CN102749064A - 一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置 - Google Patents
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Abstract
本发明公开一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置，所述方法包括：用垫块将待测背板支撑于测试平台上；求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。本发明能够解决背板真实形状与检测数据的偏离导致液晶显示装置品质不良的问题。
Description
技术领域
本发明涉及液晶显示领域，特别涉及一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置。
背景技术
背板是液晶显示装置中的关键组件，背板状态很大程度上决定了液晶显示装置整机装配后的品质。目前，背板生产工艺主要为冷冲压。背板的冲压生产工艺使其成型后出现不同程度的平面度形变，现行检测形变的测量方法受测量操作人员、测量工器具与背板接触面的压力、背板放置状态影响，测得的平面度数据与产品真实平面度结果相差很大，平面度难以控制。背板真实形状与检测数据的偏离可导致组装后的液晶显示装置漏光、整体形变等系列不良。
现有技术中背光模组如中国专利，公开号CN101865435A中所述。
发明内容
本发明提供一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法及其装置，以解决背板真实形状与检测数据的偏离导致液晶显示装置品质不良的问题。
本发明公开了一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法，所述方法包括：
用垫块将待测背板支撑于测试平台上；
求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；
根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。
较佳地，所述方法还包括：
设置参考0点；
用高度规测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；
所述求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面具体包括：
计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值；
以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
较佳地，所述根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度具体包括：
计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，
以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
较佳地，所述垫块位于背板的四角的位置。
较佳地，所述设置参考0点具体包括：
设置测试平台高度为参考0点。
本发明还公开了一种测量液晶显示装置的背板平面度的装置，所述装置包括：测试平台、垫块、高度规、和数据处理器，
垫块位于测试平台上；
待测的背板位于垫块上；
高度规位于背板上；
数据处理器包括：
参考平面构建模块，用于求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；
平面度计算模块，用于根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。
较佳地，所述装置还包括：
设置模块，用于设置参考0点；
所示高度规具体用于：测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；
所述参考平面构建模块具体用于：计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值，以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
较佳地，所述平面度计算模块具体用于：计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
较佳地，所述垫块位于背板的四角的位置。
较佳地，所述设置模块具体用于设置测试平台高度为参考0点。
本发明实施例的有益效果是：通过以距离垫块支撑位置最近的虚拟平面为参考平面，依据该参考平面测量平面度，保证测量的平面度与真实平面度相贴近，从而避免不合格液晶显示装置出厂。
附图说明
图1为本发明测量液晶显示装置的背板平面度的方法的流程图。
图2为本发明实施例中测量工具组合的示意图。
图3为本发明实施例中背板中垫块支撑位置的示意图。
图4为本发明实施例中参考平面的示意图。
图5为本发明实施例中背板相对参考平面形状的示意图。
图6为本发明实施例的流程图。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明实施方式作进一步地详细描述。
本发明测量液晶显示装置的背板平面度的方法的流程如图1所示。
所述方法包括如下步骤。
步骤S100，用垫块将待测背板支撑于测试平台上。
步骤S200，求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面。
步骤S300，根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。
采用背板平面度判断背板是否合格，当背板平面度满足预设范围时，背板合格，否则，背板不合格。
通过以距离垫块支撑位置最近的虚拟平面为参考平面，依据该参考平面测量平面度，保证测量的平面度与真实平面度相贴近，从而避免不合格液晶显示装置出厂。
在一具体实施方式中，所述方法还包括：设置参考0点；用高度规测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点。
所述求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面具体包括：
计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值；以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
在该具体实施方式中，以背板中垫块支撑位置的测量点相对于参考0点的高度的平均值为参考平面相对于参考0点的高度。本发明确定参考平面的方式不限于此，也可通过其他方法确定参考平面。只要满足参考平面为距离垫块支撑位置最近的虚拟平面即可。
在一具体实施方式中，所述根据高度规测量的高度计算背板的测量点与参考平面的相对高度，得出背板的平面度具体包括：
计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
在该具体实施方式中，以取正向、负向最大值得出平面度。本发明确定平面度的方式不限于此，也可通过其他方法处理测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以确定平面度。
优选地，所述垫块位于背板的四角的位置。
优选地，所述设置参考0点具体包括：设置测试平台高度为参考0点。
实施例
本发明的实施例如图2至5所示。实施例方法的步骤如图6所示。
步骤S601，用垫块300将待测背板200支撑于测试平台400上。
在本实施例中，测试平台400为A级或AA级大理石平台，垫块300为四个，相互间的高度差在0.05毫米以下。如图2所示，调整垫块300位置，使其处于背板200四角部位，平放背板200在垫块300构成的平面上。本实施例中背板200中垫块300支撑位置的示意图如图3所示。
步骤S602，在背板200面上布置测量点，选取参考0点。
背板200的垫块300支撑位置中包含测量点。参考0点可以任意选取，例如选取测试平台400或其他假想平面作为参考0点皆可。
步骤S603，用高度规100测量背板200上布置的测量点相对于参考0点的高度。
使用高度规100测量测量点位相对于参考0点高度值并记录。所测量点需包含四个垫块300位置处的测量高度值。
所述高度值为相对于参考0点的高度的值。
步骤S604，取背板200的四个垫块300位置测量点的相对于参考0点的高度数值，计算平均值。
所得平均值即为参考平面k相对参考0点的高度。
计算获得的参考平面k如图4所示。
步骤S605，将步骤S603中记录高度值与参考平面k高度值求差，取差中最大值为平面度的正向偏离值，取差中最小值为平面度的负向偏离值。
此时测量背板200相对参考平面k形状如图5所示，正向偏离值为a=m-k，负向偏离值为b=n-k。相对于参考平面k的正位移最大面表示为m，相对于参考平面的负位移最大面表示为n。
对角线尺寸32英寸以下液晶显示器，a≤0.5mm，b≥-1.0mm为合格产品；
对角线尺寸32英寸以上液晶显示器，a≤0.5mm，b≥-2.0mm为合格产品。
本发明一种测量液晶显示装置的背板平面度的装置包括：测试平台400、垫块300、高度规100、和数据处理器。
垫块300位于测试平台400上；
待测的背板200位于垫块300上；
高度规100位于背板200上。
测试平台400、垫块300、高度规100的组合如图2所示。
数据处理器为处理单元可以位于计算机上，在图2中未示出。
数据处理器包括：
参考平面构建模块，用于求得距离垫块300支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；
平面度计算模块，用于根据高度规100测量的高度计算背板200的测量点相对于参考平面的高度，得出背板200的平面度。
采用背板200平面度判断背板200是否合格，当背板200平面度满足预设范围时，背板200合格，否则，背板200不合格。
通过以距离垫块支撑位置最近的虚拟平面为参考平面，依据该参考平面测量平面度，保证测量的平面度与真实平面度相贴近，从而避免不合格液晶显示装置出厂。
在一具体实施方式中，所述装置还包括：设置模块，用于设置参考0点。
所示高度规100具体用于：测量背板200上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板200的垫块300支撑位置中包含测量点；
所述参考平面构建模块具体用于：计算背板200的垫块300支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值，以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
在该具体实施方式中，以背板中垫块支撑位置的测量点相对于参考0点的高度的平均值为参考平面相对于参考0点的高度。本发明确定参考平面的方式不限于此，也可通过其他方式确定参考平面。只要满足参考平面为距离垫块支撑位置最近的虚拟平面即可。
在一具体实施方式中，所述平面度计算模块具体用于：计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
在该具体实施方式中，以取正向、负向最大值得出平面度。本发明确定平面度的方式不限于此，也可通过其他方式处理测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以确定平面度。
优选地，所述垫块300位于背板200的四角的位置。
优选地，设置模块具体用于设置测试平台400高度为参考0点。
实施例
本发明的实施例如图2至5所示。
垫块300将待测背板200支撑于测试平台400上。在本实施例中，测试平台400为A级或AA级大理石平台，垫块300为四个，相互间的高度差在0.05毫米以下。如图2所示，调整垫块300位置，使其处于背板200四角部位，平放背板200在垫块300构成的平面上。本实施例中背板200中垫块300支撑位置的示意图如图3所示。
背板200面上布置有测量点，选取参考0点。背板200的垫块300支撑位置中包含测量点。参考0点可以任意选取，例如选取测试平台400或其他假想平面作为参考0点皆可。
高度规100测量出背板200上布置的测量点相对于参考0点的高度。使用高度规100测量测量点位相对于参考0点高度数值并记录。所测量点需包含四个垫块300位置处的测量高度数值。所述高度值为相对于参考0点的高度的值。
参考平面构建模块以背板200的四个垫块300位置测量点的相对于参考0点的高度值的平均值为参考平面k相对于参考0点的高度值。
确定的参考平面k如图4所示。
平面度计算模块计算各个测量点的高度值与参考平面k高度值求差，取差中最大值为平面度的正向偏离值，取差中最小值为平面度的负向偏离值。
此时测量背板200相对参考平面k形状如图5所示，正向偏离值为a=m-k，负向偏离值为b=n-k。相对于参考平面k的正位移最大面表示为m，相对于参考平面的负位移最大面表示为n。
对角线尺寸32英寸以下液晶显示器，a≤0.5mm，b≥-1.0mm为合格产品；
对角线尺寸32英寸以上液晶显示器，a≤0.5mm，b≥-2.0mm为合格产品。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并非用于限定本发明的保护范围。凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均包含在本发明的保护范围内。
Claims (10)
1.一种测量液晶显示装置的背板平面度的方法，其特征在于，所述方法包括：
用垫块将待测背板支撑于测试平台上；
求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；
根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述方法还包括：
设置参考0点；
用高度规测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；
所述求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面具体包括：
计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值；
以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度具体包括：
计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，
以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，
所述垫块位于背板的四角的位置。
5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，
所述设置参考0点具体包括：
设置测试平台高度为参考0点。
6.一种测量液晶显示装置的背板平面度的装置，其特征在于，所述装置包括：测试平台、垫块、高度规、和数据处理器，
垫块位于测试平台上；
待测的背板位于垫块上；
高度规位于背板上；
数据处理器包括：
参考平面构建模块，用于求得距离垫块支撑位置最近的虚拟平面，以所述虚拟平面为参考平面；
平面度计算模块，用于根据高度规测量的高度计算背板的测量点相对于参考平面的高度，得出背板的平面度。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述装置还包括：
设置模块，用于设置参考0点；
所示高度规具体用于：测量背板上布置的测量点相对于参考0点的高度，背板的垫块支撑位置中包含测量点；
所述参考平面构建模块具体用于：计算背板的垫块支撑位置中包含的测量点相对于参考0点的高度的平均值，以所述平均值为参考平面相对于参考0点的高度。
8.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述平面度计算模块具体用于：计算测量点相对于参考0点的高度与参考平面相对于参考0点的高度的差，以所得差中最大值为平面度的正向偏离值，以所得差中最小值为平面度的负向偏离值。
9.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，
所述垫块位于背板的四角的位置。
10.根据权利要求7所述的装置，其特征在于，
所述设置模块具体用于设置测试平台高度为参考0点。
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| C06 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| C10 | Entry into substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| C14 | Grant of patent or utility model | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| C56 | Change in the name or address of the patentee | ||
| CP01 | Change in the name or title of a patent holder |
Address after: 261031 Dongfang Road, Weifang high tech Industrial Development Zone, Shandong, China, No. 268 Patentee after: Goertek Inc. Address before: 261031 Dongfang Road, Weifang high tech Industrial Development Zone, Shandong, China, No. 268 Patentee before: Goertek Inc. |