TWI477962B - 主機板介面測試裝置 - Google Patents
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Description
本發明涉及一種主機板測試裝置，尤指一種用於測試主機板之介面之測試裝置。
主機板於組配完成之後，需要經過全功能測試以確定其是否為優良品，而主機板測試主要係針對該主機板上之各種問題，例如，開路、短路及非正確接觸之零件等狀況加以測試，例如通常需要測試中央處理器介面是否與主機板上之其他元件連接完好，例如需要測試中央處理器介面是否與記憶體介面連接完好，需要測試中央處理器介面是否可與記憶體形成良好之通信，但中央處理器介面之引腳眾多，且佈設密度很高，測試起來較為不便，且準確率不高，且目前多處理器系統被越來越廣泛地應用，一個主機板上通常裝設有多個中央處理器介面，通常需要逐一測試每一個中央處理器介面，測試過程繁瑣費時，效率較低。
鑒於以上內容，有必要提供一種可方便測試主機板介面之主機板介面測試裝置。
一種主機板介面測試裝置，用以對一主機板之介面進行測試，該主機板設有相互連接之一第一中央處理器介面與一第二中央處理器介面，該第一中央處理器介面之引腳可與該第二中央處理器介面之對應引腳相互通信，該主機板介面測試裝置包括一主測試晶片、一第一分測試晶片與一第二分測試晶片，該第一分測試晶片與第二分測試晶片均連接到該主測試晶片，該第一分測試晶片連接到該第一中央處理器介面，該第二分測試晶片連接到該第二中央處理器介面，該主測試晶片控制該第一分測試晶片傳送一第一信號到該第一中央處理器介面之一引腳，該主測試晶片控制該第二分測試晶片讀取該第二中央處理器介面之對應引腳上之信號而得到一第二信號，該主測試晶片將該第一信號與該第二信號進行比較。
相較於習知技術，本發明之主機板介面測試裝置藉由比對第一信號與第二信號而方便地測試介面之各引腳是否連接完好，測試方便準確。
請參閱圖1，本發明主機板介面測試裝置之一較佳實施例用以對一主機板10進行測試，該主機板10設有一第一中央處理器介面11與一第二中央處理器介面12，該第一中央處理器介面11與第二中央處理器介面12可分別用來安裝一中央處理器於其上，該第一中央處理器介面11與第二中央處理器介面12之對應引腳可相互通信；該第一中央處理器介面11與該主機板10上之一記憶體介面111相連，該第二中央處理器介面12亦與該記憶體介面111相連。
該主機板介面測試裝置包括一主測試晶片20、一第一分測試晶片21、一第二分測試晶片22、一連接卡211、一主機30與一顯示單元40，該主測試晶片20分別連接到該主機30與該顯示單元40，該主機30用以存儲測試資料，該顯示單元40用以顯示測試結果。該第一分測試晶片21與第二分測試晶片22分別連接到該主測試晶片20，該第一分測試晶片21連接到該第一中央處理器介面11，該第二分測試晶片22連接到該第二中央處理器介面12，該連接卡211插入該記憶體介面111並與其相連。
請參閱圖2，於主機板10上，該第一中央處理器介面11之對應引腳與該第二中央處理器介面12之對應引腳相連，例如該第一中央處理器介面11之一引腳P1.1與該第二中央處理器介面12之對應引腳P2.1連接起來測試該第一中央處理器介面11與第二中央處理器介面12是否連接完好時，該主測試晶片20控制該第一分測試晶片21傳送一第一信號到該第一中央處理器介面11之引腳P1.1，該主測試晶片20控制該第二分測試晶片22讀取該第二中央處理器介面12之引腳P2.1上之信號而得到一第二信號，該主測試晶片20比較該第一信號與第二信號，若第一信號與第二信號相同，則引腳P1.1與P2.1連接完好，若第一信號與第二信號不同，則引腳P1.1與P2.1未連接完好；則可藉由上述方法逐一測試第一中央處理器介面11之各個引腳與第二中央處理器介面12之各個引腳是否連接完好，主測試晶片20將測試結果發送給主機30儲存起來，主測試晶片20還將測試結果發送給顯示單元40顯示。
請參閱圖3，於主機板10上，該記憶體介面111之引腳藉由主機板10上之對應匯流排與第一中央處理器介面11連接起來，該連接卡211插入該記憶體介面111後與該記憶體介面111連接起來，例如該記憶體介面111之一第一引腳P11.1與該連接卡211之一第一針腳P21.1連接起來，該記憶體介面111之一第二引腳P11.2與該連接卡211之一第二針腳P21.2連接起來，該第一針腳P21.1與該第二針腳P21.2於連接卡211內相連，測試該第一中央處理器介面11與記憶體介面111是否連接完好時，該主測試晶片20控制該第一分測試晶片21藉由第一中央處理器介面11傳送一第三信號到該記憶體介面111之第一引腳P11.1，該主測試晶片20控制該第一分測試晶片21讀取該記憶體介面111之第二引腳P11.2上之信號而得到一第四信號，該主測試晶片20比較該第三信號與第四信號，若第三信號與第四信號相同，則記憶體介面111之引腳P11.1與P11.2與第一中央處理器介面11連接完好，若第三信號與第四信號不同，則記憶體介面111之引腳P11.1與P11.2與第一中央處理器介面11未連接完好；藉由上述方法可依次測試記憶體介面111之各個引腳是否與第一中央處理器介面11連接完好，亦可測試記憶體介面111之引腳是否與第二中央處理器介面12連接完好。
綜上所述，本發明係合乎發明專利申請條件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述僅為本發明之較佳實施例，舉凡熟悉本案技藝之人士其所爰依本案之創作精神所作之等效修飾或變化，皆應涵蓋於以下之申請專利範圍內。
10．．．主機板
11．．．第一中央處理器介面
111．．．記憶體介面
12．．．第二中央處理器介面
20．．．主測試晶片
21．．．第一分測試晶片
211．．．連接卡
22．．．第二分測試晶片
30．．．主機
40．．．顯示單元
P1.1、P2.1．．．引腳
P11.1．．．第一引腳
P11.2．．．第二引腳
P21.1．．．第一針腳
P21.2．．．第二針腳
圖1係本發明主機板介面測試裝置之一實施例與一主機板之示意圖。
圖2係圖1之主機板介面測試裝置與主機板之一連接示意圖。
圖3係圖1之主機板介面測試裝置與主機板之另一連接示意圖。
10．．．主機板
11．．．第一中央處理器介面
111．．．記憶體介面
12．．．第二中央處理器介面
20．．．主測試晶片
21．．．第一分測試晶片
211．．．連接卡
22．．．第二分測試晶片
30．．．主機
40．．．顯示單元
Claims (6)
- 一種主機板介面測試裝置，用以對一主機板之介面進行測試，該主機板設有相互連接之一第一中央處理器介面與一第二中央處理器介面，該第一中央處理器介面之引腳可與該第二中央處理器介面之對應引腳相互通信，該主機板介面測試裝置包括一主測試晶片、一第一分測試晶片與一第二分測試晶片，該第一分測試晶片與第二分測試晶片均連接到該主測試晶片，該第一分測試晶片連接到該第一中央處理器介面，該第二分測試晶片連接到該第二中央處理器介面，該主測試晶片控制該第一分測試晶片傳送一第一信號到該第一中央處理器介面之一引腳，該主測試晶片控制該第二分測試晶片讀取該第二中央處理器介面之對應引腳上之信號而得到一第二信號，該主測試晶片將該第一信號與該第二信號進行比較。
- 如申請專利範圍第1項所述之主機板介面測試裝置，其中一顯示單元連接到該主測試晶片，該顯示單元顯示該主測試晶片對該第一信號與第二信號進行比較後之測試結果。
- 如申請專利範圍第1項所述之主機板介面測試裝置，其中一主機連接到該主測試晶片，該主機存儲該主測試晶片對該第一信號與第二信號進行比較後之測試結果。
- 如申請專利範圍第1項所述之主機板介面測試裝置，其中一連接卡插入該主機板之一記憶體介面並與該記憶體介面相連，該連接卡將該記憶體介面之一第一引腳與一第二引腳連接起來，該主測試晶片傳送一第三信號到該第一引腳，並讀取該第二引腳上之信號而得到一第四信號，該主測試晶片將該第三信號與第四信號進行比較。
- 如申請專利範圍第4項所述之主機板介面測試裝置，其中該主測試晶片控制該第一分測試晶片藉由該第一中央處理器介面傳送該第三信號到該第一引腳。
- 如申請專利範圍第4項所述之主機板介面測試裝置，其中該主測試晶片控制該第二分測試晶片藉由該第二中央處理器介面傳送該第三信號到該第一引腳。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW099144381A TWI477962B (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 主機板介面測試裝置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| TW099144381A TWI477962B (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 主機板介面測試裝置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| TW201227273A TW201227273A (en) | 2012-07-01 |
| TWI477962B true TWI477962B (zh) | 2015-03-21 |
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ID=46933164
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| TW099144381A TWI477962B (zh) | 2010-12-17 | 2010-12-17 | 主機板介面測試裝置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
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| TW (1) | TWI477962B (zh) |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6884086B1 (en) * | 2000-09-28 | 2005-04-26 | Intel Corporation | System and method for connecting a power converter to a land grid array socket |
| TW200638428A (en) * | 2005-04-20 | 2006-11-01 | Unitest Inc | Memory application tester having vertically-mounted motherboard |
| TW200725253A (en) * | 2005-12-16 | 2007-07-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for testing a motherboard audio module |
-
2010
- 2010-12-17 TW TW099144381A patent/TWI477962B/zh not_active IP Right Cessation
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| US6884086B1 (en) * | 2000-09-28 | 2005-04-26 | Intel Corporation | System and method for connecting a power converter to a land grid array socket |
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| TW200725253A (en) * | 2005-12-16 | 2007-07-01 | Hon Hai Prec Ind Co Ltd | System and method for testing a motherboard audio module |
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| Publication number | Publication date |
|---|---|
| TW201227273A (en) | 2012-07-01 |
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