JP2008004186A - 磁気ヘッドの試験方法 - Google Patents
磁気ヘッドの試験方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JP2008004186A JP2008004186A JP2006173461A JP2006173461A JP2008004186A JP 2008004186 A JP2008004186 A JP 2008004186A JP 2006173461 A JP2006173461 A JP 2006173461A JP 2006173461 A JP2006173461 A JP 2006173461A JP 2008004186 A JP2008004186 A JP 2008004186A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- magnetic head
- magnetic
- noise amount
- noise
- test method
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Withdrawn
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/12—Measuring magnetic properties of articles or specimens of solids or fluids
- G01R33/1207—Testing individual magnetic storage devices, e.g. records carriers or digital storage elements
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Recording Or Reproducing By Magnetic Means (AREA)
- Magnetic Heads (AREA)
Abstract
【課題】磁気媒体等の他の要因に左右されず、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することが可能な磁気ヘッドの試験方法を提供する。また、特に、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量が、間欠的に増減するといった不具合を簡単に抽出可能な磁気ヘッドの試験方法を提供する。
【解決手段】磁気情報の読み取りを行っていない状態で、磁気ヘッドHの読み取り素子の出力信号のノイズ量を複数回検出するノイズ量検出ステップと、該複数回検出した各ノイズ量の間の変動量が所定の閾値と比較する評価ステップとを含む。
【選択図】図1
【解決手段】磁気情報の読み取りを行っていない状態で、磁気ヘッドHの読み取り素子の出力信号のノイズ量を複数回検出するノイズ量検出ステップと、該複数回検出した各ノイズ量の間の変動量が所定の閾値と比較する評価ステップとを含む。
【選択図】図1
Description
本発明は、不良の磁気ヘッドを抽出するための磁気ヘッドの試験方法に関する。
磁気ディスク装置等の、磁気ヘッドにより磁気媒体に情報を書き込みおよび読み取り可能な磁気媒体装置において、磁気ヘッドの信頼性を担保するため、従来より、出荷前に磁気ヘッドの試験が行われている。
磁気ヘッドの試験を行うための、従来の磁気ヘッドの検査装置が、特許文献1に記載されている。特許文献1に記載されている通り、従来の磁気ヘッドの試験においては、磁気媒体に磁気ヘッドにより試験用データを記録するとともに、記録した試験データをその磁気ヘッドにより再生し、その再生信号に基づいて、磁気ヘッドの検査を行っている。
磁気ヘッドの試験を行うための、従来の磁気ヘッドの検査装置が、特許文献1に記載されている。特許文献1に記載されている通り、従来の磁気ヘッドの試験においては、磁気媒体に磁気ヘッドにより試験用データを記録するとともに、記録した試験データをその磁気ヘッドにより再生し、その再生信号に基づいて、磁気ヘッドの検査を行っている。
しかしながら、磁気ヘッドにより磁気媒体に対する記録および再生を行って、その再生信号に基づいてその磁気ヘッドの良/不良を評価する従来の磁気ヘッドの試験方法においては、再生信号が、磁気ヘッドの特性だけでなく、磁気媒体の特性や、磁気媒体と磁気ヘッドとの相互関係(例えば磁気ディスクに対する磁気ヘッドの浮上量など)にも影響を受ける。
したがって、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することが困難であるという課題がある。
したがって、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することが困難であるという課題がある。
特に、磁気ヘッドの読み取り素子において、外部的な要因によらずに、出力信号のノイズ量が間欠的に増減するといった不具合が発生する場合がある。このような不具合を持つ磁気ヘッドを試験により抽出する場合、出力信号のノイズ量が、一回でも所定の閾値を超えて増減したことを抽出したら、その磁気ヘッドを不良と評価することが望ましいが、従来の方法では、磁気媒体の影響によってノイズ量が増減した場合と、磁気ヘッドの不具合によってノイズ量が増減した場合とを判別することができないという課題がある。
本発明は上記課題を解決すべくなされ、その目的とするところは、磁気媒体等の他の要因に左右されず、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することが可能な磁気ヘッドの試験方法を提供することにある。また、特に、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量が、間欠的に増減するといった不具合を簡単に抽出可能な磁気ヘッドの試験方法を提供することにある。
本発明に係る磁気ヘッドの試験方法は、上記課題を解決するため、以下の構成を備える。
すなわち、磁気情報の読み取りを行っていない状態で、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量を複数回検出するノイズ量検出ステップと、該複数回検出した各ノイズ量の間の変動量を所定の閾値と比較する評価ステップとを含むことを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドを磁気情報の読み取りを行っていない状態として、読み取り素子のノイズ量を検出するから、磁気媒体等の他の要因に左右されずに、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することができる。また、複数回検出した各ノイズ量の間の変動量に基づいて磁気ヘッドを評価するから、読み取り素子のノイズ量が間欠的に増減する不具合も簡単に抽出できる。
すなわち、磁気情報の読み取りを行っていない状態で、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量を複数回検出するノイズ量検出ステップと、該複数回検出した各ノイズ量の間の変動量を所定の閾値と比較する評価ステップとを含むことを特徴とする。
これによれば、磁気ヘッドを磁気情報の読み取りを行っていない状態として、読み取り素子のノイズ量を検出するから、磁気媒体等の他の要因に左右されずに、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することができる。また、複数回検出した各ノイズ量の間の変動量に基づいて磁気ヘッドを評価するから、読み取り素子のノイズ量が間欠的に増減する不具合も簡単に抽出できる。
さらに、前記ノイズ量検出ステップは、前記出力信号のエンベロープ信号を求め、該エンベロープ信号の大きさを前記ノイズ量として検出することを特徴とする。
これによれば、ノイズ信号のピークが瞬間的に増減した場合を排除して、ノイズ量の間欠的な増減を好適に検出することができる。
これによれば、ノイズ信号のピークが瞬間的に増減した場合を排除して、ノイズ量の間欠的な増減を好適に検出することができる。
また、前記評価ステップは、前記複数回検出したノイズ量の、最大値と平均値または最小値との差に基づいて、前記変動量を求めることを特徴とする。
これによれば、前記出力信号のノイズ量が一回でも所定の閾値を超えて増減したことを抽出したら、その磁気ヘッドを不良と評価することができる。したがって、読み取り素子のノイズ量が間欠的に増減する不具合をより好適に抽出できる。
これによれば、前記出力信号のノイズ量が一回でも所定の閾値を超えて増減したことを抽出したら、その磁気ヘッドを不良と評価することができる。したがって、読み取り素子のノイズ量が間欠的に増減する不具合をより好適に抽出できる。
また、前記読み取り素子は、磁気抵抗効果素子であり、前記ノイズ量検出ステップは、前記磁気抵抗効果素子にバイアス電圧を印加した状態で行うことを特徴とする。
本発明に係る磁気ヘッドの試験方法によれば、磁気媒体等の他の要因に左右されず、純粋に磁気ヘッドの特性のみを評価することができる。また、特に、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量が、間欠的に増減するといった不具合を簡単に抽出できる。
以下、本発明に係る磁気ヘッドの試験方法を実施するための最良の形態を説明する。
本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法においては、垂直磁気記録方式の磁気ヘッドHの読み取り素子としての磁気抵抗効果素子であるTMR素子の、出力信号のノイズ量を試験して、磁気ヘッドHの良/不良を評価する。
図1は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法に用いる磁気ヘッドの試験装置Aの構成を示す説明図である。磁気ヘッドの試験装置Aは、バイアス電圧印加手段2と、増幅器4と、エンベロープ回路6と、制御部8とを備える。
図1は、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法に用いる磁気ヘッドの試験装置Aの構成を示す説明図である。磁気ヘッドの試験装置Aは、バイアス電圧印加手段2と、増幅器4と、エンベロープ回路6と、制御部8とを備える。
バイアス電圧印加手段2は、磁気媒体(磁気ディスク)の読み取りを行う際に印加されるのと同様のバイアス電圧を、磁気ヘッドHのTMR素子に印加する。
増幅器4は、磁気ヘッドHの外部端子を介して出力される、TMR素子の出力信号を増幅する。
エンベロープ回路6は、増幅器4で増幅された前記出力信号のエンベロープ信号を求める。
増幅器4は、磁気ヘッドHの外部端子を介して出力される、TMR素子の出力信号を増幅する。
エンベロープ回路6は、増幅器4で増幅された前記出力信号のエンベロープ信号を求める。
制御部8は、CPUやメモリ等を備えたコンピュータから成り、所定のソフトウェアプログラムを実行することで、ノイズ量検出手段8a、評価手段8b、および評価出力手段8cを実現する。これら各手段の構成については後述する。
次に、磁気ヘッドの試験装置Aを用いた、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法を説明する。
まず、磁気ヘッドHが組み込まれたサスペンションを、磁気ヘッドの試験装置Aにセットする。そして、サスペンションに設けられた配線回路および磁気ヘッドHの外部接続端子を介して、磁気ヘッドHのTMR素子に、バイアス電圧印加手段2および増幅器4を連繋する。
まず、磁気ヘッドHが組み込まれたサスペンションを、磁気ヘッドの試験装置Aにセットする。そして、サスペンションに設けられた配線回路および磁気ヘッドHの外部接続端子を介して、磁気ヘッドHのTMR素子に、バイアス電圧印加手段2および増幅器4を連繋する。
本磁気ヘッドの試験方法は、磁気ヘッドHを、磁気媒体から磁気情報の読み取りを行っていない状態で行う。
まず、バイアス電圧印加手段2により、磁気ヘッドHのTMR素子に、磁気媒体からの読み取りを行っているときと同様のバイアス電圧を印加する。これは、磁気ヘッドHを、磁気媒体からの読み取りを実際には行っていないことを除いて、磁気媒体からの読み取りを行っているときと同様の状態とするためである。
まず、バイアス電圧印加手段2により、磁気ヘッドHのTMR素子に、磁気媒体からの読み取りを行っているときと同様のバイアス電圧を印加する。これは、磁気ヘッドHを、磁気媒体からの読み取りを実際には行っていないことを除いて、磁気媒体からの読み取りを行っているときと同様の状態とするためである。
そして、TMR素子から出力される出力信号を増幅器4で増幅する。TMR素子は磁気媒体の読み取りをしていないので、このとき出力される出力信号は、TMR素子自体が発するノイズ信号である。
エンベロープ回路6は、増幅器4で増幅された出力信号のエンベロープ信号を求める。エンベロープ信号は、元の出力信号(すなわちTMR素子のノイズ信号)の波形のピーク値を結んだ信号であるから、TMR素子が発したノイズの大きさ(ノイズ量)の時系列の変動を表す信号となる。
エンベロープ回路6は、増幅器4で増幅された出力信号のエンベロープ信号を求める。エンベロープ信号は、元の出力信号(すなわちTMR素子のノイズ信号)の波形のピーク値を結んだ信号であるから、TMR素子が発したノイズの大きさ(ノイズ量)の時系列の変動を表す信号となる。
制御部8により実現されるノイズ量検出手段8aは、定期的に複数回、エンベロープ信号(すなわちノイズ量)を読み取り、その各値をメモリ記憶する(ノイズ量検出ステップ)。
評価手段8bは、メモリに記憶されたエンベロープ信号(ノイズ量)の値を読んで、その各値の間の変動量を、所定の閾値と比較し、閾値より大きい場合に、磁気ヘッドHを不良と評価する処理を行う(評価ステップ)。
特に、この評価ステップでは、前記各値が表すノイズ量の、最大値と平均値または最小値との差に基づいて、変動量を求めるよう構成すると好適である。例えば各ノイズ量の最大値と最小値との差、または、ノイズ量の最大値と平均値との差を、その磁気ヘッドHのノイズ量の変動量とすると良い。また、各ノイズ量の最大値と最小値との差を平均値で割った値を用いても良い。
前記最大値をmax、最小値をmin、平均値をaveで表した場合、本実施の形態の評価手段8bは、(max/ave − min/ave)の値が0.03未満の磁気ヘッドHを良品、0.03以上の磁気ヘッドHを不良品と評価するよう構成する。
前記最大値をmax、最小値をmin、平均値をaveで表した場合、本実施の形態の評価手段8bは、(max/ave − min/ave)の値が0.03未満の磁気ヘッドHを良品、0.03以上の磁気ヘッドHを不良品と評価するよう構成する。
本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法によれば、磁気媒体等の他の要因に左右されず、純粋に磁気ヘッドHの特性のみを評価することができる。
また、特に、磁気ヘッドHの読み取り素子(TMR素子)の出力信号のノイズ量が、間欠的に増減するといった不具合を簡単に抽出できる。それを裏付ける実験結果を図2および図3に示す。
読み取り素子(TMR素子)の出力信号のノイズ量が間欠的に増減する不具合を有する磁気ヘッドを用いて、磁気媒体の読み取りを行うと、読み取りエラーのエラーレートが間欠的に増減するという現象が生じる。図2は、複数の磁気ヘッドに関し、磁気媒体の連続した各セクタを連続して読み取った際に、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増加した回数(横軸)と、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法で不良と評価される確率(10回試験を行った際の不良と判定される回数の割合)(縦軸)との関係を示すグラフである。図3は、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増加した回数(横軸)と、従来の磁気媒体に対して記録および再生を行う試験方法で不良と評価される確率(10回試験を行った際の不良と判定される回数の割合)(縦軸)との関係を示すグラフである。図2のグラフと図3のグラフとを比較して分かるように、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法では、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増減する回数の多い磁気ヘッドを不良として有効に抽出できるが、従来の磁気ヘッドの試験方法では、エラーレートが急激に変化する現象との相関が見られず、エラーレートが急激に増減する磁気ヘッドを的確に評価できない。
読み取り素子(TMR素子)の出力信号のノイズ量が間欠的に増減する不具合を有する磁気ヘッドを用いて、磁気媒体の読み取りを行うと、読み取りエラーのエラーレートが間欠的に増減するという現象が生じる。図2は、複数の磁気ヘッドに関し、磁気媒体の連続した各セクタを連続して読み取った際に、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増加した回数(横軸)と、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法で不良と評価される確率(10回試験を行った際の不良と判定される回数の割合)(縦軸)との関係を示すグラフである。図3は、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増加した回数(横軸)と、従来の磁気媒体に対して記録および再生を行う試験方法で不良と評価される確率(10回試験を行った際の不良と判定される回数の割合)(縦軸)との関係を示すグラフである。図2のグラフと図3のグラフとを比較して分かるように、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法では、隣接するセクタ間でエラーレートが急激に増減する回数の多い磁気ヘッドを不良として有効に抽出できるが、従来の磁気ヘッドの試験方法では、エラーレートが急激に変化する現象との相関が見られず、エラーレートが急激に増減する磁気ヘッドを的確に評価できない。
すなわち、本実施の形態に係る磁気ヘッドの試験方法によれば、実際に磁気媒体への記録および再生を行うことなく簡単に、かつ磁気媒体の影響を排除して、磁気ヘッドのノイズ量やノイズ量の変動を評価することができる。
本実施の形態は、垂直磁気記録に用いられる、TMR素子を備えた磁気ヘッドの試験方法であるが、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、読み取り素子として、水平磁気記録に用いられる磁気抵抗効果素子であるGMR素子を備えた磁気ヘッドの試験方法に適用することもできる。なお、この場合、ノイズ量検出ステップを、GMR素子にセンス電流を印加した状態で行う。これは、磁気ヘッドを、磁気媒体からの読み取りを実際には行っていないことを除いて、磁気媒体からの読み取りを行っているときと同様の状態とするためである。
また、本発明は、磁気媒体としての磁気ディスクに対して記録および再生を行う磁気ヘッドの試験方法に限定されるものではなく、例えば磁気テープの記録および再生を行う磁気ヘッドに適用することもできる。
また、本発明は、磁気媒体としての磁気ディスクに対して記録および再生を行う磁気ヘッドの試験方法に限定されるものではなく、例えば磁気テープの記録および再生を行う磁気ヘッドに適用することもできる。
A 磁気ヘッドの試験装置
H 磁気ヘッド
2 バイアス電圧印加手段
4 増幅器
6 エンベロープ回路
8 制御部
8a ノイズ量検出手段
8b 評価手段
8c 評価出力手段
H 磁気ヘッド
2 バイアス電圧印加手段
4 増幅器
6 エンベロープ回路
8 制御部
8a ノイズ量検出手段
8b 評価手段
8c 評価出力手段
Claims (4)
- 磁気情報の読み取りを行っていない状態で、磁気ヘッドの読み取り素子の出力信号のノイズ量を複数回検出するノイズ量検出ステップと、
該複数回検出した各ノイズ量の間の変動量を所定の閾値と比較する評価ステップとを含むことを特徴とする磁気ヘッドの試験方法。 - 前記ノイズ量検出ステップは、前記出力信号のエンベロープ信号を求め、該エンベロープ信号の大きさを前記ノイズ量として検出することを特徴とする請求項1記載の磁気ヘッドの試験方法。
- 前記評価ステップは、前記複数回検出したノイズ量の、最大値と平均値または最小値との差に基づいて、前記変動量を求めることを特徴とする請求項1または2記載の磁気ヘッドの試験方法。
- 前記読み取り素子は、磁気抵抗効果素子であり、
前記ノイズ量検出ステップは、前記磁気抵抗効果素子にバイアス電圧を印加した状態で行うことを特徴とする請求項1〜3のうちのいずれか一項記載の磁気ヘッドの試験方法。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006173461A JP2008004186A (ja) | 2006-06-23 | 2006-06-23 | 磁気ヘッドの試験方法 |
US11/515,714 US7417423B2 (en) | 2006-06-23 | 2006-09-06 | Method of testing a magnetic head for eliminating defective magnetic heads |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2006173461A JP2008004186A (ja) | 2006-06-23 | 2006-06-23 | 磁気ヘッドの試験方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2008004186A true JP2008004186A (ja) | 2008-01-10 |
Family
ID=38872942
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2006173461A Withdrawn JP2008004186A (ja) | 2006-06-23 | 2006-06-23 | 磁気ヘッドの試験方法 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7417423B2 (ja) |
JP (1) | JP2008004186A (ja) |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8120353B2 (en) * | 2008-04-28 | 2012-02-21 | International Business Machines Corporation | Methods for detecting damage to magnetoresistive sensors |
CN102347031B (zh) | 2010-07-23 | 2015-11-25 | 新科实业有限公司 | 测量磁头噪声的方法及其系统 |
US8860407B2 (en) | 2012-03-30 | 2014-10-14 | Western Digital (Fremont), Llc | Method and system for performing on-wafer testing of heads |
US20130282338A1 (en) * | 2012-04-19 | 2013-10-24 | Microchip Technology Incorporated | Method and System for Energy Efficient Measurement of Sensor Signals |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US5134366A (en) * | 1991-06-21 | 1992-07-28 | Digital Equipment Corporation | Magnetic head testing apparatus for detecting occurrences of popcorn noise amid externally generated noise |
US5668477A (en) * | 1995-02-16 | 1997-09-16 | Read-Rite Corporation | Noise detecting apparatus for magnetic heads |
JP2773714B2 (ja) * | 1995-10-26 | 1998-07-09 | ティーディーケイ株式会社 | 磁気抵抗効果素子を有する磁気ヘッドの検査方法及び装置 |
US6538430B2 (en) * | 2001-08-23 | 2003-03-25 | International Business Machines Corporation | Screening test for transverse magnetic-field excited noise in giant magnetoresistive heads |
WO2003038458A1 (en) * | 2001-10-30 | 2003-05-08 | Seagate Technology Llc | Microwave noise testing circuit for a disc drive |
JP4002881B2 (ja) | 2003-12-05 | 2007-11-07 | 株式会社日立製作所 | 磁気記録媒体または磁気ヘッドの検査装置 |
US7248039B2 (en) * | 2004-08-27 | 2007-07-24 | Hitachi Global Storage Technologies Netherlands, B.V. | Disk pack swap process for evaluating magnetic recording performance |
-
2006
- 2006-06-23 JP JP2006173461A patent/JP2008004186A/ja not_active Withdrawn
- 2006-09-06 US US11/515,714 patent/US7417423B2/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US7417423B2 (en) | 2008-08-26 |
US20070296407A1 (en) | 2007-12-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US7529058B2 (en) | Track pitch examination method of storage apparatus, program, and storage apparatus | |
JP5698005B2 (ja) | ヘッド接触を検出するためのシステム及び方法 | |
JP2007272978A (ja) | 磁気記憶装置におけるヘッド浮上量測定装置 | |
US7062698B2 (en) | Method and apparatus to control head instability in a data storage system | |
KR100468770B1 (ko) | 하드디스크 드라이브의 오프트랙 리트라이 방법 | |
JP2000011305A (ja) | 磁気記憶装置のサーマルアスピリティ検出方法及びその回路 | |
JP2008004186A (ja) | 磁気ヘッドの試験方法 | |
US8970983B1 (en) | Disk storage apparatus and method for adjusting head disk interference sensor threshold | |
JP2008159205A (ja) | 記憶装置、記憶装置用ヘッドの異常検出方法、異常検出プログラム | |
JP5439064B2 (ja) | 複合磁気ヘッドの劣化検出方法および磁気ディスク検査装置 | |
JP2007004857A (ja) | トンネル磁気抵抗効果ヘッド素子を有する磁気ディスク装置 | |
JP3835155B2 (ja) | 磁気抵抗効果素子を有する磁気ヘッドの検査方法及び装置 | |
JP4335946B2 (ja) | 磁気記録再生装置 | |
US9792940B2 (en) | High sample rate dPES to improve contact detection signal to noise ratio | |
KR20080083523A (ko) | 기록매체의 디펙 검사 방법 및 이를 이용한 디스크드라이브 | |
KR101463951B1 (ko) | 디펙 검사 방법 및 이를 이용한 디스크 드라이브 | |
KR100690289B1 (ko) | 하드디스크 드라이브, 하드디스크 드라이브의 스크린 방법및 그 방법을 수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 | |
KR100564533B1 (ko) | 하드 디스크 드라이브의 서보 디펙트 검사방법 | |
JPH11120725A (ja) | ディスク突起欠陥検査装置 | |
JP2006244582A (ja) | 磁気ヘッド素子の試験方法、試験装置、及び試験プログラム | |
KR100672070B1 (ko) | 하드디스크 드라이브의 디펙트 검출방법 및 그 방법을수행하는 컴퓨터 프로그램을 기록한 기록매체 | |
KR100734292B1 (ko) | 하드디스크 드라이브의 헤드 검사 방법 및 이에 적합한하드디스크 드라이브 | |
JP2008090968A (ja) | 磁気ヘッドの検査方法 | |
JP2010040065A (ja) | 電磁変換特性評価回路、磁気記憶装置、評価装置および電磁変換特性評価方法 | |
JPH0249669B2 (ja) |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20090309 |
|
A761 | Written withdrawal of application |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A761 Effective date: 20090610 |