TWI473980B - Light sensor module - Google Patents

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TWI473980B
TWI473980B TW100118216A TW100118216A TWI473980B TW I473980 B TWI473980 B TW I473980B TW 100118216 A TW100118216 A TW 100118216A TW 100118216 A TW100118216 A TW 100118216A TW I473980 B TWI473980 B TW I473980B
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    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
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    • H03M1/50—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval
    • H03M1/504—Analogue/digital converters with intermediate conversion to time interval using pulse width modulation

Description

光感應模組
本發明係有關於一種感應模組，尤其是指一種感應光源之強度的光感應模組。
現今由於科技的進步，進而發展出許多電子裝置，以因應民眾的需求，現今業者為了提供民眾在生活上更多的便利性，所以業者進而發展出功能越來越為強大周全的電子裝置。為了增加電子裝置之功能，現今許多電子裝置皆會設置光感應器，以用於感應環境之光源的強度，以執行對應之功能。例如調整電子裝置之背光模組之光源的強度或顯示環境光源之強度供使用者得知。此外，光感應器可設置於相機，以在環境光源之強度不足之下，相機會自動開啟閃光燈。由上述可知，光感應器之應用越來越為廣泛。
光感應器感應光源後，係會依據光源之強度產生對應之感光訊號，感光訊號之訊號特性會隨光源之不同強度而改變。舉例來說，感光訊號之振幅會隨光源之強度不同而改變，光源之強度高時感光訊號之振幅就會高，反之，光源之強度低時感光訊號之振幅就會低。所以，電子裝置之後級電路可依據感光訊號之特性而得知光源之強度，以執行對應之功能。然而，現今光感應器所輸出之感光訊號係無法直接用來控制電子裝置之後級電路，所以電子裝置必須處理感光訊號，才能控制後級電路。如此，係會增加 電子裝置的負擔與成本。
此外，由於材料與製程因素，不同光感應器之特性皆會有些差異，甚至由相同材料與相同製程製造出的光感應器，其特性也不盡完全相同，所以不同光感應器感應相同光源時，這些光感應器所輸出的感光訊號即會有所差異，如此即造成電子裝置無法精確得知光源之強度，電子裝置即無法確實執行對應之功能，甚至發生錯誤執行功能，例如相機在光源充足下，仍開啟閃光燈。基於上述可知，現今電子裝置會受光感應器之特性不盡相同所影響，如此即會降低電子裝置之效能。
因此，本發明即針對上述問題而提出一種光感應模組，其可產生關聯於光源之強度的一脈波寬度調變訊號，以作為電子裝置之控制訊號，而改善上述習用缺點，此外本發明之光感應模組之特性可被修整，所以可提高光感應模組之精確性。
本發明之目的之一，在於提供一種光感應模組，其感應光源之強度，而對應產生關聯於光源之強度的脈波寬度調變訊號，脈波寬度調變訊號可直接作為電子裝置之控制訊號，以便於控制電子裝置之後級電路。
本發明之目的之一，在於提供一種光感應模組，其具有至少一熔絲用於決定光感應模組之處理參數，透過一修整單元修剪熔絲可修改處理參數，以調整光感應模組之特性，而提高光感應模組之精確性。
本發明光感應模組包含一鋸齒訊號產生電路用於產生一鋸齒訊號；一光感應單元用於感應一光源，以產生一感光訊號；一類 比數位轉換單元，其包含：一積分電路，積分感光訊號以產生一第一積分訊號；一參考訊號產生電路，依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，第一計數訊號用於產生一重置訊號而重置積分電路與第一計數電路；一第二計數電路，耦接第一計數電路以計數重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收第一計數訊號與第二計數訊號，以產生一數位訊號；一第二比較單元依據數位訊號與鋸齒訊號而產生一脈波寬度調變訊號，此脈波寬度調變訊號相關聯於光源之強度。由於本發明之光感應模組可感應光源之強度，而對應產生脈波寬度調變訊號，如此即可直接利用脈波寬度調變訊號作為電子裝置之控制訊號，以便於控制電子裝置之後級電路。
本發明更提供一種光感應模組，其包含一鋸齒訊號產生電路用於產生一鋸齒訊號；一光感應單元用於感應一光源，以產生一感光訊號；一類比數位轉換單元，其包含：一積分電路，積分感光訊號以產生一第一積分訊號；一參考訊號產生電路，依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，第一計數訊號用於產生一重置訊號而重置積分電路與第一計數電路；一第二計數電路，耦接第一計數電路以計數重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收第一計數訊號與第二計數訊號，以產生一 數位訊號；一數位類比轉換單元，接收數位訊號並轉換為一類比訊號；以及一第二比較單元依據類比訊號與鋸齒訊號而產生一脈波寬度調變訊號，此脈波寬度調變訊號相關聯於光源之強度。
本發明提供另外一種光感應模組，其包含至少一熔絲用於決定一處理參數；一光感應單元用於感應一光源並產生一感光訊號；一訊號處理電路依據處理參數處理感光訊號而產生一輸出訊號；以及一調整單元儲存有光源之強度與相對應之一目標值，調整單元依據輸出訊號與目標值而產生一調整訊號，以控制一修整單元修剪熔絲，以修改處理參數。
本發明又提供另外一種光感應模組，其包含至少一熔絲用於決定一處理參數；一光感應單元用於感應一光源並產生一感光訊號；一訊號處理電路依據處理參數處理感光訊號而產生一輸出訊號；以及一調整單元依據輸出訊號與光源之強度，產生複數測試參數；其中，訊號處理電路依據該些測試參數分別處理感光訊號，而產生複數參考訊號，調整單元儲存有光源之強度與相對應之一目標值，並依據該些參考訊號與目標值，產生一調整訊號，以控制一修整單元修剪熔絲，以修改處理參數。
10‧‧‧鋸齒訊號產生電路
14‧‧‧參考光感應單元
15‧‧‧光感應單元
16‧‧‧訊號處理單元
17‧‧‧類比數位轉換單元
18‧‧‧數位類比轉換單元
19‧‧‧比較單元
20‧‧‧積分電路
22‧‧‧運算放大器
24‧‧‧電容
25‧‧‧第一放電開關
26‧‧‧第二放電開關
27‧‧‧電容
28‧‧‧第三放電開關
29‧‧‧第四放電開關
30‧‧‧參考訊號產生電路
32‧‧‧分壓電路
34‧‧‧開關模組
35‧‧‧供應單元
39‧‧‧比較單元
40‧‧‧第一計數電路
42‧‧‧正反器
44‧‧‧邏輯電路
46‧‧‧第二計數電路
48‧‧‧閂鎖電路
52‧‧‧積分訊號
54‧‧‧參考訊號
56‧‧‧小三角波訊號
57‧‧‧分壓電路
58‧‧‧多工器
59‧‧‧緩衝器
62‧‧‧產生器
620‧‧‧儲存電容
621‧‧‧充電開關
622‧‧‧充電電流源
623‧‧‧放電開關
624‧‧‧放電電流源
625‧‧‧濾波電阻
626‧‧‧第一開關
627‧‧‧濾波電容
628‧‧‧電流鏡
6280‧‧‧電晶體
6283‧‧‧電晶體
629‧‧‧電阻
630‧‧‧輸出電容
632‧‧‧第二開關
634‧‧‧延遲單元
635‧‧‧反相器
636‧‧‧邏輯單元
70‧‧‧比較單元
73‧‧‧反相器
75‧‧‧相位頻率偵測器
80‧‧‧訊號處理電路
83‧‧‧熔絲
85‧‧‧調整單元
90‧‧‧修整單元
IC1‧‧‧第一充電電流
IC2‧‧‧第二充電電流
ID‧‧‧放電電流
IR‧‧‧參考電流
RST‧‧‧重置訊號
VCC‧‧‧電壓源
Vcmi1‧‧‧第一放電端
Vcmi2‧‧‧第三放電端
Vcmo1‧‧‧第二放電端
Vcmo2‧‧‧第四放電端
VDD1‧‧‧電壓源
VDD2‧‧‧電壓源
VREFP‧‧‧參考電源
VREFN‧‧‧參考準位
VT‧‧‧門檻訊號
第一圖係本發明之光感應模組之一實施例的方塊圖；第二圖係本發明之光感應模組之另一實施例的方塊圖；第三圖係本發明之類比數位轉換單元之一實施例的電路圖；第四圖係本發明之類比數位轉換單元之一實施例的波形圖；第五圖係本發明之數位類比轉換單元之一實施例的電路圖；第六圖係本發明之鋸齒訊號產生電路之一實施例的電路圖； 第七A圖與第七B圖係本發明之鋸齒訊號產生電路之訊號的波形圖；以及第八圖係本發明之光感應模組之第三實施例的方塊圖。
茲為使 貴審查委員對本發明之技術特徵及所達成之功效更有進一步之瞭解與認識，謹佐以實施例圖及配合詳細之說明，說明如後：請參閱第一圖，其係本發明之光感應模組之一實施例的方塊圖。如圖所示，本發明光感應模組包含一鋸齒訊號產生電路10、一光感應單元15與一比較單元19。光感應單元15用於感應光源之強度，而對應產生一感光訊號，感光訊號之特性係關聯於光源之強度，例如光源之強度高，感光訊號之振幅即會高；反之，光源之強度低，感光訊號之振幅即會低。鋸齒訊號產生電路10用於接收一輸入訊號，以產生一鋸齒訊號。輸入訊號之一實施例為一脈波寬度調變(Pulse-width modulation，PWM)訊號。於本發明之一實施例中，鋸齒訊號之頻率是相同於輸入訊號之頻率，且鋸齒訊號之斜率是成比例於輸入訊號之工作時間(Duty)。
復參閱第一圖，比較單元19依據感光訊號與鋸齒訊號產生脈波寬度調變訊號，其為一輸出訊號。脈波寬度調變訊號之特性相關聯於光源之強度，所以脈波寬度調變訊號之特性表示光源之強度。此實施例之感光訊號輸入至比較單元19之一正輸入端，而鋸齒訊號輸入至比較單元19之一負輸入端，所以感光訊號之準位高於鋸齒訊號之準位時，脈波寬度調變訊號之準位即為高準位。因此，光源之強度高時，脈波寬度調變訊號之脈波寬度會變寬，即 工作時間變長；反之，光源之強度低時，脈波寬度調變訊號之脈波寬度會變窄，即工作時間變短。
由於，脈波寬度調變訊號可作為電子裝置之控制訊號，所以可直接用來控制電子裝置之後級電路。舉例來說，脈波寬度調變訊號可直接控制電子裝置之背光模組的光源，以調整光源的強度，如此光感應模組於感應光源之強度後，即可產生脈波寬度調變訊號控制電子裝置之後級電路，如此可提高電子裝置之效能，且可降低電子裝置之處理負擔與設置電路之成本。
請參閱第二圖，其係本發明之光感應模組之另一實施例的方塊圖。如圖所示，此實施例之光感應模組更包含有一訊號處理單元16，其接收感光訊號以處理感光訊號，而產生一轉換訊號，比較單元19接收轉換訊號以比較轉換訊號與鋸齒訊號，而產生脈波寬度調變訊號。由於訊號處理單元16是依據感光訊號產生轉換訊號，所以轉換訊號之特性是關聯於感光訊號之特性，因此，此實施例之比較單元19仍是依據感光訊號與鋸齒訊號產生脈波寬度調變訊號。
訊號處理單元16包含一類比數位轉換單元17與一數位類比轉換單元18。類比數位轉換單元17接收感光訊號，並轉換感光訊號為一數位訊號。數位類比轉換單元18接收數位訊號，並轉換數位訊號為一類比訊號，此類比訊號即為上述之轉換訊號。比較單元19會比較類比訊號與鋸齒訊號而產生脈波寬度調變訊號。於本發明之另一實施例中，訊號處理單元16可不需有數位類比轉換單元18，類比數位轉換單元17之數位訊號即為上述之轉換訊號，以供比較單元19依據數位訊號與鋸齒訊號產生脈波寬度調變訊號。比較單元19比較數位訊號與鋸齒訊號之前，係會將鋸齒訊號轉換為 數位格式，再與類比數位轉換單元17輸出之數位訊號進行比較，以產生脈波寬度調變訊號。由於，轉換鋸齒訊號為數位格式之訊號的方式與電路為現有技術，所以於此不再詳述。
請參閱第三圖與第四圖，其分別為本發明之類比數位轉換單元之一實施例的電路圖與波形圖。如圖所示，本發明之類比數位轉換單元17包含一積分電路20、一參考訊號產生電路30、一供應單元35、一比較單元39、一第一計數電路40、一第二計數電路46與一栓鎖電路48。積分電路20接收光感應單元15之感光訊號並積分感光訊號，而產生如第四圖所示之一積分訊號52。參考訊號產生電路30依序產生複數個參考訊號。比較單元39之一正輸入端與一負輸入端分別接收積分電路20所產生的積分訊號52與參考訊號產生電路30所產生的該些參考訊號，並依序比較積分訊號52與該些參考訊號，以產生複數比較訊號。本發明之類比數位轉換單元17的比較單元39之一實施例為一遲滯比較單元。
復參閱第三圖，第一計數電路40耦接比較單元39之輸出端，以接收比較單元39所產生之該些比較訊號並計數該些比較訊號。第一計數電路40計數該些比較訊號之次數至一門檻值時，即產生一重置訊號RST而重置積分電路20。積分電路20係在比較單元39比較積分訊號52與該些參考訊號而產生該些比較訊號之後，才被第一計數電路40重置一次，如此即可以降低積分電路20被重置的次數，以可減低積分電路20的非線性誤差，而提高類比數位轉換單元17之精確度。
此外，本發明之類比數位轉換單元17之積分電路20更包含一運算放大器22、一電容24、一第一放電開關25與一第二放電開關26。運算放大器22之一輸入端耦接光感應單元15並接收感光訊號 。電容24並聯於運算放大器22以產生積分訊號52。當感光訊號輸入於積分電路20時，積分電路20即會積分感光訊號而產生積分訊號52。如第四圗所示，本發明之類比數位轉換單元17之積分訊號52為一三角波訊號。第一放電開關25耦接電容24之一端與一第一放電端Vcmi1之間，且受控於第一計數電路40之重置訊號RST。第二放電開關26耦接電容24之另一端與一第二放電端Vcmo1之間，且亦受控於第一計數電路40之重置訊號RST。重置訊號RST用於導通第一放電開關25與第二放電開關26，以對電容24進行放電而重置積分電路20。如此，積分電路20係會重新積分感光訊號而產生下一個積分訊號52，即產生下一個三角波訊號。
復參閱第三圖，本發明之類比數位轉換單元17之參考訊號產生電路30更包含一分壓電路32與一開關模組34。分壓電路32之兩端分別接收一參考電源VREFP與一參考準位VREFN。參考電源VREFP由供應單元35所提供，所以參考電源VREFP之電壓準位由供應單元35所決定。分壓電路32包含複數個電阻，且該些電阻相互串聯以分壓該參考電源VREFP，以產生如第四圖所示之不同準位的複數參考訊號54，該些參考訊號54之準位係逐漸提高。開關模組34耦接分壓電路32與比較單元39之間，以依序傳送不同準位之該些參考訊號54至比較單元39，以供比較單元39比較積分訊號52與該些參考訊號54，而產生複數比較訊號。
一旦，積分訊號52之準位高於參考訊號產生電路30所提供之一參考訊號54的準位時，開關模組34即會切換而傳送具有更高準位之下一參考訊號54至比較單元39。由於積分訊號52之準位亦會逐漸提高，所以比較單元39比較積分訊號52與該些參考訊號54會產生複數比較訊號。參考訊號產生電路30提供不同準位之參考訊 號54至比較單元39而與積分訊號52進行比較，所以比較單元39所產生之每一比較訊號即相當於一個小三角波訊號56。因此，第一計數電路40計數該些比較訊號之數量，即相當於計數三角波訊號56之數量。本發明之開關模組34受控於第一計數電路40，第一計數電路40每計數一個比較訊號即會控制開關模組34切換，以傳輸不同準位之參考訊號54至比較單元39。本發明之開關模組34包含有複數開關，而分別耦接於分壓電路32之該些電阻與比較單元39之間，以提供不同準位之參考訊號54至比較單元39。該些開關受控於第一計數電路40。
復參閱第三圖，本發明之類比數位轉換單元17之第一計數電路40包含一計數器與一邏輯電路44。於此實施例中，計數器包含有複數正反器42且相互串聯。於此實施例中，該些正反器42為D型正反器。每一正反器42之一輸入端D與一反向輸出端QB係相耦接，該些正反器42之第一個正反器的一時脈輸入端CK係耦接比較單元39之輸出端，以接收比較訊號。此外，除該些正反器42之最後一個正反器之外，每一正反器42之一輸出端Q係耦接下一個正反器42之一時脈輸入端CK，而相串聯。該些正反器42之輸出端Q分別輸出第一計數訊號B0~B3，該些第一計數訊號B0~B3為二進制。上述計數器用於計數比較訊號之數量，即相當於計數三角波訊號56之數量，而對應輸出該些第一計數訊號B0~B3。該些第一計數訊號B0~B3可用於做為控制開關模組34之控制訊號，以控制開關模組34之該些開關，以傳輸不同準位之參考訊號54至比較單元39。此實施例之計數器是利用複數正反器42實現，但並不侷限本發明之第一計數電路40的計數器僅能由該些正反器42所構成，此領域技術人員可知計數器亦可由其他常用電路構成。
邏輯電路44耦接計數器以接收該些第一計數訊號B0~B3，並依據該些第一計數訊號B0~B3而得知三角波訊號56之數量。邏輯電路44依據該些第一計數訊號B0~B3而得知三角波訊號56之數量達到門檻值時，即產生重置訊號RST而重置積分電路20，以重新積分感光訊號產生下一個新積分訊號52，即產生下一個大三角波訊號。此實施例之門檻值為預先設定於邏輯電路44內，其值依據需求而可改變。此外，重置訊號RST亦會重置第一計數電路40之計數器，於此實施例中即藉由重置訊號RST重置該些正反器42，以重新計數比較單元39所輸出之複數比較訊號。
由上述說明可知，第一計數電路40係用於計數該些比較訊號之數量，即計數小三角波訊號56之數量，並在比較訊號之數量達到門檻值時即重置積分訊號52，以產生下一個積分訊號，且重置該些第一計數訊號B0~B3。如此，每一積分訊號52係相當於包含有固定數量之小三角波訊號56。
復參閱第三圖，本發明之類比數位轉換單元17更包含一第二計數電路46與一閂鎖電路48。第二計數電路46接收第一計數電路40所產生的重置訊號RST，並計數重置訊號RST，而產生一第二計數訊號並傳送至栓鎖電路48。第二計數電路46所產生之第二計數訊號係表示積分訊號52之數量，即表示積分電路20所產生之大三角波訊號的數量。栓鎖電路48更耦接第一計數電路40以接收該些第一計數訊號B0~B3，如此栓鎖電路48依據第一計數電路40之該些第一計數訊號B0~B3以及第二計數電路46之第二計數訊號，即可得知積分訊號52之數量以及積分訊號52所包含之小三角波訊號56之數量。換言之，小三角波訊號56之總數量即為積分訊號52之數量與每一積分訊號52所包含之小三角波訊號56之數量的乘積。 栓鎖電路48依據第一計數電路40之該些第一計數訊號B0~B3與第二計數電路46之第二計數訊號，而產生數位訊號。
運用本發明之類比數位轉換單元17係可降低積分電路20被重置的次數，而減少非線性效應，而提高類比數位轉換單元17之精確度。舉例來說，以習用12位元類比數位轉換單元而言，其必須要被重置4096次。然而，本發明之積分電路20係不需要被重置4096次，假若本發明之參考訊號產生電路30可提供16個不同準位之參考訊號54，也就是一個積分訊號52可相對包含有16個小三角波訊號56，所以第一計數電路40為4位元計數電路，再設計第二計數電路46為8位元計數電路，而用於計數積分訊號52之數量，如此即可達到12位元之功用。換言之，本發明之積分電路20僅需被重置256次，所以其重置次數僅有習用類比數位轉換單元被重置次數的16分之一。如此，即可有效降低積分電路20被重置的次數，而減少非線性效應，而提高類比數位轉換單元17之精確度，上述第一計數電路40為4位元計數電路、第二計數電路46為8位元計數電路與栓鎖電路48為12位元栓鎖電路僅為本發明之一實施例，第一計數電路40、第二計數電路46與栓鎖電路48係可依據使用需求而設計並不侷限上述之實施例。
復參閱第三圖，本發明之積分電路20可更包含有一參考光感應單元14、一電容27、一第三放電開關28與一第四放電開關29。參考光感應單元14耦接於算放大器22之輸入端，電容27並聯於運算放大器22，第三放電開關28耦接電容27之一端與一第三放電端Vcmi2之間，且受控於第一計數電路40之重置訊號RST。第四放電開關29耦接電容27之另一端與一第四放電端Vcmo2之間，且亦受控於第一計數電路40之重置訊號RST。重置訊號RST用於導通第三放 電開關28與第四放電開關29，以對電容27放電。
理論上，光感應單元於沒有光源狀態下，而未感應到任何光線時，應不會產生任何訊號。然而，實際上光感應單元未感應到任何光線時，仍有可能會產生低準位之感光訊號。所以，本發明之積分電路20利用參考光感應單元14相對於無光源全黑狀態下，而產生一基準訊號，並利用運算放大器22與電容27積分此基準訊號，而產生一參考積分訊號，其為一第二積分訊號，而電容24所產生之積分訊號為一第一積分訊號。電容24之第一積分訊號與電容27之第二積分訊號會傳送至比較單元39，比較單元39會先比較第一積分訊號與第二積分訊號，再利用第一積分訊號與第二積分訊號間之一差異值與參考訊號產生電路30之該些參考訊號進行比較，以依序產生複數比較訊號。由於，類比數位轉換單元17有以參考光感應單元14之基準訊號為基礎，而處理光感應單元15之感光訊號，如此可提高類比數位轉換單元17之精確度。
請參閱第五圖，其為本發明之數位類比轉換單元之一實施例的電路圖。如圖所示，數位類比轉換單元18包含一電壓源VCC、一分壓電路57、一多工器58與一緩衝器59。電壓源VCC用以產生一供應電壓，分壓電路57耦接電壓源VCC以接收供應電壓，並分壓供應電壓而產生複數電壓訊號，分壓電路57包含複數相互串聯之電阻。多工器58耦接於分壓電路57與緩衝器59之間，多工器58接收該些電壓訊號與類比數位轉換單元17(如第二圖所示)所產生之數位訊號，以依據數位訊號決定輸出該些電壓訊號之其中之一。緩衝器59之一正輸入端耦接多工器58之輸出端，以接收電壓訊號，而緩衝器59之一負輸入端耦接緩衝器59之一輸出端，以緩衝多工器58輸出之電壓訊號，並輸出為類比訊號。
請參閱第六圖，其係本發明之鋸齒訊號產生電路之一實施例的電路圖。如圖所示，本發明之鋸齒訊號產生電路10包含一產生器62、一比較單元70與一相位頻率偵測器(Phase/Frequency Detector，PFD)75。產生器62用以產生一鋸齒訊號。比較單元70具有一正輸入端與一負輸入端，正輸入端耦接產生器62，以接收鋸齒訊號，比較單元70之負輸入端接收一門檻訊號VT。比較單元70比較鋸齒訊號與門檻訊號VT，比較單元70之一輸出訊號經由一反相器73產生一脈波訊號。所以，比較單元70用於比較鋸齒訊號與門檻訊號VT，以產生脈波訊號。比較單元70之一實施例為一遲滯比較單元。反相器73耦接於比較單元70之一輸出端與相位頻率偵測器75之間。相位頻率偵測器75接收輸入訊號與脈波訊號，並依據輸入訊號之相位與脈波訊號之相位，而控制產生器62產生鋸齒訊號，以調整鋸齒訊號之一斜率。
承上所述，產生器62包含一儲存電容620、一充電電流源622、一放電電流源624、一第一開關626、一電流鏡628、一輸出電容630、一第二開關632、一延遲單元634與一邏輯單元636。儲存電容620用以產生一驅動電壓，以驅動第一開關626。充電電流源622耦接於一電壓源VDD1與一充電開關621之一端之間，充電開關622之另一端耦接於儲存電容620之一端，儲存電容620之另一端耦接於接地端。充電電流源622產生一第一充電電流IC1，第一充電電流IC1經由充電開關621對儲存電容620充電而產生驅動電壓。放電電流源624耦接於一放電開關623之一端與接地端之間，放電開關623之另一端耦接於儲存電容620。放電電流源624產生一放電電流ID，以對儲存電容620放電。
復參閱第六圖，第一開關626之一閘極耦接儲存電容620，並 受控於儲存電容620產生之驅動電壓。一濾波電阻625之一端耦接於儲存電容620與第一開關626之閘極。一濾波電容627耦接於濾波電阻625之另一端與接地端之間。儲存電容620、濾波電阻625與濾波電容627係構成一迴路濾波器。一電阻629耦接於第一開關626之一源極與接地端之間。第一開關626受該驅動電壓導通時，第一開關626之一汲極產生一參考電流IR。參考電流IR之振幅決定於電阻629之電阻值。
電流鏡628耦接第一開關626並接收參考電流IR，電流鏡628依據參考電流IR產生一第二充電電流IC2。第二充電電流IC2與參考電流IR成比例。於此實施例中，電流鏡628包含兩電晶體6280與6283，電晶體6280之一源極與電晶體6283之一源極皆耦接於一電壓源VDD2。電晶體6280之一汲極耦接於第一開關626之汲極，以接收參考電流IR。電晶體6280之一閘極與電晶體6283一閘極相互耦接。電晶體6283之一汲極產生第二充電電流IC2。輸出電容630耦接電流鏡628與第二開關632，且受電流鏡628產生之第二充電電流IC2充電與經由第二開關632放電，以產生鋸齒訊號。輸出電容630更耦接於接地端。第二開關632之一汲極耦接輸出電容630，第二開關632之一源極耦接於接地端。
延遲單元634接收輸入訊號，並延遲輸入訊號而產生一延遲訊號。一反相器635反相延遲訊號並傳送反相延遲訊號至邏輯單元636之一第一輸入端，邏輯單元636之一第二輸入端接收輸入訊號，邏輯單元636依據輸入訊號與反相延遲訊號而產生一控制訊號，以控制第二開關632導通或截止。換言之，邏輯單元636依據輸入訊號與延遲訊號產生控制訊號。於本實施例中，邏輯單元636為一及閘。比較單元70耦接輸出電容630以接收鋸齒訊號，且 比較鋸齒訊號與門檻訊號，以產生脈波訊號。相位頻率偵測器75依據輸入訊號之相位與脈波訊號之相位而控制充電開關621與放電開關623，以決定充電電流源622對儲存電容620充電或是放電電流源624對儲存電容620放電。
請一併參閱第七A圖，其為本發明之鋸齒訊號產生電路之訊號的波形圖。如圖所示，輸入訊號與經延遲反相之輸入訊號的準位皆為高準位時，邏輯單元636則產生高準位之控制訊號，而導通第二開關632，以對輸出電容630進行放電。此時，鋸齒訊號之準位為低準位，再經過延遲單元634之延遲時間後，經延遲反相之輸入訊號的準位為低準位，所以控制訊號之準位為低準位，而截止第二開關632。此時，第二充電電流IC2對輸出電容630進行充電，鋸齒訊號之準位則由低準位逐漸上升，直到控制訊號導通第二開關632。本發明藉由比較單元70比較鋸齒訊號與門檻訊號，以產生脈波訊號。相位頻率偵測器75偵測脈波訊號與輸入訊號，以依據脈波訊號之相位與輸入訊號之相位判斷鋸齒訊號之斜率是否為目標值。若脈波訊號之相位相同於輸入訊號之相位，則表示鋸齒訊號之斜率為目標值。
接上所述，若脈波訊號之相位不相同於輸入訊號之相位，則表示鋸齒訊號之斜率非為目標值而需調整。如第七B圖所示，脈波訊號之相位超前輸入訊號之相位，其表示參考電流IR太大，而使第二充電電流IC2對輸出電容630充電太快，造成鋸齒訊號的斜率太高。相位頻率偵測器75判斷脈波訊號之相位超前輸入訊號之相位時，則控制放電開關623導通，使放電電流源624對儲存電容620進行放電，而降低參考電流IR，進而降低第二充電電流IC2，以達到降低鋸齒訊號之斜率。如此，於下一個週期，鋸齒訊號之 斜率即會達到目標值，而脈波訊號之相位也會同於輸入訊號之相位。同理，當脈波訊號之相位落後輸入訊號之相位，相位頻率偵測器75則控制充電開關621導通，使充電電流源622對儲存電容620充電，而提高參考電流IR，進而增加第二充電電流IC2，以提升鋸齒訊號之斜率。
請參閱第八圖，其係本發明之光感應模組之第三實施例的方塊圖。如圖所示，此實施例之光感應模組包含光感應單元15、一訊號處理電路80、至少一熔絲83、一調整單元85與一修整單元90。訊號處理電路80包含前述之鋸齒訊號產生電路10、訊號處理單元16與比較單元19(如第二圖所示)，以用於處理光感應單元15之感光訊號。此外，訊號處理電路80亦可為現有一般之處理電路，並不侷限於本發明之鋸齒訊號產生電路10、訊號處理單元16與比較單元19。熔絲83用於決定訊號處理電路80之一處理參數，例如決定訊號處理電路80之增益。訊號處理電路80會依據處理參數處理感光訊號，所以處理參數會決定訊號處理電路80之特性。
於本發明之一實施例中，熔絲83決定之處理參數會儲存於訊號處理電路80之一暫存器(圖未示)，處理參數亦可儲存於電子裝置內部之任一暫存器。此處理參數會傳輸至第三圖之類比數位轉換單元17之供應單元35，供應單元35即會依據處理參數提供參考電源，即參考電源之準位會被決定於處理參數。參考電源之準位會影響分壓電路32分壓參考電源所產生之複數參考訊號的準位，如此即會決定類比數位轉換單元17之特性。因此，透過修改處理參數即可調整類比數位轉換單元17之特性，即調整訊號處理電路80之特性。訊號處理單元80依據不同處理參數處理相同感光訊號，即會產生不同特性之輸出訊號，例如類比數位轉換單元17依 據不同處理參數處理相同感光訊號會產生不同數值之數位訊號。利用處理參數改變數位訊號，即會改變數位類比轉換單元18(如第二圖所示)之類比訊號，以及比較單元19(如第二圖所示)所產生之脈波寬度調變訊號。
調整本發明之光感應模組時，可利用預定強度之光源照射光感應模組，讓光感應單元15感應光源而產生對應之感光訊號。訊號處理電路80會依據預定之處理參數處理感光訊號而產生輸出訊號，此輸出訊號為數位訊號、類比訊號或者脈波寬度調變訊號。調整單元85會接收輸出訊號，並依據預定光源的強度與輸出訊號之特性，而判斷是否需要修改處理參數。調整單元85具有一對照表，其儲存有預定光源的強度與相對應之一目標值，此目標值為訊號之特性，例如數位訊號之數值、類比訊號之振幅或者脈波寬度調變訊號之工作時間等。調整單元85會依據目標值與輸出訊號而判斷是否需要修改處理參數，若輸出訊號之特性與目標值有差異，即表示需要修改處理參數。此時，調整單元85會產生一調整訊號，並傳送調整訊號至修整單元90，以控制修整單元90修剪熔絲83。如此，即可修改處理參數。於本發明之一實施例，熔絲83為雷射熔絲，而修整單元90為雷射單元。
本發明另外提供一種修改處理參數之方式。調整單元85依據輸出訊號與預定光源的強度，產生複數測試參數，該些測試參數之一會暫存於暫存器，以取代暫存器之處理參數。訊號處理電路80會依據暫存器所儲存之測試參數處理感光訊號，而產生數位訊號、類比訊號或脈波寬度調變訊號，以作為一參考訊號。之後，再將另外一測試參數暫存於暫存器，以取代暫存器之原有測試參數，訊號處理電路80會依據暫存器新儲存之測試參數處理相同之 感光訊號，而產生另一參考訊號。
由上述可知，調整單元85所產生之該些測試參數會依序提供給訊號處理電路80，訊號處理電路80即會依序依據該些測試參數處理相同之感光訊號，以產生複數參考訊號。調整單元85會依據該些參考訊號與預定光源的強度，產生調整訊號。調整單元85是比較預定光源所對應的目標值和該些參考訊號的特性，以選擇出最接近於目標值之參考訊號，此最接近於目標值之參考訊號所對應的測試參數，即為最合適之參數。調整單元85即會依據最接近於目標值之參考訊號所對應的測試參數產生調整訊號，並傳送調整訊號至修整單元90，以控制修整單元90修剪熔絲83，而修改處理參數，修改後之處理參數即相同於上述找出最合適之參數。
綜上所述，本發明光感應模組包含鋸齒訊號產生電路、光感應單元與比較單元，鋸齒訊號產生電路產生鋸齒訊號。光感應單元感應光源並產生感光訊號，比較單元依據感光訊號與鋸齒訊號產生脈波寬度調變訊號，脈波寬度調變訊號關聯於光源之強度，脈波寬度調變訊號可作為電子裝置之控制訊號，而便於控制電子裝置之後級電路。光感應模組更包含至少一熔絲、訊號處理單元與調整單元，熔絲用於決定訊號處理單元之處理參數，訊號處理單元依據處理參數處理感光訊號，以輸出轉換訊號，比較單元比較轉換訊號與鋸齒訊號以產生脈波寬度調變訊號，調整單元依據脈波寬度調變訊號與光源之強度或依據轉換訊號與光源之強度，而產生調整訊號，以控制修整單元修剪熔絲，而修改處理參數。
故本發明實為一具有新穎性、進步性及可供產業上利用者，應符合我國專利法專利申請要件無疑，爰依法提出發明專利申請，祈鈞局早日賜准專利，至感為禱。
惟以上所述者，僅為本發明一實施例而已，並非用來限定本發明實施之範圍，故舉凡依本發明申請專利範圍所述之形狀、構造、特徵及精神所為之均等變化與修飾，均應包括於本發明之申請專利範圍內。
10‧‧‧鋸齒訊號產生電路
15‧‧‧光感應單元
19‧‧‧比較單元

Claims (38)

  1. 一種光感應模組，其包含有：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；一光感應單元，感應一光源，並產生一感光訊號；一類比數位轉換單元，其包含：一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一參考訊號產生電路，依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號而重置該積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號；一第二比較單元，依據該數位訊號與該鋸齒訊號，產生一脈波寬度調變訊號，該脈波寬度調變訊號相關聯於該光源之強度。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號； 一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之光感應模組，其中該產生器包含：一儲存電容，用於產生一驅動電壓；一充電電流源，產生一第一充電電流，以充電該儲存電容而產生該驅動電壓；一放電電流源，產生一放電電流，以放電該儲存電容；一第一開關，耦接該儲存電容，並受控於該驅動電壓，且產生一參考電流；一電流鏡，依據該參考電流產生一第二充電電流；一輸出電容，耦接該電流鏡並產生該鋸齒訊號，該第二充電電流充電該輸出電容，以產生該鋸齒訊號；一第二開關，耦接該輸出電容與一接地端之間，以放電該輸出電容；一延遲單元，延遲該輸入訊號而產生一延遲訊號；以及一邏輯單元，依據該輸入訊號與該延遲訊號而產生一控制訊號，以控制該第二開關；其中，該相位頻率偵測器依據該輸入訊號之該相位與該脈波訊號之該相位，而控制該充電電流源與該放電電流源。
  4. 如申請專利範圍第1項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號 ，以依序產生該些比較訊號。
  5. 如申請專利範圍第1項所述之光感應模組，更包含：至少一熔絲，決定一處理參數；一訊號處理單元，接收該感光訊號並依據該處理參數處理該感光訊號，並輸出一轉換訊號，該第二比較單元比較該轉換訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號；以及一調整單元，依據該脈波寬度調變訊號與該光源之強度或依據該轉換訊號與該光源之強度，產生一調整訊號；其中，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  6. 如申請專利範圍第1項所述之光感應模組，更包含：至少一熔絲，決定一處理參數；一訊號處理單元，接收該感光訊號並依據該處理參數處理該感光訊號，並輸出一轉換訊號，該第二比較單元比較該轉換訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號；以及一調整單元，依據該脈波寬度調變訊號與該光源之強度或依據該轉換訊號與該光源之強度，產生複數測試參數；其中，該訊號處理單元分別依據該些測試參數處理該感光訊號，而產生複數參考訊號，該調整單元依據該些參考訊號與該光源之強度，產生一調整訊號，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  7. 一種光感應模組，其包含有：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；一光感應單元，感應一光源，並產生一感光訊號；一類比數位轉換單元，其包含： 一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一參考訊號產生電路，依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號而重置該積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號；一數位類比轉換單元，接收該數位訊號並轉換為一類比訊號；以及一第二比較單元，依據該類比訊號與該鋸齒訊號，產生一脈波寬度調變訊號，該脈波寬度調變訊號相關聯於該光源之強度。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號；一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  9. 如申請專利範圍第8項所述之光感應模組，其中該產生器包含： 一儲存電容，用於產生一驅動電壓；一充電電流源，產生一第一充電電流，以充電該儲存電容而產生該驅動電壓；一放電電流源，產生一放電電流，以放電該儲存電容；一第一開關，耦接該儲存電容，並受控於該驅動電壓，且產生一參考電流；一電流鏡，依據該參考電流產生一第二充電電流；一輸出電容，耦接該電流鏡並產生該鋸齒訊號，該第二充電電流充電該輸出電容，以產生該鋸齒訊號；一第二開關，耦接該輸出電容與一接地端之間，以放電該輸出電容；一延遲單元，延遲該輸入訊號而產生一延遲訊號；以及一邏輯單元，依據該輸入訊號與該延遲訊號而產生一控制訊號，以控制該第二開關；其中，該相位頻率偵測器依據該輸入訊號之該相位與該脈波訊號之該相位，而控制該充電電流源與該放電電流源。
  10. 如申請專利範圍第7項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號，以依序產生該些比較訊號。
  11. 如申請專利範圍第7項所述之光感應模組，更包含：至少一熔絲，決定一處理參數；一訊號處理單元，接收該感光訊號並依據該處理參數處理該感光訊號，並輸出一轉換訊號，該第二比較單元比較該轉換訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號；以及 一調整單元，依據該脈波寬度調變訊號與該光源之強度或依據該轉換訊號與該光源之強度，產生一調整訊號；其中，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  12. 如申請專利範圍第7項所述之光感應模組，更包含：至少一熔絲，決定一處理參數；一訊號處理單元，接收該感光訊號並依據該處理參數處理該感光訊號，並輸出一轉換訊號，該第二比較單元比較該轉換訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號；以及一調整單元，依據該脈波寬度調變訊號與該光源之強度或依據該轉換訊號與該光源之強度，產生複數測試參數；其中，該訊號處理單元分別依據該些測試參數處理該感光訊號，而產生複數參考訊號，該調整單元依據該些參考訊號與該光源之強度，產生一調整訊號，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  13. 一種光感應模組，其包含有：至少一熔絲，決定一處理參數；一光感應單元，感應一光源並產生一感光訊號；一訊號處理電路，耦接該光感應單元，該訊號處理電路包含一類比數位轉換單元，而該類比數位轉換單元包含：一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一供應單元，依據該處理參數提供一參考電源；一參考訊號產生電路，依據該參考電源依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號 ；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號，而重置該第一積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號，而為一輸出訊號；一調整單元，依據該輸出訊號與該光源之強度，產生一調整訊號；其中，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  14. 如申請專利範圍第13項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元，依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號，以依序產生該些比較訊號。
  15. 如申請專利範圍第13項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路處理該感光訊號，以產生一脈波寬度調變訊號，而為該輸出訊號。
  16. 如申請專利範圍第15項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路包含：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；以及一第二比較單元，比較該數位訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號。
  17. 如申請專利範圍第16項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生 電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號；一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  18. 如申請專利範圍第17項所述之光感應模組，其中該產生器包含：一儲存電容，用於產生一驅動電壓；一充電電流源，產生一第一充電電流，以充電該儲存電容而產生該驅動電壓；一放電電流源，產生一放電電流，以放電該儲存電容；一第一開關，耦接該儲存電容，並受控於該驅動電壓，且產生一參考電流；一電流鏡，依據該參考電流產生一第二充電電流；一輸出電容，耦接該電流鏡並產生該鋸齒訊號，該第二充電電流充電該輸出電容，以產生該鋸齒訊號；一第二開關，耦接該輸出電容與一接地端之間，以放電該輸出電容；一延遲單元，延遲該輸入訊號而產生一延遲訊號；以及一邏輯單元，依據該輸入訊號與該延遲訊號而產生一控制訊號，以控制該第二開關；其中，該相位頻率偵測器依據該輸入訊號之該相位與該脈波訊號之該相位，而控制該充電電流源與該放電電流源。
  19. 如申請專利範圍第13項所述之光感應模組，其中該調整單元更包 含：一對照表，其儲存有該光源之強度與相對應之一目標值，該調整單元依據該目標值與該輸出訊號產生該調整訊號。
  20. 一種光感應模組，其包含有：至少一熔絲，決定一處理參數；一光感應單元，感應一光源並產生一感光訊號；一訊號處理電路，耦接該光感應單元，該訊號處理電路包含一類比數位轉換單元，而該類比數位轉換單元包含：一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一供應單元，依據該處理參數提供一參考電源；一參考訊號產生電路，依據該參考電源依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號，而重置該第一積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號；一數位類比轉換單元，接收該數位訊號並轉換為一類比訊號，而為一輸出訊號；以及一調整單元，依據該輸出訊號與該光源之強度，產生一調整訊號； 其中，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  21. 如申請專利範圍第20項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元，依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號，以依序產生該些比較訊號。
  22. 如申請專利範圍第20項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路處理該感光訊號，以產生一脈波寬度調變訊號，而為該輸出訊號。
  23. 如申請專利範圍第22項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路包含：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；以及一第二比較單元，比較該類比訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號。
  24. 如申請專利範圍第23項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號；一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  25. 如申請專利範圍第24項所述之光感應模組，其中該產生器包含：一儲存電容，用於產生一驅動電壓；一充電電流源，產生一第一充電電流，以充電該儲存電容而產生 該驅動電壓；一放電電流源，產生一放電電流，以放電該儲存電容；一第一開關，耦接該儲存電容，並受控於該驅動電壓，且產生一參考電流；一電流鏡，依據該參考電流產生一第二充電電流；一輸出電容，耦接該電流鏡並產生該鋸齒訊號，該第二充電電流充電該輸出電容，以產生該鋸齒訊號；一第二開關，耦接該輸出電容與一接地端之間，以放電該輸出電容；一延遲單元，延遲該輸入訊號而產生一延遲訊號；以及一邏輯單元，依據該輸入訊號與該延遲訊號而產生一控制訊號，以控制該第二開關；其中，該相位頻率偵測器依據該輸入訊號之該相位與該脈波訊號之該相位，而控制該充電電流源與該放電電流源。
  26. 如申請專利範圍第20項所述之光感應模組，其中該調整單元更包含：一對照表，其儲存有該光源之強度與相對應之一目標值，該調整單元依據該目標值與該輸出訊號產生該調整訊號。
  27. 一種光感應模組，其包含有：至少一熔絲，決定一處理參數；一光感應單元，感應一光源，並產生一感光訊號；一訊號處理電路，耦接該光感應單元，該訊號產生電路包含一類比數位轉換單元，而該類比數位轉換單元包含：一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一供應單元，依據該處理參數提供一參考電源； 一參考訊號產生電路，依據該參考電源依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號，而重置該第一積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號，而為一輸出訊號；一調整單元，依據該輸出訊號與該光源之強度，產生複數測試參數；其中，該訊號處理電路依據該些測試參數分別處理該感光訊號，而產生該些參考訊號，該調整單元儲存有該光源之強度與相對應之一目標值，並依據該些參考訊號與該目標值，產生一調整訊號，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  28. 如申請專利範圍第27項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元，依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號，以依序產生該些比較訊號。
  29. 如申請專利範圍第27項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路處理該感光訊號，以產生一脈波寬度調變訊號，而為該輸出訊號。
  30. 如申請專利範圍第29項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路 包含：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；以及一第二比較單元，比較該數位訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號。
  31. 如申請專利範圍第30項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號；一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  32. 如申請專利範圍第27項所述之光感應模組，其中該調整單元更包含：一對照表，其儲存有該光源之強度與相對應之一目標值，該調整單元依據該目標值與該些參考訊號產生該調整訊號。
  33. 一種光感應模組，其包含有：至少一熔絲，決定一處理參數；一光感應單元，感應一光源，並產生一感光訊號；一訊號處理電路，耦接該光感應單元，該訊號產生電路包含一類比數位轉換單元，而該類比數位轉換單元包含：一積分電路，積分該感光訊號以產生一第一積分訊號；一供應單元，依據該處理參數提供一參考電源；一參考訊號產生電路，依據該參考電源依序產生複數參考訊號；一第一比較單元，接收該第一積分訊號與該些參考訊號，並依序 比較該第一積分訊號與該些參考訊號，以依序產生複數比較訊號；一第一計數電路，接收該些比較訊號，並計數該些比較訊號，以產生一第一計數訊號，該第一計數訊號用於產生一重置訊號，而重置該第一積分電路與該第一計數電路；一第二計數電路，耦接該第一計數電路以計數該重置訊號之數量，而產生一第二計數訊號；以及一閂鎖電路，接收該第一計數訊號與該第二計數訊號，以產生一數位訊號；一數位類比轉換單元，接收該數位訊號並轉換為一類比訊號，而為一輸出訊號；以及一調整單元，依據該輸出訊號與該光源之強度，產生複數測試參數；其中，該訊號處理電路依據該些測試參數分別處理該感光訊號，而產生該些參考訊號，該調整單元依據該些參考訊號與該光源之強度，產生一調整訊號，一修整單元依據該調整訊號修剪該熔絲，以修改該處理參數。
  34. 如申請專利範圍第33項所述之光感應模組，其中該積分電路更積分一基準訊號而產生一第二積分訊號，且該第一比較單元，依序比較該第一積分訊號和該第二積分訊號之一差異值與該些參考訊號，以依序產生該些比較訊號。
  35. 如申請專利範圍第33項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路處理該感光訊號，以產生一脈波寬度調變訊號，而為該輸出訊號。
  36. 如申請專利範圍第35項所述之光感應模組，其中該訊號處理電路 包含：一鋸齒訊號產生電路，產生一鋸齒訊號；以及一第二比較單元，比較該類比訊號與該鋸齒訊號，以產生該脈波寬度調變訊號。
  37. 如申請專利範圍第36項所述之光感應模組，其中該鋸齒訊號產生電路包含：一產生器，產生該鋸齒訊號；一第三比較單元，比較該鋸齒訊號與一門檻訊號以產生一脈波訊號；以及一相位頻率偵測器，接收一輸入訊號與該脈波訊號，並依據該輸入訊號之一相位與該脈波訊號之一相位，而控制該產生器產生該鋸齒訊號，以調整該鋸齒訊號之一斜率。
  38. 如申請專利範圍第33項所述之光感應模組，其中該調整單元更包含：一對照表，其儲存有該光源之強度與相對應之一目標值，該調整單元依據該目標值與該些參考訊號產生該調整訊號。
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