TWI813587B - 使用縱向網格圖案進行距離測量的方法和非暫態機器可讀取存儲媒體 - Google Patents

使用縱向網格圖案進行距離測量的方法和非暫態機器可讀取存儲媒體 Download PDF

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Abstract

藉由從投影點投射複數個光束來將投影圖案投影到距離的投影點上的物體的表面上。複數個光束產生複數個投影假影，該複數個投影假影以網格佈置在物體的表面上。中心投影假影位於網格縱經線及網格橫緯線的交叉點處。調整複數個光束的投影使得縱經線及/或橫緯線從原始位置旋轉一預定量到新位置，從而在物體的表面上產生經調整的投影圖案。捕捉包括經調整的投影圖案的至少一部分的物體的影像。使用來自影像的資訊來計算距離感測器至物體的距離。

Description

使用縱向網格圖案進行距離測量的方法和非暫態機器可讀取 存儲媒體
本申請案係與使用縱向網格圖案進行距離測量相關。本申請案主張2017年10月8日申請的美國臨時專利申請號62/569,543的優先權，其全部內容通過引用併入本文中。
美國專利申請號14/920,246、15/149,323及15/149,429描述了距離感測器的各種配置。此種距離感測器可用於各種應用，該等各種應用包括安全性、遊戲、無人駕駛車輛的控制及其他應用
在這些應用中描述的距離感測器包括光源(例如，雷射器)、繞射光學元件及/或其他部件，上述元件協作以在視野中投射出產生圖案(例如，點、劃線或其他假影的圖案)的光束。當圖案被入射到視野中的物體上時，可基於一或更多個視野的影像中的圖案的外觀(例如，點、劃線或其他假影的位置關係)來計算從感測器到物體的距離。亦可確定物體的形狀及尺寸。
在範例中，一種方法包括以下步驟：從距離感測器的投影點將投影圖案投影至物體的表面上，其中該投影圖案由從該投影點投射的複數個光束產生，其中該複數個光束產生複數個在該物體的該表面上以網格佈置的投影假影，且其中複數個投影假影的中心投影假影位於該網格的縱經線與該網格的橫緯線的交點處；調整該複數個光束的投影，使得該縱經線及該橫緯線中的至少一者從原始位置旋轉預定量至新位置，從而將經調整的投影圖案投影到該物體的該表面上；捕捉該物體的影像，該物體的該影像包括該經調整的投影圖案的至少一部分；及使用來自該影像的資訊計算從該距離感測器至該物體的距離。
在另一範例中，一種非暫態機器可讀取存儲媒體編碼有可由處理器執行的指令，其中當執行該等指令時該等指令使該處理器執行操作。該等操作包含以下操作：從距離感測器的投影點將投影圖案投影至物體的表面上，其中該投影圖案由從該投影點投射的複數個光束產生，其中該複數個光束產生複數個在該物體的該表面上以網格佈置的投影假影，且其中複數個投影假影的中心投影假影位於該網格的縱經線與該網格的橫緯線的交點處；調整該複數個光束的投影，使得該縱經線及該橫緯線中的至少一者從原始位置旋轉預定量至新位置，從而將經調整的投影圖案投影到該物體的該表面上；捕捉該物體的影像，該物體的該影像包括該經調整的投影圖案的至少一部分；及使用來自該影像的資訊計算從該距離感測器至該物體的距離。
本申請案廣泛地描述了使用縱向網格圖案來進行距離測量的設備、方法及非暫態電腦可讀取媒體。如上所述，如美國專利申請號14 / 920,246、15 / 149,323及15 / 149,429中描述的那些距離感測器藉由投射在包括物體的視野中產生圖案(例如，點、劃線或其他假影的圖案)的光束來確定到物體的距離(且可能地，確定物體的形狀及尺寸)。在一些範例中，感測器包括多個「投影點」，其中可從每個投影點投射複數個光束。複數個光束可扇出(fan out)以形成圖案的一部分。圖案的外觀可隨著與物體的距離而改變。例如，若圖案包括點圖案，則當物體更靠近感測器時，點可看起來彼此更接近，且當物體更遠離感測器時，點可看起來更遠離彼此。
例如，圖1是示出距離感測器的元件的示意圖，該距離感測器類似於美國專利申請號14 / 920,246、15 / 149,323及15 / 149,429中描述的感測器。如圖所示，感測器可包括影像捕捉裝置的透鏡100。透鏡100的視野可用f表示。感測器進一步可包括圍繞透鏡100的周邊所佈置的複數個(例如，由光源、繞射光學元件及/或其他部件的組合所形成的)投影點；圖1示出了一個這樣的投影點102，其中其他投影點可類似地配置且放置在透鏡100周圍的不同位置處。亦可參考從透鏡100的中心軸到投影點102的中心軸的距離d來作為感測器的「基線」。
投影點102投射光的複數個光束1041 -104n (下文中分別稱為「光束104」或統稱為「光束104」)，該複數個光束扇出(fan out)且當光束104入射到表面上時形成投影假影的圖案106(例如，點及劃線或諸如此類)。圖案106的平面可平行於感測器的基線d。在圖1所示的範例中，投影假影為點。圖1示出了似乎在距基線d的第一距離D1處且還似乎在距基線d的第二距離D2處的圖案106。
根據如上所述的物體距離，從相同投影點102投射的所有光束104將沿著基線d在相同方向上移動。然而，隨著從相同投影點102投射的光束104的數量增加，由光束104產生的假影(例如，點)的軌跡(即，移動範圍)可看起來更靠近在一起，且在某些情況下甚至可能更均勻交疊。
投影假影的軌跡由距離感測器的投影光學系統(例如，一組光學器件，其包括光源、繞射光學元件及投射光束的其他部件)及光接收光學系統(例如，透鏡、影像捕捉裝置及捕捉投影假影的影像的其他部件)之間在平面(例如，橫向)方向及高度方向(例如，垂直於橫向方向的方向)上的位置關係來確定。投影假影的軌跡可表現成徑向圖案或線，且描述了當感測器與投影圖案被投影在其中的物體之間的距離變化時投影假影的移動。更具體來說，投影假影的軌跡描述了投影假影相對於距離感測器的影像捕捉裝置的移動(該移動具有距離的變化)。
例如，圖2示出了用於複數個點的軌跡200，該複數個點是由距離感測器的投影點(例如，如圖1的投影點102)所投影的示例性圖案的一部分。無陰影點表示距感測器基線第一距離處的點的位置，而陰影點表示距感測器基線第二距離處的點的位置。將無陰影點連接到陰影點的線或軌跡200表示無陰影點和陰影點是相同的點；被描繪成在距感測器基線不同的距離處。如圖2所示，一些點的軌跡200可重疊。圓圈202示出了重疊軌跡200。當發生軌跡200的重疊時，可能難以確定從投影點投射的哪些光束對應於投影圖案中的哪些點。這接著可能會使距離測量計算複雜化，因準確計算可能依賴於辨識光束(該等光束建立在影像中為可見的點)的能力。
因此，從距離感測器的投影點投射的光束數量的增加可增加由光束產生的投影假影的軌跡中將存在重疊的可能性(且因此增加了距離計算的難度)。另一方面，通常認為大量光束是有利的，因其為距離計算目的提供了感測器視野之更好的空間覆蓋。作為額外考量，可能希望將投影點的數量保持為最小，以最小化由於部件損壞導致的製造成本、感測器尺寸及感測器故障。然而，為了保持具有較少投影點的空間覆蓋，可能需要從投影點投射更多數量的光束。
本申請案的範例提供了用於距離感測器的光束佈置，其隨著從感測器投影點投射的光束的數量增加而使投影假影軌跡的重疊最小化。具體來說，本申請案的範例提供了具有投影假影分佈的圖案，該投影假影分佈平衡了對空間覆蓋的需求與最小化投影假影軌跡的重疊的需求。所揭露的圖案的範例可藉由從每個投影點投射從中心光束對稱地(至少在x和y方向上)扇出的複數個光束來實施。
如上所述，投影假影的軌跡可表現成徑向圖案或線。本申請案的範例考慮以下事實：投影假影軌跡及包括複數個投影假影的投影圖案的線兩者可以看起來是線性的。因此，可調整投影假影與距離感測器的影像捕捉裝置之間的位置關係、中心投影假影的方向，或由複數個投影假影產生的投影圖案的旋轉相位，以在形成投影圖案的複數個投影假影的軌跡中最小化重疊。本申請案的其他範例解釋了這樣的事實：當形成投影圖案的平面是彎曲時，由投影假影軌跡及投影圖案的線形成的角度可逐漸改變，這使得整個投影圖案上的軌跡重疊的均勻消除更具挑戰性。
本申請案的範例描述了具有大致上矩形形狀的投影圖案(即，由複數個投影假影建立的圖案)，其中投影假影被佈置在複數個行及列中。在此種情況下，位於投影圖案中心的投影假影可被認為是投影圖案的「原點」。與原點相交的列可被稱為投影圖案的「橫緯」線，而與原點相交的行可被稱為投影圖案的「縱經」線。本申請案的其他範例可調整一或多個光束從投影點的投影角度，使得投影圖案的一或多個橫緯線及縱經線旋轉一預定角度，以實現最小化投影假影軌跡的重疊的經調整的投影圖案。
圖3A示出了從投影點300投射的光束的佈置的一個範例的側視圖，而圖3B示出了由圖3A的光束的佈置產生的投影圖案302的正面視圖。在圖3A及圖3B的範例中，光束的佈置被投射到球形表面304(即，具有圓形(非平坦)形狀的表面)上。
如圖所示，投影點300投射複數個光束3061 -306m (下文中分別稱為「光束306」或統稱為「光束306」)。複數個光束306包括中心光束306i 。剩餘的光束306沿x軸在兩個方向上並沿y軸在兩個方向上從中心光束306i 扇出(fan out)。為了簡化附加圖式，可駐留在第一光束3061 及中心光束306i 之間與中心光束306i 及最後光束306m 之間的光束306不在圖3A中示出。
由複數個光束306產生的結果圖案302包括如圖3B所示之以矩形網格排列的複數個投影假影(例如，點)。網格的列沿著所示坐標系的x軸延伸，而網格的行沿著y軸延伸。列及行根據預定規則(例如，相等的角度間隔及相等的正弦值間隔等)以對應於從中心光束306i 開始的x軸及y軸的方位間隔地佈置。
可用交錯圖案(例如，其中每個列或行從相鄰列或行偏移，使得沿著列或沿著行的所有投影假影可不共線)或連續圖案(例如，其中每個列或行與相鄰的列或行對齊，使得沿著列或沿著行的所有投影假影是共線的)佈置投影假影。無論投影假影的圖案是交錯的或是連續的，圖案皆是規則的(即，投影假影的放置是規則的而不是隨機的)且可從由中心光束306i 產生的中心投影假影308向外延伸。中心投影假影308位於「縱經線」310(或中心行)及「橫緯線」312(或中心列)的交叉點處，且可被認為是圖案302的「原點」。
在一範例中，當圖案302被投影到球形表面304上時，縱經線310可圍繞y軸旋轉第一預定角度。替代地或另外地，橫緯線312可圍繞x軸旋轉第二預定角度。 這在圖3B中示出，其中圖案302的形狀彎曲以確認球形表面304的圓形形狀。
由於中心投影假影308、旋轉的縱經線310及/或旋轉的橫緯線312所投影在其上的球型表面304總是平面的，因此圖案302的每個列或行將包括通過中心投影假影308的平面。如圖3C(其示出了圖3A及圖3B中所示的投影圖案302的簡化等距視圖)所示，投射到球面304的平面上的投影假影的每條線將變成直線。
在圖3C中所示的範例中，由投影點300及圖案302的橫緯線形成的表面是圓錐形的(以投影點300作為錐體的頂點或窄端)，而由投影點300及圖案302的縱經線形成的表面是平坦或平坦的表面。這就是由投影點形成的網格線成為曲線的原因。排列在縱經線上的網格線是直線，而矩形形狀(由各個線形成的角度)相對於三維位置的差異是均勻的。在一範例中，根據示例性投影圖案302，距離感測器到物體的距離對應於以距離感測器的透鏡的主點為中心的球形表面304的半徑。感測器可位於複數個包括投影點300的投影點的中心，且主點可為感測器鏡頭的前節點。
圖3D示出了在半球形視野中之圖3A至圖3C的投影圖案302的一般形狀。更具體來說，圖3D示出了投影圖案的網格線相對於投影點300的方向。如圖所示，可藉由將橫緯線326及縱經線328中的一或多者分別旋轉預定角度η及θ來調整投影圖案302。取決於投影圖案302將投影到的物體的應用及形狀，η及θ可相等或不相等。
例如，橫緯線326可在y方向上(即，沿著y軸的方向)移位到新位置322。在一範例中，藉由將橫緯線326旋轉角度η來完成橫緯線326到新位置322的移位。
縱經線328可在x方向上(即，沿著x軸的方向)移位到新位置324。在一範例中，藉由將縱經線328旋轉角度θ來完成縱經線328到新位置324的移位。
圖3D示出了可由此光束佈局產生的一些示例性投影假影。除了位於橫緯線326的原始位置(對於橫緯線326的原始位置而言η= 0)及縱經線328的原始位置(對於縱經線328的原始位置而言θ= 0)的交叉點處的中心投影假影308之外，亦示出了以下的投影假影：投影假影330、投影假影332及投影假影334，其中該投影假影330位於距中心投影假影308的坐標(θ，η)處(例如，該投影假影330在x及y方向上皆移位)且表示調整圖案中的中心投影假影308的新位置、該投影假影332係位於坐標(θ，0)處，及投影假影334係位於坐標(0，η)處。
圖4A示出了從投影點400所投射之光束的佈置的一範例的側視圖，而圖4B示出了由圖4A的光束的佈置所產生的投影圖案402的正面視圖。在圖4A及圖4B的範例中，光束的佈置被投影到平坦表面404上。
如圖所示，投影點400投射複數個光束4061 至406m (下文中分別稱為「光束406」或統稱為「光束406」)。複數個光束406包括中心光束406i 。剩餘的光束406在沿著x軸且沿著y軸的兩個方向上自中心光束406i 扇出。為了簡化附加圖式，可駐留在第一光束4061 及中心光束406i 之間及駐留在中心光束406i 及最後光束406m 之間的光束406未在圖4A中示出。
由複數個光束406產生的結果圖案402包括複數個以矩形網格排列的投影假影(例如，點)，如圖4B所示。網格的列沿著所示坐標系的x軸延伸，而網格的行沿y軸延伸。列及行根據預定規則(例如，相等的角度間隔及相等的正弦值間隔等)以對應於從中心光束406i 開始的x軸及y軸的方位間隔地佈置。
可用交錯圖案 (例如，其中每個列或行從相鄰列或行偏移，使得沿著列或沿著行的所有投影假影可不共線)或連續圖案(例如，其中每個列或行與相鄰的列或行對齊，使得沿著列或沿著行的所有投影假影是共線的)佈置投影假影。無論投影假影的圖案是交錯的或是連續的，圖案皆是規則的(即，投影假影的放置是規則的而不是隨機的)且可從由中心光束406i 產生的中心投影假影408向外延伸。中心投影假影408位於縱經線410及橫緯線412的交叉點處，且可被認為是圖案402的「原點」。
圖4C示出了當圖4A及圖4B的圖案402被投影到平坦表面404上之圖4A及圖4B的投影假影的軌跡414的正面視圖。如所示的，軌跡414不會重疊。
圖4C亦示出了透鏡416相對於投影點400的位置。如基線418所示，投影點400位於距透鏡416的徑向或x方向上的某個距離a處。然而，在y方向上，投影點416的位置與透鏡並沒有差別。換句話說，透鏡416及投影點400可被安裝在同一平面中，例如，使得投影點400與透鏡的影像捕捉裝置的主點(例如，前節點)在影像捕捉裝置的光軸的方向上齊平。
圖5A示出了從投影點500所投射之光束的佈置的一範例的側視圖，而圖5B示出了由圖5A的光束的佈置所產生的投影圖案502的正面視圖。在圖5A及圖5B的範例中，光束的佈置被投影到球形表面504(即，具有圓形(非平坦)形狀的表面)上。
如圖所示，投影點500投射複數個光束5061 至506m (下文中分別稱為「光束506」或統稱為「光束506」)。複數個光束506包括中心光束506i 。剩餘的光束506在沿著x軸且沿著y軸的兩個方向上自中心光束506i 扇出。為了簡化附加圖式，可駐留在第一光束5061 及中心光束506i 之間及駐留在中心光束506i 及最後光束506m 之間的光束506未在圖5A中示出。
由複數個光束506產生的結果圖案502包括複數個以矩形網格排列的投影假影(例如，點)，如圖5B所示。網格的列沿著所示坐標系的x軸延伸，而網格的行沿y軸延伸。列及行根據預定規則(例如，相等的角度間隔及相等的正弦值間隔等)以對應於從中心光束506i 開始的x軸及y軸的方位間隔地佈置。
可用交錯圖案 (例如，其中每個列或行從相鄰列或行偏移，使得沿著列或沿著行的所有投影假影可不共線)或連續圖案(例如，其中每個列或行與相鄰的列或行對齊，使得沿著列或沿著行的所有投影假影是共線的)佈置投影假影。無論投影假影的圖案是交錯的或是連續的，圖案皆是規則的(即，投影假影的放置是規則的而不是隨機的)且可從由中心光束506i 產生的中心投影假影508向外延伸。中心投影假影508位於縱經線510及橫緯線512的交叉點處，且可被認為是圖案502的「原點」。
圖5C示出了被投影到平坦表面516上之圖5A及圖5B的投影圖案502的側視圖，而圖5D示出了被投影到平坦表面516上之圖5A及圖5B的投影圖案502的正面視圖。如圖5C所示，與圖案502被投影到平坦表面516上時不同，圖案502係彎曲的。如下文結合圖5E所討論的，這可能導致投影假影的軌跡重疊。這與圖5A及圖5B的範例形成對比，在圖5A及圖5B中，圖案502係被投影到球形表面504上且保持其大致矩形的網格形狀。
圖5E示出了當圖5A至圖5D的圖案502被投影到平坦表面520上時之圖5A至圖5D的投影假影的軌跡514的正面視圖。如所示的，軌跡514在投影到平坦表面520上時重疊。
圖5E亦示出了透鏡516相對於投影點500的位置。如基線518所示，投影點500位於距透鏡516的徑向或x方向上的某個距離a處。然而，在y方向上，投影點516的位置與透鏡並沒有差別。換句話說，透鏡516及投影點500可被安裝在同一平面中，例如，使得投影點500與透鏡的影像捕捉裝置的主點(例如，前節點)在影像捕捉裝置的光軸的方向上齊平。
圖5F示出了在半球形視野中之圖5A至圖5E的投影圖案502的一般形狀。更具體來說，圖5F示出了投影圖案的網格線相對於投影點500的方向。如圖所示，可藉由將橫緯線526及縱經線528中的一或多者分別旋轉預定角度η及θ來調整投影圖案502。取決於投影圖案502將投影到的物體的應用及形狀，η及θ可相等或不相等。
例如，橫緯線526可在y方向上(即，沿著y軸的方向)移位到新位置522。在一範例中，藉由將橫緯線526旋轉角度η來完成橫緯線526到新位置522的移位。
縱經線528可在x方向上(即，沿著x軸的方向)移位到新位置524。在一範例中，藉由將縱經線528旋轉角度θ來完成縱經線528到新位置524的移位。
圖5F示出了可由此光束佈局產生的一些示例性投影假影。除了位於橫緯線526的原始位置(對於橫緯線526的原始位置而言θ= 0)及縱經線528的原始位置(對於縱經線528的原始位置而言η= 0)的交叉點處的中心投影假影508之外，亦示出了以下的投影假影：投影假影530、投影假影532及投影假影534，其中該投影假影530位於距中心投影假影508的坐標(θ，η)處(例如，該投影假影530在x及y方向上皆移位)且表示調整圖案中的中心投影假影508的新位置、該投影假影532係位於坐標(0，η)處，及投影假影534係位於坐標(θ，0)處。
圖6A示出了從投影點600所投射之光束的佈置的一範例的側視圖，而圖6B示出了由圖6A的光束的佈置所產生的投影圖案602的正面視圖。在圖6A及圖6B的範例中，光束的佈置被投影到球形表面604(即，具有圓形(非平坦)形狀的表面)上。
如圖所示，投影點600投射複數個光束6061 至606m (下文中分別稱為「光束606」或統稱為「光束606」)。複數個光束606包括中心光束606i 。剩餘的光束606在沿著x軸且沿著y軸的兩個方向上自中心光束606i 扇出。為了簡化附加圖式，可駐留在第一光束6061 及中心光束606i 之間及駐留在中心光束606i 及最後光束606m 之間的光束606未在圖6A中示出。
由複數個光束606產生的結果圖案602包括複數個以矩形網格排列的投影假影(例如，點)，如圖6B所示。網格的列沿著所示坐標系的x軸延伸，而網格的行沿y軸延伸。列及行根據預定規則(例如，相等的角度間隔及相等的正弦值間隔等)以對應於從中心光束606i 開始的x軸及y軸的方位間隔地佈置。
可用交錯圖案(例如，其中每個列或行從相鄰列或行偏移，使得沿著列或沿著行的所有投影假影可不共線)或連續圖案(例如，其中每個列或行與相鄰的列或行對齊，使得沿著列或沿著行的所有投影假影是共線的) 佈置投影假影。
無論投影假影的圖案是交錯的或是連續的，圖案皆是規則的(即，投影假影的放置是規則的而不是隨機的)且可從由中心光束606i 產生的中心投影假影608向外延伸。中心投影假影608位於縱經線610及橫緯線612的交叉點處，且可被認為是圖案602的「原點」。
在一範例中，當圖案602被投影到以中心投影假影608為中心的球形表面604上時，圖案602可採取類似於在地球的縱經線(例如，子午線)及橫緯線(例如，亦道)處從地球赤道上方直接觀察的形狀，如圖6B所示。
圖6C示出了被投影到平坦表面上之圖6A及圖6B的投影圖案602的側視圖，而圖6D示出了被投影到平坦表面上之圖6A及圖6B的投影圖案602的正面視圖。
圖6E示出了當圖6A至圖6D的圖案602被投影到平坦表面614上之圖6A至圖6D的投影假影的軌跡620的正面視圖。如圖所示，軌跡620不重疊。
圖6E亦示出了透鏡616相對於投影點600的位置。如基線618所示，投影點600位於距透鏡616的徑向或x方向上的某個距離a處。然而，在y方向上，投影點600的位置與透鏡616並沒有差別。換句話說，透鏡616及投影點600可被安裝在同一平面中，例如，使得投影點600與透鏡的影像捕捉裝置的主點(例如，前節點)在影像捕捉裝置的光軸的方向上齊平。
圖7示出了本申請案的示例性投影光束對準。具體來說，圖7示出了距離感測器的各種部件，包括了透鏡/影像捕捉裝置的前節點700、第一投影點7021 及第二投影點7022 。
如圖所示，前節點700位於距第一投影點7021 及第二投影點7022 中的每一者的橫向距離(例如，沿x軸)a處。第一投影點7021 及第二投影點7022 位於前節點700後面(例如，沿z軸)的距離b處。此外，在第一投影點7021 及第二投影點7022 之間(及在任何其他可為距離感測器的一部分的投影點之間)定義ω角。
以第一投影點7021 為例，第一投影點7021 投射複數個包括中心光束704的光束。為簡單起見，圖7中僅示出了中心光束704。中心光束704產生由複數個光束所產生之投影圖案的中心投影假影706。為簡單起見，圖7中僅示出了中心投影假影706。
可藉由複數個角度來描述中心光束704相對於第一投影點7021 的方向。例如，可將α角度限定在由中心光束704限定的平面708及穿過前節點700的中心軸712及第一投射點7021 的徑向線710之間。
滾動軸ε示出了如何旋轉中心光束706以調節中心投影假影706的位置。中心光束可沿y軸旋轉角度θ及/或沿x軸旋轉角度η。此外，可將δ角度限定在中心光束706及以與前節點700的中心軸712平行的角度穿過第一投影點7021 的線之間。
圖8示出了用於計算從感測器到物體的距離的示例性方法800的流程圖。在一實施例中，方法800可由整合在成像感測器(如距離感測器的任何成像感測器)或如圖9所示且於下文討論之通用計算裝置中的處理器執行。
方法800開始於步驟802。在步驟804中，可從距離感測器的投影點將投影圖案投影到物體上。如上所述，可藉由從投影點投射複數個光束來產生投影圖案，使得當複數個光束入射到物體上時，投影假影的圖案(例如，點、劃線及x等)至少可藉由成像感測器看到。圖案可包括矩形網格，投影假影被(例如，作為複數個列及複數個行)佈置在該矩形網格中。
如上所述，在投影圖案的縱經線(例如，中心行)及橫緯線(例如，中心列)的交叉處產生投影圖案的中心投影假影。
在步驟806中，可將縱經線及橫緯線中的至少一者被投射的角度旋轉預定量以調整投影圖案的形狀，從而將調整後的投影圖案投影到物體上。在一範例中，調整投影圖案的形狀以補償投影圖案所投影於其上的物體的形狀。例如，若物體具有球形或圓形表面，則若未正確調整的話投影圖案便可能會失真。此種失真可能導致一些投影假影的軌跡重疊。在一範例中，縱經線可從其原始位置旋轉第一預定角度，而橫緯線從其原始位置旋轉第二預定角度。第一預定角度與第二預定角度可相等或不相等。
在步驟808中，可捕捉物體的至少一個影像。調整後的投影圖案的至少一部分可在物體的表面上可見。
在步驟810中，可使用來自在步驟808中所捕捉的影像的資訊來計算從距離感測器到物體的距離。在一實施例中，使用三角測量技術來計算距離。例如，構成投影圖案的複數個投影假影之間的位置關係可作為計算的基礎。
方法800在步驟812結束。可對距離感測器的附加投影點(平行或順序地)重複方法800。
應當注意的是，儘管未明確指定，但上述方法800的一些方塊、功能或操作可包括用於特定應用的存儲、顯示及/或輸出。換句話說，取決於特定應用，可將方法800中所討論的任何資料、記錄、欄位及/或中間結果存儲、顯示及/或輸出到另一個裝置。此外，圖8中描述確定操作或涉及決定的方塊、功能或操作並不意味著實施確定操作的兩個分支。換句話說，取決於確定操作的結果，可不執行確定操作中的分支之一者。
圖9描繪了用於計算從感測器到物體的距離的示例性電子裝置900的高階方塊圖。如此一來，可將電子裝置900可實施成電子裝置或系統(如距離感測器)的處理器。
如圖9所示，電子裝置900包括硬體處理器元件902(例如中央處理單元(CPU)、微處理器或多核處理器)、記憶體904(例如隨機存取存儲器（RAM）及/或唯讀記憶體(ROM))、用於計算從感測器到物體的距離的模組905及各種輸入/輸出設備906，該各種輸入/輸出設備906例如存儲裝置(其包括但不限於磁帶驅動、軟碟驅動、硬碟驅動器或光碟驅動)、接收器、發送器、顯示器、輸出埠、輸入埠及使用者輸入裝置(如鍵盤、小鍵盤、滑鼠及麥克風等)。
儘管示出了一個處理器元件，但應注意到的是，電子裝置900可採用複數個處理器元件。此外，儘管在圖中示出了一個電子裝置900，但若針對特定說明性範例以分散式方式或平行方式實施上文所述的(多個)方法(即，跨越多個或平行電子裝置來實施上述(多個)方法的方塊或整體(多個)方法)，則此圖的電子裝置900旨在表示那些多個電子裝置中的每一者。
應當注意到的是，本申請案可藉由機器可讀取指令及/或機器可讀取指令及硬體的組合來實施，例如使用特殊應用積體電路(ASIC)、包括現場可程式化閘陣列(FPGA)的可程式化邏輯陣列(PLA)、或部署在硬體裝置上的狀態機、通用電腦或任何其他硬體等同物(例如，與上述(多個)方法有關的電腦可讀取指令可用於配置硬體處理器以執行上述所討論之(多個)方法的模組、功能及/或操作)。
在一範例中，用於計算從感測器到物體的距離的當前模組或處理905的指令及資料(例如，機器可讀取指令)可被加載到記憶體904中並由硬體處理器元件902執行，以實施如上文相關聯方法800所討論的方塊、功能或操作。此外，當硬體處理器執行指令以執行「操作」時，此硬體處理器可包括直接執行操作的硬體處理器及/或促進、指導或與另一硬體裝置或部件協作的硬體處理器(例如協作處理器等)，以執行操作。
執行與上述(多個)方法有關的機器可讀取指令的處理器可被視為編程處理器或專用處理器。如此一來，本申請案之用於計算從感測器到物體的距離的當前模組905可存儲在有形或物理(廣泛非暫態的)電腦可讀取存儲裝置或媒體(例如，揮發性記憶體、非揮發性記憶體、ROM記憶體、RAM記憶體、磁性或光學驅動器、設備或軟碟等)上。更具體來說，電腦可讀取存儲設備可包括任何物理裝置，該等任何物理裝置提供存儲資訊(如要由處理器或如電腦或安全感測器系統的控制器的電子裝置存取的資料及/或指令)的能力。
應當理解的是，上述所揭露的變體及其他特徵與功能或其替代方案可組合到許多其他不同的系統或應用中。隨後可進行各種目前無法預料或未預料到的替換、修改或變化，這些替換、修改或變化亦旨在被以下申請專利範圍所涵蓋。
100‧‧‧透鏡102‧‧‧投影點104‧‧‧光束1041‧‧‧光束104n‧‧‧光束106‧‧‧圖案200‧‧‧軌跡300‧‧‧投影點302‧‧‧投影圖案304‧‧‧球形表面306‧‧‧光束3061‧‧‧光束306i‧‧‧中心光束306m‧‧‧光束308‧‧‧中心投影假影310‧‧‧縱經線312‧‧‧橫緯線322‧‧‧新位置324‧‧‧新位置326‧‧‧橫緯線328‧‧‧縱經線330‧‧‧投影假影332‧‧‧投影假影334‧‧‧投影假影400‧‧‧投影點402‧‧‧投影圖案404‧‧‧平坦表面406‧‧‧光束4061‧‧‧光束406i‧‧‧中心光束406m‧‧‧光束408‧‧‧中心投影假影410‧‧‧縱經線412‧‧‧橫緯線414‧‧‧軌跡416‧‧‧透鏡418‧‧‧基線500‧‧‧投影點502‧‧‧投影圖案504‧‧‧球形表面506‧‧‧光束5061‧‧‧光束506i‧‧‧中心光束506m‧‧‧光束508‧‧‧中心投影假影510‧‧‧縱經線512‧‧‧橫緯線514‧‧‧軌跡516‧‧‧透鏡518‧‧‧基線520‧‧‧平坦表面522‧‧‧新位置524‧‧‧新位置526‧‧‧橫緯線528‧‧‧縱經線530‧‧‧投影假影532‧‧‧投影假影534‧‧‧投影假影600‧‧‧投影點602‧‧‧投影圖案604‧‧‧球形表面606‧‧‧光束6061‧‧‧光束606i‧‧‧中心光束606m‧‧‧光束608‧‧‧中心投影假影610‧‧‧縱經線612‧‧‧橫緯線614‧‧‧平坦表面616‧‧‧透鏡618‧‧‧基線620‧‧‧軌跡700‧‧‧前節點7021‧‧‧第一投影點7022‧‧‧第二投影點704‧‧‧中心光束706‧‧‧中心投影假影708‧‧‧平面710‧‧‧徑向線712‧‧‧中心軸800‧‧‧方法802‧‧‧步驟804‧‧‧步驟806‧‧‧步驟808‧‧‧步驟810‧‧‧步驟812‧‧‧步驟900‧‧‧電子裝置902‧‧‧硬體處理器元件904‧‧‧記憶體905‧‧‧模組906‧‧‧輸入/輸出設備
圖1是表示距離感測器的元件的示意圖；
圖2示出了複數個點的軌跡，該複數個點是由距離感測器的投影點投影的示例圖案的一部分；
圖3A示出了從投影點投射的光束的佈置的一範例的側視圖；
圖3B示出了由圖3A的光束的佈置所產生的投影圖案的正面視圖；
圖3C示出了圖3A及圖3B中所示的投影圖案的簡化等距視圖；
圖3D示出了在半球形視野中之圖3A至圖3C中的投影圖案的一般形狀；
圖4A示出了從投影點投射的光束的佈置的一個範例的側視圖；
圖4B示出了由圖4A的光束的佈置產生的投影圖案402的正面視圖；
圖4C示出了當圖4A及圖4B的圖案被投射到平坦表面上之圖4A及圖4B的投影假影的軌跡的正面視圖；
圖5A示出了從投影點投射的光束的佈置的一個範例的側視圖；
圖5B示出了由圖5A的光束佈置所產生的投影圖案的正面視圖；
圖5C示出了經投射到平坦表面上的圖5A及圖5B的投影圖案的側視圖；
圖5D示出了經投射到平坦表面上的圖5A及圖5B的投影圖案的正面視圖；
圖5E示出了當圖5A至圖5D的圖案被投射到平坦表面上之圖5A至圖5D的投影假影的軌跡的正面視圖；
圖5F示出了在半球形視野中之圖5A至圖5E中的投影圖案的一般形狀；
圖6A示出了從投影點投射的光束的佈置的一個範例的側視圖；
圖6B示出了由圖6A的光束的佈置產生的投影圖案的正面視圖；
圖6C示出了被投射到平坦表面上的圖6A及圖6B的投影圖案的側視圖；
圖6D示出了被投射到平坦表面上的圖6A及圖6B的投影圖案的正面視圖；
圖6E示出了當圖6A至圖6D的圖案被投射到平坦表面上之圖6A至圖6D的投影假影的軌跡的正面視圖；
圖7示出了本申請案的示例性投影光束對準；
圖8示出了用於計算從感測器到物體的距離的示例性方法的流程圖；及
圖9描繪了用於計算從感測器到物體的距離的示例性電子裝置的高階方塊圖。
國內寄存資訊 (請依寄存機構、日期、號碼順序註記) 無
國外寄存資訊 (請依寄存國家、機構、日期、號碼順序註記) 無
308:中心投影假影
322:新位置
324:新位置
326:橫緯線
328:縱經線
330:投影假影
332:投影假影
334:投影假影

Claims (16)

  1. 一種用於進行距離測量的方法，包括以下步驟：從一距離感測器的一投影點將一投影圖案投影至一物體的一表面上，其中該投影圖案由從該投影點投射的複數個光束產生，其中該複數個光束產生複數個在該物體的該表面上以一網格佈置的投影假影，且其中複數個投影假影的一中心投影假影位於該網格的一縱經線與該網格的一橫緯線的一交點處，其中該複數個投影假影中的每個投影假影具有一軌跡，及其中該複數個投影假影的一給定投影假影的該軌跡描述當從該距離感測器的一基線到該物體的距離發生變化時該給定投影假影在該物體的該表面上的一移動；調整該複數個光束的一投影，使得該縱經線及該橫緯線中的至少一者從一原始位置旋轉一預定量至一新位置，從而將一經調整的投影圖案投影到該物體的該表面上，其中藉由該經調整的投影圖案使該給定投影假影的該軌跡及該複數個投影假影中的另一投影假影的一軌跡的一重疊最小化；捕捉該物體的一影像，該物體的該影像包括該經調整的投影圖案的至少一部分；及使用來自該影像的資訊計算從該距離感測器至該物 體的一距離。
  2. 如請求項1所述之方法，其中該網格包括複數個列及複數個行。
  3. 如請求項2所述之方法，其中該複數個行以一交錯圖案佈置，使得駐留在一共同列中的該複數個假影的那些投影假影是非共線的。
  4. 如請求項1所述之方法，其中該距離對應於以該距離感測器的一透鏡的一主點為中心的一球面的一半徑。
  5. 如請求項1所述之方法，其中該投影圖案的一平面平行於該距離感測器的該基線，且其中該基線被定義為該距離感測器之該投影點的一中心軸與該距離感測器之一透鏡的一中心軸之間的一橫向距離。
  6. 如請求項1所述之方法，其中該調整步驟包括以下步驟：將該縱經線旋轉一第一角度；及將該橫緯線旋轉一第二角度。
  7. 如請求項6所述之方法，其中該第一角度及該第二角度相等。
  8. 如請求項6所述之方法，其中該第一角度及該第二角度是不相等的。
  9. 如請求項1所述之方法，其中該投影點及該 距離感測器的一透鏡安裝在一共同平面中，使得該投影點與該透鏡以一影像捕捉裝置的一光軸的一方向連接到的該影像捕捉裝置的一主點齊平。
  10. 如請求項9所述之方法，其中該主點是該透鏡的一前節點。
  11. 如請求項1所述之方法，其中用於捕捉該影像的一影像裝置的一視野是半球形的。
  12. 一種非暫態機器可讀取存儲媒體，其編碼有可由一處理器執行的指令，其中當執行該等指令時該等指令使該處理器執行包括以下操作的操作：從一距離感測器的一投影點將一投影圖案投影至一物體的一表面上，其中該投影圖案由從該投影點投射的複數個光束產生，其中該複數個光束產生複數個在該物體的該表面上以一網格佈置的投影假影，且其中複數個投影假影的一中心投影假影位於該網格的一縱經線與該網格的一橫緯線的一交點處，其中該複數個投影假影中的每個投影假影具有一軌跡，其中該複數個投影假影的一給定投影假影的該軌跡描述當從該距離感測器的一基線到該物體的距離發生變化時該給定投影假影在該物體的該表面上的一移動；調整該複數個光束的一投影，使得該縱經線及該橫緯線中的至少一者從一原始位置旋轉一預定量至一新 位置，從而將一經調整的投影圖案投影到該物體的該表面上，其中藉由該經調整的投影圖案使該給定投影假影的該軌跡及該複數個投影假影中的另一投影假影的一軌跡的一重疊最小化；捕捉該物體的一影像，該物體的該影像包括該經調整的投影圖案的至少一部分；及使用來自該影像的資訊計算從該距離感測器至該物體的一距離。
  13. 如請求項12所述的非暫態機器可讀取存儲媒體，其中該投影圖案的一平面平行於該距離感測器的該基線，且其中該基線被定義為該距離感測器之該投影點的一中心軸與該距離感測器之一透鏡的一中心軸之間的一橫向距離。
  14. 如請求項12所述的非暫態機器可讀取存儲媒體，其中該調整步驟包括以下步驟：將該縱經線旋轉一第一角度；及將該橫緯線旋轉一第二角度。
  15. 如請求項12所述的非暫態機器可讀取存儲媒體，其中該投影點及該距離感測器的一透鏡安裝在一共同平面中，使得該投影點與該透鏡以一影像捕捉裝置的一光軸的一方向連接到的該影像捕捉裝置的一主點齊平。
  16. 如請求項15所述的非暫態機器可讀取存儲媒體，其中該主點是該透鏡的一前節點。
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Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP3551965A4 (en) 2016-12-07 2020-08-05 Magik Eye Inc. DISTANCE SENSOR PROJECTING PARALLEL PATTERNS
EP3692501A4 (en) 2017-10-08 2021-07-07 Magik Eye Inc. CALIBRATION OF A SENSOR SYSTEM INCLUDING MULTIPLE MOBILE SENSORS
CN114827573A (zh) 2018-03-20 2022-07-29 魔眼公司 调整相机曝光以用于三维深度感测和二维成像
JP2021518535A (ja) 2018-03-20 2021-08-02 マジック アイ インコーポレイテッド 様々な密度の投影パターンを使用する距離測定
CN112513565B (zh) * 2018-06-06 2023-02-10 魔眼公司 使用高密度投影图案的距离测量
WO2020033169A1 (en) 2018-08-07 2020-02-13 Magik Eye Inc. Baffles for three-dimensional sensors having spherical fields of view
JP2022518023A (ja) 2019-01-20 2022-03-11 マジック アイ インコーポレイテッド 複数個の通過域を有するバンドパスフィルタを備える三次元センサ
US11474209B2 (en) 2019-03-25 2022-10-18 Magik Eye Inc. Distance measurement using high density projection patterns
US11019249B2 (en) 2019-05-12 2021-05-25 Magik Eye Inc. Mapping three-dimensional depth map data onto two-dimensional images
WO2021113135A1 (en) 2019-12-01 2021-06-10 Magik Eye Inc. Enhancing triangulation-based three-dimensional distance measurements with time of flight information
KR20220122645A (ko) 2019-12-29 2022-09-02 매직 아이 인코포레이티드 3차원 좌표를 2차원 피처 포인트와 연관
CN115151945A (zh) 2020-01-05 2022-10-04 魔眼公司 将三维相机的坐标系转成二维相机的入射点

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100209002A1 (en) * 2007-11-15 2010-08-19 Sirona Dental Systems Gmbh Method for optical measurement of the three dimensional geometry of objects
US20160050401A1 (en) * 2014-08-12 2016-02-18 Mantisvision Ltd. System, method and computer program product to project light pattern
US20160117561A1 (en) * 2014-10-24 2016-04-28 Magik Eye Inc. Distance sensor
JP2016166810A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 アルプス電気株式会社 物体検出装置
TW201706564A (zh) * 2015-05-10 2017-02-16 麥吉克艾公司 距離感測器（二）

Family Cites Families (159)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4914460A (en) 1987-05-29 1990-04-03 Harbor Branch Oceanographic Institution Inc. Apparatus and methods of determining distance and orientation
US4954962A (en) 1988-09-06 1990-09-04 Transitions Research Corporation Visual navigation and obstacle avoidance structured light system
JPH045112A (ja) 1990-04-23 1992-01-09 Sumitomo Rubber Ind Ltd 低転がり抵抗タイヤ
JPH08555A (ja) 1994-06-16 1996-01-09 Fuji Photo Optical Co Ltd 内視鏡の照明装置
DE4426424C2 (de) * 1994-07-26 2002-05-23 Asclepion Meditec Ag Vorrichtung zur rasterstereografischen Vermessung von Körperoberflächen
US5699444A (en) 1995-03-31 1997-12-16 Synthonics Incorporated Methods and apparatus for using image data to determine camera location and orientation
JP3328111B2 (ja) 1995-08-23 2002-09-24 日本電気株式会社 空間距離測定方法及び空間距離測定装置
US6038415A (en) 1997-07-18 2000-03-14 Minolta Co., Ltd. Image forming apparatus and image-carrier cartridge device which is employed in the same
EP0898245B1 (en) 1997-08-05 2004-04-14 Canon Kabushiki Kaisha Image processing method and apparatus
US5980454A (en) 1997-12-01 1999-11-09 Endonetics, Inc. Endoscopic imaging system employing diffractive optical elements
US5870136A (en) 1997-12-05 1999-02-09 The University Of North Carolina At Chapel Hill Dynamic generation of imperceptible structured light for tracking and acquisition of three dimensional scene geometry and surface characteristics in interactive three dimensional computer graphics applications
AUPP299498A0 (en) 1998-04-15 1998-05-07 Commonwealth Scientific And Industrial Research Organisation Method of tracking and sensing position of objects
US7193645B1 (en) 2000-07-27 2007-03-20 Pvi Virtual Media Services, Llc Video system and method of operating a video system
US6937350B2 (en) 2001-06-29 2005-08-30 Massachusetts Institute Of Technology Apparatus and methods for optically monitoring thickness
US7940299B2 (en) 2001-08-09 2011-05-10 Technest Holdings, Inc. Method and apparatus for an omni-directional video surveillance system
GB2395261A (en) 2002-11-11 2004-05-19 Qinetiq Ltd Ranging apparatus
TWI247104B (en) 2003-02-26 2006-01-11 Hon Hai Prec Ind Co Ltd A measuring method for pattern of light guide plate
DE10308383A1 (de) 2003-02-27 2004-09-16 Storz Endoskop Produktions Gmbh Verfahren und optisches System zur Vermessung der Topographie eines Meßobjekts
WO2005076198A1 (en) 2004-02-09 2005-08-18 Cheol-Gwon Kang Device for measuring 3d shape using irregular pattern and method for the same
WO2005124675A2 (en) 2004-06-16 2005-12-29 Ids Scheer Aktiengesellschaft Systems and methods for integrating business process documentation with work environments
US7191056B2 (en) 2005-01-04 2007-03-13 The Boeing Company Precision landmark-aided navigation
JP2006313116A (ja) 2005-05-09 2006-11-16 Nec Viewtechnology Ltd 距離傾斜角度検出装置および該検出装置を備えたプロジェクタ
JP4644540B2 (ja) 2005-06-28 2011-03-02 富士通株式会社 撮像装置
US20070091174A1 (en) 2005-09-30 2007-04-26 Topcon Corporation Projection device for three-dimensional measurement, and three-dimensional measurement system
JP4760391B2 (ja) 2006-01-13 2011-08-31 カシオ計算機株式会社 測距装置及び測距方法
JP4799216B2 (ja) 2006-03-03 2011-10-26 富士通株式会社 距離測定機能を有する撮像装置
US7375803B1 (en) 2006-05-18 2008-05-20 Canesta, Inc. RGBZ (red, green, blue, z-depth) filter system usable with sensor systems, including sensor systems with synthetic mirror enhanced three-dimensional imaging
JP4889373B2 (ja) 2006-05-24 2012-03-07 ローランドディー．ジー．株式会社 ３次元形状測定方法およびその装置
US8471892B2 (en) 2006-11-23 2013-06-25 Z. Jason Geng Wide field-of-view reflector and method of designing and making same
US20080278572A1 (en) * 2007-04-23 2008-11-13 Morteza Gharib Aperture system with spatially-biased aperture shapes and positions (SBPSP) for static and dynamic 3-D defocusing-based imaging
TWI320480B (en) 2007-04-23 2010-02-11 Univ Nat Formosa One diffraction 6 degree of freedom optoelectronic measurement system
US9170097B2 (en) * 2008-04-01 2015-10-27 Perceptron, Inc. Hybrid system
WO2009124601A1 (en) 2008-04-11 2009-10-15 Ecole Polytechnique Federale De Lausanne Epfl Time-of-flight based imaging system using a display as illumination source
US8282485B1 (en) 2008-06-04 2012-10-09 Zhang Evan Y W Constant and shadowless light source
DE102008031942A1 (de) 2008-07-07 2010-01-14 Steinbichler Optotechnik Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur 3D-Digitalisierung eines Objekts
WO2010006081A1 (en) 2008-07-08 2010-01-14 Chiaro Technologies, Inc. Multiple channel locating
US8334900B2 (en) 2008-07-21 2012-12-18 The Hong Kong University Of Science And Technology Apparatus and method of optical imaging for medical diagnosis
JP2010091855A (ja) 2008-10-09 2010-04-22 Denso Corp レーザビーム照射装置
JP5251419B2 (ja) 2008-10-22 2013-07-31 日産自動車株式会社 距離計測装置および距離計測方法
CN101794065A (zh) 2009-02-02 2010-08-04 中强光电股份有限公司 投影显示系统
US20100223706A1 (en) 2009-03-03 2010-09-09 Illinois Tool Works Inc. Welding helmet audio communication systems and methods with bone conduction transducers
JP5484098B2 (ja) 2009-03-18 2014-05-07 三菱電機株式会社 投写光学系及び画像表示装置
JP4991787B2 (ja) 2009-04-24 2012-08-01 パナソニック株式会社 反射型光電センサ
DK2438397T3 (en) * 2009-06-01 2019-01-28 Dentsply Sirona Inc Method and device for three-dimensional surface detection with a dynamic frame of reference
GB0921461D0 (en) 2009-12-08 2010-01-20 Qinetiq Ltd Range based sensing
US8320621B2 (en) 2009-12-21 2012-11-27 Microsoft Corporation Depth projector system with integrated VCSEL array
US20110188054A1 (en) 2010-02-02 2011-08-04 Primesense Ltd Integrated photonics module for optical projection
JP2011169701A (ja) 2010-02-17 2011-09-01 Sanyo Electric Co Ltd 物体検出装置および情報取得装置
JP5612916B2 (ja) 2010-06-18 2014-10-22 キヤノン株式会社 位置姿勢計測装置、その処理方法、プログラム、ロボットシステム
JP5499985B2 (ja) 2010-08-09 2014-05-21 ソニー株式会社 表示装置組立体
WO2012023256A2 (en) 2010-08-19 2012-02-23 Canon Kabushiki Kaisha Three-dimensional measurement apparatus, method for three-dimensional measurement, and computer program
JP5163713B2 (ja) 2010-08-24 2013-03-13 カシオ計算機株式会社 距離画像センサ及び距離画像生成装置並びに距離画像データ取得方法及び距離画像生成方法
US20120056982A1 (en) 2010-09-08 2012-03-08 Microsoft Corporation Depth camera based on structured light and stereo vision
US8593535B2 (en) 2010-09-10 2013-11-26 Apple Inc. Relative positioning of devices based on captured images of tags
EP2433716A1 (en) 2010-09-22 2012-03-28 Hexagon Technology Center GmbH Surface spraying device with a nozzle control mechanism and a corresponding method
JP2013542401A (ja) * 2010-10-27 2013-11-21 株式会社ニコン 形状測定装置、構造物の製造方法及び構造物製造システム
TWI428558B (zh) 2010-11-10 2014-03-01 Pixart Imaging Inc 測距方法、測距系統與其處理軟體
JP5815940B2 (ja) 2010-12-15 2015-11-17 キヤノン株式会社 距離計測装置、距離計測方法、およびプログラム
US9888225B2 (en) 2011-02-04 2018-02-06 Koninklijke Philips N.V. Method of recording an image and obtaining 3D information from the image, camera system
JP5746529B2 (ja) * 2011-03-16 2015-07-08 キヤノン株式会社 三次元距離計測装置、三次元距離計測方法、およびプログラム
US8794181B2 (en) 2011-03-17 2014-08-05 Mirobot Ltd. System and method for three dimensional teat modeling for use with a milking system
JP2014122789A (ja) 2011-04-08 2014-07-03 Sanyo Electric Co Ltd 情報取得装置、投射装置および物体検出装置
JP2014516409A (ja) * 2011-04-15 2014-07-10 ファロ テクノロジーズ インコーポレーテッド レーザトラッカの改良位置検出器
JP5830270B2 (ja) 2011-05-24 2015-12-09 オリンパス株式会社 内視鏡装置および計測方法
CA2835306C (en) 2011-06-07 2016-11-15 Creaform Inc. Sensor positioning for 3d scanning
KR101974651B1 (ko) 2011-06-22 2019-05-02 성균관대학교산학협력단 경계선 상속을 통하여 계층적으로 직교화된 구조광을 디코딩하는 방법 및 이를 이용하는 3차원 거리 영상 측정 시스템
US10054430B2 (en) 2011-08-09 2018-08-21 Apple Inc. Overlapping pattern projector
DE102012108567B4 (de) 2011-10-05 2017-04-27 Electronics And Telecommunications Research Institute Verfahren zum Erlangen von Tiefeninformationen unter Verwendung eines Lichtmusters
KR101605224B1 (ko) 2011-10-05 2016-03-22 한국전자통신연구원 패턴 광을 이용한 깊이 정보 획득 장치 및 방법
CN102387330A (zh) * 2011-10-27 2012-03-21 王悦 一种不规则表面成像方法
TW201329509A (zh) 2012-01-10 2013-07-16 Walsin Lihwa Corp 立體掃瞄裝置及其立體掃瞄方法
US9986208B2 (en) 2012-01-27 2018-05-29 Qualcomm Incorporated System and method for determining location of a device using opposing cameras
KR20140116551A (ko) 2012-01-31 2014-10-02 쓰리엠 이노베이티브 프로퍼티즈 캄파니 표면의 삼차원 구조를 측정하는 방법 및 장치
JP5800082B2 (ja) 2012-03-01 2015-10-28 日産自動車株式会社 距離計測装置及び距離計測方法
CN104220838B (zh) 2012-03-28 2016-12-21 富士通株式会社 拍摄装置
EP2849648B1 (en) 2012-05-18 2020-01-08 Siemens Healthcare Diagnostics Inc. Fish eye lens imaging apparatus and imaging method
US8699005B2 (en) 2012-05-27 2014-04-15 Planitar Inc Indoor surveying apparatus
DK2872030T3 (en) 2012-07-10 2017-03-06 Wavelight Gmbh METHOD AND APPARATUS FOR DETERMINING THE OPTICAL ABERRATIONS OF AN EYE
US20140016113A1 (en) 2012-07-13 2014-01-16 Microsoft Corporation Distance sensor using structured light
JP2014020978A (ja) 2012-07-20 2014-02-03 Fujitsu Ltd 照射装置、距離測定装置、照射装置のキャリブレーションプログラム及びキャリブレーション方法
EP2696590B1 (en) 2012-08-06 2014-09-24 Axis AB Image sensor positioning apparatus and method
US9275459B2 (en) 2012-10-05 2016-03-01 Qualcomm Incorporated Method and apparatus for calibrating an imaging device
US9741184B2 (en) 2012-10-14 2017-08-22 Neonode Inc. Door handle with optical proximity sensors
US9927571B2 (en) 2012-10-24 2018-03-27 Seereal Technologies S.A. Illumination device
US9285893B2 (en) 2012-11-08 2016-03-15 Leap Motion, Inc. Object detection and tracking with variable-field illumination devices
JP6241793B2 (ja) 2012-12-20 2017-12-06 パナソニックＩｐマネジメント株式会社 ３次元測定装置および３次元測定方法
US10466359B2 (en) 2013-01-01 2019-11-05 Inuitive Ltd. Method and system for light patterning and imaging
US9230339B2 (en) * 2013-01-07 2016-01-05 Wexenergy Innovations Llc System and method of measuring distances related to an object
US9691163B2 (en) 2013-01-07 2017-06-27 Wexenergy Innovations Llc System and method of measuring distances related to an object utilizing ancillary objects
US8768559B1 (en) 2013-01-22 2014-07-01 Qunomic Virtual Technology, LLC Line projection system
US9142019B2 (en) 2013-02-28 2015-09-22 Google Technology Holdings LLC System for 2D/3D spatial feature processing
US10105149B2 (en) 2013-03-15 2018-10-23 Board Of Regents Of The University Of Nebraska On-board tool tracking system and methods of computer assisted surgery
US9364167B2 (en) 2013-03-15 2016-06-14 Lx Medical Corporation Tissue imaging and image guidance in luminal anatomic structures and body cavities
US20140320605A1 (en) 2013-04-25 2014-10-30 Philip Martin Johnson Compound structured light projection system for 3-D surface profiling
US9536339B1 (en) 2013-06-13 2017-01-03 Amazon Technologies, Inc. Processing unordered point cloud
US10061028B2 (en) 2013-09-05 2018-08-28 Texas Instruments Incorporated Time-of-flight (TOF) assisted structured light imaging
JP6211876B2 (ja) 2013-10-01 2017-10-11 株式会社トプコン 測定方法及び測定装置
CN103559735B (zh) 2013-11-05 2017-03-01 重庆安钻理科技股份有限公司 一种三维重建方法及系统
US9404742B2 (en) * 2013-12-10 2016-08-02 GM Global Technology Operations LLC Distance determination system for a vehicle using holographic techniques
US10372982B2 (en) 2014-01-06 2019-08-06 Eyelock Llc Methods and apparatus for repetitive iris recognition
GB2522248A (en) 2014-01-20 2015-07-22 Promethean Ltd Interactive system
KR102166691B1 (ko) 2014-02-27 2020-10-16 엘지전자 주식회사 객체의 3차원 형상을 산출하는 장치 및 방법
US9526427B2 (en) 2014-03-21 2016-12-27 Hypermed Imaging, Inc. Compact light sensors with symmetrical lighting
US9307231B2 (en) 2014-04-08 2016-04-05 Lucasfilm Entertainment Company Ltd. Calibration target for video processing
JP6002275B2 (ja) 2014-04-30 2016-10-05 シナノケンシ株式会社 計測装置
JP5829306B2 (ja) 2014-05-12 2015-12-09 ファナック株式会社 レンジセンサの配置位置評価装置
US10207193B2 (en) 2014-05-21 2019-02-19 Universal City Studios Llc Optical tracking system for automation of amusement park elements
US20150347833A1 (en) * 2014-06-03 2015-12-03 Mark Ries Robinson Noncontact Biometrics with Small Footprint
US9699393B2 (en) 2014-06-26 2017-07-04 Semiconductor Components Industries, Llc Imaging systems for infrared and visible imaging with patterned infrared cutoff filters
US9377533B2 (en) 2014-08-11 2016-06-28 Gerard Dirk Smits Three-dimensional triangulation and time-of-flight based tracking systems and methods
KR20160020323A (ko) 2014-08-13 2016-02-23 옥은호 평행 적외선 투사기와 카메라 모듈로 구성되는 거리 측정 센서
JP6370177B2 (ja) 2014-09-05 2018-08-08 株式会社Ｓｃｒｅｅｎホールディングス 検査装置および検査方法
EP3859669A1 (en) 2014-11-04 2021-08-04 SZ DJI Technology Co., Ltd. Camera calibration
US20160128553A1 (en) 2014-11-07 2016-05-12 Zheng Jason Geng Intra- Abdominal Lightfield 3D Endoscope and Method of Making the Same
EP3229668A4 (en) 2014-12-08 2018-07-11 Luis Daniel Munoz Device, system and methods for assessing tissue structures, pathology, and healing
KR102369792B1 (ko) 2015-03-05 2022-03-03 한화테크윈 주식회사 촬영 장치 및 촬영 방법
JP6484072B2 (ja) 2015-03-10 2019-03-13 アルプスアルパイン株式会社 物体検出装置
WO2016151918A1 (ja) 2015-03-26 2016-09-29 富士フイルム株式会社 距離画像取得装置及び距離画像取得方法
JP6247793B2 (ja) 2015-03-27 2017-12-13 富士フイルム株式会社 距離画像取得装置
US10215557B2 (en) 2015-03-30 2019-02-26 Fujifilm Corporation Distance image acquisition apparatus and distance image acquisition method
US9694498B2 (en) 2015-03-30 2017-07-04 X Development Llc Imager for detecting visual light and projected patterns
US10488192B2 (en) 2015-05-10 2019-11-26 Magik Eye Inc. Distance sensor projecting parallel patterns
DE102015209143B4 (de) 2015-05-19 2020-02-27 Esaote S.P.A. Verfahren zur Bestimmung einer Abbildungsvorschrift und bildgestützten Navigation sowie Vorrichtung zur bildgestützten Navigation
WO2016194018A1 (ja) 2015-05-29 2016-12-08 オリンパス株式会社 照明装置及び計測装置
KR20170005649A (ko) 2015-07-06 2017-01-16 엘지전자 주식회사 3차원 깊이 카메라 모듈 및 이를 구비하는 이동 단말기
US10223793B1 (en) 2015-08-05 2019-03-05 Al Incorporated Laser distance measuring method and system
DE102015115011A1 (de) 2015-09-08 2017-03-09 Valeo Schalter Und Sensoren Gmbh Laserscanner für Kraftfahrzeuge
US9989357B2 (en) * 2015-09-09 2018-06-05 Faro Technologies, Inc. Aerial device that cooperates with an external projector to measure three-dimensional coordinates
JP2018538107A (ja) * 2015-09-23 2018-12-27 イースト カロライナ ユニバーシティ 発光体を使用して物体距離及びターゲット寸法を測定する方法、システム、及びコンピュータプログラム製品
US20170094251A1 (en) * 2015-09-30 2017-03-30 Faro Technologies, Inc. Three-dimensional imager that includes a dichroic camera
US10176554B2 (en) 2015-10-05 2019-01-08 Google Llc Camera calibration using synthetic images
JP6597150B2 (ja) 2015-10-09 2019-10-30 富士通株式会社 距離測定装置、距離測定方法、距離測定プログラムおよびテーブルの作成方法
FR3042610B1 (fr) 2015-10-14 2018-09-07 Quantificare Dispositif et procede pour reconstruire en trois dimensions la tete et le corps
US10942261B2 (en) 2015-10-21 2021-03-09 Samsung Electronics Co., Ltd Apparatus for and method of range sensor based on direct time-of-flight and triangulation
US10225544B2 (en) * 2015-11-19 2019-03-05 Hand Held Products, Inc. High resolution dot pattern
DE112015007146T5 (de) 2015-11-25 2018-08-02 Mitsubishi Electric Corporation Vorrichtung und verfahren zur dreidimensionalen bildmessung
KR20170094968A (ko) 2016-02-12 2017-08-22 엘지이노텍 주식회사 피사체 거리 측정 부재, 이를 갖는 카메라 모듈
US11030775B2 (en) 2016-03-17 2021-06-08 Flir Systems, Inc. Minimal user input video analytics systems and methods
CN107438148B (zh) 2016-05-27 2021-08-24 松下知识产权经营株式会社 摄像系统
US9686539B1 (en) 2016-06-12 2017-06-20 Apple Inc. Camera pair calibration using non-standard calibration objects
CN105974427B (zh) * 2016-06-24 2021-05-04 上海图漾信息科技有限公司 结构光测距装置及方法
EP3551965A4 (en) 2016-12-07 2020-08-05 Magik Eye Inc. DISTANCE SENSOR PROJECTING PARALLEL PATTERNS
US20180227566A1 (en) 2017-02-06 2018-08-09 Microsoft Technology Licensing, Llc Variable field of view and directional sensors for mobile machine vision applications
WO2018155486A1 (ja) 2017-02-21 2018-08-30 株式会社ナノルクス 固体撮像素子及び撮像装置
US11025887B2 (en) 2017-02-27 2021-06-01 Sony Corporation Field calibration of stereo cameras with a projector
WO2018211588A1 (ja) 2017-05-16 2018-11-22 オリンパス株式会社 撮像装置、撮像方法及びプログラム
US10769914B2 (en) 2017-06-07 2020-09-08 Amazon Technologies, Inc. Informative image data generation using audio/video recording and communication devices
WO2019041116A1 (zh) 2017-08-29 2019-03-07 深圳市汇顶科技股份有限公司 光学测距方法以及光学测距装置
EP3692501A4 (en) 2017-10-08 2021-07-07 Magik Eye Inc. CALIBRATION OF A SENSOR SYSTEM INCLUDING MULTIPLE MOBILE SENSORS
US10679076B2 (en) * 2017-10-22 2020-06-09 Magik Eye Inc. Adjusting the projection system of a distance sensor to optimize a beam layout
CN114827573A (zh) 2018-03-20 2022-07-29 魔眼公司 调整相机曝光以用于三维深度感测和二维成像
JP2021518535A (ja) 2018-03-20 2021-08-02 マジック アイ インコーポレイテッド 様々な密度の投影パターンを使用する距離測定
JP7039388B2 (ja) 2018-05-24 2022-03-22 株式会社トプコン 測量装置
CN112513565B (zh) 2018-06-06 2023-02-10 魔眼公司 使用高密度投影图案的距离测量
WO2020033169A1 (en) 2018-08-07 2020-02-13 Magik Eye Inc. Baffles for three-dimensional sensors having spherical fields of view
US10638104B2 (en) * 2018-09-14 2020-04-28 Christie Digital Systems Usa, Inc. Device, system and method for generating updated camera-projector correspondences from a reduced set of test patterns
US20200182974A1 (en) 2018-12-08 2020-06-11 Magik Eye Inc. Vertical cavity surface emitting laser-based projector
JP2022518023A (ja) 2019-01-20 2022-03-11 マジック アイ インコーポレイテッド 複数個の通過域を有するバンドパスフィルタを備える三次元センサ
JP2020139869A (ja) * 2019-02-28 2020-09-03 キヤノン株式会社 計測装置、算出方法、システム及びプログラム

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100209002A1 (en) * 2007-11-15 2010-08-19 Sirona Dental Systems Gmbh Method for optical measurement of the three dimensional geometry of objects
US20160050401A1 (en) * 2014-08-12 2016-02-18 Mantisvision Ltd. System, method and computer program product to project light pattern
US20160117561A1 (en) * 2014-10-24 2016-04-28 Magik Eye Inc. Distance sensor
JP2016166810A (ja) * 2015-03-10 2016-09-15 アルプス電気株式会社 物体検出装置
TW201706564A (zh) * 2015-05-10 2017-02-16 麥吉克艾公司 距離感測器（二）

Also Published As

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