WO2000057408A1 - Procede d'enregistrement optique d'informations et dispositif a cet effet - Google Patents

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Tetsuya Akiyama
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Description

光学的情報記録方法およびそれを用いた光学的情報記録装置 技術分野
本発明は、 例えば光ディスク等の、 光学的に情報を記録，再生する光 学的情報記録媒体と、 記録条件を最適化するために情報信号の記録に先 立ってテスト記録を行う情報記明録方法および情報記録装置とに関する。
田
背景技術
近年、 光学的に情報を記録する媒体として、 光ディスク、 光力一ド、 光テープなどが提案、 開発されている。 その中でも光ディスクは、 大容 量かつ高密度に情報を記録 ·再生できる媒体として注目されている。 書き換え型光ディスクの一つの方式に、 相変化型光ディスクがある。 相変化型光ディスクに用いる記録膜は、 レーザ光による加熱条件および 冷却条件によって、 アモルファス状態および結晶状態のいずれかの状態 になる。 なお、 アモルファス状態と結晶状態とには可逆性がある。 上記 のアモルファス状態と結晶状態とでは、 記録膜の光学定数 （屈折率およ び消衰係数） が異なる。 相変化型光ディスクでは、 情報信号に応じて選 択的に 2つの状態を記録膜に形成し、 この結果として生じる光学的変化 (透過率または反射率の変化） を利用して、 情報信号の記録 · 再生を行 う。
上記の 2つの状態を得るために、 以下のような方法で情報信号を記録 する。 光ヘッ ドにより集束させたレーザ光 （パワーレベル P p) を光デ イスクの記録膜にパルス状に照射して （これを記録パルスと呼ぶ）、 記録 膜の温度を融点を越えて上昇させると溶融し、 溶融部分は、 レーザ光の 通過とともに急速に冷却されてアモルファス状態の記録マーク （または マークと呼ぶ） になる。 なお、 このパヮ一レベル P p をピークパワーと 呼ぶ。 また、 記録膜の温度を結晶化温度以上で融点以下の温度まで上昇 させる程度の強度のレーザ光 （パワーレベル P b、 なお、 P bく P p) を 集束して照射すると、 照射部の記録膜は結晶状態になる。 なお、 このパ ヮ一レベル P b をバイアスパワーと呼ぶ。 また、 これらピークパワーお よびバイアスパヮ一を総称して記録パワーと呼ぶ。
このようにして、 光ディスクのトラック上に、 記録デ一夕信号に対応 したアモルファス領域からなる記録マークと、 結晶領域からなる非マー ク部 （これをスペースと呼ぶ） との記録パターンが形成される。 そして、 結晶領域とアモルファス領域との光学的特性の相違を利用することによ り、 情報信号を再生することができる。
また最近では、 マークポジション記録 （P P M記録ともいう） 方式に かわって、 マークエッジ記録 （P WM記録ともいう） 方式を用いること が多くなつてきた。 マークポジション記録では、 記録マ一ク自身の位置 のみに情報を持たせるのに対して、 マークエッジ記録では、 記録マーク エッジの前端および後端の両方に情報を持たせるので、 記録線密度が向 上するといぅメリッ トがある。
特に、 マークエッジ記録方式の場合には、 長いマークを記録するとき の記録パルスを複数の記録パルス列 （これをマルチパルスという） に分 解し、 先頭のパルス （これを前端パルスと呼ぶ） の幅を中間のパルスの 幅や最後のパルス （これを後端パルスと呼ぶ） の幅よりも大きくして記 録する方法が用いられる。 これは、 マークの前部より伝わる余分な熱の 影響を考慮して、 マークの後部を記録するときには記録膜に与える熱量 をマークの前部を記録するときよりも少なくすることにより、 記録マ一 ク形状の歪みを軽減してより精密にマ一クを記録するためである。 ところで、 光ディスクは交換可能な記録媒体であるので、 光ディスク の記録再生装置は、 異なる複数の光ディスクに対して安定に記録再生が 可能であることが要求される。 しかし、 同一の条件で製造された光ディ スクでも、 製造時のばらつきや経時変化により、 熱的特性がばらつくた めに記録再生に最適な記録パワーが互いに異なることがある。 また、 光 ディスクの基板表面の汚れや、 記録再生装置の光学系の伝送効率の低下 や動作状態の変動により、 光ディスクの記録膜に到達するレーザ光のパ ヮ一が変動することもあり得る。
また、 マークエッジ記録方式の場合には、 光ディスクの熱的特性のば らつきが、 記録マーク自身の形成状態や記録マーク間の熱干渉の程度に 影響を及ぼす。 すなわち、 同じ記録パルス波形で記録しても形成される 記録マークの形状はディスクごとに異なってくる。 その結果、 ディスク によっては記録マークエッジが理想的な位置からずれ、 再生した信号の 品質が低下することがあり得る。
そのため、 各ディスクに対して記録パワーや前端パルスエッジ位置、 後端パルスエッジ位置を最適に補正することにより、 いずれのディスク に対しても記録マークが理想的なエツジ位置で記録できるようにする必 要がある。
上記のように、 レーザ光の最適パワーレベルや前端パルスエツジ位置 および後端パルスエッジ位置を補正して、 情報信号を正確に記録再生す る方法の例が、 特許第 2 6 7 9 5 9 6号公報で示されている。 これは、 記録マークの長さ （これを自己マーク長と呼ぶ） およびその前後のスぺ —スの長さ （これらをそれぞれ前スペース長、 後スペース長と呼ぶ） の 組み合わせを組み合わせテーブルとし、 組み合わせテーブル内の各々の 要素について前端パルスエツジ位置または後端パルスエツジ位置を補正 するものである。 また、 特開平 9— 6 3 0 5 6号公報には、 ビッ トエラーレートのパヮ 一依存性から最適な記録パワーを決定する方法が開示されている。また、 特開平 6— 1 9 5 7 1 3号公報には、 記録再生装置の立ち上げ時ゃ光デ イスクの導入時に情報信号を記録するのに先立って、 特定の周期を有す るデータパターン （これをテストパターンと呼ぶ） によるテスト記録を 行った後に、 記録されたテスト信号を再生し、 その再生信号を測定して 記録マークエッジのずれ量を求めることにより、 前端パルスエッジ位置 や後端パルスエツジ位置を補正する方法が開示されている。
しかしながら、 上述した従来の方法では、 光ディスク導入時などに、 どのような光ディスクに対しても常に一連の同じテスト記録工程を行う ことになる。 そのため、 記録再生装置が初期値として有している記録パ ヮ一や前端パルスエツジ位置、 後端パルスエツジ位置が導入した光ディ スクに対して最適な場合には、 実質的に余分なテスト記録工程を経るこ とになり、 結果的に記録再生装置が実際に情報信号を記録可能な状態に なるまでに時間がかかるという課題を有していた。 特に、 前端パルスェ ッジ位置や後端パルスエツジ位置を決定するには多くのテスト記録工程 が必要になるので、 情報信号を記録可能な状態になるまでに時間は無視 できないものになる。
また、 テストパターンを用いたテスト記録工程で前端パルスエッジ位 置および後端パルスエッジ位置を補正しても、 実際に情報信号を記録し たときにはこれらの補正したエツジ位置が十分に最適とはならない場合 がある。 その結果、 テストパターンによるテスト記録だけでは、 実際の 情報信号の場合十分に正確な記録ができないという課題を有していた。 また、 従来の方法で、 情報信号のマークに応じた記録パルス列を発生 させて情報を記録する場合、 光ディスクの熱的特性のばらつきに起因し て記録マークが前部と後部で非対称な形状に歪む場合があった。 その結 果、 再生信号に歪みが生じ、 テスト記録により前端パルスエッジ位置お よび後端パルスエッジ位置を最適にしても十分に正確な情報信号の記録 ができないという課題を有していた。 発明の開示
本発明は、 これら従来の問題を解決するために、 記録パワーや前端パ ルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置、 前端パルス幅および後端 パルス幅といった記録条件を短時間のテス卜記録により決定することが 可能な光学的情報記録方法を提供することを目的とする。
また、 本発明は、 適切なテスト記録によってより精密に記録条件を決 定することにより、 正確な情報信号の記録が可能な光学的情報記録方法 を提供することを目的とする。
前記の目的を達成するために、 本発明に係る第 1の光学的情報記録方 法は、 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテ スト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められ た所定の前端パルスエツジ位置と、 自己マーク長と後スペース長の組み 合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエッジ位置とに基 づいて、 ランダムパターン信号を記録し （ a )、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビッ トエラ一レー 卜を測定し （b )、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラ一レートが一定値以上か否 かを判定し （c )、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以 上の場合、 第 1のテストパターン信号を記録し （d )、
再生した前記第 1のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し （e )、 測定した前記エッジ間隔に基づき、 前記前端パルスエッジ位置の適正 値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定する （ f ) ことを特徴 とする。
この方法によれば、 前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位 置を決定するのに要する時間を短縮することができる。
前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a ) に先立 つて、
前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエツジ位置 に基づき、 所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、 再生した前記ランダムパターン信号のジッ夕またはビッ トエラーレ一 トを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 前記前端パルスエッジ位置と前記後端パルスエッジ位置とを 所定の値に設定して、 第 2のテストパ夕一ン信号を記録し、
前記第 2のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 記録パワー の適正値を決定した後、
前記ステップ （a ) から （ f ) を実行することが好ましい。
この方法によれば、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位 置だけでなく、 記録パヮ一についても最適に決定することができる。 また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （ f ) にて決定した前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルス エツジ位置の適正値を初期値として、 前記前端パルスエツジ位置および 前記後端パルスエッジ位置のうち少なくとも一つを変化させてランダム パターンを記録し （ a— 1 )、 前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビッ 卜 エラーレ一トを測定し （b— 1 )、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートの結果に基づき、 前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の 適正値とを補正して新たに決定する （c 一 1 ) ことが好ましい。
この方法によれば、 実際の情報信号に即した前端パルスエツジ位置お よび後端パルスエッジ位置の補正ができるので、 より正確に情報信号を 記録することが可能となる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a— 1 ) に先立って、
前記ステップ （ f ) にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値 および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づいてランダムパターン を記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ ト エラーレートを測定し、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートがー定値以 上の場合、 前記ステップ （a— 1 ) から （c 一 1 ) を実行することが好 ましい。
この方法によれば、 第 1のテス卜パターンの記録のみで前端パルスェ ッジ位置および後端パルスエッジ位置が十分に補正された光ディスクに 対しては、 実際に情報信号を記録できる状態になるまでの時間を短縮す ることができる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （C — 1 ) の後に、 補正した前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルスェ ッジ位置の適正値に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
この方法によれば、 実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置お よび後端パルスエツジ位置の補正を行った後に、 記録マークの歪を最小 にできるので、 より正確に情報信号を記録することが可能となる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （ a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエツジ位置および前記所定の後端パルスエツジ 位置に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
この方法によれば、 記録マークの歪みを最小にしてから記録パルスの エッジ位置を決定できるので、 再生信号の歪みが減少し、 情報をより正 確に記録することができる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ 位置を示す情報と、前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエッジ位置とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 読み込んだ情報を前端パルスエッジ位置および後 端パルスエッジ位置の初期値とすることができ、 テスト記録に要する時 間を一層短縮することができる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記前端パルスエツ ジ位置の適正値と前記後端パルスエツジ位置の適正値とを、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、 これらの新たな前端パルスエッジ位置の適正値と後端パルスエツジ位置 の適正値とを読み込んで初期値とすることができ、 次回のテスト記録に 要する時間を短縮することできる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている記録パワーを示す情報 を読み込み、 該情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することが好ましい。 この方法によれば、 読み込んだ情報を記録パワーの初期値とすること ができ、 テスト記録に要する時間を一層短縮することができる。
また、 前記第 1の光学的情報記録方法において、 前記記録パワーの適 正値を、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録する ことが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこ の新たな記録パワー適正値を読み込んで初期値とすることができ、 次回 のテス卜記録に要する時間を短縮することできる。
また、 前記の目的を達成するために、 本発明に係る第 2の光学的情報 記録方法は、 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する 前にテスト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であつ て、
所定の前端パルスエッジ位置と所定の後端パルスエッジ位置に基づき、 所定の記録パワーでランダムパターン信号を記録し （ a )、
再生した前記ランダムパターン信号のジッタまたはビッ トエラ一レ一 トを測定し （b )、 測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し （c )、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 第 2のテストパターン信号を記録し （d )、
再生した前記第 2のテストパターン信号の結果に基づき、 前記記録パ ヮ一の適正値を決定する （e ) ことを特徴とする。
この方法により、 記録パワーを決定するのに要する時間を短縮するこ とができる。
前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a ) に先立 つて、
前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエッジ位置 に基づき、 所定の記録パヮ一によるランダムパターン信号を記録し、 再生した前記ランダムパ夕一ン信号のジッ夕またはビッ トエラーレー 卜を測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッタまたは前記ビッ トエラ一レートが一定値以 上の場合、 前記記録パワーを所定の値に設定して、 第 1のテストパ夕一 ン信号を記録し、
前記第 1のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前記前端パ ルスエツジ位置の適正値と前記後端パルスェッジ位置の適正値とを決定 した後、
前記ステップ （a ) から （e ) を実行することが好ましい。
この方法によれば、 記録パワーだけでなく、 前端パルスエッジ位置と 後端パルスエッジ位置についても最適に決定することができる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記記録パワーを前 記ステップ （ e ) にて決定した前記適正値に設定して、 前記前端パルス ェッジ位置および前記後端パルスェッジ位置のうち少なくとも一つを変 化させてランダムパターンを記録し （ a— 1 )、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビッ ト エラ一レートを測定し （b— 1 )、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートの結果に基づき、 前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の 適正値とを補正して新たに決定する （ c 一 1 ) ことが好ましい。
この方法によれば、 実際の情報信号に即した前端パルスェッジ位置お よび後端パルスエッジ位置の補正ができるので、 より正確に情報信号を 記録することが可能となる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a— 1 ) に先立って、
前記ステップ （e ) にて決定した前記記録パワーの適正値に基づいて ランダムパターンを記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ 卜 エラ一レートを測定し、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 前記ステップ （a— 1 ) から （c 一 1 ) を実行することが好 ましい。
この方法によれば、 前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位 置が十分に補正された光ディスクに対しては、 実際に情報信号を記録で きる状態になるまでの時間を短縮することができる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （c 一 1 ) の後に、
補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスェ ッジ位置の適正値に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテス卜パターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。 この方法によれば、 実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエツジ 位置の補正を行った後に、 記録マークの歪を最小にできるので、 より正 確に情報信号を記録することが可能となる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （ a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ 位置に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することが好ましい。
この方法によれば、 記録マークの歪みを最小にしてから記録パルスの エッジ位置を決定できるので、 再生信号の歪みが減少し、 情報をより正 確に記録することができる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記記録パワーを示す 情報を読み込み、 該情報を初期値とし、
前記情報に基づき、前記所定の記録パワーを決定することが好ましい。 この方法によれば、 読み込んだ情報を記録パワーの初期値とすること ができ、 テスト記録に要する時間を一層短縮することができる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記記録パワーの適 正値を、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録する ことが好ましい。 この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこ の新たな記録パワー適正値を読み込んで初期値とすることができ、 次回 のテスト記録に要する時間を短縮することできる。
また、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ 位置を示す情報と前記後端パルスエツジ位置を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエツジ位置とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 読み込んだ情報を前端パルスエッジ位置と後端パ ルスエツジ位置の初期値とすることができ、 記録パワー算出の誤差を少 なくすることができる。
さらに、 前記第 2の光学的情報記録方法において、 前記前端パルスェ ッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、 前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、 これらの新たな前端パルスエッジ位置の適正値と後端パルスエッジ位置 の適正値とを読み込んで初期値とすることができ、 次回のテスト記録に 要する時間を短縮することできる。
また、 前記の目的を達成するために、 本発明に係る第 3の光学的情報 記録方法は、 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する 前にテスト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であつ て、
前スペース長と自己マーク長の組み合わせテ一ブルによって定められ た所定の前端パルスエッジ位置、 および自己マーク長と後スペース長の 組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエツジ位置を 初期値として、 前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ 位置のうち少なくともいずれか一つを変化させてランダムパターン信号 を記録し （ a )、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビッ ト エラーレ一トを測定し （b )、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートの結果に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ位 置を補正する （c )
ことを特徴とする。
この方法によれば、 実際の情報信号に即した前端パルスエッジ位置お よび後端パルスエツジ位置の補正ができるので、 より正確に情報信号を 記録することが可能となる。
前記第 3の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a ) に先立 つて、
前記所定の前端パルスエツジ位置および前記所定の後端パルスエッジ 位置に基づきランダムパターン信号を記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ ト エラーレートを測定し、
前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以上か否かを判定 し、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 前記ステップ （a ) から （ c ) を実行することが好ましい。 この方法によれば、 初期状態で前端パルスエッジ位置および後端パル スエッジ位置が十分に補正された光ディスクに対しては、 実際に情報信 号を記録できる状態になるまでの時間を短縮することができる。
また、 前記第 3の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエッジ 位置を示す情報と前記後端パルスエッジ位置を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエツジ位置とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 読み込んだ情報を前端パルスエツジ位置と後端パ ルスエツジ位置の初期値とすることができ、 テスト記録に要する時間を 一層短縮することができる。
また、 前記第 3の光学的情報記録方法において、 補正した前記前端パ ルスエッジ位置および補正した前記後端パルスエッジ位置を、 前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこ れらの新たな前端パルスエッジ位置の適正値と後端パルスエッジ位置の 適正値とを読み込んで初期値とすることができ、 次回のテスト記録に要 する時間を短縮することできる。
また、 前記第 3の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a ) において、 前記前端パルスェッジ位置および前記後端パルスェッジ位置 のうちいずれか一つを変化させてランダムパターンを記録し、
前記組み合わせテーブル中の複数の要素に対して、 前記ステップ（a ) から （c ) を繰り返し実行することが好ましい。
この方法によれば、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位 置の補正に要する時間を短くできる。
また、 前記の目的を達成するために、 本発明に係る第 4の光学的情報 記録方法は、 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する 前にテスト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であつ て、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められ た所定の前端パルスエツジ位置、 および自己マーク長と後スペース長の 組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエツジ位置に 基づいて、 第 3のテストパターン信号を記録し （ a )、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅の適正値を決定する （b )
ことを特徴とする。
この方法によれば、 光ディスクごとに異なる走査方向の熱特性に起因 した記録マークの歪みを最小にできるので、 再生信号の歪みが減少し、 情報をより正確に記録することができる。
前記第 4の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （b ) の後に、 第 1のテストパターン信号を記録し、
再生した前記第 1のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し、 前記測定の結果に基づき、 前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記 後端パルスエツジ位置の適正値とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 記録マークの歪みを最小にしてから記録パルスの エッジ位置を決定できるので、 再生信号の歪みが減少し、 情報をより正 確に記録することができる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルス幅を示 す情報と前記後端パルス幅を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初 期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルス幅と前記所定の後端パルス 幅とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 読み込んだ情報を前端パルス幅と後端パルス幅の 初期値とすることができ、 テスト記録に要する時間を一層短縮すること ができる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 決定した前記前端パ ルス幅の適正値と前記後端パルス幅の適正値とを、 前記光学的情報記録 媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこ れらの新たな前端パルス幅の適正値と後端パルス幅の適正値とを読み込 んで初期値とすることができ、 次回のテスト記録に要する時間を短縮す ることできる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 あらかじめ前記光学 的情報記録媒体上の所定の領域に記録されている前記前端パルスエツジ 位置を示す情報と前記後端パルスエツジ位置を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パ ルスエツジ位置の適正値とを決定することが好ましい。
この方法によれば、 読み込んだ情報を前端パルスエッジ位置と後端パ ルスエツジ位置の初期値とすることができ、 テスト記録に要する時間を 一層短縮することができる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 前記前端パルスエツ ジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときにこ れらの新たな前端パルスェッジ位置の適正値と後端パルスェッジ位置の 適正値とを読み込んで初期値とすることができ、 次回のテスト記録に要 する時間を短縮することできる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 前記ステップ （a ) において、 前記前端パルス幅および前記後端パルス幅のいずれかを変化 させて、 前記第 3のテストパターン信号を記録し、
前記ステップ （b ) において、 前記第 3のテストパターンを再生して 得た再生信号の前端間ジッタと後端間ジッ夕を独立に測定し、 前記ジッ 夕を測定した結果に基づき、 前記前端パルス幅および前記後端パルス幅 を補正することが好ましい。
この方法によれば、 前端パルス幅および後端パルス幅を容易に決定す ることができる。
また、 前記第 4の光学的情報記録方法において、 前記第 3のテストパ 夕一ンは単一周期信号パターンであることが好ましい。
この方法によれば、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位 置の影響を受けずに記録パルス幅を決定することができる。
また、 前記第 1から第 4の光学的情報記録方法において、 テスト記録 を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的情報記録媒体上の 所定の領域に情報として記録することが好ましい。
この方法によれば、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、 テスト記録を行った記録再生装置と略同一か否かを判別することができ， 略同一の場合には次回のテスト記録に要する時間を短縮することができ る。
また、 前記第 1から第 4の光学的情報記録方法において、 あらかじめ 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されており記録再生装置 を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルスエッジ位置と後端パルスエッジ 位置を示す情報、 前端パルス幅と後端パルス幅を示す情報、 および記録 パヮ一を示す情報の少なくともいずれか一つに関するテスト記録を省略 することが好ましい。
この方法によれば、 略同一の記録再生装置の場合には、 次回のテスト 記録に要する時間を短縮することができる。
さらに、 前記の目的を達成するために、 本発明に係る光学的情報記録 装置は、 前記第 1から第 4の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記 録媒体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、 前記記録再生 装置の調整時、 前記記録再生装置の起動時、 前記起動時から一定時間経 過した時、 光学的情報記録媒体の交換時、 光学的情報記録媒体のビッ ト エラ一レートが所定の値を越えた時、 前記光学的情報記録装置の使用環 境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイミングにおいて、 テスト記録を行うことを特徴とする。
この構成によれば、 記録再生装置の調整時にテスト記録を行うことに より、 光学的情報記録装置間の変動要素を補償できる。 また、 光学的情 報記録装置の起動時、 および前記起動時から一定時間経過した時にテス ト記録を行うことにより、 光学的情報記録装置自身の変動要素を補償す ることができる。 また、 光学的情報記録媒体の交換時にテスト記録を行 うことにより、 光学的情報記録媒体間の変動要素を補償することができ る。 また、 光学的情報記録媒体のビッ トエラ一レートが所定の値を越え た時にテスト記録を行うことにより、 光学的情報記録媒体自身の変動要 素を補償することができる。 さらに、 使用環境の温度が変化した時にテ スト記録を行うことにより、 光学的情報記録装置および光学的情報記録 媒体の温度依存性に起因する変動要素を補償することができる。
したがって、 上記方法によれば、 以下に列記する作用効果を奏する。 ( 1 ) ランダムパターンを記録し、 再生した情報のビッ トエラ一レー トが所定の値よりも高いときのみ、 エッジ位置決定用テストパターン信 号に基づいてテス卜記録することにより、 光ディスク上にあらかじめ記 録されている前端パルスェッジ位置および後端パルスェッジ位置が最適 な場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。 そのため、 同一の ディスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、 あるいは同一のディ スクを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテス 卜記録の時間を短縮することが可能となる。
( 2 ) まずランダムパターン信号を記録し、 再生した情報のビッ トェ ラ一レー卜が一定値よりも高いときのみ、 記録パワー決定用テストパ夕 —ン信号に基づいてテス卜記録することにより、 光ディスク上にあらか じめ記録されている記録パワーが最適な場合には余分なテスト記録工程 を経ることがない。 そのため、 同一のディスクを同一の記録再生装置に 再び導入する時、 あるいは同一のディスクを同等の性能を有する他の記 録再生装置に導入する時などにはテス ト記録の時間を短縮することが可 能となる。
( 3 ) エツジ位置決定用テストパターン信号の記録による前端パルス エツジ位置および後端パルスエツジ位置の決定後に、 さらにランダムパ ターンを記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を 調整することにより、 実際の情報信号に即した記録パルス条件の設定が できるので、 より正確に情報信号を記録することが可能となる。
( 4 ) エツジ位置決定用テストパターン信号の記録による前端パルス エツジ位置および後端パルスエツジ位置の決定に先だって、 パルス幅決 定用テストパターンを記録して前端パルス幅及び後端パルス幅を調整す ることにより、 光ディスクの熱的特性の相違に対応したパルス幅の設定 ができるので、 より正確に情報信号を記録することが可能となる。 図面の簡単な説明 図 1は、 本発明の第 1の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブ ロック図である。
図 2は、 前記第 1の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するた めのフローチャートである。
図 3 (a), 図 3 (b)、 図 3 (c )、 図 3 (d)、 および図 3 ( e ) は、 それぞれ、 記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号波形、 該信 号記録後のトラック 3 0 7の状態、 該トラックからの再生信号波形、 お よび該再生信号の 2値化信号波形を示す図である。
図 4は、 本発明の第 2の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブ ロック図である。
図 5は、 前記第 2の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するた めのフローチャートである。
図 6は、 本発明の第 3の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブ ロック図である。
図 7は、 前記第 3の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明するた めのフ口一チヤ一卜。
図 8は、 本発明の第 4の実施形態に係る記録再生装置の構成を示すブ ロック図である。
図 9 (a) は記録パルス波形を示し、 図 9 (b)、 図 9 (c)、 および 図 9 (d) は、 それぞれ、 最適な記録マーク、 トラック方向の熱伝導率 が高い場合に歪んだ記録マーク、 およびトラック方向の熱伝導率が低い 場合に歪んだ記録マークを示す図である。
図 1 0は、 前記第 4の実施形態に係る記録再生装置の動作を説明する ためのフローチャートである。
図 1 1 (a) および図 1 1 (b) は、 前記第 4の実施形態に係る記録 再生方法において、 それぞれ、 前端パルス幅 （F PW) と前端間ジッ夕 ( L E J ) の関係、 および後端パルス幅 （L P W) と後端間ジッタ （T E J ) の関係を示すグラフである。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の実施の形態について、 図面を参照しながら説明する。
(第 1の実施形態）
本実施形態は、 まずランダムパターン信号を記録し、 再生した情報の ビッ トエラーレートが所定の値よりも高いときのみ、 記録パルスエッジ 位置決定用テストパターン信号 （第 1のテストパターン信号） に基づい てテスト記録する方法をとることにより、 エッジ位置の初期値が最適な 場合には余分なテスト記録工程を経ることがないというものである。 図 1は、 この第 1の実施形態を実現するための記録再生装置 （光学的 情報記録装置） の概略構成を示すプロック図である。
本記録再生装置は、 光ディスク 1を用いて情報の記録再生を行う装置 であり、 光ディスク 1を回転させるスピンドルモ一夕 1 1 と、 レーザ光 源（図示せず）を備えて光ディスク 1の所望の箇所にレーザ光を集束させ る光ヘッ ド 1 0とを備えている。 この記録再生装置全体の動作は、 シス テム制御回路 2によって制御される。 このシステム制御回路 2の内部に は、 自己マークと前スペースの組み合わせに対する前端パルスエツジ位 置、 および自己マークと後スペースの組み合わせに対する後端パルスェ ッジ位置を補正するために、 組み合わせテーブルの情報を各要素ごとに 登録しておくテーブル登録メモリ 2 aを有している。 またシステム制御 回路 2の内部には、 前端パルスエツジ位置と後端パルスエツジ位置の補 正量を求めるために、 測定したマークエツジ間隔を蓄積しておくエッジ 間隔蓄積メモリ 2 bを有している。
この記録再生装置は、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ 位置を決定するために、 特定の周期を有する記録パルスエツジ位置決定 用テス トパターン信号を生成するテストパターン信号生成回路 4と、 ジ ッ夕またはビッ トエラ一レ一トを測定するために、 変調則に基づくほぼ すべてのパターンを含むランダムパターン信号を生成するランダムパ夕 ーン信号生成回路 3と、 記録する情報信号に対応した記録データ信号を 発生させる変調回路 5とを備えている。
この記録再生装置は、 記録モードに応じて送出する 3種の記録データ 信号を切り替える選択回路 6と、 記録データ信号に応じてレーザを駆動 するための記録パルス列を発生させる記録信号生成回路 7と、 この記録 信号生成回路 7が出力する記録パルス列の前端パルスエツジ位置および 後端パルスエツジ位置を調整する記録パルスエツジ調整回路 8とを備え ている。 この記録パルスエッジ調整回路 8は、 前端パルスおよび後端パ ルスそのものの位置を変化させてエツジ位置を調整する回路であっても よいし、 前端パルスの前端ェッジ位置および後端パルスの後端ェッジ位 置を変化させて （この場合、 それぞれ前端パルスの幅および後端パルス の幅が変化する） エツジ位置を調整する回路であってもよい。
さらに、記録パルスエツジ調整回路 8が出力する記録パルスに応じて、 光へッ ド 1 0内のレーザ光源を駆動させる電流を変調するためのレーザ 駆動回路 9が設けられている。
また、 上記記録再生装置は、 光ディスク 1から情報の再生を行う再生 手段として、 光ディスク 1からの反射光に基づく再生信号の波形処理を 行なう再生信号処理回路 1 2と、 再生信号のエッジの夕イミングを検出 するエッジタイミング検出回路 1 3と、 再生情報を得るための復調回路 1 5と、 ビッ トエラーレート （図中、 B E Rと略記する） 測定回路 1 4 と、ビッ トエラ一レ一トの大小を判定する判定回路 1 6とを備えている。 次に、 図 2のフローチャート、 および図 3の動作図を用いて、 本実施 形態の記録再生装置の動作について説明する。
図 2は本実施形態の動作を示すフローチヤ一トである。 図 3は本実施 形態の一部分の例である、 前スペース長 5 T—自己マーク長 3 Tの組み 合わせ （すなわち組み合わせテーブルの一要素） での前端パルスエッジ 位置の補正量を求める動作を説明する図である。 ここで Tはチャネルク ロック周期を表す。 図 3 (a) は記録パルスエッジ位置決定用テストパ ターン信号 （記録データ信号） 波形、 図 3 (b) はレーザを駆動する記 録パルス波形、 図 3 (c ) は上記記録パルスエッジ位置決定用テストパ 夕一ン信号が記録された後のトラック 3 0 7の状態、 図 3 (d) は上記 トラックを再生したときの再生信号波形、 図 3 (e) は再生信号の 2値 化信号波形を示す図である。 なお、 図 3において、 3 T、 1 0 Tの後に 付記する 「Μ」 はマークを、 5 T、 1 0 Tの後に付記する 「S」 はスぺ —スを、 「F EP」 は前端パルスエッジ位置を、 「B E P」 は後端パルス エツジ位置を示す。
テスト記録時には、 まず、 シーク動作工程ステップ 2 0 1 (以下、 S 2 0 1のように略記する） により、 システム制御回路 2の命令に基づい て光へッ ド 1 0が光ディスク 1上の所定のテストトラックにシ一クする エッジ位置設定工程 S 2 0 2により、 システム制御回路 2は前端パルス エッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値 （すなわち、 記録再生 装置があらかじめ備える値） を記録パルスエッジ調整回路 8に設定し、 パワー設定工程 S 2 0 3により、 レーザ駆動回路 9に対して記録パワー を設定する。
そしてランダムパターン信号送出工程 S 204により、 選択回路 6を 切り換えてランダムパターン信号生成回路 3からのランダムパターン信 号を記録信号生成回路 7へ記録データ信号として送出する。
記録動作工程 S 20 5では、 記録信号生成回路 7は、 記録データ信号 の信号反転間隔がチャネルク口ック周期 Tの何倍に相当するかを検出し. 記録マークの長さに応じて、 所定個数および所定幅の記録パルス列を所 定のタイミングで発生する。 そして記録パルスエッジ調整回路 8にて、 記録パルス列の前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置は設 定値に調整される。 レーザ駆動回路 9は、 記録パルスに応じてレーザ光 源を駆動する電流を変調し、 該当トラックへの記録を行う。 トラック上 にはランダムパターン信号の波形に応じてマークが記録される。
ランダムパターン信号の記録後は、 再生動作工程 S 2 0 6により、 光 ヘッ ド 1 0が該当のトラックを再生し、 再生信号処理回路 1 2が、 再生 信号のィコライズと 2値化とを行う。 B E R測定工程 S 2 0 7により、 ビッ トエラ一レ一ト測定回路 1 4が、 この 2値化信号波形をもとにして テスト信号のパターンと再生したデータパターンとを比較し、 ビッ トェ ラーレートを測定する。
そして B E R判定工程 S 2 0 8により、 判定回路 1 6にてビッ トエラ 一レートと B E R規定値とを比較し、 判定結果を示す情報をシステム制 御回路 2に送る。 ここで B E R規定値とは再生した情報のビッ トエラ一 レートが使用可能なレベルである値を示す。 この値は、 記録再生装置や 光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。
測定値が B E R規定値より低い場合にはテス卜記録を終了する。 これ により、 光ディスク上にあらかじめ記録されているエッジ位置が最適な 場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。 そのため、 同一のデ イスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、 あるいは同一のディス クを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテス卜 記録の時間を短縮することが可能となる。
測定したビッ トエラ一レートが B E R規定値よりも高い場合には、 前 端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置を補正するために以下 の工程を経る。
テストパターン信号送出工程 S 2 0 9により、 選択回路 6を切り換え てテストパターン信号生成回路 4からの記録パルスエツジ位置決定用テ ストパターン信号を記録信号生成回路 7へ送出する。 記録パルスエッジ 位置決定用テストパターン信号は組み合わせテーブル上の各要素の調整 に対応した特定の周期を有する記録デ一夕信号である。 この信号波形が 図 3 ( a ) に相当する。
記録動作工程 S 2 1 0により、 記録信号生成回路 7は、 この記録デー 夕信号を記録パルス列に変換する。 レーザ駆動回路 9は、 記録パルスェ ッジ調整回路 8を経た、 図 3 ( b ) のような記録パルス列に基づいてレ —ザの駆動電流を変調することにより、 テスト記録を該当トラックへ行 う。 記録後、 トラックの状態は図 3 ( c ) に示すようになる。
記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号の記録後は、 再生動 作工程 S 2 1 1により、 光ヘッ ド 1 0で該当トラックを再生する。 再生 信号の波形は図 3 ( d ) に示すようになる。 再生信号処理回路 1 2が、 再生信号のィコライズと 2値化とを行う。 2値化後の波形は図 3 ( e ) に示すようになる。 そしてタイミング測定工程 S 2 1 2により、 エッジ タイミング検出回路 1 3が、 2値化信号をスライスし、 信号反転間隔を 検出して、 記録マークエッジ間隔を測定する。 図 3に示す例では、 同図 ( e ) に示す 2値化信号の立ち上がりタイミングの間隔 Xを測定する。 測定された記録マークエッジ間隔は、 システム制御回路 2内のエッジ間 隔蓄積メモリ 2 bに蓄積される。 システム制御回路 2力 このメモリに 蓄積されているマークエツジ間隔の測定値の平均を算出する。
差分算出工程 S 2 1 3によりマークエッジ間隔の平均値と記録パルス エッジ位置決定用テス トパターン信号のエッジ間隔 （すなわち、 記録パ ルスエッジ位置決定用テストパターン信号の信号反転間隔）との差分（す なわちマークエッジのずれ量） を求める。 図 3の例では、 理想的な信号 反転間隔時間である 1 5 Tと Xとの差分を算出する。 差分判定工程 S 2 1 4により、 その差分が一定値より小さいか否かを判断する。 この場合 の一定値には、 例えば記録パルスエツジ調整回路 8における前端パルス エッジ位置または後端パルスエッジ位置の調整単位時間 （すなわち、 調 整ステップ） を用いる。
差分が一定値より大きい場合には、 エッジ位置再設定工程 S 2 1 5に より、 上記の差分をもとに前端パルスエツジ位置または後端パルスエツ ジ位置を決定し、 その決定したエツジ位置を記録パルスエツジ調整回路 8に設定する。 図 3の例では、 3 Tの記録パルス 3 0 1の前端エッジ位 置を決定する （なお、 この例では 3 Tの記録パルスは前端パルスと後端 パルスを重ねて単一のパルスで記録する形態となっている）。そして再度 S 2 0 9からの工程を繰り返す。
差分が一定値より小さい場合には、 記録パルスエツジ調整回路 8で設 定している前端パルスエッジ位置または後端パルスエツジ位置が、 所望 の位置に最も近いことに相当する。 したがって、 エッジ位置登録工程 S 2 1 6により、 システム制御回路 2は設定中のエッジ位置 （図 3の例で は前スペース長 5 T—自己マーク長 3 Tの組み合わせテ一ブルでの前端 パルスエツジ位置の要素） をエツジ位置情報としてシステム制御回路 2 内のテーブル登録メモリ 2 aに登録し、 この組み合わせテ一ブルの要素 に対するテスト記録を終了する。 テストパターン切り換え工程 S 2 1 8 により、 次の組み合わせテーブルの要素に対応する記録パルスエツジ位 置決定用テストパターン信号に切り替えて、 再度 S 2 0 9からの工程を 繰り返す。 テーブル要素判定工程 S 2 1 7により、 すべての組み合わせ テーブルの要素に対して S 2 0 9から S 2 1 8までを繰り返したか否か を判断し、 すべての要素についてエツジ位置の設定と登録が終了した後 テス卜記録を終了する。
以降、 実際に情報信号を記録するときには、 選択回路 6を変調回路 5 に接続するように切り換えて、 変調回路 5を経た情報信号に基づいて、 記録パルスを生成する。 そして記録パルスエツジ調整回路 8で設定され た前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置に従って記録を行 うので、 理想的なエツジ位置に記録マークを形成できる。
以上のような方法をとるのは、 ランダムパターン信号を記録した場合 にはビッ トエラーレートの大小だけでテーブル上のどの要素のエツジ位 置をどれだけ補正するべきかを容易に知ることができず、 一方、 特定の 周期を有する記録パルスエッジ位置決定用テストパターン信号を記録し た場合には実際に情報を正確に記録できるかどうかが、 すべてのテスト パターン信号に対するエッジ位置のずれ量を測定するまで知ることがで きないからである。
すなわち、 ランダムパターン信号には変調則に基づくほぼすベてのパ ターンの信号が含まれているので、 特定の自己マーク長および前スぺ一 ス長、 後スペース長の組み合わせに対する記録マークエッジのずれ量を 求めることが困難であるが、 実際に情報を正確に記録できるかどうかに ついてはジッタまたはビッ トエラーレートを測定することにより容易に 知ることができる。 これに対し、 特定の周期を有するテストパターンを 用いてテスト記録を行うと、 再生信号を測定して求めた記録マークエツ ジのずれ量から前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の適 正値を知ることができるが、 実際に情報を正確に記録できるかどうかに ついては、 一連のテストパターンを記録してすべての組み合わせテ一ブ ルの要素に対する記録マークエツジのずれ量を測定するまで知ることが できないからである。
このように本実施形態では、 まずランダムパターン信号を記録し、 再 生した情報のビッ 卜エラ一レ一トが一定値よりも高いときのみ、 記録パ ルスエッジ位置決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録するこ とにより、 記録再生装置が有する前端パルスエツジ位置および後端パル スエツジ位置の初期値が最適な場合には余分なテス卜記録工程を経るこ とがない。 そのため、 同一の光ディスクを同一の記録再生装置に再び導 入する時、 あるいは同一の光ディスクを同等の性能を有する他の記録再 生装置に導入する時などにはテス卜記録の時間を短縮することが可能と なる。 実際には、 個々の記録再生装置に対して特定の光ディスクを高い 頻度で使用することが多いため、 本実施形態を用いることにより、 テス ト記録時間が短縮できる点で特に大きな効果を得ることができる。 なお、 本実施形態において、 あらかじめ前端パルスエッジ位置および 後端パルスエツジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク 1上のディス ク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、 テス卜記録に先立って そのトラックを再生し、 システム制御回路 2が再生した情報をもとにし て、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を設定 することがより好ましい。 この方法にすることにより、 各々の光デイス クに対する前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の情報に 基づき初期値を設定することができるので、 テスト記録に要する時間を 一層短縮できる。
また、 本実施形態において、 終了後に決定した前端パルスエッジ位置 および後端パルスエツジ位置を光ディスク 1上のディスク管理領域等の 所定のトラックに再度記録することがより好ましい。 この方法にするこ とにより、 次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端 パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置を初期値として用いるこ とができ、 テスト記録に要する時間を短縮できる。
また、 本実施形態において、 あらかじめ記録パワーを示す情報をあら かじめ光ディスク 1上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録し ておき、 テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、 システム制御回 路 2が再生した情報をもとにして、 記録パワーの初期値を設定すること がより好ましい。 この方法にすることにより、 各々の光ディスクに対す る記録パワーの情報に基づき初期値を設定することができるので、 記録 パヮ一を決定するテスト記録に要する時間を一層短縮できる。
また、 ランダムパターン信号の送出については、 システム制御回路 2 にあらかじめランダムな記録情報を持たせ、 その記録情報を変調回路 5 で変調するような構成とすれば、 ランダムパターン信号生成回路 3を省 略することができ、 記録再生装置の構成を簡略化できるという点でより 好ましい。 あるいは、 本記録再生装置に接続された外部装置 （例えばコ ンピュー夕など） からランダムな記録情報をシステム制御回路 2に送出 させ、 その記録情報を変調回路 5で変調するような構成としても、 同様 の効果が得られる。
(第 2の実施形態）
以下、 本発明の第 2の実施形態について説明する。 本実施形態は、 ま ずランダムパターン信号を記録し、 再生した情報のビッ トエラーレート が所定の値よりも高いときのみ、 記録パワー決定用テストパターン信号 (第 2のテストパ夕一ン信号） に基づいてテスト記録する方法をとるこ とにより、 記録パワーの初期値が最適な場合には余分なテスト記録工程 を経ることがないというものである。
図 4は、このような第 2の実施形態を実現するための記録再生装置（光 学的情報記録装置） の概略構成を示すブロック図である。 本実施形態の 記録再生装置は、 システム制御回路 4 0 1内にてテーブル登録メモリ 2 aとエッジ間隔蓄積メモリ 2 bの代わりに、 決定した記録パワーを登録 するための記録パワー登録メモリ 4 0 1 aを設け、 エッジタイミング検 出回路 1 3を設けないことを除いて図 1に示した第 1の実施形態におけ る記録再生装置と同様のものである。 図 5のフローチャートを用いて、 システム制御回路 3 0 1によって制御される本実施形態の記録再生装置 の動作について説明する。
テスト記録時には、 まず、 シーク動作工程 S 5 0 1により、 システム 制御回路 2の命令に基づいて光へッ ド 1 0が光ディスク 1上の所定のテ スト トラックにシークする。 エッジ位置設定工程 S 5 0 2により、 シス テム制御回路 4 0 1は前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位 置の初期値 （すなわち、 記録再生装置があらかじめ備える値） を記録パ ルスエッジ調整回路 8に設定し、 パワー設定工程 S 5 0 3により、 レー ザ駆動回路 9に対して記録パワーの初期値を設定する。 そしてランダム パターン信号送出工程 S 5 0 4により、 選択回路 6を切り換えてランダ ムパターン信号生成回路 3からのランダムパターン信号を記録信号生成 回路 7へ記録データ信号として送出する。
記録動作工程 S 5 0 5により、 記録信号生成回路 7は、 記録データ信 号の信号反転間隔がチャネルク口ック周期 Tの何倍に相当するかを検出 し、 記録マークの長さに応じて、 所定個数および所定幅の記録パルス列 を所定の夕イミングで発生する。 そして記録パルスエツジ調整回路 8に て、 記録パルス列の前端パルス '後端パルスのエッジ位置は設定値に調 整される。 レーザ駆動回路 9は、 記録パルスに応じてレーザ光源を駆動 する電流を変調し、 該当トラックへの記録を行う。 トラック上にはラン ダムパターン信号の波形に応じてマークが記録される。
ランダムパターン信号の記録後は、 再生動作工程 S 5 0 6により、 光 ヘッ ド 1 0が該当のトラックを再生し、 再生信号処理回路 1 2が、 再生 信号のィコライズと 2値化とを行う。 B E R測定工程 S 5 0 7により、 ビッ トエラーレ一ト測定回路 1 4が、 この 2値化信号波形をもとにして テス卜信号のパターンと再生したデ一タパターンとを比較し、 ビッ トェ ラ一レートを測定する。
そして B E R判定工程 S 5 0 8により、 判定回路 1 6にてビッ 卜エラ 一レートと B E R規定値とを比較し、 判定結果を示す情報をシステム制 御回路 4 0 1に送る。 ここで B E R規定値とは再生した情報のビッ トェ ラーレートが使用可能なレベルである値を示す。 この値は、 記録再生装 置や光ディスクの記録マージン等を考慮して決定する。
測定値が B E R規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。 これ により、 光ディスク上にあらかじめ記録されている記録パワーが最適な 場合には余分なテスト記録工程を経ることがない。 そのため、 同一のデ ィスクを同一の記録再生装置に再び導入する時、 あるいは同一のディス クを同等の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト 記録の時間を短縮することが可能となる。 ここまでは第 1の実施形態と 同様である。
測定したビッ トエラーレートが B E R規定値よりも高い場合には、 新 たに記録パワーを決定するためのテスト記録工程を経る。この工程では、 低い記録パワーから高い記録パワーへと変化させて記録パワー決定用テ スト信号を記録し、 再生したテスト信号の B E Rが一定値以下となるし きい値を求めることにより記録パワーを決定している。 以下、 記録パヮ —を決定するためのテスト記録工程について具体的に説明する。
パワー設定工程 S 5 0 9により、 記録パワーをパワー調整範囲の最小 に設定するよう、 システム制御回路 4 0 1からレーザ駆動回路 9へ命令 が送られる。 テストパターン信号送出工程 S 5 1 0により、 選択回路 6 を切り換えて、 テス卜パターン信号生成回路 4からの記録パワー決定用 テストパターン信号を記録信号生成回路 7へ記録デ一夕信号として送出 する。 記録動作工程 S 5 1 1により、 記録信号生成回路 7は、 この記録デ一 夕信号を記録パルス列に変換する。 レーザ駆動回路 9は、 記録パルスェ ッジ調整回路 8を経た記録パルス列に基づいてレーザの駆動電流を変調 することにより、 テスト記録を該当トラックへ行う。
記録パワー決定用テストパターン信号の記録後は、 再生動作工程 S 5 1 2により、 光ヘッ ド 1 0で該当トラックを再生する。 再生信号処理回 路 1 2が、 再生信号のィコライズと 2値化とを行う。 そして B E R測定 工程 S 5 1 3により、 B E R測定工程 S 2 0 7により、 ビッ トエラ一レ 一ト測定回路 1 4が、 この 2値化信号波形をもとにしてテスト信号のパ ターンと再生したデ一夕パターンとを比較し、 ビッ トエラ一レートを測 定する。
そしてしきい値判定工程 S 5 1 4により、 判定回路 1 6にてビッ トェ ラーレートと B E Rしきい値とを比較し、 判定結果を示す情報をシステ ム制御回路 4 0 1に送る。 ここで B E Rしきい値とは最適な記録パワー を算出するための基準となる値を示す。 この値は、 記録再生装置ゃ光デ イスクの記録マージン等を考慮して決定する。
B E Rがしきい値より大きい場合には、 記録パワー再設定工程 S 5 1 5により、 システム制御回路 4 0 1が所定分増加させた記録パヮ一をレ —ザ駆動回路 9に対して設定する。 そして再度 S 5 1 0からの工程を繰 り返す。
B E Rがしきい値を下回った場合には、 記録パワー算出工程 S 5 1 6 により、 システム制御回路 4 0 1は設定中の記録パワーから最適な記録 パワーを算出する。 通常、 この算出には、 B E Rがしきい値を下回った 記録パヮ一に一定値を乗じて最適な記録パワーとする方法が用いられる。 そして、 最適な記録パワーを記録パワー情報としてシステム制御回路 2 内の記録パワー登録メモリ 4 0 1 aに登録し、 記録パワーに対するテス ト記録を終了する。
以降、 実際に情報信号を記録するときには、 選択回路 6により変調回 路 5に接続するように切り換えて、 変調回路 5を経た情報信号に基づい て、 記録パルスを生成する。 記録パヮ一登録メモリ 4 0 1 aに登録され た記録パワーに基づき、 システム制御回路 4 0 1がレーザ駆動回路 9に 設定した記録パワーに従って記録を行うので、 理想的な記録パワーで情 報の記録ができることになる。
以上に述べたように本実施形態では、 まずランダムパターン信号を記 録し、再生した情報のビッ 卜エラ一レ一卜が一定値よりも高いときのみ、 記録パヮ一決定用テストパターン信号に基づいてテスト記録することに より、 記録再生装置が有する記録パワーの初期値が最適な場合には余分 なテスト記録工程を経ることがない。 そのため、 同一の光ディスクを同 一の記録再生装置に再び導入する時、 あるいは同一の光ディスクを同等 の性能を有する他の記録再生装置に導入する時などにはテスト記録の時 間を短縮することが可能となる。 実際には、 個々の記録再生装置に対し て特定の光ディスクを高い頻度で使用することが多いため、 本実施形態 を用いることにより、 テスト記録時間が短縮できる点で特に大きな効果 を得ることができる。
また、 本実施形態において、 あらかじめ前端パルスエッジ位置および 後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク 1上のディス ク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、 テスト記録に先立って そのトラックを再生し、 システム制御回路 2が再生した情報をもとにし て、 前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の初期値を設定 することがより好ましい。 この方法にすることにより、 各々の光デイス クに対する前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の情報に 基づき初期値を設定することができる。 そのため、 記録再生装置の有す るエッジ位置情報の初期値よりも適正値に近いエッジ位置で、 記録パヮ 一決定用のテスト記録を行うことができる。 したがって、 前端パルスェ ッジ位置および後端パルスェッジ位置が適正値からずれることによる記 録パワー算出の誤差を少なくすることができる。
また、 本実施形態において、 あらかじめ記録パワーを示す情報をあら かじめ光ディスク 1上のディスク管理領域等の所定のトラックに記録し ておき、 テスト記録に先立ってそのトラックを再生し、 システム制御回 路 2が再生した情報をもとにして、 記録パワーの初期値を設定すること がより好ましい。 この方法にすることにより、 各々の光ディスクに対す る記録パワーの情報に基づき初期値を設定することができるので、 記録 パワーを決定するテスト記録に要する時間を一層短縮できる。
また、 本実施形態において、 終了後に決定した記録パワーを光デイス ク 1上のディスク管理領域等の所定のトラックに再度記録することがよ り好ましい。 この方法にすることにより、 次回この光ディスクを導入し たときにすでに決定された記録パワーを初期値として用いることができ, テスト記録に要する時間を短縮できる。
また、 ランダムパターン信号の送出については、 システム制御回路 2 にあらかじめランダムな記録情報を持たせ、 その記録情報を変調回路 5 で変調するような構成とすれば、 ランダムパターン信号生成回路 3を省 略することができ、 記録再生装置の構成を簡略化できるという点でより 好ましい。 あるいは、 本記録再生装置に接続された外部装置 （例えばコ ンピュー夕など） からランダムな記録情報をシステム制御回路 2に送出 させ、 その記録情報を変調回路 5で変調するような構成としても、 同様 の効果が得られる。
(第 3の実施形態）
以下、 本発明の第 3の実施形態について説明する。 図 6は、 第 3の実 施形態を実現するための記録再生装置 （光学的情報記録装置） の概略構 成を示すブロック図である。 本実施形態の記録再生装置は、 システム制 御回路 4 0 1内に仮補正値メモリ 6 0 1 aを有し、判定回路の代わりに、 B E R暫定値メモリ 6 0 2 aと比較器 6 0 2 bを持つ B E R比較回路 6 0 2を有することを除いて図 1に示した第 1の実施形態における記録再 生装置と同様のものである。 図 7のフローチャートを用いて、 システム 制御回路 2によって制御される本実施形態の記録再生装置の動作につい て説明する。
テスト記録時には、 まず、 第 1のテスト記録動作工程 S 7 0 1により、 第 1の実施形態で述べた方法で前端パルスエッジ位置および後端パルス ェッジ位置を決定し、 記録パルスェッジ調整回路 8に対し決定したエツ ジ位置を設定する。 ここまでは、 第 1の実施形態の S 2 0 1〜S 2 1 9 と同様である。 S 7 0 1の終了時点では、 テストパターンによるエッジ 位置の補正は、 テストパターンに含まれる特定のマーク長 · スペース長 の組み合わせに対して最適となっている。
しかしながら、 実際の情報信号は変調則に基づいたあらゆるパターン の信号 （すなわち、 ランダムパターンとほぼ同等の信号） から構成され ており、 テストパターンによって決定したエツジ位置とわずかに異なる 場合があることがわかった。 これを図 3を用いて具体的に説明する。 図 3の場合には、 5 Tスペース— 3 Tマークの組み合わせにおける 3 T記録パルス 3 0 1 (この例では 3 Tの記録パルスは前端パルスと後端 パルスを重ねて単一のパルスで記録する形態となっている） のエッジ位 置は、 1 0 Tスぺ一スー 1 0 Tマーク一 5 Tスペース一 3 Tマ一クー 5 Tスペース一 1 0 Tマーク——という特定のマーク · スペースの配列の 場合のみに対して補正される。 しかし、 実際の情報信号では、 変調則に 基づいたすべてのマーク ' スペースの配列が存在しうる。 例えばエッジ 位置を補正したい 3 Tマーク 3 0 2の前にあるマーク 3 0 3や後ろにあ るマーク 3 0 4は 1 0 Τ以外の場合もあり得るし、 3 Τマ一ク 3 0 2の 後にあるスペース 3 0 5は 5 Τ以外の場合もあり得る。 そして、 これら マーク 3 0 3 、 3 0 4やスペース 3 0 5の変動のために、 3 Τマーク 3 0 2自身に与えられる熱的な影響もわずかに変動する。 その結果、 実際 の情報信号で最適な前端パルスエツジ位置はテス卜パターンによって決 定したエツジ位置とは異なる場合が生じてくることになる。 これを実際 の情報信号の記録に即した前端パルスエッジ位置および後端パルスエツ ジ位置に調整するために、 以下の工程を実行する。
ランダムパターン信号送出工程 S 7 0 2により、 選択回路 6を切り換 えてランダムパターン信号生成回路 3からのランダムパターン信号を記 録信号生成回路 7へ記録データ信号として送出する。
記録動作工程 S 7 0 3により、 記録信号生成回路 7は、 記録デ一夕信 号の信号反転間隔がチャネルク口ック周期 Τの何倍に相当するかを検出 する。 そして、 記録マークの長さに応じて、 所定個数および所定幅の記 録パルス列を所定のタイミングで発生する。 記録パルスエツジ調整回路 8にて、 記録パルス列の前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ 位置は設定値に調整される。 レーザ駆動回路 9は、 記録パルス列に応じ てレーザ光源を駆動する電流を変調し、 該当トラックへの記録を行う。 ランダムパターン信号の記録後は、 再生動作工程 S 7 0 4により、 光 ヘッ ド 1 0 9が該当のトラックを再生し、 再生信号処理回路 1 2が、 再 生信号のィコライズと 2値化とを行う。 B E R測定工程 S 7 0 5により、 ビッ トエラーレート測定回路 1 1 4力 テス卜信号のパターンと再生し たデ一夕パターンとを比較してビッ トエラ一レ一トを測定する。そして、 暫定値記憶工程 S 7 0 6により、 測定したビッ トエラーレートを B E R 比較回路 6 0 2内の B E R暫定値メモリ 6 0 2 aに暫定値として記憶し ておく。
次に、 エッジ位置変更工程 S 7 0 7により、 自己マーク長および前ス ペース長、 後スペース長の組み合わせからなる組み合わせテーブルの一 要素について前端パルスエツジ位置または後端パルスエツジ位置を変更 し、 記録パルスエッジ調整回路 8に対して変更したエッジ位置を設定す る。
ランダムパターン信号送出工程 S 7 0 8により、 選択回路 6を切り換 えてランダムパターン信号生成回路 3からのランダムパターン信号を記 録信号生成回路 7へ記録データ信号として送出する。 記録動作工程 S 7 0 9により、 上述と同様にして記録データ信号をもとにレーザ光源を駆 動し、 該当トラックへの記録を行う。
記録後、 再生動作工程 S 7 1 0により光ヘッ ド 1 0 9が該当のトラッ クを再生し、 再生信号処理を行う。 B E R測定工程 S 7 1 1によりビッ トエラ一レートを測定する。
ここで、 B E R判定工程 S 7 1 2により、 B E R比較回路 6 0 2内の 比較器 6 0 2 bにて、 測定したビッ トエラーレートを S 7 0 6で記憶し た B E R暫定値メモリ 6 0 2 a内の暫定値より低いか否かを判定する。 暫定値より低い場合は、 変更後の前端パルスエッジ位置 （または後端パ ルスエッジ位置） の方が変更前のエッジ位置よりも実際の情報信号 （こ れは、 ランダムパターン信号と同等） の記録にはより適していることに なるので、 仮補正値記憶工程 S 4 1 3により、 この前端パルスエッジ位 置 （または後端パルスエッジ位置） を仮の補正値としてシステム制御回 路 6 0 1内の仮補正値メモリ 6 0 1 aに記録しておく。 また、 B E R暫 定値記憶工程 S 7 1 4により、 このとき測定したビッ トエラーレートを 新たな暫定値として、 S 7 0 7で記憶した暫定値に代えて、 B E R暫定 値メモリ 6 0 2 aに記憶する。 測定したビッ トエラ一レ一卜が暫定値よ りも高い場合には S 7 1 3および S 7 1 4のステツプは行わない。
微調範囲判定工程 S 7 1 5により、 S 7 0 7〜S 7 1 4までのステツ プを該当要素の調整範囲で前端パルスエッジ位置 （または後端パルスェ ッジ位置） を変化させて繰り返す。 調整範囲をすベて試した後、 エッジ 位置登録工程 S 7 1 6により、 S 7 1 3にて仮補正値メモリ 6 0 1 aに 記憶した仮の補正値を新たな前端パルスエツジ位置 （または後端パルス エッジ位置） として決定し、 システム制御回路 3 0 1内のテ一ブル登録 メモリ 2 aに登録する。 これは、 ビッ トエラ一レートが最も小さくなる ように該当要素の前端パルスエツジ位置（または後端パルスエツジ位置） を設定することに相当する。 S 7 1 4で記憶したビッ トエラ一レート値 はそのまま保持する。 そして、 テーブル要素切り換え工程 S 7 1 8にて エッジ位置を変更する対象を別のテーブル要素に切り替えて、 同様に S 7 0 8〜S 7 1 6間でのステップを繰り返す。 そしてテーブル要素判定 工程 S 7 1 7により、 すべてのテーブル要素に対して前端パルスエッジ 位置 （または後端パルスエッジ位置） の調整を行ったか否かを判定し、 すべてのテーブル要素について前端パルスエッジ位置および後端パルス エッジ位置を設定および登録した後テスト記録を終了する。
以降、 実際に情報信号を記録するときには、 選択回路 6を変調回路 5 を接続するように切り換えて、 変調回路 5を経た情報信号に基づいて、 記録パルスを生成する。 そして記録パルスエッジ調整回路 8で設定され た前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置に従って記録を行 うので、 理想的なエッジ位置に記録マークを形成できる。
以上に述べたように本実施形態では、 テストパターン記録による前端 パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の決定後に、 さらにラン ダムパターン信号を記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスェ ッジ位置を補正することにより、 実際の情報信号に即したエッジ位置の 設定ができるので、 より正確に情報信号を記録することが可能となる。 なお、 本実施形態では、 第 1のテスト記録工程 S 7 0 1の後に必ずラ ンダムパターン信号を記録して S 7 0 7以降のエッジ位置の調整を行つ た力 B E R測定工程 S 7 0 5の後で B E R比較回路 6 0 2がビッ 卜ェ ラ一レートと B E R規定値とを比較し、 判定結果を示す情報をシステム 制御回路 2に送るようにして S 7 0 7以降を実行するか否かを決定して もよい。 ここで B E R規定値とは再生した情報のビッ トエラーレー卜が 使用可能なレベルである値を示す。 この値は、 記録再生装置ゃ光デイス クの記録マージン等を考慮して決定する。 判定結果に基づき、 測定値が B E R規定値より低い場合にはテスト記録を終了する。 この方法にする ことにより、 第 1のテスト記録工程 S 7 0 1のみで十分 B E Rが低い場 合には S 7 0 7以降の工程が省略できるのでテスト記録に要する時間を 短縮することができる。
また、 本実施形態において、 第 1のテスト記録工程 S 7 0 1を実行し ない代わりに、 あらかじめ前端パルスエッジ位置および後端パルスエツ ジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク 1上のディスク管理領域等の 所定のトラックに記録しておき、 テスト記録に先立ってそのトラックを 再生し、 システム制御回路 2が再生した情報をもとにして、 S 7 0 2以 降で前端パルスエツジ位置および後端パルスエッジ位置を補正する場合 の初期値を記録パルスエッジ調整回路 8に与えるようにしてもよい。 こ の方法は、 各々の光ディスクに対する前端パルスエッジ位置および後端 パルスエツジ位置の情報が比較的適正値に近い場合 （すなわち記録再生 装置のばらつきが少ない場合） には、 第 1のテストパターンによるテス ト記録工程を省略できるので、 テスト記録に要する時間を一層短縮でき る。
また、 本実施形態において、 終了後に決定した前端パルスエッジ位置 および後端パルスエツジ位置を光ディスク 1上のディスク管理領域等の 所定のトラックに再度記録することがより好ましい。 この方法にするこ とにより、 次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端 パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置を初期値として用いるこ とができ、 テスト記録に要する時間を短縮できる。
また、 必ずしもすべての組み合わせテーブル要素についてランダムパ ターン信号を記録して前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位 置を調整しなくともよい。 たとえば、 自己マークと短い前スペースの組 み合わせで定められる組み合わせテ一ブル要素での前端パルスエツジ位 置は特に前マークを記録するときの熱干渉の影響を受けやすい。 また、 自己マークと短い後スペースの組み合わせで定められる組み合わせテー ブル要素での後端パルスエツジ位置は特に後マークを記録するときの熱 干渉の影響を受けやすい。 したがって、 テーブル中のこれら一部の要素 についてのみ、 ランダムパターン信号の記録により前端パルスエッジ位 置または後端パルスエッジ位置を調整しても、 実際の情報信号に即した エツジ位置の設定ができるという効果を得られる。
また、 本実施形態を、 同時に複数の要素に対する前端パルスエッジ位 置および Zまたは後端パルスエツジ位置を調整する方法としてもよい。 ただし、 同時に複数の要素を調整すると調整の組み合わせ数が増加する ので、 組み合わせテーブル中の各要素の一つずつに対する前端パルスェ ッジ位置または後端パルスエツジ位置を一定範囲で変化させて調整する 方法のほうが、 テスト記録に要する時間を短くできる点で好ましい。
(第 4の実施形態）
図 8は、 本発明の第 4の実施形態における記録再生装置 （光学的情報 記録装置） の概略構成を示すブロック図である。 本実施形態の記録再生 装置は、 ランダムパターン信号生成回路 3を設けず、 システム制御回路 8 0 1内にパルス幅登録メモリ 8 0 1 aおよび仮補正値メモリ 8 0 1 b を備え、記録信号生成回路 7の後に記録パルス幅調整回路 8 0 2を設け、 B E R測定回路 1 1 4の代わりにジッタ測定回路 8 0 3を用い、 判定回 路の代わりにジッ夕暫定値メモリ 8 0 4 aおよび比較器 8 0 4 bを持つ ジッ夕比較回路 8 0 4を備えていることを除いて図 1に示した第 1の実 施形態における記録再生装置と同様のものである。
従来のテスト記録では、 前端パルスの幅および後端パルスの幅を調整 しない状態でエッジ位置が調整されていた。 しかし、 ディスクの熱的特 性のばらつきにより、 同じ前端パルスの幅および同じ後端パルス幅で記 録しても、 ディスクによっては記録マークが前部と後部で非対称な形状 に歪む場合があることがわかった。 これについて図 9を用いて具体的に 説明する。
図 9は従来の記録再生方法における、 記録パルス波形と記録マークの 関連を示す図である。 図 9 ( a ) は記録パルス波形、 図 9 ( b ) は最適 なマーク形状で記録された場合のトラック上の記録マーク 9 0 4、 図 9 ( c ) および図 9 ( d ) は、 それぞれ、 歪んだ形状で記録された場合の トラック上の記録マーク 9 0 5および 9 0 6を示す。
図 9 ( b ) に示すようなマーク 9 0 4の形状で記録するために、 記録 パルス列 9 0 3の前端パルス 9 0 1の幅を太く、 中間のパルスの幅およ び後端パルス 9 0 2の幅は細くする方法が従来から用いられている。 し かし、 マークの形状が歪まないパルス幅はディスクの熱的特性によって 異なる。 そのため、 どのようなディスクに対しても同じ前端パルス幅 9 0 1 '後端パルス幅 9 0 2で記録すると、 ディスクによって記録された マークの歪みかたが異なってくる。 たとえば、 トラック方向の熱伝導率 が高いディスクに記録した場合には、 図 9 ( c ) に示すようにマーク 9 0 5の後部が大きくなる。 逆に、 トラック方向の熱伝導率が低いディス クに記録した場合には、 図 9 ( d ) に示すようにマーク 9 0 6の前部が 大きくなる。 図 9 ( c ) や図 9 ( d ) に示すような、 歪みの大きなマー クで記録されるディスクでは再生信号のジッ夕が増大する原因となる。 本実施形態では、 これを回避するために以下に述べる方法を用いる。 以下、 図 1 0のフローチャートを用いて、 システム制御回路 8 0 1に よって制御される本実施形態の記録再生装置の動作について説明する。 テスト記録時には、 まず、 シーク動作工程 S 1 0 0 1により、 光へッ ド 1 0が光ディスク 1上の所定のテス卜 トラックにシークする。 パワー 設定動作 S 1 0 0 2により、 システム制御回路 8 0 1はレーザ駆動回路 9に対して記録パワーを設定し、 パルス幅設定動作 S 1 0 0 3により、 前端パルスおよび後端パルス幅の初期値 （すなわち、 記録再生装置があ らかじめ備える値） を記録パルス幅調整回路 8 0 2に設定する。 エッジ 位置設定工程 S 1 0 0 4により、 システム制御回路 2はエッジ位置の初 期値を記録パルスエッジ調整回路 8に設定する。 次に、 テストパターン 信号送出工程 S 1 0 0 5により、 テストパターン信号生成回路 4がパル ス幅決定用テストパターン信号（第 3のテストパターン信号） を生成し、 記録信号生成回路 7へ記録データ信号として送出する。 このパルス幅決 定用テストパターンは単一周期のパターンであることが、 前端パルスェ ッジ位置および後端パルスエツジ位置の適正値からのずれによるジッ夕 増加の影響を受けずに記録パルス幅を決定することができる点からより 好ましい。
記録動作工程 S 1 0 0 6により、 記録信号生成回路 7は、 記録データ 信号の信号反転間隔がチャネルクロック周期 Tの何倍に相当するかを検 出する。 そして、 記録マークの長さに応じて、 所定個数および所定幅の 記録パルスを所定のタイミングで発生する。 記録パルス幅調整回路 8 0 2にて、 記録パルス列の前端パルス ·後端パルスの幅が初期値に設定さ れ、 記録パルスエッジ調整回路 8にて、 記録パルス列の前端パルス ' 後 端パルスのエッジ位置が初期値に設定される。 レーザ駆動回路 9は、 記 録パルスに応じてレーザ光源を駆動する電流を変調し、 該当トラックへ の記録を行う。
テストパターン信号の記録後は、 再生動作工程 S 1 0 0 7により、 光 ヘッ ド 1 0 9が該当のトラックを再生し、 再生信号処理回路 1 2が、 再 生信号のィコライズと 2値化とを行う。 ジッ夕測定工程 S 1 0 0 8によ り、 ジッ夕測定回路 8 0 3力 再生信号のマーク前端間エッジのジッタ とマーク後端間エッジのジッ夕を測定する。 そして、 ジッタ暫定値記憶 工程 S 1 0 0 9により、 測定したジッ夕をジッ夕比較回路 8 0 4内のジ ッ夕暫定値メモリ 8 0 4 aに暫定値として記憶しておく。
次に、 パルス幅変更工程 S 1 0 1 0にて、 システム制御回路 8 0 1が 前端パルスおよび/または後端パルスの幅を変更して、 記録パルス幅調 整回路 8 0 2に対しパルス幅を設定する。 テストパターン信号送出工程 S 1 0 1 1により、 選択回路 6を切り換えてテストパターン信号生成回 路 4からのパルス幅決定用テストパターン信号を記録信号生成回路 7へ 記録データ信号として送出する。 記録動作工程 S 1 0 1 2により、 上述 と同様にして記録データ信号をもとにレーザ光源を駆動し、 該当トラッ クへの記録を行う。
記録後、 再生動作工程 S 1 0 1 3により、 光ヘッ ド 1 0 9が該当のト ラックを再生し、 再生信号処理を行ってからジッ夕測定工程 S 1 0 1 4 によりジッ夕を測定する。 ここでジッ夕判定工程 S 1 0 1 5により、 ジ ッ夕比較回路 8 0 4内の比較器 8 0 4 bにて、 測定したジッタを S 1 0 0 8でジッ夕暫定値メモリ 8 0 4 aに記憶した暫定値より低いか否かを 判定する。 暫定値より低い場合は、 変更後のパルス幅の方が変更前のパ ルス幅よりも適していることになるので、 このパルス幅を仮のパルス幅 としてシステム制御回路 8 0 1内の仮補正値メモリ 8 0 1 bに記録して おく。 また、 ジッ夕暫定値記憶工程 S 1 0 1 7により、 このとき測定し たジッ夕の値をを新たな暫定値として、 S 1 0 0 7にて仮補正値メモリ に記憶した暫定値に代えてジッ夕暫定値メモリ 8 0 4 aに記憶する。 測 定したジッタが暫定値よりも高い場合には S 1 0 1 6および S 1 0 1 7 のステップは行わない。
S 1 0 1 0〜S 1 0 1 7までのステップを該当要素の調整範囲でエツ ジ位置を変化させて繰り返す。 設定範囲判定工程 S 1 0 1 8により、 調 整範囲をすベて試したか否かを判定する。 そして調整範囲をすベて試し た後、 S 1 0 1 6にて記憶した仮のパルス幅を新たなパルス幅として決 定する。 これは、 テストパターン信号に対しジッ夕が最も小さくなるよ うに前端パルスおよび後端パルスの幅を設定することに相当する。 これ を図 1 1を用いて具体的に説明する。
図 1 1 ( a ) は、 前端パルスの幅 （F P W) と再生信号の前端間エツ ジとのジッ夕 （L E J ) の関係を示す図である。 図 1 1 ( a ) のように 前端パルスの幅を変化させると、 記録マーク前部の形状が変化するので 前端間ジッ夕が変化する。 前端パルスの幅を小さくすると記録マーク前 部に与えられる熱量が減少するために記録マーク前部が後部に比べて小 さくなり、 記録マークの形状が歪んでジッ夕が増加する （すなわち、 記 録マーク前部が安定に記録できなくなる）。前端パルスの幅を大きくする と記録マーク前部に与えられる熱量が増加するために記録マーク前部が 後部に比べて大きくなり、 記録マークの形状が歪んでジッ夕が増加する (すなわち、 記録マーク前部を過剰な記録パワーで記録しているのと等 価である）。 したがって、 ジッ夕が最小となるように前端パルスの幅を y 1に調整すれば、 記録マーク前部の形状を最適にすることができる。 図 1 1 ( b ) は後端パルス幅 （L P W) と再生信号の後端間エッジと のジッタ （T E J ) の関係を示す図である。 前端パルスの場合と同様に して、 ジッ夕が最小となるように後端パルスの幅を y 2に調整すれば、 記録マーク後部の形状を最適にすることができる。 このように再生信号 の前端間ジッ夕および後端間ジッ夕を測定することにより、 前端パルス および後端パルスの幅の影響をほぼ独立に測定できるため、 それぞれの パルス幅を容易に決定することができるのでより好まレぃ。
この後は、 第 1のテスト記録動作工程 S 1 0 2 0により、 第 1の実施 形態で述べた方法で前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置 を設定し、 登録する。 これは、 第 1の実施形態の S 2 0 1〜 S 2 1 9と 同様である。 そしてテスト記録を終了する。
以降、 実際に情報信号を記録するときには記録パルス幅調整回路 8 0 2で設定した前端パルス幅 ·後端パルス幅および記録パルスエッジ調整 回路 8で設定した前端パルスエッジ位置 ·後端パルスエツジ位置に従つ て記録を行うので、 実際の情報信号の記録において理想的なエツジ位置 に歪みのない記録マークを形成できる。
以上に述べたように本実施形態では、 テストパターン記録による記録 パルスのエツジ位置の決定に先だって、 テストパターンを記録して前端 パルス幅及び後端パルス幅を調整することにより、 光ディスクの熱的特 性の相違に対応した記録パルス幅の設定ができるので、 より正確に情報 信号を記録することが可能となる。
また、 本実施形態において、 あらかじめ前端パルス幅および後端パル ス幅を示す情報をあらかじめ光ディスク 1上のディスク管理領域等の所 定のトラックに記録しておき、 テスト記録に先立ってそのトラックを再 生し、 システム制御回路 2が再生した情報をもとにして、 前端パルス幅 および後端パルス幅の初期値を設定することがより好ましい。 この方法 にすることにより、 各々の光ディスクに対する前端パルス幅および後端 パルス幅の情報に基づき初期値を設定することができるので、 テスト記 録に要する時間を一層短縮できる。
また、 本実施形態において、 終了後に決定した前端パルス幅および後 端パルス幅を光ディスク 1上のディスク管理領域等の所定の卜ラックに 再度記録することがより好ましい。 この方法にすることにより、 次回こ の光ディスクを導入したときにすでに決定された前端パルス幅および後 端パルス幅を初期値として用いることができ、 テスト記録に要する時間 を短縮できる。
また、 本実施形態において、 あらかじめ前端パルスエッジ位置および 後端パルスエッジ位置を示す情報をあらかじめ光ディスク 1上のディス ク管理領域等の所定のトラックに記録しておき、 テスト記録に先立って そのトラックを再生し、 システム制御回路 2が再生した情報をもとにし て、 前端パルスエッジ位置および後端パルスエッジ位置の初期値を設定 することがより好ましい。 この方法にすることにより、 各々の光デイス クに対する前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置の情報に 基づき初期値を設定することができるので、 テスト記録に要する時間を 一層短縮できる。
また、 本実施形態において、 終了後に決定した前端パルスエッジ位置 および後端パルスエッジ位置を光ディスク 1上のディスク管理領域等の 所定のトラックに再度記録することがより好ましい。 この方法にするこ とにより、 次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された前端 パルスエツジ位置および後端パルスエツジ位置を初期値として用いるこ とができ、 テスト記録に要する時間を短縮できる。
なお、 前記第 1の実施形態に先立って、 さらに第 2の実施形態のよう に、 まずランダムパターン信号を記録して、 再生した情報のビッ トエラ 一レートが一定値よりも高いときのみ記録パワー決定用テス卜パターン 信号に基づいてテスト記録して記録パワーを決定することが、 記録パヮ 一についても最適に決定できる点でより好ましい。 このとき、 終了後に、 決定した記録パワーを光ディスク 1上のディスク管理領域等の所定のト ラックに再度記録することがより好ましい。この方法にすることにより、 次回この光ディスクを導入したときにすでに決定された記録パワーを初 期値として用いることができ、 テスト記録に要する時間を短縮できる。
また、 前記第 2の実施形態に先立って、 さらに第 1の実施形態のよう に、 まずランダムパターン信号を記録して、 再生した情報のビッ トエラ 一レー卜が一定値よりも高いときのみ、 エツジ位置決定用テストパ夕一 ン信号に基づいてテスト記録して、 前端パルスエッジ位置および後端パ ルスエツジ位置を決定することが、 各エツジ位置についても最適に決定 できる点でより好ましい。 この方法にすることにより、 次回この光ディ スクを導入したときにすでに決定された前端パルスエッジ位置および後 端パルスエッジ位置を初期値として用いることができ、 テスト記録に要 する時間を短縮できる。
また、 前記第 1または第 2の実施形態の後に、 さらに第 3の実施形態 のように、 ランダムパターン信号を記録してビッ トエラ一レートを測定 し、 その結果に基づいて前端パルスエツジ位置および後端パルスエツジ 位置を補正することにより、 実際の情報信号に即した前端パルスエツジ 位置および後端パルスエッジ位置の決定ができるので、 より正確に情報 信号を記録することが可能となる。 さらに、 これらの実施形態の後に、 第 4の実施形態のように、 パルス幅決定用テストパターン信号を記録し てその再生結果に基づき前端パルス幅および後端パルス幅を調整すれば, 光ディスクの熱的特性のばらつきに対応してさらに正確に情報信号を記 録できる点でより好ましい。
また、 前記第 1の実施形態においてエッジ位置決定用テストパターン 信号を記録する前に、 さらに第 4の実施形態のように、 パルス幅決定用 テストパターン信号を記録してその再生結果に基づき前端パルス幅およ び後端パルス幅を調整することで、 光ディスクの熱的特性のばらつきに 対応した記録パルス幅の設定ができ、 より正確に情報信号を記録できる 点でより好ましい。 さらにこれらの実施形態に先だって第 2の実施形態 を行い、 これらの実施形態の後に第 3の実施形態を行えば、 ほぼ完全に 記録条件を求めることができる。
また、 前記第 2の実施形態においてエッジ位置決定用テストパターン 信号を記録する前に、 さらに第 4の実施形態のように、 パルス幅決定用 テストパターン信号を記録してその再生結果に基づき前端パルス幅およ び後端パルス幅を調整することで、 光ディスクの熱的特性のばらつきに 対応した記録パルス幅の設定ができ、 より正確に情報信号を記録できる 点でより好ましい。 さらにこれらの実施形態に先だって第 1の実施形態 を行い、 これらの実施形態の後に第 3の実施形態を行えば、 ほぼ完全に 記録条件を求めることができる。
なお、 前記第 1ないし第 4の実施形態において、 テスト記録を行った 記録再生装置を識別する情報を、 光ディスク上のディスク管理領域等の 所定の領域に情報として記録することがより好ましい。この方法により、 次回この媒体を記録再生装置に導入したときに、 テスト記録を行った記 録再生装置と略同一か否かを判別することができ、 略同一の場合には次 回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。 ここで略同一と は、 同一の記録再生装置または同等の記録再生装置（製造者が同一など） を意味する。
また、 前記第 1から第 4の実施形態において、 あらかじめ光ディスク 上のディスク管理領域等の所定の領域に記録されている、 記録再生装置 を識別する情報を読み込み、 識別した記録再生装置とテス卜記録を行う 記録再生装置が略同一か否かを判別し、 識別した記録再生装置とテス卜 記録を行う記録再生装置が略同一の場合には前端パルスエツジ位置およ び後端パルスエッジ位置を示す情報、 前端パルス幅および後端パルス幅 を示す情報、 記録パワーを示す情報の少なくともいずれか一つのテスト 記録を省略することがより好ましい。 この方法により、 略同一の記録再 生装置の場合には、 光ディスクから読み出した前端パルスエッジ位置お よび後端パルスエツジ位置を示す情報、 前端パルス幅および後端パルス 幅を示す情報、 記録パワーを示す情報をそのまま適正値として用いるこ とにより、 次回のテスト記録に要する時間を短縮することができる。 なお、 前記第 1から第 4の実施形態において、 テスト記録を行うのが 望ましいタイミングは、 少なくとも、 記録再生装置の調整時、 記録再生 装置の起動時、 前記起動時から一定時間経過した時、 光ディスクの交換 時、 光ディスクのビッ トエラーレートが所定の値を越えた時、 使用環境 の温度が変化した時である。
記録再生装置の調整時にテスト記録を行うことにより、 記録再生装置 間の変動要素を補償できる。 また、 記録再生装置の起動時、 および前記 起動時から一定時間経過した時にテスト記録を行うことにより、 記録再 生装置自身の変動要素を補償できる。 また、 光ディスクの交換時にテス ト記録を行うことにより、 光ディスク間の変動要素を補償できる。 また、 光ディスクのビッ トエラーレートが所定の値を越えた時にテスト記録を 行うことにより、 光ディスク自身の変動要素を補償できる。 また、 使用 環境の温度が変化した時にテスト記録を行うことにより、 記録再生装置 および光ディスクの温度依存性に起因する変動要素を補償できる。
また、 前記第 1または第 3、 第 4の実施形態においては、 記録パルス のエッジ位置を決定するために、 ある特定のテスト信号を記録して測定 した記録マークのエツジ間隔と最適なエツジ間隔との差分をエツジ位置 調整回路で補正する方法とした。 しかし、 記録パルスのエッジ位置を段 階的に変化させた複数種類のテスト信号を記録してそれぞれのテスト信 号について記録マークのエツジ間隔を測定し、 最もずれ量の小さいエツ ジ間隔が得られたテスト信号における記録パルスのエッジ位置を、 最適 値としてエッジ位置調整回路に設定する方法でも同様の効果が得られる < また、 前記第 1から第 4の実施形態においては、 記録マークのエッジ 間隔の測定をエツジタイミング検出回路で行い、 測定したエツジ間隔の 蓄積および平均値の算出をシステム制御回路にて行ったが、 これらの処 理を、 例えばタイムインターバルアナライザ等の、 本記録再生装置の外 部の測定器にて行ってもよい。
また、 前記第 1から第 3の実施形態においては、 パルスエッジ位置決 定用テストパターン信号、 記録パワー決定用テストパターン信号、 およ びパルス幅決定用テストパターン信号を発生させるために、 それらのテ ストパターン信号を格納した R O M等からなるテスト信号生成回路 4を 設けたが、 システム制御回路から特定の情報信号を発生させて変調した 信号をテストパターン信号としても良い。 これにより、 テスト信号生成 回路を別途設ける必要がなくなるので、 装置の小型化を図れる。 さらに、 このテストパターン信号にエラ一訂正符号の付加ゃィン夕ーリーブ処理 が行われたものでもよく、 ビッ トエラーレートは、 復調およびエラ一訂 正後に測定されるものであってもよい。
また、 上記の光ディスクは相変化材料、 光磁気材料や色素材料等、 記 録マークと非マーク部 （スペース部） で光学的特性の異なる媒体であれ ばいずれも上記の方法を適用することができる。
また、 上記の変調方式、 各パルスの長さ ·位置、 テストパターン信号 の周期等は本実施形態で示したものに限るわけではなく、 記録条件ゃ媒 体に応じて適切なものを設定することが可能なことは言うまでもない。 さらに、ビッ トエラ一レートの測定はジッ夕の測定に置き換えてもよく ジッ夕の測定はビッ トエラーレー卜の測定に置き換えてもよい。

Claims

請求の範囲
1 . 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテス ト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められ た所定の前端パルスエツジ位置と、 自己マーク長と後スペース長の組み 合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエツジ位置とに基 づいて、 ランダムパターン信号を記録し （ a )、
再生した前記ランダムパ夕一ン信号のジッ夕またはビッ トエラ一レー トを測定し （b )、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以上か否 かを判定し （c )、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 第 1のテストパターン信号を記録し （d )、
再生した前記第 1のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し （e )、 測定した前記エツジ間隔に基づき、 前記前端パルスエツジ位置の適正 値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定する （ f )
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
2 . 前記ステップ （ a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエツジ位置と前記所定の後端パルスエツジ位置 に基づき、 所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、 再生した前記ランダムパターン信号のジッ夕またはビッ トエラーレー トを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以 上の場合、 前記前端パルスエツジ位置と前記後端パルスエツジ位置とを 所定の値に設定して、 第 2のテストパターン信号を記録し、
前記第 2のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 記録パワー の適正値を決定した後、
前記ステップ （a) から （ f ) を実行することを特徴とする請求項 1 記載の光学的情報記録方法。
3. 前記ステップ （ f ) にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正 値および前記後端パルスエッジ位置の適正値を初期値として、 前記前端 パルスェッジ位置および前記後端パルスェッジ位置のうち少なくとも一 つを変化させてランダムパターンを記録し （a— 1 )、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビッ ト エラーレートを測定し （b— 1)、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラ一レー卜の結果に基づき、 前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスエッジ位置の 適正値とを補正して新たに決定する （c一 1 ) ことを特徴とする請求項 2記載の光学的情報記録方法。
4. 前記ステップ （a— 1) に先立って、
前記ステップ （ f ) にて決定した前記前端パルスエッジ位置の適正値 および前記後端パルスエッジ位置の適正値に基づいてランダムパターン を記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッタまたはビッ ト エラーレートを測定し、
測定した前記ジッタまたは前記ビッ トエラーレ一卜が一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッタまたは前記ビッ トエラ一レートが一定値以 上の場合、 前記ステップ （a— 1) から （c一 1 ) を実行することを特 徴とする請求項 3記載の光学的情報記録方法。
5 . 前記ステップ （c— 1 ) の後に、
補正した前記前端パルスエッジ位置の適正値および前記後端パルスェ ッジ位置の適正値に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項 4記載の光学 的情報記録方法。
6 . 前記ステップ （a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエツジ位置および前記所定の後端パルスエッジ 位置に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項 1記載の光学 的情報記録方法。
7 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されてい る前記前端パルスエッジ位置を示す情報と、 前記後端パルスエッジ位置 を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエッジ位置とを決定することを特徴とする請求項 1記載の光学 的情報記録方法。
8 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されてお り記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルスエッジ位置を示す情報と後端パ ルスエッジ位置を示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴と する請求項 7記載の光学的情報記録方法。
9 . 前記前端パルスエツジ位置の適正値と前記後端パルスエツジ位置の 適正値とを、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録 することを特徴とする請求項 1記載の光学的情報記録方法。
1 0 . テス ト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 9記載の光学的情報記録方法。
1 1 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる記録パワーを示す情報を読み込み、 該情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の記録パワーを決定することを特徴とす る請求項 2記載の光学的情報記録方法。
1 2 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 記録パワーを示す情報に関するテス ト記録 を省略することを特徴とする請求項 1 1記載の光学的情報記録方法。
1 3 . 前記記録パワーの適正値を、 前記光学的情報記録媒体上の所定の 領域に情報として記録することを特徴とする請求項 2記載の光学的情報 記録方法。
1 4 . テス ト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 1 3記載の光学的情報記録方法。
1 5 . 請求項 1記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒体 に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、 前記記録再生装置の調整時、 前記記録再生装置の起動時、 前記起動時 から一定時間経過した時、 光学的情報記録媒体の交換時、 光学的情報記 録媒体のビッ トエラ一レートが所定の値を越えた時、 前記光学的情報記 録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイ ミングにおいて、 テスト記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装
1 6 . 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテ スト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 所定の前端パルスエッジ位置と所定の後端パルスエッジ位置に基づき. 所定の記録パワーでランダムパターン信号を記録し （ a )、
再生した前記ランダムパターン信号のジッ夕またはビッ トエラーレー トを測定し （b )、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以上か否 かを判定し （c；)、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以 上の場合、 第 2のテストパターン信号を記録し （d )、
再生した前記第 2のテス卜パターン信号の結果に基づき、 前記記録パ ヮ一の適正値を決定する （e )
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
1 7 . 前記ステップ （ a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後端パルスエツジ位置 に基づき、 所定の記録パワーによるランダムパターン信号を記録し、 再生した前記ランダムパターン信号のジッ夕またはビッ トエラーレ一 トを測定し、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、 判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ 卜エラーレー卜が一定値以 上の場合、 前記記録パワーを所定の値に設定して、 第 1のテス卜パター ン信号を記録し、
前記第 1のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前記前端パ ルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置の適正値とを決定 した後、
前記ステップ （a ) から （e ) を実行することを特徴とする請求項 1 6記載の光学的情報記録方法。
1 8 . 前記記録パワーを前記ステップ （e ) にて決定した前記適正値に 設定して、 前記前端パルスエッジ位置および前記後端パルスエッジ位置 のうち少なくとも一つを変化させてランダムパターンを記録し（ a— 1 ) , 前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ ト エラーレートを測定し （b— 1 )、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートの結果に基づき、 前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルスエツジ位置の ― 適正値とを補正して新たに決定する （c 一 1 ) ことを特徴とする請求項 1 7記載の光学的情報記録方法。
1 9 . 前記ステツプ （ a— 1 ) に先立って、
前記ステップ （e ) にて決定した前記記録パワーの適正値に基づいて ランダムパターンを記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ ト エラ一レートを測定し、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートが一定値以上か否 かを判定し、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ トエラ一レートが一定値以 上の場合、 前記ステップ （ a— 1 ) から （c 一 1 ) を実行することを特 徴とする請求項 1 8記載の光学的情報記録方法。
2 0 . 前記ステップ （ c— 1 ) の後に、
補正した前記前端パルスエツジ位置の適正値および前記後端パルスェ ッジ位置の適正値に基づき第 3のテス 卜パターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項 1 9記載の光 学的情報記録方法。
2 1 . 前記ステップ （a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエッジ位置および前記所定の後端パルスエッジ 位置に基づき第 3のテストパターンを記録し、
前記第 3のテストパターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅を補正することを特徴とする請求項 1 6記載の光 学的情報記録方法。
2 2 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる前記記録パワーを示す情報を読み込み、 該情報を初期値とし、 前記情報に基づき、 前記所定の記録パワーを決定することを特徴とす る請求項 1 6に記載の光学的情報記録方法。
2 3 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 記録パワーを示す情報に関するテス ト記録 を省略することを特徴とする請求項 2 2記載の光学的情報記録方法。
2 4 . 前記記録パワーの適正値を、 前記光学的情報記録媒体上の所定の 領域に情報として記録することを特徴とする請求項 1 6記載の光学的情 報記録方法。
2 5 . テス 卜記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 2 4記載の光学的情報記録方法。
2 6 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる前記前端パルスエッジ位置を示す情報と前記後端パルスエツジ位置 を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエツジ位置とを決定することを特徴とする請求項 1 7記載の光 学的情報記録方法。
2 7 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルスエツジ位置を示す情報と後端パ ルスエッジ位置を示す情報に関するテス 卜記録を省略することを特徴と する請求項 2 6記載の光学的情報記録方法。
2 8 . 前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置 の適正値とを、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記 録することを特徴とする請求項 1 7記載の光学的情報記録方法。
2 9 . テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 2 8記載の光学的情報記録方法。
3 0 . 請求項 1 6記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒 体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、 前記記録再生装置の調整時、 前記記録再生装置の起動時、 前記起動時 から一定時間経過した時、 光学的情報記録媒体の交換時、 光学的情報記 録媒体のビッ トエラーレートが所定の値を越えた時、 前記光学的情報記 録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイ ミングにおいて、 テスト記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装 置。
3 1 . 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテ スト記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められ た所定の前端パルスエッジ位置、 および自己マーク長と後スペース長の 組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエツジ位置を 初期値として、 前記前端パルスエツジ位置および前記後端パルスエツジ 位置のうち少なくともいずれか一つを変化させてランダムパターン信号 を記録し （ a )、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ 卜 エラーレートを測定し （b；)、
測定した前記ジッ夕または前記ビッ トエラーレートの結果に基づき、 前記所定の前端パルスエツジ位置および前記所定の後端パルスエツジ位 置を補正する （c )
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
3 2 . 前記ステップ （ a ) に先立って、
前記所定の前端パルスエツジ位置および前記所定の後端パルスエツジ 位置に基づきランダムパターン信号を記録し、
前記ランダムパターンを再生して得た再生信号のジッ夕またはビッ ト エラーレートを測定し、
前記ジッ夕または前記ビッ 卜エラーレー卜が一定値以上か否かを判定 し、
判定した結果、 前記ジッ夕または前記ビッ 卜エラ一レー卜が一定値以 上の場合、 前記ステップ （ a ) から （ c ) を実行することを特徴とする 請求項 3 1記載の光学的情報記録方法。
3 3 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる前記前端パルスエツジ位置を示す情報と前記後端パルスエツジ位置 を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルスエッジ位置と前記所定の後 端パルスエツジ位置とを決定することを特徴とする請求項 3 1記載の光 学的情報記録方法。
3 4 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルスエッジ位置を示す情報と後端パ ルスエツジ位置を示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴と する請求項 3 3記載の光学的情報記録方法。
3 5 . 補正した前記前端パルスエッジ位置および補正した前記後端パル スエッジ位置を、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として 記録することを特徴とする請求項 3 1記載の光学的情報記録方法。
3 6 . テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 3 5記載の光学的情報記録方法。
3 7 . 前記ステップ （a ) において、 前記前端パルスエッジ位置および 前記後端パルスエツジ位置のうちいずれか一つを変化させてランダムパ ターンを記録し、
前記組み合わせテーブル中の複数の要素に対して、 前記ステツプ（ a ) から （c ) を繰り返し実行することを特徴とする請求項 3 1記載の光学 的情報記録方法。
3 8 . 請求項 3 1記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒 体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、
前記記録再生装置の調整時、 前記記録再生装置の起動時、 前記起動時 から一定時間経過した時、 光学的情報記録媒体の交換時、 光学的情報記 録媒体のビッ トエラーレー卜が所定の値を越えた時、 前記光学的情報記 録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイ ミングにおいて、 テス 卜記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装 置。
3 9 . 書き換え可能な光学的情報記録媒体に情報信号を記録する前にテ ス卜記録を行い、 情報を記録再生する光学的情報記録方法であって、 前スペース長と自己マーク長の組み合わせテーブルによって定められ た所定の前端パルスエツジ位置、 および自己マーク長と後スペース長の 組み合わせテーブルによって定められた所定の後端パルスエツジ位置に 基づいて、 第 3のテストパターン信号を記録し （ a )、
前記第 3のテス卜パターン信号を再生した結果に基づき、 前端パルス 幅および後端パルス幅の適正値を決定する （b )
ことを特徴とする光学的情報記録方法。
4 0 . 前記ステツプ （ b ) の後に、
第 1のテストパターン信号を記録し、
再生した前記第 1のテストパターン信号のエッジ間隔を測定し、 前記測定の結果に基づき、 前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記 後端パルスエッジ位置の適正値とを決定することを特徴とする請求項 3 9記載の光学的情報記録方法。
4 1 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる前記前端パルス幅を示す情報と前記後端パルス幅を示す情報とを読 み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記所定の前端パルス幅と前記所定の後端パルス 幅とを決定することを特徴とする請求項 3 9記載の光学的情報記録方法 ( 4 2 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルス幅を示す情報と後端パルス幅を 示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴とする請求項 4 1記 載の光学的情報記録方法。
4 3 . 決定した前記前端パルス幅の適正値と前記後端パルス幅の適正値 とを、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録するこ とを特徴とする請求項 3 9に記載の光学的情報記録方法。
4 4 . テス ト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 4 3記載の光学的情報記録方法。
4 5 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて いる前記前端パルスエッジ位置を示す情報と前記後端パルスエッジ位置 を示す情報とを読み込み、 それらの情報を初期値とし、
前記情報に基づき、 前記前端パルスエツジ位置の適正値-と前記後端パ ルスエッジ位置の適正値とを決定することを特徴とする請求項 4 0記載 の光学的情報記録方法。
4 6 . あらかじめ前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に記録されて おり記録再生装置を識別する情報を読み込み、
識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う記録再生装置が略同一 か否かを判定し、
判定した結果、 識別した前記記録再生装置とテスト記録を行う前記記 録再生装置が略同一の場合、 前端パルスエッジ位置を示す情報と後端パ ルスエッジ位置を示す情報に関するテスト記録を省略することを特徴と する請求項 4 5記載の光学的情報記録方法。
4 7 . 前記前端パルスエッジ位置の適正値と前記後端パルスエッジ位置 の適正値とを、 前記光学的情報記録媒体上の所定の領域に情報として記 録することを特徴とする請求項 4 0に記載の光学的情報記録方法。
4 8 . テスト記録を行った記録再生装置を識別する情報を、 前記光学的 情報記録媒体上の所定の領域に情報として記録することを特徴とする請 求項 4 7記載の光学的情報記録方法。
4 9 . 前記ステップ （a ) において、 前記前端パルス幅および前記後端 パルス幅のいずれかを変化させて、 前記第 3のテストパターン信号を記 録し、
前記ステップ （b ) において、 前記第 3のテストパターンを再生して 得た再生信号の前端間ジッ夕と後端間ジッタを独立に測定し、 前記ジッ 夕を測定した結果に基づき、 前記前端パルス幅および前記後端パルス幅 を補正することを特徴とする請求項 3 9記載の光学的情報記録方法。
5 0 . 前記第 3のテストパターンは単一周期信号パターンであることを 特徴とする請求項 3 9記載の光学的情報記録方法。
5 1 . 請求項 3 9記載の光学的情報記録方法を用いて光学的情報記録媒 体に情報の記録を行う光学的情報記録装置であって、
前記記録再生装置の調整時、 前記記録再生装置の起動時、 前記起動時 から一定時間経過した時、 光学的情報記録媒体の交換時、 光学的情報記 録媒体のビッ 卜エラ一レートが所定の値を越えた時、 前記光学的情報記 録装置の使用環境の温度が変化した時の少なくともいずれか一つのタイ ミングにおいて、 テス 卜記録を行うことを特徴とする光学的情報記録装 一
PCT/JP2000/001589 1999-03-19 2000-03-15 Procede d'enregistrement optique d'informations et dispositif a cet effet WO2000057408A1 (fr)

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JP2000607208A JP4418114B2 (ja) 1999-03-19 2000-03-15 光学的情報記録方法およびそれを用いた光学的情報記録装置
US09/936,968 US6975571B1 (en) 1999-03-19 2000-03-15 Method for optically recording information and device for optically recording information by the same
AU31920/00A AU3192000A (en) 1999-03-19 2000-03-15 Method for optically recording information and device for optically recording information by the same
EP00909661A EP1170731B1 (en) 1999-03-19 2000-03-15 Method for optically recording information and device for optically recording information by the same
DE60045613T DE60045613D1 (de) 1999-03-19 2000-03-15 Verfahren zur optischen aufzeichnung von informationen, und vorrichtung zur optischen aufzeichnung von informationen durch dieses verfahren
US11/058,806 US7088656B2 (en) 1999-03-19 2005-02-15 Method for optically recording information and device for optically recording information by the same

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1498882A4 (en) * 2002-04-19 2008-04-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd OPTICAL DATA RECORDING METHOD, OPTICAL DATA RECORDING DEVICE, AND OPTICAL DATA RECORDING MEANS
US8125869B2 (en) 2007-05-29 2012-02-28 Mitsubishi Electric Corporation Optical recording method and optical recording device
US8188506B2 (en) 2008-09-30 2012-05-29 Lg Innotek Co., Ltd. Semiconductor light emitting device
WO2014091530A1 (ja) * 2012-12-10 2014-06-19 日立コンシューマエレクトロニクス株式会社 情報記録再生装置及び記録方法

Families Citing this family (23)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4191446B2 (ja) * 2002-08-29 2008-12-03 パイオニア株式会社 情報記録装置および情報記録方法
KR100538848B1 (ko) * 2003-03-04 2005-12-23 주식회사 히타치엘지 데이터 스토리지 코리아 광디스크의 기록파워 제어방법
CN1833275A (zh) * 2003-09-19 2006-09-13 株式会社理光 信息记录装置和信息记录系统
JP2005116005A (ja) * 2003-10-03 2005-04-28 Mitsubishi Electric Corp ディスク再生装置
JP4253724B2 (ja) * 2003-10-31 2009-04-15 独立行政法人産業技術総合研究所 レーザビームの再生パワーの決定方法およびデータ記録再生装置
TWI256042B (en) * 2003-12-11 2006-06-01 Benq Corp Method for determining a threshold write-in power of a compact disc and related compact disc drive
KR101120725B1 (ko) 2004-01-09 2012-03-23 파나소닉 주식회사 광 디스크 매체에의 광 기록 방법 및 광 기록 장치
KR20060132784A (ko) * 2004-03-30 2006-12-22 마쯔시다덴기산교 가부시키가이샤 정보 기록 방법, 정보 기록 장치 및 정보 기록 매체
JP4160533B2 (ja) * 2004-06-03 2008-10-01 株式会社東芝 光ディスク記録再生方法及び光ディスク記録再生装置
JP4069928B2 (ja) * 2005-01-19 2008-04-02 ソニー株式会社 相変化型光記録媒体の検査方法、相変化型光記録媒体装置
JP4395450B2 (ja) * 2005-02-08 2010-01-06 太陽誘電株式会社 光情報記録装置および信号処理回路
JP4523470B2 (ja) * 2005-03-29 2010-08-11 太陽誘電株式会社 光情報記録装置および方法および信号処理回路
US7722782B2 (en) * 2005-07-12 2010-05-25 Rechargeable Battery Corporation Portable heating apparatus and metal fuel composite for use with same
US7561508B2 (en) * 2005-08-31 2009-07-14 Mediatek Inc. Method and apparatus for laser control during recording
JP2007149180A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Hitachi Ltd 光ディスク装置
KR20070065632A (ko) * 2005-12-20 2007-06-25 삼성전자주식회사 기록 조건 최적화 방법 및 장치 및 광 기록 매체
EP1816645A1 (en) * 2006-02-02 2007-08-08 Thomson Licensing S.A. Method for controlling the quality of storage media
US8159913B2 (en) * 2006-10-17 2012-04-17 Hitachi, Ltd. Optical disc recording apparatus and recording power control method
KR100871647B1 (ko) * 2007-02-16 2008-12-02 삼성전자주식회사 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 기록파라미터를 최적화하는 방법 및 그 방법을 수행하는 컴퓨터프로그램을 기록한 기록 매체
WO2008146460A1 (ja) * 2007-05-23 2008-12-04 Panasonic Corporation 光ディスク装置及び記録条件設定方法
US8159919B1 (en) * 2008-01-29 2012-04-17 Marvell International Ltd. Method and apparatus for optimizing optical recording
US8154968B1 (en) * 2009-01-27 2012-04-10 Marvell International Ltd. Method and apparatus for optimizing optical recording
US9478248B2 (en) * 2014-08-22 2016-10-25 Seagate Technology Llc Adaptive HAMR laser power data storage device

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0477892A2 (en) * 1990-09-28 1992-04-01 Hitachi, Ltd. Method of and apparatus for correcting edge interval of pit in optical recording/read-out apparatus
JPH06236553A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Hitachi Ltd 光記録媒体の記録再生方法
EP0751509A2 (en) * 1995-06-26 1997-01-02 Pioneer Electronic Corporation Optical recording medium and method for setting power of laser beam
JPH09167347A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Sony Corp 光学的記録再生装置および光学的記録再生方法
EP0802531A2 (en) * 1996-04-17 1997-10-22 Hitachi, Ltd. Information recording method and apparatus
EP0865035A2 (en) * 1997-03-14 1998-09-16 Hitachi, Ltd. Signal recording method, phase difference detecting circuit, and information storage apparatus
JP2000040231A (ja) * 1998-07-21 2000-02-08 Victor Co Of Japan Ltd 光ディスク記録再生装置及び光ディスク
EP0984441A1 (en) 1998-09-14 2000-03-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Recording medium, recording apparatus and recording method
EP1059630A1 (en) 1998-11-06 2000-12-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and device for finding conditions on recording pulse of optical disk

Family Cites Families (15)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2797733B2 (ja) * 1990-03-14 1998-09-17 松下電器産業株式会社 光学情報記録部材の記録方法
US5513165A (en) 1990-06-29 1996-04-30 Hitachi, Ltd. Method for controlling the farm of a magnetic domain of a magneto-optical disk using pre-write testing
JPH06195713A (ja) 1992-12-28 1994-07-15 Hitachi Ltd 光記録の記録方法
JP3165216B2 (ja) * 1992-02-21 2001-05-14 株式会社リコー マークエッジ記録方法及びその装置
JP2679596B2 (ja) 1993-11-09 1997-11-19 松下電器産業株式会社 ディスク記録方法およびディスク記録装置
US5490126A (en) 1993-04-07 1996-02-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Apparatus for recording and reproducing data on a disk
JP3138610B2 (ja) * 1995-04-13 2001-02-26 株式会社リコー 相変化型光ディスク用記録方法
CN1244091C (zh) 1995-08-22 2006-03-01 松下电器产业株式会社 光盘记录和/或重放装置及设定记录功率及清除功率的方法
JP3265937B2 (ja) 1995-08-22 2002-03-18 松下電器産業株式会社 光ディスク装置
MX9704098A (es) * 1995-10-09 1997-09-30 Matsushita Electric Ind Co Ltd Metodo de grabacion y unidad de grabacion de informacion optica.
JP3861269B2 (ja) 1996-07-16 2006-12-20 ソニー株式会社 光ディスク装置、光ディスクの記録方法、光ディスク及び光ディスクの製造方法
JP3608926B2 (ja) 1996-12-26 2005-01-12 株式会社日立製作所 情報記録装置
JPH117645A (ja) 1997-06-17 1999-01-12 Ricoh Co Ltd 光ディスク装置
US6243339B1 (en) * 1997-08-12 2001-06-05 U.S. Philips Corporation Method and device for writing optical record carriers
JP3660114B2 (ja) * 1997-11-14 2005-06-15 シャープ株式会社 光記憶装置における記録条件制御方法

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0477892A2 (en) * 1990-09-28 1992-04-01 Hitachi, Ltd. Method of and apparatus for correcting edge interval of pit in optical recording/read-out apparatus
JPH06236553A (ja) * 1993-02-10 1994-08-23 Hitachi Ltd 光記録媒体の記録再生方法
EP0751509A2 (en) * 1995-06-26 1997-01-02 Pioneer Electronic Corporation Optical recording medium and method for setting power of laser beam
JPH09167347A (ja) * 1995-12-15 1997-06-24 Sony Corp 光学的記録再生装置および光学的記録再生方法
EP0802531A2 (en) * 1996-04-17 1997-10-22 Hitachi, Ltd. Information recording method and apparatus
EP0865035A2 (en) * 1997-03-14 1998-09-16 Hitachi, Ltd. Signal recording method, phase difference detecting circuit, and information storage apparatus
JP2000040231A (ja) * 1998-07-21 2000-02-08 Victor Co Of Japan Ltd 光ディスク記録再生装置及び光ディスク
EP0984441A1 (en) 1998-09-14 2000-03-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Recording medium, recording apparatus and recording method
EP1059630A1 (en) 1998-11-06 2000-12-13 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Method and device for finding conditions on recording pulse of optical disk

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1170731A4 *

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP1498882A4 (en) * 2002-04-19 2008-04-09 Matsushita Electric Ind Co Ltd OPTICAL DATA RECORDING METHOD, OPTICAL DATA RECORDING DEVICE, AND OPTICAL DATA RECORDING MEANS
EP2053601A3 (en) * 2002-04-19 2009-12-09 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording medium
US7760596B2 (en) 2002-04-19 2010-07-20 Panasonic Corporation Optical information recording method, optical information recording device, and optical information recording medium
EP2226797A2 (en) 2002-04-19 2010-09-08 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording medium
US7821892B2 (en) 2002-04-19 2010-10-26 Panasonic Corporation Optical information recording method, optical information recording device and optical information recording medium
EP2226797A3 (en) * 2002-04-19 2010-12-01 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording medium
EP2221811A3 (en) * 2002-04-19 2010-12-08 Panasonic Corporation Optical information recording method and optical information recording medium
US7881173B2 (en) 2002-04-19 2011-02-01 Panasonic Corporation Optical information recording method, optical information recording device and optical information recording medium
US8125869B2 (en) 2007-05-29 2012-02-28 Mitsubishi Electric Corporation Optical recording method and optical recording device
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