題がある。 なお、 特 表平 8— 5 0 9 9 4 7号 (特許第 3 0 2 7 7 6 8号) 公報に開示の加工方法では 、 材料内部が十分に加熱されるまでに多くの時間を要することから、 亀裂を材料 の内部深くまで形成することができないという問題もある。
ここで、 レーザ光の波長を考慮した加工方法がいくつか提案されている。 例え ば、 米国特許第 5, 1 3 8, 1 3 1号には、 加工対象のガラスにレーザ光が十分 吸収されるようにするため、 加工対象のガラスのレーザ光透過率を測定し、 その 透過率がゼロ近くになる波長領域 以上) を選択して、 その波長領域にあ るレーザ光をガラスに照射する加工方法が開示されている。
しかし、 この加工方法では、 レーザ光の波長に対する加工材料の吸収率があま りにも大き過ぎるため、 照射レーザ光の大部分が材料の表面近傍で吸収されてし まい、 照射レーザ光による直接加熱は材料表面から数; u mの深さまでしか及ばな い。 このため、 材料の表面近くのみが加熱され、 材料内部には表面付近で吸収さ れた光エネルギが熱に変化した後の熱伝導によって伝わるのみである。 その結果 、 表面付近の加熱時点から内部が十分に加熱されるまでに熱伝導時間に相当する 時間遅れが発生する。 このことは、 熱歪によって形成される亀裂の発生が内部で は遅れることを意味している。
また、 材料の表面付近が集中して加熱されるため、 レーザ光の照射エネルギが 集中する表面付近では、 上記した時間遅れも重なって必要以上に加熱されてしま う。 これにより最悪の場合には一部が溶融温度近くまで加熱されてしまい、 加工 対象材料の切断後の品質にも影響が現れる。 さらに、 加熱時間の遅れによる切断 速度の低下を補うために、 大出力のレーザ光源からのレーザ光を材料に照射して 、 速やかに大量の加熱エネルギが材料内部へと移動していくようにする必要性も 出てくる。 発明の開示
本発明は、 そのような実情に鑑みてなされたもので、 加工速度の速い脆性材料 の加工方法及び加工装置の提供を目的とする。
本発明の加工方法は、 加熱源としての光源からの光を脆性材料に照射するとと もに、 その照射位置を所定のライン上に沿って移動させることにより脆性材料を ェする方法において、 加工対象となる脆性材料への照射光の吸収率を予め設定 しておき、 その吸収率の設定値と、 加工対象の脆性材料と同じ材質の板状のサン プルの厚みとを用いて、 サンプルに脆性材料と同一波長の光を照射したときのサ ンプルの吸収率を演算し、 この吸収率の演算値と、 サンプルに実際に光を照射す ることによって得られる吸収率の実測データに基づいて、 加工対象の脆性材料の 吸収率に適した光波長を選択することによって特徴づけられる。
本発明の加工方法において、 互いに波長が異なる複数種の光をサンプルに順次 照射し、 その光照射によって得られる各波長ごとの透過光強度の測定値からサン プルの吸収率の実測データを算出し、 それら実測データを用いて光波長の選択を 行うようにしてもよレ、。
本発明の加工方法において、 加工を行う脆性材料の光照射位置の裏面側に反射 層を形成しておいてもよい。 また、 脆性材料をテーブル上に載置して加工を行う 場合、 そのテーブルの材料載置面に反射層を形成しておいてもよい。
本発明の加工方法で実施する演算処理 (レーザ光波長選択演算) の詳細を以下 に説明する。
なお、 実際の脆性材料の場合には、 入射面側である材料表面での反射があった り、 透過する際に材料内部から出射側面へ透過する透過面である材料裏面での反 射があったりする。 しかし、 ここでは議論を簡単にする為に、 そうした材料の入 射部分や透過部分での反射は小さいとして無視して議論することにする。
また、 脆性材料が表示用の被切断パネル材料として用いられた場合には、 入射 面側の裏面側には画面表示用やその表示制御用の各種駆動 ·制御回路を形成する ための表面加工がされていたりする。 そうした場合においても、 議論を簡単にす るために、 表面加工部分の影響は受けずに表面加工がされていない部分に対して 光が入射し透過していくとして議論することにする。
まず、 物体に真空中の波長え。、 強度 I。の光を照射したとき、 深さ zの場所で の光強度 Iは、 I = I 。 · e X p (— α · z) で表すことができる。 ここで、 は吸収能と呼ばれる物理量で、 α= (4 π/λ ο) k = (4 π / λ 0) η κで表さ れる。 ただし、 ηはその物体の屈折率、 k, κは減衰係数である。
図 2に示すように、 加工対象の脆性材料と同じ材質で厚さが数分の 1である、 厚み dの板状のサンプル Sに、 波長が既知のレーザ光 (強度 1。) を照射したと きに、 サンプル S中でレーザ光が A%吸収されたとすると、 以下の関係が成立す る。
I I A
( 1 ) I = I e X p (- d)
I 100
I 100— A
= e x P a d) (2)
I 100
100— A 1/d
( ) = e x p (- a) - (3)
100
また、 図 3に示すように、 厚み Dの脆性材料 Wに、 サンプル Sと同一波長の光 を照射したときの出射光強度 I ' で透過率が B%になったとすると、 以下の関係 が成立する。
I ' / I。= e x p (- a · D) =B/100
(3) を用いて e x p (- a · D) = ( (100— A) /100) D d = B/l00
(100— A) /100 = (B/I00)d/D- (4)
100— Α = 100 · (B/I00)d/D
= (100) D/d · (100) d/D · ( B/100) d/D
= (100) D/d . Bd/D
.·. A = 100— (100)D/d · Bd/D--- (5) そして、 以上の関係式と、 厚み dの板状のサンプル Sの透過光強度の実測デー タを用いて、 加工対象の脆性材料に最適な波長のレーザ光を選択することができ る。 その手法を以下に詳述する。
まず、 加工対象である厚み Dの脆性材料に対して、 何%の吸収率のレーザ光を 照射して加工を行うのが良いのかを決定しておく。
いま、 吸収率を8 %と決定したとすると、 その吸収率8 %と上記の (5 ) 式に 基づいて、 加工対象の脆性材料と同一の材質で厚み dのサンプルに、 加工対象と 同一のレーザ光を照射した場合に、 どの位の吸収率になるかを演算する。 その演 算結果を吸収率 A %とする。
次に、 厚み dのサンプル Sに実際にレーザ光を照射して、 上記演算で求めた吸 収率 A %に近い吸収率の値 (実測データ) 、 どの波長領域で得られるかを調べ る。 具体的には、 サンプル Sにレーザ光を波長を変更しながら照射するか、 ある いは波長が異なる複数種のレーザ光を照射する。 次いで、 レーザ光照射によって 得られる各波長ごとの透過光強度の実測データを用いてサンプル Sの実際の吸収 率を求め (上記した (1 ) 式を使用) 、 それら実際の吸収率 (実測データ) と、 上記演算で求めた吸収率 A %とを比較し、 吸収率 A %に対応する値のレーザ光波 長を見つける。
以上の処理により、 加工対象の脆性材料の吸収特性に最適な波長に近いレーザ 光波長を選定することができる。
このようなレーザ光波長の選択により、 加工速度を従来よりも高めることがで きる。 その理由を以下に述べる。
まず、 レーザ光波長の選択が不適切な場合、 加工対象の材料内での吸収率がゼ ロ%でほとんど吸収されず透過していく場合がある。 逆に、 材料内の吸収率が 1 0 0 %近くであると、 図 4に示すように、 脆性材料 Wに照射されたレーザ光 Lは 、 脆性材料 Wの表面近くで吸収される。 これにより脆性材料 Wの表面部分は瞬時 に加熱されるが、 材料内部では熱伝導によって内部温度が上昇していくので、 そ の熱伝導に要する時間分だけ材料内部の温度上昇が遅れる。
これに対し、 本発明の加工方法のように、 加工対象の脆性材料の吸収特性に最 適な波長に近い波長のレーザ光を選択すると、 図 5に示すように、 脆性材料 Wへ のレーザ光 Lの照射により、 脆性材料 Wの表面付近と材料内部の領域が吸収領域 となり、 広い体積が同時に加熱される。 これにより材料内部の加熱は光伝播速度 の遅れ時間だけ遅れるだけで済み、 脆性材料 Wの表面付近が加熱されるのとほぼ 同時に材料の内部深くまで加熱されることになり、 短時間で必要とする温度上昇 が得られる。 その結果として、 加工速度を速くすることが可能になる。 また、 脆 性材料の表面付近から内部深くまで熱歪を発生させることができるので、 亀裂を 脆性材料 Wの内部深くまで形成することができる。
さらに、 図 6に示すように、 加熱スポット付近の温度上昇により発生する熱応 力 (実線) の変化が、 レーザ光波長の選択が不適切な場合 (従来の加工方法:破 線) よりも急峻となり、 材料中の狭い領域に熱応力が集中する結果、 熱応力の強 度も強くなる。
ここで、 本発明において、 照射部の材料表面と内部の温度勾配を小さくする加 熱方法が実現されるように配慮することにより、 板厚方向に比較的均一な加熱帯 を発生させることができる。 例えば、 予め所定の温度で加工材料を予熱しておく とか、 板厚方向材料の光吸収率の小さい光源を用いることで熱勾配は板厚方向で 小さくなる状況になる。 従って、 種々の材料を切断加工対象とした場合に、 吸収 率の小さい波長の光で割断加工可能な材料が多く対象に当てはまる。 場合によつ ては、 照射エネルギの一部が材料を透過してくる場合であっても切断性能それ自 体には問題はない。 材料の底面やテーブル面に反射層を形成して、 底面やテープ ル面にて入射光を反射させる方法なども有効な方策となる。 このような方法を採 用することで板厚方向に比較的均一な加熱帯を発生させることができる。
本発明において、 加工時に得られるクラックの深さが照射する光の波長を変え る (すなわち、 加工材料内の吸収率を変化させる) ことにより制御可能である。 さらに、 照射光の走查方向に左右の照射表面の片方の面に近づける形で照射角度 を傾けることにより、 傾斜する面で加工材料を切断することが可能となる。 この 切断面においても、 通常の切断面と同様面取り加工が不要な平滑面が切断後に得 られる。
本発明において、 加工材料の所定照射位置の裏面側ゃテープルの材料载置面に 適切な反射層を形成しておくことによって、 加工材料の奥深くにまで照射エネル ギが十分に行き渡るようにしておけば、 クラックが表面から裏面側まで浸透する 程度に進展する形で加工が行われるフルボディカツトに本発明を有効に活用可能 である。
また、 本発明は、 レーザ光による照射熱が照射部の下方向に熱伝導よりも早く 吸収されるという特徴をもっている。 その結果、 加工対象となる脆性材料の表面 に向かってある所定の角度の照射角度でレーザビームを照射させると、 クラック が表面から所定の角度で傾斜する形で内部に形成されるので加工の自由度が増す という利点がある。
本発明の加工装置は、 以上の特徴をもつ脆性材料の加ェ方法の実施に適した装 置であって、 互いに異なる波長の光を発振する複数の光源と、 これら光源と脆性 材料とを相対的に移動させる走査手段と、 予め設定された吸収率の設定値とサン プルの厚みデータとを用いて、 サンプルに脆性材料と同一波長の光を照射したと きのサンプルの吸収率を演算する吸収率演算手段と、 各光源からの光をサンプル に照射したときの透過光強度を測定するための光強度測定手段と、 光強度測定手 段にて測定された各波長ごとの透過光強度の測定値からサンプルの吸収率の実測 データを求める実測データ算出手段と、 これら吸収率の実測データと上記吸収率 の演算結果に基づいて加ェ対象の脆性材料の吸収率に適した光波長を選択する選 択手段を備え、 その選択された波長に該当する光を発振する光源を、 複数の光源 の中から選択して、 脆性材料の加工を実行するように構成されていることによつ て特徴づけられる。
本発明において、 光強度測定手段を用いて、 加工前の段階で予め加工材料の表 面付近の光強度 I。を測定しておく。 その後、 サンプルと加工材料の裏面側で透 過光の光強度を測定し、 I。と比較することにより各材料内での吸収率を算定す る。
本発明は、 光源からの光 (レーザ光等) の照射により、 脆性材料に深い亀裂を 入れる切断加工、 あるいは光照射のみで脆性材料を加工線 (スクライブ線) の左 右に完全に分離する割断加工のいずれの加工にも適用できる。
また、 本発明において加熱源としての光源は、 材料表面で吸収されてしまわな V、で材料内部に進入し.内部で熱に変換される波長の光であれば特に限定されず、 レーザ光のほか、 可視光、 紫外光など種々の波長を持つ光、 または、 波長の異な るレーザを複数組み合わせた光源を挙げることができ、 これらの光源を用いて、 照射部の材料表面と内部の温度勾配を小さくする加熱方法を用いて加工すること によって速度と精度を向上させ、 また傾斜割断が可能となる特徴点が得られる。 レーザ以外の光源としては、 紫外線ランプや赤外線ランプが使用可能であり、 レ 一ザ光源では白色レーザも適用可能である。
さらに、 本発明に用いる光源としては、 単一波長の発光源であるレーザ光源以 外に、 赤外線ランプとかいった加熱ランプなど複数の波長を放出する熱光源も含 まれるが、 これまでの上記説明では記述を簡単にするために、 単一の波長を発生 するレーザ光源を代表的な加熱源として説明した。
加熱ランプを用いる場合には、 多数ある市販品の中から、 予めそれらの分光特 性に関するデータをそれらのランプの製造メーカーから入手しておくカ そうし たデータを自ら測定して入手する。
そうした、 複数の波長成分を含む光を放射する光源を用いる場合には、 光源か らの光の中に含まれる波長成分のうちスぺクトル成分の光強度が一番強いもの又 はそれに準ずる強さである波長成分に注目して、 予め定めた所定の波長幅の光成 分について光強度を測定することにより、 吸収率とか透過率の目安とする。 その方法としては、 例えば、 加工対象の材料の所定厚みのサンプルを用いて、 各光源の光をそのサンプルに照射した場合の吸収特性や透過率に関するデータを 収集する。 図面の簡単な説明
図 1は、 本発明の実施形態の構成を模式的に示す図である。
図 2は、 厚み dの板状のサンプルにレーザ光を照射した様子を示す模式図であ る。
図 3は、 厚み Dの脆性材料にレーザ光を照射した様子を示す模式図である。 図 4は、 レーザ光照射により脆性材料の表面付近のみが加熱される状況を模式 的に示す図である。
図 5は、 本発明の作用説明図で、 レーザ光照射により脆性材料の表面付近と内 部の領域が同時に加熱される状況を模式的に示す図である。
図 6は、 本発明の作用説明図で、 加熱スポッ ト付近の温度上昇こより発生する 熱応力の大きさの変化を示す図である。 発明を実施するための最良の形態
本発明の実施形態を、 以下、 図面に基づいて説明する。
図 1は本発明の実施形態の構成を模式的に示す図である。
図 1の加工装置は、 互いに異なる波長を発振する複数のレーザ光源 1 1、 1 2 •••I nを備えている。 これらレーザ光源 1 1、 1 2〜 1 nには、 半導体レーザ、 ガスレーザ、 固体レーザあるいはエキシマレーザ等の各種レーザが適用される。 なお、 レーザ光源 1 1、 1 2— 1 nとして半導体レーザを用いる場合、 各レー ザ光源 (素子) の配置は特に問題はないが、 ガスレーザ、 固体レーザやエキシマ レーザを複数用いる場合、 レーザ光源の形状寸法が大きくなるので、 複数のレー ザ光源の全てを、 加工対象である脆性材料 Wの上方となる場所に配置することが 困難になる場合がある。 この場合、 複数のレーザ光源 1 1、 1 2—1 nを設置す る場所から、 レーザ光 Lを光ファイバ等の光学手段を用いて、 加工対象となる脆 性材料 Wの表面に導くようにすればよい。
加工対象となる脆性材料 Wは、 X— Yテーブル等の走査機構 2によって、 X— Y方向に移動される。 脆性材料 Wには複数のレーザ光源 1 1、 1 2〜 l nのうち の 1つのレーザ光源 1 1 (または 1 2—1 n ) からのレーザ光 Lが照射される。 このレーザ光源 1 1 (または 1 2— l n ) の選択 '駆動、 及ぴ走查機構 2の駆動 制御は、 後述する演算処理装置 4によって実行される。
複数のレーザ光源 1 1、 1 2— 1 11の下方 (脆性材料 Wの下方) に光強度測定 装置 3が配置されている。 光強度測定装置 3は、 各レーザ光源 1 1, 1 2〜 l n からのレーザ光 Lを、 後述するサンプル Sに照射したときの透過光強度を測定す るものである。 光強度測定装置 3の測定値は演算処理装置 4に採り込まれる。 演算処理装置 4は、 吸収率演算部 4 1、 実測データ算出部 4 2、 選択部 4 3、 並びに駆動制御部 4 4などを備えている。 演算処理装置 4には、 加工形状データ 、 加工対象の脆性材料 Wの厚み、 サンプル Sの厚み、 並びにレーザ光 Lの吸収率 の設定値などを入力するための入力装置 5が接続されている。
吸収率演算部 4 1は、 入力装置 5の操作にて入力された加工対象の脆性材料 W の厚み、 サンプル Sの厚み、 及ぴ吸収率の設定値を用いて、 サンプル Sに加工対 象の脆性材料 Wと同一波長のレーザ光 Lを照射したときのサンプル Sの吸収率を 演算する。 具体的には、 脆性材料 Wの厚み D、 サンプル Sの厚み d及ぴ吸収率の 設定値8 %の各値を、 先に述べた (5 ) 式に代入して、 サンプル Sの吸収率 % を演算する。
駆動制御部 4 4には、 実際の加工を行う加工モードと実験モードが設定されて おり、 入力装置 5の操作にて実験モードが指定されたときには、 各レーザ光源 1 1、 1 2… 1 nを順に駆動する。
実測データ算出部 4 2は、 各レーザ光源 1 1、 1 2 ··· 1 ηからのレーザ光 Lが サンプル Sに照射されたときに、 光強度測定装置 3にて測定される、 各波長ごと の透過光測定値からサンプル Sの吸収率の実測データを算出する。 なお、 吸収率 の実測データの計算には、 上記した (1 ) 式を用いる。
選択部 4 3は、 吸収率演算部 4 1で演算されたサンプル Sの吸収率 %と、 実 測データ算出部 4 2にて算出された複数の吸収率実測データとを比較し、 演算に よる吸収率 A %に一致もしくは近い値を示す実測データを見つけ出すという処理 により、 吸収率 A %に近い値を示す波長のレーザ光源を選択する。
そして、 駆動制御部 4 4は、 加工モード時において、 選択部 4 3で選択された 1台のレーザ光源 1 1 (または 1 2— 1 n ) のみを駆動するとともに、 走査機構 2を加工形状データに基づいて駆動制御する。 これらレーザ光源 1 1 (または 1 2… 1 n ) 及ぴ走查機構 2の駆動制御により、 加工対象である脆性材料 Wの表面 にレーザ光 Lが走査される。
次に、 脆性材料 Wの加工手順を説明する。
まず、 加工対象の脆性材料 Wと同じ材質で厚さが数分の 1の板状のサンプル S を用, 、し飞お \
入力装置 5を操作して、 加工形状データ、 'サンプル Sの厚み d、 及び加工対象 の脆性材料 Wの厚み D等の各データを演算処理装置 4に入力する。 また、 厚み D の脆性材料に対して、 何%の吸収率のレーザ光を照射して加工を行うのが良いの かを決め、 その決定値:6 %を演算処理装置 4に設定しておく。
次に、 光強度測定装置 3の上方にサンプル Sを配置し、 演算処理装置 4に実験 ΐードを指示する。 この操作により、 レーザ光源 1 1、 1 2— I nが順に駆動さ れ、 各レーザ光源 1 1、 1 2— 1 nからのレーザ光 Lがサンプル Sに照射され、 そのレーザ光照射ごとに、 光強度測定装置 3にて測定されるサンプル Sの透過光 強度が演算処理装置 4に採り込まれる。
全てのレーザ光源 1 1、 1 2… 1 nからのレーザ光 Lによる透過光強度の測定 値が採取された時点で、 演算処理装置 4は、 上記したサンプル Sの吸収率 %の 演算と、 サンプル Sの吸収率の実測データの算出を行って、 それらの結果から、 複数のレーザ光源 1 1、 1 2… I nのうち、 加工対象の脆性材料 Wの吸収特性に 最適な波長に近いレーザ光源 1 1 (または 1 2 1 n ) を選択する。
以上の処理が完了した後、 レーザ光源 1 1、 1 2… 1 nの下方に加工対象であ る脆性材料 Wを配置し、 演算処理装置 4に加工モードを指定する。 これにより、 演算処理装置 4が、 上記の処理にて選択されたレーザ光源 1 1 (または 1 2— 1 n ) を駆動するとともに、 加工形状データに基づいて走查機構 2を駆動制御する ことにより、 脆性材料 Wが所定の形状に加工される。
ここで、 本実施形態では、 レーザ光源 1 1、 1 2 1 nからのレーザ光 Lの照 射により、 脆性材料 Wの内部深くまで亀裂を入れる切断加工、 あるいは脆性材料 Wの加工始点に形成した亀裂をレーザ光照射により進展させて脆性材料 Wを完全 に分離する割断加工のいずれの加工も可能である。
以上の実施形態では、 複数のレーザ光源を配置した例を示したが、 本発明はこ れに限られることなく、 例えば発振波長が可変の自由電子レーザを用いても実施 することができる。
自由電子レーザを用いる場合、 レーザ光波長の選択処理として、 サンプル Sに 自由電子レーザからのレーザ光を照射した状態で、 レーザ光の波長を連続的に変 化させて、 吸収率が最適な状況になる波長領域を見つけるという処理が可能にな る。 そして、 最適な波長領域が判明した後、 その波長領域に含まれるか、 あるい は、 その波長領域に近い波長のレーザ光を発振するレーザ光源を選択して脆性材 料の加工を行えばよい。 なお、 ^一ザ光波長の選択処理つまりレーザ光の吸収率 の測定後においても、 自由電子レーザ設備が利用可能な場合は、 自由電子レーザ の発振波長を、 吸収率測定で見つけた最適な波長に近い値に設定して、 レーザ光 を脆性材料に照射するという加工も可能である。
なお、 加熱源としての光源は、 レーザ光源のほか、 可視光、 紫外光など種々の 波長の光を出力する紫外線ランプや赤外線ランプ等の各種の光源を適用してもよ い。
また、 光源から加工材料に伝送するエネルギ量が大きな場合は、 光ファイバの 代わりとして、 伝送時の損失が最小になる形で適切な伝送手段を選択することに より目的を達成することが可能である。 その具体的な伝送手段としては、 低損失 な伝送が可能な中空光ファイバ及び中空導波路等 (松浦 祐司、 宮城 光信:応 用物理、 第 6 8卷、 p p . 4 1— 4 3 1 9 9 3年及び同第 6 2卷、 p p . 4 4 - 4 6 1 9 9 3年) を挙げることができる。 産業上の利用可能性
本発明によれば、 従来の表面付近の加熱のみの場合と比較して、 材料内部の加 熱の温度上昇が速くなり、 短時間で必要とする温度上昇が得られる結果、 加工速 度を速くすることが可能となり、 有益である。
また、 光照射により発生する亀裂が、 材料表面から内部を通過して反対面まで 達する形で延びて行くので、 亀裂が材料内部深くまで形成され、 これにより、 レ ーザスクライブの後のブレーク工程での分断作業が容易になる。
さらに、 材料の厚みによるが、 光照射工程のみで脆性材料をスクライブライン の左右に完全に分断する割断加工も高速に行うことが可能になる。 この場合、 後 工程として、 力レツトが多く発生するプレーキング工程を採用する必要がなくな るので、 カレットと無縁な 1つの工程でスクライブと分断作業を進行させる.こと が可能となる。

Claims

請 求 の 範 囲
1 . 加熱源としての光源からの光を脆性材料に照射するとともに、 その照射位 置を所定のライン上に沿って移動させることにより脆性材料を加工する方法にお いて、
加工対象となる脆性材料への照射光の吸収率を予め設定しておき、 その吸収率 の設定値と、 加ェ対象の脆性材料と同じ材質の板状のサンプルの厚みとを用いて 、 サンプルに脆性材料と同一波長の光を照射したときのサンプルの吸収率を演算 し、 この吸収率の演算値と、 サンプルに実際に光を照射することによって得られ る吸収率の実測データに基づいて、 加工対象の脆性材料の吸収率に適した光波長 を選択することを特徴とする脆性材料の加工方法。
2 . 互いに波長が異なる複数種の光をサンプルに順次照射し、 その光照射によ つて得られる'各波長ごとの透過光強度の測定値からサンプルの吸収率の実測デー タを算出し、 それら実測データを用いて光波長の選択を行うことを特徴とする請 求の範囲第 1項記載の脆性材料の加工方法。
3 . 加工を行う脆性材料の光照射位置の裏面側に反射層を形成しておくことを 特徴とする請求の範囲第 1項または第 2項記載の脆性材料の加工方法。
4 . 脆性材料をテーブル上に載置して加工を行う際に、 そのテーブルの材料載 置面に反射層を形成しておくことを特徴とする請求の範囲第 1項または第 2項記 載の脆性材料の加工方法。
5 . 加熱源としての光源からの光を脆性材料に照射するとともに、 その照射位 置を所定のライン上に沿って移動させることにより脆性材料を加工する加工装置 において、
互いに異なる波長の光を発振する複数の光源と、 これら光源と脆性材料とを相 対的に移動させる走查手段と、 予め設定された吸収率の設定値とサンプルの厚み を用いて、 サンプルに脆性材料と同一波長の光を照射したときのサンプルの吸収 率を演算する吸収率演算手段と、 各光源からの光をサンプルに照射したときの透 過光強度を測定するための光強度測定手段と、 光強度測定手段にて測定された各 波長ごとの透過光強度の測定値からサンプルの吸収率の実測データを求める実測 データ算出手段と、 これら吸収率の実測データと上記吸収率の演算結果に基づい て加工対象の脆性材料の吸収率に適した光波長を選択する選択手段を備え、 その 選択された波長に該当する光を出力する光源を、 複数の光源の中から選択して、 脆性材料の加工を実行するように構成されていることを特徴とする脆性材料の加 ェ装置。
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