WO2001026166A1 - Dispositif piezo-electrique / electro-strictif et procede de fabrication - Google Patents

Dispositif piezo-electrique / electro-strictif et procede de fabrication Download PDF

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WO2001026166A1
WO2001026166A1 PCT/JP2000/006746 JP0006746W WO0126166A1 WO 2001026166 A1 WO2001026166 A1 WO 2001026166A1 JP 0006746 W JP0006746 W JP 0006746W WO 0126166 A1 WO0126166 A1 WO 0126166A1
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WO
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piezoelectric
electrostrictive
thin plate
plate portions
electrostrictive device
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PCT/JP2000/006746
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Yukihisa Takeuchi
Tsutomu Nanataki
Koji Kimura
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Ngk Insulators, Ltd.
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Publication date
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    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
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    • H10N30/20Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators
    • H10N30/204Piezoelectric or electrostrictive devices with electrical input and mechanical output, e.g. functioning as actuators or vibrators using bending displacement, e.g. unimorph, bimorph or multimorph cantilever or membrane benders
    • H10N30/2041Beam type
    • H10N30/2042Cantilevers, i.e. having one fixed end
    • H10N30/2043Cantilevers, i.e. having one fixed end connected at their free ends, e.g. parallelogram type
    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10NELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10N30/00Piezoelectric or electrostrictive devices
    • H10N30/01Manufacture or treatment
    • H10N30/05Manufacture of multilayered piezoelectric or electrostrictive devices, or parts thereof, e.g. by stacking piezoelectric bodies and electrodes
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    • Y10T29/49789Obtaining plural product pieces from unitary workpiece
    • Y10T29/49798Dividing sequentially from leading end, e.g., by cutting or breaking

Definitions

  • the present invention provides a piezoelectric electrostrictive device having a movable portion that operates based on a displacement operation of a piezoelectric electrostrictive device, or a piezoelectric device capable of detecting a displacement of a movable portion by a piezoelectric Z electrostrictive device.
  • the present invention relates to a piezoelectric electrostrictive device having excellent strength, impact resistance, and moisture resistance and capable of efficiently operating a movable portion largely, and a method for manufacturing the same.
  • a plate-shaped body 200 made of a piezoelectric / electrostrictive material is provided with a hole 202 so that it can be fixed to a fixed part 204.
  • a piezoelectric actuator in which a moving part 206 and a beam part 208 for supporting the moving part 206 are integrally formed, and further, an electrode layer 210 is provided on the beam part 208 is disclosed (for example, Kaihei 10-13 6 665 Reference).
  • the beam portion 208 connects the fixed portion 204 and the movable portion 206 by a reverse piezoelectric effect and an electrostrictive effect. Since the movable part 206 expands and contracts in the direction, the movable part 206 can be displaced in an arc or in a rotation in the plane of the plate-like body 200.
  • Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-64040 discloses that, with respect to an actuating device using a bimorph, the electrodes of the bimorph are divided and provided, and the divided electrodes are selected and driven. A technique for performing high-precision positioning at high speed has been disclosed. (Particularly FIG. 4) shows a structure in which, for example, two bimorphs are used facing each other.
  • piezoelectric actuator all parts of the piezoelectric actuator are made of piezoelectric Z electrostrictive material, which is a fragile and relatively heavy material, so it has low mechanical strength and is inferior in handling, impact resistance and moisture resistance.
  • piezoelectric actuator itself was heavy and had a problem that it was susceptible to harmful vibrations (for example, residual vibration and noise vibration during high-speed operation) during operation. In particular, the structure is weak against torsion.
  • the present invention has been made in view of such problems, and can reliably perform a displacement operation in a two-dimensional plane, and can also improve a resonance frequency and a displacement operation. It is hard to be affected by harmful vibrations, can respond at high speed, has high mechanical strength, and can detect displacement elements with excellent handling, shock resistance and moisture resistance, and accurately detect vibrations of moving parts. It is an object of the present invention to provide a piezoelectric electrostrictive device capable of obtaining a simple sensor element and a method for manufacturing the same.
  • the present invention includes a pair of opposed thin plate portions, a movable portion, and a fixed portion that supports the thin plate portions and the movable portion. At least one of the pair of thin plate portions has at least one thin plate portion.
  • a piezoelectric / electrostrictive element wherein a hole is formed by both inner walls of the pair of thin plate portions, an inner wall of the movable portion, and an inner wall of the fixed portion, wherein the movable It has at least one beam provided from the inner wall of the part to the inner wall of the fixing part.
  • the rigidity of the piezoelectric electrostrictive device itself is improved, the structure becomes strong against the torsional force, and a high resonance frequency can be achieved. Further, since it is not necessary to increase the thickness of the thin plate portion, the material characteristics of the piezoelectric / electrostrictive element formed on the thin plate portion are not degraded, and a decrease in displacement can be suppressed.
  • the present piezoelectric Z electrostrictive device has a displacement mode in which the movable portion operates substantially in parallel, the displacement reduction due to the provision of the beam portion is small, and the strength improving effect, particularly in the width direction and torsion of the thin plate portion. There is an advantage that the structure is strong in the direction.
  • the piezoelectric Z electrostrictive device As described above, in the piezoelectric Z electrostrictive device according to the present invention, there is no influence on the piezoelectric electrostrictive element itself, and the number, width, thickness, and the like of the beam portions that control the rigidity are formed. Allows fine adjustment. In particular, due to the presence of the beam, torsion is suppressed, and a displacement operation can be performed in a substantially two-dimensional plane as a displacement mode.
  • the movable part, the fixed part, and the thin plate part may be made of ceramics or metal, and each part may be made of ceramic materials, or may be made of metal materials. it can. Further, it may be configured as a hybrid structure combining materials manufactured from ceramics and metal materials.
  • the surface of the thin plate portion on which the piezoelectric electrostrictive element is formed is defined as a side surface of the thin plate portion, and a distance in a short side direction of the side surface of the thin plate portion is defined as a width of the thin plate portion.
  • the width of the beam portion is preferably 1 Z5 or more of the width of the thin plate portion from the viewpoint of the contribution of rigidity, and more preferably 13 or more and 1 Z1 or less.
  • a surface on which the piezoelectric electrostrictive element is formed is defined as a side surface of the thin plate portion, and a distance in a long side direction of the side surface of the thin plate portion is defined as a length Le of the thin plate portion.
  • the ratio (L e / T b) of the length Le of the thin plate portion to the total thickness Tb of the beam portion is preferably 5 or more and 200 or less.
  • the thin plate portion, the movable portion, and the fixed portion may be integrated by simultaneously firing a ceramic green laminate, and may be formed of a ceramic base obtained by cutting unnecessary portions. Further, the piezoelectric / electrostrictive element is formed into a film shape, May be integrated with the ceramic base.
  • the piezoelectric Z electrostrictive element can be configured to include a piezoelectric electrostrictive layer and a pair of electrodes formed on the piezoelectric / electrostrictive layer. Further, the piezoelectric electrostrictive element has a piezoelectric electrostrictive layer, and a pair of electrodes formed on both sides of the piezoelectric electrostrictive layer, and at least one electrode of the pair of electrodes is In this case, the vibration generated by the piezoelectric Z electrostrictive element can be efficiently transmitted to the movable portion or the fixed portion through the thin plate portion, and the responsiveness can be improved. . In particular, it is preferable that the piezoelectric / electrostrictive element has a configuration in which the piezoelectric electrostrictive layer and the pair of electrodes are stacked in a plurality.
  • the displacement operation in the two-dimensional plane can be reliably performed, the resonance frequency and the displacement operation can be improved, and further, the influence of the harmful vibration can be obtained. It is possible to obtain a displacement element that is difficult, can respond at high speed, has high mechanical strength, and is excellent in handling, shock resistance, and moisture resistance, and a sensor element that can accurately detect the vibration of a movable part. it can.
  • the hole may be filled with a gel-like material.
  • the present invention includes a pair of thin plate portions facing each other, a movable portion, and a fixed portion that supports these thin plate portions and the movable portion, and at least one thin plate portion of the pair of thin plate portions.
  • a method for manufacturing a piezoelectric electrostrictive device in which one or more piezoelectric electrostrictive elements are disposed, and a hole is formed by both inner walls of the pair of thin plate portions, the inner wall of the movable portion, and the inner wall of the fixed portion. After at least forming the piezoelectric electrostrictive element on the thin plate portion, a predetermined portion is cut off, and at least one beam portion is provided from an inner wall of the movable portion to an inner wall of the fixed portion.
  • a piezoelectric / electrostrictive device “after the piezoelectric / electrostrictive element is manufactured” means that at least the piezoelectric electrostrictive layer is formed on the thin plate portion, and the electrodes formed after the piezoelectric electrostrictive layer are formed are mutually It may be formed after cutting is performed to form a movable portion or a fixed portion having opposing end surfaces.
  • the present invention includes a pair of thin plate portions facing each other, a movable portion, and a fixed portion supporting the thin plate portions and the movable portion, and at least one thin plate of the pair of thin plate portions is provided.
  • One or more piezoelectric / electrostrictive elements are disposed on a plate portion, and a hole is formed by both inner walls of the pair of thin plate portions, the inner wall of the movable portion, and the inner wall of the fixed portion.
  • a manufacturing method comprising: a ceramic green sheet including at least a ceramic green sheet having at least a window portion for forming at least the hole and one or more beam portions; and a ceramic green sheet that later becomes the thin plate portion.
  • Integrally firing to form a ceramic laminate a step of forming the piezoelectric / electrostrictive element on an outer surface of a portion to be the thin plate portion of the ceramic laminate, At least one cutting process is performed on the ceramic laminate on which the piezoelectric Z electrostrictive element is formed, and at least one of the ceramic laminates provided from the inner wall of the movable part to the inner wall of the fixed part is provided. Characterized that you and a resection step of preparing a piezoelectric Z electrostrictive device having a beam portion.
  • the displacement operation in a two-dimensional plane can be performed reliably, the resonance frequency and the displacement operation can be improved, and the high-speed response is less likely to be affected by harmful vibration. It is possible to easily obtain a displacement element having high mechanical strength and excellent in eight-ring performance, impact resistance, and moisture resistance, and a sensor element capable of accurately detecting vibration of a movable portion.
  • the hole may be exposed by cutting the ceramic laminate.
  • the formation of the movable portion or the fixed portion having the end faces facing each other and the formation of the hole may be performed simultaneously, and the order is not limited.
  • various transducers various types of actuators, frequency domain functional components (transformers), transformers, transducers for communication and power, and resonators for resonance.
  • active elements such as transducers, oscillators, and discriminators
  • sensor elements for various sensors such as ultrasonic sensors, acceleration sensors, angular velocity sensors, impact sensors, and mass sensors.
  • the present invention can be suitably used for various types of actuators used for displacement, positioning adjustment, and angle adjustment mechanisms of various precision parts such as optical instruments and precision instruments.
  • FIG. 1 is a perspective view showing the configuration of the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 2 is a perspective view showing a first modification of the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 3 is a perspective view showing a second modification of the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is a perspective view showing a third modified example of the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 5 is a perspective view showing a fourth modification of the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 6 is a perspective view showing a fifth modification of the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 7 is a perspective view showing a sixth modification of the piezoelectric Z electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 8 is a perspective view showing a seventh modification of the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 9 is a perspective view showing an eighth modification of the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 10 is a perspective view showing a ninth modification of the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 11 is a perspective view showing another example of the piezoelectric electrostrictive element with a part thereof omitted.
  • FIG. 12 is a perspective view showing still another example of the piezoelectric electrostrictive element with a part thereof omitted.
  • FIG. 13 is a perspective view showing a tenth modification of the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 14 shows the piezoelectric / electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 4 is an explanatory diagram showing a case where neither element performs a displacement operation.
  • FIG. 15A is a waveform diagram showing a voltage waveform applied to one piezoelectric / electrostrictive element.
  • C FIG. 15B is a waveform diagram showing a voltage waveform applied to the other piezoelectric Z electrostrictive element. is there.
  • FIG. 16 is an explanatory diagram showing a case where the piezoelectric electrostrictive element performs a displacement operation in the piezoelectric Z electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 17A is an explanatory diagram showing a process of laminating necessary ceramic green sheets in the method for manufacturing a piezoelectric Z electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 17B is an explanatory diagram showing a state in which a ceramic green laminate is formed.
  • FIG. 18 is an explanatory diagram showing a state in which, after the ceramic green laminate is fired into a ceramic laminate in the manufacturing method, a piezoelectric electrostrictive element is formed on the ceramic laminate.
  • FIG. 19 is an explanatory diagram showing a state in which the ceramic laminate is cut along a predetermined cutting line in the manufacturing method to obtain the piezoelectric electrostrictive device according to the first embodiment.
  • FIG. 20 is a perspective view showing the configuration of the piezoelectric electrostrictive device according to the second embodiment.
  • FIG. 21 is a perspective view illustrating a configuration of a piezoelectric Z electrostrictive device according to the third embodiment.
  • FIG. 22 is a perspective view showing the configuration of the piezoelectric electrostrictive device according to the fourth embodiment.
  • FIG. 23 is a configuration diagram illustrating a piezoelectric electrostrictive device according to a conventional example.
  • the piezoelectric / electrostrictive device is a concept including an element that mutually converts electric energy and mechanical energy by a piezoelectric Z electrostrictive element. Therefore, active elements such as various actuators and vibrators, in particular, the displacement due to the inverse piezoelectric effect and the electrostrictive effect are used. In addition to being most preferably used as a displacement element, it can also be suitably used as a passive element such as an acceleration sensor element or an impact sensor element.
  • the piezoelectric electrostrictive device and the piezoelectric Z electrostrictive element mean a piezoelectric and a Z or an electrostrictive device and a piezoelectric and / or an electrostrictive element, respectively.
  • the piezoelectric / electrostrictive device 1 OA has a long rectangular parallelepiped shape as a whole, and a hole 12 is formed at a substantially central portion in the major axis direction. Having a substrate 14 provided with
  • the base body 14 includes a pair of opposed thin plate portions 16a and 16b, a movable portion 20, and a fixed portion that supports the pair of thin plate portions 16a and 16b and the movable portion 20. 22 and piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b are formed on at least a part of each of the thin plate portions 16a and 16b.
  • the surfaces on which the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are formed are respectively referred to as the side surfaces of the thin plate portions 16a and 16b. Define.
  • the base 14 may be constructed entirely of ceramics or metal, or may have a hybrid structure combining ceramics and metal.
  • the base 14 has a structure in which each part is bonded with an adhesive such as an organic resin or glass, a ceramic integrated structure in which a ceramic green laminate is integrated by firing, a bonding method, soldering, eutectic bonding, or the like.
  • an adhesive such as an organic resin or glass
  • a ceramic integrated structure in which a ceramic green laminate is integrated by firing a bonding method, soldering, eutectic bonding, or the like.
  • a configuration such as a metal integrated structure that is integrated by welding or the like can be adopted, but an integrated structure is desirable in terms of reliability, and among these, a ceramic green laminate obtained by integrating a ceramic green laminate by firing is most preferable. It is desirable to make up body 14.
  • the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b are prepared separately as described below, and the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b are prepared separately.
  • Agent In addition to being attached by brazing, soldering, eutectic bonding, or the like, and by using a film forming method, it can be formed directly on the substrate 14 instead of the above-mentioned attachment.
  • the piezoelectric electrostrictive device 1 OA has, for example, a rectangular shape by both inner walls of a pair of thin plate portions 16 a and 16 b, an inner wall 20 a of the movable portion 20, and an inner wall 22 a of the fixed portion 22.
  • the movable portion 20 is displaced by driving the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b or 24b, or the displacement of the movable portion 20 is changed to the piezoelectric electrostrictive element 2. It has a configuration to detect by 4a and no or 24b.
  • Each of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b includes a piezoelectric electrostrictive layer 26 and a pair of electrodes 28 and 30 formed on both sides of the piezoelectric electrostrictive layer 26. Of the pair of electrodes 28 and 30, one electrode 28 is formed on at least a pair of thin plate portions 16a and 16b.
  • the pair of electrodes 28 and 30 constituting the piezoelectric Z electrostrictive elements 24 a and 24 b and the respective end faces of the piezoelectric / electrostrictive layer 26 are almost aligned.
  • the substantially driving portion 18 of the electrostrictive elements 24 a and 24 b (the portion where the pair of electrodes 28 and 30 overlap with the piezoelectric electrostrictive layer 26 interposed therebetween) is the movable portion 20. It is formed continuously from the tip to a part of the outer surface of the fixed part 22.
  • the piezoelectric Z electrostrictive device 1 OA As shown in FIG. 1, from the inner wall 20 a of the movable portion 20 to the inner wall 22 a of the fixed portion 22.
  • One beam portion 40 is formed.
  • the width of the beam portion 40 is defined as Li is set to be substantially the same as the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b.
  • the voltage is applied to the pair of electrodes 28 and 30 by applying terminals (pads) 3 formed on both side surfaces (element forming surfaces) of the fixed portion 22 of the electrodes 28 and 30 respectively. 2 and 3 through 4.
  • the positions of the terminals 32 and 34 are such that the terminal 32 corresponding to one electrode 28 is formed near the rear end of the fixed part 22 and the terminal 3 corresponding to the other electrode 30 in the external space side. 4 is formed near the inner wall 22 a of the fixed part 22.
  • the piezoelectric electrostrictive device 1 OA can be fixed separately using a surface different from the surface on which the terminals 32 and 34 are arranged, and as a result, the piezoelectric electrostrictive device 1 OA can be fixed.
  • the terminals 32 and 34 are electrically connected to the circuit by a flexible printed circuit (also called FPC), a flexible flat cable (also called FFC), wire bonding, or the like.
  • FPC flexible printed circuit
  • FFC flexible flat cable
  • wire bonding or the like.
  • the configuration of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b may be the configuration shown in FIG. 1, or may be the piezoelectric / electrostrictive device lOAa according to the first modification shown in FIG. . That is, the piezoelectric Z electrostrictive device 1OAa according to the first modified example includes a pair of electrodes 28 and 30 and a piezoelectric electrostrictive layer 26 forming the piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24b.
  • Each of the end faces is almost aligned, and the substantial driving portion 18 (the pair of electrodes 28 and 30 of the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b Is formed continuously from a part of the outer surface of the fixed part 22 to a part of the outer surface of the thin plate parts 16a and 16b.
  • the substantial driving portion 18 the pair of electrodes 28 and 30 of the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b Is formed continuously from a part of the outer surface of the fixed part 22 to a part of the outer surface of the thin plate parts 16a and 16b.
  • the tip surfaces of the pair of electrodes 28 and 30 are located slightly closer to the rear end than the inner wall 20a of the movable portion 20.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b are formed so that the substantial driving part 18 is located from a part of the movable part 20 to a part of the thin plate parts 16a and 16b. You may do so.
  • each tip of a pair of electrodes 28 and 30 constituting the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b May be arranged so that only the tip of the piezoelectric electrostrictive layer 26 protrudes toward the movable portion 20.
  • the piezoelectric electrostrictive device 10Ac according to the third modification shown in FIG. In this manner, one end of the electrode 28 and the piezoelectric electrostrictive layer 26 may be aligned, and only the end of the other electrode 30 may be located closer to the fixed part 22.
  • the displacement of the movable portion 20 can be advantageously increased.
  • FIG. 3 the movable portion 20 has a portion corresponding to a portion between one thin plate portion 16a and a beam portion 40, and a portion corresponding to a portion between the other thin plate portion 16b and a beam portion 40.
  • end portions 36a and 36b facing each other are formed in the portions will be described.
  • the internal residual stress generated in the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b and / or the thin plate portions 16a and 16b during manufacturing is caused by the movement of the end faces 36a and 36b. Since the displacement operation of the movable portion 20 is not hindered by the internal residual stress, the displacement operation of the movable portion 20 can be obtained substantially as designed. In addition, by releasing this stress, the mechanical strength of the piezoelectric electrostrictive device 10 Ab can be improved.
  • an air gap (air) 38 may be interposed between the end faces 36 a and 36 b, or a member different from the constituent members of the movable portion 20.
  • a member made of resin or the like may be interposed.
  • one end of one electrode 28 and the piezoelectric electrostrictive layer 26 is connected to the side surface of the movable portion 20.
  • the tip of the other electrode 30 may be positioned substantially at the center in the length direction (Z-axis direction) of the thin plate portions 16a and 16b.
  • the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b are configured by the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 having a single-layer structure and a pair of electrodes 28 and 30. It is also preferable that the electrostrictive elements 24a and 24b are formed in a laminated form of the piezoelectric electrostrictive layer 26 and a plurality of the pair of electrodes 28 and 30.
  • the piezoelectric electrostrictive layer 26 and the pair of electrodes 28 and 30 each have a multilayer structure. 8 and the other electrode 30 are alternately laminated, and the one electrode 28 and the other electrode 30 overlap each other with the piezoelectric / electrostrictive layer 26 interposed therebetween (substantially the driving part 18) may be piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b having a multi-stage configuration.
  • the piezoelectric electrostrictive layer 26 has a three-layer structure, and one electrode 28 is separated from the lower surface of the first layer (side surfaces of the thin plate portions 16a and 16b) and the upper surface of the second layer.
  • the other electrode 30 is formed separately on the upper surface of the first layer and the upper surface of the third layer, and the terminals 32 a and 32 2 shows an example in which b is provided and terminals 34 a and 34 b are provided at the respective ends of the other electrode 30.
  • the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 and the pair of electrodes 28 and 30 each have a multilayer structure, and one electrode 28 and the other electrode 30 are alternately laminated so as to have a substantially comb-shaped cross section, and the one electrode 28 and the other electrode 30 overlap with the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 interposed therebetween.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b in which the portion (substantially the driving portion 18) has a multi-stage configuration may be used. In FIG.
  • the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 has a three-layer structure, and one electrode 28 is provided on the lower surface of the first layer (side surfaces of the thin plate portions 16a and 16b) and the upper surface of the second layer.
  • An example is shown in which the other electrode 30 is formed in a comb shape so as to be positioned, and the other electrode 30 is formed in a comb shape so as to be positioned on the upper surface of the first layer and the upper surface of the third layer.
  • the number of terminals 32 and 34 can be reduced as compared with the configuration of FIG. 5 by connecting and sharing one electrode 28 and the other electrode 30 with each other. It is possible to suppress an increase in size due to the multilayering of the electrostrictive elements 24a and 24b.
  • a signal independent to all electrodes 28 and 30 is used. May be used. If the latter usage is adopted, different strains can be generated for each piezoelectric electrostrictive layer 26, and more precise displacement control can be performed.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b have thin plate portions 16a and It may be formed so as to stay on 16 b.
  • FIG. 8 shows an example in which the distal ends of the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are positioned substantially at the center in the length direction of the thin plate portions 16a and 16b.
  • the movable part 20 is largely changed substantially parallel to the fixed part 22. There is an advantage that it can be positioned. Therefore, by adding the beam portion 40, the strength can be improved, and the decrease in displacement can be suppressed to a small value.
  • two piezoelectric electrostrictive elements 24a1 and 24b1 having a multi-stage configuration are respectively fixed to the fixed portions 22a.
  • the thin plate portions 16a and 16b, and the other two multi-stage piezoelectric electrostrictive elements 24a2 and 24b2 are connected to the movable portion 20 and the thin plate portion 16a, respectively.
  • the movable part 20 can be extremely displaced due to the effect that the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b have a multi-stage structure and the effect that the number of action points for displacing the movable part 20 increases. It is preferable because it can provide excellent high-speed response. Further, by adopting this configuration, it is possible to displace the movable portion 20 substantially in parallel with the fixed portion 22, and it is possible to minimize a decrease in displacement due to the influence of the beam portion 40.
  • the piezoelectric electrostrictive layer 26 has a two-layer structure, and one electrode 28 has a lower surface of the first layer (a thin plate). (The side surfaces of the sections 16a and 16b) and a comb-like shape so as to be located on the upper surface of the second layer, and the other electrode 30 is formed so as to be located on the upper surface of the first layer.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b may be used.
  • the generation force of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b is increased, so that large displacement is achieved.
  • the rigidity of the piezoelectric Z electrostrictive device 1OA itself By increasing the rigidity of the piezoelectric Z electrostrictive device 1OA itself, a higher resonance frequency is achieved, and a higher speed of the displacement operation can be easily achieved.
  • the number of stages may be determined as appropriate according to the application and use state.
  • the piezoelectric electrostrictive devices 1 OA e to l OA i according to the fifth to ninth modifications even if the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b have a multi-stage structure to increase the driving force,
  • the width (distance in the Y-axis direction) of the thin plate portions 16a and 16b is invariable, so for example, positioning of a magnetic head for a hard disk used in a very narrow gap, ringing control, etc.
  • the piezoelectric Z electrostrictive elements 24 a and 2 are arranged so as to extend between the fixed portion 22 and the thin plate portions 16 a and 16 b and between Z or the thin plate portions 16 a and 16 b and the movable portion 20.
  • the displacement of the movable portion 20 can be made almost parallel to the fixed portion 22, so that the provision of the beam portion 40 can sufficiently exhibit the strength improvement.
  • the rate of decrease in displacement can be reduced.
  • piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b a case where a so-called sandwich structure in which a piezoelectric / electrostrictive layer 26 is interposed between a pair of electrodes 28 and 30 has been described.
  • a pair of comb-shaped electrodes 28 and 30 are formed on at least one main surface of the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 formed on the side surfaces of the thin plate portions 16 a and 16.
  • a pair of comb-shaped electrodes 28 and 30 are formed on at least the piezoelectric electrostrictive layer 26 formed on the side surfaces of the thin plate portions 16a and 16b. May be embedded.
  • the structure shown in Fig. 11 has the advantage that the power consumption can be kept low, and the structure shown in Fig. 12 effectively uses the reverse piezoelectric effect in the direction of the electric field where distortion and generated force are large. This structure is advantageous for generating large displacements.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b shown in FIG. 11 have a pair of comb-shaped electrodes 280 and 30 formed on one main surface of the piezoelectric electrostrictive layer 26. That is, one electrode 28 and the other electrode 30 have a structure in which they alternately face each other with a gap 29 having a constant width.
  • FIG. 11 shows an example in which a pair of electrodes 28 and 30 are formed on one main surface of the piezoelectric electrostrictive layer 26.
  • the thin plate portions 16a and 16b and the piezoelectric Z electrostrictive layer A pair of electrodes 28 and 30 may be formed between the piezoelectric electrostrictive layer 26 and one main surface of the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 and the thin plate portions 16a and 16b. 26, a pair of comb-shaped electrodes 28 and 30 may be formed respectively.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b shown in FIG. 12 are formed with a pair of electrodes 28 and 30 having a comb structure so as to be embedded in the piezoelectric / electrostrictive layer 26.
  • the electrode 28 and the other electrode 30 alternately face each other with a gap 29 having a constant width.
  • Such piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24 as shown in FIGS. 11 and 12 are also used. It can be suitably used for the piezoelectric Z electrostrictive device 10A and the like according to the first embodiment.
  • a pair of comb-shaped electrodes 28 and 30 are used as in the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b shown in FIGS. 11 and 12, the combs of the electrodes 28 and 30 are used.
  • By reducing the tooth pitch D it is possible to increase the displacement of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b.
  • the width Li of the beam portion 40 is set to be substantially the same as the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b is shown.
  • the width L i of the beam portion 40 may be made shorter than the width L b of the thin plate portions 16 a and 16 b. Good.
  • the operation of the piezoelectric electrostrictive device 1OA according to the first embodiment will be described.
  • the two piezoelectric Z-electrostrictive elements 24a and 24b are in a natural state, that is, when the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b do not perform a displacement operation
  • the major axis m of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA (the major axis of the fixed part) and the central axis n of the movable part 20 substantially coincide with each other.
  • a sine wave W a having a predetermined bias potential Vb is applied to a pair of electrodes 28 and 30 in one piezoelectric Z electrostrictive element 24 a.
  • the pair of electrodes 28 and 30 in the other piezoelectric electrostrictive element 24 b has a sine wave W having a phase that is almost 180 ° different from the sine wave Wa. Apply b.
  • the piezoelectric electrostrictive The layer 26 contracts and displaces in the direction of its main surface.
  • stress is generated in one thin plate portion 16 a in the direction of bending the thin plate portion 16 a to the right, for example, as shown by arrow A. Therefore, the one thin plate portion 16a bends to the right, and at this time, no voltage is applied to the pair of electrodes 28 and 30 in the other piezoelectric electrostrictive element 24b. Because of this state, the other thin plate portion 16b bends rightward following the deflection of the one thin plate portion 16a.
  • the movable part 20 is displaced, for example, to the right with respect to the major axis m of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA. I do.
  • the amount of displacement changes according to the maximum value of the voltage applied to each of the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b. For example, the displacement increases as the maximum value increases.
  • the minimum The bias potential Vb may be adjusted so that the level of the value is slightly negative.
  • the piezoelectric Z electrostrictive element to which the negative level is applied for example, the other piezoelectric electrostrictive element 24 b
  • the other thin plate part 16 b is connected to one thin plate part 16 a.
  • a stress is generated in the same direction as the bending direction, and the displacement of the movable part 20 can be further increased.
  • the piezoelectric / electrostrictive element 24 b or 24 a to which a negative level is applied is displaced.
  • a function of supporting the piezoelectric electrostrictive element 24a or 24b that is the main element of the operation can be provided.
  • the piezoelectric electrostrictive devices 24 a 1 and the piezoelectric Z electrostrictive devices 24 The voltage shown in Fig. 15A (see sine wave Wa) is applied to b2, and the voltage shown in Fig. 15B is applied to the other piezoelectric electrostrictive element 24a2 and piezoelectric Z electrostrictive element 24bl. (See sine wave Wb).
  • the piezoelectric electrostrictive device 1 OA and the various modified examples 10 Aa to 10 Aj according to the first embodiment the piezoelectric / electrostrictive elements 24 a and 24 b Since the displacement is amplified to a large displacement operation by using the bending of the thin plate portions 16a and 16b and transmitted to the movable portion 20, the movable portion 20 is provided with the piezoelectric electrostrictive device 10 A large displacement with respect to the major axis m of A becomes possible.
  • the thickness L d of the thin plate portions 16a and 16b does not need to be increased.
  • the rigidity of the piezoelectric electrostrictive device 1OA itself is improved, and the structure becomes strong against the torsional force, and a high resonance frequency can be achieved.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b formed on the thin plate portions 16a and 16b are not required. Without deteriorating material properties, Displacement reduction can be suppressed.
  • the piezoelectric Z electrostrictive devices 24 a and 24 b themselves have no influence. No fine adjustment can be made by the number, width, thickness, etc. of the beam portions 40 where the rigidity is controlled. In particular, due to the presence of the beam portion 40, the torsion is suppressed, and the displacement operation can be performed in a substantially two-dimensional plane as the displacement mode.
  • the frequency indicates the frequency of the voltage waveform when the movable part 20 is displaced left and right by alternately switching the voltage applied to the pair of electrodes 28 and 30. Indicates the maximum frequency at which the displacement operation of the movable part 20 can follow in a predetermined vibration mode.
  • the movable portion 20, the thin plate portions 16 a and 16 b and the fixed portion 22 are integrated, and all the portions are integrated. Since it is not necessary to use a piezo-electrostrictive material, which is a fragile and relatively heavy material, it has high mechanical strength, excellent handling properties, shock resistance, and moisture resistance, and harmful vibration in operation (for example, high-speed operation). It has the advantage of being less susceptible to the effects of residual vibration and noise vibration.
  • the piezoelectric Z electrostrictive elements 24 a and 24 b include a piezoelectric electrostrictive layer 26 and the piezoelectric Z electrostrictive layer 2. 6 and a pair of electrodes 28 and 30 formed on both sides of the first electrode 6, and of the pair of electrodes 28 and 30, one of the electrodes 28 is at least a thin plate portion 16 a and 16 b
  • the vibration generated by the piezoelectric Z-electrostrictive elements 24a and 24b can be efficiently transmitted to the movable section 20 through the thin plate sections 16a and 16b, and the response can be achieved. Performance can be improved.
  • a pair of The part where the electrodes 28 and 30 overlap each other with the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 interposed therebetween is moved from a part of the fixed part 22 to a part of the thin plate parts 16 a and 16 b To be formed continuously.
  • the substantially driving portion 18 is further formed over a part of the movable portion 20 to form In this case, the displacement operation of the movable portion 20 is limited by the substantial driving portion 18, and a large displacement may not be obtained.
  • the substantial driving portion 18 Is formed so as not to be applied to both the movable part 20 and the fixed part 22, thereby avoiding the disadvantage that the displacement operation of the movable part 20 is restricted, and increasing the displacement amount of the movable part 20.
  • the movable part 20 is fixed to the fixed part 22. Since it is possible to displace almost in parallel, it is preferable because the strength of the beam portion 40 can be improved and the decrease in displacement can be suppressed to a small value.
  • the substantial driving part 18 is formed by a thin plate part 16 a and a part of the movable part 20. Preferably, it is formed so as to cover a part of 16b.
  • the substantial driving portion 18 is formed to extend to a part of the fixed portion 22, the displacement operation of the movable portion 20 is restricted as described above.
  • one of the electrodes 28, the other electrode 30, and the piezoelectric electrostrictive layer 26 are all partially moved from the movable portion 20 to the thin plate portion 1. 6A and 16B, the movable portion 20 can be displaced almost parallel to the fixed portion 22. Therefore, the beam portion 40 This is preferable because the decrease in displacement can be suppressed particularly small as the strength of the steel sheet increases.
  • the distance between the substantial driving part 18 of the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b to the fixed part 22 or the movable part 20 is set. It is preferable that Lg be equal to or greater than 1 Z2 of the thickness Ld of the thin plate portions 16a and 16b. Then, the ratio L a ZL b between the distance between the inner walls of the thin plate portions 16 a and 16 b (the distance in the X-axis direction) La and the width L b of the thin plate portions 16 a and 16 b is 0. It is configured to be 5 to 20.
  • the ratio L a / L b is preferably 1 to 10, more preferably 2 to 8.
  • the specified value of the ratio L a ZL b is based on the discovery that the amount of displacement of the movable part 20 can be increased and the displacement in the X-Z plane can be obtained dominantly.
  • the ratio Le / La of the length of the thin plate portions 16a and 16b (distance in the Z-axis direction) Le and the distance La between the inner walls of the thin plate portions 16a and 16b preferably 0. It is preferably 5 to 10, more preferably 0.7 to 5.
  • the specified value of this ratio Leno La is based on the discovery that the displacement of the movable part 20 can be increased and the displacement operation can be performed at a high resonance frequency (high response speed can be achieved). .
  • the piezoelectric Z-electrostrictive device 1 OA suppresses the tilting displacement or vibration in the Y-axis direction, has excellent high-speed response, and has a large voltage at a relatively low voltage.
  • the ratio LaZLb is preferably set to 0.5 to 20
  • the ratio LeZLa is preferably set to 0.5 to 10
  • more preferably the ratio LaZLb is set to 1 to 10
  • the ratio LeZLa should be 0.7-5.
  • the length (distance in the Z-axis direction) Lf of the movable portion 20 is short. This is because shortening the weight can reduce the weight and increase the resonance frequency.
  • the ratio LfZLd to the thickness Ld of the thin plate portions 16a and 16b should be 3 or more, preferably 5 It is desirable to set the above.
  • each part is the joint area for attaching the component to the movable part 20, the joint area for attaching the fixed part 22 to other members, the joint area for attaching the electrode terminals, etc.
  • the Z electrostrictive device 1 is determined in consideration of the strength, durability, required displacement amount, resonance frequency, drive voltage, etc. of the entire OA.
  • the distance La between the inner walls of the thin plate portions 16a and 16b is preferably from 100 m to 2000 zm, and more preferably from 200 m to l000 / m.
  • the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b is preferably from 50 m to 2000 m, and more preferably from 100 m to 500 im.
  • the thickness Ld of the thin plate portions 16a and 16b is expressed as Lb> in relation to the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b so that the tilting displacement, which is a displacement component in the Y-axis direction, can be effectively suppressed.
  • the length Le of the thin plate portions 16a and 16b is preferably 200 m to 3000 zm, and more preferably 300 m to 2000 jt / m.
  • the length Lf of the movable part 20 is preferably 50 / zm to 2000 m, more preferably 100 ° to 1000 m.
  • the displacement in the Y-axis direction does not exceed 10% with respect to the displacement in the X-axis direction, but low-voltage driving can be achieved by appropriately adjusting the above-mentioned ratio of dimensions and actual dimensions. It is possible to suppress the displacement component in the Y-axis direction to 5% or less, which is a very excellent effect.
  • the movable portion 20 is substantially displaced in one axis direction, that is, the X-axis direction, and furthermore has excellent high-speed response and can obtain a large displacement at a relatively low voltage.
  • the shape of the device is not a conventional plate shape, but the movable portion 20 and the fixed portion 22 have a rectangular parallelepiped shape, and the side surfaces of the movable portion 20 and the fixed portion 22 are formed. Since the pair of thin plate portions 16a and 16b are provided so as to be continuous, the rigidity of the piezoelectric Z electrostrictive device 1OA in the Y-axis direction can be selectively increased.
  • the width Li of the beam portion 40 is preferably 15 or more of the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b from the viewpoint of the contribution of rigidity, and more preferably 1Z3 or more.
  • the ratio (L e / Tb) of the length L e of the thin plate portions 16 a and 16 b to the total thickness Tb of the beam portion 40 is preferably 5 or more and 200 or less.
  • the movable portion 20 is a portion that operates based on the driving amount of the thin plate portions 16a and 16b, and various members are attached according to the purpose of use of the piezoelectric Z electrostrictive device 1OA.
  • the piezoelectric Z-electrostrictive device 1 OA is used as a displacement element, a shield plate for a light shirt or the like will be attached, especially a hard disk If it is used for positioning of a magnetic head of a drive or a ringing suppression mechanism, a member requiring positioning such as a magnetic head, a slider having a magnetic head, and a suspension having a slider is attached.
  • the fixed portion 22 is a portion that supports the thin plate portions 16a and 16b and the movable portion 20.
  • the fixed portion 22 is used, for example, for positioning the magnetic head of the hard disk drive.
  • the entire piezoelectric electrostrictive device 1 OA is supported and fixed to a carriage arm attached to a VCM (voice coil motor), a fixed plate or a suspension attached to the carriage arm. Is fixed.
  • terminals 32 and 34 for driving the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b and other members are arranged on the fixing portion 22. There is also.
  • the material forming the movable portion 20 and the fixed portion 22 is not particularly limited as long as it has rigidity, but ceramics to which a ceramic green sheet laminating method described later can be applied can be suitably used.
  • Specific examples include stabilized zirconia, partially stabilized zirconia, and other materials containing zirconia, alumina, magnesia, silicon nitride, aluminum nitride, titanium oxide as a main component, and mixtures thereof.
  • zirconia, particularly a material mainly containing stabilized zirconia and a material mainly containing partially stabilized zirconia are preferable in terms of high mechanical strength and high toughness.
  • the metal material is not limited as long as it has rigidity, and examples thereof include stainless steel and nickel. Alternatively, it may be made of engineer plastic.
  • the thin plate portions 16a and 16b are portions driven by the displacement of the piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24b.
  • the thin plate portions 16a and 16b are flexible thin plate-like members, and flexurally displace the expansion / contraction displacement of the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b disposed on the surface. And a function of transmitting the amplified signal to the movable section 20. Therefore, the shape and material of the thin plate portions 16a and 16b are only required to be flexible and have sufficient mechanical strength so as not to be damaged by bending deformation. It can be appropriately selected in consideration of the operability and operability.
  • the thickness L d of the thin plate portions 16 a and 16 b is preferably about 2 // m to 100 / m, and the thin plate portions 16 a and 16 b and the piezoelectric / electrostrictive element 24 a And the combined thickness of 24b is preferably 7 im to 500 m.
  • the electrodes 28 and 30 preferably have a thickness of 0.1 to 50 m, and the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 preferably has a thickness of 3 to 300 / m.
  • the width Lb of the thin plate portions 16a and 16b is preferably from 50 / m to 200;
  • the same ceramics as those for the movable portion 20 and the fixed portion 22 can be suitably used.
  • Zirconia, particularly a material mainly containing stabilized zirconia And partially stabilized zirconia as the main component are most preferably used because of their high mechanical strength, high toughness, and low reactivity with the piezoelectric electrostrictive layer and electrode material even if they are thin. .
  • the iron-based material includes various stainless steels and various metals. It is preferable to use panel steel, and as the non-ferrous material, it is preferable to use beryllium copper, phosphor bronze, nickel, and nickel-iron alloy.
  • the stabilized zirconia and partially stabilized zirconia those stabilized and partially stabilized as described below are preferable. That is, compounds that stabilize and partially stabilize zirconium include yttrium oxide, ytterbium oxide, cerium oxide, calcium oxide, and magnesium oxide. Can be partially or completely stabilized, but the stabilization can be achieved not only by adding one kind of compound but also by adding those compounds in combination. Stabilization is possible.
  • the amount of each compound to be added is 1 to 30 mol%, preferably 1.5 to 10 mol% in the case of yttrium oxide or ytterbium oxide, and in the case of cerium oxide. Is 6 to 50 mol%, preferably 8 to 20 mol%, and in the case of calcium oxide or magnesium oxide, it is 5 to 40 mol%, preferably 5 to 20 mol%. It is desirable, but especially yttrium oxide It is preferably used as a stabilizer, and in that case, it is desirably 1.5 to 10 mol%, more preferably 2 to 4 mol%.
  • Alumina, silica, transition metal oxides and the like can be added as additives such as sintering aids in the range of 0.05 to 20 wt%, but the piezoelectric electrostrictive element 24 a
  • sintering aids in the range of 0.05 to 20 wt%
  • the piezoelectric electrostrictive element 24 a When sintering and integration by a film forming method is adopted as a method for forming the layer 24b, it is also preferable to add alumina, magnesia, transition metal oxide, or the like as an additive.
  • the average crystal particle diameter of the zirconia is desirably 0.05 to 3 m, preferably 0.05 to 1.
  • the same ceramics as those of the movable portion 20 and the fixed portion 22 can be used, but preferably, substantially the same material is used. It is advantageous to use this structure in order to reduce the reliability of the joint, the strength of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA, and the complexity of manufacturing.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b have at least a piezoelectric Z electrostrictive layer 26 and a pair of electrodes 28 and 30 for applying an electric field to the piezoelectric electrostrictive layer 26.
  • a piezoelectric / electrostrictive element such as a unimorph type or a bimorph type can be used, but the unimorph type in combination with the thin plate portions 16 3 and 16 b has better stability of the generated displacement.
  • it is advantageous for weight reduction it is suitable for such a piezoelectric Z electrostrictive device 1 OA.
  • a piezoelectric / electrostrictive element or the like in which one electrode 28, the piezoelectric Z electrostrictive layer 26, and the other electrode 30 are laminated in layers can be preferably used, As shown in FIGS. 6 to 10, a multi-stage configuration may be adopted.
  • the piezoelectric Z electrostrictive elements 24 a and 24 b are formed on the outer surface side of the piezoelectric Z electrostrictive device 1 OA, the thin plate portions 16 a and 16 b are larger.
  • it may be formed on the inner surface side of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA, that is, on the inner wall surface of the hole 12, depending on the usage form. 1 It may be formed on both the outer surface and the inner surface of OA.
  • Piezoelectric ceramics is preferably used for the piezoelectric electrostrictive layer 26, but it is preferable to use electrostrictive ceramics, ferroelectric ceramics, or antiferroelectric ceramics. Is also possible. However, when this piezoelectric Z electrostrictive device 1 OA is used for positioning a magnetic head of a hard disk drive, etc., the linearity between the displacement of the movable part 20 and the drive voltage or output voltage is important, It is preferable to use a material having a small history, and it is preferable to use a material having a coercive electric field of 10 kVZmm or less.
  • Specific materials include lead zirconate, lead titanate, lead magnesium niobate, lead nickel niobate, lead zinc niobate, lead manganese niobate, lead antimony stannate, lead manganese tungstate, lead cobalt niobate, Ceramics containing barium titanate, sodium bismuth titanate, potassium sodium niobate, strontium bismuth tantalate alone or as a mixture may be mentioned.
  • those having a high electromechanical coupling coefficient and a high piezoelectric constant, having a low reactivity with the thin plate portions (ceramics) 16a and 16b during sintering of the piezoelectric electrostrictive layer 26, and having a stable composition are preferably used.
  • a material mainly containing lead zirconate, lead titanate, and lead magnesium niobate, or a material mainly containing sodium bismuth titanate is preferably used.
  • the materials include lanthanum, calcium, strontium, molybdenum, tungsten, barium, niobium, zinc, nickel, manganese, cerium, cadmium, chromium, cobalt, antimony, iron, yttrium, tantalum, lithium, bismuth, and tin. Ceramics in which oxides or the like such as above are used alone or in a mixture may be used.
  • the pair of electrodes 28 and 30 of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b are preferably solid at room temperature and made of a metal having excellent conductivity.
  • Metals such as minium, titanium, chromium, iron, cobalt, nickel, copper, zinc, niobium, molybdenum, ruthenium, palladium, rhodium, silver, tin, tantalum, tandatin, iridium, platinum, gold, lead, etc., or these
  • a cermet material in which the same material as the piezoelectric electrostrictive layer 26 and / or the thin plate portions 16a and 16b is dispersed may be used.
  • the material selection of the electrodes 28 and 30 in the piezoelectric Z electrostrictive elements 24 a and 24 b is determined depending on the method of forming the piezoelectric / electrostrictive layer 26. For example, when one electrode 28 is formed on the thin plate portions 16a and 16b, and then the piezoelectric electrostrictive layer 26 is formed on the one electrode 28 by firing, the other electrode 28 is formed. It is necessary to use a high melting point metal such as platinum, palladium, a platinum-palladium alloy, a silver-palladium alloy, or a gold-palladium alloy which does not change even at the firing temperature of the piezoelectric Z electrostrictive layer 26. After the electrostrictive layer 26 is formed, the other electrode 30 formed on the piezoelectric / electrostrictive layer 26 can form an electrode at a low temperature, and thus has a low melting point such as aluminum, gold, and silver. Metals can be used.
  • the thickness of the electrodes 28 and 30 is a factor that reduces the displacement of the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b to a certain extent, and is thus formed especially after the firing of the piezoelectric / electrostrictive layer 26.
  • a material such as an organic metal paste which can obtain a dense and thin film after firing, such as a gold resinate paste, a platinum resinate paste, and a silver resinate paste.
  • the constituent material of each member is ceramics
  • the piezoelectric / electrostrictive devices 24 a and 24 It is preferable that the base member 14 excluding b, that is, the thin plate portions 16a and 16b, the fixed portion 22 and the movable portion 20 be manufactured by using a ceramic green sheet laminating method.
  • the terminals 32 and 34, including the strain elements 24a and 24b, are preferably manufactured using a film forming technique such as a thin film or a thick film.
  • each member of the base 14 of the piezoelectric electrostrictive device 10A can be integrally formed, there is almost no change in the state of the joined portion of each member over time.
  • This is a method that has high reliability at the joint and is also advantageous for securing rigidity.
  • the boundary portions (joining portions) between the thin plate portions 16 a and 16 b and the fixed portion 22 and the thin plate portions 16 a and 16 b The boundary (joint portion) between the movable part 20 and the movable part 20 serves as a fulcrum for the occurrence of displacement, so the reliability of the joint is an important point that determines the characteristics of the piezoelectric Z electrostrictive device 1 OA.
  • the manufacturing method described below is excellent in productivity and moldability, so that a piezoelectric Z electrostrictive device having a predetermined shape can be obtained in a short time and with good reproducibility.
  • the laminate obtained by laminating the ceramic green sheets is defined as a ceramic green laminate 58 (see, for example, FIG. 17B), and the ceramic green laminate 58 is fired and integrated to form a ceramic laminate.
  • Unnecessary parts are cut out from the ceramic laminate 60 to integrate the movable part 20, the thin plate parts 16a and 16b, and the fixed part 22. This is defined as ceramic substrate 14 C (see Fig. 19). Further, in this manufacturing method, the ceramic laminate 60 is finally cut into chips, and a large number of piezoelectric electrostrictive devices 1 OA are taken.
  • a slurry is prepared by adding a binder, a solvent, a dispersant, a plasticizer, and the like to ceramic powder such as zirconia, and then, after defoaming the slurry, by a method such as a reverse roll coater method or a doctor blade method.
  • a ceramic green sheet having a predetermined thickness is manufactured.
  • the ceramic Darline sheet is processed into various shapes as shown in Fig. 17A by a method such as punching or laser processing using a die, and a plurality of ceramic green sheets for forming a plurality of substrates are formed. 0A-50D, 52A and 52B, 56 are obtained.
  • These ceramic green sheets 50 A to 50 D, 528 and 528, 56 are: At least a plurality (for example, four) of ceramic green sheets 50 A to 50 D on which windows 54 forming holes 12 are formed later, and one ceramic green, for example, which becomes beams 40 later It has a sheet 56 and a plurality (for example, two) of ceramic green sheets 52A and 52B which will later become thin plate portions 16a and 16b. Note that the number of ceramic green sheets is merely an example.
  • the ceramic green sheets 50 A to 50 D and 56 are sandwiched between the ceramic green sheets 52 A and 52 B, so that the ceramic green sheets 56 are formed.
  • the ceramic green sheets 50A to 50D, 52A, 52B, and 56 are laminated and pressed so as to be located at the center to form a ceramic green laminate 58.
  • the laminate 58 is fired to obtain a ceramic laminate 60 (see FIG. 18).
  • the number and order of pressure bonding for lamination integration are not limited. Depending on the structure, for example, the shape of the window 54, the number of ceramic green sheets, and the like can be appropriately determined so as to obtain a desired structure.
  • the shapes of the windows 54 need not all be the same, and can be determined according to a desired function. Further, the number of ceramic green sheets and the thickness of each ceramic drain sheet are not particularly limited.
  • the lamination property can be further improved by applying heat.
  • a ceramic powder preferably having the same or similar composition as the ceramic used for the ceramic green sheet is preferable in terms of ensuring reliability
  • a paste mainly composed of a binder, a slurry, and the like are placed on the ceramic green sheet.
  • the laminability at the interface of the ceramic green sheet can be improved.
  • a plastic film especially a polyethylene terephthalate film having a surface coated with a silicone release agent.
  • Piezoelectric strain element 24a and 2 Methods for forming 4b include thick film forming methods such as screen printing, divebing, coating, electrophoresis, ion beam, sputtering, vacuum deposition, ion plating, and chemical vapor deposition (CVD). ), A thin film forming method such as plating can be used.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b By forming the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b using such a film forming method, the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b and the thin plate portion 1 can be formed without using an adhesive. 6a and 16b can be integrally joined and arranged, ensuring reliability and reproducibility and facilitating integration.
  • the piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24b by a thick film forming method.
  • a thick film forming method is used in forming the piezoelectric electrostrictive layer 26
  • particles and powder of piezoelectric ceramics having an average particle diameter of 0.01 to 5 m, preferably 0.05 to 3 zm are mainly used. This is because a film can be formed using a paste or slurry as a component, a suspension emulsion, a sol, or the like, and good piezoelectric and electrostrictive characteristics can be obtained by firing the film.
  • the electrophoresis method has an advantage that a film can be formed with high density and high shape accuracy.
  • the screen printing method is advantageous in simplifying the manufacturing process because film formation and pattern formation can be performed simultaneously.
  • the ceramic green laminate 58 is fired and integrated at a temperature of 1200 to 160 to obtain a ceramic laminate 60, and then a predetermined position of both surfaces of the ceramic laminate 60 is obtained.
  • One electrode 28 is printed and fired on the device, and then the piezoelectric electrostrictive layer 26 is printed and fired, and the other electrode 30 is printed and fired, and the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 2 Form 4b.
  • terminals 32 and 34 for electrically connecting the electrodes 28 and 30 to the drive circuit are printed and fired.
  • one electrode 28 is platinum (Pt :), the piezoelectric / electrostrictive layer 26 is lead zirconate titanate (PZT), the other electrode 30 is gold (Au), and the terminal 3
  • Pt platinum
  • PZT lead zirconate titanate
  • Au gold
  • the terminal 3 When materials are selected such that silver (Ag) is used as 2 and 34, the firing temperature of each member decreases according to the stacking order. The re-sintering of the used material does not occur, and problems such as peeling and agglomeration of the electrode material can be avoided.
  • the members of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24 and the terminals 32 and 34 are also possible to sequentially print the members of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24 and the terminals 32 and 34 and fire them together at one time.
  • the electrodes 30 and the like can be provided at a low temperature.
  • the members of the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b and the terminals 32 and 34 may be formed by a thin film forming method such as a sputtering method or an evaporation method. No heat treatment is required.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b were previously formed on both surfaces of the ceramic green laminate 58, that is, on each surface of the ceramic green sheets 52A and 52B. It is also preferable that the ceramic green laminate 58 and the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are simultaneously fired after a and 24b are formed. For simultaneous firing, firing may be performed on the ceramic green laminate 58 and all the constituent films of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b. A method of simultaneously firing the laminate 58 and a method of simultaneously firing the ceramic green laminate 58 and another constituent film except for the other electrode 30 may be used.
  • a precursor of the piezoelectric electrostrictive layer 26 is formed by a tape forming method using a slurry raw material.
  • the precursor of the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 before firing is laminated on the surface of the ceramic green laminate 58 by thermocompression bonding or the like, and simultaneously fired to form the movable portion 20 and the thin plate portions 16 a and 16.
  • b a method of simultaneously producing the piezoelectric Z electrostrictive layer 26 and the fixed part 22.
  • At least portions of the ceramic green laminate 58 that finally become the thin plate portions 16a and 16b are screen-printed to form the respective layers of the piezoelectric electrostrictive elements 24a and 24b.
  • the sintering temperature of the constituent films of the piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24b is determined as appropriate depending on the material constituting the piezoelectric Z electrostrictive elements 24a and 24b.
  • the electrostrictive layer 26 it is preferably 100 to 140 ⁇ .
  • the piezoelectric / electrostrictive layer 26 be sintered in the presence of an evaporation source.
  • the piezoelectric electrostrictive layer 26 and the ceramic daline laminate 58 are simultaneously fired, it is necessary to match the firing conditions of both.
  • the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are not necessarily formed on both sides of the ceramic laminate 60 or the ceramic green laminate 58, but may be formed on only one side.
  • laser processing such as YAG laser and excimer laser and electron beam processing can be applied.
  • the piezoelectric electrostrictive elements 24 a and 24 b are formed on the ceramic substrate 14 C, and the inner wall 20 a of the movable part 20 and the fixed part 22 A piezoelectric electrostrictive device 1 OA in which one beam portion 40 is formed over the inner wall 22 a of the device is obtained.
  • the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are formed on the ceramic base 14C at the same time as unnecessary portions are cut off from the ceramic laminate 60, and the movable part 20 Since the piezoelectric / electrostrictive device 1 OA in which one beam portion 40 is formed from the inner wall 20 a to the inner wall 22 a of the fixed portion 22 can be obtained, the manufacturing process can be simplified and Thus, the yield of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA can be improved.
  • FIG. 10B a piezoelectric electrostrictive device 10B according to the second embodiment is shown in FIG. It will be explained while referring to the figures.
  • Members corresponding to the piezoelectric electrostrictive device 1 OA according to the first embodiment and the various modifications 10 Aa to lOA j are denoted by the same reference numerals, and a duplicate description thereof will be omitted.
  • the piezoelectric electrostrictive device 10B according to the second embodiment has substantially the same configuration as the piezoelectric electrostrictive device 1OA according to the first embodiment.
  • the rigidity is improved as compared with the piezoelectric electrostrictive device 1OA according to the first embodiment, which is advantageous for increasing the resonance frequency.
  • the terminal structure of the piezoelectric electrostrictive device 1 OA according to the first embodiment or the terminal structure of the piezoelectric electrostrictive device 10 B according to the second embodiment is determined by each terminal 3. What is necessary is just to select suitably according to the drive circuit connected to 2 and 34.
  • the piezoelectric / electrostrictive device 10C according to the third embodiment has substantially the same configuration as the piezoelectric Z electrostrictive device 1OA according to the first embodiment.
  • a conductor pattern for electrically connecting an electronic component (not shown) mounted on the movable portion 20 and an electronic circuit or the like on which the fixed portion 22 is set is formed inside the base 14. Is different.
  • the conductor pattern includes, for example, an extraction electrode 72 formed to be exposed on the front surface of the movable portion 20, an extraction electrode 74 formed to be exposed on the front surface of the fixed portion 22, and a beam portion 40.
  • a conductor pattern body 76 is formed along the side surface and electrically connects the extraction electrodes 72 and 74 to each other.
  • a piezoelectric wire for electrically connecting an electronic component attached to the movable portion 20 and an electronic circuit or the like on which the fixed portion 22 is set is formed.
  • There is no need to route wiring outside the electrostrictive device 10 C and wiring can be performed as a conductor pattern through the inside of the piezoelectric electrostrictive device 10 C. This simplifies the wiring process and improves the piezoelectric electrostrictive device 1.
  • Electronic components using 0 C can be made more compact.
  • the piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are formed on the pair of thin plate portions 16a and 16b.
  • the fourth embodiment shown in FIG. Like the piezoelectric Z electrostrictive device 10D according to the embodiment, the piezoelectric Z electrostrictive element 24a may be formed on one thin plate portion 16a.
  • the piezoelectric / electrostrictive device 10D in which the piezoelectric Z electrostrictive element 24a is formed only on the thin plate portion 16a on one side of the pair of thin plate portions 16a and 16b opposed to each other, The rigidity of the thin plate portion 16b where the electrostrictive element 24b is not formed can be reduced.
  • a piezoelectric Z-electrostrictive device in which piezoelectric / electrostrictive elements 24a and 24b are formed on both sides (for example, a piezoelectric Z-electrostrictive device 10Ag), and a piezoelectric Z-electrostrictive element on only one side
  • the piezoelectric electrostrictive device 10 D on which 24 a is formed is compared with the magnitude of displacement obtained by driving one piezoelectric / electrostrictive device 24 a
  • the piezoelectric electrostrictive device 24 The piezoelectric electrostrictive device 10D in which a is formed is characterized in that a larger displacement can be obtained from the effect that the rigidity of the thin plate portion 16 on the opposite side is lower.
  • various transducers various types of actuators, frequency domain functional components (filters), transformers, oscillators and resonators for communication and power, oscillators, discriminators, etc. It can be used as a sensor element for various sensors such as ultrasonic sensors, acceleration sensors, angular velocity sensors, impact sensors, mass sensors, etc.
  • the present invention can be suitably used in various factories used for displacement, positioning adjustment, and angle adjustment mechanisms of precision parts and the like.
  • the piezoelectric / electrostrictive device and the method of manufacturing the same according to the present invention are not limited to the above-described embodiment, and may adopt various configurations without departing from the gist of the present invention. Of course.

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Description

明 細 書 圧電ノ電歪デバイス及びその製造方法 技術分野
本発明は、 圧電 電歪素子の変位動作に基づいて作動する可動部を備えた圧電 電歪デバイス、 もしくは可動部の変位を圧電 Z電歪素子により検出できる圧電
/電歪デバイス及びその製造方法に関し、 詳しくは、 強度、 耐衝撃性、 耐湿性に 優れ、 効率よく可動部を大きく作動させることができる圧電ノ電歪デバイス及び その製造方法に関する。 背景技術
近時、 光学や磁気記録、 精密加工等の分野において、 サブミクロンオーダ一で 光路長や位置を調整可能な変位素子が必要とされており、 圧電 Z電歪材料 (例え ば強誘電体等) に電圧を印加したときに惹起される逆圧電効果ゃ電歪効果による 変位を利用した変位素子の開発が進められている。
従来、 このような変位素子としては、 例えば図 2 3に示すように、 圧電/電歪 材料からなる板状体 2 0 0に孔部 2 0 2を設けることにより、 固定部 2 0 4と可 動部 2 0 6とこれらを支持する梁部 2 0 8とを一体に形成し、 更に、 梁部 2 0 8 に電極層 2 1 0を設けた圧電ァクチユエ一夕が開示されている (例えば特開平 1 0 - 1 3 6 6 6 5号公報参照) 。
前記圧電ァクチユエ一夕においては、 電極層 2 1 0に電圧を印加すると、 逆圧 電効果ゃ電歪効果により、 梁部 2 0 8が固定部 2 0 4と可動部 2 0 6とを結ぶ方 向に伸縮するため、 可動部 2 0 6を板状体 2 0 0の面内において弧状変位又は回 転変位させることが可能である。
一方、 特開昭 6 3— 6 4 6 4 0号公報には、 バイモルフを用いたァクチユエ一 夕に関して、 そのバイモルフの電極を分割して設け、 分割された電極を選択して 駆動することにより、 高精度な位置決めを高速に行う技術が開示され、 この公報 (特に第 4図) には、 例えば 2枚のバイモルフを対向させて使用する構造が示さ れている。
しかしながら、 前記圧電ァクチユエ一夕においては、 圧電 電歪材料の伸縮方 向 (即ち、 板状体 2 0 0の面内方向) の変位をそのまま可動部 2 0 6に伝達して いたため、 可動部 2 0 6の作動量が小さいという問題があった。
また、 圧電ァクチユエ一夕は、 すべての部分を脆弱で比較的重い材料である圧 電 Z電歪材料によって構成しているため、 機械的強度が低く、 ハンドリング性、 耐衝撃性、 耐湿性に劣ることに加え、 圧電ァクチユエ一夕自体が重く、 動作上、 有害な振動 (例えば、 高速作動時の残留振動やノイズ振動) の影響を受けやすい という問題点があった。 特に、 ねじれに対して弱い構造となっている。
そこで、 例えば梁部の厚みを厚くして剛性を向上させることにより、 強度と共 に共振周波数を上げるという手法が考えられるが、 剛性の向上による影響によつ て著しい変位低下を招くという問題がある。 発明の開示
本発明はこのような課題を考慮してなされたものであり、 2次元平面内での変 位動作を確実に行うことができ、 併せて共振周波数並びに変位動作の向上を図る ことができ、 しかも、 有害な振動の影響を受け難く、 高速応答が可能で、 機械的 強度が高く、 ハンドリング性、 耐衝撃性、 耐湿性に優れた変位素子、 並びに可動 部の振動を精度よく検出することが可能なセンサ素子を得ることができる圧電 電歪デバイス及びその製造方法を提供することを目的とする。
本発明は、 相対向する一対の薄板部と、 可動部と、 これら薄板部と可動部を支 持する固定部とを具備し、 前記一対の薄板部のうち、 少なくとも 1つの薄板部に 1以上の圧電 /電歪素子が配設され、 前記一対の薄板部の両内壁と前記可動部の 内壁と前記固定部の内壁とにより孔部が形成された圧電 Z電歪デバイスであって、 前記可動部の内壁から前記固定部の内壁にかけて設けられた少なくとも 1つの梁 部を有することを特徴とする。
前記可動部の内壁から前記固定部の内壁にかけて梁部を設けたことにより、 薄 板部の厚みを厚くしなくても、 圧電 電歪デバイス自体の剛性が向上し、 ねじれ 方向の力に対しても強い構造となると共に、 高共振周波数化も達成することがで きる。 また、 薄板部の厚みを厚くする必要がないため、 該薄板部上に形成される 圧電/電歪素子の材料特性が劣化することがなく、 変位低下を抑制することがで きる。
更に、 本圧電 Z電歪デバイスは、 可動部をほぼ平行に作動する変位モードを有 するため、 梁部を設けることでの変位低下は小さく、 強度向上効果、 特に、 薄板 部の幅方向やねじれ方向に対して強い構造となる利点がある。
このように、 本発明に係る圧電 Z電歪デバイスでは、 圧電 電歪素子自体に何 らの影響を与えることがなく、 また、 剛性の制御も形成される梁部の本数や、 幅、 厚み等により微調整が可能となる。 特に、 梁部の存在により、 ねじれが抑制され、 変位モードとしてほぼ 2次元平面内で変位動作させることができる。
前記可動部、 固定部、 薄板部は、 セラミックスもしくは金属を用いて構成され ていてもよく、 また、 各部をセラミック材料同士で構成することもできるし、 あ るいは金属材料同士で構成することもできる。 更には、 セラミックスと金属の材 料とから製造されたものを組み合わせたハイプリッド構造として構成することも できる。
そして、 前記薄板部のうち、 前記圧電 電歪素子が形成される面を、 前記薄板 部の側面と定義し、 前記薄板部における側面の短辺方向の距離を前記薄板部の幅 と定義したとき、 前記梁部の幅を、 前記薄板部の幅の 1 Z 5以上であることが剛 性の寄与率の点で好ましく、 更に好ましくは 1 3以上、 1 Z 1以下である。 また、 前記薄板部のうち、 前記圧電 電歪素子が形成される面を、 前記薄板部 の側面と定義し、 前記薄板部における側面の長辺方向の距離を前記薄板部の長さ L eと定義したとき、 前記薄板部の長さ L eと前記梁部の全厚み T bとの比率 (L e /T b ) を、 5以上、 2 0 0以下とすることが好ましい。
更に、 前記薄板部と前記可動部と前記固定部は、 セラミックグリーン積層体を 同時焼成することによって一体化し、 更に不要な部分を切除してなるセラミック 基体で構成するようにしてもよい。 また、 前記圧電/電歪素子を膜状とし、 焼成 によって前記セラミック基体に一体化するようにしてもよい。
この場合、 前記圧電 Z電歪素子は、 圧電 電歪層と、 該圧電 /電歪層に形成さ れた一対の電極とを有して構成することができる。 また、 前記圧電ノ電歪素子は、 圧電ノ電歪層と、 該圧電ノ電歪層の両側に形成された一対の電極とを有し、 該ー 対の電極のうち、 一方の電極を少なくとも前記薄板部に形成するようにしてもよ レ^ この場合、 圧電 Z電歪素子による振動を薄板部を通じて効率よく可動部又は 固定部に伝達することができ、 応答性の向上を図ることができる。 特に、 前記圧 電 /電歪素子は、 前記圧電 電歪層と前記一対の電極が複数の積層形態で構成さ れていることが好ましい。
このように、 本発明においては、 2次元平面内での変位動作を確実に行うこと ができ、 併せて共振周波数並びに変位動作の向上を図ることができ、 しかも、 有 害な振動の影響を受け難く、 高速応答が可能で、 機械的強度が高く、 ハンドリン グ性、 耐衝撃性、 耐湿性に優れた変位素子、 並びに可動部の振動を精度よく検出 することが可能なセンサ素子を得ることができる。 なお、 上述の発明において、 前記孔部にゲル状の材料を充填するようにしてもよい。
次に、 本発明は、 相対向する一対の薄板部と、 可動部と、 これら薄板部と可動 部を支持する固定部とを具備し、 前記一対の薄板部のうち、 少なくとも 1つの薄 板部に 1以上の圧電 電歪素子が配設され、 前記一対の薄板部の両内壁と前記可 動部の内壁と前記固定部の内壁とにより孔部が形成された圧電ノ電歪デバイスの 製造方法であって、 少なくとも前記薄板部上に前記圧電 電歪素子を作製した後 に、 所定部位を切除して、 前記可動部の内壁から前記固定部の内壁にかけて少な くとも 1つの梁部が設けられた圧電/電歪デバイスを作製することを特徴とする。 ここでいぅ圧電 /電歪素子を作製した後とは、 少なくとも圧電ノ電歪層が薄板 部に形成された状態を示し、 圧電 電歪層の形成後に形成される電極に対しては、 互いに対向する端面を有する可動部又は固定部を形成するための切除を行った後 に形成するようにしてもかまわない。
また、 本発明は、 相対向する一対の薄板部と、 可動部と、 これら薄板部と可動 部を支持する固定部とを具備し、 前記一対の薄板部のうち、 少なくとも 1つの薄 板部に 1以上の圧電/電歪素子が配設され、 前記一対の薄板部の両内壁と前記可 動部の内壁と前記固定部の内壁とにより孔部が形成された圧電 電歪デバイスの 製造方法であって、 少なくとも後に少なくとも前記孔部と 1つ以上の梁部を形成 するための窓部を有するセラミックグリーンシートと、 後に前記薄板部となるセ ラミックグリーンシートとを含むセラミックグリーン積層体を一体焼成して、 セ ラミック積層体を作製するセラミック積層体作製工程と、 前記セラミック積層体 のうち、 前記薄板部となる部分の外表面に前記圧電 /電歪素子を形成する工程と、 前記圧電 Z電歪素子が形成されたセラミック積層体に対する少なくとも 1回の切 除処理によって、 前記可動部の内壁から前記固定部の内壁にかけて設けられた少 なくとも 1つの梁部を有する圧電 Z電歪デバイスを作製する切除工程とを含むこ とを特徴とする。
これらの製造方法により、 2次元平面内での変位動作を確実に行うことができ、 併せて共振周波数並びに変位動作の向上を図ることができ、 しかも、 有害な振動 の影響を受け難く、 高速応答が可能で、 機械的強度が高く、 八ンドリング性、 耐 衝撃性、 耐湿性に優れた変位素子、 並びに可動部の振動を精度よく検出すること が可能なセンサ素子を容易に得ることができる。
また、 これらの製造方法においては、 前記切除工程において、 前記セラミック 積層体に対する切除処理によって前記孔部を露出させることを併せて行うように してもよい。 この場合、 互いに対向する端面を有する前記可動部又は固定部の形 成と孔部の形成を同時に行うようにしてもよく、 その順番は問わない。
従って、 本発明に係る圧電 電歪デバイス及びその製造方法によれば、 各種ト ランスデューサ、 各種ァクチユエ一夕、 周波数領域機能部品 (フィル夕) 、 トラ ンス、 通信用や動力用の振動子や共振子、 発振子、 ディスクリミネ一夕等の能動 素子のほか、 超音波センサや加速度センサ、 角速度センサや衝撃センサ、 質量セ ンサ等の各種センサ用のセンサ素子として利用することができ、 特に、 光学機器、 精密機器等の各種精密部品等の変位や位置決め調整、 角度調整の機構に用いられ る各種ァクチユエ一夕に好適に利用することができる。
添付した図面と協同する次の好適な実施の形態例の説明から、 上記の目的及び 他の目的、 特徴及び利点がより明らかになるであろう。 図面の簡単な説明
図 1は、 第 1の実施の形態に係る圧電/電歪デバイスの構成を示す斜視図であ る。
図 2は、 第 1の実施の形態に係る圧電/電歪デバイスの第 1の変形例を示す斜 視図である。
図 3は、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイスの第 2の変形例を示す斜 視図である。
図 4は、 第 1の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイスの第 3の変形例を示す斜 視図である。
図 5は、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイスの第 4の変形例を示す斜 視図である。
図 6は、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイスの第 5の変形例を示す斜 視図である。
図 7は、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイスの第 6の変形例を示す斜 視図である。
図 8は、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイスの第 7の変形例を示す斜 視図である。
図 9は、 第 1の実施の形態に係る圧電/電歪デバイスの第 8の変形例を示す斜 視図である。
図 1 0は、 第 1の実施の形態に係る圧電 /電歪デバイスの第 9の変形例を示す 斜視図である。
図 1 1は、 圧電 電歪素子の他の例を一部省略して示す斜視図である。
図 1 2は、 圧電 電歪素子の更に他の例を一部省略して示す斜視図である。 図 1 3は、 第 1の実施の形態に係る圧電 /電歪デバイスの第 1 0の変形例を示 す斜視図である。
図 1 4は、 第 1の実施の形態に係る圧電 /電歪デバイスにおいて、 圧電 /電歪 素子が共に変位動作を行っていない場合を示す説明図である。
図 1 5 Aは、 一方の圧電 /電歪素子に印加される電圧波形を示す波形図である c 図 1 5 Bは、 他方の圧電 Z電歪素子に印加される電圧波形を示す波形図である。 図 1 6は、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイスにおいて、 圧電ノ電歪 素子が変位動作を行った場合を示す説明図である。
図 1 7 Aは、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイスの製造方法において、 必要なセラミックグリーンシートの積層過程を示す説明図である。
図 1 7 Bは、 セラミックグリーン積層体とした状態を示す説明図である。
図 1 8は、 前記製造方法において、 セラミックグリーン積層体を焼成したセラ ミック積層体とした後、 該セラミック積層体に圧電 電歪素子を形成した状態を 示す説明図である。
図 1 9は、 前記製造方法において、 セラミック積層体を所定の切断線に沿って 切断して、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイスとした状態を示す説明図 である。
図 2 0は、 第 2の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイスの構成を示す斜視図で ある。
図 2 1は、 第 3の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイスの構成を示す斜視図で ある。
図 2 2は、 第 4の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイスの構成を示す斜視図で ある。
図 2 3は、 従来例に係る圧電ノ電歪デバイスを示す構成図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明に係る圧電 /電歪デバイス及びその製造方法の実施の形態例を図 1〜図 2 2を参照しながら説明する。
ここで、 圧電 /電歪デバイスは、 圧電 Z電歪素子により電気的エネルギと機械 的エネルギとを相互に変換する素子を包含する概念である。 従って、 各種ァクチ ユエ一夕や振動子等の能動素子、 特に、 逆圧電効果ゃ電歪効果による変位を利用 した変位素子として最も好適に用いられるほか、 加速度センサ素子や衝撃センサ 素子等の受動素子としても好適に使用され得る。
なお、 圧電ノ電歪デバイス並びに圧電 Z電歪素子は、 それぞれ圧電及び Z又は 電歪デバイス並びに圧電及び 又は電歪素子を意味する。
まず、 第 1の実施の形態に係る圧電/電歪デバイス 1 O Aは、 図 1に示すよう に、 全体として長尺の直方体の形状を呈し、 その長軸方向のほぼ中央部分に孔部 1 2が設けられた基体 1 4を有する。
基体 1 4は、 相対向する一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 bと、 可動部 2 0と、 前 記一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 b並びに可動部 2 0を支持する固定部 2 2とを具 備し、 少なくとも薄板部 1 6 a及び 1 6 bの各一部にそれぞれ圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが形成されている。 ここで、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bのうち、 そ れぞれ圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが形成される面を、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの側面と定義する。
この基体 1 4については、 全体をセラミックスもしくは金属を用いて構成され たもののほか、 セラミックスと金属の材料で製造されたものを組み合わせたハイ ブリツド構造としてもよい。
また、 基体 1 4は、 各部を有機樹脂、 ガラス等の接着剤で接着してなる構造、 セラミックグリーン積層体を焼成により一体化してなるセラミック一体構造、 口 ゥ付け、 半田付け、 共晶接合もしくは溶接等で一体化した金属一体構造等の構成 を採用することができるが、 一体構造が信頼性の点で望ましく、 中でも最も好ま しくはセラミックグリーン積層体を焼成により一体化したセラミック積層体で基 体 1 4を構成することが望ましい。
このようなセラミックスの一体化物は、 各部の接合部に接着剤が介在しないこ とから、 経時的な状態変化がほとんど生じないため、 接合部位の信頼性が高く、 かつ、 剛性確保に有利な構造であることに加え、 後述するセラミックグリーンシ 一ト積層法により、 容易に製造することが可能である。
そして、 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 後述のとおり別体として圧電/ 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを準備して、 基体 1 4に有機樹脂、 ガラス等の接着剤 や、 ロウ付け、 半田付け、 共晶接合等で貼り付けられるほか、 膜形成法を用いる ことにより、 前記貼り付けではなく直接基体 1 4に形成されることとなる。
また、 この圧電ノ電歪デバイス 1 O Aは、 一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 bの両 内壁と可動部 2 0の内壁 2 0 aと固定部 2 2の内壁 2 2 aにより例えば矩形状の 前記孔部 1 2が形成され、 前記圧電ノ電歪素子 2 4 a及びノ又は 2 4 bの駆動に よって可動部 2 0が変位し、 あるいは可動部 2 0の変位を圧電 電歪素子 2 4 a 及びノ又は 2 4 bにより検出する構成を有する。
圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 圧電 電歪層 2 6と、 該圧電 電歪層 2 6の両側に形成された一対の電極 2 8及び 3 0とを有して構成され、 該一対の電 極 2 8及び 3 0のうち、 一方の電極 2 8が少なくとも一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 bに形成されている。
図 1の例では、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを構成する一対の電極 2 8及 び 3 0並びに圧電/電歪層 2 6の各先端面がほぼ揃っており、 この圧電 電歪素 子 2 4 a及び 2 4 bの実質的駆動部分 1 8 (—対の電極 2 8及び 3 0が圧電ノ電 歪層 2 6を間に挟んで重なる部分) が可動部 2 0の先端から固定部 2 2の外表面 の一部にかけて連続的に形成されている。
そして、 上述の第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 O Aにおいては、 図 1に示すように、 可動部 2 0の内壁 2 0 aから固定部 2 2の内壁 2 2 aにかけ て 1つの梁部 4 0が形成されて構成されている。 図 1の例では、 薄板部 1 6 a及 び 1 6 bにおける側面の短辺方向の距離を薄板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 L bと定 義したとき、 梁部 4 0の幅 L iを、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 L bとほぼ同じ に設定している。
なお、 一対の電極 2 8及び 3 0への電圧の印加は、 各電極 2 8及び 3 0のうち、 それぞれ固定部 2 2の両側面 (素子形成面) 上に形成された端子 (パッド) 3 2 及び 3 4を通じて行われるようになつている。 各端子 3 2及び 3 4の位置は、 一 方の電極 2 8に対応する端子 3 2が固定部 2 2の後端寄りに形成され、 外部空間 側の他方の電極 3 0に対応する端子 3 4が固定部 2 2の内壁 2 2 a寄りに形成さ れている。 この場合、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの固定を、 端子 3 2及び 3 4が配置され た面とは別の面を利用してそれぞれ別個に行うことができ、 結果として、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの固定と、 回路と端子 3 2及び 3 4間の電気的接続の双方に 高い信頼性を得ることができる。 この構成においては、 フレキシブルプリント回 路 (F P Cとも称される) 、 フレキシブルフラットケーブル (F F Cとも称され る) 、 ワイヤボンディング等によって端子 3 2及び 3 4と回路との電気的接続が 行われる。
圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの構成としては、 図 1に示す構成のほか、 図 2に示す第 1の変形例に係る圧電/電歪デバイス l O A aのようにしてもよい。 即ち、 第 1の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 O A aは、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを構成する一対の電極 2 8及び 3 0並びに圧電 電歪層 2 6の各先 端面がほぼ揃っており、 この圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの実質的駆動部分 1 8 (—対の電極 2 8及び 3 0が圧電ノ電歪層 2 6を間に挟んで重なる部分) が 固定部 2 2の外表面の一部から薄板部 1 6 a及び 1 6 bの外表面の一部にかけて 連続的に形成されている。 この構成をとることで、 可動部 2 0の変位量を効率的 に大きくすることが可能となる。
特に、 この例では、 一対の電極 2 8及び 3 0の各先端面が可動部 2 0の内壁 2 0 aよりもわずかに後端寄りに位置されている。 もちろん、 前記実質的駆動部分 1 8が可動部 2 0の一部から薄板部 1 6 a及び 1 6 bの一部にかけて位置するよ うに圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成するようにしてもよい。
また、 図 3に示す第 2の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 O A bのように、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを構成する一対の電極 2 8及び 3 0の各先端部 を揃え、 圧電 電歪層 2 6の先端部のみを可動部 2 0側に突出させるようにして もよく、 また、 図 4に示す第 3の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 0 A cのよ うに、 一方の電極 2 8と圧電ノ電歪層 2 6の各先端部を揃え、 他方の電極 3 0の 先端部のみを固定部 2 2寄りに位置させるようにしてもよい。 これらの例のもの も、 図 2の例と同様に、 可動部 2 0の変位を有利に大きくすることができる。 特に、 上述の第 2の変形例に係る圧電 /電歪デバイス 1 O A bでは、 図 3に示 すように、 可動部 2 0に互いに対向する端面 3 6 a及び 3 6 bを形成した例を示 す。 図 3では、 可動部 2 0のうち、 一方の薄板部 1 6 aと梁部 4 0との間に対応 する部分と、 他方の薄板部 1 6 bと梁部 4 0との間に対応する部分にそれぞれ互 いに対向する端面 3 6 a及び 3 6 bを形成した例を示す。
この場合、 製造時に圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 b及び 又は薄板部 1 6 a 及び 1 6 bに生じていた内部残留応力を前記端面 3 6 a及び 3 6 bの移動によつ て解放することができるため、 可動部 2 0の変位動作が前記内部残留応力によつ て阻害されることがなくなり、 ほぼ設計通りの可動部 2 0の変位動作を得ること ができる。 加えて、 この応力の解放によって、 圧電 電歪デバイス 1 0 A bの機 械強度の向上も図ることができる。
これら端面 3 6 a及び 3 6 bの間には、 図 3に示すように、 空隙 (空気) 3 8 を介在させるようにしてもよいし、 前記可動部 2 0の構成部材とは異なる部材、 例えば樹脂等からなる部材を介在させるようにしてもよい。 上述の例では、 互い に対向する端面 3 6 a及び 3 6 bを可動部 2 0に設けた例を示したが、 その他、 第 3の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 O A cのように、 前記端面 3 6 a及び 3 6 bを固定部 2 2に設けるようにしてもよい (図 4参照) 。
その他、 図 5に示す第 4の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A dのように、 一方の電極 2 8及び圧電ノ電歪層 2 6の各先端部を可動部 2 0の側面にまで延ば し、 他方の電極 3 0の先端部を薄板部 1 6 a及び 1 6 bの長さ方向 (Z軸方向) のほぼ中央に位置させるようにしてもよい。
上述の例では、 圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを、 1層構造の圧電 Z電歪層 2 6と一対の電極 2 8及び 3 0で構成するようにしたが、 その他、 圧電 /電歪素 子 2 4 a及び 2 4 bを、 圧電 電歪層 2 6と一対の電極 2 8及び 3 0の複数を積 層形態にして構成することも好ましい。
例えば図 6に示す第 5の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A eのように、 圧電 電歪層 2 6並びに一対の電極 2 8及び 3 0をそれぞれ多層構造とし、 一方 の電極 2 8と他方の電極 3 0をそれぞれ交互に積層して、 これら一方の電極 2 8 と他方の電極 3 0が圧電 /電歪層 2 6を間に挟んで重なる部分 (実質的駆動部分 1 8 ) が多段構成とされた圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bとしてもよい。 この 図 6では、 圧電 電歪層 2 6を 3層構造とし、 1層目の下面 (薄板部 1 6 a及び 1 6 bの側面) と 2層目の上面に一方の電極 2 8をそれぞれ分離して形成し、 1 層目の上面と 3層目の上面に他方の電極 3 0をそれぞれ分離して形成し、 更に、 一方の電極 2 8の各端部にそれぞれ端子 3 2 a及び 3 2 bを設け、 他方の電極 3 0の各端部にそれぞれ端子 3 4 a及び 3 4 bを設けた例を示している。
また、 図 7に示す第 6の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 0 A f のように、 圧電 Z電歪層 2 6並びに一対の電極 2 8及び 3 0をそれぞれ多層構造とし、 一方 の電極 2 8と他方の電極 3 0を断面ほぼ櫛歯状となるようにそれぞれ互い違いに 積層し、 これら一方の電極 2 8と他方の電極 3 0が圧電 Z電歪層 2 6を間に挟ん で重なる部分 (実質的駆動部分 1 8 ) が多段構成とされた圧電 電歪素子 2 4 a 及び 2 4 bとしてもよい。 この図 7では、 圧電 Z電歪層 2 6を 3層構造とし、 一 方の電極 2 8が 1層目の下面 (薄板部 1 6 a及び 1 6 bの側面) と 2層目の上面 に位置するように櫛歯状に形成し、 他方の電極 3 0力 1層目の上面と 3層目の上 面に位置するように櫛歯状に形成した例を示している。 この構成の場合、 一方の 電極 2 8同士並びに他方の電極 3 0同士をそれぞれつなぎ共通化することで、 図 5の構成と比べて端子 3 2及び 3 4の数を減らすことができるため、 圧電ノ電歪 素子 2 4 a及び 2 4 bの多層化に伴うサイズの大型化を抑えることができる。 なお、 図 6においては、 一方の電極 2 8同士、 他方の電極 3 0同士に対して同 じ電位の信号を印加する使用法のほか、 すべての電極 2 8及び 3 0にそれぞれ独 立した信号を印加して使用することも可能である。 後者のような使用法を採用す れば、 各圧電 電歪層 2 6ごとに異なる歪みを発生させることができ、 より精密 な変位制御を行わせることが可能である。
また、 図 8に示す第 7の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A gのように、 圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを、 その先端部が薄板部 1 6 a及び 1 6 b上に とどまるように形成するようにしてもよい。 図 8の例では、 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの先端部を薄板部 1 6 a及び 1 6 bの長さ方向ほぼ中央部に位置さ れた例を示す。 この場合、 可動部 2 0を固定部 2 2に対してほぼ平行に大きく変 位させることができるという利点がある。 従って、 梁部 4 0を付加することで、 強度の向上を図ることができ、 かつ、 変位の低下を小さく抑えることができる。 また、 図 9に示す第 8の変形例に係る圧電/電歪デバイス 1 0 A hのように、 2つの多段構成の圧電 電歪素子 2 4 a 1及び 2 4 b 1をそれぞれ固定部 2 2と 薄板部 1 6 a及び 1 6 bとを跨るように形成し、 他の 2つの多段構成の圧電 電 歪素子 2 4 a 2及び 2 4 b 2をそれぞれ可動部 2 0と薄板部 1 6 a及び 1 6 bと を跨るように形成するようにしてもよい。 この場合、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを多段構造にする効果と、 可動部 2 0を変位させるための作用点が増える という効果により、 可動部 2 0をきわめて大きく変位させることができ、 また、 高速応答性にも優れたものになり、 好ましい。 また、 この構成をとることで、 可 動部 2 0を固定部 2 2に対してほぼ平行に変位させることが可能となり、 梁部 4 0の影響による変位低下を極力抑えることができる。
また、 図 1 0に示す第 9の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 O A iのように、 圧電 電歪層 2 6を 2層構造とし、 一方の電極 2 8が 1層目の下面 (薄板部 1 6 a及び 1 6 bの側面) と 2層目の上面に位置するように櫛歯状に形成し、 他方の 電極 3 0が 1層目の上面に位置するように形成した多段構成の圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bとしてもよい。
このような圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを多段構造とすることにより、 圧 電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの発生力が増大し、 もって大変位が図られると共 に、 圧電 Z電歪デバイス 1 O A自体の剛性が増すことで、 高共振周波数化が図ら れ、 変位動作の高速化が容易に達成できる。
なお、 段数を多くすれば、 駆動力の増大は図られるが、 それに伴い消費電力も 増えるため、 実際に実施する場合には、 用途、 使用状態に応じて適宜段数等を決 めればよい。 また、 第 5〜第 9の変形例に係る圧電 電歪デバイス 1 O A e〜l O A iでは、 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを多段構造にして駆動力を上げて も、 基本的に薄板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 (Y軸方向の距離) は不変であるため、 例えば非常に狭い間隙において使用されるハードディスク用磁気へッドの位置決 め、 リンギング制御等のァクチユエ一夕に適用する上で非常に好ましいデバイス となる。 また、 固定部 2 2と薄板部 1 6 a及び 1 6 b間及び Z又は薄板部 1 6 a 及び 1 6 bと可動部 2 0間に跨るようにして圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを 形成すれば、 可動部 2 0の変位を固定部 2 2に対してほぼ平行にすることができ るため、 梁部 4 0を設けることによる強度の向上を十分に発揮させることができ ると共に、 変位の低下の割合を小さくすることができる。
上述の圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bにおいては、 一対の電極 2 8及び 3 0 間に圧電/電歪層 2 6を介在させたいわゆるサンドィツチ構造で構成した場合を 示したが、 その他、 図 1 1に示すように、 少なくとも薄板部 1 6 a及び 1 6 の 側面に形成された圧電 Z電歪層 2 6の一主面に櫛型の一対の電極 2 8及び 3 0を 形成するようにしてもよいし、 図 1 2に示すように、 少なくとも薄板部 1 6 a及 び 1 6 bの側面に形成された圧電 電歪層 2 6に櫛型の一対の電極 2 8及び 3 0 を埋め込んで形成するようにしてもよい。
図 1 1に示す構造の場合、 消費電力を低く抑えることができるという利点があ り、 図 1 2に示す構造の場合は、 歪み、 発生力の大きな電界方向の逆圧電効果を 効果的に利用できる構造であることから、 大変位の発生に有利になる。
具体的には、 図 1 1に示す圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 圧電 電歪層 2 6の一主面に櫛型構造の一対の電極 2 8及び 3 0が形成されてなり、 一方の電 極 2 8及び他方の電極 3 0が互い違いに一定の幅の間隙 2 9をもって相互に対向 する構造を有する。 図 1 1では、 一対の電極 2 8及び 3 0を圧電 電歪層 2 6の 一主面に形成した例を示したが、 その他、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bと圧電 Z電歪 層 2 6との間に一対の電極 2 8及び 3 0を形成するようにしてもよいし、 圧電 Z 電歪層 2 6の一主面並びに薄板部 1 6 a及び 1 6 bと圧電 電歪層 2 6との間に それぞれ櫛型の一対の電極 2 8及び 3 0を形成するようにしてもよい。
一方、 図 1 2に示す圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 圧電 /電歪層 2 6に 埋め込まれるように、 櫛型構造の一対の電極 2 8及び 3 0が形成され、 一方の電 極 2 8及び他方の電極 3 0が互い違いに一定の幅の間隙 2 9をもって相互に対向 する構造を有する。
このような図 1 1及び図 1 2に示すような圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 も 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A等に好適に用いることができ る。 図 1 1及び図 1 2に示す圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bのように、 櫛型の 一対の電極 2 8及び 3 0を用いる場合は、 各電極 2 8及び 3 0の櫛歯のピッチ D を小さくすることで、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの変位を大きくすること が可能である。
また、 上述の例では、 梁部 4 0の幅 L iを、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 L b とほぼ同じに設定した場合を示したが、 その他、 図 1 3に示す第 1 0の変形例に 係る圧電 電歪デバイス 1 0 A jのように、 梁部 4 0の幅 L iを、 薄板部 1 6 a 及び 1 6 bの幅 L bよりも短くするようにしてもよい。
ここで、 第 1の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイス 1 O Aの動作について説 明する。 まず、 例えば 2つの圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが自然状態、 即ち、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが共に変位動作を行っていない場合は、 図 1 4 に示すように、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの長軸 (固定部の長軸) mと可動部 2 0の中心軸 nとがほぼ一致している。
この状態から、 例えば図 1 5 Aの波形図に示すように、 一方の圧電 Z電歪素子 2 4 aにおける一対の電極 2 8及び 3 0に所定のバイアス電位 V bを有するサイ ン波 W aをかけ、 図 1 5 Bに示すように、 他方の圧電 電歪素子 2 4 bにおける 一対の電極 2 8及び 3 0に前記サイン波 W aとはほぼ 1 8 0 ° 位相の異なるサイ ン波 W bをかける。
そして、 一方の圧電 電歪素子 2 4 aにおける一対の電極 2 8及び 3 0に対し て例えば最大値の電圧が印加された段階においては、 一方の圧電 Z電歪素子 2 4 aにおける圧電 電歪層 2 6はその主面方向に収縮変位する。 これにより、 例え ば図 1 6に示すように、 一方の薄板部 1 6 aに対し、 矢印 Aに示すように、 該薄 板部 1 6 aを例えば右方向に撓ませる方向の応力が発生することから、 該一方の 薄板部 1 6 aは、 右方向に撓み、 このとき、 他方の圧電 電歪素子 2 4 bにおけ る一対の電極 2 8及び 3 0には、 電圧は印加されていない状態となるため、 他方 の薄板部 1 6 bは一方の薄板部 1 6 aの撓みに追従して右方向に橈む。 その結果、 可動部 2 0は、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの長軸 mに対して例えば右方向に変位 する。 なお、 変位量は、 各圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bに印加される電圧の 最大値に応じて変化し、 例えば最大値が大きくなるほど変位量も大きくなる。 特に、 圧電ノ電歪層 2 6の構成材料として、 抗電界を有する圧電 Z電歪材料を 適用した場合には、 図 1 5 A及び図 1 5 Bの一点鎖線の波形に示すように、 最小 値のレベルが僅かに負のレベルとなるように、 前記バイアス電位 V bを調整する ようにしてもよい。 この場合、 該負のレベルが印加されている圧電 Z電歪素子 (例えば他方の圧電 電歪素子 2 4 b ) の駆動によって、 例えば他方の薄板部 1 6 bに一方の薄板部 1 6 aの撓み方向と同じ方向の応力が発生し、 可動部 2 0の 変位量をより大きくすることが可能となる。 つまり、 図 1 5 A及び図 1 5 Bにお ける一点鎖線に示すような波形を使用することで、 負のレベルが印加されている 圧電/電歪素子 2 4 b又は 2 4 aが、 変位動作の主体となっている圧電 電歪素 子 2 4 a又は 2 4 bをサポートするという機能を持たせることができる。
なお、 図 9に示す第 8の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A hの例では、 対角線上に配置された例えば圧電ノ電歪素子 2 4 a 1と圧電 Z電歪素子 2 4 b 2 に、 図 1 5 Aに示す電圧 (サイン波 W a参照) が印加され、 他の圧電 電歪素子 2 4 a 2と圧電 Z電歪素子 2 4 b lに、 図 1 5 Bに示す電圧 (サイン波 W b参 照) が印加される。
このように、 第 1の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイス 1 O A並びに各種変 形例 1 0 A a〜 1 0 A jにおいては、 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの微小な 変位が薄板部 1 6 a及び 1 6 bの撓みを利用して大きな変位動作に増幅されて、 可動部 2 0に伝達することになるため、 可動部 2 0は、 圧電 電歪デバイス 1 0 Aの長軸 mに対して大きく変位させることが可能となる。
特に、 可動部 2 0の内壁 2 0 aから固定部 2 2の内壁 2 2 aにかけて梁部 4 0 を設けたことにより、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの厚み L dを厚くしなくても、 圧 電 電歪デバイス 1 O A自体の剛性が向上し、 ねじれ方向の力に対しても強い構 造となると共に、 高共振周波数化も達成することができる。 また、 薄板部 1 6 a 及び 1 6 bの厚み L dを厚くする必要がないため、 該薄板部 1 6 a及び 1 6 b上 に形成される圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの材料特性が劣化することがなく、 変位低下を抑制することができる。
つまり、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 O A並びに各種変形例 1 0 A a〜l 0 A jでは、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 b自体に何らの影響を 与えることがなく、 また、 剛性の制御も形成される梁部 4 0の本数や、 幅、 厚み 等により微調整が可能となる。 特に、 梁部 4 0の存在により、 ねじれが抑制され、 変位モードとしてほぼ 2次元平面内で変位動作させることができる。
ここで、 周波数とは、 一対の電極 2 8及び 3 0に印加する電圧を交番的に切り 換えて、 可動部 2 0を左右に変位させたときの電圧波形の周波数を示し、 共振周 波数とは、 可動部 2 0の変位動作が所定の振動モードで追従できる最大の周波数 を示す。
また、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O A等においては、 可動 部 2 0、 薄板部 1 6 a及び 1 6 b並びに固定部 2 2が一体化されており、 すべて の部分を脆弱で比較的重い材料である圧電ノ電歪材料によって構成する必要がな いため、 機械的強度が高く、 ハンドリング性、 耐衝撃性、 耐湿性に優れ、 動作上、 有害な振動 (例えば、 高速作動時の残留振動やノイズ振動) の影響を受け難いと いう利点を有する。
また、 この第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O A等においては、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを、 圧電 電歪層 2 6と、 該圧電 Z電歪層 2 6 の両側に形成された一対の電極 2 8及び 3 0とを有して構成し、 一対の電極 2 8 及び 3 0のうち、 一方の電極 2 8を少なくとも薄板部 1 6 a及び 1 6 bの外表面 に形成するようにしたので、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bによる振動を薄板 部 1 6 a及び 1 6 bを通じて効率よく可動部 2 0に伝達することができ、 応答性 の向上を図ることができる。
特に、 第 1〜第 7の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A a〜l 0 A g、 並 びに第 9の変形例に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 A iにおいては、 一対の電極 2 8及び 3 0が圧電 Z電歪層 2 6を間に挟んで重なる部分 (実質的駆動部分 1 8 ) を固定部 2 2の一部から薄板部 1 6 a及び 1 6 bの一部にかけて連続的に形成す るようにしている。 実質的駆動部分 1 8を更に可動部 2 0の一部にかけて形成し た場合、 可動部 2 0の変位動作が前記実質的駆動部分 1 8によって制限され、 大 きな変位を得ることができなくなるおそれがあるが、 この実施の形態では、 前記 実質的駆動部分 1 8を可動部 2 0と固定部 2 2の両方にかけないように形成して いるため、 可動部 2 0の変位動作が制限されるという不都合が回避され、 可動部 2 0の変位量を大きくすることができる。 また、 その中でも、 圧電 Z電歪デバイ ス1 0八&〜1 0八じ、 1 O A g等に示されるような構成を採用することで、 可 動部 2 0を固定部 2 2に対してほぼ平行に変位させることが可能となるため、 梁 部 4 0の強度の向上と共に、 変位低下を小さく抑えることができるため好ましい。 逆に、 可動部 2 0の一部に圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成する場合は、 前記実質的駆動部分 1 8が可動部 2 0の一部から薄板部 1 6 a及び 1 6 bの一部 にかけて位置させるように形成することが好ましい。 これは、 実質的駆動部分 1 8が固定部 2 2の一部にまでわたって形成されると、 上述したように、 可動部 2 0の変位動作が制限されるからである。 この場合も、 前記実質的駆動部分 1 8の 位置関係に加え、 一方の電極 2 8、 他方の電極 3 0及び圧電ノ電歪層 2 6の全て が可動部 2 0の一部から薄板部 1 6 a及び 1 6 bの一部にかけて位置させるよう に形成した構成にすれば、 可動部 2 0を固定部 2 2に対してほぼ平行に変位させ ることが可能となるため、 梁部 4 0の強度の向上と共に、 変位低下を特に小さく 抑えることができ、 好ましい。
次に、 本実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O Aの好ましい構成例につい て説明する。
まず、 可動部 2 0の変位動作を確実なものとするために、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの実質的駆動部分 1 8が固定部 2 2もしくは可動部 2 0にかかる距 離 L gを薄板部 1 6 a及び 1 6 bの厚み L dの 1 Z 2以上とすることが好ましい。 そして、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの内壁間の距離 (X軸方向の距離) L aと薄 板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 L bとの比 L a ZL bが 0 . 5〜2 0となるように構 成する。 前記比 L a /L bは、 好ましくは 1〜 1 0とされ、 更に好ましくは 2〜 8とされる。 この比 L a ZL bの規定値は、 可動部 2 0の変位量を大きくし、 X 一 Z平面内での変位を支配的に得られることの発見に基づく規定である。 一方、 薄板部 16 a及び 16 bの長さ (Z軸方向の距離) Leと薄板部 16 a 及び 16 bの内壁間の距離 L aとの比 L e/L aにおいては、 好ましくは 0. 5 〜10とされ、 更に好ましくは 0. 7〜5とすることが望ましい。 この比 Leノ Laの規定値は、 可動部 20の変位量を大きくでき、 かつ、 高い共振周波数で変 位動作を行うことができる (高い応答速度を達成できる) という発見に基づく規 定である。
従って、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 OAを Y軸方向への煽 り変位、 あるいは振動を抑制し、 かつ、 高速応答性に優れ、 相対的に低電圧で大 きな変位を併せ持つ構造とするには、 比 LaZLbを 0. 5〜20とし、 かつ、 比 LeZLaを 0. 5〜 10にすることが好ましく、 更に好ましくは比 L aZL bを 1〜10とし、 かつ、 比 LeZLaを 0. 7〜5にすることである。 更に、 孔部 12にゲル状の材料、 例えばシリコンゲルを充填することが好ましい。
また、 可動部 20の長さ (Z軸方向の距離) L fは、 短いことが好ましい。 短 くすることで軽量化と共振周波数の増大が図られるからである。 しかしながら、 可動部 20の X軸方向の剛性を確保し、 その変位を確実なものとするためには、 薄板部 16 a及び 16 bの厚み Ldとの比 L f ZLdを 3以上、 好ましくは 5以 上とすることが望ましい。
なお、 各部の実寸法は、 可動部 20への部品の取り付けのための接合面積、 固 定部 22を他の部材に取り付けるための接合面積、 電極用端子などの取り付けの ための接合面積、 圧電 Z電歪デバイス 1 OA全体の強度、 耐久度、 必要な変位量 並びに共振周波数、 そして、 駆動電圧等を考慮して定められることになる。
具体的には、 例えば薄板部 16 a及び 16 bの内壁間の距離 L aは、 100^ m〜2000 zmが好ましく、 更に好ましくは 200 m〜l 000 /mである。 薄板部 16 a及び 16 bの幅 L bは、 50 ^m〜2000 mが好ましく、 更に 好ましくは 100 m〜500 imである。 薄板部 16 a及び 16 bの厚み Ld は、 Y軸方向への変位成分である煽り変位が効果的に抑制できるように、 薄板部 16 a及び 16 bの幅 L bとの関係において L b〉L dとされ、 かつ、 2 m〜 100
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しく、 更に好ましくは 4 50 jLimである。 薄板部 16 a及び 16 bの長さ L eは、 200 m〜3000 zmが好ましく、 更に好ましくは 300 m〜2000 jt/mである。 可動部 20の長さ L f は、 5 0 /zm〜2000 mが好ましく、 更に好ましくは 100 ΠΊ〜1000 mで ある。
このような構成にすることにより、 X軸方向の変位に対して Y軸方向の変位が 10%を超えないが、 上述の寸法比率と実寸法の範囲で適宜調整を行うことで低 電圧駆動が可能で、 Y軸方向への変位成分を 5 %以下に抑制できるというきわめ て優れた効果を示す。 つまり、 可動部 20は、 実質的に X軸方向という 1軸方向 に変位することになり、 しかも、 高速応答性に優れ、 相対的に低電圧で大きな変 位を得ることができる。
また、 この圧電 電歪デバイス 1 OAにおいては、 デバイスの形状が従来のよ うな板状ではなく、 可動部 20と固定部 22が直方体の形状を呈しており、 可動 部 20と固定部 22の側面が連続するように一対の薄板部 16 a及び 16 bが設 けられているため、 圧電 Z電歪デバイス 1 OAの Y軸方向の剛性を選択的に高く することができる。
即ち、 この圧電 電歪デバイス 1 OAでは、 平面内 (XZ平面内) における可 動部 20の動作のみを選択的に発生させることができ、 可動部 20の YZ面内の 動作 (いわゆる煽り方向の動作) を抑制することができる。
特に、 梁部 40の幅 L iは、 薄板部 16 a及び 16 bの幅 L bの 1 5以上で あることが剛性の寄与率の点で好ましく、 更に好ましくは 1Z3以上である。 ま た、 薄板部 16 a及び 16 bの長さ L eと梁部 40の全厚み Tbとの比率 (L e /Tb) は、 5以上、 200以下であることが好ましい。
次に、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 OAの各構成要素につい て説明する。
可動部 20は、 上述したように、 薄板部 16 a及び 16 bの駆動量に基づいて 作動する部分であり、 圧電 Z電歪デバイス 1 OAの使用目的に応じて種々の部材 が取り付けられる。 例えば、 圧電 Z電歪デバイス 1 OAを変位素子として使用す る場合であれば、 光シャツ夕の遮蔽板等が取り付けられ、 特に、 ハードディスク ドライブの磁気へッドの位置決めやリンギング抑制機構に使用するのであれば、 磁気ヘッド、 磁気ヘッドを有するスライダ、 スライダを有するサスペンション等 の位置決めを必要とする部材が取り付けられる。
固定部 2 2は、 上述したように、 薄板部 1 6 a及び 1 6 b並びに可動部 2 0を 支持する部分であり、 固定部 2 2を例えば前記ハードディスクドライブの磁気へ ッドの位置決めに利用する場合には、 V C M (ボイスコイルモー夕) に取り付け られたキヤリッジアーム、 該キヤリッジアームに取り付けられた固定プレート又 はサスペンション等に支持固定することにより、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの全 体が固定される。 また、 この固定部 2 2には、 図 1に示すように、 圧電ノ電歪素 子 2 4 a及び 2 4 bを駆動するための端子 3 2及び 3 4、 その他の部材が配置さ れる場合もある。
可動部 2 0及び固定部 2 2を構成する材料としては、 剛性を有する限りにおい て特に限定されないが、 後述するセラミックグリーンシート積層法を適用できる セラミックスを好適に用いることができる。 具体的には、 安定化ジルコニァ、 部 分安定化ジルコニァをはじめとするジルコニァ、 アルミナ、 マグネシア、 窒化珪 素、 窒化アルミニウム、 酸化チタンを主成分とする材料等が挙げられるほか、 こ れらの混合物を主成分とした材料が挙げられるが、 機械的強度ゃ靱性が高い点に おいて、 ジルコニァ、 特に安定化ジルコニァを主成分とする材料と部分安定化ジ ルコニァを主成分とする材料が好ましい。 また、 金属材料においては、 剛性を有 する限り、 限定されないが、 ステンレス鋼、 ニッケル等が挙げられる。 その他、 エンジニアプラスチックで構成してもよい。
薄板部 1 6 a及び 1 6 bは、 上述したように、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの変位により駆動する部分である。 薄板部 1 6 a及び 1 6 bは、 可撓性を有す る薄板状の部材であって、 表面に配設された圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの 伸縮変位を屈曲変位として増幅して、 可動部 2 0に伝達する機能を有する。 従つ て、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの形状や材質は、 可撓性を有し、 屈曲変形によって 破損しない程度の機械的強度を有するものであれば足り、 可動部 2 0の応答性、 操作性を考慮して適宜選択することができる。 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの厚み L dは、 2 // m〜 1 0 0 / m程度とすることが 好ましく、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bと圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bとを合わ せた厚みは 7 i m〜5 0 0 mとすることが好ましい。 電極 2 8及び 3 0の厚み は 0 . 1〜5 0 m、 圧電 Z電歪層 2 6の厚みは 3〜3 0 0 / mとすることが好 ましい。 また、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bの幅 L bとしては、 5 0 / m〜2 0 0 0 ; が好適である。
薄板部 1 6 a及び 1 6 bを構成する材料としては、 可動部 2 0や固定部 2 2と 同様のセラミックスを好適に用いることができ、 ジルコニァ、 中でも安定化ジル コニァを主成分とする材料と部分安定化ジルコニァを主成分とする材料は、 薄肉 であっても機械的強度が大きいこと、 靱性が高いこと、 圧電 電歪層や電極材と の反応性が小さいことから最も好適に用いられる。
また、 金属材料で構成する場合にも、 前述のとおり、 可撓性を有し、 屈曲変形 が可能な金属材料であればよいが、 好ましくは、 鉄系材料としては、 各種ステン レス鋼、 各種パネ鋼鋼材で構成することが望ましく、 非鉄系材料としては、 ベリ リウム銅、 リン青銅、 ニッケル、 ニッケル鉄合金で構成することが望ましい。 前記安定化ジルコニァ並びに部分安定化ジルコニァにおいては、 次のように安 定化並びに部分安定化されたものが好ましい。 即ち、 ジルコニァを安定化並びに 部分安定化させる化合物としては、 酸化イットリウム、 酸化イッテルビウム、 酸 化セリウム、 酸化カルシウム、 及び酸化マグネシウムがあり、 少なくともそのう ちの 1つの化合物を添加、 含有させることにより、 ジルコニァは部分的にあるい は完全に安定することになるが、 その安定化は、 1種類の化合物の添加のみなら ず、 それら化合物を組み合わせて添加することによつても、 目的とするジルコ二 ァの安定化は可能である。
なお、 それぞれの化合物の添加量としては、 酸化イットリウムや酸化イツテル ビゥムの場合にあっては、 1〜3 0モル%、 好ましくは 1 . 5〜1 0モル%、 酸 化セリウムの場合にあっては、 6〜5 0モル%、 好ましくは 8〜2 0モル%、 酸 化カルシウムや酸化マグネシウムの場合にあっては、 5〜4 0モル%、 好ましく は 5〜2 0モル%とすることが望ましいが、 その中でも特に酸化イットリウムを 安定化剤として用いることが好ましく、 その場合においては、 1 . 5〜1 0モ ル%、 更に好ましくは 2〜4モル%とすることが望ましい。 また、 焼結助剤等の 添加物としてアルミナ、 シリカ、 遷移金属酸化物等を 0 . 0 5〜2 0 w t %の範 囲で添加することが可能であるが、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの形成手法 として、 膜形成法による焼成一体化を採用する場合は、 アルミナ、 マグネシア、 遷移金属酸化物等を添加物として添加することも好ましい。
なお、 機械的強度と安定した結晶相が得られるように、 ジルコニァの平均結晶 粒子径を 0 . 0 5〜3 m、 好ましくは 0 . 0 5〜 1 とすることが望ましい。 また、 上述のように、 薄板部 1 6 a及び 1 6 bについては、 可動部 2 0並びに固 定部 2 2と同様のセラミックスを用いることができるが、 好ましくは、 実質的に 同一の材料を用いて構成することが、 接合部分の信頼性、 圧電ノ電歪デバイス 1 O Aの強度、 製造の煩雑さの低減を図る上で有利である。
圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 少なくとも圧電 Z電歪層 2 6と、 該圧電 ノ電歪層 2 6に電界をかけるための一対の電極 2 8及び 3 0を有するものであり、 ュニモルフ型、 バイモルフ型等の圧電/電歪素子を用いることができるが、 薄板 部 1 6 3及び1 6 bとの組合せに係るュニモルフ型の方が、 発生する変位量の安 定性に優れ、 軽量化に有利であるため、 このような圧電 Z電歪デバイス 1 O Aに 適している。
例えば、 図 1に示すように、 一方の電極 2 8、 圧電 Z電歪層 2 6及び他方の電 極 3 0が層状に積層された圧電 /電歪素子等を好適に用いることができるほか、 図 6〜図 1 0に示すように、 多段構成にしてもよい。
前記圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 図 1に示すように、 圧電 Z電歪デバ イス 1 O Aの外面側に形成する方が薄板部 1 6 a及び 1 6 bをより大きく駆動さ せることができる点で好ましいが、 使用形態などに応じて、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの内面側、 即ち、 孔部 1 2の内壁面に形成してもよく、 圧電 Z電歪デバイ ス 1 O Aの外面側、 内面側の双方に形成してもよい。
圧電ノ電歪層 2 6には、 圧電セラミックスが好適に用いられるが、 電歪セラミ ックスや強誘電体セラミックス、 あるいは反強誘電体セラミックスを用いること も可能である。 但し、 この圧電 Z電歪デバイス 1 O Aをハードディスクドライブ の磁気へッドの位置決め等に用いる場合は、 可動部 2 0の変位量と駆動電圧又は 出力電圧とのリニアリティが重要とされるため、 歪み履歴の小さい材料を用いる ことが好ましく、 抗電界が 1 0 k VZmm以下の材料を用いることが好ましい。 具体的な材料としては、 ジルコン酸鉛、 チタン酸鉛、 マグネシウムニオブ酸鉛、 ニッケルニオブ酸鉛、 亜鉛ニオブ酸鉛、 マンガンニオブ酸鉛、 アンチモンスズ酸 鉛、 マンガンタングステン酸鉛、 コバルトニオブ酸鉛、 チタン酸バリウム、 チタ ン酸ナトリウムビスマス、 ニオブ酸カリウムナトリウム、 タンタル酸ストロンチ ゥムビスマス等を単独で、 あるいは混合物として含有するセラミックスが挙げら れる。
特に、 高い電気機械結合係数と圧電定数を有し、 圧電 電歪層 2 6の焼結時に おける薄板部 (セラミックス) 1 6 a及び 1 6 bとの反応性が小さく、 安定した 組成のものが得られる点において、 ジルコン酸鉛、 チタン酸鉛、 及びマグネシゥ ムニオブ酸鉛を主成分とする材料、 もしくはチタン酸ナトリゥムビスマスを主成 分とする材料が好適に用いられる。
更に、 前記材料に、 ランタン、 カルシウム、 ストロンチウム、 モリブデン、 夕 ングステン、 バリウム、 ニオブ、 亜鉛、 ニッケル、 マンガン、 セリウム、 カドミ ゥム、 クロム、 コバルト、 アンチモン、 鉄、 イットリウム、 タンタル、 リチウム、 ビスマス、 スズ等の酸化物等を単独で、 もしくは混合したセラミックスを用いて もよい。
例えば、 主成分であるジルコン酸鉛とチタン酸鉛及びマグネシウムニオブ酸鉛 に、 ランタンやストロンチウムを含有させることにより、 抗電界ゃ圧電特性を調 整することが可能となる等の利点を得られる場合がある。
なお、 シリカ等のガラス化し易い材料の添加は避けることが望ましい。 なぜな らば、 シリカ等の材料は、 圧電/電歪層の熱処理時に、 圧電 /電歪材料と反応し 易く、 その組成を変動させ、 圧電特性を劣化させるからである。
一方、 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの一対の電極 2 8及び 3 0は、 室温で 固体であり、 導電性に優れた金属で構成されていることが好ましく、 例えばアル ミニゥム、 チタン、 クロム、 鉄、 コバルト、 ニッケル、 銅、 亜鉛、 ニオブ、 モリ ブデン、 ルテニウム、 パラジウム、 ロジウム、 銀、 スズ、 タンタル、 タンダステ ン、 イリジウム、 白金、 金、 鉛等の金属単体、 もしくはこれらの合金が用いられ、 更に、 これらに圧電 電歪層 2 6及び 又は薄板部 1 6 a及び 1 6 bと同じ材料 を分散させたサーメッ卜材料を用いてもよい。
圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bにおける電極 2 8及び 3 0の材料選定は、 圧 電 /電歪層 2 6の形成方法に依存して決定される。 例えば薄板部 1 6 a及び 1 6 b上に一方の電極 2 8を形成した後、 該一方の電極 2 8上に圧電 電歪層 2 6を 焼成により形成する場合は、 一方の電極 2 8には、 圧電 Z電歪層 2 6の焼成温度 においても変化しない白金、 パラジウム、 白金一パラジウム合金、 銀一パラジゥ ム合金、 金—パラジウム合金等の高融点金属を使用する必要があるが、 圧電 Z電 歪層 2 6を形成した後に、 該圧電 /電歪層 2 6上に形成される他方の電極 3 0は、 低温で電極形成を行うことができるため、 アルミニウム、 金、 銀等の低融点金属 を使用することができる。
また、 電極 2 8及び 3 0の厚みは、 少なからず圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの変位を低下させる要因ともなるため、 特に圧電 /電歪層 2 6の焼成後に形成 される電極には、 焼成後に緻密でより薄い膜が得られる有機金属ペースト、 例え ば金レジネートペースト、 白金レジネートペースト、 銀レジネートべ一スト等の 材料を用いることが好ましい。
次に、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 O Aの製造方法を図 1 7 A〜図 1 9を参照しながら説明する。
この第 1の実施の形態に係る圧電/電歪デバイス 1 O Aは、 各部材の構成材料 をセラミックスとし、 圧電/電歪デバイス 1 O Aの構成要素として、 圧電 /電歪 素子 2 4 a及び 2 4 bを除く基体 1 4、 即ち、 薄板部 1 6 a及び 1 6 b、 固定部 2 2及び可動部 2 0についてはセラミックグリーンシート積層法を用いて製造す ることが好ましく、 一方、 圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bをはじめとして、 各 端子 3 2及び 3 4については、 薄膜や厚膜等の膜形成手法を用いて製造すること が好ましい。 圧電 電歪デバイス 1 0 Aの基体 1 4における各部材を一体的に成形すること が可能なセラミックグリーンシート積層法によれば、 各部材の接合部の経時的な 状態変化がほとんど生じないため、 接合部位の信頼性が高く、 かつ、 剛性確保に 有利な方法である。
この第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O Aでは、 薄板部 1 6 a及 び 1 6 bと固定部 2 2との境界部分 (接合部分) 並びに薄板部 1 6 a及び 1 6 b と可動部 2 0との境界部分 (接合部分) は、 変位発現の支点となるため、 接合部 分の信頼性は圧電 Z電歪デバイス 1 O Aの特性を左右する重要なポイントである。 また、 以下に示す製造方法は、 生産性や成形性に優れるため、 所定形状の圧電 Z電歪デバイスを短時間に、 かつ、 再現性よく得ることができる。
以下、 具体的に第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 Aの製造方法 について説明する。 ここで、 定義付けをしておく。 セラミックグリーンシートを 積層して得られた積層体をセラミックグリーン積層体 5 8 (例えば図 1 7 B参 照) と定義し、 このセラミックグリーン積層体 5 8を焼成して一体化したものを セラミック積層体 6 0 (例えば図 1 8参照) と定義し、 このセラミック積層体 6 0から不要な部分を切除して可動部 2 0、 薄板部 1 6 a及び 1 6 b並びに固定部 2 2が一体化されたものをセラミック基体 1 4 C (図 1 9参照) と定義する。 また、 この製造方法においては、 最終的にセラミック積層体 6 0をチップ単位 に切断して、 圧電 電歪デバイス 1 O Aを多数個取りするものであるが、 説明を 簡単にするために、 圧電 Z電歪デバイス 1 O Aの 1個取りを主体にして説明する。 まず、 ジルコニァ等のセラミック粉末にバインダ、 溶剤、 分散剤、 可塑剤等を 添加混合してスラリーを作製し、 これを脱泡処理後、 リバースロールコ一ター法、 ドクターブレード法等の方法により、 所定の厚みを有するセラミックグリーンシ 一卜を作製する。
次に、 金型を用いた打抜加工やレーザ加工等の方法により、 セラミックダリー ンシートを図 1 7 Aのような種々の形状に加工して、 複数枚の基体形成用のセラ ミックグリーンシート 5 0 A〜5 0 D、 5 2 A及び 5 2 B、 5 6を得る。
これらセラミックグリーンシート 5 0 A〜5 0 D、 5 2八及び5 2 8、 5 6は、 少なくとも後に孔部 1 2を形成する窓部 5 4が形成された複数枚 (例えば 4枚) のセラミックグリーンシート 5 0 A〜5 0 Dと、 後に梁部 4 0となる例えば 1枚 のセラミックグリーンシート 5 6と、 後に薄板部 1 6 a及び 1 6 bとなる複数枚 (例えば 2枚) のセラミックグリーンシート 5 2 A及び 5 2 Bとを有する。 なお、 セラミックグリーンシートの枚数は、 あくまでも一例である。
その後、 図 1 7 Bに示すように、 セラミックグリーンシート 5 2 A及び 5 2 B でセラミックグリーンシート 5 0 A〜5 0 D及び 5 6を挟み込むようにして、 か つ、 セラミックグリーンシート 5 6が中央に位置するように、 これらセラミック グリーンシート 5 0 A〜5 0 D、 5 2 A及び 5 2 B、 5 6を積層 ·圧着して、 セ ラミックグリーン積層体 5 8とした後、 該セラミックグリーン積層体 5 8を焼成 してセラミック積層体 6 0 (図 1 8参照) を得る。
なお、 積層一体化のための圧着回数や順序は限定されない。 構造に応じて、 例 えば窓部 5 4の形状、 セラミックグリーンシートの枚数等により所望の構造を得 るように適宜決めることができる。
窓部 5 4の形状は、 すべて同一である必要はなく、 所望の機能に応じて決定す ることができる。 また、 セラミックグリーンシートの枚数、 各セラミックダリー ンシートの厚みも特に限定されない。
圧着は、 熱を加えることで、 より積層性を向上させることができる。 また、 セ ラミック粉末 (セラミックグリーンシートに使用されたセラミックスと同一又は 類似した組成であると、 信頼性確保の点で好ましい) 、 バインダを主体としたべ 一スト、 スラリー等をセラミックグリーンシート上に塗布、 印刷して、 接合補助 層とすることで、 セラミックグリーンシート界面の積層性を向上させることがで きる。 なお、 セラミックグリーンシート 5 2 A及び 5 2 Bの厚みが薄い場合には、 プラスチックフィルム、 中でも表面にシリコーン系の離型剤をコーティングした ポリエチレンテレフ夕レートフィルムを用いて取り扱うことが好ましい。
次に、 図 1 8に示すように、 前記セラミック積層体 6 0の両表面、 即ち、 セラ ミックグリーンシート 5 2 A及び 5 2 Bが積層された表面に相当する表面にそれ ぞれ圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成する。 圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの形成法としては、 スクリーン印刷法、 デイツビング法、 塗布法、 電気泳動 法等の厚膜形成法や、 イオンビーム法、 スパッタリング法、 真空蒸着、 イオンプ レーティング法、 化学気相成長法 (C V D) 、 めっき等の薄膜形成法を用いるこ とができる。
このような膜形成法を用いて圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成すること により、 接着剤を用いることなく、 圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bと薄板部 1 6 a及び 1 6 bとを一体的に接合、 配設することができ、 信頼性、 再現性を確保 できると共に、 集積化を容易にすることができる。
この場合、 厚膜形成法により圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成すること が好ましい。 特に、 圧電 電歪層 2 6の形成において厚膜形成法を用いれば、 平 均粒径 0 . 0 1〜5 m、 好ましくは 0 . 0 5〜3 z mの圧電セラミックスの粒 子、 粉末を主成分とするペーストやスラリー、 又はサスペンションゃェマルジョ ン、 ゾル等を用いて膜化することができ、 それを焼成することによって良好な圧 電 電歪特性を得ることができるからである。
なお、 電気泳動法は、 膜を高い密度で、 かつ、 高い形状精度で形成することが できるという利点がある。 また、 スクリーン印刷法は、 膜形成とパターン形成と を同時にできるため、 製造工程の簡略化に有利である。
具体的に、 圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの形成について説明する。 まず、 セラミックグリーン積層体 5 8を 1 2 0 0 〜 1 6 0 0での温度で焼成、 一体化 してセラミック積層体 6 0を得た後、 該セラミック積層体 6 0の両表面の所定位 置に一方の電極 2 8を印刷、 焼成し、 次いで、 圧電 電歪層 2 6を印刷、 焼成し、 更に、 他方の電極 3 0を印刷、 焼成して圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成 する。 その後、 各電極 2 8及び 3 0を駆動回路に電気的に接続するための端子 3 2及び 3 4を印刷、 焼成する。
ここで、 一方の電極 2 8として白金 (P t:) 、 圧電 /電歪層 2 6としてジルコ ン酸チタン酸鉛 (P Z T) 、 他方の電極 3 0として金 (A u ) 、 更に、 端子 3 2 及び 3 4として銀 (A g ) というように、 各部材の焼成温度が積層順に従って低 くなるように材料を選定すると、 ある焼成段階において、 それより以前に焼成さ れた材料の再焼結が起こらず、 電極材等の剥離や凝集といった不具合の発生を回 避することができる。
なお、 適当な材料を選択することにより、 圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 の 各部材と端子 3 2及び 3 4を逐次印刷して、 1回で一体焼成することも可能であ り、 圧電ノ電歪層 2 6を形成した後に低温で各電極 3 0等を設けることもできる。 また、 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの各部材と端子 3 2及び 3 4は、 スパ ッ夕法や蒸着法等の薄膜形成法によって形成してもよく、 この場合には、 必ずし も熱処理を必要としない。
圧電ノ電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの形成においては、 セラミックグリーン積層 体 5 8の両表面、 即ち、 セラミックグリーンシート 5 2 A及び 5 2 Bの各表面に 予め圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成しておき、 該セラミックグリーン積 層体 5 8と圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bとを同時に焼成することも好ましく 行われる。 同時焼成にあたっては、 セラミックグリーン積層体 5 8と圧電 電歪 素子 2 4 a及び 2 4 bのすベての構成膜に対して焼成を行うようにしてもよく、 一方の電極 2 8とセラミックグリーン積層体 5 8とを同時焼成したり、 他方の電 極 3 0を除く他の構成膜とセラミックグリーン積層体 5 8とを同時焼成する方法 等が挙げられる。
圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bとセラミックグリーン積層体 5 8とを同時焼 成する方法としては、 スラリー原料を用いたテープ成形法等によって圧電 電歪 層 2 6の前駆体を成形し、 この焼成前の圧電 Z電歪層 2 6の前駆体をセラミック グリーン積層体 5 8の表面上に熱圧着等で積層し、 同時に焼成して可動部 2 0、 薄板部 1 6 a及び 1 6 b、 圧電 Z電歪層 2 6、 固定部 2 2とを同時に作製する方 法が挙げられる。 但し、 この方法では、 上述した膜形成法を用いて、 セラミック グリーン積層体 5 8の表面及び Z又は圧電/電歪層 2 6に予め電極 2 8を形成し ておく必要がある。
その他の方法としては、 セラミックグリーン積層体 5 8の少なくとも最終的に 薄板部 1 6 a及び 1 6 bとなる部分にスクリーン印刷により圧電 電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの各構成層である電極 2 8及び 3 0、 圧電 電歪層 2 6を形成し、 同時に焼成することが挙げられる。
圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bの構成膜の焼成温度は、 これを構成する材料 によって適宜決定されるが、 一般には、 5 0 O :〜 1 5 0 0でであり、 圧電ノ電 歪層 2 6に対しては、 好ましくは 1 0 0 0で〜 1 4 0 0 ^である。 この場合、 圧 電 電歪層 2 6の組成を制御するためには、 圧電/電歪層 2 6の材料の蒸発源の 存在下に焼結することが好ましい。 なお、 圧電 電歪層 2 6とセラミックダリー ン積層体 5 8を同時焼成する場合には、 両者の焼成条件を合わせることが必要で ある。 圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bは、 必ずしもセラミック積層体 6 0もし くはセラミックグリーン積層体 5 8の両面に形成されるものではなく、 片面のみ でももちろんよい。
次に、 上述のようにして、 圧電 Z電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが形成されたセラ ミック積層体 6 0のうち、 不要な部分を切除する。 切除する位置は、 セラミック 積層体 6 0の側部、 特に、 該切除によってセラミック積層体 6 0の側面に窓部 5 4による孔部 1 2が形成される箇所 (切断線 C 1及び C 2参照) である。
切除の方法としては、 ダイシング加工、 スライシング加工、 ワイヤソ一加工等 の機械加工のほか、 Y A Gレーザ、 エキシマレーザ等のレーザ加工や電子ビーム 加工を適用することが可能である。
この切除によって、 図 1 9に示すように、 セラミック基体 1 4 Cに圧電ノ電歪 素子 2 4 a及び 2 4 bが形成され、 かつ、 可動部 2 0の内壁 2 0 aから固定部 2 2の内壁 2 2 aにかけて 1つの梁部 4 0が形成された圧電 電歪デバイス 1 O A を得る。
この製造方法においては、 セラミック積層体 6 0から不要な部分を切除したと 同時に、 セラミック基体 1 4 Cに圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが形成され、 かつ、 可動部 2 0の内壁 2 0 aから固定部 2 2の内壁 2 2 aにかけて 1つの梁部 4 0が形成された圧電/電歪デバイス 1 O Aを得ることができるため、 製造工程 の簡略化を図ることができると共に、 圧電 電歪デバイス 1 O Aの歩留まりを向 上させることができる。
次に、 第 2の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 0 Bについて図 2 0を参 照しながら説明する。 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O A並びに 各種変形例 1 0 A a〜l O A j と対応する部材については同符号を付してその重 複説明を省略する。
この第 2の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 0 Bは、 図 2 0に示すよう に、 第 1の実施の形態に係る圧電ノ電歪デバイス 1 O Aとほぼ同様の構成を有す るが、 2つの梁部 4 0 a及び 4 0 bが設けられている点と、 圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを構成する一方の電極 2 8が L字状の接続電極 7 0を介して固定部 2 2の前面に形成された一方の端子 3 2に導出されて、 共通化されている点と、 他方の電極 3 0が固定部 2 2の側面に形成された他方の端子 3 4に導出されてい る点で異なる。
2つの梁部 4 0 a及び 4 0 bが設けられていることから、 第 1の実施の形態に 係る圧電 電歪デバイス 1 O Aよりも剛性が向上し、 高共振周波数化に有利とな る。
なお、 第 1の実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 O Aの端子構造と第 2の 実施の形態に係る圧電 電歪デバイス 1 0 Bの端子構造のいずれを採用するかに ついては、 各端子 3 2及び 3 4に接続される駆動回路に応じて適宜選択すればよ い。
次に、 第 3の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 0 Cについて図 2 1を参 照しながら説明する。
この第 3の実施の形態に係る圧電 /電歪デバイス 1 0 Cは、 図 2 1に示すよう に、 第 1の実施の形態に係る圧電 Z電歪デバイス 1 O Aとほぼ同様の構成を有す るが、 可動部 2 0に取り付けられる電子部品 (図示せず) と、 固定部 2 2がセッ トされる電子回路等とを電気的に接続するための導体パターンが基体 1 4の内部 に形成されている点で異なる。
導体パターンは、 例えば可動部 2 0の前面に露出するように形成された取出し 電極 7 2と、 固定部 2 2の前面に露出するように形成された取出し電極 7 4と、 梁部 4 0の側面に沿って配線形成され、 これら取出し電極 7 2及び 7 4を電気的 に接続する導体パターン本体 7 6とを有する。 換言すれば、 梁部 4 0を設けることによって、 可動部 2 0に取り付けられる電 子部品と、 固定部 2 2がセットされる電子回路等とを電気的に接続するための導 線を圧電 Z電歪デバイス 1 0 Cの外部で引き回し配線する必要がなく、 導体パ夕 —ンとして圧電ノ電歪デバイス 1 0 Cの内部を通じて配線することができ、 配線 工程の簡略化並びに圧電 電歪デバイス 1 0 Cを用いた電子部品のコンパク卜化 を図ることができる。
上述の例では、 一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 bに圧電 /電歪素子 2 4 a及び 2 4 bを形成した例を示したが、 その他、 図 2 2に示す第 4の実施の形態に係る圧 電 Z電歪デバイス 1 0 Dのように、 一方の薄板部 1 6 aに圧電 Z電歪素子 2 4 a を形成するようにしてもよい。
このように、 相対向する一対の薄板部 1 6 a及び 1 6 bの片側の薄板部 1 6 a のみに圧電 Z電歪素子 2 4 aを形成した圧電/電歪デバイス 1 0 Dは、 圧電 電 歪素子 2 4 bが形成されていない薄板部 1 6 bの剛性を小さくすることができる。 その結果、 両側に圧電/電歪素子 2 4 a及び 2 4 bが形成されている圧電 Z電 歪デバイス (例えば圧電 Z電歪デバイス 1 0 A g ) と、 片側のみに圧電 Z電歪素 子 2 4 aが形成された圧電 電歪デバイス 1 0 Dとを、 1つの圧電 /電歪素子 2 4 aを駆動して得られる変位の大きさで比較すると、 片側のみに圧電 電歪素子 2 4 aが形成された圧電 電歪デバイス 1 0 Dの方が、 対向する側の薄板部 1 6 の剛性が低いという効果から、 より大きな変位が得られるという特徴がある。 上述した種々の圧電 Z電歪デバイスによれば、 各種トランスデューサ、 各種ァ クチユエ一夕、 周波数領域機能部品 (フィルタ) 、 トランス、 通信用や動力用の 振動子や共振子、 発振子、 ディスクリミネ一夕等の能動素子のほか、 超音波セン サゃ加速度センサ、 角速度センサや衝撃センサ、 質量センサ等の各種センサ用の センサ素子として利用することができ、 特に、 光学機器、 精密機器等の各種精密 部品等の変位や位置決め調整、 角度調整の機構に用いられる各種ァクチユエ一夕 に好適に利用することができる。
なお、 この発明に係る圧電/電歪デバイス及びその製造方法は、 上述の実施の 形態に限らず、 この発明の要旨を逸脱することなく、 種々の構成を採り得ること はもちろんである。

Claims

請求の範囲
1. 相対向する一対の薄板部(16a, 16b)と、 可動部(20)と、 これら薄板部 (16a, 16b)と可動部(20)を支持する固定部(22)とを具備し、
前記一対の薄板部(16a, 16b)のうち、 少なくとも 1つの薄板部(16a, 16b)に 1以上の圧電 電歪素子(24a, 24b)が配設され、
前記一対の薄板部(16a, 16b)の両内壁と前記可動部(20)の内壁(20a)と前記 固定部(22)の内壁(22a)とにより孔部(12)が形成された圧電 電歪デバイスで あって、
前記可動部(20)の内壁(20a)から前記固定部(22)の内壁(22a)にかけて設け られた少なくとも 1つの梁部(40)を有することを特徴とする圧電 Z電歪デバイ ス。
2. 請求項 1記載の圧電/電歪デバイスにおいて、
前記薄板部(16a, 16b)のうち、 前記圧電 電歪素子(24a, 24b)が形成される 面を、 前記薄板部(16a, 16b)の側面と定義し、
前記薄板部(16a, 16b)における側面の短辺方向の距離を前記薄板部 (16a, 16b)の幅と定義したとき、
前記梁部(40)の幅が、 前記薄板部(16a, 16b)の幅の 1/5以上であることを 特徴とする圧電 電歪デバイス。
3. 請求項 1又は 2記載の圧電ノ電歪デバイスにおいて、
前記薄板部(16a, 16b)のうち、 前記圧電 電歪素子(24a, 24b)が形成される 面を、 前記薄板部(16a, 16b)の側面と定義し、
前記薄板部(16a, 16b)における側面の長辺方向の距離を前記薄板部 (16a, 16b)の長さ L eと定義したとき、
前記薄板部(16a, 16b)の長さ L eと前記梁部(40)の全厚み Tbとの比率 (L e/Tb) が、 5以上、 200以下であることを特徴とする圧電 Z電歪デバイス。
4. 請求項 1〜 3のいずれか 1項に記載の圧電 Z電歪デバイスにおいて、 前記薄板部(16a, 16b)と前記可動部(20)と前記固定部(22)は、 セラミック グリーン積層体(58)を同時焼成することによって一体化し、 更に不要な部分を 切除してなるセラミック基体(14C)で構成されていることを特徴とする圧電/電 歪デバイス。
5. 請求項 4記載の圧電 Z電歪デバイスにおいて、
前記圧電 Z電歪素子( 24a , 24b )は膜状であつて、 焼成によつて前記セラミツ ク基体(14C)に一体化されていることを特徴とする圧電 Z電歪デバイス。
6. 請求項 1〜 5のいずれか 1項に記載の圧電 Z電歪デバイスにおいて、 前記圧電 電歪素子( 24a, 24b)は、
圧電 Z電歪層( 26 )と、 該圧電 Z電歪層( 26 )に形成された一対の電極(28,30) とを有することを特徵とする圧電 Z電歪デバイス。
7. 請求項 6記載の圧電/電歪デバイスにおいて、
前記圧電 電歪素子( 24a, 24b)は、
前記圧電 電歪層( 26 )と前記一対の電極(28,30)が複数の積層形態で構成さ れていることを特徴とする圧電 Z電歪デバイス。
8. 請求項 1〜 7のいずれか 1項に記載の圧電/電歪デバイスにおいて、 前記孔部(12)にゲル状の材料が充填されていることを特徴とする圧電 /電歪 デバイス。
9. 相対向する一対の薄板部(16a, 16b)と、 可動部(20)と、 これら薄板部 (16a, 16b)と可動部(20)を支持する固定部(22)とを具備し、
前記一対の薄板部(16a, 16b)のうち、 少なくとも 1つの薄板部(16a, 16b)に 1以上の圧電 電歪素子(24a, 24b)が配設され、
前記一対の薄板部(16a, 16b)の両内壁と前記可動部(20)の内壁(20a)と前記 固定部(22)の内壁(22a)とにより孔部(12)が形成された圧電 電歪デバイスの 製造方法であって、
少なくとも前記薄板部(16a, 16b)上に前記圧電 電歪素子(24a, 24b)を作製 した後に、 所定部位を切除して、 前記可動部(20)の内壁(20a)から前記固定部 ( 22 )の内壁( 22a )にかけて少なくとも 1つの梁部( 40 )が設けられた圧電ノ電歪 デバイスを作製することを特徴とする圧電 電歪デバイスの製造方法。
10. 相対向する一対の薄板部(16a, 16b)と、 可動部(20)と、 これら薄板部 (16a, 16b)と可動部(20)を支持する固定部(22)とを具備し、
前記一対の薄板部(16a, 16b)のうち、 少なくとも 1つの薄板部(16a, 16b)に 1以上の圧電ノ電歪素子(24a, 24b)が配設され、
前記一対の薄板部(16a, 16b)の両内壁と前記可動部(20)の内壁(20a)と前記 固定部(22)の内壁(22a)とにより孔部(12)が形成された圧電 電歪デバイスの 製造方法であって、
少なくとも後に少なくとも前記孔部(12)と 1つ以上の梁部(40)を形成するた めの窓部(54)を有するセラミックグリーンシート(50A〜50D)と、 後に前記薄 板部(16a,16b)となるセラミックグリーンシート(52A,52B)とを含むセラミツ クグリーン積層体(58)を一体焼成して、 セラミック積層体(60)を作製するセラ ミック積層体作製工程と、
前記セラミック積層体( 60 )のうち、 前記薄板部( 16a , 16b )となる部分の外表 面に前記圧電ノ電歪素子(24a, 24b)を形成する工程と、
前記圧電ノ電歪素子(24a, 24b)が形成されたセラミック積層体(60)に対する 少なくとも 1回の切除処理によって、 前記可動部(20)の内壁(20a)から前記固 定部(22)の内壁(22a)にかけて設けられた少なくとも 1つの梁部(40)を有する 圧電 電歪デバイスを作製する切除工程とを含むことを特徴とする圧電 /電歪デ バイスの製造方法。
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