TWI460626B - 觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法 - Google Patents

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Description

觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法
本發明係一種觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法，特別是一種可計算校正點位的觸控電子裝置及觸控軌跡的校正方法。
目前行動電子裝置的主流，例如智慧型手機或平板電腦等，均捨棄傳統的鍵盤滑鼠裝置而改以觸控面板作為標準的輸入和輸出的介面，以因應電子裝置的微小化趨勢。透過觸控面板，行動電子裝置提供使用者藉由手指在觸控面板上的觸碰或滑動來執行觸控操作。
而隨著觸控及硬體技術的日新月異，觸控操作也愈來愈人性化，許多觸控操作方式也愈來愈細膩，因此對於觸控軌跡的解析度要求也愈來愈高，否則便容易發生誤判或者是描繪出的觸控軌跡不如預期。
由於一般人在觸控面板上操控執行時，往往會因重心偏移或接觸面積變異，造成觸控點位變異使得執行軌跡呈現非平滑狀況，因此一般均不會直接使用觸控面板所偵測到的觸碰點位，而是會進一步對觸碰點位進行線性化處理。目前觸控業者對於觸控軌跡的修正多係利用內插法來平滑化使用者在觸控面板上所畫出的軌跡。
請參照第1圖與第2圖，分別為習知技術示意圖(一)、(二)。當手指在觸控電子裝置10之觸控面板101上滑動時，觸控面板101會偵測到觸碰點位250(包含A1~A12)，此時，觸控電子裝置10的處理器會對觸碰點位250進行線性化處理而得到模擬點位260(A1’~A12’)。其中，A1’即為A1；A2’係由A1’與A2內插計算而得；A3’係由A2’與A3內插計算而得；A4’係由A3’與A4內插計算而得；依此類推。
但線性化處理卻也造成時間遲滯的問題，亦即手指完成操作而離開觸控面板101當下所在的觸碰點位A12會與線性化處理最後所計算出的模擬點位產生落差。一種習知計算模擬點位260的方式，係當觸碰物一離開觸控面板便立即停止計算，此時，模擬點位可能僅計算至A4’便嘎然停止，導致模擬點位260所構成的軌跡與真實的觸碰軌跡不符合或差異過大。尤其當手指移動速度愈快時，差異將會愈明顯。此種差異極可能造成觸控操作的誤判或是令描繪出的觸控軌跡不如預期。
先前技術另一種作法係先將觸碰點位250存放於暫存器中，處理器再從暫存器中擷取觸碰點位250進行處理，如此一來雖然可對所有觸碰點位250進行計算而得到模擬點位250，會造成觸控操作的反應時間變長而使觸控操作產生時間延遲。
有鑑於此，本發明提出一種觸控電子裝置，包含觸控面板、處理器與校正模組。其中，處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位，處理器再根據偵測到的觸碰點位計算模擬點位。當處理器偵測到觸碰點離開觸控面板時，校正模組根據觸控面板偵測到之觸碰點離開觸控面板時之觸碰點位的座標(X1 ,Y1 )以及處理器所最後計算出之模擬點位的座標(X2 ,Y2 )計算複數個校正點位，用以校正模擬點位與觸碰點位之間的誤差，觸控電子裝置係藉由模擬點位與校正點位執行觸控操作。
本發明亦提出一種觸控軌跡的校正方法，適用於具有觸控面板、處理器與校正模組之觸控電子裝置。所述觸控軌跡的校正方法包含：處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位，處理器再根據偵測到的觸碰點位計算模擬點位；當處理器偵測到觸碰物離開觸控面板時，校正模組根據處理器所偵測到之觸碰點離開觸控面板時之觸碰點位的座標(X1 ,Y1 )以及處理器所最後計算出之模擬點位的座標(X2 ,Y2 )計算複數個校正點位，用以校正模擬點位與觸碰點位之間的誤差。其中，觸控電子裝置係藉由模擬點位與校正點位執行觸控操作。
綜上所述，本發明不需要藉助暫存器，僅需根據處理器所偵測到之觸碰點離開觸控面板時之觸碰點位的座標(X1 ,Y1 )以及處理器所最後計算出之模擬點位的座標(X2 ,Y2 )計算出複數個校正點位，便使觸控電子裝置得以藉由模擬點位與校正點位來執行觸控操作，解決了習知技術所具有的種種問題。
請參照第3圖與第4圖，分別為本發明之觸控電子裝置示意圖及本發明之觸碰點位及模擬點位示意圖。觸控電子裝置20包含：觸控面板201、電性連接於觸控面板之處理器、與電性連接於處理器之校正模組。其中，處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位250，然後再根據觸碰點位250計算出模擬點位260，計算模擬點位260的方式於本實施例計算模擬點位260的方式係使用內插法。亦即A1’即為A1，A2’係A2與A1’二點之內插，A3’係A3與A2’二點的內插，A4’係A4與A3’二點的內插，A5’係A5與A4’二點的內插。然而計算模擬點位260的方式可依製造業者或觸控電子設備20的種類不同而有所不同，並非僅能使用前述內插法計算。
當處理器偵測到觸碰物(手指或電容式觸控筆)離開觸控面板201時(亦即未偵測到觸碰點位250時)，處理器停止計算模擬點位260，校正模組開始作用。此時最終計算出的模擬點位係為A5’，校正模組根據處理器偵測到之觸碰物離開觸控面板201時之觸碰點位A5的座標(X1 ,Y1 )以及處理器所最後計算出之模擬點位A5’的座標(X2 ,Y2 )計算複數個校正點位270，用以校正模擬點位250與觸碰點位260之間的誤差，觸控電子裝置20係藉由模擬點位260與校正點位270來執行觸控操作。
在一實施例中，當手指或電容式觸控筆離開觸控面板201表面時，觸控面板201將偵測不到任何觸控點位250，此時，校正模組即開始計算校正點位270。校正點位270的數量可以是三個，其中，三個校正點位270的座標係分別為及(X1 ,Y1 )。
校正模組並非一定要計算3個校正點位，假設校正模組係計算n個校正點位270，則所述n個校正點位270的座標公式為，其中a的值為1至n，在一實施態樣中，n的值係在3至6的範圍中。
各實施例無論n的值大小為何，在各個校正點位270中皆必然包含(X1 ,Y1 )此一座標，如此一來，無論線性化處理造成多少時間延遲，手指離開觸控面板201表面時之觸控點位A5皆必然成為校正點位270中的其中一點。
請參照第5圖，為本發明之觸控軌跡的校正方法流程圖，其適用於具有觸控面板201、處理器與校正模組之觸控電子裝置20，包含：
步 驟S01： 每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位。
處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位250，當使用者以手指或電容式觸控筆在觸控面板201的表面移動時，便會被處理器所偵測。
步驟S02： 判斷觸碰物是否離開觸控面板。
由於處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位250，當連續二次偵測不到觸碰點位250時，判斷觸碰物已經離開觸控面板。倘若觸碰物尚未離開觸控面板，則進行步驟S03；倘若觸碰物已經離開觸控面板，則進行步驟S04。
步驟S03： 根據觸碰點位計算模擬點位。
處理器根據所偵測到的觸碰點位250計算模擬點位260，計算方式依製造業者或觸控電子設備20的種類不同而有所不同，屬於習知技術。
步驟S04： 計算複數個校正點位。
當觸碰物已經離開觸控面板201表面時，由於偵測不到任何觸控點位250，此時校正模組根據處理器所偵測到之觸碰點離開觸控面板201時之觸碰點位250的座標(X1 ,Y1 )以及處理器所最後計算出之模擬點位260的座標(X2 ,Y2 )計算複數個校正點位270，以校正模擬點位與該觸碰點位之間的誤差。而觸控電子裝置20即是根據模擬點位260與校正點位270來執行觸控操作。
於步驟S04中，係計算三個校正點位270，其座標分別為及(X1 ,Y1 )。此外，本步驟並非一定要計算3個校正點位270，假設校正模組係計算n個校正點位270，則所述n個校正點位270的座標公式為，其中a的值為1至n，在一實施態樣中，n的值係在3至6的範圍中。
在各實施例中，無論n的值大小為何，在各個校正點位270中皆必然包含(X1 ,Y1 )此一座標，如此一來，無論線性化處理造成多少時間延遲，觸碰物離開觸控面板201表面時之觸控點位A5皆必然成為校正點位270中的其中一點。
雖然本發明的技術內容已經以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神所作些許之更動與潤飾，皆應涵蓋於本發明的範疇內，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10．．．觸控電子裝置
101．．．觸控面板
20．．．觸控電子裝置
201．．．觸控面板
250、A1~A12．．．觸碰點位
260、A1’~A12’．．．模擬點位
270．．．校正點位
第1圖為本發明之習知技術示意圖(一)。
第2圖為本發明之習知技術示意圖(二)。
第3圖為本發明之觸控電子裝置示意圖。
第4圖為本發明之觸碰點位及模擬點位示意圖。
第5圖為本發明之觸控軌跡的校正方法流程圖。
250、A1~A5．．．觸碰點位
260、A1’~A5’．．．模擬點位
270．．．校正點位

Claims (9)

  1. 一種觸控軌跡的校正方法，適用於具有一觸控面板、一處理器與一校正模組之一觸控電子裝置，包含：該處理器每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位；該處理器根據該觸碰點位計算一模擬點位；及當處理器偵測到觸碰點離開該觸控面板時，該校正模組根據該處理器所偵測到之觸碰點離開觸控面板時之該觸碰點位的座標(X1 ,Y1 )以及該處理器所最後計算出之該模擬點位的座標(X2 ,Y2 )計算複數個校正點位，用以校正該模擬點位與該觸碰點位之間的誤差；其中，該觸控電子裝置係根據該模擬點位與該校正點位執行觸控操作。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之觸控軌跡的校正方法，於計算該些校正點位之步驟中，係計算三個校正點位。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之觸控軌跡的校正方法，其中，該三個校正點位的座標係分別為、及(X1 ,Y1 )。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之觸控軌跡的校正方法，於計算該些校正點位之步驟中，係計算n個校正點位，該n個校正點位的座標公式為，其中a的值為1至n。
  5. 如申請專利範圍第4項所述之觸控軌跡的校正方法，其中，n的值係在3至6的範圍中。
  6. 一種觸控電子裝置，包含：一觸控面板；一處理器，電性連接於該觸控面板，每隔一間隔時間偵測至少一觸碰點位，且根據該觸碰點位計算一模擬點位；及一校正模組，電性連接於該處理器，當該處理器偵測到觸碰點離開該觸控面板時，根據該處理器所偵測到之觸碰點離開該觸控面板時之該觸碰點位的座標(X1 ,Y1 )以及該處理器所最後計算出之該模擬點位的座標(X2 ,X2 )計算n個校正點位，用以校正該模擬點位與該觸碰點位之間的誤差，該n個校正點位的座標公式為，其中a的值為1至n；其中，該觸控電子裝置係藉由該模擬點位與該校正點位執行觸控操作。
  7. 如申請專利範圍第6項所述之觸控電子裝置，其中，該校正模組係計算三個校正點位。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之觸控電子裝置，其中，該三個校正點位的座標係分別為及(X1 ,Y1 )。
  9. 如申請專利範圍第6項所述之觸控電子裝置，其中，n的值係在3至6的範圍中。
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