TWI445985B - 具有接收器測試功能的晶片及電路板 - Google Patents

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Description

具有接收器測試功能的晶片及電路板
本發明涉及一種晶片，尤其涉及一種具有接收器測試功能的晶片及電路板。
隨著電腦主板的晶片運行速度越來越快，對晶片接收器接收能力的測試也顯得越來越重要。在對晶片的接收器的接收能力進行測試時，一般是由一晶片測試機給晶片的訊號接收端輸入一個與晶片自身訊號傳輸速率相等的，但幅度及抖動量可調的參考測試訊號，晶片的發送端再輸出該測試訊號至晶片測試機的誤碼偵測儀，由誤碼偵測儀將晶片輸出的訊號與該參考測試訊號進行比較，從而判斷晶片的接收器對訊號的接收能力。
然，上述晶片測試機的價格一般較昂貴，容易造成測試成本的增加。
有鑒於此，有必要提供一種可降低測試成本的具有接收器測試功能的晶片。
另，還有必要提供一種具有接收器測試功能的電路板。
一種具有接收器測試功能的晶片，所述具有接收器測試功能的晶 片包括：訊號產生電路，用於產生並輸出一參考訊號；抖動注入電路，用於產生並輸出一干擾訊號，所述干擾訊號用於改變所述參考訊號的幅度以及使所述參考訊號具有一定的抖動量；訊號混合電路，電性連接至所述訊號產生電路及抖動注入電路，所述訊號混合電路用於混合所述參考訊號以及所述干擾訊號，並輸出一測試訊號，所述測試訊號相對於所述干擾訊號具有相同的傳輸速率及碼元資訊，但具有不同的幅度，並且所述測試訊號相對於所述參考訊號具有一定的抖動量；接收器，用於接收所述測試訊號，並輸出接收到的所述測試訊號；誤碼檢測電路，電性連接至所述接收器以及所述訊號產生電路，所述誤碼檢測電路用於從訊號產生電路接收所述參考訊號以及從所述接收器接收所述測試訊號，並比較所述測試訊號是否包括與所述參考訊號相同的碼元資訊，以判斷所述接收器的接收能力是否符合要求。
一種具有接收器測試功能的電路板，包括：具有接收器測試功能的晶片，包括：訊號產生電路，用於產生並輸出一參考訊號；抖動注入電路，用於產生並輸出一干擾訊號，所述干擾訊號用於改變所述參考訊號的幅度以及使所述參考訊號具有一定的抖動量 ；訊號混合電路，電性連接至所述訊號產生電路及抖動注入電路，所述訊號混合電路用於混合所述參考訊號以及所述干擾訊號，並輸出一測試訊號，所述測試訊號相對於所述干擾訊號具有相同的傳輸速率及碼元資訊，但具有不同的幅度，並且所述測試訊號相對於所述參考訊號具有一定的抖動量；接收器，用於接收所述測試訊號，並輸出接收到的所述測試訊號；誤碼檢測電路，電性連接至所述接收器以及所述訊號產生電路，所述誤碼檢測電路用於從訊號產生電路接收所述參考訊號以及從所述接收器接收所述測試訊號，並比較所述測試訊號是否包括與所述參考訊號相同的碼元資訊，以判斷所述接收器的接收能力是否符合要求；以及顯示器，電性連接至所述誤碼檢測電路，所述顯示器用於顯示所述誤碼檢測電路對所述接收器接收能力的判斷結果。
所述的具有接收器測試功能的晶片及具有接收器測試功能的電路板藉由在其內部集成所述訊號產生電路、抖動注入電路、訊號混合電路以及誤碼檢測電路，使得具有接收器測試功能的晶片可自行發送測試訊號以對其接收器進行功能測試，省去了專用的接收器測試設備，節約了測試成本。
100‧‧‧具有接收器測試功能的電路板
10‧‧‧具有接收器測試功能的晶片
20‧‧‧顯示器
30‧‧‧連接器
40‧‧‧傳輸線
11‧‧‧訊號產生電路
13‧‧‧抖動注入電路
15‧‧‧訊號混合電路
17‧‧‧接收器
19‧‧‧誤碼檢測電路
P1‧‧‧輸入引腳
P2‧‧‧輸出引腳
圖1為本發明較佳實施方式的具有接收器測試功能的電路板的功能模組圖。
請參閱圖1，本發明較佳實施方式的具有接收器測試功能的電路板100包括具有接收器測試功能的晶片10、顯示器20、連接器30以及傳輸線40。具有接收器測試功能的晶片10包括至少一個輸入引腳P1及與所述輸入引腳數量相同的至少一個輸出引腳P2。連接器30的數量為兩個，其中一個連接器30藉由具有接收器測試功能的電路板100上的走線(圖未示)電性連接至輸入引腳P1；另一個連接器30藉由具有接收器測試功能的電路板100上的走線(圖未示)電性連接至輸出引腳P2。所述傳輸線40電性連接至兩個連接器30之間。
所述具有接收器測試功能的晶片10包括訊號產生電路11、電性連接至訊號產生電路11的抖動注入電路13、電性連接至訊號產生電路11以及抖動注入電路13的訊號混合電路15、電性連接至輸入引腳P1的接收器17以及電性連接至接收器17以及訊號產生電路11的誤碼檢測電路19。訊號混合電路15藉由輸出引腳P2以及具有接收器測試功能的電路板100上的走線電性連接至其中一個連接器30；接收器17藉由輸入引腳P1以及具有接收器測試功能的電路板100上的走線電性倆接至另一個連接器30。
訊號產生電路11用於產生並輸出一個參考訊號至訊號混合電路15以及誤碼檢測電路19。根據具有接收器測試功能的晶片10的不同類型，所述參考訊號可以為串列高級技術附件(Serial Advanced Technology Attachment,SATA)訊號、高速外部元件互聯標準(Peripheral Component Interconnect-Express，PCIE)訊號、串列連接SCSI(Serial Attached SCSI，SAS)訊 號以及直接媒體介面(Direct Media Interface,DMI)訊號等不同類型的訊號。
抖動注入電路13用於產生並輸出一個干擾訊號至訊號混合電路15。所述干擾訊號用於改變所述參考訊號的幅度以及使所述參考訊號具有一定的抖動量。其中，抖動是指數字訊號的各個有效暫態對其當時的理想位置的短期性偏離。
訊號混合電路15用於混合所述參考訊號以及所述干擾訊號，並輸出一個測試訊號至與其相電性連接的連接器30。所述測試訊號相對於所述干擾訊號具有相同的資料格式、傳輸速率及碼元資訊，但具有不同的幅度，並且所述測試訊號相對於所述參考訊號具有一定的抖動量。也就是說，所述測試訊號相對於所述參考訊號具有較差的訊號品質。
所述接收器17經由與其相電性連接的連接器30以及傳輸線40接收所述測試訊號，並將接收到的所述測試訊號輸出至誤碼檢測電路19。
誤碼檢測電路19用於將接收器17輸出的測試訊號與所述參考訊號進行比較，以判斷所述測試訊號的碼元資訊是否與所述參考訊號的碼元資訊相同或者在規定的誤差範圍內，並將相應的判斷結果輸出至顯示器20進行顯示。當誤碼檢測電路19接收到的測試訊號與所述參考訊號的碼元資訊相同時或在規定的誤差範圍內時，則判斷出所述接收器17的訊號接收能力符合要求；反之，則判斷出所述接收器17的訊號接收能力不符合要求。
可以理解，根據所述具有接收器測試功能的晶片10接收及發送訊 號的不同，連接器30及對應的傳輸線40的類型也不同。例如，當具有接收器測試功能的晶片10傳輸SATA訊號時，連接器30及傳輸線40相應地為的SATA連接器以及SATA線纜；而當具有接收器測試功能的晶片10傳輸PCIE訊號時，連接器30及傳輸線40相應地為的PCIE連接器以及PCIE線纜。並且，當具有接收器測試功能的晶片10接收機發送的訊號為SATA訊號或者PCIE訊號時，由於SATA訊號及PCIE訊號為差分訊號，輸入引腳P1及輸出引腳P2的數量均為兩個。
可以理解，所述輸入引腳P1及輸出引腳P2可以直接藉由所述傳輸線40進行連接。
所述的具有接收器測試功能的晶片10藉由在其內部集成所述訊號產生電路11、抖動注入電路13、訊號混合電路15以及誤碼檢測電路19，使得具有接收器測試功能的晶片10可自行發送測試訊號以對其接收器17進行功能測試，省去了專用的接收器測試設備，節約了測試成本。
綜上所述，本發明符合發明專利要件，爰依法提出專利申請。惟，以上所述者僅為本發明之實施方式，本發明之範圍並不以上述實施方式為限，舉凡熟悉本案技藝之人士，於援依本案發明精神所作之等效修飾或變化，皆應包含於以下之申請專利範圍內。
100‧‧‧具有接收器測試功能的電路板
10‧‧‧具有接收器測試功能的晶片
20‧‧‧顯示器
30‧‧‧連接器
40‧‧‧傳輸線
11‧‧‧訊號產生電路
13‧‧‧抖動注入電路
15‧‧‧訊號混合電路
17‧‧‧接收器
19‧‧‧誤碼檢測電路
P1‧‧‧輸入引腳
P2‧‧‧輸出引腳

Claims (6)

  1. 一種具有接收器測試功能的晶片，包括：訊號產生電路，用於產生並輸出一參考訊號；抖動注入電路，用於產生並輸出一干擾訊號，所述干擾訊號用於改變所述參考訊號的幅度以及使所述參考訊號具有一定的抖動量；訊號混合電路，電性連接至所述訊號產生電路及抖動注入電路，所述訊號混合電路用於混合所述參考訊號以及所述干擾訊號，並輸出一測試訊號至所述具有接收器測試功能的晶片外部，所述測試訊號相對於所述干擾訊號具有相同的傳輸速率及碼元資訊，但具有不同的幅度，並且所述測試訊號相對於所述參考訊號具有一定的抖動量；接收器，用於從所述具有接收器測試功能的晶片外部接收所述測試訊號，並輸出接收到的所述測試訊號；誤碼檢測電路，電性連接至所述接收器以及所述訊號產生電路，所述誤碼檢測電路用於從訊號產生電路接收所述參考訊號以及從所述接收器接收所述測試訊號，並比較所述測試訊號是否包括與所述參考訊號相同的碼元資訊，以判斷所述接收器的接收能力是否符合要求。
  2. 如申請專利範圍第1項所述之具有接收器測試功能的晶片，其中所述參考訊號及測試訊號為串列高級技術附件訊號、高速外部元件互聯標準訊號、串列連接SCSI訊號或者直接媒體介面訊號中的其中一種。
  3. 一種具有接收器測試功能的電路板，包括：具有接收器測試功能的晶片，包括：訊號產生電路，用於產生並輸出一參考訊號；抖動注入電路，用於產生並輸出一干擾訊號，所述干擾訊號用於改變所 述參考訊號的幅度以及使所述參考訊號具有一定的抖動量；訊號混合電路，電性連接至所述訊號產生電路及抖動注入電路，所述訊號混合電路用於混合所述參考訊號以及所述干擾訊號，並輸出一測試訊號至所述具有接收器測試功能的晶片外部，所述測試訊號相對於所述干擾訊號具有相同的傳輸速率及碼元資訊，但具有不同的幅度，並且所述測試訊號相對於所述參考訊號具有一定的抖動量；接收器，用於從所述具有接收器測試功能的晶片外部接收所述測試訊號，並輸出接收到的所述測試訊號；誤碼檢測電路，電性連接至所述接收器以及所述訊號產生電路，所述誤碼檢測電路用於從訊號產生電路接收所述參考訊號以及從所述接收器接收所述測試訊號，並比較所述測試訊號是否包括與所述參考訊號相同的碼元資訊，以判斷所述接收器的接收能力是否符合要求；以及顯示器，電性連接至所述誤碼檢測電路，所述顯示器用於顯示所述誤碼檢測電路對所述接收器接收能力的判斷結果。
  4. 如申請專利範圍第3項所述之具有接收器測試功能的電路板，其中所述電路板還包括傳輸線，所述具有接收器接收功能的晶片還包括電性連接至所述接收器的至少一個輸入引腳及與所述輸入引腳數量相同的輸出引腳，所述至少一個輸出引腳電性連接至所述訊號混合電路，所述傳輸線連接至所述至少一個輸入引腳與輸出引腳之間，所述測試訊號經由所述至少一個輸出引腳、傳輸線以及至少一個輸入引腳傳送至所述接收器。
  5. 如申請專利範圍第3項所述之具有接收器測試功能的電路板，其中所述電路板還包括傳輸線及兩個連接器，所述具有接收器接收功能的晶片還包括電性連接至所述接收器的至少一個輸入引腳及與所述輸入引腳數量相同的輸出引腳，所述至少一個輸出引腳電性連接至所述訊號混合電路，所述傳輸線連接至所述兩個連接器之間，所述兩個連接器分別電性連接 至所述輸入引腳及輸出引腳，所述測試訊號經由所述輸出引腳、與所述輸入引腳相連的所述連接器、傳輸線、與輸入引腳相連的所述連接器、以及輸入引腳傳送至所述接收器。
  6. 如申請專利範圍第3項所述之具有接收器測試功能的電路板，其中所述參考訊號及測試訊號為串列高級技術附件訊號、高速外部元件互聯標準訊號、串列連接SCSI訊號或者直接媒體介面訊號中的其中一種。
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