TWI430086B

TWI430086B - Method of signal acquisition for communication interface device between test classifier and test machine

Info

Publication number: TWI430086B
Application number: TW100100661A
Authority: TW
Original assignee: Hon Tech Inc
Priority date: 2011-01-07
Filing date: 2011-01-07
Publication date: 2014-03-11
Also published as: TW201229746A

Description

測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法

本發明係提供一種可有效擴大接收擷取各種測試機的比對結果訊號，並使測試分類機正確執行分類的作業，達到確保測試品質之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法。

在現今，半導體元件(如IC)於製作完成後，均會進行各種功能的測試作業，以檢測出各種不同等級的良品或不良品；以自動化的測試分類機為例，該測試分類機(handler)包括有供料單元、輸送單元、收料單元及測試單元...等；其中，測試單元更包括有下壓頭裝置及執行測試作業之測試機(tester)，由於各封裝測試的廠商對於各種測試元件要求測試的項目不同，因此測試分類機(handler)必須視不同的封裝測試廠商搭配各種的測試機(tester)使用，也就造成測試分類機(handler)與測試機(tester)的控制系統無法有效整合成單一的系統；在目前的現況下，其控制系統也就包括有配屬於測試分類機的中央控制單元及配屬於測試機的測試運算單元，中央控制單元主要是控制測試分類機上之各機構的動作，如控制供料單元作動供料、控制輸送單元運送測試元件、控制測試單元之下壓頭裝置作動或控制收料單元收料......等，而測試運算單元則主要是對運送到測試單元的測試元件，於測試機執行測試作業後進行各種功能項目的運算比對，並產生比對結果；由於自動化的測試分類機，必須可將各種不同測試結果的測試元件加以分類放置於各種收料單元內，因此測試分類機的中央控制單元必須擷取來自測試機之測試運算單元的比對結果訊號，才能依據該比對結果訊號控制輸送單元將測試元件分類放置於各種收料單元內。然而，中央控制單元與測試運算單元為不同的控制系統，其訊號係以TTL(Transistor-Transistor Logic)的型態傳輸，並透過通訊界面裝置將測試運算單元的比對結果訊號暫存於暫存區，再由測試分類機之中央控制單元擷取該暫存區內的比對結果訊號，以控制輸送單元將測試元件分類放置於各種收料單元內，因此通訊界面裝置的設計規劃關乎著其能否有效接收擷取各種測試機的比對結果資料，以及測試分類機能否進一步由該通訊界面裝置正確的擷取比對結果資料；就目前現有的控制系統而言，其通訊界面裝置仍具有如下的缺弊：

1.資料清除：請參閱第1圖，一般而言，測試機之測試運算單元的比對結果訊號，係包括有Data(測試結果)及EOT(end of test)兩種型態的TTL(Transistor-Transistor Logic)訊號，而Data(測試結果)的訊號因有不同的測試項目而具有多種的訊號項目，包括Data1表良品、Data2表次級品、Data3表不良品、Data4表功能缺失及Data5表短斷路，以第1圖而言，其測試結果為良品；目前通訊界面裝置其接收擷取訊號的方式係先接收EOT(end of test)的訊號，再擷取對應的Data(測試結果)訊號，因此第1圖中，通訊界面裝置會擷取到Data1的訊號，並儲存於暫存區，接著測試分類機之中央控制單元再擷取該暫存區內的比對結果訊號，以控制執行分類的作業，當通訊界面裝置接收到下一個EOT的訊號時，將會自動清除暫存區內原來的訊號，以供下一個測試元件的比對結果訊號儲存於該暫存區內。請參閱第2圖，當通訊界面裝置接收到正確的EOT訊號，並擷取到對應的Data1的訊號而儲存於暫存區，此時如測試分類機之中央控制單元尚未擷取該暫存區內的Data1的訊號，而測試機又因受到干擾或碰擊而使EOT的訊號產生雜訊A時，通訊界面裝置將會接收到該雜訊A而自動清除暫存區內之Data1的訊號，將使得測試分類機之中央控制單元無法擷取到Data1的訊號，而產生當機的情形，因此該通訊界面裝置的設計，極易受到雜訊的干擾，而影響測試分類機執行測試分類的作業。

2.資料接收擷取：現有通訊界面裝置於接收擷取來自於測試機之測試運算單元的比對結果資料，係包括有Data(測試結果)及EOT(end of test)兩項的TTL(Transistor -Transistor Logic)訊號，且通訊界面裝置僅能接收擷取EOT(end of test)正緣觸發的訊號；請參閱第3-1及3-2圖，正緣觸發係指TTL訊號由低電壓值到高電壓值(L→H)，因此圖式中當通訊界面裝置接收擷取EOT正緣觸發的訊號時，可以對應擷取到對應的Data(測試結果)TTL訊號，並儲存於暫存區；請參閱第3-3圖，但當EOT(end of test)的訊號落後於Data(測試結果)的訊號時，如採擷取正緣觸發的訊號方式時，通訊界面裝置將無法擷取到對應的Data(測試結果)TTL訊號，因此僅採接收擷取EOT(end of test)正緣觸發的訊號方式，將使得通訊界面裝置可能無法正常擷取到來自測試機之測試運算單元的比對結果訊號，而影響測試分類機的匹配型態受限。

故，如何設計一種可有效接收擷取各種測試機的比對結果資料，以及使測試分類機進一步正確擷取比對結果資料之通訊界面裝置，即為業者研發之標的。

本發明之目的一，係提供一種測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，該通訊界面裝置係接收擷取測試機之測試運算單元的Data(測試結果)及EOT(end of test)測試結果訊號TTL(Transistor-Transistor Logic)；其中，該通訊界面裝置係可接收EOT(end of test)正、負緣觸發、準位及大於Data的訊號，並於擷取到對應的Data(測試結果)後執行暫存模式，測試分類機之中央控制單元再擷取該暫存區內的結果訊號，以控制測試分類機各機構執行分類的作業；藉此，即可有效擴大接收擷取各種測試機的比對結果訊號，使得測試分類機可匹配更多種型態的測試機，達到提昇使用效益之目的。

本發明之目的二，係提供一種測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，該通訊界面裝置係接收擷取測試機之測試運算單元的Data(測試結果)及EOT(end of test)測試結果訊號TTL(Transistor-Transistor Logic)；其中，該通訊界面裝置係於接收EOT(end of test)的訊號，並於擷取到對應的Data(測試結果)後執行暫存模式，待測試分類機之中央處理單元完成擷取Data(測試結果)訊號後，再自動執行清除暫存區內結果訊號之清除模式；藉此，即可使測試分類機之中央控制單元於暫存區內擷取正確的Data(測試結果)訊號，以正確執行分類的作業，達到確保測試品質之目的。

為使　貴審查委員對本發明作更進一步之瞭解，茲舉一較佳實施例並配合圖式，詳述如后：請參閱第4圖，本發明之通訊界面裝置10係連結於測試分類機之中央處理單元20及測試機之測試運算單元30，測試分類機之中央處理單元20主要是控制測試分類機上之各機構的動作，如控制供料單元作動供料、控制輸送單元運送測試元件、控制測試單元之下壓頭裝置作動或控制收料單元收料......等，而測試機之測試運算單元30則主要是對運送到測試單元的測試元件，於測試機執行測試作業後進行各種功能項目的運算比對，並產生比對結果；測試機之測試運算單元30於完成測試元件的測試後，其係以TTL(Transistor-Transistor Logic)的訊號型態傳輸比對結果訊號，並透過通訊界面裝置10組將測試運算單元30的比對結果訊號暫存於暫存區，再由測試分類機之中央控制單元20擷取該暫存區內的比對結果訊號，以控制測試分類機之輸送單元將測試元件分類放置於各種收料單元內；請參閱第5圖，測試機之測試運算單元30的比對結果訊號，係包括有Data(測試結果)及EOT(end of test)兩種型態的TTL(Transistor-Transistor Logic)訊號，而Data(測試結果)的訊號因有不同的測試項目而具有多種的訊號項目，包括Data1表良品、Data2表次級品、Data3表不良品、Data4表功能缺失及Data5表短斷路，以第5圖而言，其測試結果為良品；通訊界面裝置10接收擷取訊號的方式係接收EOT(end of test)的訊號，再擷取對應的Data(測試結果)訊號，因此第5圖中，通訊界面裝置10會擷取到Data1的訊號，並儲存於暫存區，接著測試分類機之中央控制單元再擷取該暫存區內的比對結果訊號，以控制執行分類的作業。

請參閱第6-1圖，本發明通訊界面裝置係可接收EOT(end of test)正、負緣觸發、準位及大於Data的訊號，因此以單一的Data(測試結果)訊號與EOT(end of test)的訊號對照而言，當EOT(end of test)的訊號落於Data訊號中間時，其可對應擷取到Data(測試結果)的訊號，以儲存於暫存區；請參閱第6-2圖，當EOT(end of test)的訊號超前於Data訊號時，由於本發明通訊界面裝置可接收EOT(end of test)正緣觸發(低電壓值到高電壓值L→H)的訊號，而可對應擷取到Data(測試結果)的訊號，以儲存於暫存區；請參閱第6-3圖，當EOT(end of test)的訊號落後於Data訊號時，由於本發明通訊界面裝置可接收EOT(end of test)負緣觸發(高電壓值到低電壓值H→L)的訊號，而可對應擷取到Data(測試結果)的訊號，以儲存於暫存區；請參閱第6-4圖，當EOT(end of test)的訊號大於Data訊號時，由於本發明通訊界面裝置可接收EOT(end of test)大於Data的訊號，而可對應擷取到Data(測試結果)的訊號，以儲存於暫存區；因此本發明可有效擴大接收擷取各種測試機的比對結果訊號，使得測試分類機可匹配更多種型態的測試機，達到提昇使用效益之目的。

請參閱第7圖，其係為本發明通訊界面裝置的訊號接收擷取流程圖；步驟50為測試機執行測試作業，步驟51為測試完成，如尚未完成測試則繼續執行測試作業，如測試完成則進行步驟52，步驟52為測試機之測試運算單元於測試完成後送出Data(測試結果)及EOT(end of test)兩種型態的TTL(Transistor-Transistor Logic)訊號，接著進行步驟53，步驟53為通訊界面裝置接收EOT(end of test)訊號，如未有EOT(end of test)訊號則繼續執行步驟52，如有EOT(end of test)訊號則執行步驟54，步驟54為通訊界面裝置接收擷取EOT(end of test)對應的Data(測試結果)訊號，不論EOT(end of test)訊號為正、負緣觸發、準位及大於Data的訊號，本發明之通訊界面裝置均可接收擷取EOT(end of test)訊號，於接收擷取EOT(end of test)訊號後，如無對應的Data(測試結果)訊號，則繼續執行步驟53，如有對應的Data(測試結果)訊號，則該EOT(end of test)訊號及Data(測試結果)訊號即可供測試分類機之中央處理單元擷取並控制輸送單元將測試元件分類放置於各種收料單元內，於本實施例中，於步驟54執行完成後，包含執行步驟55，步驟55為通訊界面裝置執行暫存模式，將Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號暫存於暫存區，接著執行步驟56，步驟56係為測試分類機之中央處理單元完成擷取暫存區之Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號，測試分類機可控制輸送單元將測試元件分類放置於各種收料單元內，測試分類機之中央處理單元於完成訊號擷取後，再執行步驟57，步驟57為執行通訊界面裝置之暫存區的清除模式，通訊界面裝置之暫存區的清除模式係可由通訊界面裝置本身或是測試分類機之中央處理單元執行，於本實施例中，係由測試分類機之中央處理單元執行通訊界面裝置之暫存區的清除模式，當完成步驟57後再對下一個測試元件執行步驟50，進而重複執行測試元件的測試作業。本發明通訊界面裝置由於在執行步驟53、54時，係必須完整接收擷取到Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號，才會繼續執行步驟55的暫存模式，且接續的步驟56也必須於測試分類機之中央處理單元完成擷取暫存區之Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號後，通訊界面裝置才會執行步驟57的清除模式，因此請參閱第8圖，當測試機因受到干擾或碰擊而使EOT的訊號在Data(測試結果)訊號前產生雜訊B時，因該雜訊B的訊號並無法對應擷取到Data(測試結果)的訊號，因此通訊界面裝置不會執行暫存模式，而繼續接收EOT的訊號，當接收到正確的EOT訊號時，通訊界面裝置將可接收擷取EOT(end of test)對應的Data(測試結果)訊號，並執行暫存模式；當測試機因受到干擾或碰擊而使EOT的訊號在Data(測試結果)訊號後產生雜訊C時，由於雜訊C的訊號無法對應擷取到Data(測試結果)的訊號，且通訊界面裝置已執行暫存模式，因此暫存區內仍為正確的Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號，再者，該暫存區內的Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號必須等待測試分類機之中央處理單元完成擷取後，才會執行清除模式，因此EOT雜訊的產生並不會取代原有暫存區內的Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號，進而可使測試分類機之中央控制單元於暫存區內擷取正確的Data(測試結果)訊號，以正確執行分類的作業，達到確保測試品質之目的。

據此，本發明不僅可有效擴大接收擷取各種測試機的比對結果訊號，並可使測試分類機正確執行分類的作業，達到確保測試品質，實為一深具實用性及進步性之設計，然未見有相同之產品及刊物公開，從而允符發明專利申請要件，爰依法提出申請。

本發明：

10．．．通訊界面裝置

20．．．中央處理單元

30．．．測試運算單元

第1圖：測試機比對結果訊號(TTL)之示意圖(一)。

第2圖：測試機比對結果訊號(TTL)之示意圖(二)。

第3-1圖：Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(一)。

第3-2圖：Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(二)。

第3-3圖：Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(三)。

第4圖：本發明之架構示意圖。

第5圖：本發明測試機比對結果訊號(TTL)之示意圖。

第6-1圖：本發明Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(一)。

第6-2圖：本發明Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(二)。

第6-3圖：本發明Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(三)。

第6-4圖：本發明Data及EOT之TTL訊號之對照示意圖(四)。

第7圖：本發明訊號擷取之流程圖。

第8圖：本發明另一測試機比對結果訊號(TTL)之示意圖。

Claims

一種測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，該通訊界面裝置係接收擷取測試機之測試運算單元的測試結果訊號，並供測試分類機之中央控制單元依據該結果訊號以控制測試分類機各機構執行分類的作業；其訊號擷取方法為：a.測試機執行測試作業；b.測試機完成測試作業；如尚未完成測試則繼續執行a步驟；c.測試機之測試運算單元於測試完成後送出Data(測試結果)及EOT(end of test)兩種型態訊號；d.通訊界面裝置接收EOT(end of test)訊號，如未有EOT(end of test)訊號則繼續執行c步驟的作業；e.通訊界面裝置接收擷取EOT(end of test)對應的Data(測試結果)訊號，如無對應的Data(測試結果)訊號，則繼續執行d步驟；f.測試分類機之中央處理單元完成擷取Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號；g.執行Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號的清除模式。
依申請專利範圍第1項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，更包含於步驟e後，通訊界面裝置執行暫存模式，將Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號暫存於暫存區。
依申請專利範圍第2項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，該測試分類機之中央處理單元係擷取通訊界面裝置之暫存區的Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號。
依申請專利範圍第3項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，該測試分類機之中央處理單元完成擷取通訊界面裝置之暫存區的Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號後，接著對通訊界面裝置之暫存區執行清除模式。
一種測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，該通訊界面裝置係接收擷取測試機之測試運算單元的測試結果訊號，並供測試分類機之中央控制單元依據該結果訊號以控制測試分類機各機構執行分類的作業；其訊號擷取方法為：a.測試機執行測試作業；b.測試機完成測試作業；如尚未完成測試則繼續執行a步驟；c.測試機之測試運算單元於測試完成後送出Data(測試結果)及EOT(end of test)兩種型態訊號；d.通訊界面裝置接收EOT(end of test)訊號，如未有EOT(end of test)訊號則繼續執行c步驟的作業；e.通訊界面裝置接收擷取EOT(end of test)對應的Data(測試結果)訊號，如無對應的Data(測試結果)訊號，則繼續執行d步驟；f.通訊界面裝置執行暫存模式，將Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號暫存於暫存區；g.測試分類機之中央處理單元完成擷取暫存區之Data(測試結果)及EOT(end of test)訊號；h.通訊界面裝置之暫存區執行清除模式。
依申請專利範圍第1或5項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，該測試機之測試運算單元的Data(測試結果)及EOT(end of test)的測試結果訊號係為TTL(Transistor-Transistor Logic)訊號。
依申請專利範圍第1或5項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，該通訊界面裝置係接收擷取EOT(end of test)正緣觸發訊號、負緣觸發訊號及準位觸發訊號。
依申請專利範圍第5項所述之測試分類機與測試機之通訊界面裝置的訊號擷取方法，其中，該通訊界面裝置之暫存區係由測試分類機之中央處理單元執行清除模式。