CN115542121A - 一种电路板测试机和电路板测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种电路板测试机和电路板测试方法。电路板测试机包括：测试探针，测试探针与待测电路板的测试点对应设置。数据采集模块，数据采集模块通过测试探针采集待测电路板的实测数据。数据分析模块，数据分析模块根据实测数据判断待测电路板的测试结果。程序烧录模块，程序烧录模块用于向待测电路板烧录需烧录程序。只需电路板测试机便可同时完成电路板的电气测试和程序烧录，不仅节省了搭建电气测试机和程序烧录机两个机台的硬件成本，更提供了同时完成电气测试和程序烧录的硬件条件。从而可以将电气检测和软件烧录囊括进同一工序，降低工时成本，提高了部件产品检测的可靠性和质量，同时大幅提高了效率。

Description

一种电路板测试机和电路板测试方法

技术领域

本发明实施例涉及电路板测试技术，尤其涉及一种电路板测试机和电路板测试方法。

背景技术

在印制电路板(PCB)经过焊接元器件等步骤后，需要对电路板进行电气检测，以确定电路板是否存在虚焊等问题。与此同时还要对电路板上的可编程控制器进行软件烧录，以写入控制器需要执行的程序。

然而，当前在完成上述步骤时，往往先后完成电路板的电气检测工序与电路板的软件烧录工序。因此电路板进行电气检测和软件烧录所需的工时较长，进而使得电路板进行电气检测和软件烧录的成本较高，检测质量不稳定一致，效率较低。

发明内容

本发明提供一种电路板测试机和电路板测试方法，以降低电路板进行电气检测和软件烧录的成本，提高效率。

第一方面，本发明实施例提供了一种电路板测试机，包括：

测试探针，所述测试探针与待测电路板的测试点对应设置；

数据采集模块，所述数据采集模块通过所述测试探针采集所述待测电路板的实测数据；

数据分析模块，所述数据分析模块根据所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果；

程序烧录模块，所述程序烧录模块用于向所述待测电路板烧录需烧录程序。

可选的，所述程序烧录模块向所述待测电路板烧录需烧录程序的同时，所述数据采集模块进行所述待测电路板的实测数据采集和/或所述数据分析模块进行所述待测电路板的测试结果判断。

可选的，还包括扫码模块和存储模块；

所述扫码模块读取所述待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码；

所述存储模块存储待测电路板身份信息和与所述待测电路板身份信息对应的所述测试结果。

可选的，还包括扫码模块，所述扫码模块读取所述待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码，获取与所述待测电路板身份信息对应的所述需烧录程序。

第二方面，本发明实施例还提供了一种电路板测试方法，运行于上述任意一种电路板测试机上，包括：

通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集；

根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果；

向所述待测电路板烧录所述需烧录程序。

可选的，还包括：

读取所述待测电路板上记录有所述待测电路板身份信息的条形码或二维码；

存储待测电路板身份信息和与所述待测电路板身份信息对应的所述测试结果；

获取与所述待测电路板身份信息对应的所述需烧录程序。

可选的，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量所述待测电路板的电源输入端与接地端的电源电阻值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述电源电阻值处于预设电源电阻值区间，则判断所述电源电阻值正常。

可选的，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量所述电源测试点的电源电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述电源电压值处于预设电源电压值区间，则判断所述电源电压值正常。

可选的，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

发送配置指令，获取驱动电路对应测试点的电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述驱动电路对应测试点的电压值处于预设驱动电路测试点电压值区间，则判断所述驱动电路对应测试点的电压值正常；

在所述发送配置指令并返回正确结果之后，还包括：

接收扫频信号，如果所述扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

可选的，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量零电流灌入状态下所述光电二极管电路测试点的第一电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述第一电压值处于预设第一电压值区间，则判断所述第一电压值正常；

所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量增益放大状态下所述光电二极管电路测试点的第二电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述第二电压值处于预设第二电压值区间，则判断所述第二电压值正常。

本发明实施例的电路板测试机包括：测试探针，测试探针与待测电路板的测试点对应设置。数据采集模块，数据采集模块通过测试探针采集待测电路板的实测数据。数据分析模块，数据分析模块根据实测数据判断待测电路板的测试结果。程序烧录模块，程序烧录模块用于向待测电路板烧录需烧录程序。只需电路板测试机便可同时完成电路板的电气测试和程序烧录，不仅节省了搭建电气测试机和程序烧录机两个机台的硬件成本，更提供了同时完成电气测试和程序烧录的硬件条件。从而可以将电气检测和软件烧录囊括进同一工序，降低工时成本，提高效率。

附图说明

图1为本发明实施例提供的一种电路板测试机的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种电路板测试方法的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明作进一步的详细说明。可以理解的是，此处所描述的具体实施例仅仅用于解释本发明，而非对本发明的限定。另外还需要说明的是，为了便于描述，附图中仅示出了与本发明相关的部分而非全部结构。

图1为本发明实施例提供的一种电路板测试机的结构示意图，参考图1。本发明实施例提供了一种电路板测试机，包括：

测试探针1，测试探针1与待测电路板的测试点对应设置；

数据采集模块2，数据采集模块2通过测试探针1采集待测电路板的实测数据；

数据分析模块3，数据分析模块3根据实测数据判断待测电路板的测试结果；

程序烧录模块4，程序烧录模块4用于向待测电路板烧录需烧录程序。

其中，测试探针1用于与待测电路板上暴露于阻焊层外的测试点电连接，通过测试探针1将电路板测试机与待测电路板的电路连通，方便进行后续测试。待测电路板上测试点的设置位置可以根据实际需要的测试项目确定。测试探针1与数据采集模块2电连接。数据采集模块2进行每一个测试项目所需数据的采集，并将采集到的实测数据传递到数据分析模块3进行待测电路板的测试结果判断。其中数据采集模块2可以是将模拟量转化为数字量的电路，例如可以是任意一种具有模数转换功能的功率分析仪。功率分析仪可以用于测量电路板的各项参数，例如输入电压、频率、电流、功率、功率因数、谐波失真等。数据采集模块2还可以包括任意一种直流电子负载，直流电子负载可以配合电路板，模拟电路板在各种负载状态下的状况，使各项测试值更接近实际带载状态，并进行数值测量。数据采集模块2还可以包括任意一种数字示波器，用于读取电路板输出的波形参数。数据分析模块3可以包括工业计算机，通过工业计算机控制各种模块的运行，并对数据采集模块2提供的实测数据进行分析和判断，从而给出测试结果。可选的，电路板测试机还可以包括显示屏幕，检测通过后在屏幕上会呈现完成并通过的绿色标识。程序烧录模块4可以向待测电路板烧录预先准备好的需烧录程序。示例性的，待测电路板可以包括现场可编程逻辑门阵列芯片(FPGA)，程序烧录模块4可以对FPGA正常运行所需的需烧录程序进行烧结。只需本发明实施例提供的电路板测试机便可同时完成电路板的电气测试和程序烧录，不仅节省了搭建电气测试机和程序烧录机两个机台的硬件成本，更提供了同时完成电气测试和程序烧录的硬件条件。从而可以将电气检测和软件烧录囊括进同一工序，降低工时成本，提高效率。

可选的，程序烧录模块4向待测电路板烧录需烧录程序的同时，数据采集模块2进行待测电路板的实测数据采集和/或数据分析模块3进行待测电路板的测试结果判断。

其中，在进行实测数据采集和/或测试结果判断的过程中，同时进行向待测电路板烧录需烧录程序可以缩短电路板测试机对待测电路板的处理时间。从而进一步提高效率，降低工时成本。

可选的，还包括扫码模块和存储模块；

扫码模块读取待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码；

存储模块存储待测电路板身份信息和与待测电路板身份信息对应的测试结果。

其中，扫码模块用于识别待测电路板上印制的条形码或二维码，条形码或二维码上记录有待测电路板身份信息。将待测电路板身份信息与对应电路板的测试结果一同存储到存储模块，方便日后追溯。示例性的，扫码模块可以包括扫码枪，存储模块可以包括工业计算器。

可选的，还包括扫码模块，扫码模块读取待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码，获取与待测电路板身份信息对应的需烧录程序。

其中，待测电路板可以是不同型号的电路板，在扫码模块通过扫描条形码或二维码识别到待测电路板身份信息后，可以根据待测电路板身份信息在线选取对应的需烧录程序并烧录入待测电路板中。

可选的，数据采集模块2和数据分析模块3可以用于：

测量待测电路板的电源输入端与接地端的电源电阻值；

如果电源电阻值处于预设电源电阻值区间，则判断电源电阻值正常。

其中，可以获取待测电路板的电源输入端与接地端之间的电源电阻值，通过检查电源电阻值，可以检查电源输入是否存在短路现象。预设电源电阻值区间可以根据实际需要确定。

可选的，数据采集模块2和数据分析模块3可以用于：

测量电源测试点的电源电压值；

如果电源电压值处于预设电源电压值区间，则判断电源电压值正常。

其中，可以对电路板上的一些位置进行电压检测，从而验证电路输出的可靠性。预设电源电压值区间可以根据实际需要确定。

可选的，数据采集模块2和数据分析模块3可以用于：

发送配置指令，获取驱动电路对应测试点的电压值；

如果驱动电路对应测试点的电压值处于预设驱动电路测试点电压值区间，则判断驱动电路对应测试点的电压值正常；

在发送配置指令并返回正确结果之后，还包括：

接收扫频信号，如果扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

其中，示例性的，驱动电路可以是驱动光强弱的电路，驱动光强弱的电路可以串接一个10欧姆电阻进行测试。配置指令可以通过待测电路版的串口发送，发送配置指令后，查看驱动电路对应测试点的电压值。从而判断驱动电路的带载能力是否正常。在完成驱动电路的带载能力测试之后，还可以对传递一种低能量的模拟量输出驱动电路(LEA)进行测试。在串口命令正确执行后，通过引脚的探针将信号传递至数据采集模块2，示波器会接收到扫频信号。而后对扫频信号进行判断，如果扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

可选的，数据采集模块2和数据分析模块3可以用于：

测量零电流灌入状态下光电二极管电路测试点的第一电压值；

如果第一电压值处于预设第一电压值区间，则判断第一电压值正常；

测量增益放大状态下光电二极管电路测试点的第二电压值；

如果第二电压值处于预设第二电压值区间，则判断第二电压值正常。

其中，可以对光电二极管电路进行测试。光电二极管电路在零电流灌入状态下和增益放大状态下的各项参数均不相同，为了全面的测试光电二极管电路，可以对两种状态分别进行测试。在对零电流灌入状态下光电二极管电路进行测试时，可以采集需要测量的测试点电压，即第一电压。而后判断第一电压是否处于第一电压值区间内，如果处于第一电压值区间内，则说明零电流灌入状态下光电二极管电路正常。在对增益放大状态下光电二极管电路进行测试时，可以采集需要测量的测试点电压，即第二电压。而后判断第二电压是否处于第二电压值区间内，如果处于第二电压值区间内，则说明增益放大状态下光电二极管电路正常。

图2为本发明实施例提供的一种电路板测试方法的流程示意图，参考图2。本发明实施例还提供了一种电路板测试方法，运行于上述任意一种电路板测试机上，包括：

S1：通过测试探针1对待测电路板进行数据采集；

S2：根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果；

S3：向待测电路板烧录需烧录程序。

其中，在测试探针1抵触到待测电路板的测试点时，电路板测试机与待测电路板建立电连接，进而对待测电路板进行数据采集。然后对采集到的数据进行测试结果的判断。从而确定待测电路板的各项检测内容是否通过，待测电路板是否合格。还要向通过程序写入端口向待测电路板烧录需烧录程序。待测电路板可以设有专用的程序写入端口测试点，通过探针与程序写入端口测试点建立连接，写入程序。本发明可以将电气检测和软件烧录囊括进同一工序，降低工时成本，提高效率。

可选的，还包括：

读取待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码；

存储待测电路板身份信息和与待测电路板身份信息对应的测试结果；

获取与待测电路板身份信息对应的需烧录程序。

其中，可以根据条形码或二维码确定存储待测电路板身份信息，进而将存储待测电路板身份信息和与待测电路板身份信息对应的测试结果一同存储，作为检测报告数据，方便日后追溯。还可以根据存储待测电路板身份信息确定对应的需烧录程序，并将需烧录程序烧录入待测电路板中。

可选的，通过测试探针1对待测电路板进行数据采集包括：

测量待测电路板的电源输入端与接地端的电源电阻值；

根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果包括：

如果电源电阻值处于预设电源电阻值区间，则判断电源电阻值正常。

其中，可以获取待测电路板的电源输入端与接地端之间的电源电阻值，通过检查电源电阻值，可以检查电源输入是否存在短路现象。预设电源电阻值区间可以根据实际需要确定。

可选的，通过测试探针1对待测电路板进行数据采集包括：

测量电源测试点的电源电压值；

根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果包括：

如果电源电压值处于预设电源电压值区间，则判断电源电压值正常。

其中，可以对电路板上的一些位置进行电压检测，从而验证电路输出的可靠性。预设电源电压值区间可以根据实际需要确定。

可选的，通过测试探针1对待测电路板进行数据采集包括：

发送配置指令，获取驱动电路对应测试点的电压值；

根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果包括：

如果驱动电路对应测试点的电压值处于预设驱动电路测试点电压值区间，则判断驱动电路对应测试点的电压值正常；

在发送配置指令并返回正确结果之后，还包括：

接收扫频信号，如果扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

其中，示例性的，驱动电路可以是驱动光强弱的电路，驱动光强弱的电路可以串接一个10欧姆电阻进行测试。配置指令可以通过待测电路版的串口发送，发送配置指令后，查看驱动电路对应测试点的电压值。从而判断驱动电路的带载能力是否正常。在完成驱动电路的带载能力测试之后，还可以对传递一种低能量的模拟量输出驱动电路(LEA)进行测试。在串口命令正确执行后，通过引脚的探针将信号传递至数据采集模块2，示波器会接收到扫频信号。而后对扫频信号进行判断，如果扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

可选的，通过测试探针1对待测电路板进行数据采集包括：

测量零电流灌入状态下光电二极管电路测试点的第一电压值；

根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果包括：

如果第一电压值处于预设第一电压值区间，则判断第一电压值正常；

通过测试探针1对待测电路板进行数据采集包括：

测量增益放大状态下光电二极管电路测试点的第二电压值；

根据采集到的实测数据判断待测电路板的测试结果包括：

如果第二电压值处于预设第二电压值区间，则判断第二电压值正常。

其中，可以对光电二极管电路进行测试。光电二极管电路在零电流灌入状态下和增益放大状态下的各项参数均不相同，为了全面的测试光电二极管电路，可以对两种状态分别进行测试。在对零电流灌入状态下光电二极管电路进行测试时，可以采集需要测量的测试点电压，即第一电压。而后判断第一电压是否处于第一电压值区间内，如果处于第一电压值区间内，则说明零电流灌入状态下光电二极管电路正常。在对增益放大状态下光电二极管电路进行测试时，可以采集需要测量的测试点电压，即第二电压。而后判断第二电压是否处于第二电压值区间内，如果处于第二电压值区间内，则说明增益放大状态下光电二极管电路正常。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里所述的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整、相互结合和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种电路板测试机，其特征在于，包括：

测试探针，所述测试探针与待测电路板的测试点对应设置；

数据采集模块，所述数据采集模块通过所述测试探针采集所述待测电路板的实测数据；

数据分析模块，所述数据分析模块根据所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果；

程序烧录模块，所述程序烧录模块用于向所述待测电路板烧录需烧录程序。

2.根据权利要求1所述的电路板测试机，其特征在于，所述程序烧录模块向所述待测电路板烧录需烧录程序的同时，所述数据采集模块进行所述待测电路板的实测数据采集和/或所述数据分析模块进行所述待测电路板的测试结果判断。

3.根据权利要求1所述的电路板测试机，其特征在于，还包括扫码模块和存储模块；

所述扫码模块读取所述待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码；

所述存储模块存储待测电路板身份信息和与所述待测电路板身份信息对应的所述测试结果。

4.根据权利要求1所述的电路板测试机，其特征在于，还包括扫码模块，所述扫码模块读取所述待测电路板上记录有待测电路板身份信息的条形码或二维码，获取与所述待测电路板身份信息对应的所述需烧录程序。

5.一种电路板测试方法，其特征在于，运行于权利要求1-4任一所述的电路板测试机上，包括：

通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集；

根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果；

向所述待测电路板烧录所述需烧录程序。

6.根据权利要求5所述的电路板测试方法，其特征在于，还包括：

读取所述待测电路板上记录有所述待测电路板身份信息的条形码或二维码；

存储待测电路板身份信息和与所述待测电路板身份信息对应的所述测试结果；

获取与所述待测电路板身份信息对应的所述需烧录程序。

7.根据权利要求5所述的电路板测试方法，其特征在于，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量所述待测电路板的电源输入端与接地端的电源电阻值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述电源电阻值处于预设电源电阻值区间，则判断所述电源电阻值正常。

8.根据权利要求5所述的电路板测试方法，其特征在于，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量所述电源测试点的电源电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述电源电压值处于预设电源电压值区间，则判断所述电源电压值正常。

9.根据权利要求5所述的电路板测试方法，其特征在于，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

发送配置指令，获取驱动电路对应测试点的电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述驱动电路对应测试点的电压值处于预设驱动电路测试点电压值区间，则判断所述驱动电路对应测试点的电压值正常；

在所述发送配置指令并返回正确结果之后，还包括：

接收扫频信号，如果所述扫频信号为正弦波，则判断输出信号正常。

10.根据权利要求5所述的电路板测试方法，其特征在于，所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量零电流灌入状态下所述光电二极管电路测试点的第一电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述第一电压值处于预设第一电压值区间，则判断所述第一电压值正常；

所述通过所述测试探针对所述待测电路板进行数据采集包括：

测量增益放大状态下所述光电二极管电路测试点的第二电压值；

所述根据采集到的所述实测数据判断所述待测电路板的测试结果包括：

如果所述第二电压值处于预设第二电压值区间，则判断所述第二电压值正常。

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