TWI642895B - 黏貼位置檢查裝置 - Google Patents

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TWI642895B
TWI642895B TW104113901A TW104113901A TWI642895B TW I642895 B TWI642895 B TW I642895B TW 104113901 A TW104113901 A TW 104113901A TW 104113901 A TW104113901 A TW 104113901A TW I642895 B TWI642895 B TW I642895B
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三島隼
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臼井誠剛
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日商日東電工股份有限公司
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    • GPHYSICS
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Abstract

揭露就以四邊分別與矩形狀之基板的四邊成為平行的方式而貼合的矩形狀之貼合物的在該基板上之黏貼位置作檢查的黏貼位置檢查裝置。該黏貼位置檢查裝置,係具備:形成就貼合了貼合物的基板作載置之載置區域的檢查台;安裝於檢查台且與基板及貼合物之4角對向,而分別於該4角就貼合物之邊緣與平行於貼合物之該邊緣的基板之邊緣之間的距離作光學測定之4個光學測定單元;以及連接於4個光學測定單元,將藉4個光學測定單元之各者而測定的距離作為測定結果而顯示之測定結果顯示單元。藉此,可使以四邊分別與矩形狀之基板的四邊平行的方式而貼合的矩形狀之貼合物的在該基板上之黏貼位置的檢查精度提升。

Description

黏貼位置檢查裝置
本發明,係關於黏貼位置檢查裝置。
液晶顯示器(LCD)、電漿顯示器(PDP)、電致發光顯示器(ELD)等之影像顯示裝置,係因其優異之性能而受到注目。為此,對於影像顯示裝置而言為重要的構成部分之1者的顯示面板之製造技術亦日益受到注目。
於顯示面板之製造中,為了實現顯示面板之顯示功能,需要對於光學元件(例如,液晶晶胞)黏貼光學膜(例如,偏光膜)。於此,光學膜之黏貼精度,係密切關聯於成為產品的顯示面板之顯示品質。因此,將光學膜黏貼於光學元件後,需要就在光學元件的光學膜之黏貼位置作檢查。
為此,於專利文獻1,係提議可實現如此之檢查功能的裝置。如示於圖8A及圖8B,專利文獻1中之顯示面板檢查裝置,係具備檢查台11,其具有載置了顯示 面板40之光透過部14、就所載置的顯示面板40之玻璃基板41、42的連續之二邊作定位的定位部15、及就從予以抵接於該定位部15的玻璃基板41、42之周緣至黏貼於玻璃基板41、42的偏光板44、45之周緣的距離作測定的距離測定構材16。測定時,係如示於圖8B,使顯示面板40之玻璃基板41、42之周緣41a、42a的連續之二邊分別抵接於定位部15之內面15a。此時,定位部15之內面15a至測定棒16c之前端16c-1的距離L,與玻璃基板41、42之周緣至偏光板44、45之周緣的距離一致。
〔先前技術文獻〕 〔專利文獻〕
[專利文獻1]日本發明專利公開2008-014674A
然而,記載於專利文獻1之顯示面板檢查裝置,係從側面以機械方式將測定棒作壓碰而就偏光板之黏貼位置作測定,故僅可測定接於側框的3角,存在測定精度偏離目標精度之虞。
本發明係鑑於如此之實情而創作者,目的在於提供一種黏貼位置檢查裝置,可使以四邊分別與矩形狀之基板的四邊平行的方式而貼合的矩形狀之貼合物的該基板上之黏貼位置的檢查精度提升。
為了解決上述課題而達成上述目的,本發明,係提供一種黏貼位置檢查裝置,就以四邊分別與矩形狀之基板的四邊成為平行的方式而貼合的矩形狀之貼合物的在該基板上之黏貼位置作檢查,具備:形成就貼合了該貼合物的基板作載置之載置區域的檢查台;安裝於該檢查台且與該基板及貼合物之4角對向,而分別於該4角就該貼合物之邊緣與平行於該貼合物之該邊緣的基板之邊緣之間的距離作光學測定之4個光學測定單元;以及連接於該4個光學測定單元,將藉該4個光學測定單元之各者而測定的距離作為測定結果而顯示之測定結果顯示單元。
依本發明,即可提供一種黏貼位置檢查裝置,可藉4個光學測定單元,於4角分別就貼合物(例如,偏光膜)之邊緣與平行於該貼合物之邊緣的基板(例如,玻璃基板)之邊緣之間的距離作光學測定,故可使以四邊分別與矩形狀之基板的四邊成為平行的方式而貼合的矩形狀之貼合物的在該基板上之黏貼位置的檢查精度提升。
此外,優選上,構成為:進一步設置在檢查台之前後方向上之前面安裝成可開閉,在打開時開放載置區域,且在關閉時遮蔽載置區域的蓋件,於在檢查台上的載置區域內係形成貫通於前後的4個檢查孔,作成基板及貼合物之4角分別位於4個檢查孔之範圍內,4個光學測 定單元,係分別安裝於檢查台之前後方向上之後面,且分別與4個檢查孔對向。
藉此,將光學測定單元設置於檢查台之後面,使得可防止在黏貼了貼合物之基板被相對於檢查台而載置或取出時與光學測定單元之干涉。然後,在檢查台之前面設置可開閉之蓋件,使得可在檢查過程中關閉此蓋件,可使利用光學測定單元的貼合物之黏貼位置的測定,更正確。
此外,優選上,係4個光學測定單元之各者,係以與4個檢查孔之中的1個檢查孔對向之方式而配置,以透過該檢查孔,而對於基板及貼合物之在該檢查孔之範圍內的部分照射光之方式而設置光源,並設置:利用該光源發光時,由基板及貼合物而反射之光,就基板及貼合物作攝像的攝像手段;以及連接於該攝像手段及測定結果顯示單元,根據利用攝像手段而攝像的影像就貼合物之邊緣與平行於該邊緣的該基板之邊緣之間的距離作演算,將該距離發送至測定結果顯示單元的影像處理手段。
藉此,可利用攝像手段,藉來自光源之光而就基板及貼合物之影像作攝像,使得可正確測定貼合物之邊緣與基板之邊緣之間的距離。
此外,優選上,攝像手段,係設置於夾著光源而與檢查孔係相對之側。
此外,優選上,於黏貼位置檢查裝置,構成為4個檢查孔之中的1者係作成圓孔,與該圓孔相鄰的其 他2個檢查孔係作成長邊方向互相垂直且延長線通過該圓孔的長孔,在該圓孔之對角線位置的檢查孔係相對於其他2個檢查孔而傾斜形成且延長線通過該圓孔的長孔,檢查台,係在為長孔的檢查孔之各者的附近具備導軌機構,與為長孔的檢查孔對向之光學測定單元,係在適合可沿著分別對應的檢查孔之長邊方向而移動的導軌機構安裝成可滑動。
藉此,可依基板及貼合物之尺寸,使光學測定單元移動至適當的位置,使得能以相同之黏貼位置檢查裝置就尺寸不同的各種之基板作測定。
此外,優選上,於黏貼位置檢查裝置,檢查孔係在是圓孔的檢查孔之附近具備導軌機構,與為圓孔的檢查孔對向之光學測定單元,係以可在該圓孔之範圍內移動的方式而在該導軌機構安裝成可滑動。
藉此,可依在基板的貼合物之黏貼位置,使在圓孔附近的光學測定單元移動至最佳之測定位置。
此外,優選上,採取以下構成:檢查台,係進一步具備與各導軌機構對應而設置的將對應之光學測定單元以沿著導軌機構而移動的方式作驅動之驅動單元,進一步具備以使各光學測定單元移動至期望之位置的方式而控制驅動單元的控制單元。
藉此,可藉驅動單元使光學測定單元自動移動至配合了基板尺寸的位置,故可使檢查效率提升。
此外,優選上,蓋件係透過鉸鏈而於檢查台 安裝成可開閉。
藉此,變得能以簡單的構造,就在檢查台的載置區域作開閉。
此外,優選上,於黏貼位置檢查裝置,構成為:於檢查台及蓋件之一方係具備滑軌,於另一方係具備滑件,蓋件,係將滑件相對於滑軌而安裝成可相對滑動,使得可相對於檢查台作開閉。
藉此,能以簡單的構造,就在檢查台的載置區域作開閉。
此外,優選上,於黏貼位置檢查裝置,作成:於檢查台之前面,係設置與該檢查台對向且與該檢查台之前面隔著既定之間隔的安裝框,4個光學測定單元,係分別透過該安裝框而安裝於檢查台。
藉此,可省略於檢查台就檢查孔作加工的程序,進一步可不需要蓋件而作檢查,故可使構造變簡單。
5‧‧‧支撐框
6‧‧‧檢查台
7‧‧‧蓋件
8‧‧‧光學測定單元
9‧‧‧鉸鏈
60、61‧‧‧定位板
62、63、64、65‧‧‧檢查孔
66、67、68、69‧‧‧線性導軌(導軌機構)
66'、67'、68'、69'‧‧‧調整馬達(驅動單元)
80‧‧‧安裝架
81‧‧‧環狀光源(光源)
82‧‧‧CCD相機(攝像手段)
83‧‧‧影像處理手段
C‧‧‧基板
F‧‧‧貼合物
L1、L2‧‧‧基板之邊緣與平行於該基板之該邊緣的貼合物之邊緣之間的距離
SD‧‧‧操作面板
RD‧‧‧顯示單元(測定結果顯示單元)
[圖1A]圖1A係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置作繪示的正面圖,示出將蓋件打開之狀態。
[圖1B]圖1B係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置作繪示的正面圖,示出將蓋件關閉之狀態。
[圖2]圖2係就載置了基板的狀態下之黏貼位置檢查裝置作繪示的正面圖。
[圖3]圖3係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置作繪示之側面圖。
[圖4]圖4係就黏貼位置檢查裝置之檢查台從後側所視看的說明圖。
[圖5]圖5係就黏貼位置檢查裝置的光學測定單元之構造作繪示的說明圖。
[圖6]圖6係就利用環狀照明而攝像的黏貼了貼合物之基板的影像作繪示之說明圖。
[圖7A]圖7A係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置之動作進行繪示的流程圖。
[圖7B]圖7B係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置之動作進行繪示的流程圖。
[圖8A]圖8A係就先前技術之顯示面板檢查裝置作繪示的說明圖。
[圖8B]圖8B係就先前技術之顯示面板檢查裝置作繪示的說明圖。
以下,邊參照圖式邊說明本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置。
另外,於本實施形態,檢查對象,係將矩形狀之貼合物F以四邊分別與矩形狀的基板C之四邊成為平行的方式而黏貼於該基板C的構成者。
<黏貼位置檢查裝置之構造>
圖1A及圖1B係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置作繪示的正面圖,圖1A係示出將蓋件7打開之狀態,圖1B係示出將蓋件7關閉之狀態。圖2係就載置了基板C的狀態下之黏貼位置檢查裝置作繪示的正面圖。圖3係就黏貼位置檢查裝置作繪示的側面圖。圖4係就檢查台6從後側所視看的說明圖。
如示於圖1A~圖3,黏貼位置檢查裝置,係主要,具備支撐框5、被該支撐框5支撐的檢查台6、透過鉸鏈9而安裝於檢查台6之前面的左右對開狀之蓋件7、安裝於檢查台6之後面的4個光學測定單元8、固定於檢查台6的操作面板SD、固定於檢查台6的顯示單元RD、及未圖示之控制單元。
支撐框5,係供於就其他各構材作支撐用者,具有:基底;從該基底朝向下方而延伸,接於地面的支撐腳;以及從基底之背面朝向上方而延伸至既定之高度的後支撐板。
檢查台6,係具有:板狀之檢查台本體;以長邊方向沿著水平方向的方式而設置在該檢查台本體之前面的長尺狀之定位板60;以長邊方向沿著垂直於該定位板60之長邊方向的方向之方式而設置在檢查台本體之前面的長尺狀之定位板61;形成於檢查台本體之貫通於前後方向的4個檢查孔62、63、64、65;設置於檢查台本體之後面的4組之線性導軌66、67、68、69(69-1、69- 2);以及設置在檢查台本體之後面的4組之調整馬達66'、67'、68'、69'(69-1'、69-2')。
檢查台本體,係與兩定位板60、61一起,載置黏貼了貼合物F之基板C,就進行定位之載置區域作區劃。板狀之檢查台本體,係就黏貼了貼合物F之基板C作載置者,整體以後傾姿勢被支撐於支撐框5之基底的前部與後支撐板之上部之間,長尺狀之兩定位板60、61之各者,係與基板C之相鄰的二邊作面接觸,而將黏貼了貼合物F之基板C定位於檢查台本體者。
4個檢查孔62、63、64、65之中,1個檢查孔62(在圖1A係右下方之檢查孔)係圓孔,形成於檢查台本體之在兩定位板60、61的延長線之交叉位置附近的部分,與該圓孔相鄰的其他兩檢查孔63、64(在圖1A係左下方及右上方之檢查孔),係長邊方向互相垂直,且各自的延長線通過該圓孔62之長孔,然後,在該圓孔之對角線位置的檢查孔65(在圖1A係左上方之檢查孔),係相對於其他兩檢查孔63、64形成為傾斜且延長線通過該圓孔的長孔。
如示於圖4,4組之線性導軌66、67、68、69,係分別在檢查台本體之後面設置於4個檢查孔62、63、64、65附近,後述之4個光學測定單元8之各者,係以可沿著各檢查孔62、63、64、65之長邊方向而移動的方式安裝於對應的4組之線性導軌66、67、68、69,4組之調整馬達66'、67'、68'、69',係分別在檢查台本體 之後面與4個線性導軌66、67、68、69對應而設置,以使後述之4個光學測定單元8沿著各檢查孔62、63、64、65之長邊方向而移動的方式而動作。
具體而言,對應於為圓孔之檢查孔62的線性導軌66之滑軌,係在檢查孔62之下方沿著水平方向而設置,且其一端連接於調整馬達66'之輸出軸。此外,該線性導軌66之滑件於此滑軌設成可滑動,1個光學測定單元8安裝於此線性導軌66之滑件,其攝像範圍與檢查孔62對向,同時在於檢查孔62之範圍內。
對應於是長孔的檢查孔63之線性導軌67的滑軌係在該檢查孔63之下方設置於水平方向,且其一端連接於調整馬達67'之輸出軸。此外,該線性導軌67之滑件,係於該滑軌設成可滑動,另1個光學測定單元8安裝於此線性導軌67之滑件,其攝像範圍與檢查孔63對向,同時在於檢查孔63之形成範圍內。
對應於是長孔的檢查孔64之線性導軌68的滑軌,係以長邊方向成為與檢查孔64之長邊方向平行的方式,而設置於該檢查孔64之左右兩側的一方,其一端連接於調整馬達68'之輸出軸。此外,線性導軌68之滑件,係於此滑軌設成可滑動,再另1個光學測定單元8安裝於此線性導軌68之滑件,其攝像範圍與檢查孔64對向,同時在於檢查孔64之形成範圍內。
對應於是長孔的檢查孔65之線性導軌69,係由第1線性導軌部69-1與第2線性導軌部69-2所成。第 1線性導軌部69-1之滑軌係在檢查孔65之上方設置於水平方向,且其一端連接於調整馬達69'之中的1個調整馬達69-1'之輸出軸。第1線性導軌部69-1之滑件,係於此滑軌設成可滑動。此外,第2線性導軌部69-2的滑軌之一端係安裝於第1線性導軌部69-1之滑件,另一端係連接於調整馬達69'之中的另1個調整馬達69-2'之輸出軸。然後,第2線性導軌部69-2之滑軌,係以其長邊方向相對於水平方向而垂直且平行於檢查台本體之後面的方式而構成,第2線性導軌部69-2之滑件,係於第2線性導軌部69-2之滑軌設成可滑動。此外,光學測定單元8,係安裝於第2線性導軌部69-2之滑件,其攝像範圍與檢查孔65對向,同時在於檢查孔65之範圍內。
調整馬達66'、67'、68'、69'(69-1'、69-2')係伺服馬達,與未圖示之控制單元作連接。調整馬達66'、67'、68'、69',係由控制單元基於操作者所輸入之參數而控制,從而就各線性導軌作控制,而以使各光學測定單元8移動至期望之位置的方式而動作。
蓋件7,係透過鉸鏈9,朝向檢查台6之前後方向視看時在前面安裝成可開閉。如示於圖1A,蓋件7係在打開時就檢查台6之載置區域作開放。然後,如示於圖1B,蓋件7係在關閉時就檢查台6之載置區域作遮蔽。
4個光學測定單元8,係朝向檢查台6之前後方向視看時分別設置在後面,如前述,以與對應之檢查孔 對向的方式而構成。在將黏貼了貼合物F之基板C載置於檢查台6之情況下,基板C及貼合物F之4角係分別位於4個檢查孔62、63、64、65之範圍內,4個光學測定單元8,係分別與基板C及貼合物F之4角對向,而於該4角,透過檢查孔以光學方式就貼合物F之邊緣與平行於該貼合物F之該邊緣的基板C之邊緣之間的距離作測定(圖6參照)。
圖5,係就黏貼位置檢查裝置之光學測定單元8之構造作繪示的說明圖。
如示於圖5,4個光學測定單元8之各者,係具有安裝架80、環狀光源81、CCD相機82、及影像處理手段83。
安裝架80,係如前述,固定於對應之線性導軌(參照符號66、67、68、69(69-1、69-2))之滑件,可與此滑件一起沿著滑軌而移動。
環狀光源81被安裝於安裝架80且其發光面與在檢查台本體之對應的檢查孔(參照符號62、63、64、65)對向,而透過該檢查孔,對於基板C及貼合物F之在該檢查孔之形成範圍的部分而照射光。
CCD相機82,被透過保持器而安裝於安裝架80,且夾著環狀光源81設置在對應之檢查孔的相反側。然後,是相機82之攝像端的透鏡,係透過環狀光源81之中心孔及對應的檢查孔,而面對於基板C及貼合物F。CCD相機82,係利用從環狀光源81射出並由基板C及貼 合物F朝向透鏡之方向作反射的光而就基板C及貼合物F進行攝像,生成基板C及貼合物F之影像信號,而將該影像信號發送至影像處理手段83。
影像處理手段83,係與CCD相機82、控制單元、及顯示單元RD等連接,利用來自CCD相機82之影像信號而就貼合物F之邊緣與平行於該貼合物F之該邊緣的基板C之邊緣之間的距離(參照圖6之符號L1、L2)作演算,同時將演算之結果發送至顯示單元RD。
操作面板SD,係具有操作者使黏貼位置檢查裝置成為導通、關斷的操作鈕、及該操作者輸入各種之參數的觸控式之面板。
顯示單元RD,係與影像處理手段83及操作面板SD等連接,就來自影像處理手段83之影像與測定結果、及操作者從操作面板SD所輸入之參數作顯示。
控制單元,係連接於各調整馬達66'、67'、68'、69'(69-1'、69-2')、環狀光源81、CCD相機82、影像處理手段83、操作面板SD、顯示單元RD等,主要,執行:1)就操作者利用操作面板SD而輸入之參數作接收而記憶的作業;2)依上述1)之輸入參數而就各調整馬達66'、67'、68'、69'(69-1'、69-2')之動作進行控制的作業;3)接收來自影像處理手段83之資訊而記憶的作業;4)基於預先儲存之控制程式而就環狀光源81、CCD相機82及影像處理手段83之動作進行控制的作業;以及5)就顯示單元RD,以顯示上述1)、3)之各種的 參數、及其他資訊的方式作控制的作業。
<黏貼位置檢查裝置之動作>
圖6,係就利用環狀照明而攝像之黏貼了貼合物的基板之影像作繪示的說明圖。圖7A及圖7B係就本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置之動作進行繪示的流程圖。
以下,邊參照圖式邊說明本發明之實施形態下的黏貼位置檢查裝置之動作。
[配方作成流程]
首先,如示於圖7A,操作者於步驟S10藉操作面板SD使黏貼位置檢查裝置成為導通後,進至步驟S11。於步驟S11,操作者,係將黏貼了貼合物F之基板C設於檢查台6之載置區域。
此時,CCD相機82係藉控制單元之控制而切換成動作狀態,就設於載置區域的基板C及貼合物F作攝像,而將所攝像之影像顯示於顯示單元RD。
接著,於步驟S12,操作者,係邊視看顯示於顯示單元RD之影像,邊就面板SD作操作而輸入光學測定單元8移動的目標值,以基板C及貼合物F之邊緣落入攝像範圍的方式而調整各光學測定單元8之位置。
然後,基板C及貼合物F之邊緣落入攝像範圍後,進至步驟S13,就是否可測定基板C之邊緣與平行 於該基板C之該邊緣的貼合物F之邊緣之間之距離作判斷。於步驟S13判斷為無法進行測定的情況下,係返回步驟S12。
另一方面,於步驟S13判斷為可進行測定的情況下,係進至步驟S14,藉控制單元而生成配合了上述的基板C之尺寸的配方D1,同時將此配方D1、及其對應之各光學測定單元8的各者之位置,作對應而記憶。
最後進至步驟S15,結束配方之作成。此外,步驟S14結束後返回步驟S11,而將黏貼了貼合物F的其他尺寸之基板C設於檢查台6之載置區域而重複步驟S12~步驟S14,就配合了其他尺寸的配方D2、D3、......、Dn及其對應的各光學測定單元8之位置作決定而記憶。
[品質檢查流程]
首先,如示於圖7B,操作者於步驟S20藉操作面板SD使黏貼位置檢查裝置成為導通後,進至步驟S21。於步驟S21,操作者,係將黏貼了貼合物F之基板C,定位於檢查台6之載置區域。
接著,於步驟S22,操作者,係就配合了被測定的基板C之尺寸的配方Di是否儲存於黏貼位置檢查裝置作判斷。
於步驟S22判斷為配合了被測定的基板C之尺寸的配方Di未儲存於黏貼位置檢查裝置的情況下,係 進至步驟S23'返往「配方作成流程」,而進行步驟S12~步驟S15之操作從而作成配方Di。
另一方面,於步驟S22判斷為配合了被測定的基板C之尺寸的配方Di已儲存於黏貼位置檢查裝置的情況下,於步驟S23,操作者,係就顯示於操作面板SD之對應的配方Di作觸控從而選擇此配方,而進至步驟S24。
於步驟S24,控制單元,係讀取配合了配方Di的各光學測定單元8之目標位置資料。然後,步驟S24之處理結束後,進至步驟S25。
於步驟S25,控制單元,係依所讀取的各光學測定單元8之目標位置資料,基於控制程式而往各調整馬達66'、67'、68'、69'發送驅動指示,使各調整馬達66'、67'、68'、69'旋轉僅既定量從而將各光學測定單元8調整至目標位置。步驟S25之處理結束後,進至步驟S26。
於步驟S26,控制單元,係以往各光學測定單 元8之環狀光源81、CCD相機82發出指示,而使環狀光源81發光,CCD相機82進行攝像動作的方式作控制。
接著,於步驟S27,控制單元,係控制成將CCD相機82所攝像之影像發送至影像處理手段83,針對基板C之寬度方向及縱向,如示於圖6,影像處理手段83根據來自CCD相機82之影像資料就基板C之邊緣與平行於該基板C之該邊緣的貼合物F之邊緣之間的距離L1、及距離L2作演算。然後,步驟S27之處理結束後,進至 步驟S28。
於步驟S28,控制單元,係以就影像處理手段83之演算結果(距離L1、L2)作記憶,同時將影像處理手段83之演算結果發送至顯示單元RD的方式作控制。
最後,步驟S28之處理結束後,進至步驟S29使黏貼位置檢查裝置關斷,而結束品質檢查。
<黏貼位置檢查裝置之效果>
依本發明,即可藉4個光學測定單元8,於4角分別就貼合物F(例如,偏光膜)之邊緣與平行於該貼合物F之邊緣的基板C(例如,玻璃基板)之邊緣之間的距離作光學測定,故獲得可使以四邊分別與矩形狀的基板C之四邊成為平行的方式而貼合之矩形狀的貼合物F之在該基板C上的黏貼位置之檢查精度提升的黏貼位置檢查裝置。
此外,將光學測定單元8設置於檢查台6之後面,使得在黏貼了貼合物之基板被相對於檢查台而載置或取出時,可防止該基板與光學測定單元干涉。然後,在檢查台之前面設置可開閉之蓋件,使得可在檢查過程中關閉此蓋件,可使利用光學測定單元的貼合物之黏貼位置的測定更正確。
<變化例>
以上,雖例示性說明供於實施本發明用之形態,惟本發明係非限於如以上之實施形態者。於不脫離本發明之思 想的範圍內可進行各種之變更,此等變更亦含於本發明之範圍。
例如,於上述之實施形態,各光學測定單元8,係透過線性導軌66、67、68、69而在檢查台6之後面設置成可滑動,惟並非限定於此者,亦可將各光學測定單元8之中的1個或複數直接安裝於檢查台6之後面。
於此情況下,係可省略調整馬達66'、67'、68'、69'(69-1'、69-2')。
此外,於上述之實施形態,作為使檢查孔65附近之光學測定單元8沿著此檢查孔65之長邊方向而移動的手段,係使用由第1線性導軌部69-1與第2線性導軌部69-2所成之線性導軌69,惟並非限定於此者,亦可將滑軌之長邊方向與檢查孔65之長邊方向一致的線性導軌,設置於此檢查孔65附近,將檢查孔65附近之光學測定單元8安裝於此線性導軌之滑件。
此外,於上述之實施形態,構成為設置輸出軸連接於對應的線性導軌之滑軌的調整馬達,而藉該調整馬達,自動調整各光學測定單元8之位置,惟並非限定於此者,亦可省略調整馬達,手動調整各光學測定單元8之位置。
此外,於上述之實施形態,各光學測定單元8、各線性導軌66、67、68、69及各調整馬達66'、67'、68'、69',係設置於檢查台6之後面,惟並非限定於此者。亦可將與檢查台6對向且與檢查台6之前面隔著既定 之間隔的安裝框設置於該檢查台6之前面,將各線性導軌66、67、68、69及各調整馬達66'、67'、68'、69'安裝於該安裝框,將各光學測定單元8設置於對應的線性導軌之滑件。亦即,亦可將各光學測定單元8、各線性導軌66、67、68、69及各調整馬達66'、67'、68'、69'設置於檢查台6之前面。
於此情況下,係可省略形成於檢查台6之檢查孔62、63、64、65及安裝於檢查台6的蓋件7。
此外,於上述之實施形態,各光學測定單元8、各線性導軌66、67、68、69及各調整馬達66'、67'、68'、69',係設置於檢查台6之後面,惟並非限定於此者。亦可省略各線性導軌66、67、68、69及各調整馬達66'、67'、68'、69'等之設置,在檢查台6之前面設置與該檢查台6對向且與該檢查台6之前面隔著既定之間隔的安裝框,將各光學測定單元8透過安裝框而安裝於檢查台6。亦即,可將各光學測定單元8設置於檢查台6之前面。
於此情況下,係可省略形成於檢查台6之檢查孔62、63、64、65及安裝於檢查台6的蓋件7。
此外,於上述之實施形態,蓋件7,係透過鉸鏈而安裝於檢查台6,惟並非限定於此者。亦可構成為於檢查台6及蓋件7之一方設置滑軌,於另一方設置滑件,蓋件7,係將滑件相對於滑軌而安裝成可滑動,使得可相對於檢查台6而開閉。

Claims (10)

  1. 一種黏貼位置檢查裝置,就以四邊分別與矩形狀之基板的四邊成為平行且位於由前述基板的前述四邊所決定的矩形的範圍內的方式而貼合於基板的矩形狀之貼合物的在該基板上之黏貼位置作檢查,特徵在於:具備:形成就貼合了前述貼合物的前述基板作載置之載置區域的檢查台;安裝於前述檢查台且與前述基板及貼合物之4角對向,而分別於該4角以光學方式就前述貼合物之前述基板上的邊緣與平行於前述貼合物之該邊緣的前述基板之邊緣之間的距離作測定之4個光學測定單元;以及連接於4個前述光學測定單元,將藉4個前述光學測定單元之各者而測定的前述距離作為測定結果而顯示之測定結果顯示單元。
  2. 如申請專利範圍第1項之黏貼位置檢查裝置,其進一步具備在前述檢查台之前後方向之前面安裝成可開閉,在打開時開放前述載置區域,且在關閉時遮蔽前述載置區域的蓋件,於在前述檢查台上之前述載置區域內係形成貫通於前後的4個檢查孔,前述基板及貼合物之4角係分別位於4個前述檢查孔之範圍內,4個前述光學測定單元,係分別安裝於前述檢查台之前後方向上之後面,且分別與4個前述檢查孔對向。
  3. 如申請專利範圍第2項之黏貼位置檢查裝置,其中,4個前述光學測定單元之各者,係具有:與4個前述檢查孔之中的1個檢查孔對向,透過該檢查孔,對於前述基板及前述貼合物之在該檢查孔之範圍內的部分照射光的光源;利用前述光源作發光時由前述基板及貼合物所反射的光,就前述基板及貼合物作攝像的攝像手段;以及連接於前述攝像手段及前述測定結果顯示單元,根據利用前述攝像手段而攝像的影像就前述貼合物之邊緣與平行於該邊緣的該基板之邊緣之間的距離作演算,將該距離發送至前述測定結果顯示單元的影像處理手段。
  4. 如申請專利範圍第3項之黏貼位置檢查裝置,其中,前述攝像手段,係夾著前述光源而設置於前述檢查孔之相反側。
  5. 如申請專利範圍第2~4項中任1項之黏貼位置檢查裝置,其中,4個前述檢查孔之中的1者係圓孔,與該圓孔相鄰的其他2個檢查孔係存在長邊方向互相垂直之關係且延長線通過該圓孔的長孔,在該圓孔之對角線位置的檢查孔係相對於前述其他2個檢查孔而傾斜形成且延長線通過該圓孔的長孔,前述檢查台,係在是長孔的前述檢查孔之各者的附近具備導軌機構,與是長孔的前述檢查孔對向之前述光學測 定單元,係分別以可沿著對應的前述檢查孔之長邊方向而移動的方式,而在對應的前述導軌機構安裝成可滑動。
  6. 如申請專利範圍第5項之黏貼位置檢查裝置,其中,前述檢查台係在是圓孔的前述檢查孔之附近具備導軌機構,與是圓孔的前述檢查孔對向之前述光學測定單元,係以可在該圓孔之形成範圍內移動的方式而在該導軌機構安裝成可滑動。
  7. 如申請專利範圍第6項之黏貼位置檢查裝置,其中,前述檢查台,係進一步具備與各前述導軌機構對應而設置的將對應之光學測定單元以沿著前述導軌機構而移動的方式作驅動之驅動單元,進一步具備以使各前述光學測定單元移動至期望之位置的方式而控制前述驅動單元的控制單元。
  8. 如申請專利範圍第2項之黏貼位置檢查裝置,其中,前述蓋件,係透過鉸鏈而於前述檢查台安裝成可開閉。
  9. 如申請專利範圍第2項之黏貼位置檢查裝置,其構成為:於前述檢查台及前述蓋件之一方具備滑軌,於另一方具備滑件,前述蓋件,係將前述滑件相對於前述滑軌而安裝成可滑動,使得可相對於前述檢查台作開閉。
  10. 如申請專利範圍第1項之黏貼位置檢查裝置,其 中,於前述檢查台之前面,係設置與該檢查台對向且與該檢查台之前面隔著既定之間隔的安裝框,4個前述光學測定單元係分別透過該安裝框而安裝於前述檢查台。
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