RU2008134007A - Устройство для коррекции юстировки и способ его применения - Google Patents
Устройство для коррекции юстировки и способ его применения Download PDFInfo
- Publication number
- RU2008134007A RU2008134007A RU2008134007/28A RU2008134007A RU2008134007A RU 2008134007 A RU2008134007 A RU 2008134007A RU 2008134007/28 A RU2008134007/28 A RU 2008134007/28A RU 2008134007 A RU2008134007 A RU 2008134007A RU 2008134007 A RU2008134007 A RU 2008134007A
- Authority
- RU
- Russia
- Prior art keywords
- probe
- target
- base
- reflective
- adjustment
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims 9
- 239000000523 sample Substances 0.000 claims abstract 20
- 239000007788 liquid Substances 0.000 claims 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims 2
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 claims 1
- 239000011248 coating agent Substances 0.000 claims 1
- 238000000576 coating method Methods 0.000 claims 1
- 239000012530 fluid Substances 0.000 claims 1
- 239000011521 glass Substances 0.000 claims 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims 1
- 238000012417 linear regression Methods 0.000 claims 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
- G01C15/00—Surveying instruments or accessories not provided for in groups G01C1/00 - G01C13/00
- G01C15/02—Means for marking measuring points
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B19/00—Programme-control systems
- G05B19/02—Programme-control systems electric
- G05B19/18—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form
- G05B19/401—Numerical control [NC], i.e. automatically operating machines, in particular machine tools, e.g. in a manufacturing environment, so as to execute positioning, movement or co-ordinated operations by means of programme data in numerical form characterised by control arrangements for measuring, e.g. calibration and initialisation, measuring workpiece for machining purposes
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B25—HAND TOOLS; PORTABLE POWER-DRIVEN TOOLS; MANIPULATORS
- B25J—MANIPULATORS; CHAMBERS PROVIDED WITH MANIPULATION DEVICES
- B25J9/00—Programme-controlled manipulators
- B25J9/16—Programme controls
- B25J9/1679—Programme controls characterised by the tasks executed
- B25J9/1692—Calibration of manipulator
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
- G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
- G01B11/02—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
- G01B11/03—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness by measuring coordinates of points
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/37—Measurements
- G05B2219/37113—Psd position sensitive detector, light spot on surface gives x, y position
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/39—Robotics, robotics to robotics hand
- G05B2219/39003—Move end effector on ellipse, circle, sphere
-
- G—PHYSICS
- G05—CONTROLLING; REGULATING
- G05B—CONTROL OR REGULATING SYSTEMS IN GENERAL; FUNCTIONAL ELEMENTS OF SUCH SYSTEMS; MONITORING OR TESTING ARRANGEMENTS FOR SUCH SYSTEMS OR ELEMENTS
- G05B2219/00—Program-control systems
- G05B2219/30—Nc systems
- G05B2219/39—Robotics, robotics to robotics hand
- G05B2219/39045—Camera on end effector detects reference pattern
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
- Y10S—TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y10S33/00—Geometrical instruments
- Y10S33/21—Geometrical instruments with laser
Abstract
1. Устройство для коррекции юстировки, содержащее: ! (а) основание с одним или несколькими целевыми местами, каждое из которых предназначено для приема светоотражающего предмета, причем все целевые места расположены, по существу, в плоскости основания; ! (б) один или несколько светоотражающих предметов, каждый из которых установлен в одном из целевых мест, и ! (в) зонд, имеющий источник света и датчик для обнаружения отраженного света, причем зонд может быть установлен в плоскости, по существу, параллельной плоскости основания и расположенной на расстоянии от нее, так что зонд может освещать лучом света каждое целевое место, а датчик может обнаруживать свет, отраженный от любого светоотражающего предмета, установленного в таком целевом месте. ! 2. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором источником света является лазер. ! 3. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором светоотражающим предметом является светоотражающий шар. ! 4. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором луч света проходит практически перпендикулярно к плоскости основания. ! 5. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором поверхность основания в каждом целевом месте имеет углубление или отверстие для приема светоотражающего предмета. ! 6. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором светоотражающий предмет установлен в каждом целевом месте. ! 7. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором целевые места на поверхности основания определяются координатами Х и Y так, что никакие два целевых места не имеют одинаковой координаты Х или одинаковой координаты Y. ! 8. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором
Claims (27)
1. Устройство для коррекции юстировки, содержащее:
(а) основание с одним или несколькими целевыми местами, каждое из которых предназначено для приема светоотражающего предмета, причем все целевые места расположены, по существу, в плоскости основания;
(б) один или несколько светоотражающих предметов, каждый из которых установлен в одном из целевых мест, и
(в) зонд, имеющий источник света и датчик для обнаружения отраженного света, причем зонд может быть установлен в плоскости, по существу, параллельной плоскости основания и расположенной на расстоянии от нее, так что зонд может освещать лучом света каждое целевое место, а датчик может обнаруживать свет, отраженный от любого светоотражающего предмета, установленного в таком целевом месте.
2. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором источником света является лазер.
3. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором светоотражающим предметом является светоотражающий шар.
4. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором луч света проходит практически перпендикулярно к плоскости основания.
5. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором поверхность основания в каждом целевом месте имеет углубление или отверстие для приема светоотражающего предмета.
6. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором светоотражающий предмет установлен в каждом целевом месте.
7. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором целевые места на поверхности основания определяются координатами Х и Y так, что никакие два целевых места не имеют одинаковой координаты Х или одинаковой координаты Y.
8. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором поверхность основания имеет по меньшей мере две пары углов, в каждой из которых углы расположены по диагонали относительно друг друга.
9. Устройство для коррекции юстировки по п.8, в котором по меньшей мере два целевых места расположены на первой диагонали, проходящей между противоположными углами поверхности основания.
10. Устройство для коррекции юстировки по п.9, в котором два или несколько целевых мест расположены на второй диагонали, проходящей между противоположными углами второй пары углов на поверхности основания, причем целевые места расположены в центральной области поверхности основания.
11. Устройство для коррекции юстировки по п.10, в котором по меньшей мере одно целевое место на второй диагонали расположено на той же стороне поверхности основания, что и одно из целевых мест, расположенных на первой диагонали.
12. Устройство для коррекции юстировки по п.1, в котором основание приспособлено для установки на него контейнеров для жидкостей.
13. Устройство для коррекции юстировки по п.12, в котором контейнеры приема жидкостей выбираются с полок для пробирок или микротитровальных пластин.
14. Устройство для коррекции юстировки по п.1, которое является частью двухкоординатного плоттера или робота, работающего в декартовой системе координат, каждый из которых имеет двухкоординатный исполнительный механизм, установленный с возможностью перемещения в точку с любыми координатами Х и Y над поверхностью основания.
15. Устройство для коррекции юстировки по п.14, в котором робот является роботом, манипулирующим жидкостью.
16. Устройство для коррекции юстировки по п.14, в котором зонд установлен на двухкоординатном исполнительном механизме.
17. Устройство для коррекции юстировки по п.3, в котором светоотражающий шар выбран из группы, включающей шарикоподшипник, шар с металлическим покрытием, керамический шар, шар с отражающим стеклом или шар с отражающей пластмассой.
18. Устройство для коррекции юстировки по п.2, в котором зонд представляет собой световозвращающий лазерный оптический датчик.
19. Способ коррекции погрешностей юстировки в машине с помощью устройства для коррекции юстировки по п.1, включающий:
(а) освещение одного или нескольких светоотражающих предметов лучом света от зонда указанного устройства, и
(б) обнаружение света, отраженного от одного или нескольких светоотражающих предметов, с помощью датчика зонда.
20. Способ коррекции погрешностей юстировки в машине, включающий:
(а) установку зонда устройства для коррекции юстировки по п.1 над одним из светоотражающих предметов, расположенным в одном из целевых мест;
(б) освещение светоотражающего предмета лучом света от источника света зонда;
(в) обнаружение света, отраженного от светоотражающего предмета, с помощью датчика зонда;
(г) изменение положения зонда относительно светоотражающего предмета до тех пор, пока интенсивность отраженного света не станет максимальной, и регистрация положения зонда в точке, где отраженный свет имеет максимальную интенсивность;
(е) повторение указанных операций для каждого целевого места, в котором расположен светоотражающий предмет, и
(f) определение погрешности юстировки по данным, полученным при выполнении операции (г).
21. Способ по п.20, в котором погрешность юстировки представляет собой погрешность смещения, и/или погрешность неточности масштаба, и/или погрешность скоса.
22. Способ по п.20, в котором зонд устанавливают для сканирования центральной линии каждого светоотражающего предмета.
23. Способ по п.21, в котором сканируют центральную линию, расположенную по оси X, и центральную линию, расположенную по оси Y.
24. Способ по п.22, в котором выполняют сканирование центральной линии, расположенной по оси X, от этой линии сканируют центральную линию, расположенную по оси Y, и от центральной линии, расположенной по оси Y, снова сканируют центральную линию, расположенную по оси X.
25. Способ по п.22, в котором центральная линия, расположенная по оси X, и центральная линия, расположенная по оси Y, обеспечивают набор измерений координат Х и Y для каждого целевого места.
26. Способ по п.24, в котором на основе набора измерений координат Х и Y для каждого целевого места выполняют многоуровневую линейную регрессию.
27. Устройство для коррекции юстировки, содержащее:
(а) снабженную зондом руку робота, работающего в декартовой системе координат;
(б) основание, имеющее поверхность с одним или несколькими целевыми местами, каждое из которых предназначено для приема светоотражающего шара, причем все целевые места расположены, по существу, в плоскости основания, а рука робота и основание смещены друг от друга по вертикали и находятся, по существу, в параллельных плоскостях;
(в) один или несколько светоотражающих шаров, каждый из которых установлен в одном из целевых мест;
(г) причем зонд содержит лазер и датчик для обнаружения отраженного лазерного света и может быть установлен в плоскости зонда, по существу, параллельной плоскости основания и расположенной на расстоянии от нее, так что зонд может освещать лазерным лучом каждое целевое место, а датчик может обнаруживать свет, отраженный от любого светоотражающего шара, расположенного в таком целевом месте.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US11/347,355 US7222431B1 (en) | 2006-02-03 | 2006-02-03 | Alignment correction system and methods of use thereof |
| US11/347,355 | 2006-02-03 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| RU2008134007A true RU2008134007A (ru) | 2010-03-10 |
Family
ID=38056652
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| RU2008134007/28A RU2008134007A (ru) | 2006-02-03 | 2007-01-22 | Устройство для коррекции юстировки и способ его применения |
Country Status (11)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US7222431B1 (ru) |
| EP (1) | EP1982145B1 (ru) |
| JP (1) | JP4664412B2 (ru) |
| KR (1) | KR100977508B1 (ru) |
| CN (1) | CN101400968B (ru) |
| AU (1) | AU2007211197A1 (ru) |
| CA (1) | CA2641346A1 (ru) |
| ES (1) | ES2805298T3 (ru) |
| RU (1) | RU2008134007A (ru) |
| TW (1) | TWI403688B (ru) |
| WO (1) | WO2007090002A2 (ru) |
Families Citing this family (11)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| FR2939332B1 (fr) * | 2008-12-10 | 2011-01-07 | Gilson Sas | Dispositif d'aide au pipetage comprenant des moyens ameliores de centrage de plaque de microtitration |
| JP5571902B2 (ja) * | 2009-03-17 | 2014-08-13 | 川崎重工業株式会社 | ロボット、及びオートゼロイング方法 |
| JP5330297B2 (ja) * | 2009-05-26 | 2013-10-30 | 株式会社ミツトヨ | アライメント調整機構、および測定装置 |
| RU2533854C1 (ru) | 2010-11-29 | 2014-11-20 | Ниссан Мотор Ко., Лтд. | Транспортное средство и способ управления рулением транспортного средства |
| CN102069498B (zh) * | 2010-11-29 | 2012-09-05 | 楚天科技股份有限公司 | 用于封口机中的机械手定位机构 |
| CN103415406B (zh) | 2011-03-16 | 2016-01-13 | 日产自动车株式会社 | 汽车及转舵轮的转舵控制方法 |
| US9221137B2 (en) | 2012-10-05 | 2015-12-29 | Beckman Coulter, Inc. | System and method for laser-based auto-alignment |
| TWI632342B (zh) | 2016-11-30 | 2018-08-11 | 財團法人工業技術研究院 | 量測設備及量測方法 |
| JP7239338B2 (ja) * | 2019-02-05 | 2023-03-14 | ファナック株式会社 | レーザ加工ロボットおよびツール座標系設定方法 |
| CN113646608A (zh) | 2019-04-10 | 2021-11-12 | 米沃奇电动工具公司 | 光学激光靶 |
| USD974205S1 (en) | 2020-09-17 | 2023-01-03 | Milwaukee Electric Tool Corporation | Laser target |
Family Cites Families (32)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US4790651A (en) | 1987-09-30 | 1988-12-13 | Chesapeake Laser Systems, Inc. | Tracking laser interferometer |
| JP2557960B2 (ja) * | 1988-09-19 | 1996-11-27 | 株式会社日立製作所 | 高さ測定方法 |
| JP2654206B2 (ja) * | 1989-11-27 | 1997-09-17 | ファナック株式会社 | タッチアップ方法 |
| JPH0655485A (ja) * | 1992-08-11 | 1994-03-01 | Citizen Watch Co Ltd | 多関節ロボットのアームたおれ量測定装置 |
| FR2698182B1 (fr) | 1992-11-13 | 1994-12-16 | Commissariat Energie Atomique | Dispositif de contrôle du centrage d'un faisceau lumineux, application à l'introduction de ce faisceau dans une fibre optique. |
| US5517027A (en) * | 1993-06-08 | 1996-05-14 | Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha | Method for detecting and examining slightly irregular surface states, scanning probe microscope therefor, and method for fabricating a semiconductor device or a liquid crystal display device using these |
| JPH08118272A (ja) * | 1994-10-20 | 1996-05-14 | Toyota Motor Corp | ロボットのキャリブレーション方法 |
| US5754299A (en) | 1995-01-13 | 1998-05-19 | Nikon Corporation | Inspection apparatus and method for optical system, exposure apparatus provided with the inspection apparatus, and alignment apparatus and optical system thereof applicable to the exposure apparatus |
| US5920394A (en) | 1995-09-01 | 1999-07-06 | Research Corporation Technologies, Inc. | Optical coordinate measuring machine |
| JP3335826B2 (ja) * | 1995-12-05 | 2002-10-21 | 株式会社日立製作所 | はんだバンプの測定装置 |
| US5745308A (en) | 1996-07-30 | 1998-04-28 | Bayer Corporation | Methods and apparatus for an optical illuminator assembly and its alignment |
| US6042249A (en) | 1996-07-30 | 2000-03-28 | Bayer Corporation | Illuminator optical assembly for an analytical instrument and methods of alignment and manufacture |
| US5829151A (en) * | 1996-12-20 | 1998-11-03 | The Boeing Company | Multi-axis part positioning system |
| JP2000164626A (ja) * | 1998-09-25 | 2000-06-16 | Fuji Photo Film Co Ltd | 部品のボンディング方法および装置 |
| DE19854011A1 (de) * | 1998-11-12 | 2000-05-25 | Knoll Alois | Einrichtung und Verfahren zum Vermessen von Mechanismen und ihrer Stellung |
| US6765647B1 (en) * | 1998-11-18 | 2004-07-20 | Nikon Corporation | Exposure method and device |
| DE19958306C2 (de) * | 1999-12-03 | 2002-03-14 | Zeiss Carl | Koordinatenmeßvorrichtung |
| US6519860B1 (en) | 2000-10-19 | 2003-02-18 | Sandia Corporation | Position feedback control system |
| US6606798B2 (en) * | 2001-02-23 | 2003-08-19 | Black & Decker Inc. | Laser level |
| JP3905771B2 (ja) | 2001-03-02 | 2007-04-18 | 株式会社ミツトヨ | 測定機の校正方法及び装置 |
| US7050620B2 (en) * | 2001-03-30 | 2006-05-23 | Heckman Carol A | Method of assaying shape and structural features in cells |
| SE524228C2 (sv) * | 2001-12-06 | 2004-07-13 | Ap Fixturlaser Ab | Anordning, mottagarenhet och förfarande för inriktning av en första och en andra komponent |
| JP2003243479A (ja) * | 2002-02-19 | 2003-08-29 | Tokyo Electron Ltd | 搬送手段の停止位置調整機構 |
| US7233841B2 (en) * | 2002-04-19 | 2007-06-19 | Applied Materials, Inc. | Vision system |
| JP3837503B2 (ja) * | 2002-05-09 | 2006-10-25 | 独立行政法人産業技術総合研究所 | ３次元座標評価ゲージ |
| TW552400B (en) * | 2002-06-21 | 2003-09-11 | Lite On It Corp | Automatic measurement method of optical calibration apparatus |
| US7522762B2 (en) * | 2003-04-16 | 2009-04-21 | Inverness Medical-Biostar, Inc. | Detection, resolution, and identification of arrayed elements |
| US7110106B2 (en) * | 2003-10-29 | 2006-09-19 | Coretech Optical, Inc. | Surface inspection system |
| JP4377665B2 (ja) * | 2003-12-01 | 2009-12-02 | 本田技研工業株式会社 | 位置検出用マーク、並びに、マーク検出装置、その方法及びそのプログラム |
| JP2005181135A (ja) * | 2003-12-19 | 2005-07-07 | Hitachi High-Technologies Corp | ロボットアームを備えた自動分注装置、及びその動作方法 |
| TWI239933B (en) * | 2004-03-16 | 2005-09-21 | Powerchip Semiconductor Corp | Positioning apparatus and positioning method using the same |
| US7262841B2 (en) * | 2005-03-17 | 2007-08-28 | Agilent Technologies, Inc. | Laser alignment for ion source |
-
2006
- 2006-02-03 US US11/347,355 patent/US7222431B1/en active Active
-
2007
- 2007-01-22 CA CA002641346A patent/CA2641346A1/en not_active Abandoned
- 2007-01-22 JP JP2008553442A patent/JP4664412B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-22 AU AU2007211197A patent/AU2007211197A1/en not_active Abandoned
- 2007-01-22 ES ES07762881T patent/ES2805298T3/es active Active
- 2007-01-22 KR KR1020087021099A patent/KR100977508B1/ko active IP Right Grant
- 2007-01-22 RU RU2008134007/28A patent/RU2008134007A/ru not_active Application Discontinuation
- 2007-01-22 CN CN200780008833.0A patent/CN101400968B/zh not_active Expired - Fee Related
- 2007-01-22 WO PCT/US2007/060847 patent/WO2007090002A2/en active Application Filing
- 2007-01-22 EP EP07762881.6A patent/EP1982145B1/en active Active
- 2007-02-02 TW TW096103945A patent/TWI403688B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| AU2007211197A1 (en) | 2007-08-09 |
| JP2009525883A (ja) | 2009-07-16 |
| EP1982145B1 (en) | 2020-05-06 |
| WO2007090002A2 (en) | 2007-08-09 |
| EP1982145A4 (en) | 2012-10-24 |
| US7222431B1 (en) | 2007-05-29 |
| TWI403688B (zh) | 2013-08-01 |
| KR100977508B1 (ko) | 2010-08-23 |
| CA2641346A1 (en) | 2007-08-09 |
| JP4664412B2 (ja) | 2011-04-06 |
| WO2007090002A3 (en) | 2008-05-08 |
| TW200736576A (en) | 2007-10-01 |
| ES2805298T3 (es) | 2021-02-11 |
| CN101400968A (zh) | 2009-04-01 |
| WO2007090002A9 (en) | 2008-01-17 |
| EP1982145A2 (en) | 2008-10-22 |
| KR20080101939A (ko) | 2008-11-21 |
| CN101400968B (zh) | 2015-06-10 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| RU2008134007A (ru) | Устройство для коррекции юстировки и способ его применения | |
| US6067165A (en) | Position calibrating method for optical measuring apparatus | |
| US7324217B2 (en) | Device and method for measuring components | |
| JP4791118B2 (ja) | 画像測定機のオフセット算出方法 | |
| JP2009525883A5 (ru) | ||
| CN110044293B (zh) | 一种三维重构系统及三维重构方法 | |
| JPH10260009A (ja) | 座標測定装置 | |
| KR20050095614A (ko) | 프로브 장치 및 피검사체 검사 방법 | |
| US20150260507A1 (en) | Shape measuring apparatus, structure manufacturing system, stage apparatus, shape measuring method, structure manufacturing method, program, and recording medium | |
| US20080208523A1 (en) | Method of determining geometric parameters of a wafer | |
| CN102566295A (zh) | 光刻设备及测量多光斑零位偏差的方法 | |
| CN109959350A (zh) | 棱镜直角工作面垂直度的检测方法及装置 | |
| US8314941B2 (en) | Cartesian coordinate measurement for rotating system | |
| US20060192979A1 (en) | Optical measuring process and precision measuring machine for determining the deviations from ideal shape of technically polished surfaces | |
| US11162776B2 (en) | Measuring device | |
| JP4753657B2 (ja) | 表面形状測定装置及び表面形状測定方法 | |
| JP7475163B2 (ja) | 測定装置 | |
| JP4174055B2 (ja) | 角柱度計測方法及び装置 | |
| JP5221211B2 (ja) | 形状測定装置 | |
| TWI745730B (zh) | 用於物件的幾何測量的裝置、方法及電腦程式 | |
| JP2024515758A (ja) | マルチセクションシャフト製品測定装置およびその使用方法 | |
| CN1645177A (zh) | 发光元件的安装方法 | |
| JPH09243304A (ja) | 形状測定装置、及びそれを用いた被測定面の位置決め方法 | |
| CN117367311A (zh) | 一种物体表面轮廓采集方法及装置 | |
| JP2019158361A (ja) | 距離計校正方法及びそれに用いる校正治具 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| FA92 | Acknowledgement of application withdrawn (lack of supplementary materials submitted) |
Effective date: 20110209 |