TWI495894B - 用來檢測工件是否正確置放之檢測裝置及其方法 - Google Patents
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Description
本發明係提供一種檢測裝置,尤指一種檢測一工件是否正確置放之檢測裝置。
以往在產線生產的產品(如筆記型電腦)在裝配或是測試過程中,放置產品於治具上的定位方式皆靠機構定位及人員手動處理,其容易因操作人員的疏失或不注意,而在放置工件到治具的過程中並未確實將工件放到定位,進而造成工件於組裝過程中受到損壞,並且也因此必須重新組裝及更換全新材料,而造成人力浪費與增加成本的問題。有鑑於此,如何設計出一種用來正確地將工件定位於治具上的檢測裝置,便是現今機構設計的一個重要課題。
本發明係提供一種用來正確地將工件定位於治具上的檢測裝置,以解決上述之問題。
本發明係揭露一種檢測裝置,其包含有一底座、一定位件、一平台、至少一連接件、一操作件、一驅動件、至少一發光元件、至少一感應件以及一控制單元。係安裝於該底座上,該定位件上設置有一定位結構,其係用來放置與定位該工件;該平台係設置於該底座之上而與該底座相對;該至少一連接件係連接於該底座與該平台之間,而使該底座與該平台之間相間隔形成一空間;該操作件係設置於該平台面對該定位件之一側;該驅動件係安裝於該平台上並係用來驅動該操作件以選擇性地朝向或遠離該定位件之方向
移動;該至少一發光元件係設置於該平台上,該至少一發光元件係用來發射一光線至定位於該定位件上之該工件;該至少一感應件係用來感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之該光線;該控制單元係電連接於該驅動件、該至少一發光元件、該至少一感應件以及該驅動件,該控制單元係用來依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據一比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該平台上形成有至少一導引結構,而該至少一發光元件則設置在對應之該至少一導引結構上而可依需要於該至少一導引結構上移動以變更其設置位置。
本發明之申請專利範圍係另揭露該檢測裝置包含有預定數量之該發光元件以及該感應件,該控制單元係另用來控制該些發光元件發射光線至該工件,且依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該檢測裝置另包含有一儲存單元,該儲存單元係用來儲存至少一預定距離特徵值,且該控制單元係另用來於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算出該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之該比對標準,決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之差值小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元係另用來於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算出該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該預定數量距離特徵值之平均值之差值皆小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值中最大之距離特徵值與最小之距離特徵值之差值小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元係另用來控制該至少一發光元件發射該光線至該工件之角落或側邊,且依據該至少一感應件感應該工件之該角落或該側邊反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果以及該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該檢測裝置另包含有一啟動單元,其係電連接於該控制單元且用來發送一啟動訊號至該控制單元,以使該控制單元控制該至少一發光元件發射光線。
本發明之申請專利範圍係另揭露該平台上形成有至少一導引結構,且在該平台上對應於各該導引結構另具有可在該對應導引結構上移動之一可調式固定件,而各該發光元件固定於對應之該可調式固定件上,使各該發光元件可藉該可調式固定件相對於該導引結構調整移動而變更其設置位置。
本發明之申請專利範圍係另揭露一種用來檢測一工件是否正確置放之檢測方法,該方法包含有至少一發光元件發射光線至一定位件上之一工件,至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線,以及一控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,且根據一比對標準決定是否控制一驅動件驅動一操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該至少一發光元件發射光線至該定位件上之該工件包含有預定數量發光元件發射光線至該工件,該至少一感
應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之該光線包含有預定數量之感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線,且該控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,且根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,且根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該檢測方法另包含有儲存至少一預定距離特徵值至一儲存單元,該控制單元於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算該預定數量之距離特徵值,以及該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值產生一比對結果,且依據該比對結果決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值產生之該比對結果,且依據該比對結果決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之差值小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該預定數量之距離特徵值之平均值
之差值皆小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該控制單元依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值中最大之距離特徵值與最小之距離特徵值之差值小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之申請專利範圍係另揭露該至少一發光元件發射光線至該定位件上之該工件包含有該至少一發光元件發射光線至該工件之一角落或一側邊,且該控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元依據該至少一感應件感應該工件之該角落或該側邊反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
本發明之檢測裝置係藉由控制單元控制複數個發光元件發射光線至工件,並經由複數個感應件感應工件反射的光線後將感應結果傳送至控制單元,最後藉由控制單元根據感應結果及該比對標準決定是否控制驅動件驅動操作件壓按該附件至工件,意即檢測裝置可檢測工件是否被平整地放置於定位槽內,以避免於組裝過程中損壞工件。因此解決了先前技術中,工件放置到治具的過程中並未確實定位,進而導致工件於組裝過程中受到損壞,而造成人力浪費與增加成本的問題。
50‧‧‧檢測裝置
52‧‧‧工件
54‧‧‧底座
56‧‧‧定位件
561‧‧‧定位結構
58‧‧‧連接件
60‧‧‧平台
601‧‧‧導槽
603‧‧‧可調式固定件
62‧‧‧操作件
64‧‧‧驅動件
66‧‧‧發光元件
661‧‧‧導線
68‧‧‧感應件
70‧‧‧控制單元
74‧‧‧儲存單元
76‧‧‧啟動單元
DA‧‧‧平均值
E1、E2、E3‧‧‧預定公差值
D1、D2、D3、D4‧‧‧距離特徵值
PD1、PD2、PD3、PD4‧‧‧預定距離特徵值
DE1、DE2、DE3、DE4、DE5、DE6、DE7、DE8‧‧‧差值
100、102、104、106、108‧‧‧步驟
第1圖為本發明實施例檢測裝置之功能方塊圖。
第2圖為本發明實施例檢測裝置之示意圖。
第3圖為本發明實施例檢測裝置於另一視角之示意圖。
第4圖為本發明實施例發光元件與感應件之示意圖。
第5圖為本發明實施例檢測裝置檢測工件是否正確置放之方法流程圖。
請參考第1圖與第2圖,第1圖為本發明實施例一檢測裝置50之功能方塊圖,第2圖為本發明實施例檢測裝置50之示意圖。檢測裝置50係用來檢測一工件52是否正確置放,檢測裝置50包含有一底座54、一定位件56、至少一連接件58、一平台60、一操作件62、一驅動件64、至少一發光元件66、至少一感應件68以及一控制單元70。定位件56係安裝於底座54上,且定位件56上設置有一定位結構561,例如係可為一定位槽,其係用來放置與定位工件52,如第2圖所示。其中定位件56係可為一治具,且可根據不同尺寸之工件52來更換不同之定位件56。平台60係設置於底座54之上而與底座54相對。於此實施例中,檢測裝置50可包含8個連接件58,8個連接件58係可分別為一桿件,且各連接件58之一端係連接於底座54且另一端係連接於平台60,意即8個連接件58係連接於底座54與平台60之間,而使平台60與底座54之間相間隔形成一空間,而定位件56設置於底座54與平台60之間。於此實施例中,檢測裝置可包含有8個連接件58。此外,平台60上形成有至少一導槽601之一導引結構,於此實施例中,平台60上可形成有四導槽601。
請參考第2圖與第3圖,第3圖為本發明實施例檢測裝置50於另一視角之示意圖。如第3圖所示,操作件62係設置於平台60面對定位件56之一側,而如第2圖所示,驅動件64係安裝於平台60上,且驅動件64係可為一汽缸,驅動件64係可用來驅動操作件62以選擇性地朝向或遠離定位件56之方向移動。各發光元件66係設置於平台60之相對應之導槽601上,而可依需要於該導引結構之相對應之上導槽601移動以變更其設置位置。發光元件66係用來發射一光線至定位於定位件56上之工件52,於此實施例中,檢測裝置50包含有四發光元件66,其係相對應地分別設置於四導槽601上。請參考第4圖,第4圖為本發明實施例發光元件66與感應件68之示意圖。
各感應件68係用來感應工件52反射由相對應之發光元件66所發射之光線,如第4圖所示,於此實施例中,各發光元件66上設置有一組感應件68。此外,各發光元件66係藉由導線661連接至控制單元70,且發光元件66係可為一遠紅外線投射燈或一雷射發射器。控制單元70係電連接於驅動件64、各發光元件66、各感應件68以及驅動件64,控制單元70係用來依據各感應件68感應工件52反射由各發光元件66所發射之光線之感應結果,根據一比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62朝向工件52移動,意即控制驅動件64驅動操作件62壓按一附件(圖中未表示)至工件52。(舉例而言,工件可為一觸控螢幕,附件可為一貼膜,該貼膜之形狀可與該觸控螢幕之邊框之形狀相同)。
當檢測裝置50僅包含有一發光元件66以及一組感應件68時,導槽601可形成為連續環形或C形而可對應與涵蓋至工件52之四角落或四側邊,且控制單元70可控制發光元件66沿導槽601移動並於相對應工件52之四角落或四側邊發射光線,接著同時控制感應件68接收工件52反射之光線,最後控制單元可依據該比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。而當檢測裝置50包含如圖所示地之採固定於四導槽601中之四發光元件66以及四感應件68時,則控制單元70可直接控制四發光元件66依序或同時發射光線至工件52之四角落或四側邊。此外,如第2圖所示,檢測裝置50另包括有四個可調式固定件603,每一發光元件66固定於對應之可調式固定件603,而各可調式固定件603則裝設於各對應之導槽601處,操作者藉由釋放該可調式固定件603並於導槽601中移動而可以調整發光元件66至發光位置,之後再將該可調式固定件603予以固定,故操作者可針對不同尺寸之工件52或所欲偵測工件52之不同位置,調整發光元件66於導槽601上之相對位置。之後控制單元70可依據四感應件68感應工件52之該四角落或四側邊反射由四發光元件66所發射之光線之感應結果,且依據該比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。控制
單元70可根據四感應件68感應工件52之該四角落或四側邊反射由四發光元件66所發射之光線之感應結果計算出四距離特徵值D1~D4,並依據四距離特徵值D1~D4決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。其中各距離特徵值之計算機制可由偵測發光元件66發射光線至感應件68感應到光線之時間差之一半與光速之乘積而得出相對應之距離。
舉例來說,控制單元70可分別比對四距離特徵值D1~D4以及四距離特徵值D1~D4之平均值DA,當四距離特徵值D1~D4與四距離特徵值D1~D4之平均值DA之差值DE1~DE4分別皆小於一預定公差值E1時,則代表工件52之四個角落與四感應件68間之距離彼此落差不大,而可視為工件52被平整地擺放於定位件56之定位結構561內,如此一來便可進行後續之組裝動作,例如控制單元70便可控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。其中,該比對標準為當控制單元70比對四距離特徵值D1~D4以及四距離特徵值D1~D4之平均值DA之差值DE1~DE4皆小於預定公差值E1時,控制單元70控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。也就是當(D1-DA)、(D2-DA)、(D3-DA)以及(D4-DA)之差值DE1、DE2、DE3、DE4皆小於預定公差值E1時,控制單元70才會控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。而若其中有一差值大於預定公差值E1時,意即工件52並未平整放置於定位結構561內,則控制單元70不會控制驅動件64作動,以避免操作件62壓壞工件52。
此外,本發明於另一實施例中檢測裝置50可另包含有一儲存單元74,儲存單元74係用來儲存四預定距離特徵值PD1~PD4,控制單元70亦可用來於四感應件68感應工件52之該四角落或四側邊反射由四發光元件66所發射之光線後計算出四距離特徵值D1~D4,並依據四距離特徵值D1~D4以及四預定距離特徵值PD1~PD4之該比對標準,決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。舉例來說,該比對標準為當控制單元70比對四距離特徵值D1~D4以及四預定距離特徵值PD1~PD4之差值DE5~DE8
皆分別小於一預定公差值E2時,控制單元70控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。四距離特徵值D1~D4以及四預定距離特徵值PD1~PD4之差值DE5~DE8皆小於預定公差值E2時則代表工件52之四個角落分別與四感應件68間之距離皆落於一預定範圍內,而可視為工件52被平整地擺放於定位件56之定位結構561內,如此一來便可進行後續之組裝動作,如控制單元70控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。也就是當(D1-PD1)、(D2-PD2)、(D3-PD3)以及(D4-PD4)之差值DE5~DE8皆分別小於預定公差值E1時,控制單元70才會控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。反之,若其中有一差值大於預定公差值E2時,意即工件52並未平整放置於定位結構561內,則控制單元70不會控制驅動件64作動,以避免操作件62壓壞工件52。又再另一個實施例中,控制單元70亦可以依據四距離特徵值D1~D4中最大與最小之差值是否小於一預定公差值E3時,來決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。此時,該比對標準為當控制單元70比對四距離特徵值D1~D4中最大之距離特徵值與最小之距離特徵值之差值皆小於預定公差值E3時,控制驅動件64驅動操作件62朝向工件52移動。也就是若D1最大而D4最小時,控制單元70將確認當(D4-D1)之差值是否小於預定公差值E3,來決定是否控制驅動件64作動。但控制單元70決定是否控制驅動件64之標準不以上述比對標準為限,可依據實際需求選擇與設定適當的比對標準方式。
另外,本發明實施例檢測裝置50可另包含有一啟動單元76,其係電連接於控制單元70且用來發送一啟動訊號至控制單元70,以使控制單元70控制至少一發光元件66發射光線,以進行之後的檢測過程,意即啟動單元76係可為本發明檢測裝置50之一啟動開關。其中啟動單元76可設計包含有複數個啟動按鈕,當該複數個啟動按鈕同時被按壓時方能發送該啟動訊號至控制單元70,藉以避免因誤觸動而觸發檢測裝置50之作動。
本發明之發光元件66以及感應件68之數目不限於此實施例,意
即本發明之檢測裝置50可以包含有一個導槽601、一個發光元件66以及一個感應件68,但當然也包含有複數個導槽601、複數個發光元件66以及複數個感應件68而不以前述實施例之四個為限,而控制單元70之控制原理與前述實施例相同,故在此不再贅述。
接著說明本發明檢測裝置50之檢測方法。請參考第5圖,第5圖為本發明實施例檢測裝置50檢測工件52是否正確置放之方法流程圖。該方法包含下列步驟:
步驟100:各發光元件66發射光線至定位件56上之工件52。
步驟102:各感應件68感應工件52反射由各發光元件66所發射之光線。
步驟104:控制單元70依據各感應件68感應工件52反射由各發光元件66所發射之光線之感應結果,根據一比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。若是,執行步驟106;若否,重新放置工件52後再度執行步驟100。
步驟106:控制單元70控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。
步驟108:結束。
於此針對上述步驟進行詳細說明,首先作業員先確認各發光元件66在平台60各導槽601上之位置,如有誤並調整其至適當位置。將工件52放置於定位件56上定位結構561後,啟動檢測裝置50上的啟動單元76,啟動單元76會發送啟動訊號至控制單元70,使得控制單元70控制各發光元件66發射光線至定位於定位件56上之工件52。於其中一實施例,控制單元70係控制四發光元件66分別發射四光線至工件52之四角落或四側邊。接著四感應件68感應工件52之該四角落或該四側邊反射由四發光元件66所發射之光線,並將感應結果傳送至控制單元70。最後控制單元70依據四感應件68感應工件52之該四角落或該四側邊反射由四發光元件66所發射之光線之感
應結果以及該比對標準,決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。控制單元70決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52之判斷機制可以各種不同手段方式達成。舉例來說,控制單元70可於四感應件68感應工件52之該四角落或該四側邊反射由四發光元件66所發射之光線後,根據所回傳之感應結果計算四距離特徵值D1~D4,並依據四距離特徵值D1~D4以及該比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。其中,可先計算四距離特徵值D1~D4之平均值DA,接著再分別計算四距離特徵值D1~D4與平均值DA之差值DE1~DE4,最後將差值DE1~DE4與預定公差值E1比對,若差值DE1~DE4皆小於預定公差值E1,則表示工件52之四個角落與四感應件68間之距離彼此落差不大,故工件52已平整地放置於定位結構561內,因此控制單元70可控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52,並且不會對工件52造成任何損壞。反之,若有一差值大於預定公差值E1,意即工件52並未平整放置於定位結構561內,則控制單元70不會控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52,以避免損壞工件52。
此外,另一種控制單元70決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52之判斷方式描述如下。儲存單元74可事先儲存四預定距離特徵值PD1~PD4,同樣地控制單元70於四感應件68感應工件52之該四角落或該四側邊反射由四發光元件66所發射之光線後,根據所回傳之感應結果計算四距離特徵值D1~D4,接著控制單元70將四距離特徵值D1~D4與四預定距離特徵值PD1~PD4進行比對,並根據所產生之比對結果以及該比對標準決定是否控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52。其中,控制單元70計算四距離特徵值D1~D4與四預定距離特徵值PD1~PD4之差值DE5~DE8,並將差值DE5~DE8與預定公差值E2作比對。若差值DE5~DE8皆小於預定公差值E2,則表示工件52之四個角落分別與四感應件68間之距離皆落於一預定範圍內,故工件52已平整地放置於定位結構561內,因此控
制單元70可控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52,並且不會對工件52造成任何損壞。反之,若有一差值大於預定公差值E2,意即工件52並未平整放置於定位結構561內,則控制單元70不會控制驅動件64驅動操作件62壓按該附件至工件52,以避免損壞工件52。
相較於先前技術,本發明之檢測裝置係藉由控制單元控制複數個發光元件發射光線至工件,並經由複數個感應件感應工件反射的光線後將感應結果傳送至控制單元,最後藉由控制單元根據感應結果及該比對標準決定是否控制驅動件驅動操作件壓按該附件至工件,意即檢測裝置可檢測工件是否被平整地放置於定位槽內,以避免於組裝過程中損壞工件。因此解決了先前技術中,工件放置到治具的過程中並未確實定位,進而導致工件於組裝過程中受到損壞,而造成人力浪費與增加成本的問題。
100、102、104、106、108‧‧‧步驟
Claims (21)
- 一種用來檢測一工件是否正確置放之檢測裝置,其包含有:一底座;一定位件,其係安裝於該底座上,該定位件上設置有一定位結構,其係用來放置與定位該工件;一平台,設置於該底座之上而與該底座相對;至少一連接件,連接於該底座與該平台之間,而使該底座與該平台之間相間隔形成一空間;一操作件,其係設置於該平台面對該定位件之一側;一驅動件,安裝於該平台上並係用來驅動該操作件以選擇性地朝向或遠離該定位件之方向移動;至少一發光元件,其係設置於該平台上,該至少一發光元件係用來發射一光線至定位於該定位件上之該工件;至少一感應件,其係用來感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之該光線;以及一控制單元,其係電連接於該驅動件、該至少一發光元件、該至少一感應件以及該驅動件,該控制單元係用來依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據一比對標準判斷該工件是否正確地放置於該定位件上以決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動,其中當該控制單元判斷該工件正確地放置於該定位件上時控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動,當該控制單元判斷該工件未正確地放置於該定位件上時控制該驅動件不驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該平台上形成有至少一導引結構,而該至少一發光元件則設置在對應之該至少一導引結構上而可依需要於該至 少一導引結構上移動以變更其設置位置。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該檢測裝置包含有預定數量之該發光元件以及該感應件,該控制單元係另用來控制該些發光元件發射光線至該工件,且依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項3所述之檢測裝置,其另包含有一儲存單元,該儲存單元係用來儲存至少一預定距離特徵值,且該控制單元係另用來於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算出該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之該比對標準,決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項4所述之檢測裝置,其中該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之差值小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項3所述之檢測裝置,其中該控制單元係另用來於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算出該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項6所述之檢測裝置,其中該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該預定數量距離特徵值之平均值之差值皆小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項6所述之檢測裝置,其中該比對標準為當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值中最大之距離特徵值與最小之距離特徵值之差值皆小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該控制單元係另用來控制該至少一發光元件發射該光線至該工件之角落或側邊,且依據該至少一感應件感應該工 件之該角落或該側邊反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果以及該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該至少一發光元件係為一遠紅外線投射燈或一雷射發射器。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該驅動件係為一汽缸。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其另包含有一啟動單元,其係電連接於該控制單元且用來發送一啟動訊號至該控制單元,以使該控制單元控制該至少一發光元件發射光線。
- 如請求項1所述之檢測裝置,其中該平台上形成有至少一導引結構,且在該平台上對應於各該導引結構另具有可在該對應導引結構上移動之一可調式固定件,而各該發光元件固定於對應之該可調式固定件上,使各該發光元件可藉該可調式固定件相對於該導引結構調整移動而變更其設置位置。
- 一種用來檢測一工件是否正確置放之檢測方法,其包含有:至少一發光元件發射光線至一定位件上之一工件;至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線;以及一控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,且根據一比對標準判斷該工件是否正確地放置於該定位件上以決定是否控制一驅動件驅動一操作件朝向該工件移動,其中當該控制單元判斷該工件正確地放置於該定位件上時控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動,當該控制單元判斷該工件未正確地放置於該定位件上時控制該驅動件不驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項14所述之檢測方法,其中該至少一發光元件發射光線至該定位件上之該工件包含有預定數量發光元件發射光線至該工件,該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之該光線包含有預定數 量之感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線,且該控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,且根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,且根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項15所述之檢測方法,其另包含有儲存至少一預定距離特徵值至一儲存單元,該控制單元於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算該預定數量之距離特徵值,以及該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值產生一比對結果,且依據該比對結果決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項16所述之檢測方法,其中該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值產生之該比對結果,且依據該比對結果決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該至少一預定距離特徵值之差值小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項15所述之檢測方法,其中該控制單元依據該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元於該些感應件感應該工件反射由該些發光元件所發射之光線後計算該預定數量之距離特徵值,並依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項18所述之檢測方法,其中該控制單元依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值以及該預定數量之距離特徵值之平 均值之差值皆小於一預定公差值時,該控制單元控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項18所述之檢測方法,其中該控制單元依據該預定數量之距離特徵值決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有當該控制單元比對該預定數量之距離特徵值中最大之距離特徵值與最小之距離特徵值之差值小於一預定公差值時,控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
- 如請求項14所述之檢測方法,其中該至少一發光元件發射光線至該定位件上之該工件包含有該至少一發光元件發射光線至該工件之一角落或一側邊,且該控制單元依據該至少一感應件感應該工件反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動包含有該控制單元依據該至少一感應件感應該工件之該角落或該側邊反射由該至少一發光元件所發射之光線之感應結果,根據該比對標準決定是否控制該驅動件驅動該操作件朝向該工件移動。
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---|---|---|---|---|
TWI725695B (zh) * | 2020-01-06 | 2021-04-21 | 緯創資通股份有限公司 | 檢體檢驗機台與其操作方法 |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW460923B (en) * | 2000-11-23 | 2001-10-21 | Taiwan Semiconductor Mfg | Apparatus and method for calibrating transportation system |
TWI232349B (en) * | 2003-07-07 | 2005-05-11 | Benq Corp | Method for adjusting relative position of lens module by using uniform light source |
TWI284737B (en) * | 2002-08-23 | 2007-08-01 | Tokyo Electron Ltd | Probe apparatus and probing method for using the same |
JP2012088277A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | New Japan Radio Co Ltd | 反射型フォトセンサを用いた位置検出装置 |
Family Cites Families (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0620570A (ja) * | 1991-12-26 | 1994-01-28 | Nippon Kaiheiki Kogyo Kk | 表示装置付き押釦スイッチ |
JP3616299B2 (ja) * | 2000-03-17 | 2005-02-02 | 三菱電機株式会社 | ライン光源およびそれを用いたイメージセンサ |
US6473186B2 (en) * | 2000-05-22 | 2002-10-29 | Mitutoyo Corporation | Scanning wide-area surface shape analyzer |
CN2439014Y (zh) * | 2000-09-18 | 2001-07-11 | 中国科学院金属研究所 | 非接触式三维测量仪 |
KR100720416B1 (ko) * | 2002-03-16 | 2007-05-22 | 엘지.필립스 엘시디 주식회사 | 액정표시소자용 합착 장치 |
US6798513B2 (en) * | 2002-04-11 | 2004-09-28 | Nanophotonics Ab | Measuring module |
US11082664B2 (en) * | 2004-07-06 | 2021-08-03 | Tseng-Lu Chien | Multiple functions LED night light |
US6815958B2 (en) * | 2003-02-07 | 2004-11-09 | Multimetrixs, Llc | Method and apparatus for measuring thickness of thin films with improved accuracy |
JP2008016828A (ja) * | 2006-06-09 | 2008-01-24 | Canon Inc | 露光装置およびデバイス製造方法 |
US7507005B1 (en) * | 2007-01-30 | 2009-03-24 | Genlyte Thomas Group Llc | Sliding flexible track lighting |
JP5354382B2 (ja) * | 2007-08-10 | 2013-11-27 | 株式会社ニコン | 基板貼り合わせ装置及び基板貼り合わせ方法、並びに積層半導体装置の製造方法 |
CN101377402A (zh) * | 2007-08-28 | 2009-03-04 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 三次元测量仪 |
JP4728414B2 (ja) * | 2009-03-25 | 2011-07-20 | Hoya株式会社 | マスクブランク用基板、マスクブランク、フォトマスクおよび半導体デバイスの製造方法 |
CN102620651B (zh) * | 2011-01-28 | 2015-11-25 | 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 | 影像测量仪 |
US8614797B2 (en) * | 2011-06-27 | 2013-12-24 | Infineon Technologies Ag | Wafer orientation sensor |
US9039230B2 (en) * | 2011-08-03 | 2015-05-26 | Lunastream, Inc. | Apparatus, system, and method for track lighting |
CN202799570U (zh) * | 2012-09-28 | 2013-03-13 | 纬创资通股份有限公司 | 用来组装第一壳体与第二壳体的组装机构 |
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-
2014
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Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
TW460923B (en) * | 2000-11-23 | 2001-10-21 | Taiwan Semiconductor Mfg | Apparatus and method for calibrating transportation system |
TWI284737B (en) * | 2002-08-23 | 2007-08-01 | Tokyo Electron Ltd | Probe apparatus and probing method for using the same |
TWI232349B (en) * | 2003-07-07 | 2005-05-11 | Benq Corp | Method for adjusting relative position of lens module by using uniform light source |
JP2012088277A (ja) * | 2010-10-22 | 2012-05-10 | New Japan Radio Co Ltd | 反射型フォトセンサを用いた位置検出装置 |
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