TWI662284B - 自動化微型測試器陣列、電腦實施方法及電腦程式產品 - Google Patents

自動化微型測試器陣列、電腦實施方法及電腦程式產品 Download PDF

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Abstract

一種自動化微型測試器陣列，用於同時測試複數個待測件，包括複數個自動化微型測試器，其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以測試複數個待測件。中央計算系統經配置以自動化測試耦接到該複數個自動化微型測試器的該複數個待測件。一種方法和電腦程式產品，用於指示複數個自動化微型測試器以加載自動化測試製程；以及指示該複數個自動化微型測試器執行該自動化測試製程。

Description

自動化微型測試器陣列、電腦實施方法及電腦程式產品 【交叉參考相關申請案】
本申請案主張申請於2016年11月8日之美國臨時申請案第62/419,068號之權益，其名稱為“高產出量多節點測試系統(HIGH-THROUGHPUT MULTI-NODE TEST SYSTEM)”。
本揭露關於一種自動化測試系統，且更具體地，關於一種高產出量、多節點的自動化測試系統。
自動化測試設備系統可被用於測試各種電子組件，該電子組件通常被稱為待測件(devices under test；DUT)。該系統可以使該組件的測試自動化，其中組件可以某種形式的邏輯方式接受一系列不同的測試。另外，該系統可提供進一步的自動化程度，其中要被測試的組件可被自動換出 (在完成測試程序後)並且會被尚未被測試的組件替換。
由於要被測試的裝置數量多，自動化測試設備系統可被配置為並行測試多個裝置。不幸的是，該系統往往效率低下。具體而言，這些自動化測試設備系統可同時地連接到多個DUTs，使得它們可以同時執行測試程序。不幸的是，由於中央電腦的匯流排限制、共享資源和線程(threading)限制，單獨的DUT的測試並不完全平行(從而導致上述的無效率)。
在另一實施方式中，一種用於同時測試複數個待測件(devices under test)的自動化微型測試器陣列(automated microtester array)包括複數個自動化微型測試器，其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以測試複數個待測件。中央計算系統經配置以自動化測試耦接到該複數個自動化微型測試器的該複數個待測件。
可以包括一個或複數個以下特徵。該中央計算系統可經配置以執行自動化陣列製程(automated array process)。該自動化陣列製程可經配置以控制複數個自動化微型測試器。該自動化陣列製程可經配置以同時測試該複數個待測件中的每一個。該複數個自動化微型測試器中的每一個可包括：處理系統，包括複數個處理器組合件；複數個測試 位點，經配置以可釋放地接合該複數個待測件；以及儀器系統，其係由該處理系統可控制的且經配置以提供一個或複數個輸入訊號給該複數個測試位點並從該複數個測試位點讀取一個或複數個監測訊號。該處理系統可包括多核心處理器。包括在該處理系統內的該複數個處理器組合件可包括：包括在該多核心處理器內的複數個處理器核心。該複數個測試位點可經配置以接收複數個配接器板。該複數個配接器板可經配置以可釋放地接收該複數個待測件。該處理系統可經配置以執行自動化測試製程。該自動化測試製程可經配置以控制該儀器系統並定義提供給該複數個測試位點的該一個或複數個輸入訊號以及從該複數個測試位點讀取的該一個或複數個監測訊號。該自動化測試製程可經配置以同時測試該複數個待測件中的每一個。
在另一實施方式中，一種電腦實施方法係在計算裝置上執行且包括：指示複數個自動化微型測試器以加載自動化測試製程；以及指示該複數個自動化微型測試器執行該自動化測試製程。
可以包括一個或複數個以下特徵。可從該複數個自動化微型測試器接收波形和測量。該波形和測量可包括以下中的一個或複數個：提供給包括在該複數個自動化微型測試器內的複數個測試位點的一個或複數個輸入訊號；以及從該複數個測試位點讀取的一個或複數個監測訊號。可接 收關於在該複數個自動化微型測試器上執行的該自動化測試製程的一個或複數個端部測試指示符(end-on-test indicator)。
在另一實施方式中，一種電腦程式產品駐留在電腦可讀媒體上且具有儲存在其上的複數個指令。當由處理器執行時，該指令使得該處理器進行操作，包括指示複數個自動化微型測試器以加載自動化測試製程；以及指示該複數個自動化微型測試器執行該自動化測試製程。
可以包括一個或複數個以下特徵。可從該複數個自動化微型測試器接收波形和測量。可接收關於在該複數個自動化微型測試器上執行的該自動化測試製程的一個或複數個端部測試指示符。
在隨附圖式和以下說明中闡述一個或複數個實施方式的細節。其他特徵和優點將從說明書、圖式和申請專利範圍中變得顯而易見。
10‧‧‧自動化微型測試器
12‧‧‧處理系統
14、16、18、20‧‧‧處理核心
22、24、26、28‧‧‧測試位點
30、32、34、36‧‧‧配接器板
38、40、42、44‧‧‧待測件
46‧‧‧儀器系統
48‧‧‧輸入訊號
50‧‧‧監測訊號
52‧‧‧互連平台
54‧‧‧自動化測試製程
56‧‧‧儲存裝置
58‧‧‧網路
60‧‧‧遠程計算裝置
62、64、66、68‧‧‧待測件
70‧‧‧自動化DUT交換系統
100‧‧‧自動化微型測試器陣列
102、104、106‧‧‧自動化微型測試器
108、110、112、114‧‧‧待測件
116、118、120、122‧‧‧待測件
124、126、128、130‧‧‧待測件
136‧‧‧中央計算系統
137‧‧‧共同外殼
138‧‧‧自動化陣列製程
140‧‧‧儲存裝置
142、144、146、148‧‧‧波形和測量
150、152、154、156‧‧‧指示符
200~206‧‧‧步驟
圖1是根據本揭露之一個實施方式的包括處理系統的自動化微型測試器的示意圖。
圖2是根據本揭露之一個實施方式的包括複數個自動 化微型測試器的自動化微型測試器陣列的示意圖。
圖3是由圖2的自動化微型測試器陣列執行的自動化陣列製程的流程圖。
在各種圖式中相同的元件符號表示相同的元件。
系統概述
參考圖1，顯示出自動化微型測試器10。該自動化微型測試器10的實例可包括但不限於使待測件(DUT)自動化認證(verification)和驗證(validation)的系統。自動化測試設備系統(例如，自動化微型測試器10)可以用於以自動化方式測試各種電子組件。通常，待測件(DUT)會經受一系列不同的測試，其中測試程序可以邏輯方式來自動化。例如，在電源供應測試期間，該電源供應可能經受變化的電壓位準和變化的電壓頻率。此外，在噪聲消除電路的測試期間，這樣的電路可能經受變化的噪聲的位準和頻率，以確認其性能令人滿意。
自動化微型測試器10可包括處理系統12。該處理系統12的實例可包括但不限於多核心處理器，其包括複數個處理組合件(例如，處理核心14、16、18、20)。或者，處理系統12可包括複數個分立微處理器。儘管下文的討論涉 及包括四個處理核心(例如，處理核心14、16、18、20)的處理系統12，但這僅是為了說明目的，並不意欲限制本揭露，因為其他配置也是可能的，並且被認為在本揭露的範圍內。例如，包括在處理系統12內的處理核心的數量可以根據自動化微型測試器10所需要的計算能力的等級而增加或減少。
自動化微型測試器10可包括一個或複數個測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)，經配置以可釋放地接收至少一個待測件。自動化微型測試器10可經配置以包括一個測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)，用於包括在處理系統12內的每個處理核心(例如，處理核心14、16、18、20)。
自動化微型測試器10可經配置以與一個或複數個配接器板(例如，配接器板30、32、34、36)一起工作，其中該配接器板(例如，配接器板30、32、34、36)可經配置以使測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)適配於特定類型的待測件(例如，待測件38、40、42、44)。例如，測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)可以是通用連接器組合件，其可經配置以提供訊號給待測件(例如，待測件38、40、42、44)及/或從待測件(例如，待測件38、40、42、44)讀取訊號。
雖然下文討論涉及單個測試位點(以及待測件)與單個處理核心相關聯(例如，測試位點22/待測件38與處理核心14相關聯；測試位點24/待測件40與處理核心16相關聯；測試位點26/待測件42與處理核心18相關聯；以及測試位點28/待測件44與處理核心20相關聯)；此僅是為了說明目的，並不意欲作為本揭露的限制，因為其他配置是可能的。例如，一個或複數個配接器板(例如，配接器板30、32、34、36)可經配置以使單個測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)適應於多個待測件，從而使得(在此實例中)四個處理核心(例如，核心14、16、18、20)能夠與例如八個(具有兩倍配接器板)、十二個(具有三倍配接器板)或更多的待測件相關聯。
可選擇地，測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)可經配置以在沒有配接器板(例如，配接器板30、32、34、36)的情況下工作，其中測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)可經配置以允許待測件(例如，待被測件38、40、42、44)直接插入/耦合到該測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)。
自動化微型測試器10可包括儀器系統46。如上所述，可將輸入訊號(例如，輸入訊號48)，其實例可包括但不限於各種電壓訊號和電流訊號，透過(在此實例中)測試位點22、24、26、28提供給待測件(例如，待測件38、40、42、 44)。另外，監測訊號(例如，監測訊號50)，其實例可包括但不限於電壓訊號和電流訊號，透過(在此實例中)測試位點22、24、26、28可從各種待測件(例如，待測件38、40、42、44)被讀取。因此，儀器系統46可經配置以提供上述輸入訊號(例如，輸入訊號48)給待測件(例如，待測件38、40、42、44)並且可經配置以在任何測試程序/操作期間讀取來自待測件(例如，待測件38、40、42、44)的上述監測訊號(例如，監測訊號50)。
處理系統12(包括處理核心14、16、18、20)和測試位點22、24、26、28可透過互連平台52(例如，PCIe匯流排或USB匯流排)耦接在一起。
如果配置為PCIe匯流排，則互連平台52可以允許測試位點22、24、26、28和處理系統12(包括處理核心14、16、18、20)使用PCIe通訊標準透過互連平台52進行通訊。如本領域所周知，快速週邊組件互連(Peripheral Component Interconnect Express；PCIe)是一種高速串行電腦擴展匯流排標準，被設計來取代舊式匯流排系統(例如，PCI、PCI-X和AGP)。通過使用PCIe，可以實現更高的最大系統匯流排傳輸量(throughput)。其他好處可包括更低的I/O銷數、更小的物理足跡、更好的匯流排裝置性能擴展、更詳細的錯誤檢測和報告機制、以及本地即插即用功能。
如果配置為USB匯流排，則互連平台52可以允許測試位點22、24、26、28和處理系統12(包括處理核心14、16、18、20)使用USB通訊標準透過互連平台52進行通訊。如本領域所周知，通用串列匯流排(USB)是一種工業標準，其定義使用在匯流排中用於電腦與各種電子裝置/組件之間的連接、通訊和電源供應的電纜、連接器和通訊協定。
自動化微型測試器10可以執行一種或複數種操作系統，其實例可包括但不限於：Microsoft WindowsTM；Linux；Unix或定制的操作系統。
自動化微型測試器10可以執行一種或複數種自動化測試程式(例如，自動化測試製程54)，其中自動化測試製程54可經配置以自動化測試各種待測件(例如，待測件38、40、42、44)。通過使用自動化測試製程54，自動化微型測試器10的管理員(未圖示)可定義並執行各種待測件(例如，待測件38、40、42、44)的測試程序/例行工作，即例如，提供輸入訊號(例如，輸入訊號48)並從例如待測件38、40、42、44讀取監測訊號(例如，監測訊號50)。各種待測件(例如，待測件38、40、42、44)都可以是相同類型的裝置或者可以是不同類型的裝置。例如，待測件38、40、42、44可包括複數個裝置類型，其中例如第一自動化測試製程可以在與第一類型的裝置相關聯的處理核心上執行，而第二自動化測試製程可以在與第二類型的裝置相關聯的 處理核心上執行。
自動化測試製程54的指令集和子程序可以儲存在耦接到/包括在自動化微型測試器10內的儲存裝置56上，可以由自動化微型測試器10內包括的一種或複數種處理器(例如，處理系統12，包括處理核心14、16、18、20)和一種或複數種記憶體架構(未圖示)執行。儲存裝置56的實例可包括但不限於：硬碟驅動器；隨機存取記憶體(RAM)；唯讀記憶體(ROM)；以及所有形式的快閃記憶體儲存裝置。
處理系統12可以連接到一個或複數個網路(例如，網路58)，其實例可包括但不限於：USB集線器、乙太網路(Ethernet network)(例如，區域網路或廣域網路)、內部網路或互聯網。因此，自動化微型測試器10可以透過網路58管理及/或控制。因此，管理員(未圖示)可以透過自動化測試製程54使用耦接到網路58的遠程計算裝置(例如，遠程計算裝置60)來定義及/或管理各種測試程序及/或例行工作。遠程計算裝置60的實例可包括但不限於個人電腦、筆記型電腦、平板電腦和智慧型手機。
自動化微型測試器10可包括自動化DUT交換系統70，其可經配置以從自動化微型測試器10斷開(uncouple)待測件(例如，待測件38、40、42、44)並耦接新的待測件(例如，待測件62、64、66、68)到自動化微型測試器10。自 動化DUT交換系統70的實例可包括但不限於一個或複數個機器人手臂(或類似的裝置)，其可經配置以在例如完成自動化測試製程54時從自動化微型測試器10移除待測件(例如，待測件38、40、42、44)，並且可將該新的待測件(例如，待測件62、64、66、68)耦接到自動化微型測試器10，使得例如自動化測試製程54可在該新的待測件(例如，待測件62、64、66、68)上執行。可重複此交換和測試製程，直到所有需要測試的待測件都被測試。
也參考圖2，顯示出自動化微型測試器陣列100，其中自動化微型測試器陣列可經配置以同時測試多個待測件。例如，自動化微型測試器陣列100可經配置以包括複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、自動化微型測試器102、自動化微型測試器104及自動化微型測試器106)。儘管在此特定的實例中，自動化微型測試器陣列100被顯示為包括四個自動化微型測試器(如以自動化微型測試器1、自動化微型測試器2、自動化微型測試器3和自動化微型測試器N表示)，但此僅是為了說明目的，且作為其他配置的本揭露的限制是可能的。例如，取決於自動化微型測試器陣列100的設計標準和需求，包括在自動化微型測試器陣列100內的自動化微型測試器的數量可以增加或減少。具體而言，通過這樣的配置，自動化微型測試器陣列100可以無限縮放到耦接自動化微型測試器陣列100的各個組件的網路(例如，網路58)的能力，從而允 許自動化微型測試器陣列100能實現接近完美的平行度(~100%平行測試效率)。
在上述方式中，自動化微型測試器10、102、104、106中的每一個可經配置以同時測試複數個待測件。例如，如上所述，自動化微型測試器10可經配置以同時測試四個待測件(亦即，待測件38、40、42、44)。此外，自動化微型測試器102可經配置以同時測試四個待測件(亦即，待測件108、110、112、114)；自動化微型測試器104可經配置以同時測試四個待測件(亦即，待測件116、118、120、122)；以及自動化微型測試器106可經配置以同時測試四個待測件(亦即，待測件124、126、128、130)；因此允許在自動化微型測試器陣列100的這個示例性實施中同時測試十六個待測件。而且，由於包括在自動化微型測試器陣列100內的自動化微型測試器的數量可以根據自動化微型測試器陣列100的設計標準和需求而增加或減少，所以可以經由自動化微型測試器陣列100同時測試的待測件的數量也可以是根據自動化微型測試器陣列100的設計標準和需求而增加或減少。
自動化微型測試器陣列100可包括中央計算系統136。中央計算系統136的實例可包括但不限於個人電腦、伺服器電腦、一系列伺服器電腦、小型電腦或單板電腦。中央計算系統136可以執行一種或複數種操作系統，其實 例可包括但不限於：Microsoft WindowsTM；Linux；Unix或定制的操作系統。包括在自動化微型測試器陣列100內的複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、自動化微型測試器102、自動化微型測試器104及自動化微型測試器106)，且包括在自動化微型測試器陣列100內的中央計算系統136可以全部是透過網路58互連的分離且不同的組件。另外/可選地，複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、自動化微型測試器102、自動化微型測試器104及自動化微型測試器106)以及包括在自動化微型測試器陣列100內的中央計算系統136可全部被併入到共同外殼(例如，共同外殼137)中，其中網路58被包括在共同外殼137內。
中央計算系統136(在自動化微型測試器陣列100內)可以執行一個或複數個自動化陣列程式(例如自動化陣列製程138)，其中自動化陣列製程138可經配置以透過複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、自動化微型測試器102、自動化微型測試器104及自動化微型測試器106)自動化測試各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)。通過使用自動化微型測試器陣列100，可以同時測試這些各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)，其中不同的測試程式可以由每個處理組合件(例 如，處理核心14、16、18、20)同時執行。各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)可以全部是相同類型的裝置，或者可以是不同類型的裝置。例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130可包括複數個裝置類型，其中例如第一自動化測試製程可以在與第一類型的裝置相關聯的處理核心上執行，而第二自動化測試製程可以在與第二類型的裝置相關聯的處理核心上執行。通過使用自動化陣列製程138，自動化微型測試器陣列100的管理員(未圖示)可定義並執行用於各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)的測試程序/例行工作，這些都是通過自動化微型測試器10、102、104、106實現。
自動化陣列製程138的指令集和子程序可以儲存在耦接到/包括在中央計算系統136內的儲存裝置140上，可以由中央計算系統136內包括的一種或複數種處理器(未圖示)和一種或複數種記憶體架構(未圖示)執行。儲存裝置140的實例可包括但不限於：硬碟驅動器；隨機存取記憶體(RAM)；唯讀記憶體(ROM)；以及所有形式的快閃記憶體儲存裝置。
中央計算系統136和自動化微型測試器10、102、104、 106可以透過網路58耦接，該網路58的實例(如上所述)可以包括但不限於USB集線器、乙太網路(例如，區域網路或廣域網路)、內部網路或互聯網。如上所述，遠程計算裝置(例如，遠程計算裝置60)可被耦接到網路58，其中該遠程計算裝置(例如，遠程計算裝置60)可被用來管理及/或控制自動化微型測試器陣列100的各種組件。因此，管理員(未圖示)可使用遠程計算裝置60來定義及/或管理自動化微型測試器陣列100的各種測試程序及/或例行工作(例如，自動化測試製程54及我們的自動化陣列製程138)。
如上所述，中央計算系統136(在自動化微型測試器陣列100內)可執行自動化陣列製程138，該自動化陣列製程138可經配置以透過複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、自動化微型測試器102、自動化微型測試器104及自動化微型測試器106)來自動化測試各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)。另外並且如上所述，自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)可各自執行自動化測試製程54，其可經配置以自動化測試各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)。因此並且通過使用自動化陣列製程138和在(在此實例中)自動化微型測試器10、102、104、106上執行的自動化測試製程54的各種實例，自動化陣列製程138的管 理員(未圖示)和自動化測試製程54的各種實例可定義和執行用於各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)的測試程序及/或例行工作，其可透過例如自動化微型測試器10、102、104、106實現。
例如並也參考圖3，自動化陣列製程138可指示200複數個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)以加載自動化測試製程(例如，自動化測試製程54)。
如上所討論，每個自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)可包括自動化DUT交換系統(例如，自動化DUT交換系統70)，其可經配置以將需要被測試的裝置耦接到自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)。一旦測試完成，自動化DUT交換系統70可經配置以從自動化微型測試器(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)斷開裝置。因此，為了提高效率，自動化陣列製程138可指示200每個自動化微型測試器10、102、104、106加載自動化測試製程54，同時自動化DUT交換系統70將需要被測試的裝置耦接到例如自動化微型測試器10、102、104、106。
一旦需要被測試的裝置被耦接到例如自動化微型測試 器10、102、104、106，則自動化陣列製程138可指示202複數個自動化微型測試器中的每一個(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)執行自動化測試製程(例如，自動化測試製程54)。
如上所討論，自動化測試製程54可經配置以自動化測試各種待測件(例如，待測件38、40、42、44耦接到自動化微型測試器10、待測件108、110、112、114耦接到自動化微型測試器102；待測件116、118、120、122耦接到自動化微型測試器104；以及待測件124、126、128、130耦接到自動化微型測試器106)。
例如，在自動化測試製程54的執行期間，儀器系統46可經配置以產生並讀取各種訊號。例如，輸入訊號(例如，輸入訊號48)可被提供給各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)。另外，可從各種待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、128、130)讀取監測訊號(例如，監測訊號50)。
因此，在執行自動化測試製程54期間，自動化測試製程54可經配置以提供波形和測量(例如，來自自動化微型測試器10的波形和測量142、來自自動化微型測試器102 的波形和測量144、來自自動化微型測試器104的波形和測量146、來自自動化微型測試器106的波形和測量148)，其可藉由自動化陣列製程138接收204。被自動化陣列製程138接收204的波形和測量142、144、146、148的實例可包括但不限於：提供給包括在複數個自動化微型測試器中的每一個(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)內的複數個測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)的一個或複數個輸入訊號(例如，輸入訊號48)；以及從包括在複數個自動化微型測試器中的每一個(例如，自動化微型測試器10、102、104、106)內的複數個測試位點(例如，測試位點22、24、26、28)讀取的一個或複數個監測訊號(例如，監測訊號50)。
一旦自動化測試製程54已經被完全執行並且待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130)的測試已經完成，自動化陣列製程138可接收206關於在例如自動化微型測試器10、102、104、106上已經完全執行的自動化測試製程54的一個或複數個端部測試指示符(例如，來自自動化微型測試器10的指示符150、來自自動化微型測試器102的指示符152、來自自動化微型測試器104的指示符154、以及來自自動化微型測試器106的指示符156)，從而指示待測件(例如，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130) 的測試的完成。
因此，通過使用自動化DUT交換系統70，待測件38、40、42、44、108、110、112、114、116、118、120、122、124、126、128、130可斷開例如待測件10、102、104、106並可耦接新的(以及未檢測的)待測件到自動化微型測試器10、102、104、106，使得可以重複上述測試程序，其中這些測試程序的結果可被提供給可用來管理及/或控制自動化微型測試器陣列100的遠程計算裝置(例如，遠程計算裝置60)。遠程計算裝置60的實例可包括但不限於個人電腦、筆記型電腦、平板電腦和智慧型手機。
概要
如本領域技術人員將理解的，本揭露可以體現為方法、系統或電腦程式產品。因此，本揭露可以採取完全硬體實施例、完全軟體實施例(包括韌體、常駐軟體、微代碼等)或組合軟體和硬體方面的實施例的形式，這些實施例在本文中通常可以被稱為“電路”、“模組”或“系統”。此外，本揭露可以採用在電腦可用儲存媒體上的電腦程式產品的形式，該電腦可用儲存媒體具有體現在媒體中的電腦可用程式代碼。
可以使用任何合適的電腦可用媒體或電腦可讀媒體。電腦可用媒體或電腦可讀媒體可以是例如但不限於：電子 的、磁性的、光學的、電磁的、紅外線的或半導體的系統、設備、裝置或傳播媒體。電腦可讀媒體的更具體實例(非窮舉性列表)可以包括以下：具有一個或複數個導線的電連接、可攜式電腦磁片、硬碟、隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、可擦除可編程唯讀記憶體(erasable programmable read-only memory；EPROM或快閃記憶體)、光纖、可攜式光碟唯讀記憶體(CD-ROM)、光學儲存裝置、諸如支援內部網路或互聯網的傳輸媒體、或磁性儲存裝置。電腦可用媒體或電腦可讀媒體還可以是紙張或是在其上列印程序的另一種合適的媒體，因為程序可以通過例如紙張或其他媒體的光學掃描被電子捕獲，然後編譯、解釋或者以其他方式以適當的方式處理，如果需要的話，然後儲存在電腦記憶體中。在本文的上下文中，電腦可用媒體或電腦可讀媒體可以是能夠包含、儲存、傳送、傳播或傳輸供指令執行系統、設備或裝置使用或與其結合使用的程式的任何媒體。電腦可用媒體可包括傳播的資料訊號，其中包含有電腦可用的程式代碼，或者在基頻帶中或者作為載波的一部分。電腦可用程式代碼可以使用任何適當的媒體來傳輸，包括但不限於互聯網、纜線、光纖電纜、RF等等。
用於執行本揭露的操作的電腦程式代碼可以用諸如Python、Java、Smalltalk、C++等的物件導向的程式語言來編寫。然而，用於執行本揭露的操作的電腦程式代碼也可 以用諸如“C”程式語言或類似程式語言的常規程序性程式語言來編寫。程式代碼可以完全在使用者的電腦上執行、部分地在使用者的電腦上執行，作為獨立的軟體封包，部分地在使用者的電腦上及部分地在遠程電腦上或者全部在遠程電腦或伺服器上執行。在後一種情況下，遠程電腦可以通過區域網路/廣域網路/互聯網連接到使用者的電腦。
參照根據本揭露的實施例的方法、設備(系統)和電腦程式產品的流程圖及/或框圖來描述本揭露。將理解，流程圖及/或框圖中的每個方框、以及流程圖及/或框圖中的方框的組合可以藉由電腦程式指令來實現。這些電腦程式指令可以被提供給通用電腦/專用電腦/其他可編程資料處理設備的處理器，使得經由電腦或其他可編程資料處理設備的處理器執行的指令創建用於實施在流程圖及/或框圖的一個或複數個方框中指定的功能/動作。
這些電腦程式指令還可被儲存在電腦可讀記憶體中，該電腦可讀記憶體可以指導電腦或其他可編程資料處理設備以特定方式運行，使得存儲在電腦可讀記憶體中的指令產生包括實現在流程圖及/或框圖的一個或複數個方框中指定的功能/動作的指令裝置。
電腦程式指令還可被加載到電腦或其他可編程資料處 理設備上，以使得在電腦或其他可編程設備上執行一系列操作步驟，以產生電腦實現的過程，使得在電腦或其他可編程設備上執行的指令提供用於實現在流程圖及/或框圖的一個或複數個方框中指定的功能/動作的步驟。
圖中的流程圖和框圖可以圖示根據本揭露的各種實施例的系統、方法和電腦程式產品的可能實現的架構、功能和操作。就此點而言，流程圖或框圖中的每個方框可以表示包括用於實現指定的邏輯功能的一種或複數種可執行指令的代碼的模組、段或部分。還應該注意的是，在一些替代實施方式中，方框中提到的功能可以不按照圖中指出的順序發生。例如，取決於所涉及的功能，連續顯示的兩個方框實際上可以實質上同時執行，或者方框有時可以相反的順序執行。還要注意的是，框圖及/或流程圖中的每個方框以及框圖及/或流程圖中的方框的組合可以藉由執行指定的功能或動作的基於專用硬體的系統或專用硬體和點腦指令的組合來實現。
本文使用的術語僅用於描述特定實施例的目的，而不意欲限制本揭露。如本文所使用的，除非上下文另外明確指出，否則單數形式“(a)一”、“(an)一個”和“(the)該”也旨在包括複數形式。將進一步理解的是，當在本說明書中使用時，術語“包括(comprises)”及/或“包含(comprising)”指定所陳述的特徵、整體、步驟、操作、元 件及/或組件的存在，但不排除存在或添加一個或複數個其他特徵、整體、步驟、操作、元件、組件及/或其組合。
以下申請專利範圍中的所有手段或步驟加功能元件的對應結構、材料、動作和等同物旨在包括用於組合具體要求保護的其他要求保護的元件執行功能的任何結構、材料或動作。本揭露的說明已呈現於說明和描述的目的，但非旨在窮舉或限制於所揭露的形式的揭露內容。在不脫離本揭露的範圍和精神的情況下，許多修改和變化對於本領域的普通技術人員將是顯而易見的。選擇並描述的實施例是為了最好地解釋本揭露的原理和實際應用，並且使本領域的其他普通技術人員能夠理解具有適合於預期的特定用途的各種修改的各種實施例的揭露內容。
已經描述了許多實施方式。已經如此詳細描述了本申請的揭露並且藉由參考其實施例，顯而易見的是，在不脫離所附申請專利範圍限定的本揭露的範圍的情況下，可以進行修改和變化。

Claims (19)

  1. 一種自動化微型測試器陣列，用於同時測試複數個待測件，包括：複數個自動化微型測試器，其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以測試複數個待測件；以及中央計算系統，經配置以自動化測試耦接到該複數個自動化微型測試器的該複數個待測件；其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以藉由網路耦接到該中央計算系統；及其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以執行由該中央計算系統同時接收的不同測試程序。
  2. 如請求項1所記載之自動化微型測試器陣列，其中該中央計算系統經配置以執行自動化陣列製程。
  3. 如請求項2所記載之自動化微型測試器陣列，其中該自動化陣列製程經配置以控制該複數個自動化微型測試器。
  4. 如請求項2所記載之自動化微型測試器陣列，其中該自動化陣列製程經配置以同時測試該複數個待測件中的每一個。
  5. 如請求項1所記載之自動化微型測試器陣列，其中該複數個自動化微型測試器中的每一個包括：處理系統，包括複數個處理器組合件；複數個測試位點，經配置以可釋放地接合該複數個待測件；以及儀器系統，其係由該處理系統可控制的且經配置以提供一個或複數個輸入訊號給該複數個測試位點並從該複數個測試位點讀取一個或複數個監測訊號。
  6. 如請求項5所記載之自動化微型測試器陣列，其中該處理系統包括：多核心處理器。
  7. 如請求項6所記載之自動化微型測試器陣列，其中包括在該處理系統內的該複數個處理器組合件包括：包括在該多核心處理器內的複數個處理器核心。
  8. 如請求項5所記載之自動化微型測試器陣列，其中該複數個測試位點經配置以接收複數個配接器板。
  9. 如請求項8所記載之自動化微型測試器陣列，其中該複數個配接器板經配置以可釋放地接收該複數個待測件。
  10. 如請求項5所記載之自動化微型測試器陣列，其中該處理系統經配置以執行自動化測試製程。
  11. 如請求項10所記載之自動化微型測試器陣列，其中該自動化測試製程經配置以控制該儀器系統並定義提供給該複數個測試位點的該一個或複數個輸入訊號以及從該複數個測試位點讀取的該一個或複數個監測訊號。
  12. 如請求項10所記載之自動化微型測試器陣列，其中該自動化測試製程經配置以同時測試該複數個待測件中的每一個。
  13. 一種電腦實施方法，係在計算裝置上執行，該電腦實施方法包括以下步驟：指示複數個自動化微型測試器以加載自動化測試製程；以及指示該複數個自動化微型測試器執行該自動化測試製程；其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以藉由網路耦接到該中央計算系統；及其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以執行由該中央計算系統同時接收的不同測試程序。
  14. 如請求項13所記載之電腦實施方法，其進一步包括步驟：從該複數個自動化微型測試器接收波形和測量。
  15. 如請求項14所記載之電腦實施方法，其中該波形和測量包括以下中的一個或複數個：提供給包括在該複數個自動化微型測試器內的複數個測試位點的一個或複數個輸入訊號；以及從該複數個測試位點讀取的一個或複數個監測訊號。
  16. 如請求項14所記載之電腦實施方法，其進一步包括步驟：接收關於在該複數個自動化微型測試器上執行的該自動化測試製程的一個或複數個端部測試指示符。
  17. 一種電腦程式產品，駐留在具有儲存在其上的複數個指令的電腦可讀媒體上，當由處理器執行時，使得該處理器進行包括以下操作：指示複數個自動化微型測試器以加載自動化測試製程；以及指示該複數個自動化微型測試器執行該自動化測試製程；其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以藉由網路耦接到該中央計算系統；及其中該複數個自動化微型測試器中的每一個經配置以執行由該中央計算系統同時接收的不同測試程序。
  18. 如請求項17所記載之電腦程式產品，其進一步包括：從該複數個自動化微型測試器接收波形和測量。
  19. 如請求項18所記載之電腦程式產品，其進一步包括：接收關於在該複數個自動化微型測試器上執行的該自動化測試製程的一個或複數個端部測試指示符。
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