CN117665545A - 烧录测试装置、系统及方法 - Google Patents

烧录测试装置、系统及方法 Download PDF

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CN117665545A
CN117665545A CN202410144073.1A CN202410144073A CN117665545A CN 117665545 A CN117665545 A CN 117665545A CN 202410144073 A CN202410144073 A CN 202410144073A CN 117665545 A CN117665545 A CN 117665545A
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Abstract

本申请涉及一种烧录测试装置、系统及方法,所述装置中云端服务器获取待测主板的身份信息,并根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;以对控制板配置烧录测试参数;控制板获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;控制板在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对热敏打印机的待测主板烧录与测试一体化操作,能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,有利于集中管理。本申请通过把烧录测试操作过程一体化,减少了硬件成本,提高了测试效率,提高了烧录测试的灵活性和准确性。

Description

烧录测试装置、系统及方法
技术领域
本申请涉及打印机技术领域,特别是涉及一种烧录测试装置、系统及方法。
背景技术
热敏打印机的工作原理是打印头上安装有加热元件,打印头加热并接触热敏打印纸后就可以打印出需要的图案。随着技术和智能化的发展,热敏打印机的功能越来越多样化,如热敏智能云打印机被广泛应用于商场、店铺、厨房、饭堂和饭店等场合。
目前,现有的热敏打印机的烧录和测试通常是分开操作,测试花费时间长,同一个被测板需进行烧录和测试两次环境切换,操作过程繁琐,易导致产品维修率增加,烧录或测试结果出现问题时,烧录平台和测试平台都要进行排查和故障处理,导致测试准确性不可靠,参数设置只能在本机进行,参数配置过程繁琐,不利于集中管理。
发明内容
基于此,有必要针对上述现有的热敏打印机的烧录和测试中存在的问题,提供一种能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,提高测试的准确性和灵活性,有利于集中管理的烧录测试装置、系统及方法。
第一方面,本申请提供一种烧录测试装置,应用于热敏打印机,热敏打印机包括待测主板;烧录测试装置包括:
第一架体,第一架体设置有安装区,安装区用于放置待测主板;
控制板,控制板设置在第一架体,控制板连接待测主板,控制板用于连接云端服务器;云端服务器被配置为获取待测主板的身份信息,并根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;以对控制板配置烧录测试参数;
按键模块,按键模块设置在第一架体,按键模块连接控制板;
控制板被配置为获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;控制板还被配置为在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据。
在其中一个实施例中,控制板包括控制器和连接控制器的检测模块;
检测模块分别连接待测主板的各测试点,检测模块用于检测各测试点的测试电信号;控制器用于获取各测试电信号,并根据各测试电信号,得到测试数据。
在其中一个实施例中,控制板还包括开关模块,开关模块连接在控制器与待测主板之间;
控制器用于根据获取到的开关信号,导通开关模块;
控制器还用于在测试数据满足预设条件时,断开开关模块。
在其中一个实施例中,控制器还用于将测试数据传输给云端服务器;云端服务器还用于对获取到的测试数据进行处理,并根据处理的结果,得到对应待测主板的测试结果报告。
在其中一个实施例中,控制板还用于获取云端服务器传输的固件升级数据,并根据固件升级数据进行固件更新。
在其中一个实施例中,烧录测试装置还包括显示器;显示器设置在第一架体,显示器连接控制板;
显示器用于接收并显示控制板传输的测试数据。
第二方面,本申请提供一种烧录测试系统,包括云端服务器及若干个如上述的烧录测试装置;云端服务器分别连接各控制板。
在其中一个实施例中,烧录测试系统还包括测试打印机;测试打印机连接云端服务器;
测试打印机用于接收并打印云端服务器传输的测试结果报告。
在其中一个实施例中,烧录测试系统还包括终端设备,终端设备连接云端服务器;
终端设备用于接收云端服务器传输的测试结果报告;终端设备还用来接收云端服务器传输的待测主板的身份信息,并根据身份信息,生成参数配置指令,且将参数配置指令传输给云端服务器。
第三方面,本申请提供一种烧录测试方法,包括以下步骤:
获取云端服务器传输的参数配置指令,并根据参数配置指令,配置烧录测试参数;参数配置指令为云端服务器根据待测主板的身份信息处理得到;
获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;
在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据。
上述技术方案中的一个技术方案具有如下优点和有益效果:
上述的烧录测试装置中,应用于热敏打印机,热敏打印机包括待测主板;烧录测试装置包括第一架体、控制板和按键模块;第一架体设置有安装区,安装区用于放置待测主板;控制板设置在第一架体,控制板连接待测主板,控制板用于连接云端服务器;云端服务器被配置为获取待测主板的身份信息,并根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;以对控制板配置烧录测试参数;按键模块设置在第一架体,按键模块连接控制板;控制板被配置为获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;控制板还被配置为在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对热敏打印机的待测主板烧录与测试一体化操作,能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,有利于集中管理。本申请通过把烧录测试操作过程一体化,减少了硬件成本,提高了测试效率;通过云端服务器连接控制板,当对不同类型的待测主板进行烧录测试时,能够通过云端服务器根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;使得控制板自动配置烧录测试参数,提高了烧录测试的灵活性和准确性。
附图说明
图1为一个实施例中烧录测试装置的第一结构示意图;
图2为一个实施例中烧录测试装置的第二结构示意图;
图3为一个实施例中烧录测试装置的第三结构示意图;
图4为一个实施例中烧录测试系统的第一结构示意图;
图5为一个实施例中烧录测试系统的第二结构示意图;
图6为一个实施例中烧录测试方法的流程示意图。
附图标记:
10、烧录测试装置;120、控制板;122、控制器;124、检测模块;126、开关模块;130、按键模块;140、显示器;20、待测主板;30、云端服务器;40、测试打印机;50、终端设备。
具体实施方式
为了使本技术领域的人员更好地理解本申请方案,下面将结合本申请实施例中的附图,对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例,而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都应当属于本申请保护的范围。
需要说明的是,本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象,而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本申请的实施例。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含,例如,包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元,而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
另外,术语“多个”的含义应为两个以及两个以上。
需要说明的是,在不冲突的情况下,本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本申请。
在一个实施例中,如图1所示,提供一种烧录测试装置,应用于热敏打印机,热敏打印机包括待测主板20;烧录测试装置10包括第一架体、控制板120和按键模块130。第一架体设置有安装区,安装区用于放置待测主板20;控制板120设置在第一架体,控制板120连接待测主板20,控制板120用于连接云端服务器30;云端服务器30被配置为获取待测主板20的身份信息,并根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令;以对控制板120配置烧录测试参数;按键模块130设置在第一架体,按键模块130连接控制板120;控制板120被配置为获取按键模块130的开关信号,并根据开关信号,向待测主板20进行程序烧录;控制板120还被配置为在待测主板20烧录成功时,检测待测主板20的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据。
其中,热敏打印机可以是热敏智能云打印机,热敏打印机包括待测主板20。需要说明的是,待测主板20为热敏打印机的主控板。第一架体可以是金属材质或非金属材质的架体,第一架体可用来安装控制板120和按键模块130。例如,第一架体设置有容纳腔,控制板120设置在容纳腔内。第一架体还设置有安装区,安装区可用来放置待测主板20。示例性的,第一架体包括第一台面,安装区位于第一台面;第一台面还设置有安装口,按键模块130设置在安装口上。在一个示例中,待测主板20可通过卡接或压接方式设置在安装区。
控制板120可通过连接线与待测主板20建立连接。示例性的,控制板120设置有第一连接端口,待测主板20设置有第二连接端口,连接线的第一端插接在控制板120的第一连接端口,连接线的第二端插接在待测主板20的第二连接端口。
控制板120可通过无线通信方式与云端服务器30建立连接,例如,控制板120可设置有WIFI通信模块,控制板120的WIFI通信模块通过网关连接云端服务器30,进而建立控制板120用与接云端服务器30之间的通信连接。
按键模块130可以是机械式按键,按键模块130还可以是触摸式按键。示例性的,按键模块130可包括第一按键、第二按键、第三按键和第四按键,第一按键、第二按键、第三按键和第四按键分别连接控制板120。其中,第一按键可用来控制控制板120启动或关闭烧录测试功能;第二按键可用来控制控制板120进行复测;第三按键可用来对控制板120进行功能参数设置;第四按键可用来控制控制板120向云端服务器30上报数据。通过在第一架体设置按键模块130,进而便于用户对待测主板20进行烧录测试操作。
当需要对待测主板20进行烧录测试时,将烧录测试装置10开机,控制板120进行初始化,使得控制板120与云端服务器30建立通信连接。用户将待测主板20放置在第一支架的安装区,并将待测主板20与控制板120建立连接;用户可预先向云端服务器30输入待测主板20的身份信息,进而云端服务器30可获取得到待测主板20的身份信息,并根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令,使得控制板120自动配置烧录测试参数。在另一示例中,当待测主板20与控制板120首次建立连接时,控制板120可主动获取待测主板20的身份信息,并将待测主板20的身份信息传输给云端服务器30,进而云端服务器30根据获取得到的身份信息,向控制板120传输对应待测主板20的参数配置指令,实现更换待测主板20时,能够自动配置对应更换后的待测主板20的参数,进而提高了对待测主板20烧录测试的灵活性。
当用户操作按键模块130启动烧录测试功能时,按键模块130向控制板120传输开关信号,进而控制板120可获取得到按键模块130的开关信号,并根据开关信号,向待测主板20进行程序烧录;控制板120可实时监测程序烧录过程,当检测到待测主板20烧录成功时,将当前的工作模式切换为测试模式,进而检测待测主板20的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对待测主板20的测试。
示例性的,控制板120在对待测主板20程序烧录过程中,若检测到待测主板20烧录失败,则将尝试重新烧录;若尝试重新烧录预设次数后,仍烧录失败,则发出故障警示信号;若重新烧录成功时,则将当前的工作模式切换为测试模式,对待测主板20进行测试,实现烧录与测试一体化操作,使烧录测试时间相对缩短,减少了设备成本且提高了测试效率,从而提高待测产品的质量,减少产品功能失效率,提高用户体验感。
上述的实施例中,第一架体设置有安装区,安装区用于放置待测热敏打印机的待测主板20;控制板120和按键模块130分别设置在第一架体,控制板120连接待测主板20,控制板120连接云端服务器30,按键模块130连接控制板120;云端服务器30获取待测主板20的身份信息,并根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令;以对控制板120配置烧录测试参数;控制板120获取按键模块130的开关信号,并根据开关信号,向待测主板20进行程序烧录;控制板120在待测主板20烧录成功时,检测待测主板20的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对热敏打印机的待测主板20烧录与测试一体化操作,能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,有利于集中管理。本申请通过把烧录测试操作过程一体化,减少了硬件成本,提高了测试效率;通过云端服务器30连接控制板120,当对不同类型的待测主板20进行烧录测试时,能够通过云端服务器30根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令;使得控制板120自动配置烧录测试参数,提高了烧录测试的灵活性和准确性。
在一个实施例中,如图2所示,控制板120包括控制器122和连接控制器122的检测模块124;检测模块124分别连接待测主板20的各测试点,检测模块124用于检测各测试点的测试电信号;控制器122用于获取各测试电信号,并根据各测试电信号,得到测试数据。
其中,待测主板20的测试点可以是待测主板20的IO端口。检测模块124可以是电压检测模块124和电流检测模块124;测试电信号可以是相应测试点的电压信号和电流信号。
基于检测模块124分别连接待测主板20的各测试点,当控制板120的当前工作模式为测试模式时,检测模块124检测待测主板20的各测试点的测试电信号,并将检测到的测试电信号传输给控制器122,进而控制器122可获取得到各测试电信号。控制器122可对各测试电信号进行处理,进而得到测试数据,从而实现对待测主板20的测试。
在一个实施例中,如图3所示,控制板120还包括开关模块126,开关模块126连接在控制器122与待测主板20之间;控制器122用于根据获取到的开关信号,导通开关模块126;控制器122还用于在测试数据满足预设条件时,断开开关模块126。
其中,开关模块126可包括MOS管,当用户操作按键模块130启动烧录测试功能时,控制器122获取按键模块130传输的开关信号,并根据开关信号,导通开关模块126,进而导通控制板120与待测主板20之间的连接通道,以向待测主板20进行程序烧录,并在待测主板20烧录成功时,自动将当前的工作模式切换为测试模式,进而检测待测主板20的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,进而实现对待测主板20的烧录测试一体化操作。
在一个示例中,检测模块124可依次检测待测主板20的各测试点的测试电信号,并依次将检测到的测试电信号传输给控制器122,进而控制器122可对当前检测的测试点的测试电信号进行处理,得到当前检测的测试点的测试数据,并将该测试数据与预设阈值进行比较,若测试数据超过预设阈值,则判定测试数据满足预设条件,即判定待测主板20出现异常,进而断开开关模块126,使得控制板120与待测主板20之间的连接通道断开,避免电路烧毁,从而提高了对待测主板20测试的安全性。
在一个实施例中,控制器122还用于将测试数据传输给云端服务器30;云端服务器30还用于对获取到的测试数据进行处理,并根据处理的结果,得到对应待测主板20的测试结果报告。
基于控制器122与云端服务器30通信连接,进而控制器122可将处理得到的测试数据传输给云端服务器30。云端服务器30获取控制器122传输的测试数据,并对测试数据进行处理,并根据处理的结果,得到对应待测主板20的测试结果报告。示例性的,云端服务器30可对测试数据进行统计分析处理,并根据处理的结构,判断待测主板20是否为合格品。
在一个实施例中,控制板120还用于获取云端服务器30传输的固件升级数据,并根据固件升级数据进行固件更新。
例如,基于控制板120与云端服务器30之间的通信连接,云端服务器30可向控制板120传输固定升级数据,进而控制板120获取得到相应的固件升级数据,并先将固件升级数据进行缓存(如缓存至FLASH);然后控制器122再调取固定升级数据进行固件更新。
示例性的,当更换不同类型的待测主板20进行烧录测试时,云端服务器30可获取对应待测主板20的固件升级数据,并将相应的固件升级数据传输给控制板120,使得控制器122根据固件升级数据进行固件更新,实现自动在线升级烧录测试装置10的控制板120程序。
上述实施例中,实现更换不同类型的待测主板20进行烧录测试时,直接通过云端服务器30向控制板120下发相应的固件进行固件升级,而无需人工对控制板120重新烧写和测试固件操作,提高了测试过程的灵活性,另外,控制板120的固件升级过程是在线OTA升级,无需使用物理线材升级,进而大大提高了工作效率。
在一个实施例中,如图3所示,烧录测试装置10还包括显示器140;显示器140设置在第一架体,显示器140连接控制板120;显示器140用于接收并显示控制板120传输的测试数据。
其中,显示器140可以是液晶屏。显示器140可通过卡接或螺接等方式设置在第一架体。
基于显示器140连接控制板120,进而控制板120可将处理得到的测试数据传输至显示器140,使得显示屏接收并实时显示测试数据,方便用户现场查看对待测主板20的测试结果。
在一个实施例中,如图4所示,还提供一种烧录测试系统,包括云端服务器30及若干个如上述的烧录测试装置10;云端服务器30分别连接各控制板120。
其中,关于云端服务器30和烧录测试装置10的具体描述可以参见上文中对于云端服务器30和烧录测试装置10的描述内容,在此不再赘述。
基于云端服务器30分别连接各烧录测试装置10的控制板120,烧录测试装置10包括第一架体、控制板120和按键模块130,第一架体设置有安装区,安装区用于放置待测热敏打印机的待测主板20;控制板120和按键模块130分别设置在第一架体,控制板120连接待测主板20,控制板120连接云端服务器30,按键模块130连接控制板120;云端服务器30获取待测主板20的身份信息,并根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令;以对控制板120配置烧录测试参数;控制板120获取按键模块130的开关信号,并根据开关信号,向待测主板20进行程序烧录;控制板120在待测主板20烧录成功时,检测待测主板20的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对热敏打印机的待测主板20烧录与测试一体化操作,能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,有利于集中管理。
上述实施例中,通过把烧录测试操作过程一体化,减少了硬件成本,提高了测试效率;通过云端服务器30连接控制板120,当对不同类型的待测主板20进行烧录测试时,能够通过云端服务器30根据待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令;使得控制板120自动配置烧录测试参数,提高了烧录测试的灵活性和准确性。
在一个实施例中,如图5所示,烧录测试系统还包括测试打印机40;测试打印机40连接云端服务器30;测试打印机40用于接收并打印云端服务器30传输的测试结果报告。
其中,测试打印机40可以是测试合格的热敏打印机。
基于测试打印机40连接云端服务器30,云端服务器30可将测试结果报告传输给传测试打印机40,进而通过测试打印机40对测试结果报告进行打印,以便用户查看测试结果报告。
在一个实施例中,如图5所示,烧录测试系统还包括终端设备50,终端设备50连接云端服务器30;终端设备50用于接收云端服务器30传输的测试结果报告;终端设备50还用来接收云端服务器30传输的待测主板20的身份信息,并根据身份信息,生成参数配置指令,且将参数配置指令传输给云端服务器30。
其中,终端设备50可以是移动终端(如手机)。基于终端设备50与云端服务器30通信连接,云端服务器30可向终端设备50传输测试结果报告,进而终端设备50获取得到待测主板20的测试结果报告,以便用户实时查看待测主板20的传输结果。
在一个示例中,当需要更换不同类型的待测主板20进行烧录测试时,用户可操作终端设备50输入待测主板20的身份信息,进而通过终端设备50向云端服务器30传输的待测主板20的身份信息。云端服务器30根据获取到的待测主板20的身份信息,向控制板120传输参数配置指令,使得控制板120自动配置烧录测试参数,实现更换待测主板20时,能够便捷配置对应更换后的待测主板20的参数,进而提高了对待测主板20烧录测试的灵活性。
在一个实施例中,如图6所示,提供了一种烧录测试方法,以该方法应用于图1中的控制板为例进行说明,包括以下步骤:
步骤S610,获取云端服务器传输的参数配置指令,并根据参数配置指令,配置烧录测试参数;参数配置指令为云端服务器根据待测主板的身份信息处理得到。
示例性的,用户可预先向云端服务器输入待测主板的身份信息,进而云端服务器可获取得到待测主板的身份信息,并根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令,从而控制板可获取得到云端服务器传输的参数配置指令。使得控制板根据参数配置指令,配置烧录测试参数,实现自动配置烧录测试参数。在另一示例中,当待测主板与控制板首次建立连接时,控制板可主动获取待测主板的身份信息,并将待测主板的身份信息传输给云端服务器,进而云端服务器根据获取得到的身份信息,向控制板传输对应待测主板的参数配置指令,实现更换待测主板时,能够自动配置对应更换后的待测主板的参数,进而提高了对待测主板烧录测试的灵活性。
步骤S620,获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录。
当用户操作按键模块启动烧录测试功能时,按键模块向控制板传输开关信号,进而控制板可获取得到按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录。
步骤S630,在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据。
控制板可实时监测程序烧录过程,当检测到待测主板烧录成功时,将当前的工作模式切换为测试模式,进而检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对待测主板的测试。
上述的实施例中,云端服务器获取待测主板的身份信息,并根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;以对控制板配置烧录测试参数;控制板获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;控制板在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据,实现对热敏打印机的待测主板烧录与测试一体化操作,能够便捷操作烧录和测试过程,减少烧录测试时间,参数配置便捷,有利于集中管理。本申请通过把烧录测试操作过程一体化,减少了硬件成本,提高了测试效率;通过云端服务器连接控制板,当对不同类型的待测主板进行烧录测试时,能够通过云端服务器根据待测主板的身份信息,向控制板传输参数配置指令;使得控制板自动配置烧录测试参数,提高了烧录测试的灵活性和准确性。
应该理解的是,虽然图6的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示,但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明,这些步骤的执行并没有严格的顺序限制,这些步骤可以以其它的顺序执行。而且,图6中的至少一部分步骤可以包括多个子步骤或者多个阶段,这些子步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成,而是可以在不同的时刻执行,这些子步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行,而是可以与其它步骤或者其它步骤的子步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
在一个实施例中,还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,计算机程序被处理器执行时实现上述任一项的烧录测试方法的步骤。
在一个示例中,计算机程序被处理器执行时实现以下步骤:
获取云端服务器传输的参数配置指令,并根据参数配置指令,配置烧录测试参数;参数配置指令为云端服务器根据待测主板的身份信息处理得到;获取按键模块的开关信号,并根据开关信号,向待测主板进行程序烧录;在待测主板烧录成功时,检测待测主板的各个测试点,得到对应各测试点的测试数据。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM以多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink) DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合,为使描述简洁,未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述,然而,只要这些技术特征的组合不存在矛盾,都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本申请的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并不能因此而理解为对发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员来说,在不脱离本申请构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本申请的保护范围。因此,本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种烧录测试装置,其特征在于,应用于热敏打印机,所述热敏打印机包括待测主板;所述烧录测试装置包括:
第一架体,所述第一架体设置有安装区,所述安装区用于放置所述待测主板;
控制板,所述控制板设置在所述第一架体,所述控制板连接所述待测主板,所述控制板用于连接云端服务器;所述云端服务器被配置为获取所述待测主板的身份信息,并根据所述待测主板的身份信息,向所述控制板传输参数配置指令;以对所述控制板配置烧录测试参数;
按键模块,所述按键模块设置在所述第一架体,所述按键模块连接所述控制板;
所述控制板被配置为获取所述按键模块的开关信号,并根据开关信号,向所述待测主板进行程序烧录;所述控制板还被配置为在所述待测主板烧录成功时,检测所述待测主板的各个测试点,得到对应各所述测试点的测试数据。
2.根据权利要求1所述的烧录测试装置,其特征在于,所述控制板包括控制器和连接所述控制器的检测模块;
所述检测模块分别连接所述待测主板的各测试点,所述检测模块用于检测各所述测试点的测试电信号;所述控制器用于获取各所述测试电信号,并根据各所述测试电信号,得到所述测试数据。
3.根据权利要求2所述的烧录测试装置,其特征在于,所述控制板还包括开关模块,所述开关模块连接在所述控制器与所述待测主板之间;
所述控制器用于根据获取到的所述开关信号,导通所述开关模块;
所述控制器还用于在所述测试数据满足预设条件时,断开所述开关模块。
4.根据权利要求2所述的烧录测试装置,其特征在于,所述控制器还用于将所述测试数据传输给所述云端服务器;所述云端服务器还用于对获取到的所述测试数据进行处理,并根据处理的结果,得到对应所述待测主板的测试结果报告。
5.根据权利要求4所述的烧录测试装置,其特征在于,所述控制板还用于获取所述云端服务器传输的固件升级数据,并根据所述固件升级数据进行固件更新。
6.根据权利要求1至5任意一项所述的烧录测试装置,其特征在于,还包括显示器;所述显示器设置在所述第一架体,所述显示器连接所述控制板;
所述显示器用于接收并显示所述控制板传输的所述测试数据。
7.一种烧录测试系统,其特征在于,包括云端服务器及若干个如权利要求1至6任意一项所述的烧录测试装置;所述云端服务器分别连接各控制板。
8.根据权利要求7所述的烧录测试系统,其特征在于,还包括测试打印机;所述测试打印机连接所述云端服务器;
所述测试打印机用于接收并打印所述云端服务器传输的测试结果报告。
9.根据权利要求8所述的烧录测试系统,其特征在于,还包括终端设备,所述终端设备连接所述云端服务器;
所述终端设备用于接收所述云端服务器传输的测试结果报告;所述终端设备还用来接收所述云端服务器传输的所述待测主板的身份信息,并根据所述身份信息,生成参数配置指令,且将所述参数配置指令传输给所述云端服务器。
10.一种烧录测试方法,其特征在于,包括以下步骤:
获取云端服务器传输的参数配置指令,并根据所述参数配置指令,配置烧录测试参数;所述参数配置指令为所述云端服务器根据待测主板的身份信息处理得到;
获取按键模块的开关信号,并根据所述开关信号,向所述待测主板进行程序烧录;
在所述待测主板烧录成功时,检测所述待测主板的各个测试点,得到对应各所述测试点的测试数据。
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