TWM654238U

TWM654238U - 精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置

Info

Publication number: TWM654238U
Application number: TW113201141U
Authority: TW
Inventors: 劉安吉; 蔣文錥
Original assignee: 中國鋼鐵股份有限公司
Priority date: 2024-01-31
Filing date: 2024-01-31
Publication date: 2024-04-11

Abstract

本新型包括沿一輸送方向輸送一鋼胚的一輸送帶、存有一檢測標準的一記憶單元、朝向該輸送帶的一第一測距雷射單元和一處理單元；該處理單元電連接該第一測距雷射單元和該記憶單元，且控制該第一測距雷射單元朝該輸送帶複數次發射一第一測距雷射光，而當該些第一測距雷射光照射到該鋼胚時，該第一測距雷射單元接收各該第一測距雷射光自該鋼胚反射的一第一反射雷射光而分別產生一第一電氣信號；該處理單元根據該些第一電氣信號分別計算一第一距離，且根據該檢測標準和該些第一距離計算該鋼胚的一長度，以有效率且精準的量測該鋼胚的該長度。

Description

精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置

一種雷射測距及測長裝置，尤指一種精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置。

在多數重工業的製程中，用雷射量測物件距離已是工廠內生產時常見的習用技術。在一種應用中，雷射量測物件距離可用於定義物件的尺寸，以利衡量物件的特性。舉例而言，在鋼鐵工廠進料鋼材準備生產鋼鐵製品時，進料的鋼胚有可能尺寸長短不一，而在鋼胚之間質量不一致的情況下，進料的鋼胚需先經過工廠內設有之雷射鑑定其長短的流程，以利後續製程可以使用適量的鋼材籌造鋼鐵製品。

當市售的一測具雷射發出的一測距雷射光觸及一鋼材平坦的一表面時，該測距雷射光可以以近乎垂直於該表面的光路反射至該測具雷射的光感元件中。該測具雷射根據光感元件所接收反射的該測距雷射光產生一電氣信號，並且將該電氣信號傳送至一控制單元中，而該控制單元進一步將測距的該電氣信號轉譯為距離。換言之，大體而言該控制單元係根據反射的該測距雷射光計算有關於該測具雷射和該鋼材之間的距離，而進一步掌握該鋼材的物理尺寸。一般而言，在量測鋼坯長度時，係發射一次該測距雷射光，進行測距。當反射的該測距雷射光單純而無雜訊時，該測距雷射根據該測距雷射光所產生的該電氣信號即可也較單純而較無雜訊。反之，當反射的該測距雷射光出現較多雜訊時，該測距雷射根據該測距雷射光所產生的該電氣信號也會出現較多的雜訊。

然而，實務上使用該測距雷射量測鋼胚的截面以量測鋼胚的尺寸時，鋼胚的截面有可能是粗糙的表面。當該測具雷射發出的該測距雷射光觸及該鋼材的一粗糙表面時，該測距雷射光會因為該粗糙表面而產生不規則的散射，進而使得反射進入該測距雷射光感元件中的該測距雷射光出現角度不一和光路上不一致的情況，使得該測具雷射在計算有關於該測具雷射和該鋼材之間的距離上出現較多雜訊，更甚者，該測距雷射光感元件可能會無法接收到反射的該測距雷射光，而導致無法量測，故造成鑑定鋼胚尺寸的流程遇到難關。

進一步而言，習知的雷射測距方式係需要受測之鋼胚於輸送帶上停止移動以靜態的量測該鋼胚的尺寸。此種靜態量測該鋼胚尺寸的方式效率低下而過於耗時，當鋼鐵廠需鑑定大量鋼胚的尺寸時，此種靜態量測鋼胚尺寸的缺點將受到放大而負面影響鋼鐵廠整體運作的效率。

有鑑於上述問題，本新型提供一種精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，不但能夠提高鑑定鋼胚的效率，也能同時於實務上解決以雷射量測鋼胚粗糙表面時可能出現計算鋼胚尺寸困難的問題。

該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，包括：一輸送帶，係沿一輸送方向輸送一鋼胚；一第一測距雷射單元，具有一第一發射方向，且該第一發射方向朝向該輸送帶；其中，該第一發射方向與該輸送方向垂直；一記憶單元，存有一檢測標準；一處理單元，電連接該第一測距雷射單元和該記憶單元；其中，該處理單元控制該第一測距雷射單元沿該第一發射方向朝該輸送帶複數次發射一第一測距雷射光；其中，當該些第一測距雷射光照射到該鋼胚時，該第一測距雷射單元接收各該第一測距雷射光反射形成的一第一反射雷射光而分別產生一第一電氣信號，並且將各該第一電氣信號送至該處理單元；其中，該處理單元根據所接收的各該第一電氣信號分別計算一第一距離，且該處理單元根據該檢測標準和該些第一距離計算該鋼胚的一長度。

當本新型的該處理單元控制該第一測距雷射單元朝該輸送帶複數次發射該第一測距雷射光時，該輸送帶所乘載的該鋼胚會反射該第一測距雷射光為該第一反射雷射光至該第一測距雷射單元而達到對該鋼胚測距的目的。因為該鋼胚受到該第一測距雷射單元測距時仍然在該輸送帶上移動，故本新型可以提高鑑定鋼胚的效率。再者，經由該第一測距雷射單元對該鋼胚測距複數次後，該處理單元所計算的該些第一距離能夠避免單次量測時因雜訊過多或未能接收到反射雷射光而造成量測不準確或無法量測的問題，使該處理單元能夠根據該檢測標準和該些第一距離於實務上更精準的計算該鋼胚的該長度。

請參閱圖1至圖3所示，本新型為一種精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置。該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置係應用於一鋼鐵工廠的一輸送帶100中。該輸送帶100係以一第一速度沿一輸送方向3輸送乘載複數鋼胚110，且該第一速度大於零。各該鋼胚110呈長條狀，且各該鋼胚110具有相對的一第一表面111和一第二表面112。該些鋼胚110的長短不一，且各該鋼胚110的該第一表面111和該第二表面112皆有可能因為表面粗糙而參差不齊。

該輸送帶100輸送該鋼胚110的方向係垂直於該鋼胚110該第一表面111和該第二表面112之間所形成的方向，並且該輸送帶100旁面向所乘載該鋼胚110的該第一表面111的一側設有一第一測距雷射單元11。該第一測距雷射單元11具有一第一發射方向1，且該第一發射方向1朝向該輸送帶100。換言之，該第一發射方向1與該輸送帶100的該輸送方向3垂直。當該輸送帶100以該第一速度輸送乘載該鋼胚110動態通過該第一測距雷射單元11面前時，該第一測距雷射單元11所產生的第一測距雷射光即可以照射到該鋼胚。

本新型的一記憶單元20存有一檢測標準，並且一處理單元30電連接該第一測距雷射單元11和該記憶單元20。該處理單元30控制該輸送帶100動態的程載該鋼胚110通過該第一測距雷射單元11面前，且該處理單元30一併控制該第一測距雷射單元11沿該第一發射方向1朝該輸送帶100複數次發射該第一測距雷射光，使該些第一測距雷射光行徑至動態移動的該鋼胚110的該第一表面111。該些第一測距雷射光行徑至該第一表面111後將分別反射成為一第一反射雷射光，並且部分的該些第一反射雷射光將以近乎垂直於該第一表面111的光路反射，故部分的該些第一反射雷射光將反射至該測具雷射的光感元件中。

如此，當該些第一測距雷射光照射到該鋼胚110時，該第一測距雷射單元11接收部分的該些第一反射雷射光而分別產生一第一電氣信號，並且該第一測距雷射單元11將各該第一電氣信號送至該處理單元30。該處理單元30根據所接收的各該第一電氣信號分別計算一第一距離，且該處理單元30根據該檢測標準和該些第一距離計算該鋼胚110的一長度。換言之，當本新型的該處理單元30控制該第一測距雷射單元11朝該輸送帶100複數次發射該第一測距雷射光時，該輸送帶100所乘載的該鋼胚110會反射該第一測距雷射光為該第一反射雷射光至該第一測距雷射單元11而達到對該鋼胚測距的目的。因為該鋼胚110受到該第一測距雷射單元11測距時仍然在該輸送帶100上以該第一速度的移動，故本新型的該處理單元30無需停下該輸送帶100進行該鋼胚110的靜態測量，因此本新型可以提高鑑定該鋼胚110該長度的效率。再者，經由該處理單元30控制該第一測距雷射單元11朝該輸送帶100上運載的該鋼胚110的該第一表面111複數次發射該第一測距雷射光後，該處理單元30所計算的該些第一距離能夠避免單次量測時因雜訊過多或是未能接收到任何該第一反射雷射光而造成量測不準確或無法量測的問題，使該處理單元30能夠根據該檢測標準和該些第一距離於實務上更精準的計算該鋼胚110的該長度。並且，經由該處理單元30控制該第一測距雷射單元11複數次發射該第一測距雷射光後，該處理單元30所計算的該些第一距離將具有足夠的線性關係，故能夠幫助該處理單元30更精準的計算該鋼胚110的該長度。

如圖1和圖3所示，在一實施例中，本新型進一步包括一第一傳感器41、一第二傳感器42和一顯示單元50，該第一傳感器41、該第二傳感器42和該顯示單元50分別電連接該處理單元30。該第一傳感器41和該第二傳感器42分別固定設置於該輸送帶100的上游和下游處以感測該輸送帶100上的兩個固定位置。該第一傳感器41和該第二傳感器42分別感測該輸送帶100上是否有該鋼胚110通過。例如，該第一傳感器41和該第二傳感器42分別為一光學感測器，當該鋼胚110於該輸送帶100上移動至該輸送帶100上游該第一傳感器41的感測範圍而通過時，該第一傳感器41產生一開始量測訊號至該處理單元30。當該處理單元30接收到該開始量測訊號時，該處理單元30開始控制該第一測距雷射單元11朝該輸送帶100複數次發射該第一測距雷射光，因為經設置，在此時該些第一測距雷射光皆會打到該輸送帶100上所傳輸的該鋼胚110的該第一表面111上。而當該鋼胚110於該輸送帶100上進一步移動至該輸送帶100下游該第二傳感器42的感測範圍而通過時，該第二傳感器42產生一結束量測訊號至該處理單元30。當該處理單元30接收到該結束量測訊號時，該處理單元30結束控制該第一測距雷射單元11朝該輸送帶100發射該些第一測距雷射光，因為該鋼胚110將於該輸送帶100上移動而離開該第一測距雷射單元11發射該些第一測距雷射光的角度範圍之外。如此，該處理單元30能控制該鋼胚110於該輸送帶100上有限的一有限距離類受到該第一測距雷射單元11多次的測距量測，而該有限距離即對應該第一測距雷射單元11能夠有效測距的雷射角度所涵蓋該輸送帶100上的對應距離。因此，該處理單元30能控制該第一測距雷射單元11僅獲取較有效、較精確的量測數值做為後續計算該鋼胚110的該長度所使用，即初步排除而免於處理該第一測距雷射單元11無法有效測距的角度外的量測數值。

進一步，因為該處理單元30能控制該第一測距雷射單元11在有限的距離類測量該鋼胚110的該長度，且該處理單元30控制該輸送帶100的移動速度，故該處理單元30能控制該第一測距雷射單元11發射該些第一測距雷射光的次數。在一實施例中，該處理單元30係控制該第一測距雷射單元11週期性的朝該第一表面111分別發射該些第一測距雷射光。例如，該處理單元30係控制該第一測距雷射單元11在1.2秒的時間內以每0.1秒的頻率朝該第一表面111產生和發射一次該第一測距雷射光，因此在該第一傳感器41和該第二傳感器42之間的該有限距離內，該輸送帶100上動態移動的該鋼胚110會受到本新型12次的量測。如此，該處理單元30會獲得12筆的該些第一電氣信號，而該處理單元30會對應的以12筆的該些第一電氣信號計算12筆的該第一距離。

請參閱圖4所示，在一實施例中，該記憶單元20存有一總長度L ₁和一量測閾值，該總長度L ₁為對應該鋼胚110的該第二表面112至該第一測距雷射單元11的已知距離。換言之，在本實施例中，該鋼胚110的該第二表面112會受到該輸送帶100上機具的對齊，因此即便該鋼胚110的該第一表面111至該第一測距雷射單元11的距離未知，該鋼胚110的該第二表面112至該第一測距雷射單元11之間的距離還是已經可以設定為該總長度L ₁。在此一情形下，當本新型的該處理單元30根據該檢測標準和多個第一距離X ₁計算該鋼胚110的該長度時，該處理單元30係個別將該總長度L ₁減去各該第一距離X ₁而個別計算該鋼胚110的一測量值。因此，對應前述該處理單元30計算有12筆的該第一距離X ₁的例子，該處理單元30個別將該總長度L ₁減去各該第一距離X ₁而計算12筆該鋼胚110的該些測量值。因為此12筆的該些測量值有可能受到該第一表面111粗糙而造成測距時具有隨機誤差(random error)的影響，故該處理單元30會根據該檢測標準排除該些測量值的一部份，即排除隨機誤差中較不具參考價值的數值，以只留下隨機誤差中較具有參考性、較保留數值之間線性曲線的一部分數值。並且，將該處理單元30該些測量值中保留的部份經平均後得到該鋼胚110的該長度。

詳細來說，當該處理單元30根據該檢測標準排除該些測量值的一部份時，該處理單元30係判斷各該測量值是否大於該量測閾值。該處理單元30係排除大於該量測閾值的該些測量值的部份，故該處理單元30僅保留小於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份用以平均計算該鋼胚110的該長度。在本實施例中，該量測閾值為例如6000毫米(mm)的長度，換言之，該處理單元30將大於該些測量值中大於6米(m)的數值排除，而僅保留小於或是等於6米的數值。這是因為，經過散射後而產生離譜偏離的該些第一測距雷射光皆會行徑更長遠的光路，而在該鋼胚110的該長度實務上不應該大於6米的情形下，該些測量值中大於6米的數值應予以排除以增加量測數值的精準度。在其他實施例中，該量測閾值也可受設定為其他的數值，例如設定該量測閾值為5000 mm。

在本實施例中，該處理單元30僅保留小於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份係包括至少5個該測量值用以平均計算該鋼胚110的該長度。也就是說，在12筆的該些測量值中，實務上而言一定會具有至少5筆的該測量值即具有線性關係而可以用以精準的平均計算出該鋼胚110的該長度。所謂的平均計算，即相加至少5筆的該測量值再除以所相加的筆數而得到該鋼胚110的該長度。

進一步，當該處理單元30計算出該鋼胚110的該長度後，該處理單元30能控制該顯示單元50顯示該處理單元30所計算該鋼胚110的該長度，以及控制該顯示單元50顯示平均計算出該鋼胚110的該長度所使用的至少5筆的該測量值，以自動化、有效率的、即時的告知本新型的一使用者所量測該鋼胚110的該長度和量測該鋼胚110的該長度時所浮動的數值分佈情形。同時，該處理單元30也將所計算該鋼胚110的該長度記錄存至該記憶單元20中。

請參閱圖1、圖3和圖5所示，在另一實施例中，本新型進一步具有一第二測距雷射單元12。該第一測距雷射單元11和該第二測距雷射單元12皆為SICK ^©公司型號DT50的雷射，該處理單元30為一可程式化邏輯控制器(Programmable Logic Controller；PLC)，且該顯示單元50為一電腦螢幕。該第二測距雷射單元12電連接該處理單元30，且該第二測距雷射單元12朝向該第一測距雷射單元11設置。換言之，該第二測距雷射單元12和該第一測距雷射單元11分佈於該輸送帶100的相對兩側。當該輸送帶100程載該鋼胚110通過至該第一測距雷射單元11面前時，該第二測距雷射單元12將同時面向該鋼胚110的該第二表面112。換言之，該第二測距雷射單元12具有一第二發射方向2，且該第二發射方向2朝向該輸送帶100，並且如圖1所示，該第二發射方向2相反於該第一測距雷射單元11的該第一發射方向1。

當該處理單元30控制該第一測距雷射單元11複數次發射該第一測距雷射光時，該處理單元30係一併控制該第二測距雷射單元12複數次發射一第二測距雷射光。經設置，當該些第一測距雷射光打到該輸送帶100上的時該鋼胚110的該第一表面111時，該第二測距雷射單元12所發射的該些第二測距雷射光也將同時打到該輸送帶100上該鋼胚110的該第二表面112，使該第二表面112反射各該第二測距雷射光為一第二反射雷射光。相似於該第一測距雷射單元11的測距流程，該第二測距雷射單元12接收各該第二測距雷射光反射該第二表面112後所形成的該第二反射雷射光而產生一第二電氣信號，並且將各該第二電氣信號送至該處理單元30。當該處理單元30接收該些第一電氣信號而計算該些第一距離X ₁時，該處理單元30係一併根據所接收的各該第二電氣信號分別計算一第二距離X ₂，且該處理單元30係根據該檢測標準、該些第一距離X ₁和該些第二距離X ₂計算該鋼胚110的該長度。因為該處理單元30係同時控制該第一測距雷射單元11和該第二測距雷射單元12做出對於該鋼胚110的量測，故該處理單元30所計算的該些第一距離X ₁分別於一時間上對應該處理單元30所計算的其中一該第二距離X ₂。舉例來說，當該處理單元30計算了12筆的該第一距離X ₁時，該處理單元30也計算了12筆的該第二距離X ₂，且於一第一時間測距而獲得的其中一該第一距離X ₁會對應於該第一時間同時測距而獲得的其中一該第二距離X ₂，而於一第二時間測距而獲得的其中一該第一距離X ₁會對應於該第二時間同時測距而獲得的其中一該第二距離X ₂，以此類推。簡言之，12筆的該第一距離X ₁和12筆的該第二距離X ₂之間會具有一對一的關係，以利該處理單元30在12個時間點得到12筆對於該鋼胚110的測距量測。

在本實施例中，該記憶單元20所存有的總長度L ₂為該第一測距雷射單元11和該第二測距雷射單元12之間的已知距離，而該鋼胚110的位置可以在該第一測距雷射單元11和該第二測距雷射單元12之間的空間中出現浮動而不一，故在該輸送帶100上的該鋼胚110受到測距時有可能較靠近該第一測距雷射單元11或是該第二測距雷射單元12。當該處理單元30根據該檢測標準、該些第一距離X ₁和該些第二距離X ₂計算該鋼胚110的該長度時，該處理單元30係個別將該總長度L ₂分別減去各該時間上對應的該第一距離X ₁和該第二距離X ₂而個別計算該鋼胚110的該測量值。該處理單元30根據該檢測標準排除該些測量值的一部份，並且將該些測量值剩餘的部份經平均後得到該鋼胚110的該長度。並且如前述，該檢測標準具有該量測閾值，該處理單元30係排除小於該量測閾值的部份，故該處理單元30僅保留大於或是等於該量測閾值的至少5筆該些測量值的部份用以平均計算該鋼胚110的該長度。

進一步，該檢測標準另具有一第一量測閾值、一第二量測閾值和一第三量測閾值，該第二量測閾值大於該第一量測閾值，例如，該第二量測閾值為14200 mm，而該第一量測閾值為11000 mm，而該第三量測閾值為大於1的一正整數。該處理單元30將所計算該鋼胚110的該長度記錄存於該記憶單元20中，因此經由多次量測不同的該鋼胚110而記錄多個該長度後，該記憶單元20中將存有多筆的該長度，以代表該輸送帶100上所量測一批鋼胚的長度變化。

請參閱圖6所示，該處理單元30判斷該記憶單元20中所存有該長度的筆數是否大於或是等於該第三量測閾值。當該處理單元30判斷該記憶單元20中所存有該長度的筆數大於或是等於該第三量測閾值時，該處理單元30控制該顯示單元50顯示了該記憶單元20中所存有等於該第三量測閾值筆數的多筆的該長度，以顯示該輸送帶100上所量測一批鋼胚的長度變化。在此實施例中，該第三量測閾值為7，故圖6顯示了本新型所量測的7筆的該長度為一長度結果51。

並且，該處理單元30也控制該顯示單元50一併顯示最新一筆本新型所量測的該長度為一最新結果52、顯示所設定的第一量測閾值53、顯示所設定的第二量測閾值54、以及顯示對應計算此最新一筆該長度時所使用的兩數值。此兩數值中，一者為該第一測距雷射單元11所量測的該些第一距離X ₁的一平均數55，而另一者為該第二測距雷射單元12所量測的該些第二距離X ₂的另一平均數56。如此，本新型的該使用者可以即時的參考該第一測距雷射單元11和該第二測距雷射單元12所分別量測的數值，以了解該第一測距雷射單元11或是該第二測距雷射單元12是否出現了讀值異常的問題。

進一步，當該處理單元30判斷該記憶單元20中所存有該長度的筆數大於或是等於該第三量測閾值時，該處理單元30也相加該記憶單元20中存有該些長度為一鋼胚總長度。該處理單元30控制該顯示單元50顯示該鋼胚總長度，且該處理單元30判斷該鋼胚總長度是否小於或是等於該第二量測閾值54且大於或是等於該第一量測閾值53。當該鋼胚總長度大於該第二量測閾值54或是小於該第一量測閾值53時，該處理單元30產生一異常通知，且該處理單元30控制該顯示單元50顯示該異常通知。而當該鋼胚總長度小於或是等於該第二量測閾值54且大於或是等於該第一量測閾值53時，該處理單元30產生一正常通知57，且該處理單元30控制該顯示單元50顯示該正常通知57。在一實施例中，該顯示單元50所顯示的該異常通知和該正常通知57可分別為不同顏色的燈號，以供本新型的該使用者明顯的識別量測一批鋼胚的狀況是否出現異常。在圖6的例子中，因為該鋼胚總長度小於或是等於該第二量測閾值54且大於或是等於該第一量測閾值53，故該顯示單元50係以綠色的燈號顯示該正常通知57。

1:第一發射方向 2:第二發射方向 3:輸送方向 11:第一測距雷射單元 12:第二測距雷射單元 20:記憶單元 30:處理單元 41:第一傳感器 42:第二傳感器 50:顯示單元 51:長度結果 52:最新結果 53:第一量測閾值 54:第二量測閾值 55、56:平均數 57:正常通知 100:輸送帶 110:鋼胚 111:第一表面 112:第二表面 L ₁、L ₂:總長度 X ₁:第一距離 X ₂:第二距離

圖1為本新型一精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置的應用示意圖。圖2為本新型該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置的所量測鋼胚的粗糙表面示意圖。圖3為本新型該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置的方塊圖。圖4為本新型該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置於一實施例的計算示意圖。圖5為本新型該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置於另一實施例的計算示意圖。圖6為本新型該精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置一顯示單元顯示量測結果的示意圖。

1:第一發射方向

2:第二發射方向

3:輸送方向

11:第一測距雷射單元

12:第二測距雷射單元

41:第一傳感器

42:第二傳感器

100:輸送帶

110:鋼胚

111:第一表面

112:第二表面

Claims

一種精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，包括：一輸送帶，係沿一輸送方向輸送一鋼胚；一第一測距雷射單元，具有一第一發射方向，且該第一發射方向朝向該輸送帶；其中，該第一發射方向與該輸送方向垂直；一記憶單元，存有一檢測標準；一處理單元，電連接該第一測距雷射單元和該記憶單元；其中，該處理單元控制該第一測距雷射單元沿該第一發射方向朝該輸送帶複數次發射一第一測距雷射光；其中，當該些第一測距雷射光照射到該鋼胚時，該第一測距雷射單元接收各該第一測距雷射光反射形成的一第一反射雷射光而分別產生一第一電氣信號，並且將各該第一電氣信號送至該處理單元；其中，該處理單元根據所接收的各該第一電氣信號分別計算一第一距離，且該處理單元根據該檢測標準和該些第一距離計算該鋼胚的一長度。
如請求項1所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，進一步包括：一第一傳感器，電連接該處理單元，且固設於該輸送帶上；其中，當該第一傳感器感測到該鋼胚通過時，該第一傳感器產生一開始量測訊號至該處理單元；當該處理單元接收到該開始量測訊號時，該處理單元開始控制該第一測距雷射單元複數次發射該第一測距雷射光。
如請求項1所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該處理單元係控制該第一測距雷射單元週期性的發射該些第一測距雷射光。
如請求項1所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該記憶單元存有一總長度；當該處理單元根據該檢測標準和該些第一距離計算該鋼胚的該長度時，該處理單元係個別將該總長度減去各該第一距離而個別計算該鋼胚的一測量值；其中，該檢測標準具有一量測閾值，該處理單元判斷各該測量值是否大於該量測閾值，且該處理單元排除大於該量測閾值的該些測量值的部份，並僅保留小於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份用以平均計算該鋼胚的該長度。
如請求項1至3中任一項所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，進一步包括：一第二測距雷射單元，具有一第二發射方向，且該第二發射方向朝向該輸送帶，並且該第二發射方向相反於該第一發射方向；其中，當該處理單元控制該第一測距雷射單元複數次發射該第一測距雷射光時，該處理單元一併控制該第二測距雷射單元複數次發射一第二測距雷射光；其中，當該些第二測距雷射光照射到該鋼胚時，該第二測距雷射單元接收各該第二測距雷射光反射形成的一第二反射雷射光而分別產生一第二電氣信號，並且將各該第二電氣信號送至該處理單元；其中，該處理單元根據所接收的該些第二電氣信號分別計算一第二距離，且該處理單元係一併根據該檢測標準、該些第一距離和該些第二距離計算該鋼胚的該長度；其中，該處理單元所計算的該些第一距離分別於一時間上對應該處理單元所計算的其中一該第二距離。
如請求項5所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該記憶單元存有一總長度；當該處理單元一併根據該檢測標準、該些第一距離和該些第二距離計算該鋼胚的該長度時，該處理單元係個別將該總長度分別減去各該時間上對應的該第一距離和該第二距離而個別計算該鋼胚的一測量值；其中，該檢測標準具有一量測閾值，該處理單元判斷各該測量值是否大於或是等於該量測閾值，且該處理單元排除小於該量測閾值的該些測量值的部份，並僅保留大於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份用以平均計算該鋼胚的該長度。
如請求項6所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該處理單元僅保留大於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份係包括至少5個該測量值用以平均計算該鋼胚的該長度。
如請求項4所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該處理單元僅保留小於或是等於該量測閾值的該些測量值的部份係包括至少5個該測量值用以平均計算該鋼胚的該長度。
如請求項1所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，進一步包括：一顯示單元，電連接該處理單元；其中，該處理單元控制該顯示單元顯示該處理單元所計算該鋼胚的該長度。
如請求項9所述之精準量測鋼胚長度的雷射測距及測長裝置，其中該檢測標準具有一第一量測閾值和一第二量測閾值，該第二量測閾值大於該第一量測閾值；其中，該處理單元將所計算該鋼胚的該長度記錄存於該記憶單元中；其中，當該記憶單元中存有多筆的該長度時，該處理單元相加該記憶單元中存有該些長度為一鋼胚總長度，且該處理單元判斷該鋼胚總長度是否小於或是等於該第二量測閾值且大於或是等於該第一量測閾值；當該鋼胚總長度大於該第二量測閾值或是小於該第一量測閾值時，該處理單元產生一異常通知，且該處理單元控制該顯示單元顯示該異常通知。