KR20150010738A - 센서 신호들의 에너지 효율 측정을 위한 방법 및 시스템 - Google Patents

센서 신호들의 에너지 효율 측정을 위한 방법 및 시스템 Download PDF

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KR20150010738A
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signal
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sensor
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KR20147032053A
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안드레아스 도르프너
클라우스 칼트너
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마이크로칩 테크놀로지 저머니 Ⅱ 게엠베하 운트 콤파니 카게
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Abstract

센서 신호들을 측정하기 위한 방법은: a) 복수의 샘플링된 센서 신호들을 포함하는 신호 패킷을 수신하는 단계; b) 상기 샘플링된 센서 신호들로부터 신호 레벨을 결정하는 단계; c) 상기 패킷 내의 신호 변화들을 결정하는 단계; 및 d) 상기 결정된 신호 변화들을 소정의 노이즈 문턱치와 비교하여, 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 미만이면, 추가 처리하는데 상기 신호 패킷을 사용하고, 그리고 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 이상이면, 상기 신호 레벨을 합계하고, 상기 단계 a) 내지 c)를 반복하고, 소정 반복 횟수에 도달했는지를 결정하고, 도달했다면 상기 합계된 신호 레벨을 평균하는 단계를 포함한다.

Description

센서 신호들의 에너지 효율 측정을 위한 방법 및 시스템{METHOD AND SYSTEM FOR ENERGY EFFICIENT MEASUREMENT OF SENSOR SIGNALS}
관련 출원의 상호 참조
본 출원은 2012년 4월 19일 출원된 미국 가출원 번호 61/635,508 호의 이익을 주장하며, 상기 미국 가출원은 그 전체가 본 출원에 통합된다.
기술 분야
본 개시는 센서 신호들의 에너지 효율 측정에 관한 것이며, 특히 노이즈에 노출되기 쉬운 센서 신호들 및 특히 용량형 센서 신호들의 에너지 효율 측정에 관한 것이다.
휴먼 디바이스 인터페이스들은 용량형 터치 감지 및/또는 용량형 근접 검출에 기초하는 터치 감지 및 제스처 검출 시스템들을 포함한다. 많은 시스템들에서 이 용량형 센서들 및 연관된 검출 회로는 항상 파워 온(power on)되는 것을 필요로 하며, 각각의 전력 소모는 종종 충전지들의 통상의 방전 전류들의 범위 내에서 최소로 유지된다. 다른 센서 기술들도 유사한 문제들에 직면한다.
임의의 센서 기반 기술에 있어서, 센서 신호들은 종종 환경의 영향들을 받기 쉬우며, 특히 노이즈 신호들은 엄밀한 의미의 센서 신호들에 겹쳐있다. 노이즈 소스들은 예를 들어, 연속 노이즈 소스들, 펄스 노이즈 소스들, 광대역 및 협대역 노이즈 소스들, 주파수-변조, 진폭-변조 및 위상-변조 노이즈 소스들, 가변 및/또는 고정 주파수 노이즈 소스들을 포함한다. 예를 들어 필터링을 통해, 실제 센서 신호를 추출하는 것은 문제가 될 수 있다. 이는 센서들이 모바일 디바이스 내에 구현되면 훨씬 더 어려울 수 있으며, 비효율적인 전력 소비를 일으킬 수 있는 부가적인 전력을 필요로 할 수 있다.
따라서, 센서 기반 시스템들에서, 특히 모바일 시스템들에서, 효율적인 데이터 획득의 필요성이 존재한다.
일 실시예에 따르면, 센서 신호들을 측정하기 위한 방법은: a) 복수의 샘플링된 센서 신호들을 포함하는 신호 패킷을 수신하는 단계; b) 상기 샘플링된 센서 신호들로부터 신호 레벨을 결정하는 단계; c) 상기 패킷 내의 신호 변화들을 결정하는 단계; 및 d) 상기 결정된 신호 변화들을 소정의 노이즈 문턱치와 비교하여, 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 미만이면, 추가 처리하는데 상기 신호 패킷을 사용하고, 그리고 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 이상이면, 상기 신호 레벨을 합계하고, 상기 단계 a) 내지 c)를 반복하고, 소정 반복 횟수에 도달했는지를 결정하고, 도달했다면 상기 합계된 신호 레벨을 평균하는 단계를 포함할 수 있다.
추가 실시예에 따르면, 상기 단계 a) 내지 c)의 반복 동안에 단계 c)에서 현재 신호 패킷(current signal packet)의 상기 신호 변화들이 상기 소정의 노이즈 문턱치 미만이라고 결정되면, 상기 합계된 신호 레벨을 버리고 상기 현재 신호 패킷의 신호 레벨을 사용한다. 추가 실시예에 따르면, 상기 반복 횟수는 1과 256 사이의 소정 횟수일 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 신호 패킷은 송신 신호와 동기한 수신 신호의 샘플링을 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 신호 패킷은 캐리어의 최대 피크 값 및 최소 피크 값의 샘플링을 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 이후의 측정들 사이에 지연을 삽입함으로써 상기 반복 측정들을 지연시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 지연은 매 반복마다 서로 다를 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 지연은 매 반복마다 증가할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 지연은 매 반복마다 감소할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 신호 패킷들의 반복 동안의 모든 지연들의 총 지연 시간은 이후의 두 신호 패킷들 사이의 시간과 동일할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 측정을 밸리데이션(validation)하는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 측정을 밸리데이션하는 단계는 유효 신호 패킷들의 반복 수신 세트들의 최소량을 필요로 할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 이미 평균화된 신호 패키지들의 상기 세트들의 최소량은 1과 256 사이로 설정될 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 신호 레벨은 상기 센서의 상태를 결정하기 위해 문턱치 레벨과 비교된다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 센서 상태가 변화하는지의 상기 결정을 밸리데이션하는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 센서 상태 변화의 결정을 밸리데이션하는 단계는, 상기 센서의 현재 상태(current state)가 "온(ON)"인 동안 상기 문턱치 레벨 미만으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 할 수 있거나, 아니면 상기 센서의 현재 상태가 "오프(OFF)"인 동안 상기 문턱치 레벨 이상으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 밸리데이션 측정들의 반복을 지연시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 이후의 밸리데이션 측정들 사이의 지연을 변경하는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 신호 레벨이 오버로드되는지 또는 왜곡되는지를 결정하고, 그리고 왜곡되지 않은 신호 레벨을 얻고 전류 소비를 제한하기 위해 상기 측정을 소정 횟수까지 반복하는 단계를 더 포함할 수 있다.
또 하나의 실시예에 따르면, 센서 신호들을 측정하기 위한 방법은: a) 복수의 샘플링된 센서 신호들을 포함하는 신호 패킷을 수신하는 단계, - 상기 신호 패킷은 송신 신호와 동기한 수신 신호의 샘플링을 포함함 -; b) 상기 샘플링된 센서 신호들로부터 신호 레벨을 결정하는 단계; c) 상기 패킷 내의 신호 변화들을 결정하는 단계; 및 d) 상기 결정된 신호 변화들을 소정의 노이즈 문턱치와 비교하여, 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 미만이면, 추가 처리하는데 상기 신호 패킷을 사용하고, 그리고 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 이상이면, 상기 신호 레벨을 합계하고, 상기 단계 a) 내지 c)를 반복하고, 소정 반복 횟수에 도달했는지를 결정하고, 도달했다면 상기 합계된 신호 레벨을 평균하는 단계 - 여기서, 상기 단계 a) 내지 c)의 반복 동안에 단계 c)에서 현재 신호 패킷의 상기 신호 변화들이 상기 소정의 노이즈 문턱치 미만이라고 결정되면, 상기 합계된 신호 레벨을 버리고 상기 현재 신호 패킷의 신호 레벨을 사용함 - 를 포함할 수 있다.
상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 이후의 측정들 사이에 지연을 삽입함으로써 상기 반복 측정들을 지연시키는 단계를 더 포함할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 측정을 밸리데이션하는 단계를 더 포함할 수 있으며, 여기서 상기 측정을 밸리데이션하는 단계는 유효 신호 패킷들의 최소량의 수신을 필요로 한다. 추가 실시예에 따르면, 센서 상태 변화의 상기 결정을 밸리데이션하는 단계는, 상기 센서의 현재 상태가 "온(ON)"인 동안 상기 문턱치 레벨 미만으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 할 수 있거나, 아니면 상기 센서의 현재 상태가 "오프(OFF)"인 동안 상기 문턱치 레벨 이상으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 할 수 있다. 상기 방법의 추가 실시예에 따르면, 상기 방법은 상기 신호 레벨이 오버로드되는지 또는 왜곡되는지를 결정하고, 그리고 왜곡되지 않은 신호 레벨을 얻기 위해 상기 측정을 소정 횟수까지 반복하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명에 따라서, 센서 기반 시스템들에서, 특히 모바일 시스템들에서, 효율적인 데이터 획득을 위한 방법이 제공된다.
도 1은 교란 없는 신호 및 중첩된 노이즈를 갖는 신호의 측정 패킷의 샘플 값들을 도시하는 도면이다.
도 2는 강한 간섭이 있을 때 패킷들의 반복 측정들을 도시하는 도면이다.
도 3은 종래의 센서 처리 방법의 흐름도를 도시한 도면이다.
도 4는 일 실시예에 따른 향상된 방법의 흐름도를 도시한 도면이다.
도 5는 주파수 및 시간 도메인에서의 간섭 주파수 억제를 위한 원리를 도시한 도면이다.
도 6은 일 실시예에 따른 향상된 방법의 또 하나의 흐름도를 도시한 도면이다.
도 7은 집적된 밸리데이션(validation) 측정을 포함하는 흐름도를 도시한 도면이다.
도 8은 오버로드를 처리하기 위한 흐름도를 도시한 도면이다.
도 9는 3차원 제스처들을 검출하기 위한 예시적인 센서 시스템을 도시한 도면이다.
다양한 실시예들에 따르면, 특히 센서 신호들을 수신하는 시스템에서, 동기식 샘플링된 측정 값들에 대한 평균 형성 프로세스가 적응 가능하다. 이러한 시스템은 예를 들어 터치 감지 시스템일 수 있거나, 또는 특히 근접 검출을 사용하고 물리적 터치를 반드시 필요로 하는 것은 아닌 제스처 검출 시스템일 수 있다. 예를 들어 저주파 전기장은 저주파 신호, 예를 들어 100 kHz AC 또는 구형파 신호가 제공되는 전극 판을 이용하여 발생될 수 있다. 또한, 전극 판들은 전기장에 진입하는 오브젝트에 의해 발생된 교란들을 검출하는데 사용될 수 있다. 상기 수신된 신호들은 전처리될 수 있고, 또한 신호들은 추가 처리를 위해 패킷들로 만들어질 수 있다.
다양한 실시예들에 따르면, 일반적으로, 적은 수의 희망 신호 주기들을 포함하는 패킷이 측정되고 평균화되며, 여기서 바람직하게는 각각의 희망 신호 주기 동안에 샘플링 인스턴트는 송신기 신호에 동기화되도록 설정되어, 포지티브 반파의 최대치를 얻고 네거티브 반파의 최소치가 측정된다. 다양한 실시예들에 따르면, 측정된 패킷이 간섭받으면 받을수록 더 많은 패킷들이 측정되고 평균화된다. 게다가, 패킷의 간섭의 평가는 포지티브 및 네거티브 반파의 샘플 값들 각각의 산란 평가를 통해 수행될 수 있다. 각각의 보다 큰 편차 또는 분산 또는 표준 편차는 노이즈에 대한 지표를 얻기 위한 평가에 사용될 수 있다.
패킷의 샘플 값이 왜곡되거나 오버로드되는 경우, 상기 패킷은 버려지고 다시 측정될 것이다. 다수의 패킷들이 버려지면, 이는 강한 노이즈 또는 간섭의 지표일 것이고 그리고 측정된 패킷들의 수는 다양한 실시예들에 따라 전력 소비를 제한하도록 한정될 것이다.
단지 작은 교란이 존재하거나 노이즈가 거의 없다면, 단일 패킷은 의미있는 측정 결과를 위해 이미 충분하고 전류 소비는 최소가 될 것이다. 노이즈/간섭이 증가함에 따라서 전류 소비가 증가할 것이고, 여기서는 다수의 패킷들이 측정되고 평균화될 필요가 있다. 이는 다양한 실시예들에 따른 에너지 효율 측정 방법이 생기게 할 것이다.
추가적인 장점은 간섭의 연속 소스와 간섭의 펄스 소스들을 구별하기 위하여 더 단순한 코드가 되게 할 필요가 없다는 점에 있다. 펄스 간섭원의 경우, 패킷이 간섭 없이 시간 주기 내에서 측정되면, 결과 측정치는 추가 패킷들을 측정하고 평균화할 필요없이 즉시 사용될 수 있다. 상기 측정을 반복하는 것은, 간섭 있는 시간 주기가 상기 측정에 아마도 부정적인 영향을 미칠 수 있으므로 실제로 이롭지 않을 것이다.
도 1의 상단은 교란 없는 신호의 측정 패킷의 샘플 값들을 도시하고, 도 1의 하단은 중첩된 노이즈를 갖는 신호의 측정 패킷의 샘플 값들을 도시한다. 도시된 예에서는 패킷 내에서 4개의 신호 주기들이 측정된다. 도 1에 도시된 바와 같이, 각각의 샘플 포인트는 각각의 최대치 또는 최소치에서 획득된다. 상단 곡선에 도시된 예에서, 각각의 4개의 연속 최대치들 및 최소치들은 동일하다. 하단 곡선에 도시된 바와 같이, 노이즈가 부가될 때, 최대치들 및 최소치들의 샘플 포인트들은 각각 표시된 변화 범위들 내에서 변한다.
도 2는 강한 간섭이 있을 때 패킷들의 반복 측정들을 도시한다. 도 2의 상단 곡선은 간섭 또는 노이즈를 보여주지만, 하단 곡선은 신호 패킷들을 도시한다. 패킷 측정들의 빠른 반복을 통해, 간섭/노이즈가 없거나 매우 적은 시간 주기가 발견된다. 이 예에서는 유효 결과가 얻어질 때까지 5개 패킷들이 측정되었다. 도 2에 도시된 바와 같이, 처음 4개의 패킷들은 강한 간섭 신호를 포함하지만, 제 5 신호에는 간섭이 없다.
도 3은 센서 처리에 대한 흐름도를 도시하며, 여기서 상기 측정된 신호는 종래 방법에 따라 실제 센서 상태를 결정하기 위해 문턱치와 비교된다. 단계(310)는 동기 샘플 포인트들을 포함하는 신호 패킷이 획득되는 신호 획득을 나타낸다. 다음의 단계(320)에서는 신호 레벨이 처리된다. 단계(330)에서는 신호 레벨이 소정 문턱치를 초과하는지의 여부가 체크된다. 소정 문턱치를 초과하면, 단계(340)에서 센서의 현재 상태(current state)가 결정된다. 상태가 "오프(OFF)"이면, 단계(360)에서 루틴은 상태를 "온(ON)"으로 스위칭하고, 그렇지 않으면 이 단계는 생략된다. 유사하게, 단계(330)에서 '아니오'이면, 현재 센서 상태는 단계(350)에서 체크되고, 이 센서 상태가 "온"이면 상태는 단계(370)에서 "오프"로 변경되고, 그렇지 않으면 단계(370)는 생략된다. 루틴은 슬립(sleep) 모드가 활성화되는 단계(380)를 계속한다. 상기 슬립 모드는 단계(390)에서 비활성화될 수 있으며, 루틴은 단계(310)로 귀환하여 다음의 신호 패킷을 수신한다.
도 3에 따르면, 개선된 방법의 목적은 빠른 응답 시간을 얻는 것이고 그리고 매우 적은 전력을 이용하는 것이다. 개선된 방법은 또한 위에 논의한 바와 같은 다양한 다른 간섭원들을 취급할 수 있어야 한다. 일반적으로, 좋은 필터 결과들을 생성하기 위해 긴 시상수를 갖도록 필터가 설계될 수 있다. 그러나, 긴 시상수들은 긴 반응 시간들을 필요로 하여 많은 전력을 필요로 할 것이다. 따라서, 각각의 상황들에서 전력 요구 사항들을 줄이기 위해 각각의 간섭원에 적합한, 다양한 실시예들에 따른 적응가능 해결책이 제안된다.
종래의 시스템들은 동기식 복조를 이용하고, 여기서 상기 수신된 신호는 송신된 신호와 동기하여 샘플링된다. 특히, 위에 언급되고 도 9에 도시된 바와 같은 E-필드를 이용하는 센서 시스템에서, 송신기 전극 Tx(930)이 사용되며, 이 송신기 전극 Tx(930)으로 예를 들어 100kHz 캐리어 신호가 신호 발생기(950)에 의해 제공된다. 신호 발생기(950)는 예를 들어 구형파 신호를 생성하는 마이크로컨트롤러 포트일 수 있다. 또한, 신호 발생기는 정현파 신호를 생성하는 발진기일 수 있다. 정현파 신호들은 또한 상기 언급된 구형파 신호와 같은 다른 신호들의 각각의 필터링을 통해 얻어질 수 있다. 따라서, 평가 디바이스(960)를 통한 샘플링은 상기 송신된 신호와 동기화되어, 예를 들어 각각의 전기장 신호의 최대치들 및 최소치들을 측정할 수 있다. 이를 위해, 평가 디바이스(960)는 또한 신호 발생기(950)로부터 상기 생성된 송신 신호를 수신한다. 순수 디지털 회로에서, 동기화는 소프트웨어에 의해 또는 각각의 제어 레지스터들을 통해 수행될 수 있다. 다수의 수신 전극들이 구현될 수 있으며, 이 센서들로부터 수신된 신호들은 이후 평가 디바이스(960)에 의해 추가로 평가된다. 예를 들어 도 9에 도시된 바와 같이, 증폭기(905)와 결합되는 제 1 수신 전극 Rx1(900)이 제공될 수 있다. 모든 전극들은 예를 들어 각각 구리 평면을 에칭함으로써 인쇄 회로 기판에 형성된 단순한 전극 판들일 수 있다. 추가 전극들 Rx2 및 Rx3(910 및 920) 그리고 연관된 증폭기들(915 및 925)이 제공될 수 있다. 상기 전극들은 도 9에 도시된 바와 같은 특정 형상으로 한정되지 않는다. 다른 형상들 및 전극들의 수가 각각의 시스템에 따라 적용될 수 있다. 최종적으로, 송신기 전극(930)을 둘러싸는 실드(shield) 전극(940)이 제공될 수 있으며, 이 실드 전극에는 바람직하게 인버터(955)를 통해 반전된 송신 신호가 제공될 수 있다. 본 출원은 도 9에 도시된 시스템으로 한정되지 않으며, 오히려 임의의 다른 센서 시스템들이 사용될 수도 있다.
더 많은 신호 주기들이 기록될수록 필터 효과는 더 좋다. 이러한 방법은, 광범위한 간섭원들과 함께 동작할 수 있는 캐리어 주파수에 가까운 주파수들을 필터링하여 걸러내기 위해 동기화 샘플링의 많은 주기들을 사용해야 한다. 이것은, 예를 들어 제스처 검출 시스템들에서 근접 검출을 사용하는 E-필드 측정 시스템들에서처럼 일반적으로, 예를 들어 100kHz의 전형적인 캐리어 주파수가 사용되면, 반응 시간들은 쉽게 1초보다 커질 수 있음을 의미한다. 그러나 이것은 특히 기본 동작 요소들이 온/오프 스위치들과 같은 그러한 센서들에 의해 구현되는 경우에는 사용자에게 허용될 수 없다.
다양한 실시예들에 따르면, 실제 존재하는 잡음/간섭의 레벨이 결정되고, 평균 형성을 위한 필터 길이의 적합화가 간섭/노이즈 소스들의 영향을 최소화하도록 수행된다. 이를 위해, 전형적으로 몇몇 신호 주기들을 갖는, 예를 들어 2 내지 256 주기들을 갖는 신호 패킷들이 평균화에 사용된다. 이 패킷들은 동기적으로 복조된다. 몇몇 주기들 내의 샘플링 값들의 변화가 소정 노이즈 소스보다 크지 않다면, 센서 시스템이 노이즈/간섭원의 영향 아래에 있지 않고 그리고 신호 레벨이 도 1에 도시된 바와 같이 상기 몇몇 신호 주기들의 평균으로부터 형성된다고 가정된다. 샘플링 값들의 변화가 시스템 노이즈보다 크면, 시스템이 노이즈/간섭원의 영향 아래에 있고 그리고 N-1 추가 신호 패킷들이 결정된다고 가정된다.
도 4는 다양한 실시예들에 따른 향상된 방법의 연관된 흐름도를 도시한다. 단계들(400 내지 445)은 들어오는 신호 패킷들의 처리를 보여준다. 모든 신호 레벨들은 합계되고(Sum), N-1 추가 신호 패킷들의 획득 이후에, 상기 합계는 총 신호 패킷들의 수(N)로 나누어진다. 전형적으로, N은 2 내지 256회 반복들의 범위에 있을 수 있다. 이 부가적인 방법 단계들에 의해, 필터 길이는 확대되며, 평균 신호 레벨들의 변화는 감소된다. 연속적인 간섭이 측정에 영향을 미치면, N개의 신호 패킷들의 전체가 수신될 것이다. 단계(420)에서는 단계(405) 내지 단계(415)를 통해 얻어진 계산된 신호 변화에 노이즈 소스가 존재하는지의 여부가 결정된다. 노이즈 소스가 존재하면, 루틴은 단계(425)로 분기하며, 단계(425)에서 신호들이 합계된다. 단계(435)에서는 반복 횟수가 체크되고 단계(400)에서 증분된다. 반복이 충분히 수행되었다면, 루틴은 단계(445)로 분기하며, 단계(445)에서는 계산된 합계를 반복 횟수로 나눔으로써 신호 레벨이 결정된다. 이후 루틴은 단계(430) 및 단계(440)로 계속되며, 이 단계들에서 합계 및 반복 변수들이 리셋된다. 단계(450)에서는 계산된 신호 레벨이 체크된다. 다음의 단계(455) 내지 단계(480)는 도 3의 단계(340) 내지 단계(390)와 대응한다. 이 단계들(455 내지 480)은 또한 등가 결정 단계들로 대체될 수 있다. 이 단계들에서 나타낸 바와 같은 센서 상태의 변화는 단지 하나의 가능한 실시예일 뿐이다. 평가된 신호들의 기능을 결정하는 각각의 플래그들 또는 레지스터 값들을 설정하기 위한 많은 등가 루틴들이 존재한다.
펄스 간섭원의 경우, 펄스 간섭원이 모든 데이터 획득 동안 활성이면, 최대 N개의 신호 패킷들이 수신될 수 있다. 노이즈 펄스가 보다 짧다면, 예를 들어 도 2에 제 5 패킷으로 도시한 바와 같이, 신호 패킷이 간섭 영향을 받지 않을 때까지 n개의 신호 패킷들(n≤N)이 수신된다. 이전에 수신된 신호 레벨들의 합계는 버려지고, 단일 신호 패킷만이 추가의 문턱치 레벨 비교에 사용될 것이다. 소거 조건을 사용하여 전류 소비와 시스템 반응 시간을 감소시킬 수 있다.
게다가, 간섭 주파수들에 대한 간섭 주파수 억제가 구현될 수 있으며, 여기서 캐리어 주파수까지의 주파수 거리 fa는 도 5에 도시된 바와 같이 두 신호 패킷들의 획득 사이의 간격 주파수 fp와 동일하거나 배수일 수 있다. 도 5에서 상단 그래프는 캐리어와 두 간섭원들의 주파수들을 나타낸다. 도 5의 하부에서 도시한 바와 같이, 포락선 변조가 fa = ｜F캐리어 - f간섭원｜의 주파수를 써서 F캐리어와 f간섭원의 샘플링된 합계 신호에서 이루어진다. 신호 값들이 획득 이후에 처리되어야 하기 때문에, 항상 각 반복마다 동일한 시간 거리 TP가 발생된다. 전형적인 TP 값들은 1kHz 내지 10kHz의 간격 주파수에 대응하는 100μs와 1ms 사이이다. fa가 주파수 fp에 가깝거나 그 배수이도록, 간섭 신호가 원하는 주파수까지의 주파수 거리를 갖는다면, 샘플링은 항상 포락선의 동일한 위상 위치에서 발생하기 때문에, 간섭 신호는 다수의 신호 패킷들에서 얻는 것을 통해서는 아무런 필터 효과도 일으키지 않을 것이다. 그러나, 두 신호 패킷들 사이의 시간이 변경되면, 신호 획득 시간의 위상 위치는 포락선의 위상 위치에 대하여 변화할 것이다. 각각의 흐름도가 도 6에 도시되었다. 유사한 단계들은 동일한 참조 부호들로 나타낸다. 전형적으로 두 신호 패킷들 사이의 시간의 변화는 단계(610)에서 지연 Tv를 삽입함으로써 실현될 수 있는데, 상기 지연은 각 반복에 따라 증가하여 각 단일 반복에서 위상 위치를 추가로 변경한다. 대안적으로, 상기 지연은 임의로 변경될 수 있다. 바람직하게는, N-1 신호 패킷들의 반복 동안 모든 지연들의 총계 Tg는 시간 TP와 동일하여서, 신호 패킷들이 시간 주기에 걸쳐 동일하게 분배되도록 지연되는 것이 바람직하다.
다양한 실시예들에 따른 또 다른 특징은 간섭원들의 억제이며, 이 간섭원들의 주파수는 도 7의 흐름도에 도시된 바와 같이 캐리어 주파수에 가깝다. 다시, 동일한 참조 부호들은 도 4 및 도 6의 동일 단계들에 대응한다. 간섭원 인식 및 필터 연장을 위한 개시된 상기 방법들은 그 주파수가 캐리어 주파수에 가까운 간섭원들과 효과적이지 않을 것이다. 그 이유는 이러한 간섭원들이 단지 신호 패킷의 몇몇 신호 주기들 내에서 측정된 신호에 작은 변화만을 발생시키기 때문이다. 그러므로, 어떠한 반복 측정들도 도입되지 않으며, 간섭원은 캐리어 신호로부터 필터링되지 않을 것이다. 이러한 이유로, 측정 시퀀스는 각각의 예상 센서 상태 변화에서 m번 반복되고(밸리데이션(validation) 측정), 또한 위상 위치 변화를 위한 가변 지연 요소가 통합될 것이다. 밸리데이션 측정들을 위한 전형적인 m 값들은 1 내지 16이다. 밸리데이션 측정들에 대해서는 N-1 반복들의 최대 필터 길이가 사용된다. 게다가, 그것이 밸리데이션 측정인지의 여부가 결정될 것이다. 이를 위해, 도 7에 따른 흐름도는, 단계들(420 및 430) 사이에 삽입된 부가 단계(710)를 보여준다. 이 단계(710)에서는 밸리데이션이 0보다 큰 지의 여부가 체크된다. 어떠한 밸리데이션도 필요치 않으면, 루틴은 단계(430)로 계속되며, 그렇지 않으면 단계(425)로 분기한다. 단계들(460 및 470) 사이뿐만 아니라 단계들(455 및 465) 사이에서도 밸리데이션 변수에 관한 동일한 체크가 삽입된다. 밸리데이션 변수가 m 밸리데이션들의 소정 수보다 작다면, 루틴은 두 경우들 모두에서 단계(750)로 분기하고, 이 단계(750)에서 밸리데이션 변수는 증분된다. 다음 단계(760)에서, 밸리데이션 변수는 지연 변수에 더해지고, 루틴은 단계(405)의 시작으로 계속된다. 마지막으로, 단계(480)와 단계(405) 사이에서, 밸리데이션 변수는 단계(740)에서 0으로 리셋된다.
오버로드를 갖는 측정 값(a measurement value with overload)을 포함하는 신호 패킷들은 버려지고, 그리고 도 8의 흐름도에 도시된 바와 같이 K 오버로드 반복들의 최대 수에 도달할 때까지 신호 패킷들은 매우 오랫동안 다시 측정될 것이다. 신호 획득 및 레벨 처리가 단계들(810 및 820)에서 각각 수행된다. 신호 오버로드는 단계(830)에서 결정된다. 어떠한 오버로드도 발생하지 않으면, 루틴은 앞서 설명한 바와 같은 단계(420)로 계속된다. 오버로드가 발생했다면, 루틴은 단계(840)로 분기한다. 단계(840)에 의해 결정되는 K 반복들 내에서 오버로드되지 않은 신호 패킷도 획득되지 않으면, 추가 신호 패킷들의 획득은 종료되고, 각각의 측정 사이클에서 어떠한 추가 평가도 일어나지 않을 것이고, 그리고 루틴은 단계(475)로 분기한다. 그렇지 않으면, 오버로드 반복 변수는 단계(850)에서 증분되며, 루틴은 단계(810)의 그 시작으로 귀환한다.
오버로드되는 신호 패킷들은 평균 형성을 위조하여 잘못된 결과를 초래할 것이다. 오버로드 경우의 반복들은 K 횟수(전형적으로 1 내지 4회)로 제한되어, 크게 간섭되는 모드에서의 총 전류 소비를 최소화한다.
게다가, 전류 소비는, 심하게 간섭되는 환경에서는 마지막 x 측정들에서 간섭 때문에 어떠한 결과도 얻을 수 없는지의 여부를 결정하여 제한될 수 있다. 이것이 사실이라면, 장기적인 간섭원이 존재할 수 있고 그리고 반복 측정들의 수(N-1)는 유효 측정이 가능할 때까지 크게 감소될 수 있다.
다양한 추가 실시예들에 따르면, 두 신호 패킷들 사이의 지속적으로 증가하는 지연 TV 대신에, 교호하는(alternating) 일정 지연들이 사용될 수 있거나 또는 지연은 두 신호 패킷들 사이의 소망 신호의 위상 위치를 반전시키기 위해 교호하여 턴 오프될 수 있다.
옵션으로, 필터 길이는, 다수의 신호 패킷들을 평균화하는 대신, 패킷의 다수의 신호 주기들에 걸쳐 평균화가 일어나도록, 증가할 수 있다. 선택된 필터 길이는 신호 변화들에 의존한다.
N-1 신호 패킷들의 추가 획득을 위한 고정된 수의 사용 대신, N 신호 패킷들의 변수를 허용하는 함수 f(신호 변화)가 사용될 수 있다.
예상되는 상태 변화의 밸리데이션 측정들에 대해서는, 성공적인 밸리데이션의 서브세트 u(u < m)가 밸리데이션이 유효하다고 선언하기 위해 미리 결정될 수 있다.
제안된 디지털 신호 필터를 갖는 다양한 실시예들에 따른 센서 시스템은 각각의 간섭 환경에 동적으로 적응되고, 최소의 필터 길이를 가능하게 하므로, 교란 없는 모드에서 적은 전류/전력이 소비될 것이다. 교란 있는 모드에서는, 상기 시스템은 상기 언급된 필터 설계들의 많은 서로 다른 유형의 간섭들에 대해 강건하다.

Claims (24)

  1. 센서 신호들을 측정하기 위한 방법으로서,
    a) 복수의 샘플링된 센서 신호들을 포함하는 신호 패킷을 수신하는 단계;
    b) 상기 샘플링된 센서 신호들로부터 신호 레벨을 결정하는 단계;
    c) 상기 패킷 내의 신호 변화들을 결정하는 단계; 및
    d) 상기 결정된 신호 변화들을 소정의 노이즈 문턱치와 비교하여, 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 미만이면, 추가 처리하는데 상기 신호 패킷을 사용하고, 그리고 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 이상이면, 상기 신호 레벨을 합계하고, 상기 단계 a) 내지 c)를 반복하고, 소정 반복 횟수에 도달했는지를 결정하고, 도달했다면 상기 합계된 신호 레벨을 평균하는 단계를 포함하는, 센서 신호 측정 방법.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 단계 a) 내지 c)의 반복 동안에 단계 c)에서 현재 신호 패킷(current signal packet)의 상기 신호 변화들이 상기 소정의 노이즈 문턱치 미만이라고 결정되면, 상기 합계된 신호 레벨을 버리고 상기 현재 신호 패킷의 신호 레벨을 사용하는 센서 신호 측정 방법.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 반복 횟수는 1과 256 사이의 소정 횟수인, 센서 신호 측정 방법.
  4. 제 1 항에 있어서,
    신호 패킷은 송신 신호와 동기한 수신 신호의 샘플링을 포함하는, 센서 신호 측정 방법.
  5. 제 4 항에 있어서,
    신호 패킷은 캐리어 주파수의 최대 영역 및 최소 영역 내의 샘플링 값들을 포함하는, 센서 신호 측정 방법.
  6. 제 1 항에 있어서,
    이후의 측정들 사이에 지연을 삽입함으로써 상기 반복 측정들을 지연시키는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 지연은 매 반복마다 서로 다른, 센서 신호 측정 방법.
  8. 제 6 항에 있어서,
    상기 지연은 매 반복마다 증가하는, 센서 신호 측정 방법.
  9. 제 6 항에 있어서,
    상기 지연은 매 반복마다 감소하는, 센서 신호 측정 방법.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 신호 패킷들의 반복 동안의 모든 지연들의 총 지연 시간은 이후의 두 신호 패킷들 사이의 시간과 동일한, 센서 신호 측정 방법.
  11. 제 1 항에 있어서,
    상기 측정을 밸리데이션(validation)하는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  12. 제 11 항에 있어서,
    상기 밸리데이션 측정들의 반복을 지연시키는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  13. 제 12 항에 있어서,
    이후의 밸리데이션 측정들 사이의 상기 지연을 변화시키는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  14. 제 11 항에 있어서,
    상기 측정을 밸리데이션하는 단계는 유효 신호 패킷들의 반복 수신 세트들의 최소량을 필요로 하는, 센서 신호 측정 방법.
  15. 제 14 항에 있어서,
    이미 평균화된 신호 패키지들의 상기 세트들의 최소량은 1과 256 사이로 설정될 수 있는, 센서 신호 측정 방법.
  16. 제 11 항에 있어서,
    상기 신호 레벨은 상기 센서의 상태를 결정하기 위해 문턱치 레벨과 비교되는, 센서 신호 측정 방법.
  17. 제 16 항에 있어서,
    센서 상태가 변화하는지의 상기 결정을 밸리데이션하는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 센서 상태 변화의 결정을 밸리데이션하는 단계는, 상기 센서의 현재 상태(current state)가 제 1 상태에 있는 동안 상기 문턱치 레벨 미만으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 하거나, 아니면 상기 센서의 현재 상태가 제 2 상태에 있는 동안 상기 문턱치 레벨 이상으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 하는, 센서 신호 측정 방법.
  19. 제 1 항에 있어서,
    상기 신호 레벨이 오버로드되는지 또는 왜곡되는지를 결정하고, 그리고 왜곡되지 않은 신호 레벨을 얻기 위해 상기 측정을 소정 횟수까지 반복하는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  20. 센서 신호들을 측정하기 위한 방법으로서,
    a) 복수의 샘플링된 센서 신호들을 포함하는 신호 패킷을 수신하는 단계, - 상기 신호 패킷은 송신 신호와 동기한 수신 신호의 샘플링을 포함함 -;
    b) 상기 샘플링된 센서 신호들로부터 신호 레벨을 결정하는 단계;
    c) 상기 패킷 내의 신호 변화들을 결정하는 단계; 및
    d) 상기 결정된 신호 변화들을 소정의 노이즈 문턱치와 비교하여, 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 미만이면, 추가 처리하는데 상기 신호 패킷을 사용하고, 그리고 상기 변화들이 상기 노이즈 문턱치 이상이면, 상기 신호 레벨을 합계하고, 상기 단계 a) 내지 c)를 반복하고, 소정 반복 횟수에 도달했는지를 결정하고, 도달했다면 상기 합계된 신호 레벨을 평균하는 단계 - 여기서, 상기 단계 a) 내지 c)의 반복 동안에 단계 c)에서 현재 신호 패킷의 상기 신호 변화들이 상기 소정의 노이즈 문턱치 미만이라고 결정되면, 상기 합계된 신호 레벨을 버리고 상기 현재 신호 패킷의 신호 레벨을 사용함 - 를 포함하는, 센서 신호 측정 방법.
  21. 제 20 항에 있어서,
    이후의 측정들 사이에 지연을 삽입함으로써 상기 반복 측정들을 지연시키는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
  22. 제 21 항에 있어서,
    상기 측정을 밸리데이션하는 단계를 더 포함하고, 여기서 상기 측정을 밸리데이션하는 단계는 유효 신호 패킷들의 최소량의 수신을 필요로 하는, 센서 신호 측정 방법.
  23. 제 22 항에 있어서,
    센서 상태 변화의 상기 결정을 밸리데이션하는 단계는, 상기 센서의 현재 상태가 제 1 상태에 있는 동안 상기 문턱치 레벨 미만으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 하거나, 아니면 상기 센서의 현재 상태가 제 2 상태에 있는 동안 상기 문턱치 레벨 이상으로 처리된 신호 레벨과의 측정들의 최소 세트를 필요로 하는, 센서 신호 측정 방법.
  24. 제 23 항에 있어서,
    상기 신호 레벨이 오버로드되는지 또는 왜곡되는지를 결정하고, 그리고 왜곡되지 않은 신호 레벨을 얻기 위해 상기 측정을 소정 횟수까지 반복하는 단계를 더 포함하는 센서 신호 측정 방법.
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Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI569185B (zh) * 2015-11-06 2017-02-01 財團法人工業技術研究院 觸控裝置及其雜訊補償電路及雜訊補償方法
US10365775B2 (en) * 2016-01-21 2019-07-30 Microchip Technology Incorporated Method and system for sensing impedance change in the local space between electrodes
TWI627619B (zh) 2017-11-28 2018-06-21 Industrial Technology Research Institute 觸控面板驅動裝置

Family Cites Families (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6229439B1 (en) * 1998-07-22 2001-05-08 Pittway Corporation System and method of filtering
US7072999B1 (en) * 2000-06-27 2006-07-04 2Wire, Inc. Robust packet arrival time detector using estimated signal power
US6462560B1 (en) * 2000-12-27 2002-10-08 Rosemount Analytical Inc. Sensor analyzer with reduced low frequency noise
JP4644958B2 (ja) * 2001-03-19 2011-03-09 パナソニック電工株式会社 距離測定装置
US6727790B2 (en) * 2001-08-20 2004-04-27 Itran Communications Ltd. Acquisition of sychronization in a spread spectrum communications transceiver
DE102004006015A1 (de) * 2004-02-06 2005-08-25 Robert Bosch Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Anpassung eines Schwellwertes einer Detektionseinrichtung
JP2005308618A (ja) * 2004-04-23 2005-11-04 Sanyo Electric Co Ltd 表示信号処理装置
JP2005308617A (ja) * 2004-04-23 2005-11-04 Sanyo Electric Co Ltd 表示信号処理装置
US20060227115A1 (en) * 2005-03-31 2006-10-12 Tyco Electronic Corporation Method and apparatus for touch sensor with interference rejection
US7636404B2 (en) * 2005-11-21 2009-12-22 Intel Corporation Packet detection in the presence of platform noise in a wireless network
JP2008004186A (ja) * 2006-06-23 2008-01-10 Fujitsu Ltd 磁気ヘッドの試験方法
US7746812B2 (en) * 2006-08-17 2010-06-29 Texas Instruments Incorporated Reliable packet detection in a wireless receiver when packets contain a known repetitive sequence
DE102006041867B4 (de) * 2006-09-06 2008-12-04 Continental Automotive Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung des Rauschens eines Sensors
US8711249B2 (en) * 2007-03-29 2014-04-29 Sony Corporation Method of and apparatus for image denoising
US7907555B1 (en) * 2007-11-26 2011-03-15 Redpine Signals, Inc. RSSI-based powerdown apparatus and method for a wireless communications system
DE102007059536B4 (de) * 2007-12-11 2019-06-27 Robert Bosch Gmbh Verfahren zum Betrieb einer Sensoranordnung und Sensoranordnung
US8090035B2 (en) * 2008-09-16 2012-01-03 Redpine Signals, Inc. Method for setting inter-packet gain
GB0819789D0 (en) * 2008-10-28 2008-12-03 Cambridge Silicon Radio Ltd Improved power control method
US7705639B1 (en) * 2008-12-18 2010-04-27 Silicon Laboratories Inc. Method and apparatus for high performance automatic frequency control in a wireless receiver
JP5419153B2 (ja) * 2009-10-22 2014-02-19 Ｎｅｃカシオモバイルコミュニケーションズ株式会社 タッチ検出装置、電子機器、および、プログラム

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