TWI642901B - 檢查裝置、檢查方法以及電腦可讀取的記錄媒體 - Google Patents

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Abstract

一種檢查裝置、檢查方法以及電腦可讀取的記錄媒體。檢查裝置包括:圖像獲取部,獲取對面光源裝置的發光面進行拍攝所得的圖像即發光面圖像;檢查部,在發光面圖像內的可能出現異常的位置設定檢查範圍,生成表示檢查範圍內的沿著所述第1邊的亮度值變化的一維的亮度分佈,檢測亮度分佈的極值,計算對相鄰的極值之間的差分進行評價的評價值,並基於評價值來判定有無異常;以及輸出部,輸出由檢查部所獲得的資訊。

Description

檢查裝置、檢查方法以及電腦可讀取的記錄媒體
本發明是有關於一種用於對邊緣光(edge light)型的面光源裝置的異常進行檢查的技術。
作為液晶顯示裝置的背光,使用邊緣光型(Edge-lit)面光源裝置。所謂邊緣光型,是指下述結構:沿著面光源裝置的發光面的端緣(邊緣)來配置發光二極體(Light Emitting Diode,LED)等光源,將從光源出射的光藉由板狀的導光部(light guide)(稱作導光板)而導向發光面。邊緣光型面光源裝置的小型化、薄型化相對較容易,因此例如在智慧電話(smartphone)之類的小型電子機器中得到廣泛採用。
邊緣光型面光源裝置中,有時會因導光板的模具或成形不良、組裝(assemble)時的偏離等各種原因,而產生與亮度的不均勻相關的異常。此類異常之一,有如下所述者,即,在發光面中的配置有光源的一側的端部中,接近光源的區域局部地變亮,出現與光源的配置相應的明暗(本說明書中將該異常稱作「熱點(Hot spot)」)。
當前的實情是,此類異常的檢查是依賴於基於人(檢查員)的目測的感官檢查。所以,存在檢查所需的工時及成本、屬人性的高度等問題,正謀求檢查的自動化與客觀化(量化)。
另外,雖非面光源裝置的檢查,但在專利文獻1中提出有一種藉由圖像處理來自動檢查紙、布等素色片狀物的缺陷或液晶面板的缺陷的方法。該方法是針對拍攝被檢查物所得的圖像,對定義缺陷的亮度變化的濾波器(filter)(該文獻中稱作「缺陷基準圖像」)進行掃描而算出標準化相關係數,檢測圖像中的缺陷區域。 [現有技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本專利特開平11-14554號公報
[發明所欲解決之課題] 在面光源裝置特有的異常即熱點中,會出現與光源的配置相應的亮度變化(明暗圖案)。若準備與該明暗圖案一致的濾波器,也許可將專利文獻1的方法亦適用於熱點的檢查。
然而,在面光源裝置的每種型號(機型)中,發光面的尺寸或者光源的數量、間距、配置等為各種各樣,因此在以往的濾波方式的情況下,存在下述問題,即,不得不根據所設想的明暗圖案來預先準備多個濾波器。反言之,未準備濾波器的明暗圖案有可能無法檢測,或者檢測精度顯著下降。而且,若為了全面地檢查各種明暗圖案而進行借助多個濾波器的掃描,則亦存在檢查所要的處理時間變長的問題。
本發明是有鑒於所述實際情況而完成,其目的在於提供一種技術,用於客觀且自動檢查與在邊緣光型面光源裝置中產生的亮度的不均勻相關的異常。而且,本發明的另一目的在於提供一種對於各種型號的面光源裝置可通用地適用的熱點檢查技術。
[解決課題之手段] 為了達成所述目的,本發明中,導入用於對熱點的產生程度進行量化的新穎的評價值(評價指標)。並且,本發明提出一種算法(algorithm),該算法是根據對面光源裝置的發光面進行拍攝所得的圖像來自動計算評價值,並基於該評價值來自動進行熱點檢查。
具體而言,本發明的第一形態提供一種檢查裝置,對與面光源裝置的發光面內的亮度的不均勻相關的異常進行檢查,其中,所述面光源裝置是具有多個光源與導光板的邊緣光型面光源裝置,所述多個光源沿著所述發光面的第1邊而配置,所述導光板將從所述多個光源出射的光導向所述發光面,所述異常是在所述發光面中的所述第1邊側的端部,出現與所述多個光源的配置相應的明暗圖案的異常, 所述檢查裝置包括:圖像獲取部,獲取對所述發光面進行拍攝所得的圖像即發光面圖像;檢查部,在所述發光面圖像內的可能出現所述異常的位置設定檢查範圍,生成表示所述檢查範圍內的沿著所述第1邊的亮度值變化的一維的亮度分佈,檢測所述亮度分佈的極值,計算對相鄰的極值之間的差分進行評價的評價值,並基於所述評價值來判定有無所述異常;以及輸出部,輸出由所述檢查部所獲得的資訊。
根據該結構,可基於對面光源裝置的發光面進行拍攝所得的圖像,來計算表示熱點產生程度的評價值,且基於該評價值來判定有無熱點。因此,可客觀且自動檢查熱點。並且,本發明使用對一維的亮度分佈中相鄰的極值之間的差分進行評價的評價值,因此可實現不依存於明暗圖案的週期(間距(pitch))的評價。因此,本發明對於發光面的尺寸或者光源的數量、間距、配置等不同的各種型號的面光源裝置可通用地適用。
所述檢查部亦可基於注目極值、與所述注目極值前後相鄰的2個極值,來計算對所述注目極值的所述評價值。藉此,可將出現暗→明→暗、或明→暗→明的亮度變化的部分評價為異常候補。
例如,當設所述注目極值為val2、所述前後相鄰的2個極值為val1、val3時,所述檢查部亦可藉由 [數1], 來計算對所述注目極值的所述評價值HS。其中,abs()是求出絕對值的函數。根據所述式,可獲得不依存於亮度值其自身的大小(DC成分)而依存於亮度值的變化大小(AC成分)的評價值。因此,本發明對於亮度不同的各種型號的面光源裝置可通用地適用。
所述檢查部在相鄰的極值之間的距離大於上限臨限值時,亦可不進行對所述極值的所述評價值計算,或者判定為在所述極值的位置未發生所述異常。這是因為,若極值間的距離足夠大,則亮度的變化平緩,因此難以察覺為異常。而且因為:即使假設亮度的變化顯著,但當極值之間的距離顯著大於所設想的光源間距時,應判定為是因熱點以外的其他原因產生的異常。
所述檢查部在相鄰的極值之間的距離小於下限臨限值時,亦可不進行對所述極值的所述評價值計算,或者判定為在所述極值的位置未發生所述異常。這是因為,當極值間的距離非常小時(例如,極值間的距離明顯小於所設想的光源間距時),是因熱點以外的其他原因產生的異常、或是單純的測定上的雜訊(noise)的可能性高。
所述輸出部亦可輸出所述評價值與有無所述異常的判定結果。藉由判定結果的輸出,可立即判斷有無熱點或面光源裝置的良/不良。而且,亦輸出評價值,因此可確認判定結果的根據,判定結果的信服度、客觀性提高。
所述輸出部亦可輸出下述圖像,該圖像是在所述發光面圖像或對所述發光面圖像進行了加工的圖像上,重疊有表示出現所述異常的位置的資訊。藉由輸出此種重疊圖像,可直觀且簡便地掌握出現熱點的問題部位,對於實物的確認作業亦有用。
所述輸出部亦可輸出所述檢查範圍的亮度分佈。藉由輸出亮度分佈,可掌握明暗圖案的狀態或極值間的亮度差等。
另外,本發明可作為具有所述結構或功能的至少一部分的檢查裝置或熱點量化裝置而掌握。而且,本發明亦可作為包含所述處理的至少一部分的檢查方法、檢查裝置的控制方法、熱點量化方法或者用於使電腦(computer)執行該些方法的程式(program)、或、非暫時地記錄此種程式的電腦可讀取的記錄媒體而掌握。所述結構及處理各自可在不產生技術矛盾的範圍內彼此組合而構成本發明。 [發明的效果]
根據本發明,可自動且客觀地檢查與在邊緣光型面光源裝置中產生的亮度的不均勻相關的異常。而且,本發明對於各種型號的面光源裝置中的熱點檢查可通用地適用。
本發明是有關於一種檢查技術,用於藉由客觀(定量)的評價值來評價在邊緣光型面光源裝置中是否產生了被稱作熱點的異常,自動檢查有無熱點。該檢查技術例如可較佳地適用於面光源裝置的製造線中的最終步驟中的線上(inline)檢查、或製造裝入有面光源裝置的製品的製造商(marker)處的零件(面光源裝置)入庫檢查等。另外,以下的實施形態中,對用作液晶顯示裝置的背光的面光源裝置的示例進行了敍述,但本發明的檢查技術亦可應用於照明裝置或數位看板(Digital Signage)等用於其他用途的面光源裝置的檢查。
以下,參照圖式來說明用於實施本發明的較佳形態的一例。但是,以下的實施形態中記載的裝置的結構或動作為一例,並不意圖將本發明的範圍僅限定於他們。
<第1實施形態> (面光源裝置) 圖1是例示面光源裝置1的基本結構的立體圖。面光源裝置1具備導光板(導光部)10、多個光源11、可撓性印刷基板(以下,亦記作「FPC(Flexible Printed Circuit)」)12、框架(frame)13及固定構件14。而且,面光源裝置1具備配置於導光板10下表面側的反射片(sheet)15。進而,面光源裝置1具備依序積層於導光板10上表面側的擴散片16、稜鏡片17a、17b及遮光片18。
導光板10為大致板狀,且由聚碳酸酯(polycarbonate)樹脂或聚甲基丙烯酸甲酯(polymethylmethacrylate)樹脂等透光性的原材料所成形。導光板10的上側的面成為光所出射的發光面(亦稱作光出射面)。導光板10將從光源11導入至導光板10內的光利用全反射而導向發光面,以使發光面整體大致均勻地發光。
光源11例如是出射白色光的LED光源。但是,亦可使用白色以外的LED光源或LED光源以外的光源,還可使用多色(例如RGB)的光源。光源11被安裝於FPC 12,接受來自FPC 12的供電而驅動。本實施形態中,沿著導光板10的發光面的一個短邊(稱作「第1邊」),8個光源11等間隔地配置成一列。
框架13是具有開口,且包含四邊的框狀構件。框架13是由含有氧化鈦的聚碳酸酯樹脂等所形成。在框架13中嵌入有導光板10,框架13的內周面包圍導光板10的形成外周面的側面。框架13具有高反射率,以導光板10內的光不會從導光板10的外周面漏出的方式來對光進行反射。在框架13的一邊,設有收容光源11的收容部,在收容部中,設有對來自光源11的光進行反射的反射壁。
固定構件14被配置於FPC 12的下表面等,固定FPC 12、框架13及導光板10。固定構件14例如是上下表面成為黏接面的雙面膠帶,但並不限於雙面膠帶。反射片15是反射率高的白色樹脂片或包含金屬箔等的平滑的片,以導光板10內的光不會從導光板10的下側面漏出的方式來對光進行反射。擴散片16為半透明的樹脂薄膜(film),使從導光板10的發光面發出的光擴散,以擴展光的指向特性。稜鏡片17a及17b是在上表面形成有三角稜鏡狀的微細圖案的透明的樹脂薄膜,對經擴散片16擴散的光進行聚光,使面光源裝置1從上表面側觀察時的亮度提昇。遮光片18是上下兩面成為黏接面的黑色的黏接片。遮光片18呈邊框狀,抑制光的漏出。
(熱點) 圖1所例示的邊緣光型面光源裝置中,有時會因導光板10的模具或成形不良、各種構件組裝時的偏離、各種片15~18貼合時的偏離等各種原因,而產生與亮度的不均勻相關的異常。此類異常之一,有被稱作「熱點」的異常,即,在發光面中的第1邊側(配置有光源11的一側)的端部,出現與多個光源11的配置相應的明暗圖案。圖2示意性地表示熱點的一例。熱點20是因下述原因而產生,是產生頻率最高的異常之一,即:因導光板10的不完備,從光源11入射的光直接到達發光面側。
本發明人對以往的感官檢查的流程及檢查結果進行分析,直至獲得如下所述的見解。 (1)在熱點中,配置有光源11的位置(光從光源11入射至導光板10的位置)附近相對較亮,而鄰接的2個光源11之間的區域相對較暗。 (2)沿著多個光源11的排列方向(即,沿著第1邊的方向),交替地出現相對較亮的區域(亮區域)與相對較暗的區域(暗區域)。 (3)亮區域與暗區域的亮度差越大,則亮度的不均勻越顯著。
基於以上的見解,本發明人生成表示沿著第1邊的亮度值變化的一維的亮度分佈,並設計出對該亮度分佈的振幅進行評價的評價值(稱作「熱點評價值」),藉由該評價值來量化熱點的產生程度。藉由導入此種評價值,將可定量且客觀地掌握熱點的產生程度,從而可使以往依靠感官檢查的熱點檢查實現自動化。以下,詳細說明本實施形態的熱點評價值、及使用該熱點評價值的檢查處理的一具體例。
(檢查裝置) 使用圖3來說明本發明的實施形態的檢查裝置3的結構。圖3是表示檢查裝置3的硬體結構的圖。該檢查裝置3是如下所述的裝置,即,定量地評價面光源裝置1中的熱點的產生程度,並自動判定有無應作為缺陷而排除的熱點。
如圖3所示,檢查裝置3大致具有資訊處理裝置(電腦)30、攝像裝置31、載台(stage)32及定電流電源33。資訊處理裝置30包含通用或專用的電腦,該通用或專用的電腦具有:作為硬體處理器(hardware processor)的中央處理單元(Central Processing Unit,CPU)(中央運算處理裝置)、作為主記憶的記憶體(memory)、非暫時地記憶程式或資料的記憶裝置(硬碟(hard disk)、快閃記憶體(flash memory)等)、輸入裝置(滑鼠(mouse)、鍵盤(keyboard)、觸控面板(touch panel)等)、顯示裝置、與攝像裝置31的介面(interface)、網路介面(network interface)等。
攝像裝置31是對載置於載台32上的面光源裝置1進行拍攝,並輸出數位圖像的裝置。作為攝像裝置31,例如可使用數位攝影機(digital camera),該數位攝影機具有光學系統、攝像元件、與資訊處理裝置30的介面等。由於面光源裝置1的亮度計測為目的,因此若面光源裝置1為單色光源,則亦可為單色(monochrome)攝影機,若面光源裝置1為多色光源,則較佳為彩色攝影機。載台32是載置作為檢查對象的面光源裝置1的台。定電流電源33是對面光源裝置1供給電力的裝置。雖未圖示,但攝像裝置31及載台32亦可設於無塵工作台(clean bench)內。
若面光源裝置1的型號不同,則發光面的大小(縱橫尺寸)或發光亮度有可能不同。因此,根據作為檢查對象的發光面的大小,來調整載台32與攝像裝置31之間的距離、或攝像裝置31的變焦(zoom),藉此來進行由攝像裝置31所獲得的圖像的1畫素、與發光面上的實際尺寸的對應關係的校準(calibration)亦較佳。而且,根據檢查對象的發光亮度來調整攝像裝置31的曝光時間,藉此來進行由攝像裝置31所獲得的圖像的平均亮度的校準亦較佳。該些校準既可由資訊處理裝置30自動執行,亦可由作業者利用手動作業來進行。
圖4是表示檢查裝置3的與熱點檢查處理相關的功能的方塊圖。檢查裝置3具有圖像獲取部40、檢查部41、輸出部42及記憶部43。圖像獲取部40是從攝像裝置31獲取對作為檢查對象的面光源裝置1進行拍攝所得的圖像資料的功能。檢查部41是藉由對由圖像獲取部40所獲取的圖像資料進行分析,從而檢查有無熱點的功能。輸出部42是將圖像資料或檢查結果等資訊輸出至顯示裝置的功能。記憶部43是記憶有用於檢查處理的臨限值等設定資料的功能。該些功能的詳細將後述。
圖4所示的功能基本上是藉由資訊處理裝置30的CPU從記憶裝置加載並執行必要的程式而實現。但是,亦可利用特定應用積體電路(Application Specific Integrated Circuit,ASIC)或現場可程式閘陣列(Field Programmable Gate Array,FPGA)等電路來代替該些功能的一部分或全部。而且,亦可藉由利用雲端計算(cloud computing)或分散式計算的技術,從而由其他電腦來執行該些功能的一部分或全部。
(檢查處理) 參照圖5來說明熱點檢查處理的流程。圖5是檢查裝置3中的熱點檢查處理的流程圖。
首先,檢查員將面光源裝置1,使發光面朝向攝像裝置31側而配置於載台32上的規定位置。然後,將面光源裝置1連接於定電流電源33以驅動光源11,將面光源裝置1設為點燈狀態。另外,本實施形態的檢查裝置3中,是藉由手動作業來進行檢查對象的設置,但亦可使檢查對象的導入、定位、與電源的連接、排出等自動化。
步驟S50中,攝像裝置31拍攝點燈狀態的面光源裝置1,圖像獲取部40從攝像裝置31導入圖像資料。圖像的解析度為任意,但在本實施形態中,使用1畫素為約0.1 mm(發光面上的實際尺寸)的解析度的圖像。
步驟S51中,圖像獲取部40從在步驟S50中導入的輸入圖像中僅提取發光面的區域。以下,將此處所提取的發光面區域的圖像稱作發光面圖像。圖6(A)是輸入圖像60的一例,圖6(B)是從輸入圖像60提取的發光面圖像61的一例。本實施形態中,以發光面的長邊與圖像的X軸平行的方式來生成發光面圖像61。
發光面的區域提取採用任何方法皆可。例如,圖像獲取部40亦可(1)對原圖像進行二值化,(2)藉由閉(closing)處理來去除背景區域(發光面以外的區域)的雜訊(noise)後,(3)提取發光面的輪廓。進而,在發光面的輪廓相對於圖像座標系而傾斜的情況下,進行傾斜修正(旋轉修正)。或者,在檢查對象在載台上的定位精度足夠高的情況下,亦可僅切出原圖像中的規定範圍。
接下來,檢查部41進行發光面圖像61的檢查。首先,在步驟S52中,檢查部41對發光面圖像61設定檢查範圍(亦稱作窗口(window))。檢查範圍是用於異常檢測及評價計算的局部區域,是設定為發光面圖像61內的可能出現異常的位置。由於熱點是在光源側的端部出現的異常,因此如圖6(B)所示,可沿著發光面圖像61的左端來設定檢查範圍62。以下,作為一例,對使用X方向寬度:15畫素(相當於約1.5mm)、Y方向寬度:700畫素(相當於約70mm)的四邊形檢查範圍62的示例進行說明。但是,檢查範圍62的尺寸及形狀為任意,只要配合作為檢查對象的發光面的大小或熱點的出現範圍等來適當設計即可。
步驟S53中,檢查部41基於檢查範圍62內的圖像,生成表示檢查範圍62內的Y方向的亮度值變化的一維的亮度分佈。例如,檢查部41對檢查範圍62內的圖像的各行(行是指沿X方向排列的15畫素)計算亮度值(畫素值)的平均值,獲得一維的亮度資料(700筆的行的亮度平均值的資料)。圖7(A)表示檢查範圍62內的圖像的示例,圖7(B)表示一維的亮度資料的示例。圖7(B)的圖表的縱軸表示檢查範圍62內的Y方向的畫素位置,橫軸表示平均亮度值。接下來,檢查部41對一維的亮度資料實施平滑化處理以降低雜訊。圖7(C)是平滑化後的亮度資料的示例。可知的是,藉由平滑化而去除了高頻雜訊。本實施形態中,將平滑化後的亮度資料稱作亮度分佈86。
步驟S54中,檢查部41檢測亮度分佈的極值(極大值及極小值)。從一維的資料串中檢測極值的算法可利用公知的方法,省略詳細說明。本例中,如圖7(C)所示,檢測出15個極值P1~P15(8個極大值與7個極小值)。
接下來,對於所檢測出的極值,分別計算熱點評價值。以下的說明中,將所檢測出的極值的總數記作N、注目極值的編號記作i。首先,檢查部41在步驟S55中將2代入i,在步驟S56中計算針對極值Pi的熱點評價值。本實施形態中,藉由下述式來算出針對極值Pi的熱點評價值HSi 。其中,vali 為極值Pi的亮度值,abs()是取絕對值的函數。 [數2]
根據該評價式,可獲得不依存於亮度值其自身的大小(DC成分),而依存於亮度值的變化大小(AC成分)的評價值。即,根據該評價值HSi ,能以亮度值的相對變化為主來進行評價,因此可與作為基準的亮度值(無亮度不均的狀態的亮度值)的大小無關地量化熱點的產生程度。因此,本實施形態的評價方法對於作為基準的亮度值不同的各種型號的面光源裝置可通用地適用。
步驟S57中,檢查部41將熱點評價值HSi 與判定臨限值進行比較。判定臨限值是用於判定有無熱點的臨限值,只要基於感官檢查的結果或實驗結果等來預先決定即可。檢查部41在熱點評價值HSi 大於判定臨限值的情況下,判定為「在極值Pi的位置處產生了熱點」(步驟S58),若非如此,則判定為「在極值Pi的位置處無熱點」(步驟S59)。
檢查部41一邊使i逐次增加(increment)1直至i≧N-1為止(步驟S60、S61),一邊重複步驟S56~S59的評價。藉此,對極值P2~P14各自的位置檢查有無熱點。另外,本實施形態中,是根據注目極值Pi與其前後相鄰的極值Pi-1、Pi+1這3個極值來計算熱點評價值,因此未求出針對兩端的極值P1與P15的評價值。然而,例如亦可根據注目極值Pi與其中任一個極值Pi-1或Pi+1來進行評價值的計算,此時,亦可對所有極值P1~P15計算評價值。
步驟S62中,輸出部42生成輸出由檢查部41所獲得的資訊的畫面,並輸出至顯示裝置。圖8是檢查結果的輸出畫面的一例。在該輸出畫面中,顯示有從攝像裝置31導入的輸入圖像80、從輸入圖像80切出的發光面圖像81、及對發光面圖像81實施有用於使亮度不均變得顯著的加工所得的加工圖像(例如偽彩圖像等)82。而且,在發光面圖像81上,重疊顯示有表示出現了熱點的位置的資訊(例如表示熱點評價值超過判定臨限值的極值的位置的資訊)83。進而,亦顯示熱點評價值的最大值84和判定結果85、及亮度分佈86。
根據以上所述的本實施形態的檢查裝置3,可基於對面光源裝置1的發光面進行拍攝所得的圖像,來計算表示熱點產生程度的評價值,且基於該評價值來判定有無熱點。因此,可客觀且自動檢查熱點。並且,本實施形態的檢查算法使用對一維的亮度分佈中相鄰的極值之間的差分進行評價的評價值,因此可實現不依存於明暗圖案的週期(間距(pitch))的評價。因此,本實施形態的檢查算法對於發光面的尺寸或者光源的數量、間距、配置等不同的各種型號的面光源裝置可通用地適用。
而且,本實施形態的檢查算法中,將注目極值與其前後相鄰的極值這3個用於評價值的計算。藉此,可將出現暗→明→暗、或明→暗→明的亮度變化的部分評價為熱點候補,可精度良好地評價熱點的產生程度。
而且,藉由輸出圖8所示的檢查結果,檢查員可立即判斷有無熱點或面光源裝置1的良/不良。而且,亦輸出熱點評價值,因此可確認判定結果的根據,判定結果的信服度、客觀性提高。而且,在發光面圖像81上重疊顯示有表示熱點位置的資訊83,因此可直觀且簡便地掌握出現熱點的問題部位,對於實物的確認作業亦有用。進而,亦顯示亮度分佈86,因此可掌握明暗圖案的狀態或極值間的亮度差等。
<第2實施形態> 接下來,參照圖9及圖10來說明本發明的第2實施形態。與第1實施形態的不同之處在於,在進行熱點評價時,考慮相鄰的極值之間的距離。除此以外的結構與第1實施形態同樣,因此,以下僅對第2實施形態特有的結構及處理進行說明。
圖9是第2實施形態中的熱點檢查處理的流程圖。首先,藉由步驟S50~S54的處理來進行亮度分佈的生成及極值的檢測。至此為止的處理與第1實施形態(圖5)同樣。圖10是亮度分佈及所檢測出的極值的示例。本例中,檢測出13個極值P1~P13。
首先,檢查部41在步驟S55中將初始值2代入i。然後,在步驟S90中,檢查部41計算極值Pi與極值Pi-1之間的距離La、及極值Pi與極值Pi+1之間的距離Lb。若距離La、Lb中的至少一者小於下限臨限值TH1(步驟S91,是(YES)),則檢查部41不進行針對極值Pi的熱點評價值的計算,對評價值HSi 設定零(或無值)(步驟S93)。另外,若距離La、Lb中的至少一者大於上限臨限值TH2(步驟S92,是),檢查部41亦不進行針對極值Pi的熱點評價值的計算,對評價值HSi 設定零(或無值)(步驟S93)。
下限臨限值是為了將因熱點以外的其他原因產生的極值、或因單純的測定上的雜訊產生的極值,從熱點評價值的計算中予以除外而設。因此,下限臨限值例如可設定為比所設想的光源間距中的最小值小的值(例如所設想的最小值的50%~90%左右的值)。另一方面,上限臨限值是為了將因熱點以外的其他原因產生的極值從熱點評價值的計算中予以除外而設。因此,上限臨限值例如可設定為比所設想的光源間距中的最大值大的值(例如所設想的最大值的120%以上的值)。下限臨限值及上限臨限值既可預先設定於記憶部43中,亦可由用戶(檢查員)來輸入。
例如圖10的示例中,極值P2~P5之間的距離明顯比光源間距窄,極值P10~P11之間的距離明顯比光源間距寬,因此對於該些極值不應判定為熱點。對於此點,根據本實施形態的方法,不論極值的亮度差如何,該些極值的評價值均設為零(或無值),因此可獲得並非熱點這一判定結果。因此,可期待判定精度較所述第1實施形態進一步提高。
<其他> 所述實施形態的說明不過是例示性地說明本發明。本發明並不限定於所述的具體形態,可在該技術思想的範圍內進行各種變形。例如,所述實施形態中例示了具備矩形發光面的面光源裝置,但發光面的形狀並不限於此矩形。而且,所述熱點評價值僅為一例,只要是可對亮度分佈中的極值間的亮度差進行評價的評價值,則無論如何設計皆可。
1‧‧‧面光源裝置
3‧‧‧檢查裝置
10‧‧‧導光板
11‧‧‧光源
12‧‧‧FPC
13‧‧‧框架
14‧‧‧固定構件
15‧‧‧反射片
16‧‧‧擴散片
17a、17b‧‧‧稜鏡片
18‧‧‧遮光片
20‧‧‧熱點
30‧‧‧資訊處理裝置
31‧‧‧攝像裝置
32‧‧‧載台
33‧‧‧定電流電源
40‧‧‧圖像獲取部
41‧‧‧檢查部
42‧‧‧輸出部
43‧‧‧記憶部
60‧‧‧輸入圖像
61‧‧‧發光面圖像
62‧‧‧檢查範圍
80‧‧‧輸入圖像
81‧‧‧發光面圖像
82‧‧‧加工圖像
83‧‧‧資訊
84‧‧‧熱點評價值的最大值
85‧‧‧判定結果
86‧‧‧亮度分佈
P1~P15‧‧‧極值
S50~S62、S90~S93‧‧‧步驟
X、Y‧‧‧方向
圖1是例示面光源裝置的基本結構的立體圖。 圖2是表示熱點的一例的圖。 圖3是表示檢查裝置的硬體結構的圖。 圖4是表示檢查裝置的與熱點檢查處理相關的功能的方塊圖。 圖5是檢查裝置中的熱點檢查處理的流程圖。 圖6(A)是表示輸入圖像的一例的圖,圖6(B)是表示從輸入圖像提取的發光面圖像的一例的圖。 圖7(A)是表示檢查範圍內的圖像的一例的圖,圖7(B)是表示一維的亮度資料的一例的圖,圖7(C)是表示平滑化後的亮度資料(一維的亮度分佈)的一例的圖。 圖8是表示檢查結果的輸出畫面的一例的圖。 圖9是第2實施形態中的熱點檢查處理的流程圖。 圖10是表示第2實施形態中的一維的亮度分佈的一例的圖。

Claims (10)

  1. 一種檢查裝置,對與面光源裝置的發光面內的亮度的不均勻相關的異常進行檢查,所述檢查裝置的特徵在於,所述面光源裝置是具有多個光源與導光板的邊緣光型面光源裝置,所述多個光源沿著所述發光面的第1邊而配置,所述導光板將從所述多個光源出射的光導向所述發光面,所述異常是在所述發光面中的所述第1邊側的端部,出現與所述多個光源的配置相應的明暗圖案的異常,所述檢查裝置包括:圖像獲取部,獲取對所述發光面進行拍攝所得的圖像即發光面圖像;記憶部,記憶判定臨限值;檢查部,在所述發光面圖像內的可能出現所述異常的位置設定檢查範圍,生成表示所述檢查範圍內的沿著所述第1邊的亮度值變化的一維的亮度分佈,檢測所述亮度分佈的極值,計算對相鄰的所述極值之間的差分進行評價的評價值,並透過比較所述判定臨限值與所述評價值來判定有無所述異常;以及輸出部,輸出由所述檢查部所獲得的資訊。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的檢查裝置,其中所述檢查部基於注目極值、與所述注目極值前後相鄰的2個極值,來計算對所述注目極值的所述評價值。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的檢查裝置,其中當設所述注目極值為val2、所述與所述注目極值前後相鄰的2個極值為val1、val3時,所述檢查部藉由
    Figure TWI642901B_C0001
    來計算對所述注目極值的所述評價值HS。
  4. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的檢查裝置,其中所述記憶部記憶上限臨限值,所述檢查部在相鄰的所述極值之間的距離大於所述上限臨限值時,不進行對所述極值的所述評價值計算,或者判定為在所述極值的位置未發生所述異常。
  5. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的檢查裝置,其中所述記憶部記憶下限臨限值,所述檢查部在相鄰的所述極值之間的距離小於所述下限臨限值時,不進行對所述極值的所述評價值計算,或者判定為在所述極值的位置未發生所述異常。
  6. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的檢查裝置,其中所述輸出部輸出所述評價值與有無所述異常的判定結果。
  7. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的檢查裝置,其中所述輸出部輸出在所述發光面圖像或對所述發光面圖像進行了加工的圖像上,重疊有表示出現所述異常的位置的資訊的圖像。
  8. 如申請專利範圍第1項至第3項中任一項所述的檢查裝置,其中所述輸出部輸出所述檢查範圍的所述亮度分佈。
  9. 一種檢查方法,對與面光源裝置的發光面內的亮度的不均勻相關的異常進行檢查,所述檢查方法的特徵在於,所述面光源裝置是具有多個光源與導光板的邊緣光型面光源裝置,所述多個光源沿著所述發光面的第1邊而配置,所述導光板將從所述多個光源出射的光導向所述發光面,所述異常是在所述發光面中的所述第1邊側的端部,出現與所述多個光源的配置相應的明暗圖案的異常,所述檢查方法包括下述步驟:獲取對所述發光面進行拍攝所得的圖像即發光面圖像;在所述發光面圖像內的可能出現所述異常的位置設定檢查範圍;生成表示所述檢查範圍內的沿著所述第1邊的亮度值變化的一維的亮度分佈;檢測所述亮度分佈的極值;計算對相鄰的所述極值之間的差分進行評價的評價值;透過比較判定臨限值與所述評價值來判定有無所述異常;以及輸出判定的結果。
  10. 一種電腦可讀取的記錄媒體,記憶有用於使電腦執行申請專利範圍第9項所述的檢查方法的各步驟的程式。
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Families Citing this family (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6265253B1 (ja) * 2016-12-15 2018-01-24 オムロン株式会社 検査装置および検査方法
CN109064451B (zh) * 2018-07-09 2020-11-24 杭州舜浩科技有限公司 导光板缺陷检测方法
KR20200055853A (ko) 2018-11-13 2020-05-22 삼성디스플레이 주식회사 큐디 글래스 에이징 장치 및 그것의 에이징 방법
KR102199314B1 (ko) * 2019-03-07 2021-01-06 (주) 인텍플러스 디스플레이 패널 검사장치
CN111175027B (zh) * 2020-02-21 2021-03-05 卡莱特(深圳)云科技有限公司 一种显示屏显示异常的识别方法及识别装置
US11341880B1 (en) * 2021-04-14 2022-05-24 EyeVerify Inc. Multi-sensor scene brightness analysis to check camera pipeline integrity

Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1114554A (ja) * 1997-06-23 1999-01-22 Omron Corp 視覚欠陥検査方法および装置
TW200610424A (en) * 2004-06-01 2006-03-16 Eastman Kodak Co Uniformity and brightness measurement in oled displays
US20060061248A1 (en) * 2004-09-22 2006-03-23 Eastman Kodak Company Uniformity and brightness measurement in OLED displays
TWI260558B (en) * 2003-10-17 2006-08-21 Toshiba Corp Defect inspection method
TWI471553B (zh) * 2012-12-28 2015-02-01 Hitachi High Tech Corp 缺陷觀察方法及缺陷觀察裝置

Family Cites Families (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4319270A (en) * 1979-01-12 1982-03-09 Kobe Steel, Ltd. Surface inspection system for hot radiant material
JPH06317497A (ja) * 1993-05-07 1994-11-15 Sumitomo Electric Ind Ltd 吸収係数測定方法
US6868175B1 (en) * 1999-08-26 2005-03-15 Nanogeometry Research Pattern inspection apparatus, pattern inspection method, and recording medium
JP3800326B2 (ja) 2002-02-05 2006-07-26 セイコーエプソン株式会社 光検出装置、光検出方法、プログラムおよび記録媒体
JP2005207808A (ja) * 2004-01-21 2005-08-04 Nidec Copal Corp 欠陥検査装置及び欠陥検査方法
JP2006186027A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Nikon Corp 波面収差測定方法、波面収差測定装置、投影露光装置、及び投影光学系の製造方法
JP3983276B2 (ja) 2006-02-08 2007-09-26 シャープ株式会社 液晶表示装置
CN101388196B (zh) 2006-02-08 2011-03-23 夏普株式会社 液晶显示装置
KR101264718B1 (ko) 2007-04-02 2013-05-16 엘지디스플레이 주식회사 평판표시장치의 표시결함 보상방법 및 장치
KR101068364B1 (ko) * 2007-07-11 2011-09-28 엘지디스플레이 주식회사 액정표시장치 검사장비 및 그 검사방법
JP4528850B2 (ja) * 2008-08-26 2010-08-25 シャープ株式会社 欠陥検出装置、欠陥検出方法、欠陥検出プログラム、及び該プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体
KR101830679B1 (ko) * 2010-07-29 2018-02-22 삼성디스플레이 주식회사 표시 패널 검사 장치 및 그 방법
KR101782818B1 (ko) 2011-01-21 2017-09-29 삼성디스플레이 주식회사 데이터 처리 방법, 데이터 구동 회로 및 이를 포함하는 표시 장치
JP5867268B2 (ja) 2011-06-21 2016-02-24 ソニー株式会社 むら検査装置およびむら検査方法
BR112014016706A8 (pt) * 2012-01-05 2017-07-04 American Panel Corp Inc sistema de controle redundante para lcd
US9176004B2 (en) * 2012-03-16 2015-11-03 Apple Inc. Imaging sensor array testing equipment
CN102879183B (zh) * 2012-09-28 2015-02-11 合肥工业大学 加固液晶显示模块高温环境下显示亮度的测量方法
CN104075878A (zh) * 2013-03-29 2014-10-01 深圳市海洋王照明工程有限公司 一种导光板的均匀度测试方法
JP2015042942A (ja) * 2013-08-26 2015-03-05 シャープ株式会社 画像処理装置、欠陥検出装置、画像処理方法、プログラム、及び、記録媒体
JP6257245B2 (ja) * 2013-09-27 2018-01-10 キヤノン株式会社 撮像装置及びその制御方法
JP6318694B2 (ja) * 2014-02-25 2018-05-09 オムロン株式会社 検査装置、検査方法、プログラムおよび記録媒体
CN104184974B (zh) 2014-09-03 2018-02-09 北京时代奥视科技股份有限公司 视频信号亮度显示方法和异常视频信号的筛选方法及装置
KR102181881B1 (ko) * 2014-11-21 2020-11-24 삼성디스플레이 주식회사 비전 검사 장치 및 이의 감마 및 얼룩 보정 방법
CN105047145B (zh) 2015-09-14 2017-07-28 青岛海信电器股份有限公司 背光亮度控制方法、背光亮度控制装置及显示终端
JP6265253B1 (ja) * 2016-12-15 2018-01-24 オムロン株式会社 検査装置および検査方法

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH1114554A (ja) * 1997-06-23 1999-01-22 Omron Corp 視覚欠陥検査方法および装置
TWI260558B (en) * 2003-10-17 2006-08-21 Toshiba Corp Defect inspection method
TW200610424A (en) * 2004-06-01 2006-03-16 Eastman Kodak Co Uniformity and brightness measurement in oled displays
US20060061248A1 (en) * 2004-09-22 2006-03-23 Eastman Kodak Company Uniformity and brightness measurement in OLED displays
TWI471553B (zh) * 2012-12-28 2015-02-01 Hitachi High Tech Corp 缺陷觀察方法及缺陷觀察裝置

Also Published As

Publication number Publication date
EP3557216A4 (en) 2020-04-29
US20200043407A1 (en) 2020-02-06
JP6265253B1 (ja) 2018-01-24
WO2018110090A1 (ja) 2018-06-21
KR20190041008A (ko) 2019-04-19
EP3557216B1 (en) 2022-06-29
CN109791088A (zh) 2019-05-21
TW201823680A (zh) 2018-07-01
JP2018096902A (ja) 2018-06-21
US11062646B2 (en) 2021-07-13
EP3557216A1 (en) 2019-10-23
CN109791088B (zh) 2021-01-12

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