CN113532367A - 一种平面度测量装置及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种平面度测量装置，包括数显表、测试架和调整部件。其中，调整部件与测试架连接用于调整测试架与待测平面平行，并且调整部件底部设有与待测平面接触的触点。数显表能够在测试架上与待测平面平行的平面内滑动，并且数显表底部设有与待测平面接触的触点。本发明还提供一种平面度测量方法。本发明涉及的平面度测量装置及方法，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。
Description
技术领域
本发明涉及精密测量技术领域，具体涉及一种平面度测量装置及方法。
背景技术
在壳体类机械零件加工过程中，通常需要准确测量壳体零件的表面平面度来满足零件的装配或定位需求。目前工厂内常见的平面度测量工具主要集中在：精密三坐标、刀口尺配合塞尺、大理石平台配合千分表等方式测量。其中三坐标设备测量平面度准确可靠，但是建坐标系编程操作繁琐，时效比不算高。刀口尺配合塞尺的评价方式测量误差大且对人员操作水平要求高。大理石平台推千分表的方式需要考虑大理石平台的平面度等级，同时也要对零件待测面进行三远点找平操作，调平过程繁琐费时。
GB/T-11337针对平面度测量给出了诸多建议方案，包括使用自准直仪、液位量具、平台推表(调平零件)、干涉平晶、反向消差等方法，但是大多计算复杂、操作繁琐且需要专用工具组合使用。
发明内容
本发明要解决的技术问题是克服现有技术的不足，提供一种能够提高测量的效率及准确性的平面度测量装置及方法。
为了解决上述技术问题，本发明提出的技术方案为：
一种平面度测量装置，包括数显表、测试架和调整部件。其中，调整部件与测试架连接用于调整测试架与待测平面平行，并且调整部件底部设有与待测平面接触的触点。数显表能够在测试架上与待测平面平行的平面内滑动，并且数显表底部设有与待测平面接触的触点。
根据本发明的平面度测量装置，通过调整部件调整测试架与待测平面平行，数显表用于输出不同位置的平面高度数值，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。
对于上述技术方案，还可进行如下所述的进一步的改进。
根据本发明的平面度测量装置，在一个优选的实施方式中，测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构。
这种结构形式的测试架，不仅结构简单，便于装配，成本低，而且便于通过铰链的转动实现测量不同尺寸范围的平面的平面度。
进一步地，在一个优选的实施方式中，调整部件设置在铰链互相连接的位置处。
通过将调整部件设置在铰链互相连接的位置处，不仅可以简化测试架的结构，进一步节省成本，而且便于将调整部件的触点散布在待测平面上。
进一步地，在一个优选的实施方式中，调整部件的位置能够沿铰链的长度方向调整。
通过调整部件的位置的调整可以改变铰链在实际测量过程中的长度，从而改变整个测试架的外形尺寸实现测量不同尺寸的平面的平面度的目的。
具体地，在一个优选的实施方式中，触点为半球形结构。
半球形接触点可以精确定位待测平面上的点。
具体地，在一个优选的实施方式中，调整部件为调整螺钉。
调整螺钉能够进一步简化整个装置的结构和节省成本，并且便于调整操作。
进一步地，在一个优选的实施方式中，测试架上设有用于数显表滑动的滑槽。
通过设置滑槽，便于数显表在测试架上稳定滑行，从而提高测试效率和精准度。
具体地，在一个优选的实施方式中，调整部件底部的触点均匀散布于待测平面上。
这种布置形式，能够使得整个测量装置稳定可靠地布置在待测平面上，从而确保整个测量过程稳定可靠和测量结果的精确。
本发明第二方面的采用上述所述的装置实施的平面度测量方法，包括以下步骤：S01:将测试架放在待测平面上，并使得调整部件底部的触点散布于零件待测平面表面。S02:将数显表插入测试架上置零。S03:通过调节调整部件将调整部件底部的触点调整到零值。S04:在测试架上滑动数显表并记录测量点数值。S05:计算出测量点数值的极差即为所测平面的平面度。
显然，本发明的测量方法，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率就准确性。
进一步地，本发明第二方面的采用上述所述的装置实施的平面度测量方法，在一个优选的实施方式中，测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构，通过调整铰链的转动角度测量不同尺寸的平面，或者调整铰链的长度测量不同尺寸的平面。
这种测量方法，能够进一步增加平面度测量的适用性从而进一步提高平面度测量的效率。
相比现有技术，本发明的优点在于：不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。
附图说明
在下文中将基于实施例并参考附图来对本发明进行更详细的描述。其中：
图1示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置的整体结构；
图2示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置另一个方向的整体结构；
图3示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置的测量状态。
在附图中，相同的部件使用相同的附图标记。附图并未按照实际的比例绘制。
具体实施方式
下面将结合附图和具体实施例对本发明作进一步详细说明，但并不因此而限制本发明的保护范围。
图1示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置10的整体结构。图2示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置10另一个方向的整体结构。图3示意性显示了本发明实施例的平面度测量装置10的测量状态。
实施例1
如图1至图3所示，本发明实施例的平面度测量装置10，包括数显表1、测试架2和调整部件3。其中，调整部件3与测试架2连接用于调整测试架2与待测平面4平行，并且调整部件3底部设有与待测平面4接触的触点31。数显表1能够在测试架上1与待测平面4平行的平面内滑动，并且数显表1底部设有与待测平面4接触的触点11。根据本发明的平面度测量装置，通过调整部件调整测试架与待测平面平行，数显表用于输出不同位置的平面高度数值，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率就准确性。
具体地，在本实施例中，如图2所示，触点11、31为半球形结构。半球形接触点可以精确定位待测平面上的点。如图1至图3所示，具体地，在本实施例中，调整部件3为调整螺钉。调整螺钉能够进一步简化整个装置的结构和节省成本，并且便于调整操作。进一步地，在本实施例中，测试架2上设有用于数显表1滑动的滑槽21。通过设置滑槽，便于数显表在测试架上稳定滑行，从而提高测试效率和精准度。具体地，在本实施例中，调整部件3底部的触点均匀散布于待测平面4上。这种布置形式，能够使得整个测量装置稳定可靠地布置在待测平面上，从而确保整个测量过程稳定可靠和测量结果的精确。
本发明实施例的平面度测量装置10，优选地，测试架2为采用铰链22互相连接形成的方形框架结构。这种结构形式的测试架，不仅结构简单，便于装配，成本低，而且便于通过铰链的转动实现测量不同尺寸范围的平面的平面度。进一步地，在本实施例中，调整部件3设置在铰链22互相连接的位置处。通过将调整部件设置在铰链互相连接的位置处，不仅可以简化测试架的结构，进一步节省成本，而且便于将调整部件的触点散布在待测平面上。进一步地，在本实施例中，调整部件3的位置能够沿铰链22的长度方向调整。通过调整部件的位置的调整可以改变铰链在实际测量过程中的长度，从而改变整个测试架的外形尺寸实现测量不同尺寸的平面的平面度。
实施例2
本发明实施例的采用上述所述的装置10实施的平面度测量方法，包括以下步骤：S01:将测试架2放在待测平面4上，并使得调整部件3底部的触点31散布于零件待测平面4表面。S02:将数显表1插入测试架2上置零。S03:通过调节调整部件3将调整部件3底部的触点31调整到零值。S04:在测试架2上滑动数显表1并记录测量点数值。S05:计算出测量点数值的极差即为所测平面的平面度。显然，本发明的测量方法，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率就准确性。
进一步地，在本实施例中，测试架2为采用铰链22互相连接形成的方形框架结构，通过调整铰链22的转动角度测量不同尺寸的平面，或者调整铰链22的长度测量不同尺寸的平面。这种测量方法，能够进一步增加平面度测量的适用性从而进一步提高平面度测量的效率。
根据上述实施例，可见，本发明涉及的平面度测量装置及方法，不需要参考基准和更多的组合工具定位调平，能够快速高效地输出准确的平面度参数，从而能够提高平面度测量的效率和准确性。
虽然已经参考优选实施例对本发明进行了描述，但在不脱离本发明的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，各个实施例中所提到的各项技术特征均可以任意方式组合起来。本发明并不局限于文中公开的特定实施例，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
Claims (10)
1.一种平面度测量装置，其特征在于，包括数显表、测试架和调整部件；其中，
所述调整部件与所述测试架连接用于调整所述测试架与待测平面平行，并且所述调整部件底部设有与待测平面接触的触点；
所述数显表能够在所述测试架上与待测平面平行的平面内滑动，并且所述数显表底部设有与待测平面接触的触点。
2.根据权利要求1所述的平面度测量装置，其特征在于，所述测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构。
3.根据权利要求2所述的平面度测量装置，其特征在于，所述调整部件设置在所述铰链互相连接的位置处。
4.根据权利要求3所述的平面度测量装置，其特征在于，所述调整部件的位置能够沿所述铰链的长度方向调整。
5.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置，其特征在于，所述触点为半球形结构。
6.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置，其特征在于，所述调整部件为调整螺钉。
7.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置，其特征在于，所述测试架上设有用于所述数显表滑动的滑槽。
8.根据权利要求1至4中任一项所述的平面度测量装置，其特征在于，所述调整部件底部的触点均匀散布于待测平面上。
9.一种采用权利要求1至8中任一项所述的装置实施的平面度测量方法，其特征在于，包括以下步骤：
S01:将所述测试架放在待测平面上，并使得调整部件底部的触点散布于待测平面表面；
S02:将数显表插入测试架上置零；
S03:通过调节调整部件将调整部件底部的触点调整到零值；
S04:在测试架上滑动数显表并记录测量点数值；
S05:计算出测量点数值的极差即为所测平面的平面度。
10.根据权利要求9所述的平面度测量方法，其特征在于，所述测试架为采用铰链互相连接形成的方形框架结构，通过调整所述铰链的转动角度测量不同尺寸范围的平面，或者通过调整所述铰链的长度测量不同尺寸范围的平面。
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