CN112305402B - 一种混合集成电路产品测试专用控制器 - Google Patents

一种混合集成电路产品测试专用控制器 Download PDF

Info

Publication number
CN112305402B
CN112305402B CN202010123027.5A CN202010123027A CN112305402B CN 112305402 B CN112305402 B CN 112305402B CN 202010123027 A CN202010123027 A CN 202010123027A CN 112305402 B CN112305402 B CN 112305402B
Authority
CN
China
Prior art keywords
test
product
controller
tested
management computer
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202010123027.5A
Other languages
English (en)
Other versions
CN112305402A (zh
Inventor
许震海
陈洋
许震球
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Qingdao Zhongxin Technology Co ltd
Original Assignee
Qingdao Zhongxin Technology Co ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Qingdao Zhongxin Technology Co ltd filed Critical Qingdao Zhongxin Technology Co ltd
Priority to CN202010123027.5A priority Critical patent/CN112305402B/zh
Publication of CN112305402A publication Critical patent/CN112305402A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN112305402B publication Critical patent/CN112305402B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2855Environmental, reliability or burn-in testing
    • G01R31/286External aspects, e.g. related to chambers, contacting devices or handlers
    • G01R31/2865Holding devices, e.g. chucks; Handlers or transport devices

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)

Abstract

本发明公开了一种混合集成电路产品测试专用控制器,具体涉及电子技术中集成电路测试技术领域,包括I/F产品测试专用控制器本体,该控制器连接管理计算机,用于测试总控,该控制器一端连接n个测试信号源设备,另一端连接k个被测试产品夹具,每个被测试产品夹具安放三个被测试产品,用于形成N个测试通道;控制器包括矩阵开关单元、电源单元、计数器单元和控制单元;矩阵开关单元用于控制输入测试信号到相应的产品输入端,并将被测试产品的输出信号传递到计数器单元;电源单元用于给被测试产品供电。本发明专用测试控制器含有并行测试方式,又包含串行测试方式,两种模式相结合,能够降低成本、减少产品测试时间,提高测试产能。

Description

一种混合集成电路产品测试专用控制器
技术领域
本发明实施例涉及电子技术中集成电路测试技术领域,具体涉及一种混合集成电路产品测试专用控制器。
背景技术
在信息化时代的今天,集成电路是信息产业重要的组成部分之一,集成电路的相关测试设备也随着集成电路的快速发展而不断完善和创新。随着集成电路的广泛应用,产品的测试必须面对大批量、多种环境的要求,并且产品的测试成本在总成本中的比重也越来越大,设计和选择较好的测试工作模式,也是解决产品测试产能瓶颈的最有效的手段之一。
为了降低成本、减少产品测试时间,提高测试产能,根据产品测试的特点,有必要将串行处理技术与并行处理技术相结合的方式引入到产品的测试模式中。
并行测试:并行测试是指测试系统在同一时间内完成多个产品的测试任务。包括在同一时间内完成对多个被测试产品的测试;或者同时完成对被测试产品多项参数的测试。并行测试技术是通过增加单位时间内被测试产品的数量来提高系统的测试速度和吞吐量,最大限度的降低工作人员数量,因此采用并行测试技术可大大减少测试时间,降低测试成本;
串行测试:串行测试是指测试系统在完成一个产品的测试后,再进行另一个产品的测试,即多个产品以排队的方式顺序进行测试,通过对价格非常高的测试设备共享来节约投资成本。在测试设备固定的情况下,通过减少测试设备以及计算机的闲置时间来提高设备的利用率;通过对测试设备的共享来节约测试成本和增加系统测试的吞吐量。
产品测试模式选择的好与坏,将会影响产品的质量、产能的提高、生产成本和业务发展,所以,既要解决好产品测试的速度问题,也要考虑到贵重测试设备资源的共享问题,基于这两方面的考虑本发明提出一种混合集成电路产品测试专用控制器。
发明内容
为了降低成本、减少测试时间,提高产品测试产能,根据产品测试的特点,有必要将并行处理技术和串行测试方式有机的结合,引入到产品的测试模式中,采用并行测试就是为了提高测试速度,而采用串行测试就是为了提高一次测试过程中的系统吞吐量,如果串行和并行处理技术在产品测试过程中运用得好,将会在产品的质量、产能的提高、降低生产成本和业务发展起到良好的作用。为此,本发明的目的是提供一种既含有并行测试方式、又包含串行测试方式,两种模式相结合的一种专用测试控制器,以解决在产品测试中的速度和高价值产品测试设备的共享等问题。
为了实现上述目的,本发明实施例提供如下技术方案:一种混合集成电路产品测试专用控制器,包括I/F产品测试专用控制器本体,该控制器连接管理计算机,用于测试总控,该控制器一端连接n个测试信号源设备,另一端连接k个被测试产品夹具,每个被测试产品夹具安放三个被测试产品,用于形成N个测试通道;
控制器包括矩阵开关单元、电源单元、计数器单元和控制单元;
矩阵开关单元由若干个继电器组成,继电器一端连接被测试产品夹具,另一端连接测试信号源设备和计数器单元,用于控制输入测试信号到相应的产品输入端,并将被测试产品的输出信号传递到计数器单元;
电源单元包括一组电源,且通过被测试产品夹具与被测试产品连接,用于给被测试产品供电,使测试时被测试产品能够正常进行工作;
计数器单元通过控制单元连接管理计算机,用于根据被测试产品的输出信号和管理计算机的控制信息进行数据处理,处理结果自动传递到管理计算机;
控制单元连接管理计算机,用于根据管理计算机的控制信号控制各个测试信号的输入、矩阵开关两路的选择、计数单元参数的传递,以及测试结果的数据采集。
进一步地,所述控制器上表面设有控制面板,所述控制面板上设有测试结果检验区、测试信号源接入区、连接产品输入区、连接产品输出区、产品供电电源区等五个部分,每个区域都包括多个连接器;
所述测试结果检验区采用的连接器为BNC母头,用于测试期间,随时抽检某个产品的测试结果数据;
所述测试信号源接入区采用的连接器为接线端子,用于连接测试信号源设备,通过将测试信号源设备的输出端连接到此接线端子上,实现测试信号的输入,且测试信号源设备与管理计算机连接,由管理计算机控制各个测试信号源设备发送测试信号;
所述连接产品输入区采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元和被测试产品夹具,将测试输入信号通过矩阵开关单元连接到被测试产品夹具上,实现被测试产品的信号输入;
所述连接产品输出区采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元和控制单元,将测试产品的输出信号源通过矩阵开关单元连接到本控制器上;
所述产品供电电源区采用的连接器为航空插头座,通过此航空插头座将电源连接到测试夹具上,用于为被测试产品提供工作电源。
进一步地,所述管理计算机、控制器、n个测试信号源设备、k个被测试产品夹具和3k个被测试产品连接构成一个多通道控制器系统。
进一步地,所述多通道控制器系统以测试信号源设备发出的测试信号源作为一个通道的输入,即一个测试链路,每个测试链路完全独立,每个通道的输入信号源通过控制器与多个被测试产品夹具连接,而每个被测试产品夹具上安放三个被测试产品,形成的N个测试通道组成整个多通道控制器系统。
进一步地,所述矩阵开关单元根据管理计算机的控制器命令,可自由选择通道内的被测试产品的测试,也可以依次对通道内的多个被测试产品测试,同时将相应的被测试产品的输出传送到计数器单元,能够提高系统吞吐量。
进一步地,所述计数器单元通过使用FPGA设计完成,实现对被测试产品输出信号的频率计算,PFGA使用了赛灵思的SPARTAN6,根据被测产品的指标要求,管理计算机发送相关指令参数,由计数器单元实现任何时间长的频率计算,并将结果返回管理计算机。
进一步地,所述控制单元用于实现控制器与管理计算机之间的通信,以达到控制需要测试的产品和接收测试结果的功能,所述控制单元采用标准RS-232数据格式与电平格式和物理标准,用来完成与管理计算机的联接与数据命令的交换。
进一步地,所述电源单元为被测试产品提供一组电源,使被测试产品处于正常的工作状态,供电电压分别是+15V、-15V、+5V、-5V、5V2+、5V2GND、GND,电源接口采用GX-20-12-T/P。
本发明实施例具有如下优点:
1、本发明测试专用控制器的测试通道完全独立,每个通道相当于一个独立测试系统,也就是说N个通道可以同时测试N个产品;将多路供电及参数测试单元模块集成于该系统中,为并行测试提供了足够的系统电源容量,由管理计算机控制各个测试信号源设备同时发送测试信号,在每个通道内又串行了多个产品,从而降低了更换测试温度环境的等待时间,这就大大降低了并行测试中对共享资源调度,极大地提高测试系统的集成度和测试吞吐量,在以时间决定成本的量产测试中,该技术极具市场价值;
2、本发明专用测试控制器含有并行测试方式,又包含串行测试方式,两种模式相结合,能够降低成本、减少产品测试时间,提高测试产能。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案,下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是示例性的,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据提供的附图引申获得其它的实施附图。
本说明书所绘示的结构、比例、大小等,均仅用以配合说明书所揭示的内容,以供熟悉此技术的人士了解与阅读,并非用以限定本发明可实施的限定条件,故不具技术上的实质意义,任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整,在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下,均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本发明提供的整体系统结构示意图;
图2为本发明提供的多通道控制器系统连接图;
图3为本发明提供的控制面板布局示意图;
图4为本发明提供的矩阵开关结构示意图;
图5为本发明提供的计数器单元流程图;
图6为本发明提供的电源单元的电源接口图;
图中:1 I/F产品测试专用控制器本体、11矩阵开关单元、12电源单元、13计数器单元、14控制单元、2管理计算机、3测试信号源设备、4被测试产品夹具、5被测试产品、6测试结果检验区、7测试信号源接入区、8连接产品输出区、9连接产品输入区、10产品供电电源区。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式,熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效,显然,所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。
参照说明书附图1,该实施例的一种混合集成电路产品测试专用控制器,包括I/F产品测试专用控制器本体1,该控制器连接管理计算机2,用于测试总控,该控制器一端连接n个测试信号源设备3,另一端连接k个被测试产品夹具4,每个被测试产品夹具4安放三个被测试产品5,用于形成N个测试通道;
控制器包括矩阵开关单元11、电源单元12、计数器单元13和控制单元14;
矩阵开关单元11由若干个继电器组成,继电器一端连接被测试产品夹具4,另一端连接测试信号源设备3和计数器单元13,用于控制输入测试信号到相应的产品输入端,并将被测试产品5的输出信号传递到计数器单元13;
电源单元12包括一组电源,且通过被测试产品夹具4与被测试产品5连接,用于给被测试产品5供电,使测试时被测试产品5能够正常进行工作;
计数器单元13通过控制单元14连接管理计算机2,用于根据被测试产品5的输出信号和管理计算机2的控制信息进行数据处理,处理结果自动传递到管理计算机2;
控制单元14连接管理计算机2,用于根据管理计算机2的控制信号控制各个测试信号的输入、矩阵开关两路的选择、计数单元参数的传递,以及测试结果的数据采集。
进一步地,所述控制单元14用于实现控制器与管理计算机2之间的通信,以达到控制需要测试的产品和接收测试结果的功能,所述控制单元14采用标准RS-232数据格式与电平格式和物理标准,用来完成与管理计算机2的联接与数据命令的交换。
参照说明书附图2,所述管理计算机2、控制器、n个测试信号源设备3、k个被测试产品夹具4和3k个被测试产品5连接构成一个多通道控制器系统。
进一步地,所述多通道控制器系统以测试信号源设备3发出的测试信号源作为一个通道的输入,即一个测试链路,每个测试链路完全独立,每个通道的输入信号源通过控制器与多个被测试产品夹具4连接,而每个被测试产品夹具4上安放三个被测试产品5,形成的N个测试通道组成整个多通道控制器系统。
参照说明书附图3,所述控制器上表面设有控制面板,所述控制面板上设有测试结果检验区6、测试信号源接入区7、连接产品输入区9、连接产品输出区8、产品供电电源区10等五个部分,每个区域都包括多个连接器;
所述测试结果检验区6采用的连接器为BNC母头,此区域设立的目的是为了方便工作人员测试期间,随时抽检某个产品的测试结果数据;
所述测试信号源接入区7采用的连接器为接线端子,用于连接测试信号源设备3,通过将测试信号源设备3的输出端连接到此接线端子上,实现测试信号的输入,且测试信号源设备3与管理计算机2连接,由管理计算机2控制各个测试信号源设备3发送测试信号;
所述连接产品输入区9采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元11和被测试产品夹具4,此区域是将测试输入信号通过矩阵开关单元11连接到被测试产品夹具4上,实现被测试产品5的信号输入;
所述连接产品输出区8采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元11和控制单元14,此区域是将测试产品的输出信号源通过矩阵开关单元11连接到本控制器上;
所述产品供电电源区10采用的连接器为航空插头座,通过此航空插头座将电源连接到测试夹具上,用于为被测试产品5提供工作电源。
参照说明书附图4,为了提高系统吞吐量,矩阵开关单元11根据管理计算机2的控制器命令,可自由选择通道内的被测试产品5的测试,也可以依次对通道内的多个被测试产品5测试,同时将相应的被测试产品5的输出传送到计数器单元13。
参照说明书附图5,所述计数器单元13通过使用FPGA设计完成,实现对被测试产品5输出信号的频率计算,PFGA使用了赛灵思的SPARTAN6,根据被测产品的指标要求,管理计算机2发送相关指令参数,由计数器单元13实现任何时间长的频率计算,并将结果返回管理计算机2,该模块是整个控制器的核心器件之一,具体流程如下:
系统上电,根据被测产品的指标要求,管理计算机2发送相关指令参数给计数器单元13,当其接收到数据后,其将数据发回给管理计算机2,将系统变量清零,并设置计量时间,如果没有接收到管理计算机2发送指令参数,则直接采用默认参数进行计量;
计量时间确定后,开始测量,矩阵开关单元11将待测试信号发送给计数器单元13,当矩阵开关单元11将待测试信号A发送给计数器单元13时,判断是否为待测试信号A,如果是,则再判断是否计量到时间,如果是,则计数结果存放在结果寄存器内,并将并向管理计算机2发送结果,如果不计量到时间,则计数器增加一个;
如果不是待测试信号A,则判断其是否是待测试信号B,如果是,则再判断是否计量到时间,如果是,则计量到时间,计数结果存放在结果寄存器内,并向管理计算机2发送结果,如果不计量到时间,则计数器增加一个;
如果也不是待测试信号B,则继续判断其是否是其他待测试信号,直至对应到合适的测试信号;
计数结果存放在结果寄存器后,直接将对应的计量时间反馈至管理计算机2,用于下一次测量的计量时间设置。
参照说明书附图6,所述电源单元12为被测试产品5提供一组电源,使被测试产品5处于正常的工作状态,供电电压分别是+15V、-15V、+5V、-5V、5V2+、5V2GND、GND,电源接口采用GX-20-12-T/P。
实施场景具体为:本发明综合考虑测试信号源设备3以及温箱环境设备等因素,进行通道数量的配置;每个通道同时有一个产品进行测试,N个通道就有N个产品被测试,即实现N个产品并行测试,如4个通道,就有4个产品同时进行测试,针对I/F转换电路产品,输入为电流信号,输出为频率信号;在通道内的产品以串行模式进行测试,串行模式的应用主要是为了减少更换测试环境的等待时间,从而最大限度的提高测试信号源设备3(高精度信号源设备成本都比较高)的利用率,大大降低了并行测试中对共享资源调度,极大地提高测试系统的集成度和测试吞吐量。在以时间决定成本的量产测试中,该技术极具市场价值。
虽然,上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述,但在本发明基础上,可以对之作一些修改或改进,这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此,在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进,均属于本发明要求保护的范围。

Claims (5)

1.一种混合集成电路产品测试专用控制器,其特征在于:包括I/F产品测试专用控制器本体(1),该控制器连接管理计算机(2),用于测试总控,该控制器一端连接n个测试信号源设备(3),另一端连接k个被测试产品夹具(4),每个被测试产品夹具(4)安放三个被测试产品(5),用于形成N个测试通道;
控制器包括矩阵开关单元(11)、电源单元(12)、计数器单元(13)和控制单元(14);
矩阵开关单元(11)由若干个继电器组成,继电器一端连接被测试产品夹具(4),另一端连接测试信号源设备(3)和计数器单元(13),用于控制输入测试信号到相应的产品输入端,并将被测试产品(5)的输出信号传递到计数器单元(13);
电源单元(12)包括一组电源,且通过被测试产品夹具(4)与被测试产品(5)连接,用于给被测试产品(5)供电,使测试时被测试产品(5)能够正常进行工作;
计数器单元(13)通过控制单元(14)连接管理计算机(2),用于根据被测试产品(5)的输出信号和管理计算机(2)的控制信息进行数据处理,处理结果自动传递到管理计算机(2);
控制单元(14)连接管理计算机(2),用于根据管理计算机(2)的控制信号控制各个测试信号的输入、矩阵开关两路的选择、计数单元参数的传递,以及测试结果的数据采集;所述管理计算机(2)、控制器、n个测试信号源设备(3)、k个被测试产品夹具(4)和3k个被测试产品(5)连接构成一个多通道控制器系统;所述多通道控制器系统以测试信号源设备(3)发出的测试信号源作为一个通道的输入,即一个测试链路,每个测试链路完全独立,每个通道的输入信号源通过控制器与多个被测试产品夹具(4)连接,而每个被测试产品夹具(4)上安放三个被测试产品(5),形成的N个测试通道组成整个多通道控制器系统;所述矩阵开关单元(11)根据管理计算机(2)的控制器命令,可自由选择通道内的被测试产品(5)的测试,也可以依次对通道内的多个被测试产品(5)测试,同时将相应的被测试产品(5)的输出传送到计数器单元(13)。
2.根据权利要求1所述的一种混合集成电路产品测试专用控制器,其特征在于:所述控制器上表面设有控制面板,所述控制面板上设有测试结果检验区(6)、测试信号源接入区(7)、连接产品输入区(9)、连接产品输出区(8)、产品供电电源区(10)等五个部分,每个区域都包括多个连接器;
所述测试结果检验区(6)采用的连接器为BNC母头,用于测试期间,随时抽检某个产品的测试结果数据;
所述测试信号源接入区(7)采用的连接器为接线端子,用于连接测试信号源设备(3),通过将测试信号源设备(3)的输出端连接到此接线端子上,实现测试信号的输入,且测试信号源设备(3)与管理计算机(2)连接,由管理计算机(2)控制各个测试信号源设备(3)发送测试信号;
所述连接产品输入区(9)采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元(11)和被测试产品夹具(4),将测试输入信号通过矩阵开关单元(11)连接到被测试产品夹具(4)上,实现被测试产品(5)的信号输入;
所述连接产品输出区(8)采用的连接器为航空插头座,用于连接矩阵开关单元(11)和控制单元(14),将测试产品的输出信号源通过矩阵开关单元(11)连接到本控制器上;
所述产品供电电源区(10)采用的连接器为航空插头座,通过此航空插头座将电源连接到测试夹具上,用于为被测试产品(5)提供工作电源。
3.根据权利要求1所述的一种混合集成电路产品测试专用控制器,其特征在于:所述计数器单元(13)通过使用FPGA设计完成,实现对被测试产品(5)输出信号的频率计算,PFGA使用了赛灵思的SPARTAN6,根据被测产品的指标要求,管理计算机(2)发送相关指令参数,由计数器单元(13)实现任何时间长的频率计算,并将结果返回管理计算机(2)。
4.根据权利要求1所述的一种混合集成电路产品测试专用控制器,其特征在于:所述控制单元(14)用于实现控制器与管理计算机(2)之间的通信,以达到控制需要测试的产品和接收测试结果的功能,所述控制单元(14)采用标准RS-232数据格式与电平格式和物理标准,用来完成与管理计算机(2)的联接与数据命令的交换。
5.根据权利要求1所述的一种混合集成电路产品测试专用控制器,其特征在于:所述电源单元(12)为被测试产品(5)提供一组电源,使被测试产品(5)处于正常的工作状态,供电电压分别是+15V、-15V、+5V、-5V、5V2+、5V2GND、GND,电源接口采用GX-20-12-T/P。
CN202010123027.5A 2020-02-27 2020-02-27 一种混合集成电路产品测试专用控制器 Active CN112305402B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010123027.5A CN112305402B (zh) 2020-02-27 2020-02-27 一种混合集成电路产品测试专用控制器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202010123027.5A CN112305402B (zh) 2020-02-27 2020-02-27 一种混合集成电路产品测试专用控制器

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN112305402A CN112305402A (zh) 2021-02-02
CN112305402B true CN112305402B (zh) 2022-12-27

Family

ID=74336601

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202010123027.5A Active CN112305402B (zh) 2020-02-27 2020-02-27 一种混合集成电路产品测试专用控制器

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN112305402B (zh)

Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1734278A (zh) * 2005-05-27 2006-02-15 上海大学 集成电路片上系统中故障的测试系统和方法
CN1979200A (zh) * 2005-12-08 2007-06-13 上海华虹Nec电子有限公司 同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法
CN101015152A (zh) * 2004-07-12 2007-08-08 中兴通讯股份有限公司 宽带码分多址系统中动态调整扩频因子的方法
CN101610536A (zh) * 2008-06-20 2009-12-23 中兴通讯股份有限公司 一种在测量中控制多个测量结果上报的方法及终端
CN101751317A (zh) * 2008-12-12 2010-06-23 上海芯豪微电子有限公司 多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构
CN102169157A (zh) * 2010-11-16 2011-08-31 北京航天测控技术开发公司 多通道矩阵开关并行测量电缆网搭建方法
CN102446557A (zh) * 2010-09-30 2012-05-09 北京兆易创新科技有限公司 一种芯片和一种芯片并行测试的方法
CN102547840A (zh) * 2012-01-20 2012-07-04 电信科学技术研究院 一种mdt测量结果的上报方法及装置
CN102707225A (zh) * 2012-06-21 2012-10-03 上海华岭集成电路技术股份有限公司 集成电路测试优化方法及其测试装置
CN202600107U (zh) * 2012-03-02 2012-12-12 北京信诺达科技有限公司 一种集成电路四通道共享测量系统
CN103763733A (zh) * 2009-02-03 2014-04-30 中兴通讯股份有限公司 一种测量实现方法及系统
CN104345262A (zh) * 2014-10-27 2015-02-11 华南农业大学 一种通用电路板测试系统
CN105699826A (zh) * 2016-04-06 2016-06-22 中国电子科技集团公司第十三研究所 微波器件自动测试系统及方法
CN110609223A (zh) * 2019-06-25 2019-12-24 眸芯科技(上海)有限公司 嵌入式系统的自动化测试系统及方法

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI372874B (en) * 2009-03-11 2012-09-21 Star Techn Inc Method for configuring a combinational switching matrix and testing system for semiconductor devices using the same
US20180128872A1 (en) * 2016-11-08 2018-05-10 Xcerra Corporation Multi-node testing system and method

Patent Citations (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN101015152A (zh) * 2004-07-12 2007-08-08 中兴通讯股份有限公司 宽带码分多址系统中动态调整扩频因子的方法
CN1734278A (zh) * 2005-05-27 2006-02-15 上海大学 集成电路片上系统中故障的测试系统和方法
CN1979200A (zh) * 2005-12-08 2007-06-13 上海华虹Nec电子有限公司 同步通讯芯片进行多芯片并行测试的方法
CN101610536A (zh) * 2008-06-20 2009-12-23 中兴通讯股份有限公司 一种在测量中控制多个测量结果上报的方法及终端
CN101751317A (zh) * 2008-12-12 2010-06-23 上海芯豪微电子有限公司 多运算单元/多核/众核系统的自测试自修复机制与结构
CN103763733A (zh) * 2009-02-03 2014-04-30 中兴通讯股份有限公司 一种测量实现方法及系统
CN102446557A (zh) * 2010-09-30 2012-05-09 北京兆易创新科技有限公司 一种芯片和一种芯片并行测试的方法
CN102169157A (zh) * 2010-11-16 2011-08-31 北京航天测控技术开发公司 多通道矩阵开关并行测量电缆网搭建方法
CN102547840A (zh) * 2012-01-20 2012-07-04 电信科学技术研究院 一种mdt测量结果的上报方法及装置
CN202600107U (zh) * 2012-03-02 2012-12-12 北京信诺达科技有限公司 一种集成电路四通道共享测量系统
CN102707225A (zh) * 2012-06-21 2012-10-03 上海华岭集成电路技术股份有限公司 集成电路测试优化方法及其测试装置
CN104345262A (zh) * 2014-10-27 2015-02-11 华南农业大学 一种通用电路板测试系统
CN105699826A (zh) * 2016-04-06 2016-06-22 中国电子科技集团公司第十三研究所 微波器件自动测试系统及方法
CN110609223A (zh) * 2019-06-25 2019-12-24 眸芯科技(上海)有限公司 嵌入式系统的自动化测试系统及方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN112305402A (zh) 2021-02-02

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN106155950B (zh) 参数处理方法及装置
CN205356347U (zh) 用于光模块的多通道并行测试系统
CN101499046A (zh) Spi设备通信电路
CN111522700A (zh) 测试串行RapidIO网络交换模块的自测试平台
CN212258965U (zh) 一种射频模块的自动测试系统
CN117076216A (zh) 通道分配方法及设备
CN104977884A (zh) 一种动车组网络控制系统仿真测试台
CN112305402B (zh) 一种混合集成电路产品测试专用控制器
CN202339497U (zh) 一种星载综合业务单元验证系统
CN108803566A (zh) 汽车发动机冷却风扇控制器通用测试平台
CN114089649A (zh) 一种自动化测试工装系统及方法
CN203164404U (zh) 安规测试仪的集约化测试系统
CN105589026A (zh) 大型开关矩阵测试装置
TW202007997A (zh) 半導體積體電路測試系統及其半導體積體電路測試裝置
CN111693754B (zh) 通信模组pin脚电压检测装置、设备及方法
CN114563762A (zh) 一种机载甚高频导航系统接收机自动测试装置
CN112834966B (zh) 卫星电接口自动化测试系统
CN108519763B (zh) 控制电路和设备控制方法
CN111082880A (zh) 一种测试系统及测试方法
CN219777909U (zh) 一种wat测试装置及系统
CN111324079A (zh) 一种中压电源控制装置
CN219266461U (zh) 一种多通道电阻桥性能测试装置
CN221007786U (zh) 芯片测试装置
CN114671049B (zh) 一种动态可重构飞机客舱娱乐系统集成测试方法及装置
CN220603633U (zh) 芯片测试机及芯片测试系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant