TWI591318B - 用於感測器信號之能量有效測量的方法及系統 - Google Patents

用於感測器信號之能量有效測量的方法及系統 Download PDF

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安德雷亞斯 多芙尼爾
克勞斯 卡特納
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微晶片科技德國公司
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Description

用於感測器信號之能量有效測量的方法及系統 相關申請案交叉參考
本申請案主張2012年4月19日申請之美國臨時申請案第61/635,508號之權利,該臨時申請案之全文併入本文中。
本發明係關於感測器信號(特定而言經受雜訊之感測器信號且特定而言電容性感測器信號)之能量有效測量。
人類裝置介面包含基於電容性觸控感測及/或電容性接近偵測之觸控感測及手勢偵測系統。在諸多系統中,此等電容性感測器及相關聯偵測電路需要一直接通電源且各別電力消耗經保持在通常在充電電池之普通放電電流之範圍內之一最小值處。其他感測器技術面臨類似問題。
在任何基於感測器之技術中,感測器信號通常經受環境影響,特定而言雜訊信號完全地疊加於感測器信號上。雜訊源包含(舉例而言)連續雜訊源,脈衝雜訊源,寬頻及窄頻雜訊源,頻率調變、幅值調變及相位調變雜訊源,可變及/或固定頻率雜訊源。舉例而言,透過濾波提取實際感測器信號可變得有問題的。若在一行動裝置中實施感測器則此可變得甚至更困難且可需要可使得電力消耗無效率之額外電源。因此,存在對基於感測器之系統(特定而言,行動系統)中之有 效資料獲取之一需要。
根據一實施例,一種用於測量感測器信號之方法,其可包括:a)接收包括複數個經取樣感測器信號之一信號封包;b)自該等經取樣感測器信號判定一信號位準;c)判定該封包內之信號變化;d)比較該等所判定信號變化與一預定雜訊臨限值,且若該等變化低於該雜訊臨限值,則使用該信號封包以用於進一步處理且若該等變化高於該雜訊臨限值,則對該信號位準求和並重複步驟a)至c)且判定已達到預定重複次數且若如此則對該經求和信號位準求平均值。
根據另一實施例,若在步驟a)至c)之該重複期間在步驟c)中判定一當前信號封包之該等信號變化低於該預定雜訊臨限值,則摒棄該經求和信號位準且使用該當前信號封包之信號位準。根據另一實施例,該重複次數可係在1至256之間的預定次數。根據另一實施例,一信號封包可包括與一所傳輸信號同步之一所接收信號傳輸之取樣。根據另一實施例,一信號封包可包括一載波之最大及最小峰值之取樣值。根據另一實施例,該方法可進一步包括藉由在隨後測量之間插入一延遲來延遲該等重複測量。根據另一實施例,該延遲可隨每一重複而變化。根據另一實施例,該延遲可隨每一重複而增加。根據另一實施例,該延遲可隨每一重複而減少。根據另一實施例,在該等信號封包之該重複期間所有延遲之總延遲可等於兩個隨後信號封包之間的時間。根據另一實施例,該方法可進一步包括驗證該測量。根據另一實施例,驗證該測量可需要有效信號封包之一最小量之重複接收集合。 根據另一實施例,可將已經求平均值之信號封包之該最小量集合設定為在1至256之間。根據另一實施例,比較該信號位準與一臨限位準以判定該感測器之一狀態。根據另一實施例,該方法可進一步包括驗證一感測器狀態是否改變之判定。根據另一實施例,驗證感測器狀態改 變之該判定可需要當該感測器之當前狀態為「接通」時具有低於該臨限位準之一經處理信號位準的一最小測量集合或可需要當該感測器之該當前狀態為「關斷」時具有高於該臨限位準之一經處理信號位準的一最小測量集合。根據另一實施例,該方法可進一步包括延遲驗證測量之重複。根據另一實施例,該方法可進一步包括變化隨後驗證測量之間的該延遲。根據另一實施例,該方法可進一步包括判定該信號位準是否過載或失真且重複該測量高達預定次數以獲得一未失真信號位準且限制電流消耗。
根據另一實施例,一種用於測量感測器信號之方法,其可包括:a)接收包括複數個經取樣感測器信號之一信號封包,其中該信號封包包括與一所傳輸信號同步之一所接收信號之取樣;b)自該等經取樣感測器信號判定一信號位準;c)判定該封包內之信號變化;d)比較該等所判定信號變化與一預定雜訊臨限值,且若該等變化低於該雜訊臨限值,則使用該信號封包以用於進一步處理且若該等變化高於該雜訊臨限值,則對該信號位準求和並重複步驟a)至c)且判定已達到預定重複次數且若如此則對該經求和信號位準求平均值,其中若在步驟a)至c)之該重複期間在步驟c)中判定一當前信號封包之該等信號變化低於該預定雜訊臨限值,則摒棄該經求和信號位準且使用該當前信號封包之信號位準。
根據上述方法之另一實施例,該方法可進一步包括藉由在隨後測量之間插入一延遲來延遲該等重複測量。根據上述方法之另一實施例,該方法可進一步包括驗證該測量,其中驗證該測量需要一最小量之接收有效信號封包。根據另一實施例,驗證感測器狀態改變之該判定可需要當該感測器之當前狀態為「接通」時具有低於該臨限位準之一經處理信號位準的一最小測量集合或可需要當該感測器之該當前狀態為「關斷」時具有高於該臨限位準之一經處理信號位準的一最小測 量集合。根據上述方法之另一實施例,該方法可進一步包括判定該信號位準是否過載或失真且重複該測量高達預定次數以獲得一未失真信號位準。
900‧‧‧第一接收電極Rx1
905‧‧‧放大器
910‧‧‧電極Rx2
915‧‧‧放大器
920‧‧‧電極Rx3
925‧‧‧放大器
930‧‧‧傳輸器電極Tx/傳輸器電極
940‧‧‧保護電極
950‧‧‧信號產生器
955‧‧‧反相器
960‧‧‧評估裝置
fa‧‧‧頻率距離
fp‧‧‧間隔頻率/頻率
Tg‧‧‧總延遲
Tp‧‧‧時間距離/時間
Tv‧‧‧延遲/連續增加延遲
圖1展示一未受擾信號及具有疊加雜訊之一信號之一測量封包之樣本值。
圖2展示當存在一強干擾時對封包之重複測量。
圖3展示一習用感測器處理方法之一示意性流程圖。
圖4展示根據一實施例之一改良之方法之一示意性流程圖。
圖5展示頻域及時域中之干擾頻率抑制之原理。
圖6展示根據一實施例之一改良之方法之另一示意性流程圖。
圖7展示具有整合之驗證測量之一流程圖。
圖8展示用於處理過載之一流程圖。
圖9展示用於偵測三維手勢之一例示性感測器系統。
根據各種實施例,可使得特定而言在接收感測器信號之一系統中之用於同步經取樣測量值之平均值形成程序自適應性的。此一系統可係使用接近偵測且未必需要一實體觸控之(舉例而言)一觸控感測系統或(特定而言)一手勢偵測系統。舉例而言,使用經饋給一低頻率信號(舉例而言,一100kHz AC或方波信號)之一電極板可產生一低頻率電場。其他電極板可用以偵測由進入電場之一物件引起之擾動。可預處理所接收信號且可將信號組配於封包中以用於進一步處理。
根據各種實施例,一般而言,包含低數目個期望之信號週期之一封包經測量且經求平均值,其中針對每一期望之信號週期,宜將取樣瞬間設定為與傳輸器信號同步以獲取被測量之正半波的最大值及負半波的最小值。根據各種實施例,越多所測量之封包受干擾,則測量 越多封包及求平均值。此外,對一封包之干擾的評估可透過分別評估正半波及負半波之樣本值的散佈來執行。各別較大偏差或變異數或標準偏差可用於評估中,以獲得雜訊之一指示符。
若一封包中之一樣本值失真或過載,則將摒棄且再次測量封包。根據各種實施例,若多個封包被摒棄,則此將係一強雜訊或干擾之一指示符,且將限制經測量封包之數目以限制電力消耗。
若僅存在一小擾動或少量雜訊,則一單個封包對於有意義之測量結果而言已經足夠,且電流消耗將係最小的。隨著雜訊/干擾增加,電流消耗將增加,其中需要測量多個封包且對其求平均值。此將導致根據各種實施例之一能量有效測量方法。
另一優點在於以下事實:不需要區別連續干擾源與脈衝干擾源,此導致一較簡單規範。在一脈衝干擾源之情形中,若在沒有干擾之情況下於時間週期內測量一封包,則可立即使用所得測量而不需要測量其他封包且對其求平均值。由於在干擾之情況下之一時間週期可能不利地影響測量,因此重複測量事實上將係有害的。
圖1展示一未受擾信號(在頂部)及具有疊加雜訊之一信號(在底部)之一測量封包的樣本值。在所展示實例中,於一封包內測量四個信號週期。如圖1中所展示,在各別最大值或最小值處獲得每一樣本點。 各別四個連續最大值及最小值在此實例中係相同的,如頂部曲線中所展示。當如底部曲線中所展示添加雜訊時,最大值及最小值樣本點在分別標記之變化範圍內變化。
圖2展示當存在一強干擾時,對封包之重複測量。頂部曲線展示干擾或雜訊,而圖2中之底部曲線繪示信號封包。透過封包測量之快速重複,發現其中不存在或存在少量干擾/雜訊之一時間週期。在此實例中,直至已獲得一有效結果為止已測量五個封包。前四個封包包含強干擾信號,但如圖2中所展示,第五信號不受干擾。
圖3展示用於感測器處理之一示意性流程圖,其中根據一習用方法比較所測量信號與一臨限值以判定實際感測器狀態。步驟310表示其中獲得包含同步取樣點之一信號封包之信號獲取。在隨後步驟320中,處理信號位準。在步驟330中,檢查信號位準是否超過一預定臨限值。若如此,則在步驟340中判定感測器之當前狀態。若狀態為「關斷」,則在步驟360中常式將狀態切換至「接通」且否則跳過此步驟。類似地,若步驟330為否定的,則在步驟350中檢查一當前感測器狀態,且若其為「接通」則在步驟370中將狀態改變成「關斷」且否則跳過步驟370。常式繼續步驟380,在步驟380中啟動一睡眠模式。 可在步驟390中去啟動睡眠模式且常式返回至步驟310以接收下一信號封包。
根據圖3,一改良之方法之目的係獲得一快速反應時間且使用極少量電源。此外,一改良之方法應能夠處理如上文所論述之多種不同干擾源。通常,濾波器可經設計以具有一長時間常數以產生良好濾波結果。然而,長時間常數可導致長反應時間及需要大量電源。因此,提出根據各種實施例之一自適應性解決方案,其使自身適應於各別干擾源以減小各別情形中之電源需求。
習用系統使用同步解調,其中對所接收信號與所傳輸信號同步取樣。特定而言,在如上文所述且在圖9中所展示之使用一電場之一感測器系統中,使用一傳輸器電極Tx 930,由一信號產生器950將(舉例而言)一100kHz載波信號饋給至該傳輸器電極Tx 930。信號產生器950可係(舉例而言)產生一方波信號之一微控制器埠。此外,信號產生器可係產生一正弦信號之一振盪器。亦可透過各別濾波諸如所述之方波信號之其他信號來獲得正弦信號。因此,透過一評估裝置960之取樣可與所傳輸信號同步,舉例而言,以測量各別電場信號之最大值及最小值。為此目的,評估裝置960亦自信號產生器950接收所產生傳 輸信號。在一純數位電路中,可藉由軟體或透過各別控制暫存器來執行同步化。可實施多個接收電極且然後由評估裝置960進一步評估自此等感測器接收之信號。舉例而言,如圖9中所展示,可提供與一放大器905耦合之一第一接收電極Rx1 900。所有電極可係(舉例而言)藉由分別蝕刻銅平面形成於一印刷電路板上之簡單電極板。可提供其他電極Rx2及Rx3(910及920)以及相關聯放大器915及925。電極不限於如圖9中所展示之一特定形狀。根據各別系統,其他形狀及電極之數目可適用。最後,可提供環繞傳輸器電極930之一保護電極940,保護電極940較佳地可由一反相傳輸信號透過反相器955饋給。本申請案不限於圖9中所展示之系統,而是亦可與任何其他感測器系統一起使用。
記錄越多信號週期,濾波效應越好。此一方法必須使用諸多同步取樣週期以濾除接近於載波頻率之頻率以能夠與多種干擾源一起操作。此意指如(舉例而言)在手勢偵測系統中使用接近偵測之電場測量系統中常見,若使用(舉例而言)100kHz之一典型載波頻率,則反應時間可容易地變得大於1秒。然而,特定而言在由此等感測器(諸如接通/關斷開關)實施基本操作元件之情況下,此對於一使用者係不可接受的。
根據各種實施例,判定實際存在之雜訊/干擾之位準且執行用於平均值形成之濾波器長度之一調適以最小化干擾/雜訊源之影響。為此目的,將通常具有少數信號週期(舉例而言,2至256個週期)之信號封包用於求平均值。同步解調此等封包。若該少數週期內取樣值之變化不大於一預定雜訊源,則假定感測器系統不受一雜訊/干擾源影響且自如圖1中所展示之少數信號週期之平均值形成信號位準。若取樣值之變化大於系統雜訊,則假定系統受一雜訊/干擾源影響且判定N-1個其他信號封包。
圖4展示根據各種實施例之一改良之方法之相關聯示意性流程圖。步驟400至445展示對傳入信號封包之處理。對所有信號位準求和(總和)且在獲取N-1個其他信號封包之後,用總和除以總信號封包數目N。通常,N可在2至256次重複之範圍中。藉由此等額外方法步驟,濾波器長度經擴大且平均信號位準之變化經減小。若測量受一連續干擾者影響,則將接收總共N個信號封包。在步驟420中,根據透過步驟405至415獲得之所計算信號變化判定是否存在一雜訊源。若存在一雜訊源,則常式分支至步驟425,在步驟425中對信號求和。在步驟435中,檢查重複之數目且在步驟400中將其遞增。若已執行足夠重複,則常式分支至步驟445,在步驟445中藉由用所計算總和除以重複之數目判定信號位準。常式然後在步驟430及440中繼續,在步驟430及440中再設定總和及重複變量。在步驟450中,檢查所計算信號位準。隨後步驟455至480對應於圖3之步驟340至390。此等步驟455至480亦可由等效判定步驟代替。如此等步驟中所展示之感測器狀態之改變僅係一項可能之實施例。存在用來設定判定所評估信號之功能之各別旗標或暫存器值之諸多等效常式。
在一脈衝干擾者之情形中,若在所有資料獲取期間脈衝干擾係作用的,則可接收一最大值N個信號封包。若一雜訊脈衝較短,則接收n(nN)個信號封包直至如(舉例而言)圖2中藉助第五封包所展示一信號封包不受干擾影響為止。摒棄先前所接收信號位準之總和且僅單個信號封包將用於進一步臨限位準比較。藉助取消條件,可減小電流消耗及系統反應時間。
此外,可實施針對干擾頻率之一干擾頻率抑制,其中至載波頻率之頻率距離fa可與如圖5中所展示之兩個信號封包之獲取之間的間隔頻率fp相同或為其倍數。圖5中之頂部圖表展示載波及兩個干擾源之頻率。如圖5之底部部分所展示,以fa=| Fcarrier-finterferer |之一頻率 在Fcarrier及finterferer之經取樣總和信號上形成一包絡調變。由於信號值在獲取之後必須經處理,因此總是產生在每一重複中同樣長之一時間距離Tp。Tp之典型值在100μs與1ms之間,此對應於1kHz至10kHz之一間隔頻率。若干擾信號至期望之頻率具有一頻率距離以使得fa接近於頻率fp或為其倍數,則由於取樣總在包絡之相同相位位置處發生因此透過接受多個信號封包將導致無濾波效應。然而,若兩個信號封包之間的時間變化,則信號獲取時間之相位位置將關於包絡之相位位置改變。圖6中展示一各別流程圖。類似步驟用相同參考符號指定。通常,兩個信號封包之間的一時間變化可藉由在步驟610中插入一延遲Tv來實現,延遲Tv隨每一重複增加以進一步改變每一單個重複中之相位位置。另一選擇係,延遲可隨機變化。較佳地,在N-1個信號封包之重複期間所有延遲之總延遲Tg等於時間Tp以使得信號封包經延遲以隨時間週期均勻分佈。
根據各種實施例之一另一特徵係如圖7之流程圖中所展示之對其頻率接近於載波頻率之干擾者的抑制。再次,相同參考符號指示圖4及圖6中之相同步驟。上文所闡述之用於干擾辨識及濾波器延長之方法對於其頻率接近於載波頻率之干擾者將不係有效的。此之原因係:此等干擾者在一信號封包之少數信號週期內僅產生所測量信號之一小變化。因此,不引入重複測量且將不自載波信號濾波干擾者。出於此原因,在每一預期感測器狀態改變處重複m次測量序列(驗證測量)且亦將整合用於相位位置改變之一可變延遲元件。驗證測量之典型值m係1至16。針對驗證測量,使用N-1次重複之最大濾波器長度。另外,將判定其是否係一驗證測量。為此目的,根據圖7之流程圖展示插入於步驟420與430之間之一額外步驟710。在此步驟710中,檢查驗證是否大於0。若不需要驗證,則常式繼續步驟430,否則分支至步驟425。在步驟455與465之間以及步驟460與470之間,就驗證變量插入 相同檢查。若驗證變量小於預定義數目m次驗證,則常式在兩種情形中分支至步驟750,在步驟750中遞增驗證變量。在隨後步驟760中,將驗證變量添加至延遲變量,且常式在開始處繼續步驟405。最後,在步驟480與步驟405之間,於步驟740中將驗證變量再設定至0。
摒棄且將如此長地再次測量包含具有過載之一測量值的信號封包直至如圖8之流程圖中所展示達到最大數目K次過載重複為止。分別在步驟810及820中執行信號獲取及位準處理。在步驟830中判定一信號過載。若無過載發生,則如先前所闡述,常式繼續步驟420。若一過載發生,則常式分支至步驟840。若在K次重複內如由步驟840所判定獲取不到不過載之信號封包,則終止對其他信號封包之獲取,且在各別測量循環中將不發生其他評估,且常式分支至步驟475。否則,在步驟850中遞增過載重複變量,且常式返回至其開始步驟810中。
過載之信號封包將扭曲平均值形成,且將導致一錯誤結果。將過載情形中的重複限制至一數目K(通常1至4),以最小化在一嚴重干擾模式中的總電流消耗。
此外,可藉由判定是否在最後x次測量處由於干擾不可獲得結果而在一嚴重干擾環境中限制電流消耗。若此係真實的,則可存在一冗長干擾者,且重複測量之數目N-1可嚴重減小直至可得一有效測量為止。
根據各種其他實施例,代替兩個信號封包之間之一連續增加延遲Tv,可使用交替恆定延遲或可交替關斷延遲以反轉兩個信號封包之間之期望之信號的相位位置。
視情況,可增加濾波器長度使得代替對多個信號封包求平均值,求平均值在一封包中之多個信號週期上發生。所挑選濾波器長度取決於信號變化。
代替使用一固定數目以用於對N-1個信號封包之進一步獲取,可使用允許可變數目N個信號封包之一函數(f(信號變化)。
對於一預期狀態改變之驗證測量,可預定一成功驗證子集合u(u<m)以宣佈一驗證為有效。
根據各種實施例之感測器系統藉助所提出數位信號濾波器動態地適應於各別干擾環境且允許一未受擾模式中之一最小濾波器長度及因此小電流/電力消耗。在一受擾模式中,系統透過上文所述之濾波器設計關於諸多不同類型之干擾係強健的。

Claims (24)

  1. 一種用於測量感測器信號之方法,其包括:a)接收包括複數個經取樣感測器信號之一信號封包;b)自該等經取樣感測器信號判定一信號位準;c)判定該封包內之信號變化;d)比較該等所判定信號變化與一預定雜訊臨限值,且若該等變化低於該雜訊臨限值,則使用該信號封包以用於進一步處理,且若該等變化高於該雜訊臨限值,則對該信號位準求和並重複步驟a)至c)並判定已達到預定重複次數,且若如此,則對該經求和信號位準求平均值。
  2. 如請求項1之方法,其中若在步驟a)至c)之該重複期間,於步驟c)中判定一當前信號封包之該等信號變化低於該預定雜訊臨限值,則摒棄該經求和信號位準且使用該當前信號封包之信號位準。
  3. 如請求項1之方法,其中該重複次數係在1至256之間的預定次數。
  4. 如請求項1之方法,其中一信號封包包括與一所傳輸信號同步之一所接收信號的取樣。
  5. 如請求項4之方法,其中一信號封包包括一載波頻率之最大值區域及最小值區域中之取樣值。
  6. 如請求項1之方法,進一步包括藉由在隨後測量之間插入一延遲來延遲該等重複測量。
  7. 如請求項6之方法,其中該延遲隨每一重複而變化。
  8. 如請求項6之方法,其中該延遲隨每一重複而增加。
  9. 如請求項6之方法,其中該延遲隨每一重複而減少。
  10. 如請求項7之方法,其中在該等信號封包之該重複期間所有延遲的總延遲等於兩個隨後信號封包之間的時間。
  11. 如請求項1之方法,進一步包括驗證該測量。
  12. 如請求項11之方法,進一步包括延遲驗證測量之重複。
  13. 如請求項12之方法,進一步包括改變隨後驗證測量之間之該延遲。
  14. 如請求項11之方法,其中驗證該測量需要有效信號封包之一最小量之重複接收集合。
  15. 如請求項14之方法,其中可將已經求平均值之信號封包之該最小量集合設定為在1至256之間。
  16. 如請求項11之方法,其中比較該信號位準與一臨限位準以判定該感測器之一狀態。
  17. 如請求項16之方法,進一步包括驗證一感測器狀態是否改變之判定。
  18. 如請求項17之方法,其中驗證一感測器狀態改變之該判定需要當該感測器之當前狀態在一第一狀態中時具有低於該臨限位準之一經處理信號位準之一最小測量集合,或需要當該感測器之該當前狀態在一第二狀態中時具有高於該臨限位準之一經處理信號位準之一最小測量集合。
  19. 如請求項1之方法,進一步包括判定該信號位準是否過載或失真,且重複該測量高達預定次數以獲得一未失真信號位準。
  20. 一種用於測量感測器信號之方法,其包括:a)接收包括複數個經取樣感測器信號之一信號封包,其中該信號封包包括與一所傳輸信號同步之一所接收信號的取樣;b)自該等經取樣感測器信號判定一信號位準;c)判定該封包內之信號變化; d)比較該等所判定信號變化與一預定雜訊臨限值,且若該等變化低於該雜訊臨限值,則使用該信號封包以用於進一步處理,且若該等變化高於該雜訊臨限值,則對該信號位準求和並重複步驟a)至c)且判定已達到預定重複次數,且若如此,則對該經求和信號位準求平均值,其中若在步驟a)至c)之該重複期間在步驟c)中判定一當前信號封包之該等信號變化低於該預定雜訊臨限值,則摒棄該經求和信號位準且使用該當前信號封包之信號位準。
  21. 如請求項20之方法,進一步包括藉由在隨後測量之間插入一延遲來延遲該等重複測量。
  22. 如請求項21之方法,進一步包括驗證該測量,其中驗證該測量需要一最小量之接收有效信號封包。
  23. 如請求項22之方法,驗證感測器狀態改變之該判定需要當該感測器之當前狀態在一第一狀態中時具有低於該臨限位準之一經處理信號位準之一最小測量集合,或需要當該感測器之該當前狀態在一第二狀態中時具有高於該臨限位準之一經處理信號位準之一最小測量集合。
  24. 如請求項23之方法,進一步包括判定該信號位準是否過載或失真,且重複該測量高達預定次數以獲得一未失真信號位準。
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