TWI592845B

TWI592845B - 適應性調整觸控閥值的方法與相關控制器

Info

Publication number: TWI592845B
Application number: TW104128327A
Authority: TW
Inventors: 江敬群
Original assignee: 晨星半導體股份有限公司
Priority date: 2015-08-28
Filing date: 2015-08-28
Publication date: 2017-07-21
Also published as: US9939957B2; TW201709030A; US20170060335A1

Description

適應性調整觸控閥值的方法與相關控制器

本發明係關於一種適應性調整觸控閥值的方法與相關控制器，尤指一種適應性動態調整觸控閥值以有效排除觸控感測雜訊並適應不同種類觸控(如手指、觸控筆、手套與懸空手勢)的方法與相關控制器。

觸控功能已被廣泛運用各種現代化電子產品，例如智慧手機、平板電腦、筆記型電腦、一體成形(all-in-one)電腦、穿戴式裝置(如智慧手錶)、數位相機、數位攝影機(camcorder)、遊樂器(game console)、導航機等等。觸控功能的成功關鍵之一是要能正確分辨無意義的雜訊與使用者真正有意進行的觸控。

為分辨雜訊與有效的使用者觸控，須設立一觸控閥值；若觸控面板在各感測位置感測到的取樣值小於觸控閥值，可視為雜訊。雜訊的特性會隨觸控面板所處環境(例如溫度、濕度、周遭是否有其他導體、電器等等)而變動；然而，習知技術中，此觸控閥值是固定的，無法適應性動態地調整，容易發生誤判，將雜訊錯誤判讀為有效觸控，及/或，將有效觸控錯誤判讀為雜訊。

本發明的目的之一係提供一種適應性調整一觸控閥值的方法，應用於一觸控面板(如106，第1圖)。該方法可包括：由該觸控面板取得一圖框(frame)的一組取樣值(如步驟502)；依據該組取樣值均不大於該觸控閥值之一判斷，基於該組取樣值計算一平均值與一標準差(如步驟504至506)；以及，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值(如步驟508與510)。

一範例中，依據該平均值與該標準差產生該更新後觸控閥值的步驟可包括：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值，並依據該參考閥值與該觸控閥值的加權疊加產生該更新後觸控閥值。

一範例中，依據該平均值與該標準差產生該更新後觸控閥值的步驟可包括：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值，並依據該參考閥值與一先前參考閥值的移動平均(moving average)產生該更新後觸控閥值。

一範例中，該方法更包括：由該觸控面板取得另一圖框的另一組取樣值(如由步驟512遞迴至步驟502)，其中該另一組取樣值包含一組相鄰取樣值，該組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值(如步驟504至步驟514)；依據該組相鄰取樣值之個數產生一觸控點的面積(如步驟514)；依據該觸控點之該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之一平均差距產生一面積閥值(如步驟516)；依據該觸控點的面積大於該面積閥值之一判斷，更新該觸控點的一存續計數值(如步驟518)；依據該存續計數值大於一存續閥值之一判斷，判定該觸控點為一有效觸控點(如步驟520)。

一範例中，依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該面積閥值之步驟可包括：依據該平均差距增加之一判斷，減少該面積閥值。一範例中，該方法更包括：依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該存續閥值，例如：依據該平均差距增加之一判斷，減少該存續閥值。

一範例中，該方法更包含：由該觸控面板取得另一圖框的另一組取樣值(如由步驟512遞迴至步驟502)，其中該另一組取樣值包含一或多組相鄰取樣值，該一或多組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值(如由步驟504至514)；依據該一或多組相鄰取樣值之個數對應產生一或多個觸控點的面積(如步驟504)；依據該一或多個觸控點的面積均小於一面積閥值之判斷，基於該另一組取樣值計算另一平均值與另一標準差(例如，由步驟518至步驟506)；並且，依據該另一平均值與該另一標準差更新該觸控閥值(如步驟510)。

一範例中，該方法更包括：根據該標準差小於一標準差臨限值之一判斷，將該標準差設定為一標準差預設值，其中，依據該平均值與該標準差產生該更新後觸控閥值之步驟包含：依據該平均值與該標準差預設值產生該更新後觸控閥值。

本發明的目的之一是提供一控制器，包括一界面電路與一核心電路。該界面電路耦接一觸控面板，該核心電路耦接該界面電路，並可執行前述方法。

為了對本發明之上述及其他方面有更佳的瞭解，下文特舉較佳範例，並配合所附圖式，作詳細說明如下：

100‧‧‧控制器

102‧‧‧界面電路

104‧‧‧核心電路

106‧‧‧觸控面板

300‧‧‧曲線

500‧‧‧流程

502-520‧‧‧步驟

s1-s2、sN、sa1-sa4、sb1-sb5、sc1、sd1-sd2‧‧‧感測位置

sv1-sv209‧‧‧取樣值

μ‧‧‧平均值

σ‧‧‧標準差

G1-G3‧‧‧觸控點

第1圖示意的是依據本發明一範例的控制器，運用於一觸控面板。

第2圖舉例示意第1圖中觸控面板未受觸摸時的取樣值。

第3圖至第4圖舉例說明本案原理。

第5圖示意的是依據本發明一範例的流程。

第6圖舉例說明第5圖中步驟的進行。

第1圖示意的是依據本發明一範例的控制器100；控制器100可應用於一觸控面板106，觸控面板106可以是一觸控顯示面板。如第1圖所示，控制器100可包括一界面電路102與一核心電路104；界面電路102耦接觸控面板106，核心電路104可以是一邏輯計算處理電路，耦接界面電路102。觸控面板106可感測N個感測位置s1、s2、…、sN之電容變化量以產生一圖框(frame)的N個1取樣值sv1、sv2、…、svN(未示於第1圖)，並將這N個取樣值sv1、sv2、…、svN經由界面電路102傳送至核心電路104，以進行觸控處理。

請參閱第2圖，第2圖為觸控面板106未受觸摸時一圖框中的取樣值sv1至sv209的一範例，換句話說，取樣值sv1至sv209可代表雜訊之取樣值。請參閱第3圖，第3圖為雜訊取樣值sv1至sv209之一直方圖。發明人發現，雜訊之取樣值會大致呈現一常態分佈，如第3圖中之曲線300所示。請參閱第4圖，第4圖繪示理想雜訊取樣值之一常態分佈，其中μ為平均值，σ為標準差。由統計學可知，84.1%的雜訊其取樣值會小於(μ+σ)，97.7%的雜訊其取樣值會小於(μ+2σ)，99.8%的雜訊其取樣值會小於(μ+3σ)，99.9%的雜訊其取樣值會小於(μ+4σ)。因此，可利用雜訊之平均值與標準差之線性組合來作為判斷雜訊之閥值。

請參考第5圖，第5圖為依據本發明一範例核心電路104所執行的流程500，詳細說明如下：

步驟502：從觸控面板106取得一組取樣值。一範例中，此組取樣值可為觸控面板106之一圖框中的N個取樣值sv1至svN，例如第2圖所示一圖框中的19*11個取樣值sv1至sv209。

步驟504：依據該組取樣值與一觸控閥值THR[t](未圖示)判斷觸控面板106是否受觸摸。若是，則至步驟514；若否，則至步驟506。一範例中，若一圖框的N個取樣值sv1至svN均不大於觸控閥值THR[t]，則判斷觸控面板106未受觸摸；反之，若該圖框的N個取樣值sv1至svN中有任何一個取樣值大於觸控閥值THR[t]，則判斷觸控面板106受觸摸。以第2圖所示的取樣值sv1至sv209為例，假設取樣值sv1至sv209均不大於觸控閥值THR[t]，則判斷觸控面板106未受觸摸，而取樣值sv1至sv209應代表雜訊的取樣值，並進行步驟506。

步驟506：基於該組取樣值計算一平均值與一標準差。舉例而言，平均值M[t]可為該圖框的取樣值sv1至svN的一平均值m0(亦即：)，標準差SD[t]可為該圖框的取樣值sv1至svN的一標準差s0(亦即：SD[t]=s0=)。以第3圖中的取樣值sv1至sv209為例，平均值M[t]=0.435，標準差SD[t]=7.144。另一範例中，平均值M[t]可為該圖框的與一先前圖框之取樣值的一平均值，標準差SD[t]可為該圖框與一先前圖框之取樣值的一標準差。

步驟508：依據平均值與標準差的一線性組合產生一參考閥值thr[t]。一範例中，參考閥值thr[t]=M[t]+a0*SD[t]，其中a0可為大於零之一預設值，例如a0=4。另一範例中，若標準差SD[t]小於一標準差臨限值SDthr(SDthr>0，未圖示)，則基於平均值M[t]與一標準差預設值SD0(SD0>0，未圖示)產生參考閥值thr[t]，例如參考閥值thr[t]=M[t]+a0*SD0。其中，標準差預設值SD0可以等於標準差臨限值SDthr。另一方面，若標準差SD[t]不小於標準差臨限值SDthr，則基於平均值M[t]與標準差SD[t]產生參考閥值thr[t]，例如參考閥值thr[t]=M[t]+a0*SD[t]。

步驟510：依據參考閥值thr[t]更新觸控閥值THR[t]為THR[t+1]。一範例中，可直接以參考閥值thr[t]作為更新後的觸控閥值THR[t+1](亦即：THR[t+1]=thr[t])。另一範例中，可依據參考閥值thr[t]與觸控閥值THR[t]之加權疊加來更新觸控閥值THR[t]，舉例來說，更新後的觸控閥值THR[t+1]=THR[t]*(1- r0)+thr[t]*r0，其中r0為0到1間之一預設比率，例如r0=0.7。相較於直接以參考閥值作為更新後的觸控閥值，依據參考閥值與觸控閥值之加權疊加來更新觸控閥值，可使觸控閥值之變化較為緩和；即使參考閥值有較大幅變動，觸控閥值也不會連帶地大幅變動。另一範例中，可依據參考閥值與先前參考閥值之移動平均來更新觸控閥值，舉例來說，更新後的觸控閥值)，其中thr[t-k]代表前k次執行步驟508時所計算出的先前參考閥值，項目b_k可為預設的係數，數目K可以大於等於1。之後，若流程500再度進行至步驟504，便會利用依據更新後的觸控閥值THR[t+1]來判斷觸控面板106是否受觸摸。

步驟512：結束流程500。

延續第3圖的例子，並以直接以參考閥值作為更新後的觸控閥值且a0=4為例，更新後之觸控閥值THR[t+1]=0.435+4*7.144=29。理想上，當雜訊之取樣值呈現一常態分佈時，99.9%的雜訊其取樣值會小於29。因此，若將觸控閥值THR[t+1]設定為29，僅有0.1%的雜訊會被誤判，亦即雜訊誤判率為0.1%。同理，以a0=3所計算出來之觸控閥值，其雜訊誤判率則提高為0.2%，以a0=2所計算出來之觸控閥值，其雜訊誤判率則提高為2.3%。由此可知，利用雜訊取樣值之平均值與標準差的線性組合作為觸控閥值可以有效地辨識雜訊。由於觸控面板使用的環境不同，雜訊取樣值也會隨之可能變動；而利用雜訊取樣值之平均值與標準差的線性組合作為觸控閥值，觸控閥值便可動態地追隨雜訊取樣值的變動，有效地辨識出絕大多數的雜訊。

在另一範例中，更新觸控閥值後可由觸控面板106取得另一圖框的另一組取樣值(步驟502)。其中，該另一組取樣值包括有一或多組相鄰取樣值，各組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於更新後觸控閥值THR[t+1]。其中，判斷兩感測位置是否相互鄰接的準則可以是：兩感測位置的上、下、左或右是否相互鄰接。舉例而言，如第6圖所示，相鄰感測位置sa1至sa4、sb1至sb5與sc1的取樣值(意即：相鄰取樣值)均大於觸控閥值THR[t+1](在第6圖中以斜紋代表)而其餘感測位置(例如：sd1、sd2)的取樣值則小於觸控閥值THR[t+1]。

步驟514：依據該組相鄰取樣值之個數產生一觸控點的面積。其中，每一組相鄰取樣值可形成一觸控點，而觸控點的面積可以與該組相鄰取樣值中所包含的取樣值個數相關。舉例而言，承第6圖的例子，三個感測位置sa1至sa4相互鄰接而形成一觸控點G1，觸控點G1的面積A1=4。類似地，五個感測位置sb1至sb5相互鄰接，但未鄰接於感測位置sa1至sa4，故感測位置sb1至sb5形成另一觸控點G2，觸控點G2的面積A2=5。一個感測位置sc1未與其他感測位置sa1至sa4與sb1至sb5鄰接，故可自成為一觸控點G3，觸控點G3的面積A3=1。

步驟516：依據該觸控點之該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之一平均差距產生一面積閥值。一範例中，可依據各觸控點之各組相鄰取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距，分別來為各觸控點產生一對應的面積閥值；例如：當一觸控點之一組相鄰取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距越大時，使該觸控點所對應的面積閥值越小。舉例而言，承第6圖的例子，若觸控點G1之感測位置sa1至sa4的取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距為10，觸控點G2之感測位置sb1至sb5的取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距為15，觸控點G3之感測位置sc1的取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距為20，則觸控點G1對應的面積閥值AT1可被設定為3，觸控點G2與G3所對應的面積閥值AT2與AT3(未圖示)可均被設定為較小的2。除了根據各觸控點中各取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的差距的平均值(意即：平均差距)設定各觸控點的面積閥值外，一範例中，也可依據各觸控點中各取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的差距的產生一統計值(例如極大值、極小值、中位數等)，並據以設定各觸控點的面積閥值。舉例而言，在第6圖的觸控點G1中，假設感測位置sa1至sa4的四個1取樣值分別為sva1至sva4(未圖示)，各取樣值和更新後觸控閥值THR[t+1]的差距分別為d1=(sva1-THR[t+1])至d4=(sva4-THR[t+1])，則在設定觸控點G1的面積閥值AT1時，可以依據差距d1至d4這四個數值的極大值、極小值或中位數等統計特性產生一統計值，並依據此統計值設定面積閥值AT1；例如，統計值越大時，減少面積閥值AT1。其中，可以由差距d1至d4選出其一作為該統計值，也可由差距d1至d4中選出一子集並由該子集中各元素的線性組合作為該統計值(例如，子集中可包括極大值與極小值，並由極大值與極小值的線性組合計算該統計值)；或者，亦可由差距d1至d4的線性組合作為該統計值。

步驟518：依據該觸控點的面積大於該面積閥值之一判斷，更新該觸控點的一存續計數值。一範例中，若一觸控點的面積大於其對應的面積閥值，則更新該觸控點的一存續計數值；反之，若一觸控點的面積小於其對應的面積閥值，則不更新該觸控點的一存續計數值。舉例而言，承第6圖，觸控點G1的面積A1=4，觸控點G1對應的面積閥值AT1=3，若觸控點G1於前一圖框中已存在且其存續計數值C1=L(例如：13)，則更新觸控點G1之存續計數值C1=L+1(例如：14)，因為觸控點G1面積A1大於面積閥值AT1。相似地，觸控點G2的面積A2=5，觸控點G2對應的面積閥值AT2=2，若觸控點G2於前一圖框中不存在，則啟始觸控點G2之一存續計數值C2(未圖示)，且C2=1，因為觸控點G2面積A2亦大於面積閥值AT2。相對地，觸控點G3的面積A3=1，觸控點G3對應的面積閥值AT3=2，若觸控點G3於前一圖框中不存在，則不啟始觸控點G3之一存續計數值C3，若觸控點G3於前一圖框中已存在，則刪除觸控點G3之一存續計數值C3，因為觸控點G2面積A3小於面積閥值AT3。

另一範例中，若每一觸控點的面積均小於對應的面積閥值，則可判定觸控面板106未受觸摸，並進行至步驟506。亦即，依據所有觸控點之面積均小於對應面積閥值之判斷，計算平均值M[t+2]與標準差SD[t+2]，並更新觸控閥值為THR[t+2]。

步驟520：依據一觸控點之存續計數值大於一存續閥值之一判斷，判定該觸控點為一有效觸控點。舉例而言，承第6圖，假設觸控點G1的存續計數值C1等於14，且觸控點G1的存續閥值ET1(未圖示)為10，則可判定觸控點G1為一有效觸控點。另一方面，假設觸控點G2的存續計數值C2等於1，且觸控點G2的存續閥值ET2(未圖示)為4，則尚無法判定觸控點G2為一有效觸控點。步驟520結束後可續行至步驟512。

一範例中，本發明可在進行步驟520前先依據各組相鄰取樣值與觸控閥值THR[t+1]間的差距來為各組相鄰取樣值設定對應的存續閥值。例如當一觸控點之一組相鄰取樣值與更新後觸控閥值THR[t+1]間的平均差距越大時，該觸控點所對應的存續閥值越小。

由前述敘述可知，本發明不僅可動態地調整觸控閥值，也可連帶地動態調整步驟516的面積閥值及/或步驟520的存續閥值，因為各觸控點對應的面積閥值及/或存續閥值可依據各觸控點中相鄰取樣值與觸控閥值的差距而設定。動態設定面積閥值及/或存續閥值有助於適應各種不同種類的觸控工具(如手指、觸控筆、手套與懸空手勢)。舉例而言，由於觸控筆或手指形成的觸控點其取樣值遠大於觸控閥值，但面積較小；相對應地，本發明可因取樣值與觸控閥值的差距較大而減少面積閥值，故可使步驟516不會因觸控點面積較小而錯誤地不更新其存續計數值而將其汰除。另一方面，透過手套或懸空手勢形成的觸控點其面積較大且持續時間較久，但取樣值僅略大於觸控閥值THR[t+1]；相對應地，由於本發明可因取樣值與觸控閥值THR[t+1]的差距較小而增加面積閥值及/或存續閥值，故可有效排除面積小、時間短的雜訊，而正確地判斷出取樣值低的手套或懸空觸控。

在流程500中，步驟514至520可視為一觸控點判讀程序。其中，步驟518與520可分別視為空間與時間的過濾，兩者併用可進一步避免雜訊導致的觸控點判讀錯誤。舉例而言，假設觸控閥值有0.1%的機率會將雜訊誤判為非雜訊；亦即，在進行步驟514時，一感測位置的取樣值實為雜訊，但有0.1%的機率錯誤地將其視為一觸控點(以下稱雜訊觸控點)的相鄰取樣值之一。不過，在進行步驟518及/或520時，若觸控點的面積閥值為3、存續閥值為5，則在步驟518中錯誤地為雜訊觸控點更新存續計數值的機率會下降為0.1%的三次方，因為要有三個鄰接感測位置的取樣值均被錯誤判讀為非雜訊，步驟518才會為其更新存續計數值；再者，在步驟520中誤將雜訊判定為有效觸控點的機率會進一步下降至0.1%的十五次方(三次方的五次方)，因為步驟520要出錯五次才會使雜訊觸控點的存續計數值超過存續閥值。

流程500不僅可依據一個參考閥值(步驟508)產生/維護/更新一個觸控閥值(步驟510)，也可分別依據多個參考閥值產生/維護/更新多個觸控閥值，以分辨出不同種類的觸控。舉例而言，在步驟508中可計算兩種參考閥值thr[t]=M[t]+4*SD[t]與thr1[t]=M[t]+3*SD[t]，分別對應兩種觸控，例如觸控筆觸控與手套觸控；在步驟510中可依據參考閥值thr[t]與先前參考閥值(如thr[t-1]等)的移動平均計算/更新觸控閥值THR[t+1]，並依據參考閥值thr1[t]與先前參考閥值(如thr1[t-1]等)的移動平均計算/更新另一觸控閥值THR1[t+1]；如此，依據觸控閥值THR[t+1]進行步驟514、516、518與520便可偵測、識別並回報觸控筆的有效觸控點，依據觸控閥值THR1[t+1]進行步驟514、516、518與520則可偵測、識別並回報手套觸控的有效觸控點。在步驟520中判定有效觸控點後，不僅可回報有效觸控點的面積、位置，也可利用一觸控種類旗標反映各有效觸控點的種類(或是基於何種觸控閥值)，例如，該觸控種類旗標可反映各有效觸控點是觸控筆之觸控(基於觸控閥值THR[t+1])或是手套之觸控(基於觸控閥值THR1[t+1])。再者，在步驟508中的一參考閥值thr2[t]也可以是用負數將標準差SD[t]線性組合於平均值M[t]，例如，參考閥值thr2[t]可等於M[t]-4*SD[t]；據此參考閥值thr2[t]所建立/維護/更新的觸控閥值THR2[t+1]可用以分辨雜訊與水跡，因為水跡在觸控面板上會形成負的取樣值。

在步驟508中，在計算參考閥值thr[t]=M[t]+a0*SD[t]時，參數a0之值也可以是動態調整的。步驟506、508與510可以是週期性或非週期性地執行，也可依據一計時值及/或其他狀態值(例如電子裝置是否運作於省電狀態)決定是否要執行。舉例而言，步驟504可以是：若同一圖框的所有取樣值皆小於觸控閥值THR[t]且計時值大於一計時閥值(如500ms)，才進行至步驟506；在步驟510更新觸控閥值THR[t+1]時，也可一併將計時值歸零，由0ms開始重新計數經過的時間。如此，便可每500ms才進行步驟506、508與510。

在進行步驟506時，數目M可以大於一圖框的總取樣值個數N；舉例而言，觸控面板106可以是一尺寸較小(或觸控解析度較低)的觸控面板，故數目N較少，例如是35個；相對地，數目M可以是105。由於一圖框只有35個取樣值，在第一次進行步驟506時，只會收集到35個取樣值，不及M個(105個)，故步驟506可暫不計算平均值與標準差，並跳過步驟508與510不執行，直接進行至步驟512。當第二次進行步驟506時，可再度收集到另一圖框的35個取樣值，累計共收集到70個取樣值，仍小於M個，故步驟506可暫不計算平均值與標準差，並跳過步驟508與510不執行，直接進行至步驟512。當第三次進行步驟506時，會再度收集到又一圖框的35個取樣值，累計共收集到105個取樣值，滿足M個取樣值，故步驟506就可以針對這M個取樣值計算平均值與標準差，並繼續進行步驟508與510。

總結而言，相對於已知技術的固定觸控閥值，本發明可動態地依據未觸控時的取樣值重新計算並更新觸控閥值以因應不同的運用背景與環境，併用面積過濾(步驟518)與存續過濾(步驟520)以進一步減少將雜訊判讀為有效觸控點的機率，並適應性地依據各取樣值與觸控閥值的差距來設定面積過濾的面積閥值與存續過濾的存續閥值，以廣泛地因應不同種類的觸控，如觸控筆、手指、手套與懸空手勢之觸控。

綜上所述，雖然本發明已以較佳範例揭露如上，然其並非用以限定本發明。本發明所屬技術領域中具有通常知識者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作各種之更動與潤飾。因此，本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。

500‧‧‧流程

502-520‧‧‧步驟

Claims

一種適應性調整一觸控閥值的方法，應用於一觸控面板；該方法包含：由該觸控面板取得一組取樣值；以及依據該組取樣值均不大於該觸控閥值之一判斷，基於該組取樣值計算一平均值與一標準差，並依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第1項的方法，其中，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值的步驟包含：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值；以及依據該參考閥值與該觸控閥值的加權疊加更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第1項的方法，其中，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值的步驟包含：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值，並依據該參考閥值與一先前參考閥值的移動平均(moving average)更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第1項的方法，更包含：由該觸控面板取得另一組取樣值，其中該另一組取樣值包含一組相鄰取樣值，該組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值；依據該組相鄰取樣值之個數產生一觸控點的面積；依據該觸控點之該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之一平均差距產生一面積閥值；依據該觸控點的面積大於該面積閥值之一判斷，更新該觸控點的一存續計數值；以及依據該存續計數值大於一存續閥值之一判斷，判定該觸控點為一有效觸控點。
如申請專利範圍第4項的方法，其中，依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該面積閥值之步驟包含：依據該平均差距增加之一判斷，減少該面積閥值。
如申請專利範圍第4項的方法，更包含：依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該存續閥值。
如申請專利範圍第6項的方法，其中，依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該存續閥值之步驟包含：依據該平均差距增加之一判斷，減少該存續閥值。
如申請專利範圍第1項的方法，更包含：由該觸控面板取得另一組取樣值，其中該另一組取樣值包含一或多組相鄰取樣值，該一或多組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值；依據該一或多組相鄰取樣值之個數對應產生一或多個觸控點的面積；依據該一或多個觸控點的面積均小於一面積閥值之判斷，基於該另一組取樣值計算另一平均值與另一標準差；以及依據該另一平均值與該另一標準差更新該更新後觸控閥值。
如申請專利範圍第1項的方法，其中，依據該平均值與該標準差產生該更新後觸控閥值之步驟包含：依據該標準差小於一標準差臨限值之一判斷，基於該平均值與一標準差預設值更新該觸控閥值。
一種控制器，應用於一觸控面板；該控制器包含：一界面電路，耦接該觸控面板；以及一核心電路，耦接該界面電路，並可執行下列步驟：經該界面電路由該觸控面板取得一組取樣值；依據該組取樣值均不大於該觸控閥值之一判斷，基於該組取樣值計算一平均值與一標準差，並依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第10項的控制器，其中，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值的步驟包含：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值；以及依據該參考閥值與該觸控閥值的加權疊加更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第10項的控制器，其中，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值的步驟包含：依據該平均值與該標準差的線性組合產生一參考閥值，並依據該參考閥值與一先前參考閥值的移動平均(moving average)更新該觸控閥值。
如申請專利範圍第10項的控制器，其中該核心電路更可執行：由該觸控面板取得另一組取樣值，其中該另一組取樣值包含一組相鄰取樣值，該組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值；依據該組相鄰取樣值之個數產生一觸控點的面積；依據該觸控點之該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之一平均差距產生一面積閥值；依據該觸控點的面積大於該面積閥值之一判斷，更新該觸控點的一存續計數值；以及依據該存續計數值大於一存續閥值之一判斷，判定該觸控點為一有效觸控點。
如申請專利範圍第13項的控制器，其中，依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該面積閥值之步驟包含：依據該平均差距增加之一判斷，減少該面積閥值。
如申請專利範圍第13項的控制器，其中該核心電路更可執行：依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該存續閥值。
如申請專利範圍第15項的控制器，其中，依據該組相鄰取樣值與該更新後觸控閥值之該平均差距產生該存續閥值之步驟包含：依據該平均差距增加之一判斷，減少該存續閥值。
如申請專利範圍第10項的控制器，其中，該核心電路更可執行：由該觸控面板取得另一組取樣值，其中該另一組取樣值包含一或多組相鄰取樣值，該一或多組相鄰取樣值中之所有取樣值均大於該更新後觸控閥值；依據該一或多組相鄰取樣值之個數對應產生一或多個觸控點的面積；依據該一或多個觸控點的面積均小於一面積閥值之判斷，基於該另一組取樣值計算另一平均值與另一標準差；以及依據該另一平均值與該另一標準差更新該更新後觸控閥值。
如申請專利範圍第10項的控制器，其中，依據該平均值與該標準差更新該觸控閥值之步驟包含：依據該標準差小於一標準差臨限值之一判斷，基於該平均值與一標準差預設值更新該觸控閥值。