TWI668570B - 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元 - Google Patents

資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元 Download PDF

Info

Publication number
TWI668570B
TWI668570B TW107127772A TW107127772A TWI668570B TW I668570 B TWI668570 B TW I668570B TW 107127772 A TW107127772 A TW 107127772A TW 107127772 A TW107127772 A TW 107127772A TW I668570 B TWI668570 B TW I668570B
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
data
read
memory
physical unit
stage
Prior art date
Application number
TW107127772A
Other languages
English (en)
Other versions
TW202009711A (zh
Inventor
葉志剛
Original Assignee
群聯電子股份有限公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 群聯電子股份有限公司 filed Critical 群聯電子股份有限公司
Priority to TW107127772A priority Critical patent/TWI668570B/zh
Priority to US16/141,990 priority patent/US10592167B2/en
Application granted granted Critical
Publication of TWI668570B publication Critical patent/TWI668570B/zh
Publication of TW202009711A publication Critical patent/TW202009711A/zh

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0655Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
    • G06F3/0659Command handling arrangements, e.g. command buffers, queues, command scheduling
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0668Interfaces specially adapted for storage systems adopting a particular infrastructure
    • G06F3/0671In-line storage system
    • G06F3/0673Single storage device
    • G06F3/0679Non-volatile semiconductor memory device, e.g. flash memory, one time programmable memory [OTP]
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F12/00Accessing, addressing or allocating within memory systems or architectures
    • G06F12/02Addressing or allocation; Relocation
    • G06F12/0223User address space allocation, e.g. contiguous or non contiguous base addressing
    • G06F12/023Free address space management
    • G06F12/0238Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory
    • G06F12/0246Memory management in non-volatile memory, e.g. resistive RAM or ferroelectric memory in block erasable memory, e.g. flash memory
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0602Interfaces specially adapted for storage systems specifically adapted to achieve a particular effect
    • G06F3/0604Improving or facilitating administration, e.g. storage management
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0646Horizontal data movement in storage systems, i.e. moving data in between storage devices or systems
    • G06F3/0652Erasing, e.g. deleting, data cleaning, moving of data to a wastebasket
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F3/00Input arrangements for transferring data to be processed into a form capable of being handled by the computer; Output arrangements for transferring data from processing unit to output unit, e.g. interface arrangements
    • G06F3/06Digital input from, or digital output to, record carriers, e.g. RAID, emulated record carriers or networked record carriers
    • G06F3/0601Interfaces specially adapted for storage systems
    • G06F3/0628Interfaces specially adapted for storage systems making use of a particular technique
    • G06F3/0655Vertical data movement, i.e. input-output transfer; data movement between one or more hosts and one or more storage devices
    • G06F3/0656Data buffering arrangements
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5628Programming or writing circuits; Data input circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C11/00Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
    • G11C11/56Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency
    • G11C11/5621Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using storage elements with more than two stable states represented by steps, e.g. of voltage, current, phase, frequency using charge storage in a floating gate
    • G11C11/5642Sensing or reading circuits; Data output circuits
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/04Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS
    • G11C16/0483Erasable programmable read-only memories electrically programmable using variable threshold transistors, e.g. FAMOS comprising cells having several storage transistors connected in series
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C16/00Erasable programmable read-only memories
    • G11C16/02Erasable programmable read-only memories electrically programmable
    • G11C16/06Auxiliary circuits, e.g. for writing into memory
    • G11C16/08Address circuits; Decoders; Word-line control circuits
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/10Providing a specific technical effect
    • G06F2212/1041Resource optimization
    • G06F2212/1044Space efficiency improvement
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/10Providing a specific technical effect
    • G06F2212/1056Simplification
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7201Logical to physical mapping or translation of blocks or pages
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7203Temporary buffering, e.g. using volatile buffer or dedicated buffer blocks
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2212/00Indexing scheme relating to accessing, addressing or allocation within memory systems or architectures
    • G06F2212/72Details relating to flash memory management
    • G06F2212/7205Cleaning, compaction, garbage collection, erase control

Abstract

本發明提供一種資料整併方法,其用於記憶體儲存裝置。所述方法包括:執行資料整併操作,以將從來源節點收集的有效資料儲存至回收節點。所述資料整併操作包括:經由第一讀取操作從第一實體單元讀取第一資料;根據第一資料對第二實體單元執行第一階段程式化操作;經由第二讀取操作再次從第一實體單元讀取第一資料;以及根據經由第二讀取操作讀取的第一資料對第二實體單元執行第二階段程式化操作。此外,本發明也提出一種記憶體儲存裝置與記憶體控制電路單元。

Description

資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
本發明是有關於一種記憶體管理技術,且特別是有關於一種資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元。
數位相機、行動電話與MP3播放器在這幾年來的成長十分迅速,使得消費者對儲存媒體的需求也急速增加。由於可複寫式非揮發性記憶體模組(rewritable non-volatile memory module)(例如,快閃記憶體)具有資料非揮發性、省電、體積小,以及無機械結構等特性,所以非常適合內建於上述所舉例的各種可攜式多媒體裝置中。
可複寫式非揮發性記憶體模組可以是三階記憶胞(Triple Level Cell,TLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存3個位元的快閃記憶體模組)或四階記憶胞(Quad Level Cell,QLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存4個位元的快閃記憶體模組)。在TLC NAND型快閃記憶體模組或QLC NAND型快閃記憶體模組中,一個實體單元可以基於相同的寫入資料而被程式化多次,以完整儲存此寫入資料。此外,對於不同實體單元的多個程式化操作可交錯執行。因此,記憶體儲存裝置中往往需要配置具有足夠儲存空間的緩衝記憶體,以同時儲存用於不同實體單元的寫入資料。
本發明提供一種資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元,可節省在資料整併操作中緩衝記憶體的使用空間。
本發明的範例實施例提供一種資料整併方法,其用於包括多個實體單元的記憶體儲存裝置,且所述資料整併方法包括:執行資料整併操作,以將從來源節點收集的有效資料儲存至回收節點。所述來源節點包括所述實體單元中的至少一第一實體單元,所述回收節點包括所述實體單元中的一第二實體單元並且所述資料整併操作包括:經由第一讀取操作從所述第一實體單元讀取第一資料;根據所述第一資料對所述第二實體單元執行第一階段程式化操作;在執行所述第一階段程式化操作後,經由第二讀取操作再次從所述第一實體單元讀取所述第一資料;以及根據經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料對所述第二實體單元執行第二階段程式化操作。
在本發明的一範例實施例中,所述來源節點更包括所述實體單元中的至少一第三實體單元,所述回收節點更包括所述實體單元中的一第四實體單元,且所述資料整併操作更包括:從所述第三實體單元讀取第二資料;以及在所述第一階段程式化操作與所述第二階段程式化操作之間,根據所述第二資料程式化所述第四實體單元。
在本發明的一範例實施例中,所述資料整併操作更包括:將經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料暫存於緩衝記憶體,以提供用於所述第一階段程式化操作的所述第一資料;將第二資料暫存於所述緩衝記憶體,且所述第二資料於所述緩衝記憶體中覆蓋經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料的至少一部分資料;以及將經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於所述緩衝記憶體,以提供用於所述第二階段程式化操作的所述第一資料。
在本發明的一範例實施例中,所述的資料整併方法更包括:將讀取資訊紀錄於管理表格,其中所述讀取資訊反映所述第一實體單元是否經過所述第一讀取操作與所述第二讀取操作的至少其中之一讀取;以及根據所述讀取資訊抹除所述第一實體單元。
在本發明的一範例實施例中,所述的資料整併方法更包括:將經由所述第一讀取操作或所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於緩衝記憶體。所述第二實體單元具有基本容量,且所述緩衝記憶體的可用容量小於所述基本容量的兩倍。
本發明的範例實施例另提供一種記憶體儲存裝置,其包括連接介面單元、可複寫式非揮發性記憶體模組及記憶體控制電路單元。所述連接介面單元用以耦接至主機系統。所述可複寫式非揮發性記憶體模組包括多個實體單元。所述記憶體控制電路單元耦接至所述連接介面單元與所述可複寫式非揮發性記憶體模組。所述記憶體控制電路單元用以執行資料整併操作,以將從來源節點收集的有效資料儲存至回收節點。所述來源節點包括所述實體單元中的至少一第一實體單元,所述回收節點包括所述實體單元中的第二實體單元,並且所述資料整併操作包括:發送第一讀取指令序列以指示經由第一讀取操作從所述第一實體單元讀取第一資料;發送第一寫入指令序列以指示根據所述第一資料對所述第二實體單元執行第一階段程式化操作;在執行所述第一階段程式化操作後,發送第二讀取指令序列以指示經由第二讀取操作再次從所述第一實體單元讀取所述第一資料;以及發送第二寫入指令序列以指示根據經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料對所述第二實體單元執行第二階段程式化操作。
在本發明的一範例實施例中,所述資料整併操作更包括:將經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料暫存於緩衝記憶體,以提供用於所述第一階段程式化操作的所述第一資料;將第二資料暫存於所述緩衝記憶體,且所述第二資料於所述緩衝記憶體中覆蓋經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料;以及將經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於所述緩衝記憶體,以提供用於所述第二階段程式化操作的所述第一資料。
在本發明的一範例實施例中,所述記憶體控制電路單元更用以將讀取資訊紀錄於管理表格並根據所述讀取資訊抹除所述第一實體單元。所述讀取資訊反映所述第一實體單元是否經過所述第一讀取操作與所述第二讀取操作的至少其中之一讀取。
在本發明的一範例實施例中,所述記憶體控制電路單元更用以將經由所述第一讀取操作或所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於緩衝記憶體。所述第二實體單元具有基本容量,且所述緩衝記憶體的可用容量小於所述基本容量的兩倍。
本發明的範例實施例另提供一種記憶體控制電路單元,其用於控制可複寫式非揮發性記憶體模組。所述可複寫式非揮發性記憶體模組包括多個實體單元。所述記憶體控制電路單元包括主機介面、記憶體介面及記憶體管理電路。所述主機介面用以耦接至主機系統。所述記憶體介面用以耦接至所述可複寫式非揮發性記憶體模組。所述記憶體管理電路耦接至所述主機介面與所述記憶體介面。所述記憶體管理電路用以執行資料整併操作,以將從來源節點收集的有效資料儲存至回收節點。所述來源節點包括所述實體單元中的至少一第一實體單元,所述回收節點包括所述實體單元中的第二實體單元,並且所述資料整併操作包括:發送第一讀取指令序列以指示經由第一讀取操作從所述第一實體單元讀取第一資料;發送第一寫入指令序列以指示根據所述第一資料對所述第二實體單元執行第一階段程式化操作;在執行所述第一階段程式化操作後,發送第二讀取指令序列以指示經由第二讀取操作再次從所述第一實體單元讀取所述第一資料;以及發送第二寫入指令序列以指示根據經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料對所述第二實體單元執行第二階段程式化操作。
在本發明的一範例實施例中,所述來源節點更包括所述實體單元中的至少一第三實體單元,所述回收節點更包括所述實體單元中的一第四實體單元,且所述資料整併操作更包括:發送第三讀取指令序列以指示從所述第三實體單元讀取第二資料;以及在所述第一階段程式化操作與所述第二階段程式化操作之間,發送第三寫入指令序列以指示根據所述第二資料程式化所述第四實體單元。
在本發明的一範例實施例中,所述的記憶體控制電路單元更包括緩衝記憶體。所述緩衝記憶體耦接至所述記憶體管理電路,且所述資料整併操作更包括:將經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料暫存於所述緩衝記憶體,以提供用於所述第一階段程式化操作的所述第一資料;將第二資料暫存於所述緩衝記憶體,且所述第二資料於所述緩衝記憶體中覆蓋經由所述第一讀取操作讀取的所述第一資料;以及將經由所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於所述緩衝記憶體,以提供用於所述第二階段程式化操作的所述第一資料。
在本發明的一範例實施例中,所述記憶體管理電路更用以將讀取資訊紀錄於管理表格並根據所述讀取資訊抹除所述第一實體單元,其中所述讀取資訊反映所述第一實體單元是否經過所述第一讀取操作與所述第二讀取操作的至少其中之一讀取。
在本發明的一範例實施例中,所述第二實體單元依序經由所述第一階段程式化操作與所述第二階段程式化操作的程式化以儲存所述第一資料。
在本發明的一範例實施例中,所述第一階段程式化操作與所述第二階段程式化操作屬於多階段程式化操作,且所述第二實體單元中經所述多階段程式化操作程式化的一個記憶胞儲存不少於3個位元。
在本發明的一範例實施例中,所述的記憶體控制電路單元更包括緩衝記憶體。所述緩衝記憶體耦接至所述記憶體管理電路,且所述記憶體管理電路更用以將經由所述第一讀取操作或所述第二讀取操作讀取的所述第一資料暫存於所述緩衝記憶體。所述第二實體單元具有基本容量,且所述緩衝記憶體的可用容量小於所述基本容量的兩倍。
基於上述,在資料整併操作中,第一實體單元中的相同資料可以被讀取至少兩次,以根據經由不同讀取操作所讀取的資料來完成對於第二實體單元的多階段程式化操作。
為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂,下文特舉實施例,並配合所附圖式作詳細說明如下。
一般而言,記憶體儲存裝置(亦稱,記憶體儲存系統)包括可複寫式非揮發性記憶體模組(rewritable non-volatile memory module)與控制器(亦稱,控制電路)。通常記憶體儲存裝置是與主機系統一起使用,以使主機系統可將資料寫入至記憶體儲存裝置或從記憶體儲存裝置中讀取資料。
圖1是根據本發明的一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出(I/O)裝置的示意圖。圖2是根據本發明的另一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及I/O裝置的示意圖。
請參照圖1與圖2,主機系統11一般包括處理器111、隨機存取記憶體(random access memory, RAM)112、唯讀記憶體(read only memory, ROM)113及資料傳輸介面114。處理器111、隨機存取記憶體112、唯讀記憶體113及資料傳輸介面114皆耦接至系統匯流排(system bus)110。
在本範例實施例中,主機系統11是透過資料傳輸介面114與記憶體儲存裝置10耦接。例如,主機系統11可經由資料傳輸介面114將資料儲存至記憶體儲存裝置10或從記憶體儲存裝置10中讀取資料。此外,主機系統11是透過系統匯流排110與I/O裝置12耦接。例如,主機系統11可經由系統匯流排110將輸出訊號傳送至I/O裝置12或從I/O裝置12接收輸入訊號。
在本範例實施例中,處理器111、隨機存取記憶體112、唯讀記憶體113及資料傳輸介面114可設置在主機系統11的主機板20上。資料傳輸介面114的數目可以是一或多個。透過資料傳輸介面114,主機板20可以經由有線或無線方式耦接至記憶體儲存裝置10。記憶體儲存裝置10可例如是隨身碟201、記憶卡202、固態硬碟(Solid State Drive, SSD)203或無線記憶體儲存裝置204。無線記憶體儲存裝置204可例如是近距離無線通訊(Near Field Communication, NFC)記憶體儲存裝置、無線傳真(WiFi)記憶體儲存裝置、藍牙(Bluetooth)記憶體儲存裝置或低功耗藍牙記憶體儲存裝置(例如,iBeacon)等以各式無線通訊技術為基礎的記憶體儲存裝置。此外,主機板20也可以透過系統匯流排110耦接至全球定位系統(Global Positioning System, GPS)模組205、網路介面卡206、無線傳輸裝置207、鍵盤208、螢幕209、喇叭210等各式I/O裝置。例如,在一範例實施例中,主機板20可透過無線傳輸裝置207存取無線記憶體儲存裝置204。
在一範例實施例中,所提及的主機系統為可實質地與記憶體儲存裝置配合以儲存資料的任意系統。雖然在上述範例實施例中,主機系統是以電腦系統來作說明,然而,圖3是根據本發明的另一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的示意圖。請參照圖3,在另一範例實施例中,主機系統31也可以是數位相機、攝影機、通訊裝置、音訊播放器、視訊播放器或平板電腦等系統,而記憶體儲存裝置30可為其所使用的安全數位(Secure Digital, SD)卡32、小型快閃(Compact Flash, CF)卡33或嵌入式儲存裝置34等各式非揮發性記憶體儲存裝置。嵌入式儲存裝置34包括嵌入式多媒體卡(embedded Multi Media Card, eMMC)341及/或嵌入式多晶片封裝(embedded Multi Chip Package, eMCP)儲存裝置342等各類型將記憶體模組直接耦接於主機系統的基板上的嵌入式儲存裝置。
圖4是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶體儲存裝置的概要方塊圖。
請參照圖4,記憶體儲存裝置10包括連接介面單元402、記憶體控制電路單元404與可複寫式非揮發性記憶體模組406。
連接介面單元402用以將記憶體儲存裝置10耦接至主機系統11。在本範例實施例中,連接介面單元402是相容於序列先進附件(Serial Advanced Technology Attachment, SATA)標準。然而,必須瞭解的是,本發明不限於此,連接介面單元402亦可以是符合並列先進附件(Parallel Advanced Technology Attachment, PATA)標準、電氣和電子工程師協會(Institute of Electrical and Electronic Engineers, IEEE)1394標準、高速周邊零件連接介面(Peripheral Component Interconnect Express, PCI Express)標準、通用序列匯流排(Universal Serial Bus, USB)標準、SD介面標準、超高速一代(Ultra High Speed-I, UHS-I)介面標準、超高速二代(Ultra High Speed-II, UHS-II)介面標準、記憶棒(Memory Stick, MS)介面標準、MCP介面標準、MMC介面標準、eMMC介面標準、通用快閃記憶體(Universal Flash Storage, UFS)介面標準、eMCP介面標準、CF介面標準、整合式驅動電子介面(Integrated Device Electronics, IDE)標準或其他適合的標準。連接介面單元402可與記憶體控制電路單元404封裝在一個晶片中,或者連接介面單元402是佈設於一包含記憶體控制電路單元404之晶片外。
記憶體控制電路單元404用以執行以硬體型式或韌體型式實作的多個邏輯閘或控制指令並且根據主機系統11的指令在可複寫式非揮發性記憶體模組406中進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
可複寫式非揮發性記憶體模組406是耦接至記憶體控制電路單元404並且用以儲存主機系統11所寫入之資料。可複寫式非揮發性記憶體模組406可以是單階記憶胞(Single Level Cell, SLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存1個位元的快閃記憶體模組)、多階記憶胞(Multi Level Cell, MLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存2個位元的快閃記憶體模組)、三階記憶胞(Triple Level Cell,TLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存3個位元的快閃記憶體模組)、四階記憶胞(Quad Level Cell,QLC)NAND型快閃記憶體模組(即,一個記憶胞中可儲存4個位元的快閃記憶體模組)其他快閃記憶體模組或其他具有相同特性的記憶體模組。
可複寫式非揮發性記憶體模組406中的記憶胞是以陣列的方式設置。以下分別以二維陣列與三維陣列來對不同範例實施例中的記憶胞陣列進行說明。須注意的是,以下範例實施例只是記憶胞陣列的幾種範例,在其他的範例實施例中,記憶胞陣列的配置方式可以被調整以符合實務上的需求。
圖5A是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶胞陣列的示意圖。
請參照圖5A,記憶胞陣列510包括用以儲存資料的多個記憶胞502、多個選擇閘汲極(select gate drain, SGD)電晶體512與多個選擇閘源極(select gate source, SGS)電晶體514、連接此些記憶胞502的多條位元線504、多條字元線506、與共用源極線508。記憶胞502是以陣列方式配置在位元線504與字元線506的交叉點上,如圖5A所示。
圖5B是根據本發明的另一範例實施例所繪示的記憶胞陣列的示意圖。
請參照圖5B,記憶胞陣列520包括用以儲存資料的多個記憶胞522、多個位元線組524(1)~524(4)及多個字元線層526(1)~526(8)。位元線組524(1)~524(4)彼此獨立(例如,彼此分離)並且沿第一方向(例如,X軸)排列。位元線組524(1)~524(4)中的每一個位元線組包括彼此獨立(例如,彼此分離)的多條位元線524。包含於每一位元線組中的位元線524沿第二方向(例如,Y軸)排列並且往第三方向(例如,Z軸)延伸。字元線層526(1)~526(8)彼此獨立(例如,彼此分離)並且沿第三方向堆疊。在本範例實施例中,字元線層526(1)~526(8)中的每一個字元線層亦可視為一個平面(亦稱為字元線平面)。每一個記憶胞522被配置於位元線組524(1)~524(4)中的每一位元線524與字元線層526(1)~526(8)之間的每一個交錯處。然而,在另一範例實施例中,一個位元線組可以包括更多或更少的位元線,並且一個字元線層也可以讓更多或更少的位元線組通過。
可複寫式非揮發性記憶體模組406中的每一個記憶胞是以電壓(以下亦稱為臨界電壓)的改變來儲存一或多個位元。具體來說,每一個記憶胞的控制閘極(control gate)與通道之間有一個電荷捕捉層。透過施予一寫入電壓至控制閘極,可以改變電荷補捉層的電子量,進而改變記憶胞的臨界電壓。此改變記憶胞之臨界電壓的操作亦稱為“把資料寫入至記憶胞”或“程式化(programming)記憶胞”。隨著臨界電壓的改變,可複寫式非揮發性記憶體模組406中的每一個記憶胞具有多個儲存狀態。透過施予讀取電壓可以判斷一個記憶胞是屬於哪一個儲存狀態,藉此取得此記憶胞所儲存的一或多個位元。
圖6是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶體控制電路單元的概要方塊圖。
請參照圖6,記憶體控制電路單元404包括記憶體管理電路602、主機介面604及記憶體介面606。
記憶體管理電路602用以控制記憶體控制電路單元404的整體運作。具體來說,記憶體管理電路602具有多個控制指令,並且在記憶體儲存裝置10運作時,此些控制指令會被執行以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。以下說明記憶體管理電路602的操作時,等同於說明記憶體控制電路單元404的操作。
在本範例實施例中,記憶體管理電路602的控制指令是以韌體型式來實作。例如,記憶體管理電路602具有微處理器單元(未繪示)與唯讀記憶體(未繪示),並且此些控制指令是被燒錄至此唯讀記憶體中。當記憶體儲存裝置10運作時,此些控制指令會由微處理器單元來執行以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
在另一範例實施例中,記憶體管理電路602的控制指令亦可以程式碼型式儲存於可複寫式非揮發性記憶體模組406的特定區域(例如,記憶體模組中專用於存放系統資料的系統區)中。此外,記憶體管理電路602具有微處理器單元(未繪示)、唯讀記憶體(未繪示)及隨機存取記憶體(未繪示)。特別是,此唯讀記憶體具有開機碼(boot code),並且當記憶體控制電路單元404被致能時,微處理器單元會先執行此開機碼來將儲存於可複寫式非揮發性記憶體模組406中之控制指令載入至記憶體管理電路602的隨機存取記憶體中。之後,微處理器單元會運轉此些控制指令以進行資料的寫入、讀取與抹除等運作。
此外,在另一範例實施例中,記憶體管理電路602的控制指令亦可以一硬體型式來實作。例如,記憶體管理電路602包括微控制器、記憶胞管理電路、記憶體寫入電路、記憶體讀取電路、記憶體抹除電路與資料處理電路。記憶胞管理電路、記憶體寫入電路、記憶體讀取電路、記憶體抹除電路與資料處理電路是耦接至微控制器。記憶胞管理電路用以管理可複寫式非揮發性記憶體模組406的記憶胞或其群組。記憶體寫入電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達寫入指令序列以將資料寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406中。記憶體讀取電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達讀取指令序列以從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取資料。記憶體抹除電路用以對可複寫式非揮發性記憶體模組406下達抹除指令序列以將資料從可複寫式非揮發性記憶體模組406中抹除。資料處理電路用以處理欲寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料以及從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取的資料。寫入指令序列、讀取指令序列及抹除指令序列可各別包括一或多個程式碼或指令碼並且用以指示可複寫式非揮發性記憶體模組406執行相對應的寫入、讀取及抹除等操作。在一範例實施例中,記憶體管理電路602還可以下達其他類型的指令序列給可複寫式非揮發性記憶體模組406以指示執行相對應的操作。
主機介面604是耦接至記憶體管理電路602並且用以接收與識別主機系統11所傳送的指令與資料。也就是說,主機系統11所傳送的指令與資料會透過主機介面604來傳送至記憶體管理電路602。在本範例實施例中,主機介面604是相容於SATA標準。然而,必須瞭解的是本發明不限於此,主機介面604亦可以是相容於PATA標準、IEEE 1394標準、PCI Express標準、USB標準、SD標準、UHS-I標準、UHS-II標準、MS標準、MMC標準、eMMC標準、UFS標準、CF標準、IDE標準或其他適合的資料傳輸標準。
記憶體介面606是耦接至記憶體管理電路602並且用以存取可複寫式非揮發性記憶體模組406。也就是說,欲寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料會經由記憶體介面606轉換為可複寫式非揮發性記憶體模組406所能接受的格式。具體來說,若記憶體管理電路602要存取可複寫式非揮發性記憶體模組406,記憶體介面606會傳送對應的指令序列。例如,這些指令序列可包括指示寫入資料的寫入指令序列、指示讀取資料的讀取指令序列、指示抹除資料的抹除指令序列、以及用以指示各種記憶體操作(例如,改變讀取電壓準位等)的相對應的指令序列。這些指令序列例如是由記憶體管理電路602產生並且透過記憶體介面606傳送至可複寫式非揮發性記憶體模組406。這些指令序列可包括一或多個訊號,或是在匯流排上的資料。這些訊號或資料可包括指令碼或程式碼。例如,在讀取指令序列中,會包括讀取的辨識碼、記憶體位址等資訊。
在一範例實施例中,記憶體控制電路單元404還包括錯誤檢查與校正電路608、緩衝記憶體610與電源管理電路612。
錯誤檢查與校正電路608是耦接至記憶體管理電路602並且用以執行錯誤檢查與校正操作以確保資料的正確性。具體來說,當記憶體管理電路602從主機系統11中接收到寫入指令時,錯誤檢查與校正電路608會為對應此寫入指令的資料產生對應的錯誤更正碼(error correcting code, ECC)及/或錯誤檢查碼(error detecting code,EDC),並且記憶體管理電路602會將對應此寫入指令的資料與對應的錯誤更正碼及/或錯誤檢查碼寫入至可複寫式非揮發性記憶體模組406中。之後,當記憶體管理電路602從可複寫式非揮發性記憶體模組406中讀取資料時會同時讀取此資料對應的錯誤更正碼及/或錯誤檢查碼,並且錯誤檢查與校正電路608會依據此錯誤更正碼及/或錯誤檢查碼對所讀取的資料執行錯誤檢查與校正操作。
緩衝記憶體610是耦接至記憶體管理電路602並且用以暫存來自於主機系統11的資料與指令或來自於可複寫式非揮發性記憶體模組406的資料。電源管理電路612是耦接至記憶體管理電路602並且用以控制記憶體儲存裝置10的電源。
在一範例實施例中,圖4的可複寫式非揮發性記憶體模組406亦稱為快閃(flash)記憶體模組,記憶體控制電路單元404亦稱為用於控制快閃記憶體模組的快閃記憶體控制器,及/或圖6的記憶體管理電路亦稱為快閃記憶體管理電路。
圖7是根據本發明的一範例實施例所繪示的管理可複寫式非揮發性記憶體模組的示意圖。
請參照圖7,記憶體管理電路602會將可複寫式非揮發性記憶體模組406的實體單元710(0)~710(B)邏輯地分組至儲存區701與替換區702。儲存區701中的實體單元710(0)~710(A)是用以儲存資料,而替換區702中的實體單元710(A+1)~710(B)則是用以替換儲存區701中損壞的實體單元。例如,若從某一個實體單元中讀取的資料所包含的錯誤過多而無法被更正時,此實體單元會被視為是損壞的實體單元。須注意的是,若替換區702中沒有可用的實體單元,則記憶體管理電路602可能會將整個記憶體儲存裝置10宣告為寫入保護(write protect)狀態,而無法再寫入資料。
記憶體管理電路602是基於一個實體單元來程式化記憶胞。也就是說,屬於同一個實體單元的記憶胞可同步被程式化。例如,一個實體單元可以包括N條字元線上的記憶胞,且N可以為4或其他整數(例如2、8或16等)。換言之,一個實體單元可包含N條字元線上的記憶胞或由N條字元線上的記憶胞組成。然而,在另一範例實施例中,一個實體單元也可以包含更多或更少的記憶胞,本發明不加以限制。在一範例實施例中,一個實體單元亦可稱為一個層(或記憶體層)。
記憶體管理電路602會配置邏輯單元712(0)~712(C)以映射儲存區701中的實體單元710(0)~710(A)。在本範例實施例中,一個邏輯單元是指一個邏輯位址。然而,在另一範例實施例中,一個邏輯單元也可以是指一個邏輯層或由多個連續或不連續的邏輯位址組成。此外,邏輯單元712(0)~712(C)中的每一者可被映射至一或多個實體單元。
記憶體管理電路602會將邏輯單元與實體單元之間的映射關係(亦稱為邏輯-實體位址映射關係)記錄於至少一邏輯-實體位址映射表。當主機系統11欲從記憶體儲存裝置10讀取資料或寫入資料至記憶體儲存裝置10時,記憶體管理電路602可根據此邏輯-實體位址映射表來執行對於記憶體儲存裝置10的資料存取操作。
在一範例實施例中,記憶體管理電路602會對某一實體單元執行一多階段程式化操作,以將資料(亦稱為寫入資料)儲存至此實體單元。例如,此多階段程式化操作可至少包括第一階段程式化操作與第二階段程式化操作,且第二階段程式化操作會在第一階段程式化操作之後執行。此外,在執行對於此實體單元的第一階段程式化操作與第二階段程式化操作之間,對於另一個實體單元的程式化操作可被執行。
圖8是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。以TLC NAND型快閃記憶體模組為例,對於某一個實體單元的多階段程式化操作可將屬於此實體單元的每一個記憶胞程式化至儲存3個位元的狀態。
請參照圖8,在程式化某一個實體單元之前,此實體單元的記憶胞皆屬於狀態ERA。例如,在抹除此實體單元後,經抹除的記憶胞皆屬於狀態ERA。屬於狀態ERA的記憶胞的臨界電壓皆位於一預設電壓範圍(亦稱為抹除電壓範圍)內。在對此實體單元執行一次程式化操作後,經程式化的記憶胞可屬於狀態801與狀態802。屬於不同狀態的記憶胞會具有不同的臨界電壓。例如,屬於狀態802的記憶胞的臨界電壓大於屬於狀態801的記憶胞的臨界電壓。然後,在對此實體單元執行下一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態811~814且記憶胞的臨界電壓會隨之改變。例如,屬於狀態811的記憶胞具有最低的臨界電壓,而屬於狀態814的記憶胞具有最高的臨界電壓。接著,在對此實體單元執行下一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態821~828且記憶胞的臨界電壓會隨之改變。例如,屬於狀態821的記憶胞具有最低的臨界電壓,而屬於狀態828的記憶胞具有最高的臨界電壓。屬於狀態821~828的每一個記憶胞皆儲存3個位元。
圖9是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。以QLC NAND型快閃記憶體模組為例,對於某一個實體單元的多階段程式化操作可將屬於此實體單元的每一個記憶胞程式化至儲存4個位元的狀態。
請參照圖9,以QLC NAND型快閃記憶體模組為例,在程式化某一個實體單元之前,此實體單元的記憶胞皆屬於狀態ERA。在對此實體單元執行一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態901~908。例如,屬於狀態908的記憶胞的臨界電壓大於屬於狀態901的記憶胞的臨界電壓。然後,在對此實體單元執行下一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態911~926且記憶胞的臨界電壓會隨之改變。例如,屬於狀態926的記憶胞的臨界電壓大於屬於狀態911的記憶胞的臨界電壓。屬於狀態911~926的每一個記憶胞皆儲存4個位元。
在圖8與圖9的範例實施例中,先執行的程式化操作可視為所述第一階段程式化操作,而後執行的程式化操作可視為所述第二階段程式化操作。例如,在圖8的一範例實施例中,第一階段程式化操作將記憶胞程式化至屬於狀態801與802(或811~814),而第二階段程式化操作則將記憶胞程式化至屬於狀態811~814(或821~828)。在圖9的一範例實施例中,第一階段程式化操作將記憶胞程式化至屬於狀態901~908,而第二階段程式化操作則將記憶胞程式化至屬於狀態911~926。須注意的是,本發明並不限制多階段程式化操作中不同程式化階段對於記憶胞的程式化程序。
圖10是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。本範例實施例也是以QLC NAND型快閃記憶體模組的程式化為例。
請參照圖10,在程式化某一個實體單元之前,此實體單元的記憶胞皆屬於狀態ERA。在對此實體單元執行一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態1001~1016。然後,在對此實體單元執行下一次程式化操作後,經程式化的記憶胞會屬於狀態1021~1036。屬於狀態1021~1036的每一個記憶胞皆儲存4個位元。須注意的是,在圖10的範例實施例中,第一階段程式化操作是概略地調整記憶胞的臨界電壓。爾後,在第二階段程式化操作中,記憶胞的臨界電壓被更精確地調整至對應於狀態1021~1036的電壓位置。
圖11是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化某一個實體管理單元中的多個實體單元的示意圖。
請參照圖11,一個實體管理單元1110包括多個實體單元1110(0)~1110(D)。例如,D可為8、16、32等正整數,本發明不加以限制。在一範例實施例中,屬於實體管理單元1110的實體單元1110(0)~1110(D)可被同步抹除。此外,實體單元1110(0)~1110(D)會被交錯地程式化。
在一範例實施例中,在將資料存入實體管理單元1110時,實體單元1110(0)~1110(D)可依照圖11中標示的數字來依序執行多階段程式化操作。例如,某一寫入資料(亦稱為第一資料)可先被暫存於圖6的緩衝記憶體610。根據緩衝記憶體610中的第一資料,實體單元1110(0)的第一階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號1)。在執行實體單元1110(0)的第一階段程式化操作後,另一寫入資料(亦稱為第二資料)可被暫存於緩衝記憶體610。根據緩衝記憶體610中的第二資料,實體單元1110(1)的第一階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號2)。在執行實體單元1110(1)的第一階段程式化操作後,根據緩衝記憶體610中的第一資料,實體單元1110(0)的第二階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號3)。須注意的是,在完成實體單元1110(0)的第二階段程式化操作後,可判定對於實體單元1110(0)的多階段程式化操作已完成且第一資料已被儲存於實體單元1110(0)。
在執行實體單元1110(0)的第二階段程式化操作後,另一寫入資料(亦稱為第三資料)可被暫存於圖6的緩衝記憶體610。然後,根據緩衝記憶體610中的第三資料,實體單元1110(2)的第一階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號4)。在執行實體單元1110(2)的第一階段程式化操作後,第二資料可再次被暫存於圖6的緩衝記憶體610。然後,根據緩衝記憶體610中的第二資料,實體單元1110(1)的第二階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號5)。須注意的是,在完成實體單元1110(1)的第二階段程式化操作後,可判定對於實體單元1110(1)的多階段程式化操作已完成且第二資料已被儲存於實體單元1110(1)。依此類推,實體管理單元1110中的剩餘實體單元可以交錯地被程式化,以儲存其他資料。
在一範例實施例中,緩衝記憶體610的可用容量可能會受到設備建置成本的限制。例如,設計人員可能會減少緩衝記憶體610的可用容量來降低設備建置成本。因此,在一範例實施例中,圖6的緩衝記憶體610的可用空間可能不足以同時儲存所述第一資料與所述第二資料。或者,從另一角度來看,假設每一個實體單元具有一基本容量,則緩衝記憶體610的可用容量可小於此基本容量的兩倍。若緩衝記憶體610的可用容量小於此基本容量的兩倍,則緩衝記憶體610的可用空間同樣不足以同時儲存所述第一資料與所述第二資料。
根據圖11的範例實施例,第一資料是用來執行對於實體單元1110(0)的多階段程式化操作(對應於標號1與3),而第二資料是用來執行對於實體單元1110(1)的多階段程式化操作(對應於標號2與5)。若緩衝記憶體610的可用空間不足以同時儲存所述第一資料與所述第二資料,則在程式化實體單元1110(0)與1110(1)時,原先暫存在緩衝記憶體610中用以執行對於實體單元1110(0)的第一階段程式化操作(對應於圖11的標號1)的第一資料的至少一部分資料可能會被用以執行對於實體單元1110(1)的第一階段程式化操作(對應於圖11的標號2)的第二資料覆寫。因此,在執行對於實體單元1110(1)的第一階段程式化操作(對應於圖11的標號2)後,緩衝記憶體610中可能不具有完整的第一資料以供對於實體單元1110(0)的第二階段程式化操作(對應於圖11的標號3)使用。
在圖11的一範例實施例中,在執行實體單元1110(1)的第一階段程式化操作(對應於圖11的標號2)後,第一資料可重新被讀取並暫存於緩衝記憶體610。例如,若第一資料是來自圖1的主機系統11的即時資料,則第一資料可以重新從主機系統11接收。或者,若第一資料是從圖7的儲存區710中的某一個實體單元讀取的資料,則此第一資料可以再次從此實體單元讀取。在重新將第一資料暫存於緩衝記憶體610後,根據緩衝記憶體610中的第一資料,實體單元1110(0)的第二階段程式化操作可被執行(對應於圖11的標號3)。類似地,在將重新讀取的第一資料暫存至緩衝記憶體610後,緩衝記憶體610中的第二資料的至少一部分資料可能會被覆寫。因此,在圖11的一範例實施例中,在執行對於實體單元1110(1)的第二階段程式化操作(對應於圖11的標號5)之前,第二資料可重新從主機系統11接收(或重新從某一個實體單元讀取)並暫存於緩衝記憶體610,以供對於實體單元1110(1)的第二階段程式化操作使用。
圖12是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併操作的示意圖。
請參照圖12,在特定時間點,記憶體管理電路602可執行資料整併操作。例如,此特定時間點可以是當圖7的儲存區701中的閒置實體單元不足時、當圖1的記憶體儲存裝置10處於閒置狀態時,或者滿足所設定之條件的任意時間點。在一範例實施例中,資料整併操作亦稱為垃圾收集操作。在啟動資料整併操作後,記憶體管理電路602可發送讀取指令序列至圖4的可複寫式非揮發性記憶體模組406以指示從作為來源節點1210的實體單元1210(0)~1210(E)中讀取有效資料。所讀取的有效資料(亦稱為所收集的有效資料)可被暫存於緩衝記憶體610。然後,記憶體管理電路602可發送寫入指令序列至圖4的可複寫式非揮發性記憶體模組406以指示將緩衝記憶體610中的資料(即所收集的有效資料)儲存至作為回收節點(或目標節點)1220的實體單元1220(0)~1220(F)。在將從作為來源節點1210的某一個實體單元的有效資料完整儲存至來源節點1220後,此實體單元(或者包含此實體單元的實體管理單元)可被抹除。例如,假設根據來自實體單元1210(0)的有效資料經由多階段程式化操作完整地程式化至實體單元1220(0)後,實體單元1210(0)(或者包含實體單元1210(0)的實體管理單元)可被抹除。經抹除的實體單元(或實體管理單元)可成為一個新的閒置實體單元(或閒置實體管理單元)。換言之,經由資料整併操作,新的閒置實體單元可被釋放。此外,若滿足特定條件(例如產生足夠的閒置實體單元),資料整併操作可被停止。
圖13至圖17是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併操作的示意圖。
請參照圖13,假設在資料整併操作中,有效資料被從來源節點1310與1320收集並且被寫入至作為回收節點的實體管理單元1110。在啟動資料整併操作後,經由讀取操作1301,資料1300被從來源節點1310中的實體單元1310(0)~1310(G)的至少其中一者讀取並且被暫存至緩衝記憶體610。根據緩衝記憶體610中經由讀取操作1301所讀取的資料1300,第一階段程式化操作1302可被執行以程式化實體管理單元1110中的實體單元1110(0)(對應於圖13的標號1)。
請參照圖14,經第一階段程式化操作1302程式化的實體單元1110(0)以斜線標記。在執行第一階段程式化操作1302後,經由讀取操作1401,資料1400被從來源節點1320中的實體單元1320(0)~1320(H)的至少其中一者讀取並且被暫存至緩衝記憶體610。例如,資料1400可在緩衝記憶體610中覆寫原先儲存的資料1300的至少一部分資料。根據緩衝記憶體610中經由讀取操作1401所讀取的資料1400,第一階段程式化操作1402可被執行以程式化實體單元1110(1)(對應於圖14的標號2)。
請參照圖15,經第一階段程式化操作1402程式化的實體單元1110(1)以斜線標記。在執行第一階段程式化操作1402後,經由讀取操作1501,資料1300再次被從來源節點1310中的實體單元1310(0)~1310(G)的至少其中一者讀取並且被暫存至緩衝記憶體610。例如,資料1300可在緩衝記憶體610中覆寫原先儲存的資料1400的至少一部分資料。根據緩衝記憶體610中經由讀取操作1501所讀取的資料1300,第二階段程式化操作1502可被執行以再次程式化實體單元1110(0)(對應於圖15的標號3)。
須注意的是,圖13的讀取操作1301與圖15的讀取操作1501是從相同的實體單元中讀取資料1300。例如,若讀取操作1301是從實體單元1310(0)讀取資料1300,則讀取操作1501也是從實體單元1310(0)讀取資料1300。換言之,讀取操作1301與1501是讀取儲存於相同實體位址的資料1300。或者,從另一角度來看,經由讀取操作1301與1501重覆從相同的實體單元中讀取的資料1300會被用來對實體單元1110(0)執行多階段程式化操作。
請參照圖16,經第二階段程式化操作1502程式化的實體單元1110(0)以網底標記。在執行第二階段程式化操作1502後,經由讀取操作1601,資料1600被從另一來源節點1610中的實體單元1610(0)~1610(I)的至少其中一者讀取並且被暫存至緩衝記憶體610。例如,資料1600可在緩衝記憶體610中覆寫原先儲存的資料1300的至少一部分資料。根據緩衝記憶體610中經由讀取操作1601所讀取的資料1600,第一階段程式化操作1602可被執行以程式化實體單元1110(2)(對應於圖16的標號4)。
請參照圖17,經第一階段程式化操作1602程式化的實體單元1110(2)以斜線標記。在執行第一階段程式化操作1602後,經由讀取操作1701,資料1400再次被從來源節點1320中的實體單元1320(0)~1320(H)的至少其中一者讀取並且被暫存至緩衝記憶體610。例如,資料1400可在緩衝記憶體610中覆寫原先儲存的資料1600的至少一部分資料。根據緩衝記憶體610中經由讀取操作1701所讀取的資料1400,第二階段程式化操作1702可被執行以再次程式化實體單元1110(1)(對應於圖17的標號5)。
須注意的是,圖14的讀取操作1401與圖17的讀取操作1701是從相同的實體單元中讀取資料1400。例如,若讀取操作1401是從實體單元1320(0)讀取資料1400,則讀取操作1701也是從實體單元1320(0)讀取資料1400。換言之,讀取操作1401與1701是讀取儲存於相同實體位址的資料1400。或者,從另一角度來看,經由讀取操作1401與1701重覆從相同的實體單元中讀取的資料1400會被用來對實體單元1110(1)執行多階段程式化操作。依此類推,更多的有效資料可以被從來源節點收集並且被存入作為回收節點的實體管理單元1110。此外,圖13至圖17的範例實施例中對於實體管理單元1110的使用相同或相似於圖11的範例實施例中對於實體管理單元1110的使用。
在一範例實施例中,記憶體管理電路602還將與實體單元之讀取相關的讀取資訊記錄於一管理表格。此讀取資訊可反映作為來源節點的某一個實體單元是否經過一或多次的讀取操作(或一預設次數)之讀取。
以圖13的範例實施例為例,假設在剛開始執行資料整併操作時,管理表格中對應於實體單元1310(0)的讀取資訊為初始讀取旗標(例如數值0)。在經由讀取操作1301從實體單元1310(0)讀取資料1300後,對應於實體單元1310(0)的讀取資訊可被更新。例如,可在管理表格中將對應於實體單元1310(0)的讀取資訊更新為第一讀取旗標(例如數值1),以反映實體單元1310(0)已經在資料整併操作中經由讀取操作1301讀取。在圖15的範例實施例中,在經由讀取操作1501再次從實體單元1310(0)讀取資料1300後,對應於實體單元1310(0)的讀取資訊可再次被更新。例如,可在管理表格中將對應於實體單元1310(0)的讀取資訊更新為第二讀取旗標(例如數值2),以反映實體單元1310(0)已經在資料整併操作中經由讀取操作1501讀取。或者,從另一角度來看,對應於實體單元1310(0)的初始讀取旗標可反映實體單元1310(0)在資料整併操作中尚未被讀取過;對應於實體單元1310(0)的第一讀取旗標可反映實體單元1310(0)在資料整併操作中被讀取過一次;及/或對應於實體單元1310(0)的第二讀取旗標可反映實體單元1310(0)在資料整併操作中被讀取過兩次。此外,在一範例實施例中,對應於實體單元1310(0)的讀取資訊亦可以僅包括初始讀取旗標與第二讀取旗標,以反映實體單元1310(0)是否在資料整併操作中被讀取過兩次。
在一範例實施例中,記憶體管理電路602可根據對應於某一實體單元的讀取資訊決定是否抹除此實體單元。例如,在執行資料整併操作後,記憶體管理電路602可判斷對應於某一實體單元的讀取資訊是否為第二讀取旗標。若對應於此實體單元的讀取資訊為第二讀取旗標,表示此實體單元已在資料整併操作中被讀取過兩次,故記憶體管理電路602可指示抹除此實體單元。反之,若對應於此實體單元的讀取資訊不為第二讀取旗標,表示此實體單元尚未在資料整併操作中被讀取過兩次,故記憶體管理電路602可不指示抹除此實體單元。例如,在圖13的範例實施例中,實體單元1310(0)僅被讀取一次以提供用於第一階段程式化操作1302的資料1300,則記憶體管理電路602可根據對應於實體單元1310(0)的讀取資訊而暫不抹除實體單元1310(0)。在圖15的範例實施例中,實體單元1310(0)被讀取第二次以提供用於第二階段程式化操作1502的資料1300,故記憶體管理電路602可根據對應於實體單元1310(0)的讀取資訊而抹除實體單元1310(0)。
須注意的是,在前述範例實施例中,經多階段程式化操作的某一個記憶胞可以儲存3或4個位元。然而,在另一範例實施例中,經多階段程式化操作的某一個記憶胞可以儲存更多或更少位元(例如2個或8個位元),本發明不加以限制。此外,一個多階段程式化操作可以包括更多階段的程式化操作,而不限於第一階段程式化操作與第二階段程式化操作。例如,在圖8的一範例實施例中,可視為所執行的多階段程式化操作包含第一階段程式化操作、第二階段程式化操作及第三階段程式化操作。第一階段程式化操作用以將記憶胞程式化至屬於狀態801與802。第二階段程式化操作用以將記憶胞程式化至屬於狀態811~814。第三階段程式化操作用以將記憶胞程式化至屬於狀態821~828。在一範例實施例中,一個實體單元亦可以被讀取更多次(例如3次或4次),以執行第三階段程式化操作或第四階段程式化操作。
圖18是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併方法的流程圖。
請參照圖18,在步驟S1810中,啟動資料整併操作。在步驟S1820中,執行資料整併操作。步驟S1820包括步驟S1821~S1824。在步驟S1821中,經由第一讀取操作從第一實體單元讀取第一資料。在步驟S1822中,根據第一資料對第二實體單元執行第一階段程式化操作。在步驟S1823中,經由第二讀取操作再次從第一實體單元讀取第一資料。在步驟S1824中,根據經由第二讀取操作讀取的第一資料對第二實體單元執行第二階段程式化操作。在步驟S1830中,結束資料整併操作。
然而,圖18中各步驟已詳細說明如上,在此便不再贅述。值得注意的是,圖18中各步驟可以實作為多個程式碼或是電路,本發明不加以限制。此外,圖18的方法可以搭配以上範例實施例使用,也可以單獨使用,本發明不加以限制。
綜上所述,在資料整併操作中,第一實體單元中的相同資料可以被讀取至少兩次,以根據經由不同讀取操作所讀取的資料來完成對於第二實體單元的多階段程式化操作。藉此,即便記憶體儲存裝置因為成本考量而減少其中的緩衝記憶體的可用空間,對於單一實體單元的多階段程式化操作也可以被順利完成,而不需要額外提高緩衝記憶體的容量。在一範例實施例中,前述對同一個實體單元執行多次資料讀取操作以完成多階段程式化操作之機制,也可以有效提高記憶體儲存裝置對於緩衝記憶體之容量較小的記憶體控制器(或控制晶片)的相容性。
雖然本發明已以實施例揭露如上,然其並非用以限定本發明,任何所屬技術領域中具有通常知識者,在不脫離本發明的精神和範圍內,當可作些許的更動與潤飾,故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。
10、30‧‧‧記憶體儲存裝置
11、31‧‧‧主機系統
110‧‧‧系統匯流排
111‧‧‧處理器
112‧‧‧隨機存取記憶體
113‧‧‧唯讀記憶體
114‧‧‧資料傳輸介面
12‧‧‧輸入/輸出(I/O)裝置
20‧‧‧主機板
201‧‧‧隨身碟
202‧‧‧記憶卡
203‧‧‧固態硬碟
204‧‧‧無線記憶體儲存裝置
205‧‧‧全球定位系統模組
206‧‧‧網路介面卡
207‧‧‧無線傳輸裝置
208‧‧‧鍵盤
209‧‧‧螢幕
210‧‧‧喇叭
32‧‧‧SD卡
33‧‧‧CF卡
34‧‧‧嵌入式儲存裝置
341‧‧‧嵌入式多媒體卡
342‧‧‧嵌入式多晶片封裝儲存裝置
402‧‧‧連接介面單元
404‧‧‧記憶體控制電路單元
406‧‧‧可複寫式非揮發性記憶體模組
502、522‧‧‧記憶胞
504‧‧‧位元線
506‧‧‧字元線
508‧‧‧共用源極線
510、520‧‧‧記憶胞陣列
512‧‧‧選擇閘汲極電晶體
514‧‧‧選擇閘源極電晶體
524‧‧‧位元線
524(1)~524(4)‧‧‧位元線組
526(1)~526(8)‧‧‧字元線層
602‧‧‧記憶體管理電路 604‧‧‧主機介面
606‧‧‧記憶體介面
608‧‧‧錯誤檢查與校正電路
610‧‧‧緩衝記憶體
612‧‧‧電源管理電路
701‧‧‧儲存區
702‧‧‧替換區
710(0)~710(B)、1110(0)~1110(D)、1210(0)~1210(E)、1220(0)~1220(F)、1310(0)~1310(G)、1320(0)~1320(H)、1610(0)~1610(I)‧‧‧實體單元
712(0)~712(C)‧‧‧邏輯單元
801、802、811~814、821~828、901~908、911~926、1001~1016、1021~1036‧‧‧狀態
1110‧‧‧實體管理單元
1210、1310、1320、1610‧‧‧來源節點
1220‧‧‧回收節點
1300、1400、1600‧‧‧資料
1301、1401、1501、1601、1701‧‧‧讀取操作
1302、1402、1602‧‧‧第一階段程式化操作
1502、1702‧‧‧第二階段程式化操作
S1810‧‧‧步驟(啟動資料整併操作)
S1820‧‧‧步驟
S1821‧‧‧步驟(經由第一讀取操作從第一實體單元讀取第一資料)
S1822‧‧‧步驟(根據第一資料對第二實體單元執行第一階段程式化操作)
S1823‧‧‧步驟(經由第二讀取操作再次從第一實體單元讀取第一資料)
S1824‧‧‧步驟(根據經由第二讀取操作讀取的第一資料對第二實體單元執行第二階段程式化操作)
S1830‧‧‧步驟(結束資料整併操作)
圖1是根據本發明的一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及輸入/輸出(I/O)裝置的示意圖。 圖2是根據本發明的另一範例實施例所繪示的主機系統、記憶體儲存裝置及I/O裝置的示意圖。 圖3是根據本發明的另一範例實施例所繪示的主機系統與記憶體儲存裝置的示意圖。 圖4是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶體儲存裝置的概要方塊圖。 圖5A是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶胞陣列的示意圖。 圖5B是根據本發明的另一範例實施例所繪示的記憶胞陣列的示意圖。 圖6是根據本發明的一範例實施例所繪示的記憶體控制電路單元的概要方塊圖。 圖7是根據本發明的一範例實施例所繪示的管理可複寫式非揮發性記憶體模組的示意圖。 圖8是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。 圖9是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。 圖10是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化實體單元的示意圖。 圖11是根據本發明的一範例實施例所繪示的程式化某一個實體管理單元中的多個實體單元的示意圖。 圖12是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併操作的示意圖。 圖13至圖17是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併操作的示意圖。 圖18是根據本發明的一範例實施例所繪示的資料整併方法的流程圖。

Claims (21)

  1. 一種資料整併方法,用於包括多個實體單元的一記憶體儲存裝置,且該資料整併方法包括: 執行一資料整併操作,以將從一來源節點收集的有效資料儲存至一回收節點, 其中該來源節點包括該多個實體單元中的至少一第一實體單元,該回收節點包括該多個實體單元中的一第二實體單元,並且 該資料整併操作包括:   經由一第一讀取操作從該至少一第一實體單元讀取一第一資料;   根據該第一資料對該第二實體單元執行一第一階段程式化操作;   在執行該第一階段程式化操作後,經由一第二讀取操作再次從該至少一第一實體單元讀取該第一資料;以及   根據經由該第二讀取操作讀取的該第一資料對該第二實體單元執行一第二階段程式化操作。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,其中該來源節點更包括該多個實體單元中的至少一第三實體單元,該回收節點更包括該多個實體單元中的一第四實體單元,且該資料整併操作更包括: 從該至少一第三實體單元讀取一第二資料;以及 在該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作之間,根據該第二資料程式化該第四實體單元。
  3. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,其中該資料整併操作更包括: 將經由該第一讀取操作讀取的該第一資料暫存於一緩衝記憶體,以提供用於該第一階段程式化操作的該第一資料; 將一第二資料暫存於該緩衝記憶體,且該第二資料於該緩衝記憶體中覆蓋經由該第一讀取操作讀取的該第一資料的至少一部分資料;以及 將經由該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於該緩衝記憶體,以提供用於該第二階段程式化操作的該第一資料。
  4. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,更包括: 將一讀取資訊紀錄於一管理表格,其中該讀取資訊反映該至少一第一實體單元是否經過該第一讀取操作與該第二讀取操作的至少其中之一讀取;以及 根據該讀取資訊抹除該至少一第一實體單元。
  5. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,其中該第二實體單元依序經由該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作的程式化以儲存該第一資料。
  6. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,其中該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作屬於一多階段程式化操作,且該第二實體單元中經該多階段程式化操作程式化的一個記憶胞儲存不少於3個位元。
  7. 如申請專利範圍第1項所述的資料整併方法,更包括: 將經由該第一讀取操作或該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於一緩衝記憶體, 其中該第二實體單元具有一基本容量,且該緩衝記憶體的一可用容量小於該基本容量的兩倍。
  8. 一種記憶體儲存裝置,包括: 一連接介面單元,用以耦接至一主機系統; 一可複寫式非揮發性記憶體模組,其包括多個實體單元;以及 一記憶體控制電路單元,耦接至該連接介面單元與該可複寫式非揮發性記憶體模組, 其中該記憶體控制電路單元用以執行一資料整併操作,以將從一來源節點收集的有效資料儲存至一回收節點, 該來源節點包括該多個實體單元中的至少一第一實體單元,該回收節點包括該多個實體單元中的一第二實體單元,並且 該資料整併操作包括:   發送一第一讀取指令序列以指示經由一第一讀取操作從該至少一第一實體單元讀取一第一資料;   發送一第一寫入指令序列以指示根據該第一資料對該第二實體單元執行一第一階段程式化操作;   在執行該第一階段程式化操作後,發送一第二讀取指令序列以指示經由一第二讀取操作再次從該至少一第一實體單元讀取該第一資料;以及   發送一第二寫入指令序列以指示根據經由該第二讀取操作讀取的該第一資料對該第二實體單元執行一第二階段程式化操作。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該來源節點更包括該多個實體單元中的至少一第三實體單元,該回收節點更包括該多個實體單元中的一第四實體單元,且該資料整併操作更包括: 發送一第三讀取指令序列以指示從該至少一第三實體單元讀取一第二資料;以及 在該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作之間,發送一第三寫入指令序列以指示根據該第二資料程式化該第四實體單元。
  10. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該資料整併操作更包括: 將經由該第一讀取操作讀取的該第一資料暫存於一緩衝記憶體,以提供用於該第一階段程式化操作的該第一資料; 將一第二資料暫存於該緩衝記憶體,且該第二資料於該緩衝記憶體中覆蓋經由該第一讀取操作讀取的該第一資料;以及 將經由該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於該緩衝記憶體,以提供用於該第二階段程式化操作的該第一資料。
  11. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該記憶體控制電路單元更用以將一讀取資訊紀錄於一管理表格並根據該讀取資訊抹除該至少一第一實體單元,其中該讀取資訊反映該至少一第一實體單元是否經過該第一讀取操作與該第二讀取操作的至少其中之一讀取。
  12. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該第二實體單元依序經由該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作的程式化以儲存該第一資料。
  13. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作屬於一多階段程式化操作,且該第二實體單元中經該多階段程式化操作程式化的一個記憶胞儲存不少於3個位元。
  14. 如申請專利範圍第8項所述的記憶體儲存裝置,其中該記憶體控制電路單元更用以將經由該第一讀取操作或該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於一緩衝記憶體, 其中該第二實體單元具有一基本容量,且該緩衝記憶體的一可用容量小於該基本容量的兩倍。
  15. 一種記憶體控制電路單元,用於控制一可複寫式非揮發性記憶體模組,其中該可複寫式非揮發性記憶體模組包括多個實體單元,其中該記憶體控制電路單元包括: 一主機介面,用以耦接至一主機系統; 一記憶體介面,用以耦接至該可複寫式非揮發性記憶體模組;以及 一記憶體管理電路,耦接至該主機介面與該記憶體介面, 其中該記憶體管理電路用以執行一資料整併操作,以將從一來源節點收集的有效資料儲存至一回收節點, 該來源節點包括該多個實體單元中的至少一第一實體單元,該回收節點包括該多個實體單元中的一第二實體單元,並且 該資料整併操作包括:   發送一第一讀取指令序列以指示經由一第一讀取操作從該至少一第一實體單元讀取一第一資料;   發送一第一寫入指令序列以指示根據該第一資料對該第二實體單元執行一第一階段程式化操作;   在執行該第一階段程式化操作後,發送一第二讀取指令序列以指示經由一第二讀取操作再次從該至少一第一實體單元讀取該第一資料;以及   發送一第二寫入指令序列以指示根據經由該第二讀取操作讀取的該第一資料對該第二實體單元執行一第二階段程式化操作。
  16. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,其中該來源節點更包括該多個實體單元中的至少一第三實體單元,該回收節點更包括該多個實體單元中的一第四實體單元,且該資料整併操作更包括: 發送一第三讀取指令序列以指示從該至少一第三實體單元讀取一第二資料;以及 在該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作之間,發送一第三寫入指令序列以指示根據該第二資料程式化該第四實體單元。
  17. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,更包括一緩衝記憶體,其中該緩衝記憶體耦接至該記憶體管理電路,且該資料整併操作更包括: 將經由該第一讀取操作讀取的該第一資料暫存於該緩衝記憶體,以提供用於該第一階段程式化操作的該第一資料; 將一第二資料暫存於該緩衝記憶體,且該第二資料於該緩衝記憶體中覆蓋經由該第一讀取操作讀取的該第一資料;以及 將經由該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於該緩衝記憶體,以提供用於該第二階段程式化操作的該第一資料。
  18. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,其中該記憶體管理電路更用以將一讀取資訊紀錄於一管理表格並根據該讀取資訊抹除該至少一第一實體單元,其中該讀取資訊反映該至少一第一實體單元是否經過該第一讀取操作與該第二讀取操作的至少其中之一讀取。
  19. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,其中該第二實體單元依序經由該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作的程式化以儲存該第一資料。
  20. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,其中該第一階段程式化操作與該第二階段程式化操作屬於一多階段程式化操作,且該第二實體單元中經該多階段程式化操作程式化的一個記憶胞儲存不少於3個位元。
  21. 如申請專利範圍第15項所述的記憶體控制電路單元,更包括一緩衝記憶體,其中該緩衝記憶體耦接至該記憶體管理電路,且該記憶體管理電路更用以將經由該第一讀取操作或該第二讀取操作讀取的該第一資料暫存於該緩衝記憶體, 其中該第二實體單元具有一基本容量,且該緩衝記憶體的一可用容量小於該基本容量的兩倍。
TW107127772A 2018-08-09 2018-08-09 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元 TWI668570B (zh)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107127772A TWI668570B (zh) 2018-08-09 2018-08-09 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
US16/141,990 US10592167B2 (en) 2018-08-09 2018-09-26 Data merge method which reads first physical unit twice for respectively performing first stage programming operation and second stage programming operation on second physical unit, memory storage device and memory control circuit unit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
TW107127772A TWI668570B (zh) 2018-08-09 2018-08-09 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TWI668570B true TWI668570B (zh) 2019-08-11
TW202009711A TW202009711A (zh) 2020-03-01

Family

ID=68316223

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW107127772A TWI668570B (zh) 2018-08-09 2018-08-09 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元

Country Status (2)

Country Link
US (1) US10592167B2 (zh)
TW (1) TWI668570B (zh)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN112394883A (zh) * 2020-11-17 2021-02-23 群联电子股份有限公司 数据整并方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
CN112799601A (zh) * 2021-02-24 2021-05-14 群联电子股份有限公司 有效数据合并方法、存储器存储装置及控制电路单元
TWI741870B (zh) * 2020-11-10 2021-10-01 群聯電子股份有限公司 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI780521B (zh) * 2020-11-24 2022-10-11 大陸商合肥沛睿微電子股份有限公司 電子裝置及空間複用方法
TWI795119B (zh) * 2021-12-07 2023-03-01 大陸商合肥兆芯電子有限公司 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20200117374A (ko) * 2019-04-04 2020-10-14 에스케이하이닉스 주식회사 비휘발성 메모리 장치, 이의 동작 방법 및 이를 이용하는 시스템
JP2022042762A (ja) * 2020-09-03 2022-03-15 キオクシア株式会社 不揮発性メモリ、メモリシステム、および、不揮発性メモリの制御方法
TWI766582B (zh) * 2021-02-17 2022-06-01 群聯電子股份有限公司 有效資料合併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201635296A (zh) * 2015-03-23 2016-10-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TW201719671A (zh) * 2015-11-27 2017-06-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法與記憶體儲存裝置
TW201719673A (zh) * 2015-11-27 2017-06-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法與記憶體儲存裝置
TW201814526A (zh) * 2016-10-04 2018-04-16 大心電子(英屬維京群島)股份有限公司 記憶體管理方法及使用所述方法的儲存控制器

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5862357A (en) * 1996-07-02 1999-01-19 Sun Microsystems, Inc. Hierarchical SMP computer system
US7404044B2 (en) * 2004-09-15 2008-07-22 Broadcom Corporation System and method for data transfer between multiple processors
US8423721B2 (en) * 2008-04-30 2013-04-16 Freescale Semiconductor, Inc. Cache coherency protocol in a data processing system
TWI455133B (zh) * 2009-05-26 2014-10-01 Silicon Motion Inc 用來管理一快閃記憶體的複數個區塊之方法以及相關之記憶裝置及其控制器
TWI436212B (zh) * 2011-07-21 2014-05-01 Phison Electronics Corp 資料寫入方法、記憶體控制器與記憶體儲存裝置
TWI459400B (zh) * 2012-04-17 2014-11-01 Phison Electronics Corp 記憶體儲存裝置、及其記憶體控制器與電源控制方法
TWI501243B (zh) * 2013-11-12 2015-09-21 Phison Electronics Corp 資料寫入方法、記憶體儲存裝置、記憶體控制電路單元
TWI564901B (zh) * 2015-04-30 2017-01-01 群聯電子股份有限公司 資料寫入方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置
US10002073B2 (en) * 2015-11-06 2018-06-19 SK Hynix Inc. Selective data recycling in non-volatile memory
TWI587135B (zh) * 2016-11-23 2017-06-11 群聯電子股份有限公司 資料儲存方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201635296A (zh) * 2015-03-23 2016-10-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TW201719671A (zh) * 2015-11-27 2017-06-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法與記憶體儲存裝置
TW201719673A (zh) * 2015-11-27 2017-06-01 群聯電子股份有限公司 資料程式化方法與記憶體儲存裝置
TW201814526A (zh) * 2016-10-04 2018-04-16 大心電子(英屬維京群島)股份有限公司 記憶體管理方法及使用所述方法的儲存控制器

Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI741870B (zh) * 2020-11-10 2021-10-01 群聯電子股份有限公司 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
CN112394883A (zh) * 2020-11-17 2021-02-23 群联电子股份有限公司 数据整并方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
CN112394883B (zh) * 2020-11-17 2023-07-04 群联电子股份有限公司 数据整并方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
TWI780521B (zh) * 2020-11-24 2022-10-11 大陸商合肥沛睿微電子股份有限公司 電子裝置及空間複用方法
CN112799601A (zh) * 2021-02-24 2021-05-14 群联电子股份有限公司 有效数据合并方法、存储器存储装置及控制电路单元
CN112799601B (zh) * 2021-02-24 2023-06-13 群联电子股份有限公司 有效数据合并方法、存储器存储装置及控制电路单元
TWI795119B (zh) * 2021-12-07 2023-03-01 大陸商合肥兆芯電子有限公司 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
US11803331B2 (en) 2021-12-07 2023-10-31 Hefei Core Storage Electronic Limited Method for recording unit management information, memory storage device and memory control circuit unit

Also Published As

Publication number Publication date
TW202009711A (zh) 2020-03-01
US20200050399A1 (en) 2020-02-13
US10592167B2 (en) 2020-03-17

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI668570B (zh) 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI575374B (zh) 映射表格更新方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI592799B (zh) 映射表更新方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
TWI587135B (zh) 資料儲存方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI550612B (zh) 資料程式化方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI554885B (zh) 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
TWI676176B (zh) 資料整併方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TW201727492A (zh) 資料保護方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
TWI658361B (zh) 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置
TWI644210B (zh) 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置
CN110837339B (zh) 数据整并方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
TWI702496B (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI678621B (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI631460B (zh) 資料讀取方法、記憶體控制電路單元與記憶體儲存裝置
TWI688956B (zh) 記憶體控制方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TW201944256A (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TW202201229A (zh) 記憶體控制方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI553477B (zh) 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
CN111767005A (zh) 存储器控制方法、存储器存储装置及存储器控制电路单元
TWI554884B (zh) 記憶體管理方法、記憶體控制電路單元及記憶體儲存裝置
TWI712886B (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI784224B (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI653531B (zh) 記憶體管理方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI573033B (zh) 資料搜尋方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元
TWI780003B (zh) 記憶體控制方法、記憶體儲存裝置及記憶體控制電路單元