TWI538524B - 平行多工測試系統及測試方法 - Google Patents

Description

平行多工測試系統及測試方法

本發明乃是關於一種測試系統及測試方法，特別是指一種具有平行多工能力之測試系統及測試方法。

測試儀器的價格居高不下的一個主要原因是傳統測試儀器架構具專屬的特性。每一個測試儀器製造商都有數個測試儀器架構，不僅在廠商如愛德萬(Advantest)、泰瑞達(Teradyne)以及安捷倫(Agilent)之間均不相容，同時在同一廠商如愛德萬所推出的T3300、T5500、以及T6600系列之間也不相容。由於彼此不相容，每一種測試儀器需要有自己專屬的硬體與軟體組件，而這些專屬的硬體與軟體組件並無法用於其他測試儀器上。此外，將一個測試程式由一個測試儀器移植至另一個，以及開發協力廠商解決方案，需要花很大的功夫，即使協力廠商解決方案是為一個平台所開發，它也不能移植或重新使用在另一平台上，而從一個平台轉譯至另一平台的流程通常很複雜也容易出錯，必須付出更多的努力、時間，也使得測試成本增加。

本發明實施例提供一種平行多工測試系統，用於以N個測試信號透過N個測試通道對N個隔離箱內之N個受測裝置進行測試，平行多工測試系統包括中央處理單元與N個功能測試模組，其中N為 大於1之正整數。中央處理單元根據一韌體來判斷N個受測裝置中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號以進行測試。N個功能測試模組電性連接中央處理單元，N個功能測試模組根據指示信號來與相對應的受測裝置進行對應的功能測試，每一個功能測試模組具有不同的測試功能。在測試週期之一時間槽，平行多工測試系統根據韌體尋找相對應之N個功能測試模組對N個受測裝置進行對應的功能測試，以使全部之受測裝置同時透過不同的測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數。在測試週期之另一時間槽，中央處理單元根據韌體來判斷N個受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號至對應的N個功能測試模組，以發出測試信號經過測試通道來測試對應的受測裝置。

在本發明其中一個實施例中，平行多工測試系統包括射頻分配器、射頻測試模組、影音測試模組、電荷耦合元件、紅外線遙控模組與控制器。射頻測試模組包括向量信號分析器與向量信號產生器。射頻測試模組電性連接中央處理單元，射頻測試模組根據指示信號來決定是否與相對應的受測裝置進行射頻功能測試，其中射頻測試模組透過射頻分配器來進行射頻功能測試，並且射頻測試模組包括向量信號分析器與向量信號產生器。影音測試模組電性連接中央處理單元，影音測試模組根據指示信號來決定是否與相對應的受測裝置進行影音功能測試，其中影音測試模組透過高清晰度多媒體介面切換器來進行影音功能測試。控制器電性連接中央處理單元，控制器根據指示信號來決定是否與相對應的受測裝置進行光學功能測試，其中控制器透過電荷耦合元件與紅外線遙控模組來進行光學功能測試。當在測試週期，射頻測試模組、影音測試模組與控制器根據指示信號來平行多工地對複數個受測裝置進行射頻功能測試、影音功能測試與光學功能測試。

在本發明其中一個實施例中，向量信號分析器電性連接射頻切換器，用以分析對應的受測裝置之發送器所傳送之測試信號， 並且向量信號產生器電性連接射頻切換器，用以產生射頻信號且傳送至對應的受測裝置之接收器。

在本發明其中一個實施例中，在測試週期之時間槽，射頻測試模組、影音測試模組與控制器根據指示信號分別透過其對應的測試通道來同時與相對應的受測裝置進行功能測試。

在本發明其中一個實施例中，平行多工測試系統更包括射頻切換器與射頻多工器。射頻切換器電性連接向量信號分析器、向量信號產生器與中央處理單元。射頻多工器電性連接射頻切換器與中央處理單元，射頻多工器根據指示信號來決定與相對應的受測裝置進行射頻功能測試。當射頻切換器根據指示信號來決定與相對應的受測裝置之發送器進行射頻功能測試時，則平行多工測試系統透過射頻分配器、射頻多工器、射頻切換器與向量信號分析器來對受測裝置之發送器進行射頻信號分析。當該射頻切換器根據該指示信號來決定與相對應的受測裝置之接收器進行射頻功能測試時，則平行多工測試系統透過射頻分配器、射頻多工器、射頻切換器與向量信號產生器來對受測裝置之接收器進行射頻信號分析。

本發明實施例提供一種用於平行多工測試系統之平行多工測試方法，平行多工測試系統以N個測試信號透過N個測試通道對N個隔離箱內之N個受測裝置進行測試，平行多工測試系統包括中央處理單元與N個功能測試模組，複數個功能測試模組電性連接中央處理單元，其中複數個功能測試模組中的每一個具有不同的測試功能並且N為大於1之正整數，平行多工測試方法包括：透過中央處理單元，根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號以進行測試；透過N個功能測試模組，根據指示信號來與相對應的受測裝置進行對應的功能測試，每一個功能測試模組具有不同的測試功能；在測試週期之一時間槽，平行多工測試系統根據韌體尋找相對應之功能測試模組對受測裝置進行對應 的功能測試，以使全部之受測裝置同時透過不同的測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數；以及在測試週期之另一時間槽，中央處理單元根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號至對應的功能測試模組，以發出測試信號經過測試通道來測試對應的受測裝置。

綜上所述，本發明實施例所提出之平行多工測試系統及方法，能夠整合多個測試功能於單一機台以減少機台數量，進而節省生產測試成本、測試時間、人力。

為使能更進一步瞭解本發明之特徵及技術內容，請參閱以下有關本發明之詳細說明與附圖，但是此等說明與所附圖式僅係用來說明本發明，而非對本發明的權利範圍作任何的限制。

100‧‧‧平行多工測試系統

112‧‧‧中央處理單元

114_1~114_N‧‧‧功能測試模組

120_1、120_2、120_3、120_4~120_N‧‧‧受測裝置

300‧‧‧平行多工測試系統

311‧‧‧中央處理單元

312‧‧‧射頻多工器

313‧‧‧射頻切換器

314‧‧‧射頻測試模組

3141‧‧‧向量信號分析器

3142‧‧‧向量信號產生器

315‧‧‧影音測試模組

316‧‧‧控制器

320_1、320_2‧‧‧射頻分配器

330‧‧‧HDMI切換器

340‧‧‧訊號轉換器

350‧‧‧電荷耦合元件

360‧‧‧紅外線遙控模組

CH_1、CH_2、CH_3、CH_4~CH_N‧‧‧測試通道

IS‧‧‧指示信號

S_1、S_2、S_3、S_4~S_N‧‧‧測試信號

T1‧‧‧測試週期

t_11~t_1N‧‧‧時間槽

S510、S520、S530、S540‧‧‧步驟

圖1為根據本發明例示性實施例所繪示之平行多工測試系統之區塊示意圖。

圖2為根據本發明實施例之圖1之平行多工測試系統之平行測試之示意圖。

圖3為根據本發明另一實施例所繪示之平行多工測試系統之區塊示意圖。

圖4為根據本發明實施例之圖3之平行多工測試系統之平行測試之示意圖。

圖5為根據本發明實施例之平行多工測試方法之流程圖。

在下文將參看隨附圖式更充分地描述各種例示性實施例，在隨附圖式中展示一些例示性實施例。然而，本發明概念可能以許多不同形式來體現，且不應解釋為限於本文中所闡述之例示性實施例。確切而言，提供此等例示性實施例使得本發明將為詳盡且 完整，且將向熟習此項技術者充分傳達本發明概念的範疇。在諸圖式中，可為了清楚而誇示層及區之大小及相對大小。類似數字始終指示類似元件。

應理解，雖然本文中可能使用術語第一、第二、第三等來描述各種元件，但此等元件不應受此等術語限制。此等術語乃用以區分一元件與另一元件。因此，下文論述之第一元件可稱為第二元件而不偏離本發明概念之教示。如本文中所使用，術語「及/或」包括相關聯之列出項目中之任一者及一或多者之所有組合。

〔平行多工測試系統的實施例〕

一般來說，於測試機台進行待測裝置(Device Under Test，簡稱DUT)例如行動裝置之測試時，會以隔離箱作為測試設備與待測行動裝置之間的介面，該隔離箱會將來自測試機台的各種測試訊號傳遞至待測行動裝置之介面，並將待測行動裝置對測試訊號之反應傳回至測試設備，而可得知該行動裝置所被測試的各項功能是否良好。

請參照圖1，圖1為根據本發明例示性實施例所繪示之平行多工測試系統之區塊示意圖。如圖1所示，在本實施例中，平行多工測試系統100可以例如是行動裝置之測試設備，並且平行多工測試系統100用於以N個測試信號S_1~S_N來透過N個測試通道CH_1~CH_N來測試N個隔離箱(圖1未繪示)內之N個受測裝置(Device Under Test,DUT)120_1~120_N，其中N為大於1之正整數。平行多工測試系統100包括中央處理單元112與N個功能測試模組114_1~114_N。N個功能測試模組114_1~114_N分別電性連接至中央處理單元112。

關於中央處理單元112，中央處理單元112根據一韌體來判斷該些受測裝置120_1~120_N中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號IS以進行測試，亦即指示信號IS含有N個受測裝置120_1~120_N之受測排序與受測功能之相關資訊。在平行多工測試系統 100中，中央處理單元112扮演著中控中心之角色並且根據設計者所設計之平行測試演算法(亦即韌體)來統籌功能測試模組114_1~114_N之動作，以使功能測試模組114_1~114_N能夠同步啟動且用以平行測試多個受測裝置120_1~120_N。

關於功能測試模組114_1~114_N，功能測試模組114_1~114_N根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來與相對應的該受測裝置進行對應的功能測試。須注意的是，功能測試模組114_1~114_N中的每一個都具有不同的測試功能或測試信號，並且，在一實施例中，功能測試模組114_1~114_N中的每一個都能夠獨立運作。功能測試模組114_1~114_N之測試功能，例如為射頻功能測試、影音功能測試與光學功能測試，但並不以所列舉者為限，其測試功能之種類並非用以限制本揭露內容。

接下來要教示的，是進一步說明平行多工測試系統100的工作原理。

為了更清楚了解本揭露內容之平行多工測試系統100的工作機制，以下請同時參照圖1與圖2，圖2為根據本發明實施例之圖1之平行多工測試系統之平行測試之示意圖。當平行多工測試系統100在測試週期T1，平行多工測試系統100會根據韌體來平行多工地對受測裝置120_1~120_N進行對應的功能測試，以使全部之受測裝置120_1~120_N能夠利用測試信號S_1~S_N來同時透過不同的測試通道CH_1~CH_N來進行不同之功能測試。也就是說，當平行多工測試系統100在測試週期T1，功能測試模組114_1~114_N會根據中央處理單元112所傳送之指示信號1S來同時地對受測裝置120_1~120_N進行對應的功能測試，以使全部之受測裝置120_1~120_N能夠同時透過不同的測試通道CH_1~CH_N來進行不同之功能測試，以達到多通道平行多工處理之效果。換句話說，在測試週期T1之一時間槽，平行多工測試系統100會根據韌體尋找相對應之功能測試模組對受測裝置進行對應的功能測試，以使全 部之受測裝置同時透過不同的測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數。接下來，在測試週期T1之另一時間槽，中央處理單元112會根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號IS至對應的功能測試模組，以發出測試信號經過測試通道來測試對應的受測裝置。

舉例來說，在本實施例中，測試週期T1內包括N個時間槽(time slot)t_11~t_1N。當平行多工測試系統100在時間槽t_11~t_1N之第一個時間槽t_11時，功能測試模組114_1~114_N之第一個功能測試模組114_1會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第一個受測裝置120_1進行第一個功能測試(亦即第一個功能測試項)。第一個功能測試模組114_1會透過測試通道CH_1且利用測試信號S_1來對受測裝置120_1進行功能測試。同樣地，中央處理單元112會根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號IS至對應的功能測試模組。所以當在時間槽t_11~t_1N之第一個時間槽t_11時，功能測試模組114_1~114_N之第二個功能測試模組114_2會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第二個受測裝置120_2進行第二個功能測試(亦即第二個功能測試項)。第二個功能測試模組114_2會透過測試通道CH_2且利用測試信號S_2來對受測裝置120_2進行功能測試。依此類推，功能測試模組114_1~114_N之第N個功能測試模組114_N會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第N個受測裝置120_N進行第N個功能測試(亦即第N個功能測試項)。第N個功能測試模組114_N會透過測試通道CH_N且利用測試信號S_N來對受測裝置120_N進行功能測試。

此外，當平行多工測試系統100在時間槽t_11~t_1N之第二個時間槽t_12時，平行多工測試系統100開始循序地進行測試切換。進一步來說，功能測試模組114_1~114_N之第一個功能測試模組 114_1會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第二個受測裝置120_2進行第一個功能測試(亦即第一個功能測試項)。亦即，第一個功能測試模組114_1會透過測試通道CH_1且利用測試信號S_1來對受測裝置120_2進行功能測試。同樣地，中央處理單元112會根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號IS至對應的功能測試模組。所以當在時間槽t_11~t_1N之第二個時間槽t_12時，功能測試模組114_1~114_N之第二個功能測試模組114_2會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第三個受測裝置120_3進行第二個功能測試(亦即第二個功能測試項)。亦即，第二個功能測試模組114_2會透過測試通道CH_2且利用測試信號S_2來對受測裝置120_3進行功能測試。依此類推，功能測試模組114_1~114_N之第N個功能測試模組114_N會根據中央處理單元112所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1~120_N之第一個受測裝置120_1進行第N個功能測試(亦即第N個功能測試項)。亦即，第N個功能測試模組114_N會透過測試通道CH_N且利用測試信號S_N來對受測裝置120_1進行功能測試。

透過上述工作機制，平行多工測試系統100會根據平行測試演算法(亦即韌體)並且每一個時間槽使得全部之受測裝置120_1~120_N同時透過不同的測試通道CH_1~CH_N來進行不同之功能測試。值得一提的是，在另一實施例中，本領域具有通常知識者應可透過上述之說明來理解平行多工測試系統100之相關機制。

此外，在平行多工測試系統100結束測試週期T1後，平行多工測試系統100會進入另一測試週期。為了方便了解本揭露內容，圖2所示之測試週期T1僅有一個，但在實際應用上，平行多工測試系統100能夠具有多個測試週期，並不以圖2所示作為限制。接下來，平行多工測試系統100會根據受測裝置尚未測試之功能測試項去要求相對應之功能測試模組實施測試之方式來平行多工(多通道) 測試全部之受測裝置120_1~120_N。承上述，本揭露內容能夠將多種測試功能整合於單一機台以減少機台數量、電源使用量與工作面積，進而節省生產測試成本、測試時間與人力。

為了更詳細地說明本發明所述之平行多工測試系統100的運作流程，以下將舉多個實施例中至少之一來作更進一步的說明。

在接下來的多個實施例中，將描述不同於上述圖1實施例之部分，且其餘省略部分與上述圖1實施例之部分相同。此外，為說明便利起見，相似之參考數字或標號指示相似之元件。

〔平行多工測試系統的另一實施例〕

請參照圖3，圖3為根據本發明另一實施例所繪示之平行多工測試系統之區塊示意圖。如圖3所示，平行多工測試系統300包括中央處理單元311、射頻測試模組314、射頻切換器313、射頻多工器312、影音測試模組315與控制器316，其中射頻測試模組314包括向量信號分析器3141與向量信號產生器3142。射頻測試模組314電性連接中央處理單元311。射頻切換器313電性連接向量信號分析器3141、向量信號產生器3142與中央處理單元311。射頻多工器312電性連接射頻切換器313與中央處理單元311。影音測試模組315電性連接中央處理單元311。控制器316電性連接中央處理單元311。在本實施例中，射頻測試模組314、射頻切換器313與射頻多工器312為一功能測試模組。影音測試模組315與控制器316也分別是平行多工測試系統300中的兩個功能測試模組。平行多工測試系統更包括射頻分配器320_1與320_2、電荷耦合元件350與紅外線遙控模組360。電荷耦合元件350電性連接控制器316，並且紅外線遙控模組360電性連接控制器316。

關於射頻測試模組314，射頻測試模組314根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來決定是否與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)進行射頻功能測試，例如受測裝置之發 送器或接受器，其中射頻測試模組314透過射頻分配器(RF divider)320_1與320_2來進行射頻功能測試。

關於向量信號分析器3141，向量信號分析器3141用以分析對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)之發送器(transmitter)所傳送之測試信號(此為射頻信號)。

關於向量信號產生器3142，向量信號產生器3142用以產生一射頻信號(亦即測試信號)並且傳送至對應的該受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)之接收器(receiver)。

關於射頻切換器313，當射頻切換器313根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來決定與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)之發送器進行射頻功能測試時，則平行多工測試系統300會透過射頻分配器320_1與320_2、射頻多工器312、射頻切換器313與向量信號分析器3141來對受測裝置之發送器進行射頻信號分析。當射頻切換器313根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來決定與相對應的受測裝置之接收器進行射頻功能測試時，則平行多工測試系統300會透過射頻分配器320_1與320_2、射頻多工器312、射頻切換器313與向量信號產生器3142來對受測裝置之接收器進行射頻信號分析。關於射頻多工器312，射頻多工器312根據指示信號IS來決定與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)進行射頻功能測試。

關於影音測試模組315，影音測試模組315根據指示信號IS來與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)進行影音功能測試，其中影音測試模組315透過高清晰度多媒體介面(High Definition Multimedia Interface，簡稱HDMI)切換器330來進行影音功能測試，其中HDMI是一種全數碼化影像和聲音傳送介面，可以傳送未壓縮的音頻及視頻信號。

關於控制器316，控制器316根據指示信號IS來決定與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)進行光學功能測 試，其中控制器316至透過電荷耦合元件(Charge-coupled Device,CCD)350與紅外線遙控(infrared remote,IR remote)模組360來進行光學功能測試。

於本實施例中，平行多工測試系統300在一典型之電子電路受測裝置，會藉由將各種邏輯狀態之測試信號施加至各DUT上之輸入端子來測試各受測裝置(DUT)。藉由監測響應所施加之測試信號而在DUT輸出端子處所產生信號之狀態，來確定各DUT是否正處於預計之運行狀態。當平行多工測試系統300在測試週期，射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312、影音測試模組315與控制器316根據指示信號IS來平行多工地對受測裝置120_1~120_4進行射頻功能測試、影音功能測試與光學功能測試。以下會更進一步說明平行多工測試系統300在測試週期之工作機制。此外，在測試週期之一時間槽，射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312、影音測試模組315與控制器316根據指示信號IS分別透過其對應的測試通道(例如圖1之測試通道CH_1~CH_4其中之一)來同時與相對應的受測裝置(受測裝置120_1~120_4其中之一)進行功能測試。

接下來要教示的，是進一步說明平行多工測試系統300的工作原理。

為了更清楚了解本揭露內容之平行多工測試系統300的工作機制，以下請同時參照圖3與圖4，圖4為根據本發明實施例之圖3之平行多工測試系統之平行測試之示意圖。在本實施例中，為了方便說明本揭露內容，本實施例將上述圖1與圖2之實施例中的N假設為4，亦即，在本實施例中，平行多工測試系統300會根據設計者所設計之平行測試演算法(亦即韌體)平行測試四個受測裝置120_1~120_4。

當平行多工測試系統300在測試週期T1，平行多工測試系統300會根據韌體平行多工地對受測裝置120_1~120_4進行對應的 功能測試，以使全部之受測裝置120_1~120_4能夠利用測試信號S_1~S_4來同時透過不同的測試通道CH_1~CH_4來進行不同之功能測試。也就是說，當平行多工測試系統300在測試週期T1，射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312、影音測試模組315與控制器316會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來同時地對受測裝置120_1~120_4進行射頻功能測試、影音功能測試與光學功能測試，以使全部之受測裝置120_1~120_4能夠同時透過不同的測試通道CH_1~CH_4來進行不同之功能測試，以達到多通道平行多工處理之效果。值得一提的是，在進行平行多工測試前，平行多工測試系統300會透過機器手臂來逐一將受測裝置120_1~120_4中的每一個放置到隔離箱內並且啟動電源。

進一步來說，在本實施例中，測試週期T1內包括四個時間槽(time slot)t_11~t_14。當平行多工測試系統300在時間槽t_11~t_14之第一個時間槽t_11時，平行多工測試系統300之一功能測試模組(圖3未繪示)會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_1進行第一種功能測試，其中該第一種功能測試為電力消耗率和條碼掃描(power consumption rate and bar code scan)之功能測試項。關於電力消耗率與條碼掃描之功能測試模組(圖3未繪示)會透過測試通道CH_1且利用測試信號S_1來對受測裝置120_1進行功能測試。

如圖4所示，同樣地當在時間槽t_11~t_14之第一個時間槽t_11(測試週期T1內)，平行多工測試系統300內之射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312(射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312為一單獨的功能測試模組)會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_2進行射頻功能測試。亦即，當在時間槽t_11~t_14之第一個時間槽t_11，電力消耗率和條碼掃描之功能測試模組與射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312(射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻 多工器312為一單獨的功能測試模組)會分別透過測試通道CH_1與CH_2且利用測試信號S_1與S_2來對受測裝置120_1與120_2進行電力消耗率和條碼掃描之功能測試與射頻功能測試。關於射頻功能測試之細節，當平行多工測試系統300對受測裝置120_2進行射頻功能測試時，射頻切換器313與射頻多工器312會根據指示信號IS來將測試路徑導向至受測裝置120_2。之後，射頻測試模組314會透過向量信號產生器3142來產生一測試信號並且透過射頻切換器313、射頻多工器312與射頻分配器320_1與320_2之路徑來對受測裝置120_2之接收器進行測試並且並將受測裝置120_2對測試訊號之反應傳回至平行多工測試系統300之向量信號分析器3141，以得知該受測裝置120_2之品質是否良好。

再者，在同一時間槽t_11，平行多工測試系統300內之影音測試模組315會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_3進行影音功能測試。換句話說，在同一時間槽t_11，電力消耗率和條碼掃描之功能測試模組、射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312(射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312為一單獨的功能測試模組)與影音測試模組315會分別透過測試通道CH_1、CH_2與CH_3且利用測試信號S_1、S_2與S_3來對受測裝置120_1、120_2與120_3進行電力消耗率和條碼掃描之功能測試、射頻功能測試與影音功能測試。關於影音功能測試之細節，當平行多工測試系統300對受測裝置120_3進行影音功能測試時，受測裝置120_3會傳送HDMI信號且經由HDMI切換器330至影音測試模組315以進行影音信號之分析。另外，受測裝置120_3也會傳送RCA信號至訊號轉換器340以將RCA信號轉換為HDMI信號，再透過HDMI切換器330傳送至影音測試模組315以進行影音信號之分析。

此外，在時間槽t_11，平行多工測試系統300內之控制器316會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS來對受測裝置120_4 進行光學功能測試。換句話說，在時間槽t_11，電力消耗率和條碼掃描之功能測試模組、射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312(射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312為一單獨的功能測試模組)、影音測試模組315與控制器316會分別透過測試通道CH_1、CH_2、CH_3與CH_4且利用測試信號S_1、S_2、S_3與S_4來對受測裝置120_1、120_2、120_3與120_4進行電力消耗率和條碼掃描(power consumption rate and bar code scan)之功能測試、射頻功能測試、影音功能測試與光學功能測試。關於光學功能測試之細節，當平行多工測試系統300對受測裝置120_4進行光學功能測試(如LED或IR)時，受測裝置120_4之LED燈會閃爍並且透過電荷耦合元件350將光信號傳送至控制器以進行光信號分析。此外，控制器316還會傳送另一光信號且透過紅外線遙控模組360來對受測裝置120_4之紅外線接收端進行測試。

依此，在接下來的時間槽t_12、t_13與t_14，平行多工測試系統300內之各功能測試模組(包含控制器316)會根據中央處理單元311所傳送之指示信號IS，對受測裝置120_1~120_4分別進行上述舉例之各項功能的測試並完成對受測裝置120_1~120_4之各項功能測試。

當在測試週期T1，所舉例之電力消耗率和條碼掃描之功能測試模組(圖未示)、射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312(射頻測試模組314、射頻切換器313和射頻多工器312為一單獨的功能測試模組)、影音測試模組315以及控制器316，根據指示信號IS循序地對所舉例之受測裝置120_1~120_4進行電力消耗率和條碼掃描功能測試、射頻功能測試、影音功能測試以及光學功能測試。

此外，為了方便了解本揭露內容，圖4所示之測試週期T1僅有一個，但在實際應用上，平行多工測試系統300能夠具有多個測試週期，並不以圖4所示作為限制。接下來，平行多工測試系統300 會根據尚未測試之功能測試項去要求相對應之測試模組實施測試之方式來平行多工(多通道)測試全部之受測裝置120_1~120_4。進一步來說，受測裝置120_1、120_2、120_3與120_4中尚未測試之項目，程式會自動切換至未測之設備以進行測試。關於後續的測試週期，透過上述實施例之工作機制，本領域具有通常知識者應可理解，在此不再贅述。承上述，本揭露內容能夠將多種測試功能整合於單一機台以減少機台數量、電源使用量與工作面積，進而節省生產測試成本、測試時間與人力。在一例示性實施例中，生產測試成本能夠節省30%，測試時間能夠節省20%。

〔平行多工測試方法的一實施例〕

請參照圖5，圖5為根據本發明實施例之平行多工測試方法之流程圖。本實施例所述的方法可以在圖1或圖3所示平行多工測試100或300上執行，因此請一併照圖1~圖4以利理解。而平行多工測試方法包括以下步驟：透過中央處理單元，根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號以進行測試(步驟S510)。透過N個功能測試模組，根據指示信號來與相對應的受測裝置進行對應的功能測試，每一個功能測試模組具有不同的測試功能(步驟S520)。在測試週期之時間槽，平行多工測試系統根據韌體尋找相對應之功能測試模組對受測裝置進行對應的功能測試，以使全部之受測裝置同時透過不同的測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數(步驟S530)；以及，在測試週期之另一時間槽，中央處理單元根據韌體來判斷受測裝置中尚未測試之項目並且傳送指示信號至對應的功能測試模組，以發出測試信號經過測試通道來測試對應的受測裝置(步驟S540)。

關於平行多工測試系統之平行多工測試方法之各步驟的相關細節在上述圖1~圖4實施例已詳細說明，在此恕不贅述。在此須說明的是，圖5實施例之各步驟僅為方便說明之須要，本發明實施 例並不以各步驟彼此間的順序作為實施本發明各個實施例的限制條件。

〔實施例的可能功效〕

綜上所述，本發明實施例所提出之平行多工測試系統及其方法，能夠整合多個測試功能於單一機台以減少機台數量，進而節省生產測試成本、測試時間、人力。

以上所述僅為本發明之實施例，其並非用以侷限本發明之專利範圍。

120_1、120_2、120_3、120_4‧‧‧受測裝置

300‧‧‧平行多工測試系統

311‧‧‧中央處理單元

312‧‧‧射頻多工器

313‧‧‧射頻切換器

314‧‧‧射頻測試模組

3141‧‧‧向量信號分析器

3142‧‧‧向量信號產生器

315‧‧‧影音測試模組

316‧‧‧控制器

320_1、320_2‧‧‧射頻分配器

330‧‧‧HDMI切換器

340‧‧‧訊號轉換器

350‧‧‧電荷耦合元件

360‧‧‧紅外線遙控模組

IS‧‧‧指示信號

Claims (10)

1. 一種平行多工測試系統，用於以N個測試信號透過N個測試通道對N個隔離箱內之N個受測裝置進行測試，該平行多工測試系統包括：一中央處理單元，根據一韌體來判斷該些受測裝置中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號以進行測試；以及N個功能測試模組，電性連接該中央處理單元，該些功能測試模組根據該指示信號來與相對應的該受測裝置進行對應的功能測試，每一該些功能測試模組具有不同的測試功能，其中在一測試週期之一時間槽，該平行多工測試系統根據該韌體尋找相對應之該些功能測試模組對該些受測裝置進行對應的功能測試，以使全部之該些受測裝置同時透過不同的該些測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數，其中在該測試週期之另一時間槽，該中央處理單元根據該韌體來判斷該些受測裝置中尚未測試之項目並且傳送該指示信號至對應的該些功能測試模組，以發出該些測試信號經過該些測試通道來測試對應的該些受測裝置。
2. 如請求項1所述之平行多工測試系統，其中該平行多工測試系統包括：一射頻分配器；一射頻測試模組，包括一向量信號分析器與一向量信號產生器，該射頻測試模組電性連接該中央處理單元，該射頻測試模組根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一射頻功能測試，其中該射頻測試模組透過該射頻分配器來進行該射頻功能測試； 一影音測試模組，電性連接該中央處理單元，該影音測試模組根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一影音功能測試，其中該影音測試模組透過一高清晰度多媒體介面切換器來進行該影音功能測試；一電荷耦合元件；一紅外線遙控模組；以及一控制器，電性連接該中央處理單元，該控制器根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一光學功能測試，其中該控制器透過該電荷耦合元件與該紅外線遙控模組來進行該光學功能測試，當在該測試週期，該射頻測試模組、該影音測試模組與該控制器根據該指示信號來平行多工地對該些受測裝置進行該射頻功能測試、該影音功能測試與該光學功能測試。
3. 如請求項2所述之平行多工測試系統，其中該向量信號分析器用以分析對應的該受測裝置之一發送器所傳送之該測試信號，並且該向量信號產生器用以產生一射頻信號且傳送至對應的該受測裝置之一接收器。
4. 如請求項2所述之平行多工測試系統，其中該測試週期具有一時間槽，在該時間槽該射頻測試模組、該影音測試模組與該控制器根據該指示信號分別透過其對應的該測試通道來同時對相對應的該受測裝置進行功能測試。
5. 如請求項2所述之平行多工測試系統，其中該平行多工測試系統更包括：一射頻切換器，電性連接該向量信號分析器、該向量信號產生器與該中央處理單元；以及一射頻多工器，電性連接該射頻切換器與該中央處理單元，該射頻多工器根據該指示信號來決定對相對應的該受測裝置進行該射頻功能測試， 其中當該射頻切換器根據該指示信號來決定對相對應的該受測裝置之一發送器進行該射頻功能測試時，則該平行多工測試系統透過該射頻分配器、該射頻多工器、該射頻切換器與該向量信號分析器來對該受測裝置之該發送器進行射頻信號分析，其中當該射頻切換器根據該指示信號來決定對相對應的該受測裝置之一接收器進行該射頻功能測試時，則該平行多工測試系統透過該射頻分配器、該射頻多工器、該射頻切換器與該向量信號產生器來對該受測裝置之該接收器進行射頻信號分析。
6. 一種平行多工測試方法，用於一平行多工測試系統，該平行多工測試系統用於以N個測試信號透過N個測試通道對N個隔離箱內之N個受測裝置進行測試，該平行多工測試系統包括一中央處理單元與N個功能測試模組，該些功能測試模組電性連接該中央處理單元，其中每一該些功能測試模組具有不同的測試功能並且N為大於1之正整數，該平行多工測試方法包括：透過該中央處理單元，根據一韌體來判斷該些受測裝置中尚未測試之項目並且傳送至少一指示信號以進行測試；透過N個功能測試模組，根據該指示信號來與相對應的該受測裝置進行對應的功能測試，每一該些功能測試模組具有不同的測試功能；在一測試週期之一時間槽，該平行多工測試系統根據該韌體尋找相對應之該些功能測試模組對該些受測裝置進行對應的功能測試，以使全部之該些受測裝置同時透過不同的該些測試通道來進行不同之功能測試，其中N為大於1之正整數；以及在測試週期之另一時間槽，中央處理單元根據該韌體來判斷該些受測裝置中尚未測試之項目並且傳送該指示信號至對 應的該些功能測試模組，以發出該些測試信號經過該些測試通道來測試對應的該些受測裝置。
7. 如請求項6所述之平行多工測試方法，其中該些功能測試模組包括：一射頻分配器；一射頻測試模組，包括一向量信號分析器與一向量信號產生器，該射頻測試模組電性連接該中央處理單元，該射頻測試模組根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一射頻功能測試，其中該射頻測試模組透過該射頻分配器來進行該射頻功能測試；一影音測試模組，電性連接該中央處理單元，該影音測試模組根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一影音功能測試，其中該影音測試模組透過一高清晰度多媒體介面切換器來進行該影音功能測試；一電荷耦合元件；一紅外線遙控模組；以及一控制器，電性連接該中央處理單元，該控制器根據該指示信號來決定是否與相對應的該受測裝置進行一光學功能測試，其中該控制器透過該電荷耦合元件與該紅外線遙控模組來進行該光學功能測試，當在該測試週期，該射頻測試模組、該影音測試模組與該控制器根據該指示信號來循序地對該些受測裝置進行該射頻功能測試、該影音功能測試與該光學功能測試。
8. 如請求項7所述之平行多工測試方法，其中該向量信號分析器用以分析對應的該受測裝置之一發送器所傳送之該測試信號，並且該向量信號產生器用以產生一射頻信號且傳送至對應的該受測裝置之一接收器。
9. 如請求項7所述之平行多工測試方法，其中該測試週期具有一 時間槽，在該時間槽該射頻測試模組、該影音測試模組與該控制器根據該指示信號分別透過其對應的該測試通道來同時與相對應的該受測裝置進行功能測試。
10. 如請求項7所述之平行多工測試方法，其中該平行多工測試系統更包括：一射頻切換器，電性連接該向量信號分析器、該向量信號產生器與該中央處理單元；以及一射頻多工器，電性連接該射頻切換器與該中央處理單元，該射頻多工器根據該指示信號來決定與相對應的該受測裝置進行該射頻功能測試，其中當該射頻切換器根據該指示信號來決定與相對應的該受測裝置之一發送器進行該射頻功能測試時，則該平行多工測試系統透過該射頻分配器、該射頻多工器、該射頻切換器與該向量信號分析器來對該受測裝置之該發送器進行射頻信號分析，其中當該射頻切換器根據該指示信號來決定與相對應的該受測裝置之一接收器進行該射頻功能測試時，則該平行多工測試系統透過該射頻分配器、該射頻多工器、該射頻切換器與該向量信號產生器來對該受測裝置之該接收器進行射頻信號分析。