TWI756763B - 可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統 - Google Patents

Abstract

一種可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統，其主要具有一混合訊號邏輯分析裝置，可量測一待檢測電路板多個訊號通道的多組混合訊息，並且對混合訊號進行觸發作業後，將觸發結果傳送至一訊號檢測裝置，訊號檢測裝置可預先載入對應於該待檢測電路板的一訊號檢測規則，訊號檢測裝置可對混合訊號進行一時序檢測和一電壓值檢測，並基於訊號檢測規則比對檢測到數值結果，最後，將比對檢測結果製成一檢測報告檔案，以供檢測人員儲存及轉發檢測報告檔案，並判斷待檢測電路板是否異常。

Description

可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統

本發明應用於電路板之測量領域，尤指一混合訊號邏輯分析裝置可同時擷取多組通道的一混合訊號，於一個訊號擷取週期結束即可完成電路板檢測作業的可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統。

按目前在電路板設計與驗證階段中，上電程序(Power sequence)規範主要的電子零件須符合一定的上電程序之時序(Timing)過早或過晚都可能造成電路無法正常工作，或者，上電程序之電壓值與電壓上升時間(Rise time)必須符合規格，目前的做法是檢測人員需手持示波器探棒，對於想測量的電路進行測量，完成後進行記錄並比對規格文件後看是否符合規格，由於一般示波器至多有8個通道，即使有製具能將示波器探棒與待測電路板連接，使檢測人員無須長時間維持手持測量狀態，然而檢測人員進行量測時，仍須手動操作檢測設備以調整參數，完成檢測後以人工方式核對量測結果最後撰寫報告，這樣檢測流程相當費時；目前電子產品的電路板設計極為複雜，視電路板檢測需 求，必要時上電程序需要同時測量8個通道以上的測試點，加上每個產品待測電路板數量與種類繁多，檢測規則皆不相同，如此，使得負責量測的工程師只能抽樣檢查，無法全面的對於所需通道進行測量，此舉將造成取樣不足，而使上電程序測量有所遺漏，若期望所有量測點都可以確實的被量測到，則需要投入大量人力執行一項量測項目，對於人力成本亦造成極大的壓力，據此，如何同時測量所有測試點，此乃待需解決之問題。

有鑒於上述的問題，本發明人係依據多年來從事相關行業的經驗，針對邏輯分析儀進行研究及改進；緣此，本發明之主要目的在於提供一種可同時量測多個通道訊號的相位時間和電壓值的可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統。

為達上述的目的，本發明之可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統，其主要具有一混合訊號邏輯分析裝置，可量測一待檢測電路板多個訊號通道的多組混合訊息，並且對混合訊號進行觸發作業後，將觸發結果傳送至一訊號檢測裝置進行訊號檢測，其中，所述的訊號檢測裝置可供檢測人員預先設定一檢測規則表，其中，檢測規則表包含有一訊號取用規則和一訊號檢測規則，混合訊號邏輯分析裝置可基於訊號取用規則對混合訊號進行觸發作業，訊 號檢測裝置可基於訊號檢測規則，對混合訊號進行一時序檢測和一電壓值檢測，並基於訊號檢測規則比對數值之檢測結果，最後將比對檢測結果儲存為一檢測報告檔案，以供檢測人員查看檢測結果，判斷待檢測電路板是否異常，據此，本發明主要係透過多通道轉接板同時擷取待檢測電路板多個通道的電子訊號，檢測人員無需再分批對電路進行測量，再者，本發明可透過設定的訊號取用規則自動進行訊號波形之觸發作業，另透過設定訊號檢測規則自動對訊號觸發結果進行檢測，據此，檢測人員毋須再以人工方式對照檢測規格，確保電路板所有量測點皆可以完成檢測，亦可大幅縮短檢測時間及投入之檢測人力。

為使 貴審查委員得以清楚了解本發明之目的、技術特徵及其實施後之功效，茲以下列說明搭配圖示進行說明，敬請參閱。

10:可同時檢測多組混合訊號的分析系統

101:混合訊號邏輯分析裝置

102:訊號檢測裝置

1011:訊號處理模組

1021:運算模組

1012:訊號輸入通道

1022:訊號檢測模組

1013:比較器模組

1023:檢測報告模組

1014:類比訊號轉換模組

1015:資訊傳輸模組

1016:資料緩衝模組

103:多通道轉接板

20:待檢測電路板

PA:類比訊號路徑

PD:數位訊號路徑

D1:類比訊號觸發資訊

D2:數位訊號觸發資訊

R1:時序檢測結果

R2:電壓值檢測結果

R3:檢測報告檔案

S1:混合訊號

S2:第一數位訊號

S2’:第二數位訊號

21:設定檢測規則表步驟

22:載入檢測規則表步驟

23:上電程序擷取訊號步驟

24:執行觸發作業步驟

25:比對檢測規則步驟

26:產生檢測報告步驟

第1圖，為本發明之組成示意圖(一)。

第2圖，為本發明之組成示意圖(二)。

第3圖，為本發明之組成示意圖(三)。

第3A圖，為檢測規則表之時序檢測結果示意圖。

第3B圖，為檢測規則表之電壓值檢測結果示意圖。

第3C圖，為檢測報告檔案示意圖。

第4圖，為本發明之實施流程圖。

第5圖，為本發明之實施示意圖(一)。

第6圖，為本發明之實施示意圖(二)。

第7圖，為本發明之另一實施例(一)。

第8圖，為本發明之另一實施例(二)。

請參閱「第1圖」，圖中所示為本發明之組成示意圖(一)，如圖，本發明之可同時檢測多組混合訊號的分析系統10，其主要係由一混合訊號邏輯分析裝置101和一訊號檢測裝置102組成，混合訊號邏輯分析裝置101可擷取多個通道數量的混合訊號，並於一個訊號週期時間完成觸發作業，其中，所述的混合訊號指單一通道中同時包含有數位部分和類比部分之電子訊號，再者，混合訊號邏輯分析裝置101與訊號檢測裝置102完成資訊連接後，使訊號檢測裝置102可以接收觸發結果(觸發波形)，經觸發結果及檢測規則相互比對後，進而產生一檢測報告檔案，以供檢測人員判斷待檢測電路板是否異常。

請再參閱「第2圖」，圖中所示為本發明之組成示意圖(二)，請搭配參閱「第1圖」，如圖，本發明之混合訊號邏輯分析裝置101，其包含有一訊號處理模組1011，另有一訊號輸入通道1012、一比較器模組1013、一類比訊號轉換模組1014及一資訊傳輸模組1015與訊號處理模組 1011完成資訊連接；其中：(1)所述的訊號處理模組1011可同時處理8~16通道之輸入訊號，且訊號處理模組1011接收待檢測電路板傳送的至少一筆混合訊號後，其可以於一個訊號週期，對混合訊號進行觸發作業，依據觸發結果產生該混合訊號的一類比訊號觸發資訊和一數位訊號觸發資訊，所述的訊號處理模組1011可以為現場可程式設計閘陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)，其中，所述的混合訊號為同時帶有數位和類比之電子訊號，且混合訊號為200MHz以下之訊號，其中，訊號處理模組1011係接收一訊號取用規則，並依據訊號取用規則對電子訊號進行觸發；(2)所述的訊號輸入通道1012與訊號處理模組1011完成資訊連接，訊號輸入通道1012可以同時與數個通道完成電性連接，進而從各個通道接收混合訊號，其中，訊號輸入通道1012依據訊號類型，分流路徑可區分為一類比訊號路徑PA和一數位訊號路徑PD；(3)所述的比較器模組1013可以判定數位訊號之高、低電位，高於參考電壓者為高電位，低於參考電壓者為低電位，於高、低電位之間形成數位波形；(4)所述的類比訊號轉換模組1014可將類比訊號轉換成數位訊號，其可以為類比數位轉換器(Analog-to-digital converter,ADC)；(5)所述的資訊傳輸模組1015可將類比訊號觸發資訊和數 位訊號觸發資訊傳送至訊號檢測裝置102，其可以為通用序列匯流排(Universal Serial Bus,USB)。

請參閱「第3圖」，圖中所示為本發明之組成示意圖(三)，如圖，訊號檢測裝置102包含有一運算模組1021，另有一訊號檢測模組1022、一檢測報告模組1023和一檢測資料庫1024與運算模組1021完成資訊連接；其中：(1)所述的運算模組1021可供以運行訊號檢測裝置102，並具備邏輯運算、暫存運算結果、保存執行指令位置等功能，且其可為一中央處理器(Central Processing Unit,CPU)或一微控制器(Microcontroller Unit,MCU)；(2)所述的訊號檢測模組1022可建立一檢測規則表，並且依據檢測規則表比對所擷取到的混合訊號的數位訊號觸發資訊和類比訊號觸發資訊，檢測規則表係可輸入訊號取用規則和一訊號檢測規則，使檢測人員可以建立和輸入檢測規則表後，使訊號檢測模組1022可以依據檢測規則表之訊號檢測規則，比對各筆訊號觸發資訊並產生一訊號比對結果，其中，訊號檢測模組1022可進行一時序檢測(Timing Check)和一電壓值檢測(HW Strap)，所述的時序檢測指檢測該混合訊號之相位值是否符合訊號檢測規則，所述的電壓值檢測是指混合訊號之邏輯狀態與電壓值是否符合訊號檢測規則；(3)所述的檢測報告模組1023可依據訊號比對結果儲存為 一檢測報告檔案，以供操作人員存檔及轉發檢測報告檔案，以判斷待檢測電路板是否異常，其中，所述的檢測報告檔案可以為CSV(Comma Separated Value)之格式檔案；(4)所述的檢測資料庫1024儲存有多種電路板的訊號檢測規則和檢測規則表，其中，檢測規則表係對應於訊號檢測規則，且檢測規則表至少包含有時序檢測欄位、電壓值檢測欄位和其他檢測項目欄位，其可以依據需求建立及修改。

所述的訊號檢測裝置102更包含有一輸入模組，輸入模組與運算模組1021完成電性連接，輸入模組可供檢測人員設定及輸入檢測規則表，所述的輸入模組可為觸控式螢幕、鍵盤、滑鼠或語音輸入設備。

承「第3圖」所述，檢測規則表係可輸入訊號取用規則和訊號檢測規則，其中，訊號取用規則包含：(1)數位訊號檢測：數位訊號因只有邏輯狀態0與1，因此設定值為邏輯狀態；(2)類比訊號檢測：類比電壓設定值則可用電壓值或電壓振幅百分比來設定，其中，電壓值設定主要應用在待測訊號之工作電壓，可能每個通道都不一樣，可依據實際的電壓進行設定，而電壓振幅百分比則是應用於檢測電壓，可以電壓振幅之最高值或最低值或以振幅百分比來 指定，或者，因電壓上升/下降時間較久時，在檢測時序相位時使用，例如：檢測高值=振幅x 90%

檢測低值=振幅x 10%

承「第3圖」所述，檢測規則表係可輸入訊號取用規則和訊號檢測規則，其中，檢測規則表之設定項目包含：(1)檢測項目：檢測項目有兩項，時序檢測(Timing Check)與電壓值檢測(HW Strap)，其中，時序檢測指檢測該混合訊號之相位值是否符合訊號檢測規則通過記錄為”Pass”、不通過記錄為”Fail”(如「第3A圖」)，又，電壓值檢測指混合訊號之邏輯狀態與電壓值是否符合訊號檢測規則通過記錄為”Pass”、不通過記錄為”Fail”(如「第3B圖」)；(2)檢測規則表之格式與規則定義，如下：[SampleRate]：混合訊號邏輯分析裝置101之取樣率設定值，輸入取樣率設定值，單位：MHz、KHz、Hz，例如：[SampleRate]200MHz

[ChannelNumber]：混合訊號邏輯分析裝置101輸入使用的通道數，例如：[ChannelNumber]16

[RecordLength]：混合訊號邏輯分析裝置101輸入使用的取樣長度，單位：MB、Mb，例 如：[RecordLength]100Mb

[Threshold]：數位訊號檢測時，可輸入多行設定以調整不同通道的準位，每行依序輸入欲使用的電壓準位，例如：[Threshold]1.6V//Channel 00-07、1.2V//Channel 08-15

[Channel]：可輸入多行設定以加入不同通道，包含：

1.使用的通道編號：CH0表示數位通道0,CH(A)0表示類比通道0

2.通道名稱：可任意輸入31個字元內的英文字母及數字

3.選擇使用於時序檢測或電壓值檢測之項目，例如：[Channel]

CH10,MyData0,HwStrap

CH12,MyData1,TimingCheck

CH14,MyData2,TimingCheck+HwStrap

CH(A)1,VCC(1.8V)//Analog通道

CH(A)2,VDD(1.5V)//Analog通道

[Trigger]：觸發方式，用以決定混合訊號邏輯分析裝置101開始擷取訊號之時間點，如下：

1.觸發通道名稱，需參考[Channel]欄位設定的通道名稱來進行設定；

2.觸發種類，可輸入的觸發項目包含：CHANNEL_LOW//數位訊號為0

CHANNEL_HIGH//數位訊號為1

CHANNEL_ANY//數位訊號為0或1

CHANNEL_RISING//數位訊號上升緣

CHANNEL_FALLING//數位訊號下降緣

CHANNEL_CHANGING//數位訊號變化緣

ANALOG_CH_RISING//類比訊號上升緣

ANALOG_CH_FALLING//類比訊號下降緣

3.選擇使用於時序檢測或電壓值檢測之項目

4.類比訊號觸發電壓，單位：mV、V，例如：[Trigger]//數位訊號檢測測觸發條件

//H/W Strap項目使用MyDatal(Ch12通道上升沿觸發)

MyData1,CHANNEL_RISING,HwStrap

//Timing Check項目使用MyData2(Ch14通道上升沿觸發)

MyData2,CHANNEL_RISING,TimingCheck

[Trigger]//類比訊號檢測觸發條件

//Timing Check項目使用VCC(1.8V)(Analog Ch1通道上升通過1.5V時觸發)

VCC(1.8V),ANALOG_CH_RISING,TimingCheck,1.5V

[TimingCheck]時序檢測，可輸入多行設定以加入不同設定，例如：

1.時序檢測規格名稱(純文字，僅供顯示用)

2.描述內容(純文字，僅供顯示用)

3.目標通道A，需參考[Channel]欄位設定的通道名稱來進行設定

4.目標通道B，需參考[Channel]欄位設定的通道名稱來進行設定

5.時序檢查項目：CHA_RISE_TO_CHB_RISE

CHA_RISE_TO_CHB_FALL

CHA_FALL_TO_CHB_RISE

CHA_FALL_TO_CHB_FALL

CHA_HIGH_TIME

CHA_LOW_TIME

CHA_HIGH_PULSE_COUNT

CHA_LOW_PULSE_COUNT

CHA_RISE_EDGE_COUNT

CHA_FALL_EDGE_COUNT

CHA_EDGE_COUNT

6.數值下限，單位：ns、us、ms、s、亦可輸入X作為不檢查上下限範圍

7.數值上限，單位：ns、us、ms、s、亦可輸入X作為不檢查上下限範圍

8.類比訊號檢測，通道A參考電壓，可用振幅百分比做為量測的基準點，例如：輸入90%表示振幅90%的位置；或可指定電壓做為量測的基準點，例如：輸入1.25V表示1.25V的位置

9.類比訊號檢測，通道B參考電壓，可用振幅百分比做為量測的基準點，例如：輸入90%表示振幅90%的位置；或可指定電壓做為量測的基準點，例如：輸入1.25V表示1.25V的位置

10.類比訊號檢測，通道A忽略次數，可指定忽略前N個符合條件的量測點

11.類比訊號檢測，通道B忽略次數，可指定忽略前N個符合條件的量測點，例如：[TimingCheck]//數位訊號時序檢測定義

Spec_00,Desc_00,MyData0,MyData1,CHA_RISE_TO_CHB_RISE,1ns,10ms

Spec_01,Desc_01,MyData1,MyData2,CHA_FALL_TO_CHB_RISE,X,100ms

Spec_02,Desc_02,MyData2,MyData3,CHA_FALL_TO_CHB_FALL,100us,X

[TimingCheck]//類比訊號時序檢測定義

Spec_00,Desc_00,VDD(1.5V),VCC

(1.8V),CHA_RISE_TO_CHB_RISE,10ms,20ms,90%,90%,0,0

Spec_01,Desc_01,VDD(1.5V),VCC

(1.8V),CHA_RISE_TO_CHB_RISE,1ms,5ms,80%,80%,0,0

[HWStrap]電壓值檢測，可輸入多行設定以加入不同設定，如下：

1.時序檢查目標通道，輸入CH0代表數位通道0，僅供顯示用

2.目標通道名稱，需參考[Channel]欄位設定的通道名稱來進行設定

3.參考通道名稱，需參考[Channel]欄位設定的通道名稱來進行設定

4.參考通道時序項目

CHANNEL_RISING

CHANNEL_FALLING

CHANNEL_CHANGING

5.規格數值，輸入0或1代表期望的規格數值，量測值和規格數值不同則會被判定為Fail

6.類比訊號檢測，通道A參考電壓，可用振幅百分比做為量測的基準點，例如：輸入90%表示振幅90%的位置；或可指定電壓做為量測的基準點，例如：輸入1.25V 表示1.25V的位置

7.類比訊號檢測，通道B參考電壓，可用振幅百分比做為量測的基準點，例如：輸入90%表示振幅90%的位置；或可指定電壓做為量測的基準點，例如：輸入1.25V表示1.25V的位置

8.類比訊號檢測，通道A忽略次數，可指定忽略前N個符合條件的量測點

9.類比訊號檢測，通道B忽略次數，可指定忽略前N個符合條件的量測點，例如：[HwStrap]//數位訊號電壓檢測定義

CH0,MyData0,MyData1,CHANNEL_RISING,1

CH1,MyData1,MyData2,CHANNEL_RISING,1

CH2,MyData2,MyData3,CHANNEL_FALLING,0

[HwStrap]//類比訊號電壓檢測定義

CH(A)1,VCC(1.8V),VDD(1.5V),CHANNEL_RISING,1,90%,90%,0,0

請參閱「第4圖」，圖中所示為本發明之實施流程圖，請搭配參閱「第1圖」~「第3圖」，如圖，本發明之可同時檢測多組混合訊號分析方法，如下：(1)設定檢測規則表步驟21：檢測人員依據待檢測電路板所給出之檢測規格，檢測人員可操作訊號檢測裝置 102，並且新建立一檢測規則表，並且於檢測規則表輸入一訊號取用規則和一訊號檢測規則；(2)載入檢測規則表步驟22：請搭配參閱「第5圖」，圖中所示為本發明之實施示意圖(一)，如圖，檢測人員將混合訊號邏輯分析裝置101電性連接於一待檢測電路板20後，且當訊號檢測裝置102讀取設定完成之檢測規則表後，訊號檢測裝置102即可將訊號取用規則傳送至混合訊號邏輯分析裝置101；(3)上電程序擷取訊號步驟23：當混合訊號邏輯分析裝置101與訊號檢測裝置102完成電性連接後，檢測人員可對待檢測電路板20執行上電程序(power sequence)，使混合訊號邏輯分析裝置101可以基於訊號取用規則，接收待檢測電路板20的至少一混合訊號S1，請搭配參閱「第6圖」，圖中所示為本發明之實施示意圖(二)，如圖，混合訊號邏輯分析裝置101之輸入通道1012可接收混合訊號S1，並且混合訊號S1可進一步被分流至一類比訊號路徑PA和一數位訊號路徑PD，使混合訊號邏輯分析裝置101可分別對不同路徑(PA、PD)之訊號進行處理；(4)執行觸發作業步驟24：當混合訊號S1分流至類比訊號路徑PA後，類比訊號轉換模組1014經由類比訊號路徑PA擷取混合訊號S1，並且將混合訊號S1的類比訊號部分轉換為一第一數位訊號S2，其中類比訊號轉換為數位訊號，為類比數位轉換器(ADC)之處理 過程，在此不予贅述，訊號處理模組1011接收第一數位訊號S2後，訊號處理模組1011可以基於訊號取用規則對第一數位訊號S2進行觸發作業，並且依據觸發結果產生一類比訊號觸發資訊D1；當混合訊號S1分流至數位訊號路徑PD後，比較器模組1013擷取混合訊號S1後，混合訊號S1的數位訊號成份透過比較器模組1013進行處理，其中，比較器模組1013可基於預設的觸發準位及觸發條件進行處理，並依據處理結果產生一第二數位訊號S2，，訊號處理模組1011接收第二數位訊號S2’後，訊號處理模組1011可以第二數位訊號S2’進行觸發作業，並且基於訊號取用規則對第二數位訊號S2’進行觸發作業，以產生一數位訊號觸發資訊D2，其中，訊號處理模組1011係於一個訊號擷取週期結束後，取得類比訊號觸發資訊D1和數位訊號觸發資訊D2，並且將各觸發資訊(D1、D2)傳送至訊號檢測裝置102，使訊號檢測裝置102擷取類比訊號觸發資訊D1和數位訊號觸發資訊D2後，可對各觸發資訊(D1、D2)進行檢測規則之比對；(5)比對檢測規則步驟25：請搭配參閱「第3A圖」~「第3B圖」，訊號檢測裝置102進行檢測時，訊號檢測裝置102係可擷取設定完成之檢測規則表，並且基於檢測規則表之訊號檢測規則和格式對各觸發資訊(D1、D2)進行檢測，其中，訊號檢測裝置102完成對各觸發資訊(D1、D2)之時序檢測和電壓值檢測後，訊號檢 測裝置102可依據檢測結果產生一訊號比對結果，所述的訊號比對結果包含一時序檢測結果R1和一電壓值檢測結果R2；(6)產生檢測報告步驟26：請搭配參閱「第3C圖」，訊號檢測裝置102取得訊號比對結果後，訊號檢測裝置102可將訊號比對結果儲存為一檢測報告檔案R3，訊號檢測裝置102可讀取檢測報告檔案R3，以顯示出檢測規則表，以供檢測人員可以檢視檢測規則表之時序檢測結果R1和電壓值檢測結果R2，確認待檢測電路板20(本圖未繪示)是否異常。

請參閱「第7圖」，圖中所示為本發明之另一實施例(一)，如圖，混合訊號邏輯分析裝置101另與一多通道轉接板103完成資訊連接，使得混合訊號邏輯分析裝置101可透過多通道轉接板103擷取多個通道數量的混合訊號，多通道轉接板103另一端與待檢測電路板20完成電性連接，在待檢測電路板20於上電程序，可從待檢測電路板20擷取多個通道的數位訊號，以便混合訊號邏輯分析裝置101可同時擷取多通道之混合訊號進行觸發波形之判斷，其中，一個混合訊號邏輯分析裝置101係搭配多通道轉接板103使用，亦可以一個混合訊號邏輯分析裝置101搭配多個多通道轉接板103，並不以此為限，特先陳明。

請參閱「第8圖」，圖中所示為本發明之另一實施 例(二)，如圖，混合訊號邏輯分析裝置101更包含有一資料緩衝模組1016，所述的資料緩衝模組1016與訊號處理模組1011完成資訊連接，所述的資料緩衝模組1016可供以緩衝及儲存訊號資料，可在輸入電子訊號之資料流瞬間量變大時，可進行資料緩衝以調節資料流透過資訊傳輸模組1015傳輸之流量，若輸入電子訊號之資料流持續量增多時，也可安全的將訊號資料儲存在資料緩衝模組1016中，再以資訊傳輸模組1015傳送流量，其中，資料緩衝模組1016可以為動態隨機存取記憶體(Dynamic Random Access Memory,DRAM)。

綜上可知，本發明之可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統，其主要具有一混合訊號邏輯分析裝置和一訊號檢測裝置，所述的混合訊號邏輯分析裝置可量測一待檢測電路板多個訊號通道的一混合訊息，並且基於一訊號取用規則對混合訊號進行觸發作業後，將觸發結果傳送至訊號檢測裝置，再者，訊號檢測裝置可基於一訊號檢測規則對混合訊號進行一時序檢測和一電壓值檢測，並將比對檢測結果儲存為一檢測報告檔案；依此，本發明其據以實施後，確實可達到提供一種可同時量測多個通道訊號的相位時間和電壓值的可同時檢測多組混合訊號的分析方法及其系統之目的。

以上所述者，僅為本發明之較佳之實施例而已，並 非用以限定本發明實施之範圍；任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神與範圍下所作之均等變化與修飾，皆應涵蓋於本發明之專利範圍內。

綜上所述，本發明係具有「產業利用性」、「新穎性」與「進步性」等專利要件；申請人爰依專利法之規定，向 鈞局提起發明專利之申請。

21:設定檢測規則表步驟

22:載入檢測規則表步驟

23:上電程序擷取訊號步驟

24:執行觸發作業步驟

25:比對檢測規則步驟

26:產生檢測報告步驟

Claims (8)

1. 一種可同時檢測多組混合訊號分析方法，供以檢測一待檢測電路板，其包含：一設定檢測規則表步驟：基於該待檢測電路板之一檢測規格，於一訊號檢測裝置建立一檢測規則表，並且於該檢測規則表輸入一訊號取用規則和一訊號檢測規則，其中，該訊號取用規則包含有一數位訊號檢測及一類比訊號檢測，該數位訊號檢測為一混合訊號為邏輯狀態，該類比訊號檢測為該混合訊號的一電壓值或電壓振幅百分比；一載入檢測規則表步驟：該待檢測電路板與一混合訊號邏輯分析裝置完成電性連接後，該訊號檢測裝置將該訊號取用規則傳送至該混合訊號邏輯分析裝置；一上電程序擷取訊號步驟：該混合訊號邏輯分析裝置對該待檢測電路板執行上電程序，使該訊號檢測裝置可同時接收多通道的該混合訊號，該混合訊號分流至一類比訊號路徑及一數位訊號路徑；一執行觸發作業步驟：該類比訊號轉換模組將分流至該類比訊號路徑的該混合訊號轉換為一第一數位訊號，一訊號處理模組基於該訊號取用規則對該第一數位訊號進行觸發作業，產生一類比訊號觸發資訊；一比較器模組擷取分流至該數位訊號路徑的該混合訊號，並基於一觸發準位及一觸發條件，產生一第二數位訊號，該訊號處理模組基於該訊號取用規則對該第二數位訊號進行觸發，產生一數位訊號觸發資 訊，於一個訊號週期結束後，透過一資訊傳輸模組將該類比訊號觸發資訊和該數位訊號觸發資訊傳送至該訊號檢測裝置；一比對檢測規則步驟：該訊號檢測裝置基於該訊號檢測規則，對該類比訊號觸發資訊和該數位訊號觸發資訊進行一時序檢測和一電壓值檢測，並且依據檢測結果產生一訊號比對結果，該訊號比對結果包含有一時序檢測結果和一電壓值檢測結果；以及一產生檢測報告步驟：該訊號檢測裝置將該訊號比對結果儲存為一檢測報告檔案。
2. 如請求項1所述的可同時檢測多組混合訊號分析方法，其中，該時序檢測係檢測該混合訊號之相位值是否符合該訊號檢測規則。
3. 如請求項1所述的可同時檢測多組混合訊號分析方法，其中，該電壓值檢測為該混合訊號之邏輯狀態與電壓值是否符合該訊號檢測規則。
4. 一種可同時檢測多組混合訊號分析系統，供以檢測一待檢測電路板，其包含：一混合訊號邏輯分析裝置，該混合訊號邏輯分析裝置具有一訊號處理模組，另有一訊號輸入通道、一比較器模組、 一類比訊號轉換模組、及一資訊傳輸模組與該訊號處理模組呈資訊連接，該訊號處理模組可同時擷取該待檢測電路板的一混合訊號，並基於一訊號取用規則對該混合訊號進行觸發作業，依該混合訊號觸發結果產生一類比訊號觸發資訊和一數位訊號觸發資訊；其中，該訊號取用規則包含有一數位訊號檢測及一類比訊號檢測，該數位訊號檢測為一混合訊號為邏輯狀態，該類比訊號檢測為該混合訊號的一電壓值或電壓振幅百分比；該訊號輸入通道區分為一類比訊號路徑、及一數位訊號路徑，供以接收該混合訊號；該類比訊號轉換模組供以將類比訊號轉換成數位訊號；該資訊傳輸模組供以將該類比訊號觸發資訊、及該數位訊號觸發資訊傳送至一訊號檢測裝置；以及該訊號檢測裝置，與該混合訊號邏輯分析裝置完成資訊連接，該訊號檢測裝置具有一運算模組，另有一訊號檢測模組和一檢測報告模組與該運算模組完成資訊連接，該運算模組供以運行該訊號檢測裝置，該訊號檢測模組可基於一訊號檢測規則，對該類比訊號觸發資訊和該數位訊號觸發資訊進行比對，以產生一訊號比對結果，該檢測報告模組可將該訊號比對儲存為一檢測報告檔案。
5. 如請求項4所述的可同時檢測多組混合訊號分析系統，其中，該檢測報告檔案為CSV(Comma Separated Value)之格式檔案。
6. 如請求項4所述的可同時檢測多組混合訊號分析系統，其中，一多通道轉接板，電性連接於該待檢測電路板與該混合訊號邏輯分析裝置，該混合訊號邏輯分析裝置透過該多通道轉接板擷取該混合訊號。
7. 如請求項4所述的可同時檢測多組混合訊號分析系統，其中，該待檢測電路板於上電程序，於一個訊號擷取週期，該混合訊號邏輯分析裝置經觸發作業取得該類比訊號觸發資訊和該數位訊號觸發資訊。
8. 如請求項4所述的可同時檢測多組混合訊號分析系統，其中，一資料緩衝模組與該訊號處理模組完成資訊連接，該資料緩衝模組供以緩衝及儲存該混合訊號之資料。

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