CN109507571B - 一种测试装置及测试系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种测试装置及测试系统，该测试装置包括：数字控制板、光开关、继电器、电源输出端口、光纤输出端口，其中，数字控制板分别与光开关、继电器相连，控制光开关、继电器的闭合和断开。光开关与光纤输出端口连接，光纤输出端口用于连接待测装置的光纤接口；光开关的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的光纤插拔。继电器与电源输出端口连接，电源输出端口用于连接待测装置的电源输入端，继电器的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的上掉电操作。该技术方案实现自动化对待测设备的光纤插拔的测试和上掉电操作的测试，从而提高待测设备功能测试的测试效率。

Description

一种测试装置及测试系统

技术领域

本发明实施例涉及数字通信产品领域，尤其涉及一种测试装置及测试系统。

背景技术

数字通信产品设备依赖于数字逻辑器件的功能配置以及寄存器配置与产品设备监控系统交互处理流程，从而达到信号的处理及放大，而寄存器与产品设备监控MCU(MicroControl Unit，微控制单元)在掉电后，再次上电对配置FPGA(Field-Programmable GateArray，现场可编程逻辑门阵列)、A/D(Analog/Digital，模拟/数字)转换等逻辑芯片稳定性要求较高。

为了避免数字通信产品设备的时延较大，影响通话质量和射频终端覆盖，需要对数字通信产品设备进行上掉电操作测试和光纤插拔测试，在测试过程中监视和控制数字通信产品设备的射频指标，从而测试数字通信产品设备功能的可靠性及稳定性。

现有技术中，为了验证数字通信产品设备功能的可靠性及稳定性，采用人工上掉电操作和手动插拔光纤，再通过监视MCU的打印数据去逐一测试配置逻辑芯片，该测试方式费时费力，且测试效率较低。

发明内容

本发明实施例提供一种测试装置，用以提高待测设备功能测试的测试效率。

本发明实施例提供的一种测试装置，包括：

数字控制板、光开关、继电器、电源输出端口、光纤输出端口；

所述数字控制板分别与所述光开关、所述继电器相连，控制所述光开关、所述继电器的闭合和断开；

所述光开关与光纤输出端口连接，所述光纤输出端口用于通过光纤连接待测装置的光纤接口；所述光开关的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的光纤插拔；

所述继电器与电源输出端口连接，所述电源输出端口用于连接所述待测装置的电源输入端；所述继电器的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的上掉电操作。

上述技术方案中，数字控制板控制光开关的闭合和断开，用于对待测装置进行光纤插拔的测试，数字控制板控制继电器的闭合和断开，用于对待测装置进行上掉电操作的测试，实现自动化对待测设备的光纤插拔的测试和上掉电操作的测试。

可选的，所述测试装置还包括第一串口和至少一个第二串口；所述第一串口的一端连接所述数字控制板，另一端连接客户端；所述第二串口一端连接所述数字控制板，另一端用于级联其它的所述测试装置的数字控制板。

上述技术方案中，数字控制板与客户端通过第一串口连接，数字控制板可以通过第一串口接收客户端发送的命令。数字控制板可以通过第二串口与其它测试装置的数字控制板级联，从而实现多个数字控制板相连，并同时测试多个待测设备。

可选的，所述数字控制板包括控制子系统、接收子系统、驱动管理子系统、定时管理子系统；

所述接收子系统通过所述第一串口接收所述客户端发送的控制指令，并将所述控制指令发送给所述控制子系统；

所述控制子系统在接收到所述接收子系统发送的控制指令后，根据所述控制指令控制所述光开关的闭合和断开或所述继电器的闭合和断开；

所述驱动管理子系统用于管理所述第一串口、第二串口的驱动；

所述定时管理子系统用于执行所述数字控制板的定时任务。

上述技术方案中，数字控制板包括控制子系统、接收子系统、驱动管理子系统、定时管理子系统，可以接收客户端发送的控制指令，并根据控制指令控制光开关的闭合和断开或继电器的闭合和断开，通过客户端配置实现对待测设备的自动化测试。

可选的，所述控制指令包括第一控制指令和第二控制指令；

所述第一控制指令用于控制所述测试装置的光开关的闭合和断开；

所述第二控制指令用于控制所述测试装置的继电器的闭合和断开。

上述技术方案中，数字控制板可以根据第一控制指令，模拟对待测设备进行光纤插拔的测试；也可以根据第二控制指令，模拟对待测设备进行上掉电操作的测试。

可选的，所述第一控制指令包括控制所述测试装置的光开关的闭合和断开的次数和频率；所述第二控制指令包括控制所述测试装置的继电器的闭合和断开的次数和频率。

上述技术方案中，可以通过客户端设置光开关的闭合和断开的次数和频率以及继电器的闭合和断开的次数和频率，对待测设备进行多次光纤插拔的测试和上掉电操作的测试。

可选的，所述第一串口、第二串口为RS232串口。

上述技术方案中，通过RS232串口实现客户端与数字控制板之间通信；以及通过RS232串口实现相邻两个数字控制板之间通信。

可选的，所述光开关为N个，其中，一个光开关对应一个光纤输出端口；所述N大于等于2；

所述继电器为M个，其中，一个继电器对应一个电源输出端口；所述M大于等于2。

上述技术方案中，测试装置可以包括多个光开关和多个继电器，可以同时测试多个待测设备。

可选的，所述测试装置还包括风扇；

所述风扇用于降低所述测试装置的工作温度。

上述技术方案中，设置风扇用于测试装置散热，保障测试装置正常工作。

可选的，所述测试装置还包括光开关指示灯和继电器指示灯；

所述光开关指示灯用于指示所述光开关的闭合和断开，所述继电器指示灯用于指示所述继电器的闭合和断开。

上述技术方案中，设置光开关指示灯用于指示光开关的闭合和断开；设置继电器指示灯用于指示继电器的闭合和断开，可以直观的显示当前测试装置的测试状态。

相应的，本发明实施例还提供了一种测试系统，包括：上述测试装置、客户端；

所述客户端分别与所述测试装置、信号源和频谱仪连接；

所述客户端用于向所述测试装置发送控制指令；向所述信号源发送信号发送指令，以控制所述信号源向所述待测装置发送测试信号；接收所述频谱仪解调后的工作信号，所述工作信号是所述待测装置处理所述测试信号后得到的；

所述测试装置用于在接收到所述客户端发送的控制指令后，控制所述光开关的闭合和断开，以使所述待测装置在所述测试装置的控制下实现光信号的发送或接收；或者控制所述继电器的闭合和断开，以使所述待测装置在所述测试装置的控制下实现上电、掉电的测试。

上述技术方案中，客户端向测试装置发送控制指令，控制测试装置对待测装置进行光纤插拔的测试和上掉电操作的测试，客户端控制信号源向待测装置提供测试信号，待测装置在接收到测试信号后进行处理得到工作信号，将工作信号发送至频谱仪，频谱仪接收待测装置的工作信号并解调，客户端接收频谱仪解调后的工作信号。实现对待测装置进行自动化测试，对测试人员的专业能力要求较低，且提高了测试效率。

可选的，所述客户端与所述信号源和频谱仪通过GPIB(General-PurposeInterface Bus，通用接口总线)通信协议连接。

上述技术方案中，客户端与信号源和频谱仪通过GPIB通信协议连接，直接调用GPIB卡相应的驱动程序库即可对仪器进行编程控制。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简要介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明实施例提供的一种测试装置的结构示意图；

图2为本发明实施例提供的一种测试系统的连接示意图；

图3为本发明实施例提供的另一种测试装置的结构示意图；

图4为本发明实施例提供的一种测试系统的结构示意图；

图5为本发明实施例提供的另一种测试系统的结构示意图；

图6为本发明实施例提供的另一种测试系统的测试流程的示意图。

具体实施方式

为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

图1示例性的示出了本发明实施例提供的一种测试装置。

该测试装置100包括数字控制板110、光开关120、光纤输出端口130、继电器140、电源输出端口150。数字控制板110分别与光开关120、继电器140相连，控制光开关120、继电器140的闭合和断开。

光开关120与光纤输出端口130连接，光纤输出端口130用于通过光纤连接待测装置的光纤接口，即光纤输出端口130用于连接接入待测装置的光纤。光开关120的闭合和断开用于在测试过程中实现待测装置的光纤插拔。当数字控制板110控制光开关120闭合时，光纤输出端口130与待测装置的光纤接口通过光纤处于连通状态，待测装置可以通信；当数字控制板110控制光开关120断开时，光纤输出端口130与待测装置的光纤接口通过光纤处于非连通状态，即待测装置无法通信，相当于对待测装置拔出通信的光纤。数字控制板110按照预设频率控制光开关120的闭合或断开，即可模拟对待测装置进行光纤插拔的测试。

该测试装置100可以与市电相连，并通过电源转换器将交流电转换成测试装置100所需的电源，为测试装置100提供工作电压。进一步的，测试装置100还可以将接入的市电输出至待测装置，用于向待测装置供电，此处，测试装置100包括继电器140、电源输出端口150，继电器140与电源输出端口150连接，电源输出端口150用于连接待测装置的电源输入端，继电器140的闭合和断开用于在测试过程中实现待测装置的上掉电操作。当数字控制板110控制继电器140闭合时，电源输出端口150输出电压，用于向待测装置供电，即待测装置处于上电状态；当数字控制板110控制继电器140断开时，电源输出端不输出电压，即待测装置处于掉电状态。数字控制板110按照预设频率控制继电器140的闭合或断开，即可模拟对待测装置进行上掉电操作的测试。

数字控制板110与客户端相连，用于接收客户端的控制指令，并根据控制指令控制光开关120、继电器140的闭合和断开。其中，数字控制板110可以通过第一串口160与客户端相连，该第一串口160可以是RS232串口。

数字控制板110包括控制子系统、接收子系统、驱动管理子系统和定时管理子系统。接收子系统通过第一串口160接收客户端发送的控制指令，并将控制指令发送给控制子系统；控制子系统在接收到接收子系统发送的控制指令后，根据控制指令控制光开关120的闭合和断开或继电器140的闭合和断开；驱动管理子系统用于管理第一串口160、第二串口170的驱动；定时管理子系统用于执行数字控制板110的定时任务，包括系统定时任务，例如运行闪灯及喂狗。

需要说明的是，测试装置100包括第一串口160和至少一个第二串口170。其中，第一串口160的一端连接数字控制板110，另一端连接客户端；第二串口170一端连接数字控制板110，另一端用于级联其它的测试装置100的数字控制板110。可选的，第一串口160、第二串口170可以为RS232串口，当然也可以采用其他通信方式，具体可以根据接口设计确定。可以如图2示出的连接示意图，一个客户端200可以对多个测试装置100的进行测试控制。

客户端200用于生成测试方案以及测试用例，通过第一串口160向数字控制板110发送的控制指令可以包括第一控制指令和第二控制指令，其中，第一控制指令用于控制测试装置100的光开关120的闭合和断开，第一控制指令包括控制测试装置100的光开关120的闭合和断开的次数和频率；第二控制指令用于控制测试装置100的继电器140的闭合和断开，第二控制指令包括控制测试装置100的继电器140的闭合和断开的次数和频率。

以第一控制指令为例，客户端200向数字控制板110发送的第一控制指令，该第一控制指令包括控制光开关120闭合的次数为100次、每隔20min闭合一次；控制光开关120断开的次数为100次、在光开关120闭合后的30min后断开该光开关120。从而实现数字控制板110按预设频率控制光开关120的闭合或断开，即可模拟对待测装置进行光纤插拔的测试。当然，数字控制板110也可以按预设频率控制继电器140的闭合或断开。

为了实现一个测试装置100可以同时测试多个待测装置的性能，可以在测试装置100中设置N(N≥2)个光开关120和M(M≥2)个继电器140，其中，一个光开关120对应一个光纤输出端口130，N个光开关120对应N个光纤输出端口130，该测试装置100可以对N个待测装置模拟光纤插拔测试；一个继电器140对应一个电源输出端口150，M个继电器140对应M个电源输出端口150，该测试装置100可以对M个待测装置模拟上掉电操作的测试。例如，测试装置100中设置5个光开关120，则可以最多同时对5个待测装置模拟光纤插拔测试，当然，也可以同时对小于5个的待测装置模拟光纤插拔测试。

可选的，该测试装置100还包括风扇，风扇用于降低测试装置100的工作温度。

可选的，该测试装置100还包括光开关指示灯和继电器指示灯，其中，光开关指示灯用于指示光开关120的闭合和断开，继电器指示灯用于指示继电器140的闭合和断开。也就是说，设置光开关指示灯，当对待测装置进行光纤插拔测试时，可以通过观察光开关指示灯来直观判断当前光开关120处于闭合状态还是断开状态；设置继电器指示灯，当对待测装置进行上掉电操作的测试时，可以通过观察继电器指示灯来直观判断当前继电器140处于闭合状态还是断开状态。

示例性的，本发明实施例提供一种在实际应用中的测试装置100，可以如图3所示。

硬件设计方面：测试装置100包括6个电源输出端口150，即该测试装置可以输入220V 40A交流电源，并输出6路的220V 6A交流电源。电源接线端子选用承受高功耗的接线端子，三线贯通式接线端子额定电压600V，额定电流75A，耐压6000V。该测试装置100的数字控制板110分别控制6个电源输出端口150是否可以输出交流电源，可实现最多对6个待测装置进行上掉电操作的测试。测试装置100包括2个光纤输出端口130，数字控制板110通过控制2个光开关120的闭合和断开控制光纤是否可以通信，可实现最多对2个待测装置进行光纤插拔测试。测试装置100包括一路RS232串口，用于数字控制板110和客户端200之间通信。数字控制板110可以采用主处理器芯片ATSAM3S2BA-AU。该测试装置100采用3U钣金机箱，测试装置100的控制开关置于机箱侧面，风扇从机箱后面吹风，出风口在机箱正面。

软件设计方面：测试装置100的整个软件处理按分层设计，主流程由嵌入式操作系统来调度。底层硬件驱动层采用统一的读写库函数封装，提供统一的接口函数给应用层操作。嵌入式操作系统将应用层分为多个任务处理，软件设计中建立了2个用户级任务独立处理各自的事务。任务之间的通信使用信号量。系统和外界数据接口由协议解析模块解释和封装完成。具体的，启动任务完成系统硬件的初始化、所有的驱动和设备的初始化和加载。程序运行过程中，启动任务还负责点亮工作灯。通信任务负责对外通讯及数据交互的全部任务。通讯任务通过协议解析模块与外界设备进行数据交互。

基于同一发明构思，本发明实施例提供一种测试系统。如图4所示，该测试系统包括上述测试装置100和客户端200。

其中，客户端200分别与测试装置100、信号源400和频谱仪500连接，待测装置300分别与测试装置100、信号源400和频谱仪500相连。

可选的，客户端200与信号源400和频谱仪500通过GPIB连接。

结合图4对本发明实施例中的测试系统做如下解释。

客户端200用于向测试装置100发送控制指令，以控制测试装置100对待测装置300进行测试；同时，客户端200还用于向信号源400发送信号发送指令，以控制信号源400向待测装置300发送测试信号；以及接收频谱仪500解调后的工作信号，其中，该工作信号是待测装置300处理测试信号后得到的。

具体的，客户端200通过编程控制测试装置100、频谱仪500、信号源400，达到模拟测试设备的常用操作，从而实现自动化测试的目的，在本发明实施例中，可支持待测装置300的上掉电操作的测试和插拔光纤测试，当然，还可以包括其他测试，例如监控FPGA复位测试、监控FPGA软件升级测试、监控量测试、告警测试等。

测试装置100用于在接收到客户端200发送的控制指令后，控制光开关的闭合和断开，以使待测装置300在测试装置100的控制下实现光信号的发送或接收；或者控制继电器的闭合和断开，以使待测装置300在测试装置100的控制下实现上电、掉电的测试。具体的，客户端200发送的控制指令包括第一控制指令和第二控制指令，当测试装置100在接收到客户端200发送的第一控制指令后，控制光开关120的闭合和断开，用于对待测装置300进行光纤插拔的测试；当测试装置100在接收到客户端200发送的第二控制指令后，控制继电器140的闭合和断开，用于对待测装置300进行上掉电操作的测试。

可选的，信号源400在接收到客户端200发送的信号发送指令后，向待测装置300发送测试信号，即可以理解为向待测装置300中发送光纤信号，用于待测装置300进行性能测试的信号来源。

待测装置300在测试装置100的光开关120闭合时发送或接收测试信号，在测试装置100的继电器140闭合时进行参数配置；接收信号源400的测试信号，并在对信号源400的测试信号进行处理后，将处理后的信号发送给频谱仪500，也就是将工作信号发送给频谱仪500。解释为，当测试装置100的光开关120闭合时，即待测装置300在接入光纤后，发送或接受测试信号；当测试装置100的继电器140闭合时，即待测装置300上电后，待测装置300重新进行参数配置。待测装置300在测试装置100的光开关120闭合后，可以接收信号源400的测试信号，并将该信号源400发送的测试信号进行处理，将处理后的信号(工作信号)发送给频谱仪500；待测装置300在测试装置100的继电器140闭合后，可以接收信号源400的测试信号，并将该信号源400发送的测试信号进行处理，将处理后的信号(工作信号)发送给频谱仪500。

频谱仪500在待测装置300发送或接收测试信号和/或进行参数配置后，接收待测装置300发送的工作信号并解调；客户端可读取或设置频谱仪500，客户端200通过GPIB设置读、取频谱仪500的射频参数指标。客户端200通过配置测试用例及条件可以自动化判定读取频谱仪500射频指标参数，当射频指标异常时，可自动截取频谱仪500图片至客户端200，并通过集成其它通讯工具通知测试人员。

此外，客户端200可以在根据信号源400发送的测试信号以及频谱仪500解调后的工作信号确定待测装置300的性能之后，将该待测装置300的性能进行显示，待测装置300的性能指标可以包括待测装置300的射频参数，如功率、EVM(Error Vector Magnitude，误差向量幅度)、增益、时延等。测试人员根据测试结果对待测装置300的参数进行调试，如调试待测装置300的FPGA参数、射频参数、A/D参数等。具体的，待测装置300内设置有监控软件，该监控软件预先配置FPGA参数、A/D参数等，当客户端200确定该待测装置300的性能不符合预先设定的性能要求时，测试人员可以通过客户端200对监控软件中的参数进行调整。

本发明实施例提供一种客户端200、测试装置100、待测装置300的结构图，如图5所示。客户端200用于向测试装置100发送第一控制指令和第二控制指令，控制测试装置100对待测装置300进行光纤插拔测试和上掉电操作的测试。客户端200可以对待测装置300的进行调试，如调试待测装置300的FPGA参数、射频参数、A/D参数等。

进一步的，如图5示出的测试装置100，包括多个光纤输出端口130和多个电源输出端口150，从而实现该测试装置100可以同时对多个待测装置300进行光纤插拔测试和对多个待测装置300进行上掉电操作的测试。例如，测试装置100包括2个光纤输出端口130，则可以至多同时对2个待测装置300进行光纤插拔测试；测试装置100包括6个电源输出端口150，则可以至多同时对6个待测装置300进行上掉电操作的测试。当然，测试装置100的光纤输出端口130的个数与光开关120的个数相同，测试装置100的电源输出端口150的个数与继电器140的个数相同，可根据测试需求进行设置。另外，也可以对一个待测装置300同时进行光纤插拔测试和上掉电操作的测试。

如图6所示，为本发明实施例提供的一种测试系统，该测试系统包括测试装置100、客户端200、待测装置300、信号源400、频谱仪500，其中测试装置100与客户端200通过串口相连接，信号源400和频谱仪500为本发明实施例的仪器仪表，通过GPIB线与客户端200相连接，客户端200通过以太网和待测装置300相连接。进一步的，测试装置100可以同时对待测装置300A、待测装置300B进行上掉电操作的测试，且待测装置300A、待测装置300B为串联，光纤信号由信号源400发送至待测装置300A，待测装置300A将处理后的信号发送至测试装置100，测试装置100在将该信号发送至待测装置300B后，待测装置300B将处理后的信号发送至频谱仪500，频谱仪500进行解调，客户端200再从频谱仪500获取射频指标参数。

上述实施例中，数字控制板控制光开关的闭合和断开，用于对待测装置进行光纤插拔的测试，数字控制板控制继电器的闭合和断开，用于对待测装置进行上掉电操作的测试，实现自动化对待测设备的光纤插拔的测试和上掉电操作的测试，提高待测设备功能测试的测试效率，并保障了测试质量。

本发明有益效果如下：

(1)通过测试装置实现对待测装置进行自动化的光纤插拔测试和上掉电操作的测试，客户端可以实时监控待测装置的状态，同时对待测装置的参数进行配置，减少人为操作出错概率。

(2)可以测试待测装置的射频参数，如功率、EVM、增益、时延等，同时能测试待测装置的输出状态和射频指标。

(3)可以直接控制待测装置的监控软件，模拟待测装置的监控软件操控FPGA、A/D等逻辑芯片的配置及加载，可模拟测试设备监控程序控制的有效性和稳定性。

尽管已描述了本发明的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。

显然，本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的精神和范围。这样，倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内，则本发明也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (10)

1.一种测试系统，其特征在于，包括：客户端、测试装置和待测装置；所述客户端分别与所述测试装置、所述待测装置、信号源和频谱仪连接；

所述客户端用于向所述测试装置发送控制指令；向所述信号源发送信号发送指令，以控制所述信号源向所述待测装置发送测试信号；接收所述频谱仪解调后的工作信号，所述工作信号是所述待测装置处理所述测试信号后得到的；

所述客户端还用于根据所述测试信号和所述工作信号，确定所述待测装置的性能指标，根据所述性能指标向所述待测装置发送调试参数，所述调试参数中包括FPGA参数、射频参数、A/D参数中的一项或多项；所述待测装置上电之后，根据所述调试参数进行参数配置；

所述测试装置包括：数字控制板、光开关、继电器、电源输出端口、光纤输出端口；所述数字控制板分别与所述光开关、所述继电器相连，所述数字控制板根据所述控制指令控制所述光开关、所述继电器的闭合和断开；所述光开关与光纤输出端口连接，所述光纤输出端口用于通过光纤连接所述待测装置的光纤接口；所述光开关的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的光纤插拔；所述继电器与电源输出端口连接，所述电源输出端口用于连接所述待测装置的电源输入端；所述继电器的闭合和断开用于在测试过程中实现所述待测装置的上掉电操作。

2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试装置还包括第一串口和至少一个第二串口；所述第一串口的一端连接所述数字控制板，另一端连接客户端；所述第二串口一端连接所述数字控制板，另一端用于级联其它的所述测试装置的数字控制板。

3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述数字控制板包括控制子系统、接收子系统、驱动管理子系统、定时管理子系统；

所述接收子系统通过所述第一串口接收所述客户端发送的所述控制指令，并将所述控制指令发送给所述控制子系统；

所述控制子系统在接收到所述接收子系统发送的控制指令后，根据所述控制指令控制所述光开关的闭合和断开或所述继电器的闭合和断开；

所述驱动管理子系统用于管理所述第一串口、第二串口的驱动；

所述定时管理子系统用于执行所述数字控制板的定时任务。

4.如权利要求3所述的系统，其特征在于，所述控制指令包括第一控制指令和第二控制指令；

所述第一控制指令用于控制所述测试装置的光开关的闭合和断开；

所述第二控制指令用于控制所述测试装置的继电器的闭合和断开。

5.如权利要求4所述的系统，其特征在于，所述第一控制指令包括控制所述测试装置的光开关的闭合和断开的次数和频率；所述第二控制指令包括控制所述测试装置的继电器的闭合和断开的次数和频率。

6.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述第一串口、第二串口为RS232串口。

7.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述光开关为N个，其中，一个光开关对应一个光纤输出端口；所述N大于等于2；

所述继电器为M个，其中，一个继电器对应一个电源输出端口；所述M大于等于2。

8.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试装置还包括风扇；

所述风扇用于降低所述测试装置的工作温度。

9.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述测试装置还包括光开关指示灯和继电器指示灯；

所述光开关指示灯用于指示所述光开关的闭合和断开，所述继电器指示灯用于指示所述继电器的闭合和断开。

10.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述客户端与所述信号源和频谱仪通过通用接口总线GPIB通信协议连接。

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