TW201710919A - 指示定向的連接器 - Google Patents

指示定向的連接器 Download PDF

Info

Publication number
TW201710919A
TW201710919A TW105116485A TW105116485A TW201710919A TW 201710919 A TW201710919 A TW 201710919A TW 105116485 A TW105116485 A TW 105116485A TW 105116485 A TW105116485 A TW 105116485A TW 201710919 A TW201710919 A TW 201710919A
Authority
TW
Taiwan
Prior art keywords
signal
configuration pin
configuration
pin
debug
Prior art date
Application number
TW105116485A
Other languages
English (en)
Other versions
TWI713528B (zh
Inventor
拉夫 貴尼斯
羅伯特Ａ 丹斯坦
Original Assignee
英特爾公司
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 英特爾公司 filed Critical 英特爾公司
Publication of TW201710919A publication Critical patent/TW201710919A/zh
Application granted granted Critical
Publication of TWI713528B publication Critical patent/TWI713528B/zh

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40—Bus structure
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F13/00—Interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F13/38—Information transfer, e.g. on bus
    • G06F13/40—Bus structure
    • G06F13/4063—Device-to-bus coupling
    • G06F13/4068—Electrical coupling
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50—Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66—Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68—Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F9/00—Arrangements for program control, e.g. control units
    • G06F9/06—Arrangements for program control, e.g. control units using stored programs, i.e. using an internal store of processing equipment to receive or retain programs
    • G06F9/44—Arrangements for executing specific programs
    • G06F9/4401—Bootstrapping
    • G06F9/4411—Configuring for operating with peripheral devices; Loading of device drivers

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Software Systems (AREA)
  • Computer Security & Cryptography (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

此處所說明之技術包含一種用於檢測一定向配置之方法、系統、及裝置。例如，一裝置具有一多用途埠可包含一第一配置接腳及一第二配置接腳。該裝置亦可包含邏輯配置成依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之一第二信號之一呈現以進入一輔助模式。該邏輯可進一步配置成藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。

Description

指示定向的連接器 技術領域
本揭示內容一般係有關於用以指示一計算裝置處之一連接器之一定向。特定地，本揭示內容係有關於具有一多用途連接器之一計算裝置之定向。
背景技藝
計算系統可包含積體電路、系統單晶片(SOC)、以及其他配置成整合多數微控制器之電路組件。計算系統之組件可能遭遇誤差。例如，一既定計算系統內之每一微控制器可具有其自身之韌體組件以及其自身之作業系統驅動程式組件。許多此類微控制器韌體及驅動程式組件可能遭遇誤差而該等誤差可能需要進行除錯。
依據本發明之一實施例，係特地提出一種裝置具有一多用途埠，該多用途埠，包含：一第一配置接腳；一第二配置接腳；邏輯，其配置成：依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
100‧‧‧計算系統
102‧‧‧被測裝置(DUT)
104‧‧‧多用途埠
106‧‧‧接腳
108‧‧‧除錯測試系統(DTS)
110‧‧‧JTAG測試存取埠(TAP)
112‧‧‧UART測試存取埠(TAP)
114‧‧‧走線源
116‧‧‧被測裝置邏輯(DUTL)
118‧‧‧USB C型連接器
120‧‧‧資料線(D+及D-)
122‧‧‧電源/接地對(GND)
124‧‧‧電源/接地對(GND)
126‧‧‧TX1+/TX1-/RX1+/RX1-
128‧‧‧TX2+/TX2-/RX2+/RX2-
130‧‧‧邊帶使用接腳(SBU1)
132‧‧‧邊帶使用接腳(SBU2)
134‧‧‧第一配置(CC1)接腳
136‧‧‧第二配置(CC2)接腳
138‧‧‧電源介面接腳(VBUS)
140‧‧‧電源介面接腳(VBUS)
142‧‧‧除錯測試系統邏輯(DTSL)
144‧‧‧多工器(MUX)
202-214‧‧‧方塊
216-228‧‧‧方塊
300‧‧‧方法
302-304‧‧‧方塊
400‧‧‧電腦可讀媒介
402‧‧‧處理器/CPU
404‧‧‧互連件
406‧‧‧除錯輔助模式(DAM)進入器
408‧‧‧定向提供器
410‧‧‧MUX配置產生器
500‧‧‧計算系統
502‧‧‧CPU
504‧‧‧記憶體裝置
506‧‧‧匯流排
508‧‧‧GPU
510‧‧‧顯示介面
512‧‧‧顯示裝置
514‧‧‧I/O裝置介面
516‧‧‧I/O裝置
518‧‧‧儲存裝置
520‧‧‧定向指示器
522‧‧‧網路介面控制器(NIC)
524‧‧‧網路
圖1係揭示一被測裝置具有通訊式耦接至一除錯系統之一多用途埠；圖2A係一序列圖揭示以輔助模式檢測定向之一程序；圖2B係一序列圖揭示當一被測裝置為一面朝下埠時以輔助模式檢測定向之一程序；圖3係一流程圖揭示以輔助模式檢測定向之該程序；圖4係一有形、非暫時性、電腦可讀媒介以提供一連接器之一定向之一方塊圖；以及圖5係用於指示一連接器之一定向之一例示性系統之一方塊圖。
相同號碼在整個揭示內容及圖式中均用以指示類似組件及特徵。100系列中之號碼係指圖1中最初發現之特徵；200系列中之號碼係指圖2中最初發現之特徵；以及依此類推。
實施例之說明
本揭示內容一般係有關於在一多用途埠處以輔助模式檢測定向之技術。一多用途埠可提供一電源介面、可至少部分地或完全地反向、以及可包含一般資料介面及額外特定資料介面諸如一顯示裝置介面、一音訊介面、及類似裝置。典型地，定向指示可藉著檢測二或多個配置接腳中之一接腳上之一信號而提供。例如，在僅有二個定向可用之情況下，一第一定向接腳處且並非一第二定向接腳 處之一信號可提供一定向指示。然而，除錯期間，一除錯測試系統可在每一配置接腳上提供相同信號以使目標系統進入一除錯輔助模式。因此，該定向可能並不易於檢測。此處所說明之技術包含該目標系統處之邏輯，而當在一第一及一第二配置接腳兩者處檢測到信號時該目標系統可進入一除錯輔助模式。此處所討論之輔助模式可指一除錯輔助模式以及亦可指其他輔助模式包含一音訊輔助模式。接著該邏輯可配置成變更該等信號中之一信號以提供一定向指示。該定向指示可被具有一多工器之除錯測試系統之邏輯接收而該多工器可依據該定向指示予以配置。雖然除錯模式在此處係作一般性討論，然而該等技術亦可在其他介面及關聯模式上實施。此外，供一多用途埠用之一輔助模式以及供一埠用之特定規格可在本揭示內容整體中加以討論，然而此處所揭示之技術，如下文所說明者，可利用適當配置及支援而在任何定向決定之上下文中實施。
一多用途埠之一實例可包含一通用串列匯流排(USB)”C型”連接器，如名稱為“USB Type-C Cable and Connector Specification,Revision 1.1,April 3,2015,”之一規格標準，此處稱為”USB C型規格”，中所指示者。如下文中將較詳細討論者，該USB C型連接器可包含一可反向式插頭連接器。其他多用途埠均可在此處所說明之除錯技術中予以實施。然而，基於簡單起見，該多用途埠在此處可互換地指或一般性僅指一多用途埠或一USB C型連接器。
依上下文，在該USB C型規格中，當一埠宣稱一 上拉電阻值(Rp/Rp)(典型地係一面朝下埠(DFP)且係連接至宣稱一下拉電阻值(Rd/Rd)(典型地係一面朝上埠(UFP)之另一埠時，可藉著該等二個埠進入一除錯輔助模式(DAM)。在一實例中，一埠宣稱二個Rp-插座中之二個配置接腳(CC)，例如，CC1及CC2，中之每一接腳上分別有一個Rp，而另一埠宣稱二個Rd-該等CC接腳，例如CC1及CC2，中之每一接腳上分別有一個Rd。一纜線可具有一穿越其中之一線路而該線路可連接至一插頭中之CC接腳。該纜線定向，由於兩個埠因纜線之電壓高於地電位但低於施加至Rp之電壓故可看見經由該纜線而連接之該Rp及Rd，因此可被決定。在該Rp埠處，該對應CC接腳可位於該施加電壓，然而在該Rd埠處，該對應CC接腳可位於地電位。為在本建置中檢測除錯模式，二條線路穿越該纜線以檢測Rd及Rp兩者之呈現。然而，雖然該纜線之使用容許Rd/Rd或Rp/Rp被檢測，惟此檢測可能係在失去定向資訊之代價下達成。在本揭示內容中，一”除錯”纜線可經由該纜線而用以連接兩個CC接腳以便能夠以該除錯模式，或其他類似地信號化模式對一連接發出信號。
此處一目標可指”被測裝置”(DUT)，且可為一DFP或UFP。一除錯測試系統(DTS)係典型地預先配置成測試一DFP或UFP。當其中一個檢測其二個電阻性下拉值(Rd)均處於一高於地電位之電壓，例如2.5伏特(V)，時以及當另一個檢測其二個電阻性上拉值(Rp)均處於一低於其上拉值之電壓，例如2.5V，時，該DTS及DUT兩者均進入該DAM模式。 然而，在一般意義上，當配置通道係用以啟動一除錯模式時，此處所說明之技術可無需參考雙重角色即可實施，而在上文所討論之雙重角色情境中亦然。
此處所說明之技術係提供一種具有來自一DUT之一定向指示之除錯測試系統。因為DUT可能較多以及除錯測試系統可能較少，所以關聯於設置及執行定向技術之製造成本可隨著經由該除錯測試系統實施本技術而降低。
圖1係揭示一目標計算系統具有通訊式耦接至一除錯系統之一多用途埠。一計算系統100可包含一被測裝置(DUT)102具有一擁有多數接腳106之多用途埠104。多用途埠104之接腳106可配置成通訊式耦接至一除錯測試系統(DTS)108。DTS 108可配置成在測試存取埠(TAP)，諸如一測試行動聯合組織(JTAG)TAP 110、一通用非同步接收器/傳送器(UART)TAP 112、或任何其他型式之除錯TAP或測試存取機制(TAM)或操作控制機制，處操作一或多種型式之除錯作業。雖然圖1之DUT 102揭示JTAG TAP 110及UART TAP 112兩者，然而DUT 102可包含所顯示之TAP或操作控制機制之任何組合，及任何其他型式之配置成提供存取以由走線源114產生除錯走線資料之埠，以及任何用以操作一除錯控制程序，諸如不必然為JTAG型除錯存取埠(DAP)，之埠。來自走線源114之走線資料可包含走線陳述以指示供DUT 102之各種組件(未顯示)用之執行程序之流程。走線資料可經由多用途埠104而由走線源114提供至DTS 108。
多用途埠104可包含被測裝置邏輯(DUTL)116。 DUTL 116可配置成進入一輔助模式，以及提供一定向指示至DTS 108，如下文將較詳細討論者。在某些情況下，DUTL 116可配置成辨識哪個配置通道信號可供通用串列匯流排”USB”電源傳送(PD)通訊之用。在此情境中，某些系統可能需要一位於一較高電壓之電壓匯流排(VBUS)以便完全操作。此外，為了多用途埠104之額外重新配置可能需要PD通訊。
如上文所討論者，多用途埠104，如放大方塊118中所列舉者，可以一具有接腳106之USB C型連接器加以實施。USB C型連接器118係一至少部分可反向之插頭連接器。如虛線方塊120處所指示者，資料線D+及D-可設置在USB C型連接器118之一上半部上及該連接器之一下半部上使得該等資料線係徑向相對。方塊120處之該等資料線之配置係提供可反向之功能使得一插頭可以一正面朝上或倒置設置在USB C型連接器118處之方式而被收納。
一般而言，USB C型連接器118可供一目標計算裝置，諸如DUT 102，及一測試系統，諸如，DTS 108兩者使用。如圖1中所揭示者，USB C型連接器118可包含一24-接腳之雙邊式連接器介面以提供四個電源/接地對(GND)122及124、如方塊120處所指示之二個差動對(D+,D-)以供USB 2.0高速(HS)資料匯流排之用、如虛線方塊126及128所指示之四對(TX1+,TX1-,RX1+,RX1-,TX2+,TX2-,RX2+,RX2-)以供超高速(SS)資料匯流排之用、如130及132所指示之二個"邊帶使用"接腳(SBU1及SBU2)、一第一配置(CC1) 接腳134及一第二配置(CC2)接腳136以供纜線定向檢測之用而該等接腳可為雙相標示碼(BMC)配置資料通道接腳、以及如虛線方塊138及140所指示之電源介面接腳(VBUS)。在一實例中，一CC信號路徑可供USB電源傳送，或BMC，通訊之用。
如上文所討論者，DUTL 116可配置成進入一輔助模式，以及提供一定向指示至DTS 108。例如，當DTS 108連接至DUT 102時，一信號可提供至CC1接腳134以及CC2接腳136。在一實例中，利用一額外除錯纜線，提供至每一CC1接腳134及CC2接腳136之信號可為相同之值，諸如一2.5伏特之值。依據具有相同值之CC1接腳134上之一第一信號及一CC2接腳136上之一第二信號之呈現，該邏輯可配置成進入一輔助模式，諸如一除錯輔助模式(DAM)。DUTL 116可藉著變更該等配置通道接腳，諸如CC1接腳134或CC2接腳136，中之一接腳上之該第一信號而進一步配置成提供一定向指示至DTS 108。例如，DTS 108所提供之該信號可為DUTL 116處所檢測之一2.5伏特之信號。DUTL 116可藉著電氣式移除一電阻性下拉或下拉以將配置接腳中之一接腳，諸如CC1接腳134，處之信號接地以變更該信號。此變動可被DTS 108之除錯測試系統邏輯(DTSL)142檢測，以及可依據該定向指示用來配置該DTS之一多工器(MUX)144使得除錯作業可以啟動。在此情境中，多用途埠104可配置成充作一UFP。雖然此實例顯示DTS執行該多工處理，然而在另一實例中，該DTS信號及該DUT可檢測及改變該MUX。
在某些情況下，DTS 108係配置成測試一DFP。在此情境中，DTS 108可負責操控一電阻性下拉(Rd)以及DUT 102(在此情況下充作一DFP)可負責操控其MUX(未顯示)以正確地連接信號。此外，在某些情況下，一被測DFP可自一CC接腳(諸如CC1接腳134或CC2接腳136)移除一上拉以及DTS 108可配置成檢測該定向以及控制MUX 144。
進入DAM及提供該定向檢測亦可在一啟動階段期間，或在關聯於DUT 102之一作業系統已初始化前之DUT 102之起動期間完成。因此，相較於可能需要作業系統功能之其他除錯模式狀態而言，該定向檢測可以相當短之等待時間提供以及可用於早期階段作業中。換言之，可提供該定向指示而不必初始化DUT 102處之軟體、移動定向配置之某些作業至DTS 108之DTSL 142及MUX 144。
圖2A係一序列圖揭示以輔助模式檢測定向之一程序。在方塊202處，一除錯測試系統，諸如圖1之DTS 108，提供一信號至一目標系統，諸如圖1之DUT 102。如方塊202處所指示者，該信號可利用電流感測線上之對稱電阻器位準加以實施，其中由DTS 108之觀點，Rd/Rd係代表發生在圖1之CC1接腳134及CC2接腳136處之一對稱電阻性下拉。當DUT 102檢測每一CC1接腳134及CC2接腳136上之信號具有對稱電阻器位準時，DUT 102可進入一終端(sink)配置其中DUT 102係充作一裝置，而不是一主機，之用，如方塊204處所指示者。在方塊206處，DTS 108可雙態觸變以提供Rp/Rp-由DTS 108之觀點，係發生在CC1接腳134及CC2 接腳136處之一對稱電阻性上拉。回應時，DUT 102可在方塊208處進入一輔助模式，諸如上文有關圖1所討論之該DAM。在方塊210處，邏輯，諸如DUT 102之DUTL 116，可配置成變更該DTS所檢測之信號以提供一定向指示。在方塊212處，檢測該變更以及在方塊214處，配置MUX 144。例如，由DTS 108之觀點，在方塊202處所提供之Rd/Rd信號可被變更使得DTS 108可檢測一配置接腳上之相同之電阻性位準Rd以及另一配置接腳上之一接地(GND)。就另一實例而言，該信號可被變更使得DTS 108可檢測一配置接腳上之相同之電阻性位準Rd以及一第二配置接腳上之Rp。換言之，每一CC1接腳134及CC2接腳136之一電壓位準(Vcc1及Vcc2)之感測均可被執行。假設Vcc1-Vcc2=0，則DUT 102係處於輔助模式。假設Vcc1-Vcc2>0，則MUX 144係處於一預設位置。假設Vcc1-Vcc2<0，則MUX 144係切換至一交替定向。雖然此處所提供之方程式可供參考之用，然而在建置時某種臨界Vcc可被整合以補償多用途埠104上所使用之電阻值允差。
雖然圖2A討論各種電阻性信號方式包含Rp及Rd，以及GND，然而此處所說明之技術可利用任何不同之電阻性信號方式、替代電阻器之電流來源及/或終端、或前述之任何組合加以實施，以及可以DTS 108或DUT 102之觀點為依據。例如，DTS 108可提供一對稱信號至DTS 108。此信號可被視為充作由DUT 102之一上拉以及由DTS 108之一下拉。以任何觀點而言，此處所提供之技術可使DUT 102 能夠進入一除錯模式而不必初始化軟體，然而仍提供一配置指示而該配置指示可能相反地以軟體提供。
圖2B係一序列圖揭示當一被測裝置為一面朝下埠時以輔助模式檢測定向之一程序。在方塊202處，一除錯測試系統，諸如圖1之DTS 108，提供一信號至一目標系統，諸如圖1之DUT 102。如方塊216處所指示者，該信號可利用電流感測線上之對稱電阻器位準實施，其中由DTS 108之觀點，Rp/Rp係代表發生在圖1之CC1接腳134及CC2接腳136處之一對稱電阻性上拉。當DUT 102檢測每一CC1接腳134及CC2接腳136上之信號具有對稱電阻器位準時，DUT 102可進入一來源(source)配置其中DUT 102係充作一主機，而不是一裝置，之用，如方塊218處所指示者。在方塊220處，DTS 108可雙態觸變以提供Rd/Rd-由DTS 108之觀點，係發生在CC1接腳134及CC2接腳136處之一對稱電阻性下拉。回應時，DUT 102可在方塊222處進入一輔助模式，諸如上文有關圖1所討論之該DAM。在方塊224處，邏輯，諸如DUT 102之DUTL 116，可配置成變更該DTS所檢測之信號以提供一定向指示。例如，由DTS 108之觀點，方塊216處所提供之Rp/Rp信號可被變更使得DTS 108可檢測一配置接腳上之相同之電阻性位準Rd以及另一配置接腳上之一開啟信號值，或Rp。在方塊226處，檢測該變更以及在方塊228處，配置MUX 144。
圖3係一流程圖揭示以輔助模式檢測定向之一方法300。在方塊302處，方法300可包含依據該多用途埠之一 第一配置接腳上之一第一信號及一第二配置接腳上之第二信號之呈現以進入一輔助模式。在方塊304處，方法300可包含藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
在某些情況下，可提供定向指示而不必初始化關聯於該多用途埠之軟體。此外，在某些情況下，該輔助模式係一除錯輔助模式。在此情境中，在方塊302處，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之呈現係由一除錯測試系統提供。
方法300亦可包含依據該定向指示以在該除錯測試系統處進行多工處理。在某些情況下，方法300亦可包含配置該多用途埠為一來源或一終端。在此情境中，該多用途埠在除錯輔助模式期間係配置成充作一終端。
在方塊304處變更該信號可包含減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。在此情境中，減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準包含將該第一信號接地。然而，在某些情況下，變更該第一配置接腳上之該第一信號包含增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。
圖4係一方塊圖描述一有形、非暫時性、電腦可讀媒介400而該媒介可利用資料處理及圖形作業以簡化一查詢及上下文存取。電腦可讀媒介400可經由一電腦互連件404藉著一處理器402加以存取。處理器402可為一伺服器處理器、一電腦節點處理器、或其他處理器。有形、非暫時 性、電腦可讀媒介400可包含可執行指令或碼以引導處理器402執行此處所說明之技術之作業。
此處所討論之各種軟體組件可儲存在有形、非暫時性、電腦可讀媒介400上，如圖4中所指示者。例如，一除錯輔助模式(DAM)進入器406可引導處理器402檢測若干接腳上之信號。在一實例中，該等接腳可為CC接腳諸如CC1 134及CC2 136。DAM進入器406可引導處理器402檢測指示進入一除錯模式之信號。在一實例中，每一接腳可將來自DAM進入器406之指令所檢測之2.5伏特攜帶至處理器402。在一實例中，DAM進入器406可引導處理器402檢測一Rd/Rd以及可進入DAM。一定向提供器408可藉著引導處理器修改一接腳上之電壓以引導處理器402提供一定向。在一實例中，一第一及一第二接腳可均為CC接腳，如上文所指示者。在一實例中，藉著引導定向提供器408至處理器402以變更電壓之作法可導致跨接該等接腳中之一接腳之上升或下降之電壓。一多工器(MUX)配置(config)產生器410可引導處理器402依據定向提供器408所提供之該定向指示在電腦可讀媒介400處產生一多工配置。應理解的是未顯示於圖4中之任何數量之額外軟體組件，視應用而定，均被包含在有形、非暫時性、電腦可讀媒介400內。
圖5係用以指示一連接器之一定向之一例示性系統500，諸如一計算裝置，之一方塊圖。計算系統500可為，例如，一膝上型電腦、桌上型電腦、平板電腦、行動裝置、或伺服器，等。特定地，計算系統500可為一行動裝置諸如 一蜂巢式電話、一智慧型手機、一個人數位助理器(PDA)、平板手機、或一平板。計算系統500可包含配置成執行儲存指令之一中央處理單元(CPU)502、以及一記憶體裝置504而該記憶體裝置儲存可由CPU 502執行之指令。該CPU可藉著一匯流排506耦接至記憶體裝置504。此外，CPU 502可為一單核心處理器、一多核心處理器、一計算群組、或任何數量之其他配置。此外，計算系統500可包含一個以上之CPU 502。記憶體裝置504可包含隨機存取記憶體(RAM)、唯讀記憶體(ROM)、快閃記憶體、或任何其他適當之記憶體系統。例如，記憶體裝置504可包含動態隨機存取記憶體(DRAM)。
計算系統500亦可包含一圖形處理單元(GPU)508。如圖所示，CPU 502可經由匯流排506耦接至GPU 508。GPU 508可配置成執行計算系統500內之任何數量之圖形作業。例如，GPU 508可配置成呈現或操控圖形影像、圖形畫面、視訊或類似物以顯示給計算系統500之一使用者。在實施例中，GPU 508包含若干圖形引擎、其中每一圖形引擎係配置成執行特定圖形工作，或執行特定型式之工作負荷。
CPU 502可經由匯流排506連接至一顯示介面510而該顯示介面係配置成將計算系統500連接至一顯示裝置512。顯示裝置512可包含一顯示幕而該顯示幕係計算系統500之一內建組件。顯示裝置512亦可包含一電腦監視器、電視、或投影機、等，而該顯示裝置係外接至計算系統500。
CPU 502亦可經由匯流排506連接至一輸入/輸出 (I/O)裝置介面514而該介面係配置成將計算系統500連接至一或多個I/O裝置516。I/O裝置516可包含，例如，一鍵盤及一指向裝置、其中該指向裝置可包含一觸控板或一觸控螢幕、等。I/O裝置516可為計算系統500之內建組件，或可為外接至計算系統500之裝置。
計算系統500亦可包含一儲存裝置518。儲存裝置518係一實體記憶體諸如一硬碟機、一固態硬碟、一光碟機、一大姆哥隨身碟、一驅動陣列、或前述之任何組合。儲存裝置518亦可包含遠端儲存驅動裝置諸如供雲端計算應用之用者。儲存裝置518包含任何數量之應用程式而該等應用程式係配置成在計算系統500上操作。儲存裝置520可包含一定向指示器520。
定向指示器520可依據跨接若干接腳之一信號以引導一連接器進入一除錯輔助模式(DAM)。定向指示器520處於DAM時可變更一或多個接腳上之信號以指示連接之一定向。在一實例中，該信號之該變更可包含定向指示器520控制下之跨接一接腳所提供之電壓之一修改。定向指示器520可藉著將該等接腳中之至少一接腳上之該變更信號復原成一未變更狀態以引導自該DAM之一退出之信號方式。在另一實例中，定向指示器520可藉著將若干接腳上之該信號修改成一第二變更信號以引導自一DAM之一退出之信號方式。在二個接腳均呈現之一實例中，自輔助模式或DAM之一退出，由定向指示器520所指示者，可包含修改即將接地之接腳上之信號、Rp/Rp、Rd/Rd、或所提供之零電壓。
計算系統500亦可包含一網路介面控制器(NIC)522。NIC 522可配置成經由匯流排506將計算系統500連接至一網路524。網路524可為一廣域網路(WAN)、區域網路(LAN)、或網際網路、等。在一實例中，定向指示器520可經由網路524利用一多用途埠引導一連接器之一定向之配置及指示。
實例
實例1係一種裝置具有一多用途埠，該多用途埠包含一第一配置接腳；一第二配置接腳；邏輯係配置成：依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
實例2包含實例1之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，係在一作業系統啟動前提供該定向指示。
實例3包含實例1至2中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在本實例中，該輔助模式係一除錯輔助模式。任選地，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由通訊式耦接至該多用途埠之一除錯測試系統提供。任選地，經由該裝置之該邏輯提供該定向指示係在該除錯測試系統處產生一多工配置。任選地，該除錯測試系統提供一信號以供一被測裝置檢測，該被測裝置修改一多工配置。任選地，該裝置係配置成：在除錯輔助模式期間充作一終端計算裝置；或在除錯輔助模式期間充作一來源裝置。
實例4包含實例1至3中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該邏輯係配置成藉著減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。任選地，該邏輯係配置成藉著將該第一信號接地以減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準。
實例5包含實例1至4中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該邏輯係配置成藉著增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
實例6係一種用於一多用途埠之定向檢測之方法。該方法包含依據該多用途埠之一第一配置接腳上之一第一信號及一第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；以及藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
實例7包含實例6之該方法，包含或排除任選特徵。在此實例中，提供該定向指示而不必初始化關聯於該多用途埠之一作業系統軟體。
實例8包含實例6至7中之任一實例之該方法，包含或排除任選特徵。在此實例中，該輔助模式係一除錯輔助模式。任選地，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由一除錯測試系統提供。任選地，該方法包含依據該定向指示在該除錯測試系統處進行多工處理。任選地，該方法包含配置該多用途埠可配置成充作一來源或一 終端。任選地，該多用途埠係配置成：在除錯輔助模式期間充作一終端；或在除錯輔助模式期間充作一來源。
實例9包含實例6至8中之任一實例之該方法，包含或排除任選特徵。在此實例中，變更該第一配置接腳上之該第一信號包含減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。任選地，減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準包含將該第一信號接地。
實例10包含實例6至9中之任一實例之該方法，包含或排除任選特徵。在此實例中，變更該第一配置接腳上之該第一信號包含增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。
實例11係一種用於定向檢測之系統。該系統包含一目標包含：一第一配置接腳；一第二配置接腳；邏輯係配置成：依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一除錯輔助模式；藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示；以及一除錯測試系統包含邏輯配置成依據該定向指示在該除錯測試系統處產生一多工配置。
實例12包含實例11之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，提供該定向指示而不必初始化該目標之一作業系統軟體。
實例13包含實例11至12中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標可配置成充作一來源或一終端，以及其中該目標係配置成在除錯輔助模 式期間充作一終端計算裝置。
實例14包含實例11至13中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標邏輯係配置成藉著減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
實例15包含實例11至14中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標邏輯係配置成藉著增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
實例16包含實例11至15中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標邏輯係配置成藉著將該第一信號接地以減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準。
實例17包含實例11至16中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標係配置成：在輔助模式期間充作一終端；或在輔助模式期間充作一來源。
實例18包含實例11至17中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該輔助模式係一除錯輔助模式。
實例19包含實例11至18中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由一除錯測試系統提供。
實例20包含實例11至19中之任一實例之該系統， 包含或排除任選特徵。在此實例中，該目標藉著將該第一配置接腳上之該第一信號由變更位準復原以對自輔助模式之一退出發出信號。
實例21係一種有形、非暫時性、電腦可讀媒介包含指令而該等指令，當藉著一處理器執行時，係引導該處理器提供一連接器之一定向。該電腦可讀媒介包含指令而該等指令依據該多用途埠之一第一配置接腳上之一第一信號及一第二配置接腳上之第二信號之一呈現以引導該處理器進入一輔助模式；以及藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
實例22包含實例21之該電腦可讀媒介，包含或排除任選特徵。在此實例中，提供該定向指示而不必初始化關聯於該多用途埠之一作業系統軟體。
實例23包含實例21至22中之任一實例之該電腦可讀媒介，包含或排除任選特徵。在此實例中，該輔助模式係一除錯輔助模式。任選地，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由一除錯測試系統提供。任選地，該電腦可讀媒介包含依據該定向指示在一除錯測試系統處進行多工處理。任選地，電腦可讀媒介包含配置該多用途埠可配置成充作一來源或一終端。任選地，該多用途埠係配置成：在除錯輔助模式期間充作一終端；或在除錯輔助模式期間充作一來源。
實例24包含實例21至23中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，變更該第一配置接腳 上之該第一信號包含減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。任選地，減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準包含將該第一信號接地。
實例25包含實例21至24中之任一實例之該系統，包含或排除任選特徵。在此實例中，變更該第一配置接腳上之該第一信號包含增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。
實例26係一種裝置具有一多用途埠，該多用途埠。該裝置包含指令而該等指令引導該處理器至一第一配置接腳；一第二配置接腳；元件依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；以及元件藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
實例27包含實例26之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，提供該定向指示而不必初始化該裝置之一作業系統軟體。
實例28包含實例26至27中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該輔助模式係一除錯輔助模式。任選地，該第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由通訊式耦接至該多用途埠之一除錯測試系統提供。任選地，經由該裝置之一元件提供該定向指示以在一除錯測試系統處產生一多工配置。任選地，該裝置係一計算裝置而該計算裝置可配置成充作一來源計算裝置或一終端計算裝置。任選地，該裝置係配置成：在除錯輔助 模式期間充作一終端計算裝置；或在除錯輔助模式期間充作一來源裝置。
實例29包含實例26至28中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該裝置之元件藉著減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
實例30包含實例26至29中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該裝置之元件藉著將該第一信號接地以減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準。
實例31包含實例26至30中之任一實例之該裝置，包含或排除任選特徵。在此實例中，該裝置之元件藉著增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
一實施例係一建置或實例。本說明書中提及”一(an)實施例”、”一(one)實施例”、”某些實施例”、”各種實施例”、或”其他實施例”意指有關該等實施例中所說明之一特定功能、結構或特徵係包含在本技術之至少某些實施例，但不必然是全部實施例，中。”一(an)實施例”、”一(one)實施例”、或”某些實施例”之各種外觀不必然全部指相同之實施例。
並非此處所說明及揭示之全部組件、功能、結構、特徵、等均需包含於一特定實施例或多數實施例中。假設本說明書陳述，例如，一組件、功能、結構、或特徵”可能”、” 可能”、”可能”、或”可能”被包含於，則該特定組件、功能、結構、或特徵係無需被包含於。假設本說明書或請求項指”一(a)”或”一(an)”元件時，其並非意指僅有一個該元件。假設本說明書或請求項指”一額外”元件時，其並未排除有多於一個該額外元件。
將注意到，雖然某些實施例已參考特定建置加以說明，然而依據某些實施例其他建置亦屬可能。此外，本圖式中所揭示及/或此處所說明之電路元件之配置及/或次序或其他特徵無需以所揭示及說明之特定方式加以配置。許多其他配置依據某些實施例均屬可能。
在一圖式中所示之每一系統內，某些情況下每一元件具有一相同參考號碼或一不同參考號碼以建議所代表之該等元件可能係不同及/或類似者。然而，一元件可有足夠彈性以便隨同此處所顯示或說明之某些或全部系統而具有不同之建置及工作。圖式中所顯示之各種元件可為相同或不同者。何者係指一第一元件以及何者係稱為一第二元件均是任意的。
將理解的是上述實例中之特定內容可在一或多個實施例中之任何地方使用。例如，上文所說明之該計算裝置之全部任選特徵亦均可在有關於此處所說明之該等方法或該電腦可讀媒介上實施。此外，雖然流程圖及/或狀態圖可能已在此處使用以說明實施例，然而技術並非受限於此處之該等圖式或對應說明。例如，流程無需經由此處所揭示及說明之每一揭示方塊或狀態或以完全相同之次序移 動。
本技術並未受限於此處所列舉之該等特定細節。實際上，具有本揭示內容之效益之熟悉本技藝人士將理解來自前述說明及圖式之許多其他變化均可在本技術之範疇內完成。據此，下列請求項包含對該等請求項之任何修改界定了本技術之範圍。
100‧‧‧計算系統
102‧‧‧被測裝置(DUT)
104‧‧‧多用途埠
106‧‧‧接腳
108‧‧‧除錯測試系統(DTS)
110‧‧‧JTAG測試存取埠(TAP)
112‧‧‧UART測試存取埠(TAP)
114‧‧‧走線源
116‧‧‧被測裝置邏輯(DUTL)
118‧‧‧USB C型連接器
120‧‧‧資料線(D+及D-)
122‧‧‧電源/接地對(GND)
124‧‧‧電源/接地對(GND)
126‧‧‧TX1+/TX1-/RX1+/RX1-
128‧‧‧TX2+/TX2-/RX2+/RX2-
130‧‧‧邊帶使用接腳(SBU1)
132‧‧‧邊帶使用接腳(SBU2)
134‧‧‧第一配置(CC1)接腳
136‧‧‧第二配置(CC2)接腳
138‧‧‧電源介面接腳(VBUS)
140‧‧‧電源介面接腳(VBUS)
142‧‧‧除錯測試系統邏輯(DTSL)
144‧‧‧多工器(MUX)

Claims (25)

  1. 一種裝置具有一多用途埠，該多用途埠，包含：一第一配置接腳；一第二配置接腳；邏輯，其配置成：依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
  2. 如請求項1之裝置，其中該定向指示係在一作業系統啟動前提供。
  3. 如請求項1之裝置，其中該輔助模式係一除錯輔助模式。
  4. 如請求項3之裝置，其中該等第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由通訊式耦接至該多用途埠之一除錯測試系統提供。
  5. 如請求項3之裝置，其中經由該裝置之該邏輯提供該定向指示在該除錯測試系統處產生一多工配置。
  6. 如請求項3之裝置，其中該除錯測試系統提供一信號以供一被測裝置來檢測，該被測裝置用以修改一多工配置。
  7. 如請求項6之裝置，其中該裝置係配置成：在除錯輔助模式期間充作一終端計算裝置；或 在除錯輔助模式期間充作一來源裝置。
  8. 如請求項1之裝置，其中該邏輯係配置成藉著減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
  9. 如請求項8之裝置，其中該邏輯係配置成藉著將該第一信號接地以減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準。
  10. 如請求項1之裝置，其中該邏輯係配置成藉著增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
  11. 一種用於一多用途埠之定向檢測之方法，包含：依據該多用途埠之一第一配置接腳上之一第一信號及一第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一輔助模式；以及藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示。
  12. 如請求項11之方法，其中該定向指示不必初始化關聯於該多用途埠之一作業系統軟體而被提供。
  13. 如請求項11之方法，其中該輔助模式係一除錯輔助模式。
  14. 如請求項13之方法，其中該等第一及第二配置接腳兩者上之該信號之該呈現係由一除錯測試系統提供。
  15. 如請求項13之方法，進一步包含依據該定向指示在該除錯測試系統處多工處理。
  16. 如請求項13之方法，進一步包含配置該多用途埠可被配置成充作一來源或一終端。
  17. 如請求項16之方法，其中該多用途埠係配置成：在除錯輔助模式期間充作一終端；或在除錯輔助模式期間充作一來源。
  18. 如請求項11之方法，其中變更該第一配置接腳上之該第一信號包含減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。
  19. 如請求項18之方法，其中減少該第一配置接腳上之該第一信號之該電壓位準包含將該第一信號接地。
  20. 如請求項11之方法，其中變更該第一配置接腳上之該第一信號包含增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準。
  21. 一種用於定向檢測之系統，包含一目標，其包含：一第一配置接腳；一第二配置接腳；邏輯，其配置成：依據該第一配置接腳上之一第一信號及該第二配置接腳上之第二信號之一呈現以進入一除錯輔助模式；藉著變更該第一配置接腳上之該第一信號以提供一定向指示；以及一除錯測試系統，其包含邏輯配置成依據該定向指示在該除錯測試系統處產生一多工配置。
  22. 如請求項21之系統，其中該定向指示不必初始化該目標之一作業系統軟體而被提供。
  23. 如請求項21之系統，其中該目標可配置成充作一來源或一終端，以及其中該目標係配置成在除錯輔助模式期間充作一終端計算裝置。
  24. 如請求項21之裝置，其中該目標邏輯係配置成藉著減少該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
  25. 如請求項21之裝置，其中該目標邏輯係配置成藉著增加該第一配置接腳上之該第一信號之一電壓位準以變更該第一配置接腳上之該第一信號。
TW105116485A 2015-06-30 2016-05-26 指示定向的連接器 TWI713528B (zh)

Applications Claiming Priority (6)

Application Number Priority Date Filing Date Title
US201562186626P 2015-06-30 2015-06-30
US62/186,626 2015-06-30
US14/979,243 US10088514B2 (en) 2015-06-30 2015-12-22 Orientation indicator with pin signal alteration
US14/979,243 2015-12-22
PCT/US2016/028895 WO2017003544A1 (en) 2015-06-30 2016-04-22 Orientation indicating connector
WOPCT/US16/28895 2016-04-22

Publications (2)

Publication Number Publication Date
TW201710919A true TW201710919A (zh) 2017-03-16
TWI713528B TWI713528B (zh) 2020-12-21

Family

ID=57609440

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
TW105116485A TWI713528B (zh) 2015-06-30 2016-05-26 指示定向的連接器

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10088514B2 (zh)
EP (1) EP3317772B1 (zh)
CN (1) CN107710181B (zh)
TW (1) TWI713528B (zh)
WO (1) WO2017003544A1 (zh)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI793774B (zh) * 2021-06-28 2023-02-21 慧榮科技股份有限公司 固態硬碟裝置的除錯方法及裝置以及電腦程式產品
US11841398B2 (en) 2021-06-28 2023-12-12 Silicon Motion, Inc. Method and apparatus and non-transitory computer-readable storage medium for debugging solid-state disk (SSD) device
US11933847B2 (en) 2021-06-28 2024-03-19 Silicon Motion, Inc. Apparatus and system for debugging solid-state disk (SSD) device
US12105993B2 (en) 2021-06-28 2024-10-01 Silicon Motion, Inc. Method and apparatus and non-transitory computer-readable storage medium for debugging solid-state disk (SSD) device

Families Citing this family (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20180011809A9 (en) * 2016-03-25 2018-01-11 Le Holdings (Beijing) Co., Ltd. Mobile device and method for reading uart data
US20190148898A1 (en) * 2016-04-28 2019-05-16 Hewlett-Packard Development Company, L.P. Connector orientations
GB2552558A (en) 2016-07-25 2018-01-31 Cirrus Logic Int Semiconductor Ltd Connectors for data transfer
TWI817862B (zh) * 2022-12-09 2023-10-01 華碩電腦股份有限公司 電腦組件及其控制方法

Family Cites Families (19)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19947017B4 (de) * 1999-09-30 2005-07-07 Infineon Technologies Ag PCI-Bus-Schnittstellenschaltung
TW479142B (en) * 2000-07-14 2002-03-11 Inventec Corp Method for testing USB port and the device thereof
CN101452433B (zh) * 2007-11-30 2011-06-22 中兴通讯股份有限公司 一种复用接口的识别装置和方法
US7635280B1 (en) 2008-07-30 2009-12-22 Apple Inc. Type A USB receptacle with plug detection
CN103329365B (zh) * 2011-01-26 2016-01-06 苹果公司 具有180度配接自由的连接器配件
US8996771B1 (en) 2011-05-09 2015-03-31 Google Inc. System and method for communication via universal serial bus
US20130076424A1 (en) * 2011-09-23 2013-03-28 Qualcomm Incorporated System and method for reducing cross coupling effects
US20130108063A1 (en) 2011-11-01 2013-05-02 Dustin J. Verhoeve Invoking and supporting device testing through audio connectors
US20140163716A1 (en) * 2012-12-10 2014-06-12 Skymedi Corporation Bridge device, automated production system and method thereof for storage device
CN103870253A (zh) * 2012-12-11 2014-06-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 芯片应用电路
US10275463B2 (en) * 2013-03-15 2019-04-30 Slacker, Inc. System and method for scoring and ranking digital content based on activity of network users
US9612991B2 (en) * 2013-10-10 2017-04-04 Nokia Technologies Oy Connector interface pin mapping
US9547573B2 (en) * 2013-10-10 2017-01-17 Nokia Technologies Oy Serial communication over communication control pin
JP6083878B2 (ja) * 2014-04-09 2017-02-22 ノキア テクノロジーズ オーユー 電力供給の方向を決定する方法及び装置
US9367490B2 (en) * 2014-06-13 2016-06-14 Microsoft Technology Licensing, Llc Reversible connector for accessory devices
CN204155267U (zh) * 2014-07-29 2015-02-11 合肥宝龙达信息技术有限公司 一种otg usb接口电路
US9652351B2 (en) * 2014-12-23 2017-05-16 Intel Corporation System to detect charger and remote host for type-C connector
US9535117B2 (en) * 2015-03-06 2017-01-03 Intel Corporation System debug using an all-in-one connector
US10162779B2 (en) * 2015-05-11 2018-12-25 Dell Products L.P. Increasing data throughput of a universal serial bus (USB) type-C port

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TWI793774B (zh) * 2021-06-28 2023-02-21 慧榮科技股份有限公司 固態硬碟裝置的除錯方法及裝置以及電腦程式產品
TWI794997B (zh) * 2021-06-28 2023-03-01 慧榮科技股份有限公司 固態硬碟裝置的除錯方法及裝置以及電腦程式產品
US11841398B2 (en) 2021-06-28 2023-12-12 Silicon Motion, Inc. Method and apparatus and non-transitory computer-readable storage medium for debugging solid-state disk (SSD) device
US11933847B2 (en) 2021-06-28 2024-03-19 Silicon Motion, Inc. Apparatus and system for debugging solid-state disk (SSD) device
US12105993B2 (en) 2021-06-28 2024-10-01 Silicon Motion, Inc. Method and apparatus and non-transitory computer-readable storage medium for debugging solid-state disk (SSD) device

Also Published As

Publication number Publication date
US10088514B2 (en) 2018-10-02
EP3317772A1 (en) 2018-05-09
TWI713528B (zh) 2020-12-21
CN107710181B (zh) 2021-08-13
CN107710181A (zh) 2018-02-16
EP3317772B1 (en) 2021-02-24
EP3317772A4 (en) 2019-03-13
WO2017003544A1 (en) 2017-01-05
US20170003346A1 (en) 2017-01-05

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW201710919A (zh) 指示定向的連接器
US9535117B2 (en) System debug using an all-in-one connector
US11749954B2 (en) Semiconductor USB device for detecting foreign substances and method of operating the same
CN107493685B (zh) 经由端口控制器自身的外部端口对端口控制器进行再编程
US8078770B1 (en) Combining multiple SGPIO streams to provide device status indicators
EP3274836B1 (en) System and method to enable closed chassis debug control interface using a usb type-c connector
US10657088B2 (en) Integrated circuit, bus system and control method thereof
US20050102454A1 (en) Dynamic reconfiguration of PCI express links
US20120003863A1 (en) Detection of cable connections for electronic devices
CN109298266B (zh) 测试系统、测试方法、测试装置及存储介质
TWI810260B (zh) 自動usb主機偵測及埠組態
JP5859663B2 (ja) 接続を行うためのシステム、ｉｏコネクタアセンブリ及び動作方法
US20220253395A1 (en) Uart aggregation and jtag selection circuitry for a multi-solid state drive environment
TW201439751A (zh) 顯卡測試系統及顯卡測試方法
US10474604B2 (en) Transmitting universal serial bus (USB) data over alternate mode connection
US9378074B2 (en) Server system
US20140201420A1 (en) Transmission interface system with detection function and method
CN213365381U (zh) 主板
US10379594B2 (en) Sleep-mode detection method thereof
US9404968B1 (en) System and methods for debug connectivity discovery
US8909821B2 (en) Slim-line connector for serial ATA interface that is mounted on expansion bay of computer includes detection signals which indicate connection status and type of device
CN101216796B (zh) 自动检测软驱装置
CN115061963A (zh) 一种采用HDMI接口进行ejtag调试的电路结构
CN107783865A (zh) Usb测试器
JP2013058868A (ja) シリアルインターフェース装置、及びシリアルインターフェース方法