CN203274663U - 便携式平面度测量仪 - Google Patents
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Abstract
本实用新型涉及机械加工领域中的平面度检测工具,特别是涉及一种便携式平面度测量仪。该便携式平面度测量仪包括测量基块和固定装配在测量基块上的测微计,测量基块具有两个以上的基准脚,基准脚围绕在测微计的触头的周围处。由于该便携式平面度测量仪包括测量基块和固定装配在测量基块上的测微计,测量基块上具有两个以上围绕测微计的触头布置的基准脚,因此,在使用该测量仪对零件的平面度进行测量时,通过手持测量基块使基准脚与被测零件的平面贴合,然后移动测量基块即可测量零件的平面是否平整,由于摒弃了传统测量部件中的标准平板,因此大大的减小了平面度测量仪的体积和重量,增加了其可操作性,使得对零件的平面度测量变得更加方便。
Description
便携式平面度测量仪
技术领域
[0001] 本实用新型涉及机械加工领域中的平面度检测工具,特别是涉及一种便携式平面度测量仪。
背景技术
[0002] 在机械加工领域中,常常需要对加工出的零件的平面度进行测量,以保证最终的加工精度。目前,测量零件平面度最常用到的方法之一便是用测微计(百分表或千分表等)打表。测微计包括表头和触头,表头上设有表盘和表针,使用时,触头沿轴向的运动转化为表针的摆动(或转动),表针与表盘配合便可指示出触头的活动量。在使用测微计测量零件平面度时,其具体做法是首先将被测零件放在标准平板上,然后再将测微计放置在标准平板上,以标准平板作为测量基准面,使测微计沿设定的路线移动进行测量或者逐点打表测量。
[0003] 通过以上描述我们可知,采用目前的方法测量零件的平面度时,需要用到至少两个部件:测微计和标准平板。其中测微计具有体积小、重量轻等特点,携带较为方便,其在目前的使用过程中不会给操作者带来什么负担和困扰;但是,对零件的平面度测量必须在标准平板上进行,这则无疑大大加重了操作者的负担,究其原因,则主要是因为标准平板在大多数情况下体积很大、重量很重,因此其一般是被固定在零件加工场所的某一区域处并且与加工设备之间存在一定的距离,当零件加工完成后,往往需要将其从相应的加工设备上卸下并转运到标准平板上,当零件比较大时,往往需要用到起重机等设备才能实现对零件向标准平板的转移,转移之后,若零件的平整度经过测量合格还好,若零件的平面度经测量不合格,则需要将其从标准平板上重新移动至加工设备继续加工,在此过程中不仅需要反复拆卸零件的固定工装,而且需要将零件来回转移,一方面大大增加了操作者的工作强度,降低了其工作效率,另一方面也存在着一定的危险性。
[0004] 综上所述,目前的平面度测量部件存在体积庞大、重量重和使用不便的问题。
发明内容
[0005] 本实用新型的目的在于提供一种体积小、重量轻并且使用方便的便携式平面度测量仪。
[0006] 为了解决上述问题,本实用新型的便携式平面度测量仪采用以下技术方案:便携式平面度测量仪,包括测量基块和固定装配在测量基块上的测微计,测量基块具有两个以上的基准脚,所述基准脚围绕在测微计的触头的周围处,测微计的触头的端面不高于基准脚的底。
[0007] 所述基准脚的底部具有基准平面,所有基准脚的基准平面均共面。
[0008] 测微计的触头垂直于基准脚的基准平面。
[0009] 测微计的触头端面所在的平面与所述基准平面共面。
[0010] 所述基准脚有两个并且该两个基准脚使得测量基块形成倒置的U形。[0011] 由于该便携式平面度测量仪包括测量基块和固定装配在测量基块上的测微计,并且测量基块上具有两个以上围绕测微计的触头布置的基准脚,因此,在使用该测量仪对零件的平面度进行测量时,通过手持所述测量基块使基准脚与被测零件的平面贴合,然后移动测量基块即可测量零件的平面是否平整,由于摒弃了传统测量部件中的标准平板,因此大大的减小了平面度测量仪的体积和重量,增加了其可操作性,使得对零件的平面度测量变得更加方便。
[0012] 更进一步的,基准平面有助于使测量基块保持在一个稳定的状态下,使其与待测平面始终保持一样的姿态,从而可提高该测量仪的测量精度;使测微计的触头垂直于基准脚的基准平面可以使测微计保持最好的工作状态,通过其表头便可直接读出被测平面的平面误差度;使测微计的触头端面所在的平面与所述基准平面共面以后,能够使得测微计触头端面同基准脚的基准平面一起三点形成一个标准平面;采用U形的测量基块能够最大限度的减小测量基块的体积和重量,充分发挥该测量仪便携的特性。
附图说明
[0013] 图1是便携式平面度测量仪的结构示意图。
具体实施方式
[0014] 便携式平面度测量仪的实施例,如图1所示,该便携式平面度测量仪包括测量基块11和固定装配在测量基块11上的测微计12,测量基块11具有基准脚111,本实施例中,基准脚111有两个,该两个基准脚111同时使得测量基块11形成了倒置的U形结构,每个基准脚111的底部都具有相应的基准平面,本实施例中,基准平面经研磨基准脚111的底部而形成,两个基准脚111的基准平面共面;测微计12插装并固定在测量基块11上,测量基块11的基准脚111围绕在测微计12的触头121外周,并且测微计12的触头121与基准脚111的平面垂直,另外,本实施例中,测微计12的触头端面所在的平面与基准脚111的基准平面共面。
[0015] 在使用该测量仪测量零件的平面度时,将测量基块压在待测的平面上,使基准脚的基准平面与待测平面贴合,然后滑动测量基块,同时读取测微计的极值,该极值即为待测平面的平面误差度。
[0016] 在便携式平面度测量仪的其它实施例中,还可以使测微计的触头与基准脚的基准平面之间呈30-90度之间的设定角度;基准脚的数量为两个以上皆可,但要围在测微计触头的外周处;测微计的触头端面还可以低于基准脚的底部。
Claims (5)
1.便携式平面度测量仪,其特征在于,包括测量基块和固定装配在测量基块上的测微计,测量基块具有两个以上的基准脚,所述基准脚围绕在测微计的触头的周围处,测微计的触头的端面不高于基准脚的底。
2.根据权利要求1所述的便携式平面度测量仪,其特征在于,所述基准脚的底部具有基准平面,所有基准脚的基准平面均共面。
3.根据权利要求2所述的便携式平面度测量仪,其特征在于,测微计的触头垂直于基准脚的基准平面。
4.根据权利要求3所述的便携式平面度测量仪,其特征在于,测微计的触头端面所在的平面与所述基准平面共面。
5.根据权利要求1-4任一项权利要求所述的便携式平面度测量仪,其特征在于,所述基准脚有两个并且该两个基准脚使得测量基块形成倒置的U形。
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CN105115407A (zh) * | 2015-09-11 | 2015-12-02 | 苏州嘉德鲁机电科技有限公司 | 便携式多功能平面度检测装置及其使用方法 |
CN105352394A (zh) * | 2015-12-09 | 2016-02-24 | 天津东义镁制品股份有限公司 | 镁合金型材的检测工具 |
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- 2013-04-28 CN CN 201320226561 patent/CN203274663U/zh not_active Expired - Fee Related
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Legal Events
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GR01 | Patent grant | ||
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TR01 | Transfer of patent right | ||
CF01 | Termination of patent right due to non-payment of annual fee |
Granted publication date: 20131106 Termination date: 20190428 |
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