TWI841053B - 測試設備 - Google Patents

Abstract

一種測試設備包含殼體、底座、第一支撐件以及固定結構。殼體包含上殼以及下殼。下殼具有複數個第一穿孔，下殼配置以可拆卸地連接上殼，並與上殼共同定義容置空間於其中。容置空間配置以容置待測物，第一穿孔配置以讓待測物的複數個導電部穿越以至少部分凸出於下殼外。第一支撐件連接底座，並配置以支撐電路板。固定結構包含支架、臂體以及壓件。支架連接底座。臂體具有相對之第一端以及第二端，第一端樞接支架。壓件連接第二端，並配置以壓向上殼，以使導電部抵接電路板。

Description

測試設備

本發明是關於一種測試設備。

隨著現今人們對電子裝置的需求日益增加，電子裝置中不同零件的品質對業界來說也變得更為重要。故此，除了提升零件的製造技術外，廠商對零件測試的技術也變得越來越重視。

由於對零件測試的步驟已成為不可或缺的一環，因此，如何在維持測試技術水平的情況下把涉及的時間及資源有效降低，無疑為業界相當關注的重要課題。

本發明之目的之一在於提供一種測試設備，其能簡單容易地讓使用者可對不同型號或不同大小的待測物進行相關的電性測試。

根據本發明的一實施方式，一種測試設備包含殼體、底座、第一支撐件以及固定結構。殼體包含上殼以及下殼。下殼具有複數個第一穿孔，下殼配置以可拆卸地連接上殼，並與上殼共同定義容置空間於其中。容置空間配置以容置待測物，第一穿孔配置以讓待測物的複數個導電部穿越以至少部分凸出於下殼外。第一支撐件連接底座，並配置以支撐電路板。固定結構包含支架、臂體以及壓件。支架連接底座。臂體具有相對之第一端以及第二端，第一端樞接支架。壓件連接第二端，並配置以壓向上殼，以使導電部抵接電路板。

在本發明一或多個實施方式中，當上述之壓件壓向上殼時，壓件至少部分對齊第一支撐件。

在本發明一或多個實施方式中，上述之測試設備更包含複數個第二支撐件。第二支撐件連接底座，並配置以支撐電路板。第二支撐件彼此分離，而第一支撐件至少部分位於第二支撐件之間。

在本發明一或多個實施方式中，上述之底座具有複數個螺孔。第二支撐件中每一者包含承托部以及螺桿。承托部配置以支撐電路板。螺桿配置以耦合螺孔中對應之一者。

在本發明一或多個實施方式中，上述之承托部包含軟性材質。

在本發明一或多個實施方式中，上述之底座具有複數個螺孔。第一支撐件包含承托部以及螺桿。承托部配置以支撐電路板。螺桿配置以耦合螺孔中對應之一者。

在本發明一或多個實施方式中，上述之承托部包含軟性材質。

在本發明一或多個實施方式中，上述之臂體具有螺孔，螺孔位於第二端。壓件包含抵壓部以及螺桿。抵壓部配置以壓向上殼。螺桿配置以耦合螺孔。

在本發明一或多個實施方式中，上述之抵壓部包含軟性材質。

在本發明一或多個實施方式中，上述之上殼具有複數個第二穿孔，下殼具有複數個第三穿孔。殼體更包含複數個鎖固件。鎖固件中每一者配置以穿越第二穿孔中之一者以及第三穿孔中對應之一者，以鎖固上殼與下殼。

在本發明一或多個實施方式中，上述之臂體具有第一受力點，第一受力點位於第一端與第二端之間。測試設備更包含施力結構。施力結構包含結構件、連接件以及把手。結構件具有第三端、第四端以及第二受力點，第二受力點位於第三端與第四端之間，第三端樞接支架，臂體至少部分位於第三端與第二受力點之間。連接件具有相對之第五端以及第六端，第五端樞接第一受力點，第六端樞接第二受力點。把手連接第四端。

本發明上述實施方式至少具有以下優點：對於不同型號或不同大小的待測物，使用者僅需提供適於容置待測物的殼體，便可簡單容易地使用測試設備對待測物進行相關的電性測試，這除了能節省時間及節省成本外，也能為使用者帶來方便。

以下將以圖式揭露本發明之複數個實施方式，為明確說明起見，許多實務上的細節將在以下敘述中一併說明。然而，應瞭解到，這些實務上的細節不應用以限制本發明。也就是說，在本發明部分實施方式中，這些實務上的細節是非必要的。此外，為簡化圖式起見，一些習知慣用的結構與元件在圖式中將以簡單示意的方式繪示之，而在所有圖式中，相同的標號將用於表示相同或相似的元件。且若實施上為可能，不同實施例的特徵係可以交互應用。

除非另有定義，本文所使用的所有詞彙（包括技術和科學術語）具有其通常的意涵，其意涵係能夠被熟悉此領域者所理解。更進一步的說，上述之詞彙在普遍常用之字典中之定義，在本說明書的內容中應被解讀為與本發明相關領域一致的意涵。除非有特別明確定義，這些詞彙將不被解釋為理想化的或過於正式的意涵。

請參照第1～2圖。第1圖為繪示依照本發明一實施方式之殼體110的爆炸剖面圖。第2圖為繪示第1圖之殼體110的剖面組立圖，其中待測物200容置於容置空間AS中。在本實施方式中，如第1～2圖所示，一種殼體110包含上殼111以及下殼112，下殼112配置以可拆卸地連接上殼111，並與上殼111共同定義容置空間AS（請見第2圖）於其中。殼體110的容置空間AS配置以容置待測物200（請見第2圖），而下殼112具有複數個第一穿孔H1，第一穿孔H1配置以讓待測物200的複數個導電部210穿越以至少部分凸出於下殼112外。在實務的應用中，待測物200可為動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory；DRAM)，而針對不同型號或不同大小的DRAM，上殼111以及下殼112的大小尺寸可以對應調整，以利殼體110容置DRAM，而第一穿孔H1的數量及排列方式亦可對應調整，以讓DRAM的導電部210可以穿越以至少部分凸出於下殼112外。為使圖式更清楚易懂，於第1～2圖中，導電部210及第一穿孔H1均以較誇大的比例繪示。

具體而言，當殼體110的上殼111與下殼112彼此穩妥連接而待測物200容置於容置空間AS時，上殼111以及下殼112分別抵接待測物200的上方及下方，如第2圖所示，故待測物200不會在殼體110內出現鬆脫的情況，而待測物200的導電部210也能穩固地至少部分凸出於殼體110的下殼112外。

進一步而言，如第1～2圖所示，殼體110的上殼111具有複數個第二穿孔H2，而殼體110的下殼112具有複數個第三穿孔H3。再者，殼體110更包含複數個鎖固件113，鎖固件113中每一者配置以穿越第二穿孔H2中之一者以及第三穿孔H3中對應之一者，以鎖固上殼111與下殼112，如第2圖所示。舉例而言，如第1～2圖所示，鎖固件113可包含螺絲及螺母，但本發明並不以此為限。

請參照第3圖。第3圖為繪示依照本發明一實施方式之測試設備100的正面示意圖，其中殼體110未放置於電路板300上。在本實施方式中，如第3圖所示，測試設備100除了包含上述的殼體110外，更包含底座120、第一支撐件130以及固定結構140。第一支撐件130連接底座120，並配置以支撐電路板300。固定結構140包含支架141、臂體142以及壓件143。固定結構140的支架141連接底座120。固定結構140的臂體142具有相對之第一端142a以及第二端142b，臂體142的第一端142a樞接支架141。固定結構140的壓件143連接臂體142的第二端142b，並配置以壓向殼體110的上殼111，以使殼體110內待測物200（請見第2、8圖）的導電部210抵接承托於第一支撐件130的電路板300。

再者，測試設備100更包含複數個第二支撐件150。第二支撐件150連接底座120，且第二支撐件150彼此分離，並配置以支撐電路板300。請參照第4圖。第4圖為繪示第3圖沿線段A-A的剖面圖。在本實施方式中，如第4圖所示，第一支撐件130至少部分位於第二支撐件150之間。如此一來，第二支撐件150與第一支撐件130可對電路板300提供更穩固的承托。

進一步而言，如第3圖所示，固定結構140的臂體142具有第一受力點F1，而第一受力點F1位於第一端142a與第二端142b之間。另一方面，測試設備100更包含施力結構160。施力結構160包含結構件161、連接件162以及把手163。結構件161具有第三端161a、第四端161b以及第二受力點F2，第二受力點F2位於第三端161a與第四端161b之間，把手163連接結構件161的第四端161b，結構件161的第三端161a樞接固定結構140的支架141，故結構件161可相對支架141轉動，而臂體142至少部分位於結構件161的第三端161a與第二受力點F2之間。連接件162具有相對之第五端162a以及第六端162b，連接件162的第五端162a樞接臂體142的第一受力點F1，而第六端162b則樞接結構件161的第二受力點F2。

當使用者相對固定結構140的支架141拉動施力結構160的把手163時，施力結構160的結構件161與把手163共同繞第三端161a相對固定結構140的支架141轉動，而結構件161於第二受力點F2對連接件162施加力度，以帶動連接件162移動，而連接件162繼而於第一受力點F1對臂體142施加力度，以使臂體142繞第一端142a相對固定結構140的支架141轉動。

請參照第5圖。第5圖為繪示第3圖之第一支撐件130的局部放大剖面圖。在本實施方式中，如第4～5圖所示，底座120具有複數個螺孔SH1，而如第5圖所示，第一支撐件130包含承托部131以及螺桿132。承托部131配置以支撐電路板300（請見第3圖），而螺桿132則配置以耦合底座120的螺孔SH1。藉由第一支撐件130的螺桿132與底座120的螺孔SH1之間的耦合，使用者可簡單容易地調整第一支撐件130相對底座120的高度，亦即承托部131相對底座120的高度，以利對電路板300提供適合的承托。

再者，在本實施方式中，第一支撐件130的承托部131包含軟性材質。如此一來，在第一支撐件130的承托部131支撐並承托電路板300時，承托部131不會對電路板300造成損壞。

請參照第6圖。第6圖為繪示第3圖之第二支撐件150的局部放大剖面圖。在本實施方式中，如第4～6圖所示，底座120具有複數個螺孔SH1，而如第6圖所示，第二支撐件150包含承托部151以及螺桿152。相似地，承托部151配置以支撐電路板300（請見第3圖），而螺桿152則配置以耦合底座120的螺孔SH1。藉由第二支撐件150的螺桿152與底座120的螺孔SH1之間的耦合，使用者可簡單容易地調整第二支撐件150相對底座120的高度，亦即承托部151相對底座120的高度，以利對電路板300提供適合的承托。

再者，在本實施方式中，第二支撐件150的承托部151包含軟性材質。如此一來，在第二支撐件150的承托部151支撐並承托電路板300時，承托部151不會對電路板300造成損壞。

請參照第7圖。第7圖為繪示第3圖之測試設備100的正面示意圖，其中殼體110已固定於電路板300上。在本實施方式中，如第7圖所示，當待測物200（請見第2、8圖）已容置於殼體110內，且殼體110置放於電路板300上之後，使用者可拉動施力結構160的把手163，以使固定結構140的臂體142如上所述繞第一端142a相對支架141轉動，從而使固定結構140的壓件143壓向殼體110的上殼111，以固定殼體110與電路板300的相對位置。值得注意的是，在本實施方式中，當固定結構140的壓件143壓向殼體110的上殼111時，壓件143至少部分對齊第一支撐件130，亦即壓件143、殼體110與第一支撐件130的排列實質上成一直線，故殼體110與電路板300之間的連接可更為穩固。

請參照第8圖。第8圖為繪示第7圖之範圍B的局部放大剖面圖。在本實施方式中，如第8圖所示，當固定結構140的壓件143壓向殼體110的上殼111時，待測物200凸出於下殼112外的導電部210可穩固地抵接電路板300上的導電部310，例如導電墊，以讓使用者可使用電性連接電路板300的測試儀器（圖未示），對殼體110內的待測物200進行相關的電性測試。

值得注意的是，對於不同型號或不同大小的待測物200，使用者僅需提供適於容置待測物200的殼體110，便可簡單容易地使用測試設備100對待測物200進行相關的電性測試，這除了能節省時間及節省成本外，也能為使用者帶來方便。

請參照第9圖。第9圖為繪示第7圖之壓件143的局部放大剖面圖。在本實施方式中，如第9圖所示，臂體142具有螺孔SH2，螺孔SH2位於第二端142b，而壓件143包含抵壓部144以及螺桿145。抵壓部144配置以壓向殼體110（請見第7～8圖）的上殼111，而螺桿145則配置以耦合臂體142的螺孔SH2。藉由壓件143的螺桿145與臂體142的螺孔SH2之間的耦合，使用者可簡單容易地調整抵壓部144相對臂體142的位置，以利對殼體110提供適合的壓力。

再者，在本實施方式中，壓件143的抵壓部144包含軟性材質。如此一來，在壓件143的抵壓部144抵壓殼體110時，抵壓部144不會對殼體110造成損壞。

綜上所述，本發明上述實施方式所揭露的技術方案至少具有以下優點：對於不同型號或不同大小的待測物，使用者僅需提供適於容置待測物的殼體，便可簡單容易地使用測試設備對待測物進行相關的電性測試，這除了能節省時間及節省成本外，也能為使用者帶來方便。

雖然本發明已以實施方式揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

100:測試設備

110:殼體

111:上殼

112:下殼

113:鎖固件

120:底座

130:第一支撐件

131:承托部

132:螺桿

140:固定結構

141:支架

142:臂體

142a:第一端

142b:第二端

143:壓件

144:抵壓部

145:螺桿

150:第二支撐件

151:承托部

152:螺桿

160:施力結構

161:結構件

161a:第三端

161b:第四端

162:連接件

162a:第五端

162b:第六端

163:把手

200:待測物

210:導電部

300:電路板

310:導電部

AS:容置空間

A-A:線段

B:範圍

F1:第一受力點

F2:第二受力點

H1:第一穿孔

H2:第二穿孔

H3:第三穿孔

SH1,SH2:螺孔

第1圖為繪示依照本發明一實施方式之殼體的爆炸剖面圖。 第2圖為繪示第1圖之殼體的剖面組立圖，其中待測物容置於容置空間中。 第3圖為繪示依照本發明一實施方式之測試設備的正面示意圖，其中殼體未放置於電路板上。 第4圖為繪示第3圖沿線段A-A的剖面圖。 第5圖為繪示第3圖之第一支撐件的局部放大剖面圖。 第6圖為繪示第3圖之第二支撐件的局部放大剖面圖。 第7圖為繪示第3圖之測試設備的正面示意圖，其中殼體已固定於電路板上。 第8圖為繪示第7圖之範圍B的局部放大剖面圖。 第9圖為繪示第7圖之壓件的局部放大剖面圖。

國內寄存資訊(請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無 國外寄存資訊(請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無

100:測試設備

110:殼體

111:上殼

112:下殼

120:底座

130:第一支撐件

131:承托部

132:螺桿

140:固定結構

141:支架

142:臂體

142a:第一端

142b:第二端

143:壓件

144:抵壓部

145:螺桿

150:第二支撐件

151:承托部

152:螺桿

160:施力結構

161:結構件

161a:第三端

161b:第四端

162:連接件

162a:第五端

162b:第六端

163:把手

300:電路板

B:範圍

F1:第一受力點

F2:第二受力點

Claims (10)

1. 一種測試設備，包含：一殼體，包含：一上殼；以及一下殼，具有複數個第一穿孔，該下殼配置以可拆卸地連接該上殼，並與該上殼共同定義一容置空間於其中，該容置空間配置以容置一待測物，該些第一穿孔配置以讓該待測物的複數個導電部穿越以至少部分凸出於該下殼外；一底座；一第一支撐件，連接該底座，並配置以支撐一電路板；複數個第二支撐件，連接該底座，並配置以支撐該電路板，該些第二支撐件彼此分離，該第一支撐件至少部分位於該些第二支撐件之間；以及一固定結構，包含：一支架，連接該底座；一臂體，具有相對之一第一端以及一第二端，該第一端樞接該支架；以及一壓件，連接該第二端，並配置以壓向該上殼，以使該些導電部抵接該電路板。
2. 如請求項1所述之測試設備，其中，當該壓件壓向該上殼時，該壓件至少部分對齊該第一支撐件。
3. 如請求項1所述之測試設備，其中該底座具有複數個螺孔，該些第二支撐件中每一者包含：一承托部，配置以支撐該電路板；以及一螺桿，配置以耦合該些螺孔中對應之一者。
4. 如請求項3所述之測試設備，其中該承托部包含軟性材質。
5. 如請求項1所述之測試設備，其中該底座具有複數個螺孔，該第一支撐件包含：一承托部，配置以支撐該電路板；以及一螺桿，配置以耦合該些螺孔中對應之一者。
6. 如請求項5所述之測試設備，其中該承托部包含軟性材質。
7. 如請求項1所述之測試設備，其中該臂體具有一螺孔，位於該第二端，該壓件包含：一抵壓部，配置以壓向該上殼；以及一螺桿，配置以耦合該螺孔。
8. 如請求項7所述之測試設備，其中該抵壓部包含軟性材質。
9. 如請求項1所述之測試設備，其中該上殼具有複數個第二穿孔，該下殼具有複數個第三穿孔，該殼體更包含：複數個鎖固件，該些鎖固件中每一者配置以穿越該些第二穿孔中之一者以及該些第三穿孔中對應之一者，以鎖固該上殼與該下殼。
10. 如請求項1所述之測試設備，其中該臂體具有一第一受力點，該第一受力點位於該第一端與該第二端之間，該測試設備更包含：一施力結構，包含：一結構件，具有一第三端、一第四端以及一第二受力點，該第二受力點位於該第三端與該第四端之間，該第三端樞接該支架，該臂體至少部分位於該第三端與該第二受力點之間；一連接件，具有相對之一第五端以及一第六端，該第五端樞接該第一受力點，該第六端樞接該第二受力點；以及一把手，連接該第四端。

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