TWI608461B - 顯示裝置壞點檢測方法及其檢測設備 - Google Patents

Description

顯示裝置壞點檢測方法及其檢測設備

本發明是有關於一種顯示裝置的檢測方法及檢測設備，且特別是有關於一種非無塵環境下顯示裝置的壞點檢測方法及其檢測設備。

由於平面顯示裝置具有輕薄短小以及不佔據空間等優點，因此平面顯示裝置已成為目前市場的主流產品。一般而言，顯示裝置在製造過程中以及出廠之前，會進行壞點檢測，以確保顯示裝置的品質。

傳統對於顯示裝置的壞點檢測，會在工廠裡昂貴的無塵環境下進行。進行壞點檢測時，首先會將顯示裝置關掉，在顯示裝置上打上亮光並記憶落塵的位置。接著，關閉所打上的亮光，開啟顯示裝置並顯示畫面，檢測顯示畫面時的顯示裝置的異常點。接著，將異常點中與先前記憶的落塵位置重疊的部分忽略，剩下未被忽略的異常點即判定為顯示裝置的壞點位置。

然而，若在檢測壞點的過程中，壞點與先前記憶落塵位置重疊時，此壞點將會被檢測系統視為落塵而被忽略，造成對顯示裝置的壞點漏判。除此之外，無塵環境中並不是完全沒有落塵，落塵的數量會隨著無塵環境的等級而有所增加或減少，若是選用等級一般的無塵環境，通常還是會有少許的灰塵。另一方面，若在檢測壞點的過程中，有新的落塵在顯示裝置上而沒有被記憶其位置時，將被檢測系統視為壞點，造成對顯示裝置的壞點誤判。此外，由於上述的檢測流程必須在造價不斐的無塵環境下進行，若是需進一步降低顯示裝置壞點的漏判及誤判，則必需進一步提升檢測環境的無塵等級，若是需打造等級越高的無塵環境，其造價就越昂貴。

本發明提供一種顯示裝置壞點檢測方法，用以檢測顯示裝置的壞點位置，可以節省建置無塵環境的費用，並降低壞點漏判與誤判的機率。

本發明的顯示裝置壞點檢測方法包括下列步驟。在清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置。比對第一影像中的多個第一可能異常位置，並且將在所有第一影像中都保持固定位置的第一可能異常位置記錄為第一異常位置。點亮顯示裝置，並且取得點亮後的顯示裝置的外觀的第二異常位置。比對第二異常位置與第一異常位置，將未與第一異常位置重疊的第二異常位置記錄為壞點位置。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其取得第一影像時，還照亮顯示裝置。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其點亮後的顯示裝置顯示全白畫面、全灰畫面、全藍畫面、全綠畫面或全紅畫面。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其點亮顯示裝置並且取得第二異常位置的步驟包括：點亮顯示裝置以顯示單一顏色的畫面，並且連續取得顯示裝置的外觀的多個第二影像。比對第二影像中的多個第二可能異常位置，並且將在所有第二影像中都保持固定位置的第二可能異常位置記錄為第二異常位置。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其點亮顯示裝置並且取得第二異常位置的步驟包括：點亮顯示裝置以依序顯示不同的多個畫面，並且在顯示裝置顯示每個畫面時都取得至少一個第二影像。比對第二影像中的多個第二可能異常位置，並且將在所有第二影像中都保持固定位置的第二可能異常位置記錄為第二異常位置。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其點亮顯示裝置並且取得第二影像的步驟還包括：在每次取得第二影像前清除顯示裝置上的落塵。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其清除顯示裝置上的落塵的方法包括吹落顯示裝置上的落塵。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其清除顯示裝置上的落塵的方法包括擦除顯示裝置上的落塵。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其是在非無塵環境進行。

在本發明的一實施例中，上述的顯示裝置壞點檢測方法，其在取得第一影像時，顯示裝置未點亮。

本發明的顯示裝置壞點檢測設備包括除塵裝置、拍攝裝置與判斷裝置。拍攝裝置用以在除塵裝置清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置，拍攝裝置還用以取得點亮後的顯示裝置的外觀的第二異常位置。判斷裝置電性連接拍攝裝置，用以比對第一影像中的多個第一可能異常位置，並且將在所有第一影像中都保持固定位置的第一可能異常位置記錄為第一異常位置，還用以比對第二影像中的第二可能異常位置與第一異常位置，將未與第一異常位置重疊的第二可能異常位置記錄為壞點位置。

在本發明的一實施例中，所述顯示裝置壞點檢測設備還包括光源，用以照亮顯示裝置。

在本發明的一實施例中，所述顯示裝置壞點檢測設備還包括支撐架，用以支撐顯示裝置。

在本發明的一實施例中，所述顯示裝置壞點檢測設備還包括監視器，電性連接判斷裝置，用以顯示判斷裝置的操作介面。

在本發明的一實施例中，所述的除塵裝置為離子風扇或靜電布。

基於上述，在本發明的顯示裝置壞點檢測方法與顯示裝置壞點檢測設備中，是在除塵裝置清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，利用拍攝裝置連續取得多個影像。因此，可把在清除過程中移動的落塵的位置判斷為非壞點位置，而不用在無塵環境下進行檢測，同時也因為落塵被清除而大幅降低壞點誤判及漏判的機率。

為讓本發明的上述特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉實施例，並配合所附圖式作詳細說明如下。

圖1為本發明一實施例的顯示裝置壞點檢測設備示意圖。請參考圖1，顯示裝置壞點檢測設備100包括：除塵裝置120、拍攝裝置130、判斷裝置140。在此，僅先文字說明除塵裝置120、拍攝裝置130與判斷裝置140的相互配合方式，稍後將搭配附圖進一步解說本發明一實施例的顯示裝置壞點檢測方法。除塵裝置120用來清除待測的顯示裝置110上的落塵。拍攝裝置130用以在除塵裝置120清除顯示裝置110上的落塵的一段時間內，連續取得顯示裝置110的外觀的多個第一影像(未示出)，其中第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置。拍攝裝置130用以取得點亮後的顯示裝置110的外觀的第二異常位置(未示出)。判斷裝置140電性連接拍攝裝置130，用以比對多個第一影像中的多個第一可能異常位置，並且將所有第一影像中都保持固定位置的第一可能異常位置記錄為第一異常位置。判斷裝置140還用以比對第二異常位置與第一異常位置，將未與第一異常位置重疊的第二異常位置記錄為壞點位置。在本實施例中，除塵裝置例如為一個離子電風扇，可中和顯示裝置上110的落塵的電性，使得落塵可輕易被吹落，然本發明不限於此。由於本實施例的顯示裝置壞點檢測設備包括了除塵裝置120，所以可以不用在無塵環境下進行。而且，因為在清除落塵的一段時間內取得連續影像並比對，所以可以降低落塵被誤判為壞點的機率。

選擇性的，顯示裝置壞點檢測設備100還包括光源150，用以照亮顯示裝置110，使得拍攝裝置130所取得的多個第一影像與第二異常位置顯示更清楚。顯示裝置壞點檢測設備100還包括支撐架170，用以支撐顯示裝置110，使得顯示裝置110在除塵裝置120作用之下穩固不被移動。顯示裝置壞點檢測設備100還包括監視器160，電性連接判斷裝置140，用以顯示判斷裝置140的操作介面，使得使用者可依據待測顯示裝置110的不同而調整顯示裝置壞點檢測設備100的各種設定參數，並使得顯示裝置壞點檢測設備100容易操作。上述所有顯示裝置壞點檢測設備100可增加的部件，可依照使用者的需求以及操作習慣選擇所需要的部件，然本發明不限於此。

判斷裝置140可依照使用者的需求使用不同的判斷裝置。在一實施例中，判斷裝置140可以是簡單的影像偵測及比對裝置，例如為輸入板。在另一實施例中，判斷裝置140也可以是多功能以及可更改操作參數的裝置，例如為電腦，然本發明則不限於此。

圖2A與圖2B分別為本發明一實施例的未點亮的顯示裝置在不同時間的第一影像示意圖。請一併參考圖1、圖2A以及圖2B，在一實施例的顯示裝置壞點檢測設備100中，首先，先開啟除塵裝置120，並對顯示裝置110作用。在待測顯示裝置110上通常分佈著兩種不同的落塵，其中的一種為可被離子風扇吹落或移動的落塵。另一種落塵為無法吹落的落塵，此種落塵可能因為較重或與顯示裝置110之間有其它的作用力存在，故無法由離子風扇吹落，因此在待測顯示裝置110上的位置不會變動。此外，在除塵裝置120作用的同時，使用拍攝裝置130對待測的顯示裝置110進行連續拍攝。此時，待測顯示裝置110是關閉狀態，可選擇性的開啟光源150以提供外部光線L照亮待測顯示裝置110，或僅由環境光源照亮待測顯示裝置110。

在清除待測顯示裝置110上的落塵的一段時間內，使用拍攝裝置130對待測的顯示裝置110進行連續拍攝所拍攝到的影像記錄為第一影像，並且將第一影像中顯示的落塵位置（即，不可清除的落塵的位置）記錄為第一可能異常位置D1、D1’。舉例而言，圖2A為在時間T1所拍攝到的一個第一影像，此第一影像中包括多個第一可能異常位置D1。圖2B為在時間T2所拍攝到的另一個第一影像，此第一影像中顯示包括多個第一可能異常位置D1’。

接著，利用判斷裝置140將所拍攝到的多個第一影像中的多個第一可能異常位置D1、D1’互相比對，並且將在所有第一影像中都保持固定位置的第一可能異常位置記錄為第一異常位置。舉例而言，利用判斷裝置140將圖2A的第一影像中的第一可能異常位置D1與圖2B的第一影像中的第一可能異常位置D1’互相比對，將在圖2A與圖2B中都保持固定位置的落塵位置記錄為第一異常位置P1，此第一異常位置P1即是未被吹落的落塵的位置。另一方面，將沒有保持固定位置的其他第一可能異常位置D1、D1’視為被吹動的落塵的位置，將其位置直接忽略而不記錄為真正的異常位置。

在上述的步驟中，可根據不同的情況而增加拍攝以取得第一影像的次數，可提高檢測準確度。舉例而言，在另一實施例中，拍攝裝置130可在十個不同的時間分別對待測的顯示裝置110進行拍攝，以得到十個不同的第一影像。

圖3為本發明一實施例的點亮的顯示裝置的第二異常位置示意圖。請參考圖1與圖3，接續前述的步驟，接著點亮待測的顯示裝置110，使待測顯示裝置110的畫面呈現單一顏色的畫面如圖3所示出，例如是：全白畫面、全灰畫面、全藍畫面、全綠畫面或全紅畫面。點亮待測顯示裝置110之後，利用拍攝裝置130對待測顯示裝置110進行拍攝，所拍攝到的異常位置記錄為第二異常位置P2。在此期間，除塵裝置120可以關閉，但除塵裝置120也可以持續開啟以除去顯示裝置110上的落塵。

接著，利用判斷裝置140對拍攝到的第二異常位置P2與在未點亮顯示裝置110所記錄的第一異常位置P1互相比對。經過判斷裝置140的比對後，將第二異常位置P2中跟第一異常位置P1重疊的部分忽略，而第二異常位置P2中沒有跟第一異常位置P1重疊的部分即記錄為壞點位置。舉例而言，圖3中的第二異常位置P2包含有兩個異常位置A、B，利用判斷裝置140可判斷出第二異常位置P2中的異常位置A與第一異常位置P1的位置重疊，因此視為未能吹落的落塵的位置。第二異常位置P2中的異常位置B沒有與第一異常位置P1的位置重疊，因此判斷裝置140將異常位置B記錄為壞點位置，至此大致完成壞點檢測過程。

圖4A與圖4B分別為本發明另一實施例的點亮的顯示裝置在不同時間的第二影像示意圖。請參考圖1、圖4A以及圖4B，在本實施例中，點亮待測的顯示裝置110後，拍攝裝置130對待測顯示裝置110進行連續拍攝，以取得多個不同的第二影像。在此期間，除塵裝置120持續開啟，以除去顯示裝置110上的落塵。

接著，將第二影像中顯示的異常位置記錄為第二可能異常位置D2、D2’。舉例而言，圖4A為在時間T3所拍攝到的一個第二影像，此第二影像中包括多個第二可能異常位置D2。圖4B為在時間T4所拍攝到的另一個第二影像，此第二影像中包括多個第二可能異常位置D2’。

接著，利用判斷裝置140將所拍攝到的多個第二影像中的多個第二可能異常位置D2、D2’互相比對，並且將所有在第二影像中都保持固定位置的第二可能異常位置D2、D2’記錄為第二異常位置P2。第二異常位置P2即是未能吹落的落塵及/或壞點的位置。另一方面，將沒有保持固定位置的其他第二可能異常位置D2、D2’視為被吹動的落塵位置，將其位置直接忽略而不記錄為真正的異常位置。

最後，利用判斷裝置140將所記錄到的第二異常位置P2與在未點亮顯示裝置110所記錄的第一異常位置P1(如圖2A、圖2B)互相比對。經過判斷裝置140的比對後，將第二異常位置P2中跟第一異常位置P1重疊的部分忽略，而第二異常位置P2中跟第一異常位置P1沒有重疊的部分即記錄為壞點位置。舉例而言，圖4A與圖4B中的第二異常位置P2包含有兩個異常位置E、F，利用判斷裝置140可判斷出第二異常位置P2中的異常位置E與第一異常位置P1的位置重疊，因此視為未能吹落的落塵的位置。第二異常位置P2中的異常位置F沒有與第一異常位置P1的位置重疊，因此判斷裝置140將異常位置F記錄為壞點位置，至此大致完成壞點檢測過程。

在另一實施例中，也可以點亮待測的顯示裝置110以依序顯示不同的多個畫面，並且在顯示裝置110顯示每個畫面時都取得一個或一個以上的第二影像。舉例而言，顯示裝置110例如是依序呈現全白畫面、全灰畫面、全藍畫面、全綠畫面以及全紅畫面。在每個不同畫面呈現的同時，利用拍攝裝置130對顯示裝置110拍攝一個第二影像或連續拍攝多個第二影像，以增加檢測壞點的準確率。接著再利用判斷裝置140對所拍攝到的第二影像進行後續的比對步驟，後續的比對步驟與先前敘述類似，在此不再贅述。

此外，前述的除塵裝置120可更換為可實質擦拭的工件，例如是靜電布。每次拍攝裝置130對待測的顯示裝置110拍攝之前，都由除塵裝置120對待測顯示裝置110擦拭一次。如此一來，將有效減少落塵數量，進而降低落塵與壞點的重複率，也即使得檢測流程的漏判率下降。

圖5為本發明一實施例的顯示裝置壞點檢測方法的流程圖。請參考圖5，本實施例的顯示裝置壞點檢測方法可適用於圖1的顯示裝置壞點檢測設備100，但本發明的顯示裝置壞點檢測方法並不限定需以圖1的顯示裝置壞點檢測設備100執行。步驟S500中，在清除顯示裝置110上的落塵的一段時間內，連續取得所述顯示裝置110的外觀的多個第一影像(如圖2A、圖2B) ，其中第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置。在步驟S510中，比對所述多個第一影像中的所述多個第一可能異常位置D1、D1’，並且將在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能異常位置記錄為第一異常位置P1。在步驟S520中，點亮所述顯示裝置110，並且取得點亮後的所述顯示裝置110的外觀的第二異常位置P2。在步驟S530中，比對所述第二異常位置P2與所述第一異常位置P1，將未與所述第一異常位置P1重疊的所述第二異常位置P2記錄為壞點位置B，以檢測出顯示裝置110的壞點位置B。由於本實施例的顯示裝置壞點檢測方法包括了清除顯示裝置110上的落塵的步驟，所以可以不用在無塵環境下進行。而且，因為在清除落塵的一段時間內取得連續影像並比對，所以可以降低落塵被誤判為壞點的機率。

圖6為本發明另一實施例的顯示裝置壞點檢測方法的流程圖。請參考圖6，本實施例的顯示裝置壞點檢測方法與圖5的顯示裝置壞點檢測方法一樣可適用於圖1的顯示裝置壞點檢測設備100，但本發明的顯示裝置壞點檢測方法並不限定需以圖1的顯示裝置壞點檢測設備100執行。在步驟S600中，打開除塵裝置120，對顯示裝置110作用，將顯示裝置110完全關閉，並開啟外部光源150，照亮顯示裝置110。在步驟S610中，分別在時間T1~TN拍下第1~N張照片，並記錄為第一影像(如圖2A、圖2B)，其中第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置，拍攝完後關閉外部光源150。在步驟S620中，比對第1~N張第一影像，判斷第一可能異常位置是否相同。若不同的第一影像中的多個第一可能異常位置相同時，則執行步驟S630，也就是將這些第一可能異常位置視為第一異常位置P1，記憶所在位置。若不同的第一影像中的多個第一可能異常位置不同時，則執行步驟S640，也就是將這些第一可能異常位置視為可吹落的落塵的位置，忽略其位置。在步驟S650中，將顯示裝置110開啟，並依序顯示不同顏色畫面(白、灰、藍、綠、紅)，分別在時間T1~TN拍下第1~N張照片，並記錄為第二影像(如圖4A、圖4B)。在步驟S660中，比對第1~N張第二影像，判斷第二可能異常位置D2、D2’是否相同。若不同的第二影像中的多個第二可能異常位置相同時，則執行步驟S670，也就是將這些第二可能異常位置視為第二異常位置P2，記憶所在位置。若不同的第二影像中的多個第二可能異常位置不同時，則執行步驟S680，也就是將這些第二可能異常位置視為可吹落的落塵的位置，忽略其位置。在步驟S690中，將之前所記憶的第一異常位置P1忽略，判斷是否存在第二異常位置P2。在步驟S690中，若存在第二異常位置P2時，則執行步驟S6100，依據預設壞點規格判定顯示裝置110的單位區域的壞點數是否合格。在步驟S690中，若不存在第二異常位置P2時，則執行步驟S6120，視為0壞點，標注為“良品”，通過壞點檢測。在步驟S6100中，若顯示裝置110的單位區域的壞點數不合格時，則執行步驟S6110，視為超出壞點規格，標注為“不良品”，未通過壞點檢測。在步驟S6100中，若顯示裝置110單位區域的壞點數合格時，則執行步驟S6120，標注為“良品”，通過壞點檢測。最後，在步驟S6130中，關閉除塵裝置，測試結束。

綜上所述，在本發明的顯示裝置壞點檢測方法及其檢測設備中，是通過除塵裝置以及拍攝裝置的同時作用，使得本發明的顯示裝置壞點檢測方法不需在無塵環境下進行，以節省經費。通過在不同的時間下拍攝顯示裝置的外觀影像並加以比對，即可知道可吹落的落塵與不可吹落的落塵分別的所在位置。接著，再開啟顯示裝置的光源以拍攝顯示裝置在顯示畫面時的外觀影像。最後通過判斷裝置將所拍攝的影像互相比對，可判斷出哪些是可吹落的落塵以及不可吹落的落塵的位置，並得到顯示裝置的真正壞點的位置，大幅降低了壞點誤判及漏判的機率。

雖然本發明已以實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明的精神和範圍內，當可作些許的更動與潤飾，故本發明的保護範圍當視後附的申請專利範圍所界定者為準。

100‧‧‧壞點檢測設備
110‧‧‧顯示裝置
120‧‧‧除塵裝置
130‧‧‧拍攝裝置
140‧‧‧判斷裝置
150‧‧‧光源
160‧‧‧監視器
170‧‧‧支撐架
D1、D1’‧‧‧第一可能異常位置
D2、D2’‧‧‧第二可能異常位置
P1‧‧‧第一異常位置
P2‧‧‧第二異常位置
A、B、E、F‧‧‧異常位置
L‧‧‧光線
S500-S530、S600-S6130‧‧‧步驟

圖1為本發明一實施例的顯示裝置壞點檢測設備示意圖。 圖2A與圖2B分別為本發明一實施例的未點亮的顯示裝置在不同時間的第一影像示意圖。 圖3為本發明一實施例的點亮的顯示裝置的第二異常位置示意圖。 圖4A與圖4B分別為本發明另一實施例的點亮的顯示裝置在不同時間的第二影像示意圖。 圖5為本發明一實施例的顯示裝置壞點檢測方法的流程圖。 圖6為本發明另一實施例的顯示裝置壞點檢測方法的流程圖。

S500-S530‧‧‧步驟

Claims (15)

1. 一種顯示裝置壞點檢測方法，包含下列步驟： 在清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中所述第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置； 比對所述多個第一影像中的所述多個第一可能異常位置，並且將在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能異常位置記錄為第一異常位置； 點亮所述顯示裝置，並且取得點亮後的所述顯示裝置的外觀的第二異常位置；以及 比對所述第二異常位置與所述第一異常位置，將未與所述第一異常位置重疊的所述第二異常位置記錄為壞點位置。
2. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，在取得所述第一影像時，還照亮所述顯示裝置。
3. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，點亮後的所述顯示裝置顯示全白畫面、全灰畫面、全藍畫面、全綠畫面或全紅畫面。
4. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，點亮所述顯示裝置並且取得所述第二異常位置的步驟包括： 點亮所述顯示裝置以顯示單一顏色的畫面，並且連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第二影像；以及 比對所述多個第二影像中的多個第二可能異常位置，並且將在所有所述第二影像中都保持固定位置的所述第二可能異常位置記錄為所述第二異常位置。
5. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，點亮所述顯示裝置並且取得所述第二異常位置的步驟包括： 點亮所述顯示裝置以依序顯示不同的多個畫面，並且在所述顯示裝置顯示每個所述畫面時都取得至少一個所述第二影像；以及 比對多個所述第二影像中的多個第二可能異常位置，並且將在所有所述第二影像中都保持固定位置的所述第二可能異常位置記錄為所述第二異常位置。
6. 如申請專利範圍第4項或第5項所述的顯示裝置壞點檢測方法，點亮所述顯示裝置並且取得所述第二影像的步驟還包括： 在每次取得所述第二影像前清除所述顯示裝置上的落塵。
7. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，清除所述顯示裝置上的落塵的方法包括吹落所述顯示裝置上的落塵。
8. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，清除所述顯示裝置上的落塵的方法包括擦除所述顯示裝置上的落塵。
9. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，是在非無塵環境進行。
10. 如申請專利範圍第1項所述的顯示裝置壞點檢測方法，在取得所述第一影像時，所述顯示裝置未點亮。
11. 一種顯示裝置壞點檢測設備，包括： 除塵裝置； 拍攝裝置，用以在所述除塵裝置清除顯示裝置上的落塵的一段時間內，連續取得所述顯示裝置的外觀的多個第一影像，其中所述第一影像中的不可清除落塵的位置為第一可能異常位置，所述拍攝裝置還用以取得點亮後的所述顯示裝置的外觀的第二異常位置；以及 判斷裝置，電性連接所述拍攝裝置，用以比對所述多個第一影像中的所述多個第一可能異常位置，並且將在所有所述第一影像中都保持固定位置的所述第一可能異常位置記錄為第一異常位置，還用以比對所述第二異常位置與所述第一異常位置，將未與所述第一異常位置重疊的所述第二異常位置記錄為壞點位置。
12. 如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置壞點檢測設備，還包括光源，用以照亮所述顯示裝置。
13. 如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置壞點檢測設備，還包括支撐架，用以支撐所述顯示裝置。
14. 如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置壞點檢測設備，還包括監視器，電性連接所述判斷裝置，用以顯示所述判斷裝置的操作介面。
15. 如申請專利範圍第11項所述的顯示裝置壞點檢測設備，所述除塵裝置為離子風扇或靜電布。