TWM529853U - 測試座 - Google Patents

Description

測試座

本新型關於一種測試座，尤其是一種可使用探針測試待測裝置之測試座。

隨著科技的日新月異，電子裝置日漸普及。電子裝置是藉由組裝各種電子元件及電路板而完成。電子元件可藉由焊接之方式組裝於電路板，例如於電子元件之接腳穿過電路板再以焊料焊接，或者電子元件之接腳放置於電路板上再以焊料焊接之表面安裝技術（surface mount technology）。

電子裝置於完成後，通常會對電子元件進行各種電性測試，以確認電子元件的組裝是否正確無誤，且確認電子元件本身的狀態是否完善或有所損傷。一般而言，會使用探針對電子元件進行測試。

然而，現今之電子元件之尺寸愈來愈小，其針腳或電性連接點之尺寸亦隨之變得更小。故測試人員於握取探針而對電子元件進行檢測時，常會誤觸非目標之針腳或電性連接點，除了可能導致檢測錯誤之外，還可能導致短路而損壞電子元件或探針本身。再者，因測試人員握持探針時之狀態可能不一致，使得探針觸碰電子元件的狀態亦可能不一致，導致檢測訊號中可能含有雜訊或其他問題訊號。

有鑑於以上的問題，本新型提出一種測試座，其可供探針測試待測裝置，且可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果。

本新型提出一種測試座，用以供探針測試待測裝置。探針具有末端電極及側電極。測試座包括本體、第一導電部、第二導電部、第三導電部、第四導電部、第一導電線路及第二導電線路。本體具有探針插槽。探針插槽具有底部及側壁，且探針插槽用以供探針插入。第一導電部設置於探針插槽之底部，且第一導電部用以於探針插入探針插槽時電性接觸於末端電極。第二導電部設置於探針插槽之側壁，且第二導電部用以於探針插入探針插槽時電性接觸於側電極。第三導電部及第四導電部設置於本體之表面，且用以與待測裝置電性連接。第一導電線路設置於本體，且電性連接第一導電部及第三導電部。第二導電線路設置於本體，且電性連接第二導電部及第四導電部。

根據本新型之測試座，藉由設置用以供探針插入之探針插槽，而可避免探針接觸於不應接觸之位置，亦可使探針與第一導電部及第二導電部電性接觸時之狀態趨於一致。此外，藉由第一導電線路電性連接第一導電部及第三導電部以及第二導電線路電性連接第二導電部及第四導電部，使得測試座之電性連接處於穩定的狀態。因此，可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果，且能夠減少因測試狀態差異所造成之測試誤差。

以上之關於本新型內容之說明及以下之實施方式之說明係用以示範與解釋本新型之精神與原理，並且提供本新型之專利申請範圍更進一步之解釋。

以下在實施方式中詳細敘述本新型之詳細特徵以及優點，其內容足以使任何本領域中具通常知識者了解本新型之技術內容並據以實施，且根據本說明書所揭露之內容、申請專利範圍及圖式，任何本領域中具通常知識者可輕易地理解本新型相關之目的及優點。以下之實施例係進一步詳細說明本新型之觀點，但非以任何觀點限制本新型之範疇。此外，本案之圖式中之元件比例關係僅為示意以便於說明，而非用以限制本新型之範疇。

請參照圖1，繪示使用依照本新型之一實施例之測試座110以探針120對待測裝置130進行測試之側視剖面示意圖。測試座110用以供探針120測試待測裝置130。於本實施例中，測試座110包含本體111、第一導電部1121、第二導電部1122、第三導電部1123、第四導電部1124、第一導電線路1131及第二導電線路1132。

本體111之材質為絕緣材質。本體111包含彼此相連之裝設部111a及凸出部111b。裝設部111a具有相對之第一面111a1及第二面111a2。凸出部111b自第一面111a1凸出。裝設部111a之周圍尺寸可對應於待測裝置130之周圍尺寸。凸出部111b之周圍尺寸可小於裝設部111a之周圍尺寸，以節省本體111之用料。本體111具有探針插槽1110。探針插槽1110自凸出部111b向裝設部111a凹陷。

探針插槽1110具有底部1111、側壁1112且包含窄徑部1113及寬徑部1114。窄徑部1113相鄰底部1111。寬徑部1114與窄徑部1113相連。窄徑部1113之內徑小於寬徑部1114之內徑。第一導電部1121設置於探針插槽1110之底部1111。第二導電部1122設置於探針插槽1110之側壁1112位於寬徑部1114之位置。

探針插槽1110用以供探針120插入。探針120具有末端電極121及側電極122。於探針120插入探針插槽1110時，第一導電部1121可電性接觸於探針120之末端電極121，第二導電部1122可電性接觸於側電極122。

其中，窄徑部1113之內徑可略大於探針120之末端電極121之外徑，寬徑部1114之內徑可略大於探針120之側電極122之外徑。故每次於探針120插入探針插槽1110時，探針120相對於本體111之位置皆可趨於一致。藉此可增加使用探針120進行測試之穩定度，以提升測試結果的可信度。第二導電部1122可為具有彈性之導電彈片，而可於探針120插入探針插槽1110時令第二導電部1122穩定地抵靠於探針120之側電極122，以維持第二導電部1122及側電極122之間之電性接觸。

第三導電部1123及第四導電部1124設置於本體111之裝設部111a之第二面111a2。第三導電部1123及第四導電部1124用以與待測裝置130電性連接。

其中，待測裝置130之電極131可分別電性連接至電路板140之電極141。圖1中之待測裝置130之電極131可為包覆待測裝置130之主體132之端部之類型，但不以此為限。電極131亦可為針腳型或其他類型。於進行測試時，可藉由焊料以焊接方式電性連接第三導電部1123與待測裝置130之電極131以及電性連接第四導電部1124與待測裝置130之電極131。藉此，可將測試座110裝設於待測裝置130。而測試結束後可再藉由解焊方式使測試座110與待測裝置130分離。但不以此為限。另外亦可藉由卡合元件或固定元件等方式將測試座110裝設於待測裝置130。

第一導電線路1131設置於本體111，且電性連接第一導電部1121及第三導電部1123。第二導電線路1132設置於本體111，且電性連接第二導電部1122及第四導電部1124。

因此，當欲測試於電路板140上之待測裝置130時，可先將測試座110裝設於待測裝置130，且使第三導電部1123電性連接於待測裝置130之其中一電極131，使第四導電部1124電性連接於待測裝置130之另一電極131。

接下來，可經由電路板140運作待測裝置130，再將探針120插入測試座110之探針插槽1110，以測試及量測待測裝置130狀態。或者，亦可先將探針120插入測試座110之本體111之探針插槽1110，再經由電路板140運作待測裝置130，此時可測試及量測待測裝置130自未運作至運作時之狀態。由於測試座110本身擁有固定的電性線路，且其探針插槽1110可避免探針120誤觸不應接觸之位置，因此可避免探針120受到外界人為因素而檢測到錯誤訊號，進而提升測試之準確性。

另外，請參照圖2，繪示使用依照本新型之另一實施例之測試座210以探針220對待測裝置230進行測試之側視剖面示意圖。其中，圖2中之探針220可與圖1中之探針120相同，測試座210及待測裝置230可與圖1中之測試座110及待測裝置130相異。然而，測試座210與測試座110相同之部分，將省略其詳細之說明。

於圖2中，待測裝置230之電極231可為針腳型，且自待測裝置230之主體232之周圍向外延伸。

於本實施例中，測試座210除了包含本體211、第一導電部2121、第二導電部2122、第三導電部2123、第四導電部2124、第一導電線路2131及第二導電線路2132，亦包含第五導電部2125、第六導電部2126、第三導電線路2133及第四導電線路2134。

絕緣之本體211亦具有探針插槽2110，且包含彼此相連裝設部211a、凸出部211b及定位結構211c。裝設部211a具有相對之第一面211a1及第二面211a2。凸出部211b自第一面211a1凸出。定位結構211c設置於裝設部211a之第二面211a2之周圍且圍繞容置區211c1。容置區211c1用以容置待測裝置230之主體232。定位結構211c之形狀可為多個點狀、多個條狀、多個L狀、多個U狀、單框狀等各種形狀。

第二導電部2122可為環形之導電彈片，且設置於探針插槽2110之側壁2112，而可於探針220插入探針插槽2110時令第二導電部2122穩定地抵靠於探針220之側電極222，以維持二者之間之電性接觸。第三導電部2123及第四導電部2124可設置於定位結構211c。

第五導電部2125及第六導電部2126設置於本體211之裝設部211a之第一面211a1。第五導電部2125及第六導電部2126可為連接片，但不限於此，亦可為插槽或針腳。另外，外部導線251及外部導線252可分別焊接至第五導電部2125及第六導電部2126。外部導線251及外部導線252可提供待測裝置230運作電源或其他饋入訊號。

第三導電線路2133及第四導電線路2134設置於本體211。其中，第三導電線路2133可電性連接第五導電部2125及第三導電部2123。第四導電線路2134可電性連接第六導電部2126及第四導電部2124。第三導電線路2133及第四導電線路2134可設置於本體211之表面。第三導電線路2133及第四導電線路2134之體積可加大以增加其電流容許量。但不限於此，第三導電線路2133及第四導電線路2134亦可依需求埋設於本體211之內。

於進行測試時，可藉由焊料以焊接方式電性連接位於第三導電部2123之第三導電線路2133與待測裝置230之電極231，且可電性連接位於第四導電部2124之第四導電線路2134與待測裝置230之電極231。

再者，請參照圖3，繪示使用依照本新型之另一實施例之測試座310以探針320對待測裝置330進行測試之側視剖面示意圖。其中，圖3中之探針320及待測裝置330可分別與圖1中之探針120及待測裝置130相同，測試座310可與圖1中之測試座110及圖2中之測試座210相異。然而，測試座310與測試座110相同之部分或與測試座210相同之部分，將省略其詳細之說明。

於圖3中之實施例中，測試座310之本體311之探針插槽3110自凸出部311b向裝設部311a凹陷，且延伸至裝設部311a，故探針插槽3110之底部3111可位於裝設部311a之第一面311a1及第二面311a2之間。藉此可加深探針320插入探針插槽3110之深度，而可增加探針320的穩定度。

此外，第五導電部3125可為針腳，以供具夾頭之外部導線351以夾固方式電性連接。第六導電部3126可為插槽，以供具連接頭之外部導線352以插射方式電性連接。第五導電部3125及第六導電部3126之類型不限於此，而可依需求改變。

第三導電線路3133及第四導電線路3134亦可依需求埋設於本體311之內。

絕緣之本體211包含彼此相連裝設部311a、凸出部311b及定位結構311c。凸出部311b自裝設部311a之第一面311a1凸出。定位結構311c設置於裝設部311a之第二面311a2之周圍且圍繞容置區311c1。容置區311c1用以容置待測裝置330。第三導電部3123及第四導電部3124設置於裝設部311a之第二面311a2位於容置區311c1之範圍內。

此外，請參照圖4A及圖4B，圖4A繪示依照本新型之另一實施例之測試座410及待測裝置430之立體分解示意圖，圖4B繪示圖4A所示之測試座410及待測裝置430之立體組合示意圖。其中，圖4A及圖4B中之待測裝置430可與圖2中之待測裝置230相似，但可具有八個針腳型之電極431。測試座410可與圖1中之測試座110、圖2中之測試座210及圖3中之測試座310相異。然而，測試座410與測試座110相同之部分、與測試座210相同之部分或與測試座310相同之部分，將省略其詳細之說明。

圖4A及圖4B中，測試座410之本體411包含彼此相連之裝設部411a、凸出部411b及定位結構411c。凸出部411b凸出於裝設部411a之第一面411a1。定位結構411c位於裝設部411a之第二面411a2。測試座410可包含位於探針插槽4110之導電部4121及導電部4122，包含位於定位結構411c之導電部4123、多個導電部4124、多個導電部4125及導電部4126，且包含位於第一面411a1之導電部4127及導電部4128。測試座410亦包含電性連接導電部4123及導電部4127之導電線路4133、電性連接導電部4124及導電部4121之導電線路4131、電性連接導電部4125及導電部4122之導電線路4132及電性連接導電部4126及導電部4128之導電線路4134。外部導線451及外部導線452可分別焊接至導電部4127及導電部4128。

此外，位於定位結構411c之導電部4123、多個導電部4124、多個導電部4125及導電部4126可分別電性連接至待測裝置430之針腳431，以將測試座410裝設於待測裝置430。

請參照圖5A及圖5B，圖5A繪示依照本新型之另一實施例之測試座510及待測裝置430之立體分解示意圖，圖5B繪示圖5A所示之測試座510及待測裝置530之立體組合示意圖。其中，圖5A及圖5B中之待測裝置530可與圖4A及圖4B中之待測裝置430相似。測試座510可與圖4A及圖4B中之測試座410相異。然而，測試座510與測試座410相同之部分，將省略其詳細之說明。

圖5A及圖5B中，測試座510可具有多個探針插槽5110。測試座510可包含位於探針插槽5110之導電部5121及導電部5122，包含位於定位結構511c之導電部5123，且包含位於第一面511a1之導電部5124。導電部5123可分別電性連接至導電部5121、導電部5122及導電部5124。外部導線551及外部導線552可分別焊接至導電部5124。此外，位於定位結構511c之導電部5123可分別電性連接至待測裝置530之針腳型之電極531，以將測試座510裝設於待測裝置530。

綜上所述，本新型之測試座，藉由設置用以供探針插入之探針插槽，而可避免探針接觸於不應接觸之位置，亦可使探針與第一導電部及第二導電部電性接觸時之狀態趨於一致。此外，藉由第一導電線路電性連接第一導電部及第三導電部以及第二導電線路電性連接第二導電部及第四導電部，使得測試座之電性連接處於穩定的狀態。因此，可避免探針因誤操作而導致錯誤測試結果，且能夠減少因測試狀態差異所造成之測試誤差。

雖然本新型以前述之實施例揭露如上，然其並非用以限定本新型。在不脫離本新型之精神和範圍內，所為之更動與潤飾，均屬本新型之專利保護範圍。關於本新型所界定之保護範圍請參考所附之申請專利範圍。

110、210、310、410、510‧‧‧測試座
111、211、311、411‧‧‧本體
111a、211a、311a、411a‧‧‧裝設部
111a1、211a1、311a1、411a1、511a1‧‧‧第一面
111a2、211a2、311a2、411a2‧‧‧第二面
111b、211b、311b、411b‧‧‧凸出部
1110、2110、3110、4110、5110‧‧‧探針插槽
1111、3111‧‧‧底部
1112、2112‧‧‧ 側壁
1113‧‧‧窄徑部
1114‧‧‧寬徑部
1121、2121‧‧‧第一導電部
1122、2122‧‧‧第二導電部
1123、2123、3123‧‧‧第三導電部
1124、2124、3124‧‧‧第四導電部
1131、2131‧‧‧第一導電線路
1132、2132‧‧‧第二導電線路
120、220、320‧‧‧探針
121‧‧‧末端電極
122、222‧‧‧側電極
130、230、330、430、530‧‧‧待測裝置
131、231、431、531‧‧‧電極
132、232‧‧‧主體
140‧‧‧電路板
141‧‧‧電極
211c、311c、411c、511c‧‧‧定位結構
211c1、311c1‧‧‧容置區
2125、3125‧‧‧第五導電部
2126、3126‧‧‧第六導電部
2133、3133‧‧‧第三導電線路
2134、3134‧‧‧第四導電線路
251、252、351、352、451、452、551、552‧‧‧外部導線
4121、4122、4123、4124、4125、4126‧‧‧導電部
4127、4128、5121、5122、5123、5124‧‧‧導電部
4131、4132、4133、4134‧‧‧導電線路

圖1繪示使用依照本新型之一實施例之測試座以探針對待測裝置進行測試之側視剖面示意圖。 圖2繪示使用依照本新型之另一實施例之測試座以探針對待測裝置進行測試之側視剖面示意圖。 圖3繪示使用依照本新型之另一實施例之測試座以探針對待測裝置進行測試之側視剖面示意圖。 圖4A繪示依照本新型之另一實施例之測試座及待測裝置之立體分解示意圖。 圖4B繪示圖4A所示之測試座及待測裝置之立體組合示意圖。 圖5A繪示依照本新型之另一實施例之測試座及待測裝置之立體分解示意圖。 圖5B繪示圖5A所示之測試座及待測裝置之立體組合示意圖。

110‧‧‧測試座

111‧‧‧本體

111a‧‧‧裝設部

111a1‧‧‧第一面

111a2‧‧‧第二面

111b‧‧‧凸出部

1110‧‧‧探針插槽

1111‧‧‧底部

1112‧‧‧側壁

1113‧‧‧窄徑部

1114‧‧‧寬徑部

1121‧‧‧第一導電部

1122‧‧‧第二導電部

1123‧‧‧第三導電部

1124‧‧‧第四導電部

1131‧‧‧第一導電線路

1132‧‧‧第二導電線路

120‧‧‧探針

121‧‧‧末端電極

122‧‧‧側電極

130‧‧‧待測裝置

131‧‧‧電極

132‧‧‧主體

140‧‧‧電路板

141‧‧‧電極

Claims (12)

1. 一種測試座，用以供一探針測試一待測裝置，該探針具有一末端電極及一側電極，該測試座包括：一本體，具有一探針插槽，該探針插槽具有一底部及一側壁，且該探針插槽用以供該探針插入；一第一導電部，設置於該探針插槽之該底部，且該第一導電部用以於該探針插入該探針插槽時電性接觸於該末端電極；一第二導電部，設置於該探針插槽之該側壁，且該第二導電部用以於該探針插入該探針插槽時電性接觸於該側電極；一第三導電部及一第四導電部，設置於該本體之表面，且用以與該待測裝置電性連接；一第一導電線路，設置於該本體，且電性連接該第一導電部及該第三導電部；以及一第二導電線路，設置於該本體，且電性連接該第二導電部及該第四導電部。
2. 如請求項1所述之測試座，其中該本體包括彼此相連之一裝設部及一凸出部，該裝設部具有一第一面及一第二面，該凸出部自該第一面凸出，該探針插槽自該凸出部向該裝設部凹陷，該第三導電部及該第四導電部設置於該第二面。
3. 如請求項2所述之測試座，更包括一第五導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置於該第一面，該第三導電線路設置於該本體，且將該第五導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部之其中一者。
4. 如請求項3所述之測試座，其中該第三導電線路設置於該本體之表面或埋設於該本體內。
5. 如請求項3所述之測試座，其中該第五導電部為插槽、針腳或連接片。
6. 如請求項3所述之測試座，更包括一第六導電部及一第四導電線路，該第六導電部設置於該第一面，該第四導電線路設置於該本體，且將該第六導電部電性連接至該第三導電部及該第四導電部之另一者。
7. 如請求項6所述之測試座，其中該第四導電線路設置於該本體之表面或埋設於該本體內。
8. 如請求項6所述之測試座，其中該第六導電部為插槽、針腳或連接片。
9. 如請求項2所述之測試座，更包括一第五導電部、一第六導電部及一第三導電線路，該第五導電部設置於該第一面，該第六導電部設置於該第二面，該第三導電線路設置於該本體且電性連接該第五導電部及該第六導電部。
10. 如請求項1所述之測試座，其中該探針插槽包括一窄徑部及一寬徑部，該窄徑部相鄰該底部，該寬徑部與該窄徑部相連，該窄徑部之內徑小於該寬徑部之內徑且大於該探針之該末端電極之外徑，該寬徑部之內徑大於該探針之該側電極之外徑。
11. 如請求項1所述之測試座，其中該本體包括彼此相連之一定位結構及一裝設部，該定位結構圍繞一容置區，該容置區用以容置該待測裝置。
12. 如請求項11所述之測試座，其中該第三導電部及該第四導電部設置於該定位結構或位於該容置區之該裝設部。