TWI521216B - 指示體檢測裝置及指示體檢測方法 - Google Patents

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Description

指示體檢測裝置及指示體檢測方法
本發明，例如係有關於被使用在觸控面板中之指示體檢測裝置及指示體檢測方法。更詳細而言，係有關於藉由靜電耦合方式而成為能夠正確地檢測出複數的指示體之位置的指示體檢測裝置及指示體檢測方法。
於先前技術中，作為在觸控面板等之中所使用的指示體之位置檢測的方式，例如，係提案有電阻膜方式、靜電耦合方式(靜電電容方式)等之各種的感測方式。於近年，靜電耦合方式之指示體檢測裝置的開發係活躍地進行。
在靜電耦合方式中，係存在有表面型(Surface Capacitive Type)與投影型(Projected Capacitive Type)之2種類的方式。表面型，例如係被適用在ATM(Automated Teller Machine，現金自動提存機)等之中，投影型，例如係被適用在行動電話等之中。另外，此兩種方式，均係將感測電極與指示體(例如手指、靜電筆等)之間的靜電耦合狀態之變化檢測出來，而檢測出指示體之位置。
投影型靜電耦合方式之指示體檢測裝置，係將被作了並列配置之複數的電極和指示體之間的靜電耦合狀態之變化檢測出來，例如係在玻璃等之透明基板或是透明薄膜 上，將電極以特定之圖案來形成並構成之，並將指示體作了接近時之指示體與電極間的靜電耦合狀態之變化檢測出來。於先前技術中，關於此種方式之指示體檢測裝置，例如，係提案有專利文獻1(日本特開2003-22158號公報)、專利文獻2(日本特開平9-222947號公報)、專利文獻3(日本特開平10-161795號公報)等之各種的技術。另外，在專利文獻1中，係記載著將使用有正交展頻碼的代碼分割多重化方式適用在多使用者觸控系統中之技術。在專利文獻2中，係記載著使用有擬似隨機碼(PN碼)之座標輸入裝置。又，在專利文獻3中，係記載著在靜電電容型座標裝置中所被使用的作為指示體之筆。
近年來，係提案有被稱作交叉點靜電耦合方式之方式的指示體檢測裝置。此交叉點靜電耦合方式，係在X方向以及Y方向上分別配置複數之電極並形成導體圖案，而對於各電極作正交之交點(交叉點)處的靜電耦合狀態作測定。若是手指作接近，則在手指作了接近的交叉點處，由於其之靜電耦合狀態會改變，因此，藉由將此一靜電耦合狀態作了改變的交叉點之座標檢測出來，係能夠檢測出手指之位置。
[先前技術文獻] [專利文獻]
[專利文獻1]日本特開2003-22158號公報
[專利文獻2]日本特開平9-222947號公報
[專利文獻3]日本特開平10-161795號公報
另外，靜電耦合方式之指示體檢測裝置，係對於送訊導體供給送訊訊號，並將從受訊導體所得到之電流中的在各交叉點處之透過指示體所流出了的電流量，作為電流之變化量而檢測出來，藉由此，而檢測出指示體是否對於該交叉點作了指示。但是，由於此一電流之變化量係為微小，因此，係要求能夠使指示體檢測裝置之S/N比提昇。
於此，當作為送訊訊號而使用了PN碼等之正交碼的情況時，係能夠藉由對於供給至各送訊導體處之PN碼的碼長度設定為較長，來提升指示體檢測裝置之S/N比。然而，若是僅單純經由相同碼列之重複來將送訊訊號之碼長度增長，則在用以求取出指示體所指示之位置的相關計算中，係成為求取出與相同碼列之反覆出現相對應了的複數之峰值，而無法導致S/N比之改善。故而，在進行訊號送訊時，當使用較長之碼的情況時，係並非將相同之碼列直接作重複，而是需要準備所必要之長度的碼列。
因此，本發明之目的，係在於提供一種：藉由將相互具備特定之關連性的2種類之碼作組合，而能夠將S/N比提昇之指示體檢測裝置以及方法。
另一方面，若是將2種類之碼作組合而將供給至送訊導體處之訊號的碼長度增長，則會產生對於指示體之檢測 的追隨性有所損害的問題。具體而言，當在對於在某一時刻處而指示體作了指示的交叉點而結束了最初之碼訊號之供給的時間點處，而指示體移動至其他之交叉點處的情況時，第2個的碼訊號之供給，係成為在其他之交叉點處而進行，並產生無法正確地檢測出手指位置的問題。
因此，本發明之又一目的，係在於提供一種：就算是由於被送訊之碼的碼長度變長而導致送訊訊號之反覆週期變長，亦不會損及追隨性之指示體檢測裝置及其方法。
為了解決上述課題，本發明，係提供一種指示體檢測裝置，其特徵為，具備有：導體圖案，係由被配置在第1方向上之複數的第1導體、和被配置在相對於前述第1方向而交叉之第2方向上之複數的第2導體所成；和訊號供給電路，係用以產生由身為相互具備有同一之碼長度並且相互具備有特定之關連性的碼之第1以及第2碼所成之送訊訊號，並供給至前述第1導體處；和訊號檢測電路，係被與前述複數的第2導體作連接，並用以將對應於前述導體圖案與指示體之間的靜電電容之改變的受訊訊號檢測出來；和相關演算電路，係將在藉由前述訊號檢測電路所檢測出之前述受訊訊號與對應於前述第1碼之第1相關值演算用訊號之間的第1相關值計算出來，並且將在藉由前述訊號檢測電路所檢測出之前述受訊訊號與對應於前述第2碼之第2相關值演算用訊號之間的第2相關值計算出來； 和合成電路，係計算出藉由對於以前述相關演算電路所計算出之前述第1相關值和前述第2相關值進行演算所合成之合成相關值，根據在前述合成電路中所得到之前述合成相關值，來檢測出前述指示體。
若依據上述一般之構成，則作為第1碼和第2碼，就算是使用了並不具備正交性之碼，亦可藉由使用在求取出前述第1相關值和前述第2相關值時會使作為鬼影訊號而被檢測出之成分相互成為逆極性一般之相互具備有特定之關連性的碼，來成為使前述鬼影訊號之成分在前述第1相關值和前述第2相關值之合成相關值中而被抵消，而能夠進行將S/N比作了改善的指示體檢測。
又，作為第1碼和第2碼，藉由使用相互具備特定之關連性並且具有極性反轉之關係的一對之碼，係能夠將在合成相關值中所包含的直流偏位成分除去。亦即是，由於第1碼和第2碼係具備有相互作了極性反轉之位元形態的關係，因此，在第1相關值中所包含之直流偏位和在第2相關值中所包含之直流偏位，係成為作為逆極性之值而被檢測出來，藉由求取出對於第1相關值和第2相關值而進行了演算的合成相關值，互為逆極性之直流偏位成分係被抵消。
若依據本發明，則藉由作為送訊訊號而使用第1碼和與該第1碼間具有特定之關連性的第2碼，係能夠提供一 種就算是在使用了不具備正交性之碼的情況時亦能夠將S/N比作提昇之指示體檢測裝置以及方法。又，係能夠提供一種就算是由於訊號送訊時之碼長度變長而導致送訊訊號之反覆週期變長亦不會損及指示體檢測之追隨性的指示體檢測裝置及其方法。
以下，參考圖面，對於由本發明所致之指示體檢測裝置的實施形態作說明。
[第1實施形態]
本實施形態之指示體檢測裝置，係藉由靜電耦合方式來檢測出指示體之在指示輸入面上的指示位置。另外，在此說明書中，於指示輸入面上之座標位置，係作為藉由相互正交之X軸方向以及Y軸方向的位置所制定者來進行說明。又，在以下之說明中，主要係針對將使用者之手指作為指示體而使用的情況來作說明，但是，亦可將在專利文獻3中所揭示之靜電筆或導體棒等作為指示體來使用。又，在以下所說明之實施形態，係為能夠將同時地存在於指示輸入面處之複數的指示體(例如複數根的手指)檢測出來之例。
進而，以下所說明之實施形態，係具備有以能夠將在指示輸入面上之指示體的位置檢測以高速來進行的方式而作了費心設計的構成。又，係有著將被供給至送訊導體處 之訊號以及從受訊導體所取出之訊號，作為代表其係包含有特定之碼一事的用語，而稱作碼訊號的情形。關於碼，亦同樣的，在相關於位元形態的情況時，係有將其稱作碼列或者是位元列的情形。
圖1中所示之指示體檢測裝置1，係藉由感測部100、和送訊部200、和受訊部300、和對於送訊部200以及受訊部300的動作作控制之控制電路40所構成。
控制電路40，係對於指示體檢測裝置1的各部進行控制，例如係搭載有微電腦所構成者。
受訊部300，係為用以藉由將從構成受訊導體群12之各受訊導體所得到的受訊訊號(電流訊號)作放大並對於受訊訊號進行訊號處理，來進行指示體之檢測者。受訊部300，係具備有：受訊導體選擇電路31、和放大電路32、和A/D(Analog to Digital)變換電路33、和位置檢測電路34，而構成之。位置檢測電路34，係為根據A/D變換電路33之輸出訊號而求取出指示體之有無或者是指示位置之位置座標者，並為由演算處理電路35和輸出電路36所構成。
感測部100，係具備有：被與送訊部200作連接之複數的第1導體、和被與受訊部300作連接之複數的第2導體。在以下之說明中，例如由64根之送訊導體11Y1~11Y64所成之第1導體，係身為送訊導體，並構成送訊導體群11。又，例如由128根的受訊導體12X1~12X128所成之第2導體，係身為受訊導體，並構成受訊導體群 12。以下，將被附加於此送訊導體以及受訊導體之各導體處的號碼，稱作索引號碼。另外，構成送訊導體群11之送訊導體的根數、以及構成受訊導體群12之受訊導體的根數，係因應於指示輸入面100S之尺寸等的實施形態而適宜被設定。
構成送訊導體群11之64根的送訊導體之各個，係身為在感測部100之X軸方向(圖1之橫方向)上延伸配置的直線狀之導體。構成受訊導體群12之128根的受訊導體之各個，係身為在感測部100之Y軸方向(縱方向)上延伸配置的直線狀之導體。送訊導體群11和受訊導體群12，係隔著絕緣材而被作對向配置。送訊導體和受訊導體相交叉之點，係被稱作交叉點。
送訊導體以及受訊導體，例如，係藉由銀圖案或者是由ITO(Indium Tin Oxide：氧化銦錫)膜所成之透明電極膜或者是銅箔等所形成者。
圖2，係對於被供給至送訊導體處之碼訊號的位元配置作展示。輸出碼Csi，係在供給了碼Asi之一週期份的位元列(a1、a2、…a16)之後，供給碼Bsi之一週期份的位元列(b1、b2…、b16)。故而，相對於碼Asi，由於碼Bsi係延遲了碼Asi之一週期份的時間td1，因此，在對基於碼Asi之相關值和基於碼Bsi之相關值進行演算合成時，係對於td1之時間差作考慮而算出合成相關值。
圖3，係對於送訊部200之構成作展示。送訊部200，係具備有：送訊訊號供給電路21、和送訊導體選擇 電路22、和時脈產生電路23、以及控制電路40。
構成送訊導體群11之64根的送訊導體11Y1~11Y64，例如係被分割為各由4根所成之16個的送訊區塊TB1~TB16。因此，送訊訊號供給電路21，係產生16個的相異之碼列。故而，送訊訊號供給電路21，係具備有產生分別具備同一之碼長度並且相互具有特定之關係的一對之碼之碼Asi產生電路211和碼Bsi產生電路212。
於此，作為送訊訊號之其中一例，對於互補碼作詳述。互補碼，係為根據一對之種源碼所產生之相互具有特定之關連性的一對之碼。作為種源碼，係有著2位元、10位元、26位元之3個。根據各個種源碼，係可產生具備有2n、5×2n、13×2n(n係為1以上之整數)位元的碼長度之一對的互補碼。
於圖4中，對於以2位元之種源碼作為基礎而產生一對之互補碼AN以及BN的方法作展示。另外，在A、B之文字處所附加的下標尾綴(suffix)，係代表一對之互補碼A以及B的碼長度。又，記號「&」，係代表將碼列作連結。以2位元之種源碼為基礎的4位元之碼A4，係為在2位元之種源碼A2之後連結了2位元之種源碼B2的碼。又，4位元之碼B4，係為在2位元之種源碼A2之後將2位元之種源碼B2作極性反轉並作連結之碼。亦即是，一對的互補碼A以及B，係為根據種源碼A2和種源碼B2、以及種源碼A2和種源碼B2之邏輯反轉碼，所產生者。故而，在碼A和碼B之間，係具有特定之關連 性。關於碼A8、碼B8，係亦可同樣的來產生。又，關於10位元之種源碼或26位元之種源碼的情況，亦可同樣的而作成具備有特定之碼長度的一對之互補碼。
產生出複數組的將如同上述一般所作成之一對的互補碼AN以及BN之各別的位元列從最終位元而朝向開頭位元各作了1位元之移動的一對之互補碼，並將構成該些複數組之各組的一對之互補碼一位元一位元地相互作同步，而依序作輸出，藉由此，來作為送訊訊號而供給至各個送訊導體處。此時，作為1個的送訊訊號，係設為互補碼A(以下，為了簡略化，將其單純稱作碼A)和互補碼B(以下，為了簡略化，將其單純稱作碼B)之間的時間分割多重訊號。以下，將針對此碼A或碼B而把其之最終位元朝向開頭位元移動並且將碼作橫移(shift)一事，稱作「輪轉(rotate)」。故而，藉由將碼長度分別為16位元之一對的互補碼A16以及B16一次一位元地作輪轉，而作成16組之1對的碼。之後，將此16組的一對之碼，作為16個的相異之送訊訊號來使用。
於圖5(A)以及(B)中，對於此在第1實施形態中所使用之分別由16位元所成的一對之碼A16以及碼B16的互補碼作例示。碼Asi(i=0、1、2、…、15)，係對於將成為輪轉之基礎的碼As0從其之最終位元而朝向開頭位元作了i位元份之輪轉的碼作展示。例如，碼As1，係代表將碼As0作了1位元份之輪轉的碼，碼As2，係代表將碼As0作了2位元份之輪轉的碼，…，碼As15，係代 表將碼As0作了15位元份之輪轉的碼。以下，將此成為基礎之碼As0，稱作「基礎碼As0」。
同樣的，碼Bsi(i=0、1、2、…、15)，係對於將成為輪轉之基礎的碼Bs0作了i位元份之輪轉的碼作展示。故而，係如同碼As0和碼Bs0、碼As1和碼Bs1、…一般地，而將1對之碼Asi和碼Bsi作為1個的碼訊號，來供給至相同之送訊導體處。以下，將此成為基礎之碼BS0，稱作「基礎碼Bs0」，並將從碼As0或碼Bs0之最終位元來朝向開頭位元作了i位元份之輪轉一事，單純稱作「作i位元份(數)之輪轉」。記號aj(j=1、2、…、16)，係代表碼Asi(但是，i=j-1)之碼列之第j個的位元，記號bj(j=1、2、…、16)，係代表碼Bsi(但是，j=i-1)之碼列之第j個的位元。
而後，將關於各個碼Asi之相關值和關於各個碼Bsi之相關值求取出來，並根據對於此求取出之2個的相關值進行演算合成所得的合成相關值，來進行指示體之檢測。亦即是，針對碼A，係準備與碼As0、As1、As2、…As15相對應之相關值演算用碼As0’、As1’、As2’、…As15’。於此，所謂與碼Asi相對應之相關值演算用碼Asi’，係為將與基礎碼As0相對應之相關值演算用碼As0’作了與碼Asi相同碼長度之輪轉的碼Asi’(=Asi)。而後，求取出此些之相關值演算用碼As0’~As15’之各個和從受訊導體所得到之受訊訊號間的相關值(第1相關值)。針對碼B，亦同樣的，係準備與碼Bs0、Bs1、Bs2、…Bs15相對 應之相關值演算用碼Bs0’、Bs1’、Bs2’、…Bs15’。於此，所謂與碼Bsi相對應之相關值演算用碼Bsi’，係為將與基礎碼Bs0相對應之相關值演算用碼Bs0’作了與碼Bsi相同碼長度之輪轉的碼Bsi’(=Bsi)。而後，求取出此些之相關值演算用碼Bs0’~Bs15’之各個和從受訊導體所得到之受訊訊號間的相關值(第2相關值)。
在第1實施形態中，係對於下述特徵作了利用：亦即是，在根據作為送訊訊號所使用了的碼Asi所受訊了的訊號與對應於此碼Asi所產生了的相關演算用之碼之間所算出的第1相關值、以及根據作為送訊訊號所使用了的碼Bsi所受訊了的訊號與對應於此碼Bsi所產生了的相關演算用之碼之間所算出的第2相關值，其兩者之間，係存在有如同以下所說明一般之互補性的性質。
在圖6(A)中，係展示在相對於作為送訊訊號而使用碼Asi時所得到之受訊訊號而使用相關值演算用碼Asi’來進行了相關演算時所得到的第1相關值之表作展示。又，在圖6(B)中，係展示在相對於作為送訊訊號而使用碼Bsi時所得到之受訊訊號而使用相關值演算用碼Bsi’來進行了相關演算時所得到的第2相關值之表作展示。另外，在以下之說明中，係將對於基礎碼As0以及Bs0而使各碼As1~As15以及各Bs1~Bs15作了i位元之輪轉的碼，稱作「橫移碼i」。又，將對於與此基礎碼As0以及Bs0相對應之相關值演算用碼As0’以及Bs0’而使各碼As1’~As15’以及各Bs1’~Bs15’作了i位元之輪轉的碼， 亦稱作「橫移碼i」。
如同由此圖6(A)以及(B)之表而可得知一般，當作為送訊訊號而使用了的碼和在相關演算中所使用了的相關值演算用碼之橫移碼i為相同的情況時，所得到之相關值係成為最大值。具體而言，如圖6(A)中所示一般，作為送訊訊號所使用之碼Asi、和同樣橫移碼i之相關值演算用碼Asi’，其兩者間之第1相關值，係成為「16」。故而，與相關值演算用碼Asi’相對應之碼Asi，係可作為第1相關值呈現最大值「16」者而檢測出來。
另一方面，在送訊訊號中所使用之碼Asi和橫移碼i為相異之相關值演算用碼Ask’(i≠k：k=0、1、2、…、15)，其兩者間之第1相關值，係並非僅會得到「0」(無相關)，而亦會得到「0」以外之特定值(在圖6(A)中，係為「4」、「-4」)(有相關)。
於此，當相對於基礎碼之送訊訊號的橫移碼i、和在相關演算中所使用了的相關演算用碼之橫移碼i，互為相異的情況時，第1相關值，雖然係以全部均為值呈「0」為理想，但是，係亦存在有呈現非「0」之特定值(於此例中，係為「4」、「-4」)者。此事，係起因於作為所使用之碼而使用了不具備正交性之碼一事所導致者。以下，將此種出現在錯誤之位置處的相關值，如同於前已有所述一般，稱作「鬼影訊號」。另外，此結果，係如圖6(B)中所示一般，針對碼B的情況，亦為相同。
在圖6(A)和圖6(B)中，若是對於呈現並非為 「0」之特定值(於此例中，係為「4」、「-4」)的第1相關值和第2相關值作注目，則可以得知，將此特定值作為相關值而呈現出來之碼Asi和相關值演算用碼Ask’(i≠k)之橫移碼k之間的關係，係為與將前述特定值作為相關值而呈現出來之碼Bsi和相關值演算用碼Bsk’(i≠k)之橫移碼k之間的關係完全相同，又，在碼A和碼B中，係展現有其之相關值為逆極性一般之互補性的關係。故而，若是藉由相同之橫移碼i的相關值演算用碼Asi’和Bsi’，來進行相關演算，並將其結果所得到之相關值作加算而作合成，則在作了與相關值演算用碼Asi’和Bsi’相異之碼k的輪轉之碼Ask以及Bsk的相關值中，非「0」之特定的相關值(亦即是鬼影訊號)係被抵消並成為0。故而，關於與相同橫移碼i之相關值演算用碼Asi’和Bsi’相關之相關值的合成相關值，針對相同橫移碼i之碼Asi以及Bsi之相關值，係成為2倍，並且，針對相異橫移碼k之碼Ask以及Bsk之相關值，係全部成為0。
回到圖3，送訊訊號供給電路21，係為對於複數之送訊導體而供給輸出碼Csi(i=0、1、2、…、15)者。其係為由用以分別產生一對之碼Asi以及Bsi的碼Asi產生電路211以及碼Bsi產生電路212、和用以將從此碼Asi產生電路211以及碼Bsi產生電路212所輸出之一對的碼Asi以及Bsi作時間分割多重之切換電路213所成者。碼Asi產生電路211，係產生16個的碼As0、As1、As2、…、As15。又，碼Bsi產生電路212，係產生16個 的碼Bs0、Bs1、Bs2、…、Bs15。在碼Asi產生電路211和碼Bsi產生電路212處，係分別從時脈產生電路23而被輸入有時脈訊號CLK並產生碼。從此時脈產生電路23所輸出之時脈訊號CLK，係亦作為時脈訊號而被輸入至控制電路40處並對於送訊訊號供給電路21之動作作控制。
而，碼Asi產生電路211和碼Bsi產生電路212，係根據控制電路40之控制，而同步於從時脈產生電路23所輸入之時脈訊號CLK，來將16個的碼As0~As15以及16個的碼Bs0~Bs15從開頭位元起來1個1個位元地同步並同時輸出。故而，碼Asi產生電路211，係將由16位元a1~a16所成之碼As0~As15週期性地反覆產生，碼Bsi產生電路212，係將由16位元b1~b16所成之碼Bs0~Bs15週期性地反覆產生。碼As0~As15以及碼Bs0~Bs15，係透過切換電路213而被供給至送訊導體選擇電路22內之相對應的各開關電路2201~2216處。
在此切換電路213處，係從控制電路40而被供給有控制訊號SW1。在此控制訊號SW1之高準位期間中，係將碼Asi產生電路211與後段之送訊導體選擇電路22作連接，並將從碼Asi產生電路211所輸出之碼As0~As15，作為輸出碼Cs0、Cs1、Cs2、…Cs15而輸出。又，若是控制訊號SW1成為低準位期間，則係將碼Bsi產生電路212與後段之送訊導體選擇電路22作連接，並將從碼Bsi產生電路212所輸出之碼Bs0~Bs15，作為輸出碼Cs0~Cs15而輸出。
其結果，透過切換電路213所輸出至送訊導體選擇電路22處之輸出碼Csi(i=0、1、2、…15)，係如圖2中所示一般，為藉由碼Asi和碼Bsi來形成一對之碼並將該碼Asi和碼Bsi交互地作了配置之作了時間分割多重化的碼。另外，此送訊訊號供給電路21，係亦可設為下述之構成：亦即是，藉由將輸出碼Cs0~Cs15之資料預先作了保持的由ROM等所成之非揮發性記憶體來構成，並藉由對於該非揮發性記憶體之讀出位址作控制，而將複數個的輸出碼Cs0~Cs15作輸出。
於圖3中，送訊導體選擇電路22，係具備有與16個的送訊區塊TB1、TB2、…、TB6之各個相互對應之16個的開關電路2201、2202、…、2216。開關電路2201~2216，係分別為1輸入4輸出之開關電路。輸出碼Cs0，係被輸入至開關電路2201處，輸出碼Cs1，係被輸入至開關電路2202處，…，輸出碼Cs15，係被輸入至開關電路2216處。各開關電路2201~2216，其之輸入端係被與切換電路213作連接，其之4個的輸出端係分別被與相對應之各送訊導體作連接。而，各開關電路2201~2216，係成為以特定之處理程序來對於被作了輸入之輸出碼Cs0~Cs15所應被作供給之送訊導體作切換。另外，較理想，係將並未被與輸入端作連接之送訊導體，與任意之基準電位或者是接地作連接。如此這般，藉由將並未被與輸入端作連接之送訊導體和任意之基準電位等作連接，係能夠將由於相鄰之電極的訊號所導致的影響或者是外來雜訊 的影響降低。
開關電路2201，係對應於送訊區塊TB1。此開關電路2201，係對於送訊區塊TB1之4根的送訊導體11Y1、11Y2、11Y3、11Y4一次一根地依序作切換，而供給輸出碼Cs0。又，開關電路2202，係對應於送訊區塊TB2。此開關電路2202，係對於送訊區塊TB2之4根的送訊導體11Y5、11Y6、11Y7、11Y8一次一根地依序作切換，而供給輸出碼Cs1。關於其他之開關電路2203~2216之各個，亦為相同，而將相對應的送訊區塊TB3~TB16之各4根的送訊導體一次一根地依序作切換，並分別供給輸出碼Cs2~Cs15。在此些之開關電路2201~2216處，係藉由從控制電路40而被供給有切換控制訊號SW2，來進行送訊導體選擇處理。
圖7，係對於構成受訊部300之受訊導體選擇電路31、放大電路32、A/D變換電路33的電路構成作展示。
受訊導體選擇電路31，係具備有與16個的檢測區塊DB1~DB16相互對應之16個的開關電路3101~3116。開關電路3101~3116，係分別為8輸入1輸出之開關電路。在此些之開關電路3101~3116的各個處，係分別從相對應之檢測區塊DB1~DB16的各個之8根之受訊導體而被選擇性地輸入有受訊訊號。亦即是，各開關電路3101~3116，係分別對於所對應之檢測區塊DB1~DB16的各個之8根的受訊導體中之1根的受訊導體作選擇，並 供給至後段之放大電路32的I/V變換電路3201~3216處。在開關電路3101~3116處，係藉由從控制電路40而被供給有控制訊號SW3，來進行受訊導體之選擇動作。亦即是，開關電路3101~3116，係在送訊部200每對於全部之送訊導體而供給完了16個的輸出碼Cs0~Cs15時，將所對應之檢測區塊DB1~DB16的受訊導體，切換至下一個的受訊導體。另外，藉由將並未在開關電路3101~3116處而被作選擇的受訊導體，與任意之基準電位或者是接地作連接，係能夠將雜訊耐性提昇。
放大電路32，係由與檢測區塊DB1~DB16之各個相對應之16個的電流-電壓變換電路(以下，稱作I/V變換電路)3201、3202、…、3216所成。在此些之各I/V變換電路3201~3216處，係被供給有從受訊導體選擇電路31之各開關電路3101~3116而來的輸出訊號S1~S16。對於從受訊導體而來之受訊訊號(電流訊號)所設置的I/V變換電路3201，係具備演算放大器41，並在此演算放大器41之輸入輸出端之間連接有電容器42和電阻43。
各I/V變換電路3201~3216，係將從相對應之各檢測區塊DB1~DB16所供給而來的輸出訊號(電流訊號)S1~S16變換為電壓訊號，並作放大而作輸出。在此I/V變換電路3201~3216處而被變換為電壓訊號的輸出訊號S1~S16，係被輸入至A/D變換電路33中。
A/D變換電路33，係具備有16個的A/D變換器 3301、3302、…、3316。在各I/V變換電路3201~3216處而被變換為電壓訊號的輸出訊號，係被輸入至相對應之各A/D變換器3301~3316處，並依據時脈訊號CLK之時序而被作取樣。而後，各A/D變換器3301~3316，係變換為取樣值為8位元之數位樣本資料DS1、DS2、…、DS16並作輸出。
數位樣本資料DS1~DS16，係成為與分別被供給至感測部100之送訊導體處的碼列之各位元相對應了的訊號。但是，在各受訊導體處，由於係重疊流動有藉由將16個的輸出碼Cs0~Cs15同步並同時地供給至16根的送訊導體處一事所得到的電流，因此，輸出訊號S1~S16之數位樣本資料DS1~DS16，係成為將16個的輸出碼Cs0~Cs15之各位元的值作了合成(加算)後之值。具體而言，各數位樣本資料DS1~DS16，係成為使碼As0~As15之位元a1的值作了合成後之值、將碼As0~As15之位元a2作了合成後之值、…、將碼As0~As15之位元a16作了合成後之值、將碼Bs0~Bs15之位元b1作了合成後之值、將碼Bs0~Bs15之位元b2作了合成後之值、…、將碼Bs0~Bs15之位元b16作了合成後之值，因應於各位元之被供給至各送訊導體處的時序，而出現於受訊導體處。從A/D變換電路33所輸出之各數位樣本資料DS1~DS16，係被供給至圖1中所示之位置檢測電路34的演算處理電路35處。
於圖8中，位置檢測電路34，係為根據從A/D變換 電路33所輸出之數位樣本資料DS1~DS16，而進行指示體之存在與否或者是指示位置之檢測者，並為由演算處理電路35和輸出電路36所構成。演算處理電路35，係由16個的相關演算電路35101、35102、…、35116和16個的合成電路35201、35202、…、35216所成。
相關演算電路35101~35116，係為用以對於從A/D變換電路33所輸入之數位樣本資料而進行相關演算的電路。在各相關演算電路35101~35116處，係從分別所對應之A/D變換電路33的各A/D變換器3301~3316而被輸入有數位樣本資料DS1~DS16，並進行與碼As0~As15以及碼Bs0~Bs15相對應之相關演算。而後，將身為針對碼As0~As15之相關演算的結果之相關值、和身為針對碼Bs0~Bs15之相關演算的結果之相關值，供給至相對應之合成電路35201~35216的各個處。各合成電路35201、35202、…、35216，係將關於針對從相對應之相關演算電路35101~35116所供給而來之碼As0~As15的相關值和針對碼Bs0~Bs15之相關值而藉由相同之橫移碼i之相關值演算用碼來進行相關演算所得到了的相關值彼此，進行加算合成。之後，各合成電路35201~35216，係分別將其之加算合成的結果，作為合成相關值而供給至輸出電路36處。
輸出電路36，係為根據從演算處理電路35所輸入而來之合成相關值，來將與指示體之指示位置相對應了的輸出資料作為指示體檢測裝置1之輸出訊號而送出至個人電 腦等之外部裝置處的電路，並由記憶電路361和位置算出電路362所成。記憶電路361，係為用以將在演算處理電路35處所算出了的各合成相關值(稱作RMs0、RMs1、…、RMs15)作暫時記憶的記憶電路。輸出電路36，係將從演算處理電路35所輸出之各合成相關值(RMs0~RMs15)映射至此記憶電路361處。位置算出電路362，係為用以將被記憶在記憶電路361中之全部的合成相關值，和基準值ref作比較，並檢測出指示體之有無以及指示體之位置座標的電路。亦即是，位置算出電路362，係根據合成相關值和基準值ref間之比較，而從該合成相關值所被作了記憶的記憶電路361之位址位置來求取出所對應之位置座標，並作為輸出訊號而送出至個人電腦等之外部裝置處。如此這般，位置算出電路362，由於係能夠藉由對於各合成相關值與基準值ref作比較，來針對各交叉點而獨立地進行指示體之檢測，因此，位置算出電路362，就算是在對於指示輸入面100S而同時地經由複數之指示體來進行了位置指示的情況時，亦能夠將該複數之指示體所作指示的位置同時地檢測出來。
圖9，係針對合成相關值之產生作展示。在合成電路35201~35216之各個處，係將藉由相同之橫移碼i彼此的相關值演算用碼Asi’和Bsi’而進行相關演算所得到的相關值(稱作RAsi以及RBsi)彼此作加算合成，並得到合成相關值(RMs0~RMs15)。例如，圖9(A)中所示之相關值(RAs0)和圖9(B)中所示之相關值(RBs0)間的 合成相關值，針對相同橫移碼i之碼As0以及Bs0，係成為2倍，並且，針對相異之橫移碼的碼As1~As15以及Bs1~Bs15之合成相關值，係全部成為0(圖9(C))。
另外，此基準值ref，係會有由於起因於指示體檢測裝置1之每一者的個體差異或者是環境因素(溫度等)所導致的偏差而有所變化的情況。
因此，在本發明之指示體檢測裝置中，輸出電路36，係將當指示體並不存在於感測部100之指示輸入面100S處時而藉由演算處理電路35之合成電路35201~35216所得到的合成相關值，作為基準值ref而預先記憶在記憶電路361中。以下，將此合成相關值稱為OFFSET值。
而，輸出電路36，在將合成相關值記憶在記憶電路361處時，係從藉由各個的合成電路35201~35216所算出了的合成相關值，來將此作了記憶的OFFSET值(基準值ref)作減算。輸出電路36，係將該減算結果之值，作為各交叉點之合成相關值而記憶在記憶電路361處。若是設為此種構成，則被記憶在記憶電路361處之合成相關值，當指示體並不存在於感測部100之指示輸入面100S處時，係全部成為0。而，當指示體係正與感測部100之指示輸入面100S上作接觸時，被記憶在記憶電路361中之合成相關值，例如係成為負的值。
而後，位置算出電路362，係對於被記憶在記憶電路361中之合成相關值作參考，並檢測出在此記憶電路361 中是否被記憶有展現負的值之合成相關值。而後，位置算出電路362，當檢測出在記憶電路361處係被記憶有展現負的值之合成相關值時，係將與展現該負的值之合成相關值的記憶電路361之位址位置相對應之交叉點，判斷為指示體作了指示之地點。
關於被記憶在記憶電路361中之合成相關值是否成為負的值一事，只要將用以判定指示體之存在有無的基準值(臨限值)設定為0，並對於合成相關值和臨限值作比較即可。但是，為了不與雜訊量等產生反應而更確實地進行判定，若是根據所檢測出之雜訊等來預先對於合成相關值和作比較之臨限值作制定，則為理想。又，亦可設為在求取出OFFSET值時而對於雜訊之狀況作確認並自動性進行設定。
另外，雖係針對將合成相關值和臨限值作比較，並當合成相關值超過此臨限值時則判斷係存在有由指示體所進行之位置指示的情況而作了例示說明，但是，本發明係並不被限定於此。例如，亦可根據存在有合成相關值之變化的交叉點之區域的面積或形狀、亦或是根據合成相關值之時間性的變化量，來檢測出指示體所進行之接觸。又，亦可對於各個的交叉點之每一者而施加平均化濾波器等之處理，或者是適用使用有所注目之交叉點的周圍之合成相關值的空間濾波器。
接著，參考圖10，針對此第1實施形態中之指示體檢測裝置的處理動作之流程作說明。指示體檢測裝置之位 置檢測處理，雖係為被作反覆進行者，但是，在圖10中，係對關於針對指示輸入面100S之全部交叉點所進行的一次之處理動作的流程圖作展示。亦即是，係對於從碼Asi、Bsi之產生起直到根據此些之碼而檢測出指示體之位置為止的處理作展示。
首先，送訊訊號供給電路21，係與時脈訊號CLK同步地，而產生碼Asi(As0~As15)以及碼Bsi(Bs0~Bs15)之產生(步驟S101)。接著，從碼Asi產生電路211以及碼Bsi產生電路212所輸出之碼，係透過切換電路213而被設為如圖2中所示一般之被作了時間分割多重化的碼列(步驟S102)。從切換電路213所輸出之碼，係依據特定之選擇處理程序，而依序供給至構成經由送訊導體選擇電路22所產生了的各送訊區塊(TB1~TB16)之送訊導體處(步驟S103)。
構成經由受訊導體選擇電路31所產生了的各受訊區塊(DB1~DB16)之受訊導體，係依據特定之選擇處理程序而依序被作選擇。經由所選擇了的受訊導體而受訊了的訊號，係透過放大電路32、A/D變換電路33而被供給至位置檢測電路34處，藉由此，來根據受訊訊號而算出指示體所作了指示之位置，並將該位置資料作保持(步驟S104)。
而後，如圖2中所示一般，對於被作了時間分割多重化之碼Asi的一週期份之全部位元以及碼Bsi之一週期份的全部位元(亦即是碼Csi之一週期份的資料)全部被作 了送訊一事作確認(步驟S105)。若是碼Csi之一週期份的資料全部被作送訊，則係成為對於指示輸入面100S之全部交叉點而結束了一次份之送訊處理。
若是在此步驟S105中，判定碼Csi之一週期份的資料尙未全部被作送訊，則係回到步驟S103，並反覆進行此步驟S103以後之處理。
若是在步驟S105中，確認了碼Csi之一週期份的資料全部被作了送訊，則係經由構成演算處理電路35之相關演算電路(35101~35116)，來將對應於碼Asi所設定了的相關演算用碼和受訊訊號間之相關值、以及對應於碼Bsi所設定了的相關演算用碼和受訊訊號間的相關值計算出來。又，藉由將此些相關值作合成，就算是在被送訊至各送訊導體處的碼為並不具備正交性之碼(例如PN碼)的情況時，亦能夠將起因於不具備正交性一事所導致的鬼影訊號之影響有效地作排除(步驟S106)。
從構成演算處理電路35之合成電路(35201~35216)所輸出的資料，係被供給至構成位置檢測電路34之記憶電路361處，並被位元映射至記憶體中。在位置檢測電路362處，係藉由對於被位元映射至記憶體處之資料作參照，而計算出指示體之於指示輸入面100S上的存在與否或者是指示體所作了指示之位置(步驟S107)。上述之各步驟，係被反覆實行。
另外，在此第1實施形態中之送訊導體以及受訊導體的選擇切換，係針對以降順來進行送訊導體之切換並以升 順來進行受訊導體之切換的情況來作了例示說明，但是，本發明係並不被限定於此。亦可構成為並不設置送訊導體選擇電路，而對於全部的送訊導體同時供給送訊訊號，又，亦可構成為並不設置受訊導體選擇電路，而從全部的受訊導體來同時地得到受訊訊號。又，亦可將送訊導體之切換設為升順，並將受訊導體之切換設為降順，或者是對於各送訊區塊以及受訊區塊之每一者處來設為降順或升順切換，亦或是將切換之順序設為隨機。
〔第1實施形態之變形例〕
在上述實施形態中，係對於使用根據2位元之種源碼所作成了的分別為16位元之互補碼A、B的情況，來作了例示說明。但是，碼A、B之位元長度，係並不被限定於16位元。又，當然的，碼A、B，係並不被限定於僅基於2位元之種源碼所作成者，亦可基於8位元之種源碼或者是26位元之種源碼來作成。
又，在上述實施形態中，係針對當將相關值寫入至記憶電路361中時從各個的相關值而將OFFSET值作減算的情況而作了例示說明。但是，本發明，係並不被限定於在將相關值寫入至記憶電路361中時而將OFFSET值作減算的情況。例如，亦可設為在記憶電路361中，將藉由演算處理電路35之相關演算電路35101~35116以及合成電路35201~35216之各個所算出了的合成相關值分別預先作記憶，並在藉由位置算出電路362而進行位置算出時，再 從各個的相關值而將OFFSET值作減算。
[第2實施形態]
關於在第1實施形態中所例示了的圖2中所示之訊號送訊用的碼列，被供給至送訊導體處之身為送訊訊號的輸出碼Csi，係在一週期份之碼Asi之後，配置一週期份之碼Bsi。故而，碼Bsi，係相對於碼Asi而延遲有碼Asi之一週期份的時間td1。故而，當指示體在指示輸入面100S處而作了高速移動的情況時，會有由於時間td1之影響，而發生在將碼Asi供給至送訊導體處時的指示體之指示位置和將碼Bsi供給至送訊導體處時的指示體之指示位置有所相異的情況。
如此一來，基於碼Asi所得之相關值、和基於碼Bsi所得之相關值，相較於當指示體19位在同一之位置處的情況時所得到之相關值，其值會成為相異。其結果，代表根據碼Asi之相關值以及碼Bsi之相關值所算出了的指示體之位置的峰值訊號或者是會導致指示體之誤檢測的鬼影訊號之位置，係會產生偏移，於圖9(A)、(B)中所示一般之絕對值，係並不會成為相同之值。起因於此，會有在合成相關值中，導致指示體之誤檢測的鬼影訊號並未被抵消而有所殘留，並成為造成誤檢測之原因的情況。
因此，在第2實施形態中，代替在圖11(A)中所示之於第1實施形態中所例示的輸出碼Csi，係使用在圖11(B)中所例示之輸出碼Msi。在此輸出碼Msi(i=0、 1、2、…15)中，構成一對之碼Asi和碼Bsi的各別之碼的位元之配置，係依據特定之規則而作了混碼。在第2實施形態中之Msi的位元列，係成為將碼Asi之1位元以及碼Bsi之1位元例如作了交互配置的碼。若是使用此輸出碼Msi，則合成相關值，係能夠將各碼所被作供給之時刻的時間差，設為1位元份之時間td2。此時間td2，由於相對於時間td1係為非常短，因此，就算是針對指示體之高速移動，亦能夠對於導致指示體之誤檢測的鬼影訊號並未被抵消並有所殘留的問題作解決。
另外，當在碼Asi和碼Bsi之間進行位元混碼時，係並非一定需要將1位元作為單位，而亦可設為2位元單位、3位元單位等。只要是較碼Asi、Bsi之碼長度更小，則係能夠以任意之單位長度來進行位元替換。又，亦並不需要使用相同之單位長度，只要是將構成碼Asi和碼Bsi之各位元作為全體而進行混碼配置即可。
接著，針對此第2實施形態之構成的重要部分作說明。另外，對於具備有與第1實施形態相同之構成的部份，係賦予相同之參考符號，並省略其說明。
圖12中所示之第2實施形態中的送訊訊號供給電路21A，相較於圖3中所示之第1實施形態中的送訊訊號供給電路21，係藉由將從控制電路40所輸出之控制訊號SW4供給至切換電路213處，而將被供給至切換電路213處之從碼Asi產生電路211所輸出的碼As0~As15和從碼Bsi產生電路212所輸出之碼Bs0~Bs15，如同在圖11 (B)中所例示一般，使碼As0~As15和碼Bs0~Bs15之位元配置根據特定之規則來作混碼。藉由切換電路213而被作了位元混碼之輸出碼Ms0~Ms15，係被供給至送訊導體選擇電路22處。
在第2實施形態之受訊部中，由於其之位元配置係與第1實施形態相異，因此，係可藉由將此位元配置變換為第1實施形態中所例示之位元配置，來將在第1實施形態中所展示之相關演算處理等的各訊號處理作適用。此位元配置之變換，例如，係能夠與在第1實施形態中所展示之演算處理電路35處的演算處理一同地進行。另外，用以將位元配置基於特定之規則來回復至送訊前之原本的位元配置之變換處理，係可藉由已知之技術來實現。
[第3實施形態]
在第1以及第2實施形態中，作為應送訊之一對的碼，係使用了互補碼(Asi以及Bsi)。在第3實施形態中，硬體構成，係設為與第1以及第2實施形態相同者，而，應送訊之一對的碼，係與第1以及第2實施形態中的碼相異，而使用各位元之極性為逆極性的一對之碼。亦即是，在第3實施形態中，當將某個碼設為第1碼時，係將具備有與此第1碼相同之碼長度並且使構成第1碼之各位元作了極性反轉的碼，設為第2碼，並將此第1碼和第2碼作為一對之碼，來作為送訊訊號。在以下之說明中，係將第1碼稱為正極性之碼，並將第2碼稱為逆極性之碼。
而，在此第3實施形態中，係與第1以及第2實施形態中之訊號處理相同的，將進行了與用以計算出關於正極性之碼的相關值之相關值演算用碼間的相關演算時之相關值、和進行了與用以計算出關於逆極性之碼的相關值之相關值演算用碼間的相關演算時之相關值計算出來，並在合成電路中將此算出了的2個相關值作合成。而後，使用此合成相關值來進行指示體之檢測。
若依據此構成，則在受訊時所產生之直流OFFSET，在針對正極性之碼的相關值和針對逆極性之碼的相關值中，係相互成為逆極性。故而，若是求取出關於此2個的相關值之合成相關值，則在受訊時所產生之關於直流OFFSET的相關值之成分係被抵消。
以下，針對第3實施形態之其中一例作說明。
圖13，係為對於適用在第3實施型態中之碼列作展示。係例示有與送訊區塊數相對應了的16行×16列之哈得馬德行列。將由構成此哈得馬德行列之各行(或者是各列)的16位元PN1、PN2、…、PN16所成的各哈得馬德碼，作為16個的正極性之碼列(第1碼列)來使用。此16個的哈得馬德碼(D1~D16)，係為相互具備有正交關係之碼列，並例如使用PN碼。以下，將此正極性之碼，稱作送訊碼D1~D16。另外，在以下之說明中，為了方便，由16位元所成之PN1~PN16，係成為各個的送訊碼(D1、D2、…、D16)之一週期份的資料。
由正極性之碼和逆極性之碼所成的一對碼之對於送訊 導體的供給，係可採用如同第1實施形態一般，藉由在每一週期份中而將正極性之碼和逆極性之碼作時間分割多重化，來交互地供給至送訊導體處之方法，亦可採用如同第2實施形態一般，藉由依據特定之規則來進行位元混碼，而將位元配置作置換並供給至送訊導體處之方法。在此第3實施形態中，係針對與第2實施形態相同地將對於位元配置作了置換的位元列供給至送訊導體處之形態作例示說明。
在此第3實施形態中所例示之構成，與在第2實施形態中所例示之構成作比較，除了在訊號送訊中所使用之一對的碼為相異以外，送訊部以及受訊部之動作，係為相同。另外，在第3實施形態之構成的說明中，針對與第1以及第2實施形態相同的部份，係附加相同的參考符號，並省略其之詳細說明。
在圖14中，於第3實施形態之構成中的送訊訊號供給電路21B處，係具備有哈得馬德碼產生電路215、和極性反轉電路216、以及切換電路213。
哈得馬德碼產生電路215，係相當於圖12中所示之碼Asi產生電路211或者是碼Bsi產生電路212。極性反轉電路216，係為用以將被輸入之碼列的極性作反轉並輸出之電路，並由與檢測區塊相同數量(亦即是，於此例中，係為16個)的反轉碼器所成。在哈得馬德碼產生電路215中，係產生由相互具有正交性之16個的哈得馬德碼所成之送訊碼D1~D16。此些之16個的送訊碼D1~ D16，係被供給至切換電路213處。又，係亦被供給至極性反轉電路216處，並在將各送訊碼之極性作了反轉後，供給至切換電路213處。在切換電路213處，係根據從控制電路40所輸出之控制訊號SW5，來將被供給至切換電路213處之各位元基於特定之規則來作位元混碼。亦即是，從哈得馬德碼產生電路215以及極性反轉電路216所供給而來之32位元的碼，係基於特定之規則而被作混碼處理，各位元之位置係被作置換。與第2實施形態相同的，經由切換電路213而使位元配置被作了變換的輸出碼M1~M16，係透過送訊導體選擇電路22之各開關電路2201~2216而被供給至送訊導體處。
在第3實施形態中之受訊部，係具備有與第2實施形態相同之構成。亦即是，係在將藉由切換電路213而基於特定之規則來作了位元混碼後之位元列回復為原本之位元列之後，藉由進行特定之相關演算，而求取出指示體之位置。
[第4實施形態]
此第4實施形態，係藉由將上述之第2實施形態中所示之構成和第3實施形態中所示之形態作組合，來更有效地進行當指示體之高速移動時而會導致誤檢測之鬼影訊號的排除以及在受訊部之電路中的直流OFFSET的除去。亦即是，在此第4實施形態中之指示體檢測裝置，作為用以進行訊號送訊之一對的碼，係使用互補碼A以及B，並藉 由針對此一對的碼之各個而產生反轉碼，來產生正極性以及負極性的一對之碼。
在第4實施形態之送訊部200C中，送訊訊號供給電路21C之構成，係與第1實施形態之構成以及第2實施形態之構成相異。另外，在以下之第4實施形態之構成例的說明中，針對與第1~第3實施形態相同的部份，係附加相同的參考符號，並省略其之詳細說明。
在圖15中所示之第4實施形態的送訊訊號供給電路21C，係具備有：在第1以及第2實施形態中所使用之碼Asi產生電路211以及碼Bsi產生電路212；和與在第3實施形態中所使用之極性反轉電路216相同構成之極性反轉電路217、218；以及用以進行時間分割多重處理或者是用以同時進行時間分割多重處理和位元混碼處理之切換電路213C。碼Asi產生電路211，係將所產生了的碼As0~As15，供給至切換電路213C處，並且供給至極性反轉電路217處。極性反轉電路217，係將對於碼As0~As15之各別的各位元aj而作了極性反轉之輸出碼，供給至切換電路213C處。同樣的，碼Bsi產生電路212，係將所產生了的碼Bs0~Bs15，供給至切換電路213C處，並且供給至極性反轉電路218處。極性反轉電路218，係將對於碼Bs0~Bs15之各別的各位元bj而作了極性反轉之輸出碼，供給至切換電路213C處。
而，在此第4實施形態中，於切換電路213C處，係從控制電路40而被供給有控制訊號SW6，並將碼As0~ As15、使碼As0~As15之極性作了反轉的碼、碼Bs0~Bs15、以及使碼Bs0~Bs15之極性作了反轉的碼，作位元混碼並依序輸出。送訊導體選擇電路22之各開關電路2201~2216，係將從切換電路213C所輸出之輸出碼M1~M16依序作切換並供給至送訊導體處。另外，在第4實施形態中，相較於第1實施形態以及第2實施形態，被供給至切換電路213C處之碼的長度，係成為2倍。
在第4實施形態之受訊部所具備的位置檢測電路內之演算處理電路處，係進行有與藉由送訊訊號供給電路21C所產生之各碼相對應了的處理。亦即是，係將被作了位元混碼之碼配置回復至原本之碼配置，並且，進行碼Asi和將該碼之極性作了反轉的碼之各個、和與碼Asi相對應之相關演算用碼之間的相關演算，而算出相關值。同樣的，係進行碼Bsi和將該碼之極性作了反轉的碼之各個、和與碼Bsi相對應之相關演算用碼之間的相關演算，而算出各別之相關值。對於如此這般所算出之4種類的相關值，進行在第1實施形態以及第2實施形態中所進行之相關值的合成處理。上述之訊號處理，例如，係能夠藉由在作為第1實施例之形態的構成所展示之演算處理電路35中進行時間分割處理，而實現之。
具體而言，係具備有在演算處理電路35中而具備輸入訊號之切換電路的演算處理電路(未圖示)，並在與藉由送訊訊號供給電路21C所產生了的碼相對應之受訊訊號中，作為第1階段之訊號處理，而進行與藉由碼Asi產生 電路211所產生了的碼As0~As15和藉由碼Bsi產生電路212所產生了的碼Bs0~Bs15相對應的各別之相關演算用碼、和受訊訊號，其兩者間的相關演算處理。此係與在第1實施形態之構成中的處理程序相同。作為時間分割處理之第2階段，係將與透過前述之輸入訊號切換電路而藉由極性反轉電路217以及極性反轉電路218所產生了的使極性作了反轉之碼相對應之受訊訊號作為對象，來進行上述之相關演算處理。藉由此處理所得到之各相關值，係被供給至在輸出電路36中具備有用以對於時間分割處理資料作處理之記憶電路的輸出電路(未圖示)處，並被進行處理。
又，當在切換電路213C處基於特定之規則而進行有位元混碼處理的情況時，係如同前述一般，將藉由演算處理電路而基於特定之規則來作了位元混碼處理的位元列，變換為原本之位元列，之後，進行上述之相關演算處理。又，在輸出電路處，係藉由進行在第1實施形態之構成中所示之輸出電路36處的處理、和在第2實施形態之構成中所示之輸出電路36處的處理，來將用以排除在指示體檢測中之鬼影訊號的發生和用以進行直流OFFSET之抵消的處理，同時性地進行。
〔其他變形例〕
在上述之第1~第4實施形態中，一對之碼列，係設為直接供給至送訊導體處，但是，係亦可設為對於一對之 碼列的各個，施加例如頻率調變(FSK：Frequency Shift Keying)或者是相位調變(PSK：Phase Shift Keying)，再供給至送訊導體處。如此這般，當供給施加了特定之調變之送訊訊號的情況時，於受訊部處，係只要設為在將作了頻率調變或者是相位調變之一對的碼列作了解調後，再實行上述之受訊訊號處理即可。如此這般，在對於送訊訊號施加特定之調變再進行供給的情況時，例如，在第1實施形態之受訊部300處，係設為在A/D變換電路33之前段處設置有與該調變相對應之解調電路的構成，並設為對於解調後之受訊訊號而進行相關演算等之構成。藉由如此這般地對於送訊訊號施加特定之調變並進行送受訊，係能夠更進一步謀求S/N之提昇。
1‧‧‧指示體檢測裝置
11‧‧‧送訊導體群
11Y‧‧‧送訊導體
12‧‧‧受訊導體群
12X‧‧‧受訊導體
200‧‧‧送訊部
21‧‧‧送訊訊號供給電路
22‧‧‧送訊導體選擇電路
23‧‧‧時脈產生電路
300‧‧‧受訊部
31‧‧‧受訊導體選擇電路
32‧‧‧放大電路
33‧‧‧A/D變換電路
34‧‧‧位置檢測電路
35‧‧‧演算處理電路
36‧‧‧輸出電路
40‧‧‧控制電路
211‧‧‧碼Asi產生電路
212‧‧‧碼Bsi產生電路
215‧‧‧哈得馬德碼產生電路
216‧‧‧極性反轉電路
[圖1]對於本發明所致之指示體檢測裝置的第1實施形態之全體構成例作展示的區塊圖。
[圖2]用以對於本發明之指示體檢測裝置的第1實施型態作說明的圖。
[圖3]對於第1實施形態之指示體檢測裝置中的送訊部之構成例作展示的區塊圖。
[圖4]用以對於作為在第1實施形態之指示體檢測裝置中所使用的送訊訊號之例的互補碼作說明之圖。
[圖5]用以對於作為在第1實施形態之指示體檢測裝置中所使用的送訊訊號之例的互補碼之位元形態作說明之 圖。
[圖6]用以對於作為在第1實施形態之指示體檢測裝置中所使用的送訊訊號之例的互補碼之互補性的性質作說明之圖。
[圖7]用以對於在第1實施形態之指示體檢測裝置中的受訊部之第1部份作說明之圖。
[圖8]用以對於在第1實施形態之指示體檢測裝置中的受訊部之第2部份作說明之圖。
[圖9]用以對於在第1實施型態之指示體檢測裝置中的受訊部之檢測動作作說明所使用之圖。
[圖10]對於用以對第1實施型態之指示體檢測裝置的動作例作說明之流程圖作展示之圖。
[圖11]用以對於本發明之指示體檢測裝置的第2實施形態作說明的圖。
[圖12]對於第2實施形態之指示體檢測裝置中的送訊部之構成例作展示的區塊圖。
[圖13]用以對於在本發明之指示體檢測裝置的第3實施型態中所使用的送訊訊號之碼形態作說明的圖。
[圖14]對於第3實施形態之指示體檢測裝置中的送訊部之構成例作展示的區塊圖。
[圖15]對於在本發明指示體檢測裝置的第4實施形態中之送訊部的一部分構成例作展示之區塊圖。

Claims (7)

  1. 一種指示體檢測裝置，其特徵為，具備有：導體圖案，係由被配置在第1方向上之複數的第1導體、和被配置在相對於前述第1方向而交叉之第2方向上之複數的第2導體所成；和訊號供給電路，係用以產生由身為相互具備有同一之碼長度並且相互具備有特定之關連性的碼之第1以及第2碼所成之送訊訊號，並供給至前述第1導體處；和訊號檢測電路，係被與前述複數的第2導體作連接，並用以將對應於前述導體圖案與指示體之間的靜電電容之改變的受訊訊號檢測出來；和相關演算電路，係將在藉由前述訊號檢測電路所檢測出之前述受訊訊號與對應於前述第1碼之第1相關值演算用訊號之間的第1相關值計算出來，並且將在藉由前述訊號檢測電路所檢測出之前述受訊訊號與對應於前述第2碼之第2相關值演算用訊號之間的第2相關值計算出來；和合成電路，係計算出藉由對於以前述相關演算電路所計算出之前述第1相關值和前述第2相關值進行演算所合成之合成相關值，根據在前述合成電路中所得到之前述合成相關值，來檢測出前述指示體。
  2. 如申請專利範圍第1項所記載之指示體檢測裝置，其中，前述訊號供給電路，係將構成前述第1以及第2碼之位元的配置相互交換地做輸出。
  3. 如申請專利範圍第1項所記載之指示體檢測裝置，其中，前述訊號供給電路，係接續於前述第1碼之輸出而輸出第2碼。
  4. 如申請專利範圍第1項所記載之指示體檢測裝置，其中，前述訊號供給電路，係在前述送訊訊號之前述第1碼和前述第2碼之間，將特定位元數作為單位，而將相互之位元配置作交換並輸出。
  5. 如申請專利範圍第1項所記載之指示體檢測裝置，其中，前述第1以及第2碼，係為互補碼(Complementary code)。
  6. 如申請專利範圍第1項所記載之指示體檢測裝置，其中，前述第2碼，係為將前述第1碼作了極性反轉之碼。
  7. 一種指示體檢測方法，係為用以將在由被配置在第1方向上之複數的第1導體和被配置在相對於前述第1方向而交叉之第2方向上之複數的第2導體所成之導體圖案上而藉由指示體所作了指示之位置檢測出來的指示體檢測方法，其特徵為：產生由身為相互具備有同一之碼長度並且相互具備有特定之關連性的碼之第1以及第2碼所成之送訊訊號，並供給至前述第1導體處；與前述複數的第2導體作連接，並用以將對應於前述導體圖案與指示體之間的靜電電容之改變的受訊訊號檢測出來； 將在前述受訊訊號與對應於前述第1碼之第1相關值演算用訊號之間的第1相關值計算出來，並且將在前述受訊訊號與對應於前述第2碼之第2相關值演算用訊號之間的第2相關值計算出來；計算出藉由對於前述第1相關值和前述第2相關值進行演算所合成之合成相關值；根據前述合成相關值，來檢測出前述指示體。
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