WO1999002622A1 - Phosphore, detecteur de rayonnement et unite de tomographie assistee par ordinateur tous deux equipes dudit phosphore - Google Patents

Phosphore, detecteur de rayonnement et unite de tomographie assistee par ordinateur tous deux equipes dudit phosphore Download PDF

Info

Publication number
WO1999002622A1
WO1999002622A1 PCT/JP1998/003063 JP9803063W WO9902622A1 WO 1999002622 A1 WO1999002622 A1 WO 1999002622A1 JP 9803063 W JP9803063 W JP 9803063W WO 9902622 A1 WO9902622 A1 WO 9902622A1
Authority
WO
WIPO (PCT)
Prior art keywords
phosphor
element selected
ray
group
detector
Prior art date
Application number
PCT/JP1998/003063
Other languages
English (en)
French (fr)
Inventor
Hiromichi Yamada
Ichiro Miura
Motomichi Doi
Osamu Miyazaki
Minoru Yoshida
Original Assignee
Hitachi Medical Corporation
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Medical Corporation filed Critical Hitachi Medical Corporation
Priority to DE69818501T priority Critical patent/DE69818501T2/de
Priority to US09/462,321 priority patent/US6340436B1/en
Priority to EP98931011A priority patent/EP1028154B1/en
Publication of WO1999002622A1 publication Critical patent/WO1999002622A1/ja

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00—Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/515—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics
    • C04B35/547—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products based on non-oxide ceramics based on sulfides or selenides or tellurides
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B35/00—Shaped ceramic products characterised by their composition; Ceramics compositions; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/622—Forming processes; Processing powders of inorganic compounds preparatory to the manufacturing of ceramic products
    • C04B35/64—Burning or sintering processes
    • C04B35/645—Pressure sintering
    • C04B35/6455—Hot isostatic pressing
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C09—DYES; PAINTS; POLISHES; NATURAL RESINS; ADHESIVES; COMPOSITIONS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; APPLICATIONS OF MATERIALS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • C09K—MATERIALS FOR MISCELLANEOUS APPLICATIONS, NOT PROVIDED FOR ELSEWHERE
    • C09K11/00—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials
    • C09K11/08—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials
    • C09K11/77—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals
    • C09K11/7783—Luminescent, e.g. electroluminescent, chemiluminescent materials containing inorganic luminescent materials containing rare earth metals containing two or more rare earth metals one of which being europium
    • C09K11/7784—Chalcogenides
    • C09K11/7787—Oxides
    • C09K11/7789—Oxysulfides
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3201—Alkali metal oxides or oxide-forming salts thereof
    • C04B2235/3203—Lithium oxide or oxide-forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3205—Alkaline earth oxides or oxide forming salts thereof, e.g. beryllium oxide
    • C04B2235/3208—Calcium oxide or oxide-forming salts thereof, e.g. lime
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3205—Alkaline earth oxides or oxide forming salts thereof, e.g. beryllium oxide
    • C04B2235/3213—Strontium oxides or oxide-forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
    • C04B2235/3225—Yttrium oxide or oxide-forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
    • C04B2235/3227—Lanthanum oxide or oxide-forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3224—Rare earth oxide or oxide forming salts thereof, e.g. scandium oxide
    • C04B2235/3229—Cerium oxides or oxide-forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3284—Zinc oxides, zincates, cadmium oxides, cadmiates, mercury oxides, mercurates or oxide forming salts thereof
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/32—Metal oxides, mixed metal oxides, or oxide-forming salts thereof, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3287—Germanium oxides, germanates or oxide forming salts thereof, e.g. copper germanate
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/34—Non-metal oxides, non-metal mixed oxides, or salts thereof that form the non-metal oxides upon heating, e.g. carbonates, nitrates, (oxy)hydroxides, chlorides
    • C04B2235/3409—Boron oxide, borates, boric acids, or oxide forming salts thereof, e.g. borax
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/44—Metal salt constituents or additives chosen for the nature of the anions, e.g. hydrides or acetylacetonate
    • C04B2235/443—Nitrates or nitrites
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/44—Metal salt constituents or additives chosen for the nature of the anions, e.g. hydrides or acetylacetonate
    • C04B2235/444—Halide containing anions, e.g. bromide, iodate, chlorite
    • C04B2235/445—Fluoride containing anions, e.g. fluosilicate
    • C—CHEMISTRY; METALLURGY
    • C04—CEMENTS; CONCRETE; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES
    • C04B—LIME, MAGNESIA; SLAG; CEMENTS; COMPOSITIONS THEREOF, e.g. MORTARS, CONCRETE OR LIKE BUILDING MATERIALS; ARTIFICIAL STONE; CERAMICS; REFRACTORIES; TREATMENT OF NATURAL STONE
    • C04B2235/00—Aspects relating to ceramic starting mixtures or sintered ceramic products
    • C04B2235/02—Composition of constituents of the starting material or of secondary phases of the final product
    • C04B2235/30—Constituents and secondary phases not being of a fibrous nature
    • C04B2235/44—Metal salt constituents or additives chosen for the nature of the anions, e.g. hydrides or acetylacetonate
    • C04B2235/447—Phosphates or phosphites, e.g. orthophosphate, hypophosphite
    • G—PHYSICS
    • G21—NUCLEAR PHYSICS; NUCLEAR ENGINEERING
    • G21K—TECHNIQUES FOR HANDLING PARTICLES OR IONISING RADIATION NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; IRRADIATION DEVICES; GAMMA RAY OR X-RAY MICROSCOPES
    • G21K4/00—Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens
    • G21K2004/06—Conversion screens for the conversion of the spatial distribution of X-rays or particle radiation into visible images, e.g. fluoroscopic screens with a phosphor layer

Definitions

  • the present invention relates to a rare earth oxysulfide phosphor suitable for use as a radiation detector for detecting X-rays, ⁇ -rays, and the like, particularly, a radiation detector such as an X-ray CT device or a positive-port camera. Further, the present invention relates to a radiation detector and an X-ray CT apparatus using the above phosphor.
  • a radiation detector used for X-ray CT or the like is a combination of xenon gas chamber or BGO single crystal (bismuth germanate) and a photomultiplier tube, C sl: T 1 single crystal or C d W0 4 single Combinations of crystals and photodiodes have been used, but in recent years rare earth phosphors with high radiation-to-light conversion efficiency have been developed as scintillators, and radiation detectors combining such phosphors and photodiodes have been developed. Has been put to practical use.
  • the rare earth phosphor mainly L 2 0 3 (L is Y, elements represent like G a) a rare earth oxide phosphor containing a small amount of active agent as a body (JP 6 4 - 3 8 4 9 producing a 1 JP etc.), L 2 0 2 S a rare earth oxysulfide containing a small amount of active agent as a base material (there is a O key Shisarufuai de) phosphors, the former phosphor those cubic
  • it has the advantage of being excellent in transparency, but has the disadvantage that the luminous efficiency is inferior to the latter.
  • the luminous efficiency is high, for example in Japanese Patent Publication 6 0 4 8 5 6 No. G d 2 0 2 S: P r, C e, F force, JP-B-5 9- 3 8 2 8 0 No. (Y, G a, L a or L u) 2 0 2 S: T b, the C e is disclosed.
  • the emission peak of the phosphor differs depending on the activator (also referred to as an activator).
  • the phosphor using Pr as an activator emits green light
  • the phosphor using Tb as an activator changes from blue to blue. It emits green light.
  • a phosphor containing Eu as an activator emits red light, and is used as a phosphor for color television (Japanese Patent Publication No. 47-132443).
  • the properties required of the scintillation materials generally used for radiation detectors include short afterglow, high luminous efficiency, large X-ray stopping power, and chemical stability.
  • the afterglow is large, the signal containing information becomes unclear in the time axis direction, and the afterglow is required to be extremely small.
  • the afterglow of a phosphor includes primary afterglow and secondary afterglow (long afterglow component).
  • Primary afterglow has a relatively short decay time (approximately 2 milliseconds or less), while secondary afterglow has a longer decay time, which is particularly undesirable when phosphors are used for scintillation. .
  • the secondary afterglow is large, the signal containing information becomes unclear in the time axis direction.
  • Secondary afterglow is considered to be due to electrons or holes thermally released from traps created by lattice defects in the phosphor, which contributed to the emission. Or by adding another additive that substantially reduces the work of the shallow trap.
  • the rare earth oxysulfide phosphor described in Japanese Patent Publication No. 60-48556 and using Pr as a light-emitting component can be used as an X-ray CT scintillator by adding Ce. A phosphor has been obtained.
  • a detector with higher detector efficiency is desired in order to minimize the irradiation dose received by the human body while maintaining sufficient detector efficiency and a high SN ratio.
  • the peak response wavelength of the PIN photodiode currently used as the photodetector of the radiation detector used for X-ray CT etc. is in the red region, but the phosphors using Pr or Tb as the activator are blue or Since the LED emits green light, the wavelength matching of the PIN photodiode is poor, and there is a problem that the overall detection efficiency as a radiation detector is low even if the luminous efficiency is high and the afterglow is small.
  • an object of the present invention is to solve these problems of the prior art and to provide a phosphor having extremely low afterglow and high luminous efficiency, particularly a phosphor useful as a scintillator for X-ray CT and the like. And Another object of the present invention is to provide a radiation detector having excellent wavelength matching between a phosphor and a photodetector and having high detector efficiency (light output). Another object of the present invention is to provide an X-ray CT apparatus having a radiation detector with extremely low afterglow and high detector efficiency as a radiation detector and capable of obtaining a high-resolution and high-quality tomographic image. I do. Disclosure of the invention
  • the present inventors have conducted intensive studies on rare earth oxysulfide phosphors containing Eu as a light emitting component. As a result, the addition of a predetermined component has a high luminous efficiency and a large amount of secondary afterglow. It has been found that a phosphor with a significantly reduced phosphor content can be obtained, leading to the present invention.
  • the phosphor of the present invention is:
  • L represents at least one element selected from the group consisting of Gd, La, and Y
  • M represents at least one element selected from the group consisting of Tb and Pr
  • S r represents at least one element selected from the group consisting of Z n.
  • the X is 0.001 ⁇ x ⁇ 0.06, y is 0 ⁇ y ⁇ 12X10_ 5, z is 0 ⁇ z ⁇ 12 X 10- 5 , d has a value ranging from 0 ⁇ d ⁇ 2.5X10_ 4.
  • the element L may be any of Gd, La, and Y.
  • the force that can use one or more of these elements, the X-ray stopping power when all L positions are replaced with Gd Can be the highest. However, even if a part of Gd is replaced with La or Y, the emission characteristics are almost the same.
  • Eu is an element serving as an activator (luminescent component) of the phosphor of the present invention, and its content (X: the number of moles replacing one mole of the element L) is 0.001 or more in order to cause Eu emission. Is preferred. Since the content X of E u can not get twice the light output more than the the C DW0 4 0.06, in applications where high light output is required, the content X of E u is 0.06 or less . More preferably, the content X of Eu is 0.002 to 0.03. This range can be obtained about 2.5 times the light output of the C DW0 4. Elements M and Ce reduce the afterglow of the phosphor of the present invention.
  • the element M may be either Tb or Pr, and a part of Tb may be replaced with Pr.
  • the effect of reducing afterglow cannot be obtained with only one of the elements M or Ce, and at least one of the elements M and Ce are contained.
  • the afterglow reduction effect can be obtained.
  • the content of M y and the content of Ce z both increase, the afterglow decreases, but at the same time, the light output of the scintillation tends to decrease, so in applications where high light output is required, preferably it does not exceed 12 X10- 5.
  • the light output of more than twice the C DW0 4 is obtained, and when or E u and C e or only E u deer also contain afterglow E u only This can be reduced to a fraction of that in the case where only M is included.
  • M ' is not an essential element in the phosphor of the present invention
  • the emission of Eu can be increased by adding the element M'.
  • One or more of Ca, Sr, and Zn are used as the element M * that increases the emission of Eu.
  • Ca has a function of improving the emission of Eu by 7% at the maximum, and is particularly preferable.
  • Element M ' is like this, by incorporating within a range of 2.5X10- 4, the effect is obtained. Especially 0.3X10- 4 in the range of ⁇ 2.0X10- 4, it is possible to improve the emission of about 3% or more.
  • the crystal form of the phosphor of the present invention is not particularly limited.
  • a method of using the phosphor of the present invention as a single crystal a method of single crystallizing another phosphor described in J. Appl. Phys., Vol. 42, p. 3049 (1971) can be applied.
  • the phosphor of the present invention is a rare earth oxysulfide, it is necessary to adopt a method for preventing the diffusion of sulfur during the production as a production method, and a hot isostatic pressing method (hereinafter, referred to as a HIP method) ) Is preferred.
  • a hot isostatic pressing method hereinafter, referred to as a HIP method
  • a sintering aid is added to the raw material powder, This is packed in a container made of pure iron or metal, sealed in a vacuum, and hot isostatically pressed. Li 2 GeF 6 or the like can be used as a sintering aid.
  • the conditions for hot isostatic pressing are a temperature of 900 to 1900 ° C, preferably 1100 to 1400 ° C, and a pressure of about 900 to 1800 atm, for about 30 minutes to several hours. Thereby, a phosphor as a dense and highly transmissive sintered body can be obtained.
  • the phosphor before the HIP treatment can be prepared as follows. For example Gd 2 0 3, Eu 2 0 3, Na 2 C0 3, formulated S so that a predetermined composition, added trace elements (Tb (P r), C e, Ca , etc.) salts of nitrates added, further appropriate flux component, for example K 3 P 0 4 ⁇ 3 H 2 0, L i 2 B 4 0 7 , such as a packed in ⁇ Ruminarutsubo After the addition, to the lid of the crucible as about 1350 ° C Bake for several hours (3 to: about 10 hours). The scintillating powder thus baked is subjected to the above-mentioned HIP treatment.
  • the phosphor after HIP has oxygen or sulfur defects, cut into a desired shape, and then in Ar gas containing a small amount of oxygen at about 1000 ° C to 1300 ° C for about 15 minutes to Desirably anneal for 120 minutes.
  • the phosphor thus manufactured is dense, has high translucency, and has little loss due to light scattering, so that a radiation detector having a large light output can be obtained.
  • the phosphor of the present invention can be used for general phosphor applications such as papers, fluorescent plates, and scintillators, but X-ray CT detectors that require particularly high emission output and low afterglow are required. It is suitable as.
  • the radiation detector of the present invention includes a ceramic scintillator and a photodetector for detecting light emission of the scintillator, and uses the above-described phosphor as the ceramic scintillator.
  • a photodiode such as a PIN photodiode or an avalanche photodiode is used as the photodetector.
  • These photodiodes have high sensitivity, short response time, and wavelength sensitivity in the range from visible light to near-infrared light, so that wavelength matching with the above-described phosphor of the present invention is well suited.
  • the X-ray CT apparatus of the present invention holds an X-ray source, an X-ray detector arranged to face the X-ray source, the X-ray source and the X-ray detector, and A tomographic image of the subject is created based on the rotating body driven in rotation and the X-ray intensity detected by the X-ray detector.
  • a radiation detector combining the above-described phosphor and photodiode is used as the X-ray detector.
  • a conventional scintillator Ichita e.g., CdW0 4
  • the sensitivity compared with the X-ray CT apparatus using the It can be improved about twice and the afterglow is very small, so that high-quality and high-resolution images can be obtained.
  • the size of the element can be reduced, an image with high spatial resolution can be obtained. Furthermore, it is possible to reduce the amount of X-ray exposure of the subject compared to conventional X-ray CT equipment.
  • FIG. 1 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the X-ray CT apparatus of the present invention.
  • FIG. 2 is a diagram showing the configuration of an embodiment of the radiation detector (X-ray detector) of the present invention.
  • FIG. 6 shows the Tb concentration (y) and Pr concentration of the phosphor of the comparative example. (y) or Ce concentration (z) and shows the relationship between the intensity of the secondary afterglow of the detector
  • the phosphor of Figure 7 is the invention (G d ..
  • FIG. 1 is a view schematically showing an X-ray CT apparatus according to the present invention.
  • the apparatus includes a scanner gantry section 10 and an image reconstructing section 20, and the scanner gantry section 10 has an opening through which a subject is loaded.
  • a rotating disk 11 having a section 14, an X-ray tube 12 mounted on the rotating disk 11, and a collimator attached to the X-ray tube 12 for controlling a radiation direction of the X-ray flux.
  • X-ray detector 15 mounted on the rotating disk 11 opposite the X-ray tube 13 and the X-ray tube 13 and X-rays detected by the X-ray detector 15 are converted into predetermined signals.
  • a scanning circuit 17 for controlling the rotation of the rotating disk 11 and the width of the X-ray flux.
  • the image reconstruction unit 20 reconstructs a CT image by processing the measurement data S1 sent from the input device 21 and the detector circuit 16 for inputting the subject's name, examination date and time, examination conditions, etc.
  • Image information circuit that adds information such as the subject's name, examination date and time, and examination conditions input from the input device 21 to the CT image created by the image operation circuit 22 and the image operation circuit 22
  • a display circuit 24 that adjusts the display gain of the CT image signal S2 to which image information has been added and outputs the display gain to the display monitor 30.
  • X-rays are emitted from the X-ray tube 12 while the subject is laid on a bed (not shown) installed in the opening 14 of the scan gantry section 10. .
  • This X-ray obtains directivity by the collimator 13 and is detected by the X-ray detector 15.
  • the X-ray is rotated by rotating the rotating disk 11 around the subject.
  • X-rays are detected while changing the irradiation direction.
  • one rotation (360 degrees) of the rotating disk is regarded as one scan, and an image of one cross section is reconstructed from measurement data for one scan.
  • the tomographic image created by the image reconstruction unit 20 is displayed on the display monitor 30.
  • the X-ray detector 15 is composed of a large number of scintillator elements (for example, 960) that combine a scintillator and a photo diode, and each scintillator is shown in Fig. 2.
  • the structure has a combination of the scintillator 151 and the PIN photodiode 152, and the p-layer side of the photodiode 152 is connected to the detection circuit 16.
  • the entire device except for the p-layer of the photodiode 152 is covered with a shield 153 so as not to let the light emitted from the scintillator 151 escape to the outside.
  • the shield 153 is made of a material that transmits X-rays and reflects light, for example, aluminum.
  • the scintillator 151 is a phosphor that absorbs and emits X-rays emitted from the X-ray tube 12 and transmitted through the subject.
  • the scintillator 151 is the above-described phosphor of the present invention, that is, a rare earth oxysulfide having Eu as an activator. And contains T b (and / or P r) and C e as afterglow reducing elements Consists of a body.
  • a phosphor produced by the HIP method is used.
  • This evening 151 has a luminescence output more than twice that of the conventional CdWO 4 etc.
  • the PIN photodiode 152 since the luminescence has a strong luminescence peak around 600 nm, the PIN photodiode 152 has a high light sensitivity. It overlaps with the wavelength region and is photoelectrically converted by the PIN photodiode 152 with high efficiency.
  • the detector 15 is required to have a high output and a short afterglow. Since the X-ray CT apparatus of the present invention uses a high-output apparatus with little afterglow, a high-quality CT image can be obtained. In addition, since the light output is high, if the image quality is the same, the X-ray dose can be reduced, and the X-ray exposure to the subject can be reduced.
  • the X-ray source may be not only an X-ray tube but also a beam type X-ray apparatus that scans X-rays.
  • a ceramic scintillator was made. This A detector was constructed by combining this with a photodiode. The detector was placed 20 cm away from the X-ray source (120 KV, 0.5 mA) and its light output was measured.
  • Figure 3 shows the results.
  • Light output was relatively light output CdW0 4 detector as 1 (hereinafter referred to as the same).
  • the light output of the CdWO 4 detector is more than twice the light output of the CdWO 4 detector in the range of Eu concentration X power ⁇ .001 to 0.055, and more than 2.5 times in the range of X force of 0.002 to 0.03. Indicated.
  • Example 2
  • the intensity of the secondary afterglow is shown relative to the intensity during excitation as 1 (the same applies hereinafter).
  • Tb and Ce reduced the secondary afterglow considerably.
  • Tb concentration (y) and C e Concentration (z) increase, light output tended to decrease, Tb concentration (y) and C e Concentration (z) respectively 12 X1 (gamma 5 hereinafter and By doing so, the light output could be made twice or more the light output of the CdWO 4 detector.
  • Fig. 5 shows the results.
  • a detector was constructed by combining this with a photodiode, and the intensity of the secondary afterglow was measured 30 ms after the X-ray excitation was turned off. The results are shown in FIG. 6 (dashed line).
  • G d 2 0 3 as raw material, L a 2 0 3, E u 2 0 3, T b ( ⁇ 0 3) 3, C e ( ⁇ 0 3) 3, Yoi the N a 2 C0 3 and S, further flux components the ⁇ 3 ⁇ 0 4 ⁇ 3 ⁇ 2 0 and L i 2 B 4 0 7 was added as to prepare a scintillator Ichita powder was treated in the same manner as in example 1.
  • L i 2 G e F 6 0.1 % in the powder of this as a sintering aid carried out in the same manner as in HIP treatment and HIP after Aniru treatment as in Example 1, G d 2 (..90- xyz) L a 0 2 0 2 S:.
  • Light output was relatively light output CdW0 4 detector as 1. If E u concentration X is 0. 005, C a concentration d power, the light output becomes maximum around 9X10- 5, 2.5X10- 4 it can be seen that lower than the additive-free exceeds.
  • Table 1 summarizes the results of Example 1 and Examples 4 to 7. Table 1

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Structural Engineering (AREA)
  • Inorganic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • High Energy & Nuclear Physics (AREA)
  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Measurement Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Description

明細書 蛍光体及びそれを用 、た放射線検出器及び X線 C T装置 背景技術
本発明は X線、 ァ線などを検出する放射線検出器、 特に X線 C T装置やポジト 口ンカメラなどの放射線検出器に好適な希土類酸硫化物蛍光体に関する。 また本 発明は上記蛍光体を用 L、た放射線検出器及び X線 C T装置に関する。
従来、 X線 C Tなどに用いる放射線検出器としては、 キセノンのガスチヱンバ 一あるいは B G O単結晶 （ゲルマニウム酸ビスマス） と光電子增倍管を組合せた もの、 C s l ： T 1単結晶または C d W04単結晶とホトダイオードを組合せた ものが用いられてきたが、 近年、 シンチレ一タとして放射線から光への変換効率 の高い希土類系蛍光体が開発され、 このような蛍光体とホトダイォードを組合せ た放射線検出器が実用化されている。
希土類系蛍光体としては、 主として L 20 3 ( Lは Y， G aなどの元素を表わす） を 体として少量の活性剤を含む希土類酸化物蛍光体 （特開昭 6 4 - 3 8 4 9 1 号公報等） と、 L 20 2 Sを母材として少量の活性剤を含む希土類酸硫化物 （ォキ シサルフアイ ド） 蛍光体とがあり、 前者の蛍光体は立方晶系のものを製造するこ とができるため透明性に優れているという利点があるが後者に比べ発光効率が劣 るという難点がある。
これに対し希土類酸硫化物蛍光体は、 発光効率が高く、 例えば特公昭 6 0— 4 8 5 6号には G d 202 S ： P r， C e， F力、 特公昭 5 9— 3 8 2 8 0号には (Y, G a， L a又は L u ) 202 S ： T b， C eが開示されている。 ここで活性 剤 （賦活剤ともいう） によって蛍光体の発光ピークが異なり、 P rを活性剤とし て用いた蛍光体では緑色に発光し、 T bを活性剤として用いた蛍光体では青色か ら緑色の発光を示す。 また、 E uを活性剤とする蛍光体は赤色に発光し、 カラー テレビ用蛍光体 （特公昭 4 7—1 3 2 4 3号公報） として利用されている。
ところで一般に放射線検出器に用いられるシンチレ一夕材料に要求される特性 としては、 短い残光、 高い発光効率、 大きい X線阻止能、 化学的安定性などが挙 げられ、 特に X線 C Tのような用途では、 残光が大きいと情報を含んだ信号が時 間軸方向に関して不鮮明になるという問題があり、 残光はきわめて少ないことが 要求される。
一般に蛍光体の残光には一次残光と二次残光 （長残光成分） とがある。 一次残 光は比較的短い減衰時間 （約 2ミ リ秒以下） を有するが、 二次残光は、 それより 長い減衰時間を有し、 蛍光体をシンチレ一夕として利用する場合、 特に好ましく ない。 二次残光が大きいと、 情報を含んだ信号が時間軸方向に関して不鮮明にな る。 二次残光は、 蛍光体中の格子欠陥がつくるトラップから熱的に解放された電 子又は正孔が発光に寄与したものと考えられ、 そのような浅いトラップとなる欠 陥を少なくするか、 あるいは浅いトラップの働きを実質的に少なくさせる別の添 加物を加えることにより、 減少できる。
例えば特公昭 6 0 - 4 8 5 6号に記載された P rを発光成分とする希土類酸硫 化物蛍光体では、 C eを添加することにより、 X線 C Tのシンチレ一夕として実 用可能な蛍光体を得ている。
しかし、 医学診断用途においては十分な検出器効率、 高い S N比を保ちながら、 人体の受ける照射線量をできるだけ少なくするためには、 さらに検出器効率の高 い検出器が望まれている。 また現在 X線 C T等に用いられる放射線検出器の光検 出器として利用されている P I Nホトダイォードのピーク応答波長は赤色領域に あるが、 P rや T bを活性剤とする蛍光体は青或いは緑に発光するため、 P I N ホトダイォ―ドの波長マッチングがよくなく、 発光効率が高く残光が少なくても 放射線検出器としての総合検出効率が低くなるという問題がある。
そこで本発明の目的は、 これら従来技術の問題点を解決し、 残光がきわめて少 なく発光効率の高い蛍光体、 特に X線 C T等のシンチレ一夕として有用な蛍光体 を提供することを目的とする。 また本発明は、 蛍光体と光検出器の波長マツチン グに優れて、 検出器効率 （光出力） の高い放射線検出器を提供することを目的と する。 更に本発明は、 放射線検出器として残光がきわめて少なく、 検出器効率の 高い放射線検出器を備え、 高解像度、 高品質の断層像を得ることができる X線 C T装置を提供することを目的とする。 発明の開示
上記目的を達成するために本発明者らは、 E uを発光成分とする希土類酸硫化 物蛍光体について鋭意研究した結果、 所定の成分を加えることにより発光効率が 高く、 二次残光が大幅に低減された蛍光体が得られることを見出し、 本発明に至 つたものである。
即ち、 本発明の蛍光体は、
一般式 （L x y-z— dE u xMyC e zM' d) 202 S
(但し、 Lは Gd、 L a、 Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表 わし、 Mは Tb、 P rからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わし、 M' は C a、 S r、 Z nからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わす。 また Xは 0.001≤x≤0.06、 yは 0< y≤12X10_5、 zは 0< z≤ 12 X 10— 5、 dは 0 ≤ d≤2.5X10_4の範囲の値である。 ）
で表わされる蛍光体である。
この蛍光体は、 L 202 Sを母体として活性成分 E uを含む希土類酸硫化物蛍光 体で、 X線、 ガンマ線、 核放射線等の放射線を吸収して、 600™前後にピーク を有する E uの発光を示し、 かつ 450〜70 Onmの範囲に数多くのライン発光 を示す。 このような蛍光体は、 放射線検出器のシンチレ一タとして用いた場合、 ホトダイォ一ドとのマッチングが非常に良く、 現在 X線 CT用シンチレ一タとし て多用されている C dW04の 2倍以上の光出力を得ることができる。
元素 Lとしては、 G d、 L a、 Yのいずれでもよく、 これら元素の 1種または 2種以上を用いることができる力、 Lの位置を全部 G dで置換した場合に、 X線 阻止能を最も高くすることができる。 但し、 Gdの一部を L aや Yで置換しても、 発光特性はほぼ同じである。
E uは、 本発明の蛍光体の活性剤 （発光成分） となる元素で、 E u発光を生じ させるためにその含有量 （X ：元素 L 1モルを置換するモル数） は 0.001以上と することが好ましい。 また E uの含有量 Xが 0.06を超えると C dW04の 2倍の 光出力を得ることができないので、 高い光出力が必要とされる用途では、 E uの 含有量 Xは 0.06以下とする。 より好ましくは E uの含有量 Xは 0.002〜0.03とす る。 この範囲では C dW04の約 2. 5倍の光出力を得ることができる。 元素 M及び C eは、 本発明の蛍光体の残光を低減させる。 既に述べたように蛍 光体中の格子欠陥に作られた浅いトラップが二次残光に寄与し、 別の添加物を加 えることにより、 この浅いようなトラップの働きを実質的に少なくさせることが できると考えられている。 本発明者らの研究の結果、 元素 M及び C eが、 E uを 活性剤とする希土類酸硫化物において、 効果的に二次残光を低減できる添加物で あることが見出された。
元素 Mとしては T b、 P rのいずれでもよく、 T bの一部を P rで置換しても よい。 但し、 元素 M或いは C eの一方のみでは残光の低減効果を得ることができ ず、 元素 Mの少なくとも一種と C eとを含有せしめる。
元素 M及び C eは、 両者をきわめて微量含有せしめても残光低減効果が得られ る。 Mの含有量 y、 C eの含有量 zはともに多いほど残光は少なくなるが、 同時 にシンチレ一夕の光出力が低下する傾向にあるので、 高い光出力が必要とされる 用途ではそれぞれ 12 X10—5を超えないことが好ましい。 このような範囲でこれら 元素を含有せしめることにより、 C dW04の 2倍以上の光出力が得られ、 しか も残光を E uのみを含有する場合或いは E uと C eのみ若しくは E uと Mのみを 含む場合に比べ、 数分の 1程度に減少させることができる。
M' は本発明の蛍光体において必須の元素ではないが、 元素 M' を添加するこ とにより、 E uの発光を増大させることができる。 E uの発光を増大させる元素 M* としては、 C a、 S r、 Z nの一種または二種以上を用いる。 これら元素の うち、 C aは最大で E uの発光を 7%向上させる働きがあり特に好適である。 こ のような元素 M' は、 2.5X10— 4以内の範囲で含有せしめることにより、 上記効 果が得られる。 特に 0.3X10— 4~2.0X10— 4の範囲では、 発光を約 3%以上向上さ せることができる。
本発明の蛍光体は、 結晶形態は特に限定されない。 本発明の蛍光体を単結晶と する方法は、 J.Appl.Phys. ,42巻， 3049頁 (1971) に記載されている他の蛍光体の 単結晶化の方法を適用することができる。
また本発明の蛍光体は、 希土類酸硫化物であるので、 製造方法としては製造中 に硫黄の拡散を防止する方法を採用する必要があり、 熱間静水圧加圧法 （以下、 H I P法と称する） が好適である。 H I P法は、 原料粉末に焼結助剤を加え、 こ れを純鉄簦金属製の容器に詰め、 真空封止して、 熱間静水圧加圧する。 焼結助剤 としては、 L i 2Ge F6等を用いることができる。 熱間静水圧加圧の条件は、 温 度 900〜1900°C、 好適には 1100〜 1400 °C、 圧力 900〜1800 気圧程度とし、 約 30分〜数時間行う。 これにより緻密で透光性の高い焼結体と しての蛍光体が得られる。
H I P処理前の蛍光体は次のようにして作製することができる。 例えば Gd2 03、 Eu 203、 Na2C03、 Sを所定の組成になるように配合し、 微量の添加 元素 （Tb (P r) 、 C e、 Ca等） は硝酸塩等の塩として添加し、 さらに適当 なフラックス成分、 例えば K3P 04 · 3 H20、 L i 2B 407などを加えたのちァ ルミナルツボに詰め、 ルツボのふたをして、 約 1350°Cで数時間 （3〜： I 0時 間程度） 焼成する。 このように焼成されたシンチレ一夕粉末を上述の H I P処理 する。
また H I P後の蛍光体には、 酸素あるいは硫黄の欠陥ができているので、 所望 の形状に切り出した後、 微量の酸素を含む Arガス中で約 1000°C~1300°C で約 15分〜 120分間ァニールすることが望ましい。
このように製造された蛍光体は、 緻密で透光性が高く、 光の散乱によるロスが 少ないので、 光出力の大きな放射線検出器を得ることができる。
本発明の蛍光体は、 增感紙、 蛍光板、 シンチレータ等の一般的な蛍光体の用途 に用いることができるが、 特に高い発光出力で残光が少ないことが要求される X 線 CTの検出器として好適である。
本発明の放射線検出器は、 セラミ ックシンチレ一夕と、 このシンチレ一夕の発 光を検知するための光検出器とを備え、 セラミックシンチレ一夕として上述した 蛍光体を用いたものである。 好適には光検出器として P I Nホトダイオード、 ァ バランシエホトダイォ一ド等のホトダイォードを用いる。 これらホトダイォード は、 感度が高く、 応答時間が短く、 且つ波長感度が可視光から近赤外領域にある ので、 上述した本発明の蛍光体との波長マッチングがよく好適である。
また本発明の X線 CT装置は、 X線源と、 この X線源に対向して配置された X 線検出器と、 これら X線源及び X線検出器を保持し、 被検体の周りで回転駆動さ れる回転体と、 X線検出器で検出された X線の強度に基づき被検体の断層像を画 像再構成する画像再構成手段とを備えた X線 CT装置において、 X線検出器とし て上述した蛍光体とホトダイォードを組合せた放射線検出器を用いる。
この X線検出器を用 L、ることにより、 高い検出効率で X線を検出することがで きるので、 従来のシンチレ一タ （例えば、 CdW04) を用いた X線 CT装置に 比べ感度を 2倍程度に向上することができ、 また残光がきわめて少ないため、 高 画質、 高分解能の画像を得ることができる。 また素子を小さくすることができる ので高空間分解能の画像を得ることができる。 さらに従来の X線 CT装置に比べ 被検体の X線被曝量を低減することも可能である。 図面の簡単な説明
第 1図は本発明の X線 C T装置の一実施例の構成を示す図、 第 2図は本発明の放 射線検出器 （X線検出器） の一実施例の構成を示す図、 第 3図は本発明の蛍光体 (G do.9992-χΕ uxT byC e z) 202 S (y=z=4XlO— 5) における、 Eu濃度 (x) と検出器の光出力の関係を示す図、 第 4図は本発明の蛍光体 （Gd。.995一 y— ZE uo.。。5T byC e J 202 Sにおける、 T b濃度 （y) および C e濃度 （z) と 検出器の二次残光の強度の関係を示す図、 第 5図は本発明の蛍光体 （Gd。.97一 y— zEuo.o3TbyCeJ 202 Sにおける、 T b濃度 （y) および Ce濃度 （z) と 検出器の二次残光の強度の関係を示す図、 第 6図は比較例の蛍光体における、 T b濃度 （y) 、 P r濃度 (y) 或いは Ce濃度 （z) と検出器の二次残光の強度の 関係を示す図、 第 7図は本発明の蛍光体 （G d。.995-x-z-d E uo.005 TbyC e, C ad) 202 S (y=z-4XlO-5) において C a濃度 （d) と検出器の光出力の関係 を示す図である。 発明を実施するための最良の形態
以下、 本発明の放射線検出器を備えた X線 CT装置を実施例により説明する。 図 1は、 本発明の X線 CT装置の概略を示す図で、 この装置はスキャナガント リ部 10と画像再構成部 20とを備え、 スキャナガントリ部 10には、 被検体が 搬入される開口部 14を備えた回転円板 11と、 この回転円板 11に搭載された X線管 12と、 X線管 12に取り付けられ、 X線束の放射方向を制御するコリメ —タ 1 3と、 X線管 1 2と対向して回転円板 1 1に搭載された X線検出器 1 5と、 X線検出器 1 5で検出された X線を所定の信号に変換する検出器回路 1 6と、 回 転円板 1 1の回転及び X線束の幅を制御するスキャン制御回路 1 7とが備えられ ている。
画像再構成部 2 0は、 被検者氏名、 検査日時、 検査条件などを入力する入力装 置 2 1、 検出器回路 1 6から送出される計測データ S 1を演算処理して C T画像 再構成を行う画像演算回路 2 2、 画像演算回路 2 2で作成された C T画像に、 入 力装置 2 1から入力された被検者氏名、 検査日時、 検査条件などの情報を付加す る画像情報付加部 2 3と、 画像情報を付加された C T画像信号 S 2の表示ゲイン を調整してディスプレイモニター 3 0へ出力するディスプレイ回路 2 4とを備え ている。
この X線 C T装置では、 スキャンガントリ部 1 0の開口部 1 4に、 設置された 寝台 （図示せず） に被検者を寝かせた状態で、 X線管 1 2から X線が照射される。 この X線はコリメ一タ 1 3により指向性を得、 X線検出器 1 5により検出される が、 この際、 回転円板 1 1を被検者の周りに回転させることにより、 X線を照射 する方向を変えながら、 X線を検出する。 フルスキャンの場合には、 回転円板の 1回転 （3 6 0度） を 1スキャンとする、 1スキャン分の測定データから 1断面 の画像を再構成する。 画像再構成部 2 0で作成された断層像はディスプレイモ二 タ一 3 0に表示される。
ここで X線検出器 1 5は、 シンチレ一夕とホトダイォードとを組合せたシンチ レータ素子を多数 （例えば 9 6 0個） 円弧状に配列したもので、 個々のシンチレ 一夕素子は図 2に示すようにシンチレ一夕 151と PINホトダイォード 152とを組合 せた構造を有し、 ホ卜ダイォ一ド 152の p層側は検出回路 1 6に接続されている。 また素子はホトダイォ一ド 152の p層を除く全体が、 シンチレ一夕 151の発光を外 部に逃さないために遮蔽 153で覆われている。 遮蔽 153は X線を透過し、 光を反射 する材料、 例えばアルミニウムからなる。
シンチレ一タ 151は、 X線管 1 2から照射され被検体を透過した X線を吸収し 発光する蛍光体で、 上述した本発明の蛍光体、 即ち E uを活性剤とする希土類酸 硫化物であって残光低減元素として T b (及び/又は P r ) と C eとを含む蛍光 体から成る。 特に H I P法によって製造された蛍光体を用いる。 この 夕 151は、 従来の C dWO 4等のシンチレ一夕の 2倍以上の発光出力を有し、 しか もその発光は 600nm前後に強い発光ピークを有するので、 PINホトダイォード 152 が高い光感度を有する波長領域と重なり、 高い効率で PINホトダイォード 152によ り光電変換される。
このような構成において、 断層像の撮影の際には、 X線管 12からはファンビ ーム状の X線が連続して照射され、 X線管は約 1秒〜 4秒間に 1回転する。 この 間に被検体を透過してきた X線を検出器回路 16側で数百回のォン一オフを行い、 X線を検出している。 そのため検出器 15としては高出力で残光が短いものが要 求される。 本発明の X線 CT装置では高出力かつ残光が少ないものを用いている ので高画質の CT画像を得ることができる。 また高い光出力であるので画質が同 じであれば、 X線量を少なくすることができ、 被検体への X線被曝量を低減する ことも可能である。
尚、 図では X線管を用いた X線 CT装置について説明したが、 X線源としては X線管のみならず X線をビーム走査するビーム方式の X線装置であってもよい。 実施例
実施例 1
原料として Gd 203、 E u 203、 T b (N03) 3、 C e (N03) 3、 N a 2C 03及び Sを用い、 更にフラックス成分として Κ3Ρ04 · 3H20、 L i 2B407 を加え、 これらの混合物をアルミナルツボに詰め、 ルツボのふたをした後、 1350 °Cで 5時間焼成した。 焼成物からフラックス成分を除くために水洗し、 さらに 0. 15規定の塩酸で処理した後水洗し、 シンチレ一タ粉末を得た。
このようにして得たシンチレ一タ粉末に、 焼結助剤としてし i 2G e F 6を 0.1 %加えた後、 純鉄製の容器に詰め、 真空封止してから、 1300°C、 1000気圧の条件 で熱間静水圧加圧を行った。 得られたセラミックシンチレ一夕を厚さ 1.15mmに切 り出した後、 酸素を lOppm含む Arガス中で 1100°Cで 30分間ァニールした。
このような方法で E u濃度 （X) の異なる G d2 (1— x— y_z) 02S ： E U x, T b y, C ez (但し、 y = z = 4 X 10— 5) セラミックシンチレ一夕を作製した。 こ れとホトダイオードを組合せた検出器を作り、 X線源 （120KV, 0.5mA) から 20cm 離れたところに検出器を置き、 その光出力を測定した。
図 3に結果を示す。 光出力は CdW04検出器の光出力を 1として相対的に示し た （以下、 同様とする） 。 図から明らかなように E u濃度 Xカ^.001〜0.055の範 囲で CdWO 4検出器の光出力の 2倍以上、 X力 .002〜0.03の範囲では 2. 5倍 以上の光出力を示した。 実施例 2
実施例 1と同様の原料を用い、 実施例 1と同様の方法で、 但し Tb (N03) 3、 C e (N03) 3の添加量を変えて、 T b及び C e濃度の異なる G d2 (1— x-y— z) 0 2S : E ux， Tby, C e z (但し、 x = 0. 005) セラミックシンチレ一夕を 作製した。 これとホトダイオードを組合せて検出器を作り、 X線励起を断ってか ら 30ミ リ秒後の二次残光の強度を測定した。 その結果を図 4に示す。 図 4におい て横軸は Tbと C e濃度 （y== z) を示し、 縦軸は 30ミ リ秒後の二次残光を示し ている。 二次残光の強度は励起中の強度を 1として相対的に示した （以下、 同様 とする） 。
図 4からもわかるように Tbと C eを加えることにより、 二次残光をかなり低 減することができた。 尚、 Tb濃度 （y) と C e濃度 （z) が増加するにつれ、 光出力は低下する傾向が見られ、 Tb濃度 （y) と C e濃度 （z) はそれぞれ 12 Χ1(Γ5以下とすることにより、 光出力を CdWO 4検出器の光出力の 2倍以上とす ることができた。 実施例 3
E u濃度 （X) を 0. 03とし、 その他は実施例 2と全く同様にして T とじ e濃度 （y = z) を変化させた場合のセラミックシンチレ一夕の二次残光 （30ミ リ秒後） の強度を測定した。 結果を図 5に示す。
図 5に示したように、 E u濃度 （X) が高い （x = 0. 03) 場合でも T bと C eを加えることにより二次残光の強度を小さくすることができた。 また実施例 2の結果と比べて明らかなように、 E u濃度が高い場合には、 丁1)と〇 6の添加 〔が少なくても、 二次残光の低減効果が大きいことがわかる。 比較例 1、 2
実施例 2と同様にして T b或いは C eの一方のみを含有し、 T b濃度或いは C e濃度の異なるセラミックシンチレ一夕を作製した。 これとホトダイォードを組 合せて検出器を作り、 X線励起を断ってから 30ミ リ秒の二次残光の強度を測定し た。 結果を図 6に示す。 図中、 実線は Tbのみ （比較例 1) 、 点線は C eのみ (比較例 2) を表わす。
図 6からも分るように、 T b或いは C eの一方のみの添加では、 セラミックシ ンチレ一夕の残光を低減する効果は全く見られず、 T bのみを添加した場合には、 T b濃度が増加するにつれむしろ残光が増加する傾向が見られた。 実施例 4
原料として Gd 203、 Eu 203、 P r (N03) 3、 C e (N03) 3、 N a2C 03及び Sを用い、 更にフラックス成分として K3P 04 · 3 Η20及び L i 2B40 7を加え、 実施例 1と同様に処理してシンチレ一夕粉末を作成した。 この粉末に 焼結助剤としてし i 2G e F6を 0.1%加えた後、 実施例 1と同様に H I P処理及 び H I P後ァニール処理を行い、 G d2 (1— x— y_z) 02S ： E ux, P ry， C e z (但し、 x = 0. 005、 y = z = 4xl 0— 5) セラミ ックシンチレ一タを作製 した。 さらに実施例 1と同様に検出器を作ってその特性を調べた。 検出器の光出 力は、 じ(1¥04検出器に対し2.85倍で、 30ミ リ秒後の二次残光は 0.0017であった。 比較例 3
実施例 4と同様にして C eを含有せず P rのみを含有する Gd2 U— y-z) 02 S ： E ux, P ry (但し、 x = 0. 005、 y = 0. 5 X 10 _5〜 3x10— 5) セラミックシンチレ一夕を作製した。 これとホトダイォ一ドを組合せて検出器を 作り、 X線励起を断ってから 30ミリ秒の二次残光の強度を測定した。 結果を図 6 に示す （一点鎖線） 。
図 6からも分るように、 T b或いは C eの一方のみを添加した場合 （比較例 1、 2) と同様に、 P rのみを添加した場合にはセラミックシンチレ一夕の残光を低 減する効果は全く見られなかった。 実施例 5
原料として G d 203、 L a 203、 E u 203、 T b (Ν03) 3、 C e (Ν03) 3、 N a2C03及びSを用ぃ、 更にフラックス成分として Κ3Ρ04 · 3Η20及び L i 2B 407を加え、 実施例 1と同様に処理してシンチレ一タ粉末を作成した。 こ の粉末に焼結助剤として L i 2G e F6を 0.1%加えた後、 実施例 1と同様に H I P処理及び H I P後ァニール処理を行い、 G d 2 (。.90-x-y-z) L a 0.202 S ： E ux, T b y, C e z (但し、 x = 0. 005、 y = z = 4 X 10—5) セラミ ック シンチレ一タを作製した。 さらに実施例 1と同様に検出器を作ってその特性を調 ベた。 検出器の光出力は、 じ(1^¥04検出器に対し2.8倍で、 30ミ リ秒後の二次残 光は 0.0016であった。 実施例 6
原料として G d 203、 Y 203、 E u 203、 T b (Ν03) 3、 C e (Ν03) 3、 . Ν a2C03及び Sを用い、 更にフラックス成分として K3P04 · 3Η20及び L i 2B 407を加え、 実施例 1と同様に処理してシンチレ一タ粉末を作成した。 こ の粉末に焼結助剤として L i 2G e Fsを 0.1%加えた後、 実施例 1と同様に H I P処理及び H I P後ァニール処理を行い、 G d2 (。.9 o-x-y-z) Yo. 202 S ： E u χ, T by， C e z (但し、 x = 0. 005、 y = z = 4 x l 0— 5) セラミ ックシンチ レータを作製した。 さらに実施例 1と同様に検出器を作ってその特性を調べた。 検出器の光出力は、 じ(1^^04検出器に対し2.83で、 30ミ リ秒後の二次残光は 0.00 17 'めつ こ。 実施例 Ί
原料として G d 203、 E u 203、 T b (NO 3) 3、 C e (N03) 3、 S及び C a (N03) 2を用い、 実施例 1と同様に処理して C a濃度 （d) の異なる G d2 ( 丄一 x— y _z— d) 02S ： E U x, T by， C e z， C a d (但し、 x = 0. 005、 y = z = 4 X 10"5) セラミ ックシンチレ一タを作製した。 これとホトダイォードを 組合せて検出器を作り、 その光出力を測定した。 その結果を図 7に示す。
光出力は CdW04検出器の光出力を 1として相対的に示した。 E u濃度 Xが 0. 005の場合、 C a濃度 d力、 9X10—5付近で光出力が最大になり、 2.5X10— 4を 越えると無添加のものより低くなることがわかる。
実施例 1及び実施例 4〜 7の結果を表 1にまとめた。 表 1
Figure imgf000014_0001
産業上の利用可能性
本発明によれば、 （しい — z-dE UxMyC ezM' d) 202 Sの組成を有する 発光効率が高く残光が低減された蛍光体が提供される。 また本発明によれば上記 組成の透光性の高い焼結体を得ることができ、 これとシリコンホトダイォ—ドと を組合せた放射線検出器とすることにより光出力が従来のものと比べ大幅に増加 する効果があり、 かつ二次残光を低減する効果も大である。
更に X線 C T装置の X線検出器としてこのようなシンチレ一夕を利用した検出 器を使用することにより、 高解像度、 高品質の CT画像を得ることができる。

Claims

請 求 の 範 囲
1. 一般式 （1^ dE uxMyC e zM' d) 202 S
(但し、 Lは G d、 L a、 Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表 わし、 Mは Tb、 P rからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わし、 M' は C a、 S r、 Z nからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わす c また Xは 0.001≤ X 0.06、 yは 0< y≤12X10— 5、 zは 0< z≤ 12 X 10— 5、 dは 0 ≤ d 2.5X10— 4の範囲の値である。 ）
で表わされる蛍光体。
2. 原料粉末に焼結助剤を加え、 これを金属製の容器に詰め、 真空封止して、 熱 間静水圧加圧することにより得られ、
一般式 （I^— dE uxMyC e zM' d) 202 S
(但し、 Lは G d、 L a、 Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表 わし、 Mは T b、 P rからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わし、 M' は C a、 S r、 Z nからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わす。 また Xは 0.001 x≤0.06、 yは 0< y≤12X10— 5、 zは 0< z≤ 12 X 10_5、 dは 0 ≤ d 2.5X10—4の範囲の値である。 ）
で表わされる蛍光体。
3. 前記一般式において、 M' が C aである請求項 1記載の蛍光体。
4. 前記一般式において、 Lが Gdである請求項 1記載の蛍光体。
5. 前記一般式において、 乂カ 0.002≤乂≤0.03の範囲でぁる請求項1記載の蛍 光体。
6. 一般式 （Lい dE uxMyC e zM' d) 202 S
(但し、 Lは G d、 L a、 Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表 わし、 Mは T b、 P rからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わし、 M' は C a、 S r、 Z nからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わす c また Xは 0.001≤ X≤0.06、 yは 0< y≤12X10— 5、 zは 0< z 12 X 10— 5、 dは 0 < d 2.5X10-4の範囲の値である。 ）
で表わされる蛍光体。
7. 前記一般式において、 M' が C aである請求項 6記載の蛍光体。
8. 前記一般式において、 d力 3.0X10—5≤ d 2.0X10-4の範囲である請求項 7 記載の蛍光体。
9. 原料粉末に焼結助剤を加え、 これを金属製の容器に詰め、 真空封止して、 熱 間静水圧加圧する工程を含む、
一般式 （L y dE u xMyC e zM' d) 202 S
(但し、 Lは G d、 L a、 Yからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表 わし、 Mは T b、 P rからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わし、 M' は C a、 S r、 Z nからなる群から選ばれた少なくとも一種の元素を表わす。 また Xは 0.001≤ x≤0.06、 yは 0< y 12X10— 5、 zは 0< z≤ 12 X 10— 5、 dは 0 ≤ d≤2.5X10— 4の範囲の値である。 ）
で表わされる蛍光体の製造方法。
1 0. 前記原料粉末は、 前記蛍光体を構成する元素の酸化物或いは硝酸塩を化学 量論的割合で混合したものを焼成した粉末であることを特徴とする請求項 9記載 の蛍光体の製造方法。
1 1. 前記熱間静水圧加圧後、 ァニール処理することを特徴とする請求項 9記載 の蛍光体の製造方法。
1 2. 前記ァニール処理は、 微量の酸素を含む不活性ガス雰囲気中で行うことを 特徴とする請求項 1 1記載の蛍光体の製造方法。
1 3. セラミ ックシンチレ一夕と、 このシンチレ一夕の発光を検知するための光 検出器とを備えた放射線検出器において、 前記セラミ ックシンチレ一夕として請 求項 1ないし 8いずれか 1項記載の蛍光体を用いたことを特徴とする放射線検出
1 4. 前記光検出器がホトダイォ—ドである請求項 1 3記載の放射線検出器。
1 5 . 前記光検出器が PINホトダイォードである請求項 1 4記載の放射線検出器。
1 6 . X線源と、 この X線源に対向して配置された X線検出器と、 これら X線源 及び X線検出器を保持し、 被検体の周りを回転駆動される回転円板と、 前記 X線 検出器で検出された X線の強度に基づき前記被検体の断層像を画像再構成する画 像再構成手段とを備えた X線 C T装置において、 前記 X線検出器として請求項 1 3ないし 1 5項いずれか 1項記載の放射線検出器を用いたことを特徴とする X線 C T装置。
PCT/JP1998/003063 1997-07-08 1998-07-08 Phosphore, detecteur de rayonnement et unite de tomographie assistee par ordinateur tous deux equipes dudit phosphore WO1999002622A1 (fr)

Priority Applications (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE69818501T DE69818501T2 (de) 1997-07-08 1998-07-08 Phosphor und röntgenstrahlendetektor und röntgen-computertomographieeinheit, beide mit diesem phosphor
US09/462,321 US6340436B1 (en) 1997-07-08 1998-07-08 Phosphor, and radiation detector and X-ray CT unit each equipped therewith
EP98931011A EP1028154B1 (en) 1997-07-08 1998-07-08 Phosphor, and radiation detector and x-ray ct unit each equipped therewith

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP18222197A JP3777486B2 (ja) 1997-07-08 1997-07-08 蛍光体及びそれを用いた放射線検出器及びｘ線ｃｔ装置
JP9/182221 1997-07-08

Publications (1)

Publication Number Publication Date
WO1999002622A1 true WO1999002622A1 (fr) 1999-01-21

Family

ID=16114470

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
PCT/JP1998/003063 WO1999002622A1 (fr) 1997-07-08 1998-07-08 Phosphore, detecteur de rayonnement et unite de tomographie assistee par ordinateur tous deux equipes dudit phosphore

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6340436B1 (ja)
EP (1) EP1028154B1 (ja)
JP (1) JP3777486B2 (ja)
DE (1) DE69818501T2 (ja)
WO (1) WO1999002622A1 (ja)

Families Citing this family (22)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6093347A (en) * 1997-05-19 2000-07-25 General Electric Company Rare earth X-ray scintillator compositions
JP2001099941A (ja) * 1999-09-30 2001-04-13 Hitachi Metals Ltd 放射線遮蔽板、放射線検出器及び放射線遮蔽板の製造方法
JP2002309249A (ja) * 2001-04-13 2002-10-23 Nichia Chem Ind Ltd 窒化ガリウム蛍光体及びその製造方法
DE10121095A1 (de) * 2001-04-27 2002-10-31 Philips Corp Intellectual Pty Gasentladungslampe mit Down-Conversion-Leuchtstoff
US7054408B2 (en) * 2003-04-30 2006-05-30 General Electric Company CT detector array having non pixelated scintillator array
US7180068B1 (en) 2004-06-09 2007-02-20 Radiation Monitoring Devices, Inc. Scintillation materials with reduced afterglow and method of preparation
FR2874021B1 (fr) 2004-08-09 2006-09-29 Saint Gobain Cristaux Detecteu Materiau scintillateur dense et rapide a faible luminescence retardee
RU2410407C2 (ru) * 2005-04-19 2011-01-27 Конинклейке Филипс Электроникс Н.В. СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ Gd2O2S:Pr С ОЧЕНЬ КРАТКОВРЕМЕННЫМ ПОСЛЕСВЕЧЕНИЕМ ДЛЯ КОМПЬЮТЕРНОЙ ТОМОГРАФИИ
EP1912916A1 (en) 2005-07-25 2008-04-23 Saint-Gobain Ceramics and Plastics, Inc. Rare earth oxysulfide scintillator and methods for producing same
DE102006012946A1 (de) * 2006-03-21 2007-09-27 Siemens Ag Strahlungserfassungseinheit für einen Computertomographen
JP5759374B2 (ja) * 2008-08-07 2015-08-05 コーニンクレッカ フィリップス エヌ ヴェ 発光物質及びそれを用いた放射線検出方法
US9638807B2 (en) 2008-08-07 2017-05-02 Koninklijke Philips N.V. Scintillating material and related spectral filter
US8872119B2 (en) 2008-12-30 2014-10-28 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Ceramic scintillator body and scintillation device
CN102317409B (zh) 2008-12-30 2016-01-20 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 陶瓷闪烁体本体和闪烁装置
WO2010078223A2 (en) 2008-12-30 2010-07-08 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Ceramic scintillator body and scintillation device
CN102265183A (zh) 2008-12-30 2011-11-30 圣戈本陶瓷及塑料股份有限公司 闪烁装置以及用于生产陶瓷闪烁体本体的方法
FR2964665B1 (fr) * 2010-09-14 2012-10-12 Pylote Nanoparticules luminescentes utilisables en tant que marqueurs et procede pour leur preparation
WO2012066425A2 (en) 2010-11-16 2012-05-24 Saint-Gobain Cristaux Et Detecteurs Scintillation compound including a rare earth element and a process of forming the same
CN103718063B (zh) 2011-07-28 2017-04-26 皇家飞利浦有限公司 基于铽的探测器闪烁体
CN106575534B (zh) * 2014-08-08 2019-03-12 东丽株式会社 显示构件的制造方法
CN105602564B (zh) * 2016-03-03 2017-11-07 盐城工学院 一种Zn增强的稀土硫氧化物上转换发光材料及制备方法
CN112164702B (zh) * 2020-09-02 2022-08-16 上海洞舟实业有限公司 一种矩阵式射线成像板制备方法

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56151376A (en) * 1980-04-25 1981-11-24 Hitachi Ltd Radiation detector
JPS6318286A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Hitachi Ltd 放射線検出器
JPS6454093A (en) * 1980-04-25 1989-03-01 Hitachi Ltd Phosphor
JPH06206769A (ja) * 1992-07-28 1994-07-26 Siemens Ag 希土類−オキシスルフィドの高密度シンチレーションセラミックの製法及びレントゲンコンピューター断層撮影用セラミック体

Family Cites Families (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3268395D1 (en) * 1981-07-23 1986-02-20 Kasei Optonix Display device
IL68676A (en) 1982-06-18 1986-07-31 Gen Electric Rare-earth-doped yttria gadolinia ceramic scintillators and methods for making
JPS5938280A (ja) 1982-08-27 1984-03-02 Kawasaki Steel Corp 炭素繊維プリカ−サ−ピツチの製造方法
JPS604856A (ja) 1983-06-22 1985-01-11 Kawasaki Steel Corp 音響解析による強磁性体材料の靭性・強度非破壊試験方法および装置
US4733088A (en) * 1985-09-02 1988-03-22 Hitachi, Ltd. Radiation detector
DE4402260A1 (de) * 1994-01-26 1995-07-27 Siemens Ag Verfahren zur Herstellung eines Leuchtstoffs mit hoher Transluzenz

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56151376A (en) * 1980-04-25 1981-11-24 Hitachi Ltd Radiation detector
JPS6454093A (en) * 1980-04-25 1989-03-01 Hitachi Ltd Phosphor
JPS6318286A (ja) * 1986-07-11 1988-01-26 Hitachi Ltd 放射線検出器
JPH06206769A (ja) * 1992-07-28 1994-07-26 Siemens Ag 希土類−オキシスルフィドの高密度シンチレーションセラミックの製法及びレントゲンコンピューター断層撮影用セラミック体

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
See also references of EP1028154A4 *

Also Published As

Publication number Publication date
JP3777486B2 (ja) 2006-05-24
EP1028154B1 (en) 2003-09-24
JPH1129767A (ja) 1999-02-02
US6340436B1 (en) 2002-01-22
DE69818501D1 (de) 2003-10-30
EP1028154A1 (en) 2000-08-16
DE69818501T2 (de) 2004-06-24
EP1028154A4 (en) 2001-03-07

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3938470B2 (ja) 蛍光体及びそれを用いた放射線検出器及びｘ線ｃｔ装置
US7008558B2 (en) Terbium or lutetium containing scintillator compositions having increased resistance to radiation damage
WO1999002622A1 (fr) Phosphore, detecteur de rayonnement et unite de tomographie assistee par ordinateur tous deux equipes dudit phosphore
US6793848B2 (en) Terbium or lutetium containing garnet scintillators having increased resistance to radiation damage
US8431042B2 (en) Solid state scintillator material, solid state scintillator, radiation detector, and radiation inspection apparatus
US5521387A (en) Radiation detector employing solid-state scintillator material and preparation methods therefor
JPS6359436B2 (ja)
JP4290282B2 (ja) 酸化物蛍光体及びそれを用いた放射線検出器、並びにｘ線ｃｔ装置
JP4683719B2 (ja) 酸化物蛍光体及びそれを用いた放射線検出器、並びにｘ線ｃｔ装置
US8083968B2 (en) Solid scintillator, radiation detector, and X-ray tomographic imaging apparatus
US5124072A (en) Alkaline earth hafnate phosphor with cerium luminescence
JP4521929B2 (ja) 蛍光体及びそれを用いた放射線検出器及びｘ線ｃｔ装置
EP1882024B1 (en) Procedure to obtain gd2o2s: pr for ct with a very short afterglow
JP2001294853A (ja) 酸化物蛍光体及びそれを用いた放射線検出器、並びにｘ線ｃｔ装置
JPH0262596B2 (ja)
JP4429444B2 (ja) シンチレータ、それを用いた放射線検出器及びｘ線ｃｔ装置
JP2003119070A (ja) 蛍光体素子、それを用いた放射線検出器及び医用画像診断装置
JP4678924B2 (ja) 放射線検出器およびこれを用いたｘ線診断装置
JP2005095514A (ja) 放射線検出器及びそれを用いたｘ線ｃｔ装置
US20100059668A1 (en) Scintillator material and radiation detectors containing same

Legal Events

Date Code Title Description
AK Designated states

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): CN US

AL Designated countries for regional patents

Kind code of ref document: A1

Designated state(s): AT BE CH CY DE DK ES FI FR GB GR IE IT LU MC NL PT SE

DFPE Request for preliminary examination filed prior to expiration of 19th month from priority date (pct application filed before 20040101)
121 Ep: the epo has been informed by wipo that ep was designated in this application
WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 1998931011

Country of ref document: EP

WWE Wipo information: entry into national phase

Ref document number: 09462321

Country of ref document: US

WWP Wipo information: published in national office

Ref document number: 1998931011

Country of ref document: EP

WWG Wipo information: grant in national office

Ref document number: 1998931011

Country of ref document: EP