TWI584778B - 光學檢測裝置及其系統 - Google Patents

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TWI584778B
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Description

光學檢測裝置及其系統
本發明係有關一種用於眼睛之光學檢測裝置及其系統，尤指一種可量測視力度數之光學檢測裝置及其系統。
現有常見的使用在眼睛的光學檢測裝置包括有眼壓計、驗光機、眼底鏡及裂隙燈裝置等等。例如，眼底鏡即是用來檢查眼底(即視網膜)有無病變的工具之一，例如糖尿病視網膜病變、青光眼、視神經炎或黃斑部病變等；另裂隙燈裝置係可用來檢查如結膜、鞏膜、角膜、虹膜、瞳孔、晶狀體及玻璃體前三分之一的眼睛結構，來確認是否有病變，且加上特殊光學鏡片或附屬配件後，亦可對眼底進行檢查；又驗光機則是用以評估病人眼睛的屈光度。
現有裂隙燈裝置的結構通常包括裂隙燈及顯微鏡。在使用裂隙燈裝置時，患者必須將其下巴抵靠在一工作平台上，額頭抵靠在一頜架上，且工作平台及頜架必須為可調式來適應不同病人的頭顱大小，如此一來方能使用裂隙燈裝置對病人進行檢查。因此，現有裂隙燈裝置的體積往往過於龐大，不但不便於攜帶且價格昂貴。而驗光機亦有體 積龐大的問題。
又，雖現已發展出手持式裂隙燈可供使用，該手持式裂隙燈係以旋轉裂隙盤的方式來使用不同大小尺寸的裂隙，但此裂隙並不會與分光鏡一同轉動，造成所產生的光型並不會與裂隙呈一直線，使得醫生要進一步手動調整手持式裂隙燈整體的角度或方位，控制光型打入的位置，才能有效進行檢測，故在使用上多有不便。另在視力檢測中，除了使用驗光機外，現有技術多半讓病人站在視力表前一段距離，並讓病人指出視力表上如”E”開口方向之方式來量測視力，但此種方式難以適用在嬰兒、小孩或喑啞病人身上。此外，現今仍無可同時檢查眼睛結構及量測屈光度的儀器。
綜上所述，如何能提供一種可輕易調整裂隙及對應之裂隙光角度及方向，並同時可量測眼睛屈光度之光學檢測裝置及其系統，為目前亟待努力的目標。
本發明之一目的在於提供一種光學檢測裝置，包括：發光元件，用以產生一檢測光線；光型產生元件，設於該發光元件上方，以接收該發光元件所發出之該檢測光線，該光型產生元件更包括：盤體；至少一圓孔，係貫穿該盤體之二表面；至少一圓盤，係內嵌在該圓孔中，以使該圓盤能相對該盤體進行轉動，其中，該圓盤具有貫穿其二表面之裂隙，該裂隙供該檢測光線通過並用以改變該檢測光線之光型；及至少二第一磁性元件，係分別設置在該圓盤 之裂隙的二側；以及光源傳遞元件，設於該光型產生元件上方並用以傳遞經改變光型之檢測光線，其中，該光源傳遞元件之一端具有二第二磁性元件；其中，各該第一磁性元件係與各該第二磁性元件磁性連接，俾使該光源傳遞元件轉動時，該圓盤及其裂隙亦能與該光源傳遞元件一併轉動。
本發明之另一目的在於提供一種光學檢測系統，包括：光學檢測裝置，包括：發光元件，用以產生一檢測光線；光型產生元件，設於該發光元件上方，以接收該發光元件所發出之該檢測光線且用以改變該檢測光線之光型；以及光源傳遞元件，設於該光型產生元件上方並用以傳遞經改變光型之檢測光線且使其入射至一眼底；成像裝置，用以擷取該眼底所反射之檢測光線後所形成一光型影像，以將該光型影像轉換成一檢測影像資料；焦距匹配模組，設於該成像裝置前方，用以控制該檢測影像資料的清晰度；以及計算單元，電性連接該成像裝置以接收該檢測影像資料，並分析該檢測影像資料是否清晰，若該檢測影像資料不清晰，則控制該焦距匹配模組調整焦距，以產生新的檢測影像資料供該計算單元再次分析，若該檢測影像資料已清晰，則依據該焦距匹配模組使該檢測影像資料已清晰之焦距，來獲得對應的視力度數。
於本發明之一實施形態中，該發光元件為發光二極體。
於本發明之一實施形態中，該檢測光線為可見光或不 可見光。
於本發明之一實施形態中，該第一磁性元件及該第二磁性元件為磁鐵。
於本發明之一實施形態中，該光源傳遞元件之另一端具有一用以改變該經改變光型之檢測光線的路徑之光學透鏡，且其中，該光學透鏡為分光鏡或稜鏡。
於本發明之一實施形態中，該光源傳遞元件中設有透鏡組，用以使通過該光源傳遞元件之光線會聚於該光學透鏡。
於本發明之一實施形態中，該計算單元為電腦、手機或平板電腦，且其中，該電性連接為有線連接或無線連接。
於本發明之一實施形態中，該成像裝置包括互補性氧化金屬半導體影像感測器或感光耦合元件影像感測器。
於本發明之一實施形態中，該光學檢測系統更包括光圈組件，該光圈組件係設於該光源傳遞元件所傳遞之該經改變光型之檢測光線入射至該眼底的路徑上，用以控制該經改變光型之檢測光線入射至該眼底的光線量。
於本發明之一實施形態中，該焦距匹配模組係為矩陣式透鏡組，該矩陣式透鏡組包括複數個聚焦區域，且其中，該複數個聚焦區域分別具有不同的焦距。
於本發明之一實施形態中，該焦距匹配模組係為內嵌有具有不同焦距的複數個透鏡之構件，且其中，該構件係設於該成像裝置前方且利用該複數個透鏡之一者會聚該光型影像進入該成像裝置。
於本發明之一實施形態中，該焦距匹配模組包括至少一電控馬達以及至少一透鏡組，該透鏡組係設於該成像裝置前方，以使該光型影像依序通過該透鏡組而入射至該成像裝置，且其中，該電控馬達用以改變該透鏡組的總體焦距。
於本發明之一實施形態中，該焦距匹配模組包括一電控馬達及一充填式透鏡元件，該充填式透鏡元件具有由薄膜所形成的腔室，該電控馬達用以充填液體至該腔室中，藉由液體量之多寡來改變該充填式透鏡元件之焦距。
於本發明之一實施形態中，該分光鏡或稜鏡係能轉動一角度而改變該經改變光型之檢測光線所入射至該眼底的位置，俾使該計算單元分析該角度及該檢測影像資料的相對關係來獲得視力度數。
於本發明之一實施形態中，該光型產生元件更包括：盤體；至少一圓孔，係貫穿該盤體之二表面；至少一圓盤，係內嵌在該圓孔中，以使該圓盤能相對該盤體進行轉動，其中，該圓盤具有貫穿其二表面之裂隙，該裂隙供該檢測光線通過並用以改變該檢測光線之光型；以及至少二第一磁性元件，係分別設置在該圓盤之裂隙的二側。
於本發明之一實施形態中，該光源傳遞元件之一端具有二第二磁性元件，且其中，各該第一磁性元件係與各該第二磁性元件磁性連接，當該光源傳遞元件轉動時，該圓盤及其裂隙亦能與該光源傳遞元件一併轉動，以使該光源傳遞元件所傳遞之該經改變光型之檢測光線入射至該眼 底。
藉由本發明之光學檢測裝置之光源傳遞元件與光型產生元件之間的磁性連結，可使該光型產生元件中裂隙之方向隨著該光源傳遞元件之光學透鏡之方向一併轉動，造成打入眼底之檢測光線之光型仍與裂隙呈一直線且不會變動，使用者無須再手動調整光學檢測裝置整體的角度或方位。此外，在光學透鏡之方向為固定的情況下，更換該光型產生元件中其他的裂隙時亦不會改變原先該檢測光線之光型的角度，使用者可輕易且便利地進行檢測。另本發明之光學檢測系統可接收眼底所反射之檢測光線進而形成一檢測影像資料，且可進一步分析該檢測影像資料是否清晰，若該檢測影像資料不清晰，則控制焦距匹配模組調整焦距，以產生新的檢測影像資料來進行再次分析，直到獲得清晰的檢測影像資料，進而依據該焦距匹配模組使該檢測影像資料清晰之焦距，來獲得對應的視力度數，因此，本發明之光學檢測系統更具備視力量測的功能。
1‧‧‧光學檢測系統
10‧‧‧光學檢測裝置
11‧‧‧發光元件
12‧‧‧光型產生元件
120‧‧‧盤體
121‧‧‧圓孔
122‧‧‧圓盤
123‧‧‧裂隙
124‧‧‧第一磁性元件
13‧‧‧光源傳遞元件
131‧‧‧第二磁性元件
132‧‧‧光學透鏡
133‧‧‧透鏡組
134‧‧‧支撐部
14‧‧‧檢測光線
15‧‧‧光型影像
16‧‧‧電路板
20‧‧‧眼球
21‧‧‧瞳孔
22‧‧‧水晶體
23‧‧‧眼底
30‧‧‧光圈組件
40‧‧‧焦距匹配模組
41‧‧‧聚焦區域
42‧‧‧構件
43‧‧‧透鏡
44‧‧‧電控馬達
45‧‧‧凸透鏡
46‧‧‧凹透鏡
47‧‧‧充填式透鏡元件
471‧‧‧腔室
472‧‧‧管體
48‧‧‧液體
50‧‧‧成像裝置
60‧‧‧計算單元
第1圖係為本發明之光學檢測裝置及其系統之功能方塊圖；第2圖係為本發明之光學檢測裝置之結構示意圖；第3A圖係為本發明之焦距匹配模組之第一實施例之示意圖；第3B圖係為本發明之焦距匹配模組之第二實施例之示意圖； 第3C圖係為本發明之焦距匹配模組之第三實施例之示意圖；以及第3D圖係為本發明之焦距匹配模組之第四實施例之示意圖。
以下藉由特定之具體實施例加以說明本創作之實施方式，而熟悉此技術之人士可由本說明書所揭示之內容輕易地瞭解本創作之其他優點和功效，亦可藉由其他不同的具體實施例加以施行或應用。
請參閱第1圖，本發明之光學檢測系統1包括光學檢測裝置10、成像裝置50及計算單元60。於一實施例中，該光學檢測系統1更包括光圈組件30以及焦距匹配模組40。
該光學檢測裝置10包括發光元件11、光型產生元件12以及光源傳遞元件13。該發光元件11裝設於一電路板16上，並用以產生一檢測光線14，該發光元件11具體可為發光二極體，例如為可發出紅色(R)、綠色(G)或藍色(B)光的發光二極體。另所發出的檢測光線14可為可見光或不可見光，本發明並不以此為限。
該光型產生元件12係設於該發光元件11上方，用以接收該發光元件11所發出之檢測光線14。請進一步同時參閱第2圖，該光型產生元件12包括盤體120、至少一圓孔121、至少一圓盤122以及至少二第一磁性元件124。
該圓孔121係貫穿該盤體120之二表面，而該圓盤122 則內嵌在該圓孔121中，以使該圓盤122能相對於該盤體120進行轉動。於一實施例中，該圓孔121可具有環狀凹槽，而該圓盤122則具有對應該環狀凹槽之凸部，因此在該圓盤122之凸部嵌入該圓孔121之環狀凹槽後，圓盤122可在圓孔121中轉動，但本發明並不限制圓盤122與圓孔121之間可進行轉動的結構組合。
該圓盤122具有貫穿該圓盤122之二表面的裂隙123，該裂隙123供該檢測光線14通過，因此該裂隙123可改變該檢測光線14之光型。於一實施例中，一圓盤122係對應一裂隙123，且該裂隙123可為多種形狀，例如為長方形、正方形、圓形等，本發明並不限制裂隙123之形狀種類。
該圓盤122之裂隙123之二側分別設置有一第一磁性元件124，即一圓盤122至少設置有二第一磁性元件124。於一實施例中，該二第一磁性元件124之設置位置係以該二第一磁性元件124之連線垂直於該裂隙123之方式進行設置，但本發明並不以此為限。
該光源傳遞元件13係設於該光型產生元件12上方並用以傳遞經改變光型之檢測光線14，其中，該光源傳遞元件13之一端具有二第二磁性元件131。具體言之，該光源傳遞元件13為一中空圓柱體，其一端設有二支撐部134，各支撐部134之末端設有該第二磁性元件131。而該光源傳遞元件13具體係設置在該光型產生元件12之圓盤122上，使得第一磁性元件124能與第二磁性元件131磁性連接，即第一磁性元件124與第二磁性元件131的磁性設置 方向為相吸。於一實施例中，該第一磁性元件124及該第二磁性元件131係為磁鐵。本發明亦不限制第一磁性元件124及第二磁性元件131之個數。
該光源傳遞元件13之另一端具有光學透鏡132，該光學透鏡132用以改變該經改變光型之檢測光線14的路徑，例如光學透鏡132係以45度角的方式設置於該光源傳遞元件13之一端，可使該檢測光線14的路徑旋轉90度。而該光源傳遞元件13中更設有透鏡組133，用以使檢測光線14會聚於該光學透鏡132。於一實施例中，該光學透鏡132為分光鏡或稜鏡。
據此，本發明之光學檢測裝置10在光源傳遞元件13之第二磁性元件131磁性連接光型產生元件12中圓盤122上的第一磁性元件124時，光源傳遞元件13進行轉動時，可藉由磁力同時帶動圓盤122及圓盤122上的裂隙123一併轉動。亦即，光型產生元件12中圓盤122上的裂隙123之方向可隨著該光源傳遞元件13之光學透鏡132之方向一同轉動。因此，打入眼底之檢測光線之光型仍與裂隙呈一直線且不會變動，使用者無須再手動調整光學檢測裝置整體的角度或方位。在更換不同裂隙時，使用者可轉動該光型產生元件12，而先使光源傳遞元件13之第二磁性元件131與圓盤122上的第一磁性元件124之間的磁性連接斷開。接著，光型產生元件12持續轉動至下一個圓盤122時，由於光型傳遞元件13仍未轉動(即固定的情況下)，即利用第二磁性元件131吸附下一個圓盤122上的第一磁 性元件124，而能夠達到自動轉動下一個圓盤122上裂隙123呈現上一個裂隙相同的方向，故不會改變原先檢測光線14之光型的角度，使用者不需再手動調整光學檢測裝置整體的角度或方位，可輕易且便利地進行檢測。上述光學檢測裝置10可組成手持式的裂隙燈或眼底鏡，而能對眼睛結構或眼底進行檢查。
本發明可利用上述之光學檢測裝置10，並搭配光圈組件30、焦距匹配模組40及成像裝置50，建構成可取得眼底之檢測影像資料，並以計算單元60分析該檢測影像資料以獲得視力度數之光學檢測系統1。
請再參閱第1圖，檢測光線14通過光圈組件30後係射入一眼球20，並經過該眼球20之瞳孔21、水晶體22而到達該眼球的眼底23。而該眼底23所反射之檢測光線14將形成一光型影像15，再通過水晶體22、瞳孔21而射出眼球20外並通過光圈組件30，其中，所謂的光型影像係指檢測光線14之光型映射在眼底23上的影像。因此，該光圈組件30係設在該光源傳遞元件13所傳遞之該經改變光型之檢測光線14入射至該眼底23的路徑上，用以控制該經改變光型之檢測光線14入射至該眼底23的光線量，亦同時控制該光型影像15的光線量，使其能集中入射通過該焦距匹配模組40並進入該成像裝置50。
該成像裝置50用以擷取該眼底23所反射之檢測光線14後所形成之該光型影像15，並將該光型影像15轉換成一檢測影像資料。
該計算單元60係電性連接該成像裝置50以接收該檢測影像資料，並分析該檢測影像資料是否清晰，若該檢測影像資料不清晰，則控制該焦距匹配模組調整焦距，以產生新的檢測影像資料供該計算單元再次分析，若該檢測影像資料已清晰，則依據該焦距匹配模組使該檢測影像資料已清晰之焦距，來獲得視力度數。其中，分析該檢測影像資料是否清晰，係以比對所擷取的該檢測影像資料對應的光型影像與資料庫中預先儲存的光型影像資料是否一致的方式來決定，若一致則表示清晰，反之則否。
於一實施例中，該計算單元60為電腦、手機或平板電腦，而電性連接的方式可為有線連接或無線連接，其中，無線連接可為藍芽、WIFI等無線技術。
於一實施例中，成像裝置包括互補性氧化金屬半導體影像感測器(CMOS image sensor)或感光耦合元件影像感測器(CCD image sensor)，而該焦距匹配模組40用以使該檢測影像資料清晰。據此，可藉由該焦距匹配模組40與成像裝置50、計算單元60之搭配，來分析複數個檢測影像資料並挑選出最清晰的檢測影像資料，以從該焦距匹配模組使該檢測影像資料已清晰之焦距計算獲得眼球20之屈光度。
以下進一步示例該焦距匹配模組40之數種具體實施方式。
於一實施例中，如第3A圖所示，該焦距匹配模組40係為具有複數個聚焦區域41之矩陣式透鏡組，而該複數個 聚焦區域41分別具有不同的焦距。在眼球20為非正常球體(即有近視或遠視)的情況下，此時所取得的檢測影像資料並非清晰，即檢測光線14並無準確聚焦至眼底23。由於該焦距匹配模組40具有不同焦距之聚焦區域41，故可一一根據不同焦距之聚焦區域41，使成像裝置50來取得複數個檢測影像資料，計算單元60即可從此複數個檢測影像資料中挑選出最清晰者，並以取得最清晰之檢測影像資料的聚焦區域41之焦距，來換算成該眼球20之屈光度。
於另一實施例中，如第3B圖所示，該焦距匹配模組40係為一呈圓形的構件42，該構件42內嵌有複數個具有不同焦距之透鏡43，該複數個透鏡43係環狀排列且內嵌在該構件42之周邊。該構件42係設於該成像裝置50前方且利用該複數個透鏡43之一者來匯聚光型影像進入該成像裝置50。相同於上述，可藉由最清晰之檢測影像資料所對應之透鏡43的焦距，來換算出該眼球20之屈光度。於一實施例中，該構件42除圓形外，亦可為其他形狀，本發明並不以此為限。
再於一實施例中，如第3C圖所示，該焦距匹配模組40包括至少一電控馬達44以及一透鏡組。於本實施例中，該透鏡組係以一凸透鏡45及一凹透鏡46來作說明，但本發明並不以此為限，本發明之透鏡組實際上可以由一個或多個凸透鏡、凹透鏡、凸凹透鏡、凹凸透鏡或其組合所構成。
該凸透鏡45及該凹透鏡46係依序設於該成像裝置50 前方，使光型影像15依序通過該凸透鏡45及該凹透鏡46而入射至該成像裝置50。其中，該電控馬達44用以移動該凸透鏡45或該凹透鏡46，以改變該凸透鏡45與該凹透鏡46之間的焦距。藉由此焦距移動機制，可將最清晰之檢測影像資料所對應之凸透鏡45與凹透鏡46之間的焦距，換算出該眼球20之屈光度。在其他實施例中，若透鏡組是由多個凸透鏡、凹透鏡、凸凹透鏡、凹凸透鏡或其組合所構成者，則電控馬達44可視需求對其中一者或其中二者以上來進行移動，以改變該透鏡組的總體焦距，本發明並不限制電控馬達所能移動的透鏡數量。
又於一實施例中，如第3D圖所示，該焦距匹配模組40包括一電控馬達44及一充填式透鏡元件47。該充填式透鏡元件47具有由薄膜所形成的腔室471，而電控馬達44可經由管體472將液體48充填至該腔室471中。該腔室471經充填液體48後會膨脹，而該腔室471在液體48排放後會縮扁，藉由一縮一脹的方式來控制腔室471的焦距，亦即藉由液體量之多寡來改變該充填式透鏡元件47之焦距。藉由此焦距改變的機制，可將最清晰之檢測影像資料所對應之焦距換算成該眼球20之屈光度。
再於一實施例中，即該光學透鏡132為分光鏡或稜鏡時，該分光鏡或稜鏡能轉動而改變該經改變光型之檢測光線14入射至該眼底23的位置，而計算單元60能夠分析分光鏡或稜鏡轉動的角度及所對應之檢測影像資料來獲得視力度數。
藉由本發明之光學檢測系統1可接收眼底23所反射之檢測光線14進而形成一檢測影像資料，且可透過計算單元60進一步分析該檢測影像資料是否清晰，若檢測影像資料不清晰則透過計算單元60控制該焦距匹配模組40調整焦距，以產生新的檢測影像資料供該計算單元60再次分析，亦即，計算單元60對檢測影像資料之分析結果具備回饋機制，可作為焦距匹配模組40調整焦距的依據，其目的在於找出最清晰的檢測影像資料，從而依據該焦距匹配模組使該檢測影像資料已清晰之焦距來獲得視力度數。
在具體實施上，光學檢測裝置10、光圈組件30、焦距匹配模組40及成像裝置50可設計成為一手持式裝置，在成像裝置50取得檢測影像資料後，可藉由無線或有線方式傳送到外部的計算單元60(例如手機)，而能進一步分析獲得所拍攝之眼球20的屈光度。本發明之光學檢測系統除了具備近視、遠視之視力量測功能外，亦具備量測散光的功能，亦即搭配米字狀的裂隙123來檢測出裂隙模糊的位置，來量測出散光的度數。因此，本發明之光學檢測系統具備完整的視力量測的功能。
上述實施形態僅為例示性說明本創作之技術原理、特點及其功效，並非用以限制本創作之可實施範疇，任何熟習此技術之人士均可在不違背本創作之精神與範疇下，對上述實施形態進行修飾與改變。然任何運用本創作所教示內容而完成之等效修飾及改變，均仍應為下述之申請專利範圍所涵蓋。而本創作之權利保護範圍，應如下述之申請 專利範圍所列。
1‧‧‧光學檢測系統
10‧‧‧光學檢測裝置
11‧‧‧發光元件
12‧‧‧光型產生元件
13‧‧‧光源傳遞元件
132‧‧‧光學透鏡
133‧‧‧透鏡組
14‧‧‧檢測光線
15‧‧‧光型影像
16‧‧‧電路板
20‧‧‧眼球
21‧‧‧瞳孔
22‧‧‧水晶體
23‧‧‧眼底
30‧‧‧光圈組件
40‧‧‧焦距匹配模組
50‧‧‧成像裝置
60‧‧‧計算單元

Claims (21)

  1. 一種光學檢測裝置，包括：發光元件，用以產生一檢測光線；光型產生元件，設於該發光元件上方，以接收該發光元件所發出之該檢測光線，該光型產生元件更包括：盤體；至少一圓孔，係貫穿該盤體之二表面；至少一圓盤，係內嵌在該圓孔中，以使該圓盤能相對該盤體進行轉動，其中，該圓盤具有貫穿其二表面之裂隙，該裂隙供該檢測光線通過並用以改變該檢測光線之光型；及至少二第一磁性元件，係分別設置在該圓盤之裂隙的二側；以及光源傳遞元件，設於該光型產生元件上方並用以傳遞經改變光型之檢測光線，其中，該光源傳遞元件之一端具有二第二磁性元件；其中，各該第一磁性元件係與各該第二磁性元件磁性連接，俾使該光源傳遞元件轉動時，該圓盤及其裂隙亦能與該光源傳遞元件一併轉動。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中，該發光元件為發光二極體。
  3. 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中，該檢測光線為可見光或不可見光。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中，該 第一磁性元件及該第二磁性元件為磁鐵。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之光學檢測裝置，其中，該光源傳遞元件之另一端具有一用以改變該經改變光型之檢測光線的路徑之光學透鏡，且其中，該光學透鏡為分光鏡或稜鏡。
  6. 如申請專利範圍第5項所述之光學檢測裝置，其中，該光源傳遞元件中設有透鏡組，用以使通過該光源傳遞元件之光線會聚於該光學透鏡。
  7. 一種光學檢測系統，包括：光學檢測裝置，包括：發光元件，用以產生一檢測光線；光型產生元件，設於該發光元件上方，以接收該發光元件所發出之該檢測光線且用以改變該檢測光線之光型，其中，該光型產生元件更包括：盤體；至少一圓孔，係貫穿該盤體之二表面；及至少一圓盤，係內嵌在該圓孔中，以使該圓盤能相對該盤體進行轉動，其中，該圓盤具有貫穿其二表面之裂隙，該裂隙供該檢測光線通過並用以改變該檢測光線之光型；以及光源傳遞元件，設於該光型產生元件上方並用以傳遞經改變光型之檢測光線且使其入射至一眼底，當該光源傳遞元件轉動時，該圓盤及其裂隙亦能與該光源傳遞元件一併轉動，以使該光源傳遞元 件所傳遞之該經改變光型之檢測光線入射至該眼底；成像裝置，用以擷取該眼底所反射之檢測光線後所形成一光型影像，以將該光型影像轉換成一檢測影像資料；焦距匹配模組，設於該成像裝置前方，用以控制該檢測影像資料的清晰度；以及計算單元，電性連接該成像裝置以接收該檢測影像資料，並分析該檢測影像資料是否清晰，若該檢測影像資料不清晰，則控制該焦距匹配模組調整焦距，以產生新的檢測影像資料供該計算單元再次分析，若該檢測影像資料已清晰，則依據該焦距匹配模組使該檢測影像資料已清晰之焦距，來獲得對應的視力度數。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該計算單元為電腦、手機或平板電腦，且其中，該電性連接為有線連接或無線連接。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該發光元件為發光二極體。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該檢測光線為可見光或不可見光。
  11. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該成像裝置包括互補性氧化金屬半導體影像感測器或感光耦合元件影像感測器。
  12. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，更包括光 圈組件，該光圈組件係設於該光源傳遞元件所傳遞之該經改變光型之檢測光線入射至該眼底的路徑上，用以控制該經改變光型之檢測光線入射至該眼底的光線量。
  13. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該焦距匹配模組係為矩陣式透鏡組，該矩陣式透鏡組包括複數個聚焦區域，且其中，該複數個聚焦區域分別具有不同的焦距。
  14. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該焦距匹配模組係為內嵌有具有不同焦距的複數個透鏡之構件，且其中，該構件係設於該成像裝置前方且利用該複數個透鏡之一者會聚該光型影像進入該成像裝置。
  15. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該焦距匹配模組包括至少一電控馬達以及一透鏡組，該透鏡組係設於該成像裝置前方，以使該光型影像依序通過該透鏡組而入射至該成像裝置，且其中，該電控馬達用以改變該透鏡組的總體焦距。
  16. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該焦距匹配模組包括一電控馬達及一充填式透鏡元件，該充填式透鏡元件具有由薄膜所形成的腔室，該電控馬達用以充填液體至該腔室中，藉由液體量之多寡來改變該充填式透鏡元件之焦距。
  17. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該光源傳遞元件之另一端具有一用以改變該經改變光型之檢測光線的路徑之光學透鏡，且其中，該光學透鏡為 分光鏡或稜鏡。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之光學檢測系統，其中，該光源傳遞元件中設有透鏡組，用以使通過該光源傳遞元件之光線會聚於該光學透鏡。
  19. 如申請專利範圍第17項所述之光學檢測系統，其中，該分光鏡或稜鏡係能轉動一角度而改變該經改變光型之檢測光線所入射至該眼底的位置，俾使該計算單元分析該角度及該檢測影像資料的相對關係來獲得視力度數。
  20. 如申請專利範圍第7項所述之光學檢測系統，其中，該光型產生元件更包括至少二第一磁性元件，係分別設置在該圓盤之裂隙的二側。
  21. 如申請專利範圍第20項所述之光學檢測系統，其中，該光源傳遞元件之一端具有二第二磁性元件，且其中，各該第一磁性元件係與各該第二磁性元件磁性連接，且其中，該第一磁性元件及該第二磁性元件為磁鐵。
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