TWI730991B - 有機ｅｌ裝置、有機ｅｌ裝置之製造方法、電子機器 - Google Patents

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Abstract

本發明之有機EL裝置具備：第1基板；第1有機EL元件及第2有機EL元件，其等設置於上述第1基板；密封層，其覆蓋上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件；及彩色濾光片，其設置於上述密封層上。上述彩色濾光片包含於俯視時與上述第1有機EL元件重疊之著色層、及於俯視時與上述第2有機EL元件重疊之樹脂層。

Description

有機EL裝置、有機EL裝置之製造方法、電子機器
本發明係關於一種具備有機電致發光(EL，Electro-Luminescence)元件之有機EL裝置、有機EL裝置之製造方法、具備有機EL裝置之電子機器。
作為發光元件之有機EL元件與LED(Light Emitting Diode，發光二極體)相比可實現小型化、薄型化，故而被關注應用於頭戴式顯示器(HMD)或電子閱讀器(EVF)等微顯示器。
作為於此種微顯示器中實現彩色顯示之機構，考慮將獲得白色發光之有機EL元件與彩色濾光片組合之構成。藉由使來自有機EL元件之發光入射至彩色濾光片中之特定之著色層，可實現優異之顯示品質，因此提出有將著色層配置於更接近有機EL元件之位置。
例如，於專利文獻1~專利文獻3中示出有如下例：於覆蓋複數個有機EL元件之阻氣層或保護層、或者密封層上，對應於有機EL元件之配置而配置至少3種顏色(紅、綠、藍)之著色層。又，示出有如下例：於著色層之間配置黑矩陣層，或者配置透光性或遮光性之凸部。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開2008-66216號公報
[專利文獻2]日本專利特開2012-38677號公報
[專利文獻3]日本專利特開2014-89804號公報
然而，於上述專利文獻1~專利文獻3之有機EL裝置中，存在如下問題：由於來自有機EL元件之白色發光透過著色層射出，故而於白色發光藉由著色層而轉換之色光中，難以實現所期望之亮度。例如，存在如下問題：若為了確保色光之亮度使白色發光之亮度上升，而增加有機EL元件中之電流量，則有機EL裝置之消耗電力增加，或者有機EL元件之發光壽命變短。
本發明係為了解決上述問題之至少一部分而完成者，能夠作為以下之形態或應用例而實現。
[應用例]本應用例之有機EL裝置之特徵在於具備：第1基板；第1有機EL元件及第2有機EL元件，其等設置於上述第1基板；密封層，其覆蓋上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件；及彩色濾光片，其設置於上述密封層上；上述彩色濾光片包含於俯視時與上述第1有機EL元件重疊之著色層、及於俯視時與上述第2有機EL元件重疊之透明層。
根據本應用例，與來自第1有機EL元件之發光透過密封層及著色層射出之光相比，來自第2有機EL元件之發光透過密封層及透明層射出之光不易產生亮度之降低。即，可提供如下有機EL裝置：與具有於俯視時亦相對於第2有機EL元件而重疊之著色層之情形時相比，不會增加消耗電力或者縮短有機EL元件之發光壽命，而能夠實現所期望之亮度。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，較佳為，上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件於上述第1基板上於一方向相鄰而配置，上述透明層於上述一方向上之上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件之間與上述著色層相接而設置。
根據該構成，能夠以透明層為基準，精度良好地定位密封層上之著色層之位置。因此，可使來自第1有機EL元件之發光確實地透過著色層並提取。因此，可提供具有優異之顯示品質之有機EL裝置。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，較佳為，具備：第1驅動用電晶體，其設置於上述第1基板，且經由第1接觸部而連接於上述第1有機EL元件；及第2驅動用電晶體，其經由第2接觸部而連接於上述第2有機EL元件；上述著色層於俯視時與上述第1接觸部及上述第2接觸部重疊而設置。
存在第1接觸部及第2接觸部與第1及第2有機EL元件之其他部分相比產生凹凸之虞。若於產生該凹凸之部分發光散射，則存在導致光學特性降低之虞。根據該構成，由於著色層於俯視時與第1接觸部及第2接觸部重疊而設置，故而於該凹凸之部分散射之不需要之發光之至少一部分被著色層吸收，因此可抑制光學特性之降低。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，特徵在於，上述著色層及上述透明層之主成分係透光性之感光性樹脂。
根據該構成，由於能夠使用光微影法形成著色層及透明層，故而可於密封層上位置精度良好地配置著色層及透明層。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，較佳為，上述感光性樹脂係感光性丙烯酸系樹脂。
根據該構成，可設為透光性優異之透明層。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，特徵在於，上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件分別包含：像素電極，其具有透光性； 對向電極，其兼具透光性與反射性；及發光功能層，其配置於上述像素電極與上述對向電極之間；且該有機EL裝置具備設置於上述第1基板之基板本體與上述像素電極之間之反射層，於上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件中，自上述反射層至上述對向電極之光學距離不同。
根據該構成，自第1有機EL元件及第2有機EL元件獲得共振波長互不相同之發光。來自第1有機EL元件之發光由於透過著色層故色純度進而提高。又，來自第2有機EL元件之發光雖然透過透明層，但是可提取基於共振波長之色純度之光。即，能夠實現外觀較佳之彩色顯示。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，較佳為，具有隔著填充劑而配置於上述彩色濾光片上之透光性之第2基板。
根據該構成，可提供如下有機EL裝置：由於除了密封層以外還具有第2基板，故而可抑制水分或氧氣等自外部滲入至有機EL元件，而獲得穩定之發光並且發光壽命較長。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，特徵在於，相對於上述第1有機EL元件之發光面積，上述第2有機EL元件之發光面積較小。
根據該構成，由於來自第2有機EL元件之發光透過透明層並被提取，故而即便使第2有機EL元件之發光面積小於第1有機EL元件，亦能夠獲得所期望之亮度。
於上述應用例所記載之有機EL裝置中，亦可使上述第2有機EL元件之發光面積相對於上述第1有機EL元件之發光面積而較大。
根據該構成，來自有機EL元件之發光之亮度依賴於發光面積。即，若增大第2有機EL元件之發光面積，則能夠以較流通於第1有機EL元件之電流量少之電流量自第2有機EL元件提取亮度與第1有機EL元件為相同程度之光。
如此，可實現如下有機EL裝置：藉由相對於發光透過著色層之第1有機EL元件之發光面積來調整發光透過透明層之第2有機EL元件之發光面積，而能夠進行第1有機EL元件及第2有機EL元件間之亮度之調整或消耗電力之調整，且具有包含發光壽命在內優異之光學特性。
[應用例]本應用例之有機EL裝置之製造方法之特徵在於具備如下步驟：於第1基板上形成第1有機EL元件與第2有機EL元件之步驟；形成覆蓋上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件之密封層之步驟；及彩色濾光片形成步驟，其係於上述密封層上，於俯視時與上述第1有機EL元件重疊之位置形成著色層，並且於俯視時與上述第2有機EL元件重疊之位置形成透明層。
根據本應用例，製造出如下有機EL裝置：來自第1有機EL元件之發光透過密封層及著色層射出，且來自第2有機EL元件之發光透過密封層及透明層射出。因此，與第1有機EL元件相比，來自第2有機EL元件之發光不易產生亮度之降低。即，可製造如下有機EL裝置：與形成於俯視時亦相對於第2有機EL元件而重疊之著色層之情形時相比，不會增加消耗電力或者縮短有機EL元件之發光壽命，而能夠實現所期望之亮度。
於上述應用例所記載之有機EL裝置之製造方法中，特徵在於，於上述彩色濾光片形成步驟中，藉由形成包含有色材料之感光性樹脂層並進行曝光、顯影而形成上述著色層，且藉由形成不包含有色材料之感光性樹脂層並進行曝光、顯影而形成上述透明層。
根據該方法，由於使用光微影法形成著色層及透明層，故而可於密封層上位置精度良好地形成著色層及透明層。
於上述應用例所記載之有機EL裝置之製造方法中，較佳為，於上述彩色濾光片形成步驟中，於形成上述透明層之後形成上述著色 層。
根據該方法，於使用光微影法形成著色層及透明層之情形時，透明層易實現較高之位置精度。因此，藉由先形成透明層，而能夠以透明層為基準位置精度良好地形成著色層。
於上述應用例所記載之有機EL裝置之製造方法中，較佳為，具備如下步驟：於上述第1基板形成第1驅動用電晶體及第2驅動用電晶體之步驟；形成覆蓋上述第1驅動用電晶體及第2驅動用電晶體之層間絕緣膜之步驟；及於上述層間絕緣膜，形成使上述第1驅動用電晶體與上述第1有機EL元件連接之第1接觸部，並且形成使上述第2驅動用電晶體與上述第2有機EL元件連接之第2接觸部之步驟；且於上述彩色濾光片形成步驟中，以於俯視時上述第1接觸部與上述第2接觸部重疊之方式形成上述著色層。
存在第1接觸部及第2接觸部與第1及第2有機EL元件之其他部分相比產生凹凸之虞。若於產生該凹凸之部分發光散射，則存在導致光學特性降低之虞。根據該方法，由於著色層於俯視時與第1接觸部及第2接觸部重疊而形成，故而於該凹凸之部分散射之不需要之發光之至少一部分被著色層吸收，可抑制光學特性之降低。
於上述應用例所記載之有機EL裝置之製造方法中，特徵在於，上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件分別包含：像素電極，其具有透光性；對向電極，其兼具透光性與反射性；及發光功能層，其配置於上述像素電極與上述對向電極之間；且該有機EL裝置之製造方法具備如下步驟：於上述第1基板之基板本體與上述像素電極之間形成反射層之步驟；及於上述反射層與上述像素電極之間形成透光層之步驟；且於上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件中，以自上述反射層至上述對向電極之光學距離不同之方式調整上述像素電極及上述透光層中至少一者之膜厚而形成。
根據該方法，與第1有機EL元件及第2有機EL元件之各者對應地形成光共振構造，自第1有機EL元件及第2有機EL元件獲得共振波長互不相同之發光。來自第1有機EL元件之發光由於透過著色層故色純度進而提高。又，來自第2有機EL元件之發光雖然透過透明層，但是可提取基於共振波長之色純度之光。即，可製造能夠實現外觀較佳之彩色顯示之有機EL裝置。
於上述應用例所記載之有機EL裝置之製造方法中，較佳為具備如下步驟：以覆蓋上述著色層及上述透明層之方式塗佈填充劑之步驟；及於上述第1基板隔著上述填充劑而貼合透光性之第2基板之步驟。
根據該方法，可製造如下有機EL裝置：由於除了密封層以外還將第2基板隔著填充劑貼合於第1基板，故而可抑制水分或氧氣等自外部滲入至有機EL元件，獲得穩定之發光並且發光壽命較長。
[應用例]本應用例之電子機器之特徵在於，具備上述應用例所記載之有機EL裝置。
根據本應用例，可提供因具備具有優異之光學特性之有機EL裝置而具有較高之顯示品質之電子機器。
10‧‧‧作為第1基板之元件基板
10a‧‧‧絕緣膜
10D‧‧‧離子注入部
10e、10f、10g‧‧‧層間絕緣膜
10W‧‧‧井部
11‧‧‧基板本體
12‧‧‧掃描線
13‧‧‧資料線
14‧‧‧電源線
15‧‧‧資料線驅動電路
16‧‧‧掃描線驅動電路
18‧‧‧子像素
18B‧‧‧子像素
18G‧‧‧子像素
18R‧‧‧子像素
19‧‧‧像素
20‧‧‧像素電路
21‧‧‧開關用電晶體
22‧‧‧儲存電容
23‧‧‧驅動用電晶體
25‧‧‧反射層
26‧‧‧透光層
26a‧‧‧第1絕緣膜
26b‧‧‧第2絕緣膜
26c‧‧‧第3絕緣膜
28‧‧‧絕緣膜
28a‧‧‧端部
28KB‧‧‧開口部
28KG‧‧‧開口部
28KR‧‧‧開口部
30‧‧‧有機EL元件
30B‧‧‧有機EL元件
30G‧‧‧有機EL元件
30R‧‧‧有機EL元件
30W‧‧‧有機EL元件
31‧‧‧像素電極
31B‧‧‧像素電極
31G‧‧‧像素電極
31R‧‧‧像素電極
31W‧‧‧像素電極
31CB‧‧‧接觸部
31CG‧‧‧接觸部
31CR‧‧‧接觸部
31CW‧‧‧接觸部
32‧‧‧發光功能層
33‧‧‧對向電極
34‧‧‧密封層
34a‧‧‧第1密封層
34b‧‧‧平坦化層
34c‧‧‧第2密封層
36‧‧‧彩色濾光片
36B‧‧‧著色層
36G‧‧‧著色層
36K‧‧‧透明層
36P‧‧‧感光性樹脂層
36PG‧‧‧感光性樹脂層
36R‧‧‧著色層
36T‧‧‧透明層
40‧‧‧作為第2基板之保護基板
42‧‧‧填充劑
71‧‧‧大氣
80‧‧‧遮罩
81‧‧‧遮光部
81a‧‧‧開口
81b‧‧‧開口
90‧‧‧遮罩
91‧‧‧遮光部
91a‧‧‧開口
100‧‧‧有機EL裝置
103‧‧‧外部連接用端子
200‧‧‧有機EL裝置
210‧‧‧元件基板
300‧‧‧有機EL裝置
310‧‧‧元件基板
400‧‧‧有機EL裝置
1000‧‧‧作為電子機器之頭戴式顯示器(HMD)
1001‧‧‧顯示部
E‧‧‧顯示區域
G1‧‧‧端部
GD1‧‧‧膜厚
GD2‧‧‧間隔
L1‧‧‧光
L2‧‧‧光
L3‧‧‧光
L3A‧‧‧光
L3B‧‧‧光
M‧‧‧觀察者
R1‧‧‧端部
RD1‧‧‧膜厚
RD2‧‧‧間隔
θ1‧‧‧角度
θ2‧‧‧角度
α‧‧‧臨界角
圖1係表示第1實施形態之有機EL裝置之構成之概略俯視圖。
圖2係表示有機EL裝置之電性構成之等效電路圖。
圖3係表示有機EL裝置之子像素中之有機EL元件與彩色濾光片之配置的概略俯視圖。
圖4係表示沿著圖3之A-A'線之子像素之構造之概略剖視圖。
圖5係表示沿著圖3之B-B'線之子像素中之像素電極之接觸部之構造的概略剖視圖。
圖6係沿著圖1之H-H'線之有機EL裝置之概略剖視圖。
圖7係表示相鄰之子像素之交界之元件基板之構造的剖視圖。
圖8係表示相鄰之子像素之交界之元件基板之構造的剖視圖。
圖9係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之流程圖。
圖10係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖11係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖12係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖13係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖14係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖15係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖16係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。
圖17係表示第2實施形態之有機EL裝置中之像素電極及彩色濾光片之配置的概略俯視圖。
圖18係表示沿著圖17之C-C'線之子像素之構造之概略剖視圖。
圖19係表示沿著圖17之D-D'線之像素電極之接觸部之構造之概略剖視圖。
圖20係表示第3實施形態之有機EL裝置中之像素電極及彩色濾光片之配置之概略俯視圖。
圖21係表示沿著圖20之F-F'線之子像素之構造之概略剖視圖。
圖22係作為電子機器之一例之頭戴式顯示器之概略圖。
圖23係表示變化例之有機EL裝置中之子像素之配置之概略俯視圖。
以下，根據圖式對使本發明具體化之實施形態進行說明。再者，所使用之圖式係適當放大或縮小顯示，以使所說明之部分成為能夠識別之狀態。
(第1實施形態)
<有機EL裝置>
首先，參照圖1~圖5對本實施形態之有機EL裝置進行說明。圖1係表示第1實施形態之有機EL裝置之構成之概略俯視圖，圖2係表示有機EL裝置之電性構成之等效電路圖，圖3係表示有機EL裝置之子像素中之有機EL元件與彩色濾光片之配置的概略俯視圖。圖4係表示沿著圖3之A-A'線之子像素之構造之概略剖視圖，圖5係表示沿著圖3之B-B'線之子像素中之像素電極之接觸部之構造的概略剖視圖。
本實施形態之有機EL裝置100係適合於下述頭戴式顯示器(HMD)之顯示部之自發光型之微顯示器。
如圖1所示，本實施形態之有機EL裝置100具有元件基板10及保護基板40。兩基板係隔著填充劑42(參照圖4)而對向配置且接著。
再者，元件基板10係本發明中之「第1基板」之一例。保護基板40係本發明中之「第2基板」之一例。
元件基板10具有排列有發出藍色(B)光之子像素18B、發出綠色(G)光之子像素18G、及發出紅色(R)光之子像素18R之顯示區域E。於有機EL裝置100中，包含子像素18B、子像素18G、子像素18R之像素19成為顯示單位，提供全彩之顯示。
於以下之說明中，存在將子像素18B、子像素18G、及子像素18R統稱為子像素18之情形。
元件基板10大於保護基板40，且沿著自保護基板40露出之元件基板10之第1邊而排列有複數個外部連接用端子103。於複數個外部連接用端子103與顯示區域E之間，設置有資料線驅動電路15。於正交於該第1邊且相互對向之其他之第2邊、第3邊與顯示區域E之間，設置有掃描線驅動電路16。
保護基板40小於元件基板10，且以外部連接用端子103露出之方式配置。保護基板40係透光性之基板，例如可使用石英基板或玻璃基板等。於本實施形態中，保護基板40之可見光波長範圍中之光之透過率較佳為80%以上，更佳為90%以上。保護基板40具有於顯示區域E保護配置於子像素18之下述有機EL元件30(參照圖2)不損傷之作用，且以至少與顯示區域E對向之方式配置。本實施形態之有機EL裝置100係採用將自子像素18發出之光自保護基板40側提取之頂部發光方式。
以下，將沿著排列有外部連接用端子103之上述第1邊之方向設為X方向，將沿著與該第1邊正交且相互對向之其他之2邊(第2邊、第3邊)之方向設為Y方向。將自元件基板10朝向保護基板40之方向設為Z方向。又，將沿著Z方向自保護基板40側觀察稱為「俯視」。再者，X方向相當於本發明中之「一方向」。
於本實施形態中，採用於顯示區域E中，獲得相同顏色之發光之子像素18排列於行方向(Y方向)，獲得不同顏色之發光之子像素18排列於列方向(X方向)之所謂條紋方式之子像素18之配置。於子像素18，配置著有機EL元件30與彩色濾光片36(參照圖3或圖4)。關於有機EL元件30及彩色濾光片36之詳細之構成將於下文敍述。
再者，於圖1中，表示了顯示區域E中之子像素18B、18G、18R之配置，但列方向(X方向)之子像素18之配置並不限定於B、G、R之順序。例如，亦可為G、B、R之順序。又，子像素18之配置並不限定 於條紋方式，亦可為三角形方式、或拜耳方式、S條紋方式，另外，子像素18B、18G、18R之形狀或大小並不限定於相同。
[有機EL裝置之電性構成]
如圖2所示，有機EL裝置100具有相互交叉之掃描線12及資料線13、與電源線14。掃描線12電性連接於掃描線驅動電路16，資料線13電性連接於資料線驅動電路15。又，於由掃描線12與資料線13而劃分之區域設置有子像素18。
子像素18包括有機EL元件30及控制有機EL元件30之驅動之像素電路20。以下，將配置於子像素18B之有機EL元件30稱為有機EL元件30B，將配置於子像素18G之有機EL元件30稱為有機EL元件30G，將配置於子像素18R之有機EL元件30稱為有機EL元件30R。
有機EL元件30包括像素電極31、發光功能層32、及對向電極33。像素電極31作為將電洞注入至發光功能層32之陽極而發揮功能。對向電極33作為將電子注入至發光功能層32之陰極而發揮功能。於發光功能層32中，藉由經注入之電洞與電子，而形成激子(exciton，電洞與電子由庫侖力而相互束縛之狀態)，於激子(exciton)湮滅時(電洞與電子再結合時)能量之一部分成為螢光或磷光而釋出。於本實施形態中，以自發光功能層32獲得白色發光之方式，構成發光功能層32。
再者，配置於子像素18B之有機EL元件30B係本發明之「第2有機EL元件」之一例，配置於子像素18G之有機EL元件30G或者配置於子像素18R之有機EL元件30R係本發明之「第1有機EL元件」之一例。
像素電路20包含開關用電晶體21、儲存電容22、及驅動用電晶體23。2個電晶體21、23例如可使用n通道型或p通道型電晶體而構成。
開關用電晶體21之閘極電性連接於掃描線12。開關用電晶體21之源極電性連接於資料線13。開關用電晶體21之汲極電性連接於驅動 用電晶體23之閘極。
驅動用電晶體23之汲極電性連接於有機EL元件30之像素電極31。驅動用電晶體23之源極電性連接於電源線14。於驅動用電晶體23之閘極與電源線14之間，電性連接有儲存電容22。
若藉由自掃描線驅動電路16供給之控制信號驅動掃描線12而使開關用電晶體21成為接通(ON)狀態，則基於自資料線13供給之圖像信號之電位經由開關用電晶體21而保持於儲存電容22。根據儲存電容22之電位即驅動用電晶體23之閘極電位，來決定驅動用電晶體23之接通、斷開(ON、OFF)狀態。而且，若驅動用電晶體23成為接通(ON)狀態，則經由驅動用電晶體23，自電源線14向有機EL元件30流通與閘極電位對應之量之電流。有機EL元件30以與流通於發光功能層32之電流量對應之亮度而發光。
再者，像素電路20之構成並不限定於具有2個電晶體21、23，例如，亦可進而具備用以控制流通於有機EL元件30之電流之電晶體。
[像素電極及彩色濾光片之配置]
其次，參照圖3，對子像素18中之有機EL元件30之像素電極31及彩色濾光片36之配置進行說明。
如圖3所示，於在X方向與Y方向呈矩陣狀配置之複數個子像素18，分別配置著有機EL元件30之像素電極31。具體而言，於X方向排列之子像素18B配置著有機EL元件30B之像素電極31B，於子像素18G配置著有機EL元件30G之像素電極31G，於子像素18R配置著有機EL元件30R之像素電極31R。像素電極31B、31G、31R之各者於俯視時為長方形，且長邊方向沿著Y方向而配置。於本實施形態中，像素電極31B、31G、31R之Y方向之長度相同。又，像素電極31B之X方向之長度短於其他像素電極31G、31R之X方向之長度。
於各像素電極31之Y方向之一端側(於圖3中為上方之端側)，設置 有實現像素電極31與上述驅動用電晶體23之電性連接之接觸部。具體而言，於像素電極31B設置有接觸部31CB，於像素電極31G設置有接觸部31CG，於像素電極31R設置有接觸部31CR。
像素電極31B、31G、31R之各者藉由被絕緣膜28覆蓋而成為相互絕緣之狀態。具體而言，絕緣膜28以覆蓋像素電極31B、31G、31R中之包含接觸部31CB、31CG、31CR之各周緣部之方式設置。藉此，於像素電極31B、31G、31R之各者中，於除了接觸部31CB、31CG、31CR以外之像素電極31B、31G、31R上形成有於俯視時為長方形之開口部28KB、28KG、28KR。再者，開口部28KB、28KG、28KR之形狀並不限定於長方形，例如亦可係短邊側為圓弧狀之軌道狀。
於本實施形態中，開口部28KB、28KG、28KR之Y方向之長度相同，但開口部28KB之X方向之長度短於其他開口部28KG、28KR之X方向之長度。於各開口部28KB、28KG、28KR中，像素電極31B、31G、31R與上述發光功能層32相接之部分成為設計上之基本的發光區域(發光面積)。即，子像素18B中之發光面積與其他子像素18G、18R之發光面積相比變小。
配置於此種子像素18B、18G、18R之彩色濾光片36包含綠色(G)之著色層36G、紅色(R)之著色層36R、及無著色且透明之透明層36K、36T而構成。具體而言，對於排列於Y方向之複數個子像素18B而配置有透明層36T，對於複數個子像素18G而配置有著色層36G，對於複數個子像素18R而配置有著色層36R。即，透明層36T以與排列於Y方向之像素電極31B(開口部28KB)重疊之方式於Y方向延伸而呈條紋狀配置。著色層36G以與排列於Y方向之像素電極31G(開口部28KG)重疊之方式於Y方向延伸而呈條紋狀配置。同樣地，著色層36R以與排列於Y方向之像素電極31R(開口部28KR)重疊之方式於Y方向延伸而呈條紋狀配置。
於在X方向相鄰之子像素18B與子像素18G之交界，透明層36T與著色層36G重疊而配置。於在X方向相鄰之子像素18G與子像素18R之交界，以於Y方向延伸之方式配置有透明層36K。透明層36K之X方向之寬度較透明層36T之X方向之寬度更窄，於開口部28KG與開口部28KR之間，沿著子像素18G與子像素18R之交界(於圖3中由虛線表示)而配置有透明層36K。於在X方向相鄰之開口部28KG與開口部28KR之間，著色層36G與著色層36R相對於透明層36K而重疊配置。再者，亦可藉由將透明層36K配置於在Y方向相鄰之相同顏色之子像素18之交界(於俯視時亦可包含接觸部31CB、31CG、31CR之一部分或整體)，而於俯視時將透明層36K與透明層36T作為一體構造呈格子狀配置。
[子像素之構造]
其次，參照圖4及圖5，對有機EL裝置100中之子像素18之構造進行說明。
如圖4所示，有機EL裝置100具有隔著填充劑42而對向配置之元件基板10與保護基板40。填充劑42具有將元件基板10與保護基板40接著之作用，且係由具有透光性之例如環氧樹脂或丙烯酸樹脂等構成。
元件基板10具有基板本體11及於基板本體11上在Z方向依序積層之反射層25、透光層26、有機EL元件30、密封層34、及彩色濾光片36。
基板本體11例如為矽等半導體基板，於基板本體11，使用公知技術形成有上述之掃描線12、資料線13、電源線14、資料線驅動電路15、掃描線驅動電路16、及像素電路20(開關用電晶體21、儲存電容22、及驅動用電晶體23)等(參照圖2)。於圖4中，省略了該等配線或電路構成之圖示。
再者，基板本體11並不限定於矽等半導體基板，亦可為例如石英或玻璃等基板。換言之，構成像素電路20之電晶體既可為於半導體基 板具有主動層之MOS(Metal Oxide Semiconductor，金屬氧化物半導體)型電晶體，亦可為形成於石英或玻璃等基板之薄膜電晶體或場效電晶體。
反射層25係跨及子像素18B、18G、18R而配置，且使自各子像素18B、18G、18R之有機EL元件30B、30G、30R發出之光反射者。作為反射層25之形成材料，較佳為使用能夠實現較高之反射率之例如鋁或銀等。反射層25之可見光波長範圍中之光之反射率較佳為至少40%以上，更佳為80%以上。
於反射層25上設置著有機EL元件30。有機EL元件30包含於Z方向依序積層之像素電極31、發光功能層32、及對向電極33而構成。像素電極31例如係由ITO(Indium Tin Oxide，氧化銦錫)膜等透明導電膜構成，且於每個子像素18形成為島狀。於本實施形態中，像素電極31之可見光波長範圍中之光之透過率較佳為50%以上，更佳為80%以上。
以覆蓋各像素電極31B、31G、31R之周緣部之方式配置有絕緣膜28。如上所述，絕緣膜28係於像素電極31B上形成有開口部28KB，於像素電極31G上形成有開口部28KG，於像素電極31R上形成有開口部28KR。此種絕緣膜28包含例如氧化矽等。
發光功能層32以跨及子像素18B、18G、18R而覆蓋顯示區域E之全域之方式配置。發光功能層32具有於Z方向依序積層之例如電洞注入層、電洞傳輸層、有機發光層、及電子傳輸層等。有機發光層發出自藍色至紅色之波長範圍之光。有機發光層既可由單層構成，例如，亦可由包含藍色發光層、綠色發光層、紅色發光層或者包含藍色發光層及黃色發光層之複數層構成，該黃色發光層可獲得包含紅色(R)及綠色(G)之波長範圍之發光。
對向電極33以覆蓋發光功能層32之方式配置。對向電極33包括例如鎂與銀之合金等，以具有透光性與光反射性。可見光波長範圍中 之對向電極33之光之透過率較佳為20%以上，更佳為30%以上。又，對向電極33之光之反射率較佳為20%以上，更佳為50%以上。
覆蓋對向電極33之密封層34包括於Z方向依序積層之第1密封層34a、平坦化層34b、及第2密封層34c。
第1密封層34a及第2密封層34c係由使用例如電漿CVD(Chemical Vapor Deposition，化學氣相沈積)法等而形成之例如氮氧化矽構成，且具有對水分或氧氣較高之阻隔性。
平坦化層34b係由例如環氧系樹脂或塗佈型之無機材料(矽氧化物等)等構成。平坦化層34b被覆第1密封層34a之成膜時之缺陷(針孔、裂痕)或異物等，且形成平坦之面。
作為密封層34之阻氣性，只要為能夠保護有機EL元件30免受大氣中之氧及水分等傷害之程度則並不特別限定，氧透過度較佳為0.01cc/m2/day以下。又，水蒸氣透過度較佳為7×10-3g/m2/day以下，更佳為5×10-6g/m2/day以下。密封層34之光之透過率較佳為相對於來自對向電極33之射出光為80%以上。密封層34覆蓋有機EL元件30，且設置於元件基板10之大致整個面。再者，於密封層34設置有使外部連接用端子103(參照圖1)露出之開口(省略圖示)。
於基板本體11上在反射層25與有機EL元件30之像素電極31之間設置有透光層26。透光層26係由第1絕緣膜26a、第2絕緣膜26b、及第3絕緣膜26c構成。第1絕緣膜26a於反射層25上跨及子像素18B、18G、18R而配置。第2絕緣膜26b積層於第1絕緣膜26a，且跨及子像素18G與子像素18R而配置。第3絕緣膜26c積層於第2絕緣膜26b，且配置於子像素18R。
即，子像素18B之透光層26係由第1絕緣膜26a構成，子像素18G之透光層26係由第1絕緣膜26a與第2絕緣膜26b構成，子像素18R之透光層26係由第1絕緣膜26a、第2絕緣膜26b、及第3絕緣膜26c構成。其 結果，反射層25與對向電極33之間之光學距離按照子像素18B、子像素18G、子像素18R之順序變大。再者，光學距離可由存在於反射層25與對向電極33之間的各層之折射率與膜厚之積之合計來表示。
[光共振構造]
由發光功能層32發出之光於反射層25與對向電極33之間重複反射，反射層25與對向電極33之間之光學距離所對應之特定波長(共振波長)之光之強度被放大，且作為顯示光自保護基板40向Z方向射出。
於本實施形態中，透光層26具有調整反射層25與對向電極33之間之光學距離之作用。於子像素18B中，以共振波長(亮度成為最大之峰值波長)成為例如470nm之方式設定透光層26之膜厚。於子像素18G中，以共振波長成為例如540nm之方式設定透光層26之膜厚。於子像素18R中，以共振波長成為例如610nm之方式設定透光層26之膜厚。
其結果，自子像素18B發出以470nm為峰值波長之藍色光(B)，自子像素18G發出以540nm為峰值波長之綠色光(G)，自子像素18R發出以610nm為峰值波長之紅色光(R)。換言之，有機EL裝置100具有將特定波長之光之強度放大之光共振構造，於子像素18B中自發光功能層32發出之白色光提取藍色之光成分，於子像素18G中自發光功能層32發出之白色光提取綠色之光成分，於子像素18R中自發光功能層32發出之白色光提取紅色之光成分。
於此種子像素18B、18G、18R中，於密封層34上配置有彩色濾光片36。於子像素18B之有機EL元件30B隔著密封層34而配置有透明層36T。因此，以470nm為峰值波長之藍色光(B)幾乎不會降低亮度而自保護基板40射出。
相對於此，於子像素18G之有機EL元件30G隔著密封層34而配置有著色層36G，於子像素18R之有機EL元件30R隔著密封層34而配置有著色層36R。因此，以540nm為峰值波長之綠色光(G)因透過著色層 36G而色純度提高，以610nm為峰值波長之紅色光(R)因透過著色層36R而色純度提高。另一方面，綠色光(G)或紅色光(R)因透過著色層而亮度降低。
如上所述，子像素18B中之開口部28KB之大小小於其他子像素18G、18R之開口部28KG、28KR之大小。即，子像素18B中之設計上之發光面積小於其他子像素18G、18R之設計上之發光面積。自子像素18發出之光之亮度依賴於發光面積。因此，即便使子像素18B之發光面積相對於具有著色層之子像素18G、18R之發光面積較小，由於在子像素18B不配置著色層而配置有透明層36T，故而亦可抑制亮度之降低。換言之，即便使有機EL元件30B中之電流量少於其他有機EL元件30G、30R，亦能夠實現同等之亮度。又，亦可藉由減少有機EL元件30B中之電流量，而減少有機EL裝置100中之消耗電力。
[像素電極之接觸部]
於本實施形態中，使用矽等半導體基板作為元件基板10之基板本體11。構成像素電路20之開關用電晶體21或驅動用電晶體23係MOS型電晶體。具體而言，如圖5所示，於基板本體11，設置有井部10W及離子注入部10D，該井部10W係藉由將離子注入至半導體基板而形成，該離子注入部10D係藉由將與井部10W不同種類之離子注入至井部10W而形成之主動層。井部10W作為像素電路20中之電晶體21、23之通道而發揮功能。離子注入部10D作為像素電路20中之電晶體21、23之源極、汲極或配線之一部分而發揮功能。再者，於圖5中，表示有作為驅動用電晶體23之汲極而發揮功能之離子注入部10D與井部10W。
覆蓋形成有離子注入部10D及井部10W之基板本體11而形成絕緣膜10a。絕緣膜10a係作為像素電路20中之電晶體21、23之閘極絕緣膜而發揮功能者。
於基板本體11上，於絕緣膜10a與反射層25之間依序積層有3個層間絕緣膜10e、10f、10g。於設置有層間絕緣膜10e、10f、10g之複數個配線層中，設置有上述掃描線12、資料線13、電源線14、或者儲存電容22。
於使驅動用電晶體23與有機EL元件30之像素電極31電性連接之接觸部中，於像素電極31之下層設置有中繼層。中繼層係將反射層25圖案化成島狀而形成者。具體而言，於子像素18B之像素電極31B之下層設置有中繼層25B，於子像素18G之像素電極31G之下層設置有中繼層25G，於子像素18R之像素電極31R之下層設置有中繼層25R。
像素電極31B係以被覆貫通第1絕緣膜26a到達中繼層25B之接觸孔之內部之方式形成，且電性連接於中繼層25B。中繼層25B係藉由填埋貫通層間絕緣膜10e、10f、10g及絕緣膜10a到達驅動用電晶體23之汲極(離子注入部10D)之接觸孔之導電構件，而電性連接於驅動用電晶體23。
像素電極31G係以被覆貫通第1絕緣膜26a及第2絕緣膜26b到達中繼層25G之接觸孔之內部之方式形成，且電性連接於中繼層25G。像素電極31R係以被覆貫通第1絕緣膜26a及第2絕緣膜26b以及第3絕緣膜26c到達中繼層25R之接觸孔之內部之方式形成，且電性連接於中繼層25R。
中繼層25G及中繼層25R之各者均係藉由填埋貫通層間絕緣膜10e、10f、10g及絕緣膜10a到達驅動用電晶體23之汲極(離子注入部10D)之接觸孔之導電構件，而電性連接於驅動用電晶體23。
以此方式形成之像素電極31B之接觸部31CB、像素電極31G之接觸部31CG、像素電極31R之接觸部31CR於在透光層26形成有接觸孔之部分產生凹凸。以覆蓋此種接觸部31CB、31CG、31CR之方式形成有絕緣膜28。即，於接觸部31CB、31CG、31CR與對向電極33之間存 在絕緣膜28與發光功能層32。難以自包含由絕緣膜28覆蓋之接觸部31CB、31CG、31CR之像素電極31B、31G、31CR之部分向發光功能層32注入電洞，於設置有接觸部31CB、31CG、31CR之部分基本上不會產生發光。
其次，參照圖6~圖8，對於有機EL裝置100中用以自保護基板40側有效率地提取顯示光之子像素18之構造進行說明。
圖6係沿著圖1之H-H'線之有機EL裝置之概略剖視圖，圖7及圖8係表示相鄰之子像素之交界之元件基板之構造的剖視圖。詳細而言，圖7係表示子像素18R與子像素18B之交界之元件基板10之構造之剖視圖，圖8係表示子像素18B與子像素18G之交界之元件基板10之構造之剖視圖。
再者，圖6係將有機EL裝置100之構造簡化表示之剖視圖，且圖示了元件基板10之構成要素中之有機EL元件30、密封層34及彩色濾光片36，省略了元件基板10之其他構成要素之圖示。於圖7及圖8中，將元件基板10放大而圖示，省略了填充劑42及保護基板40之圖示。
如圖6所示，因保護基板40與大氣71之折射率之差，而由有機EL元件30發出之光L1之大部分作為光L2(折射光)自保護基板40向大氣71之側射出。同樣地，因保護基板40與大氣71之折射率之差，而由有機EL元件30發出之光L1之一部分於保護基板40與大氣71之界面反射，作為光L3(反射光)朝向元件基板10之側。
若將光L1與Z方向所成之角度設為θ1，將光L2與Z方向所成之角度設為θ2，將保護基板40之折射率設為n1，將大氣71之折射率設為n2，則藉由斯奈爾定律而以下所示之式(1)成立。
n1sinθ1=n2sinθ2 (1)
根據式(1)，光L1與Z方向所成之角度θ1由以下所示之式(2)表示。
θ1=sin-1((n2sinθ2)/n1) (2)
光L2與Z方向所成之角度θ2大於90度之條件相當於光L1不向大氣71之側射出之條件，即光L1於保護基板40與大氣71之界面全反射之條件。即，於式(2)中角度θ2為90度之情形時之角度θ1成為於保護基板40與大氣71之界面產生光L1之全反射之臨界角α。
若將保護基板40之折射率n1(n1≒1.4~1.5)、大氣71之折射率n2(n2≒1.0)、及產生全反射之情形時之角度θ2(90度)代入至式(2)，則可求出於保護基板40與大氣71之界面產生光L1之全反射之臨界角α。本實施形態中之臨界角α大致為45度。
於光L1與Z方向所成之角度θ1為臨界角α(大致45度)之情形時，光L1於保護基板40與大氣71之界面全反射，作為光L3(反射光)朝向元件基板10之側。
即，於角度θ1小於臨界角α之情形時，由有機EL元件30發出之光L1之大部分作為光L2自保護基板40向大氣71射出，於保護基板40與大氣71之界面反射並朝向元件基板10之側之光L3變少。即，可將來自有機EL元件30之發光有效率地提取。
另一方面，於角度θ1與臨界角α相等或大於臨界角α之情形時，由有機EL元件30發出之光L1於保護基板40與大氣71之界面全反射，並朝向元件基板10之側。即，光L3之強度變強而無法將光L1高效率地提取。
再者，光L1與Z方向所成之角度θ1和光L3與Z方向所成之角度相同。例如，於角度θ1為臨界角α(45度)之情形時與Z方向所成之角度為臨界角α(45度)之光L3朝向元件基板10之側，於角度θ1為70度之情形時與Z方向所成之角度為70度之光L3朝向元件基板10之側。
於保護基板40與大氣71之界面反射之光L3若入射至絕緣膜28之開口部之端部，則有於絕緣膜28之開口部之端部反射，朝向Z方向之 側，對顯示造成不良影響之虞。
詳細而言，由於角度θ1與臨界角α相同或大於臨界角α之情形時之光L3之亮度較角度θ1小於臨界角α之情形時之光L3特別大，故而若全反射之光L3入射至絕緣膜28之開口部之端部，則對顯示造成之不良影響變大。
於子像素18G及子像素18R中，絕緣膜28之開口部28KG、28KR之端部與著色層36G、36R重疊(參照圖3)。於保護基板40與大氣71之界面反射之光L3通過著色層36G、36R之中，光之亮度減弱而入射至絕緣膜28之開口部28KG、28KR之端部，故而對顯示造成不良影響之虞較少。
於未設置著色層之子像素18B中，絕緣膜28之開口部28KB之端部與透明層36T重疊(參照圖3)，故而與子像素18G及子像素18R相比，有若於保護基板40與大氣71之界面反射之光L3入射至絕緣膜28之開口部28KB之端部則對顯示造成不良影響之虞。如上所述，於子像素18B中，若角度θ1與臨界角α相同或大於臨界角α之情形時之全反射之光L3入射至絕緣膜28之開口部28KB之端部，則對顯示造成之不良影響變大。
於本實施形態中，以減小子像素18B中之光L3對顯示之不良影響之方式，設定綠色之著色層36G及紅色之著色層36R之膜厚。以下，參照圖7及圖8對其詳細情況進行說明。
於圖7中，於與Z方向所成之角度θ1為臨界角α(大致45度)之情形時，對於保護基板40與大氣71之界面反射之光標註符號L3A。於與Z方向所成之角度θ1大於臨界角α(大致45度)之情形時，對於保護基板40與大氣71之界面反射之光標註符號L3B。
即，於圖7中，光L3A與Z方向所成之角度為大致45度，光L3B與Z方向所成之角度大於大致45度。
如圖7所示，於子像素18R與子像素18B之交界配置有透明層36T，進而於子像素18R之側以覆蓋透明層36T之一部分之方式配置有著色層36R。若光L3A及光L3B通過著色層36R之中，入射至開口部28KB之端部28a，則光L3A及光L3B之亮度減弱，於絕緣膜28之開口部28KB之端部28a反射之光對顯示造成不良影響之虞變少。
由於光L3A與Z方向所成之角度為臨界角α(大致45度)，故而若使著色層36R之膜厚(Z方向尺寸)RD1大於著色層36R之端部R1與開口部28KB之端部28a之間隔(X方向尺寸)RD2，則光L3A確實地通過著色層36R，入射至開口部28KB之端部28a。進而，於著色層36R之膜厚(Z方向尺寸)RD1大於上述間隔RD2之條件下，與Z方向所成之角度大於臨界角α(大致45度)之光L3B亦確實地通過著色層36R，入射至開口部28KB之端部28a。
因此，光L3A及光L3B被著色層36R吸收，入射至絕緣膜28之開口部28KB之端部28a之光L3A及光L3B之亮度減弱，故而於絕緣膜28之開口部28KB之端部28a反射之光對顯示造成不良影響之虞變少。
因此，於本實施形態中，著色層36R之膜厚RD1大於著色層36R之端部R1與開口部28KB之端部28a之間隔RD2。即，著色層36R之膜厚RD1大於上述間隔RD2者較佳。
同樣地，如圖8所示，若使綠色之著色層36G之膜厚(Z方向尺寸)GD1大於著色層36G之端部G1與開口部28KB之端部28a之間隔(X方向尺寸)GD2，則光L3A確實地通過著色層36G，入射至開口部28KB之端部28a。進而，於著色層36G之膜厚(Z方向尺寸)GD1大於上述間隔(X方向尺寸)GD2之條件下，與Z方向所成之角度大於臨界角α(大致45度)之光L3B亦確實地通過著色層36G，入射至開口部28KB之端部28a。
因此，光L3A及光L3B被著色層36G吸收，入射至絕緣膜28之開 口部28KB之端部28a之光L3A及光L3B之亮度減弱，故而於絕緣膜28之開口部28KB之端部28a反射之光對顯示造成不良影響之虞變少。
因此，於本實施形態中，著色層36G之膜厚GD1大於著色層36G之端部G1與開口部28KB之端部28a之間隔GD2。即，著色層36G之膜厚GD1大於上述間隔GD2者較佳。
<有機EL裝置之製造方法>
其次，參照圖9~圖16，對本實施形態之有機EL裝置100之製造方法進行說明。圖9係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之流程圖，圖10~圖16係表示第1實施形態之有機EL裝置之製造方法之概略剖視圖。圖10~圖16係與表示有機EL裝置之構造之圖4對應之概略剖視圖。
再者，於本實施形態之有機EL裝置100之製造方法中，於基板本體11上形成有機EL元件30之方法如上所述使用公知技術，故而對密封層34之形成步驟以後之步驟進行說明。
如圖9所示，本實施形態之有機EL裝置100之製造方法包含密封層形成步驟(步驟S1)、透明層形成步驟(步驟S2)、著色層形成步驟(步驟S3)、填充劑塗佈步驟(步驟S4)、保護基板貼附步驟(步驟S5)。包含透明層形成步驟(步驟S2)與著色層形成步驟(步驟S3)之步驟係彩色濾光片形成步驟。
於步驟S1之密封層形成步驟中，如圖10所示，形成覆蓋發光功能層32及對向電極33跨及子像素18B、18G、18R而形成之有機EL元件30即有機EL元件30B、30G、30R之密封層34。具體而言，首先，例如利用電漿CVD法使氮氧化矽沈積，形成覆蓋有機EL元件30之第1密封層34a。繼而，例如使用旋轉塗佈法，塗佈包含環氧樹脂或無機材料(矽氧化物)等之溶液，使之乾燥(固化)而形成平坦化層34b。然後，例如利用電漿CVD法使氮氧化矽沈積，形成第2密封層34c。包含 氮氧化矽之第1密封層34a及第2密封層34c之各者之膜厚例如為200nm~400nm。平坦化層34b之膜厚例如為1μm~3μm。
平坦化層34b係由較第1密封層34a更柔軟之材料構成，不易產生裂痕，可較厚地形成。例如，於在第1密封層34a存在使其產生缺陷之異物之情形時，該異物被平坦化層34b填埋(被覆)，不會對繼而形成之第2密封層34c造成不良影響。即，即便於第1密封層34a產生針孔或裂痕等缺陷，該缺陷亦被平坦化層34b被覆，不易於第2密封層34c產生針孔或裂痕等缺陷。
再者，第1密封層34a、平坦化層34b、及第2密封層34c係以構成發光功能層32之各層之玻璃轉移點以下之溫度形成，以使發光功能層32不會熱劣化。然後，進入步驟S2。
於步驟S2之透明層形成步驟中，如圖11所示，首先，形成不包含有色材料之無著色且透明之感光性樹脂層36P。作為感光性樹脂層36P之形成方法，可列舉如下方法：例如利用旋轉塗佈法塗佈將具有優異之透光性之感光性丙烯酸系樹脂溶解於溶劑而成之溶液，使之乾燥而形成感光性樹脂層36P。再者，本實施形態中之感光性丙烯酸系樹脂為負型。然後，使用具有遮光部81之遮罩80曝光感光性樹脂層36P。於遮光部81，設置有與子像素18B對應之開口81a、及於沿著子像素18G與子像素18R之交界之位置開口之開口81b。自光源發出之光通過開口81a與開口81b而將感光性樹脂層36P曝光。由於感光性樹脂層36P之被曝光之部分不溶解，故而使用例如專用之顯影液進行顯影，由此如圖12所示，於子像素18B中在密封層34上形成透明層36T。又，於沿著子像素18G與子像素18R之交界之位置形成透明層36K。顯影後之透明層36K、36T之剖面形狀為梯形狀。密封層34上之感光性樹脂層36P之厚度即透明層36K、36T之厚度(高度)較此後形成之著色層36G、36R薄，例如為0.8μm~1.2μm。再者，亦可使用正型 之感光性丙烯酸系樹脂形成透明層36K、36T。然後，進入步驟S3。
於步驟S3之著色層形成步驟中，形成子像素18G之著色層36G，於子像素18R形成著色層36R。具體而言，如圖13所示，首先，覆蓋密封層34上之透明層36K、36T形成包含綠色之有色材料之感光性樹脂層36PG。作為感光性樹脂層36PG之形成方法，可列舉如下方法：例如利用旋轉塗佈法塗佈將具有綠色之有色材料之感光性丙烯酸系樹脂溶解於溶劑而成之溶液，使之乾燥而形成感光性樹脂層36PG。如上所述，本實施形態中之感光性丙烯酸系樹脂為負型。然後，使用具有遮光部91之遮罩90曝光感光性樹脂層36PG。於遮光部91，設置有與子像素18G對應之開口91a。自光源發出之光通過開口91a而將感光性樹脂層36PG曝光。由於感光性樹脂層36PG之被曝光之部分不溶解，故而使用例如專用之顯影液進行顯影，由此如圖14所示，於子像素18G中在密封層34上形成著色層36G。繼而，如圖15所示，使用與著色層36G相同之形成方法形成著色層36R。著色層36G、36R之膜厚例如為1.0μm~2.0μm。藉此，於密封層34上，形成配置有著色層36G、36R及透明層36K、36T而成之彩色濾光片36。然後，進入步驟S4、步驟S5。再者，著色層之形成順序並不限定於此，亦可於形成著色層36R之後形成著色層36G。
於步驟S4之填充劑塗佈步驟中，如圖16所示，以覆蓋彩色濾光片36之方式塗佈填充劑42。作為填充劑42之塗佈方法，可列舉將未硬化之填充劑42自噴嘴噴出之點膠法、旋轉塗佈法、輥塗法等。填充劑42例如使用熱硬化型且於硬化後具有透光性之環氧樹脂或丙烯酸系樹脂。然後，於步驟S5之保護基板貼附步驟中，將保護基板40壓抵於經塗佈之填充劑42並使之熱硬化，從而將元件基板10與保護基板40貼合。
藉此，完成圖4所示之有機EL裝置100。再者，彩色濾光片形成 步驟中之顯影後之透明層36K、36T及著色層36G、36R之後烘烤或熱硬化型之填充劑42之硬化等熱處理係以發光功能層32之各層中之玻璃轉移點以下之溫度進行。
根據上述第1實施形態之有機EL裝置100及其製造方法，獲得以下之效果。
(1)於密封層34上，於子像素18G(子像素18R)形成著色層36G(著色層36R)，於子像素18B不形成著色層而形成透明層36T。因此，即便子像素18B之發光面積小於其他子像素18G、18R，亦可提供或製造子像素18B中之亮度之降低得到抑制而具有所期望之亮度之有機EL裝置100。
又，藉由使子像素18B之發光面積小於其他子像素18G、18R，而與發光面積相同之情形相比，可減小每單位面積之顯示單位即像素19之大小，故而可一面確保所期望之亮度一面實現像素19之高精細化。
(2)透明層36K、36T及著色層36G、36R係藉由將以感光性丙烯酸系樹脂為主成分之感光性樹脂層曝光、顯影而形成。又，於形成透明層36K、36T之後，形成著色層36G、36R。不包含有色材料之透明層36K、36T能夠實現較包含有色材料之著色層36G、36R更高之位置精度且高精細之形成。因此，藉由先形成透明層36K、36T，而以透明層36K、36T為基準形成著色層36G、36R，故而可以較高之位置精度形成著色層36G、36R。又，容易確保之後形成之著色層36G、36R之膜厚。即，可於子像素18G、18R中使來自有機EL元件30之發光確實地透過著色層36G、36R而射出。因此，可提供或製造能夠實現外觀較佳之彩色顯示之有機EL裝置100。
(3)由於在元件基板10隔著填充劑42而貼合保護基板40，故而可防止元件基板10中之彩色濾光片36或有機EL元件30之損傷。另外，有機EL元件30不僅藉由密封層34來保護而且亦藉由保護基板40來保 護，故而抑制氧或水分自外部滲入而對有機EL元件30之發光特性或發光壽命造成影響。即，可提供或製造具有穩定之發光特性或較長之發光壽命之有機EL裝置100。
(第2實施形態)
<有機EL裝置及其製造方法>
其次，參照圖17~圖19對第2實施形態之有機EL裝置進行說明。圖17係表示第2實施形態之有機EL裝置中之像素電極及彩色濾光片之配置之概略俯視圖，圖18係表示沿著圖17之C-C'線之子像素之構造之概略剖視圖，圖19係表示沿著圖17之D-D'線之像素電極之接觸部之構造之概略剖視圖。第2實施形態之有機EL裝置200係相對於上述第1實施形態之有機EL裝置100使子像素18中之尤其彩色濾光片36之構成不同者，對於與有機EL裝置100相同之構成標註相同之符號而省略詳細之說明。
如圖17所示，本實施形態之有機EL裝置200具有於X方向與Y方向呈矩陣狀配置之複數個子像素18。於子像素18分別配置著有機EL元件30之像素電極31。具體而言，於沿X方向排列之子像素18B配置著有機EL元件30B之像素電極31B，於子像素18G配置著有機EL元件30G之像素電極31G，於子像素18R配置著有機EL元件30R之像素電極31R。像素電極31B、31G、31R之各者於俯視時為長方形，且長邊方向沿著Y方向而配置。於本實施形態中，像素電極31B、31G、31R之Y方向之長度相同。又，像素電極31B、31G之X方向之長度短於像素電極31R之X方向之長度。
於各像素電極31之Y方向上之一端側(於圖17中為上方之端側)，設置有實現像素電極31與上述驅動用電晶體23之電性連接之接觸部。具體而言，於像素電極31B設置有接觸部31CB，於像素電極31G設置有接觸部31CG，於像素電極31R設置有接觸部31CR。
像素電極31B、31G、31R之各者成為藉由利用絕緣膜28覆蓋而相互絕緣之狀態。具體而言，絕緣膜28係以覆蓋像素電極31B、31G、31R中之包含接觸部31CB、31CG、31CR之各周緣部之方式設置。藉此，於像素電極31B、31G、31R之各者中，於除了接觸部31CB、31CG、31CR以外之像素電極31B、31G、31R上形成有於俯視時為長方形之開口部28KB、28KG、28KR。再者，開口部28KB、28KG、28KR之形狀並不限定於長方形。
於本實施形態中，開口部28KB、28KG、28KR之Y方向之長度相同，但開口部28KB、28KG之X方向之長度短於開口部28KR之X方向之長度。即，子像素18B、18G中之發光面積與子像素18R之發光面積相比變小。
配置於此種子像素18B、18G、18R之彩色濾光片36包含紅色(R)之著色層36R、無著色且透明之透明層36T而構成。具體而言，跨及於X方向相鄰之子像素18B與子像素18G而配置有透明層36T，對於在Y方向排列之複數個子像素18R而配置有著色層36R。即，透明層36T以與於X方向相鄰之像素電極31B(開口部28KB)及像素電極31G(開口部28KG)重疊之方式呈島狀配置。又，透明層36T以不覆蓋接觸部31CB與接觸部31CG之方式呈島狀配置。著色層36R以與於Y方向排列之像素電極31R(開口部28KR)重疊之方式於Y方向延伸而呈條紋狀配置，且以覆蓋於X方向排列之接觸部31CB、31CG、31CR之方式配置。
於相對於子像素18R於X方向相鄰之子像素18B及子像素18G之交界，透明層36T與著色層36R重疊而配置。
如圖18所示，有機EL裝置200係採用如下之頂部發光方式：具有隔著填充劑42而對向配置且貼合之元件基板210與保護基板40，且使來自元件基板210之子像素18之發光自保護基板40側射出。
於元件基板210之基板本體11上，依序形成有反射層25、透光層26、有機EL元件30、密封層34、彩色濾光片36。有機EL裝置200亦與上述第1實施形態之有機EL裝置100同樣地，於子像素18採用光共振構造。即，藉由使反射層25與像素電極31之間之透光層26之膜厚針對每個子像素18B、18G、18R不同，而自子像素18B發出以470nm為峰值波長之藍色光(B)，自子像素18G發出以540nm為峰值波長之綠色光(G)，自子像素18R發出以610nm為峰值波長之紅色光(R)。
於覆蓋有機EL元件30之密封層34上，跨及相鄰之子像素18B與子像素18G而配置有透明層36T。又，與子像素18R對應而配置有著色層36R。
又，如圖19所示，於覆蓋使像素電極31B、31G、31R之各者與驅動用電晶體23電性連接之接觸部31CB、31CG、31CR之密封層34上，以跨及接觸部31CB、31CG、31CR之方式配置有著色層36R。
具有具備此種彩色濾光片36之子像素18之有機EL裝置200之製造方法使用與上述第1實施形態之有機EL裝置100之製造方法基本上相同之方法。但是，於步驟S2之透明層形成步驟中，跨及於X方向相鄰之子像素18B與子像素18G而形成透明層36T。於步驟S3之著色層形成步驟中，對於子像素18R形成著色層36R，並且以覆蓋接觸部31CB、31CG、31CR之方式形成著色層36R。其他步驟相同。
根據上述第2實施形態之有機EL裝置200及其製造方法，除了上述第1實施形態之效果(2)、(3)以外，還可獲得以下之效果。
(4)於密封層34上，於子像素18R形成著色層36R，於子像素18B、18G不形成著色層而形成透明層36T。因此，即便子像素18B、18G之發光面積小於子像素18R，亦可提供或製造抑制子像素18B、18G中之亮度之降低而具有所期望之亮度之有機EL裝置200。
(5)藉由於發光面積較小之子像素18B、18G配置透明層36T，而 能夠一面確保子像素18B、18G中之亮度，一面較有機EL元件30R進一步抑制流通於有機EL元件30B、30G之電流量。因此，可提供或製造使消耗電力較上述第1實施形態之有機EL裝置100進一步降低之有機EL裝置200。
(6)如上述第1實施形態中所說明般，雖然接觸部31CB、31CG、31CR由絕緣膜28覆蓋，但是於其表面產生凹凸。若光自發光區域入射至此種接觸部31CB、31CG、31CR，則容易產生散射。即便產生此種散射光，於上述第2實施形態中，由於在接觸部31CB、31CG、31CR之上層配置有著色層36R，故而亦可藉由著色層36R而吸收散射光。即，可降低接觸部31CB、31CG、31CR中之散射光之影響，從而可實現外觀較佳之彩色顯示。尤其較佳為，將能夠吸收可見度較高之綠色之光的紅色之著色層36R(或藍色之著色層36B)配置於接觸部31CB、31CG、31CR之上層。
(第3實施形態)
<有機EL裝置及其製造方法>
其次，參照圖20及圖21對第3實施形態之有機EL裝置進行說明。圖20係表示第3實施形態之有機EL裝置中之像素電極及彩色濾光片之配置之概略俯視圖，圖21係表示沿著圖20之F-F'線之子像素之構造之概略剖視圖。第3實施形態之有機EL裝置300係相對於上述第1實施形態之有機EL裝置100而使子像素18之配置與彩色濾光片36之構成不同者，對於與有機EL裝置100相同之構成標註相同之符號而省略詳細之說明。
如圖20所示，本實施形態之有機EL裝置300具有於X方向與Y方向呈矩陣狀配置之複數個子像素18。於Y方向排列有複數個子像素18G，與子像素18G並排地將子像素18B與子像素18G於Y方向交替地排列。成為如下狀態：於X方向上與子像素18B之兩側相鄰而配置有 子像素18G，同樣地於X方向上與子像素18R之兩側相鄰而配置有子像素18G。於有機EL裝置300中，藉由於Y方向排列之2個子像素18G及與其並排之子像素18B及子像素18R而構成顯示單位，進行彩色顯示。此種子像素18之配置被稱為Pentile方式。藉由使可見度較高之綠色之子像素18G之數量於顯示單位中較其他子像素18B、18R之數量增加，而能夠模擬地進行高精細之顯示。
於子像素18，分別配置著有機EL元件30之像素電極31。具體而言，於沿X方向排列之子像素18B配置著有機EL元件30B之像素電極31B，於子像素18G配置著有機EL元件30G之像素電極31G，於子像素18R配置著有機EL元件30R之像素電極31R。像素電極31B、31G、31R之各者於俯視時為長方形，且長邊方向沿著Y方向而配置。於本實施形態中，像素電極31B、31G、31R之Y方向之長度相同。又，像素電極31G之X方向之長度短於像素電極31B、31R之X方向之長度。
於各像素電極31之Y方向上之一端側(於圖20中為上方之端側)，設置有實現像素電極31與上述驅動用電晶體23之電性連接之接觸部。具體而言，於像素電極31B設置有接觸部31CB，於像素電極31G設置有接觸部31CG，於像素電極31R設置有接觸部31CR。
像素電極31B、31G、31R之各者成為藉由利用絕緣膜28覆蓋而相互絕緣之狀態。具體而言，絕緣膜28係以覆蓋像素電極31B、31G、31R中之包含接觸部31CB、31CG、31CR之各周緣部之方式設置。藉此，於像素電極31B、31G、31R之各者中，於除了接觸部31CB、31CG、31CR以外之像素電極31B、31G、31R上形成有於俯視時為長方形之開口部28KB、28KG、28KR。再者，開口部28KB、28KG、28KR之形狀並不限定於長方形。
於本實施形態中，開口部28KB、28KG、28KR之Y方向之長度相同，但開口部28KG之X方向之長度短於開口部28KB、28KR之X方向 之長度。開口部28KB與開口部28KR之X方向之長度相同。即，子像素18G中之發光面積與子像素18B、18R之發光面積相比變小。子像素18B與子像素18R之發光面積相同。
配置於此種子像素18B、18G、18R之彩色濾光片36包含藍色(B)之著色層36B、紅色(R)之著色層36R、及無著色且透明之透明層36T而構成。具體而言，於在Y方向排列之子像素18G配置有透明層36T，對於子像素18B配置有著色層36B，對於子像素18R配置有著色層36R。透明層36T以與像素電極31G(開口部28KG)重疊之方式呈島狀配置。又，透明層36T以不覆蓋接觸部31CG之方式呈島狀配置。著色層36B以與像素電極31B(開口部28KB)重疊之方式配置。又，著色層36B以不覆蓋接觸部31CB之方式呈島狀配置。著色層36R以與於Y方向排列之像素電極31R(開口部28KR)重疊之方式配置，且以覆蓋於X方向排列之接觸部31CB、31CG、31CR之方式配置。
於相對於子像素18G於X方向相鄰之子像素18B及子像素18R之交界，透明層36T之一端部與著色層36B重疊，透明層36T之另一端部與著色層36R重疊而配置。
如圖21所示，有機EL裝置300係採用如下之頂部發光方式：具有隔著填充劑42而對向配置並貼合之元件基板310與保護基板40，且使來自元件基板310之子像素18之發光自保護基板40側射出。
於元件基板310之基板本體11上，依序形成有反射層25、透光層26、有機EL元件30、密封層34、彩色濾光片36。有機EL裝置300亦與上述第1實施形態之有機EL裝置100同樣地，於子像素18採用光共振構造。即，藉由使反射層25與像素電極31之間之透光層26之膜厚針對每個子像素18B、18G、18R不同，而自子像素18B發出以470nm為峰值波長之藍色光(B)，自子像素18G發出以540nm為峰值波長之綠色光(G)，自子像素18R發出以610nm為峰值波長之紅色光(R)。
於覆蓋有機EL元件30之密封層34上，與子像素18G對應而配置有透明層36T。又，與子像素18B對應而配置有著色層36B，與子像素18R對應而配置有著色層36R。
具有具備此種彩色濾光片36之子像素18之有機EL裝置300之製造方法係使用與上述第1實施形態之有機EL裝置100之製造方法基本上相同之方法。但是，於步驟S2之透明層形成步驟中，於子像素18G形成透明層36T。於步驟S3之著色層形成步驟中，對於子像素18R形成著色層36R，並且以覆蓋接觸部31CB、31CG、31CR之方式形成著色層36R。然後，對於子像素18B形成著色層36B。其他步驟相同。
根據上述第3實施形態之有機EL裝置300及其製造方法，除了上述第1實施形態之效果(2)、(3)與上述第2實施形態之效果(6)以外，還可獲得以下之效果。
(7)於密封層34上，於子像素18B形成著色層36B，於子像素18R形成著色層36R，於子像素18G不形成著色層而形成透明層36T。因此，即便子像素18G之發光面積小於子像素18B或子像素18R，亦可提供或製造抑制子像素18G中之亮度之降低而具有所期望之亮度之Pentile方式之有機EL裝置300。
(8)藉由於發光面積較小之子像素18G配置透明層36T，而能夠一面確保子像素18G中之亮度，一面較有機EL元件30B、30R進一步抑制流通於有機EL元件30G之電流量。因此，與於子像素18G配置著色層36G之情形時相比，可提供或製造降低消耗電力之Pentile方式之有機EL裝置300。
於本發明中，配置透明層36T之子像素18係基於以下所示之(a)至(d)中之至少一個技術思想而選擇。
(a)即便不配置著色層而提取之光成分之色純度亦較其他子像素優異之子像素18。
(b)有機EL元件30(發光功能層32)之發光壽命較其他子像素短之子像素18。
(c)有機EL元件30(發光功能層32)之發光面積較其他子像素18小之子像素18。
(d)欲使流通於有機EL元件30(發光功能層32)之電流密度較其他子像素少之子像素18。換言之，有機EL元件30(發光功能層32)之發光面積較其他子像素18大之子像素18。
即便對於上述(a)~(d)之子像素18不配置透明層36T，亦能夠達成上述實施形態中之效果中之至少1個，但於不配置透明層36T之情形時，有如下之虞：於將元件基板10與保護基板40隔著填充劑42而貼合時，於未配置透明層36T之子像素18中，無法將填充劑42充分地填充而以包含氣泡之狀態將元件基板10與保護基板40貼合。若於子像素18中於發光區域包含氣泡，則因氣泡使發光散射而導致光學特性之降低。相對於此，於上述實施形態中，由於配置透明層36T，故而獲得可避免以包含氣泡之狀態將元件基板10與保護基板40貼合之效果。
又，於顯示單位之像素中，隨著代替著色層而配置透明層36T之子像素18增加，而彩色濾光片形成步驟中之曝光、顯影之負載減少。藉此，覆蓋有機EL元件30之密封層34與顯影液或清洗液等接觸之機會減少，故而氧或水分等滲入至有機EL元件30之情況減少。因此，亦獲得於有機EL裝置中可實現優異之發光特性或發光壽命之效果。
(第4實施形態)
<電子機器>
其次，作為本實施形態之具備有機EL裝置之電子機器，列舉頭戴式顯示器(HMD)為例，並參照圖22進行說明。
圖22係作為電子機器之一例之頭戴式顯示器之概略圖。
如圖22所示，頭戴式顯示器1000具有與左右之眼睛對應而設置 之2個顯示部1001。觀察者M將頭戴式顯示器1000如眼鏡般配戴於頭部，藉此可觀察顯示於顯示部1001之文字或圖像等。例如，若於左右之顯示部1001顯示考慮有視差之圖像，則亦可觀察並欣賞立體之影像。
於顯示部1001，搭載有上述第1實施形態至第3實施形態之有機EL裝置之任一者。於上述實施形態中，將獲得不同之發光色之子像素18B、18G、18R中任一者之著色層省略而配置有透明層36T。因此，藉由於顯示部1001搭載上述實施形態之有機EL裝置，可提供實現子像素18中之所期望之亮度，具有優異之顯示品質，並且降低消耗電力之頭戴式顯示器1000。
再者，搭載有上述第1實施形態至第3實施形態之有機EL裝置之電子機器並不限定於頭戴式顯示器1000。例如，亦可搭載於平視顯示器(HUD)、或數位相機之電子取景器(EVF)、可攜式資訊終端、導航儀等具有顯示部之電子機器。
本發明並不限定於上述之實施形態，可於不違反自申請專利範圍及說明書整體讀取之發明之主旨或思想之範圍內進行適當變更，伴隨此種變更之有機EL裝置及該有機EL裝置之製造方法以及應用該有機EL裝置之電子機器亦包含於本發明之技術性範圍。除了上述實施形態以外亦考慮各種變化例。以下，列舉變化例進行說明。
(變化例1)Pentile方式之子像素18之配置並不限定於上述第3實施形態之有機EL裝置300中之子像素18之配置。圖23係表示變化例之有機EL裝置中之子像素之配置之概略俯視圖。如圖23所示，變化例之有機EL裝置400具有於X方向與Y方向呈矩陣狀配置之複數個子像素18。包含於X方向將子像素18R與子像素18G交替地配置之G、R列、及於X方向將子像素18B與子像素18W交替地配置之B、W列，且將G、R列與B、W列於Y方向交替地排列。於子像素18B配置著色層 36B，於子像素18G配置著色層36G，於子像素18R配置著色層36R。於子像素18W將透明層36T呈島狀配置。自子像素18B射出藍色光(B)，自子像素18G射出綠色光(G)，自子像素18R射出紅色光(R)。自子像素18W射出白色光(W)。
於變化例之有機EL裝置400中，藉由4個子像素18B、18G、18R、18W而構成顯示單位，進行彩色顯示。再者，各子像素18B、18G、18R、18W中之像素電極31B、31G、31R、31W之開口部28KB、28KG、28KR、28KW之大小可適當設定。又，成為如下構成：自配置於子像素18B、18G、18R、18W之有機EL元件30B、30G、30R、30W之發光功能層32獲得白色發光。藉此，由於具備提取白色發光之子像素18W，故而能夠實現更明亮之顯示。
(變化例2)於自上述第1實施形態至上述第3實施形態之有機EL裝置中，光共振構造並不限定於使透光層26之膜厚針對每個子像素18B、18G、18R不同。例如，既可使像素電極31B、31G、31R之膜厚針對每個子像素18B、18G、18R不同，亦可調整像素電極31B、31G、31R及透光層26之各者之膜厚而使其等針對每個子像素18B、18G、18R不同。
(變化例3)於自上述第1實施形態至上述第3實施形態及變化例之有機EL裝置中，光共振構造並非必需。例如，亦可針對每個子像素18B、18G、18R、18W而使獲得所期望之波長範圍之發光之有機EL元件獨立地配置。
(變化例4)配置於像素電極31之接觸部之上層之著色層並不限定於紅色之著色層36R，亦可配置其他顏色之著色層，亦可配置不同顏色之著色層。又，亦可將不同顏色之著色層以彼此於一部分重疊之狀態下配置於接觸部之上層。
(變化例5)配置透明層36T之子像素18可為3色(B、G、R)之中至 少1色。又，於子像素18包括4色以上之情形時，亦可於1色之子像素18配置著色層，於其他顏色之子像素18配置透明層36T。
10‧‧‧作為第1基板之元件基板
11‧‧‧基板本體
18B‧‧‧子像素
18G‧‧‧子像素
18R‧‧‧子像素
25‧‧‧反射層
26‧‧‧透光層
26a‧‧‧第1絕緣膜
26b‧‧‧第2絕緣膜
26c‧‧‧第3絕緣膜
28‧‧‧絕緣膜
28KB‧‧‧開口部
28KG‧‧‧開口部
28KR‧‧‧開口部
30‧‧‧有機EL元件
30B‧‧‧有機EL元件
30G‧‧‧有機EL元件
30R‧‧‧有機EL元件
31‧‧‧像素電極
31B‧‧‧像素電極
31G‧‧‧像素電極
31R‧‧‧像素電極
32‧‧‧發光功能層
33‧‧‧對向電極
34‧‧‧密封層
34a‧‧‧第1密封層
34b‧‧‧平坦化層
34c‧‧‧第2密封層
36‧‧‧彩色濾光片
36G‧‧‧著色層
36R‧‧‧著色層
36K‧‧‧透明層
36T‧‧‧透明層
40‧‧‧作為第2基板之保護基板
42‧‧‧填充劑
100‧‧‧有機EL裝置

Claims (10)

  1. 一種有機EL裝置，其特徵在於包括：第1基板；第1有機EL元件及第2有機EL元件，其等設置於上述第1基板；密封層，其覆蓋上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件；彩色濾光片，其設置於上述密封層上；填充劑，其設置於上述彩色濾光片上；及透光性之第2基板，其經由上述填充劑而配置於上述彩色濾光片上；且上述彩色濾光片包含於俯視時與上述第1有機EL元件重疊之著色層、及於俯視時與上述第2有機EL元件重疊之透明層，上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件於上述第1基板上於一方向相鄰而配置，上述透明層於上述一方向上之上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件之間與上述著色層相接而設置，上述著色層於上述一方向上之上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件之間，以覆蓋上述透明層之一部分而設置，上述著色層及上述透明層形成為與上述填充劑相接。
  2. 如請求項1之有機EL裝置，其包括：第1驅動用電晶體，其設置於上述第1基板，且經由第1接觸部而連接於上述第1有機EL元件；及第2驅動用電晶體，其經由第2接觸部而連接於上述第2有機EL元件；上述著色層於俯視時與上述第1接觸部及上述第2接觸部重疊而設置。
  3. 如請求項1之有機EL裝置，其中上述著色層及上述透明層之主成 分係透光性之感光性樹脂。
  4. 如請求項3之有機EL裝置，其中上述感光性樹脂係感光性丙烯酸系樹脂。
  5. 如請求項1之有機EL裝置，其中上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件分別包含：像素電極，其具有透光性；對向電極，其兼具透光性與反射性；及發光功能層，其配置於上述像素電極與上述對向電極之間；且該有機EL裝置具備設置於上述第1基板之基板本體與上述像素電極之間之反射層，於上述第1有機EL元件與上述第2有機EL元件中，自上述反射層至上述對向電極之光學距離不同。
  6. 如請求項1之有機EL裝置，其中相對於上述第1有機EL元件之發光面積，上述第2有機EL元件之發光面積較小。
  7. 如請求項1之有機EL裝置，其中相對於上述第1有機EL元件之發光面積，上述第2有機EL元件之發光面積較大。
  8. 一種有機EL裝置之製造方法，其特徵在於包括如下步驟：於第1基板上形成第1有機EL元件與第2有機EL元件之步驟；形成覆蓋上述第1有機EL元件及上述第2有機EL元件之密封層之步驟；彩色濾光片形成步驟，其係於上述密封層上，於俯視時與上述第1有機EL元件重疊之位置形成著色層，並且於俯視時與上述第2有機EL元件重疊之位置形成透明層；以覆蓋上述著色層及上述透明層之方式塗佈填充劑之步驟；及經由上述填充劑將透光性之第2基板貼合於上述第1基板之步驟，其中 於上述彩色濾光片形成步驟中，於形成上述透明層之後，以覆蓋上述透明層之一部分之方式形成上述著色層，且於上述形成填充劑之步驟中，以與上述著色層及上述透明層相接之方式形成上述填充劑。
  9. 如請求項8之有機EL裝置之製造方法，其中於上述彩色濾光片形成步驟中，藉由形成包含有色材料之感光性樹脂層並進行曝光、顯影而形成上述著色層，且藉由形成不包含有色材料之感光性樹脂層並進行曝光、顯影而形成上述透明層。
  10. 一種具有顯示部之電子機器，其特徵在於具備如請求項1至7中任一項之有機EL裝置。
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