TWI457548B - 光感測裝置及其調整方法 - Google Patents

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Description

光感測裝置及其調整方法
本發明是有關於一種感測裝置及其調整方法，且特別是有關於一種光感測裝置及其調整方法。
目前觸控面板技術大致上具有以下幾種類型：電阻式、電容式、光學式、電磁式、超音波式、內嵌式液晶面板(LCD In-Cell，其可分為電阻、電容、光學三種)。在內嵌式光感觸控面板的顯示器中，係利用不同照光強度所造成的漏電流大小差異，作為內嵌式光感觸控面板中的光感測元件是否導通的條件，進而判斷內嵌式光感觸控面板有無被觸碰。
舉例來說，光感測元件包括有薄膜電晶體等所構成。所述的光感測元件在手指觸碰、環境光照射及光筆觸控下的薄膜電晶體漏電流分別對應為第一電流值、第二電流值及第三電流值。因此，當光感應元件接受光強度較大時，薄膜電晶體的漏電流Ids也就較大，也就是說，第一電流值小於第二電流值小於第三電流值。接著，將薄膜電晶體漏電流的差異所產生的電荷量差異，經由積分器轉為輸出電壓，再藉由判斷輸出電壓的值則可了解為有觸碰或無觸碰。然而，當光感測元件在長時間使用下，光感測元件的閘源極電壓差會產生飄移的情況，而致使光感測元件的感測特性改變，進而可能使感測結果發生錯誤。
本發明提出一種光感測裝置及其調整方法係提供一個回授控制路徑，以調整/校正光感測裝置的感測特性，進而改善可能使感測結果發生錯誤的問題。
因此，本發明實施例的光感測裝置，包括光感測模組、訊號轉換模組、比較模組與調整模組。光感測模組，根據受光強度輸出第一感測訊號與第二感測訊號。訊號轉換模組，電性耦接於光感測模組。所述的訊號轉換模組接收光感測模組輸出的第一感測訊號與第二感測訊號，並根據第一感測訊號與第二感測訊號的相對差值以輸出感測數值。比較模組，電性耦接於訊號轉換模組。所述的比較模組儲存有預設值以與感測數值作比較，並根據判斷條件決定是否輸出比較結果。調整模組，分別電性耦接於比較模組與光感測模組。所述的調整模組用以根據比較結果以輸出調整電壓至光感測模組，進而調整光感測模組的光感測特性。
另外，本發明實施例的光感測電路的調整方法，包括有下列步驟：首先，儲存預設值；接著，根據受光強度輸出第一感測訊號與第二感測訊號；然後，根據第一感測訊號與第二感測訊號的相對差值，以輸出感測數值；接著，比較預設值與所述的感測數值的關係，是否滿足判斷條件，以決定是否輸出提供調整光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓；及於預設值與感測數值的關係滿足所述的判斷條件時，提供調整光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓。
綜上所述，本發明實施例的光感測裝置及其調整方法，透過控制模組根據來自光感測模組的第一感測訊號與第二感測訊號，以判斷光感測模組的光感測特性是否產生變化，並於確認光感測模組的光感測特性產生變化時，輸出調整電壓至光感測模組，以對應調整光感測模組的光感測特性。藉此，以降低或解決光感測模組的感測結果發生錯誤的問題。
為讓本發明之上述和其他目的、特徵和優點能更明顯易懂，下文特舉較佳實施例，並配合所附圖式，作詳細說明如下。
請參照圖1，圖1係為本發明實施例之電路方塊圖。如圖1所示，本發明實施例之光感測裝置100包括有光感測模組10與控制模組50，且光感測模組10電性耦接於控制模組50。
光感測模組10可根據受光強度輸出第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref，並提供光感式的觸控操作功能。舉例來說，當光感測模組10受光筆(圖中未示)照射時，則輸出具有高位準的第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref，以對應為被觸碰的狀態。當光感測模組10未受光筆(圖中未示)照射時，則輸出具有低位準的第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref，或者不輸出第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref，以對應為未被觸碰的狀態。另外，光感測模組10可包括但不限制有數個薄膜電晶體、電容器等電子元件構成。光感測模組10可例如是光感測觸控顯示器等其他具有相似性質的顯示器所構成。
請一併參照圖1與圖2，而圖2係為本發明實施例之光感測模組的電路示意圖。所述的控制模組50包括有訊號轉換模組20、比較模組30與調整模組40。控制模組50電性耦接於第一讀出線DL1與第二讀出線DL2，以接收第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref。控制模組50根據接收的第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref輸出調整電壓至光感測模組10，以調整光感測模組10中的第二控制訊號Gn+1、第三控制訊號Sn+1、第四控制訊號Gn-1或第五控制訊號Sn-1的至少其中之一。
如圖1所示，訊號轉換模組20電性耦接於光感測模組10。訊號轉換模組20可用以接收光感測模組10輸出的第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref。所述的訊號轉換模組20還轉換第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref的相對差值以輸出一個感測數值，換言之，訊號轉換模組20根據第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref的相對差值以輸出一個感測數值。更進一步說，訊號轉換模組20可包括有差動放大器21與類比至數位轉換器23。
差動放大器21具有第一輸入端(例如，負輸入端)、第二輸入端(例如，正輸入端)以及輸出端(圖中未標示)。差動放大器21的第一輸入端接收來自光感測模組10的第一感測訊號S_1，而第二輸入端接收來自光感測模組10的第二感測訊號Ref。所述的差動放大器21根據第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref的相對差值以輸出對應的差動訊號D1，D1例如為第二感測訊號Ref減去第一感測訊號S_1再乘上一倍率。
類比至數位轉換器23電性耦接於差動放大器的輸出端。類比至數位轉換器23用以接收差動訊號D1並轉換為感測數值。
比較模組30電性耦接於訊號轉換模組20。比較模組30可儲存有預設值。所述的預設值可由使用者透過人機介面(圖中未示)等資訊處理裝置輸入或更新。比較模組30可用以將預設值與來自訊號轉換模組20的感測數值作比較，以決定是否輸出比較結果。舉例來說，當感測數值大於預設值時，則輸出比較結果至調整模組40，以致能調整模組40，但不以此為限。
如上所述，例如以下實施方式，比較模組30還根據判斷條件決定是否輸出比較結果，其中所述的判斷條件為計數感測數值大於或等於預設值的累積次數值，並於所述的累積次數值大於或等於預設的門限值時，則比較模組30輸出比較結果至調整模組。因此，在本發明的另一個實施例中還透過計數器(圖中未示)計數感測數值大於或等於預設值的累積次數值。所述的計數器可設置於暫存器31中以取得所需的感測數值與預設值，但不以此為限。另外，所述的累積次數值的累積時間可為一個幀的時間，亦即光感測模組上所有光感測單元依序執行感測功能的時間，且於光感測模組10為被觸控(例如，被光筆照射)時，則歸零所述的累積次數值。
更進一步說，比較模組30包括有暫存器31與比較器33。暫存器31電性耦接於類比至數位轉換器23的輸出端。暫存器31可儲存有預設值並提供所述的預設值至比較器33。比較器33分別電性耦接於暫存器31的輸出端以及類比至數位轉換器23的輸出端。比較器33用以比較所述的預設值與感測數值，並輸出相應於比較結果的數值至數位至類比轉換器41。
調整模組40分別電性耦接於比較模組30與光感測模組10。調整模組40用以轉換來自比較模組30的比較結果以輸出調整電壓至光感測模組10，進而調整光感測模組10的光感測特性。
更進一步說，調整模組40可包括有數位至類比轉換器41，而數位至類比轉換器41電性耦接於比較器33的輸出端，光感測模組10電性耦接於數位至類比轉換器41的輸出端。藉此，數位至類比轉換器41輸出調整電壓至光感測模組10中的薄膜電晶體(例如，圖2中的第一光感測電晶體T1)的閘極端Vg(即第一光感測電晶體T1接收第二控制訊號Gn+1的端點)與/或源極端Vs(即第一光感測電晶體T1接收第三控制訊號Sn+1的端點)，藉以改變薄膜電晶體的閘源極電壓差，進而調整光感測模組10的光感測特性。
如圖2所示，圖2係為本發明實施例之光感測模組的電路示意圖，其中第一光感測單元11與第二光感測單元13係為光感測模組10所具有複數個光感測單元中的兩個。第一光感測單元11分別電性耦接於第一讀出線DL1以及調整模組40，而第一讀出線DL1可電性耦接至訊號轉換模組20。第一光感測單元11包括有第一光感測電晶體T1、第一電容器C1與第一電晶體SW1。第一電容器C1的第一端電性耦接於第一電晶體SW1的第一端(例如，源極端)，而第一電晶體SW1的第二端(例如，汲極端)電性耦接於第一讀出線DL1，第一電晶體SW1的閘極端接收第一控制訊號Gn。第一電容器C1的第二端接收共用電壓VC1。
第一光感測電晶體T1的第一端(例如，汲極端)電性耦接於第一電容器C1的第一端，且第一光感測電晶體T1的閘極端接收第二控制訊號Gn+1，第一光感測電晶體T1的第二端(例如，源汲端)接收第三控制訊號Sn+1。於第一電晶體SW1導通時，第一電晶體SW1的第二端輸出第一感測訊號S_1至第二讀出線DL2。值得一提的是，第一光感測電晶體T1的閘極端以及第二端(例如，源極端)的至少其中之一接收來自調整模組40的調整電壓，藉以調整第一光感測電晶體T1的光感測特性。舉例來說，第一光感測電晶體T1的閘極端以及源極端的至少其中之一根據所接收調整電壓降低第一光感測電晶體T1的閘源極電壓差，例如藉由調整第二控制訊號Gn+1及/或第三控制訊號Sn+1，造成第二控制訊號Gn+1及第三控制訊號Sn+1之間電壓差的變化。
第二光感測單元13電性耦接於第二讀出線DL2，而第二讀出線DL2可電性耦接至訊號轉換模組20。第二光感測單元13鄰近設置於第一光感測單元11旁，藉以接收與第一光感測單元11相似的照光值。第二光感測單元13包括第二光感測電晶體T2、第二電容器C2與第二電晶體SW2。第二電容器C2的第一端電性耦接於第二電晶體SW2的第一端(例如，源極端)，而第二電晶體SW2的第二端(例如，汲極端)電性耦接於第二讀出線DL2，第二電晶體SW2的閘極端接收第一控制訊號Gn。第二電容器C2的第二端接收共用電壓VC1。第二光感測電晶體T2的閘極端以及第二端(例如，源極端)的至少其中之一也可以接收來自調整模組40的調整電壓，藉以調整第二光感測電晶體T2的光感測特性。舉例來說，第二光感測電晶體T2的閘極端以及源極端的至少其中之一根據所接收調整電壓降低第二光感測電晶體T2的閘源極電壓差，例如藉由調整第二控制訊號Gn-1及/或第三控制訊號Sn-1，造成第四控制訊號Gn-1及第五控制訊號Sn-1之間電壓差的變化。
第二光感測電晶體T2的第一端(例如，汲極端)電性耦接於第二電容器C2的第一端，且第二光感測電晶體T2的閘極端接收第四控制訊號Gn-1，第二光感測電晶體T2的第二端(例如，源極端)接收第五控制訊號Sn-1。於第二電晶體SW2導通時，第二電晶體SW2的第二端輸出第二感測訊號Ref至第二讀出線DL2。此外，第二光感測電晶體T2的閘極端以及第二端(例如，源極端)的至少其中之一亦可接收來自調整模組40的調整電壓，藉以調整第二光感測電晶體T2的光感測特性。舉例來說，第二光感測電晶體T2的閘極端以及源極端的至少其中之一根據所接收調整電壓降低第二光感測電晶體T2的閘源極電壓差。另外，本發明實施例中的光感測模組10所列出的各構件的電路架構、數量僅是舉例說明，並不以此為限。
請一併參照圖2、圖3A與圖3B，而圖3A與圖3B分別為本發明實施例的第二光感測單元13與第一光感測單元11的訊號時序示意圖。其中圖3A對應第二光感測單元13，圖3B對應第一光感測單元11。如圖2所示，第一電晶體SW1與第二電晶體SW2的閘極端接收第一控制訊號Gn，第一光感測電晶體T1的閘極端接收第二控制訊號Gn+1，且第一光感測電晶體T1的第二端(例如，源極端)接收第三控制訊號Sn+1。第二光感測電晶體T2的閘極端接收第四控制訊號Gn-1，而第二光感測電晶體T2的第二端(例如，源極端)接收第五控制訊號Sn-1。
如圖3A與圖3B所示，圖3A與圖3B的第一控制訊號Gn係為相同時序的訊號，其中第一控制訊號Gn的上升緣領先第二控制訊號Gn+1與第三控制訊號Sn+1的上升緣，且第二控制訊號Gn+1與第三控制訊號Sn+1具有相同時序，第一控制訊號Gn+1的上升緣落後第四控制訊號Gn-1與第五控制訊號Sn-1的上升緣，且第四控制訊號Gn-1與第五控制訊號Sn-1具有相同時序。此外，第二控制訊號Gn+1的上升緣也落後第一控制訊號Gn的上升緣。
除此之外，第一電晶體SW1透過第三控制訊號Sn+1重置第一電容器C1的電壓(例如，端電壓VA1)後，到下一次導通第一電晶體SW1以輸出第一感測訊號S_1的時間長度，長於第二電晶體SW2透過第五控制訊號Sn-1重置第二電容器C2的電壓(例如，端電壓VA2)後，到下一次導通第二電晶體SW2以輸出第二感測訊號Ref的時間長度。換句話說，在本實施例中，第一光感測單元11是先進行訊號重置的動作，並經過一個幀的時間，在這一個幀的時間內，第一電容器C1的電壓透過第一光感測電晶體T1(因為光照強度不同而使第一光感測電晶體T1有不同的導通程度)放電，然後再進行訊號讀取的動作，而第二光感測單元13是先進行訊號重置的動作，然後再接續進行訊號讀取的動作，因此第二光感測單元13透過第二光感測電晶體T2放電的時間小於目前第一光感測單元11所設定的一個幀的時間，但不以此為限。另外，第一感測訊號S_1來自於第一電容器C1的端電壓VA1，而第二感測訊號Ref來自於第二電容器C2的端電壓VA2。
換言之，在一次的感測動作中第一光感測單元11是先進行訊號重置的動作，並經過一個幀的時間，在這一個幀的時間內，第一電容器C1的電壓透過第一光感測電晶體T1因為光照強度不同而有不同的導通程度而放電，然後第二光感測單元13進行訊號重置的動作(透過第四控制訊號Gn-1與第五控制訊號Sn-1)，最後第一光感測單元11與第二光感測單元13同時透過第一控制訊號Gn分別導通第二電晶體SW2與第一電晶體SW1，以讀出第一電容器C1的端電壓VA1與第二電容器C2的端電壓VA2。
舉例而言，若光感測模組10係與一顯示面板(例如液晶顯示面板，圖未示)整合製造，第四控制訊號Gn-1、第一控制訊號Gn及第二控制訊號Gn+1可以同時係為顯示面板畫素的掃描訊號，其中第四控制訊號Gn-1係用以控制顯示面板第n-1列畫素的掃描，第一控制訊號Gn係用以控制顯示面板第n列畫素的掃描，第二控制訊號Gn+1係用以控制顯示面板第n+1列畫素的掃描，以此類推。當然顯示面板可包含了複數列的畫素，因此可以包含N條的控制訊號個別控制複數列的畫素的更新，其中N為大於零的自然數，而這N條的控制訊號則依序致能以控制複數列的畫素個別的更新。而這N條的控制訊號則分別耦接到光感測模組10對應的光感測單元。以第二光感測單元13與第一光感測單元11為例，其分別耦接第四控制訊號Gn-1、第一控制訊號Gn、第二控制訊號Gn+1。若光感測模組10並非與顯示面板整合設置，第四控制訊號Gn-1、第一控制訊號Gn及第二控制訊號Gn+1也可以是循序致能的控制訊號，用以控制光感測模組10，其中在每一控制週期中第四控制訊號Gn-1領先第一控制訊號Gn致能，第一控制訊號Gn領先第二控制訊號Gn+1。
因此舉例而言，在第M幀中，第一光感測單元11因為致能的第一控制訊號Gn，而輸出第一電容器C1的端電壓VA1，此外，在此之前在第M-1幀中第一電容器C1的端電壓VA1重置並且透過第一光感測電晶體T1(因為光照強度不同而使第一光感測電晶體T1有不同的導通程度)放電。之後在第M幀中，因為致能的第二控制訊號Gn+1與第三控制訊號Sn+1而重置了第一電容器C1的端電壓VA1，在接下來一個幀的時間內，透過第一光感測電晶體T1(因為光照強度不同而使第一光感測電晶體T1有不同的導通程度)放電，直到第M+1幀中，第一光感測單元11又透過致能的第一控制訊號Gn，而輸出第一電容器C1的端電壓VA1。
同樣在第M幀中，第二光感測單元13則透過第四控制訊號Gn-1與第五控制訊號Sn-1致能而重置第二電容器C2的端電壓VA2，然後在同一幀，也就是第M幀中，透過第一控制訊號Gn致能而讀出第二電容器C2的端電壓VA2。因此，在第M幀中，雖然第一光感測單元11與第二光感測單元13同時透過第一控制訊號Gn致能而分別讀出第一電容器C1的端電壓VA1與第二電容器C2的端電壓VA2，但第二電容器C2的端電壓VA2並沒有經過一個幀的放電時間，而第一電容器C1的端電壓VA1則透過第M-1幀的電壓重置到第M幀的讀取而經過一個幀的放電時間。
接下來，請一併參照圖1與圖4，而圖4分別為本發明實施例的調整方法步驟流程圖。
首先，在步驟S401中，儲存預設值於比較模組30的暫存器31中。所述的預設值可由使用者透過人機介面(圖中未示)等資訊處理裝置輸入或更新。接著，在步驟S403中，光感測模組10根據受光強度輸出第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref至控制模組50的訊號轉換模組20。
在步驟S405中，根據第二感測訊號Ref與第一感測訊號S_1產生第二感測訊號Ref與第一感測訊號S_1的差值。
接下來，在步驟S407中，可透過第一感測訊號S_1與第二感測訊號Ref判斷光感測模組10是否為被觸碰。舉例來說，當光感測模組10受光筆(圖中未示)照射時，則輸出第二感測訊號Ref與第一感測訊號S_1的差值較大，並於第二感測訊號Ref與第一感測訊號S_1的差值大於或等於第二預設值時，則對應為被觸碰的狀態。當光感測模組10未受光筆(圖中未示)照射時，則輸出的第二感測訊號Ref與第一感測訊號S_1的差值較小，並於小於所述的第二預設值時，則對應為未被觸碰的狀態。當確認為未被觸碰狀態時，則執行步驟S409；當確認為被觸碰狀態時，則執行步驟S413。
在步驟S409中，透過比較模組30比較預設值與感測數值的關係是否滿足判斷條件，以決定是否輸出提供調整光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓。舉例來說，所述的判斷條件可例如是計數感測數值大於或等於預設值(通常小於第二預設值)的累積次數值，並於所述的累積次數值大於或等於門限值(例如，10次)時，由調整模組40輸出所述的調整電壓。若所述的累積次數值小於門限值時，則回到步驟S403，以繼續進行相關的光感測程序。其中統計所述的累積次數值的時間為一個幀的時間，亦即一個幀的時間結束後歸零所述的累積次數值，再由零開始累積所述的累積次數值。另外，藉由改變門限值的大小可調整提供調整光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓的時間。
此外，在步驟S409中，包括步驟S409_1與步驟S409_2，步驟S409_1中若該感測數值大於或等於該預設值時，將計數感測數值大於或等於預設值的累積次數值加1，並且在將所述的累積次數值加1之後比較所述的累積次數值與門限值。若所述的累積次數值大於或等於門限值時，則將累積次數值歸零，並進入步驟S411以提供調整光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓，接著回到步驟S403，以繼續進行相關的光感測程序。在步驟S409_2中若該感測數值小於預設值時，定義第二光感測單元13與第一光感測單元11尚不需調整，回到步驟S403，根據受光強度輸出第一感測訊號與第二感測訊號的步驟。其中，步驟S409_1與步驟S409_2係根據感測數值與預設值的大小關係選擇性執行兩者其中之一。
另外，在步驟S413中，當確認為被觸碰狀態時，則歸零計數的累積次數值，並回到步驟S403，以繼續進行相關的光感測程序。
接下來，在步驟S411中，於預設值與感測數值的關係滿足判斷條件時，則由調整模組40提供調整光感測裝置100的光感測模組10的光感測特性所需的調整電壓。換句話說，本發明的實施例藉由改變(例如，縮小)第一光感測電晶體T1與/或第二光感測電晶體T2的閘源極電壓差，進而調整光感測模組10的光感測特性。
綜上所述，本發明的光感測裝置及其調整方法，透過控制模組根據來自光感測模組的第一感測訊號與第二感測訊號，以判斷光感測模組的光感測特性是否產生變化，並於確認光感測模組的光感測特性產生變化時，輸出調整電壓至光感測模組，以對應調整光感測模組的光感測特性。藉此，以降低或解決光感測模組的感測結果發生錯誤的問題。此外，由於第二光感測單元13所受到的光照與第一光感測單元11接近，因此具有相近的環境老化程度，因此將此兩感測器作為對照，並且進行光感測電晶體閘源極電壓的調整，能夠消除當光感測元件在長時間使用下，因光感測元件老化造成的感測錯誤。此外，若光感測模組10據有兩個以上的光感測單元，則可依照上述實施例的方法與裝置，依序調整每一光感測單元的光感測特性。
雖然本發明已以較佳實施例揭露如上，然其並非用以限定本發明，任何熟習此技藝者，在不脫離本發明之精神和範圍內，當可作些許之更動與潤飾，因此本發明之保護範圍當視後附之申請專利範圍所界定者為準。
10．．．光感測模組
11．．．第一感測單元
13．．．第二感測單元
20．．．訊號轉換模組
21．．．差動放大器
23．．．類比至數位轉換器
30．．．比較模組
31．．．暫存器
33．．．比較器
40．．．調整模組
41．．．數位至類比轉換器
50．．．控制模組
100．．．光感測裝置
D1．．．差動訊號
DL1．．．第一讀出線
DL2．．．第二讀出線
Gn．．．第一控制訊號
Gn+1．．．第二控制訊號
Sn+1．．．第三控制訊號
Gn-1．．．第四控制訊號
Sn-1．．．第五控制訊號
Ref．．．第一感測訊號
S_1．．．第二感測訊號
SW1．．．第一電晶體
SW2．．．第二電晶體
VA1．．．端電壓
VA2．．．端電壓
VC1．．．共用電壓
Vclk1．．．第一時脈訊號
Vclk2．．．第二時脈訊號
Vg．．．閘極端
Vs．．．源極端
S401~S413、S409_1、S409_2．．．方法步驟說明
圖1繪示為為本發明實施例之電路方塊圖。
圖2繪示為本發明實施例之光感測模組的電路示意圖。
圖3A與圖3B分別繪示為本發明實施例的第一光感測單元與第二光感測單元的訊號時序示意圖。
圖4繪示為本發明實施例的光感測裝置的調整方法步驟流程圖。
10．．．光感測模組
20．．．訊號轉換模組
21．．．差動放大器
23．．．類比至數位轉換器
30．．．比較模組
31．．．暫存器
33．．．比較器
40．．．調整模組
41．．．數位至類比轉換器
50．．．控制模組
100．．．光感測裝置
D1．．．差動訊號
Ref．．．第一感測訊號
S_1．．．第二感測訊號
Vg．．．閘極端
Vs．．．源極端
DL1．．．第一讀出線
DL2．．．第二讀出線

Claims (10)

  1. 一種光感測裝置，包括：一光感測模組，用以根據一受光強度輸出一第一感測訊號與一第二感測訊號；一訊號轉換模組，電性耦接於該光感測模組，該訊號轉換模組用以接收該光感測模組輸出的該第一感測訊號及該第二感測訊號，並根據該第二感測訊號與該第一感測訊號的相對差值輸出一感測數值；一比較模組，電性耦接於該訊號轉換模組，該比較模組儲存有一預設值用以與該感測數值作比較，並根據一判斷條件決定是否輸出一比較結果；及一調整模組，分別電性耦接於該比較模組與該光感測模組，該調整模組用以根據該比較結果以輸出一調整電壓至該光感測模組，進而調整該光感測模組的光感測特性。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之光感測裝置，其中該光感測模組包括有：一第一光感測單元，包括一第一光感測電晶體、一第一電容器與一第一電晶體，該第一電容器的第一端電性耦接於該第一電晶體的第一端，該第一電容器的第二端接收一共用電壓，該第一光感測電晶體的第一端電性耦接於該第一電容器的第一端，且該第一光感測電晶體的閘極端以及第二端的至少其中之一接收該調整電壓，其中於該第一電晶體導通時，該第一電晶體的第二端輸出該第一感測訊號；及一第二光感測單元，設置於該第一光感測單元旁，該第二光感測單元包括一第二光感測電晶體、一第二電容器與一第二電晶體，該第二電容器的第一端電性耦接於該第二電晶體的第一端，該第二電容器的第二端接收該共用電壓，該第二光感測電晶體的第一端電性耦接於該第二電容器的第一端，其中於該第二電晶體導通時，該第二電晶體的第二端輸出該第二感測訊號。
  3. 如申請專利範圍第2項所述之光感測裝置，其中該第一電晶體與該第二電晶體的閘極端接收一第一控制訊號，該第一光感測電晶體的閘極端接收一第二控制訊號，且該第一光感測電晶體的第二端接收一第三控制訊號，該第二光感測電晶體的閘極端接收一第四控制訊號，該第二光感測電晶體的第二端接收一第五控制訊號，其中該第一控制訊號的上升緣領先該第二控制訊號與該第三控制訊號的上升緣，且該第二控制訊號與該第三控制訊號具有相同時序，該第一控制訊號的上升緣落後該第四控制訊號與該第五控制訊號的上升緣，且該第四控制訊號與該第五控制訊號具有相同時序。
  4. 如申請專利範圍第2項所述之光感測裝置，其中該第一光感測電晶體的閘極端以及源極端的至少其中之一根據所接收該調整電壓調整該第一光感測電晶體的閘源極電壓差。
  5. 如申請專利範圍第2項所述之光感測裝置，其中該訊號轉換模組包括有：一差動放大器，分別接收該第一感測訊號與該第二感測訊號，並根據該第一感測訊號與該第二感測訊號的相對差值以輸出一差動訊號；以及一類比至數位轉換器，電性耦接於該差動放大器，以接收該差動訊號並轉換為該感測數值；該比較模組包括有：一暫存器，用以儲存並輸出該預設值；以及一比較器，電性耦接於該暫存器，該比較器用以分別接收該預設值與該類比至數位轉換器輸出的該感測數值，並比較該預設值與該感測數值，並輸出該比較結果；該調整模組包括有一數位至類比轉換器，用以接收並轉換該比較結果為該調整電壓，以輸出該調整電壓至該第一光感測電晶體的閘極端以及源極端的至少其中之一。
  6. 一種光感測裝置，包括：一光感測模組，用以根據一受光強度輸出一第一感測訊號與一第二感測訊號，該光感測模組包括：一第一光感測單元，包括：一第一電晶體具有一接收一第一控制訊號的閘極端，一第一端與一電性耦接於一第一讀出線的第二端，該第一電晶體的第二端並用以在該第一電晶體導通時輸出一第一感測訊號於該第一讀出線；一第一電容器，具有一第一端與一第二端，該第一電容器的第一端電性耦接於該第一電晶體的第一端，該第一電容器的第二端接收一共用電壓；以及一第一光感測電晶體具有一第一端、一閘極端與一第二端，該第一光感測電晶體的第一端電性耦接於該第一電容器的第一端，該第一光感測電晶體的閘極端接收一第二控制訊號， 該第一光感測電晶體的第二端接收一第三控制訊號；一第二光感測單元設置於該第一光感測單元旁，包括：一第二電晶體具有一接收該第一控制訊號的閘極端，一第一端與一電性耦接於一第二讀出線的第二端，該第二電晶體的第二端並用以在該第二電晶體導通時輸出一第二感測訊號於該第二讀出線；一第二電容器，具有一第一端與一第二端，該第二電容器的第一端電性耦接於該第二電晶體的第一端，該第二電容器的第二端接收該共用電壓；以及一第二光感測電晶體具有一第一端、一閘極端與一第二端，該第二光感測電晶體的第一端電性耦接於該第二電容器的第一端，該第二光感測電晶體的閘極端接收一第四控制訊號，該第二光感測電晶體的第二端接收一第五控制訊號；以及一控制模組，電性耦接於該第一讀出線與該第二讀出線，以接收該第一感測訊號與該第二感測訊號，並根據該第一感測訊號與該第二感測訊號調整該第二控制訊號、該第三控制訊號、該第四控制訊號或該第五控制訊號至少其中之一；其中該第一電晶體透過該第三控制訊號重置該第一電容器的電壓後，到下一次導通第一電晶體以輸出第一感測訊號的時間長度，長於該第二電晶體透過該第五控制訊號重置該第二電容器的電壓後，到下一次導通第二電晶體以輸出第二感測訊號的時間。
  7. 一種光感測裝置的調整方法，包括有下列步驟：儲存一預設值；根據一受光強度輸出一第一感測訊號與一第二感測訊號；根據該第一感測訊號與該第二感測訊號的相對差值，以輸出一感測數值；及比較該預設值與該感測數值的關係是否滿足一判斷條件，以決定是否提供調整該光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓。
  8. 如申請專利範圍第7項所述之光感測裝置的調整方法，其中該判斷條件為計數該感測數值大於或等於該預設值的累積次數值，並於該累積次數值大於或等於一門限值時，提供調整該光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓。
  9. 如申請專利範圍第7項所述之光感測裝置的調整方法，其中於比較該預設值與該感測數值的關係是否滿足一判斷條件，以決定是否提供調整該光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓的步驟中包括：若該感測數值大於或等於該預設值時，則將計數該感測數值大於或等於該預設值的該累積次數值加一，在將該次數值加一後比較該累積次數值與一門限值，若該累積次數值大於或等於該門限值時，提供調整該光感測裝置的光感測特性所需的調整電壓，將累積次數值歸零，並回到根據該受光強度輸出該第一感測訊號與該第二感測訊號的步驟；以及若該感測數值時小於該預設值，回到根據該受光強度輸出該第一感測訊號與該第二感測訊號的步驟。
  10. 如申請專利範圍第8項所述之光感測裝置的調整方法，其中在根據該受光強度輸出該第一感測訊號與該第二感測訊號的步驟之後，還包括根據該第一感測訊號與該第二感測訊號的差值判斷該光感測裝置是否被觸碰的步驟，並於該光感測裝置為被觸碰時，則歸零該累積次數值，其中累積該累積次數值的累積時間為一幀的時間，並於該幀時間結束後歸零該累積次數值。
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