TWI593968B - 用於同時檢測複數個待測料片之移載設備及其單側式/雙側式檢測系統 - Google Patents

用於同時檢測複數個待測料片之移載設備及其單側式/雙側式檢測系統 Download PDF

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TWI593968B
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王人傑
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由田新技股份有限公司
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02FOPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
    • G02F1/00Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
    • G02F1/01Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour 
    • G02F1/13Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour  based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
    • G02F1/1306Details
    • G02F1/1309Repairing; Testing

Description

用於同時檢測複數個待測料片之移載設備及其單側式/雙側式檢測系 統
本發明係有關於一種檢測系統,尤指一種用以校正料片配置角度的檢測系統。
自動光學檢查(Automated Optical Inspection,AOI),泛指運用機器視覺拍攝待測物的表面以對待測物進行檢測的技術。自動光學檢查的優點在於改良傳統上以人力使用光學儀器進行檢測所造成的種種缺失(例如人眼檢測的不可靠性、以及檢測的效率),除了瑕疵檢測外,自動光學檢查亦可應用於國防、民生、醫療、環保、電力等相關領域。
液晶顯示器(Liquid Crystal Display,LCD)在生產的過程中,容易出現各式各樣的缺陷和壞點,比如刮痕、亮暗點、殘膠、汙漬等,均有可能影響到液晶顯示器的顯示效果。為了區分NG片、良品、壞品,於檢測的過程中必須將面板的背光板點亮,藉此透過攝像機拍攝面板以確認是否有瑕疵,及瑕疵對應的位置,以確認面板是否達到標準。
本發明的主要目的,在於提供一種光學檢測設備,可增加檢測的效率並可配合所欲檢測的項目擴張檢測功能。
為解決上述問題,本發明係提供一種用於同時檢測複數個待測料片之移載裝置,包含有一入料獨自變換移載手臂、一對位攝影機、以及一影像分析模組。該入料獨自變換移載手臂包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動藉以於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置,該抓取裝置係分別包含有一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片配置角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片於一移載位置移動至一第一測試位置。該對位攝影機當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得至少一對位影像。該影像分析模組根據該對位影像,提供一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位。其中當該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
進一步地,該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上該待測料片的配置角度。
進一步地,該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
進一步地,複數個該抓取裝置係以單排方式排列。
本發明的另一目的,在於提供一種用於同時檢測複數個待測料片之單側式檢測系統,包含一入料分段輸送裝置、一入料獨自變換移載手臂、一對位攝影機、一檢測攝影裝置、以及一影像分析模組。該入料分段輸送裝置用以將複數個待測料片傳輸並定位於一移載位置。該入料獨自變換移載手臂包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動藉以於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置,該抓取裝置係分別包含有一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片配置角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片於該移載位置移動至一第一測試位置。該對位攝影機當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得一對位影像。該檢測攝影裝置當該複數個待測料片於該第一測試位置時,影像擷取該複數個待測料片,以獲得一檢測影像。影像分析模組根據該對位影像,提供一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位。其中該影像分析模組根據該檢測影像,藉以對該複數個待測料片進行一影像檢測程序。其中 於該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
進一步地,所述的單側式檢測系統更進一步包含有一第二測試位置、以及一用以進行站台間移載程序的中繼轉換移載手臂。該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一測試位置移動至該第二測試位置。
進一步地,該第二測試位置上係設置有電性測試(Electronics Test,ET)裝置、一次性可編程(One Time Programable,OTP)燒錄裝置、或閃頻檢測裝置。。
進一步地,該第一測試位置或該第二測試位置上係設置有複數個面板檢測裝置用以電性連接至該待測料片以對該待測料片進行檢測,該面板檢測裝置係包含有一用以設置該待測料片的擺設平台,以及一設置於該擺設平台一側以對準該面板腳位電性連接的腳位連接器。
進一步地,於該擺設平台上係設置有一真空吸附裝置,用以將該待測料片吸平並貼附於該真空吸附裝置的表面。
進一步地,複數個該抓取裝置係以單排方式排列於該長軸機臂上。
進一步地,該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
進一步地,該對位攝影機設置於該移載位置與該第一測試位置之間,該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控 制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上該待測料片的配置角度。
本發明的另一目的,在於提供一種用於同時檢測複數個待測料片之雙側式檢測系統,包含有一入料分段輸送裝置、一或複數個入料獨自變換移載手臂、至少二對位攝影機、至少二檢測攝影裝置、以及一影像分析模組。該入料分段輸送裝置用以將複數個待測料片傳輸並定位於一移載位置。該入料獨自變換移載手臂包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動藉以於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置,該抓取裝置係分別包含有一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片配置角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片由該移載位置分別移動至兩側的一第一測試位置或一第一檢測位置。該對位攝影機分別設置於該第一測試位置與該移載位置之間以及該第一檢測位置及該移載位置之間。當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,該對位攝影機影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得一對位影像。該檢測攝影裝置分別設置於該第一測試位置或該第一檢測位置上。當該複數個待測料片於該第一測試位置或該第一檢測位置時,該檢測攝影裝置影像擷取該複數個待測料片,以獲得一檢測影像。該影像分析模組根據該對位影像,提供 一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位。其中該影像分析模組根據該檢測影像,藉以對該複數個待測料片進行一影像檢測程序。其中於該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
進一步地,所述的雙側式檢測系統更進一步包含有一第二測試位置、一第二檢測位置、以及二用以進行站台間移載程序的中繼轉換移載手臂,其中一該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一測試位置移動至該第二測試位置,另一該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一檢測位置移動至該第二檢測位置。
進一步地,該第二測試位置及/或該第二檢測位置上係設置有電性測試(Electronics Test,ET)裝置、一次性可編程(One Time Programable,OTP)燒錄裝置、或閃頻檢測裝置。
進一步地,該第一測試位置、該第二測試位置、該第一檢測位置、或該第二檢測位置上係設置有複數個面板檢測裝置用以電性連接至該待測料片以對該待測料片進行檢測,該面板檢測裝置係包含有一用以設置該待測料片的擺設平台,以及一設置於該擺設平台一側以對準該面板腳位電性連接的腳位連接器。
進一步地,於該擺設平台上係設置有一真空吸附裝置,用以將該待測料片吸平並貼附於該真空吸附裝置的表面。
進一步地,複數個該抓取裝置係以單排方式排列於 該長軸機臂上。
進一步地,該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
進一步地,該對位攝影機設置於該移載位置與該第一測試位置之間以及該移載位置與該第一檢測位置之間,該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上該待測料片的配置角度。
是以,本發明係比起習知技術具有以下的優勢功效:
1. 本發明的檢測效率係優於習知的光學檢測設備,可透過同時對複數個待測料片進行檢測,增加待測料片檢測的效率。
2. 本發明可以配合所欲檢測的瑕疵種類進行擴張,於機台的配置上具有更佳的靈活度。
100‧‧‧單側式檢測系統
110‧‧‧入料分段輸送裝置
111‧‧‧移載位置
120‧‧‧入料獨自變換移載手臂
121‧‧‧支架
122‧‧‧軌道
123‧‧‧長軸機臂
124‧‧‧抓取裝置
125‧‧‧旋轉單元
126‧‧‧抓取部
127‧‧‧驅動單元
130‧‧‧對位攝影機
140A‧‧‧檢測站台
141A‧‧‧面板檢測裝置
142A‧‧‧擺設平台
143A‧‧‧腳位連接器
144A‧‧‧檢測攝影裝置
140B‧‧‧檢測站台
141B‧‧‧面板檢測裝置
142B‧‧‧擺設平台
143B‧‧‧腳位連接器
150‧‧‧中繼轉換移載手臂
151‧‧‧支架
152‧‧‧軌道
153‧‧‧長軸機臂
154‧‧‧抓取部
160‧‧‧出料移載裝置
161‧‧‧支架
162‧‧‧軌道
163‧‧‧長軸機臂
164‧‧‧抓取部
170‧‧‧出料裝置
A1‧‧‧檢測路徑
S1‧‧‧第一測試位置
S2‧‧‧第二測試位置
200‧‧‧雙側式檢測系統
210‧‧‧入料分段輸送裝置
211‧‧‧移載位置
220A‧‧‧第一入料獨自變換移載手臂
220B‧‧‧第二入料獨自變換移載手臂
230A‧‧‧對位攝影機
230B‧‧‧對位攝影機
240A‧‧‧檢測站台
240B‧‧‧檢測站台
240C‧‧‧檢測站台
240D‧‧‧檢測站台
250A‧‧‧中繼轉換移載手臂
250B‧‧‧中繼轉換移載手臂
260A‧‧‧第一出料移載裝置
260B‧‧‧第二出料移載裝置
270‧‧‧出料裝置
B1‧‧‧第一檢測路徑
B2‧‧‧第二檢測路徑
R1‧‧‧第一檢測位置
R2‧‧‧第二檢測位置
圖1,係本發明單側式檢測系統的外觀示意圖。
圖2,係本發明單側式檢測系統的俯視圖。
圖3,係本發明移載裝置的外觀示意圖。
圖4-1至圖4-5,係本發明的單側式檢測系統的工作示意圖。
圖5,係本發明另一較佳實施態樣的俯視圖。
圖6,係本發明雙側式檢測系統的俯視圖。
圖7-1至圖7-6,係本發明的雙側式檢測系統的工作 示意圖。
圖8,係本發明另一較佳實施態樣的俯視圖。
有關本發明之詳細說明及技術內容,現就配合圖式說明如下。再者,本發明中之圖式,為說明方便,其比例未必照實際比例繪製,該等圖式及其比例並非用以限制本發明之範圍,在此先行敘明。
請參閱「圖1」及「圖2」,係本發明單側式檢測系統的外觀示意圖及俯視圖,如圖所示:本實施態樣係揭示一種單側式檢測系統100,該單側式檢測系統100包含有入料分段輸送裝置110、入料獨自變換移載手臂120、對位攝影機130、檢測站台140A、140B、中繼轉換移載手臂150、出料移載裝置160、以及出料裝置170。
所述的入料分段輸送裝置110係用以將複數個待測料片P傳輸並定位於一移載位置111。具體而言,該入料分段輸送裝置110係用以承載待測料片P並將複數個該待測料片P分別移動至該移載位置111,該移載位置111係與檢測路徑A1的方向平行。於較佳的實施態樣中,該入料分段輸送裝置110係為輸送帶裝置,該輸送帶裝置於待測料片P自動載滿後進行輸送,自動透過入料獨自變位移載手臂120進行入料。
所述的入料獨自變換移載手臂120用以進行一移載程序,將複數個待測料片P於該移載位置111移動至檢測站台140A 的第一測試位置S1。
所述的入料獨自變換移載手臂120係與所述的對位攝影機130及影像分析模組180共構為用以同時檢測複數個待測料片之移載裝置,關於其詳細構造及工作原理請參閱「圖3」所示。該入料獨自變換移載手臂120包含有支架121、設置於該支架121上的軌道122、以及設置於該軌道上122的長軸機臂123。其中,所述的支架121可以為單側式支架或雙側式支架,單側式支架例如將該長軸機臂123的單側固定於該軌道122上,透過驅動裝置驅動該長軸機臂123於該軌道122所界定的方向往復移動。於本實施態樣係選用雙側式支架,該支架121分別固定於長軸機臂123的二側,使該長軸機臂123兩側分別固定於兩側支架121的軌道122上,透過驅動裝置(圖未示)驅動該長軸機臂123於該軌道122所界定的方向往復移動。於一較佳實施態樣中,所述的支架121上更設置有一垂直軌道、以及對應於垂直方向的驅動裝置,控制該長軸機臂123上下往復移動,以便該長軸機臂123向下移動抓取該待測料片P。
該長軸機臂123上係具有複數個抓取裝置124。該抓取裝置124係分別包含有一設置於該長軸機臂123上的旋轉單元125、一設置於該旋轉單元125上用以抓取待測料片P的抓取部126、以及一控制該旋轉單元125旋轉以調整該待測料片P配置角度的驅動單元127,所述的配置角度係指該待測料片P於水平方向上的旋轉角度。於其中一較佳實施態樣中,該複數個該抓取裝置 124係以單排方式排列,藉此同時抓取該入料移載區域111上的複數個待測料片P。於較佳實施態樣中,該抓取部126係為一用以吸附該待測料片P的真空吸附裝置,該真空吸附裝置例如可以為接觸式真空吸盤或非接觸式真空吸盤(透過外側支架固定)。除真空吸附裝置外,該抓取部亦可為夾取裝置、定位平台(Positioning Platform)、或磁吸裝置(Magnetic Suction Device)等,本發明並不欲限定於上述的實施態樣。
所述的對位攝影機130設置於該第一測試位置S1與該移載位置111的中間,當該入料獨自變換移載手臂120進行移載程序時,該對位攝影機130影像擷取於該入料獨自變換移載手臂120上的該複數個待測料片P,以獲得一對位影像。該對位攝影機130係將該待測料片P的對位影像傳送至該影像分析模組(圖未示),該影像分析模組依據該對位影像傳遞一對位控制訊號至該驅動單元127,以分別調整該旋轉單元125上待測料片P的配置角度。於一較佳實施態樣中,可設置複數個對位攝影機130分別界定複數個感測區域,所述的對位攝影機130係與該長軸機臂123上旋轉單元125的數量相同,由左而右的對位攝影機130係依序與該長軸機臂123上由左而右的旋轉單元125相對應。該對位攝影機130係個別影像擷取待測料片P的影像,影像分析模組依據該對位攝影機130所獲得之影像,傳遞一控制訊號至長軸機臂123,使對應的該驅動單元127個別調整於該旋轉單元125上之該待測料片P的配置角度。於另一較佳實施態樣中,可設置單一的 對位攝影機,透過將所擷取到的影像進行分割,以獲得每一旋轉單元125所應旋轉的角度。
所述的對位攝影機130較佳可以為CCD攝影機、CMOS攝影機、或其他類似的影像檢測裝置,於本發明中不予以限制。該影像分析模組可透過影像分析確認待測料片P的旋轉角度,透過與預設數值間的差值推算出應轉動的方向或是角度,藉此校正該待測料片P的配置角度。當對位攝影機130偵測到該待測料片P影像時,係將該待測料片P的對位影像反饋至影像分析模組。該影像分析模組可以PLC、處理器或其他類此的方式實施,透過PLC或處理器依據該對位影像計算出該待測料片P應轉動的校正資訊,並依據該校正資訊產生一對位控制訊號傳送至該驅動單元118,以藉由該驅動單元118調整該待測料片P至適當的方向、角度及位置,將該待測料片P設置於該檢測站台140A上。
請復參閱「圖1」、及「圖2」,所述的檢測站台140A、140B設置於該檢測路徑A1上,該檢測站台140A、140B係分別對應至一第一測試位置S1以及一第二測試位置S2。該第一測試位置S1及該第二測試位置S2上係設置有複數個面板檢測裝置141A、141B用以電性連接至該待測料片P以對該待測料片P進行檢測,該面板檢測裝置141A、141B係包含有一用以設置該待測料片P的擺設平台142A、142B,以及一設置於該擺設平台142A、142B一側以對準該待測料片腳位電性連接的腳位連接器143A、143B。該長軸機臂120將每一個該待測料片P調整至適當的角度 後,將待測料片P以正確的角度及位置設置於擺設平台142A、142B上,並透過腳位連接器143A、143B對該待測料片P進行插針並電性連接。
於本實施態樣中,第一個檢測站台140A(於圖示中左側)係為圖形檢測站台,該圖形檢測站台係包含有複數個檢測攝影裝置144A、以及一或複數個透過該腳位連接器143A連接至該待測料片P的圖形處理裝置(圖未示),該檢測攝影裝置144A係用以拍攝待測料片P以獲得一檢測影像,透過將拍攝到的檢測影像傳送至影像分析模組,藉以對該複數個待測料片P進行一影像檢測程序。所述的影像檢測程序例如為透過二值化處理、銳化處理、歐蘇法、疊代法、矩量恆定法或是其他類似的影像處理程序,透過上述的處理將影像分割後由影像中獲得待測料片P上的各式瑕疵,於本創作中不予以限制。
所述的檢測攝影裝置144A係可為面掃描攝影機(Area-scan Camera),例如運用感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)或是互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)的攝像裝置。於另一較佳實施例中,所述的檢測攝影裝置144A係可為線掃描攝影機例如為運用感光耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)或是互補式金屬氧化物半導體(Complementary Metal-Oxide-Semiconductor,CMOS)的攝像裝置。於其中一較佳實施態樣,該檢測站台140A係包含有一設置於該擺設平台142A上的真空吸附裝置(圖未示), 用以將該待測料片P吸平並貼附於該真空吸附裝置的表面。
第二個檢測站台140B(第二測試位置S2)可以設置有電性測試(Electronics Test,ET)裝置、一次性可編程(One Time Programable,OTP)燒錄裝置、或閃頻檢測裝置。等或其他料片檢測站台,透過該腳位連接器143B連接至該待測料片P,以對該待測料片P進行各式的檢測及修正。
所述的中繼轉換移載手臂150係用以一次將該複數個待測料片P由該第一測試位置S1移動至一第二測試位置S2。該中繼轉換移載手臂150具有設置於支架151上的長軸機臂153,沿該支架151上的軌道152往復移動,並利用該長軸機臂153上的複數個抓取部154抓取該待測料片P,藉以將該擺設平台142A上的複數個待測料片P保持適當間隔,並橫向移動至另一檢測站台140B上。於另一較佳實施態樣,所述的中繼轉換移載手臂150亦可以為長條型的真空吸附裝置,用以讓該待測料片P被吸附於該真空吸附裝置的表面,並保持適當的間距。
所述的出料移載裝置160係將該第二測試位置S2上的該待測料片P批量移載至該出料裝置170上,該出料裝置170係將檢測過後的該待測料片P送出至下一程序。所述的出料移載裝置160可以為設置於支架161上的長軸機臂163,該長軸機臂163係沿該支架161上的軌道162往復移動,透過該長軸機臂163上的複數個抓取部164抓取該待測料片P,藉以將該第二測試位置S2上的複數個待測料片P移動至該出料裝置170上。於另一較佳 實施態樣,所述的出料移載裝置160亦可以為長條型的真空吸附裝置,用以讓該待測料片P被吸附於該真空吸附裝置的表面,並保持適當的間距。所述的出料裝置170係用以乘載檢測過後的待測料片P並將複數個該待測料片P送至另一機台,例如送至一分類機台,用以對該待測料片P的瑕疵狀態分別進行分類,抑或是送至另一再加工機台,用以對該半成品的待測料片P進行再加工,於本發明中不予以限制。於較佳的實施態樣中,該出料裝置170係為輸送帶,用以連續輸送該待測料片P,以將該待測料片P沿出料方向送出。
有關於本發明單側式檢測系統的工作方式,以下係配合圖式進行說明。需注意的是,為便於說明方便,本發明係以一次性的工作配合圖式說明,本領域技術人員應可理解於實際上操作時部分的動作可依據排程同時進行,所述的作動圖式並非用以限制本發明的範圍。在此必須先行說明。請參閱「圖4-1」至「圖4-5」,係本發明的單側式光學檢測系統的工作示意圖,如圖所示: 於開始時,該入料分段輸送裝置110係將該待測料片P移動至該移載位置111,該入料獨自變換移載手臂120一次抓取該入料移載區域111上的複數個待測料片P,並朝第一測試位置S1的方向移動。(如圖4-1所示)
接續,該入料獨自變換移載手臂120係將該待測料片P移動至該對位攝影機130的上方,以調整該待測料片P的角度及方向。該對位攝影機130係將待測料片P的對位影像傳送至 影像分析模組。影像分析模組分析待測料片P之影像,以判斷於抓取裝置124上的待測料片P位置,並產生對應的控制訊號,傳送至該驅動單元127以調整該待測料片P的配置角度,藉以正確對位待測料片P。(如圖4-2所示)
於正確對位待測料片P後,入料獨自變換移載手臂120係將複數個待測料片P設置於該檢測站台140A的複數個擺設平台142A上,由於先前角度校正的工作,該待測料片P設置於該擺設平台142A上時,擺設平台142A上的腳位連接器143A可以精確對準該待測料片P的連接端子,以過電並對該待測料片P進行各式的檢測。(如圖4-3所示)
當第一個檢測站台140A(左側檢測站台)檢測完成時,中繼轉換移載手臂150係將該待測料片P由該第一測試位置S1移動至第二個檢測站台140B(右側檢測站台)上的第二測試位置S2,並藉由該第二個檢測站台140B上的腳位連接器143B重新插針,進行另一種瑕疵的檢測。(如圖4-4所示)
當檢測完成時,該出料移載裝置160係將該待測料片P移動至該出料裝置170上,該出料裝置170係將該待測料片P送出,以進行後續的分類或再加工。(如圖4-5所示)
請參閱「圖5」所示,係本發明另一較佳實施態樣的俯視圖,如圖所示:本發明的單側式檢測系統100可以透過增加檢測站台的方式進行擴張或延伸,於站台的數量增加越多時,可增加檢 測的瑕疵種類。於檢測站台及檢測站台間的中繼轉換移載手臂150可以為一或複數個,例如一個中繼轉換移載手臂150同時負責移載複數個檢測站台上的待測料片P,或是於兩兩站台間均設置有一個中繼轉換移載手臂150,藉此避免等待移載的時間,於本發明中不予以限制。
本發明的另一較佳實施態樣,係提供一種雙側式檢測系統200,用以透過雙線檢測增加檢測的效率。請參閱「圖6」,係本發明雙側式檢測系統的俯視圖。
本實施態樣係提供一種雙側式檢測系統200,與單側式檢測系統100的主要差異在於本實施態樣係以雙線方式進行排程,透過雙線排程方式增加檢測的效率。本實施態樣除了雙線排程的方式以外,其餘對應名詞的裝置於結構上的定義均相同,在此即不再針對每一裝置的詳細構造進行說明。
所述的雙側式檢測系統200包含有一入料分段輸送裝置210、一第一入料獨自變換移載手臂220A、一第二入料獨自變換移載手臂220B、複數個對位攝影機230A、230B、四個檢測站台240A、240B、240C、240D、二中繼轉換移載手臂250A、250B、一第一出料移載裝置260A、一第二出料移載裝置260B、以及一出料裝置270。
所述的入料分段輸送裝置210係用以用以將複數個待測料片P傳輸並定位於一移載位置211。於本實施態樣中,以該移載位置211為中心,於該移載位置211的二側分別有與該移載 位置211平行的一第一檢測路徑B1,以及一第二檢測路徑B2,藉以將待測料片P分為雙線進行檢測。
所述的第一入料獨自變換移載手臂220A以及第二入料獨自變換移載手臂220B係分別設置於該入料分段輸送裝置210的兩側用以進行一移載程序,該第一入料獨自變換移載手臂220A以及該第二入料獨自變換移載手臂220B將複數個待測料片由該移載位置211分別移動至兩側的一第一測試位置S1或一第一檢測位置R1。有關於該第一入料獨自變換移載手臂220A及該第二入料獨自變換移載手臂220B的詳細構造係與第一實施態樣的入料獨自變換移載手臂110相同,詳細構造即不再予以贅述。
所述的對位攝影機230A、230B分別設置於該第一測試位置S1與該移載位置211之間以及該第一檢測位置R1及該移載位置211之間。當該第一入料獨自變換移載手臂220A及該第二入料獨自變換移載手臂220B進行該移載程序時,該對位攝影機230A、230B分別影像擷取於該第一入料獨自變換移載手臂220A及該第二入料獨自變換移載手臂220B上的該複數個待測料片P,以獲得對位影像。於一較佳實施態樣中,該複數個對位攝影機230A、230B係連接至影像分析模組,根據該對位影像,提供一對位控制信號至該第一入料獨自變換移載手臂220A及該第二入料獨自變換移載手臂220B,藉以調整該複數個待測料片P之對位。
所述的檢測站台240A、240B、240C、240D分別設置於該第一檢測路徑B1及該第二檢測路徑B2上,檢測站台 240A、240B分別對應至第一測試位置S1、第二測試位置S2,檢測站台240C、240D分別對應至第一檢測位置R1、第二檢測位置R2。於較佳實施態樣中,該第一檢測路徑B1的檢測站台及該第二檢測路徑B2上的檢測站台240A、240B、240C、240D可以為對稱配置,以便控制檢測的排程,避免第一入料獨自變換移載手臂220A(第一出料移載裝置260A)及的第二入料獨自變換移載手臂220B(第二出料移載裝置260B)於移載待測料片P時產生排程衝突的情況。
所述的中繼轉換移載手臂250A將該複數個待測料片P由該第一測試位置S1移動至一第二測試位置S2,該中繼轉換移載手臂250B將該複數個待測料片P由該第一檢測位置R1移動至一第二檢測位置R2。中繼轉換移載手臂250A、250B係分別設置於該第一檢測路徑B1及該第二檢測路徑B2的一側,用以一次將該檢測站台240A(240C)上的複數個該待測料片P移載至另一檢測站台240B(240D)。
所述的第一出料移載裝置260A係設置於該第二測試位置S2與該出料裝置270之間,所述的第二出料移載裝置260B係設置於該第二檢測位置R2與該出料裝置270之間,該第一出料移載裝置260A及該第二出料移載裝置260B係將該第二測試位置S2、第二檢測位置R2上的待測料片P一次移載至該出料裝置270上,並藉由該出料裝置270將檢測過後的該待測料片P送出。
有關於本發明雙側式檢測系統200的工作方式,以 下係配合圖式進行說明。需注意的是,為便於說明方便,本發明係以一次性的工作配合圖式說明,本領域技術人員應可理解於實際上操作時部分的動作可依據排程同時進行,所述的作動圖式並非用以限制本發明的範圍。在此必須先行說明。請參閱「圖7-1」至「圖7-5」,係本發明的雙側式檢測系統的工作示意圖,如圖所示: 於開始時,該入料分段輸送裝置210係將該待測料片P1移動至該移載位置211,該第一入料獨自變換移載手臂220A一次抓取該移載位置211上的複數個待測料片P1,並第一測試位置S1(相當於圖式中的上側)的方向移動。(如圖7-1所示)
接續,該第一入料獨自變換移載手臂220A係將該待測料片P1移動至該對位攝影機230A的上方,以調整該待測料片P1的角度及方向。該對位攝影機230A係將待測料片P1的對位影像傳送至影像處理模組,以依據該對位影像產生對應的對位控制訊號,傳送至該驅動單元以調整該待測料片P1的配置角度。於此同時,該第二入料獨自變換移載手臂220B一次抓取該移載位置211上另一批複數個待測料片P2,並第一檢測位置R1(相當於圖式中的下側)的方向移動。(如圖7-2所示)
於角度調整完成時,該第一入料獨自變換移載手臂220A係將該複數個待測料片P1設置於該檢測站台240A的第一測試位置S1的複數個擺設平台上,由於先前角度校正的工作,該待測料片P1設置於該擺設平台上時,擺設平台上的腳位連接器可以 精確對準該待測料片P1的連接端子,以過電並對該待測料片P1進行各式的檢測。於此同時,該第二入料獨自變換移載手臂220B係將該第二批量的待測料片P2移動至該第二檢測路徑B2上的對位攝影機230B上方調整待測料片P2的角度及方向。(如圖7-3所示)
當第一檢測路徑B1(相當於圖式上側)的第一個檢測站台240A(左側檢測站台)檢測完成時,中繼轉換移載手臂250A係將該待測料片P1由該第一測試位置S1移動至第二個檢測站台240B(右側檢測站台)上的第二測試位置S2,並藉由該第二個檢測站台240B上的腳位連接器重新插針,進行另一種瑕疵的檢測。於此同時,該第二入料獨自變換移載手臂220B係將該第二批量的待測料片P2設置於第二檢測路徑B2(相當於圖式下側)的第一個檢測站台240C的複數個擺設平台上(第一檢測位置R1)。(如圖7-4所示)
於第一檢測路徑B1的檢測完成時,該第一出料移載裝置260A係將該待測料片P1由該第二測試位置S2移動至該出料裝置270上,該出料裝置270係將該待測料片P1送出,以進行後續的分類或再加工。於此同時,該第二檢測路徑B2上的中繼轉換移載手臂250B係將該待測料片P1由該第一個檢測站台240C的第一檢測位置R1移動至第二個檢測站台240D(右側檢測站台)的第二檢測位置R2上。(如圖7-5所示)
最後,當該待測料片P1由該出料裝置270的一側送 出後,該第二出料移載裝置260B係將第二批量的待測料片P2由該第二檢測位置R2移動至該出料裝置270上,以將該待測料片P2送出。(如圖7-6所示)
該第二檢測路徑B2的執行順序係較該第一檢測路徑B1的執行順序稍慢一段時間,以便於第一入料獨自變換移載手臂220A、及第二入料獨自變換移載手臂220B之間得以藉由時間順序錯開,藉此配合入料分段輸送裝置210入料的速度,控制檢測的效率。
請參閱「圖8」所示,係本發明另一較佳實施態樣的俯視圖,如圖所示:本發明的雙側式光學檢測系統200可以透過增加第一檢測路徑B1及第二檢測路徑B2的檢測站台的方式進行擴張或延伸,於站台的數量增加越多時,可增加檢測的瑕疵種類。於檢測站台及檢測站台間的中繼轉換移載手臂250A、250B可以為一或複數個,例如一個中繼轉換移載手臂同時負責移載複數個檢測站台上的待測料片,或是於兩兩站台間均設置有一個中繼轉換移載手臂250A、250B,藉此避免等待移載的時間,於本發明中不予以限制。
綜上所述,本發明的檢測效率係優於習知的光學檢測設備,可透過同時對批量的待測料片進行檢測,增加待測料片檢測的效率。本發明可以配合所欲檢測的瑕疵種類進行擴張,於機台的配置上具有更佳的靈活度。
以上已將本發明做一詳細說明,惟以上所述者,僅惟本發明之一較佳實施例而已,當不能以此限定本發明實施之範圍,即凡依本發明申請專利範圍所作之均等變化與修飾,皆應仍屬本發明之專利涵蓋範圍內。
100‧‧‧單側式檢測系統
110‧‧‧入料分段輸送裝置
111‧‧‧移載位置
120‧‧‧入料獨自變換移載手臂
121‧‧‧支架
122‧‧‧軌道
123‧‧‧長軸機臂
124‧‧‧抓取裝置
130‧‧‧對位攝影機
140A‧‧‧檢測站台
141A‧‧‧面板檢測裝置
142A‧‧‧擺設平台
143A‧‧‧腳位連接器
144A‧‧‧檢測攝影裝置
140B‧‧‧檢測站台
141B‧‧‧面板檢測裝置
142B‧‧‧擺設平台
143B‧‧‧腳位連接器
150‧‧‧中繼轉換移載手臂
151‧‧‧支架
152‧‧‧軌道
153‧‧‧長軸機臂
154‧‧‧抓取部
160‧‧‧出料移載裝置
161‧‧‧支架
162‧‧‧軌道
163‧‧‧長軸機臂
164‧‧‧抓取部
170‧‧‧出料裝置
A1‧‧‧檢測路徑

Claims (20)

  1. 一種用於同時檢測複數個待測料片之移載設備,包含:一入料獨自變換移載手臂,包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動,於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置,每一個該抓取裝置包括一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片擺設角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片於一移載位置移動至一第一測試位置;一對位攝影機,當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,該對位攝影機影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得至少一對位影像;以及一影像分析模組,根據該對位影像,提供一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位;其中當該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
  2. 如申請專利範圍第1項所述的移載設備,其中該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上之該待測料片的配置角度。
  3. 如申請專利範圍第2項所述的移載設備,其中該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
  4. 如申請專利範圍第2項所述的移載設備,其中複數個該抓取裝置係以單排方式排列。
  5. 一種用於同時檢測複數個待測料片之單側式檢測系統,包含:一入料分段輸送裝置,用以將複數個待測料片傳輸並定位於一移載位置;一入料獨自變換移載手臂,包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動,以於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置;其中每一個該抓取裝置包括一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片配置角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片於該移載位置移動至一第一測試位置;一對位攝影機,當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,該對位攝影機影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得一對位影像;一檢測攝影裝置,當該複數個待測料片於該第一測試位置時, 該檢測攝影裝置影像擷取該複數個待測料片,以獲得一檢測影像;一影像分析模組,根據該對位影像,提供一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位;其中該影像分析模組根據該檢測影像,藉以對該複數個待測料片進行一影像檢測程序;其中於該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
  6. 如申請專利範圍第5項所述的單側式檢測系統,其中更包含有一第二測試位置、以及一用以進行站台間移載程序的中繼轉換移載手臂,該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一測試位置移動至該第二測試位置。
  7. 如申請專利範圍第6項所述的單側式檢測系統,其中該第二測試位置上係設置有電性測試(Electronics Test,ET)裝置、一次性可編程(One Time Programable,OTP)燒錄裝置、或閃頻檢測裝置。
  8. 如申請專利範圍第6項所述的單側式檢測系統,其中該第一測試位置或該第二測試位置上係設置有複數個面板檢測裝置,用以電性連接至該待測料片,以對該待測料片進行檢測;其中該 面板檢測裝置包括一用以設置該待測料片的擺設平台,以及一設置於該擺設平台一側以對準該面板腳位電性連接的腳位連接器。
  9. 如申請專利範圍第8項所述的單側式檢測系統,其中於該擺設平台上係設置有一真空吸附裝置,用以將該待測料片吸平並貼附於該真空吸附裝置的表面。
  10. 如申請專利範圍第5項所述的單側式檢測系統,其中複數個該抓取裝置係以單排方式排列於該長軸機臂上。
  11. 如申請專利範圍第5項所述的單側式檢測系統,其中該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
  12. 如申請專利範圍第5項所述的單側式檢測系統,其中該對位攝影機設置於該移載位置與該第一測試位置之間,該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上之該待測料片的配置角度。
  13. 一種用於同時檢測複數個待測料片之雙側式檢測系統,包含有:一入料分段輸送裝置,用以將複數個待測料片傳輸並定位於一 移載位置;一或複數個入料獨自變換移載手臂,包含有一支架,一設置於該支架上的軌道,以及一設置於該軌道上的長軸機臂,該長軸機臂藉由驅動裝置驅動藉以於該軌道上往復移動,該長軸機臂上係具有複數個抓取裝置,其中每一個該抓取裝置包括一設置於該長軸機臂上的旋轉單元,一設置於該旋轉單元上用以抓取待測料片的抓取部,以及一控制該旋轉單元旋轉以調整該待測料片擺設角度的驅動單元,用以進行一移載程序,同時將複數個待測料片由該移載位置分別移動至兩側的一第一測試位置或一第一檢測位置;至少二對位攝影機,分別設置於該第一測試位置與該移載位置之間以及該第一檢測位置及該移載位置之間,當該入料獨自變換移載手臂進行該移載程序時,該對位攝影機影像擷取於該入料獨自變換移載手臂上的該複數個待測料片,以獲得一對位影像;至少二檢測攝影裝置,分別設置於該第一測試位置或該第一檢測位置上,當該複數個待測料片於該第一測試位置或該第一檢測位置時,該檢測攝影裝置影像擷取該複數個待測料片,以獲得一檢測影像;一影像分析模組,根據該對位影像,提供一對位控制信號至該入料獨自變換移載手臂,藉以調整該複數個待測料片之對位; 其中該影像分析模組根據該檢測影像,藉以對該複數個待測料片進行一影像檢測程序;其中於該移載程序時,該入料獨自變換移載手臂根據該對位控制信號,調整該複數個待測料片之對位。
  14. 如申請專利範圍第13項所述的雙側式檢測系統,其中,更進一步包含有一第二測試位置、一第二檢測位置、以及二用以進行站台間移載程序的中繼轉換移載手臂,其中一該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一測試位置移動至該第二測試位置,另一該中繼轉換移載手臂將該複數個待測料片由該第一檢測位置移動至該第二檢測位置。
  15. 如申請專利範圍第14項所述的雙側式檢測系統,其中,該第二測試位置及/或該第二檢測位置上係設置電性測試(Electronics Test,ET)裝置、一次性可編程(One Time Programable,OTP)燒錄裝置、或閃頻檢測裝置。。
  16. 如申請專利範圍第14項所述的雙側式檢測系統,其中,該第一測試位置、該第二測試位置、該第一檢測位置、或該第二檢測位置上係設置有複數個面板檢測裝置用以電性連接至該待測料片以對該待測料片進行檢測,該面板檢測裝置係包含有一用以設置該待測料片的擺設平台,以及一設置於該擺設平台一 側以對準該面板腳位電性連接的腳位連接器。
  17. 如申請專利範圍第16項所述的雙側式檢測系統,其中,於該擺設平台上係設置有一真空吸附裝置,用以將該待測料片吸平並貼附於該真空吸附裝置的表面。
  18. 如申請專利範圍第13項所述的雙側式檢測系統,其中,複數個該抓取裝置係以單排方式排列於該長軸機臂上。
  19. 如申請專利範圍第13項所述的雙側式檢測系統,其中,該抓取部係為一用以吸附該待測料片的真空吸附裝置。
  20. 如申請專利範圍第13項所述的雙側式檢測系統,其中,該對位攝影機設置於該移載位置與該第一測試位置之間以及該移載位置與該第一檢測位置之間,該影像分析模組依據該對位影像傳遞該對位控制訊號至該驅動單元,以分別調整該旋轉單元上該待測料片的配置角度。
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