TWI432704B - 傾斜度評估系統及其方法 - Google Patents

Description

傾斜度評估系統及其方法

本發明關於一種傾斜度評估系統及其方法，尤指一種利用不倒翁原理進行傾斜度評估之系統及其方法。

倉儲系統係用以在液晶面板生產過程中，執行玻璃基板的搬運與存取作業。在倉儲系統中，是利用具有機械手臂的移載機(crane)來搬運與存取容置玻璃基板的卡匣(cassette)。由於移載機是沿著平行軌道高速移動來進行搬運與存取，因此軌道的水平度對於移載機的機構壽命的影響非常大，需定時進行水平度的校正，以確保移載機運作時的穩定度。

目前，軌道的校正大多是利用精密水平儀機構來進行。在使用精密水平儀機構之前，必須先利用多名人力進行基準點的調校與固定，需耗費較長的時間與人力進行現場的確認與機構的架設，進而造成停機時間的延長浪費。對於二十四小時生產的廠房而言，將產生大量的產能損失與人力費用的支出。

因此，本發明的目的之一在於提供一種傾斜度評估系統及其方法，其利用不倒翁原理進行傾斜度評估，不僅機構設計簡單，且可大幅縮短校正時間。

根據一實施例，本發明之傾斜度評估系統包含一水平儀、一第一承載部、一發光單元、一第二承載部以及一度量器具。水平儀用以量測一平面上之一水平位置作為一基準位置。第一承載部位於平面上之基準位置且具有一第一不倒翁底座。發光單元設置在第一承載部上，且發光單元適於射出一光線，此光線實質平行第一不倒翁底座之末端之切線。度量器具設置在第二承載部上。第二承載部相對第一承載部放置於平面上，使得發光單元之光線投射在度量器具上。

根據另一實施例，本發明之傾斜度評估方法包含：利用一水平儀量測一平面上之一水平位置，並且以水平位置作為一基準位置；將一第一承載部放置於平面上之基準位置，其中第一承載部具有一第一不倒翁底座，第一承載部設置有一發光單元，且發光單元適於射出一光線，此光線實質平行第一不倒翁底座之末端之切線；將一第二承載部放置於平面上之一第一評估位置，其中第二承載部設置有一度量器具；使發光單元之光線投射在度量器具上，以在度量器具上形成關於第一評估位置之一第一投射點；將第二承載部自第一評估位置相對第一承載部移動至一第二評估位置；使發光單元之光線投射在度量器具上，以在度量器具上形成關於第二評估位置之一第二投射點；以及比較第一投射點與第二投射點，以判斷平面是否傾斜。若第一投射點與第二投射點投射於度量器具的相同刻度上，則判斷平面為水平。反之，若第一投射點與第二投射點投射於度量器具的不同刻度上，則判斷平面為傾斜。在判斷平面為傾斜後，調整平面，以使第一投射點與第二投射點投射於度量器具的相同刻度上。

綜上所述，由於本發明之第一承載部具有第一不倒翁底座，當第一不倒翁底座放置於平面上之基準位置時，發光單元之光線即會實質平行第一不倒翁底座之末端在此基準位置之切線。之後，再將設置有度量器具之第二承載部相對第一承載部移動，即可藉由發光單元之光線在度量器具上所形成的投射點的位置變化，判斷平面是否傾斜，並且針對傾斜的平面進行調整。相較於先前技術，本發明不僅機構設計簡單，且可大幅縮短校正時間。

關於本發明之優點與精神可以藉由以下的發明詳述及所附圖式得到進一步的瞭解。

請參閱第1圖，第1圖為根據本發明一實施例之傾斜度評估系統1的示意圖。如第1圖所示，傾斜度評估系統1包含一第一承載部10、一發光單元12、一第二承載部14、一度量器具16以及一水平儀18。水平儀18用以量測一平面3上之一水平位置作為一基準位置P0。第一承載部10具有一第一不倒翁底座100。發光單元12設置在第一承載部10上，且度量器具16設置在第二承載部14上。發光單元12適於射出一光線120。第一承載部10與第二承載部14可相對放置於一平面3上，使得發光單元12之光線120投射在度量器具16上。於此實施例中，光線120實質平行第一不倒翁底座100之末端之切線。舉例而言，當第一不倒翁底座100放置於平面3上之基準位置P0時，基於不倒翁原理，發光單元12之光線120即會實質平行第一不倒翁底座100之末端在此基準位置P0之切線。

於此實施例中，發光單元12可為一雷射光筆，且度量器具16可為一刻度尺，但不以此為限。若度量器具16為刻度尺，則度量器具16上可具有英制刻度及/或公制刻度，視實際應用而定。

請參閱第2圖以及第3圖，第2圖為根據本發明一實施例之傾斜度評估方法的流程圖，第3圖為利用第1圖中的傾斜度評估系統1實現第2圖中的傾斜度評估方法的示意圖。首先，執行步驟S10，利用水平儀18量測平面3上之水平位置，並且以此水平位置作為基準位置P0，如第3圖(A)所示。接著，執行步驟S12，將第一承載部10放置於平面3上之基準位置P0，如第3圖(B)所示。接著，執行步驟S14與步驟S16，將第二承載部14放置於平面3上之一第一評估位置P1，並且使發光單元12之光線120投射在度量器具16上，以在度量器具16上形成關於第一評估位置P1之一第一投射點Q1，如第3圖(C)所示。接著，執行步驟S18與步驟S20，將第二承載部14自第一評估位置P1相對第一承載部10移動至一第二評估位置P2，並且使發光單元12之光線120投射在度量器具16上，以在度量器具16上形成關於第二評估位置P2之一第二投射點Q2，如第3圖(D)所示。最後，執行步驟S22，比較第一投射點Q1與第二投射點Q2，以判斷平面3是否傾斜。由於基準位置P0為水平，因此可確保設置在第一承載部10上的發光單元12所發出之光線120與水平面呈水平。

請參閱第4圖，第4圖為第2圖中的步驟S22的詳細流程圖。於此實施例中，上述步驟S22可進一步包含下列步驟。首先，執行步驟S220，確認第一投射點Q1與第二投射點Q2是否投射於度量器具16的相同刻度上。若確認第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的相同刻度上，則執行步驟S222，判斷平面3為水平。反之，若確認第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的不同刻度上，則執行步驟S224，判斷平面3為傾斜。在步驟S224後，執行步驟226，調整平面3，以使第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的相同刻度上。

如第3圖(C)與(D)所示，由於第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的不同刻度上，因此作業人員可判斷平面3為傾斜，並且進一步調整平面3，以使第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的相同刻度上。於此實施例中，可將第一評估位置P1調升或將第二評估位置P2調降，以使第一投射點Q1與第二投射點Q2投射於度量器具16的相同刻度上。

當傾斜度評估系統1用於評估倉儲系統中用來架設移載機之軌道是否傾斜時，第1圖中的平面3即表示軌道之上平面。此時，上述之第一評估位置P1與第二評估位置P2可分別為對應軌道上之調整螺絲的位置。待確認第一評估位置P1與第二評估位置P2處於相對傾斜的狀態後，再利用對應的調整螺絲來調整軌道的水平度。然而，需說明的是，本發明之傾斜度評估系統1可用於評估任何平面是否傾斜，不以倉儲系統中的軌道為限。

請參閱第5圖，第5圖為根據本發明另一實施例之傾斜度評估系統4的示意圖。傾斜度評估系統4與上述之傾斜度評估系統1的主要不同之處在於，傾斜度評估系統4之第二承載部14可具有一第二不倒翁底座140。需說明的是，不倒翁底座可確保接觸部分為單點而非平面，可較精確定位評估位置。需說明的是，第5圖中與第1圖中所示相同標號的元件，其作用原理皆相同，在此不再贅述。

請參閱第6圖，第6圖為根據本發明另一實施例之傾斜度評估系統6的示意圖。傾斜度評估系統6與上述之傾斜度評估系統1的主要不同之處在於，傾斜度評估系統6更可包含一溫度計20以及一濕度計22。溫度計20與濕度計22分別設置在第一承載部10上。作業人員可利用利用溫度計20量測平面3所處環境之一溫度，並且利用濕度計22量測平面3所處環境之一濕度，以協助作業人員判斷現場環境的變化是否會影響平面3的傾斜度。需說明的是，本發明亦可根據實際應用而選擇在第一承載部10上設置溫度計20與濕度計22的其中之一，或可依實際需求選擇適當位置配置，不以在第一承載部10上同時設置溫度計20與濕度計22為限。此外，第6圖中與第1圖中所示相同標號的元件，其作用原理皆相同，在此不再贅述。

綜上所述，由於本發明之第一承載部具有不倒翁底座，當第一不倒翁底座放置於平面上之基準位置時，發光單元之光線即會實質平行第一不倒翁底座之末端在此基準位置之切線。之後，再將設置有度量器具之第二承載部相對第一承載部移動，即可藉由發光單元之光線在度量器具上所形成的投射點的位置變化，判斷平面是否傾斜，並且針對傾斜的平面進行調整。此外，亦可使第二承載部具有不倒翁底座。再者，可選擇性地在第一承載部上設置溫度計及/或濕度計，以協助作業人員判斷現場環境的變化是否會影響平面的傾斜度。相較於先前技術，本發明不僅機構設計簡單，且可大幅縮短校正時間。

以上所述僅為本發明之較佳實施例，凡依本發明申請專利範圍所做之均等變化與修飾，皆應屬本發明之涵蓋範圍。

1、4、6．．．傾斜度評估系統

3．．．平面

10．．．第一承載部

12．．．發光單元

14．．．第二承載部

16．．．度量器具

18．．．水平儀

20．．．溫度計

22．．．濕度計

100．．．第一不倒翁底座

120．．．光線

140．．．第二不倒翁底座

P0．．．基準位置

P1．．．第一評估位置

P2．．．第二評估位置

Q1．．．第一投射點

Q2．．．第二投射點

S10-S22、S220-S226．．．步驟

第1圖為根據本發明一實施例之傾斜度評估系統的示意圖。

第2圖為根據本發明一實施例之傾斜度評估方法的流程圖。

第3圖為利用第1圖中的傾斜度評估系統實現第2圖中的傾斜度評估方法的示意圖。

第4圖為第2圖中的步驟S22的詳細流程圖。

第5圖為根據本發明另一實施例之傾斜度評估系統的示意圖。

第6圖為根據本發明另一實施例之傾斜度評估系統的示意圖。

1．．．傾斜度評估系統

3．．．平面

10．．．第一承載部

12．．．發光單元

14．．．第二承載部

16．．．度量器具

18．．．水平儀

100．．．第一不倒翁底座

120．．．光線

P0．．．基準位置

Claims (15)

1. 一種傾斜度評估系統，包含：一水平儀，用以量測一平面上之一水平位置作為一基準位置；一第一承載部，位於該平面上之該基準位置，該第一承載部具有一第一不倒翁底座；一發光單元，設置在該第一承載部上，且該發光單元適於射出一光線，該光線實質平行該第一不倒翁底座之末端之切線；一第二承載部；以及一度量器具，設置在該第二承載部上；其中，該第二承載部相對該第一承載部放置於該平面上，使得該發光單元之光線投射在該度量器具上。
2. 如請求項1所述之傾斜度評估系統，其中該第二承載部具有一第二不倒翁底座。
3. 如請求項1所述之傾斜度評估系統，更包含一溫度計，設置在該第一承載部上。
4. 如請求項1所述之傾斜度評估系統，更包含一濕度計，設置在該第一承載部上。
5. 如請求項1所述之傾斜度評估系統，其中該發光單元為一雷射光筆。
6. 如請求項1所述之傾斜度評估系統，其中該度量器具為一刻度尺。
7. 一種傾斜度評估方法，包含：利用一水平儀量測一平面上之一水平位置，並且以該水平位置作為一基準位置；將一第一承載部放置於該平面上之該基準位置，其中該第一承載部具有一第一不倒翁底座，該第一承載部設置有一發光單元，且該發光單元適於射出一光線，該光線實質平行該第一不倒翁底座之末端之切線；將一第二承載部放置於該平面上之一第一評估位置，其中該第二承載部設置有一度量器具；使該發光單元之該光線投射在該度量器具上，以在該度量器具上形成關於該第一評估位置之一第一投射點；將該第二承載部自該第一評估位置相對該第一承載部移動至一第二評估位置；使該發光單元之該光線投射在該度量器具上，以在該度量器具上形成關於該第二評估位置之一第二投射點；以及比較該第一投射點與該第二投射點，以判斷該平面是否傾斜。
8. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，其中在比較該第一投射點與該第二投射點以判斷該平面是否傾斜之步驟中，更包含：確認該第一投射點與該第二投射點投射於該度量器具的相同刻度上，以判斷該平面為水平。
9. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，其中在比較該第一投射點與該第二投射點以判斷該平面是否傾斜之步驟中，更包含：確認該第一投射點與該第二投射點投射於該度量器具的不同刻度上，以判斷該平面為傾斜。
10. 如請求項9所述之傾斜度評估方法，其中在判斷該平面為傾斜之步驟後，更包含：調整該平面，以使該第一投射點與該第二投射點投射於該度量器具的相同刻度上。
11. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，其中該第二承載部具有一第二不倒翁底座。
12. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，更包含：利用一溫度計量測該平面所處環境之一溫度，其中該溫度計設置在該第一承載部上。
13. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，更包含：利用一濕度計量測該平面所處環境之一濕度，其中該濕度計設置在該第一承載部上。
14. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，其中該發光單元為一雷射光筆。
15. 如請求項7所述之傾斜度評估方法，其中該度量器具為一刻度尺。