TWM649200U - 微調機構 - Google Patents
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Abstract
一種微調機構，其係具有至少一微調裝置，該微調裝置係包含有一滑座、一基座以及一固定件，該滑座之頂面係設有一軸孔，該軸孔係設有一調整件，而該基座係連接於該滑座，該基座係具有一本體以及一容置槽，該本體之頂面係穿設有一微調限制孔，該容置槽可容設該滑座，藉此，透過旋轉該調整件，使該調整件於該微調限制孔內移動，以帶動該基座作動，而可進行X軸、Y軸之移動及角度θ之轉動，達到提升檢測品質及效率之目的。
Description
本創作係與一種微調機構有關，特別是指一種可進行X軸、Y軸以及角度θ位移的調整機構。
隨著科技產業日益進步，不論是精密機械工業、半導體產業、電子週邊產業及生物工程等各種產業的製程上，皆朝向微小化與精密化的方向發展，精密量測儀器也不斷的改良，因此像是半導體產業紛紛選擇製造附加價值高、精度高的產品做為重點研發項目，且為了確保電子產品出廠時的品質，於製造、組裝及出廠前，通常都會利用一量測機構來檢測電子產品之各精密電子元件間的電性連接是否確實以及電路基板上各線路電性是否有誤。
然而，電子元件或者電路基板的尺寸並非單一化，以至於在觀察電子元件或者電路基板等待測物的外觀、接點的作業執行時，如何將檢測探針精準地移動至待測物上特定的檢測點，都需要隨待測物尺寸進行調整，尤其若探針與待測物在水平方向、垂直方向上出現了偏差，於測試時盲目地探索下針位置，除了容易造成待測物及探針的損傷之外，也會降低檢測品質，是以，本案創作人在觀察到上述缺點後，認為現有的量測機構實有改進之必要，而遂有本創作之產生。
本創作之目的係在提供一種微調機構，其係可提高定位精度，而能更精準地控制探針與待測物之間的相對移動，達到提升檢測品質及效率之目的。
為達上述目的，本創作所提供之微調機構，其係具有至少一微調裝置，該微調裝置係連接於一底座，該微調裝置係包含有：一滑座，其係連接於該底座，該滑座之頂面係穿設有一軸孔，該軸孔係設有一調整件，該調整件係具有一定位軸以及一調整部，該定位軸和該調整部係為偏心設置；一基座，其係連接於該滑座，該基座係具有一本體，該本體之底部係設有一容置槽，該容置槽係可容設該滑座，該本體之頂面係穿設有一微調限制孔；一固定件，其係連接於該基座。
本創作所提供之微調機構，其係透過旋轉該調整件，使該調整件於該微調限制孔內移動，以帶動該基座作動，而可進行X軸、Y軸及角度θ之轉動，以提高定位精度，而能更精準地控制探針與待測物之間的相對移動，達到提升檢測品質及效率之目的。
200:底座
201:貫孔
202:旋轉軸心
203:第一調整件
100:微調裝置
10:滑座
11:軸孔
12:調整件
121:定位軸
122:調整部
13:通孔
14:第一貫孔
15:第一螺固件
16:旋轉軸心
20:基座
21:本體
22:容置槽
25:微調限制孔
26:第二貫孔
27:穿孔
28:第二螺固件
29:固定座
40:第一滑座
41:第一軸孔
42:第一微調限制孔
43:第二調整件
44:第一通孔
45:第一穿孔
46:第一定位件
50:第二滑座
51:第二軸孔
52:第二微調限制孔
53:第三調整件
54:第二通孔
55:第二穿孔
56:凹槽
57:插孔
58:第二定位件
63:固定座
第1圖係本創作之第一較佳實施例之組合立體圖。
第2圖係本創作之第一較佳實施例之分解圖。
第3圖係本創作之第一較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行X軸方向移動之態樣。
第4圖係本創作之第一較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行X軸方向移動之態樣。
第5圖係本創作之第二較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行Y軸方向移動之態樣。
第6圖係本創作之第二較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行Y軸方向移動之態樣。
第7圖係本創作之第三較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行角度θ轉動之態樣。
第8圖係本創作之第三較佳實施例之動作示意圖，用以顯示調整件進行角度θ轉動之態樣。
第9圖係本創作之第四較佳實施例之分解圖。
請參閱第1圖以及第2圖所示，係本創作之第一較佳實施例之組合立體圖以及分解圖，其係揭露有一種微調機構，該微調機構係具有至少一微調裝置100，該微調裝置100係連接於一底座200，該微調裝置100係包含有：一滑座10，其係連接於該底座200，該滑座10之頂面之中間位置係穿設有一軸孔11，該軸孔11係設有一調整件12，該調整件12係為偏心調整銷，該調整件12係具有一定位軸121以及一調整部122，該定位軸121係設於該軸孔11，該定位軸121之孔徑係等於該軸孔11之孔徑，該定位軸121和調整部122係為偏心設置，該調整部122係為一螺帽，且該調整部122係凸
出於該滑座10，該滑座10於該軸孔11沿該滑座10短軸之兩側係分別設有複數個通孔13以及一第一貫孔14，該第一貫孔14係為沉頭孔，該等通孔13係呈間隔排列設置，而該第一貫孔14係穿設有一第一螺固件15，於本創作實施例中，該第一螺固件15係為固定螺絲，該滑座10係藉由該第一螺固件15而螺設固定於該底座200。
一基座20，其係連接固定於該滑座10，該基座20係具有一本體21，該本體21之底部係設有一容置槽22，該容置槽22係可容設該滑座10，該容置槽22係概呈倒U形狀，該本體21之頂面之中間位置係穿設有一微調限制孔25，該微調限制孔25係設有該調整部122，該微調限制孔25係為非圓形之長槽狀，本創作實施例係為略呈橢圓形狀，且該微調限制孔25之開口係呈圓形，另該微調限制孔25沿該本體21長軸方向之長度係小於沿該本體21短軸方向之長度，該本體21於該微調限制孔25沿該本體21短軸之兩側係分別設有一第二貫孔26以及一穿孔27，該第二貫孔26係為沉頭孔，該第二貫孔26和該穿孔27係共同圍繞有該微調限制孔25，且對應該穿孔27位置處係設有該第一貫孔14，而對應該第二貫孔26位置處係設有該等通孔13，另該第二貫孔26係穿設有一第二螺固件28，於本創作實施例中，該第二螺固件28係為固定螺絲，而該本體21沿該底座200短軸之一端係連接有一固定座29該固定座29可固定探針卡、光學元件、電子元件或軟性電路板。
為供進一步瞭解本創作構造特徵、運用技術手段及所預期達成之功效，茲將本創作使用方式加以敘述，相信當可由此而對本創作有更深入且具體之瞭解，如下所述：
請參閱第3圖以及第4圖所示，係本創作之第一較佳實施例之動作示意圖，在進行位置調整前，需先將該第二螺固件28鬆開，即可透過該微
調限制孔25旋轉該調整件12，使該調整部122進行偏心轉動，進而帶動該基座20進行X軸方向之移動，其中，X軸方向係為平行該基座20短軸之方向，而能精準地控制探針與待測物之間的相對移動，以提高定位精度，達到提升檢測品質及效率之目的。
請繼續參閱第5圖以及第6圖所示，係本創作之第二較佳實施例之動作示意圖，本創作之第二較佳實施例與前述第一較佳實施例不同之處在於，該微調限制孔25沿該本體21長軸方向之長度係大於沿該本體21短軸方向之長度，在進行位置調整前，需先將該該第二螺固件28鬆開，即可透過該微調限制孔25旋轉該調整件12，使該調整部122進行偏心轉動，進而帶動該基座20進行Y軸方向之移動，其中，Y軸方向係為平行該基座20長軸之方向，而能精準地控制探針與待測物之間的相對移動，以提高定位精度，達到提升檢測品質及效率之目的。
請再繼續參閱第7圖以及第8圖所示，係本創作之第三較佳實施例之動作示意圖，本創作之第三較佳實施例與前述第一較佳實施例不同之處在於，該微調限制孔25沿該本體21長軸方向之長度係大於沿該本體21短軸方向之長度，且該本體21和該滑座10係共同插設有一旋轉軸心16，在進行位置調整前，需先將該第二螺固件28鬆開，即可透過該微調限制孔25旋轉該調整件12，使該調整部122進行偏心轉動，進而帶動該基座20進行角度θ之轉動，其中，角度θ係以該旋轉軸心16為中心旋轉，而能精準地控制探針與待測物之間的相對移動，以提高定位精度，達到提升檢測品質及效率之目的。
請再參閱第9圖所示，係本創作之第四較佳實施例之分解圖，本創作之第四較佳實施例與前述實施例不同之處在於，該底座200係設有至少一貫孔201，該等貫孔201係穿設有一旋轉軸心202以及一第一調整件203，該第一
調整件203係為偏心調整銷，且該底座200係連接有一第一滑座40，該第一滑座40之頂面係設有一第一軸孔41和一第一微調限制孔42，該第一軸孔41係穿設有一第二調整件43，該第二調整件43係為偏心調整銷，該第一微調限制孔42係容設有該第一調整件203，該第一滑座40於該第一軸孔41沿該第一滑座40短軸之兩側係分別設有複數個第一通孔44以及一第一穿孔45，該第一穿孔45係穿設有一第一定位件46，該第一滑座40係藉由該第一定位件46固定於該底座200，該第一滑座40係穿設有該旋轉軸心202，且該第一滑座40係連接有一第二滑座50，該第二滑座50係設於該第一滑座40之上方，該第二滑座50之頂面係設有一第二軸孔51以及一第二微調限制孔52，該第二軸孔51係穿設有一第三調整件53，該第三調整件53係為偏心調整銷，該第二微調限制孔52係對應該第一軸孔41，該第二滑座50於該第二軸孔51短軸之兩側係分別設有複數個第二通孔54以及一第二穿孔55，且該第二通孔54與該第二穿孔55之間係朝內凹設有一凹槽56，該凹槽56係設有一插孔57，該插孔57係穿設有一第二定位件58，該第二滑座50係藉由該第二定位件58固定於該第一滑座40之第一通孔44，該第二微調限制孔52係容設有該第二調整件43，且該第二滑座50係連接於該基座20，並容設於該本體21之容置槽22，該本體21係設有複數個穿孔27以及複數個微調限制孔25，每一穿孔27係對應該第一定位件46和該第二定位件58設置，每一微調限制孔25係對應該第一調整件203、該第二調整件43以及該第三調整件53設置，該本體21沿其長軸且遠離該容置槽22之一端係設有一固定座63藉此，在進行位置調整前，依調整X軸、Y軸或角度θ之需求，可先將該第二螺固件28、該第一定位件46或該第二定位件58鬆開，並分別旋轉該第一調整件203、該第二調整件43以及該第三調整件53，以分別進行偏心轉
動，進而帶動該基座20進行X軸、Y軸方向之移動和角度θ之轉動，以提高定位精度，而能更精準地控制探針與待測物之間的相對移動，達到提升檢測品質及效率之目的。
茲，再將本創作之特徵及其可達成之預期功效陳述如下：本創作所提供之微調機構，其係透過旋轉該調整件12，使該調整件12於該微調限制孔25內移動，以帶動該基座20作動，而可進行X軸、Y軸及角度θ之轉動，以提高定位精度，而能更精準地控制探針與待測物之間的相對移動，達到提升檢測品質及效率之目的。
綜上所述，本創作在同類產品中實有其極佳之進步實用性，同時遍查國內外關於此類結構之技術資料，文獻中亦未發現有相同的構造存在在先，是以，本創作實已具備新型專利要件，爰依法提出申請。
惟，以上所述者，僅係本創作之一較佳可行實施例而已，故舉凡應用本創作說明書及申請專利範圍所為之等效結構變化，理應包含在本創作之專利範圍內。
200:底座
100:微調裝置
10:滑座
20:基座
21:本體
22:容置槽
25:微調限制孔
26:第二貫孔
27:穿孔
28:第二螺固件
29:固定座
Claims (8)
- 一種微調機構，其係具有至少一微調裝置，該微調裝置係連接於一底座，該微調裝置係包含有：一滑座，其係連接於該底座，該滑座之頂面係穿設有一軸孔，該軸孔係設有一調整件，該調整件係具有一定位軸以及一調整部，該定位軸和該調整部係為偏心設置；一基座，其係連接於該滑座，該基座係具有一本體，該本體之底部係設有一容置槽，該容置槽係可容設該滑座，該本體之頂面係穿設有一微調限制孔；一固定件，其係連接於該基座。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該滑座於該軸孔沿該滑座短軸之兩側係分別設有複數個通孔以及一第一貫孔，該等通孔係呈間隔排列設置，而該第一貫孔係穿設有一第一螺固件，該滑座係藉由該第一螺固件螺設固定於該底座。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該微調限制孔沿該本體長軸方向之長度係小於沿該本體短軸方向之長度。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該微調限制孔沿該本體長軸方向之長度係大於沿該本體短軸方向之長度。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該本體於該微調限制孔沿該本體短軸之兩側係分別設有一第二貫孔以及一穿孔，該第二貫孔係穿設有一第二螺固件，且該本體沿該底座短軸之一端係連接有一固定座。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該固定件可固定探針卡、光學元件、電子元件或軟性電路板。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，更包含有一旋轉軸心，其係插設於該本體和該滑座之間。
- 依據請求項1所述之微調機構，其中，該微調機構係包含複數個滑座，每一滑座和該底座係設有該調整件，每一滑座和該基座係具有該微調限制孔。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW112204370U TWM649200U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 微調機構 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW112204370U TWM649200U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 微調機構 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TWM649200U true TWM649200U (zh) | 2023-12-11 |
Family
ID=90040519
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW112204370U TWM649200U (zh) | 2023-05-05 | 2023-05-05 | 微調機構 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| TW (1) | TWM649200U (zh) |
-
2023
- 2023-05-05 TW TW112204370U patent/TWM649200U/zh unknown
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