TWI770248B - 基板收納容器及其製造方法 - Google Patents

基板收納容器及其製造方法 Download PDF

Info

Publication number
TWI770248B
TWI770248B TW107127438A TW107127438A TWI770248B TW I770248 B TWI770248 B TW I770248B TW 107127438 A TW107127438 A TW 107127438A TW 107127438 A TW107127438 A TW 107127438A TW I770248 B TWI770248 B TW I770248B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
container body
substrate storage
thin
storage container
walled portion
Prior art date
Application number
TW107127438A
Other languages
English (en)
Other versions
TW201911456A (zh
Inventor
戶田順也
三村博
渡辺直人
Original Assignee
日商信越聚合物股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 日商信越聚合物股份有限公司 filed Critical 日商信越聚合物股份有限公司
Publication of TW201911456A publication Critical patent/TW201911456A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI770248B publication Critical patent/TWI770248B/zh

Links

Images

Classifications

    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67379—Closed carriers characterised by coupling elements, kinematic members, handles or elements to be externally gripped
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6734—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders specially adapted for supporting large square shaped substrates
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67366—Closed carriers characterised by materials, roughness, coatings or the like
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67369—Closed carriers characterised by shock absorbing elements, e.g. retainers or cushions
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67373—Closed carriers characterised by locking systems
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67376—Closed carriers characterised by sealing arrangements
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/673—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere using specially adapted carriers or holders; Fixing the workpieces on such carriers or holders
    • H01L21/6735—Closed carriers
    • H01L21/67386—Closed carriers characterised by the construction of the closed carrier
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00—Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/68—Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for positioning, orientation or alignment

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
  • Packaging Frangible Articles (AREA)
  • Packages (AREA)

Abstract

本發明提供一種可抑制嵌入成形之功能構件變形之基板收納容器及其製造方法。 本發明之裝置定位構件4包含：安裝部41，其具有以與容器本體10之底板18之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部413、及隨著自厚壁部413朝向外緣壁厚變薄之薄壁部410；及本體部42，其連結於安裝部41；且係以安裝部41之一面420與容器本體10之內表面190成同一平面之方式配置於容器本體10之嵌入位置。

Description

基板收納容器及其製造方法
本發明係關於一種嵌入成形有功能構件之基板收納容器及其製造方法。
於具備收納基板之容器本體、與封閉容器本體之開口之蓋體的基板收納容器中，有設置使用與容器本體等不同之材料提高滑動性或耐磨耗性等功能之功能構件，例如定位至搬送基板收納容器之搬送裝置或加工基板之加工裝置之定位機構之裝置定位構件的情況。該功能構件藉由嵌入成形與容器本體等一體成形(參照專利文獻1及專利文獻2)。
於嵌入成形中，因成形時之加熱或成形後之除熱等，於裝置定位構件4R之安裝部41R發生收縮，造成縮陷或凹凸，而有尺寸或位置之精度惡化，或嵌入成形之功能構件變形之情況(參照圖10)。
因此，於專利文獻1記載有將供成形樹脂流入之槽部形成於功能構件，以緩和收縮時之應力。又，於專利文獻2記載有將縱向或橫向之密接強化肋部形成於功能構件，以提高與容器本體之密接度。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]國際公開第2006/120866號
[專利文獻2]日本專利特開2002-299428號公報
然而，於專利文獻2，未就密接強化肋部記載具體之形狀或尺寸，需要根據功能構件之種類(形狀、尺寸)實際試作而設計密接強化肋部。
因此，本發明係鑑於以上問題而完成者，目的在於提供一種可抑制嵌入成形之功能構件變形之基板收納容器及其製造方法。
(1)本發明之一態樣係提供一種基板收納容器，其具備：容器本體，其收納基板；蓋體，其封閉上述容器本體之開口；及功能構件，其對於上述容器本體或上述蓋體藉由嵌入成形而一體化；上述功能構件包含：安裝部，其具有以與上述容器本體或上述蓋體之壁構件之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部、及隨著自上述厚壁部朝向外緣壁厚變薄之薄壁部；及本體部，其連結於上述安裝部；且以上述厚壁部之一面與上述壁構件之內表面成同一平面之方式配置於上述容器本體或上述蓋體。
(2)於上述(1)之態樣中，上述薄壁部可為具有以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式傾斜之傾斜面之銳角形狀。
(3)於上述(1)之態樣中，上述薄壁部可為薄壁形狀，該薄壁形狀具有以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式相對於與壁厚方向正交之方向傾斜20°以上之傾斜面、與壁厚方向之頂面。
(4)於上述(1)之態樣中，上述薄壁部可為以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式朝正交於壁厚方向之方向突出之凸部。
(5)於上述(1)至(4)之任一態樣中，上述薄壁部可經由上述厚壁部之外緣中壁厚方向之階差面設置於上述厚壁部的外緣。
(6)於上述(5)之態樣中，上述薄壁部在正交於壁厚方向之方向上的自上述階差面至頂端之突出量可為2.00mm以下。
(7)於上述(1)至(6)之任一態樣中，上述功能構件可以摩擦係數與形成上述容器本體或上述蓋體之材料不同之材料形成。
(8)於上述(1)至(7)之任一態樣中，上述功能構件可為於以上述開口為正面之情形時，形成於上述容器本體之外側，且定位至加工裝置或搬送裝置之定位機構的裝置定位部。
(9)於上述(8)之態樣中，上述裝置定位部可形成為位於上述容器本體或上述蓋體之一側成為上述安裝部之塊形狀，於另一側形成有供上述定位機構定位之定位槽，且於上述一側與上述另一側之間之周面上形成有複數個肋部。
(10)本發明之另一態樣係一種基板收納容器之製造方法，該基板收納容器具備：容器本體，其收納基板；蓋體，其封閉上述容器本體之開口；及功能構件，其對於上述容器本體或上述蓋體藉由嵌入成形而一體化；上述功能構件包含：安裝部，其具有以與上述容器本體或上述蓋體之壁構件之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部、及隨著自上述厚壁部朝向外緣壁 厚變薄之薄壁部；及本體部，其連結於上述安裝部；且該製造方法係以上述安裝部之一面與上述容器本體或上述蓋體之內表面成同一平面之方式將上述功能構件嵌入成形於上述容器本體或上述蓋體。
根據本發明，可提供一種能夠抑制嵌入成形之功能構件變形之基板收納容器及其製造方法。
1:基板收納容器
4:裝置定位構件(功能構件)
4A:裝置定位構件(功能構件)
4B:裝置定位構件(功能構件)
4R:裝置定位構件
10:容器本體
11:開口
12:密封面
13:支持體
13A:後保持器
14:機械凸緣
15:手動把手
18:底板(壁構件)
19:內表面
20:蓋體
21:安裝槽
22:突出部
30:襯墊
40:裝置定位部
41:安裝部
41R:安裝部
42:本體部
43:定位槽
44:凹部
45:肋部
50:夾緊特徵
100:加工裝置
110:定位銷
200:搬送裝置
210:定位銷
410:薄壁部
411:薄壁部
412:薄壁部
413:厚壁部
420:一面
430:另一面
440:階差面
451:縱主肋部
452:橫肋部
453:縱副肋部
4100:傾斜面
4111:傾斜面
4112:頂面
4121:凸部
d:距離
L:突出量
L1:突出量
L2:突出量
M1:陰模
M2:模芯塊(core block)
R:2次樹脂
W:基板
θ:傾斜角度
圖1係顯示第1實施形態之基板收納容器之分解概略立體圖。
圖2係基板收納容器之仰視圖。
圖3係顯示基板收納容器之定位狀況之概略圖。
圖4(a)係顯示裝置定位部附近之剖面立體圖，(b)係顯示裝置定位構件之立體圖。
圖5(a)係顯示裝置定位構件之剖視圖，(b)係顯示薄壁部之立體圖。
圖6係顯示嵌入成形之狀況之概略圖。
圖7(a)係顯示變化例1之裝置定位構件之剖視圖，(b)係顯示薄壁部之剖面立體圖。
圖8(a)係顯示變化例2之裝置定位構件之剖視圖，(b)係顯示薄壁部之剖面立體圖。
圖9係顯示其他功能構件之概略圖。
圖10(a)係顯示於先前之裝置定位構件中，藉由嵌入成形作用有應力之情形1的概略圖、(b)係顯示作用有應力之情形2之概略圖。
以下，對本發明之實施形態，參照圖式詳細地進行說明。另，於本說明書之實施形態中，整體上對同一構件、部分標註同一符號。
圖1係顯示基板收納容器1之分解概略立體圖。圖2係基板收納容器1之仰視圖。圖3係顯示基板收納容器1之定位狀況之概略圖。
如圖1所示，基板收納容器1具備：容器本體10，其收納基板W；蓋體20，其封閉容器本體10之開口11；及環狀之襯墊30，其設置於容器本體10與蓋體20之間。
容器本體10為箱狀體，且為將開口11形成於正面之前開型。開口11以向外側擴展之方式產生階差而彎曲形成，該階差部之面作為供襯墊30接觸之密封面12形成於開口11之正面之內周緣。容器本體10亦可為將開口11形成於上表面之底開型。然而，基於將直徑為300mm或直徑為450mm之基板W向容器本體10嵌入之操作進行難易度之考慮，較佳為前開型。
於容器本體10內部之左右兩側配置有支持體13。支持體13具有載置及定位基板W之功能。於支持體13，於高度方向上形成有複數個凹槽而構成所謂之凹槽齒。且，基板W被載置於相同高度之左右2處之凹槽齒。支持體13之材料可為與容器本體10同樣者，但為了提高洗淨性或滑動性，亦可使用不同之材料。
又，於容器本體10內部之後方側(背面壁)配置有後保持器。後保持器於蓋體20蓋上之情形時，與下文所述之前保持器成對而保持基板W。然而，亦可不具備如本實施形態之後保持器，而使支持體13於凹槽齒之深入側具有「ㄑ」字狀之基板保持部，藉此以前保持器與基板保持部保持基板W。於後保持器，於高度方向上亦形成有複數個凹槽而構成所謂之凹槽齒。後保持器之材料可為與容器本體10同樣者，但為了提高洗淨性或滑動性，亦可使用不同之材料。該等支持體13或後保持器藉由嵌入成形等設置於容器本體10。
基板W由前保持器與支持體13支持而收納於容器本體10，但亦可由前保持器與後保持器支持而收納於容器本體10。另，作為基板W之一例列舉矽晶圓，但無特別限定，亦可為例如石英晶圓、砷化鎵晶圓等。
於容器本體10之頂板之中央部自由裝卸地設置有機械凸緣14。氣密收納有基板W之基板收納容器1由工廠內之搬送機器人固持機械凸緣14，而以乾淨狀態搬送至加工基板W之每個步驟之加工裝置100。
於容器本體10之開口11之內周緣形成有扣止孔(未圖示)。蓋體20以隔著襯墊30壓向容器本體10之狀態扣止於容器本體10。又，於容器本體10之兩側部之外表面中央部，分別自由裝卸地安裝有由作業者握持之手動把手15。
又，於容器本體10之底板18之外部，形成有定位至加工裝置100或搬 送裝置200之定位機構即定位銷110、210之裝置定位部40(參照圖3)，但關於裝置定位部40之細節將於下文敘述。另，於底板18之大致中央部亦形成有向加工裝置100固定時所使用之夾緊特徵50(參照圖2)。
另一方面，蓋體20為安裝於容器本體10之開口11之正面之大致矩形狀者。蓋體20具有未圖示之上鎖機構，且藉由將扣止爪嵌入至形成於容器本體10之扣止孔(未圖示)而上鎖。又，蓋體20於中央部自由裝卸地安裝有或一體形成有水平保持基板W之前部周緣之彈性前保持器(未圖示)。另，於蓋體20設置有連通基板收納容器1之內部與基板收納容器1之外部之小型通氣用過濾器(未圖示)。
由於該前保持器與支持體13之凹槽齒及基板保持部等同樣為直接接觸晶圓之部位，故可使用洗淨性或滑動性良好之材料。前保持器亦可以嵌入成形或藉嵌合等設置於蓋體20。
且，於蓋體20形成有供安裝襯墊30之安裝槽21。更詳細而言，於蓋體20之容器本體10側之面，環狀地形成小於開口11之階差部之突出部22，藉此環狀地形成剖面為大致U字狀之安裝槽21。該突出部22於將蓋體20安裝於容器本體10時進入至較開口11之階差部更深處。
作為容器本體10及蓋體20之材料，列舉例如聚碳酸酯、環烯烴聚合物、聚醚醯亞胺、聚醚碸、聚醚醚酮、液晶聚合物等熱塑性樹脂，亦可對該等熱塑性樹脂適當添加包含導電性碳、導電纖維、金屬纖維、導電性高 分子等之導電劑、各種防帶電劑、紫外線吸收劑等。
其次，襯墊30為與蓋體20之正面形狀(及容器本體10之開口11之形狀)對應之環狀者，於本實施形態中為矩形框狀者。然而，環狀之襯墊30在向蓋體20安裝前之狀態下，亦可為圓環(ring)狀。
襯墊30配置於容器本體10之密封面12與蓋體20之間，於將蓋體20安裝於容器本體10時，密接於密封面12與蓋體20而確保基板收納容器1之氣密性，減少來自外部之塵埃、濕氣等向基板收納容器1之侵入，且減少氣體自內部向外部洩漏。
作為襯墊30之材料，可使用包含聚酯系彈性體、聚烯烴系彈性體、氟系彈性體、聚胺基甲酸酯系彈性體等之熱塑性彈性體、氟橡膠、乙烯丙烯橡膠、矽酮系橡膠等彈性體。基於賦予導電性或防帶電性之觀點，對該等材料適當添加碳纖維、金屬纖維、金屬氧化物、各種防帶電劑等。又，基於改質表面之固著性之觀點，可選擇性添加特定量之包含碳、玻璃纖維、雲母、滑石、二氧化矽、碳酸鈣等之填充劑、聚乙烯、聚醯胺、聚縮醛、氟系樹脂、矽酮樹脂等樹脂。
此處，對裝置定位部40詳細地進行說明。
圖4(a)係顯示裝置定位部40附近之剖面立體圖，圖4(b)係顯示裝置定位構件4之立體圖。圖5(a)係顯示裝置定位構件4之剖視圖，圖5(b)係顯示薄壁部410之立體圖。圖6係顯示嵌入成形之情況之概略圖。
裝置定位部40於仰視時具有大致軌道形狀，且使其長邊方向朝向底板18之夾緊特徵50，於大致同一圓周上等間隔地在底板18配置3處(參照圖2)。
裝置定位部40藉由使功能構件即裝置定位構件4對於容器本體10以嵌入成形一體化而設置。裝置定位部40與加工裝置100或搬送裝置200之定位銷110、210接觸。
裝置定位構件4包含：安裝部41，其具有以與容器本體10之底板18(壁構件)之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部413；及本體部42，其連結於安裝部41；且以安裝部41之一面420與容器本體10之底板18之內表面19成同一平面之方式配置於容器本體10之嵌入位置(參照圖4)。另，關於安裝部41之細節將於下文敘述。
又，於本實施形態中，構成裝置定位構件4之安裝部41與本體部42係一體成形，但亦可分開成形。
本體部42包含：定位槽43，其接觸於加工裝置100或搬送裝置200之定位銷110、210；複數個肋部45；及複數個凹部44，其等由複數個肋部45劃分。
定位槽43以經由下文所述之縱主肋部451連結於安裝部41之方式形 成，且沿裝置定位部40之長邊方向排列2個。例如，於自搬送裝置200向加工裝置100交接基板收納容器1時，加工裝置100之定位銷110接觸於一定位槽43，搬送裝置200之定位銷210接觸於另一定位槽43而進行定位。
複數個肋部45具有：1個縱主肋部451，其連結安裝部41與定位槽43；1個橫肋部452，其以正交於縱主肋部451之方式連結於定位槽43；及2個縱副肋部453，其等連結安裝部41與橫肋部452。另，2個縱副肋部453以正交於縱主肋部451及橫肋部452之方式連結於1個縱主肋部451。
如此，裝置定位構件4形成為位於容器本體10側之一側成為安裝部41之塊形狀，於另一側之另一面形成有供定位銷110、210定位之定位槽43。且，於裝置定位構件4之一側與另一側之間之周面上形成有複數個凹部44，於凹部44彼此之間形成有肋部45。
其次，回到安裝部41之說明。如圖4及圖5所示，安裝部41進而具有薄壁部410，其以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式，遍及厚壁部413之外緣而與厚壁部413一體設置。
於該實施形態中，薄壁部410為具有以隨著朝向外緣壁厚連續變薄之方式傾斜之傾斜面4100之銳角形狀。詳細而言，薄壁部410為具有傾斜面4100之銳角形狀，該傾斜面4100以隨著朝向外緣壁厚連續變薄之方式分別自厚壁部413外緣之一面420及與一面420對向之另一面430傾斜。另，傾斜面4100較佳為相對於與壁厚方向正交之方向傾斜20°以上者。
例如，作為銳角形狀之一例，厚壁部413之厚度為3.65mm，安裝部41之一面420至薄壁部410之頂端在壁厚方向上之距離d為1.73mm，傾斜面4100之傾斜角度θ為67.5°。於該情形時，厚壁部413之外緣至薄壁部410之頂端在正交於壁厚方向之方向上的突出量L為4.18mm。
裝置定位部40亦可以與形成容器本體10之材料不同之材料形成。作為構成裝置定位部40之裝置定位構件4之材料，由於供設置於加工裝置100或搬送裝置200之定位銷110、210一面抵接一面滑動，故較佳以對於定位銷110、210之摩擦係數比容器本體10之材料更低、且以硬的材料形成。可使用例如聚四氟乙烯、碳纖維材、加入有其他滑動材之聚碳酸酯、聚碳酸酯、環狀烯烴聚合物(環烯烴聚合物)等非結晶性樹脂。
此處，裝置定位構件4之安裝部41較佳由與容器本體10之材料相同之材料、或可與容器本體10焊接之材料形成，例如可進行2色成形，其係於安裝部41使用聚碳酸酯、環狀烯烴聚合物等非結晶性樹脂，並以聚醚醚酮、聚對苯二甲酸丁二酯等結晶性樹脂形成本體部42。
定位銷110、210之材料無特定限定，但為了抑制產生因摩擦所致之摩擦粉等，較佳使用SUS(Steel Use Stainless，不鏽鋼材質標準)鋼。
於圖4及圖6中，基板收納容器1之製造方法包含：形成複數個裝置定位構件4之步驟，該等裝置定位構件4包含：安裝部41，其具有：以與容 器本體10之底板18之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部413、及隨著自厚壁部413朝向外緣壁厚變薄之薄壁部410；及本體部42，其連結於安裝部41；以使安裝部41之一面420與容器本體10之內表面19成同一平面，且使安裝部41之另一面430抵接(重疊)於作為裝置定位構件4之嵌入成形所用之一模具之陰模M1的上表面之方式，將裝置定位構件4配置於容器本體10之嵌入位置之步驟；及使安裝部41之一面420抵接(重疊)於作為對應於陰模M1之另一模具之模芯塊(core block)M2之下表面之方式，使陰模M1與模芯塊(core block)M2對準，注入2次樹脂R，使裝置定位構件4與2次樹脂R固著之方式進行嵌入成形而成形容器本體10之步驟。圖6中之箭頭表示注入2次樹脂R之方向。
於圖6中，根據本實施形態，於使裝置定位構件4嵌入成形時，2次樹脂R收縮時施加於安裝部41之以圖中箭頭所示之應力係由於安裝部41之薄壁部410為隨著朝向外緣壁厚變薄之易於熔融之形狀故而被緩和。因此，可提供一種能抑制嵌入成形之裝置定位構件4變形之基板收納容器1。
又，由於裝置定位構件4以摩擦係數較低且滑動性較佳之材料形成，故定位銷110、210更容易滑動，而易於將定位銷110、210引導至裝置定位部40之特定位置。因此，可提供一種能以高精度進行基板收納容器1對加工裝置100或搬送裝置200之定位之基板收納容器1。
再者，於裝置定位構件4之一側與另一側之間之周面上形成有複數個凹部44，且於凹部44彼此之間形成有肋部45，因而樹脂量較少，而於裝置定位構件4成形時不易產生縮陷。又，亦可藉由肋部45確保機械強度。
以上，對本發明較佳實施形態進行了詳述，但本發明並非限定於上述之實施形態者，亦可於申請專利範圍所記載之本發明之主旨之範圍內進行各種變化、變更。
(變化例1)
此處，對變化例1之裝置定位構件4A進行說明。
圖7(a)係顯示變化例1之裝置定位構件4A之剖視圖，圖7(b)係顯示薄壁部411之剖面立體圖。
於變化例1中，裝置定位構件4A之薄壁部411如圖7所示為薄壁形狀，且該薄壁形狀具有：以隨著朝向外緣壁厚連續變薄之方式相對於與壁厚方向正交之方向傾斜20°以上之傾斜面4111、及壁厚方向之頂面4112。又，薄壁部411經由厚壁部413外緣中壁厚方向上之階差面440，遍及厚壁部413之外緣而設置。
另，薄壁部411在正交於壁厚方向之方向上的自階差面440至頂面4112之突出量L1較佳為2.00mm以下。再者，薄壁部411在正交於壁厚方向之方向上的自階差面440至頂面4112之突出量L1更佳為1.70mm以下。
根據變化例1，除上述實施形態之效果外，與上述實施形態相比，由於在正交於壁厚方向之方向上，薄壁部411之突出量L減少，熔融之樹脂量較少，故可抑制端面之熔融樹脂之擴展，可減少外觀不良。又，由於薄 壁部411經由階差面440遍及厚壁部413之外緣而設置，故可進而抑制端面之熔融樹脂之擴展，可進而減少外觀不良。
(變化例2)
此處，對變化例2之裝置定位構件4B進行說明。
圖8(a)係顯示變化例2之裝置定位構件4B之剖視圖，圖8(b)係顯示薄壁部412之剖面立體圖。
於變化例2中，裝置定位構件4B之薄壁部412如圖8所示為以隨著朝向外緣壁厚連續變薄之方式朝正交於壁厚方向之方向突出的半圓形狀之凸部4121。又，薄壁部412與上述變化例1同樣，經由厚壁部413外緣中壁厚方向上之階差面440遍及厚壁部413之外緣而設置。另，凸部4121不限於半圓形狀，亦可為例如銳角形狀。
薄壁部412在正交於壁厚方向之方向上的自階差面440至凸部4121之頂端之突出量L2較佳為2.00mm以下。再者，薄壁部412在正交於壁厚方向之方向上的自階差面440至凸部4121之頂端之突出量L2更佳為1.70mm以下。
根據變化例2，可獲得與上述變化例1同樣之效果。
於上述實施形態中，作為功能構件之裝置定位構件4嵌入成形於容器本體10之底板18，但亦可嵌入成形於構成容器本體10之其他壁構件，例 如左右側壁或背面壁或頂板等，或，又可嵌入成形於蓋體20。
又，作為功能構件，例如，如圖9所示列舉支持體13、後保持器13A、夾緊特徵50等。另，於後保持器13A之情形時，較佳為變化例2中所示之薄壁部412之形狀。
又，於功能構件為支持體13或後保持器13A之情形時，較佳為其摩擦係數高於形成容器本體10或蓋體20之材料對基板W之摩擦係數。
再者，於上述實施形態及上述變化例1、2中，薄壁部410、411、412只要為如隨著朝向外緣壁厚變薄之形狀，則不特別限定於實施形態及變化例所示之形狀。
4‧‧‧裝置定位構件(功能構件)
10‧‧‧容器本體
18‧‧‧底板(壁構件)
19‧‧‧內表面
41‧‧‧安裝部
42‧‧‧本體部
43‧‧‧定位槽
44‧‧‧凹部
45‧‧‧肋部
410‧‧‧薄壁部
420‧‧‧一面
451‧‧‧縱主肋部
452‧‧‧橫肋部
453‧‧‧縱副肋部

Claims (10)

  1. 一種基板收納容器，其特徵在於具備： 容器本體，其收納基板； 蓋體，其封閉上述容器本體之開口；及 功能構件，其對於上述容器本體或上述蓋體藉由嵌入成形而一體化；且 上述功能構件包含：安裝部，其具有以與上述容器本體或上述蓋體之壁構件之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部、及隨著自上述厚壁部朝向外緣壁厚變薄之薄壁部；及本體部，其連結於上述安裝部；且 以上述厚壁部之一面與上述壁構件之內表面成同一平面之方式配置於上述容器本體或上述蓋體。
  2. 如請求項1之基板收納容器，其中 上述薄壁部為具有以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式傾斜之傾斜面之銳角形狀。
  3. 如請求項1之基板收納容器，其中 上述薄壁部為薄壁形狀，該薄壁形狀具有以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式相對於與壁厚方向正交之方向傾斜20°以上之傾斜面、與壁厚方向上之頂面。
  4. 如請求項1之基板收納容器，其中 上述薄壁部為以隨著朝向外緣壁厚變薄之方式朝正交於壁厚方向之方向突出之凸部。
  5. 如請求項1至4中任一項之基板收納容器，其中 上述薄壁部經由上述厚壁部之外緣中壁厚方向上之階差面設置於上述厚壁部之外緣。
  6. 如請求項5之基板收納容器，其中 上述薄壁部在正交於壁厚方向之方向上的自上述階差面至頂端之突出量為2.00 mm以下。
  7. 如請求項1至4中任一項之基板收納容器，其中 上述功能構件以摩擦係數與形成上述容器本體或上述蓋體之材料不同之材料形成。
  8. 如請求項1至4中任一項之基板收納容器，其中 上述功能構件為於以上述開口為正面之情形時，形成於上述容器本體之外側，且定位至加工裝置或搬送裝置之定位機構的裝置定位部。
  9. 如請求項8之基板收納容器，其中 上述裝置定位部為位於上述容器本體或上述蓋體之一側成為上述安裝部之塊形狀，於另一側形成有供上述定位機構定位之定位槽，且 於上述一側與上述另一側之間之周面上形成有複數個肋部。
  10. 一種基板收納容器之製造方法，其特徵在於該基板收納容器具備：容器本體，其收納基板；蓋體，其封閉上述容器本體之開口；及功能構件，其對於上述容器本體或上述蓋體藉由嵌入成形而一體化；且 上述功能構件包含：安裝部，其具有以與上述容器本體或上述蓋體之壁構件之壁厚相等之壁厚形成之厚壁部、及隨著自上述厚壁部朝向外緣壁厚變薄之薄壁部；及本體部，其連結於上述安裝部；且該製造方法係 將上述功能構件以上述安裝部之一面與上述容器本體或上述蓋體之內表面成同一平面之方式嵌入成形於上述容器本體或上述蓋體。
TW107127438A 2017-08-10 2018-08-07 基板收納容器及其製造方法 TWI770248B (zh)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2017-154847 2017-08-10
JP2017154847 2017-08-10

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201911456A TW201911456A (zh) 2019-03-16
TWI770248B true TWI770248B (zh) 2022-07-11

Family

ID=65272290

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107127438A TWI770248B (zh) 2017-08-10 2018-08-07 基板收納容器及其製造方法

Country Status (6)

Country Link
US (1) US11417554B2 (zh)
JP (1) JP7069475B2 (zh)
KR (1) KR102523865B1 (zh)
CN (1) CN110998823B (zh)
TW (1) TWI770248B (zh)
WO (1) WO2019031142A1 (zh)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102605057B1 (ko) * 2017-04-06 2023-11-24 미라이얼 가부시키가이샤 기판 수납 용기
KR102418353B1 (ko) * 2020-03-31 2022-07-06 미라이얼 가부시키가이샤 기판수납용기
JP7388712B2 (ja) * 2020-07-22 2023-11-29 信越ポリマー株式会社 収納容器の製造方法

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200520140A (en) * 2003-11-07 2005-06-16 Entegris Inc Front opening substrate container with bottom plate
TW200727384A (en) * 2005-05-06 2007-07-16 Shinetsu Polymer Co Substrate container and method of manufacturing same
TW201502044A (zh) * 2013-06-03 2015-01-16 Miraial Co Ltd 基板收納容器
TWM539495U (zh) * 2016-02-23 2017-04-11 中勤實業股份有限公司 用於收納基板的容器
TW201724327A (zh) * 2015-11-26 2017-07-01 Miraial Co Ltd 基板收納容器

Family Cites Families (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08273999A (ja) 1995-03-29 1996-10-18 Hoya Corp Ｘ線マスク及びｘ線マスクブランクス並びにこれらの製造方法
US6267245B1 (en) * 1998-07-10 2001-07-31 Fluoroware, Inc. Cushioned wafer container
JP3974344B2 (ja) * 2001-03-29 2007-09-12 信越ポリマー株式会社 精密基板収納容器及びその製造方法
JP4184701B2 (ja) 2002-04-19 2008-11-19 エスアイアイ・ナノテクノロジー株式会社 放射線検出器
JP3850852B2 (ja) * 2004-10-05 2006-11-29 俊郎 藤原 基板搬送用容器
JP4540529B2 (ja) * 2005-04-18 2010-09-08 信越ポリマー株式会社 収納容器
JP4920387B2 (ja) 2006-12-01 2012-04-18 信越半導体株式会社 基板収納容器
TWI411563B (zh) * 2009-09-25 2013-10-11 Gudeng Prec Industral Co Ltd 光罩盒
JP6465777B2 (ja) 2015-09-04 2019-02-06 信越ポリマー株式会社 基板収納容器及びその製造方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW200520140A (en) * 2003-11-07 2005-06-16 Entegris Inc Front opening substrate container with bottom plate
TW200727384A (en) * 2005-05-06 2007-07-16 Shinetsu Polymer Co Substrate container and method of manufacturing same
TW201502044A (zh) * 2013-06-03 2015-01-16 Miraial Co Ltd 基板收納容器
TW201724327A (zh) * 2015-11-26 2017-07-01 Miraial Co Ltd 基板收納容器
TWM539495U (zh) * 2016-02-23 2017-04-11 中勤實業股份有限公司 用於收納基板的容器

Also Published As

Publication number Publication date
WO2019031142A1 (ja) 2019-02-14
TW201911456A (zh) 2019-03-16
KR20200033959A (ko) 2020-03-30
US11417554B2 (en) 2022-08-16
CN110998823B (zh) 2023-09-05
US20200373180A1 (en) 2020-11-26
CN110998823A (zh) 2020-04-10
JPWO2019031142A1 (ja) 2020-07-02
JP7069475B2 (ja) 2022-05-18
KR102523865B1 (ko) 2023-04-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI770248B (zh) 基板收納容器及其製造方法
TWI774869B (zh) 基板收納容器
US7926663B2 (en) Substrate storage container and method of producing the same
TWI765065B (zh) 基板收納容器
JP3942379B2 (ja) 精密基板収納容器の位置決め部材
JP3974344B2 (ja) 精密基板収納容器及びその製造方法
US11450543B2 (en) Substrate storage container
US12080577B2 (en) Substrate storage container
CN106796904B (zh) 基板收纳容器
JP2007142192A (ja) 薄板体収納容器
US20230245907A1 (en) A storage container and manufacturing method of the same
KR20200012923A (ko) 기판 수납 용기
JPWO2008102804A1 (ja) 射出成形用金型及び射出成形方法
JP6491590B2 (ja) 基板収納容器
JP4823094B2 (ja) ティース体及び基板収納容器
TW202140359A (zh) 基板收納容器